JP2004262088A - 画像形成装置、画像処理プログラムおよび記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【課題】複数の副走査ピッチのばらつきを、電気的に補正する画像形成装置を提供することを目的とする。
【解決手段】副走査方向に連続する3つの記録画素(記録しようとする記録画素、前記記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素、前記記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素)の濃度情報と、複数のレーザーダイオード(LD)毎に設定した副走査方向シフト量とから、記録画素に出力する露光量の光を制御することで、複数のレーザーダイオード(LD)から発せられるレーザビーム間の副走査ピッチのばらつきを電気的に補正する。
【選択図】 図1
【解決手段】副走査方向に連続する3つの記録画素(記録しようとする記録画素、前記記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素、前記記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素)の濃度情報と、複数のレーザーダイオード(LD)毎に設定した副走査方向シフト量とから、記録画素に出力する露光量の光を制御することで、複数のレーザーダイオード(LD)から発せられるレーザビーム間の副走査ピッチのばらつきを電気的に補正する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタル複写機、レーザプリンタなどの画像形成装置、該画像形成装置で実行される画像処理プログラムおよび記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の画像形成装置では、感光体上の画像部にレーザ光を照射して、該照射した部分にトナーが付着して画像が形成されていた。いわゆる、ネガ/ポジプロセス方式を用いる電子写真方式により画像が形成されていた。
このような画像形成装置は、書込密度の高密度化や、書込速度の高速化を目的として、2以上の複数の光ビームで記録媒体上を走査する、マルチビーム走査方式が一般に用いられている。
【0003】
なお、本発明にかかる先行技術文献としては、入力された画像データを2倍解像度データに変換し、該変換した2倍解像度データに対してレジストずれの補正処理を行い、補正後の高解像度データを用いて、元の解像度での1画素に相当する4画素を単位領域として、その単位領域内での濃度分布の偏りから、元の解像度のデータを生成し、記録することで、副走査方向における副走査ピッチ以下のレジストずれを補正する方法がある。なお、この方法では、複数回の主走査での各露光量を制御することで、画像の副走査方向の形成位置を調整している(例えば、特許文献1参照)。
【0004】
また、複数個の半導体レーザと、該半導体レーザから光ビームを各々平行光束にするコリメータレンズと、これら光ビームを重ね合せて出射するビーム合成手段とを実質一体的に合成してなる光源部を有し、複数本の光ビームを同時に繰り返し走査するマルチビーム走査装置において、前記光源部は、ビーム合成手段から射出される各光束が少なくとも主走査方向に所定角度隔てて出射されるよう構成すると共に、前記合成された光ビームを光軸回りに回動調整自在とすることで、走査線ピッチ(副走査ピッチ)の調整を行っているものがある(例えば、特許文献2参照)。
【0005】
【特許文献1】
特開2001−309139号公報
【特許文献2】
特開平9−43523号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
一般に、マルチビーム走査方式を用いる場合、所定の走査ピッチが得られないため、その調整が必要となる。例えば、2ビームで走査する方式において、走査ビームの副走査ピッチとして、LD1〜LD2間のピッチ=P12と、LD2〜次走査のLD1間のピッチ=P21の2種が存在する場合は、P12=P21であることが望ましく、P12=P21となるように調整する必要がある。
【0007】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、マルチビーム走査方式において、複数の副走査ピッチのばらつきを、電気的に補正する画像形成装置、画像処理プログラムおよび記録媒体を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
かかる目的を達成するために本発明は以下のような特徴を有する。
