JP2004259696A - Electroluminescent device and manufacturing method of the same, and electronic device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve reliability of a display device by sufficiently absorbing or removing water and oxygen, even if a frame is narrower, for substrate sealing technology of an electroluminescent device having a top emission structure. <P>SOLUTION: On a substrate 2 having a plurality of light emitting parts A, a transparent sealing member 604 capable of housing the light emitting parts A is opposingly arranged, and the space between the substrate 2 and the sealing member 604 is sealed. On the top surface of the substrate 2 or the sealing member 604, a getter material 13 for absorbing or removing the oxygen or water is provided. The getter material 13 is arranged in an area between adjacent light emitting parts A in a plane view. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

本発明は、エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びにこのエレクトロルミネッセンス装置を備えた電子機器に関し、特に、トップエミッション構造を有する表示装置の基板封止技術に関する。   The present invention relates to an electroluminescence device and a method for manufacturing the same, and an electronic device including the electroluminescence device, and more particularly, to a substrate sealing technique for a display device having a top emission structure.

従来より、携帯電話やPDA等の携帯機器やパーソナルコンピュータ等の表示部に、エレクトロルミネッセンス(以下、単にELともいう)表示装置を用いたものが開発されている。
EL表示装置は、EL層(発光層)を有する発光部を基板面内に複数備えて構成され、各発光部を独立に駆動制御することで所望の表示を行なっている。このEL表示装置は、発光層からの光の取り出し方向の違いにより、例えば素子基板側から光を取り出すボトムエミッション型と、封止部材側から光を取り出すトップエミッション型のものとに分類できるが、材料選択の自由度等の理由から、これまで主にボトムエミッション型の構造について研究されてきた。
2. Description of the Related Art Hitherto, a device using an electroluminescence (hereinafter, also simply referred to as EL) display device for a display portion of a portable device such as a mobile phone or a PDA or a personal computer has been developed.
An EL display device includes a plurality of light emitting units having an EL layer (light emitting layer) on a substrate surface, and performs desired display by independently controlling driving of each light emitting unit. The EL display devices can be classified into, for example, a bottom emission type in which light is extracted from the element substrate side and a top emission type in which light is extracted from the sealing member side, depending on a difference in a direction in which light is extracted from the light emitting layer. For the reasons such as the degree of freedom of material selection, a bottom emission type structure has been mainly studied so far.

一方、表示装置の分野では、大型化,高精細化,高輝度化に対するニーズが高く、EL表示装置についても大型化を目指した研究開発が盛んに行なわれている。しかし、上述のボトムエミッション型のEL表示装置を大型化した場合、電極に信号を供給する配線を太くする必要があり、これにより画素の開口率が低下するという課題があった。また、このように開口率が低下した場合、画素の輝度を確保するために発光層に大きな電流を流す結果、製品寿命が短くなるという課題も生じる。このため、近年、画素の開口率が配線等の構造に影響されないトップエミッション型の構造が注目され、盛んに研究されている。   On the other hand, in the field of display devices, there is a strong need for larger size, higher definition, and higher brightness, and research and development for larger size EL display devices are being actively conducted. However, when the size of the above-described bottom emission type EL display device is increased, it is necessary to increase the thickness of a wiring for supplying a signal to an electrode, which causes a problem that the aperture ratio of a pixel is reduced. In addition, when the aperture ratio is reduced in this manner, a large current flows through the light emitting layer in order to secure the brightness of the pixel, which causes a problem that the product life is shortened. For this reason, in recent years, a top emission type structure in which the aperture ratio of a pixel is not affected by a structure such as a wiring has attracted attention and has been actively studied.

ところで、上述の発光部は酸素や水分により劣化することが知られている。このため、発光部の形成された基板面は、内面にシリカゲル等のゲッター材が配置された封止基板により覆われている。トップエミッション型の表示装置では、封止基板に対して高い透明性が要求されるため、例えば特許文献1,2に示されるように、ゲッター材と表示領域(複数の画素がまとまって配置された領域)とが平面視で重ならないように、ゲッター材を表示領域の外側に配置した構造が提案されている。
特開2000−208252号公報 特許第2686169号公報
By the way, it is known that the above-mentioned light emitting part is deteriorated by oxygen or moisture. For this reason, the substrate surface on which the light emitting section is formed is covered with a sealing substrate having a getter material such as silica gel disposed on the inner surface. In a top emission type display device, since high transparency is required for a sealing substrate, for example, as shown in Patent Documents 1 and 2, a getter material and a display region (a plurality of pixels are collectively arranged) A structure has been proposed in which a getter material is arranged outside a display area so that the area does not overlap with the area in a plan view.
JP 2000-208252 A Japanese Patent No. 2686169

しかしながら、表示領域周縁部を狭額縁化した場合、ゲッター材を表示領域周囲部に配置する上述の構造では、ゲッター材の設置面積が小さくなり、酸素や水分等を十分に除去できなくなる虞がある。
本発明は、上述の課題に鑑み創案されたもので、狭額縁化された場合でも水分や酸素を十分に吸収又は除去して表示装置の信頼性を向上できるようにした、トップエミッション型のエレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法並びにこの表示装置を備えた電子機器を提供することを目的とする。
However, when the peripheral edge of the display region is narrowed, the above-described structure in which the getter material is disposed around the peripheral portion of the display region reduces the installation area of the getter material, and may not be able to sufficiently remove oxygen, moisture, and the like. .
The present invention has been made in view of the above-described problems, and has been made in consideration of the above-described problems. Even when the frame is narrowed, a top-emission type electronic device capable of sufficiently absorbing or removing moisture and oxygen to improve the reliability of a display device is provided. It is an object of the present invention to provide a luminescence device, a method of manufacturing the luminescence device, and an electronic device including the display device.

上記目的を達成するために、本発明のエレクトロルミネッセンス装置は、第1の電極と、発光層を含む機能層と、透明な第2の電極とが下層側から順に積層されてなる発光部が面内に複数設けられた基板と、上記基板に対向配置され、上記発光部を収容可能な透明な封止部材とを備え、上記基板と上記封止部材とにより密閉された空間内に、酸素又は水分を吸収又は除去するゲッター材が設けられ、上記ゲッター材が、平面視で、隣接する発光部の間の領域に配置されたことを特徴とする。   In order to achieve the above object, an electroluminescence device according to the present invention has a light emitting portion in which a first electrode, a functional layer including a light emitting layer, and a transparent second electrode are sequentially stacked from a lower layer side. A plurality of substrates provided therein, and a transparent sealing member that is disposed to face the substrate and that can accommodate the light-emitting portion.In a space sealed by the substrate and the sealing member, oxygen or A getter material for absorbing or removing moisture is provided, and the getter material is arranged in a region between adjacent light emitting units in a plan view.

本構成では、ゲッター材を、表示に寄与しない非発光領域(隣接する発光部の間の領域)に配置しているため、表示品質を損なうことはない。また、狭額縁化された場合でもゲッター材の配置面積を一定以上に確保できるため、発光部への酸素や水分の浸入を効果的に防いで、表示装置の高輝度化及び超寿命化を図ることができる。なお、機能層は、例えば、発光層と、この発光層に電子や正孔を輸送/注入するための電子輸送/注入層や正孔輸送/注入層等との積層体として構成される。また、発光層単体で機能層を構成してもよい。   In this configuration, since the getter material is arranged in the non-light-emitting region that does not contribute to display (the region between the adjacent light-emitting portions), the display quality is not deteriorated. In addition, even when the frame is narrowed, the arrangement area of the getter material can be secured to a certain value or more, so that the intrusion of oxygen or moisture into the light emitting portion is effectively prevented, and the display device has high luminance and long life. be able to. Note that the functional layer is configured as a laminate of, for example, a light emitting layer and an electron transporting / injecting layer or a hole transporting / injecting layer for transporting / injecting electrons and holes into the light emitting layer. Further, the functional layer may be constituted by the light emitting layer alone.

このような表示装置としては、例えば、上記基板に上記各発光部を仕切る隔壁を設け、上記ゲッター材を上記基板の最表面における上記隔壁の上層側の位置に設けた構成のものを挙げることができる。
本表示装置は、例えば、基板上に第1の電極を複数形成する工程と、上記基板上に、上記第1の電極同士を仕切る隔壁を形成する工程と、インクジェット法により、上記隔壁に仕切られた各領域内に、発光層を含む機能層を形成する工程と、上記機能層上に透明な第2の電極を形成する工程と、上記基板の最表面における、上記隔壁の上層側の位置に酸素又は水分を吸収又は除去するゲッター材を形成する工程と、透明な封止部材を上記第2の電極の形成された側の基板面に対向配置し、上記基板と上記封止部材との間の空間を密封する工程とを備えた方法により製造される。
As such a display device, for example, a configuration in which a partition wall for partitioning the light emitting units is provided on the substrate, and the getter material is provided at a position on an upper layer side of the partition wall on the outermost surface of the substrate. it can.
The present display device is, for example, a step of forming a plurality of first electrodes on a substrate, a step of forming partitions on the substrate to partition the first electrodes, and the partitioning of the partitions by an inkjet method. Forming a functional layer including a light-emitting layer in each of the regions, forming a transparent second electrode on the functional layer, and forming an upper layer side of the partition on the outermost surface of the substrate. A step of forming a getter material for absorbing or removing oxygen or moisture, and disposing a transparent sealing member facing the substrate surface on the side where the second electrode is formed, and forming a gap between the substrate and the sealing member. And sealing the space.

本表示装置では、ゲッター材をマスクを用いた真空蒸着法あるいはスパッタリング法、CVD法等によりパターン形成する方法や、ゲッター材を液体中に分散しインクジェット法により吐出、乾燥させパターン形成する方法を用いることで、その配置の精度を高めることができる。このため、ゲッター材の配置領域と発光領域(発光層の形成された領域)とが、平面視で極力重ならないようにすることで、明るい表示を実現できる。
また、ゲッター材に不透明な材料を用いたりゲッター材を厚く形成した場合、このゲッター材は遮光層として機能し、隣接する発光部から発した着色光同士による色にじみを防止することができる。これにより、高コントラストな表示を実現することができる。
In this display device, a method in which a getter material is patterned by a vacuum deposition method using a mask, a sputtering method, a CVD method, or the like, or a method in which the getter material is dispersed in a liquid, discharged by an inkjet method, and dried to form a pattern is used. Thereby, the accuracy of the arrangement can be improved. For this reason, a bright display can be realized by minimizing the overlap between the arrangement region of the getter material and the light emitting region (the region where the light emitting layer is formed) in plan view.
When an opaque material is used for the getter material or when the getter material is formed to be thick, the getter material functions as a light-shielding layer and can prevent color bleeding caused by colored lights emitted from adjacent light-emitting portions. Thereby, high-contrast display can be realized.

また、ゲッター材を封止部材の最表面に設けてもよい。この場合、ゲッター材を、平面視で、隣接する発光部の間の領域にのみ設ける。
本表示装置は、例えば、基板上に第1の電極を複数形成し、上記基板上に上記第1の電極同士を仕切る隔壁を形成し、インクジェット法により、上記隔壁に仕切られた各領域内に、発光層を含む機能層を形成し、上記機能層上に透明な第2の電極を形成する工程と、透明な封止部材の、上記隔壁の形成領域に対向する位置に、酸素又は水分を吸収又は除去するゲッター材を形成する工程と、上記ゲッター材が平面視で上記隔壁の形成領域内に配置されるように、上記封止部材を上記基板に対して位置合わせし、上記基板と上記封止部材との間の空間を密封する工程とを備えた方法により製造される。この際、基板上に発光素子(第1の電極,機能層,第2の電極の積層体)を形成する工程と、封止部材上にゲッター材を形成する工程とは、どちらを先に行なってもよい。
Further, a getter material may be provided on the outermost surface of the sealing member. In this case, the getter material is provided only in the region between the adjacent light emitting units in plan view.
The present display device includes, for example, forming a plurality of first electrodes on a substrate, forming partitions on the substrate to partition the first electrodes, and forming, in an ink-jet method, each region partitioned by the partitions. Forming a functional layer including a light-emitting layer, forming a transparent second electrode on the functional layer, and supplying oxygen or moisture to a position of the transparent sealing member facing the region where the partition wall is formed. A step of forming a getter material to be absorbed or removed, and positioning the sealing member with respect to the substrate so that the getter material is disposed in the formation region of the partition wall in plan view; Sealing the space between the sealing member and the sealing member. At this time, which of the step of forming the light emitting element (the laminate of the first electrode, the functional layer, and the second electrode) on the substrate and the step of forming the getter material on the sealing member is performed first. You may.

本表示装置では、真空蒸着法等を用いてゲッター材を形成する際に、発光部にダメージを生じることがなく、信頼性の高い表示装置を実現できる。また、ゲッター材に不透明な材料を用いたりゲッター材を厚く形成することで、着色光同士の色にじみを防止して高コントラストな表示を実現できる。   In this display device, when the getter material is formed using a vacuum evaporation method or the like, a light-emitting portion is not damaged and a highly reliable display device can be realized. In addition, by using an opaque material or forming the getter material thicker as the getter material, it is possible to prevent color bleeding between colored lights and realize a high-contrast display.

なお、上記ゲッター材は、アルカリ金属、アルカリ土類金属、アルカリ土類金属の酸化物、アルカリ金属又はアルカリ土類金属の水酸化物、シリカゲル、ゼオライト系化合物の内の少なくとも一つを含むことが好ましい。
アルカリ金属やアルカリ土類金属の水酸化物は、水と反応して酸化物に変化することで、脱水材として作用する。同様に、アルカリ土類金属の酸化物は、水と反応して水酸化物に変化することで、脱水材として作用する。また、アルカリ金属やアルカリ土類金属は、酸素と反応して水酸化物に変化するとともに水と反応して酸化物に変化するため、脱水材としてだけでなく脱酸素材としても作用する。これにより、機能層等の劣化が効果的に防止され、装置の信頼性を高めることができる。
The getter material may include at least one of an alkali metal, an alkaline earth metal, an oxide of an alkaline earth metal, a hydroxide of an alkali metal or an alkaline earth metal, silica gel, and a zeolite compound. preferable.
The hydroxide of an alkali metal or an alkaline earth metal reacts with water and changes into an oxide, thereby acting as a dehydrating material. Similarly, the alkaline earth metal oxide reacts with water and changes to a hydroxide, thereby acting as a dehydrating material. Further, alkali metals and alkaline earth metals react with oxygen to change to hydroxides and to react with water to change into oxides, so that they act not only as dehydrating materials but also as deoxidizing materials. Thereby, the deterioration of the functional layer and the like can be effectively prevented, and the reliability of the device can be improved.

