JP2004301888A - 光ビームスキャニング装置 - Google Patents

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修二 蜂谷
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Abstract

【課題】2個の反射鏡を用いてスキャニングすることに起因する課題を解決し、高速で高精度な光ビームのスキャニングを行うことができる光ビームスキャニング装置を提供する。
【解決手段】軸受部10にて、反射鏡104をX軸及びY軸の回転軸それぞれにて回動自在に支持し、駆動部20にて、反射鏡104をX軸及びY軸の回転軸それぞれの周りに電磁的に回動させるようにして、単一の反射鏡104にて2次元的なスキャニングを行えるようにする。また、軸受部10は、機械的な摩擦が生じない静圧空気軸受け構造とする。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、加工用のレーザ光線等の光ビームを2次元平面に投射する光ビームスキャニング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、レーザ光線等の光ビームを2次元的にスキャニングして2次元(X−Y)平面上に投射するには、一般的にガルバノメータと呼ばれる1軸の電磁式アクチュエータを2個用いた光ビームスキャニング装置が案出されている(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
すなわち、図5に示すレーザ加工装置の例のように、レーザ発振器1で発振させた光ビームを第1のガルバノメータ2の反射鏡3でX軸方向にスキャニングし、更に第1のガルバノメータ2からの反射光ビームを第2のガルバノメータ4の反射鏡5に入光させてY軸方向に光ビームをスキャニングさせる。この光ビームスキャニング機構にてスキャニングされたビームは、fθレンズ6を通してX−Yテーブル7上に固定された被加工物8の面上に投射され、その投射点をレーザの熱にて加工する。光ビームスキャニング装置のスキャニング範囲を超える位置の加工はX−Yテーブル7にて被加工物を移動させることにより実施する。
【0004】
【特許文献1】
特開2000−343262号公報(第4頁、図1)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の光ビームスキャニング装置においては、以下のような問題がある。
【0006】
(1)反射鏡3でX方向にスキャニングさせる光ビームを反射鏡5で受ける必要があるため、反射鏡5はX方向のスキャニング範囲より大きな外形が必要となり質量も大きくなり、高速に駆動できない。
【0007】
(2)2個の反射鏡の位置決め精度が積み上げられて最終的な光ビームのスキャニング精度が決まるため、スキャニングの精度に限界がある。
【0008】
(3)光学的な収差により最終的なスキャニング位置に歪みが発生するのは避けられないが、反射鏡の歪曲の特性がX方向とY方向とで異なるので、補正が困難である。
【0009】
本発明は係る点に鑑みてなされたものであり、2個の反射鏡を用いてスキャニングすることに起因する課題を解決し、高速で高精度な光ビームのスキャニングを行うことができる光ビームスキャニング装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
請求項1に係る発明の光ビームスキャニング装置は、光ビームを反射鏡にて反射させて2次元平面上に投影させる光ビームスキャニング装置であって、光ビームを反射させる単一の反射鏡と、前記反射鏡を角度の異なる2つの回転軸それぞれにて回動自在に支持する支持手段と、前記反射鏡を前記2つの回転軸それぞれの周りに電磁的に回動させる駆動手段と、を具備することを特徴とする。
【0011】
この構成によれば、単一の反射鏡にて2次元的なスキャニングを行えるので、軽量化が可能となり、また従来のような2個の反射鏡に対する補正が不要であることから光ビームの高精度な位置決めが可能となる。すなわち、高速で高精度な光ビームのスキャニングが可能となる。また、単一の反射鏡で済むので、装置の小型化及びコストダウンが図れる。
【0012】
請求項2に係る発明の光ビームスキャニング装置は、請求項1に係る発明の光ビームスキャニング装置において、前記支持手段は、内側の壁面が凹状に湾曲したリング形状を成す外輪部材と、外側の壁面が前記外輪部材の内側の壁面に対向する向きに凸状に湾曲した形状を成す複数個の内輪部材と、前記内輪部材と前記反射鏡とを結合する結合部材とを具備し、球面軸受け構造として前記反射鏡を保持することを特徴とする。
