JP2004235575A - 分割基板 - Google Patents
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Abstract
【課題】小基板自体の面積を増加させることなく、小基板が集合状態のまま少ないテストピン本数で簡便にテストすることができる分割基板を提供すること。
【解決手段】複数の小基板10と該小基板10の周辺に位置する捨て基板20とによって構成され、該複数の小基板10に半導体素子103を少なくとも1つ搭載されており、前記半導体素子103は、ID選択により検査信号出力部102をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子106が該半導体素子103内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有し、検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板10から前記捨て基板20に引き出されており、前記各々の小基板10の共通の信号線が、前記捨て基板20上に配置された一つのパッドに接続されており、前記半導体素子103にID設定入力端子106を介してID設定のためのID信号を入力し、該入力されたID信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部102をハイインピーダンス状態にする。
【選択図】 図1
【解決手段】複数の小基板10と該小基板10の周辺に位置する捨て基板20とによって構成され、該複数の小基板10に半導体素子103を少なくとも1つ搭載されており、前記半導体素子103は、ID選択により検査信号出力部102をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子106が該半導体素子103内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有し、検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板10から前記捨て基板20に引き出されており、前記各々の小基板10の共通の信号線が、前記捨て基板20上に配置された一つのパッドに接続されており、前記半導体素子103にID設定入力端子106を介してID設定のためのID信号を入力し、該入力されたID信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部102をハイインピーダンス状態にする。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は分割基板に関し、詳しくは小基板自体の面積を増加させることなく、各小基板のパターンを変えることなく、小基板が集合状態のまま少ないテストピン本数で簡便に検査することができる分割基板に関する。
【0002】
【従来の技術】
プリント基板の作製や、その基板に電子部品を実装する場合の効率やコストの面から、基板面積の比較的小さい基板は、1枚の基板に同種もしくは異種の回路基板を複数取れるように設計され、複数の小基板が形成されている。そして、電子部品が実装された後に部品が正しく実装されて正常に回路が動作することを確認するための電気的検査が行われる。
【0003】
この時、小基板が分割される前に複数基板を一括で検査しようとすると、すべての小基板毎に検査用の導通パッドと該小基板毎に設けられた検査用の導通パッドに接触検査する検査用ピンを用意した治具が必要となる。これは、小基板の面積を小さくする妨げになるとともに、治具の製作コストが高くなる問題があった。
【0004】
そこで、検査用の導通パッドを、小基板を切り離した後に残る周辺部分、いわゆる捨て基板の部分に検査用の導通パッドを設けて、小基板の面積を小さくした分割基板が提案されている(特許文献1)。
【0005】
しかし、この分割基板では、依然として、小基板毎に設けられた検査用の導通パッドに接触検査する検査用ピンを用意した治具が必要となり、治具の製作コストが高くなる問題は解決されない。
【0006】
一方、基板を小基板に分割した後に、小基板1枚ごとに検査する手法も考えられるが、その場合は、やはりそれぞれの小基板に検査用パッドを設ける必要があり、治具が簡単になる分、検査機に基板をセットする工数が増えるので、検査費用が高くなる問題があった。
【0007】
そこで、複数の小基板毎に設けられた検査用信号を導通する内部バスの各々を1つに接続し、該1つに接続された内部バスの端子に検査用の信号を入力すると共に、該検査用の信号を取捨選択するためのID設定を小基板毎に配線により施すようにした分割基板が提案されている(特許文献2)。
【0008】
特許文献2の技術は、図7に示すように、回路を構成する小基板500を隣接して配置し、小基板には抵抗部品501を実装して、プルアップし、任意の端子を隣接小基板でGNDに接続することにより、IDを設定している。そしてコネクタ502で接続されたデータバス信号からID選択信号が入力されると、CPU504が自分の基板に設定されているIDを読み取って、選択されているか否か判定する。さらにコネクタ502により接続された外部との入出力データバス503を介してCPU504との通信を行うことで、各回路基板(小基板)の検査を行う。
【0009】
しかし、この技術では、図示の破線円で示す部位の配線形状が各小基板毎で異なり、基板面積を大きくする必要がある。また1枚の基板から多くの小基板を得たい場合には、各々の小基板毎に、配線パターンを変える必要があり、設計作業が繁雑になるといった問題があった。
【0010】
【特許文献1】特開平10−233561号公報
【特許文献2】特開平8−148769号公報
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
