JP2003282272A - Electro-optic device, its manufacturing method, and electronic equipment - Google Patents

Electro-optic device, its manufacturing method, and electronic equipment

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JP2003282272A
JP2003282272A JP2002079510A JP2002079510A JP2003282272A JP 2003282272 A JP2003282272 A JP 2003282272A JP 2002079510 A JP2002079510 A JP 2002079510A JP 2002079510 A JP2002079510 A JP 2002079510A JP 2003282272 A JP2003282272 A JP 2003282272A
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JP
Japan
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substrate
light emitting
layer
organic
emitting layer
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Application number
JP2002079510A
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Japanese (ja)
Inventor
Shuichi Takei
周一 武井
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electro-optic device stabilizing initial characteristics and life characteristics. <P>SOLUTION: The electro-optic device formed by disposing on a substrate a light emitting device having a luminescent layer between a pair of electrodes is characterized in that recesses/projections are provided on the surface of the luminescent layer side of, at least, one of the pair of electrodes. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電気光学装置とそ
の製造方法及び電子機器に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electro-optical device, a method of manufacturing the same, and electronic equipment.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、平面型の表示装置として、陽極と
陰極との間に発光層が挟持されたカラー表示装置、特に
発光材料として有機発光材料を用いた有機EL(エレク
トロルミネッセンス)装置の開発が行われている。この
有機EL装置は、ガラス基板等の透明基板上に、インジ
ウム・スズ酸化物(ITO:Indium Tin Oxide)、Sn
2(酸化スズ)等の透明導電材料からなる陽極、有機
EL材料からなる発光層、Al等の高融点金属材料や金
属化合物からなる陰極を順次積層したもので、この発光
層は、例えば、有機蛍光材料等の発光材料をインク化
し、当該インク(組成物)を基材上に吐出するインクジ
ェット法等により、発光材料のパターニングを行う方法
を採用して作製される。
2. Description of the Related Art In recent years, as a flat display device, a color display device in which a light emitting layer is sandwiched between an anode and a cathode, particularly an organic EL (electroluminescence) device using an organic light emitting material as a light emitting material has been developed. Is being done. This organic EL device is a transparent substrate such as a glass substrate on which indium tin oxide (ITO), Sn
An anode made of a transparent conductive material such as O 2 (tin oxide), a light emitting layer made of an organic EL material, and a cathode made of a refractory metal material such as Al or a metal compound are sequentially laminated. It is produced by adopting a method of patterning the light emitting material by an ink jet method or the like in which a light emitting material such as an organic fluorescent material is made into ink and the ink (composition) is ejected onto a substrate.

【0003】この有機EL装置においては、発光素子か
ら基板側に発した光が、この基板を透過して基板の下側
(観測者側)に出射されるとともに、発光素子から基板
の反対側に発した光が陰極により反射されて前記基板を
透過し、この基板の下側(観測者側)に出射されるよう
になっている。
In this organic EL device, light emitted from the light emitting element to the substrate side is transmitted through the substrate and emitted to the lower side of the substrate (observer side), and at the same time from the light emitting element to the opposite side of the substrate. The emitted light is reflected by the cathode, transmitted through the substrate, and emitted to the lower side (observer side) of the substrate.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の有機
EL装置では、画素電極の材料として、液晶表示装置等
において一般に用いられているITO、SnO2等の透
明電極材料をそのまま用いることが多かったが、有機E
L装置の初期特性及び寿命特性を改善するために、これ
らの透明電極材料に対しても、抵抗値、可視光領域にお
ける透過率等、様々な検討がなされてきている。これら
の様々な検討の過程において、画素電極の平坦性が損な
われている場合に、有機EL装置の初期特性及び寿命特
性が大きく低下するという問題点があることが明らかと
なった。
By the way, in the conventional organic EL device, the transparent electrode material such as ITO or SnO 2 which is generally used in the liquid crystal display device is often used as it is as the material of the pixel electrode. But organic E
In order to improve the initial characteristics and the life characteristics of the L device, various studies have been made on these transparent electrode materials such as the resistance value and the transmittance in the visible light region. In the course of these various studies, it has become clear that there is a problem that the initial characteristics and the life characteristics of the organic EL device are significantly deteriorated when the flatness of the pixel electrode is impaired.

【0005】例えば、基板の表面粗さを考慮せずに透明
電極材料を成膜した場合に、得られた画素電極の平坦性
が著しく損なわれる場合がある。この場合、有機EL表
示装置の初期特性及び寿命特性が大きく低下することに
なる。また、有機EL装置の特性を向上させる方法とし
て、画素電極の表面に酸素プラズマ処理を施すことで正
孔の注入効率を上げる方法があるが、酸素プラズマ処理
を行うことで画素電極の平坦性が損なわれる場合があ
り、この場合も、有機EL表示装置の初期特性及び寿命
特性が大きく低下することになる。
For example, when a transparent electrode material is formed without considering the surface roughness of the substrate, the flatness of the obtained pixel electrode may be significantly impaired. In this case, the initial characteristics and the life characteristics of the organic EL display device are significantly deteriorated. Further, as a method of improving the characteristics of the organic EL device, there is a method of increasing the hole injection efficiency by performing oxygen plasma treatment on the surface of the pixel electrode, but the flatness of the pixel electrode is improved by performing oxygen plasma treatment. In some cases, the initial characteristics and the life characteristics of the organic EL display device are significantly deteriorated.

【0006】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あって、初期特性及び寿命特性を安定させることのでき
る電気光学装置とその製造方法及び電子機器を提供する
ことを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an electro-optical device capable of stabilizing initial characteristics and life characteristics, a method of manufacturing the same, and an electronic apparatus.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明は以下の構成を採用した。本発明の電気光
学装置は、一対の電極間に発光層を有する発光素子が基
板上に形成されてなる電気光学装置において、前記一対
の電極のうち少なくとも一方の電極の前記発光層側の面
に凹凸を有してなることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention has the following constitutions. The electro-optical device of the present invention is an electro-optical device in which a light emitting element having a light emitting layer between a pair of electrodes is formed on a substrate, and at least one of the pair of electrodes has a surface on the light emitting layer side. It is characterized by having irregularities.

【0008】この電気光学装置では、前記一対の電極の
うち少なくとも一方の電極の前記発光層側の面に凹凸を
有したことにより、前記一方の電極の表面粗さに起因す
る発光層の電気的特性の低下を防止し、電気光学装置の
初期特性及び寿命特性が安定化する。これにより、初期
特性及び寿命特性が安定した電気光学装置を提供するこ
とが可能になる。
In this electro-optical device, since the surface of at least one of the pair of electrodes on the side of the light emitting layer has irregularities, the electrical roughness of the light emitting layer is caused by the surface roughness of the one electrode. The deterioration of the characteristics is prevented, and the initial characteristics and the life characteristics of the electro-optical device are stabilized. This makes it possible to provide an electro-optical device having stable initial characteristics and life characteristics.

【0009】また、前記発光層を、有機高分子としたこ
とを特徴とする。また、前記一方の電極を、インジウム
スズ酸化物または酸化スズとしたことを特徴とする。ま
た、前記凹凸を有してなる面の表面粗さを0.5〜50
nmとしたことを特徴とする。
The light emitting layer is made of an organic polymer. Further, the one electrode is made of indium tin oxide or tin oxide. Further, the surface roughness of the surface having the irregularities is 0.5 to 50.
It is characterized in that it is nm.

【0010】本発明の電気光学装置の製造方法は、一対
の電極間に発光層を有する発光素子が基板の一方の面に
形成されてなる電気光学装置の製造方法であって、前記
発光層側に凹凸を有するように、前記一対の電極のうち
少なくとも一方の電極を形成することを特徴とする。
A method of manufacturing an electro-optical device according to the present invention is a method of manufacturing an electro-optical device in which a light emitting element having a light emitting layer between a pair of electrodes is formed on one surface of a substrate, wherein the light emitting layer side is provided. At least one of the pair of electrodes is formed so as to have unevenness.

【0011】この電気光学装置の製造方法では、前記発
光層側に凹凸を有するように、前記一対の電極のうち少
なくとも一方の電極を形成することにより、前記一方の
電極の平坦性が損なわれることなく、前記発光層の電気
的特性が向上する。これにより、初期特性及び寿命特性
が安定した電気光学装置を容易に作製することが可能に
なる。
In this method of manufacturing the electro-optical device, the flatness of the one electrode is impaired by forming at least one electrode of the pair of electrodes so as to have irregularities on the light emitting layer side. In addition, the electrical characteristics of the light emitting layer are improved. This makes it possible to easily manufacture an electro-optical device having stable initial characteristics and life characteristics.

【0012】また、前記一方の電極を成膜した後に、そ
の表面粗さが所定の範囲内で変化しないように、前記一
方の電極に表面処理を施すことを特徴とする。この電気
光学装置の製造方法では、前記一方の電極を成膜した後
に、その表面粗さが所定の範囲内で変化しないように、
前記一方の電極に表面処理を施すことにより、前記一方
の電極の仕事関数及びぬれ性が向上し、前記発光層の電
気的特性がさらに向上する。これにより、初期特性及び
寿命特性がより安定した電気光学装置を容易に作製する
ことが可能になる。
Further, after the film formation of the one electrode, the one electrode is subjected to a surface treatment so that the surface roughness does not change within a predetermined range. In the method of manufacturing the electro-optical device, after the one electrode is formed into a film, its surface roughness does not change within a predetermined range.
By subjecting the one electrode to the surface treatment, the work function and wettability of the one electrode are improved, and the electrical characteristics of the light emitting layer are further improved. This makes it possible to easily manufacture an electro-optical device having more stable initial characteristics and life characteristics.

【0013】また、前記表面処理は、酸素プラズマ処
理、紫外線処理から選択された1種または2種であるこ
とを特徴とする。
Further, the surface treatment is characterized in that it is one or two selected from oxygen plasma treatment and ultraviolet treatment.

【0014】本発明の電子機器は、上述したいずれかの
電気光学装置を備えてなることを特徴とする。
An electronic apparatus according to the present invention is characterized by including any one of the electro-optical devices described above.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の電気光学装置とそ
の製造方法及び電子機器に係る一実施形態を図面を参照
して説明する。本実施形態では、電気光学装置として有
機EL装置を例に採り説明する。なお、図1〜図24に
おいて、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大き
さとするため、各層や各部材に縮尺は実際のものとは異
なるように表している。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An electro-optical device, a method of manufacturing the same, and an electronic apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In this embodiment, an organic EL device will be described as an example of the electro-optical device. 1 to 24, in order to make each layer and each member recognizable in the drawings, the scale of each layer and each member is shown differently from the actual scale.

【0016】[第1の実施形態]以下、本発明の第1の
実施形態を図面を参照して説明する。図1は本実施形態
の有機EL装置の配線構造を示す模式図、図2は本実施
形態の有機EL装置の構造を示す図であり、図2(a)
は同平面図、図2(b)は図2(a)のA−A線に沿う
断面図である。
[First Embodiment] A first embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic diagram showing the wiring structure of the organic EL device of this embodiment, and FIG. 2 is a diagram showing the structure of the organic EL device of this embodiment.
Is a plan view of the same, and FIG. 2B is a sectional view taken along the line AA of FIG.

【0017】この有機EL装置1は、図1に示すよう
に、複数の走査線101、…と、各走査線101に対し
て直角に交差する方向に延びる複数の信号線102、…
と、各信号線102に並列に延びる複数の電源線10
3、…とがそれぞれ配線された構成を有するとともに、
走査線101と信号線102の各交点付近に、画素領域
Aが設けられている。
As shown in FIG. 1, the organic EL device 1 includes a plurality of scanning lines 101, ... And a plurality of signal lines 102, ... Which extend in a direction orthogonal to each scanning line 101.
And a plurality of power supply lines 10 extending in parallel with each signal line 102.
3 and ... are respectively wired, and
A pixel area A is provided near each intersection of the scanning line 101 and the signal line 102.

【0018】信号線102には、シフトレジスタ、レベ
ルシフタ、ビデオライン及びアナログスイッチを備える
データ側駆動回路104が接続されている。また、走査
線101には、シフトレジスタ及びレベルシフタを備え
る走査側駆動回路105が接続されている。更に、画素
領域A各々には、走査線101を介して走査信号がゲー
ト電極に供給されるスイッチング用の薄膜トランジスタ
112と、このスイッチング用の薄膜トランジスタ11
2を介して信号線102から共有される画素信号を保持
する保持容量113と、該保持容量113によって保持
された画素信号がゲート電極に供給される駆動用の薄膜
トランジスタ123と、この駆動用薄膜トランジスタ1
23を介して電源線103に電気的に接続したときに当
該電源線103から駆動電流が流れ込む画素電極(電
極)111と、この画素電極111と陰極(対向電極)
12との間に挟み込まれた機能層110とが設けられて
いる。画素電極111と陰極12と機能層110によ
り、発光素子が構成されている。
A data side driving circuit 104 including a shift register, a level shifter, a video line and an analog switch is connected to the signal line 102. Further, the scanning line driving circuit 105 including a shift register and a level shifter is connected to the scanning line 101. Further, in each pixel area A, a switching thin film transistor 112 to which a scanning signal is supplied to the gate electrode via the scanning line 101, and the switching thin film transistor 11
A holding capacitor 113 for holding a pixel signal shared from the signal line 102 via 2, a driving thin film transistor 123 to which the pixel signal held by the holding capacitor 113 is supplied to a gate electrode, and the driving thin film transistor 1
A pixel electrode (electrode) 111 into which a driving current flows from the power supply line 103 when electrically connected to the power supply line 103 via 23, and the pixel electrode 111 and the cathode (counter electrode)
12 and the functional layer 110 sandwiched therebetween. The pixel electrode 111, the cathode 12, and the functional layer 110 form a light emitting element.

【0019】この有機EL装置1によれば、走査線10
1が駆動されてスイッチング用の薄膜トランジスタ11
2がオン状態になると、そのときの信号線102の電位
が保持容量113に保持され、該保持容量113の状態
に応じて、駆動用の薄膜トランジスタ123のオン・オ
フ状態が決まる。そして、駆動用の薄膜トランジスタ1
23のチャネルを介して、電源線103から画素電極1
11に電流が流れ、更に機能層110を介して陰極12
に電流が流れる。機能層110は、これを流れる電流量
に応じて発光する。
According to this organic EL device 1, the scanning line 10
1 is driven to switch thin film transistor 11
When 2 is turned on, the potential of the signal line 102 at that time is held in the holding capacitor 113, and the on / off state of the driving thin film transistor 123 is determined depending on the state of the holding capacitor 113. Then, the driving thin film transistor 1
Pixel electrode 1 from the power supply line 103 through the channel of 23.
A current flows through the cathode 11, and the cathode 12 through the functional layer 110.
Current flows through. The functional layer 110 emits light according to the amount of current flowing through it.

【0020】この有機EL装置1は、図2(a)及び図
2(b)に示すように、透明な基板2と、この基板2上
に形成されマトリックス状に配置された発光素子を備え
た発光素子部11とを具備している。この発光素子は、
画素電極111と陰極12と機能層110により構成さ
れている。基板2は、例えば、可視光に対して透明なガ
ラス等により構成され、この基板2の表面は、中央に位
置する略矩形状の表示領域2aと、基板2の周縁に位置
して表示領域2aを囲む非表示領域2bとに区画されて
いる。表示領域2aは、マトリックス状に配置された発
光素子によって形成される領域であり、この表示領域2
aの外側に形成される非表示領域2bには、表示領域2
aに隣接するダミー表示領域2dが形成されている。
As shown in FIGS. 2A and 2B, the organic EL device 1 includes a transparent substrate 2 and light emitting elements formed on the substrate 2 and arranged in a matrix. The light emitting element section 11 is provided. This light emitting element
It is composed of a pixel electrode 111, a cathode 12, and a functional layer 110. The substrate 2 is made of, for example, glass that is transparent to visible light, and the surface of the substrate 2 is a substantially rectangular display region 2a located at the center and a display region 2a located at the periphery of the substrate 2. And a non-display area 2b that surrounds the. The display area 2a is an area formed by the light emitting elements arranged in a matrix.
The non-display area 2b formed on the outer side of a includes the display area 2
A dummy display area 2d adjacent to a is formed.