請求項1記載の発明は、複数の光ビームで同時に記録媒体上を走査し、記録媒体上に画像を形成する画像形成装置であって、記録しようとする記録画素と、記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素と、記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素と、の3つの記録画素の濃度情報と、副走査ピッチよりも小さい所望の副走査方向シフト量とから、記録画素に出力すべき光出力ランクを算出し、予め定めた光出力ランクに対応した露光量の光を記録画素の位置に出力する構成であり、副走査方向シフト量は、複数の光ビームの各々について独立に設定可能であることを特徴とする。
【0009】
請求項2記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置において、副走査方向シフト量は、画像形成装置の電源がオフからオンとなった際に設定することを特徴とする。
【0010】
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の画像形成装置において、印刷形成される記録紙の枚数を計測する計測手段を有し、副走査方向シフト量は、計測手段により計測した枚数が所定枚数を経過した際に設定することを特徴とする。
【0011】
請求項4記載の発明は、請求項1から3の何れか1項に記載の画像形成装置において、装置内部の温度変化を検出する温度検出手段を有し、副走査方向シフト量は、温度検出手段により検出した温度変化が所定の閾値を越えた際に設定することを特徴とする。
【0012】
請求項5記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置において、記録画素に出力すべき光出力ランクの算出を実行させる算出実行手段を有することを特徴とする。
【0013】
請求項6記載の発明は、記録しようとする記録画素と、記録画素と、主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素と、記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素と、の3つの記録画素の濃度情報と、副走査ピッチよりも小さい所望の副走査方向シフト量とから、記録画素に出力すべき光出力ランクを算出し、予め定めた光出力ランクに対応した露光量の光を記録画素の位置に出力し、複数の光ビームで同時に記録媒体上を走査し、記録媒体上に画像を形成する画像形成装置において実行される画像処理プログラムであって、記録画素に出力すべき光出力ランクの算出処理をコンピュータに実行させることを特徴とする。
【0014】
請求項7記載の発明は、請求項6記載の画像処理プログラムを記録媒体に記録したことを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しながら本発明にかかる実施の形態について詳細に説明する。
【0016】
(第1の実施の形態)
まず、図1を参照しながら第1の実施の形態における画像形成装置の構成について説明する。
2つのレーザーダイオード1(LD1、LD2)より出射した2本のレーザビーム2(ビーム1、ビーム2)は、定速回転するポリゴンミラー3により主走査方向に走査され、レンズ4を介して感光体ドラム面上5に結像される。
以後、公知の画像形成プロセスを経て、画像が転写材上に形成される。2つのレーザーダイオード1(LD)から出射されたレーザビーム2の、感光体ドラム面上5における副走査ピッチP12=P21の目標値は、42.3[μm](600dpi)とする。なお、主走査書き込みピッチも600dpiとする。
なお、副走査ピッチP12は、LD1〜LD2間のピッチを示し、P21は、LD2〜次走査のLD1間のピッチを示す。
【0017】
ここで、どちらか1つのレーザーダイオード(LD)からのレーザビームの副走査ピッチに着目すると、副走査ピッチは感光体ドラム5の回転速度によって決定し、P11=P22=84.6[μm]となる(P11:LD1〜次走査LD1の間隔、P22:LD2〜次走査LD2の間隔)。
【0018】
同期検知器6は、光電変換素子および信号波形整形回路からなり、LD1、LD2のレーザビームを検出した検出信号を、同期検知信号分離回路7へ送る。
【0019】
同期検知信号分離回路7は、同期検知器6から送られた検出信号を、LD1とLD2の同期検知信号に分離してメモリ制御回路8へ送る。
【0020】
メモリ制御回路8は、同期検知信号に基づき、ラインメモリ9からパターン検出処理回路10へ画像データを出力する。
【0021】
パターン検出処理回路10は、600dpiの2値画像データのうち、記録しようとする主走査位置の記録画素と、その上下の2つの記録画素(主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素と、主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素)の併せて3つの記録画素の濃度情報と、副走査シフト量に応じたパルス幅コードと、をLUT回路11へ送る。