そこで本発明は、小基板自体の面積を増加させることなく、小基板が集合状態のまま少ないテストピン本数で簡便にテストすることができる分割基板を提供することを課題とする。
【0012】
本発明の他の課題は、以下の記載によって明らかになる。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記課題は、以下の各発明によって解決される。
【0014】
(請求項1)複数の小基板と該小基板の周辺に位置する捨て基板とによって構成され、該複数の小基板に半導体素子を少なくとも1つ搭載されており、前記半導体素子は、ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子が該半導体素子内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有する分割基板であって、
検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板から前記捨て基板に引き出されており、
前記各々の小基板の共通の信号線が、前記捨て基板上に配置された少なくとも1つのパッドに接続されており、
前記半導体素子にID設定入力端子を介してID設定のためのID信号を入力し、該入力されたID信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にすることを特徴とする分割基板。
【0015】
(請求項2)設定IDに応じて該当するID設定入力端子が、GND又はVDDに接続されており、該GND又はVDDが前記捨て基板上に設置されていることを特徴とする請求項1記載の分割基板。
【0016】
(請求項3)前記捨て基板上にID設定専用の入力端子と該入力端子に接続される入力パッドを備え、その論理値によって設定されたIDと等しい半導体素子を選択する構成を有することを特徴とする請求項1又は2記載の分割基板。
【0017】
(請求項4)前記検査信号入力パッドから検査信号入力端子を介して入力される検査信号により、IDの選択を行う構成であることを特徴とする請求項1又は2記載の分割基板。
【0018】
(請求項5)複数の小基板と該小基板の周辺に位置する捨て基板とによって構成され、該複数の小基板に半導体素子を少なくとも1つ搭載されており、前記半導体素子は、ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子が該半導体素子内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有する分割基板であって、
検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板から前記捨て基板に引き出されており、
前記各々の小基板の共通の信号線が、前記捨て基板上に配置された少なくとも1つのパッドに接続されており、
前記半導体素子が、1本ずつ選択信号入力部を有し、該選択信号入力部から入力された選択信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にすることを特徴とする分割基板。
【0019】
(請求項6)前記ID選択は、各小基板の半導体素子毎に独立して実行される構成であることを特徴とする請求項5記載の分割基板。
【0020】
(請求項7)前記ID選択は、選択信号入力部と選択信号出力部を各小基板内の半導体素子が備え、出力から次の基板の入力へとカスケードに接続することにより順次小基板を選択する構成であることを特徴とする請求項5記載の分割基板。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について詳述する。
【0022】
(第1実施形態)
まず、第1の形態の分割基板について、図1に基づいて説明する。
【0023】
図1は、第1の形態の分割基板を説明するための概略構成図である。
【0024】
図1において、分割基板1は、破線で示される複数の小基板10、10、10、10と、該小基板10、10、10、10の外周に位置する捨て基板20とからなる。図示の例では小基板の数が4個の場合を挙げているが、その数は限定されない。
【0025】
本実施の形態では小基板に1つの半導体素子(ICチップなど)103を備えた例について説明する。
【0026】
本発明において、半導体素子103は、ID選択により検査信号出力端子102をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子106A〜106Dが内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有する。
【0027】
本発明において、「ハイインピーダンス状態」とは、出力が電気的に接続を切り離されたような状態である。
【0028】
小基板の検査は、例えば1本又は複数本のバス検査入力より、パルス信号やデータを入力して小基板を動作させ、正常動作した場合に期待される出力信号と一致するかどうかによって行う。
【0029】
本実施の形態では、検査対象は、小基板に搭載された半導体素子103であり、検査信号の入力端子101と出力端子102は、半導体素子103に接続されている。
【0030】
本発明において、104は1つの検査信号入力パッドであり、このパッド104から検査信号は、各小基板10に対して個別に送られるように構成されており、複数の検査信号の入力部(入力端子)101は、検査信号基線101Aに対して並列に接続されている。
【0031】
また、各小基板10の検査信号の出力部(出力端子)も同様に、検査信号に対して並列に接続され、1つの検査信号出力パッド105に集約される。この例では図示しない内部バスを利用して出力端子からの信号を出力パッド105に集約することもできる。内部バスは小基板同士を繋ぐ方向に設けることができる。
【0032】
本発明では、検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板から前記捨て基板に引き出されており、各々の小基板から引き出された入出力の検査信号は、前記捨て基板上に配置された1つの信号入力パッド104及び出力パッド105に集約される点に特徴がある。
