JP2004282783A - 制御型スルーレート出力バッファ - Google Patents

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Abstract

【課題】 本発明は、入力信号を出力バッファの出力ノードへリピート即ち再現させる制御型スルーレート出力バッファを提供している。
【解決手段】 本出力バッファは、入力段と、充電段と、放電段と、ホールドダウン段と、出力段とを有している。出力段は、第一ノードと出力ノードとの間に接続されており、その充電段及び放電段の期間中に第一ノードにおけるスルーレートを追従し、従って出力ノードにおける出力信号の上昇及び下降スルーレートは、第一ノードの上昇及び下降スルーレートと実質的に等しい。
【選択図】 図1

Description

本発明は半導体集積回路に関するものであって、更に詳細には、特定した負荷範囲に亘って実質的に出力負荷とは独立的なスイッチング遅延を有しており、且つ負荷、温度、電源及びエッジ遷移とは実質的に独立的な制御された出力エッジレートを与えるTTLコンパチ高速出力バッファに関するものである。
出力バッファは多数の機能を達成することの可能な回路である。第一に、出力バッファは、一群の入力電圧レベルを異なった一群の出力電圧レベルへ変換することがしばしば要求される。出力バッファは、更に、その出力バッファがECL即ちエミッタ結合論理と共に内部的に設計される場合であっても、TTLコンパチ即ち互換性の出力信号を発生することが必要とされる場合が多々ある。更に、出力バッファは、通常、大きな電圧の振れによってプリント回路基板上の高度に容量的に負荷がかけられている信号及びバスラインを駆動することが要求される。
複雑な高速デジタルシステムにおいて使用される出力バッファは、しばしば、電圧変換及び容量駆動特性を有するのみならず、厳しいタイミング拘束条件を充足することが必要とされる。これらのタイミング拘束条件としては、(1)出力負荷、周囲温度変化、電源電圧、遷移極性とは独立的な一定のバッファ遅延、及び(2)制御されたランプレート特性を示す出力エッジなどがある。
出力バッファが出力クロックドライババッファとして使用される場合には、厳しいタイミング拘束条件は特に重要である。出力クロックドライババッファは、集積回路基板上のその他の集積回路に対して重要なシステムクロック信号を供給し、且つそれが発生された集積回路へフィードバックされる場合がある。
出力クロックドライババッファは複数個のドライバを有する場合があり、その場合に、各ドライバは他のクロック信号から位相がオフセットされているクロック信号を駆動する。各ドライバが異なった出力負荷を有する場合であっても、各ドライバは異なったクロック信号間で臨界的なタイミング関係を充足するものでなければならない。
従って、温度及び電源範囲に亘ってその負荷とは独立的な一定の遅延を有する出力バッファに対する需要が存在している。出力が高又は低の何れかから低又は高へ遷移するために必要な時間はバッファ遅延の主要な部分であるから、負荷、温度、VCC電圧、遷移極性における変動に亘って制御された出力スルーレートを有するバッファは、この臨界的なタイミング条件を充足することが可能である。
臨界的なタイミング条件を充足することが可能であることに加えて、制御された出力スルーレートの別の利点は、出力波形においてのオーバーシュート及びアンダーシュートを最小とする値に設定することが可能であるということである。制御されていない高速なエッジを有するバッファは、誘導性リードを有する環境において使用される場合には、出力信号上にリンギングを発生する場合があり、それは該出力により供給される回路内にタイミングエラーを発生する場合がある。従って、負荷、温度及び遷移極性と独立した制御可能で滑らかな出力遷移を供給する出力バッファを提供することが望まれている。
本発明は、入力信号を出力バッファの出力ノードへリピート即ち再現させる制御型スルーレート出力バッファを提供している。本出力バッファは入力段を有しており、該入力段は、電源から電流源への一定電流に対し電流経路を交互に与えることにより入力信号に応答する充電部分と放電部分とを有している。充電段は、第一充電電流の大きさにより及びコンデンサの容量により設定される上昇スルーレートで第一ノードを高電圧へ充電することにより該充電部分における電流に応答する。放電段は、第一ノードの上昇スルーレートに実質的に等しい下降スルーレートで第一ノードを中間低電圧へ放電することにより前記放電部分内の電流に応答する。第一ノードにおける上昇及び下降スルーレートは、特定した温度範囲、特定した電源範囲、特定した容量性負荷範囲に亘って実質的に一定であり、且つ上昇及び下降スルーレートは実質的に等しい。
第一ノードへ接続されているホールドダウン段が、第一ノードを低電圧へプルダウンし且つ出力ノードを最終的な低電圧へプルダウンすることにより、第一ノードの中間低電圧への放電に応答する。第一ノードと出力ノードとの間に接続されている出力段は、その充電及び放電期間中に第一ノードにおけるスルーレートに追従し、従って出力ノードの上昇及び下降スルーレートは第一ノードの上昇及び下降スルーレートと実質的に等しい。