ここで、副走査シフト量は、2つのビーム各々で独立に設定可能とし、次の方法により定める。
【0022】
まず、2つのレーザーダイオード1(LD1、LD2)からのビームの副走査ピッチのうち、同一走査での副走査ピッチP12を、以下の方法により測定する。
【0023】
副走査ピッチ検出部14は、図2に示すアパーチャを備えた光検出器(光検出面は、感光体面と光学的に同一な面に設置)であり、レーザビーム2が横切る副走査位置によって、レーザビーム2が入射する期間が異なることを利用して走査時間を計測する。
【0024】
CPUは、レーザビーム1のみを点灯し、横切る期間:t1を計測し、ついでレーザビーム2のみを点灯し、横切る期間:t2を測定する。そして、得られたt1、t2と、ビーム走査速度vより、副走査ピッチP12を以下の式(1)により求めることとなる。
P12=(t2−t1)/v・・・(式1)
P21=P11−P12
【0025】
得られた副走査ピッチより、補正すべき副走査シフト量は、
P12−P21=δの1/2とする。
【0026】
パターン検出処理回路10は、3つの記録画素のオン/オフ情報と、副走査シフト量から、パルス幅コ−ドC1、C2を、以下の条件により求めることが可能となる。
【0027】
δ<0(P12<P21)のとき、
C1=32・D0 +(D− −D0 )(δ/2/P11×32)
C2=32・D0 +(D0 −D+ )(δ/2/P11×32)
δ>0(P12>P21)のとき、
C1=32・D0 +(D0 −D+ )(δ/2/P11×32)
C2=32・D0 +(D− −D0 )(δ/2/P11×32)
【0028】
上記条件により決定したパルス幅コードC1、C2、をLUT回路へ送る。
ここで、Dkは、画素のオンオフ情報であり、Dk=1:オン/Dk=0:オフを表す。また、添え字kは、副走査位置を表し、k:−は記録画素のひとつ前の副走査位置、k:0は記録画素の副走査位置、k:+は記録画素のひとつ後の副走査位置を示す。
【0029】
LUT回路11は、パターン検出処理回路10より送られた幅コードに対応して、あらかじめ設定したパルス幅、パルス位置信号を、PWM回路12へ送る。
【0030】
PWM回路12は、受け取ったパルス幅、パルス位置信号に基づき、LDドライバ13へPWM信号を送る。なお、PWM信号は、ビデオクロック信号(600dpiの周波数)に同期して出力される。
なお、PWM回路12は、600dpiの書き込み周期内で、パルス幅およびパルス開始位置を、書き込み周期の1/64分解能で設定したパルス信号を出力することが可能である。
【0031】
LDドライバ13は、「オン」信号を受けると駆動電流をレーザーダイオード1(LD)へ供給する。また、「オフ」信号を受けるとオフセット電流をレーザーダイオード1(LD)へ供給する。
【0032】
なお、幅コードに対応するパルス幅Wは、LUT(表1)に設定する。
【0033】
【表1】
【0034】
また、書き込み周期内でのパルス開始位置は、パルス開始位置=(書き込み周期−パルス幅W)/2により決定する。
【0035】
入力画像データに応じてパターン検出処理回路10より出力される、幅コードの例を図3に示す。
幅コードに対応するパルス幅Wの設定はリニアとしてLUTを作成した。
LUTを使用して、図4のテストパターン画像を転写材へ出力し、目視にて評価した結果、2dot幅水平ラインの濃度は適正となる。また、2dot幅水平ライン12、2dot幅水平ライン21の濃度は同じとなる。また、1dot幅水平ライン1、1dot幅水平ライン2の濃度は同じとなる。副走査シフト量δおよびLUT設定が適切でないと、描画するレーザーダイオード1(LD)の組み合わせが異なるパターンを出力した場合に、濃度差が発生する。
【0036】
なお、補正すべき副走査シフト量δの設定を、画像形成装置の電源がオフからオンとなるたびに実施することにより、温度サイクルや振動に起因する副走査ピッチのずれを補正することができる。
【0037】
なお、第1の実施の形態は、入力データの濃度値が2値(0または1)の場合について行なったが、幅コードの算出方法を一般化すると以下のようであり、入力データが多値であっても同様の手順でLUTを作成できる。
【0038】
副走査ピッチ:P
調整ステップ:P/M(Mは整数)
調整量jの変域は、−(M−1),・・・,+(M−1):ただしjは整数
濃度値Dkの変域は、0,・・・,Dkmax:ただしDkは整数、添え字kは、副走査位置を表し、k:−は記録画素のひとつ前の副走査位置、k:0は記録画素の副走査位置、k:+は記録画素のひとつ後の副走査位置。
幅コードCは、
j≦0のとき、C=M・D0 +(D0 −D+ )・j
j>0のとき、C=M・D0 +(D− −D0 )・j
Cの変域は、0,・・・,Dkmax・Mとなる。
【0039】
なお、第1の実施の形態は、同時に走査する光ビームが2つの場合について行なったが、ビーム数が3以上であっても適用可能となる。