【0021】また、図2(b)に示すように、発光素子
部11と基板2の間には回路素子部14が備えられ、こ
の回路素子部14に前述の走査線、信号線、保持容量、
スイッチング用の薄膜トランジスタ、駆動用の薄膜トラ
ンジスタ123等が備えられている。また、陰極12
は、その一端が陰極用配線12aに接続しており、この
陰極用配線12aの一端部が基板2の一端部に設けられ
たフレキシブル基板5上の配線5aに接続されている。
この配線5aは、フレキシブル基板5上に備えられた駆
動IC(駆動回路)6に接続されている。
As shown in FIG. 2B, a circuit element section 14 is provided between the light emitting element section 11 and the substrate 2, and the circuit element section 14 has the above-mentioned scanning lines, signal lines and storage capacitors. ,
A thin film transistor for switching, a thin film transistor 123 for driving, and the like are provided. In addition, the cathode 12
Has one end connected to the cathode wiring 12a, and one end of the cathode wiring 12a is connected to the wiring 5a on the flexible substrate 5 provided at one end of the substrate 2.
The wiring 5a is connected to a driving IC (driving circuit) 6 provided on the flexible substrate 5.

【0022】また、回路素子部14の非表示領域2bに
は、前述の電源線103(103R、103G、103
B)が配線されている。また、この表示領域2aの図2
(a)中両側には、前述の走査側駆動回路105、10
5が配置されている。この走査側駆動回路105、10
5はダミー領域2dの下側の回路素子部14内に設けら
れている。更に回路素子部14内には、走査側駆動回路
105、105に接続される駆動回路用制御信号配線1
05aと駆動回路用電源配線105bとが設けられてい
る。更に、この表示領域2aの図2(a)中上側には検
査回路106が配置されている。この検査回路106に
より、製造途中や出荷時の表示装置の品質、欠陥の検査
を行うことができる。
Further, in the non-display area 2b of the circuit element portion 14, the above-mentioned power supply line 103 (103R, 103G, 103) is used.
B) is wired. In addition, the display area 2a shown in FIG.
(A) The scanning side drive circuits 105 and 10 are provided on both sides in the middle.
5 are arranged. The scanning side drive circuits 105, 10
5 is provided in the circuit element portion 14 below the dummy region 2d. Further, in the circuit element section 14, the driving circuit control signal wiring 1 connected to the scanning side driving circuits 105, 105.
05a and the drive circuit power supply wiring 105b are provided. Further, an inspection circuit 106 is arranged above the display area 2a in FIG. 2 (a). The inspection circuit 106 can inspect the quality and defects of the display device during manufacturing or at the time of shipping.

【0023】また、発光素子部11上には封止部3が備
えられている。この封止部3は、図2(b)に示すよう
に、基板2の周囲に環状に形成された封止樹脂603
と、この封止樹脂603上に設けられた封止缶604と
から構成されている。封止樹脂603は、熱硬化型樹脂
あるいは紫外線硬化型樹脂等から構成されたもので、特
に、熱硬化型あるいは紫外線硬化型のエポキシ樹脂が好
適に用いられる。封止樹脂603は、例えば、液状もし
くは粘性のある熱硬化型樹脂あるいは紫外線硬化型樹脂
をマイクロディスペンサ等により塗布し、その後、ホッ
トプレート等を用いて加熱あるいは紫外線ランプ等によ
る紫外線照射により硬化させたものである。
A sealing portion 3 is provided on the light emitting element portion 11. As shown in FIG. 2B, the sealing portion 3 has a sealing resin 603 formed in an annular shape around the substrate 2.
And a sealing can 604 provided on the sealing resin 603. The sealing resin 603 is composed of a thermosetting resin, an ultraviolet curable resin, or the like, and a thermosetting or ultraviolet curable epoxy resin is particularly preferably used. As the sealing resin 603, for example, a liquid or viscous thermosetting resin or an ultraviolet curable resin is applied by a microdispenser or the like, and thereafter, it is cured by heating with a hot plate or the like or by irradiation with ultraviolet rays from an ultraviolet lamp or the like. It is a thing.

【0024】封止缶604は、ガラス又は金属からなる
もので、封止樹脂603を介して基板2に接合されてお
り、その内側には表示素子10を収納する凹部604a
が形成されている。この凹部604aには、水、酸素等
を吸収するゲッター剤605が貼り付けられており、封
止缶604の内部に侵入した水、あるいは酸素等のガス
を吸収できるようになっている。なお、このゲッター剤
605は省略しても良い。これら封止樹脂603及び封
止缶604により、基板2と封止缶604の間から封止
缶604内部への水又は酸素の侵入を防き、陰極12ま
たは発光素子部11内に形成された図示略の発光層の酸
化や劣化を防止している。
The sealing can 604 is made of glass or metal and is bonded to the substrate 2 via a sealing resin 603, and a recess 604a for accommodating the display element 10 is provided inside thereof.
Are formed. A getter agent 605 that absorbs water, oxygen and the like is attached to the concave portion 604a so that water or gas such as oxygen that has entered the inside of the sealing can 604 can be absorbed. The getter agent 605 may be omitted. The sealing resin 603 and the sealing can 604 prevent water or oxygen from entering the inside of the sealing can 604 from between the substrate 2 and the sealing can 604, and are formed in the cathode 12 or the light emitting element portion 11. The light emitting layer (not shown) is prevented from being oxidized or deteriorated.

【0025】次に、本実施形態の有機EL装置1の表示
領域について更に詳しく説明する。図3は、この有機E
L装置1の表示領域を示す拡大断面図であり、この図3
には3つの画素領域Aが図示されている。この有機EL
表示装置1は、基板2上に、TFTなどの回路等が形成
された回路素子部14、画素電極(一対の電極のうちの
一方の電極)111と陰極12と機能層110とを有す
る発光素子を備えた発光素子部11が順次積層されて構
成されている。
Next, the display area of the organic EL device 1 of this embodiment will be described in more detail. Figure 3 shows this organic E
FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view showing a display area of the L device 1.
In FIG. 3, three pixel areas A are shown. This organic EL
The display device 1 includes a circuit element portion 14 in which a circuit such as a TFT is formed on a substrate 2, a pixel electrode (one electrode of a pair of electrodes) 111, a cathode 12, and a functional layer 110. The light emitting element section 11 having the above is sequentially laminated.

【0026】この有機EL装置1においては、機能層1
10から基板2側に発した光が、回路素子部14及び基
板2を透過して基板2の下側(観測者側)に出射される
とともに、機能層110から基板2の反対側に発した光
が陰極12により反射されて、回路素子部14及び基板
2を透過して基板2の下側(観測者側)に出射されるよ
うになっている。なお、陰極12に透明な材料を用いる
ことにより、発光する光を陰極12側から出射させるこ
とができる。透明な材料としては、例えば、インジウム
・スズ酸化物(ITO:Indium Tin Oxide)等を用いる
事ができる。
In this organic EL device 1, the functional layer 1
Light emitted from 10 to the substrate 2 side is transmitted to the lower side (observer side) of the substrate 2 after passing through the circuit element portion 14 and the substrate 2, and emitted from the functional layer 110 to the opposite side of the substrate 2. The light is reflected by the cathode 12, passes through the circuit element portion 14 and the substrate 2, and is emitted to the lower side (observer side) of the substrate 2. By using a transparent material for the cathode 12, emitted light can be emitted from the cathode 12 side. As the transparent material, for example, indium tin oxide (ITO) can be used.

【0027】また、発光素子部11は、複数の画素電極
111…上の各々に積層された機能層110と、各画素
電極111及び機能層110の間に備えられて各機能層
110を区画するバンク部112とを主体として構成さ
れ、この機能層110上には陰極12が配置され、これ
ら画素電極111、機能層110及び陰極12によって
発光素子部11が構成されている。
Further, the light emitting element section 11 is provided between the pixel electrodes 111 and the functional layer 110 and the functional layer 110 laminated on each of the plurality of pixel electrodes 111, and partitions each functional layer 110. The bank 112 is mainly formed, and the cathode 12 is disposed on the functional layer 110. The pixel electrode 111, the functional layer 110, and the cathode 12 constitute the light emitting element unit 11.

【0028】ここで、画素電極111は、例えば、IT
O等の透明導電材料により形成されたもので、平面視略
矩形にパターニングされて形成されている。この画素電
極111の膜厚は、50〜200nmの範囲が好まし
く、特に150nm程度の厚みがよい。
Here, the pixel electrode 111 is, for example, IT.
It is formed of a transparent conductive material such as O, and is formed by patterning into a substantially rectangular shape in plan view. The film thickness of the pixel electrode 111 is preferably in the range of 50 to 200 nm, and particularly preferably about 150 nm.

【0029】また、この画素電極111の表面粗さ(R
a)は、0.9〜30nmの範囲が好ましく、特に0.
9〜10nmがよい。この画素電極111の表面粗さ
(Ra)を、0.9〜30nmの範囲とした理由は、I
TO上に積層される正孔輸送層、発光層等、低分子ある
いは高分子の有機層が各々50〜80nmの範囲で成膜
され、発光特性、寿命が最適化されている場合、ITO
上の表面粗さRa(nm)が少なくともある一層の有機
層の膜厚を越えてはならないという制約から表面粗さR
a(nm)の最大許容値(30nm)が決定される。こ
の最大許容値は、上に積層する有機層がさらに薄くなれ
ば、ITO上の表面粗さRa(nm)の範囲も小さくな
る。また、表面粗さ(Ra)の最小値は、表面粗さRa
(nm)=0nmが測定上及び物理的にあり得ないとい
うことで除外し、現在使用しているITOで最も表面粗
さRa(nm)が小さいものは0.8nmであるから、
公差等を考慮して表面粗さ(Ra)の最小値を0.9n
mと規定した。
Further, the surface roughness (R
a) is preferably in the range of 0.9 to 30 nm, and particularly preferably 0.
9-10 nm is preferable. The reason for setting the surface roughness (Ra) of the pixel electrode 111 in the range of 0.9 to 30 nm is I
When a low molecular weight or high molecular weight organic layer such as a hole transport layer and a light emitting layer laminated on the TO is formed in a range of 50 to 80 nm and the light emitting characteristics and the life are optimized, ITO is used.
Due to the constraint that the surface roughness Ra (nm) above does not exceed the film thickness of at least one organic layer, the surface roughness R
The maximum allowable value (30 nm) of a (nm) is determined. With respect to this maximum allowable value, the range of the surface roughness Ra (nm) on the ITO becomes smaller as the organic layer laminated thereon becomes thinner. The minimum value of the surface roughness (Ra) is the surface roughness Ra.
(Nm) = 0 nm is excluded in terms of measurement and physical impossibility, and the ITO currently used has the smallest surface roughness Ra (nm) of 0.8 nm.
The minimum value of surface roughness (Ra) is 0.9n in consideration of tolerance.
defined as m.

【0030】バンク部112は、図3に示すように、基
板2側に位置する無機物バンク層112aと、この無機
物バンク層112a上に積層されて該無機物バンク層1
12aより幅の狭い有機物バンク層112bとにより構
成されている。無機物バンク層112aは、その周縁部
が画素電極111の周縁部上に乗上げるように形成され
ている。平面的には、画素電極111の周囲と無機物バ
ンク層112aの周囲とが平面的に重なるように配置さ
れた構造となっている。また、有機物バンク層112b
も同様に、その一部が画素電極111の周縁部と平面的
に重なるように配置されている。
As shown in FIG. 3, the bank portion 112 has an inorganic bank layer 112a located on the substrate 2 side, and is laminated on the inorganic bank layer 112a so as to be stacked on the inorganic bank layer 112a.
The organic bank layer 112b is narrower than 12a. The inorganic bank layer 112a is formed so that the peripheral edge portion thereof rides on the peripheral edge portion of the pixel electrode 111. In plan view, it has a structure in which the periphery of the pixel electrode 111 and the periphery of the inorganic bank layer 112a are arranged so as to overlap each other in plan view. In addition, the organic bank layer 112b
Similarly, a part thereof is arranged so as to planarly overlap the peripheral portion of the pixel electrode 111.

【0031】この無機物バンク層112aは、有機物バ
ンク層112bよりも画素電極111の中央側に更に形
成されている。このようにして、無機物バンク層112
aの各第1積層部112eが画素電極111の内側に形
成されることにより、画素電極111の形成位置に対応
する下部開口部112cが形成されている。有機物バン
ク層112bにも同様に、上部開口部112dが上記の
下部開口部112cに対応するように形成されている。
この上部開口部112dは、下部開口部112cより幅
が広く、画素電極111より幅が狭くなるように形成さ
れている。
The inorganic bank layer 112a is further formed closer to the center of the pixel electrode 111 than the organic bank layer 112b. In this way, the inorganic bank layer 112
By forming each first laminated portion 112e of a inside the pixel electrode 111, the lower opening 112c corresponding to the formation position of the pixel electrode 111 is formed. Similarly, in the organic bank layer 112b, the upper opening 112d is formed so as to correspond to the lower opening 112c.
The upper opening 112d is wider than the lower opening 112c and narrower than the pixel electrode 111.

【0032】無機物バンク層112aは、例えば、Si
2、TiO2等の無機材料が好適に用いられる。この無
機物バンク層112aの膜厚は、50〜200nmの範
囲が好ましく、特に150nmが好ましい。その理由
は、膜厚が50nm未満では、無機物バンク層112a
が後述する正孔注入/輸送層より薄くなり、正孔注入/
輸送層の平坦性を確保できなくなるからであり、また、
膜厚が200nmを越えると、下部開口部112cによ
る段差が大きくなって、正孔注入/輸送層上に積層する
後述の発光層の平坦性を確保できなくなるからである。
The inorganic bank layer 112a is made of, for example, Si.
Inorganic materials such as O 2 and TiO 2 are preferably used. The thickness of the inorganic bank layer 112a is preferably in the range of 50 to 200 nm, and particularly preferably 150 nm. The reason is that when the film thickness is less than 50 nm, the inorganic bank layer 112a is
Becomes thinner than the hole injection / transport layer described later,
This is because the flatness of the transport layer cannot be ensured.
This is because if the film thickness exceeds 200 nm, the step difference due to the lower opening 112c becomes large, and the flatness of the later-described light emitting layer laminated on the hole injecting / transporting layer cannot be ensured.

【0033】有機物バンク層112bは、耐熱性、耐溶
媒性を有する有機材料、例えば、アクリル樹脂、ポリイ
ミド樹脂等の耐熱性、耐溶媒性を有する材料が好適に用
いられる。この有機物バンク層112bの厚みは、0.
1〜3.5μmの範囲が好ましく、特に2μm程度が好
ましい。その理由は、厚みが0.1μm未満では、後述
する正孔注入/輸送層及び発光層の合計の厚みより有機
物バンク層112bの厚みが薄くなり、発光層が上部開
口部112dから溢れるおそれがあるからであり、ま
た、厚さが3.5μmを越えると、上部開口部112d
による段差が大きくなり、有機物バンク層112b上に
形成する陰極12のステップガバレッジを確保できなく
なるからである。なお、有機物バンク層112bの厚み
を2μm以上とすれば、駆動用の薄膜トランジスタ12
3との絶縁性を高めることができるので、より好まし
い。
For the organic bank layer 112b, an organic material having heat resistance and solvent resistance, for example, a material having heat resistance and solvent resistance such as acrylic resin and polyimide resin is preferably used. The organic bank layer 112b has a thickness of 0.
The range of 1 to 3.5 μm is preferable, and about 2 μm is particularly preferable. The reason is that if the thickness is less than 0.1 μm, the organic bank layer 112b becomes thinner than the total thickness of the hole injecting / transporting layer and the light emitting layer described later, and the light emitting layer may overflow from the upper opening 112d. And when the thickness exceeds 3.5 μm, the upper opening 112d
This is because the step difference becomes large and the step coverage of the cathode 12 formed on the organic bank layer 112b cannot be secured. If the organic bank layer 112b has a thickness of 2 μm or more, the driving thin film transistor 12 will be described.
It is more preferable because the insulating property with respect to 3 can be improved.

【0034】このバンク部112には、親液性を示す領
域と、撥液性を示す領域が形成されている。親液性を示
す領域は、無機物バンク層112aの第1積層部112
e及び画素電極111の電極面111aであり、これら
の領域は、酸素を処理ガスとするプラズマ処理によって
表面処理されて親液性とされている。また、撥液性を示
す領域は、上部開口部112dの側面(壁面)及び有機
物バンク層112bの上面112fであり、これらの領
域は、4フッ化メタン、テトラフルオロメタン、もしく
は四フッ化炭素等を処理ガスとするプラズマ処理によっ
て表面がフッ化処理(撥液性処理)されて撥液性とされ
ている。
The bank portion 112 has a lyophilic region and a lyophobic region. The lyophilic region is the first laminated portion 112 of the inorganic bank layer 112a.
e and the electrode surface 111a of the pixel electrode 111, and these regions are surface-treated to be lyophilic by plasma treatment using oxygen as a treatment gas. The liquid-repellent areas are the side surfaces (wall surfaces) of the upper opening 112d and the upper surface 112f of the organic bank layer 112b, and these areas are tetrafluoromethane, tetrafluoromethane, carbon tetrafluoride, or the like. The surface is fluorinated (liquid-repellent treatment) by plasma treatment using a gas as a treatment gas to make it liquid-repellent.