【0013】
この構成によれば、球面軸受け構造として反射鏡を保持することが可能となる。
【0014】
請求項3に係る発明の光ビームスキャニング装置は、請求項2に係る発明の光ビームスキャニング装置において、前記支持手段の前記外輪部材と前記内輪部材との間に空気層を形成して静圧空気軸受け構造としたことを特徴とする。
【0015】
この構成によれば、静圧空気軸受け構造として反射鏡を保持することが可能となる。また、空気軸受けとすることで機械的な摩擦が生じないので、反射鏡をさらに高速に回動させることができる。さらに、小さな駆動力で済むことから、省電力化が図れる。
【0016】
請求項4に係る発明の光ビームスキャニング装置は、請求項1から請求項3のいずれかに係る発明の光ビームスキャニング装置において、前記駆動手段は、それぞれの一端が前記反射鏡に接続され前記2つの回転軸周りに前記反射鏡を回動させる複数個の結合部材と、前記複数個の結合部材それぞれの他端に設けられる永久磁石と、前記複数個の永久磁石それぞれと対向する駆動用コイルと、を具備することを特徴とする。
【0017】
この構成によれば、磁気を利用して反射鏡を回動させるので、高速で高精度な光ビームのスキャニングを行うことが可能となる。
【0018】
請求項5に係る発明の光ビームスキャニング装置は、請求項4に記載の光ビームスキャニング装置において、前記反射鏡のレーザ光入射面と反対の面に設けられる再帰反射手段と、前記再帰反射手段に対して測定用のレーザ光を複数ポイントに入射し各ポイントからの反射光の光路差に基づいて前記反射鏡の回動角を測定する回動角測定手段と、前記複数の駆動用コイルに通電を行う複数の通電手段と、前記複数の駆動用コイルそれぞれに流れる電流と前記回動角測定手段の測定結果と外部より入力される位置指令とに基づいて前記複数の通電手段それぞれを制御する制御手段と、を具備することを特徴とする。
【0019】
この構成によれば、高速で高精度な光ビームのスキャニングを行うことができる光ビームスキャニング装置を提供することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【0021】
図1は、本発明の一実施の形態に係る光ビームスキャニング装置の軸受部10の構造を示す斜視図である。また、図2は本実施の形態に係る光ビームスキャニング装置の駆動部20の構造を示す斜視図である。
【0022】
(軸受部10の構造)
図1において、後述する反射鏡104を回動自在に支持する支持手段である軸受部10は、外輪部材101と、4個の内輪部材102と、8個の結合部材103と、反射鏡104とを備えて構成される。外輪部材101は、その内側の壁面が凹状に湾曲したリング状に形成されており、レーザ加工装置等の適用する機器本体側に固定される。4個の内輪部材102は、それぞれ外輪部材101の内側の壁面と対向する向きに凸状に湾曲した方形状に形成されている。
【0023】
8個の結合部材103は、それぞれ棒状に形成されており、そのうち4個が反射鏡104に各内輪部材102を接続するために使用される。残り4個の結合部材103は、反射鏡104に永久磁石201および202(図2参照)を接続するために使用される。すなわち、各一端が反射鏡104に接続され、各他端が図2に示す永久磁石201および202に接続される。この場合、反射鏡104に永久磁石201および202を接続するための結合部材103の他端は、他の連結部材103と重ならない位置で反射鏡104に接続される。
【0024】
外輪部材101と各内輪部材102との間には外輪部材101に開けられた穴(図示略)より加圧された空気が供給されるようになっており、この空気の供給により形成される空気層で静圧空気軸受けを構成している。なお、静圧空気軸受けの他に、球面状にボールを配置した球状転がり軸受け、あるいは樹脂等で球面を構成した球状すべり軸受け等でも構わない。
【0025】
このように、軸受部10は、外輪部材101と、4個の内輪部材102と、外輪部材101と各内輪部材102との間の空気層とによって反射鏡104を回動自在に支持する構造を成している。すなわち、反射鏡104は、4個の内輪部材102と各内輪部材102に接続された結合部材103とによって各内輪部材101内の中央の位置で回動自在に保持される。
【0026】
(駆動部20の構造)
図2において、反射鏡104を回動させる駆動手段である駆動部20は、2個のY軸駆動用永久磁石201(この図では2個のうち1個は陰になって見えていない)と、2個のX軸駆動用永久磁石202と、2個のY軸駆動用コイル203(この図では2個のうち1個は図示していない)と、2個のX軸駆動用コイル204(この図では2個のうち1個は図示していない)と、2個のガイド205とを備えて構成される。
