JP2004279891A - Inspecting apparatus and inspection method for liquid crystal cell - Google Patents
Inspecting apparatus and inspection method for liquid crystal cell Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004279891A JP2004279891A JP2003073393A JP2003073393A JP2004279891A JP 2004279891 A JP2004279891 A JP 2004279891A JP 2003073393 A JP2003073393 A JP 2003073393A JP 2003073393 A JP2003073393 A JP 2003073393A JP 2004279891 A JP2004279891 A JP 2004279891A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- liquid crystal
- crystal cell
- transmittance
- pixels
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶セルの表示ムラを検査する検査装置および検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
液晶モジュールの製造工程において複数の検査がおこなわれている。複数の検査をおこなうことによって、不良品が後工程に流入するのを未然に防ぎ、歩留まりの悪化を防いでいる。
【0003】
なお液晶モジュールは、アレイ基板とカラーフィルター基板とを対向させて、アレイ基板とカラーフィルター基板との隙間に液晶を封止した液晶セルに、バックライトやドライバー回路を取り付けて表示装置としたものである。
【0004】
液晶モジュールの表示ムラを検査することは難しい。これは、光っている輝点画素に比べて、表示ムラは徐々に輝度が変化するため、表示ムラを認識しにくいためである。また表示ムラの発見は、検査員の視覚による差が大きい。ある検査員が表示ムラを発見できても、他の検査員が表示ムラを発見できない場合がある。
【0005】
液晶モジュールの表示ムラは、液晶セルの不良とバックライトの不良が考えられる。液晶モジュールの表示ムラが発見されると、液晶セルからバックライトを取り外して、液晶セルとバックライトを検査する必要がある。液晶モジュールを分解するときに液晶モジュールの部品を破損する恐れがある。液晶モジュールを分解することは、不良品が後工程に流入してしまったことの証明であり、液晶モジュールの歩留まりの悪化や製造コストの増大の原因である。
【0006】
試料の透過率を測定して、ムラの度合いを定量化する方法が特許文献1に記載されている。投光ヘッドの光が試料を透過し、透過光を受光ヘッドで受光して透過率を求める。測定位置以外の位置の透過率は、周囲の測定値より類推する。しかし、投光ヘッドの光の出力が不安定である場合に、正確な透過率を求めることはできない。測定したい全ての位置で透過率を測定しているのではなく、類推によって透過率を求めている位置もあり、全ての位置で正確な透過率の測定をおこなっていない。
【0007】
【特許文献1】特開平5−196570号公報(図1)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、液晶モジュールを組み上げる前の液晶セルにおいて、検査員の能力に左右されないで表示ムラを検査できる検査装置および検査方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の液晶セルの検査装置の要旨は、カラーフィルター基板と、前記カラーフィルター基板と隙間を有して対向するアレイ基板と、前記隙間に封止された液晶と、を含む液晶セルの検査装置であって、レーザーを発振する発振器と、前記発振器と前記カラーフィルター基板との間において、前記レーザーを第1レーザーと第2レーザーに分けるハーフミラーと、前記第1レーザーの光量を検知する第1デテクターと、前記液晶セルを透過した第2レーザーの光量を検知する第2デテクターと、前記第1デテクターが検知した光量と第2デテクターが検知した光量より、第2レーザーの液晶セルに対する透過率を計算する手段と、を含む。液晶セルを透過するレーザーの透過率を計算することによって、定量的に表示ムラを検査することができる。
【0010】
前記液晶セルにおいて、前記第2レーザーを走査する手段を含む。第2レーザーを走査することによって、液晶セルの全ての箇所に第2レーザーを照射することができる。
【0011】
前記液晶セルは縦横に並んだ画素に分割され、さらに画素が複数のサブピクセルに分割されており、前記透過率を計算する手段は各サブピクセルの透過率を計算する手段を含む。各サブピクセルについて透過率を計算することによって、サブピクセルに依存した表示ムラを検出することができる。