【0035】機能層110は、画素電極111上に積層
された正孔注入/輸送層110aと、この正孔注入/輸
送層110a上に形成された発光層110bとから構成
されている。なお、この発光層110b上に、他の機能
層を更に形成しても良い。例えば、電子輸送層を形成す
る事も可能である。正孔注入/輸送層110aは、正孔
を発光層110bに注入し、かつ、この注入された正孔
を該正孔注入/輸送層110a内において輸送する機能
を有する。このような正孔注入/輸送層110aを画素
電極111と発光層110bの間に形成することによ
り、発光層110bの発光効率、寿命等の素子特性を向
上させることができる。また、発光層110bでは、正
孔注入/輸送層110aから注入された正孔と、陰極1
2から注入された電子が励起子(exiton)を形成し、こ
の励起子が再結合することにより発光(EL)が得られ
る。
The functional layer 110 is composed of a hole injection / transport layer 110a laminated on the pixel electrode 111 and a light emitting layer 110b formed on the hole injection / transport layer 110a. Note that another functional layer may be further formed on the light emitting layer 110b. For example, it is possible to form an electron transport layer. The hole injection / transport layer 110a has a function of injecting holes into the light emitting layer 110b and transporting the injected holes in the hole injection / transport layer 110a. By forming such a hole injecting / transporting layer 110a between the pixel electrode 111 and the light emitting layer 110b, device characteristics such as light emitting efficiency and life of the light emitting layer 110b can be improved. In the light emitting layer 110b, the holes injected from the hole injection / transport layer 110a and the cathode 1
Electrons injected from 2 form excitons, and the excitons recombine to obtain light emission (EL).

【0036】正孔注入/輸送層110aは、下部開口部
112c内に位置して画素電極111の電極面111a
上に形成される平坦部110a1と、上部開口部112
d内に位置して無機物バンク層112aの第1積層部1
12e上に形成される周縁部110a2とから構成され
ている。また、正孔注入/輸送層110aは、構造によ
っては、画素電極111上であって、かつ、下部開口部
110cにのみ形成された構成、すなわち平坦部110
a1のみの構成であってもよい。この平坦部110a1
は、その厚みが一定、例えば、50〜70nmの範囲の
厚みとされている。
The hole injecting / transporting layer 110a is located in the lower opening 112c and is located on the electrode surface 111a of the pixel electrode 111.
The flat portion 110a1 formed above and the upper opening 112
the first bank portion 1 of the inorganic bank layer 112a located in the space d.
It is composed of a peripheral portion 110a2 formed on 12e. Further, depending on the structure, the hole injection / transport layer 110a is formed on the pixel electrode 111 and only in the lower opening 110c, that is, the flat portion 110.
The configuration of only a1 may be used. This flat portion 110a1
Has a constant thickness, for example, a thickness in the range of 50 to 70 nm.

【0037】発光層110bは、正孔注入/輸送層11
0aの平坦部110a1上及び周縁部110a2上に渡っ
て形成されており、平坦部112a1上での厚さが50
〜80nmの範囲とされている。発光層110bは、赤
色(R)に発光する赤色発光層110b1、緑色(G)
に発光する緑色発光層110b2、及び青色(B)に発
光する青色発光層110b3の3種類を有し、各発光層
110b1〜110b3がストライプ状に配置されてい
る。
The light emitting layer 110b is the hole injecting / transporting layer 11
0a is formed over the flat portion 110a1 and the peripheral portion 110a2 and has a thickness of 50 on the flat portion 112a1.
The range is -80 nm. The light emitting layer 110b includes a red light emitting layer 110b1 that emits red light (R) and a green light (G).
The light emitting layers 110b1 to 110b3 are arranged in stripes. The green light emitting layer 110b2 emits green light and the blue light emitting layer 110b3 emits blue light (B).

【0038】また、有機物バンク層112bの上面11
2fが撥液性を示すので、吐出された液滴は選択的に画
素内にパターニングされる。なお、正孔注入/輸送層1
10aを形成するための材料としては、例えば、バイト
ロン−p(Bytron-p:バイエル社製)を用いることがで
きる。
The upper surface 11 of the organic bank layer 112b
Since 2f exhibits liquid repellency, the ejected droplets are selectively patterned within the pixel. The hole injection / transport layer 1
As a material for forming 10a, for example, Bytron-p (manufactured by Bayer) can be used.

【0039】また、発光層110bを構成する発光材料
としては、蛍光あるいは燐光を発光することが可能な公
知の発光材料を用いることができる。具体的には、(ポ
リ)フルオレン誘導体(PF)、(ポリ)パラフェニレ
ンビニレン誘導体(PPV)、ポリフェニレン誘導体
(PP)、ポリパラフェニレン誘導体(PPP)、ポリ
ビニルカルバゾール(PVK)、ポリチオフェン誘導
体、ポリメチルフェニルシラン(PMPS)等のポリシ
ラン系等が好適に用いられる。また、これらの高分子材
料に、ペリレン係色素、クマリン系色素、ローダミン系
色素等の高分子系材料、あるいは、ルブレン、ペリレ
ン、9,10-ジフェニルアントラセン、テトラフェニ
ルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリド
ン等の低分子材料をドープして用いることができる。
As the light emitting material forming the light emitting layer 110b, a known light emitting material capable of emitting fluorescence or phosphorescence can be used. Specifically, (poly) fluorene derivative (PF), (poly) paraphenylene vinylene derivative (PPV), polyphenylene derivative (PP), polyparaphenylene derivative (PPP), polyvinylcarbazole (PVK), polythiophene derivative, polymethyl Polysilane-based materials such as phenylsilane (PMPS) are preferably used. In addition to these polymeric materials, polymeric materials such as perylene-based pigments, coumarin-based pigments, rhodamine-based pigments, or rubrene, perylene, 9,10-diphenylanthracene, tetraphenylbutadiene, Nile red, coumarin 6, A low molecular weight material such as quinacridone can be doped and used.

【0040】陰極12は、発光素子部11の全面に形成
されており、画素電極111と対になって機能層110
に電流を流す役割を果たす。この陰極12は、例えば、
カルシウム層とアルミニウム層とが積層されて構成され
ている。このとき、発光層に近い側の陰極には仕事関数
が小さい材料、例えば、アルカリ金属であるナトリウ
ム、カリウム、リチウム、ルビジウム、セシウム、アル
カリ土金属であるマグネシウム、カルシウム、ストロン
チウム、バリウム、イットリウム及びランタノイドから
なる希土類元素を設けることが好ましく、特にこの形態
においては発光層110bに直接に接して発光層110
bに電流を注入する役割を果たす。
The cathode 12 is formed on the entire surface of the light emitting element section 11, and is paired with the pixel electrode 111 to form the functional layer 110.
Play a role in passing current through. The cathode 12 is, for example,
It is configured by laminating a calcium layer and an aluminum layer. At this time, a material having a small work function for the cathode on the side closer to the light emitting layer, for example, alkali metals such as sodium, potassium, lithium, rubidium, cesium, and alkaline earth metals such as magnesium, calcium, strontium, barium, yttrium, and lanthanoid It is preferable to provide a rare earth element composed of ## STR3 ## and in this embodiment, the luminescent layer 110 is in direct contact with the luminescent layer 110b.
It serves to inject current into b.

【0041】この陰極12は、発光層110bから発し
た光を基板2側に反射させる機能も有するもので、これ
を構成する材料としては、アルミニウム(Al)、銀
(Ag)等の光の反射率が高い高反射率材料が好適に用
いられる。この高反射率材料は、Al膜、Ag膜等の単
層の膜の他、AlとAgの積層膜等が好適に用いられ
る。また、その厚さは、例えば100〜1000nmの
範囲が好ましく、特に200nm程度の厚みが好適であ
る。更に、この膜の上に、SiO2、SiOxy等から
なる酸素及び水分透過防止用(ガスバリア用)の保護層
を設けても良い。
The cathode 12 also has a function of reflecting the light emitted from the light emitting layer 110b to the substrate 2 side, and the material constituting the cathode 12 is reflection of light such as aluminum (Al) and silver (Ag). A high reflectance material having a high index is preferably used. As the high reflectance material, a single layer film such as an Al film or an Ag film, or a laminated film of Al and Ag is preferably used. The thickness is preferably in the range of, for example, 100 to 1000 nm, and particularly preferably about 200 nm. Further, a protective layer made of SiO 2 , SiO x N y or the like for preventing oxygen and moisture permeation (for gas barrier) may be provided on this film.

【0042】また、発光層の材料によっては効率よく発
光させるために、発光層110と陰極12との間にLi
F(フッ化リチウム)等のアルカリ金属あるいはアルカ
リ土類金属のフッ化物、酸化物、キレート錯体、または
電子輸送性を有する有機物を用いてもよい。このLiF
層の厚さは、例えば0.1〜5nmの範囲が好ましく、
また、Ca層の厚さは、例えば1〜50nmの範囲が好
ましい。この発光素子上には封止缶604が配置されて
いる。図2(b)に示すように、封止缶604は封止樹
脂603により接着されて有機EL装置1を形成してい
る。
Depending on the material of the light emitting layer, in order to emit light efficiently, Li is provided between the light emitting layer 110 and the cathode 12.
Fluoride, oxide, chelate complex, or organic substance having an electron transporting property of alkali metal or alkaline earth metal such as F (lithium fluoride) may be used. This LiF
The thickness of the layer is preferably in the range of 0.1 to 5 nm,
Further, the thickness of the Ca layer is preferably in the range of 1 to 50 nm, for example. A sealing can 604 is arranged on the light emitting element. As shown in FIG. 2B, the sealing can 604 is bonded with the sealing resin 603 to form the organic EL device 1.

【0043】次に、本実施形態の有機EL装置の製造方
法を図面を参照して説明する。本実施形態の有機EL装
置1の製造方法は、例えば、(1)画素電極形成工程、(2)
バンク部形成工程、(3)プラズマ処理工程、(4)正孔注入
/輸送層形成工程、(5)発光層形成工程、(6)対向電極形
成工程、(7)封止工程の計7工程により構成されてい
る。なお、この製造方法は、本実施形態に限られるもの
ではなく、必要に応じてその他の工程が除かれる場合、
また追加される場合もある。
Next, a method of manufacturing the organic EL device of this embodiment will be described with reference to the drawings. The method of manufacturing the organic EL device 1 of the present embodiment includes, for example, (1) pixel electrode forming step, (2)
Bank portion forming step, (3) plasma treatment step, (4) hole injection / transport layer forming step, (5) light emitting layer forming step, (6) counter electrode forming step, (7) sealing step, for a total of 7 steps It is composed by. Note that this manufacturing method is not limited to this embodiment, and if other steps are omitted as necessary,
It may also be added.

【0044】(1) 画素電極形成工程画素電極形成工程
は、基板2の所定の位置に画素電極111を形成する工
程である。この画素電極形成工程は、(1)-1透明導電膜
形成工程、(1)-2透明導電膜表面処理工程、(1)-3画素電
極形成工程の計3工程により構成されている。
(1) Pixel Electrode Forming Step The pixel electrode forming step is a step of forming the pixel electrode 111 at a predetermined position on the substrate 2. This pixel electrode forming step is composed of a total of three steps including (1) -1 transparent conductive film forming step, (1) -2 transparent conductive film surface treatment step, and (1) -3 pixel electrode forming step.

【0045】(1)-1 透明導電膜形成工程 この透明導電膜形成工程は、基板2の回路素子部14上
全面に透明導電膜107を成膜する工程である。図4に
示すように、TFTなどの回路等が形成された回路素子
部14が表面に設けられた基板2を用意し、この基板2
の回路素子部14上の全面に、例えば、スパッタ法によ
り透明導電材料からなる透明導電膜107を成膜する。
この透明導電膜107を成膜する際に、得られた画素電
極111の表面粗さが発光層110の電気的特性が変化
しない範囲になるように、透明導電膜107の成膜条件
を設定する。
(1) -1 Transparent Conductive Film Forming Step This transparent conductive film forming step is a step of forming the transparent conductive film 107 on the entire surface of the circuit element portion 14 of the substrate 2. As shown in FIG. 4, a substrate 2 having a circuit element portion 14 on which circuits such as TFTs are formed is provided on the surface.
A transparent conductive film 107 made of a transparent conductive material is formed on the entire surface of the circuit element portion 14 by, for example, a sputtering method.
When forming the transparent conductive film 107, the film forming conditions of the transparent conductive film 107 are set such that the surface roughness of the obtained pixel electrode 111 is within a range in which the electrical characteristics of the light emitting layer 110 do not change. .

【0046】この画素電極形成工程では、高周波スパッ
タリング装置のベルジャ内(成膜室)に、透明導電膜形
成用材料からなるターゲット、例えば、酸化スズ(Sn
2)を0〜10重量%含む酸化インジウム(In
23)からなる金属酸化物ターゲットと、前記基板2と
を対向配置し、このベルジャ内にキャリアガス、例え
ば、酸素(O2)ガスを0.2〜2.0v/v%含むア
ルゴン(Ar)ガスを導入し、前記ベルジャ内のArガ
ス圧を所定のガス圧とした状態で前記基板2と前記金属
酸化物ターゲットとの間に所定の高周波電力を引加す
る。これにより、金属酸化物ターゲットから叩き出され
た原子状粒子が基板2の回路素子部14上に堆積する。
これにより、基板2の回路素子部14上全面にITOか
らなる透明導電膜107が成膜されることとなる。
In this pixel electrode forming step, a target made of a transparent conductive film forming material such as tin oxide (Sn oxide) is placed in the bell jar (film forming chamber) of the high frequency sputtering apparatus.
Indium oxide (In) containing 0 to 10% by weight of O 2
A metal oxide target made of 2 O 3 ) and the substrate 2 are arranged to face each other, and a carrier gas, for example, an argon (O 2 ) gas containing 0.2 to 2.0 v / v% argon ( Ar) gas is introduced, and a predetermined high frequency power is applied between the substrate 2 and the metal oxide target in a state where the Ar gas pressure in the bell jar is set to a predetermined gas pressure. As a result, the atomic particles blown out from the metal oxide target are deposited on the circuit element portion 14 of the substrate 2.
As a result, the transparent conductive film 107 made of ITO is formed on the entire surface of the circuit element portion 14 of the substrate 2.

【0047】上記の成膜条件は、 (規定圧力)真空度 Arガス圧:5〜6×10-5Pa 高周波電力:1000〜3000W 基板温度 :25〜250℃ 成膜速度 :1〜100nm/min である。また、透明導電膜107(ITO)の膜厚、面
積抵抗及び表面粗さは、 膜厚:50〜200nm 面積抵抗:5〜100Ω・cm/□ 表面粗さ(Ra):0.6〜30nm である。
The above film forming conditions are as follows: (specified pressure) degree of vacuum Ar gas pressure: 5 to 6 × 10 −5 Pa, high frequency power: 1000 to 3000 W, substrate temperature: 25 to 250 ° C., film forming rate: 1 to 100 nm / min Is. The film thickness, the sheet resistance and the surface roughness of the transparent conductive film 107 (ITO) are as follows: film thickness: 50 to 200 nm Sheet resistance: 5 to 100 Ω · cm / □ Surface roughness (Ra): 0.6 to 30 nm is there.

【0048】(1)-2 透明導電膜表面処理工程 この透明導電膜表面処理工程は、透明導電膜107に酸
素プラズマ処理、UVオゾン洗浄(紫外線処理)等の表
面処理を施す工程である。この表面処理は、画素電極1
11における正孔の注入効率を上げるために施されるも
ので、酸素プラズマ処理、UVオゾン洗浄(紫外線処
理)各々を単独で、あるいはこれらを組み合わせること
で成される。ここでは、酸素プラズマ処理の後にUVオ
ゾン洗浄を施す2段階処理を行う。
(1) -2 Transparent conductive film surface treatment step In this transparent conductive film surface treatment step, the transparent conductive film 107 is subjected to surface treatment such as oxygen plasma treatment, UV ozone cleaning (ultraviolet treatment). This surface treatment is performed on the pixel electrode 1
This is performed to increase the hole injection efficiency in 11, and is performed by oxygen plasma treatment and UV ozone cleaning (ultraviolet treatment) individually or in combination. Here, a two-step process of performing UV ozone cleaning after the oxygen plasma process is performed.

