JP2004215415A - 電力用半導体素子のゲート駆動回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数個並列接続された電力用半導体素子Q1〜Qnのゲートをゲート駆動回路GDUを介して駆動する場合、電力用半導体素子Q1〜Qnの各ゲートに一定値以上の電流が流れたら溶断するような電線L1〜Lnを接続しておき、そのうちの1つまたは複数が短絡した場合は対応する半導体素子をGDUから積極的に切り離すことにより、他の素子へ影響が及ばないようにする。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、複数の素子で構成される電力変換装置において、1素子または複数素子が寿命や事故等によりゲートが短絡したときに、装置を停止することなく継続運転を可能にする電力用半導体素子のゲート駆動に関する。
【0002】
【従来の技術】
図15に、IGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)を用いた電力変換装置の一般的な例を示す。これは、IGBTを直列または並列に構成して直流電源Edに接続することで、出力端子に接続された負荷Lに、任意の電力を供給するものである。
図16に、IGBTの駆動回路(ゲート駆動回路)の一般的な例を示す。
ゲート駆動回路GDUは、図示されない制御装置から与えられるオン,オフ信号に同期して、IGBTのゲート・エミッタ間に順電圧Vonを与えることによってオンさせ、逆電圧Voffを与えることでオフさせる。IGBTが正常な場合には、IGBTのゲート・エミッタ間の電圧VGEは、VonまたはVoffまで充電されることになる。
【0003】
ところで、負荷Lに供給する電力容量を大きくしたい場合、電力変換装置を構成する各IGBTの容量を大きくする必要があり、IGBT単体の容量から複数素子を並列に接続して構成することで大容量化が可能となり、大容量の電力変換装置を提供することができる。図17に、大容量化したIGBTの内部等価回路を示す。ここでは、IGBT素子Q1〜Qnを、複数個並列に接続して構成している。
【0004】
ただし、Q1〜Qnには図18(a)に示すように、ゲート・エミッタ間入力容量Cgeがそれぞれ存在する。また、Q1〜Qnの特性にばらつきがあるため、Q1〜Qnのスイッチング時間にばらつきが生じる。さらに、各チップ間の入力容量Cgeとゲート配線に存在する寄生インダクタンスLgsの影響によって、図18(b)に示すような共振電流Igrが発生する。これらを防止するため、各チップのゲート端子に図17のように抵抗Rg1〜Rgnを接続し、スイッチング時間のばらつきと入力容量間の共振電流Igrを抑制して使用する。
【0005】
上記のように複数の素子を並列接続する場合、IGBTの寿命や事故により1チップまたは複数チップが破壊すると、ゲート・エミッタ間のインピーダンスが短絡する。図19に1つのチップQnが短絡した場合を示す。このとき、制御装置から与えられるオン信号により、GDUがIGBTのゲートを充電させるように動作した場合、IGBTのゲートに印加される電圧VGEは次の(1)式で示すようになる。
VGE=[Rgn/(Rgon+Rgn)]・Von …(1)
【0006】
このような場合、その他のIGBTチップは、ゲート電圧が規定の電圧Vonまで充電しなくなり、コレクタ・エミッタ間の電圧が図20のようにVCE1→VCE2に上昇して、IGBTの導通損失が増大することとなり、最終的には熱暴走により素子が破壊することがあり、大事故につながる可能性がある。そのため、破壊した素子に流入する電流を抑制するもの(特許文献1参照)、または駆動回路を遮断(オフ)するもの(特許文献2参照)などがある。しかし、これらは複数素子を並列接続したものに対処するものではない。
これに対し、複数素子に対処するものもあるが(特許文献3参照)、これは単に素子の異常を検出するにとどまるもので、検出後の処理については何も記載されていない。
【0007】
【特許文献1】
特開平10−209831号公報(第3−4頁、図1)
【特許文献2】
特開平10−070832号公報(第3頁、図2)
【特許文献3】