【0033】
また、本発明では、半導体素子103が、ID選択により検査信号出力端子102をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子106A〜106Dが内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を具有するので、各小基板10の検査信号の出力部(出力端子)102は、各半導体素子103毎に、すなわち各小基板10毎にハイインピーダンス状態とすることが可能となる。
【0034】
従って、入力パッド104から検査信号を入力して、出力パッド105から出力を行うことによって、全ての小基板の検査をすることができる。
【0035】
本発明では、複数の小基板10から、特定の小基板を選択して検査を行うために、各々の小基板のIDを設定する。
【0036】
本実施の形態では、ID設定の対象は半導体素子について行うが、かかる半導体素子は小基板上に搭載されたものであるので、小基板のID設定と同じ意味である。
【0037】
ID設定のためには、前記半導体素子103にID設定入力端子106A〜106Dを介してID設定のためのID信号を入力する。ID番号に応じてID設定のための入力端子は、前記捨て基板20上に設置される。
【0038】
例えば、ID設定入力端子106Aでは、信号線は3つともオープンとなっているが、ID設定入力端子106Bは0番目の信号線が接地され、他はオープンの状態である。接地の場所は、捨て基板20上であり、これも本発明では小基板面積削減に寄与している。ID設定入力端子106Cは1番目の信号線が接地され、他はオープンの状態であり、ID設定入力端子106Dは0、1番目の信号線が接地され、2番目の信号線がオープンの状態である。
【0039】
このように、信号線の接地を様々に変化させることによって、ID番号の設定ができる。例えば、図5に示すように、2から0番目の信号線を「000」とするとID番号「0」、「001」とするとID番号「1」、信号線「010」がID番号「2」、…に対応するように2進数で表現することによって、3本(3ビット)の場合は0から7までの小基板のIDを設定できるようになる。
【0040】
次に、該入力されたID信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にする。
【0041】
前記ID選択のために、好ましくはID設定専用の選択信号入力端子108と該入力端子に接続される入力パッド107を設けることが好ましい。
【0042】
前記捨て基板20上に設けられた1つのID選択パッド107から、ID選択信号入力端子108を介して選択信号を入力することによって、IDを選択することができる。IDの選択は前記ID設定と同様に、図5に示すような2進数で表現することによって、0から7までのIDの小基板を選択することができるようになる。ID選択信号端子108により選択信号が入力された半導体素子103(小基板10)は、前記ID設定により設定された自身のIDと選択信号によるIDとが一致しない場合は、検査信号の出力部102をハイインピーダンス状態とする。
【0043】
なお、図1の分割基板において、検査を行うには、電源(VDD)用パッド109とグランド(GND)用パッド110からの電力を供給する必要がある。
【0044】
このように第1の形態の分割基板は、IDを設定するための接地も、IDを選択するためのID選択パッドも捨て基板上に設けられるので、小基板自体の面積を従来よりも縮小できる効果があり、各小基板のパターンを変えることなく、小基板が集合状態のまま少ないテストピン本数で簡便にテストすることができる。
【0045】
(第2実施形態)
次いで、第2の形態の分割基板について、図2に基づいて説明する。
図2は、第2の形態の分割基板を説明するための概略構成図である。
【0046】
図2において、特に説明のない部分に関しては、図1と同一符号は同一構成を示すのでその説明を省略する。
【0047】
本形態の分割基板は、複数の小基板の端子を並列に接続して前記捨て基板上に設けられた1つのID選択パッドにより構成されていた第1の形態の分割基板に対して、検査信号の入力パッドを介して該検査信号の入力部から入力される検査信号によりIDの選択を行う構成となっている点で異なる。
【0048】
IDの選択のための信号は、検査信号の入力パッド104から入力される。
この態様では検査信号はID選択信号としても機能する。
【0049】
入力パッド104はシリアル(単数)でもいいし、パラレル(複数)でもよいが、テストパッドの本数が少ない方が、検査治具の構成を簡単にすることができて好ましい。
【0050】
例えば、シリアルの入力パッドの場合、図6に示すように、時系列的に順次に「000」と入力すると、ID番号は「0」を選択したことになり、「001」と入力すると、ID番号は「1」を選択したことになる。同様に、「010」と入力すると、ID番号は「2」を選択したことになる。ID番号に対応するように2進数で表現することによって、3コの信号(パルス)の場合は0から7までの小基板のIDを選択できるようになる。
【0051】
この実施の形態の作用の概要を説明すると、例えば、IDの選択のための信号を受け取ると、各小基板10に設けられた半導体素子(ICチップ)103は、それぞれ対応するIDであるか否かを判別し、対応しない場合は、出力部102をハイインピーダンス状態とすることによって、当該小基板10から検査信号に対する出力が出ないような状態にする。
【0052】
このように第2の形態の分割基板は、第1の形態の効果に加えて、IDを選択するための入力パッドを必要としないので、検査治具の構成が更に簡単になるという効果がある。
【0053】
(第3実施形態)
次いで、第3の形態の分割基板について図3に基づいて説明する。図3は、第3の形態の分割基板を説明するための概略構成図である。