【0040】
(第2の実施の形態)
次に、第2の実施の形態について説明する。まず、図5を参照しながら第2の実施の形態における画像形成装置の構成を示す。
第2の実施の形態における画像形成装置では、副走査シフト量と画像データに基づく幅コード出力の算出を、CPUで実施する。
第2の実施の形態における画像形成装置は、第1の実施の形態において具備するパターン検出処理回路10を不要とした画像形成装置であり、パターン検出処理回路10を有することなく、電気的に副走査ピッチずれを補正する機能を付加することが可能となる。
【0041】
なお、上述する実施の形態は、本発明の好適な実施の形態であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更実施が可能である。
例えば、上記実施の形態において、補正すべき副走査シフト量δの設定を、画像形成装置の電源設定時に行うこととしたが、他には、所定枚数通紙後などに実行することも可能である。また、機内にサーミスタなどの温度センサがある場合は前回調整時との温度差が大きいときに実行するなどしてもよい。更に、感光体または現像ユニットの交換時において実行することも可能である。また、オペレーションパネル等を用いて手動により実行させることも可能である。
【0042】
また、温度センサを用いて副走査シフト量の設定を行う場合として、書き込みユニットのレジスト側、定着側のそれぞれに温度センサを設け、機内温度を常時監視し、所定の温度差を検知した際に設定することも可能である。
【0043】
【発明の効果】
以上の説明より明らかなように本発明は以下のような効果を奏する。
第1の効果として、副走査方向に連続する3つの画素の濃度情報と、複数のレーザーダイオード(LD)毎に設定した副走査方向シフト量とから、記録画素に出力する露光量の光を制御するので、複数のレーザーダイオード(LD)から発せられるビーム間の副走査ピッチのばらつきを、電気的に補正することが可能となる。
【0044】
第2の効果として、複数のレーザーダイオード(LD)毎の副走査方向シフト量を、画像形成装置の電源がオンとなるたびに設定することで、温度サイクルや振動などにより副走査ピッチが変化した場合でも、ビーム間の副走査ピッチのばらつきを補正することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる第1の実施の形態における画像形成装置の構成を示す図である。
【図2】副走査ピッチ検出部のアパーチャ形状を示す図である。
【図3】入力画像データとパルス幅コードを示す図である。
【図4】テストパターンを示した図である。
【図5】本発明にかかる第2の実施の形態における画像形成装置の構成を示す図である。
【符号の説明】
1 レーザーダイオード(LD)
2 レーザビーム
3 ポリゴンミラー
4 レンズ
5 感光体ドラム
6 同期検知器
7 同期検知信号分離回路
8 メモリ制御回路
9 ラインメモリ
10 パターン検出処理回路
11 LUT回路
12 PWM回路
13 LDドライバ
14 副走査ピッチ検出部
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタル複写機、レーザプリンタなどの画像形成装置、該画像形成装置で実行される画像処理プログラムおよび記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の画像形成装置では、感光体上の画像部にレーザ光を照射して、該照射した部分にトナーが付着して画像が形成されていた。いわゆる、ネガ/ポジプロセス方式を用いる電子写真方式により画像が形成されていた。
このような画像形成装置は、書込密度の高密度化や、書込速度の高速化を目的として、2以上の複数の光ビームで記録媒体上を走査する、マルチビーム走査方式が一般に用いられている。
【0003】
なお、本発明にかかる先行技術文献としては、入力された画像データを2倍解像度データに変換し、該変換した2倍解像度データに対してレジストずれの補正処理を行い、補正後の高解像度データを用いて、元の解像度での1画素に相当する4画素を単位領域として、その単位領域内での濃度分布の偏りから、元の解像度のデータを生成し、記録することで、副走査方向における副走査ピッチ以下のレジストずれを補正する方法がある。なお、この方法では、複数回の主走査での各露光量を制御することで、画像の副走査方向の形成位置を調整している(例えば、特許文献1参照)。
【0004】
また、複数個の半導体レーザと、該半導体レーザから光ビームを各々平行光束にするコリメータレンズと、これら光ビームを重ね合せて出射するビーム合成手段とを実質一体的に合成してなる光源部を有し、複数本の光ビームを同時に繰り返し走査するマルチビーム走査装置において、前記光源部は、ビーム合成手段から射出される各光束が少なくとも主走査方向に所定角度隔てて出射されるよう構成すると共に、前記合成された光ビームを光軸回りに回動調整自在とすることで、走査線ピッチ(副走査ピッチ)の調整を行っているものがある(例えば、特許文献2参照)。