図1は本発明の一実施例に基づいて構成された非反転型制御型スルーレート出力バッファ110を示している。出力バッファ110は、最大で30MHzまでの周波数を有することの可能な入力信号DIGを受取る差動入力段112を有している。充電段114がノードAにおいて電圧を発生し、それはコンデンサC2の容量及び第一充電電流ISW1の大きさにより実質的に設定される上昇スルーレートを有している。放電段116は実質的にノードAにおける上昇スルーレートに等しい下降スルーレートでノードAにおける電圧を放電する。ノードAにおける上昇及び下降スルーレートは、−55℃乃至+125℃の温度範囲、4.5V乃至5.5Vの電源範囲、15pF乃至65pFの出力容量負荷範囲に亘って実質的に一定であり、且つ上昇及び下降スルーレートは実質的に等しい。ホールドダウン段118はノードAにおいての及び出力ノードOUTにおいての高から低への電圧遷移の終了を制御する。出力段120は、充電段及び放電段期間中ノードAにおけるスルーレートを追従し、従って出力ノードOUTの上昇及び下降スルーレートはノードAの上昇及び下降スルーレートと実質的に等しい。
図1に示した如く、入力段112は充電部分124と放電部分126とを有しており、その各々は電源VCCから電流源128への一定の電流ISWに対しての電流経路を交互に供給する。本発明の好適実施例においては、一定電流ISWは約320μAである。
充電部分124はPチャンネル充電用トランジスタP2を有しており、そのソースは充電用抵抗R1を介して電源VCCへ接続しており、且つNPN充電用入力トランジスタQ8が設けられており、そのコレクタは充電用トランジスタP2の共通接続されたゲート及びドレインへ接続している。充電用入力トランジスタQ8のベースは、入力信号DIGを受取るべく接続されており、一方そのエミッタは電流源128へ接続している。
放電部分126は、Pチャンネルダイオード接続型放電用トランジスタP3を有しており、そのソースは放電用抵抗R2を介して電源VCCへ接続しており、且つNPN放電用入力トランジスタQ9が設けられており、そのコレクタは放電用トランジスタP3の共通接続されたゲート及びドレインへ接続している。放電用入力トランジスタQ9のベースは、相補的入力信号CDIG(入力信号DIGに対して180度位相がずれている)を受取るべく接続されている。トランジスタQ9のエミッタは電流源128へ接続している。
充電用入力トランジスタQ8のベースへの入力信号DIGが低(約3V)であると、トランジスタQ8はターンオフする。このことは、トランジスタQ8及び充電用トランジスタP2をして電流源128により吸込まれる一定電流ISWの実質的にどの部分も供給することはない。一方、充電用入力トランジスタQ8への入力信号DIGが高(約3.6V)であると、トランジスタQ8はターンオンする。このことは、トランジスタQ8及び充電用トランジスタP2をして、実質的に全ての一定電流ISWを供給する。
同様に、放電用入力トランジスタQ9のベースへの相補的信号CDIGが低電圧であると、トランジスタQ9はターンオフし、トランジスタQ9及び放電用トランジスタP3をして電流源128により吸込まれる一定電流ISWの実質的にどの部分も供給することがない。放電用入力トランジスタQ9のベースへの信号CDIGが高電圧であると、トランジスタQ9はターンオンし、トランジスタQ9及び放電用トランジスタP3をして電流源128により吸込まれる一定電流ISWの実質的に全てを供給させる。
従って、充電用入力トランジスタQ8及び充電用トランジスタP2は、放電用入力トランジスタQ9及び放電用トランジスタP3が一定な電流ISWの実質的にどの部分も供給することがない場合に、一定な電流ISWの実質的に全てを供給し、且つ放電用入力トランジスタQ9及び放電用トランジスタP3が一定な電流ISWの実質的に全てを供給する場合には、一定な電流ISWの実質的にどの部分も供給することはない。
充電段114は、第一充電用電流ISW1を充電用コンデンサC2へ供給することにより一定の上昇スルーレートでノードAを充電する。
Pチャンネル充電用ミラートランジスタP1は、そのソースを電源VCCへ接続しており、そのゲートを充電用トランジスタP2のゲートへ接続しており、且つそのドレインをノードAへ接続しており、第一充電用電流ISW1を供給する。それらのゲートは接続されているので、充電用トランジスタP2及び充電用ミラートランジスタP1は実質的に等しいゲート対ソース電圧を有している。従って、充電用トランジスタP2のソース対ドレイン電圧が正となり、従って充電用トランジスタP2が導通状態となり始めると、充電用ミラートランジスタP1も導通状態を開始する。
充電用ミラートランジスタP1により導通される電流の大きさは、これらのトランジスタの相対的な寸法に依存する。例えば、図1に示した如く、充電用ミラートランジスタP1の面積が充電用トランジスタP2の面積の5倍大きいものである場合には、トランジスタP1はトランジスタP2よりも5倍の電流を導通させる。従って、充電用入力トランジスタQ8及び充電用トランジスタP2が一定の電流ISW、即ち約320μAを導通させる場合には、トランジスタP1は約1.6mAの電流を導通させる。
ノードAと接地との間に接続されているコンデンサC2は、ノードAに存在する電圧を保持する。その容量は、図1の回路においては約2.0pFであるが、それはコンデンサC2により与えられる容量が充電段114の残部により与えられる容量に対して支配的であるように選択される。コンデンサC2は、バイアス従属性を有することのないポリシリコン対N+コンデンサとして製造される。