【0012】
前記サブピクセルの透過率の変化を求める手段を含む。隣り合う画素の同色のサブピクセル同士で透過率の変化より、表示ムラのある箇所を検出することができる。
【0013】
前記カラーフィルター基板およびアレイ基板が液晶を駆動させるための電極を有し、該電極に電圧を印加する手段を含む。電極に電圧を印加すか否かで液晶セルの検査項目を変更することができる。
【0014】
本発明に係る液晶セルの検査方法の要旨は、カラーフィルター基板と、前記カラーフィルター基板と隙間を有して対向するアレイ基板と、前記隙間に封止された液晶と、を含む液晶セルの検査方法であって、レーザーを発振するステップと、前記レーザーを第1レーザーと第2レーザーとに分割するステップと、前記第1レーザーの光量を検知するステップと、前記液晶セルを透過した第2レーザーの光量を検知するステップと、前記第1レーザーの光量と液晶セルを透過した第2レーザーの光量より、第2レーザーの液晶セルに対する透過率を計算するステップとを含む。
【0015】
前記液晶セルにおいて、前記第2レーザーを走査するステップを含む。
【0016】
前記液晶セルは縦横に並んだ画素に分割され、該画素は複数のサブピクセルに分割され、前記透過率を計算するステップは、該サブピクセルごとにおこなう。
【0017】
前記サブピクセルごとに計算された透過率を用いて、隣り合う画素の同色のサブピクセル同士で透過率の変化を求めるステップを含む。
【0018】
前記液晶の駆動または非駆動を選択するステップを含む。
【0019】
【本発明の実施の形態】
本発明に係る液晶セルの検査装置および検査方法の実施の形態について、図面を用いて説明する。検査は液晶セルの表示ムラの検査である。
【0020】
検査される液晶セルは、カラーフィルター基板と、カラーフィルター基板と隙間を有して対向するアレイ基板と、隙間に封止された液晶とで構成される。液晶セルは縦横に複数の画素に分割される。各画素は、3つのサブピクセル(または絵素と言う)に分割される。サブピクセルで光の三原色(R(赤)、G(緑)、B(青))を発色し、1画素の色を表現する。さらに液晶セルは、カラーフィルター基板やアレイ基板に配向膜や液晶駆動用の電極であるITO(Indium Tin Oxide)が備えられる。
【0021】
図1に示すように、検査装置10は、レーザー18aを発振する発振器12と、発振器12とカラーフィルター基板24との間で、レーザー18aを第1レーザー18bと第2レーザー18cに分けるハーフミラー20と、第1レーザー18bの光量を検知する第1デテクター14と、液晶セル28を透過した第2レーザー18cの光量を検知する第2デテクター16と、第1デテクター14が検知した光量と第2デテクター16が検知した光量より、第2レーザー18cの液晶セル28に対する透過率を計算する演算手段(図示せず)とを備える。なお、本明細書における光量はレーザーパワーとする。
【0022】
第2レーザー18cのパワーを8μJ以下にし、液晶が気化しないようにする。さらに、第2デテクター16が検知する光量は18mJ/mm2以下にし、配向膜やITOに第2レーザー18cの熱の影響が出ないようにする。
【0023】
レーザー18aは、3色独立光源か、または、3色同一光源である。3色独立光源は、RGBの各波長のレーザー18aをそれぞれの光源で発振する。3色同一光源は、RGBの各波長のレーザー18aを同一の光源で発振するものである。
【0024】
3色独立光源は、RGBの各波長のレーザー18aが異なる光軸になっているタイプと、同一の光軸になっているタイプの2種類がある。図2(a)に示すレーザー18aの光軸が異なるタイプ12aは、3色の光軸を液晶セル28のサブピクセルのピッチ分だけずらす。液晶セル28のRGBの配列が、図3のようにストライプ配列であれば、RGBの各サブピクセル34に同時に第2レーザー18cを照射することができる。したがって、RGBの各サブピクセル34の表示ムラを同時に検査することができる。
【0025】
図2(b)に示す3色の光軸が同軸となっているタイプ12bは、発振する光源と検査をするサブピクセル34との同期をとる。例えば、Rのサブピクセル34に第2レーザー18cを照射するとき、R用のレーザー18aを発振する。
【0026】
図2(b)に示す3色独立光源のタイプ12bは、プリズム32によって光軸が1本になるため、同期をとりながら検査をおこなう。
【0027】
図2(c)に示す3色同一光源のタイプ12cは、3色独立光源の光軸が同一になっているタイプ12bと同様に同期をとりながら検査をおこなう。
【0028】
図2(a)および図2(b)に示す3色独立光源は、各色のレーザーダイオード30R,30G,30Bを使用する。3色同一光源では、金属蒸気レーザーであるHe−Cdレーザー12cなどを使用する。
【0029】