【0005】
【特許文献1】
特開2001−309139号公報
【特許文献2】
特開平9−43523号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
一般に、マルチビーム走査方式を用いる場合、所定の走査ピッチが得られないため、その調整が必要となる。例えば、2ビームで走査する方式において、走査ビームの副走査ピッチとして、LD1〜LD2間のピッチ=P12と、LD2〜次走査のLD1間のピッチ=P21の2種が存在する場合は、P12=P21であることが望ましく、P12=P21となるように調整する必要がある。
【0007】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、マルチビーム走査方式において、複数の副走査ピッチのばらつきを、電気的に補正する画像形成装置、画像処理プログラムおよび記録媒体を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
かかる目的を達成するために本発明は以下のような特徴を有する。
請求項1記載の発明は、複数の光ビームで同時に記録媒体上を走査し、記録媒体上に画像を形成する画像形成装置であって、記録しようとする記録画素と、記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素と、記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素と、の3つの記録画素の濃度情報と、副走査ピッチよりも小さい所望の副走査方向シフト量とから、記録画素に出力すべき光出力ランクを算出し、予め定めた光出力ランクに対応した露光量の光を記録画素の位置に出力する構成であり、副走査方向シフト量は、複数の光ビームの各々について独立に設定可能であることを特徴とする。
【0009】
請求項2記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置において、副走査方向シフト量は、画像形成装置の電源がオフからオンとなった際に設定することを特徴とする。
【0010】
請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の画像形成装置において、印刷形成される記録紙の枚数を計測する計測手段を有し、副走査方向シフト量は、計測手段により計測した枚数が所定枚数を経過した際に設定することを特徴とする。
【0011】
請求項4記載の発明は、請求項1から3の何れか1項に記載の画像形成装置において、装置内部の温度変化を検出する温度検出手段を有し、副走査方向シフト量は、温度検出手段により検出した温度変化が所定の閾値を越えた際に設定することを特徴とする。
【0012】
請求項5記載の発明は、請求項1記載の画像形成装置において、記録画素に出力すべき光出力ランクの算出を実行させる算出実行手段を有することを特徴とする。
【0013】
請求項6記載の発明は、記録しようとする記録画素と、記録画素と、主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素と、記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素と、の3つの記録画素の濃度情報と、副走査ピッチよりも小さい所望の副走査方向シフト量とから、記録画素に出力すべき光出力ランクを算出し、予め定めた光出力ランクに対応した露光量の光を記録画素の位置に出力し、複数の光ビームで同時に記録媒体上を走査し、記録媒体上に画像を形成する画像形成装置において実行される画像処理プログラムであって、記録画素に出力すべき光出力ランクの算出処理をコンピュータに実行させることを特徴とする。
【0014】
請求項7記載の発明は、請求項6記載の画像処理プログラムを記録媒体に記録したことを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しながら本発明にかかる実施の形態について詳細に説明する。
【0016】
(第1の実施の形態)
まず、図1を参照しながら第1の実施の形態における画像形成装置の構成について説明する。
2つのレーザーダイオード1(LD1、LD2)より出射した2本のレーザビーム2(ビーム1、ビーム2)は、定速回転するポリゴンミラー3により主走査方向に走査され、レンズ4を介して感光体ドラム面上5に結像される。
以後、公知の画像形成プロセスを経て、画像が転写材上に形成される。2つのレーザーダイオード1(LD)から出射されたレーザビーム2の、感光体ドラム面上5における副走査ピッチP12=P21の目標値は、42.3[μm](600dpi)とする。なお、主走査書き込みピッチも600dpiとする。