動作について説明すると、充電用入力トランジスタQ8が高電圧入力信号DIGを受取り且つターンオンする場合に、充電用ミラートランジスタP1が第一充電用電流ISW1を発生し始める。充電用ミラートランジスタP1が第一充電用電流ISW1を発生すると、コンデンサC2は充電動作を開始する。コンデンサC2が充電動作を開始すると、ノードAにおける電圧が次式により決定される上昇スルーレートで上昇を開始する。
dv/dt = ISW1/C
従って、コンデンサC2の容量又は第一充電用電流ISW1を調節することにより、出力バッファのタイミング条件を充足し且つオーバーシュート及びアンダーシュートを減少させる上昇スルーレートを発生させることが可能である。本発明の好適実施例においては、約0.53V/ns(1.6mA/3.0pF)の上昇スルーレートが発生される。付加的な1pFがノードA上のシリコン接合負荷から発生するが、それはコンデンサC2により反映されることはない。
充電段114は、充電用ミラートランジスタP1が、充電用入力トランジスタQ8がオフである場合にオフ状態を維持することを確保するためのバイアストランジスタを有している。従って、充電用トランジスタP2は、NチャンネルバイアストランジスタN8、NチャンネルバイアスミラートランジスタN9、Pチャンネル充電用バイアストランジスタP9及びPチャンネル充電用バイアスミラートランジスタP8によりターンオフされる。
バイアストランジスタN8は、その共通接続されたゲート及びドレインがバイアス抵抗R8を介して電源VCCへ接続しており、且つそのソースは接地へ接続されており、バイアス電流Ibを発生し且つバイアストランジスタN8を横断してゲート対ソース電圧を確立する。
バイアスミラートランジスタN9は、そのゲートをバイアストランジスタN8の共通接続されたゲート及びドレインへ接続しており、そのソースを接地へ接続しており、且つそのドレインを充電用バイアストランジスタP9の共通接続されたゲート及びドレインへ接続しており、充電用バイアストランジスタP9を介して等しいバイアス電流Ieをプル即ち流すことによりバイアス電流Ibをミラー動作即ち鏡像関係の動作を行なう。充電用バイアストランジスタP9は、その共通接続されたゲート及びドレインをバイアスミラートランジスタN9のドレインへ接続しており、且つそのソースを電源VCCへ接続しており、等しいバイアス電流Ieを供給し且つ充電用バイアストランジスタP9を横断してゲート対ソース電圧を確立する。
充電用バイアスミラートランジスタP8は、そのゲートを充電用バイアストランジスタP9の共通接続されたゲート及びドレインへ接続しており、そのソースを電源VCCへ接続しており、且つそのドレインを充電用トランジスタP2のゲート及びドレインへ接続しており、充電用バイアストランジスタP9を介して流れる電流のミラー動作により低レベルの定常状態充電用バイアス電流Icbを発生し、それは充電用入力トランジスタQ8がターンオフされている場合に、充電用トランジスタP2を横断してのソース対ドレイン電圧を強制的に非導通電圧レベルとさせる。
放電段116は第一充電用電流ISW1と等しくコンデンサC2を放電するためのシンク即ち吸込み用電流ISW3を発生することにより、ノードAの上昇スルーレートに実質的に等しい下降スルーレートでノードAにおける電圧を放電させる。シンク用電流ISW3を発生するためには、第一放電用電流ISW2が最初に発生されねばならない。
Pチャンネル放電用ミラートランジスタP4のソースは電源VCCへ接続しており、そのゲートは放電用トランジスタP3のゲートへ接続しており、且つそのドレインはノードBへ接続しており、そのゲートを放電用トランジスタP3のゲートへ接続させることにより第一放電用電流ISW2を発生する。それらのゲートは共通接続されているので、放電用トランジスタP3及び放電用ミラートランジスタP4は実質的に等しいゲート対ソース電圧を有している。従って、トランジスタP3のソース対ドレイン電圧が正となり且つトランジスタP3が導通状態を開始すると、トランジスタP4も導通状態を開始する。
放電用ミラートランジスタP4により導通される電流の量はこれらのトランジスタの相対的な寸法に依存している。例えば、図1に示した如く、放電用ミラートランジスタP4の面積が放電用トランジスタP3の面積の約6倍大きいものである場合には、トランジスタP4は約6倍大きい電流を導通させる。従って、トランジスタQ9及びトランジスタP3が一定の電流ISW(約320μA)を導通する場合には、放電用ミラートランジスタP4は約1.9mAの電流を導通させる。
放電用ノード抵抗R4は、放電用ミラートランジスタP4のドレインと接地との間に接続されており、第一放電用電流ISW2の一部を導通させる。この小さな電流経路は、トランジスタQ4がターンオフされている場合に、放電用出力トランジスタQ4内に大きなリーク電流が発生することを防止している。
シンク(吸込み)用NPNトランジスタQ6は、その共通接続されたベース及びコレクタを放電用ミラートランジスタP4のドレインへ接続しており、且つそのエミッタをシンク用ダイオード抵抗R5を介して接地へ接続しており、トランジスタQ6のベース・エミッタ接合が順方向バイアスされる場合に、第一放電用電流ISW2のほとんどを導通させる。
NPNシンク用ミラートランジスタQ5のコレクタはノードAへ接続しており、そのベースは放電用ミラートランジスタP4のドレインへ接続しており、そのエミッタはシンク用ミラー抵抗R6を介して接地へ接続しており、そのベースをシンク用トランジスタQ6のベースへ接続することによりシンク用電流ISW3を発生する。それらのベースは共通接続されているので、シンク用トランジスタQ6及びシンク用ミラートランジスタQ5は実質的に等しいベース対エミッタ電圧を有している。従って、トランジスタQ6のベース対エミッタ電圧が順方向バイアスされ且つトランジスタQ6が導通状態を開始すると、トランジスタQ5も導通状態を開始する。