【0049】酸素プラズマ処理は、図9に示す様なプラ
ズマ装置を用いて行う。この場合の条件の一例を下記に
挙げる。 基板とプラズマ放電電極とのギャップ:0.5〜2mm パワー:300W 酸素ガス流量:50〜100ml/分 基板搬送速度:0.5〜10mm/秒 基板温度:25〜300℃
The oxygen plasma treatment is performed using a plasma device as shown in FIG. An example of the conditions in this case is given below. Gap between substrate and plasma discharge electrode: 0.5-2 mm Power: 300 W Oxygen gas flow rate: 50-100 ml / min Substrate transport speed: 0.5-10 mm / sec Substrate temperature: 25-300 ° C

【0050】UVオゾン洗浄の条件としては、UVラン
プは172nmまたは254nmの波長のものを用い、
基板とUVランプとの距離は0.5〜200mmとす
る。なお、距離とパワーは比例するので、基板距離はあ
る程度幅を持たせる。ここで用いる装置が、UVランプ
と基板を固定する型の装置であれば、基板搬送の必要は
ない。UVオゾン洗浄の処理条件の一例を下記に挙げ
る。 基板処理雰囲気:大気雰囲気あるいは窒素ガス雰囲気 洗浄時間:0.5〜10分程度 基板温度:25〜300℃
As a condition for UV ozone cleaning, a UV lamp having a wavelength of 172 nm or 254 nm is used.
The distance between the substrate and the UV lamp is 0.5 to 200 mm. Since the distance is proportional to the power, the substrate distance should have a certain width. If the device used here is a device that fixes the UV lamp and the substrate, it is not necessary to transfer the substrate. An example of the processing conditions for UV ozone cleaning is given below. Substrate processing atmosphere: Air atmosphere or nitrogen gas atmosphere Cleaning time: About 0.5 to 10 minutes Substrate temperature: 25 to 300 ° C

【0051】酸素プラズマ処理及びUVオゾン洗浄が施
された透明導電膜107の膜厚、面積抵抗及び表面粗さ
は、 膜厚:50〜200nm 面積抵抗:5〜50Ω・cm/□ 表面粗さ(Ra):0.6〜30nm である。ここで、面積抵抗が低くなるのは、洗浄工程に
おいては200℃以下で基板加熱を行っているが、この
加熱過程でITOが完全に結晶化し、その抵抗値が低下
するためである。また、表面粗さ(Ra)は、プラズマ
処理、UV洗浄処理を行った後においてもほとんど変化
していない。
The film thickness, sheet resistance and surface roughness of the transparent conductive film 107 subjected to oxygen plasma treatment and UV ozone cleaning are as follows: film thickness: 50 to 200 nm Sheet resistance: 5 to 50 Ω · cm / □ Ra): 0.6 to 30 nm. Here, the reason why the sheet resistance becomes low is that the substrate is heated at 200 ° C. or lower in the cleaning step, but ITO is completely crystallized in the heating step and the resistance value thereof is lowered. Further, the surface roughness (Ra) hardly changes even after the plasma treatment and the UV cleaning treatment.

【0052】このように、透明導電膜107に酸素プラ
ズマ処理及びUVオゾン洗浄を施すことにより、この透
明導電膜107の仕事関数及びぬれ性が向上し、画素電
極111における正孔の注入効率が向上する。
As described above, by performing oxygen plasma treatment and UV ozone cleaning on the transparent conductive film 107, the work function and wettability of the transparent conductive film 107 are improved, and the hole injection efficiency in the pixel electrode 111 is improved. To do.

【0053】(1)-3 画素電極形成工程 この画素電極形成工程は、フォトリソグラフィ技術を用
いて透明導電膜107をエッチングし、所定のパターン
の画素電極111とする工程である。図5に示すよう
に、透明導電膜107上にホトレジスト108を塗布
し、このホトレジスト108にマスク(図示せず)を用
いて、画素電極111に対応したマスクパターンを転写
し、このレジストのマスクパターンを用いて透明導電膜
107をエッチングし、所望の形状の画素電極111と
する。以上により、膜厚:50〜200nm、面積抵
抗:5〜50Ω・cm/□、表面粗さ(Ra):0.6
〜30nmの画素電極111が得られる。
(1) -3 Pixel Electrode Forming Step In this pixel electrode forming step, the transparent conductive film 107 is etched by using the photolithography technique to form the pixel electrode 111 having a predetermined pattern. As shown in FIG. 5, a photoresist 108 is applied on the transparent conductive film 107, a mask (not shown) is used to transfer a mask pattern corresponding to the pixel electrodes 111 to the photoresist 108, and a mask pattern of this resist is formed. Is used to etch the transparent conductive film 107 to form the pixel electrode 111 having a desired shape. From the above, the film thickness: 50 to 200 nm, the sheet resistance: 5 to 50 Ω · cm / □, the surface roughness (Ra): 0.6
A pixel electrode 111 of ˜30 nm is obtained.

【0054】(2) バンク部形成工程 バンク部形成工程は、基板2の所定の位置にバンク部1
12を形成する工程である。バンク部112は、第1の
バンク層として無機物バンク層112aが形成され、第
2のバンク層として有機物バンク層112bが形成され
た構造である。以下に形成方法について説明する。
(2) Bank Section Forming Step In the bank section forming step, the bank section 1 is formed at a predetermined position on the substrate 2.
It is a step of forming 12. The bank portion 112 has a structure in which an inorganic bank layer 112a is formed as a first bank layer and an organic bank layer 112b is formed as a second bank layer. The forming method will be described below.

【0055】(2)-1 無機物バンク層112aの形成 まず、図6に示すように、基板2上の所定の位置に無機
物バンク層112aを形成する。無機物バンク層112
aが形成される位置は、第2層間絶縁膜144b上及び
画素電極111上である。なお、第2層間絶縁膜144
bは薄膜トランジスタ、走査線、信号線、等が配置され
た回路素子部14上に形成されている。無機物バンク層
112aは、例えば、SiO2、TiO2等の無機物膜を
材料として用いることができる。これらの材料は、例え
ば、CVD法、コート法、スパッタ法、蒸着法等によっ
て形成される。この無機物バンク層112aの膜厚は5
0〜200nmの範囲が好ましく、特に150nmがよ
い。
(2) -1 Formation of Inorganic Bank Layer 112a First, as shown in FIG. 6, the inorganic bank layer 112a is formed at a predetermined position on the substrate 2. Inorganic bank layer 112
The position where a is formed is on the second interlayer insulating film 144b and on the pixel electrode 111. The second interlayer insulating film 144
b is formed on the circuit element portion 14 in which thin film transistors, scanning lines, signal lines, etc. are arranged. For the inorganic bank layer 112a, for example, an inorganic film such as SiO 2 or TiO 2 can be used as a material. These materials are formed by, for example, a CVD method, a coating method, a sputtering method, a vapor deposition method, or the like. The thickness of the inorganic bank layer 112a is 5
The range of 0 to 200 nm is preferable, and 150 nm is particularly preferable.

【0056】この無機物バンク層112aは、第2層間
絶縁膜144b上及び画素電極111上の全面に無機物
膜を形成し、その後、この無機物膜をフォトリソグラフ
ィ法等によりパターニングすることにより、開口部を有
する無機物バンク層112aが形成される。この開口部
は、画素電極111の電極面111aの形成位置に対応
するもので、図6に示すように、下部開口部112cと
して形成される。このとき、無機物バンク層112a
は、その周縁部の一部が画素電極111の周縁部の一部
と重なるように形成される。図6に示すように、画素電
極111の周縁部の一部と無機物バンク層112aの周
縁部の一部とが重なるように無機物バンク層112aを
形成することにより、発光層110の発光領域を制御す
ることができる。
The inorganic bank layer 112a has an opening formed by forming an inorganic film on the entire surface of the second interlayer insulating film 144b and the pixel electrode 111, and then patterning the inorganic film by photolithography or the like. The inorganic bank layer 112a is formed. This opening corresponds to the formation position of the electrode surface 111a of the pixel electrode 111, and is formed as a lower opening 112c as shown in FIG. At this time, the inorganic bank layer 112a
Is formed such that a part of the peripheral portion thereof overlaps a part of the peripheral portion of the pixel electrode 111. As shown in FIG. 6, the light emitting region of the light emitting layer 110 is controlled by forming the inorganic bank layer 112a so that a part of the peripheral edge of the pixel electrode 111 and a part of the peripheral edge of the inorganic bank layer 112a overlap. can do.

【0057】(2)-2 有機物バンク層112bの形成 次いで、図7に示すように、無機物バンク層112a上
に、第2のバンク層としての有機物バンク層112bを
形成する。有機物バンク層112bは、例えば、アクリ
ル樹脂、ポリイミド樹脂等の耐熱性、耐溶剤性を有する
有機樹脂を材料として用いることができる。この有機物
バンク層112bは、無機物バンク層112a上及び画
素電極111上の全面に有機樹脂膜を形成し、その後、
この有機樹脂膜をフォトリソグラフィ法等によりパター
ニングすることにより、開口部を有する有機物バンク層
112bが形成される。この開口部は、パターニングす
る際に、電極面111a及び下部開口部112cに対応
する位置に上部開口部112dとして形成される。
(2) -2 Formation of Organic Bank Layer 112b Next, as shown in FIG. 7, an organic bank layer 112b as a second bank layer is formed on the inorganic bank layer 112a. For the organic material bank layer 112b, for example, an organic resin having heat resistance and solvent resistance such as acrylic resin or polyimide resin can be used as a material. The organic bank layer 112b is formed by forming an organic resin film on the entire surface of the inorganic bank layer 112a and the pixel electrode 111.
By patterning this organic resin film by a photolithography method or the like, an organic bank layer 112b having an opening is formed. This opening is formed as an upper opening 112d at a position corresponding to the electrode surface 111a and the lower opening 112c during patterning.

【0058】このように、有機物バンク層112bに形
成された上部開口部112dと、無機物バンク層112
aに形成された下部開口部112cとを連通させること
により、無機物バンク層112a及び有機物バンク層1
12bを貫通する開口部112gが形成される。なお、
有機物バンク層112bの厚さは、0.1〜3.5μm
の範囲が好ましく、特に2μm程度の厚みが好ましい。
有機物バンク層112bの厚みをこのような範囲に限定
した理由は以下の通りである。
Thus, the upper opening 112d formed in the organic bank layer 112b and the inorganic bank layer 112 are formed.
By communicating with the lower opening 112c formed in a, the inorganic bank layer 112a and the organic bank layer 1
An opening 112g that penetrates 12b is formed. In addition,
The organic bank layer 112b has a thickness of 0.1 to 3.5 μm.
Is preferable, and a thickness of about 2 μm is particularly preferable.
The reason why the thickness of the organic bank layer 112b is limited to such a range is as follows.

【0059】すなわち、厚さが0.1μm未満では、有
機物バンク層112bの厚みが、後述する正孔注入/輸
送層110a及び発光層110bの合計の厚みより薄く
なり、発光層110bが上部開口部112dから溢れて
しまうおそれがあるからであり、また、厚さが3.5μ
mを越えると、上部開口部112dによる段差が大きく
なり、上部開口部112dにおける陰極12のステップ
ガバレッジが確保できなくなるからである。また、有機
物バンク層112bの厚さを2μm以上とすれば、陰極
12と駆動用の薄膜トランジスタ123との絶縁性を高
めることができるので好ましい。
That is, when the thickness is less than 0.1 μm, the thickness of the organic bank layer 112b becomes smaller than the total thickness of the hole injecting / transporting layer 110a and the light emitting layer 110b which will be described later, and the light emitting layer 110b has an upper opening. This is because there is a risk of overflow from 112d, and the thickness is 3.5μ.
If m is exceeded, the step difference due to the upper opening 112d becomes large, and the step coverage of the cathode 12 in the upper opening 112d cannot be secured. In addition, it is preferable that the thickness of the organic bank layer 112b is 2 μm or more, because the insulation between the cathode 12 and the driving thin film transistor 123 can be improved.

【0060】(3) プラズマ処理工程 このプラズマ処理工程は、画素電極111の表面を活性
化処理すること、更にバンク部112の表面を表面処理
することを目的として行われる。特に、活性化処理工程
は、画素電極111を構成する材料であるITOの表面
洗浄、更に仕事関数の調整を主な目的として行われる。
また、表面処理工程は、画素電極111の表面の親液化
処理、及びバンク部112の表面の撥液化処理を主な目
的として行われる。このプラズマ処理工程は、例えば、
(3)-1予備加熱工程、(3)-2活性化処理工程(親液化工
程)、(3)-3撥液化処理工程(撥液化工程)、及び(3)-4
冷却工程とに大別される。なお、このような工程に限ら
れるものではなく、必要に応じて工程を削減、更なる工
程追加も行われる。
(3) Plasma Treatment Step This plasma treatment step is performed for the purpose of activating the surface of the pixel electrode 111 and further surface-treating the surface of the bank portion 112. In particular, the activation treatment step is performed mainly for the purpose of cleaning the surface of ITO, which is a material forming the pixel electrode 111, and adjusting the work function.
Further, the surface treatment step is performed mainly for the purpose of making the surface of the pixel electrode 111 lyophilic and the surface of the bank portion 112 lyophobic. This plasma processing step, for example,
(3) -1 preheating step, (3) -2 activation treatment step (lyophilic step), (3) -3 lyophobic treatment step (lyophobic step), and (3) -4
It is roughly divided into a cooling process. Note that the number of steps is not limited to such steps, and steps may be reduced and additional steps may be added as necessary.

【0061】ここで、このプラズマ処理工程において用
いられるプラズマ処理装置について図8に基づき説明す
る。このプラズマ処理装置50は、予備加熱処理室5
1、第1プラズマ処理室52、第2プラズマ処理室5
3、冷却処理室54、これらの各処理室51〜54に基
板2を搬送する搬送装置55とから構成されている。各
処理室51〜54は、搬送装置55を中心として放射状
に配置されている。
Here, a plasma processing apparatus used in this plasma processing step will be described with reference to FIG. The plasma processing apparatus 50 includes a preheating processing chamber 5
1, first plasma processing chamber 52, second plasma processing chamber 5
3, a cooling processing chamber 54, and a transfer device 55 that transfers the substrate 2 to each of these processing chambers 51 to 54. The processing chambers 51 to 54 are radially arranged with the transfer device 55 as the center.

【0062】まず、このプラズマ処理装置を用いて行わ
れるプラズマ処理工程の概略を説明する。予備加熱工程
は、図8に示す予備加熱処理室51において行われる。
そして、この処理室51により、バンク部形成工程から
搬送された基板2を所定の温度に加熱する。予備加熱工
程の後、親液化工程及び撥液化処理工程を行う。この予
備加熱処理室51では、バンク部形成工程から搬送され
てきた基板2を所定の温度に加熱する。この予備加熱工
程の後、活性化処理工程を第1プラズマ処理室52にて
行う。この第1プラズマ処理室52では、搬送装置55
を用いて予備加熱処理室51から搬送された基板2の画
素電極111及びバンク部112それぞれの表面にプラ
ズマ処理を施し親液化する。
First, an outline of a plasma processing step performed using this plasma processing apparatus will be described. The preheating process is performed in the preheating treatment chamber 51 shown in FIG.
Then, the processing chamber 51 heats the substrate 2 transferred from the bank forming process to a predetermined temperature. After the preheating step, the lyophilic step and the lyophobic treatment step are performed. In the preheat treatment chamber 51, the substrate 2 transferred from the bank forming process is heated to a predetermined temperature. After this preheating step, an activation processing step is performed in the first plasma processing chamber 52. In the first plasma processing chamber 52, the transfer device 55
The surface of each of the pixel electrode 111 and the bank portion 112 of the substrate 2 transported from the preheating treatment chamber 51 is subjected to plasma treatment to be lyophilic.

【0063】この活性化処理工程の後に、撥液化処理工
程を第2プラズマ処理室53にて行う。この第2プラズ
マ処理室53では、搬送装置55を用いて第1プラズマ
処理室52から搬送された親液化後の基板2のバンク部
112の表面にプラズマ処理を施し撥液化する。この撥
液化処理工程の後に、基板2を冷却処理室54に搬送
し、室温まで冷却する。この冷却工程後、搬送装置55
により次の工程である正孔注入/輸送層形成工程へ基板
を搬送する。
After the activation process, the liquid repellent process is performed in the second plasma processing chamber 53. In the second plasma processing chamber 53, the surface of the bank portion 112 of the substrate 2 that has been lyophilic transferred from the first plasma processing chamber 52 by using the transfer device 55 is subjected to plasma processing to be lyophobic. After the liquid repellent treatment step, the substrate 2 is transported to the cooling treatment chamber 54 and cooled to room temperature. After this cooling step, the transport device 55
Then, the substrate is transported to the next step, which is a hole injection / transport layer forming step.