なお、副走査ピッチP12は、LD1〜LD2間のピッチを示し、P21は、LD2〜次走査のLD1間のピッチを示す。
【0017】
ここで、どちらか1つのレーザーダイオード(LD)からのレーザビームの副走査ピッチに着目すると、副走査ピッチは感光体ドラム5の回転速度によって決定し、P11=P22=84.6[μm]となる(P11:LD1〜次走査LD1の間隔、P22:LD2〜次走査LD2の間隔)。
【0018】
同期検知器6は、光電変換素子および信号波形整形回路からなり、LD1、LD2のレーザビームを検出した検出信号を、同期検知信号分離回路7へ送る。
【0019】
同期検知信号分離回路7は、同期検知器6から送られた検出信号を、LD1とLD2の同期検知信号に分離してメモリ制御回路8へ送る。
【0020】
メモリ制御回路8は、同期検知信号に基づき、ラインメモリ9からパターン検出処理回路10へ画像データを出力する。
【0021】
パターン検出処理回路10は、600dpiの2値画像データのうち、記録しようとする主走査位置の記録画素と、その上下の2つの記録画素(主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素と、主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素)の併せて3つの記録画素の濃度情報と、副走査シフト量に応じたパルス幅コードと、をLUT回路11へ送る。
ここで、副走査シフト量は、2つのビーム各々で独立に設定可能とし、次の方法により定める。
【0022】
まず、2つのレーザーダイオード1(LD1、LD2)からのビームの副走査ピッチのうち、同一走査での副走査ピッチP12を、以下の方法により測定する。
【0023】
副走査ピッチ検出部14は、図2に示すアパーチャを備えた光検出器(光検出面は、感光体面と光学的に同一な面に設置)であり、レーザビーム2が横切る副走査位置によって、レーザビーム2が入射する期間が異なることを利用して走査時間を計測する。
【0024】
CPUは、レーザビーム1のみを点灯し、横切る期間:t1を計測し、ついでレーザビーム2のみを点灯し、横切る期間:t2を測定する。そして、得られたt1、t2と、ビーム走査速度vより、副走査ピッチP12を以下の式(1)により求めることとなる。
P12=(t2−t1)/v・・・(式1)
P21=P11−P12
【0025】
得られた副走査ピッチより、補正すべき副走査シフト量は、
P12−P21=δの1/2とする。
【0026】
パターン検出処理回路10は、3つの記録画素のオン/オフ情報と、副走査シフト量から、パルス幅コ−ドC1、C2を、以下の条件により求めることが可能となる。
【0027】
δ<0(P12<P21)のとき、
C1=32・D0 +(D− −D0 )(δ/2/P11×32)
C2=32・D0 +(D0 −D+ )(δ/2/P11×32)
δ>0(P12>P21)のとき、
C1=32・D0 +(D0 −D+ )(δ/2/P11×32)
C2=32・D0 +(D− −D0 )(δ/2/P11×32)
【0028】
上記条件により決定したパルス幅コードC1、C2、をLUT回路へ送る。
ここで、Dkは、画素のオンオフ情報であり、Dk=1:オン/Dk=0:オフを表す。また、添え字kは、副走査位置を表し、k:−は記録画素のひとつ前の副走査位置、k:0は記録画素の副走査位置、k:+は記録画素のひとつ後の副走査位置を示す。
【0029】
LUT回路11は、パターン検出処理回路10より送られた幅コードに対応して、あらかじめ設定したパルス幅、パルス位置信号を、PWM回路12へ送る。
【0030】
PWM回路12は、受け取ったパルス幅、パルス位置信号に基づき、LDドライバ13へPWM信号を送る。なお、PWM信号は、ビデオクロック信号(600dpiの周波数)に同期して出力される。
なお、PWM回路12は、600dpiの書き込み周期内で、パルス幅およびパルス開始位置を、書き込み周期の1/64分解能で設定したパルス信号を出力することが可能である。
【0031】
LDドライバ13は、「オン」信号を受けると駆動電流をレーザーダイオード1(LD)へ供給する。また、「オフ」信号を受けるとオフセット電流をレーザーダイオード1(LD)へ供給する。
【0032】
なお、幅コードに対応するパルス幅Wは、LUT(表1)に設定する。
【0033】
【表1】
【0034】
また、書き込み周期内でのパルス開始位置は、パルス開始位置=(書き込み周期−パルス幅W)/2により決定する。
【0035】
入力画像データに応じてパターン検出処理回路10より出力される、幅コードの例を図3に示す。
幅コードに対応するパルス幅Wの設定はリニアとしてLUTを作成した。