また、上記各発光部は、低温プロセスにより形成されたポリシリコンTFTによりマトリクス駆動されることが好ましい。
さらに、上述した表示装置の製造方法では、機能層はインクジェット法により形成することが好ましい。インクジェット法では、発光層等の材料を溶かした溶液を所望の領域に打ち分けることで薄膜をパターン形成できるため、マスク蒸着にてパターン形成する場合に比べて材料の無駄が少なく、コスト的に有利となる。また、プログラムにより薄膜の形成領域を任意に変更できるため、少量多種生産に対応可能という利点もある。
In addition, it is preferable that each of the light emitting units is driven in a matrix by a polysilicon TFT formed by a low-temperature process.
Further, in the above-described method for manufacturing a display device, the functional layer is preferably formed by an inkjet method. In the ink-jet method, a thin film can be formed by patterning a solution in which a material such as a light-emitting layer is dissolved into a desired region, so that material is less wasted than in the case of pattern formation by mask evaporation, which is advantageous in cost. It becomes. Further, since the thin film formation region can be arbitrarily changed by a program, there is an advantage that it is possible to cope with small-quantity production of various kinds.

また、本発明の電子機器は、上述のエレクトロルミネッセンス装置を備えたことを特徴とする。
本構成によれば、信頼性の高い表示部を備えた電子機器を提供することができる。
According to another aspect of the invention, an electronic apparatus includes the above-described electroluminescence device.
According to this configuration, it is possible to provide an electronic device including a highly reliable display unit.

[第1実施形態]
以下、本発明の第1実施形態を図面を参照して説明する。なお、図1〜図21において、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材の縮尺は実際のものと異なるように表わしている。
[First Embodiment]
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIGS. 1 to 21, the scale of each layer and each member is shown differently from the actual one in order to make each layer and each member large enough to be recognized in the drawings.

図1は本実施形態のエレクトロルミネッセンス装置の一例である有機EL表示装置の配線構造を示す平面模式図である。
図1に示すように、本実施形態のエレクトロルミネッセンス装置1には、複数の走査線101と、走査線101に対して交差する方向に延びる複数の信号線102と、信号線102に並列に延びる複数の電源線103とがそれぞれ配線されている。そして、走査線101と信号線102とにより区画された領域が画素領域として構成されている。
FIG. 1 is a schematic plan view showing a wiring structure of an organic EL display device which is an example of the electroluminescence device of the present embodiment.
As shown in FIG. 1, the electroluminescence device 1 of the present embodiment includes a plurality of scanning lines 101, a plurality of signal lines 102 extending in a direction intersecting the scanning lines 101, and extending in parallel with the signal lines 102. The plurality of power lines 103 are respectively wired. An area defined by the scanning lines 101 and the signal lines 102 is configured as a pixel area.

信号線102には、シフトレジスタ、レベルシフタ、ビデオライン及びアナログスイッチを備えるデータ側駆動回路104が接続されている。また、走査線101には、シフトレジスタ及びレベルシフタを備える走査側駆動回路105が接続されている。   The data line driving circuit 104 including a shift register, a level shifter, a video line, and an analog switch is connected to the signal line 102. Further, the scanning line 101 is connected to a scanning side driving circuit 105 including a shift register and a level shifter.

各画素領域には、走査線101を介して走査信号がゲート電極に供給されるスイッチング用の薄膜トランジスタ112と、このスイッチング用の薄膜トランジスタ112を介して信号線102から共有される画素信号を保持する保持容量capと、該保持容量capによって保持された画素信号がゲート電極に供給される駆動用の薄膜トランジスタ123と、この駆動用薄膜トランジスタ123を介して電源線103に電気的に接続したときに当該電源線103から駆動電流が流れ込む画素電極111と、この画素電極111と陰極12との間に挟み込まれる機能層110とが設けられている。電極111と対向電極12と機能層110により発光部Aが構成され、表示装置1は、この発光部Aをマトリクス状に複数備えて構成されている。   In each pixel region, a switching thin film transistor 112 for supplying a scanning signal to a gate electrode via the scanning line 101 and a holding device for holding a pixel signal shared from the signal line 102 via the switching thin film transistor 112 A capacitor cap, a driving thin film transistor 123 to which a pixel signal held by the holding capacitor cap is supplied to a gate electrode, and a power supply line when electrically connected to the power supply line 103 via the driving thin film transistor 123. A pixel electrode 111 into which a drive current flows from 103 and a functional layer 110 sandwiched between the pixel electrode 111 and the cathode 12 are provided. The light emitting portion A is configured by the electrode 111, the counter electrode 12, and the functional layer 110, and the display device 1 includes a plurality of the light emitting portions A in a matrix.

係る構成によれば、走査線101が駆動されてスイッチング用の薄膜トランジスタ112がオンになると、そのときの信号線102の電位が保持容量capに保持され、該保持容量capの状態に応じて、駆動用の薄膜トランジスタ123のオン・オフ状態が決まる。そして、駆動用の薄膜トランジスタ123のチャネルを介して、電源線103から画素電極111に電流が流れ、更に機能層110を介して陰極12に電流が流れる。機能層110は、これを流れる電流量に応じて発光する。   According to such a configuration, when the scanning line 101 is driven and the switching thin film transistor 112 is turned on, the potential of the signal line 102 at that time is held in the storage capacitor cap, and the driving is performed according to the state of the storage capacitor cap. ON / OFF state of the thin film transistor 123 is determined. Then, a current flows from the power supply line 103 to the pixel electrode 111 through the channel of the driving thin film transistor 123, and further, a current flows to the cathode 12 through the functional layer 110. The functional layer 110 emits light according to the amount of current flowing therethrough.

図2は本表示装置の平面模式図であり、図3は図2をI−I′断面で切った断面模式図である。
図3に示すように、本実施形態の表示装置1は、基板2上に回路素子部14と表示素子部10が順に積層され、この積層体の形成された基板面が封止部3によって封止された構造を有する。表示素子部10は、発光層110bを含む発光素子部11と、発光素子部11上に形成された陰極12とからなる。この陰極12及び封止部3は透光性を有し、本表示装置1は、発光層から発した表示光が封止部3側から出射される、所謂トップエミッション型の表示装置として構成されている。
FIG. 2 is a schematic plan view of the present display device, and FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of FIG. 2 taken along the line II ′.
As shown in FIG. 3, in the display device 1 of the present embodiment, the circuit element unit 14 and the display element unit 10 are sequentially laminated on the substrate 2, and the substrate surface on which the laminate is formed is sealed by the sealing unit 3. It has a stopped structure. The display element section 10 includes a light emitting element section 11 including a light emitting layer 110b, and a cathode 12 formed on the light emitting element section 11. The cathode 12 and the sealing portion 3 have translucency, and the display device 1 is configured as a so-called top emission type display device in which display light emitted from the light emitting layer is emitted from the sealing portion 3 side. ing.

基板2には、透明基板(又は半透明基板)又は不透明基板のいずれを用いることもできる。透明又は半透明な基板としては、例えばガラス、石英、樹脂(プラスチック、プラスチックフィルム)等が挙げられ、特に、安価なソーダガラス基板が好適に用いられる。不透明な基板としては、例えばアルミナ等のセラミックやステンレススチール等の金属シートに表面酸化等の絶縁処理を施したものの他に、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂等が挙げられる。また、基板2は、図2に示すように、中央に位置する表示領域2aと、基板2の周縁に位置して表示領域2aを囲む非表示領域2bとに区画されている。
表示領域2aは、マトリックス状に配置された発光部Aによって形成される領域であり、表示領域の外側に非表示領域2bが形成されている。そして,非表示領域2bには、表示領域2aに隣接するダミー表示領域2dが形成されている。
As the substrate 2, any of a transparent substrate (or a translucent substrate) and an opaque substrate can be used. Examples of the transparent or translucent substrate include, for example, glass, quartz, resin (plastic, plastic film) and the like. In particular, an inexpensive soda glass substrate is suitably used. Examples of the opaque substrate include, for example, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, and the like, in addition to a ceramic sheet such as alumina or a metal sheet such as stainless steel subjected to an insulation treatment such as surface oxidation. As shown in FIG. 2, the substrate 2 is divided into a display area 2a located at the center and a non-display area 2b located at the periphery of the substrate 2 and surrounding the display area 2a.
The display area 2a is an area formed by the light emitting units A arranged in a matrix, and a non-display area 2b is formed outside the display area. In the non-display area 2b, a dummy display area 2d adjacent to the display area 2a is formed.

図3に示すように、回路素子部14には、前述の走査線、信号線、保持容量、スイッチング用の薄膜トランジスタ、駆動用の薄膜トランジスタ123等が備えられており、表示領域2aに配置された各発光部Aを駆動するようになっている。
陰極12は、その一端が発光素子部11上から基板2上に形成された陰極用配線12aに接続しており、この配線の一端部12bがフレキシブル基板5上の配線5aに接続されている。また、配線5aは、フレキシブル基板5上に備えられた駆動IC6(駆動回路)に接続されている(図2参照)。
As shown in FIG. 3, the circuit element section 14 includes the above-described scanning lines, signal lines, storage capacitors, switching thin film transistors, driving thin film transistors 123, and the like, and is disposed in the display area 2a. The light emitting unit A is driven.
One end of the cathode 12 is connected from the light emitting element section 11 to the cathode wiring 12 a formed on the substrate 2, and one end 12 b of this wiring is connected to the wiring 5 a on the flexible substrate 5. The wiring 5a is connected to a driving IC 6 (driving circuit) provided on the flexible substrate 5 (see FIG. 2).

また、回路素子部14の非表示領域2bには、前述の電源線103(103R、103G、103B)が配線されている。
また、表示領域2aの図2中両側には、前述の走査側駆動回路105、105が配置されている。この走査側駆動回路105、105はダミー領域2dの下側の回路素子部14内に設けられている。更に回路素子部14内には、走査側駆動回路105、105に接続される駆動回路用制御信号配線105aと駆動回路用電源配線105bとが設けられている。
更に表示領域2aの図2中上側には検査回路106が配置されている。この検査回路106により、製造途中や出荷時の表示装置の品質、欠陥の検査を行うことができる。
The above-described power supply lines 103 (103R, 103G, 103B) are wired in the non-display area 2b of the circuit element section 14.
The above-described scanning-side drive circuits 105 are arranged on both sides of the display area 2a in FIG. The scanning side driving circuits 105 are provided in the circuit element section 14 below the dummy area 2d. Further, in the circuit element section 14, a drive circuit control signal wiring 105a and a drive circuit power supply wiring 105b connected to the scanning side drive circuits 105, 105 are provided.
Further, an inspection circuit 106 is arranged above the display area 2a in FIG. With this inspection circuit 106, quality and defects of the display device can be inspected during manufacturing or at the time of shipment.

封止部3は、基板2に塗布された封止樹脂603と、封止缶(封止部材)604とから構成されている。封止樹脂603は、基板2と封止缶604を接着する接着剤であり、例えばマイクロディスペンサ等により基板2の周囲に環状に塗布されている。この封止樹脂603は、熱硬化樹脂あるいは紫外線硬化樹脂等からなり、特に、熱硬化樹脂の1種であるエポキシ樹脂よりなることが好ましい。また、この封止樹脂603には酸素や水分を通しにくい材料が用いられており、基板2と封止缶604の間から封止缶604内部への水又は酸素の侵入を防いで、陰極12または発光素子部11内に形成された発光層110bの酸化を防止するようになっている。また、ガラスや樹脂等の透光性部材からなる封止缶604は、その内側に表示素子10を収納する凹部604aが設けられており、封止樹脂603を介して基板2に接合されている。   The sealing section 3 includes a sealing resin 603 applied to the substrate 2 and a sealing can (sealing member) 604. The sealing resin 603 is an adhesive for bonding the substrate 2 and the sealing can 604, and is annularly applied around the substrate 2 by, for example, a microdispenser or the like. The sealing resin 603 is made of a thermosetting resin or an ultraviolet curable resin, and is particularly preferably made of an epoxy resin which is a kind of the thermosetting resin. The sealing resin 603 is made of a material that does not easily pass oxygen or moisture, and prevents water or oxygen from entering the inside of the sealing can 604 from between the substrate 2 and the sealing can 604. Alternatively, oxidation of the light emitting layer 110b formed in the light emitting element portion 11 is prevented. In addition, a sealing can 604 made of a light-transmitting member such as glass or resin has a recess 604 a for housing the display element 10 inside thereof, and is joined to the substrate 2 via the sealing resin 603. .

図4に、本表示装置における表示領域2aの断面構造を拡大した図を示す。この表示装置1は、基板2上に、TFTなどの回路等が形成された回路素子部14と、画素電極111と、発光層110bを含む機能層110が形成された発光素子部11と、陰極12とが順次積層されて構成されている。   FIG. 4 shows an enlarged view of the cross-sectional structure of the display area 2a in the present display device. The display device 1 includes a circuit element portion 14 in which a circuit such as a TFT is formed on a substrate 2, a pixel electrode 111, a light emitting element portion 11 in which a functional layer 110 including a light emitting layer 110b is formed, and a cathode. 12 are sequentially laminated.

この表示装置においては、発光層110bから封止部3側に発した光が、封止缶604の上側(観察者側)に出射されるとともに、発光層110bから基板2側に発した光が画素電極111により反射されて、封止部3側(観察者側)に出射されるようになっている。このため、陰極12には、例えば光透過性を妨げない膜厚のCaやBa等の低仕事関数を有する金属にITO,IZO等の透明導電性材料を積層した構造が用いられる。また、画素電極111には光反射性の導電部材が用いられており、例えば金、銀、銅、クロム、タンタル、チタンなど仕事関数が4.6eV以上の金属及びそれらの積層膜等からなる高反射率の金属反射膜を用いることが好ましい。これにより、基板2側に発した光を封止部3側に効率的に出射させることができる。また、画素電極111は平面視略矩形にパターニングされて形成されており、表示領域2a内にマトリクス状に複数設けられている。   In this display device, light emitted from the light emitting layer 110b toward the sealing portion 3 is emitted above the sealing can 604 (on the observer side), and light emitted from the light emitting layer 110b toward the substrate 2 is emitted. The light is reflected by the pixel electrode 111 and emitted to the sealing portion 3 side (observer side). For this reason, a structure in which a transparent conductive material such as ITO or IZO is laminated on a metal having a low work function, such as Ca or Ba, having a film thickness that does not hinder light transmission, is used for the cathode 12. In addition, a light-reflective conductive member is used for the pixel electrode 111. For example, a metal having a work function of 4.6 eV or more, such as gold, silver, copper, chromium, tantalum, or titanium, or a stacked film of these metals is used. It is preferable to use a metal reflective film having a reflectance. Thereby, the light emitted to the substrate 2 side can be efficiently emitted to the sealing portion 3 side. The pixel electrodes 111 are formed by patterning into a substantially rectangular shape in plan view, and a plurality of the pixel electrodes 111 are provided in a matrix in the display area 2a.

回路素子部14には、基板2上にシリコン酸化膜からなる下地保護膜2cが形成され、この下地保護膜2c上に多結晶シリコン(ポリシリコン)からなる島状の半導体膜141が低温プロセスにより形成されている。尚、半導体膜141には、ソース領域141a及びドレイン領域141bが高濃度Pイオン打ち込みにより形成されている。なお、Pが導入されなかった部分がチャネル領域141cとなっている。   In the circuit element section 14, a base protective film 2c made of a silicon oxide film is formed on the substrate 2, and an island-shaped semiconductor film 141 made of polycrystalline silicon (polysilicon) is formed on the base protective film 2c by a low-temperature process. Is formed. In the semiconductor film 141, a source region 141a and a drain region 141b are formed by high-concentration P ion implantation. Note that a portion where P is not introduced is a channel region 141c.