シンク用ミラートランジスタQ5により導通される電流の量は、シンク用トランジスタQ6によりシンク即ち吸込まれる電流と実質的に等しい。本発明の図1の実施例においては、シンク用トランジスタQ6は約1.6mAの電流をシンク即ち吸込む。従って、放電用入力トランジスタQ9及び放電用トランジスタP3が一定の電流ISW(約320μA)を導通すると、放電用ミラートランジスタP4は約1.9mAの電流を導通し且つシンク用ミラートランジスタQ5は約1.6mAの電流を導通させる。残りの300μAは放電用出力トランジスタQ4のベースにより受取られる(この点については後に説明する)。
放電用入力トランジスタQ9がターンオンし且つ一定な電流ISWの実質的に全てを供給すると、放電用ミラートランジスタP4がターンオンし且つ第一放電電流ISW2を発生する。電流ISW2は、シンク用ミラートランジスタQ5をターンオンさせ且つシンク用電流ISW3を発生し、それはコンデンサC2を放電させる。実質的に同時的に、充電用入力トランジスタQ8がターンオフし、その際に充電用ミラートランジスタP1が第一充電用電流ISW1を発生することを停止させる。
従って、第一放電用電流ISW2を調節することにより、ノードAの上昇スルーレートと実質的に等しい下降スルーレートを発生させることが可能である。本発明の好適実施例においては、約0.53V/nsの下降スルーレート(1.6mA/3.0pF)が発生される。
ノードAにおける電圧が低電圧まで減少されると、ホールドダウン段118がターンオンし且つノードAにおける電圧、従って出力ノードOUTにおける電圧を約0.5Vへプルダウンさせる。
ホールドダウン段118は、第一インバータ回路の入力端におけるノードAの電圧をモニタする。この第一インバータ回路は、ソースを電源VCCへ接続している第一PチャンネルトランジスタP7を有しており、且つソースを接地へ接続しておりゲートをPチャンネルトランジスタP7のゲートへ且つドレインをPチャンネルトランジスタP7のドレインへ接続している第一NチャンネルトランジスタN7を有しており、ノードAの電圧が約1.5V以下へ降下すると、高状態信号HGHを発生する。
Nチャンネル出力ホールドダウントランジスタN4は、そのゲートをP及びNチャンネルトランジスタP7及びN7へ接続しており、ドレインを出力ノードOUTへ接続しており、ソースを接地へ接続しており、高状態信号HGHを受取り、それに応答して、ターンオンし且つ出力ノードOUTを約0.5VのTTLコンパチ即ち互換性の最終低電圧へプルダウンさせる。
Nチャンネル放電用ノードトランジスタN3は、そのゲートをP及びNチャンネルトランジスタP7及びN7のそれぞれのドレインへ接続しており、そのドレインをノードBへ接続しており、そのソースを接地へ接続しており、高状態信号HGHを受取って、それに応答して、ターンオンし且つノードBに残存する第一放電用電流ISW2をシンク即ち吸込む。
第二インバータ回路は、ソースを電源VCCへ接続したPチャンネルトランジスタP6を有すると共に、ソースを接地へ接続しておりゲートをPチャンネルトランジスタP6のゲート及びノードAへ接続しておりPチャンネルトランジスタP6のドレインへ接続しているNチャンネルトランジスタN6を有しており、高状態信号HGHを受取り、それに応答して、低状態信号LOWを発生する。
PチャンネルシャットオフトランジスタP5は、そのゲートをP及びNチャンネルトランジスタP6及びN6のそれぞれのドレインへ接続しており、そのドレインを放電用トランジスタP3の共通接続されたゲート及びドレインへ接続しており、そのソースを電源VCCへ接続しており、低状態信号LOWを受取り、それに応答して、ターンオンし且つ一定の電流ISWを放電用入力トランジスタQ9へ供給する。
シャットオフトランジスタP5がターンオンし且つ一定の電流ISWの供給を開始すると、放電用トランジスタP3はターンオフする。なぜならば、シャットオフトランジスタP5を横断しての電圧降下は放電用トランジスタP3をオン状態に維持するのに必要なゲート対ソース電圧よりも小さいからである。このことは、放電用トランジスタP3を横断してのソース対ドレイン電圧を強制的に非導通電圧レベルとさせる。
トランジスタP3がターンオフすると、放電用ミラートランジスタP4は第一放電用電流ISW2の発生を停止する。電流ISW2が停止すると、シンク用ミラートランジスタQ5がシンク用電流ISW3を発生することを停止し、その際にコンデンサC2の放電を停止させる。NPN放電用出力トランジスタQ4もターンオフされ、その際にゼロへ移行する第二放電用電流Idの供給を停止する。
シンク用電流ISW3が停止された後にコンデンサC2の放電を継続するために、NチャンネルバイアスミラートランジスタN10がホールドダウン電流Ihdを発生する。バイアスミラートランジスタN10は、そのゲートをバイアストランジスタN8の共通接続されたゲート及びドレインへ接続しており、そのソースを接地へ接続しており、且つそのドレインをノードAへ接続しており、バイアストランジスタN8におけるバイアス電流Ibをミラー動作することによりホールドダウン電流Ihdを発生しようとする。