LUTを使用して、図4のテストパターン画像を転写材へ出力し、目視にて評価した結果、2dot幅水平ラインの濃度は適正となる。また、2dot幅水平ライン12、2dot幅水平ライン21の濃度は同じとなる。また、1dot幅水平ライン1、1dot幅水平ライン2の濃度は同じとなる。副走査シフト量δおよびLUT設定が適切でないと、描画するレーザーダイオード1(LD)の組み合わせが異なるパターンを出力した場合に、濃度差が発生する。
【0036】
なお、補正すべき副走査シフト量δの設定を、画像形成装置の電源がオフからオンとなるたびに実施することにより、温度サイクルや振動に起因する副走査ピッチのずれを補正することができる。
【0037】
なお、第1の実施の形態は、入力データの濃度値が2値(0または1)の場合について行なったが、幅コードの算出方法を一般化すると以下のようであり、入力データが多値であっても同様の手順でLUTを作成できる。
【0038】
副走査ピッチ:P
調整ステップ:P/M(Mは整数)
調整量jの変域は、−(M−1),・・・,+(M−1):ただしjは整数
濃度値Dkの変域は、0,・・・,Dkmax:ただしDkは整数、添え字kは、副走査位置を表し、k:−は記録画素のひとつ前の副走査位置、k:0は記録画素の副走査位置、k:+は記録画素のひとつ後の副走査位置。
幅コードCは、
j≦0のとき、C=M・D0 +(D0 −D+ )・j
j>0のとき、C=M・D0 +(D− −D0 )・j
Cの変域は、0,・・・,Dkmax・Mとなる。
【0039】
なお、第1の実施の形態は、同時に走査する光ビームが2つの場合について行なったが、ビーム数が3以上であっても適用可能となる。
【0040】
(第2の実施の形態)
次に、第2の実施の形態について説明する。まず、図5を参照しながら第2の実施の形態における画像形成装置の構成を示す。
第2の実施の形態における画像形成装置では、副走査シフト量と画像データに基づく幅コード出力の算出を、CPUで実施する。
第2の実施の形態における画像形成装置は、第1の実施の形態において具備するパターン検出処理回路10を不要とした画像形成装置であり、パターン検出処理回路10を有することなく、電気的に副走査ピッチずれを補正する機能を付加することが可能となる。
【0041】
なお、上述する実施の形態は、本発明の好適な実施の形態であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更実施が可能である。
例えば、上記実施の形態において、補正すべき副走査シフト量δの設定を、画像形成装置の電源設定時に行うこととしたが、他には、所定枚数通紙後などに実行することも可能である。また、機内にサーミスタなどの温度センサがある場合は前回調整時との温度差が大きいときに実行するなどしてもよい。更に、感光体または現像ユニットの交換時において実行することも可能である。また、オペレーションパネル等を用いて手動により実行させることも可能である。
【0042】
また、温度センサを用いて副走査シフト量の設定を行う場合として、書き込みユニットのレジスト側、定着側のそれぞれに温度センサを設け、機内温度を常時監視し、所定の温度差を検知した際に設定することも可能である。
【0043】
【発明の効果】
以上の説明より明らかなように本発明は以下のような効果を奏する。
第1の効果として、副走査方向に連続する3つの画素の濃度情報と、複数のレーザーダイオード(LD)毎に設定した副走査方向シフト量とから、記録画素に出力する露光量の光を制御するので、複数のレーザーダイオード(LD)から発せられるビーム間の副走査ピッチのばらつきを、電気的に補正することが可能となる。
【0044】
第2の効果として、複数のレーザーダイオード(LD)毎の副走査方向シフト量を、画像形成装置の電源がオンとなるたびに設定することで、温度サイクルや振動などにより副走査ピッチが変化した場合でも、ビーム間の副走査ピッチのばらつきを補正することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる第1の実施の形態における画像形成装置の構成を示す図である。
【図2】副走査ピッチ検出部のアパーチャ形状を示す図である。
【図3】入力画像データとパルス幅コードを示す図である。
【図4】テストパターンを示した図である。
【図5】本発明にかかる第2の実施の形態における画像形成装置の構成を示す図である。
【符号の説明】
1 レーザーダイオード(LD)
2 レーザビーム
3 ポリゴンミラー
4 レンズ
5 感光体ドラム
6 同期検知器
7 同期検知信号分離回路
8 メモリ制御回路
9 ラインメモリ
10 パターン検出処理回路
11 LUT回路
12 PWM回路
13 LDドライバ
14 副走査ピッチ検出部
Claims (7)
- 複数の光ビームで同時に記録媒体上を走査し、前記記録媒体上に画像を形成する画像形成装置であって、