更に回路素子部14には、下地保護膜2c及び半導体膜141を覆うゲート絶縁膜142が形成され、ゲート絶縁膜142上にはAl、Mo、Ta、Ti、W等からなるゲート電極143(走査線101)が形成され、ゲート電極143及びゲート絶縁膜142上には透明な第1層間絶縁膜144aと第2層間絶縁膜144bが形成されている。ゲート電極143は半導体膜141のチャネル領域141cに対応する位置に設けられている。また、第1、第2層間絶縁膜144a、144bを貫通して、半導体膜141のソース、ドレイン領域141a、141bにそれぞれ接続されるコンタクトホール145,146が形成されている。   Further, a gate insulating film 142 covering the base protective film 2c and the semiconductor film 141 is formed in the circuit element portion 14, and a gate electrode 143 (scanning) made of Al, Mo, Ta, Ti, W or the like is formed on the gate insulating film 142. A line 101) is formed, and a transparent first interlayer insulating film 144a and a second interlayer insulating film 144b are formed on the gate electrode 143 and the gate insulating film 142. The gate electrode 143 is provided at a position corresponding to the channel region 141c of the semiconductor film 141. In addition, contact holes 145 and 146 connected to the source and drain regions 141a and 141b of the semiconductor film 141 are formed through the first and second interlayer insulating films 144a and 144b.

そして、第2層間絶縁膜144b上には、画素電極111が所定の形状にパターニングされて形成され、一方のコンタクトホール145がこの画素電極111に接続されている。
また、もう一方のコンタクトホール146が電源線103に接続されている。
The pixel electrode 111 is patterned and formed in a predetermined shape on the second interlayer insulating film 144b, and one contact hole 145 is connected to the pixel electrode 111.
Further, the other contact hole 146 is connected to the power supply line 103.

このようにして、回路素子部14には、各画素電極111に接続された駆動用の薄膜トランジスタ123が形成されている。この薄膜トランジスタ123では、半導体膜141にポリシリコンを用いているため、高輝度,高精細な表示を実現できる。また、このポリシリコンが低温プロセスにより形成されているため、基板2として安価なガラス基板を用いることができる。
尚、回路素子部14には、前述した保持容量cap及びスイッチング用の薄膜トランジスタ142も形成されているが、図4ではこれらの図示を省略している。
In this way, the driving thin film transistor 123 connected to each pixel electrode 111 is formed in the circuit element section 14. In the thin film transistor 123, high brightness and high definition display can be realized because polysilicon is used for the semiconductor film 141. In addition, since this polysilicon is formed by a low-temperature process, an inexpensive glass substrate can be used as the substrate 2.
Note that the above-described storage capacitor cap and the switching thin film transistor 142 are also formed in the circuit element section 14, but these are not shown in FIG.

発光素子部11は、複数の画素電極111上の各々に積層された機能層110と、各画素電極111及び機能層110の間に備えられて各機能層110を仕切るバンク層112とを主体として構成されている。機能層110上には陰極12が配置されており、これら画素電極111、機能層110及び陰極12によって発光部Aが構成されている。   The light emitting element section 11 mainly includes a functional layer 110 stacked on each of the plurality of pixel electrodes 111 and a bank layer 112 provided between each pixel electrode 111 and the functional layer 110 to partition each functional layer 110. It is configured. The cathode 12 is disposed on the functional layer 110, and the pixel electrode 111, the functional layer 110 and the cathode 12 constitute a light emitting unit A.

バンク層112は、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂等の耐熱性、耐溶媒性に優れたレジストからなり、画素電極111の形成位置に対応して開口部112dが形成されている。このバンク層112の厚さは、例えば0.1〜3.5μmの範囲が好ましく、特に2μm程度がよい。厚さが0.1μm未満では、後述する正孔注入/輸送層及び発光層の合計厚よりバンク層112が薄くなり、発光層が開口部112dから溢れるおそれがあるので好ましくない。また、厚さが3.5μmを越えると、開口部112dによる段差が大きくなり、バンク層112上に形成する陰極12のステップカバレッジを確保できなくなるので好ましくない。また、バンク層112の厚さを2μm以上にすれば、駆動用の薄膜トランジスタ123との絶縁を高めることができる点でより好ましい。   The bank layer 112 is made of a resist having excellent heat resistance and solvent resistance, such as an acrylic resin or a polyimide resin, and has openings 112 d corresponding to positions where the pixel electrodes 111 are formed. The thickness of the bank layer 112 is preferably, for example, in the range of 0.1 to 3.5 μm, and particularly preferably about 2 μm. When the thickness is less than 0.1 μm, the bank layer 112 is thinner than the total thickness of the hole injection / transport layer and the light emitting layer described later, and the light emitting layer may overflow from the opening 112d, which is not preferable. On the other hand, if the thickness exceeds 3.5 μm, the step due to the opening 112 d becomes large, and it becomes impossible to secure the step coverage of the cathode 12 formed on the bank layer 112, which is not preferable. Further, it is more preferable that the thickness of the bank layer 112 be 2 μm or more, since the insulation from the driving thin film transistor 123 can be increased.

なお、バンク層112に仕切られた各領域において、画素電極111の電極面111aは酸素を処理ガスとするプラズマ処理によって親液処理されており、親液性を示す。一方、開口部112dの壁面及びバンク層112の上面112fは、4フッ化メタンを処理ガスとするプラズマ処理によって表面がフッ化処理(撥液処理)されており、撥液性を示す。   In each region partitioned by the bank layer 112, the electrode surface 111a of the pixel electrode 111 has been subjected to lyophilic treatment by plasma treatment using oxygen as a processing gas, and exhibits lyophilicity. On the other hand, the surface of the wall surface of the opening 112d and the upper surface 112f of the bank layer 112 are fluorinated (liquid-repellent) by plasma treatment using methane tetrafluoride as a processing gas, and exhibit liquid repellency.

機能層110は、画素電極111上に積層された正孔注入/輸送層110aと、正孔注入/輸送層110a上に隣接して形成された発光層110bとから構成されている。なお、発光層110bに隣接してその他の機能を有する他の機能層を更に形成しても良い。例えば、電子輸送層を形成する事も可能である。
正孔注入/輸送層110aは、正孔を発光層110bに注入する機能を有するとともに、正孔を正孔注入/輸送層110a内部において輸送する機能を有する。この正孔注入/輸送層形成材料としては、例えば、ポリエチレンジオキシチオフェン等のポリチオフェン誘導体とポリスチレンスルホン酸等の混合物を用いることができる。このような正孔注入/輸送層110aを画素電極111と発光層110bの間に設けることにより、発光層110bの発光効率、寿命等の素子特性が向上する。
The functional layer 110 includes a hole injection / transport layer 110a stacked on the pixel electrode 111, and a light emitting layer 110b formed adjacent to the hole injection / transport layer 110a. Note that another functional layer having another function may be further formed adjacent to the light-emitting layer 110b. For example, an electron transport layer can be formed.
The hole injection / transport layer 110a has a function of injecting holes into the light emitting layer 110b and a function of transporting holes inside the hole injection / transport layer 110a. As the material for forming the hole injection / transport layer, for example, a mixture of a polythiophene derivative such as polyethylene dioxythiophene and polystyrene sulfonic acid can be used. By providing such a hole injection / transport layer 110a between the pixel electrode 111 and the light emitting layer 110b, the device characteristics such as the light emitting efficiency and the life of the light emitting layer 110b are improved.

発光層110bは、赤色(R)に発光する赤色発光層110b1、緑色(G)に発光する緑色発光層110b2、及び青色(B)に発光する青色発光層110b3、の3種類を有し、各発光層110b1〜110b3がストライプ配置されている。この発光層110bの材料としては、例えば、[化1]〜[化5]に示す(ポリ)パラフェニレンビニレン誘導体、ポリフェニレン誘導体、ポリフルオレン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリチオフェン誘導体、ペリレン係色素、クマリン系色素、ローダミン系色素、またはこれらの高分子材料にルブレン、ペリレン、9,10-ジフェニルアントラセン、テトラフェニルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリドン等をドープして用いることができる。   The light emitting layer 110b has three types of a red light emitting layer 110b1 emitting red (R), a green light emitting layer 110b2 emitting green (G), and a blue light emitting layer 110b3 emitting blue (B). The light emitting layers 110b1 to 110b3 are arranged in stripes. As a material of the light emitting layer 110b, for example, (poly) paraphenylenevinylene derivatives, polyphenylene derivatives, polyfluorene derivatives, polyvinylcarbazole, polythiophene derivatives, perylene dyes, coumarin dyes shown in [formula 1] to [formula 5] are used. , Rhodamine-based dyes, or these polymer materials, which are doped with rubrene, perylene, 9,10-diphenylanthracene, tetraphenylbutadiene, Nile Red, coumarin 6, quinacridone, or the like.

Figure 2004259696
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陰極12は、透光性を有する導電部材からなり、発光素子部11の全面に形成されている。そして、画素電極111と対になって機能層110に電流を流す役割を果たす。この陰極12は、例えば、カルシウム(Ca)やマグネシウム(Mg)等の低分子の電子注入性材料からなる層と、インジウム錫酸化物(ITO)層とが積層された構造を有する。また、マグネシウム層と銀(Ag)層との混合層(又は積層体)と、ITO層とが積層された構造であってもよい。また、ITO層の代わりにインジウム亜鉛酸化物(IZO)層を積層してもよい。或いは、ITO層やIZO層等を省略して、単にCa層と金(Au)層とを積層した構造であってもよい。   The cathode 12 is made of a light-transmitting conductive member, and is formed on the entire surface of the light emitting element unit 11. Then, it plays a role of flowing a current to the functional layer 110 in a pair with the pixel electrode 111. The cathode 12 has a structure in which, for example, a layer made of a low molecular weight electron injecting material such as calcium (Ca) or magnesium (Mg) and an indium tin oxide (ITO) layer are laminated. In addition, a structure in which a mixed layer (or a laminate) of a magnesium layer and a silver (Ag) layer and an ITO layer may be laminated. Further, an indium zinc oxide (IZO) layer may be stacked instead of the ITO layer. Alternatively, a structure in which an ITO layer, an IZO layer, and the like are omitted and a Ca layer and a gold (Au) layer are simply laminated may be employed.

このとき、発光層110bに近い側の陰極には仕事関数が低いものを設けることが好ましく、特にこの形態においては、上記発光層側に近い陰極は、発光層110bに直接に接して発光層110bに電子を注入する役割を果たす。なお、Ca等の電子注入陰極の膜厚は5〜10nm程度が好ましい。10nm以下でないと十分な光透過性を確保できず、又、5nm以下だと十分な電子注入能力が発揮できない。   At this time, it is preferable that a cathode having a low work function be provided on the side closer to the light emitting layer 110b. In this embodiment, in particular, the cathode closer to the light emitting layer side is in direct contact with the light emitting layer 110b. Plays the role of injecting electrons into The thickness of the electron injection cathode such as Ca is preferably about 5 to 10 nm. If it is less than 10 nm, sufficient light transmittance cannot be secured, and if it is less than 5 nm, sufficient electron injection ability cannot be exhibited.

また、フッ化リチウムは発光層の材料によっては効率よく発光させるために、発光層110と陰極12との間にLiFを形成する場合もある。尚、赤色及び緑色の発光層110b1、1110b2にはフッ化リチウムに限らず、他の材料を用いても良い。従ってこの場合は青色(B)発光層110b3のみにフッ化リチウムからなる層を形成し、他の赤色及び緑色の発光層110b1、110b2にはフッ化リチウム以外のものを積層しても良い。また、赤色及び緑色の発光層110b1、110b2上にはフッ化リチウムを形成せず、そのまま陰極12を形成してもよい。
なお、陰極12上にSiO,SiO2,SiN等からなる酸化防止用の保護層を設けても良い。
Further, depending on the material of the light emitting layer, LiF may form LiF between the light emitting layer 110 and the cathode 12 depending on the material of the light emitting layer. The red and green light emitting layers 110b1 and 1110b2 are not limited to lithium fluoride, and may be made of another material. Therefore, in this case, a layer made of lithium fluoride may be formed only on the blue (B) light emitting layer 110b3, and a layer other than lithium fluoride may be stacked on the other red and green light emitting layers 110b1 and 110b2. Further, the cathode 12 may be formed on the red and green light emitting layers 110b1 and 110b2 without forming lithium fluoride.
Note that a protective layer for preventing oxidation made of SiO, SiO 2 , SiN or the like may be provided on the cathode 12.

また、陰極12の上には、バンク層112の上層となる位置に、酸素や水分を吸収又は除去するゲッター材13が形成されている。このゲッター材13には、Li,Na,Rb,Cs等のアルカリ金属、Be,Mg,Ca,Sr,Ba等のアルカリ土類金属、アルカリ土類金属の酸化物、アルカリ金属又はアルカリ土類金属の水酸化物、の内の少なくとも一つが含まれることが望ましい。
アルカリ土類金属の酸化物は、水と反応して水酸化物に変化することにより、脱水材として作用する。アルカリ金属や、アルカリ土類金属は、酸素と反応して水酸化物に変化するとともに水と反応して酸化物に変化するため、脱水材としてだけでなく脱酸素材としても作用する。これにより、発光部Aの劣化が効果的に防止され、装置の信頼性を高めることができる。
Further, a getter material 13 for absorbing or removing oxygen or moisture is formed on the cathode 12 at a position to be an upper layer of the bank layer 112. The getter material 13 includes an alkali metal such as Li, Na, Rb and Cs, an alkaline earth metal such as Be, Mg, Ca, Sr and Ba, an oxide of an alkaline earth metal, an alkali metal or an alkaline earth metal. At least one of the following hydroxides is preferably contained.
The alkaline earth metal oxide reacts with water to change to a hydroxide, thereby acting as a dehydrating material. Alkali metals and alkaline earth metals react with oxygen to change to hydroxides and to react with water to change to oxides, so they act not only as dehydrating materials but also as deoxidizing materials. Thereby, the deterioration of the light emitting section A is effectively prevented, and the reliability of the device can be improved.

また、ゲッター材13には不透明な材料を用いることが好ましい。或いは、ゲッター材13を厚く形成して、ゲッター材13の透光性を低下させることが好ましい。これにより、隣接した発光部Aから発した光同士による色にじみを防止することができ、表示のコントラストを高めることができる。   It is preferable to use an opaque material for the getter material 13. Alternatively, it is preferable that the thickness of the getter material 13 is formed to reduce the light transmittance of the getter material 13. This can prevent color bleeding due to light emitted from the adjacent light emitting units A, and can enhance display contrast.