RGBの各色に対応したレーザー18を使用する理由を説明する。カラーフィルター基板24はサブピクセル34の各色に対応した着色層を有する。着色層の各色は、各色に対応した帯域の波長の光を透過させることができる。しかし、レーザー18aは単波長の光であり、着色層の色に対応した帯域以外の波長のレーザー18aは着色層を透過できない。したがって、サブピクセル34のRGBの各色に対応したレーザー18aが必要になる。RGBの各色に対応したレーザー18を使用することによって、サブピクセル34のそれぞれの透過率より、表示ムラの検査をおこなうことができる。
【0030】
本発明は、液晶セル28におけるレーザー18aの透過率を用いて表示ムラを検査する。レーザー18aの透過率を求めるためには第1デテクター14を点Cに配置する必要がある。しかし、第1デテクター14を点Cに配置すると、レーザー18aが液晶セル28を透過できなくなる。そこで、ハーフミラー20でレーザー18aを第1レーザー18bと第2レーザー18cとに分割し、第2レーザー18cの透過率を求める。ハーフミラー20によって分割される第1レーザー18bと第2レーザー18cの比は一定である。例えば、その比は1:1である。透過率は、第2レーザー18cの光量を第1レーザー18bの光量で除算して求める。
【0031】
検査はサブピクセル34ごとにおこなうため、第2レーザー18cが液晶セル28を透過するときにサブピクセル34の大きさに収束させる。これは、後述するように液晶を駆動させて検査をおこなうときにフォトリークによってアレイ基板26のTFT(Thin Film Transistor)が誤動作をするのを防止し、高精度の検査をおこなうためである。検査装置10は、上記のように第2レーザー18cを収束させるためのレンズを備えても良い。例えば、第2レーザー18cのスポットの大きさは約18μm×24μmであり、少なくとも約50μm×50μm以下にする。
【0032】
発振器12で発振されるレーザー18aの出力が不安定であった場合でも、正常な液晶セル28であれば、第2レーザー18cの光量から第1レーザー18bの光量を除算して求めた第2レーザー18cの透過率は一定になる。したがって、表示ムラの検査に第2レーザー18cの透過率を用いる。
【0033】
第2レーザー18cのレーザースポットは液晶セル28表面上を走査させられる。走査をおこなうための手段は、液晶セル28を挟持する手段または液晶セル28を載置して第2レーザー18cが透過する透明の板である。挟持する手段または透明の板が液晶セル28を移動させることによって、第2レーザー18cを走査させることができる。第2レーザー18cを走査することによって、サブピクセル34における第2レーザー18cの透過率の違いを求めることができる。
【0034】
演算手段が計算した透過率を用いて、隣り合う画素の同じ色のサブピクセル34同士で透過率の変化を求める手段、ムラを判定する手段を設ける。透過率の変化は、サブピクセル34の透過率の差分である。液晶モジュールで決められている閾値以上の変化がある箇所をムラと判定する。演算手段、透過率を求める手段、ムラを判定する手段はコンピュータなどのプログラムで構成しても良い。
【0035】
演算手段が計算した各サブピクセル34での透過率をサブピクセル34の各色ごとにグラフにする手段を設ける。図4や図5に示すように、透過率をグラフにすることによって、透過率の変化がよく分かり、グラフからムラを検出できる。なお、図4や図5において透過率は、第1デテクター14と第2デテクター16の検知した光量の比をレーザー反射・吸収量の相対値で表している。図4において、約50〜100mmの位置で透過率の違いがあり、ムラと判定される。なお、図4において、両端の山は液晶セル28の表示領域以外の部分である。図5において、周期的に透過率の変化が起こっており、サブピクセル34単位で透過率の測定が可能なことを示す。
【0036】
発振器12と液晶セル28の間にミラー22を設ける。ミラー22の角度を調節して、液晶セル28に対する第2レーザー18cの角度が90°になるようにする。
【0037】
カラーフィルター基板24およびアレイ基板26には電極がある。この電極に電圧が印加されると、液晶が駆動される。検査装置10は、電極に電圧を印加する手段を含む。電圧を印加したときとしないときで、検出される表示ムラが異なる。電圧を印加した場合、アレイ基板26の構造、セルギャップなどに起因した表示ムラが検出できる。電圧を印加しない場合、カラーフィルター基板24などの液晶駆動に影響を受けない部品に起因した表示ムラを検出できる。電圧を印加するか否かによって検査項目が異なる。
【0038】
液晶セル28の検査方法について説明する。検査項目に応じて液晶セル28の電極に電圧を印加するか否かを選択し、液晶を駆動状態または非駆動状態にする。
【0039】
発振器12よりレーザー18aを発振する。発振するレーザー18aについては、液晶セル28のサブピクセル34の配列がストライプ配列であり、かつ、レーザー18aの3色の光軸が異なるのであれば、3色同時に発振する。3色の光軸が同一であれば、検査するサブピクセル34の色に発振するレーザー18aを同期させる。
【0040】