記録しようとする記録画素と、前記記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素と、前記記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素と、の3つの記録画素の濃度情報と、副走査ピッチよりも小さい所望の副走査方向シフト量とから、前記記録画素に出力すべき光出力ランクを算出し、予め定めた光出力ランクに対応した露光量の光を前記記録画素の位置に出力する構成であり、前記副走査方向シフト量は、複数の光ビームの各々について独立に設定可能であることを特徴とする画像形成装置。 - 前記副走査方向シフト量は、
前記画像形成装置の電源がオフからオンとなった際に設定することを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。 - 印刷形成される記録紙の枚数を計測する計測手段を有し、
前記副走査方向シフト量は、前記計測手段により計測した枚数が所定枚数を経過した際に設定することを特徴とする請求項1または2記載の画像形成装置。 - 装置内部の温度変化を検出する温度検出手段を有し、
前記副走査方向シフト量は、前記温度検出手段により検出した温度変化が所定の閾値を越えた際に設定することを特徴とする請求項1から3の何れか1項に記載の画像形成装置。 - 前記記録画素に出力すべき光出力ランクの算出を実行させる算出実行手段を有することを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。
- 記録しようとする記録画素と、前記記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査前の記録画素と、前記記録画素と主走査位置が同じで副走査位置が1走査後の記録画素と、の3つの記録画素の濃度情報と、副走査ピッチよりも小さい所望の副走査方向シフト量とから、前記記録画素に出力すべき光出力ランクを算出し、予め定めた光出力ランクに対応した露光量の光を前記記録画素の位置に出力し、複数の光ビームで同時に記録媒体上を走査し、前記記録媒体上に画像を形成する画像形成装置において実行される画像処理プログラムであって、
前記記録画素に出力すべき光出力ランクの算出処理をコンピュータに実行させることを特徴とする画像処理プログラム。 - 請求項6記載の画像処理プログラムを記録した記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003054790A JP2004262088A (ja) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | 画像形成装置、画像処理プログラムおよび記録媒体 |
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JP2003054790A JP2004262088A (ja) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | 画像形成装置、画像処理プログラムおよび記録媒体 |
Publications (1)
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ID=33119024
Family Applications (1)
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JP2003054790A Pending JP2004262088A (ja) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | 画像形成装置、画像処理プログラムおよび記録媒体 |
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Country | Link |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007133238A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置および色ずれ補正方法 |
JP2007316195A (ja) * | 2006-05-24 | 2007-12-06 | Kyocera Mita Corp | 画像形成装置 |
JP2011175079A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
-
2003
- 2003-02-28 JP JP2003054790A patent/JP2004262088A/ja active Pending
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JP2007316195A (ja) * | 2006-05-24 | 2007-12-06 | Kyocera Mita Corp | 画像形成装置 |
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