次に、本実施形態の表示装置の製造方法を図面を参照して説明する。
本実施形態の表示装置1の製造方法は、例えば、(1)バンク層形成工程、(2)プラズマ処理工程(3)正孔注入/輸送層形成工程(第1液滴吐出工程を含む)、(4)発光層形成工程(第2液滴吐出工程を含む)、(5)陰極、ゲッター材形成工程、及び(6)封止工程とを具備して構成されている。なお、製造方法はこれに限られるものではなく必要に応じてその他の工程が除かれる場合、また追加される場合もある。
Next, a method for manufacturing the display device of the present embodiment will be described with reference to the drawings.
The manufacturing method of the display device 1 of the present embodiment includes, for example, (1) a bank layer forming step, (2) a plasma processing step, (3) a hole injection / transport layer forming step (including a first droplet discharging step), It comprises (4) a light emitting layer forming step (including a second droplet discharging step), (5) a cathode and getter material forming step, and (6) a sealing step. The manufacturing method is not limited to this, and other steps may be omitted or added as necessary.

(1)バンク層形成工程
バンク層形成工程は、基板2の所定の位置に開口部112dを有するバンク層112を形成する工程である。以下に形成方法について説明する。
まず、図5に示すように、基板2上に走査線,信号線,薄膜トランジスタ123等の回路素子部14を有し、層間絶縁膜144a,144bの上に複数の画素電極111が形成された素子基板を準備する。
そして、この基板2上にアクリル樹脂、ポリイミド樹脂等の耐熱性、耐溶剤性を有する感光性材料を塗布し、フォトリソグラフィ技術により、画素電極111の配置された領域に開口部112dを形成する(図6参照)。なお、バンク層112の厚さは、0.1〜3.5μmの範囲が好ましく、特に2μm程度がよい。このような範囲とする理由は以下の通りである。
(1) Bank Layer Forming Step The bank layer forming step is a step of forming a bank layer 112 having an opening 112d at a predetermined position on the substrate 2. Hereinafter, a forming method will be described.
First, as shown in FIG. 5, an element having a circuit element portion 14 such as a scanning line, a signal line, and a thin film transistor 123 on a substrate 2 and a plurality of pixel electrodes 111 formed on interlayer insulating films 144a and 144b. Prepare a substrate.
Then, a heat-resistant and solvent-resistant photosensitive material such as an acrylic resin or a polyimide resin is applied on the substrate 2, and an opening 112 d is formed in a region where the pixel electrode 111 is arranged by a photolithography technique ( See FIG. 6). Note that the thickness of the bank layer 112 is preferably in the range of 0.1 to 3.5 μm, and particularly preferably about 2 μm. The reason for such a range is as follows.

すなわち、厚さが0.1μm未満では、後述する正孔注入/輸送層及び発光層の合計厚よりバンク層112が薄くなり、発光層110bが開口部112dから溢れてしまうおそれがあるので好ましくない。また、厚さが3.5μmを越えると、開口部112dによる段差が大きくなり、開口部112dにおける陰極12のステップカバレッジが確保できなくなるので好ましくない。また、バンク層112の厚さを2μm以上にすれば、陰極12と駆動用の薄膜トランジスタ123との絶縁を高めることができる点で好ましい。   That is, if the thickness is less than 0.1 μm, the bank layer 112 is thinner than the total thickness of the hole injection / transport layer and the light emitting layer described later, and the light emitting layer 110b may overflow from the opening 112d, which is not preferable. . On the other hand, when the thickness exceeds 3.5 μm, a step due to the opening 112d becomes large, and it becomes impossible to secure the step coverage of the cathode 12 in the opening 112d. Further, it is preferable that the thickness of the bank layer 112 be 2 μm or more, since the insulation between the cathode 12 and the driving thin film transistor 123 can be increased.

(2)プラズマ処理工程
プラズマ処理工程は、画素電極111の表面を活性化すること、更にバンク層112の表面を表面処理する事を目的として行われる。特に活性化工程では、画素電極111上の洗浄、更に仕事関数の調整を主な目的として行っている。更に、画素電極111の表面の親液化処理、バンク層112表面の撥液化処理を行う。
このプラズマ処理工程は、例えば(2)−1予備加熱工程、(2)−2活性化処理工程(親液性にする親液化工程)、(2)−3撥液化処理工程、及び(2)−4冷却工程に大別される。なお、このような工程に限られるものではなく、必要に応じて工程を削減、更なる工程追加も行われる。
(2) Plasma Treatment Step The plasma treatment step is performed for the purpose of activating the surface of the pixel electrode 111 and further treating the surface of the bank layer 112. In particular, in the activation step, cleaning of the pixel electrode 111 and adjustment of the work function are mainly performed. Further, a lyophilic treatment on the surface of the pixel electrode 111 and a lyophobic treatment on the surface of the bank layer 112 are performed.
This plasma processing step includes, for example, (2) -1 preheating step, (2) -2 activation processing step (a lyophilic step for making lyophilic), (2) -3 lyophobic processing step, and (2) -4 cooling process. It is to be noted that the present invention is not limited to such steps, and steps may be reduced and further steps may be added as necessary.

図7に、プラズマ処理工程で用いられるプラズマ処理装置を示す。
図7に示すプラズマ処理装置50は、予備加熱処理室51、第1プラズマ処理室52、第2プラズマ処理室53、冷却処理室54、これらの各処理室51〜54に基板2を搬送する搬送装置55とから構成されている。各処理室51〜54は、搬送装置55を中心として放射状に配置されている。
FIG. 7 shows a plasma processing apparatus used in the plasma processing step.
The plasma processing apparatus 50 illustrated in FIG. 7 includes a pre-heating processing chamber 51, a first plasma processing chamber 52, a second plasma processing chamber 53, a cooling processing chamber 54, and a transfer that transfers the substrate 2 to each of the processing chambers 51 to 54. And a device 55. Each of the processing chambers 51 to 54 is radially arranged around the transfer device 55.

まず、これらの装置を用いた概略の工程を説明する。
予備加熱工程は予備加熱処理室51において行われ、バンク層形成工程から搬送された基板2を所定の温度に加熱する。
予備加熱工程の後、親液化工程及び撥液化処理工程を行う。すなわち、基板2を第1,第2プラズマ処理室52,53に順次搬送し、それぞれの処理室52,53においてバンク層112にプラズマ処理を行い親液化する。この親液化処理後に撥液化処理を行う。撥液化処理の後に基板2を冷却処理室に搬送し、冷却処理室54おいて基板2を室温まで冷却する。この冷却工程後、搬送装置55により次の工程である正孔注入/輸送層形成工程に基板2を搬送する。
First, a schematic process using these devices will be described.
The preheating step is performed in the preheating processing chamber 51, and heats the substrate 2 transported from the bank layer forming step to a predetermined temperature.
After the preheating step, a lyophilic step and a lyophobic treatment step are performed. That is, the substrate 2 is sequentially transported to the first and second plasma processing chambers 52 and 53, and the bank processing is performed on the bank layer 112 in each of the processing chambers 52 and 53 to make the bank layer lyophilic. After the lyophilic treatment, a lyophobic treatment is performed. After the lyophobic treatment, the substrate 2 is transported to a cooling processing chamber, and the substrate 2 is cooled to room temperature in the cooling processing chamber 54. After this cooling step, the substrate 2 is transferred by the transfer device 55 to the next step of forming a hole injection / transport layer.

以下に、それぞれの工程について詳細に説明する。
(2)−1 予備加熱工程
予備加熱工程は予備加熱処理室51により行う。この処理室51において、バンク層112を含む基板2を所定の温度まで加熱する。
基板2の加熱方法は、例えば処理室51内にて基板2を載せるステージにヒータを取り付け、このヒータで当該ステージごとに基板2を加熱する手段がとられている。なお、これ以外の方法を採用することも可能である。
この予備加熱処理室51では、基板2は例えば70℃〜80℃の範囲で加熱される。この温度は次工程であるプラズマ処理における処理温度であり、次の工程に合わせて基板2を事前に加熱し、基板2の温度ばらつきを解消することを目的としている。
Hereinafter, each step will be described in detail.
(2) -1 Preheating Step The preheating step is performed in the preheating processing chamber 51. In the processing chamber 51, the substrate 2 including the bank layer 112 is heated to a predetermined temperature.
As a method of heating the substrate 2, for example, a heater is attached to a stage on which the substrate 2 is placed in the processing chamber 51, and a unit is used to heat the substrate 2 for each stage with the heater. It should be noted that other methods can be adopted.
In the preheating chamber 51, the substrate 2 is heated, for example, in a range of 70 ° C to 80 ° C. This temperature is a processing temperature in the next step of the plasma processing, and is intended to eliminate the temperature variation of the substrate 2 by heating the substrate 2 in advance in accordance with the next step.

仮に予備加熱工程を加えなければ、基板2は室温から上記のような温度に加熱されることになり、工程開始から工程終了までのプラズマ処理工程中において温度が常に変動しながら処理される事になる。したがって、基板温度が変化しながらプラズマ処理を行うことは、特性の不均一につながる可能性がある。したがって、処理条件を一定に保ち、均一な特性を得るために予備加熱を行うのである。
このため、プラズマ処理工程においては、第1,第2プラズマ処理装置52,53内の試料ステージ上に基板2を載置した状態で親液化工程または撥液化工程を行う場合に、予備加熱温度を、親液化工程または撥液化工程を連続して行う試料ステージ56の温度にほぼ一致させることが好ましい。
If the preheating step is not added, the substrate 2 is heated from room temperature to the above temperature, and the temperature is constantly changed during the plasma processing process from the process start to the process end. Become. Therefore, performing the plasma processing while changing the substrate temperature may lead to uneven characteristics. Therefore, preheating is performed to keep the processing conditions constant and to obtain uniform characteristics.
For this reason, in the plasma processing step, when performing the lyophilic step or the lyophobic step while the substrate 2 is mounted on the sample stage in the first and second plasma processing apparatuses 52 and 53, the preheating temperature is reduced. It is preferable that the temperature be substantially equal to the temperature of the sample stage 56 in which the lyophilic process or the lyophobic process is continuously performed.

すなわち、第1,第2プラズマ処理装置52,53内の試料ステージが上昇する温度、例えば70〜80℃まで予め基板2を予備加熱することにより、多数の基板にプラズマ処理を連続的に行った場合でも、処理開始直後と処理終了直前でのプラズマ処理条件をほぼ一定にすることができる。これにより、基板2間の表面処理条件を同一にし、バンク層112の組成物に対する濡れ性を均一化することができ、一定の品質を有する表示装置を製造することができる。
また、基板2を予め予備加熱しておくことにより、後のプラズマ処理における処理時間を短縮することができる。
That is, the plasma processing was continuously performed on a large number of substrates by preheating the substrate 2 to a temperature at which the sample stages in the first and second plasma processing apparatuses 52 and 53 rise, for example, 70 to 80 ° C. Even in this case, the plasma processing conditions immediately after the start of the process and immediately before the end of the process can be made substantially constant. Thereby, the surface treatment conditions between the substrates 2 can be made the same, the wettability of the bank layer 112 with the composition can be made uniform, and a display device having a certain quality can be manufactured.
Further, by preheating the substrate 2 in advance, the processing time in the subsequent plasma processing can be reduced.

(2)−2 活性化処理
第1プラズマ処理室52では、活性化処理が行われる。活性化処理には、画素電極111における仕事関数の調整、制御、画素電極表面の洗浄、画素電極表面の親液化処理が含まれる。
親液化処理として、大気雰囲気中で酸素を処理ガスとするプラズマ処理(O2プラズマ処理)を行う。図8は第1プラズマ処理を模式的に示した図である。図8に示すように、バンク層112を含む基板2は加熱ヒータ内臓の試料ステージ56上に載置され、基板2の上側にはギャップ間隔0.5〜2mm程度の距離をおいてプラズマ放電電極57が基板2に対向して配置されている。基板2は、試料ステージ56によって加熱されつつ、試料ステージ56は図示矢印方向に向けて所定の搬送速度で搬送され、その間に基板2に対してプラズマ状態の酸素が照射される。
(2) -2 Activation Process In the first plasma processing chamber 52, an activation process is performed. The activation processing includes adjustment and control of the work function of the pixel electrode 111, cleaning of the pixel electrode surface, and lyophilic processing of the pixel electrode surface.
As the lyophilic process, a plasma process (O 2 plasma process) using oxygen as a process gas in an air atmosphere is performed. FIG. 8 is a diagram schematically showing the first plasma processing. As shown in FIG. 8, the substrate 2 including the bank layer 112 is placed on a sample stage 56 having a built-in heater, and a plasma discharge electrode is provided above the substrate 2 with a gap of about 0.5 to 2 mm. 57 is arranged facing the substrate 2. While the substrate 2 is being heated by the sample stage 56, the sample stage 56 is transported at a predetermined transport speed in the direction of the arrow shown in the drawing, during which the substrate 2 is irradiated with oxygen in a plasma state.

2プラズマ処理の条件は、例えば、プラズマパワー100〜800kW、酸素ガス流量50〜100ml/min、板搬送速度0.5〜10mm/sec、基板温度70〜90℃の条件で行われる。なお、試料ステージ56による加熱は、主として予備加熱された基板2の保温のために行われる。
このO2プラズマ処理により、図9に示すように、画素電極111の電極面111a、及びバンク層112の開口部112dの壁面ならびに上面112fが親液処理される。この親液処理により、これらの各面に水酸基が導入されて親液性が付与される。
図9では、親液処理された部分を一点鎖線で示している。
なお、このO2プラズマ処理は、親液性を付与するのみならず、上述の通り画素電極111上の洗浄,仕事関数の調整も兼ねている。
The conditions for the O 2 plasma treatment are, for example, a plasma power of 100 to 800 kW, an oxygen gas flow rate of 50 to 100 ml / min, a plate transfer speed of 0.5 to 10 mm / sec, and a substrate temperature of 70 to 90 ° C. The heating by the sample stage 56 is mainly performed to keep the substrate 2 preheated.
By this O 2 plasma treatment, as shown in FIG. 9, the lyophilic treatment is performed on the electrode surface 111a of the pixel electrode 111, the wall surface of the opening 112d of the bank layer 112, and the upper surface 112f. By this lyophilic treatment, a hydroxyl group is introduced into each of these surfaces to impart lyophilicity.
In FIG. 9, the portion subjected to the lyophilic treatment is indicated by a dashed line.
The O 2 plasma treatment not only imparts lyophilicity but also cleans the pixel electrode 111 and adjusts the work function as described above.

(2)−3 撥液処理工程
第2プラズマ処理室53では、撥液化工程として、大気雰囲気中でテトラフルオロメタン(四フッ化炭素)等のフッ化物含有ガスを処理ガスとするプラズマ処理(CF4プラズマ処理)を行う。第2プラズマ処理室53の内部構造は図8に示した第1プラズマ処理室52の内部構造と同じである。即ち、基板2は、試料ステージによって加熱されつつ、試料ステージごと所定の搬送速度で搬送され、その間に基板2に対してプラズマ状態の処理ガスが照射される。
(2) -3 Liquid Repellent Treatment Step In the second plasma treatment chamber 53, as a liquid repellent step, a plasma treatment (CF) using a fluoride-containing gas such as tetrafluoromethane (carbon tetrafluoride) as a treatment gas in an air atmosphere is performed. 4 plasma treatment). The internal structure of the second plasma processing chamber 53 is the same as the internal structure of the first plasma processing chamber 52 shown in FIG. That is, the substrate 2 is transported at a predetermined transport speed along with the sample stage while being heated by the sample stage, during which the substrate 2 is irradiated with a processing gas in a plasma state.