【0054】
図3において、特に説明のない部分に関しては、図1と同一符号は同一構成を示すのでその説明を省略する。
【0055】
本形態の分割基板は、第1の形態及び第2の形態の分割基板に設けられていたID設定を行わない構成である。
【0056】
この形態での前記半導体素子103は、1本ずつ選択信号入力部(入力端子)112A〜112Dを有し、ID選択は、各小基板の半導体素子毎に独立して実行される構成である。
【0057】
該選択信号入力端子112A〜112Dは、捨て基板20上に設けられたID選択入力パッド111A〜111Dに個別に接続されている。
【0058】
個別に入力された選択信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にする構成である。
【0059】
このように、第3の形態の分割基板によれば、ID設定を行う必要がないので、第1の形態の分割基板に比べて小基板の面積を小さくできる効果がある。
【0060】
(第4実施形態)
次いで、第4の形態の分割基板について図4に基づいて説明する。
【0061】
図4は、第4の形態の分割基板を説明するための概略構成図である。
【0062】
図4において、特に説明のない部分に関しては、図1と同一符号は同一構成を示すのでその説明を省略する。
【0063】
本形態の分割基板は、第3の形態と、前記半導体素子103は、1本ずつ選択信号入力部(入力端子)を有している点は同じであるが、各半導体素子への入力端子の入力方式が異なっており、またID選択入力パッド113が一つである点でも異なっている。
【0064】
すなわち、各半導体素子への入力端子の入力方式は、選択信号入力部(入力端子)114Aと選択信号出力部(出力端子)114Bを各小基板内の半導体素子103が備えている。そして出力から次の基板の入力へとカスケードに接続することにより順次小基板を選択する構成である。
【0065】
検査信号と共に検査信号を入力したとの情報である検査情報信号が入力されると、当該検査情報信号にかかる検査信号を受け付け、出力を行う。一度、検査情報信号を受け取った小基板は、それ以降の検査情報信号及びそれにかかる検査信号を受け付けない。受け付けない検査情報信号及び検査信号は、次に接続された小基板に送られる。
【0066】
すなわち、ID選択パッド113からパルス信号が入力されると、入力されるたびに、選択される小基板が順次ID0からID3に移行し、検査が実行される。選択信号が一度入力されると、半導体内部レジスタが記憶し、再度パルスが入力されると、次の小基板にパルスを転送する(IDO→ID1)。これを順次繰り返すことにより検査を行う。
【0067】
このように、第4の形態の分割基板は、複数の小基板を順番に検査する場合に、ID設定を設けるための面積が必要なく、小基板選択の入力パッドが1つであるので、検査治具のピン数も少なくて済む。
【0068】
以上、4つの実施形態に分けて説明したが、どの形態においても、検査信号の入力パッド104(入力部101)及び出力パッド105(102)は、それぞれ1つづつだけ設けられた態様を例に挙げて説明したが、検査信号の入力パッド104と出力パッド105は2つ以上の複数が設けられたいわゆるバス構造となっていてもよい。
【0069】
【発明の効果】
本発明によれば、小基板自体の面積を増加させることなく、小基板が集合状態のまま少ないテストピン本数で簡便にテストすることができる分割基板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の形態の分割基板を説明するための概略構成図
【図2】第2の形態の分割基板を説明するための概略構成図
【図3】第3の形態の分割基板を説明するための概略構成図
【図4】第4の形態の分割基板を説明するための概略構成図
【図5】ID設定の一例を示す説明図
【図6】ID設定の他の例を示す説明図
【図7】従来例を示す図
【符号の説明】
10:小基板
20:捨て基板
101:検査信号入力端子
101A:検査信号基線
102:検査信号出力端子
103:半導体素子
104:信号入力パッド
105:検査信号出力パッド
106A〜106D:ID設定入力端子
107:ID選択パッド
108:ID設定専用の選択信号入力端子
109:電源用パッド
110:グランド用パッド
111A〜111D:ID選択入力パッド
112A〜112D:選択信号入力端子
113:ID選択入力パッド
114A:選択信号入力端子
114B:選択信号出力端子
【発明の属する技術分野】
本発明は分割基板に関し、詳しくは小基板自体の面積を増加させることなく、各小基板のパターンを変えることなく、小基板が集合状態のまま少ないテストピン本数で簡便に検査することができる分割基板に関する。
【0002】
【従来の技術】
プリント基板の作製や、その基板に電子部品を実装する場合の効率やコストの面から、基板面積の比較的小さい基板は、1枚の基板に同種もしくは異種の回路基板を複数取れるように設計され、複数の小基板が形成されている。そして、電子部品が実装された後に部品が正しく実装されて正常に回路が動作することを確認するための電気的検査が行われる。
【0003】
この時、小基板が分割される前に複数基板を一括で検査しようとすると、すべての小基板毎に検査用の導通パッドと該小基板毎に設けられた検査用の導通パッドに接触検査する検査用ピンを用意した治具が必要となる。これは、小基板の面積を小さくする妨げになるとともに、治具の製作コストが高くなる問題があった。
【0004】
そこで、検査用の導通パッドを、小基板を切り離した後に残る周辺部分、いわゆる捨て基板の部分に検査用の導通パッドを設けて、小基板の面積を小さくした分割基板が提案されている(特許文献1)。
【0005】
しかし、この分割基板では、依然として、小基板毎に設けられた検査用の導通パッドに接触検査する検査用ピンを用意した治具が必要となり、治具の製作コストが高くなる問題は解決されない。
【0006】