【0064】以下、それぞれの工程について詳細に説明
する。 (3)-1 予備加熱工程 予備加熱工程は、次の工程に合わせて基板2を事前に加
熱し、基板2の温度ばらつきを解消することを目的とし
て行う工程であり、予備加熱処理室51において行われ
る。この処理室51においては、画素電極111及びバ
ンク部112を含む基板2を所定の温度まで加熱する。
基板2の加熱方法は、例えば、予備加熱処理室51内に
配置された基板2載置用のステージにヒーターを取り付
け、このヒーターで当該ステージごと基板2を加熱する
方法が採られている。
Hereinafter, each step will be described in detail. (3) -1 Preheating Step The preheating step is a step performed in order to eliminate the temperature variation of the substrate 2 by preheating the substrate 2 in time with the next step. Done. In the processing chamber 51, the substrate 2 including the pixel electrodes 111 and the bank portion 112 is heated to a predetermined temperature.
As a method of heating the substrate 2, for example, a method is used in which a heater is attached to a stage for mounting the substrate 2 arranged in the preheat treatment chamber 51, and the substrate 2 is heated together with the heater by the heater.

【0065】この予備加熱工程では、基板2を、例え
ば、70℃〜80℃の範囲の温度に加熱する。この温度
範囲は、次工程であるプラズマ処理工程における処理温
度であり、次の工程に合わせて基板2を事前に加熱し、
基板2の温度ばらつきを解消することを目的としてい
る。仮に、予備加熱工程を加えなければ、基板2は室温
から上記の温度に急速に加熱されることになり、工程開
始から工程終了までのプラズマ処理工程中において温度
が常に変動しながら処理されることになる。したがっ
て、基板温度が大きく変化する状態でプラズマ処理を施
すことは、有機EL素子の特性の不均一につながる可能
性があるために、処理条件を一定に保ち、均一な特性を
得るために予備加熱を行うのである。
In this preheating step, the substrate 2 is heated to a temperature in the range of 70 ° C. to 80 ° C., for example. This temperature range is a processing temperature in the plasma processing step which is the next step, and the substrate 2 is heated in advance in accordance with the next step,
The purpose is to eliminate the temperature variation of the substrate 2. If the pre-heating process is not added, the substrate 2 will be rapidly heated from room temperature to the above temperature, and the temperature will always be changed during the plasma processing process from the process start to the process end. become. Therefore, performing plasma treatment in a state where the substrate temperature changes greatly may lead to non-uniformity of the characteristics of the organic EL element. Therefore, the treatment conditions should be kept constant and pre-heating to obtain uniform characteristics. To do.

【0066】この予備加熱温度は、以降の工程、すなわ
ち第1プラズマ処理装置52内の試料ステージ上に基板
2を載置した状態で親液化処理を行い、第2プラズマ処
理装置53内の試料ステージ上に基板2を載置した状態
で撥液化処理を行う場合に、図9に示すような親液化処
理工程及び撥液化処理工程を連続して行う試料ステージ
56の温度にほぼ一致させることが好ましい。そこで、
予め、基板2を、例えば第1,第2プラズマ処理装置5
2,53内を相互に移動可能な試料ステージ56の温
度、例えば70〜80℃まで予備加熱することにより、
多数の基板にプラズマ処理を連続的に行った場合でも、
処理開始直後と処理終了直前でのプラズマ処理条件をほ
ぼ一定にすることができる。これにより、基板2の表面
処理条件を同一にし、バンク部112の組成物に対する
濡れ性を均一化することができ、一定の品質を有する有
機EL装置を製造することができる。また、基板2を予
め予備加熱しておくことにより、後のプラズマ処理にお
ける処理時間を短縮することができる。
This preheating temperature is subjected to the subsequent steps, that is, the lyophilic treatment is performed with the substrate 2 placed on the sample stage in the first plasma processing apparatus 52 and the sample stage in the second plasma processing apparatus 53. When the lyophobic treatment is performed with the substrate 2 placed thereon, it is preferable that the temperature of the sample stage 56, which continuously performs the lyophilic treatment step and the lyophobic treatment step as shown in FIG. . Therefore,
The substrate 2 is preliminarily provided with, for example, the first and second plasma processing devices 5
By preheating to a temperature of the sample stage 56, which is movable between 2, 53, for example, 70 to 80 ° C.,
Even when plasma processing is continuously performed on many substrates,
The plasma processing conditions immediately after the start of processing and immediately before the end of processing can be made almost constant. Thereby, the surface treatment conditions of the substrate 2 can be made the same, the wettability of the bank portion 112 with respect to the composition can be made uniform, and an organic EL device having a certain quality can be manufactured. Further, by preheating the substrate 2 in advance, it is possible to shorten the processing time in the subsequent plasma processing.

【0067】(3)-2 活性化処理工程 活性化処理工程は、画素電極111における仕事関数の
調整、制御、その表面の洗浄、その表面の親液化工程が
含まれる。親液化工程として、大気雰囲気中で酸素を処
理ガスとするO2プラズマ処理を行う。図9には、この
2プラズマ処理を模式的に示している。図9に示すよ
うに、バンク部112を含む基板2を加熱ヒータを内蔵
した試料ステージ56上に載置し、プラズマ放電電極5
7をギャップ間隔0.5〜2mm程度の距離をおいて基
板2の上面に対向して配置し、試料ステージ56内の加
熱ヒータに通電して、この試料ステージ56上の基板2
を加熱しつつ、この試料ステージ56を図示矢印方向に
向けて所定の搬送速度で搬送し、この搬送の間に、プラ
ズマ放電電極57により基板2に対してプラズマ状態の
酸素を照射する。
(3) -2 Activation Treatment Step The activation treatment step includes adjustment and control of the work function of the pixel electrode 111, cleaning of its surface, and lyophilic treatment of its surface. As a lyophilic process, O 2 plasma treatment using oxygen as a treatment gas is performed in the atmosphere. FIG. 9 schematically shows this O 2 plasma treatment. As shown in FIG. 9, the substrate 2 including the bank portion 112 is placed on the sample stage 56 having a built-in heater, and the plasma discharge electrode 5 is placed.
7 is arranged facing the upper surface of the substrate 2 with a gap distance of about 0.5 to 2 mm, the heater 2 in the sample stage 56 is energized, and the substrate 2 on the sample stage 56 is energized.
While heating, the sample stage 56 is transported in the direction of the arrow in the drawing at a predetermined transport speed, and during this transport, the plasma discharge electrode 57 irradiates the substrate 2 with oxygen in a plasma state.

【0068】このO2プラズマ処理の条件は、例えば、
プラズマパワー:100〜800kW、酸素ガス流量:
50〜100ml/分、基板搬送速度:0.5〜10m
m/秒、基板温度:70〜90℃の条件下で行われる。
なお、試料ステージ56による加熱は、主として予備加
熱された基板2の保温のために行われる。このO2プラ
ズマ処理により、図10に示すように、画素電極111
の電極面111a、無機物バンク層112aの第1積層
部112e及び有機物バンク層112bの上部開口部1
12dの側面ならびに上面112fが親液処理される。
この親液処理により、これらの各面に水酸基を導入する
ことで親液性が付与される。図10では、親液処理され
た部分を一点鎖線で示している。
The conditions of this O 2 plasma treatment are, for example,
Plasma power: 100 to 800 kW, oxygen gas flow rate:
50-100 ml / min, substrate transfer speed: 0.5-10 m
m / sec, substrate temperature: 70 to 90 ° C.
The heating by the sample stage 56 is performed mainly for keeping the temperature of the preheated substrate 2. By this O 2 plasma treatment, as shown in FIG.
Electrode surface 111a, the first laminated portion 112e of the inorganic bank layer 112a, and the upper opening portion 1 of the organic bank layer 112b.
The side surface of 12d and the upper surface 112f are lyophilic.
By this lyophilic treatment, lyophilicity is imparted by introducing a hydroxyl group into each of these surfaces. In FIG. 10, the portion that has been subjected to the lyophilic treatment is indicated by a one-dot chain line.

【0069】(3)-3 撥液処理工程 次に、第2プラズマ処理室53では、撥液化工程とし
て、大気雰囲気中でテトラフルオロメタン(四フッ化メ
タン:CF4)を処理ガスとするプラズマ処理(CF4
ラズマ処理)を行う。第2プラズマ処理室53の内部構
造は、図8に示した第1プラズマ処理室52の内部構造
と同様である。即ち、基板2は、試料ステージによって
加熱されつつ、試料ステージごと所定の搬送速度で搬送
され、その間に基板2に対してプラズマ状態のテトラフ
ルオロメタン(四フッ化メタン:CF4)が照射され
る。
(3) -3 Liquid-repellent treatment step Next, in the second plasma treatment chamber 53, a plasma treatment using tetrafluoromethane (tetrafluoromethane: CF 4 ) as a treatment gas in the atmosphere is performed as a liquid-repellent treatment step. Processing (CF 4 plasma processing) is performed. The internal structure of the second plasma processing chamber 53 is the same as the internal structure of the first plasma processing chamber 52 shown in FIG. That is, while the substrate 2 is being heated by the sample stage, the substrate 2 is transported at a predetermined transport speed together with the sample stage, and during this period, the substrate 2 is irradiated with tetrafluoromethane (tetrafluoromethane: CF 4 ) in a plasma state. .

【0070】CF4プラズマ処理の条件は、例えば、プ
ラズマパワー:100〜800kW、CF4ガス流量:
50〜100ml/min、基板搬送速度:0.5〜1
0mm/sec、基板温度:70〜90℃の条件で行わ
れる。なお、加熱ステージによる加熱は、第1プラズマ
処理室52の場合と同様に、主として予備加熱された基
体2の保温のために行われる。なお、処理ガスは、テト
ラフルオロメタン(四フッ化メタン)に限らず、他のフ
ルオロカーボン系のガスを用いることができる。
The conditions for the CF 4 plasma treatment are, for example, plasma power: 100 to 800 kW, CF 4 gas flow rate:
50 to 100 ml / min, substrate transfer speed: 0.5 to 1
The condition is 0 mm / sec and the substrate temperature is 70 to 90 ° C. Note that the heating by the heating stage is performed mainly for keeping the temperature of the preheated substrate 2 as in the case of the first plasma processing chamber 52. The processing gas is not limited to tetrafluoromethane (tetrafluoromethane), and other fluorocarbon-based gas can be used.

【0071】このCF4プラズマ処理により、図11に
示すように、上部開口部112dの側面及び有機物バン
ク層の上面112fが撥液処理される。この撥液処理に
より、これらの各面にフッ素基が導入されて撥液性が付
与される。図11では、撥液性を示す領域を二点鎖線で
示している。有機物バンク層112bを構成するアクリ
ル樹脂、ポリイミド樹脂等の有機物はプラズマ状態のフ
ルオロカーボンが照射することで容易に撥液化させるこ
とができる。また、O2プラズマにより前処理した方が
フッ素化されやすい、という特徴を有しており、本実施
形態には特に有効である。尚、画素電極111の電極面
111a及び無機物バンク層112aの第1積層部11
2eもこのCF4プラズマ処理の影響を多少受けるが、
濡れ性に影響を与える事は少ない。図11では、親液性
を示す領域を一点鎖線で示している。
By this CF 4 plasma treatment, as shown in FIG. 11, the side surface of the upper opening 112d and the upper surface 112f of the organic bank layer are subjected to liquid repellent treatment. By this liquid repellent treatment, a fluorine group is introduced into each of these surfaces to impart liquid repellency. In FIG. 11, the liquid-repellent region is indicated by a chain double-dashed line. Organic substances such as acrylic resin and polyimide resin, which form the organic bank layer 112b, can be easily rendered lyophobic by being irradiated with fluorocarbon in a plasma state. In addition, the pretreatment with O 2 plasma is more likely to be fluorinated, which is particularly effective in this embodiment. It should be noted that the electrode surface 111a of the pixel electrode 111 and the first stacked portion 11 of the inorganic bank layer 112a.
2e is also slightly affected by this CF 4 plasma treatment,
Less likely to affect wettability. In FIG. 11, the region showing lyophilicity is indicated by a one-dot chain line.

【0072】(3)-4 冷却工程 次に、冷却工程として、冷却処理室54を用い、プラズ
マ処理のために加熱された基板2を管理温度まで冷却す
る。これは、この以降の工程であるインクジェット工程
(機能層形成工程)の管理温度まで冷却するために行う
工程である。この冷却処理室54は、基板2を配置する
ためのプレートを有し、そのプレートは基板2を冷却す
るように水冷装置が内蔵された構造となっている。ま
た、プラズマ処理後の基板2を室温、または所定の温度
(例えばインクジェット工程を行う管理温度)まで冷却
することにより、次の正孔注入/輸送層形成工程におい
て、基板2の温度が一定となり、基板2の温度変化が無
い均一な温度で次工程を行うことができる。したがっ
て、このような冷却工程を加えることにより、インクジ
ェット法等の吐出手段により吐出された材料を均一に形
成できる。例えば、正孔注入/輸送層を形成するための
材料を含む第1組成物を吐出させる際に、第1組成物を
一定の容積で連続して吐出させることができ、正孔注入
/輸送層を均一に形成することができる。
(3) -4 Cooling Step Next, as a cooling step, the cooling processing chamber 54 is used to cool the substrate 2 heated for the plasma processing to a control temperature. This is a process performed for cooling to the control temperature of the inkjet process (functional layer forming process) which is the subsequent process. The cooling processing chamber 54 has a plate for disposing the substrate 2, and the plate has a structure in which a water cooling device is incorporated so as to cool the substrate 2. Further, by cooling the substrate 2 after the plasma treatment to room temperature or a predetermined temperature (for example, a control temperature at which the inkjet process is performed), the temperature of the substrate 2 becomes constant in the next hole injection / transport layer forming process, The next step can be performed at a uniform temperature at which the temperature of the substrate 2 does not change. Therefore, by adding such a cooling step, it is possible to uniformly form the material discharged by the discharging means such as an inkjet method. For example, when ejecting the first composition containing the material for forming the hole injecting / transporting layer, the first composition can be ejected continuously in a constant volume. Can be formed uniformly.

【0073】上記のプラズマ処理工程では、材質が異な
る有機物バンク層112b及び無機物バンク層112a
に対して、O2プラズマ処理とCF4プラズマ処理とを順
次行うことにより、バンク部112に親液性の領域と撥
液性の領域を容易に設けることができる。なお、プラズ
マ処理工程に用いるプラズマ処理装置は、図8に示した
ものに限られず、例えば図12に示すようなプラズマ処
理装置60を用いてもよい。図12に示すプラズマ処理
装置60は、予備加熱処理室61と、第1プラズマ処理
室62と、第2プラズマ処理室63と、冷却処理室64
と、これらの各処理室61〜64に基体2を搬送する搬
送装置65とから構成され、各処理室61〜64が、搬
送装置65の搬送方向両側(図中矢印方向両側)に配置
されてなるものである。
In the above plasma processing step, the organic bank layer 112b and the inorganic bank layer 112a made of different materials are used.
On the other hand, by sequentially performing the O 2 plasma treatment and the CF 4 plasma treatment, the lyophilic region and the lyophobic region can be easily provided in the bank portion 112. The plasma processing apparatus used in the plasma processing step is not limited to that shown in FIG. 8, and a plasma processing apparatus 60 as shown in FIG. 12, for example, may be used. The plasma processing apparatus 60 shown in FIG. 12 includes a preheating processing chamber 61, a first plasma processing chamber 62, a second plasma processing chamber 63, and a cooling processing chamber 64.
And a transfer device 65 that transfers the substrate 2 to each of the processing chambers 61 to 64. The processing chambers 61 to 64 are arranged on both sides of the transfer device 65 in the transport direction (both sides in the arrow direction in the drawing). It will be.

【0074】このプラズマ処理装置60では、図8に示
したプラズマ処理装置50と同様に、バンク部形成工程
から搬送された基板2を、予備加熱処理室61、第1、
第2プラズマ処理室62,63、冷却処理室64に順次
搬送して各処理室にて上記と同様な処理を行った後、基
板2を次の正孔注入/輸送層形成工程に搬送する。ま
た,上記プラズマ処理は、大気圧下でなくとも、真空下
あるいは減圧下で行っても良い。
In this plasma processing apparatus 60, as in the plasma processing apparatus 50 shown in FIG. 8, the substrate 2 transferred from the bank portion forming step is processed by the preheating processing chamber 61, the first,
After being sequentially transferred to the second plasma processing chambers 62 and 63 and the cooling processing chamber 64 and subjected to the same processing as described above in each processing chamber, the substrate 2 is transferred to the next hole injection / transport layer forming step. Further, the plasma treatment may be performed under vacuum or reduced pressure instead of atmospheric pressure.