CF4プラズマ処理の条件は、例えば、プラズマパワー100〜800kW、4フッ化メタンガス流量50〜100ml/min、基板搬送速度0.5〜10mm/sec、基板温度70〜90℃の条件で行われる。なお、加熱ステージによる加熱は、第1プラズマ処理室52の場合と同様に、主として予備加熱された基板2の保温のために行われる。
なお、処理ガスは、テトラフルオロメタン(四フッ化炭素)に限らず、他のフルオロカーボン系のガスを用いることができる。
The conditions of the CF 4 plasma treatment are, for example, a plasma power of 100 to 800 kW, a flow rate of tetrafluoromethane gas of 50 to 100 ml / min, a substrate transfer speed of 0.5 to 10 mm / sec, and a substrate temperature of 70 to 90 ° C. The heating by the heating stage is performed mainly for keeping the preheated substrate 2 warm, as in the case of the first plasma processing chamber 52.
Note that the processing gas is not limited to tetrafluoromethane (carbon tetrafluoride), and other fluorocarbon-based gases can be used.

CF4プラズマ処理により、図10に示すように、開口部112d壁面及びバンク層112の上面112fが撥液処理される。この撥液処理により、これらの各面にフッ素基が導入されて撥液性が付与される。図10では、撥液性を示す領域を二点鎖線で示している。
尚、画素電極111の電極面111aもこのCF4プラズマ処理の影響を多少受けるが、濡れ性に影響を与える事は少ない。図10では、親液性を示す領域を一点鎖線で示している。
As shown in FIG. 10, the liquid repellency treatment is performed on the wall surface of the opening 112d and the upper surface 112f of the bank layer 112 by the CF 4 plasma treatment. By this lyophobic treatment, a fluorine group is introduced into each of these surfaces to impart lyophobicity. In FIG. 10, the region exhibiting liquid repellency is indicated by a two-dot chain line.
Note that the electrode surface 111a of the pixel electrode 111 is also slightly affected by the CF 4 plasma treatment, but has little effect on wettability. In FIG. 10, the region showing lyophilicity is indicated by a dashed line.

(2)−4 冷却工程
冷却工程として、冷却処理室54を用い、プラズマ処理のために加熱された基板2を管理温度まで冷却する。これは、この以降の工程であるインクジェット工程(液滴吐出工程)の管理温度まで冷却するために行う工程である。
この冷却処理室54は、基板2を配置するためのプレートを有し、そのプレートは基板2を冷却するように水冷装置が内蔵された構造となっている。
(2) -4 Cooling Step In the cooling step, the substrate 2 heated for plasma processing is cooled to a control temperature by using the cooling processing chamber 54. This is a step performed to cool down to the control temperature of the ink jet process (droplet discharging process), which is the subsequent process.
The cooling processing chamber 54 has a plate on which the substrate 2 is arranged, and the plate has a structure in which a water cooling device is built in so as to cool the substrate 2.

このようにプラズマ処理後の基板2を室温、または所定の温度(例えばインクジェット工程を行う管理温度)まで冷却することにより、次の正孔注入/輸送層形成工程において、基板2の温度が一定となり、基板2の温度変化が無い均一な温度で次工程を行うことができる。これにより、インクジェット法等の吐出手段により吐出された材料を均一に形成できる。例えば、正孔注入/輸送層を形成するための材料を含む第1組成物を吐出させる際に、第1組成物を一定の容積で連続して吐出させることができ、正孔注入/輸送層を均一に形成することができる。   By cooling the substrate 2 after the plasma processing to room temperature or a predetermined temperature (for example, a control temperature for performing an ink jet process), the temperature of the substrate 2 becomes constant in the next hole injection / transport layer forming process. The next step can be performed at a uniform temperature with no temperature change of the substrate 2. Thereby, the material discharged by the discharge means such as the ink jet method can be formed uniformly. For example, when discharging the first composition containing the material for forming the hole injection / transport layer, the first composition can be continuously discharged at a constant volume, and the hole injection / transport layer can be discharged. Can be formed uniformly.

尚、プラズマ処理工程に用いるプラズマ処理装置は、図8に示したものに限られず、例えば図11に示すようなプラズマ処理装置60を用いてもよい。
図11に示すプラズマ処理装置60は、予備加熱処理室61と、第1プラズマ処理室62と、第2プラズマ処理室63と、冷却処理室64と、これらの各処理室61〜64に基板2を搬送する搬送装置65とから構成され、各処理室61〜64が、搬送装置65の搬送方向両側(図中矢印方向両側)に配置されてなるものである。
Note that the plasma processing apparatus used in the plasma processing step is not limited to the one shown in FIG. 8, and for example, a plasma processing apparatus 60 as shown in FIG. 11 may be used.
The plasma processing apparatus 60 shown in FIG. 11 includes a pre-heating processing chamber 61, a first plasma processing chamber 62, a second plasma processing chamber 63, a cooling processing chamber 64, and a substrate 2 in each of the processing chambers 61 to 64. , And the processing chambers 61 to 64 are arranged on both sides of the transfer device 65 in the transfer direction (both sides in the direction of the arrow in the figure).

このプラズマ処理装置60では、図8に示したプラズマ処理装置50と同様に、バンク層形成工程から搬送された基板2を、予備加熱処理室61、第1,第2プラズマ処理室62,63、冷却処理室64に順次搬送して各処理室にて上記と同様な処理を行った後、基板2を次の正孔注入/輸送層形成工程に搬送する。
また,上記プラズマ装置は,大気圧下の装置でなくとも,真空下のプラズマ装
置を用いても良い。
In the plasma processing apparatus 60, similarly to the plasma processing apparatus 50 shown in FIG. 8, the substrate 2 transported from the bank layer forming step is transferred to the pre-heating processing chamber 61, the first and second plasma processing chambers 62 and 63, After sequentially transporting the substrate 2 to the cooling processing chamber 64 and performing the same processing as described above in each processing chamber, the substrate 2 is transported to the next hole injection / transport layer forming step.
The plasma device may be a device under vacuum, instead of a device under atmospheric pressure.

(3)正孔注入/輸送層形成工程
発光素子形成工程では、画素電極111上に正孔注入/輸送層を形成する。
正孔注入/輸送層形成工程では、液滴吐出としてたとえばインクジェット装置を用いて、正孔注入/輸送層形成材料を含む第1組成物を電極面111a上に吐出する(第1液滴吐出工程)。そして、その後、乾燥処理及び熱処理を行ない、画素電極111上に正孔注入/輸送層110aを形成する。
この正孔注入/輸送層形成工程を含めこれ以降の工程は、水、酸素の無い雰囲気とする事が好ましい。例えば、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気等の不活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。
(3) Hole injection / transport layer forming step In the light emitting element forming step, a hole injection / transport layer is formed on the pixel electrode 111.
In the hole injection / transport layer forming step, the first composition containing the hole injection / transport layer forming material is discharged onto the electrode surface 111a using, for example, an ink jet device as the droplet discharge (first droplet discharge step). ). After that, a drying process and a heat treatment are performed to form a hole injection / transport layer 110 a on the pixel electrode 111.
Subsequent processes including the hole injection / transport layer forming process are preferably performed in an atmosphere free of water and oxygen. For example, the treatment is preferably performed in an inert gas atmosphere such as a nitrogen atmosphere or an argon atmosphere.

インクジェットによる製造方法は以下の通りである。
図12に示すように、インクジェットヘッドH1に形成された複数のノズルから正孔注入/輸送層形成材料を含む第1組成物110cを吐出する。ここではインクジェットヘッドを走査することにより各開口部112d内に組成物110cを充填しているが、基板2を走査することによっても可能である。更に、インクジェットヘッドH1と基板2とを相対的に移動させることによっても組成物110cを充填させることができる。なお、これ以降のインクジェットヘッドH1を用いて行う工程では上記の点は同様である。
The manufacturing method by the inkjet is as follows.
As shown in FIG. 12, the first composition 110c including the hole injection / transport layer forming material is discharged from a plurality of nozzles formed in the inkjet head H1. Here, the composition 110c is filled in each opening 112d by scanning the inkjet head, but it is also possible to scan the substrate 2. Further, the composition 110c can be filled by relatively moving the inkjet head H1 and the substrate 2. The above points are the same in the subsequent steps performed using the inkjet head H1.

インクジェットヘッドH1による吐出は以下の通りである。すなわち、インクジェットヘッドH1に形成された吐出ノズルH2を電極面111aに対向して配置し、ノズルH2から第1組成物110cを吐出する。画素電極111の周囲にはバンク層112が形成されており、このバンク層112の開口部112d内に位置する電極面111aにインクジェットヘッドH1を対向させ、このインクジェットヘッドH1と基板2とを相対移動させながら、吐出ノズルH2から1滴当たりの液量が制御された第1組成物滴110cを電極面111a上に吐出する。   The ejection by the inkjet head H1 is as follows. That is, the discharge nozzle H2 formed on the ink jet head H1 is disposed so as to face the electrode surface 111a, and the first composition 110c is discharged from the nozzle H2. A bank layer 112 is formed around the pixel electrode 111. The inkjet head H1 faces the electrode surface 111a located in the opening 112d of the bank layer 112, and the inkjet head H1 and the substrate 2 move relatively. While discharging, the first composition droplet 110c having a controlled liquid amount per droplet is discharged from the discharge nozzle H2 onto the electrode surface 111a.

ここで用いる第1組成物110cとしては、例えば、ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDT)等のポリチオフェン誘導体とポリスチレンスルホン酸(PSS)等の混合物を、極性溶媒に溶解させた組成物を用いることができる。極性溶媒としては、例えば、イソプロピルアルコール(IPA)、ノルマルブタノール、γ−ブチロラクトン、N−メチルピロリドン(NMP)、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン(DMI)及びその誘導体、カルビト−ルアセテート、ブチルカルビト−ルアセテート等のグリコールエーテル類等を挙げることができる。   As the first composition 110c used here, for example, a composition in which a mixture of a polythiophene derivative such as polyethylene dioxythiophene (PEDT) and polystyrene sulfonic acid (PSS) is dissolved in a polar solvent can be used. Examples of the polar solvent include isopropyl alcohol (IPA), normal butanol, γ-butyrolactone, N-methylpyrrolidone (NMP), 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone (DMI) and derivatives thereof, and carbitol acetate. And glycol ethers such as butyl carbitol acetate.

より具体的な第1組成物の組成としては、PEDT/PSS混合物(PEDT/PSS=1:20):12.52重量%、PSS:1.44重量%、IPA:10重量%、NMP:27.48重量%、DMI:50重量%のものを例示できる。尚、第1組成物の粘度は2〜20Ps程度が好ましく、特に4〜15cPs程度が良い。
上記の第1組成物を用いることにより、吐出ノズルH2に詰まりが生じることがなく安定吐出できる。
なお、正孔注入/輸送層形成材料は、赤(R)、緑(G)、青(B)の各発光層110b1〜110b3に対して同じ材料を用いても良く、各発光層毎に変えても良い。
More specifically, the composition of the first composition is as follows: PEDT / PSS mixture (PEDT / PSS = 1: 20): 12.52% by weight, PSS: 1.44% by weight, IPA: 10% by weight, NMP: 27 .48% by weight and DMI: 50% by weight. The viscosity of the first composition is preferably about 2 to 20 Ps, and particularly preferably about 4 to 15 cPs.
By using the above-mentioned first composition, stable discharge can be performed without clogging of the discharge nozzle H2.
In addition, the same material may be used for the red (R), green (G), and blue (B) light emitting layers 110b1 to 110b3 as the material for forming the hole injection / transport layer. May be.

図12に示すように、吐出された第1組成物滴110cは、親液処理された電極面111a上に広がり、開口部112d内に充填される。仮に、第1組成物滴110cが所定の吐出位置からはずれて上面112f上に吐出されたとしても、上面112fが第1組成物滴110cで濡れることがなく、はじかれた第1組成物滴110cが開口部112d内に転がり込む。
電極面111a上に吐出する第1組成物量は、開口部112dの大きさ、形成しようとする正孔注入/輸送層の厚さ、第1組成物中の正孔注入/輸送層形成材料の濃度等により決定される。また、第1組成物滴110cは1回のみならず、数回に分けて同一の電極面111a上に吐出しても良い。この場合、各回における第1組成物の量は同一でも良く、各回毎に第1組成物を変えても良い。
As shown in FIG. 12, the discharged first composition droplet 110c spreads on the lyophilic treated electrode surface 111a and fills the opening 112d. Even if the first composition droplet 110c is displaced from the predetermined ejection position and is ejected onto the upper surface 112f, the upper surface 112f is not wetted by the first composition droplet 110c, and the repelled first composition droplet 110c is repelled. Rolls into the opening 112d.
The amount of the first composition discharged onto the electrode surface 111a depends on the size of the opening 112d, the thickness of the hole injection / transport layer to be formed, and the concentration of the hole injection / transport layer forming material in the first composition. Etc. are determined. Further, the first composition droplet 110c may be discharged onto the same electrode surface 111a not only once but also several times. In this case, the amount of the first composition may be the same each time, or the first composition may be changed each time.

インクジェットヘッドの構造については、図15のようなヘッドHを用いる事ができる。更に、基板とインクジェットヘッドの配置に関しては図16のように配置することが好ましい。図15中、符号H7は前記のインクジェットヘッドH1を支持する支持基板であり、この支持基板H7上に複数のインクジェットヘッドH1が備えられている。   Regarding the structure of the inkjet head, a head H as shown in FIG. 15 can be used. Further, it is preferable to arrange the substrate and the ink jet head as shown in FIG. In FIG. 15, reference numeral H7 denotes a support substrate that supports the inkjet head H1, and a plurality of inkjet heads H1 are provided on the support substrate H7.

インクジェットヘッドH1のインク吐出面(基板2との対向面)には、ヘッドの長さ方向に沿って列状に、且つヘッドの幅方向に間隔をあけて2列で吐出ノズルが複数(例えば、1列180ノズル、合計360ノズル)設けられている。また、このインクジェットヘッドH1は、吐出ノズルを基板2側に向けるとともに、X軸(またはY軸)に対して所定角度傾いた状態で略X軸方向に沿って列状に、且つY方向に所定間隔をあけて2列に配列された状態で平面視略矩形状の支持板20に複数(図15では1列6個、合計12個)位置決めされて支持されている。   On the ink ejection surface of the inkjet head H1 (the surface facing the substrate 2), a plurality of ejection nozzles (for example, two rows) are arranged in rows along the head length direction and in two rows at intervals in the head width direction. 180 nozzles per row, for a total of 360 nozzles). In addition, the inkjet head H1 has the ejection nozzles directed toward the substrate 2 and is arranged in a row along the substantially X-axis direction while being inclined at a predetermined angle with respect to the X-axis (or the Y-axis), and in the Y direction. A plurality of (six in one row in FIG. 15, a total of twelve in FIG. 15) are positioned and supported on a substantially rectangular support plate 20 in a state of being arranged in two rows at intervals.