一方、基板を小基板に分割した後に、小基板1枚ごとに検査する手法も考えられるが、その場合は、やはりそれぞれの小基板に検査用パッドを設ける必要があり、治具が簡単になる分、検査機に基板をセットする工数が増えるので、検査費用が高くなる問題があった。
【0007】
そこで、複数の小基板毎に設けられた検査用信号を導通する内部バスの各々を1つに接続し、該1つに接続された内部バスの端子に検査用の信号を入力すると共に、該検査用の信号を取捨選択するためのID設定を小基板毎に配線により施すようにした分割基板が提案されている(特許文献2)。
【0008】
特許文献2の技術は、図7に示すように、回路を構成する小基板500を隣接して配置し、小基板には抵抗部品501を実装して、プルアップし、任意の端子を隣接小基板でGNDに接続することにより、IDを設定している。そしてコネクタ502で接続されたデータバス信号からID選択信号が入力されると、CPU504が自分の基板に設定されているIDを読み取って、選択されているか否か判定する。さらにコネクタ502により接続された外部との入出力データバス503を介してCPU504との通信を行うことで、各回路基板(小基板)の検査を行う。
【0009】
しかし、この技術では、図示の破線円で示す部位の配線形状が各小基板毎で異なり、基板面積を大きくする必要がある。また1枚の基板から多くの小基板を得たい場合には、各々の小基板毎に、配線パターンを変える必要があり、設計作業が繁雑になるといった問題があった。
【0010】
【特許文献1】特開平10−233561号公報
【特許文献2】特開平8−148769号公報
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
そこで本発明は、小基板自体の面積を増加させることなく、小基板が集合状態のまま少ないテストピン本数で簡便にテストすることができる分割基板を提供することを課題とする。
【0012】
本発明の他の課題は、以下の記載によって明らかになる。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記課題は、以下の各発明によって解決される。
【0014】
(請求項1)複数の小基板と該小基板の周辺に位置する捨て基板とによって構成され、該複数の小基板に半導体素子を少なくとも1つ搭載されており、前記半導体素子は、ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子が該半導体素子内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有する分割基板であって、
検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板から前記捨て基板に引き出されており、
前記各々の小基板の共通の信号線が、前記捨て基板上に配置された少なくとも1つのパッドに接続されており、
前記半導体素子にID設定入力端子を介してID設定のためのID信号を入力し、該入力されたID信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にすることを特徴とする分割基板。
【0015】
(請求項2)設定IDに応じて該当するID設定入力端子が、GND又はVDDに接続されており、該GND又はVDDが前記捨て基板上に設置されていることを特徴とする請求項1記載の分割基板。
【0016】
(請求項3)前記捨て基板上にID設定専用の入力端子と該入力端子に接続される入力パッドを備え、その論理値によって設定されたIDと等しい半導体素子を選択する構成を有することを特徴とする請求項1又は2記載の分割基板。
【0017】
(請求項4)前記検査信号入力パッドから検査信号入力端子を介して入力される検査信号により、IDの選択を行う構成であることを特徴とする請求項1又は2記載の分割基板。
【0018】
(請求項5)複数の小基板と該小基板の周辺に位置する捨て基板とによって構成され、該複数の小基板に半導体素子を少なくとも1つ搭載されており、前記半導体素子は、ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子が該半導体素子内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有する分割基板であって、
検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板から前記捨て基板に引き出されており、
前記各々の小基板の共通の信号線が、前記捨て基板上に配置された少なくとも1つのパッドに接続されており、
前記半導体素子が、1本ずつ選択信号入力部を有し、該選択信号入力部から入力された選択信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にすることを特徴とする分割基板。
【0019】
(請求項6)前記ID選択は、各小基板の半導体素子毎に独立して実行される構成であることを特徴とする請求項5記載の分割基板。
【0020】
(請求項7)前記ID選択は、選択信号入力部と選択信号出力部を各小基板内の半導体素子が備え、出力から次の基板の入力へとカスケードに接続することにより順次小基板を選択する構成であることを特徴とする請求項5記載の分割基板。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について詳述する。
【0022】
(第1実施形態)
まず、第1の形態の分割基板について、図1に基づいて説明する。
【0023】
図1は、第1の形態の分割基板を説明するための概略構成図である。
【0024】
図1において、分割基板1は、破線で示される複数の小基板10、10、10、10と、該小基板10、10、10、10の外周に位置する捨て基板20とからなる。図示の例では小基板の数が4個の場合を挙げているが、その数は限定されない。
【0025】