ハーフミラー20がレーザー18aを第1レーザー18bと第2レーザー18cに分割する。第1レーザー18bは、進行先にある第1デテクター14によって光量が検知される。第1レーザー18bは液晶セル28を透過していないので、第1レーザー18bと第2レーザー18cの光量の比が1:1であれば、液晶セル28表面の点Cでの光量と同じである。
【0041】
第2レーザー18cは、ミラー22によって液晶セル28に90°の角度で入射されるように進行方向が調節される。第2レーザー18cは液晶セル28を透過し、第2デテクター16で光量が検知される。
【0042】
演算手段は、第2レーザー18cの光量を第1レーザー18bの光量で除算することによって、第2レーザー18cの透過率を計算する。
【0043】
第2レーザー18cを走査し、各サブピクセル34での透過率を求めてグラフにする。透過率が変化する位置を検出する。すなわち、隣り合う画素の同色のサブピクセル34同士で透過率の差分を求め、液晶モジュールによって決められた閾値以上の変化がある箇所についてムラと判定する。
【0044】
以上、本発明は定量的に液晶セル28の表示ムラを検出することができる。検査員の能力の違いによる表示ムラの検出の有無がなくなる。液晶セル28の時点で表示ムラを検査できるため、液晶モジュールを組み立てる前に液晶セル28の不良品を見つけだすことができる。したがって、歩留まりの向上や製造コストの削減に寄与する。また、サブピクセル34ごとに検査をおこなうため、サブピクセル34のRGBに依存した表示ムラを検出することができる。
【0045】
また、表示ムラの検査を液晶セル28のエリア単位でおこなっても良い。図6に示すように、複数のエリア36a,36bに分割し、相互に共通部分36cを持つエリア36a,36b同士の透過率を利用して、各エリア36a,36b同士の透過率から差分を求めてムラの判定をおこなう。上記の様にムラの判定をおこなうために、検査装置10は、演算手段が計算した各サブピクセルの透過率を用いて各エリア36a,36bの透過率を求める手段、各エリア36a,36b同士から透過率の差分を求める手段、および、求められた差分からムラを判定する手段を含む。これらの各手段はコンピュータのプログラムで構成しても良い。
【0046】
エリア単位で表示ムラを検査する場合、エリア36a,36b同士の重なり36cとエリア36a,36b面積を増やすことで、測定誤差・発振器の熱揺らぎなどの影響を極力抑えられる。一方、重なり36cとエリア36a,36b面積を減らすことによって、検査解像度を上げることができる。エリア36a,36b同士の重なり36cとエリア36a,36b面積については、目的とする液晶モジュールのスペックと測定絶対量から最適値を検索する。
【0047】
以上、本発明の実施の形態を説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されることはない。その他、本発明は、主旨を逸脱しない範囲で当業者の知識に基づき種々の改良、修正、変更を加えた態様で実施できるものである。
【0048】
【発明の効果】
本発明は、液晶セルの表示ムラを検査員の能力に関係なく定量的に検出することができる。表示ムラの検出が一定のレベルでおこなうことができる。液晶セルの時点で表示ムラを検査できるため、液晶モジュールを組み立てる前に不良品を見つけだすことができる。したがって、歩留まりの向上や製造コストの削減に寄与する。サブピクセルごとに検査をおこなうため、サブピクセルのRGBに依存した表示ムラを検出することができる。液晶セルで表示ムラを検出できるため、液晶モジュールで表示ムラが発見された場合、バックライトの不良に起因した表示ムラであることがすぐに分かる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る液晶セルの表示ムラの検査装置を示す図である。
【図2】各レーザーの構成を示す図であり、(a)は3色独立光源で光軸が分かれている図であり、(b)は3色独立光源で光軸が同一の図であり、(c)は3色同一光源の図である。
【図3】サブピクセルがストライプ配列になった図である。
【図4】透過率をグラフにした図である。
【図5】サブピクセルごとに透過率の測定が可能な様子を示す図である。
【図6】液晶セルを複数の領域に分割して透過率の変化を測定するための図である。
【符号の説明】
10:検査装置
12,12a,12b,12c:発振器
14,16:デテクター
18a,18b,18c:レーザー
20:ハーフミラー
22:ミラー
24:カラーフィルター基板
26:アレイ基板
28:液晶セル
30R,30G,30G:レーザーダイオード
34:サブピクセル
36a,36b,36c:エリア[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an inspection device and an inspection method for inspecting display unevenness of a liquid crystal cell.