【0075】(4) 正孔注入/輸送層形成工程 次に、正孔注入/輸送層形成工程として、電極(ここで
は画素電極111)上に正孔注入/輸送層を形成する。
正孔注入/輸送層形成工程では、液滴吐出としてたとえ
ばインクジェット装置を用いることにより、正孔注入/
輸送層形成材料を含む第1組成物(組成物)を電極面1
11a上に吐出する。その後に乾燥処理及び熱処理を行
い、画素電極111上及び無機物バンク層112a上に
正孔注入/輸送層110aを形成する。なお、正孔注入/
輸送層110aが形成された無機物バンク層112aを
ここでは第1積層部112eという。
(4) Hole Injection / Transport Layer Forming Step Next, as a hole injection / transport layer forming step, a hole injection / transport layer is formed on the electrode (here, the pixel electrode 111).
In the hole injecting / transporting layer forming step, the hole injecting / transporting layer is formed by using, for example, an ink jet device.
The first composition (composition) containing the material for forming the transport layer is applied to the electrode surface 1
It discharges on 11a. After that, a drying process and a heat treatment are performed to form the hole injection / transport layer 110a on the pixel electrode 111 and the inorganic bank layer 112a. Note that hole injection /
Here, the inorganic bank layer 112a on which the transport layer 110a is formed is referred to as a first laminated portion 112e.

【0076】この正孔注入/輸送層形成工程を含めこれ
以降の工程は、水、酸素の無い雰囲気とする事が好まし
い。例えば、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気等の不活性ガ
ス雰囲気で行うことが好ましい。なお、正孔注入/輸送
層110aは第1積層部112e上に形成されないこと
もある。すなわち、画素電極111上にのみ正孔注入/
輸送層が形成される形態もある。インクジェットによる
製造方法は以下の通りである。
It is preferable that the subsequent steps including this hole injection / transport layer forming step are performed in an atmosphere free of water and oxygen. For example, it is preferably performed in an inert gas atmosphere such as a nitrogen atmosphere or an argon atmosphere. The hole injection / transport layer 110a may not be formed on the first stacked unit 112e. That is, hole injection / only on the pixel electrode 111.
There is also a form in which the transport layer is formed. The manufacturing method by inkjet is as follows.

【0077】本実施形態の有機EL装置の製造方法に好
適に用いられるインクジェットヘッドの一例として、図
13のようなヘッドHを例示できる。このヘッドHは図
13に示すように、複数のインクジェットヘッドH1
と、これらのインクジェットヘッドH1を支持する支持
基板H7を主として構成されている。更に、基体と上記
のヘッドHの配置に関しては図14のように配置するこ
とが好ましい。図14に示すインクジェット装置におい
て、符号1115は基体2を載置するステージであり、
符号1116はステージ1115を図中x軸方向(主走
査方向)に案内するガイドレールである。またヘッドH
は、支持部材1111を介してガイドレール1113に
より図中y軸方向(副走査方向)に移動できるようにな
っており、更にヘッドHは図中θ軸方向に回転できるよ
うになっており、インクジェットヘッドH1を主走査方
向に対して所定の角度に傾けることができるようになっ
ている。
A head H as shown in FIG. 13 can be exemplified as an example of an ink jet head which is preferably used in the method of manufacturing the organic EL device of this embodiment. This head H has a plurality of ink jet heads H1 as shown in FIG.
And a support substrate H7 for supporting these inkjet heads H1. Further, regarding the disposition of the substrate and the head H, it is preferable to dispose as shown in FIG. In the inkjet device shown in FIG. 14, reference numeral 1115 is a stage on which the base 2 is placed,
Reference numeral 1116 is a guide rail that guides the stage 1115 in the x-axis direction (main scanning direction) in the drawing. Head H
Can be moved in the y-axis direction (sub-scanning direction) in the drawing by the guide rail 1113 via the support member 1111. Further, the head H can be rotated in the θ-axis direction in the drawing. The head H1 can be tilted at a predetermined angle with respect to the main scanning direction.

【0078】図14に示す基板2は、マザー基板に複数
のチップを配置した構造となっている。即ち、1チップ
の領域が1つの表示装置に相当する。ここでは、3つの
表示領域2aが形成されているが、これに限られるもの
ではない。例えば、基板2上の左側の表示領域2aに対
して組成物を塗布する場合は、ガイドレール1113を
介してヘッドHを図中左側に移動させるとともに、ガイ
ドレール1116を介して基体2を図中上側に移動さ
せ、基体2を走査させながら塗布を行う。次に、ヘッド
Hを図中右側に移動させて基体の中央の表示領域2aに
対して組成物を塗布する。右端にある表示領域2aに対
しても前記と同様である。尚、図13に示すヘッドH及
び図14に示すインクジェット装置は、正孔注入/輸送
層形成工程のみならず、発光層形成工程に用いて良い。
The substrate 2 shown in FIG. 14 has a structure in which a plurality of chips are arranged on a mother substrate. That is, one chip area corresponds to one display device. Here, three display areas 2a are formed, but the number is not limited to this. For example, when the composition is applied to the display area 2a on the left side of the substrate 2, the head H is moved to the left side in the drawing via the guide rail 1113, and the base 2 is moved to the left side in the drawing via the guide rail 1116. It is moved to the upper side, and coating is performed while scanning the substrate 2. Next, the head H is moved to the right side in the drawing to apply the composition to the display region 2a at the center of the substrate. The same applies to the display area 2a at the right end. The head H shown in FIG. 13 and the inkjet device shown in FIG. 14 may be used not only in the hole injecting / transporting layer forming step but also in the light emitting layer forming step.

【0079】ここで用いる第1組成物としては、例え
ば、ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)等
のポリチオフェン誘導体とポリスチレンスルホン酸(P
SS)等の混合物を極性溶媒に溶解させた組成物を用い
ることができる。極性溶媒としては、例えば、イソプロ
ピルアルコール(IPA)、n−ブチルアルコール、γ
−ブチロラクトン、N−メチルピロリドン(NMP)、
1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン(DMI)及
びその誘導体、カルビトールアセテート、ブチルカルビ
トールアセテート等のグリコール類等を挙げることがで
きる。
As the first composition used here, for example, a polythiophene derivative such as polyethylenedioxythiophene (PEDOT) and polystyrene sulfonic acid (P
A composition in which a mixture such as SS) is dissolved in a polar solvent can be used. Examples of polar solvents include isopropyl alcohol (IPA), n-butyl alcohol, and γ.
-Butyrolactone, N-methylpyrrolidone (NMP),
Examples thereof include 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone (DMI) and its derivatives, glycols such as carbitol acetate and butyl carbitol acetate.

【0080】より具体的な第1組成物の組成としては、
PEDIT/PSS混合物(PEDIT/PSS=1:
20):12.52重量%、PSS:1.44重量%、
IPA:10重量%、NMP:27.48重量%、DM
I:50重量%のものを例示できる。尚、第1組成物の
粘度は2〜20Ps程度が好ましく、特に4〜15cP
s程度が良い。上記の第1組成物を用いることにより、
吐出ノズルH2に詰まりが生じることがなく安定吐出で
きる。なお、正孔注入/輸送層形成材料は、赤(R)、
緑(G)、青(B)の各発光層110b1〜110b3に
対して同じ材料を用いても良く、各発光層毎に変えても
良い。
As a more specific composition of the first composition,
PEDIT / PSS mixture (PEDIT / PSS = 1:
20): 12.52% by weight, PSS: 1.44% by weight,
IPA: 10% by weight, NMP: 27.48% by weight, DM
I: 50 weight% can be illustrated. The viscosity of the first composition is preferably about 2 to 20 Ps, particularly 4 to 15 cP.
s is good. By using the above first composition,
The discharge nozzle H2 can be stably discharged without clogging. The material for forming the hole injecting / transporting layer is red (R),
The same material may be used for each of the green (G) and blue (B) light emitting layers 110b1 to 110b3, or may be changed for each light emitting layer.

【0081】図15に示すように、吐出された第1組成
物の液滴110cは、最終的には親液処理された電極面
111a及び第1積層部112e上に広がり、下部、上
部開口部112c、112d内に充填される。仮に、第
1組成物の液滴110cが所定の吐出位置からはずれて
上面112f上に吐出されたとしても、上面112fが
第1組成物滴110cで濡れることがなく、はじかれた
第1組成物滴110cが下部、上部開口部112c、1
12d内に転がり込む。
As shown in FIG. 15, the ejected droplet 110c of the first composition eventually spreads on the lyophilic-treated electrode surface 111a and the first laminated portion 112e, and the lower and upper openings are formed. 112c and 112d are filled. Even if the droplets 110c of the first composition are ejected from the predetermined ejection position onto the upper surface 112f, the upper surface 112f is not wetted by the first composition droplets 110c and is repelled by the first composition. Droplet 110c is at the bottom, top opening 112c, 1
Roll into 12d.

【0082】電極面111a上に吐出する第1組成物の
全量は、下部、上部開口部112c、112dの大き
さ、形成しようとする正孔注入/輸送層の厚さ、第1組
成物中の正孔注入/輸送層形成材料の濃度等により決定
される。
The total amount of the first composition discharged onto the electrode surface 111a is determined by the size of the lower and upper openings 112c and 112d, the thickness of the hole injecting / transporting layer to be formed, and the amount of the first composition. It is determined by the concentration of the hole injection / transport layer forming material.

【0083】次いで、図16に示すような乾燥工程を行
う。乾燥工程を行う事により、吐出後の第1組成物を乾
燥処理し、第1組成物に含まれる極性溶媒を蒸発させ、
正孔注入/輸送層110aを形成する。乾燥処理を行う
と、第1組成物滴110cに含まれる極性溶媒の蒸発
が、主に無機物バンク層112a及び有機物バンク層1
12bに近いところで起き、極性溶媒の蒸発に併せて正
孔注入/輸送層形成材料が濃縮されて析出する。これに
より図17に示すように、第1積層部112e上に、正
孔注入/輸送層形成材料からなる周縁部110a2が形
成される。この周縁部110a2は、上部開口部112
dの壁面(有機物バンク層112b)に密着しており、
その厚さが電極面111aに近い側では薄く、電極面1
11aから離れた側、即ち有機物バンク層112bに近
い側で厚くなっている。
Then, a drying process as shown in FIG. 16 is performed. By performing a drying step, the first composition after discharge is subjected to a drying treatment to evaporate the polar solvent contained in the first composition,
A hole injection / transport layer 110a is formed. When the drying process is performed, evaporation of the polar solvent contained in the first composition droplets 110c is mainly caused by the inorganic bank layer 112a and the organic bank layer 1.
It occurs in the vicinity of 12b, and the hole injection / transport layer forming material is concentrated and deposited along with the evaporation of the polar solvent. As a result, as shown in FIG. 17, the peripheral edge portion 110a2 made of the hole injection / transport layer forming material is formed on the first laminated portion 112e. The peripheral portion 110a2 is formed by the upper opening 112.
It is in close contact with the wall surface (organic bank layer 112b) of d,
The thickness is thin on the side close to the electrode surface 111a,
It is thicker on the side away from 11a, that is, on the side closer to the organic bank layer 112b.

【0084】また、これと同時に、乾燥処理によって電
極面111a上でも極性溶媒の蒸発が起き、これにより
電極面111a上に正孔注入/輸送層形成材料からなる
平坦部110a1が形成される。電極面111a上では
極性溶媒の蒸発速度がほぼ均一であるため、正孔注入/
輸送層の形成材料が電極面111a上で均一に濃縮さ
れ、これにより均一な厚さの平坦部110aが形成され
る。このようにして、周縁部110a2及び平坦部11
0a1からなる正孔注入/輸送層110aが形成され
る。なお、周縁部110a2には形成されず、電極面1
11a上のみに正孔注入/輸送層が形成される形態であ
っても構わない。
At the same time, the drying process causes evaporation of the polar solvent on the electrode surface 111a, thereby forming a flat portion 110a1 made of the hole injection / transport layer forming material on the electrode surface 111a. Since the evaporation rate of the polar solvent is almost uniform on the electrode surface 111a, hole injection /
The material for forming the transport layer is uniformly concentrated on the electrode surface 111a, so that the flat portion 110a having a uniform thickness is formed. In this way, the peripheral portion 110a2 and the flat portion 11 are
A hole injection / transport layer 110a of 0a1 is formed. The electrode surface 1 is not formed on the peripheral portion 110a2.
The hole injection / transport layer may be formed only on 11a.

【0085】上記の乾燥処理は、例えば、窒素雰囲気
中、室温で、圧力を例えば133.3Pa(1Tor
r)程度にして行う。圧力が低すぎると第1組成物滴1
10cが突沸してしまうので好ましくない。また、温度
を室温以上にすると、極性溶媒の蒸発速度が高まり、平
坦な膜を形成する事ができない。乾燥処理後は、窒素
中、好ましくは真空中で200℃で10分程度加熱する
熱処理を行うことで、正孔注入/輸送層110a内に残
存する極性溶媒や水を除去することが好ましい。
The above-mentioned drying treatment is performed, for example, in a nitrogen atmosphere at room temperature at a pressure of, for example, 133.3 Pa (1 Torr).
r). If the pressure is too low, the first composition drop 1
This is not preferable because 10c will boil. Further, if the temperature is higher than room temperature, the evaporation rate of the polar solvent is increased, and it is not possible to form a flat film. After the drying treatment, it is preferable to remove the polar solvent and water remaining in the hole injecting / transporting layer 110a by performing a heat treatment of heating at 200 ° C. for about 10 minutes in nitrogen, preferably in vacuum.

【0086】(5) 発光層形成工程 この発光層形成工程は、発光層形成材料吐出工程および
乾燥工程により構成される。まず、発光層形成材料吐出
工程を行う。インクジェット法(液滴吐出法)により、
発光層形成材料を含む第2組成物を正孔注入/輸送層1
10a上に吐出した後に乾燥処理して、正孔注入/輸送
層110a上に発光層110bを形成する。図17に、
インクジェットによる吐出方法の概略を示す。図17に
示すように、インクジェットヘッドH5と基体2とを相
対的に移動し、インクジェットヘッドに形成された吐出
ノズルH6から各色(たとえばここでは青色(B))発
光層形成材料を含有する第2組成物が吐出される。
(5) Light-Emitting Layer Forming Step This light-emitting layer forming step is composed of a light-emitting layer forming material discharging step and a drying step. First, a light emitting layer forming material discharging step is performed. By the inkjet method (droplet ejection method),
The second composition containing the light emitting layer forming material is used as the hole injecting / transporting layer 1
After being discharged onto 10a, it is dried to form a light emitting layer 110b on the hole injection / transport layer 110a. In FIG.
An outline of the ink jetting method will be described. As shown in FIG. 17, the inkjet head H5 and the substrate 2 are moved relative to each other, and a second color containing a light emitting layer forming material of each color (for example, blue (B) here) is discharged from the discharge nozzle H6 formed in the inkjet head. The composition is ejected.

【0087】吐出の際には、下部、上部開口部112
c、112d内に位置する正孔注入/輸送層110aに
吐出ノズルを対向させ、インクジェットヘッドH5と基
体2とを相対移動させながら、第2組成物が吐出され
る。吐出ノズルH6から吐出される液量は1滴当たりの
液量が制御されている。このように液量が制御された液
(第2組成物滴110e)が吐出ノズルから吐出され、
この第2組成物滴110eを正孔注入/輸送層110a
上に吐出する。発光層形成工程は、正孔注入/輸送層形
成工程と同様に、最初の液滴をバンク部112に当てる
ように吐出する。2つ目の液滴は、1つ目の液滴と重な
るように吐出しても良いし、間隔を空けて吐出しても良
い。更に1つの画素領域に対し、2回の走査に分けても
良い。
At the time of discharge, the lower and upper openings 112
The second composition is ejected while the ejection nozzle is opposed to the hole injection / transport layer 110a located in c and 112d, and the inkjet head H5 and the substrate 2 are relatively moved. The amount of liquid ejected from the ejection nozzle H6 is controlled such that the amount of liquid per droplet is controlled. A liquid (second composition droplet 110e) whose liquid amount is controlled in this way is discharged from the discharge nozzle,
The second composition droplet 110e is used as the hole injection / transport layer 110a.
Dispense up. In the light emitting layer forming step, like the hole injecting / transporting layer forming step, the first droplet is discharged so as to hit the bank portion 112. The second droplet may be ejected so as to overlap the first droplet, or may be ejected at intervals. Further, one pixel area may be divided into two scans.