また図16に示すインクジェット装置において、符号1115は基板2を載置するステージであり、符号1116はステージ1115を図中X軸方向(主走査方向)に案内するガイドレールである。またヘッドHは、支持部材1111を介してガイドレール1113により図中Y軸方向(副主走査方向)に移動できるようになっている。さらに、ヘッドHは図中θ軸方向に回転できるようになっており、インクジェットヘッドH1を主走査方向に対して所定の角度に傾けることができるようになっている。このように、インクジェットヘッドを走査方向に対して傾けて配置することにより、ノズルピッチを画素ピッチに対応させることができる。また、傾き角度調整することにより、どのような画素ピッチに対しても対応させることができる。   In the ink jet apparatus shown in FIG. 16, reference numeral 1115 denotes a stage on which the substrate 2 is placed, and reference numeral 1116 denotes a guide rail for guiding the stage 1115 in the X-axis direction (main scanning direction) in the figure. Further, the head H can be moved in the Y-axis direction (sub-main scanning direction) in the figure by the guide rail 1113 via the support member 1111. Further, the head H can rotate in the θ-axis direction in the drawing, and can tilt the inkjet head H1 at a predetermined angle with respect to the main scanning direction. Thus, by arranging the inkjet head at an angle to the scanning direction, the nozzle pitch can be made to correspond to the pixel pitch. Further, by adjusting the tilt angle, it is possible to correspond to any pixel pitch.

図16に示す基板2は、マザー基板に複数のチップを配置した構造となっている。即ち、1チップの領域が1つの表示装置に相当する。ここでは、3つの表示領域2aが形成されているが、これに限られるものではない。例えば、基板2上の左側の表示領域2aに対して組成物を塗布する場合は、ガイドレール1113を介してヘッドHを図中左側に移動させるとともに、ガイドレール1116を介して基板2を図中上側に移動させ、基板2を走査させながら塗布を行う。次に、ヘッドHを図中右側に移動させて基板の中央の表示領域2aに対して組成物を塗布する。右端にある表示領域2aに対しても前記と同様である。
尚、図15に示すヘッドH及び図16に示すインクジェット装置は、正孔注入/輸送層形成工程のみならず、発光層形成工程に用いて良い。
The substrate 2 shown in FIG. 16 has a structure in which a plurality of chips are arranged on a mother substrate. That is, one chip area corresponds to one display device. Here, three display areas 2a are formed, but the present invention is not limited to this. For example, when applying the composition to the left display area 2a on the substrate 2, the head H is moved to the left side in the figure via the guide rail 1113, and the substrate 2 is moved through the guide rail 1116 in the figure. The coating is performed by moving the substrate 2 upward and scanning the substrate 2. Next, the composition is applied to the display area 2a at the center of the substrate by moving the head H to the right in the figure. The same applies to the display area 2a at the right end.
The head H shown in FIG. 15 and the ink jet device shown in FIG. 16 may be used not only in the hole injection / transport layer forming step but also in the light emitting layer forming step.

次に、図13に示すような乾燥工程を行ない、第1組成物に含まれる極性溶媒を蒸発させて正孔注入/輸送層形成材料を析出させる。この乾燥処理は、例えば窒素雰囲気中、室温で圧力を例えば133.3Pa(1Torr)程度にして行う。圧力が低すぎると第1組成物滴110cが突沸してしまうので好ましくない。また、温度を室温以上にすると、極性溶媒の蒸発速度が高まり、平坦な膜を形成する事ができない。
乾燥処理後は、窒素中、好ましくは真空中で200℃で10分程度加熱する熱処理を行うことで、正孔注入/輸送層110a内に残存する極性溶媒や水を除去することが好ましい。
このように形成された正孔注入/輸送層110aの大部分は、後の工程で塗布する発光層110bに溶け込むが、一部が正孔注入/輸送層110aと発光層110bの間に薄膜状に残存する。これにより、正孔注入/輸送層110aと発光層110bとの間のエネルギー障壁を下げて正孔の移動を容易にし、発光効率を向上させることができる。
Next, a drying step as shown in FIG. 13 is performed to evaporate the polar solvent contained in the first composition to precipitate a material for forming a hole injection / transport layer. This drying process is performed, for example, in a nitrogen atmosphere at room temperature with a pressure of, for example, about 133.3 Pa (1 Torr). If the pressure is too low, the first composition droplets 110c are undesirably bumped. If the temperature is higher than room temperature, the evaporation rate of the polar solvent increases, and a flat film cannot be formed.
After the drying treatment, it is preferable to remove the polar solvent and water remaining in the hole injection / transport layer 110a by performing a heat treatment of heating at 200 ° C. for about 10 minutes in nitrogen, preferably in vacuum.
Most of the hole injection / transport layer 110a formed in this way dissolves in the light emitting layer 110b to be applied in a later step, but a part thereof is formed as a thin film between the hole injection / transport layer 110a and the light emitting layer 110b. To remain. Accordingly, the energy barrier between the hole injecting / transporting layer 110a and the light emitting layer 110b can be lowered to facilitate the movement of holes, and the luminous efficiency can be improved.

(4)発光層形成工程
発光層形成工程は、表面改質工程、発光層形成材料吐出工程(第2液滴吐出工程)および乾燥工程、とからなる。
表面改質工程は、正孔注入/輸送層110aと発光層110bとの密着性や、成膜の均一性を高めるために行なっている。つまり、発光層形成工程では、正孔注入/輸送層110aの再溶解を防止するために、発光層形成の際に用いる第2組成物の溶媒として、正孔注入/輸送層110aに対して不溶な非極性溶媒を用いる。しかしその一方で、正孔注入/輸送層110aは、非極性溶媒に対する親和性が低いため、非極性溶媒を含む第2組成物を正孔注入/輸送層110a上に吐出しても、正孔注入/輸送層110aと発光層110bとを密着させることができなくなるか、あるいは発光層110bを均一に塗布できないおそれがある。このため、非極性溶媒ならびに発光層形成材料に対する正孔注入/輸送層110aの表面の親和性を高めるために、発光層形成の前に表面改質工程を行うことが好ましい。
(4) Light Emitting Layer Forming Step The light emitting layer forming step includes a surface modifying step, a light emitting layer forming material discharging step (second droplet discharging step), and a drying step.
The surface modification step is performed in order to improve the adhesion between the hole injection / transport layer 110a and the light emitting layer 110b and the uniformity of film formation. That is, in the light emitting layer forming step, the solvent of the second composition used in forming the light emitting layer is insoluble in the hole injection / transport layer 110a in order to prevent the hole injection / transport layer 110a from being redissolved. Use a suitable non-polar solvent. However, on the other hand, the hole injecting / transporting layer 110a has a low affinity for the nonpolar solvent, so that even if the second composition containing the nonpolar solvent is ejected onto the hole injecting / transporting layer 110a, the hole There is a possibility that the injection / transport layer 110a and the light emitting layer 110b cannot be brought into close contact with each other, or the light emitting layer 110b cannot be uniformly applied. Therefore, in order to increase the affinity of the surface of the hole injecting / transporting layer 110a with the nonpolar solvent and the material for forming the light emitting layer, it is preferable to perform a surface modification step before forming the light emitting layer.

表面改質工程は、発光層形成の際に用いる第2組成物の非極性溶媒と同一溶媒またはこれに類する溶媒である表面改質材を、インクジェット法(液滴吐出法)、スピンコート法またはディップ法により正孔注入/輸送層110a上に塗布した後に乾燥することにより行う。
インクジェット法による塗布は、図14に示すように、インクジェットヘッドH3に、表面改質材110dを充填し、インクジェットヘッドH3に形成された吐出ノズルH4から表面改質材110dを吐出する。前述の正孔注入/輸送層形成工程と同様に、吐出ノズルH4を基板2(すなわち、正孔注入/輸送層110aが形成された基板2)に対向させ、インクジェットヘッドH3と基板2とを相対移動させながら、吐出ノズルH4から表面改質材110dを正孔注入/輸送層110a上に吐出することにより行う。
In the surface modification step, the same solvent as the non-polar solvent of the second composition used for forming the light emitting layer or a surface modifier that is similar to the non-polar solvent is applied by an inkjet method (droplet discharge method), a spin coating method, or the like. This is performed by applying the solution on the hole injection / transport layer 110a by dipping and then drying.
In the application by the ink-jet method, as shown in FIG. 14, an ink-jet head H3 is filled with a surface modifying material 110d, and the surface-modifying material 110d is discharged from a discharge nozzle H4 formed in the ink-jet head H3. Similarly to the above-described hole injection / transport layer forming step, the discharge nozzle H4 is opposed to the substrate 2 (that is, the substrate 2 on which the hole injection / transport layer 110a is formed), and the inkjet head H3 and the substrate 2 are relatively positioned. This is performed by discharging the surface modifying material 110d from the discharge nozzle H4 onto the hole injection / transport layer 110a while moving.

また、スピンコート法による塗布は、基板2を例えば回転ステージ上に載せ、上方から表面改質材110dを基板2上に滴下した後、基板2を回転させて表面改質材110dを基板2上の正孔注入/輸送層110aの全体に広げることにより行う。なお、表面改質材110dは撥液化処理された上面112f上にも一時的に広がるが、回転による遠心力で飛ばされてしまい、正孔注入/輸送層110a上のみに塗布される。   In the application by the spin coating method, the substrate 2 is placed on, for example, a rotary stage, and the surface modifier 110d is dropped on the substrate 2 from above, and then the substrate 2 is rotated to deposit the surface modifier 110d on the substrate 2. The hole injection / transport layer 110a is spread over the whole. Although the surface modifier 110d temporarily spreads on the liquid-repellent upper surface 112f, it is blown off by centrifugal force due to rotation and is applied only on the hole injection / transport layer 110a.

更にディップ法による塗布は、基板2を例えば表面改質材110dに浸積させた後に引き上げて、表面改質材110dを正孔注入/輸送層110aの全体に広げることにより行う。この場合も表面改質材110dが撥液処理された上面112f上に一時的に広がるが、引き上げの際に表面改質材110dが上面112fからはじかれて正孔注入/輸送層110aのみに塗布される。   Further, the application by the dipping method is performed by dipping the substrate 2 in, for example, the surface modifying material 110d and then pulling up the substrate 2 to spread the surface modifying material 110d over the entire hole injection / transport layer 110a. In this case as well, the surface modifying material 110d temporarily spreads on the liquid repellent-treated upper surface 112f, but when pulled up, the surface modifying material 110d is repelled from the upper surface 112f and applied only to the hole injection / transport layer 110a. Is done.

ここで用いる表面改質材110dとしては、第2組成物の非極性溶媒と同一なものとして例えば、シクロへキシルベンゼン、ジハイドロベンゾフラン、トリメチルベンゼン、テトラメチルベンゼン等を例示でき、第2組成物の非極性溶媒に類するものとして例えば、トルエン、キシレン等を例示できる。
特に、インクジェット法により塗布する場合には、ジハイドロベンゾフラン、トリメチルベンゼン、テトラメチルベンゼン、シクロヘキシルベンゼン、またはこれらの混合物,特に第2組成物と同じ溶媒混合物等を用いることが好ましく、スピンコート法またはディップ法による場合は、トルエン、キシレン等が好ましい。
As the surface modifier 110d used here, as the same nonpolar solvent as the second composition, for example, cyclohexylbenzene, dihydrobenzofuran, trimethylbenzene, tetramethylbenzene, etc. can be exemplified. Examples of the non-polar solvent include toluene, xylene and the like.
In particular, when applying by an ink-jet method, it is preferable to use dihydrobenzofuran, trimethylbenzene, tetramethylbenzene, cyclohexylbenzene, or a mixture thereof, particularly the same solvent mixture as the second composition, or the like. In the case of the dipping method, toluene, xylene and the like are preferable.

次に、図17に示すように、塗布領域を乾燥させる。乾燥工程は、インクジェット法で塗布した場合はホットプレート上に基板2を載せて例えば200℃以下の温度で加熱して乾燥蒸発させることが好ましい。スピンコート法またはディップ法による場合は、基板2に窒素を吹き付けるか、あるいは基板を回転させて基板2表面に気流を発生させることで乾燥させることが好ましい。
尚、表面改質材110dの塗布を、正孔注入/輸送層入層形成工程の乾燥処理の後に行い、塗布後の表面改質材を乾燥させた後に、正孔注入/輸送層形成工程の熱処理を行っても良い。
Next, as shown in FIG. 17, the application area is dried. In the drying step, when the coating is performed by the ink jet method, it is preferable that the substrate 2 is placed on a hot plate and heated at a temperature of, for example, 200 ° C. or less to be dried and evaporated. In the case of the spin coating method or the dipping method, it is preferable that the substrate 2 is dried by spraying nitrogen onto the substrate 2 or rotating the substrate to generate an air current on the surface of the substrate 2.
The application of the surface modifying material 110d is performed after the drying treatment in the hole injecting / transporting layer forming step, and after the coated surface modifying material is dried, the hole injecting / transporting layer forming step is performed. Heat treatment may be performed.

このような表面改質工程を行うことで、正孔注入/輸送層110aの表面が非極性溶媒になじみやすくなり、この後の工程で、発光層形成材料を含む第2組成物を正孔注入/輸送層110aに均一に塗布することができる。
尚、上記の表面改質材110dに、正孔輸送性材料として一般に用いられる前記の化合物2等を溶解して組成物とし、この組成物をインクジェット法により正孔注入/輸送層上に塗布して乾燥させることにより、正孔注入/輸送層110a上に極薄の正孔輸送層を形成しても良い。
正孔注入/輸送層110aの大部分は、後の工程で塗布する発光層110bに溶け込むが、一部が正孔注入/輸送層110aと発光層110bの間に薄膜状に残存し、これにより正孔注入/輸送層110aと発光層110bとの間のエネルギー障壁を下げて正孔の移動を容易にし、発光効率を向上させることができる。
By performing such a surface modification step, the surface of the hole injecting / transporting layer 110a becomes easily compatible with the nonpolar solvent, and in a subsequent step, the second composition including the light emitting layer forming material is injected into the hole injecting / transporting layer 110a. / Can be uniformly applied to the transport layer 110a.
The above-mentioned compound 2 or the like generally used as a hole transporting material is dissolved in the surface modifying material 110d to form a composition, and this composition is applied on the hole injecting / transporting layer by an inkjet method. By drying by drying, a very thin hole transport layer may be formed on the hole injection / transport layer 110a.
Most of the hole injecting / transporting layer 110a dissolves in the light emitting layer 110b applied in a later step, but part of the hole injecting / transporting layer 110a remains in a thin film between the hole injecting / transporting layer 110a and the light emitting layer 110b. The energy barrier between the hole injecting / transporting layer 110a and the light emitting layer 110b can be lowered to facilitate the movement of holes and improve luminous efficiency.