[0002]
[Prior art]
A plurality of inspections are performed in a manufacturing process of a liquid crystal module. By performing a plurality of inspections, defective products are prevented from flowing into the subsequent processes, and the yield is prevented from deteriorating.
[0003]
The liquid crystal module is a display device in which a backlight and a driver circuit are attached to a liquid crystal cell in which liquid crystal is sealed in the gap between the array substrate and the color filter substrate with the array substrate and the color filter substrate facing each other. is there.
[0004]
It is difficult to inspect the display unevenness of the liquid crystal module. This is because display unevenness has a gradual change in luminance compared to a shining bright pixel, and display unevenness is more difficult to recognize. In addition, there is a large difference in the detection of display unevenness due to the visual inspection of the inspector. Even if a certain inspector can find display unevenness, another inspector may not find display unevenness.
[0005]
The display unevenness of the liquid crystal module may be caused by a defective liquid crystal cell and a defective backlight. If display unevenness of the liquid crystal module is found, it is necessary to remove the backlight from the liquid crystal cell and inspect the liquid crystal cell and the backlight. When disassembling the liquid crystal module, parts of the liquid crystal module may be damaged. Disassembly of the liquid crystal module is a proof that defective products have flowed into a post-process, and is a cause of a decrease in the yield of the liquid crystal module and an increase in manufacturing cost.
[0006]
Patent Document 1 describes a method for measuring the transmittance of a sample and quantifying the degree of unevenness. The light from the light projection head is transmitted through the sample, and the transmitted light is received by the light receiving head to determine the transmittance. The transmittance at a position other than the measurement position is inferred from surrounding measurement values. However, when the light output of the light projection head is unstable, an accurate transmittance cannot be obtained. The transmittance is not measured at all the positions to be measured, but there are also positions where the transmittance is obtained by analogy, and the transmittance is not accurately measured at all the positions.
[0007]
[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-196570 (FIG. 1)
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
An object of the present invention is to provide an inspection apparatus and an inspection method capable of inspecting display unevenness in a liquid crystal cell before assembling a liquid crystal module without being affected by the ability of an inspector.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The gist of the liquid crystal cell inspection apparatus of the present invention is a liquid crystal cell inspection apparatus including a color filter substrate, an array substrate facing the color filter substrate with a gap, and a liquid crystal sealed in the gap. An oscillator that oscillates a laser, a half mirror that divides the laser into a first laser and a second laser between the oscillator and the color filter substrate, and a first mirror that detects a light amount of the first laser. A detector, a second detector for detecting an amount of the second laser transmitted through the liquid crystal cell, and a transmittance of the second laser to the liquid crystal cell based on the amount of light detected by the first detector and the amount of light detected by the second detector. Means for calculating. By calculating the transmittance of the laser beam transmitted through the liquid crystal cell, display unevenness can be quantitatively inspected.
[0010]
The liquid crystal cell includes means for scanning the second laser. By scanning the second laser, the second laser can be applied to all portions of the liquid crystal cell.
[0011]
The liquid crystal cell is divided into pixels arranged in rows and columns, and the pixels are further divided into a plurality of sub-pixels. The means for calculating the transmittance includes means for calculating the transmittance of each sub-pixel. By calculating the transmittance for each sub-pixel, display unevenness depending on the sub-pixel can be detected.
[0012]
Means for determining a change in transmittance of the sub-pixel. A portion having display unevenness can be detected from a change in transmittance between subpixels of the same color of adjacent pixels.
[0013]
The color filter substrate and the array substrate have electrodes for driving liquid crystal, and include means for applying a voltage to the electrodes. The inspection items of the liquid crystal cell can be changed depending on whether or not a voltage is applied to the electrodes.