抵抗R1及び抵抗R2の機能は、乗算される第一充電用電流ISW1及び乗算される第一放電用電流ISW2のそれぞれに対して多少負の温度係数を与えることである。温度が増加すると、トランジスタP2及びトランジスタP3のゲート対ソース電圧は上昇し且つ抵抗R1及び抵抗R2を横断しての電圧降下は、トランジスタP1又はP4の何れかがそのゲート対ソース電圧として見る全電圧のより小さな百分率を占めるものとなる。
ノードAの上昇スルーレートをトラッキング即ち追従するために、出力段120は、NPN充電用出力トランジスタQ1及びNPN放電用出力トランジスタQ4を介して、出力ノードOUTにおける容量性負荷へ結合させる。
充電用出力トランジスタQ1は、そのコレクタを電流制限用抵抗R9を介して電源VCCへ接続しており、そのベースをノードAへ接続しており、そのエミッタを出力ノードOUTへ接続しており、ノードA上の電圧をそのベース・エミッタ接合を介して出力ノードOUTにおける容量性負荷へ結合させる。充電用出力トランジスタQ1は大型の出力装置であり、それは第一充電用電流ISW1に与える影響を最小の状態としながら、出力負荷を駆動するために必要な約20乃至50mAの電流を供給することが可能である。ノードAにおける電圧が上昇し且つトランジスタQ1のベース・エミッタ接合が順方向バイアスとなると、トランジスタQ1は第二充電用電流Icを発生し、それはノードA上のスルーレートにより決定されるレートで容量性負荷を高電圧へ充電する。例えば、ノードAにおける電圧が上昇したレートよりも遅いレートで第二充電用電流Icが容量性負荷上の電圧を充電した場合には、トランジスタQ1のベース・エミッタ接合を横断しての電圧降下は上昇を開始する。なぜならば、トランジスタQ1のエミッタにおける電圧はトランジスタQ1のベースにおける電圧ほど迅速に上昇することはないからである。しかしながら、ベース・エミッタ接合を横断しての電圧降下が増加すると、トランジスタQ1のコレクタにより供給される第二充電用電流Icが増加し、その際に容量性負荷に対する電荷を増加し且つ出力ノードOUTにおける電圧が上昇するレートを増加させる。
この様に、トランジスタQ1のエミッタにおける電圧はベースにおける電圧−ベース・エミッタ接合と関連する元の電圧降下に追従する。従って、充電用出力トランジスタQ1は第二充電用電流Icを発生することが可能であり、それは正の電圧の振れを介して出力負荷上の容量を駆動するのに十分である。
本発明の好適実施例においては、充電用出力トランジスタQ1は、15pF乃至65pFの範囲内の容量性負荷に対して出力ノードOUTにおける容量性負荷とは独立的なノードAにおける上昇スルーレートを追従する。
放電用出力トランジスタQ4は、第二放電用電流Idを供給し、それは出力ノードOUTの下降レートがノードAの下降レートに追従することを可能とさせる。
放電用出力トランジスタQ4は、そのエミッタをデジェネレーション抵抗R7を介して接地へ接続しており、そのコレクタを出力ダイオード接続型NPNトランジスタQ2を介して出力ノードOUTへ接続しており、そのベースをノードBへ接続しており、そのベースをシンク用トランジスタQ6のベースへ接続することにより第二放電用電流Idを発生する。それらのベースは共通接続されているので、シンク用トランジスタQ6及び放電用出力トランジスタQ4は実質的に等しいベース対エミッタ電圧を有している。従って、トランジスタQ6のベース対エミッタ電圧が順方向バイアスされ且つトランジスタQ6が導通状態を開始すると、トランジスタQ4も導通状態となる。
放電用出力トランジスタQ4により導通される電流の量はそのベースへ供給される電流に依存する。本発明の好適実施例においては、トランジスタQ4のベースは約300μAの電流を受取る。従って、放電用トランジスタP3が約320μAの電流を導通させる場合には、放電用ミラートランジスタP4は約1.9mAの電流を導通させ且つ放電用出力トランジスタQ4は約40mAの電流を導通させる。
第一放電用電流ISW2のかなり正確な動作を得るためには、放電用出力トランジスタQ4は2個のアイランド即ち島状部(不図示)として設計され、各島状部は6個のエミッタストライプを有しており、且つ各対のエミッタストライプは二重のベースコンタクトにより周囲が取囲まれている。
動作について説明すると、放電用出力トランジスタQ4が導通状態となると、ベースをノードAへ接続しておりコレクタを電源VCCへ接続しており且つエミッタを放電用出力トランジスタQ4のコレクタへ接続しているNPNトラッキング即ち追従用トランジスタQ3がノードCがノードAよりも一層速く下降しないように制限する。放電用出力トランジスタQ4は40mAを必要とし、その電流は出力トランジスタQ2又はNPNトラッキングトランジスタQ3の何れかから来ることが可能である。ノードCがノードAよりも一層速く下降することを開始すると、NPNトラッキングトランジスタQ3のベース・エミッタ接合が一層強く順方向バイアスされ且つ40mAの電流のより多くの部分を導通させ、その際にノードCの電圧をノードAの電圧−ベース・エミッタ接合を横断しての電圧降下へクランプする。出力トランジスタQ2の目的は、出力下降ランプの開始時期において、NPNトラッキングトランジスタQ3が順方向バイアスされたベース・エミッタ接合を有するのに近い状態であることを確保することである。