【0027】
2個のY軸駆動用永久磁石201と2個のX軸駆動用永久磁石202は、内輪部材102を保持する4個の結合部材103を除く残り4個の結合部材103の一端に接続され保持される。2個のY軸駆動用永久磁石201は、互いに外側端面での極性が逆になるように配設されている。すなわち、Z軸方向にS,Nの磁極面が逆になるように配設されている。互いに磁極面を逆極性とすることで、倍の力で反射鏡104をY軸周りに回動させることが可能となる。同様に2個のX軸駆動用永久磁石202も、互いに外側端面での極性が逆になるように配設されている。この場合は、倍の力で反射鏡104をX軸周りに回動させることが可能となる。なお、Z軸はX軸及びY軸と垂直に交わる軸である。
【0028】
一方、2個のY軸駆動用コイル203は、2個のY軸駆動用永久磁石201の外側端面に対向する位置に外輪部材101の内壁面に固定されている。同様に2個のX軸駆動用コイル204は、2個のX軸駆動用永久磁石202の磁極面と対向する位置の外輪部材101の内壁面に固定されている。Y軸駆動用コイル203とX軸駆動用コイル204はそれぞれ3層巻きになっており、反射鏡104の位置決めを高精度で行うことが可能となっている。ここで、図3に、一対のY軸駆動用永久磁石201とY軸駆動用コイル203との関係を示す。なお、X軸駆動用永久磁石202とX軸駆動用コイル204もこの図と同様の関係となっている。2個のガイド205は、反射鏡104のZ軸周りの回動を規制する。
【0029】
このように、駆動部20は、2個のY軸駆動用永久磁石201と、2個のX軸駆動用永久磁石202と、2個のY軸駆動用コイル203と、2個のX軸駆動用コイル204と、2個のガイド205とによって、反射鏡104をX軸及びY軸周りに回動させる。なお、X軸及びY軸単独の駆動原理は公知の3相同期サーボモータの駆動原理と同一である。本発明は動作原理に及ぶものではないのでその説明を省略するが、例えば特開平9−47074号公報で詳細に説明されている。
【0030】
次に、駆動部20を制御する制御装置について説明する。
図4は、駆動部20を制御する制御装置30の構成を示すブロック図である。なお、この図では、Y軸駆動用コイル203に対する構成のみ示しており、制御部303を除く部分(コンバータ301、インバータ302)については、X軸駆動用コイル204の分も別途設けられている。
【0031】
制御装置30は、3相交流電源を全波整流して直流の電源電圧を発生するコンバータ301と、コンバータ301から電源供給を受けて動作し、制御部303から入力される制御信号(PWM信号)に応じて一対のY軸駆動用コイル203の各相U,V,Wのコイルを通電する通電手段であるインバータ302と、反射鏡104の回動角を測定する回動角測定部304とを備えて構成される。
【0032】
回動角測定部304は、反射鏡104のレーザ光の入射面と反対の面(即ち裏面)に設けた再帰反射手段である再帰反射ユニット305に測定用のレーザ光を複数ポイント入射し、各ポイントからの反射光の光路差を判定することで反射鏡104の回動角を測定する。そして、測定して得られた回動角検出信号を制御部303に与える。なお、再帰反射とは、光がどのような方向から入射しても光源に向かってそのまま反射するようにした反射方法である。制御部303は、一対のY軸駆動用コイル203の各相U,Vの電流iu,ivと回動角測定手段である回動角測定部304からの回動角検出信号と外部より入力される位置指令に基づいてインバータ302に与える制御信号を生成する。
【0033】
これにより、外部より入力される位置指令で指定されるY軸周りの位置に反射鏡104が回動する。X軸駆動用コイル204においても同様であり、外部より入力される位置指令で指定されるX軸周りの位置に反射鏡104が回動する。このようにして、単一の反射鏡104をX軸及びY軸周りに自由に回動させることができる。
【0034】
このように、本実施の形態に係る光ビームスキャニング装置によれば、軸受部10にて、反射鏡104をX軸及びY軸の回転軸それぞれにて回動自在に支持し、駆動部20にて、反射鏡104をX軸及びY軸の回転軸それぞれの周りに電磁的に回動させるようにして、単一の反射鏡104にて2次元的なスキャニングを行えるようにしたので、軽量化が可能となり、また従来のような2個の反射鏡に対する補正が不要であることから光ビームの高精度な位置決めが可能となる。
【0035】
また、軸受部10を機械的な摩擦が生じない静圧空気軸受け構造としたので、省電力化が図れる。
【0036】
なお、本実施の形態では、3相同期サーボモータの駆動方式を用いたが、ステッピングモータ方式、超音波モータ方式等の駆動方式でも同様に実施可能である。