特開2002−222920号公報(第3−4頁、図1)
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、この発明の課題は、複数素子が並列接続されたIGBT等の電力用半導体素子の、1つまたは複数のチップのゲートのインピーダンスが短絡した場合でも、その他の素子に影響を与えることなくその動作を保証(継続)できるようにすることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
このような課題を解決するため、請求項1の発明では、電力変換装置の各アームに複数個並列に接続して用いられる電力用半導体素子のゲート駆動回路において、
各電力用半導体素子のゲートを、所定値以上の電流が流れたとき溶断する容量の電線によりそれぞれ接続したことを特徴とする。
請求項2の発明では、電力変換装置の各アームに複数個並列に接続して用いられる電力用半導体素子のゲート駆動回路において、
前記各電力用半導体素子のゲート配線に、それぞれヒューズを挿入したことを特徴とする。
【0010】
また、請求項3の発明で、電力変換装置の各アームに複数個並列に接続して用いられる電力用半導体素子のゲート駆動回路において、
前記各アーム毎に電力用半導体素子のゲートに流れる電流を検出する検出手段と、ゲートに流す電流を増加させる電流増加手段とを設け、一定値以上のゲート電流が流れたら対応する電力用半導体素子のゲート配線を積極的に溶断することを特徴とする。
この請求項3の発明においては、前記ゲートに流す電流を増加させるのは、電力用半導体素子の過渡状態が終了した後の定常状態時とすることができる(請求項4の発明)。
【0011】
【発明の実施の形態】
図1はこの発明の第1の実施の形態を示す構成図である。
これは、各チップのゲート線に、1つのチップが短絡したとき流れる電流によって溶断するように、その断面積や材料を選択した電線L1〜Lnを用いるようにしたものである。
図1の作用について、図2,図3を参照して説明する。
まず、全IGBT素子Q1〜Qnが正常な場合は、オン,オフ信号が入ったときにゲート・エミッタ間を充電する電流が流れた後の定常状態では、各IGBTのゲート電流は次式のように0となる。
Ig=Ig1=Ig2=……=Ign=0 (2)
【0012】
図1において、或るチップQnが寿命や故障等により、図2に示すようにゲート・エミッタ間のインピーダンスが短絡した場合、Qnには次の(3)式で示す電流が常時流れることとなる。
Ign=Voff/(Rgoff+Rgn) (3)
そこで、電線L1〜Lnとして、上記(3)式で示す電流が流れたら溶断するような断面積,材料の電線を選定しておく。これにより、Ignの電流が流れた場合、すなわち1つのチップのゲートが短絡した場合、そのチップのゲート配線は溶断し、ゲート駆動回路GDUとの接続が図3のように切り離される。ゲート配線が切り離されたチップは、ゲートが短絡しているため、オン,オフ信号に関係なくオフを継続する。また、ゲートが短絡したチップのゲート配線を溶断していれば、その他のチップはオン,オフ信号に同期して、IGBTのゲート電圧をGDUによりVonまたはVoffまで充電することができ、正常時と同様にIGBTを駆動することができる。
【0013】
図4にこの発明の第2の実施の形態を示す。
これは、ゲート配線を切り離す手段として、各素子のゲート配線にヒューズF1〜Fnを挿入したものである。このヒューズF1〜Fnは図1の電線L1〜Lnと同等の機能を有するので、図4の作用を説明する図5,図6も図2,図3の説明とほとんど同様となる。
【0014】
図7にこの発明の第3の実施の形態を示す。
この例は、ゲート配線を切り離すために、ゲート電流を検出するためのゲート両端電圧VGEを基準電圧Vrefと比較するコンパレータCmpと、このCmpの出力とオフ信号をアンド回路ANDに入力し、このAND回路の出力に応じてIGBTをオフさせる電圧Voffの電圧を上昇させる回路(図示省略)に接続したものである。
【0015】
その動作について説明する。
電流Ignが流れると、Cmpは図8に示すようにIgnを検出し、オフ信号入力後の定常状態のときに、直流電圧Voffを上昇させる。Voffが上昇すると、Ignが増大する(図9参照)。すなわち、VoffをVoff1まで上昇させたとすると、この時流れる電流Ign1は次の(4)式で示す値となる。