初期的には、出力ノードOUT及びノードAは電源電圧VCCに近い電圧を有している場合がある。この場合には、ノードCは電源電圧VCC−ベース・エミッタ接合を横断しての電圧降下に等しい電圧を有している。放電用出力トランジスタQ4がターンオンすると、ノードCは降下を開始し且つ出力ノードOUTにおける電圧はノードC上の電圧に追従する。しかしながら、ノードCは、NPNトラッキングトランジスタQ3のクランプ作用によって、ノードAよりも一層速く降下することは不可能である。このエミッタホロワ効果は15pF乃至65pFの出力負荷に対して設計されている。
4.5V乃至5.5Vの電源電圧範囲に亘り且つ−55℃乃至+125℃の周囲温度範囲に亘って一定のスルーレートを得るために、バッファ110の全ての電流は、最初に、一定の電流ISWに対して参照される。図1に示した如く、第一充電用電流ISW1及び第一放電用電流ISW2は、一定の電流ISWのミラー動作により発生される。同様に、シンク用電流ISW3は、第一放電用電流ISW2をミラー動作することにより発生される。最後に、第二充電用電流Ic及び第二放電用電流Idは、第一充電用電流ISW1により発生されるノードAにおける電圧をトラッキング即ち追従することにより発生される。
従って、一定の電流ISWが周囲温度とはほぼ独立的なものとすることが可能である場合には、一次近似において、第一充電用電流ISW1、第一放電用電流ISW2、シンク用電流ISW3、第二充電用電流Ic、第二放電用電流Idも又周囲温度及び電源電圧変動とはほぼ独立的なものとなる。
一定の電流ISWは、電圧基準信号VREFにより駆動されるNPN電流源トランジスタQ7を使用することによりほぼ温度と独立的に発生される。電流源トランジスタQ7は、そのコレクタを充電用及び放電用入力トランジスタQ8及びQ9のエミッタへ接続しており、且つそのエミッタを並列接続されている第一電流抵抗R3及び第二電流抵抗R3Aを介して接地へ接続しており、そのベースにおいて電圧基準信号VREFを受取る。
電圧基準信号VREFは、温度と独立的なバンドギャップ電圧(不図示)を基準としており、従って、周囲温度が上昇し且つ下降すると、電圧基準信号VREFは、それを補償する量だけそれぞれ減少及び増加し、従って一定電流ISWは継続して一定の電流レベルで発生される。
従って、一定の電流ISWが周囲温度における変動があっても一定状態を維持する場合には、一定の電流ISWはP+シート抵抗(90Ω/□)の直線的変化に依存するのみである。この依存性は小さいので、一次近似において、一定の電流ISW及び出力バッファ110は周囲温度における変化とはほぼ独立している。
以上、本発明の具体的実施の態様について詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ限定されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱することなしに種々の変形が可能であることは勿論である。
本発明の一実施例に基づいて構成された非反転型制御型スルーレート出力バッファを示した概略図。
符号の説明
110 出力バッファ
112 入力段
114 充電段
116 放電段
118 ホールドダウン段
120 出力段

Claims (20)

  1. 制御型スルーレート出力バッファにおいて、
    第1入力信号が第1論理状態を有する場合に第1充電電流を通過させ且つ前記第1入力信号が第2論理状態を有する場合に実質的に電流を通過させることのない第1スイッチと、第2入力信号が第2論理状態を有する場合に第1放電電流を通過させ且つ前記第2入力信号が第1論理状態を有する場合に実質的に電流を通過させることのない第2スイッチと、を具備している入力段、
    前記第1充電電流をミラー動作して制御ノードへ第2充電電流を供給する充電段、
    前記第1放電電流をミラー動作して前記制御ノードから第2放電電流を吸い込む放電段、
    前記制御ノードへ接続しているコンデンサであって、前記制御ノード上の制御電圧が、前記第2充電電流と前記コンデンサの容量とによって画定される第1上昇スルーレートで高電圧へ上昇し且つ前記第2放電電流と前記コンデンサの容量とによって画定される第1下降スルーレートで前記高電圧から中間電圧へ下降し、前記第1上昇及び下降スルーレートが実質的に等しいコンデンサ、
    前記制御ノード及び出力ノードへ接続されている出力段であって、前記第1上昇スルーレートを実質的に追跡する第2上昇スルーレートで出力電圧を上昇させるために前記出力ノードへ第1出力電流を供給し且つ前記第1下降スルーレートを実質的に追跡する第2下降スルーレートで出力電圧をプルダウンするために前記出力ノードから第2出力電流を吸い込み、出力電圧が実質的に前記第1下降スルーレートで下降すべく制限する前記制御ノードへ接続している第1トランジスタを具備している出力段、
    前記制御ノード及び出力ノードへ接続しており、前記制御電圧が前記中間電圧に到達する場合に、前記制御電圧を前記中間電圧から低電圧へプルダウンし且つ前記出力ノードを低電圧へプルダウンするホールドダウン段、
    を有していることを特徴とする出力バッファ。
  2. 請求項1において、前記出力段が、
    前記制御ノード及び出力ノードへ接続しており、前記第1出力電流を供給する第2トランジスタ、
    前記第1トランジスタへ接続しており、前記第2出力電流を吸い込む第3トランジスタ、
    を有していることを特徴とする出力バッファ。
  3. 請求項2において、前記放電段が、