次に、発光層形成工程として、インクジェット法(液滴吐出法)により、発光層形成材料を含む第2組成物を正孔注入/輸送層110a上に吐出し、その後乾燥処理して、正孔注入/輸送層110a上に発光層110bを形成する。
図18に、インクジェットによる吐出方法を示す。図18に示すように、インクジェットヘッドH5と基板2とを相対的に移動し、インクジェットヘッドH5に形成された吐出ノズルH6から各色(たとえばここでは青色(B))発光層形成材料を含有する第2組成物110eを吐出する。
Next, as a light emitting layer forming step, the second composition containing the light emitting layer forming material is discharged onto the hole injecting / transporting layer 110a by an ink jet method (droplet discharging method), and then dried to form a hole. The light emitting layer 110b is formed on the injection / transport layer 110a.
FIG. 18 shows an ejection method using ink jet. As shown in FIG. 18, the inkjet head H5 and the substrate 2 are relatively moved, and a discharge nozzle H6 formed in the inkjet head H5 is used to emit a color (for example, blue (B) in this case) containing a light emitting layer forming material. The two compositions 110e are discharged.

吐出の際には、開口部112d内に位置する正孔注入/輸送層110aに吐出ノズルを対向させ、インクジェットヘッドH5と基板2とを相対移動させながら、正孔注入/輸送層110a上に第2組成物を吐出する。吐出ノズルH6から吐出される液量は1滴当たりの液量が制御されている。   At the time of ejection, the ejection nozzle is opposed to the hole injection / transport layer 110a located in the opening 112d, and the ink jet head H5 and the substrate 2 are moved relative to each other while the ink jet head H5 and the substrate 2 are moved relative to each other. 2 Dispense the composition. As for the amount of liquid discharged from the discharge nozzle H6, the amount of liquid per droplet is controlled.

発光層形成材料としては、[化1]〜[化5]に示すポリフルオレン系高分子誘導体や、(ポリ)パラフェニレンビニレン誘導体、ポリフェニレン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリチオフェン誘導体、ペリレン係色素、クマリン系色素、ローダミン系色素、あるいは上記高分子に有機EL材料をドープして用いる事ができる。例えば、ルブレン、ペリレン、9,10-ジフェニルアントラセン、テトラフェニルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリドン等をドープすることにより用いることができる。
非極性溶媒としては、正孔注入/輸送層110aに対して不溶なものが好ましく、例えば、シクロへキシルベンゼン、ジハイドロベンゾフラン、トリメチルベンゼン、テトラメチルベンゼン等を用いることができる。
このような非極性溶媒を発光層110bの第2組成物に用いることにより、正孔注入/輸送層110aを再溶解させることなく第2組成物を塗布できる。
Examples of the light emitting layer forming material include polyfluorene-based polymer derivatives represented by [Chemical Formula 1] to [Chemical Formula 5], (poly) paraphenylenevinylene derivatives, polyphenylene derivatives, polyvinylcarbazole, polythiophene derivatives, perylene dyes, and coumarin dyes. , A rhodamine-based dye, or the above polymer, doped with an organic EL material. For example, it can be used by doping rubrene, perylene, 9,10-diphenylanthracene, tetraphenylbutadiene, Nile Red, coumarin 6, quinacridone, or the like.
As the non-polar solvent, a solvent that is insoluble in the hole injection / transport layer 110a is preferable, and for example, cyclohexylbenzene, dihydrobenzofuran, trimethylbenzene, tetramethylbenzene, or the like can be used.
By using such a nonpolar solvent for the second composition of the light emitting layer 110b, the second composition can be applied without redissolving the hole injection / transport layer 110a.

図18に示すように、吐出された第2組成物110eは、正孔注入/輸送層110a上に広がって開口部112d内に満たされる。その一方で、撥液処理された上面112fでは第1組成物滴110eが所定の吐出位置からはずれて上面112f上に吐出されたとしても、上面112fが第2組成物滴110eで濡れることがなく、第2組成物滴110eが開口部112d内に転がり込む。   As shown in FIG. 18, the discharged second composition 110e spreads on the hole injection / transport layer 110a and fills the opening 112d. On the other hand, on the liquid-repellent upper surface 112f, even if the first composition droplet 110e is displaced from the predetermined discharge position and is discharged on the upper surface 112f, the upper surface 112f does not get wet with the second composition droplet 110e. The second composition droplet 110e rolls into the opening 112d.

各正孔注入/輸送層110a上に吐出する第2組成物量110eは、開口部112dの大きさ、形成しようとする発光層110bの厚さ、第2組成物中の発光層材料の濃度等により決定される。
また、第2組成物110eは1回のみならず、数回に分けて同一の正孔注入/輸送層110a上に吐出しても良い。この場合、各回における第2組成物の量は同一でも良く、各回毎に第2組成物110eの液量を変えても良い。
The amount of the second composition 110e discharged onto each hole injection / transport layer 110a depends on the size of the opening 112d, the thickness of the light emitting layer 110b to be formed, the concentration of the light emitting layer material in the second composition, and the like. It is determined.
Further, the second composition 110e may be discharged onto the same hole injection / transport layer 110a not only once but also several times. In this case, the amount of the second composition may be the same each time, or the amount of the second composition 110e may be changed each time.

次に、第2の組成物を所定の位置に吐出し終わったら、吐出後の第2組成物滴110eを乾燥処理し、第2組成物に含まれる非極性溶媒を蒸発させる。これにより、発光層形成材料が析出し、図19に示すような青色(B)発光層110b3が形成される。なお、図19においては青に発光する発光層が1つのみ図示されているが、図2やその他の図より明らかなように本来は発光素子がマトリックス状に形成されたものであり、図示しない多数の発光層(青色に対応)が形成されている。
続けて、図20に示すように、前述した青色(B)発光層110b3の場合と同様の工程を用い、赤色(R)発光層110b1を形成し、最後に緑色(G)発光層110b2を形成する。
Next, when the second composition has been discharged to a predetermined position, the discharged second composition droplet 110e is subjected to a drying treatment to evaporate the non-polar solvent contained in the second composition. As a result, a light emitting layer forming material is deposited, and a blue (B) light emitting layer 110b3 as shown in FIG. 19 is formed. Although only one light emitting layer that emits blue light is shown in FIG. 19, the light emitting elements are originally formed in a matrix, as is clear from FIG. 2 and other drawings, and are not shown. Many light emitting layers (corresponding to blue) are formed.
Subsequently, as shown in FIG. 20, a red (R) light emitting layer 110b1 is formed by using the same steps as in the case of the blue (B) light emitting layer 110b3 described above, and finally, a green (G) light emitting layer 110b2 is formed. I do.

なお、発光層110bの形成順序は、前述の順序に限られるものではなく、どのような順番で形成しても良い。例えば、発光層形成材料に応じて形成する順番を決める事も可能である。
また、発光層の第2組成物の乾燥条件は、青色110b3の場合、例えば、窒素雰囲気中、室温で圧力を133.3Pa(1Torr)程度として5〜10分行う条件とする。圧力が低すぎると第2組成物110eが突沸してしまうので好ましくない。また、温度を室温以上にすると、非極性溶媒の蒸発速度が高まり、発光層形成材料が上部開口部112d壁面に多く付着してしまうので好ましくない。
Note that the order of forming the light emitting layer 110b is not limited to the order described above, and may be formed in any order. For example, it is possible to determine the order of formation according to the light emitting layer forming material.
In the case of blue 110b3, the second composition of the light emitting layer is dried in a nitrogen atmosphere at room temperature at a pressure of about 133.3 Pa (1 Torr) for 5 to 10 minutes. If the pressure is too low, the second composition 110e is undesirably bumped. On the other hand, if the temperature is higher than room temperature, the evaporation rate of the nonpolar solvent increases, and a large amount of the light emitting layer forming material adheres to the wall surface of the upper opening 112d, which is not preferable.

また緑色発光層110b2、および赤色発光層110b1の場合、発光層形成材料の成分数が多いために素早く乾燥させることが好ましく、例えば、40℃で窒素の吹き付けを5〜10分行う条件とするのがよい。
その他の乾燥の手段としては、遠赤外線照射法、高温窒素ガス吹付法等を例示できる。
このようにして、画素電極111上に正孔注入/輸送層110a及び発光層110bが形成される。
In the case of the green light emitting layer 110b2 and the red light emitting layer 110b1, it is preferable to dry quickly because of the large number of components of the light emitting layer forming material. Is good.
As other drying means, a far-infrared ray irradiation method, a high-temperature nitrogen gas spraying method and the like can be exemplified.
Thus, the hole injection / transport layer 110a and the light emitting layer 110b are formed on the pixel electrode 111.

(5)陰極、ゲッター材形成工程
対向電極、ゲッター材形成工程では、図21に示すように、まず、発光層110b及びバンク層112の全面に陰極12を形成する。なお,陰極12は複数の材料を積層して形成しても良い。例えば、発光層に近い側には仕事関数が小さい材料を形成することが好ましく、例えばCa、Ba等を用いることが可能であり、また材料によっては下層にLiF等を薄く形成した方が良い場合もある。また、上部側(封止側)には下部側(基板側)よりも仕事関数が高い材料を用いる事もできる。
(5) Cathode and Getter Material Forming Step In the counter electrode and getter material forming step, first, as shown in FIG. 21, the cathode 12 is formed on the entire surface of the light emitting layer 110b and the bank layer 112. The cathode 12 may be formed by laminating a plurality of materials. For example, it is preferable to form a material having a small work function on the side close to the light emitting layer. For example, it is possible to use Ca, Ba, or the like. There is also. Further, a material having a higher work function than the lower side (substrate side) can be used for the upper side (sealing side).

これらの陰極12は、例えば蒸着法、スパッタ法、CVD法等で形成することが好ましく、特に蒸着法で形成することが、熱による発光層110bの損傷を防止できる点で好ましい。
また、フッ化リチウムは、発光層110b上のみに形成しても良く、更に所定の色に対応して形成する事ができる。例えば、青色(B)発光層110b3上のみに形成しても良い。この場合、他の赤色(R)発光層及び緑色(G)発光層110b1、110b2には、カルシウムからなる上部陰極層12bが接することとなる。
These cathodes 12 are preferably formed by, for example, an evaporation method, a sputtering method, a CVD method, or the like, and particularly preferably formed by an evaporation method in that damage to the light emitting layer 110b due to heat can be prevented.
Further, lithium fluoride may be formed only on the light emitting layer 110b, and can be formed corresponding to a predetermined color. For example, it may be formed only on the blue (B) light emitting layer 110b3. In this case, the upper cathode layer 12b made of calcium contacts the other red (R) light emitting layer and green (G) light emitting layer 110b1 and 110b2.

次に、対向電極12上の、バンク層112の上層となる位置に、対向電極12上にLi,Na,Rb,Cs等のアルカリ金属、Be,Mg,Ca,Sr,Ba等のアルカリ土類金属、アルカリ土類金属の酸化物、アルカリ金属又はアルカリ土類金属の水酸化物、の内の少なくとも一つを含むゲッター材13を形成する。ゲッター材は蒸着法スパッタリング法、CVD法等によりマスクパターニングされる。このゲッター材13は不透明な材料とすることが好ましい。或いは、ゲッター材13を厚く形成してゲッター材13の透光性を低下させることが好ましい。   Next, an alkali metal such as Li, Na, Rb, or Cs, or an alkaline earth such as Be, Mg, Ca, Sr, or Ba is provided on the counter electrode 12 at a position on the counter electrode 12 that is to be an upper layer. A getter material 13 containing at least one of a metal, an oxide of an alkaline earth metal, and a hydroxide of an alkali metal or an alkaline earth metal is formed. The getter material is mask-patterned by a vapor deposition method, a sputtering method, a CVD method, or the like. This getter material 13 is preferably an opaque material. Alternatively, it is preferable that the thickness of the getter material 13 is formed to reduce the light transmittance of the getter material 13.

(6)封止工程
封止工程は、発光素子が形成された基板2の前面に封止缶604を配置し、基板2と封止缶604の周縁部を封止樹脂603により封止する工程である。この工程により基板2上に封止部3を形成する。
封止工程は、窒素、アルゴン、ヘリウム等の不活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。大気中で行うと、陰極12にピンホール等の欠陥が生じていた場合にこの欠陥部分から水や酸素等が陰極12に侵入して陰極12が酸化されるおそれがあるので好ましくない。
(6) Sealing Step The sealing step is a step of arranging the sealing can 604 on the front surface of the substrate 2 on which the light emitting element is formed, and sealing the periphery of the substrate 2 and the sealing can 604 with the sealing resin 603. It is. By this step, the sealing portion 3 is formed on the substrate 2.
The sealing step is preferably performed in an atmosphere of an inert gas such as nitrogen, argon, or helium. If the operation is performed in the air, if a defect such as a pinhole occurs in the cathode 12, water, oxygen, or the like may enter the cathode 12 from the defective portion and oxidize the cathode 12, which is not preferable.

更に、図2,図3に例示した基板2の配線5aに陰極12を接続するとともに、駆動IC6に回路素子部14の配線を接続することにより、本実施形態の表示装置1が得られる。   Further, by connecting the cathode 12 to the wiring 5a of the substrate 2 illustrated in FIGS. 2 and 3 and connecting the wiring of the circuit element section 14 to the drive IC 6, the display device 1 of the present embodiment is obtained.

したがって、本実施形態のエレクトロルミネッセンス装置では、ゲッター材13を表示領域2a内に設けているため、狭額縁化により非表示領域2bの面積が小さくなった場合でもゲッター材13の配置面積を一定以上に確保することができる。これにより、発光部Aへの酸素や水分の侵入を効果的に防止でき、表示装置の高輝度化及び長寿命化を図ることができる。また、ゲッター材13は、表示に寄与しない発光部A間の領域(非発光領域)に配置されるため、このゲッター材13によって表示品質が損なわれることはない。   Therefore, in the electroluminescent device of the present embodiment, since the getter material 13 is provided in the display area 2a, even if the area of the non-display area 2b is reduced due to the narrowing of the frame, the arrangement area of the getter material 13 is equal to or more than a certain value. Can be secured. Thereby, intrusion of oxygen or moisture into the light emitting portion A can be effectively prevented, and higher luminance and longer life of the display device can be achieved. Further, since the getter material 13 is arranged in a region (non-light-emitting region) between the light emitting portions A that does not contribute to display, the display quality is not impaired by the getter material 13.

また、ゲッター材13は、マスクパターニング法により、上記非発光領域に精度よく配置できるため、ゲッター材13の配置領域と発光層110bの形成された発光領域とが平面的に重なる領域を極力小さくでき、明るい表示を実現することができる。
さらに、非発光領域に透明性の低いゲッター材13が配置されているため、このゲッター材13が遮光層として機能し、隣接する発光部Aから発した着色光同士の色にじみを防止することができる。これにより、コントラストの高い表示を実現できる。
In addition, since the getter material 13 can be accurately arranged in the non-light-emitting region by the mask patterning method, a region where the arrangement region of the getter material 13 and the light-emitting region where the light-emitting layer 110b is formed planarly overlaps can be minimized. , A bright display can be realized.
Furthermore, since the getter material 13 having low transparency is disposed in the non-light emitting region, the getter material 13 functions as a light shielding layer, and can prevent color blur between colored lights emitted from the adjacent light emitting portions A. it can. Thereby, a display with high contrast can be realized.