本実施の形態では小基板に1つの半導体素子(ICチップなど)103を備えた例について説明する。
【0026】
本発明において、半導体素子103は、ID選択により検査信号出力端子102をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子106A〜106Dが内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有する。
【0027】
本発明において、「ハイインピーダンス状態」とは、出力が電気的に接続を切り離されたような状態である。
【0028】
小基板の検査は、例えば1本又は複数本のバス検査入力より、パルス信号やデータを入力して小基板を動作させ、正常動作した場合に期待される出力信号と一致するかどうかによって行う。
【0029】
本実施の形態では、検査対象は、小基板に搭載された半導体素子103であり、検査信号の入力端子101と出力端子102は、半導体素子103に接続されている。
【0030】
本発明において、104は1つの検査信号入力パッドであり、このパッド104から検査信号は、各小基板10に対して個別に送られるように構成されており、複数の検査信号の入力部(入力端子)101は、検査信号基線101Aに対して並列に接続されている。
【0031】
また、各小基板10の検査信号の出力部(出力端子)も同様に、検査信号に対して並列に接続され、1つの検査信号出力パッド105に集約される。この例では図示しない内部バスを利用して出力端子からの信号を出力パッド105に集約することもできる。内部バスは小基板同士を繋ぐ方向に設けることができる。
【0032】
本発明では、検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板から前記捨て基板に引き出されており、各々の小基板から引き出された入出力の検査信号は、前記捨て基板上に配置された1つの信号入力パッド104及び出力パッド105に集約される点に特徴がある。
【0033】
また、本発明では、半導体素子103が、ID選択により検査信号出力端子102をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子106A〜106Dが内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を具有するので、各小基板10の検査信号の出力部(出力端子)102は、各半導体素子103毎に、すなわち各小基板10毎にハイインピーダンス状態とすることが可能となる。
【0034】
従って、入力パッド104から検査信号を入力して、出力パッド105から出力を行うことによって、全ての小基板の検査をすることができる。
【0035】
本発明では、複数の小基板10から、特定の小基板を選択して検査を行うために、各々の小基板のIDを設定する。
【0036】
本実施の形態では、ID設定の対象は半導体素子について行うが、かかる半導体素子は小基板上に搭載されたものであるので、小基板のID設定と同じ意味である。
【0037】
ID設定のためには、前記半導体素子103にID設定入力端子106A〜106Dを介してID設定のためのID信号を入力する。ID番号に応じてID設定のための入力端子は、前記捨て基板20上に設置される。
【0038】
例えば、ID設定入力端子106Aでは、信号線は3つともオープンとなっているが、ID設定入力端子106Bは0番目の信号線が接地され、他はオープンの状態である。接地の場所は、捨て基板20上であり、これも本発明では小基板面積削減に寄与している。ID設定入力端子106Cは1番目の信号線が接地され、他はオープンの状態であり、ID設定入力端子106Dは0、1番目の信号線が接地され、2番目の信号線がオープンの状態である。
【0039】
このように、信号線の接地を様々に変化させることによって、ID番号の設定ができる。例えば、図5に示すように、2から0番目の信号線を「000」とするとID番号「0」、「001」とするとID番号「1」、信号線「010」がID番号「2」、…に対応するように2進数で表現することによって、3本(3ビット)の場合は0から7までの小基板のIDを設定できるようになる。
【0040】
次に、該入力されたID信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にする。
【0041】
前記ID選択のために、好ましくはID設定専用の選択信号入力端子108と該入力端子に接続される入力パッド107を設けることが好ましい。
【0042】
前記捨て基板20上に設けられた1つのID選択パッド107から、ID選択信号入力端子108を介して選択信号を入力することによって、IDを選択することができる。IDの選択は前記ID設定と同様に、図5に示すような2進数で表現することによって、0から7までのIDの小基板を選択することができるようになる。ID選択信号端子108により選択信号が入力された半導体素子103(小基板10)は、前記ID設定により設定された自身のIDと選択信号によるIDとが一致しない場合は、検査信号の出力部102をハイインピーダンス状態とする。
【0043】
なお、図1の分割基板において、検査を行うには、電源(VDD)用パッド109とグランド(GND)用パッド110からの電力を供給する必要がある。
【0044】
このように第1の形態の分割基板は、IDを設定するための接地も、IDを選択するためのID選択パッドも捨て基板上に設けられるので、小基板自体の面積を従来よりも縮小できる効果があり、各小基板のパターンを変えることなく、小基板が集合状態のまま少ないテストピン本数で簡便にテストすることができる。
【0045】
(第2実施形態)
次いで、第2の形態の分割基板について、図2に基づいて説明する。
図2は、第2の形態の分割基板を説明するための概略構成図である。
【0046】
図2において、特に説明のない部分に関しては、図1と同一符号は同一構成を示すのでその説明を省略する。
【0047】