【0088】即ち、図17に示すように、1つの開口部
112gに対して吐出する最初の第2組成物の液滴は、
有機質バンク層112bの傾斜した壁面112hに接触
させるように吐出する。有機質バンク層112bの壁面
112hは先の撥液化工程によって撥液性に処理されて
いるので、吐出された液滴は壁面112hに接触するも
のの直ちにはじかれ、この壁面112h上を転がって正
孔注入/輸送層110a上に転がり落ちる。なお、この
最初の液滴は、有機質バンク層112bの壁面112h
の少なくとも一部に接触すれば良く、壁面112hと同
時に有機物バンク層の上面112fに接するように吐出
しても構わない。
That is, as shown in FIG. 17, the first droplets of the second composition discharged to one opening 112g are:
The ejection is performed so as to contact the inclined wall surface 112h of the organic bank layer 112b. Since the wall surface 112h of the organic bank layer 112b has been treated to be liquid repellent in the previous liquid repellent process, the ejected droplets are immediately repelled although they come into contact with the wall surface 112h, and roll on the wall surface 112h to inject holes. / Rolls down on the transport layer 110a. It should be noted that this first droplet is the wall surface 112h of the organic bank layer 112b.
It is sufficient to contact at least a part of the above, and the ejection may be performed so as to come into contact with the upper surface 112f of the organic bank layer at the same time as the wall surface 112h.

【0089】続いて、2つ目以降の液滴は、図17と同
様に、直前の液滴と重なり合わない程度の間隔を空けて
吐出する。即ち、各液滴の滴下時の間隔Dを、各液滴の
直径dより広くする(D>d)ことが好ましい。尚、こ
の場合は1回の走査で吐出できる液滴の数が限られるの
で、十分な膜厚の発光層112bを形成するためには、
1つの画素領域Aに対するインクジェットヘッドH5の
走査を複数回行うことが好ましい。
Subsequently, the second and subsequent droplets are ejected at intervals such that they do not overlap with the immediately preceding droplet, as in FIG. That is, it is preferable that the interval D at the time of dropping each droplet be set wider than the diameter d of each droplet (D> d). In this case, since the number of droplets that can be ejected in one scan is limited, in order to form the light emitting layer 112b having a sufficient film thickness,
It is preferable that the inkjet head H5 scans one pixel area A multiple times.

【0090】また、図17と同様に、2つ目以降の液滴
を、直前の液滴と重なり合う程度の間隔で吐出してもよ
い。即ち、各液滴の滴下時の間隔Dを、各液滴の直径d
より狭く(D<d)しても良い。尚、この場合は1回の
走査で吐出できる液滴の数に制限がないので、十分な膜
厚の発光層112bを形成するために、1つの画素領域
Aに対するインクジェットヘッドH5の走査を1回とし
てもよく、複数回としてもよい。インクジェットヘッド
H5の走査を複数回行う場合は、前述と同様に、各走査
回毎にインクジェットヘッドH5を副走査方向にシフト
させ、特定のノズルから別のノズルに切り替えて吐出を
行うことが好ましい。このように一つの画素領域Aに対
して複数のノズルを用いて吐出を行った場合は、上記と
同様に、誤差拡散の効果により各画素領域A毎に形成さ
れる発光層112bの膜厚を均一にできる。
Further, as in FIG. 17, the second and subsequent droplets may be ejected at intervals such that they overlap the immediately preceding droplet. That is, the interval D at the time of dropping each droplet is defined as the diameter d of each droplet.
It may be narrower (D <d). In this case, since the number of droplets that can be ejected in one scan is not limited, one scan of the inkjet head H5 for one pixel region A is performed in order to form the light emitting layer 112b having a sufficient film thickness. Or multiple times. When the inkjet head H5 is scanned a plurality of times, it is preferable to shift the inkjet head H5 in the sub-scanning direction for each scanning and switch from a specific nozzle to another nozzle to perform ejection, as described above. When the plurality of nozzles are used to perform ejection to one pixel area A as described above, the film thickness of the light emitting layer 112b formed in each pixel area A is changed by the effect of error diffusion as described above. Can be uniform.

【0091】特に、1つの画素領域Aに対するインクジ
ェットヘッドH5の走査を2回で行うとした場合は、1
回目と2回目の走査方向を反対方向としても良く、同じ
方向としてもよい。1,2回目の走査方向を反対方向と
した場合は、1回目の走査で画素領域Aの半分の領域ま
で第1組成物を吐出し、2回目の走査で残りの半分の領
域に吐出すればよい。また、1回目の走査により形成さ
れた領域をうめるように、2回目の走査を行うこともで
きる。更に、1,2回目の走査方向を同一方向とした場
合は、1回目の走査で各液滴同士が接触しない程度に間
隔を空けて吐出し、2回目の走査で吐出済みの液滴の間
を埋めるように吐出すればよい。もちろん、1つの画素
領域を2つの領域に分けて吐出を行うことも可能であ
る。
Particularly, when the scanning of the ink jet head H5 with respect to one pixel area A is performed twice,
The scanning directions of the second scanning and the second scanning may be opposite to each other or may be the same. When the scanning directions of the first and second scans are opposite to each other, the first composition may be discharged to a half region of the pixel region A in the first scan and the remaining half region may be discharged in the second scan. Good. Further, the second scanning can be performed so that the area formed by the first scanning is filled. Further, when the scanning directions of the first and second scans are the same, the droplets are ejected at intervals such that the droplets do not come into contact with each other in the first scan, and the droplets are ejected in the second scan. It is only necessary to discharge so as to fill the area. Of course, it is also possible to divide one pixel region into two regions for ejection.

【0092】発光層形成材料としては、ポリフルオレン
系誘導体、ポリフェニレン誘導体、ポリビニルカルバゾ
ール、ポリチオフェン誘導体、ペリレン系色素、クマリ
ン系色素、ローダミン系色素、あるいは上記高分子材料
に、例えば、ルブレン、ペリレン、9,10−ジフェニ
ルアントラセン、テトラフェニルブタジエン、ナイルレ
ッド、クマリン6、キナクリドン等をドープすることに
より用いることができる。
Examples of the material for forming the light emitting layer include polyfluorene derivatives, polyphenylene derivatives, polyvinylcarbazole, polythiophene derivatives, perylene dyes, coumarin dyes, rhodamine dyes, or the above polymer materials such as rubrene, perylene, 9 , 10-diphenylanthracene, tetraphenylbutadiene, Nile red, coumarin 6, quinacridone, etc. can be used by doping.

【0093】非極性溶媒としては、正孔注入/輸送層1
10aに対して不溶なものが好ましく、例えば、シクロ
へキシルベンゼン、ジハイドロベンゾフラン、トリメチ
ルベンゼン、テトラメチルベンゼン等を用いることがで
きる。このような非極性溶媒を発光層110bの第2組
成物に用いることにより、正孔注入/輸送層110aを
再溶解させることなく第2組成物を塗布できる。
As the non-polar solvent, the hole injecting / transporting layer 1 is used.
Those which are insoluble in 10a are preferable, and for example, cyclohexylbenzene, dihydrobenzofuran, trimethylbenzene, tetramethylbenzene and the like can be used. By using such a non-polar solvent for the second composition of the light emitting layer 110b, the second composition can be applied without redissolving the hole injection / transport layer 110a.

【0094】図17に示すように、吐出された第2組成
物110eは、正孔注入/輸送層110a上に広がって
下部、上部開口部112c、112d内に満たされる。
その一方で、撥液処理された上面112fでは第1組成
物滴110eが所定の吐出位置からはずれて上面112
f上に吐出されたとしても、上面112fが第2組成物
滴110eで濡れることがなく、第2組成物滴110e
が下部、上部開口部112c、112d内に転がり込
む。
As shown in FIG. 17, the discharged second composition 110e spreads over the hole injection / transport layer 110a and fills the lower and upper openings 112c and 112d.
On the other hand, on the liquid-repellent treated upper surface 112f, the first composition droplet 110e deviates from the predetermined ejection position, and the upper surface 112f.
Even if the second composition droplet 110e is ejected onto the upper surface 112f, the upper surface 112f does not get wet with the second composition droplet 110e.
Rolls into the lower and upper openings 112c and 112d.

【0095】各正孔注入/輸送層110a上に吐出する
第2組成物量は、下部、上部開口部112c、112d
の大きさ、形成しようとする発光層110bの厚さ、第
2組成物中の発光層材料の濃度等により決定される。ま
た、第2組成物110eは1回のみならず、数回に分け
て同一の正孔注入/輸送層110a上に吐出しても良
い。この場合、各回における第2組成物の量は同一でも
良く、各回毎に第2組成物の液量を変えても良い。更に
正孔注入/輸送層110aの同一箇所のみならず、各回
毎に正孔注入/輸送層110a内の異なる箇所に第2組
成物を吐出配置しても良い。
The amount of the second composition discharged onto each of the hole injecting / transporting layers 110a is set to the lower and upper openings 112c and 112d.
, The thickness of the light emitting layer 110b to be formed, the concentration of the light emitting layer material in the second composition, and the like. Further, the second composition 110e may be discharged onto the same hole injection / transport layer 110a not only once but also several times. In this case, the amount of the second composition in each time may be the same, or the liquid amount of the second composition may be changed in each time. Further, the second composition may be discharged and arranged not only at the same position in the hole injection / transport layer 110a but also at different positions in the hole injection / transport layer 110a each time.

【0096】次に、第2の組成物を所定の位置に吐出し
終わった後、吐出後の第2組成物滴110eを乾燥処理
することにより発光層110b3が形成される。すなわ
ち、乾燥により第2組成物に含まれる非極性溶媒が蒸発
し、図18に示すような青色(B)発光層110b3が
形成される。なお、図18においては青に発光する発光
層が1つのみ図示されているが、図1やその他の図より
明らかなように本来は発光素子がマトリックス状に形成
されたものであり、図示しない多数の発光層(青色に対
応)が形成されている。
Next, after the second composition has been discharged to a predetermined position, the discharged second composition droplet 110e is dried to form the light emitting layer 110b3. That is, the non-polar solvent contained in the second composition is evaporated by drying, and the blue (B) light emitting layer 110b3 as shown in FIG. 18 is formed. Although only one light emitting layer that emits blue light is shown in FIG. 18, the light emitting elements are originally formed in a matrix and are not shown in the figure, as is clear from FIG. 1 and other drawings. A large number of light emitting layers (corresponding to blue) are formed.

【0097】続けて、図19に示すように、前述した青
色(B)発光層110b3の場合と同様の工程を用い、
赤色(R)発光層110b1を形成し、最後に緑色
(G)発光層110b2を形成する。なお、発光層11
0bの形成順序は、前述の順序に限られるものではな
く、どのような順番で形成しても良い。例えば、発光層
形成材料に応じて形成する順番を決める事も可能であ
る。
Subsequently, as shown in FIG. 19, the same steps as those for the blue (B) light emitting layer 110b3 described above are used.
The red (R) light emitting layer 110b1 is formed, and finally the green (G) light emitting layer 110b2 is formed. The light emitting layer 11
The formation order of 0b is not limited to the above-mentioned order, and may be formed in any order. For example, it is possible to determine the order of formation according to the light emitting layer forming material.

【0098】また、発光層の第2組成物の乾燥条件は、
青色110b3の場合、例えば、窒素雰囲気中、室温で
圧力を133.3Pa(1Torr)程度として5〜1
0分行う条件とする。圧力が低すぎると第2組成物が突
沸してしまうので好ましくない。また、温度を室温以上
にすると、非極性溶媒の蒸発速度が高まり、発光層形成
材料が上部開口部112d壁面に多く付着してしまうの
で好ましくない。また緑色発光層110b2、および赤
色発光層b1の場合、発光層形成材料の成分数が多いた
めに素早く乾燥させることが好ましく、例えば、40℃
で窒素の吹き付けを5〜10分行う条件とするのがよ
い。その他の乾燥の手段としては、遠赤外線照射法、高
温窒素ガス吹付法等を例示できる。このようにして、画
素電極111上に正孔注入/輸送層110a及び発光層
110bが形成される。
The drying conditions for the second composition of the light emitting layer are as follows:
In the case of blue 110b3, for example, in a nitrogen atmosphere, at room temperature, the pressure is about 133.3 Pa (1 Torr), and the pressure is 5-1.
The condition is 0 minutes. If the pressure is too low, the second composition will bump, which is not preferable. Further, if the temperature is set to room temperature or higher, the evaporation rate of the nonpolar solvent is increased, and a large amount of the light emitting layer forming material adheres to the wall surface of the upper opening 112d, which is not preferable. Further, in the case of the green light emitting layer 110b2 and the red light emitting layer b1, it is preferable to dry quickly because of the large number of components of the light emitting layer forming material, for example, 40 ° C.
It is preferable that the condition that the nitrogen is sprayed for 5 to 10 minutes is used. Examples of other drying means include a far infrared irradiation method and a high temperature nitrogen gas spraying method. In this way, the hole injection / transport layer 110a and the light emitting layer 110b are formed on the pixel electrode 111.

【0099】(5)対向電極(陰極)形成工程 対向電極形成工程は、図18に示すように、発光層11
0b及び有機物バンク層112bの全面に陰極12(対
向電極)を形成する。なお,陰極12は複数の材料を積
層して形成しても良い。例えば、発光層に近い側には仕
事関数が小さい材料を形成することが好ましく、例えば
Ca、Ba等を用いることが可能であり、また材料によ
っては下層にLiF等を薄く形成した方が良い場合もあ
る。また、上部側(封止側)には下部側よりも仕事関数
が高い材料、例えばAlを用いる事もできる。これらの
陰極12は、例えば蒸着法、スパッタ法、CVD法等で
形成することが好ましく、特に蒸着法で形成すること
が、熱による発光層110bの損傷を防止できる点で好
ましい。また、フッ化リチウムは、発光層110b上の
みに形成しても良く、更に所定の色に対応して形成する
事ができる。例えば、青色(B)発光層110b3上の
みに形成しても良い。この場合、他の赤色(R)発光層
及び緑色(G)発光層110b1、110b2には、カル
シウムからなる上部陰極層12bが接することとなる。
(5) Counter Electrode (Cathode) Forming Step In the counter electrode forming step, as shown in FIG.
0b and the organic bank layer 112b, the cathode 12 (counter electrode) is formed. The cathode 12 may be formed by stacking a plurality of materials. For example, it is preferable to form a material having a small work function on the side close to the light emitting layer, and for example, Ca, Ba or the like can be used, and depending on the material, it is better to form LiF or the like thinly in the lower layer. There is also. Further, a material having a work function higher than that of the lower side, for example, Al can be used for the upper side (sealing side). These cathodes 12 are preferably formed by, for example, a vapor deposition method, a sputtering method, a CVD method, or the like, and particularly preferably formed by a vapor deposition method because damage to the light emitting layer 110b due to heat can be prevented. Further, lithium fluoride may be formed only on the light emitting layer 110b, and can be formed corresponding to a predetermined color. For example, it may be formed only on the blue (B) light emitting layer 110b3. In this case, the other red (R) light emitting layer and the green (G) light emitting layer 110b1 and 110b2 are in contact with the upper cathode layer 12b made of calcium.

【0100】また陰極12の上部には、蒸着法、スパッ
タ法、CVD法等により形成したAl膜、Ag膜等を用
いることが好ましい。また、その厚さは、例えば100
〜1000nmの範囲が好ましく、特に200〜500
nm程度がよい。また陰極12上に、酸化防止のために
SiO2、SiNx等の保護層を設けても良い。
Further, on the cathode 12, it is preferable to use an Al film, an Ag film or the like formed by a vapor deposition method, a sputtering method, a CVD method or the like. The thickness is, for example, 100
To 1000 nm is preferable, and 200 to 500 is particularly preferable.
nm is preferable. A protective layer such as SiO 2 or SiN x may be provided on the cathode 12 to prevent oxidation.

【0101】(7)封止工程 封止工程は、発光素子が形成された基板2と封止基板3
bとを封止樹脂3aにより封止する工程である。例え
ば、熱硬化型樹脂または紫外線硬化型樹脂からなる封止
樹脂3aを基板2の全面に塗布し、封止樹脂3a上に封
止用基板3bを積層する。この工程により基板2上に封
止部3を形成する。封止工程は、窒素、アルゴン、ヘリ
ウム等の不活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。大気
中で行うと、陰極12にピンホール等の欠陥が生じてい
た場合にこの欠陥部分から水や酸素等が陰極12に侵入
して陰極12が酸化されるおそれがあるので好ましくな
い。更に、図2に例示した基板5の配線5aに陰極12
を接続するとともに、駆動IC6に回路素子部14の配
線を接続することにより、本実施形態の有機EL装置1
が得られる。
(7) Sealing Step In the sealing step, the substrate 2 on which the light emitting element is formed and the sealing substrate 3
This is a step of sealing b with the sealing resin 3a. For example, the sealing resin 3a made of a thermosetting resin or an ultraviolet curing resin is applied to the entire surface of the substrate 2, and the sealing substrate 3b is laminated on the sealing resin 3a. Through this step, the sealing portion 3 is formed on the substrate 2. The sealing step is preferably performed in an inert gas atmosphere such as nitrogen, argon or helium. If it is performed in the atmosphere, when defects such as pinholes occur in the cathode 12, water, oxygen, etc. may enter the cathode 12 from the defective portions and the cathode 12 may be oxidized, which is not preferable. Further, the cathode 12 is connected to the wiring 5a of the substrate 5 illustrated in FIG.
And the wiring of the circuit element portion 14 is connected to the drive IC 6, the organic EL device 1 of the present embodiment is connected.
Is obtained.