また、本実施形態では、正孔注入/輸送層110aや発光層110bをインクジェット法により形成しているため、材料の無駄が少なく低コストで表示装置を製造できる。つまり、インクジェット法では、所定の材料を溶かした溶液を所望の領域に打ち分けることで上記材料からなる薄膜をパターン形成できるため、蒸着法等を用いてパターン形成する場合に比べて、材料の無駄が少なく、コスト的に有利である。また、プログラムにより薄膜の形成領域を任意に変更できるため、少量多種生産に対応できる利点もある。   Further, in this embodiment, since the hole injection / transport layer 110a and the light emitting layer 110b are formed by the inkjet method, a display device can be manufactured at low cost with less waste of material. That is, in the ink jet method, a thin film made of the above-described material can be formed by patterning a solution in which a predetermined material is dissolved into a desired region. And is advantageous in terms of cost. Further, since the thin film formation region can be arbitrarily changed by a program, there is an advantage that it is possible to cope with small-quantity multi-type production.

[第2実施形態]
次に、本発明の第2の実施形態を図面を参照して説明する。なお、以下の説明では、上記第1実施形態と同様の部位については同じ符号を付し、その説明を一部省略する。
本実施形態は、上記第1の実施形態におけるゲッター材13の形成位置を変形したものであり、ゲッター材が封止部側に形成された構成となっている。つまり、ゲッター材605は、封止缶604の内面側における、上記非発光領域に対向する位置に設けられている。
このゲッター材605は、Li,Na,Rb,Cs等のアルカリ金属、Be,Mg,Ca,Sr,Ba等のアルカリ土類金属、アルカリ土類金属の酸化物、アルカリ金属又はアルカリ土類金属の水酸化物、の内の少なくとも一つを含む材料からなり、フォトリソグラフィ技術やマスクを用いた真空蒸着法、スパッタリング法、CVD法等を用いて、封止缶604の最表面にパターン形成されている。
そして、これ以外は上記第1の実施形態と同様であるため、説明を省略する。
[Second embodiment]
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description, the same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be partially omitted.
In the present embodiment, the formation position of the getter material 13 in the first embodiment is modified, and the getter material is formed on the sealing portion side. That is, the getter material 605 is provided on the inner surface side of the sealing can 604 at a position facing the non-light-emitting region.
The getter material 605 is made of an alkali metal such as Li, Na, Rb, or Cs, an alkaline earth metal such as Be, Mg, Ca, Sr, or Ba, an oxide of an alkaline earth metal, an alkali metal or an alkaline earth metal. A material including at least one of a hydroxide and a pattern formed on the outermost surface of the sealing can 604 by using a vacuum deposition method using a photolithography technique or a mask, a sputtering method, a CVD method, or the like. I have.
The rest is the same as in the first embodiment, and a description thereof will be omitted.

したがって、本実施形態のエレクトロルミネッセンス装置でも、表示品質を損なうことなくゲッター材の配置面積を一定以上に確保することができる。また、本表示装置では封止部3側にゲッター材605を設けているため、ゲッター材605を形成する工程において発光部Aにダメージを与えることはない。   Therefore, even in the electroluminescence device of the present embodiment, the arrangement area of the getter material can be secured to a certain value or more without deteriorating the display quality. Further, in the present display device, since the getter material 605 is provided on the sealing portion 3 side, the light emitting portion A is not damaged in the step of forming the getter material 605.

[電子機器]
次に、上述のエレクトロルミネッセンス装置を備えた電子機器の例について説明する。
図23は、上述した実施形態に係る表示装置を備えたモバイル型のパーソナルコンピュータ(情報処理装置)の構成を示す斜視図である。同図において、パーソナルコンピュータ1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、上述したエレクトロルミネッセンス装置1106を備えた表示装置ユニットとから構成されている。このため、信頼性の高い表示部を備えた電子機器を提供することができる。
[Electronics]
Next, an example of an electronic apparatus including the above-described electroluminescent device will be described.
FIG. 23 is a perspective view illustrating a configuration of a mobile personal computer (information processing device) including the display device according to the above-described embodiment. In the figure, a personal computer 1100 includes a main body 1104 having a keyboard 1102, and a display unit having the above-described electroluminescent device 1106. Therefore, an electronic device including a highly reliable display portion can be provided.

なお、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
例えば、上記実施形態では、ゲッター材を基板2側又は封止部3側のいずれかに設けた構成を例示したが、基板2及び封止部3の双方にゲッター材を配置することも可能である。
また、上記実施形態では、ゲッター材を表示領域2a内の非発光領域にのみ形成しているが、ゲッター材は非発光領域及び非表示領域2bの双方に設けてもよい。
さらに、上記実施形態では、R、G、Bの各発光層110bをストライプ配置した場合について説明したが、本発明はこれに限られず、様々な配置構造を採用することができる。例えば図24(a)に示すようなストライプ配置の他、図24(b)に示すようなモザイク配置や、図24(c)に示すようなデルタ配置とすることもできる。
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented with various modifications without departing from the spirit of the present invention.
For example, in the above-described embodiment, the configuration in which the getter material is provided on either the substrate 2 side or the sealing portion 3 side is illustrated. However, the getter material may be disposed on both the substrate 2 and the sealing portion 3. is there.
In the above embodiment, the getter material is formed only in the non-light-emitting area in the display area 2a, but the getter material may be provided in both the non-light-emitting area and the non-display area 2b.
Furthermore, in the above embodiment, the case where the R, G, and B light emitting layers 110b are arranged in stripes has been described. However, the present invention is not limited to this, and various arrangement structures can be adopted. For example, in addition to the stripe arrangement as shown in FIG. 24A, a mosaic arrangement as shown in FIG. 24B or a delta arrangement as shown in FIG.

また、上記実施形態では、発光層110bに有機EL材料を用いた例を示したが、発光層110bに無機EL材料を用いたもの(即ち、無機EL表示装置)に対して本発明を適用することも勿論可能である。
さらに、上記実施形態では、隔壁112に仕切られた領域に各発光部Aを形成したが、各発光部Aを仕切る隔壁は必ずしも必要ではなく、このような隔壁112を設けない場合には、ゲッター材は、平面視で、隣接する発光部Aの間の領域に配置されていればよい。
また、上記実施形態では、本発明のエレクトロルミネッセンス装置を表示装置とした例を示したが、本発明はそれ以外の用途、例えば、液晶表示装置の光源用のエレクトロルミネッセンス装置や、光書き込み型のレーザープリンタ及び光通信に用いる光源等にも適用可能である。
In the above embodiment, the example in which the organic EL material is used for the light emitting layer 110b is described. However, the present invention is applied to a device in which the inorganic EL material is used for the light emitting layer 110b (that is, an inorganic EL display device). Of course, it is possible.
Furthermore, in the above-described embodiment, each light emitting portion A is formed in a region partitioned by the partition 112. However, a partition that separates each light emitting portion A is not necessarily required. The material should just be arrange | positioned in the area | region between the adjacent light emitting parts A in planar view.
Further, in the above-described embodiment, the example in which the electroluminescent device of the present invention is used as a display device is described. However, the present invention is applied to other uses, for example, an electroluminescent device for a light source of a liquid crystal display device, or an optical writing type. The present invention is also applicable to laser printers and light sources used for optical communication.

本発明の第1の実施形態の表示装置の配線構造を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a wiring structure of the display device according to the first embodiment of the present invention. 同、表示装置の平面図である。FIG. 3 is a plan view of the display device. 図2のI−I′断面図である。It is II 'sectional drawing of FIG. 同、表示装置の要部を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the principal part of a display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造に用いるプラズマ処理装置を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a plasma processing apparatus used for manufacturing the display device. 図6に示したプラズマ処理装置の第1プラズマ処理室の内部構造を示す模式図である。FIG. 7 is a schematic diagram showing an internal structure of a first plasma processing chamber of the plasma processing apparatus shown in FIG. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造に用いるプラズマ処理装置の別の例を示す平面模式図である。FIG. 7 is a schematic plan view illustrating another example of the plasma processing apparatus used for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造に用いるヘッドを示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a head used for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造に用いるインクジェット装置を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing an inkjet device used for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 同、表示装置の製造方法を説明する工程図である。FIG. 7 is a process diagram illustrating a method for manufacturing the display device. 本発明の第2の実施形態の表示装置を示す断面図である。It is a sectional view showing the display of a 2nd embodiment of the present invention. 本発明の電子機器の一例を示す図である。FIG. 13 is a diagram illustrating an example of an electronic apparatus according to the invention. 発光層の配置を示す平面模式図である。FIG. 3 is a schematic plan view showing the arrangement of light emitting layers.

符号の説明Explanation of reference numerals

1・・・エレクトロルミネッセンス装置、2・・・基板、2a・・・表示領域、2b・・・非表示領域、3・・・封止部、12・・・陰極(第2の電極)、13,605・・・ゲッター材、110・・・機能層、110b・・・発光層、111・・・画素電極(第1の電極)、112・・・バンク層(隔壁)、123・・・薄膜トランジスタ(スイッチング素子)、604・・・封止缶(封止部材)、A・・・発光部

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electroluminescent device, 2 ... Substrate, 2a ... Display area, 2b ... Non-display area, 3 ... Sealing part, 12 ... Cathode (2nd electrode), 13 , 605: getter material, 110: functional layer, 110b: light emitting layer, 111: pixel electrode (first electrode), 112: bank layer (partition wall), 123: thin film transistor (Switching element), 604: sealing can (sealing member), A: light emitting unit

Claims (11)

第1の電極と、発光層を含む機能層と、透明な第2の電極とが下層側から順に積層されてなる発光部が面内に複数設けられた基板と、
上記第1の基板に対向配置され、上記発光部を収容可能な透明な封止部材とを備え、
上記基板と上記封止部材とにより密閉された空間内に、酸素又は水分を吸収又は除去するゲッター材が設けられ、
上記ゲッター材は、平面視で、隣接する発光部の間の領域に配置されたことを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。
A first electrode, a functional layer including a light-emitting layer, and a substrate in which a plurality of light-emitting portions in which a transparent second electrode is sequentially stacked from a lower layer side are provided in a plane;
A transparent sealing member that is disposed to face the first substrate and that can accommodate the light emitting unit;
In a space sealed by the substrate and the sealing member, a getter material for absorbing or removing oxygen or moisture is provided,
The electroluminescent device, wherein the getter material is disposed in a region between adjacent light emitting units in a plan view.
上記基板は、上記各発光部を仕切る隔壁を有し、
上記ゲッター材は、上記基板の最表面における、上記隔壁の上層側の位置に設けられたことを特徴とする、請求項1記載のエレクトロルミネッセンス装置。
The substrate has a partition that partitions the light emitting units,
The electroluminescent device according to claim 1, wherein the getter material is provided at a position on an upper layer side of the partition wall on an outermost surface of the substrate.
上記ゲッター材は、上記封止部材の最表面に、上記隣接する発光部の間の領域に対向して設けられたことを特徴とする、請求項1又は2記載のエレクトロルミネッセンス装置。   The electroluminescent device according to claim 1, wherein the getter material is provided on an outermost surface of the sealing member so as to face a region between the adjacent light emitting units. 上記ゲッター材は、アルカリ金属、アルカリ土類金属、アルカリ土類金属の酸化物、アルカリ金属又はアルカリ土類金属の水酸化物、シリカゲル、ゼオライト系化合物の内の少なくとも一つを含むことを特徴とする、請求項1〜3のいずれかの項に記載のエレクトロルミネッセンス装置。   The getter material includes at least one of an alkali metal, an alkaline earth metal, an oxide of an alkaline earth metal, a hydroxide of an alkali metal or an alkaline earth metal, silica gel, and a zeolite compound. The electroluminescent device according to claim 1, wherein 上記ゲッター材は真空蒸着法、スパッタリング法、CVD法のいずれかのプロセスにより形成されることを特徴とする請求項1〜4のいずれかの項に記載のエレクトロルミネッセンス装置。   The electroluminescent device according to claim 1, wherein the getter material is formed by any one of a vacuum deposition method, a sputtering method, and a CVD method. 上記ゲッター材は液体中に分散されインクジェット法により形成されることを特徴とする請求項1〜5のいずれかの項に記載のエレクトロルミネッセンス装置。   The electroluminescent device according to any one of claims 1 to 5, wherein the getter material is dispersed in a liquid and formed by an inkjet method. 上記各発光部のそれぞれに対応してスイッチング素子が設けられ、
上記スイッチング素子が、低温プロセスにより形成されたポリシリコンTFTであることを特徴とする、請求項1〜6のいずれかの項に記載のエレクトロルミネッセンス装置。
A switching element is provided corresponding to each of the light emitting units,
7. The electroluminescence device according to claim 1, wherein the switching element is a polysilicon TFT formed by a low-temperature process.
請求項1〜7のいずれかの項に記載のエレクトロルミネッセンス装置を備えたことを特徴とする、電子機器。   An electronic device comprising the electroluminescent device according to claim 1. 基板上に第1の電極を複数形成する工程と、
上記基板上に、上記第1の電極同士を仕切る隔壁を形成する工程と、
インクジェット法により、上記隔壁に仕切られた各領域内に、発光層を含む機能層を形成する工程と、
上記機能層上に透明な第2の電極を形成する工程と、
上記基板の最表面における、上記隔壁の上層側の位置に酸素又は水分を吸収又は除去するゲッター材を形成する工程と、
透明な封止部材を上記第2の電極の形成された側の基板面に対向配置し、上記基板と上記封止部材との間の空間を密封する工程とを備えたことを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
Forming a plurality of first electrodes on the substrate;
Forming a partition on the substrate to partition the first electrodes;
A step of forming a functional layer including a light-emitting layer in each region partitioned by the partition wall by an inkjet method,
Forming a transparent second electrode on the functional layer;
A step of forming a getter material for absorbing or removing oxygen or moisture at a position on the upper layer side of the partition wall on the outermost surface of the substrate,
Disposing a transparent sealing member facing the substrate surface on the side where the second electrode is formed, and sealing a space between the substrate and the sealing member. A method for manufacturing an electroluminescence device.
基板上に第1の電極を複数形成し、上記基板上に上記第1の電極同士を仕切る隔壁を形成し、インクジェット法により、上記隔壁に仕切られた各領域内に、発光層を含む機能層を形成し、上記機能層上に透明な第2の電極を形成する工程と、
透明な封止部材の、上記隔壁の形成領域に対向する位置に、酸素又は水分を吸収又は除去するゲッター材を形成する工程と、
上記ゲッター材が平面視で上記隔壁の形成領域内に配置されるように、上記封止部材を上記基板に対して位置合わせし、上記基板と上記封止部材との間の空間を密封する工程とを備えたことを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
A plurality of first electrodes are formed on a substrate, partitions are formed on the substrate to partition the first electrodes, and a functional layer including a light-emitting layer is formed in each of the regions partitioned by the partitions by an inkjet method. Forming a transparent second electrode on the functional layer;
A step of forming a getter material for absorbing or removing oxygen or moisture at a position of the transparent sealing member facing the region where the partition wall is formed,
Positioning the sealing member with respect to the substrate so that the getter material is disposed in the formation region of the partition wall in plan view, and sealing a space between the substrate and the sealing member. And a method for manufacturing an electroluminescence device.
上記機能層を、インクジェット法により形成することを特徴とする、請求項9又は10記載のエレクトロルミネッセンス装置の製造方法。

The method according to claim 9, wherein the functional layer is formed by an inkjet method.

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