本形態の分割基板は、複数の小基板の端子を並列に接続して前記捨て基板上に設けられた1つのID選択パッドにより構成されていた第1の形態の分割基板に対して、検査信号の入力パッドを介して該検査信号の入力部から入力される検査信号によりIDの選択を行う構成となっている点で異なる。
【0048】
IDの選択のための信号は、検査信号の入力パッド104から入力される。
この態様では検査信号はID選択信号としても機能する。
【0049】
入力パッド104はシリアル(単数)でもいいし、パラレル(複数)でもよいが、テストパッドの本数が少ない方が、検査治具の構成を簡単にすることができて好ましい。
【0050】
例えば、シリアルの入力パッドの場合、図6に示すように、時系列的に順次に「000」と入力すると、ID番号は「0」を選択したことになり、「001」と入力すると、ID番号は「1」を選択したことになる。同様に、「010」と入力すると、ID番号は「2」を選択したことになる。ID番号に対応するように2進数で表現することによって、3コの信号(パルス)の場合は0から7までの小基板のIDを選択できるようになる。
【0051】
この実施の形態の作用の概要を説明すると、例えば、IDの選択のための信号を受け取ると、各小基板10に設けられた半導体素子(ICチップ)103は、それぞれ対応するIDであるか否かを判別し、対応しない場合は、出力部102をハイインピーダンス状態とすることによって、当該小基板10から検査信号に対する出力が出ないような状態にする。
【0052】
このように第2の形態の分割基板は、第1の形態の効果に加えて、IDを選択するための入力パッドを必要としないので、検査治具の構成が更に簡単になるという効果がある。
【0053】
(第3実施形態)
次いで、第3の形態の分割基板について図3に基づいて説明する。図3は、第3の形態の分割基板を説明するための概略構成図である。
【0054】
図3において、特に説明のない部分に関しては、図1と同一符号は同一構成を示すのでその説明を省略する。
【0055】
本形態の分割基板は、第1の形態及び第2の形態の分割基板に設けられていたID設定を行わない構成である。
【0056】
この形態での前記半導体素子103は、1本ずつ選択信号入力部(入力端子)112A〜112Dを有し、ID選択は、各小基板の半導体素子毎に独立して実行される構成である。
【0057】
該選択信号入力端子112A〜112Dは、捨て基板20上に設けられたID選択入力パッド111A〜111Dに個別に接続されている。
【0058】
個別に入力された選択信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にする構成である。
【0059】
このように、第3の形態の分割基板によれば、ID設定を行う必要がないので、第1の形態の分割基板に比べて小基板の面積を小さくできる効果がある。
【0060】
(第4実施形態)
次いで、第4の形態の分割基板について図4に基づいて説明する。
【0061】
図4は、第4の形態の分割基板を説明するための概略構成図である。
【0062】
図4において、特に説明のない部分に関しては、図1と同一符号は同一構成を示すのでその説明を省略する。
【0063】
本形態の分割基板は、第3の形態と、前記半導体素子103は、1本ずつ選択信号入力部(入力端子)を有している点は同じであるが、各半導体素子への入力端子の入力方式が異なっており、またID選択入力パッド113が一つである点でも異なっている。
【0064】
すなわち、各半導体素子への入力端子の入力方式は、選択信号入力部(入力端子)114Aと選択信号出力部(出力端子)114Bを各小基板内の半導体素子103が備えている。そして出力から次の基板の入力へとカスケードに接続することにより順次小基板を選択する構成である。
【0065】
検査信号と共に検査信号を入力したとの情報である検査情報信号が入力されると、当該検査情報信号にかかる検査信号を受け付け、出力を行う。一度、検査情報信号を受け取った小基板は、それ以降の検査情報信号及びそれにかかる検査信号を受け付けない。受け付けない検査情報信号及び検査信号は、次に接続された小基板に送られる。
【0066】
すなわち、ID選択パッド113からパルス信号が入力されると、入力されるたびに、選択される小基板が順次ID0からID3に移行し、検査が実行される。選択信号が一度入力されると、半導体内部レジスタが記憶し、再度パルスが入力されると、次の小基板にパルスを転送する(IDO→ID1)。これを順次繰り返すことにより検査を行う。
【0067】
このように、第4の形態の分割基板は、複数の小基板を順番に検査する場合に、ID設定を設けるための面積が必要なく、小基板選択の入力パッドが1つであるので、検査治具のピン数も少なくて済む。
【0068】
以上、4つの実施形態に分けて説明したが、どの形態においても、検査信号の入力パッド104(入力部101)及び出力パッド105(102)は、それぞれ1つづつだけ設けられた態様を例に挙げて説明したが、検査信号の入力パッド104と出力パッド105は2つ以上の複数が設けられたいわゆるバス構造となっていてもよい。
【0069】
【発明の効果】
本発明によれば、小基板自体の面積を増加させることなく、小基板が集合状態のまま少ないテストピン本数で簡便にテストすることができる分割基板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の形態の分割基板を説明するための概略構成図
【図2】第2の形態の分割基板を説明するための概略構成図
【図3】第3の形態の分割基板を説明するための概略構成図
【図4】第4の形態の分割基板を説明するための概略構成図
【図5】ID設定の一例を示す説明図
【図6】ID設定の他の例を示す説明図
【図7】従来例を示す図
【符号の説明】
10:小基板
20:捨て基板
101:検査信号入力端子
101A:検査信号基線
102:検査信号出力端子
103:半導体素子
104:信号入力パッド
105:検査信号出力パッド