    前記第1放電電流をミラー動作する第4トランジスタ、
    前記第3及び第4トランジスタへ接続しており、トランジスタ電流を吸い込む第5トランジスタ、
    を有していることを特徴とする出力バッファ。
  4. 請求項3において、前記放電段が、更に、前記第3、第4、第5トランジスタ及び前記制御ノードへ接続している第6トランジスタを有していることを特徴とする出力バッファ。
  5. 請求項4において、前記第6トランジスタが該トランジスタ電流をミラー動作して前記第2放電電流を吸い込むことを特徴とする出力バッファ。
  6. 請求項5において、前記放電段が、更に、前記第4トランジスタと接地との間に接続されている抵抗を包含していることを特徴とする出力バッファ。
  7. 請求項5において、前記ホールドダウン段が、更に、
    前記出力ノードと接地との間に接続されている第7トランジスタ、
    前記制御ノードへ接続している入力と、前記第7トランジスタへ接続している出力とを具備している第1インバータ、
    を有していることを特徴とする出力バッファ。
  8. 請求項7において、前記ホールドダウン段が、更に、
    前記第1インバータの出力へ接続しているゲートと、接地へ接続しているソースと、前記第3、第4、第5、第6トランジスタへ接続しているドレインとを具備している第8トランジスタ、
    前記第1インバータの出力へ接続している入力を具備している第2インバータ、
    を有していることを特徴とする出力バッファ。
  9. 請求項8において、前記ホールドダウン段が、更に、前記第4トランジスタ及び前記第2インバータの出力へ接続している第9トランジスタを包含していることを特徴とする出力バッファ。
  10. 請求項8において、前記ホールドダウン段が、更に、
    前記制御ノードと接地との間に接続されており抵抗を介して電源へ接続されているゲートを具備している第9トランジスタを包含していることを特徴とする出力バッファ。
  11. 請求項7において、前記充電段が、
    前記第1充電電流をミラー動作して前記第2充電電流を出力し且つゲートを具備している第8トランジスタ、
    第9トランジスタ電流を供給する第9トランジスタ、
    前記第9トランジスタ電流をミラー動作して前記第8トランジスタのゲートへターンオフ電流を供給する第10トランジスタ、
    を包含していることを特徴とする出力バッファ。
  12. 請求項11において、前記充電段が、更に、
    電圧ノード、
    前記電圧ノードと接地との間に接続されており第11トランジスタ電流を供給する第11トランジスタ、
    前記第11トランジスタ電流をミラー動作して前記第9トランジスタ電流を吸い込む第12トランジスタ、
    を有していることを特徴とする出力バッファ。
  13. 請求項12において、前記充電段が、更に、電源ノードと前記電圧ノードとの間に接続されている抵抗を包含していることを特徴とする出力バッファ。
  14. 請求項1において、前記第2充電電流が前記第1充電電流よりも大きいことを特徴とする出力バッファ。
  15. 請求項1において、前記ホールドダウン段が、更に、
    前記出力ノードと接地との間に接続されている第2トランジスタ、
    前記制御ノードへ接続している入力と、前記第2トランジスタへ接続している出力とを具備している第1インバータ、
    を包含していることを特徴とする出力バッファ。
  16. 請求項15において、前記ホールドダウン段が,更に、
    前記第1インバータの出力へ接続しているゲートと接地へ接続しているソースとを具備している第3トランジスタ、
    前記第1インバータの出力へ接続している入力を具備している第2インバータ、
    を包含していることを特徴とする出力バッファ。
  17. 請求項16において、前記ホールドダウン段が、更に、前記入力段及び前記第2インバータの出力へ接続している第4トランジスタを包含していることを特徴とする出力バッファ。
  18. 請求項16において、前記ホールドダウン段が、更に、前記制御ノードと接地との間に接続されており、抵抗を介して電源へ接続しているゲートを具備している第4トランジスタを包含していることを特徴とする出力バッファ。
  19. 請求項1において、前記第2入力信号が前記第1入力信号の反転したものであることを特徴とする出力バッファ。
  20. 請求項1において、前記入力段が、
    前記第1充電電流を供給する第2トランジスタ、
    電源ノードと前記第2トランジスタとの間に接続している第1抵抗、
    前記第1放電電流を供給する第3トランジスタ、
    前記電源ノードと前記第2トランジスタとの間に接続している第2抵抗、
    を包含していることを特徴とする出力バッファ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008529358A (ja) * 2005-01-20 2008-07-31 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド 反比例するプロセス依存参照電流を使用してスルーレート制御する出力バッファ