[0014]
The gist of the liquid crystal cell inspection method according to the present invention is to inspect a liquid crystal cell including a color filter substrate, an array substrate facing the color filter substrate with a gap, and a liquid crystal sealed in the gap. A method of oscillating a laser, splitting the laser into a first laser and a second laser, detecting an amount of light of the first laser, and a second laser transmitted through the liquid crystal cell. Detecting the amount of light of the first laser and calculating the transmittance of the second laser to the liquid crystal cell from the amount of the second laser transmitted through the liquid crystal cell.
[0015]
Scanning the second laser in the liquid crystal cell.
[0016]
The liquid crystal cell is divided into pixels arranged vertically and horizontally, the pixels are divided into a plurality of sub-pixels, and the step of calculating the transmittance is performed for each of the sub-pixels.
[0017]
Using the transmittance calculated for each of the sub-pixels to determine a change in transmittance between sub-pixels of the same color of adjacent pixels.
[0018]
Selecting whether to drive or not to drive the liquid crystal.
[0019]
[Embodiment of the present invention]
An embodiment of a liquid crystal cell inspection apparatus and an inspection method according to the present invention will be described with reference to the drawings. The inspection is an inspection for display unevenness of the liquid crystal cell.
[0020]
The liquid crystal cell to be inspected includes a color filter substrate, an array substrate facing the color filter substrate with a gap, and a liquid crystal sealed in the gap. The liquid crystal cell is divided vertically and horizontally into a plurality of pixels. Each pixel is divided into three sub-pixels (or picture elements). The three primary colors (R (red), G (green), and B (blue)) of light are generated by the sub-pixels, and the color of one pixel is expressed. Further, the liquid crystal cell is provided with an alignment film and an ITO (Indium Tin Oxide) which is an electrode for driving the liquid crystal on a color filter substrate or an array substrate.
[0021]
As shown in FIG. 1, the
[0022]
The power of the
[0023]
The
[0024]
There are two types of three-color independent light sources: a type in which the
[0025]
The
[0026]
In the
[0027]
The
[0028]
The three-color independent light sources shown in FIGS. 2A and 2B use
[0029]
The reason for using the lasers 18 corresponding to each color of RGB will be described. The color filter substrate 24 has a coloring layer corresponding to each color of the sub-pixel 34. Each color of the colored layer can transmit light of a wavelength in a band corresponding to each color. However, the
[0030]
In the present invention, display unevenness is inspected using the transmittance of the
[0031]
Since the inspection is performed for each sub-pixel 34, the
[0032]
Even if the output of the
[0033]
The laser spot of the
[0034]
Using the transmittance calculated by the arithmetic means, there are provided means for determining a change in transmittance between
[0035]
Means are provided for graphing the transmittance of each sub-pixel calculated by the arithmetic means for each color of the sub-pixel. As shown in FIG. 4 and FIG. 5, by plotting the transmittance in a graph, the change in the transmittance can be easily understood, and unevenness can be detected from the graph. 4 and 5, the transmittance indicates the ratio of the amount of light detected by the
[0036]
A
[0037]
The color filter substrate 24 and the
[0038]
An inspection method of the
[0039]
A
[0040]
[0041]
The traveling direction of the
[0042]
The calculating means calculates the transmittance of the
[0043]
The
[0044]
As described above, according to the present invention, display unevenness of the
[0045]
Further, the inspection for display unevenness may be performed for each area of the
[0046]
In the case of inspecting the display unevenness in units of area, by increasing the
[0047]
The embodiments of the present invention have been described above, but the present invention is not limited to the above embodiments. In addition, the present invention can be implemented in various modified, modified, and changed forms based on the knowledge of those skilled in the art without departing from the scope of the present invention.
[0048]
【The invention's effect】
According to the present invention, display unevenness of a liquid crystal cell can be quantitatively detected regardless of the ability of an inspector. Detection of display unevenness can be performed at a certain level. Since the display unevenness can be inspected at the time of the liquid crystal cell, a defective product can be found out before assembling the liquid crystal module. Therefore, it contributes to improvement in yield and reduction in manufacturing cost. Since the inspection is performed for each sub-pixel, display unevenness depending on the RGB of the sub-pixel can be detected. Since display unevenness can be detected in the liquid crystal cell, when display unevenness is found in the liquid crystal module, it is immediately known that the display unevenness is caused by a defective backlight.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a view showing an apparatus for inspecting display unevenness of a liquid crystal cell according to the present invention.