【0037】
また、本実施の形態では、制御装置30を光ビームスキャニング装置の一部としたが、独立して存在しても構わないし、光ビームスキャニング装置を適用する装置(例えばレーザ加工装置)の一部としてもよい。
【0038】
【発明の効果】
請求項1に係る発明の光ビームスキャニング装置によれば、単一の反射鏡にて2次元的なスキャニングを行えるので、軽量化が可能となり、また従来のような2個の反射鏡に対する補正が不要であることから光ビームの高精度な位置決めが可能となる。すなわち、高速で高精度な光ビームのスキャニングが可能となる。また、単一の反射鏡で済むので、装置の小型化及びコストダウンが図れる。
【0039】
請求項2に係る発明の光ビームスキャニング装置によれば、球面軸受け構造としたので、反射鏡を高速で回動させることができる。
【0040】
請求項3に係る発明の光ビームスキャニング装置によれば、静圧空気軸受け構造とたので、反射鏡を更に高速に回動させることができ、しかも機械的な摩擦が生じないことから、小さな駆動力で済み省電力化が図れる。
【0041】
請求項4に係る発明の光ビームスキャニング装置によれば、磁気を利用して反射鏡を回動させるので、高速で高精度な光ビームのスキャニングを行うことが可能となる。
【0042】
請求項5に係る発明の光ビームスキャニング装置によれば、高速で高精度な光ビームのスキャニングを行うことができ、高速・高精度なレーザ加工装置等の設備を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る光ビームスキャニング装置の軸受部の構造を示す斜視図である。
【図2】本発明の実施の形態に係る光ビームスキャニング装置の駆動部の構造を示す斜視図である。
【図3】本発明の実施の形態に係る光ビームスキャニング装置の駆動部のY軸駆動用コイルとY軸駆動用永久磁石の関係を示す図である。
【図4】本発明の実施の形態に係る光ビームスキャニング装置の制御装置の構成を示すブロック図である。
【図5】従来の光ビームスキャニング装置を搭載したレーザ加工装置の外観を示す斜視図である。
【符号の説明】
10 軸受部
20 駆動部
30 制御装置
101 外輪部材
102 内輪部材
104 反射鏡
201 Y軸駆動用永久磁石
202 X軸駆動用永久磁石
203 Y軸駆動用コイル
204 X軸駆動用コイル
205 ガイド
301 コンバータ
302 インバータ
303 制御部
304 回動角測定部
305 再帰反射ユニット

Claims (5)

  1. 光ビームを反射鏡にて反射させて2次元平面上に投影させる光ビームスキャニング装置であって、
    光ビームを反射させる単一の反射鏡と、前記反射鏡を角度の異なる2つの回転軸それぞれにて回動自在に支持する支持手段と、前記反射鏡を前記2つの回転軸それぞれの周りに電磁的に回動させる駆動手段と、を具備することを特徴とする光ビームスキャニング装置。
  2. 前記支持手段は、内側の壁面が凹状に湾曲したリング形状を成す外輪部材と、外側の壁面が前記外輪部材の内側の壁面に対向する向きに凸状に湾曲した形状を成す内輪部材と、前記内輪部材と前記反射鏡とを結合する結合部材とを具備し、球面軸受け構造として前記反射鏡を保持することを特徴とする請求項1に記載の光ビームスキャニング装置。
  3. 前記支持手段の前記外輪部材と前記内輪部材との間に空気層を形成して静圧空気軸受け構造としたことを特徴とする請求項2に記載の光ビームスキャニング装置。
  4. 前記駆動手段は、それぞれの一端が前記反射鏡に接続され前記2つの回転軸周りに前記反射鏡を回動させる複数個の結合部材と、前記複数個の結合部材それぞれの他端に設けられる永久磁石と、前記複数個の永久磁石それぞれと対向する駆動用コイルと、を具備することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の光ビームスキャニング装置。
  5. 前記反射鏡のレーザ光入射面と反対の面に設けられる再帰反射手段と、前記再帰反射手段に対して測定用のレーザ光を複数ポイントに入射し各ポイントからの反射光の光路差に基づいて前記反射鏡の回動角を測定する回動角測定手段と、前記複数の駆動用コイルに通電を行う複数の通電手段と、前記複数の駆動用コイルそれぞれに流れる電流と前記回動角測定手段の測定結果と外部より入力される位置指令とに基づいて前記複数の通電手段それぞれを制御する制御手段と、を具備することを特徴とする請求項4に記載の光ビームスキャニング装置。
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