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5657456A (en) * 1993-06-18 1997-08-12 Digital Equipment Corporation Semiconductor process power supply voltage and temperature compensated integrated system bus driver rise and fall time
US5489861A (en) * 1993-12-20 1996-02-06 National Semiconductor Corporation High power, edge controlled output buffer
US5537070A (en) * 1994-10-14 1996-07-16 Texas Instruments Incorporated Output driver with slew rate control
US5489862A (en) * 1994-11-18 1996-02-06 Texas Instruments Incorporated Output driver with slew and skew rate control
US5959481A (en) * 1997-02-18 1999-09-28 Rambus Inc. Bus driver circuit including a slew rate indicator circuit having a one shot circuit
KR100429870B1 (ko) * 2001-02-14 2004-05-03 삼성전자주식회사 Pvt 변화와 출력단자의 부하 커패시턴스의 변화에 의한슬루율 변화를 최소화할 수 있는 출력버퍼 회로
US6429722B1 (en) * 2001-05-01 2002-08-06 Sun Microsystems, Inc. Clock noise reduction method
US6462604B1 (en) * 2001-05-02 2002-10-08 Sun Microsystems, Inc. Clock noise reduction apparatus
TWI267857B (en) 2003-12-19 2006-12-01 Hynix Semiconductor Inc Apparatus for adjusting slew rate in semiconductor memory device and method therefor
US7262637B2 (en) * 2005-03-22 2007-08-28 Micron Technology, Inc. Output buffer and method having a supply voltage insensitive slew rate
US20070271060A1 (en) * 2006-05-22 2007-11-22 Terry Fletcher Buffer compensation activation
WO2011141905A1 (en) * 2010-04-29 2011-11-17 Victor Tzinker Ac-dc converter with unity power factor
US9013938B1 (en) 2011-12-02 2015-04-21 Cypress Semiconductor Corporation Systems and methods for discharging load capacitance circuits

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4712021A (en) * 1985-06-28 1987-12-08 Deutsche Itt Industries Gmbh Cmos inverter
FR2587567B1 (fr) * 1985-09-17 1987-11-20 Thomson Csf Circuit de conversion d'une entree differentielle en niveaux logiques cmos
US4947063A (en) * 1987-10-09 1990-08-07 Western Digital Corporation Method and apparatus for reducing transient noise in integrated circuits
US4857863A (en) * 1988-08-25 1989-08-15 Motorola, Inc. Low power output driver circuit with slew rate limiting
US5021684A (en) * 1989-11-09 1991-06-04 Intel Corporation Process, supply, temperature compensating CMOS output buffer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008529358A (ja) * 2005-01-20 2008-07-31 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド 反比例するプロセス依存参照電流を使用してスルーレート制御する出力バッファ

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