2A and 2B are diagrams showing a configuration of each laser, in which FIG. 2A is a diagram in which optical axes are divided by three-color independent light sources, and FIG. 2B is a diagram in which optical axes are identical by three-color independent light sources. , (C) is a diagram of the same light source for three colors.
FIG. 3 is a diagram in which sub-pixels are arranged in a stripe array.
FIG. 4 is a graph showing transmittance.
FIG. 5 is a diagram illustrating a state in which transmittance can be measured for each sub-pixel.
FIG. 6 is a diagram for measuring a change in transmittance by dividing a liquid crystal cell into a plurality of regions.
[Explanation of symbols]
10:
Claims (10)
前記カラーフィルター基板と隙間を有して対向するアレイ基板と、
前記隙間に封止された液晶と、
を含む液晶セルの検査装置であって、
レーザーを発振する発振器と、
前記発振器と前記カラーフィルター基板との間において、前記レーザーを第1レーザーと第2レーザーに分けるハーフミラーと、
前記第1レーザーの光量を検知する第1デテクターと、
前記液晶セルを透過した第2レーザーの光量を検知する第2デテクターと、
前記第1デテクターが検知した光量と第2デテクターが検知した光量より、第2レーザーの液晶セルに対する透過率を計算する手段と、
を含む検査装置。A color filter substrate,
An array substrate facing the color filter substrate with a gap,
A liquid crystal sealed in the gap,
An inspection apparatus for a liquid crystal cell including:
An oscillator that oscillates a laser,
A half mirror that divides the laser into a first laser and a second laser between the oscillator and the color filter substrate;
A first detector for detecting a light amount of the first laser;
A second detector for detecting a light amount of a second laser transmitted through the liquid crystal cell;
Means for calculating the transmittance of the second laser to the liquid crystal cell from the amount of light detected by the first detector and the amount of light detected by the second detector;
Inspection equipment including.
前記カラーフィルター基板と隙間を有して対向するアレイ基板と、
前記隙間に封止された液晶と、
を含む液晶セルの検査方法であって、
レーザーを発振するステップと、
前記レーザーを第1レーザーと第2レーザーとに分割するステップと、
前記第1レーザーの光量を検知するステップと、
前記液晶セルを透過した第2レーザーの光量を検知するステップと、
前記第1レーザーの光量と液晶セルを透過した第2レーザーの光量より、第2レーザーの液晶セルに対する透過率を計算するステップと、
を含む検査方法。A color filter substrate,
An array substrate facing the color filter substrate with a gap,
A liquid crystal sealed in the gap,
A liquid crystal cell inspection method comprising:
Oscillating a laser;
Splitting the laser into a first laser and a second laser;
Detecting the amount of light of the first laser;
Detecting a light amount of the second laser transmitted through the liquid crystal cell;
Calculating the transmittance of the second laser to the liquid crystal cell based on the light intensity of the first laser and the light intensity of the second laser transmitted through the liquid crystal cell;
Inspection method including.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003073393A JP4556068B2 (en) | 2003-03-18 | 2003-03-18 | Liquid crystal cell inspection apparatus and inspection method |
TW93103618A TWI249629B (en) | 2003-03-18 | 2004-02-16 | Liquid crystal cell inspection device and its inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003073393A JP4556068B2 (en) | 2003-03-18 | 2003-03-18 | Liquid crystal cell inspection apparatus and inspection method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004279891A true JP2004279891A (en) | 2004-10-07 |
JP4556068B2 JP4556068B2 (en) | 2010-10-06 |
Family
ID=33289302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003073393A Expired - Fee Related JP4556068B2 (en) | 2003-03-18 | 2003-03-18 | Liquid crystal cell inspection apparatus and inspection method |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4556068B2 (en) |
TW (1) | TWI249629B (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007093304A (en) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Sharp Corp | Apparatus, method, and program for detecting defect, image sensor device and module, image processing apparatus, digital image-quality tester, computer-readable recording medium |
CN111604588A (en) * | 2020-06-28 | 2020-09-01 | 曹福金 | Method for cutting log by using nitrogen flame-retardant laser |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6138537A (en) * | 1984-07-31 | 1986-02-24 | Canon Inc | Method for inspecting color filter |
JPH01313745A (en) * | 1988-06-13 | 1989-12-19 | Dainippon Printing Co Ltd | Inspecting method for colored periodic pattern |
JPH05196570A (en) * | 1992-01-23 | 1993-08-06 | Dainippon Printing Co Ltd | Method for penetration rate inspection of periodic pattern and unevenness quantification |
JPH07243969A (en) * | 1994-03-08 | 1995-09-19 | Nikon Corp | Trasmittance measuring device |
JPH11201866A (en) * | 1998-01-09 | 1999-07-30 | Seiko Epson Corp | Apparatus and method for inspection of cell gap of liquid crystal panel |
-
2003