Ign1=Voff1/(Rgoff+Rgn) (4)
ここで、ゲート配線をIgn1が流れたときに溶断できるようにしておく。そうすれば、1チップのゲートが短絡した場合にそのチップのゲート配線は溶断し、GDUとの配線が切り離される。ゲート配線が切り離されたチップはゲートが短絡しているため、オン,オフ信号に関係なくオフを継続する(図10参照)。
【0016】
図11にこの発明の第4の実施の形態を示す。
図7では、チップのゲート配線を積極的に溶断するに当たり電圧を上昇させるようにしたが、こうする代わりにゲート抵抗RgoffをRgoff=Rgoff1+Rgoff2として、そのRgoffの両端の電圧をコンパレータCmpで検出し(図12参照)、その値が所定値以上になったらオフ信号とのAND回路を介してスイッチSを閉じ、Rgoff=Rgoff1としてゲート電流IgnをIgn1に増加させ(図13参照)、ゲートが短絡したチップのゲート配線を溶断してGDUから切り離すことで(図14参照)、図7と同様の動作を可能にするものである。
【0017】
【発明の効果】
この発明によれば、大容量化するために複数並列に接続された電力用半導体素子を駆動する場合、寿命や事故により1チップまたは複数チップのゲートインピーダンスが短絡した場合でも、その他の素子に影響を与えることなくその動作を保証し得るという利点がもたらされる。電力変換装置を継続運転できるため、運転を停止させるものに比べて装置の信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施の形態を示す回路図
【図2】図1の短絡時説明図
【図3】図1の溶断動作説明図
【図4】この発明の第2の実施の形態を示す回路図
【図5】図4の短絡,溶断動作説明図
【図6】図4の溶断時説明図
【図7】この発明の第3の実施の形態を示す回路図
【図8】図7の短絡時説明図
【図9】図7の電流増大時説明図
【図10】図7の溶断時説明図
【図11】この発明の第4の実施の形態を示す回路図
【図12】図11の短絡時説明図
【図13】図11の電流増大時説明図
【図14】図11の溶断時説明図
【図15】一般的な電力変換装置の回路構成図
【図16】一般的なIGBT駆動回路図
【図17】大容量化したIGBTの構成例図
【図18】IGBTの入力容量,共振電流説明図
【図19】IGBT短絡時の説明図
【図20】IGBTのコレクタ・エミッタ間電圧特性の説明図
【符号の説明】
L1〜Ln…電線(ゲート配線)、F1〜Fn…ヒューズ、Q1〜Qn…IGBT(絶縁ゲート形バイポーラトランジスタ)、Rg1〜Rgn…ゲート抵抗、Rgon…オン抵抗、Rgoff…オフ抵抗、Ig1〜Ign…ゲート電流、GDU…ゲート駆動回路、Cmp…コンパレータ、AND…アンド回路、S…スイッチ。
Claims (4)
- 電力変換装置の各アームに複数個並列に接続して用いられる電力用半導体素子のゲート駆動回路において、
各電力用半導体素子のゲートを、所定値以上の電流が流れたとき溶断する容量の電線によりそれぞれ接続したことを特徴とする電力用半導体素子のゲート駆動回路。 - 電力変換装置の各アームに複数個並列に接続して用いられる電力用半導体素子のゲート駆動回路において、
前記各電力用半導体素子のゲート配線に、それぞれヒューズを挿入したことを特徴とする電力用半導体素子のゲート駆動回路。 - 電力変換装置の各アームに複数個並列に接続して用いられる電力用半導体素子のゲート駆動回路において、
前記各アーム毎に電力用半導体素子のゲートに流れる電流を検出する検出手段と、ゲートに流す電流を増加させる電流増加手段とを設け、一定値以上のゲート電流が流れたら対応する電力用半導体素子のゲート配線を積極的に溶断することを特徴とする電力用半導体素子のゲート駆動回路。 - 前記ゲートに流す電流を増加させるのは、電力用半導体素子の過渡状態が終了した後の定常状態時とすることを特徴とする請求項3に記載の電力用半導体素子のゲート駆動回路。
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