106A〜106D:ID設定入力端子
107:ID選択パッド
108:ID設定専用の選択信号入力端子
109:電源用パッド
110:グランド用パッド
111A〜111D:ID選択入力パッド
112A〜112D:選択信号入力端子
113:ID選択入力パッド
114A:選択信号入力端子
114B:選択信号出力端子
Claims (7)
- 複数の小基板と該小基板の周辺に位置する捨て基板とによって構成され、該複数の小基板に半導体素子を少なくとも1つ搭載されており、前記半導体素子は、ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子が該半導体素子内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有する分割基板であって、
検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板から前記捨て基板に引き出されており、
前記各々の小基板の共通の信号線が、前記捨て基板上に配置された少なくとも1つのパッドに接続されており、
前記半導体素子にID設定入力端子を介してID設定のためのID信号を入力し、該入力されたID信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にすることを特徴とする分割基板。 - 設定IDに応じて該当するID設定入力端子が、GND又はVDDに接続されており、該GND又はVDDが前記捨て基板上に設置されていることを特徴とする請求項1記載の分割基板。
- 前記捨て基板上にID設定専用の入力端子と該入力端子に接続される入力パッドを備え、その論理値によって設定されたIDと等しい半導体素子を選択する構成を有することを特徴とする請求項1又は2記載の分割基板。
- 前記検査信号入力パッドから検査信号入力端子を介して入力される検査信号により、IDの選択を行う構成であることを特徴とする請求項1又は2記載の分割基板。
- 複数の小基板と該小基板の周辺に位置する捨て基板とによって構成され、該複数の小基板に半導体素子を少なくとも1つ搭載されており、前記半導体素子は、ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態とする機能を有し、且つID設定入力端子が該半導体素子内部でプルアップ又はプルダウンされている構造を有する分割基板であって、
検査に必要な入出力の検査信号と電源が、前記各々の小基板から前記捨て基板に引き出されており、
前記各々の小基板の共通の信号線が、前記捨て基板上に配置された少なくとも1つのパッドに接続されており、
前記半導体素子が、1本ずつ選択信号入力部を有し、該選択信号入力部から入力された選択信号に基づきIDを選択し、該ID選択により検査信号出力部をハイインピーダンス状態にすることを特徴とする分割基板。 - 前記ID選択は、各小基板の半導体素子毎に独立して実行される構成であることを特徴とする請求項5記載の分割基板。
- 前記ID選択は、選択信号入力部と選択信号出力部を各小基板内の半導体素子が備え、出力から次の基板の入力へとカスケードに接続することにより順次小基板を選択する構成であることを特徴とする請求項5記載の分割基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003024821A JP2004235575A (ja) | 2003-01-31 | 2003-01-31 | 分割基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003024821A JP2004235575A (ja) | 2003-01-31 | 2003-01-31 | 分割基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004235575A true JP2004235575A (ja) | 2004-08-19 |
Family
ID=32953260
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003024821A Pending JP2004235575A (ja) | 2003-01-31 | 2003-01-31 | 分割基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004235575A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007142620A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | モジュールとその製造方法 |
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DE102021203959A1 (de) | 2021-04-21 | 2022-10-27 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Schaltungsträger mit einem Mehrfachnutzen |
-
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- 2003-01-31 JP JP2003024821A patent/JP2004235575A/ja active Pending
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KR20150031097A (ko) * | 2013-09-13 | 2015-03-23 | 삼성전자주식회사 | 연배열 인쇄회로기판, 그의 불량 단품 인쇄회로기판의 교체 방법 및 이를 이용한 전자 장치의 제조 방법 |
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