【0102】本実施形態の有機EL装置の製造方法によ
れば、画素電極111の表面粗さを、発光層110の電
気的特性が変化しない範囲で設定したので、画素電極1
11の表面粗さに起因する発光層110の電気的特性の
低下を防止することができ、有機EL装置の初期特性及
び寿命特性を安定化させることができる。したがって、
初期特性及び寿命特性が安定した有機EL装置を提供す
ることができる。
According to the method of manufacturing the organic EL device of the present embodiment, the surface roughness of the pixel electrode 111 is set within the range in which the electrical characteristics of the light emitting layer 110 do not change.
It is possible to prevent the deterioration of the electrical characteristics of the light emitting layer 110 due to the surface roughness of 11, and to stabilize the initial characteristics and the life characteristics of the organic EL device. Therefore,
It is possible to provide an organic EL device having stable initial characteristics and life characteristics.

【0103】[第2の実施形態]以下、第1の実施形態
の有機EL装置を備えた電子機器の具体例について説明
する。図21(a)は、携帯電話の一例を示した斜視図
である。図21(a)において、符号600は携帯電話
本体を示し、符号601は前記の有機EL表示装置を用
いた表示部を示している。図21(b)は、ワープロ、
パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視
図である。図21(b)において、符号700は情報処
理装置、符号701はキーボードなどの入力部、符号7
02は前記の有機EL表示装置を用いた表示部、符号7
03は情報処理装置本体を示している。図21(c)
は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図
21(c)において、符号800は時計本体を示し、符
号801は前記の有機EL表示装置を用いた表示部を示
している。
[Second Embodiment] Specific examples of electronic equipment including the organic EL device of the first embodiment will be described below. FIG. 21A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 21A, reference numeral 600 indicates a mobile phone main body, and reference numeral 601 indicates a display unit using the organic EL display device. FIG. 21B shows a word processor,
It is a perspective view showing an example of a portable information processing device such as a personal computer. In FIG. 21B, reference numeral 700 is an information processing apparatus, reference numeral 701 is an input unit such as a keyboard, and reference numeral 7 is shown.
Reference numeral 02 denotes a display unit using the above-mentioned organic EL display device, reference numeral 7
Reference numeral 03 denotes an information processing apparatus main body. FIG. 21 (c)
FIG. 3 is a perspective view showing an example of a wrist watch type electronic device. In FIG. 21C, reference numeral 800 indicates the timepiece main body, and reference numeral 801 indicates the display unit using the organic EL display device.

【0104】図21(a)〜(c)に示すそれぞれの電
子機器は、前記の第1の実施形態の有機EL表示装置を
用いた表示部を備えたものであり、先の第1の実施形態
の有機EL表示装置の特徴を有するので、高輝度であっ
て表示品質に優れた効果を有する電子機器となる。これ
らの電子機器を製造するには、第1の実施形態と同様に
して、図2に示すような駆動IC6(駆動回路)を備え
た有機EL表示装置1を構成し、この有機EL表示装置
1を、携帯電話、携帯型情報処理装置、腕時計型電子機
器に組み込むことにより製造される。
Each of the electronic devices shown in FIGS. 21A to 21C is provided with a display section using the organic EL display device of the first embodiment, and the first embodiment described above is used. Since the organic EL display device has the characteristics of the organic EL display device of the embodiment, the electronic device has high brightness and excellent display quality. In order to manufacture these electronic devices, the organic EL display device 1 including the driving IC 6 (driving circuit) as shown in FIG. 2 is configured similarly to the first embodiment, and the organic EL display device 1 is manufactured. Is incorporated into a mobile phone, a portable information processing device, or a wristwatch type electronic device.

【0105】なお、本発明は,上記各実施の形態に限定
されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の変更を加えることが可能である。図22
は、本発明に係る他の例の有機EL装置を示す断面図で
あり、この有機EL装置は、基板2と、基板2上に形成
された表示素子10と、表示素子10の全面に塗布され
た封止樹脂3aと、封止樹脂3a上に備えられた封止用
基板3bとを具備して構成されている。基板2、表示素
子10、封止樹脂3a及び封止用基板3bは、第1の実
施形態に係る基板2、表示素子10、封止材3及び封止
用基板4と同じものである。表示素子10は、発光素子
部11と、該発光素子部11上に形成された陰極12と
を主体として構成されている。この有機EL装置によれ
ば、水及び酸素の侵入を効果的に防いで陰極12または
発光層の酸化、腐食等を防止することにより、有機EL
装置の高輝度化及び長寿命化を図ることができる。
The present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. FIG. 22
FIG. 3 is a cross-sectional view showing another example of an organic EL device according to the present invention, which is applied to the substrate 2, the display element 10 formed on the substrate 2, and the entire surface of the display element 10. The sealing resin 3a and the sealing substrate 3b provided on the sealing resin 3a are provided. The substrate 2, the display element 10, the sealing resin 3a, and the sealing substrate 3b are the same as the substrate 2, the display element 10, the sealing material 3, and the sealing substrate 4 according to the first embodiment. The display element 10 is mainly composed of a light emitting element section 11 and a cathode 12 formed on the light emitting element section 11. According to this organic EL device, the invasion of water and oxygen is effectively prevented to prevent the cathode 12 or the light emitting layer from being oxidized, corroded, etc.
Higher brightness and longer life of the device can be achieved.

【0106】図23は、本発明に係る別の他の例の有機
EL装置を示す断面図であり、この有機EL装置は、封
止材3と陰極12の間に保護層714を形成した構成で
ある。保護層714は、SiO2、Si34等からなる
ものであり、厚さが100〜200nmの範囲とされて
いる。この保護層714は、陰極12及び発光素子部1
1に対する水又は酸素の侵入を防いで、陰極12または
発光素子部11内に形成された図示略の発光層の酸化、
腐食等を防止する。上記の有機EL装置によれば、水及
び酸素の侵入を効果的に防いで陰極12または発光層の
酸化、腐食等を防止することにより、有機EL表示装置
の高輝度化及び長寿命化を図ることができる。
FIG. 23 is a cross-sectional view showing another example of the organic EL device according to the present invention. This organic EL device has a structure in which a protective layer 714 is formed between the sealing material 3 and the cathode 12. Is. The protective layer 714 is made of SiO 2 , Si 3 N 4 or the like, and has a thickness in the range of 100 to 200 nm. The protective layer 714 is used for the cathode 12 and the light emitting element section 1.
Oxidation of a light emitting layer (not shown) formed in the cathode 12 or the light emitting element portion 11 while preventing the invasion of water or oxygen into 1.
Prevents corrosion. According to the above-mentioned organic EL device, the invasion of water and oxygen is effectively prevented and the cathode 12 or the light emitting layer is prevented from being oxidized and corroded, so that the organic EL display device has high brightness and long life. be able to.

【0107】また、第1の実施形態においては、R、
G、Bの各発光層110bをストライプ配置した場合に
ついて説明したが、本発明はこれに限られず、様々な配
置構造を採用しても良い。例えば図24(a)に示すよ
うなストライプ配置の他、図24(b)に示すようなモ
ザイク配置や、図24(c)に示すようなデルタ配置と
することができる。
Further, in the first embodiment, R,
The case where the G and B light emitting layers 110b are arranged in stripes has been described, but the present invention is not limited to this, and various arrangement structures may be adopted. For example, in addition to the stripe arrangement shown in FIG. 24A, a mosaic arrangement shown in FIG. 24B or a delta arrangement shown in FIG. 24C can be used.

【0108】[0108]

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
電気光学装置によれば、一対の電極のうち少なくとも一
方の電極の前記発光層側の面に凹凸を有したので、前記
一方の電極の表面粗さに起因する発光層の電気的特性の
低下を防止することができ、電気光学装置の初期特性及
び寿命特性を安定化させることができる。したがって、
初期特性及び寿命特性が安定した電気光学装置を容易に
提供することができる。
As described above in detail, according to the electro-optical device of the present invention, since at least one electrode of the pair of electrodes has the unevenness on the surface on the side of the light emitting layer, one of the electrodes has It is possible to prevent the deterioration of the electrical characteristics of the light emitting layer due to the surface roughness of the electrodes, and to stabilize the initial characteristics and the life characteristics of the electro-optical device. Therefore,
It is possible to easily provide an electro-optical device having stable initial characteristics and life characteristics.

【0109】本発明の電気光学装置の製造方法によれ
ば、前記発光層側に凹凸を有するように、前記一対の電
極のうち少なくとも一方の電極を形成するので、前記一
方の電極の平坦性を損なうことなく、前記発光層の電気
的特性を向上させることができる。したがって、初期特
性及び寿命特性が安定した電気光学装置を容易に作製す
ることができる。
According to the method of manufacturing an electro-optical device of the present invention, since at least one electrode of the pair of electrodes is formed so as to have irregularities on the light emitting layer side, the flatness of the one electrode can be improved. The electrical characteristics of the light emitting layer can be improved without damaging the light emitting layer. Therefore, an electro-optical device having stable initial characteristics and life characteristics can be easily manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の配
線構造を示す模式図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a wiring structure of an organic EL device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置を示
す図であって、(a)は有機EL表示装置の平面図、
(b)は(a)のA−A線に沿う断面図である。
FIG. 2 is a diagram showing the organic EL device according to the first embodiment of the present invention, in which (a) is a plan view of the organic EL display device;
(B) is sectional drawing which follows the AA line of (a).

【図3】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の要
部を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a main part of the organic EL device according to the first embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の製
造方法を示す過程図である。
FIG. 4 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL device according to the first embodiment of the present invention.

【図5】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の製
造方法を示す過程図である。
FIG. 5 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL device according to the first embodiment of the present invention.

【図6】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の製
造方法を示す過程図である。
FIG. 6 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL device according to the first embodiment of the present invention.

【図7】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の製
造方法を示す過程図である。
FIG. 7 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL device according to the first embodiment of the present invention.

【図8】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の製
造の際に用いられるプラズマ処理装置の一例を示す模式
図である。
FIG. 8 is a schematic view showing an example of a plasma processing apparatus used when manufacturing the organic EL device according to the first embodiment of the present invention.

【図9】 図8に示すプラズマ処理装置の第1プラズマ
処理室の内部構造を示す模式図である。
9 is a schematic diagram showing an internal structure of a first plasma processing chamber of the plasma processing apparatus shown in FIG.

【図10】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の
製造方法を示す過程図である。
FIG. 10 is a process chart showing the method of manufacturing the organic EL device according to the first embodiment of the invention.

【図11】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の
製造方法を示す過程図である。
FIG. 11 is a process chart showing the method of manufacturing the organic EL device according to the first embodiment of the invention.

【図12】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の
製造の際に用いられるプラズマ処理装置の他の例を示す
模式図である。
FIG. 12 is a schematic view showing another example of the plasma processing apparatus used when manufacturing the organic EL device according to the first embodiment of the present invention.

【図13】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置を
製造する際に用いられるインクジェットヘッドを示す平
面図である。
FIG. 13 is a plan view showing an inkjet head used when manufacturing the organic EL device according to the first embodiment of the present invention.

【図14】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置を
製造する際に用いられるインクジェット装置を示す平面
図である。
FIG. 14 is a plan view showing an inkjet device used when manufacturing the organic EL device according to the first embodiment of the present invention.

【図15】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の
製造方法を示す過程図である。
FIG. 15 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL device according to the first embodiment of the invention.

【図16】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の
製造方法を示す過程図である。
FIG. 16 is a process diagram showing the manufacturing method of the organic EL device according to the first embodiment of the invention.

【図17】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の
製造方法を示す過程図である。
FIG. 17 is a process chart showing the method of manufacturing the organic EL device according to the first embodiment of the invention.

【図18】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の
製造方法を示す過程図である。
FIG. 18 is a process chart showing the method of manufacturing the organic EL device according to the first embodiment of the invention.

【図19】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の
製造方法を示す過程図である。
FIG. 19 is a process chart showing the method of manufacturing the organic EL device according to the first embodiment of the invention.

【図20】 本発明の第1の実施形態の有機EL装置の
製造方法を示す過程図である。
FIG. 20 is a process drawing that shows the manufacturing method of the organic EL device according to the first embodiment of the invention.

【図21】 本発明の第2の実施形態の電子機器を示す
斜視図である。
FIG. 21 is a perspective view showing an electronic device according to a second embodiment of the present invention.

【図22】 本発明に係る他の例の有機EL装置を示す
断面図である。
FIG. 22 is a cross-sectional view showing another example of an organic EL device according to the present invention.

【図23】 本発明に係る別の他の例の有機EL装置を
示す断面図である。
FIG. 23 is a cross-sectional view showing another example of an organic EL device according to the present invention.

【図24】 本発明に係るさらに別の他の例の有機EL
装置を示す断面図である。
FIG. 24 is another example of an organic EL according to the present invention.
It is sectional drawing which shows an apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 表示装置 2 基板 2a 表示領域 2b 非表示領域 3 封止部 6a 駆動IC(駆動回路) 10 表示素子 11 発光素子部 12 陰極((対向電極) 110 機能層 110a 正孔注入/輸送層 110a1 平坦部 110a2 周縁部 110b 発光層 111 画素電極 111a 電極面 112 バンク部 112a 無機物バンク層 112b 有機物バンク層 112c 下部開口部 112d 上部開口部 112e 上面 112f 上面 112g 開口部 A 画素領域 1 Display device 2 substrates 2a display area 2b Non-display area 3 Sealing part 6a Drive IC (drive circuit) 10 Display element 11 Light emitting element section 12 Cathode ((Counter electrode) 110 functional layers 110a Hole injection / transport layer 110a1 flat part 110a2 peripheral part 110b light emitting layer 111 pixel electrode 111a electrode surface 112 Bank Department 112a Inorganic bank layer 112b Organic bank layer 112c Lower opening 112d Upper opening 112e upper surface 112f upper surface 112g opening A pixel area

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一対の電極間に発光層を有する発光素子
が基板上に形成されてなる電気光学装置において、 前記一対の電極のうち少なくとも一方の電極の前記発光
層側の面に凹凸を有してなることを特徴とする電気光学
装置。
1. An electro-optical device comprising a light-emitting element having a light-emitting layer between a pair of electrodes formed on a substrate, wherein at least one of the pair of electrodes has an uneven surface on the light-emitting layer side. An electro-optical device characterized by:
【請求項2】 前記発光層を、有機高分子としたことを
特徴とする請求項1記載の電気光学装置。
2. The electro-optical device according to claim 1, wherein the light emitting layer is made of an organic polymer.
【請求項3】 前記一方の電極を、インジウムスズ酸化
物または酸化スズとしたことを特徴とする請求項1また
は2記載の電気光学装置。
3. The electro-optical device according to claim 1, wherein the one electrode is made of indium tin oxide or tin oxide.
【請求項4】 前記凹凸を有してなる面の表面粗さを
0.5〜50nmとしたことを特徴とする請求項1、2
または3記載の電気光学装置。
4. The surface roughness of the surface having the irregularities is 0.5 to 50 nm.
Alternatively, the electro-optical device described in 3.
【請求項5】 一対の電極間に発光層を有する発光素子
が基板の一方の面に形成されてなる電気光学装置の製造
方法であって、 前記発光層側に凹凸を有するように、前記一対の電極の
うち少なくとも一方の電極を形成することを特徴とする
電気光学装置の製造方法。
5. A method of manufacturing an electro-optical device comprising a light-emitting element having a light-emitting layer between a pair of electrodes formed on one surface of a substrate, wherein the pair of light-emitting layers has irregularities on the light-emitting layer side. At least one of the electrodes is formed.
【請求項6】 前記一方の電極を成膜した後に、その表
面粗さが所定の範囲内で変化しないように、前記一方の
電極に表面処理を施すことを特徴とする請求項5記載の
電気光学装置の製造方法。
6. The electrical treatment according to claim 5, wherein after the film formation of the one electrode, the one electrode is subjected to a surface treatment so that the surface roughness does not change within a predetermined range. Optical device manufacturing method.
【請求項7】 前記表面処理は、酸素プラズマ処理、紫
外線処理から選択された1種または2種であることを特
徴とする請求項6記載の電気光学装置の製造方法。
7. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 6, wherein the surface treatment is one or two selected from oxygen plasma treatment and ultraviolet treatment.
【請求項8】 請求項1ないし4のいずれか1項記載の
電気光学装置を備えてなることを特徴とする電子機器。
8. An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 1. Description:
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