- 2003-03-18 JP JP2003073393A patent/JP4556068B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-02-16 TW TW93103618A patent/TWI249629B/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6138537A (en) * | 1984-07-31 | 1986-02-24 | Canon Inc | Method for inspecting color filter |
JPH01313745A (en) * | 1988-06-13 | 1989-12-19 | Dainippon Printing Co Ltd | Inspecting method for colored periodic pattern |
JPH05196570A (en) * | 1992-01-23 | 1993-08-06 | Dainippon Printing Co Ltd | Method for penetration rate inspection of periodic pattern and unevenness quantification |
JPH07243969A (en) * | 1994-03-08 | 1995-09-19 | Nikon Corp | Trasmittance measuring device |
JPH11201866A (en) * | 1998-01-09 | 1999-07-30 | Seiko Epson Corp | Apparatus and method for inspection of cell gap of liquid crystal panel |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007093304A (en) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Sharp Corp | Apparatus, method, and program for detecting defect, image sensor device and module, image processing apparatus, digital image-quality tester, computer-readable recording medium |
US7783103B2 (en) | 2005-09-27 | 2010-08-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image processing device, digital image quality tester, and defect detecting method |
JP4657869B2 (en) * | 2005-09-27 | 2011-03-23 | シャープ株式会社 | Defect detection apparatus, image sensor device, image sensor module, image processing apparatus, digital image quality tester, defect detection method, defect detection program, and computer-readable recording medium |
CN111604588A (en) * | 2020-06-28 | 2020-09-01 | 曹福金 | Method for cutting log by using nitrogen flame-retardant laser |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4556068B2 (en) | 2010-10-06 |
TW200428069A (en) | 2004-12-16 |
TWI249629B (en) | 2006-02-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100783309B1 (en) | System for testing a flat panel display device | |
JP5260320B2 (en) | Inspection system and inspection method for flat panel display device | |
KR20070099398A (en) | Apparatus for inspecting substrate and method of inspecting substrate using the same | |
TWI421486B (en) | Apparatus and method for measuring an optical anisotropic parameter | |
JP4663529B2 (en) | Optical anisotropy parameter measuring method and measuring apparatus | |
US7643141B2 (en) | Method and apparatus for inspecting color filter | |
KR101400757B1 (en) | Display panel inspection apparatus | |
CN108027527B (en) | Display device, luminance defect correction method for display device, and luminance defect correction device | |
KR101391448B1 (en) | System for testing a flat panel display device and mehtod thereof | |
JP4556068B2 (en) | Liquid crystal cell inspection apparatus and inspection method | |
US20070075279A1 (en) | Method and system for automatically inspecting a display including a layer of liquid crystal material | |
JP2004117062A (en) | Electro-optic panel board, methods of testing and manufacturing the same, electro-optic device and electronic equipment | |
JP2006322973A (en) | Image display panel restoration method | |
JP2007279026A (en) | Substrate inspecting apparatus and substrate inspecting method using same | |
JP2002277411A (en) | Method and apparatus for inspecting transparent laminate | |
JP2012181171A (en) | Apparatus and method for inspecting cell gap of reflection type liquid crystal panel | |
JP2000039599A (en) | Method and device for inspecting liquid crystal display substrate and liquid crystal display substrate | |
JP2006322831A (en) | Deterioration testing device and deterioration test method | |
JP3899874B2 (en) | Evaluation method and apparatus for liquid crystal panel | |
JPH08122272A (en) | Inspection device of liquid crystal color filter | |
JPH10232113A (en) | Method for measuring gap between electrodes of liquid crystal cell | |
JP2008082878A (en) | Illuminance measuring device and illuminance measuring method | |
JP2001183615A (en) | Method for correcting luminescent point of liquid crystal display device and liquid crystal display device | |
KR20080060027A (en) | Test apparatus for liquid crystal display | |
JP2000121326A (en) | Gap detection system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060317 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090501 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090723 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091216 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100301 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100621 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20100706 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100706 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20100707 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130730 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |