JP2004214355A - Rotation and revolution type barrel etching device and working method using media - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、水晶板などの圧電素板をエッチング加工する際に使用する自公転式バレルエッチング装置、及びその装置に使用する加工容器とメディアに関するもので、特に小型で薄型の圧電素板のエッチング加工の実現、及び表面粗さを改善できる自公転式バレルエッチング装置、及びその装置に使用する加工容器とメディアに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、圧電振動子や発振器の小型化に伴いエッチングを行う圧電素子の周波数の高周波化、及び小型化が急速に進んでいる。すなわち、圧電振動子や発振器等の電子部品の小型化に伴い、その内部に搭載される圧電振動板を構成する圧電素板についてもその外形の小型化が必要とされると同時に、発振周波数の高周波化も進んでいることから圧電素板の薄型化も必要とされるようになった。
【0003】
例えば、圧電材料のひとつである水晶板では一般にATカットと言われる結晶軸から斜めとなる角度で切断された後、ラッピングまたは必要によりベベリング加工が施されてからエッチングにより、そこで発生した結晶構造が破壊された所謂加工変質層を化学的に溶かして除去することによってクリスタルインピーダンス(以下CIという)が改善される。しかしながら、過剰なエッチングを行うと水晶は結晶軸によってエッチングレート(溶解速度)が異なるために、圧電素板表面の凹凸(以下エッチピットという)が顕在化してしまう。
【0004】
一方で、ATカットなどの圧電素板は次式にあるように、厚みに依存するために、その表面に凹凸が発生すると周波数成分が分散するので、特に高周波領域ではCIが悪化してしまう。
周波数(kHz) = 1670(kHz・mm) / 厚み(mm)
【0005】
また、エッチング加工する際には圧電素板が飛出してしまわない大きさの穴があいた略円筒形のエッチング加工容器に数千枚の圧電素板を収納して、フッ酸またはフッ化アンモニウムなどを主成分とした、水溶液または界面活性剤入りの水溶液としたエッチング液を満たしたエッチング槽に投入して、前記のエッチング加工容器を揺動もしくは回転させてエッチング加工を行っていた。
【0006】
エッチング液はエッチング加工容器のなかで圧電素板と化学的反応が進むとその活性が低下するので、エッチング加工容器にあいた穴を通してエッチング槽内の活性の高いエッチング液との置換が準じ行われる必要がある。
【0007】
このとき圧電素板同士、もしくは圧電素板と加工容器間で貼り付き現象が発生すると、圧電素板の表面に活性の高いエッチング液が潤沢に供給されないために貼り付き現象が発生した部分のエッチング加工は進まない。この貼り付き現象が部分的に生じた場合にはその界面に段差が発生してしまう。また、エッチング工程はラッピング工程などに比較して厚み調整の精度が高く、規定周波数に合せ込む工程でもあるために、同一周波数に合せ込みを行った場合、貼り付きが片面全面で起きた場合、その片面の加工変質層は除去されきれずもう一方の面が過剰にエッチングされてしまう。そういった状態を未然に防ぐために、エッチング液中でエッチング加工容器を揺動もしくは回転させて、前記の貼り付きが片面全面で起きないようにする必要があった。
【特許文献1】
特開平11−230473号公報
【特許文献2】
特開平07−109200号公報
【0008】
なお、出願人は前記した先行技術文献情報で特定される先行技術文献以外には、本発明に関連する先行技術文献を、本件出願時までに発見するに至らなかった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、圧電素板は前述のようにその小型・薄型化が急速に進んでいるために、図7に図示されるような従来のエッチング加工においては、エッチング液中でエッチング加工容器を揺動もしくは回転させても、その圧電素板の自重が軽い為、またエッチング加工容器または圧電素板同士間での衝突による衝撃が小さいために前述の貼り付き現象が発生してしまう頻度が上昇し、これによりエッチング加工によって圧電素子表面に段差を生じ、また圧電素子のCIを悪化させてしてしまうという問題があった。
【0010】
また、エッチング液の置換のためにエッチング加工容器に多数個あける穴は、エッチングされる圧電素子が飛出すことのないような大きさとする必要があるが、圧電素板の小型、薄型化に伴いエッチング加工容器の穴の大きさを小さくするとエッチング液の置換がスムーズに行えず、加えてエッチング加工容器内の空気が加工容器外に排出されずに、エッチング加工自体が実施できなくなるという問題があった。
【0011】
また、エッチング加工そのものは、ラップ加工等の工程で発生した加工変質層を除去してCIの改善効果をもたらす一方で、その反面, エッチング加工で
得られた滑らかな表面粗さをエッチピットの発生によって悪化させてしまう要素も併せ持っている。
【0012】
しかしながら、個々の圧電素板の加工変質層の深さはそれぞれが微妙に異なり、従来のエッチング加工においては加工変質層を取りきることに重点をおいて作業がなされていたために、表面粗さに敏感な高周波品での品質の安定化はエッチピットの発生のために困難であるという問題があった。
【0013】
本発明は、以上のような技術的背景のもとでなされたものであり、従がってその目的は、自公転式バレルエッチング装置、及びその加工容器とメディアを提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために本発明は、公転軸に固定された公転板と、該公転板に設けられた自転軸と、該自転軸に固定され自転する容器ホルダーと、該容器ホルダーに固定保持される加工容器と、該公転軸、及び該自転軸を独自又は連動して回転させ且つ回転方向、回転数、及び回転時間を制御する駆動モータ、及び駆動回転機構を備えた自公転式バレルエッチング装置において、
該公転軸を装置設置面に対し垂直方向に設けたことを特徴とする。
【0015】
また、自転軸の軸心の傾きが、公転軸の軸心に対し公転軸側に0°乃至45°の範囲で傾いていることを特徴とする。
【0016】
また、装置設置面に対して垂直方向に設けた公転軸に固定された公転板と、該公転板に設けられた自転軸と、該自転軸に固定され自転する容器ホルダーと、該公転軸、及び該自転軸を回転させ且つ回転方向、回転数、及び回転時間を制御する駆動モータ、及び駆動回転機構を備えた自公転式バレルエッチング装置に使用される該容器ホルダーに固定保持される加工容器において、
少なくともエッチング液に接触する部位には耐薬品性をもち、該加工容器の形状は略円筒形であり、該加工容器の一方端は所定の曲率をもつ底部、又は所定の曲率部と平面部により構成される底部により閉口され、他方端は開放され且つ該開放口は蓋にて密封できる構造を有することを特徴とする。
【0017】
また、装置設置面に対して垂直方向に設けた公転軸に固定された公転板と、該公転板に設けられた自転軸と、該自転軸に固定され自転する容器ホルダーと、該公転軸、及び該自転軸を回転させ且つ回転方向、回転数、及び回転時間を制御する駆動モータ、及び駆動回転機構を備えた自公転式バレルエッチング装置に使用される該容器ホルダーに固定保持される加工容器において、
少なくともエッチング液に接触する部位には耐薬品性をもち、該加工容器の形状は略円筒形であり、該加工容器の一方端は、所定の多角錘と平面部により構成されて底部が閉口され、他方端は開放され且つ該開放口は蓋にて密封できる構造を有することを特徴とする。
【0018】
また、装置設置面に対して垂直方向に設けた公転軸に固定された公転板と、該公転板に設けられた自転軸と、該自転軸に固定され自転する容器ホルダーと、該公転軸、及び該自転軸を回転させ且つ回転方向、回転数、及び回転時間を制御する駆動モータ、及び駆動回転機構を備えた自公転式バレルエッチング装置に使用される該容器ホルダーに固定保持される加工容器において、
少なくともエッチング液に接触する部位には耐薬品性を保有し、該加工容器の形状は略円筒形であり、該加工容器内面に凹凸をもって且つ底部が閉口され、他方端は開放され、且つ該開放口は蓋にて密封できる構造を有することを特徴とする。
【0019】
また、装置設置面に対し垂直方向に設けた公転軸に固定された公転板と、該公転板に設けられた自転軸と、該自転軸に固定され自転する容器ホルダーと、該公転軸、及び該自転軸を回転させ且つ回転方向、回転数、及び回転時間を制御する駆動モータ、及び駆動回転機構を備えた自公転式バレルエッチング装置を用いた加工方法において、
エッチング液に対して耐薬品性を持つメディアを使用することを特徴とする。
【0020】
上述のような自公転式バレルエッチング装置を使用することにより、公転運動から発生する加速度は加工容器の底方向にかかるので、底周辺部分以外の容器の壁部の厚さを可能な限り薄くすることができ、更に加工容器を略縦型とすることで、圧電素板のエッチング加工を行う箇所を加工容器の底部周辺に限定することができるので、加工容器の長さを短くすることができ、よって自公転式バレルエッチング装置自体の大きさも小さくすることができる作用を奏する。
【0021】
このような自公転式バレルエッチング装置、及びそれに使用する加工容器、及びメディアを使用することにより、圧電素板の貼り付き現象が抑制でき、且つエッチング液などの反応溶液中におけるエッチング加工速度は、自公転運動により発生した応力の作用する箇所で選択的に早まるので、圧電素板表面に凹凸がある場合には凸部分からエッチング加工がなされ、その結果表面粗さは改善される作用を奏する。
【発明の実施の形態】
以下に図面を参照しながら本発明の実施の一形態について説明する。
なお、各図においての同一の符号は同じ対象を示すものとする。
【0022】
図1はこの発明における自公転式バレルエッチング装置2の概略の一例を示した図である。図2、及び図3は、図1に示したエッチング加工容器7の一つの形態を示す概略の断面図である。尚、図1乃至図6において、説明を明瞭にするため構造体8の一部を図示せず、また寸法も一部誇張した概略図としている。
【0023】
図1においてケース1内に納められている自公転式バレルエッチング装置2を構成する公転板3は、自公転式バレルエッチング装置2の設置面21に対し垂直方向に形成した公転軸心4の周りに回転して、公転板3の公転軸を対称軸とし且つ公転板3の両端付近に装着された容器ホルダー5が自転軸心6の周りに回転する。
【0024】
このことにより、容器ホルダー5と、容器ホルダー5に固定保持される加工容器7とは、公転軸心4の周りを公転しながら、自転軸心6の周りを自転することになる。ここで公転軸の回転方向と自転軸の回転方向とは正逆どちらの回転方向でもかまわない。
【0025】
また、自転軸心6は公転軸心4に対して公転軸側に45°傾いている。これにより、公転運動から発生する加速度は加工容器7の底方向のみにかかるので、加工容器の壁部などの厚みを薄くすることができ、更に公転の遠心力によって加工容器7が容器ホルダー5から外れたり、加工容器7の内容物が容器外にこぼれたりするのを防止している。なお、実施例では公転板3はひとつで加工容器7を一対搭載する構造になっているが、公転板3を複数形成して、各々の公転板に加工容器7を搭載した構造にしてもかまわず、この場合も本発明の技術的範囲にあることはいうまでもない。 また、ひとつの公転板3に搭載する二つの加工容器7のうち、一方を外し、替わりにバランサーを搭載することで、一つの公転板3に一つの加工容器7を搭載する構造にしてもかまわない。
【0026】
加工容器7を公転軸心4の周りで公転させながら自転軸心6の周りで自転させる具体的な機構としては、公転用駆動モータと自転用駆動モータを別々に設けて、それぞれが自立して駆動する機構にしてもよい。又、公転自転共用の駆動モータを用いて、モータの回転運動をベルトとプーリー又は遊星歯車装置を用いて公転と自転とに分ける機構にしてもかまわない。更に、これら駆動モータの起動停止、回転数、及び回転時間等を制御する制御機構も自公転式バレルエッチング装置2に併設されており、この制御機構にはケース1の外に設けたコントロールパネル等からアクセスでき、且つプログラム等で自動制御もできるようになっている。図1においては、公転用駆動モータ、及びその制御機構は構造体8内に内蔵されているために図示されてはいない。
【0027】
圧電素板のようなエッチング対象材料のエッチング液が入れられたエッチング加工容器7内での自由運動を確保するために、これらを加工容器7内に入れて蓋10で密封し、その加工容器7を容器ホルダー5に固定支持して、ケース1の蓋を閉め、制御機構からの各種命令により各駆動モータを任意の回転数で回転させて、加工容器7の公転、及び自転を開始する。
【0028】
加工容器7を公転させることにより、遠心力で加工容器7内の内容物は加工容器7の内部の底部9に押しつけられことで、小型化高周波化が進んだ圧電素板13においても十分な圧力を得て、更に自転により底部9と圧電素板13との間、及び圧電素板13同士の間に摩擦が生じることで、圧電素板13のエッチングにおいて凸部が選択的に加工される。 また、公転と自転との相互作用によって、内容物が加工容器内で自由に移動して混ざり合うことが促進され、エッチング加工に投入した多数の圧電素板13の全体に均一にエッチング加工を施すことができる。
【0029】
図6は本発明の、加工容器7内においてラッピング等で発生した加工変質層をもつ圧電素板13が効率的に、エッチング加工により発生するエッチピットを従来に比べて大幅に小さくしてエッチングされる様子を示した概略のフローチャートである。ラップあがりの圧電素板13の表面20は、最初は鋭角的な凸凹を持つ状態で、エッチングにより次第に滑らかな表面のエッチング加工が成されてゆき、先に述べたような理由で、圧電素板13の表面にエッチピットの発生が起きた場合においても、本発明の自公転式バレルエッチング装置2を用いたエッチング加工では、圧電素板13と加工容器7の容器の内面11との接触のために、接触部で選択的にエッチング加工が成され、主に圧電素板13の表面の凸部分から加工が成されるので、エッチピットのない表面粗さが改善されたエッチング加工が可能となる。
【0030】
図2、及び図3は、容器ホルダー5に着脱自在に固定支持される加工容器7のそれぞれの一形状を開示する概略の断面図である。加工容器7は有底略円筒形の本体部と蓋部10で構成されており、また、蓋部10は加工容器7の公転、及び自転の際には本体部から外れないような構造になっている。
【0031】
短冊形状の圧電素板13などのエッチング加工においては、加工容器7の内部の面11の形状を圧電素板13の貼り付きを抑制するため曲面とするか、図2、及び図3に図示したような加工容器7の回転に伴い加工容器内面11と圧電素板が衝突するなどして貼り付きを剥がすような構造とすることで均一化が図れ、圧電素板13の特性を著しく向上することができる。
【0032】
また、加工容器7の内面11の形状を更に図4のような凸凹形状とする事により、加工容器7への短冊形状の圧電素板13の貼り付きを防いで、エッチング加工均一性を更に向上することができる。
【0033】
また、図5の概略図にあるエッチング液18に対して耐薬品性をもった加工容器7とメディア12を用いることにより、加工容器7への短冊形状の圧電素板13の貼り付きを防いでエッチング加工の均一性を更に向上することができる。図5においては、球状のメディア12を用いているがメディア12の形状は球状にとどまるものではないことは言うまでもない。
【0034】
【発明の効果】
本発明の自公転式バレルエッチング装置、及びそれに使用される加工容器においては、小型化高周波化が進んだ圧電素板を短時間で効率よくエッチング加工することができ、その表面粗さを改善でき、因って圧電素板を使用する圧電振動子等の電子部品を安価に短時間で提供できる効果を成す。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の自公転式バレルエッチング装置の概略の一例を示した図である。
【図2】本発明の自公転式バレルエッチング装置に装填されるエッチング加工容器の一つの形態を示す概略の断面図である。
【図3】本発明の自公転式バレルエッチング装置に装填される別のエッチング加工容器の一つの形態を示す概略の断面図である。
【図4】本発明の自公転式バレルエッチング装置に装填される加工容器の内面が凸凹のひとつの形状を示す模式図である。
【図5】本発明の自公転式バレルエッチング装置を用いた加工容器に一例として球状のメディアを入れて、エッチング加工を行う様子を示す模式図である。
【図6】本発明の自公転式バレルエッチング装置に装填される加工容器内において圧電素板がエッチングされる様子を示した概略のフローチャートである。
【図7】従来の、エッチング液中でエッチング加工容器を揺動もしくは回転させて、圧電素板にエッチング加工を行う様子を示す概略図である。
【符号の説明】
1 ケース
2 自公転式バレルエッチング装置
3 公転板
4 公転軸の軸心
5 容器ホルダー
6 自転軸の軸心
7 加工容器
8 構造体
9 底部
10 蓋
11 加工容器内面
12 メディア
13 圧電素板
14 従来のエッチング加工容器
15 エッチング加工槽
16 回転軸
17 従来の加工容器の穴
18 エッチング液
19 エッチング液面
20 圧電素板の表面
21 装置設置面[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a revolving barrel etching apparatus used for etching a piezoelectric element such as a quartz plate, and a processing container and a medium used for the apparatus. The present invention relates to a revolving barrel etching apparatus capable of realizing processing and improving surface roughness, and a processing container and a medium used in the apparatus.
[0002]
[Prior art]
In recent years, with the miniaturization of piezoelectric vibrators and oscillators, the frequency of piezoelectric elements for performing etching has been rapidly increased and the miniaturization has been rapidly progressing. In other words, with the miniaturization of electronic components such as piezoelectric vibrators and oscillators, it is necessary to reduce the external size of the piezoelectric element constituting the piezoelectric vibrating plate mounted inside, and at the same time, to reduce the oscillation frequency. As the frequency has been increased, the thickness of the piezoelectric element plate has also been required to be reduced.
[0003]
For example, a crystal plate, which is one of the piezoelectric materials, is cut at an oblique angle from the crystal axis, which is generally called the AT cut, and then lapping or beveling if necessary. The crystal impedance (hereinafter referred to as CI) is improved by chemically dissolving and removing the broken so-called damaged layer. However, if excessive etching is performed, the quartz crystal has a different etching rate (dissolution rate) depending on the crystal axis, and concavities and convexities (hereinafter, referred to as etch pits) on the surface of the piezoelectric element will become apparent.
[0004]
On the other hand, as shown in the following equation, a piezoelectric element such as an AT-cut is dependent on its thickness, and if unevenness is generated on its surface, frequency components are dispersed. Therefore, CI deteriorates particularly in a high-frequency region.
Frequency (kHz) = 1670 (kHz · mm) / Thickness (mm)
[0005]
Thousands of piezoelectric elements are stored in a substantially cylindrical etching container with holes large enough to prevent the piezoelectric elements from popping out during etching. Was charged into an etching bath filled with an etching solution containing an aqueous solution or an aqueous solution containing a surfactant, and the etching process was performed by rocking or rotating the etching process container.
[0006]
Since the activity of the etchant decreases when a chemical reaction with the piezoelectric element progresses in the etching chamber, the replacement with the highly active etchant in the etching chamber must be performed through a hole in the etching chamber. There is.
[0007]
At this time, if the sticking phenomenon occurs between the piezoelectric plates or between the piezoelectric plate and the processing container, the etching is performed on the portion where the sticking phenomenon occurs because the highly active etchant is not sufficiently supplied to the surface of the piezoelectric plate. Processing does not proceed. When this sticking phenomenon occurs partially, a step occurs at the interface. In addition, since the etching process has a higher thickness adjustment accuracy than the lapping process and is also a process of adjusting to the specified frequency, if the adjustment is performed at the same frequency, if the sticking occurs on one entire surface, The damaged layer on one side cannot be completely removed, and the other side is excessively etched. In order to prevent such a state beforehand, it was necessary to rock or rotate the etching processing container in the etching solution to prevent the sticking from occurring on one entire surface.
[Patent Document 1]
JP-A-11-230473 [Patent Document 2]
JP-A-07-109200
The applicant has not found any prior art documents related to the present invention other than the prior art documents specified by the above-mentioned prior art document information by the time of filing the present application.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, since the size and thickness of the piezoelectric element plate have been rapidly reduced as described above, in the conventional etching processing as shown in FIG. Even when rotated, the frequency of occurrence of the above-mentioned sticking phenomenon increases because the weight of the piezoelectric element plate is light and the impact due to collision between the etching container or the piezoelectric element plates is small. Therefore, there is a problem that a step is formed on the surface of the piezoelectric element due to the etching process, and the CI of the piezoelectric element is deteriorated.
[0010]
Also, it is necessary to make a large number of holes drilled in the etching processing container for replacement of the etching solution so that the piezoelectric element to be etched does not fly out. If the size of the hole in the etching container is reduced, the replacement of the etching solution cannot be performed smoothly, and in addition, the air in the etching container is not exhausted out of the processing container, so that the etching itself cannot be performed. Was.
[0011]
In addition, the etching process itself has the effect of improving the CI by removing the deteriorated layer generated in a process such as a lapping process, and on the other hand, the smooth surface roughness obtained by the etching process results in the generation of etch pits. It also has factors that make it worse.
[0012]
However, the depth of the affected layer of each piezoelectric element plate is slightly different, and the conventional etching process has been focused on removing the affected layer. There is a problem that stabilization of quality in sensitive high-frequency products is difficult due to generation of etch pits.
[0013]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above technical background, and accordingly, an object of the present invention is to provide a self-revolving barrel etching apparatus, and a processing container and a medium therefor.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention provides a revolving plate fixed to a revolving shaft, a revolving shaft provided on the revolving plate, a container holder fixed to the revolving shaft and rotating, and fixed to the container holder. A processing container to be held, a drive motor for rotating the revolving shaft and the rotating shaft independently or in conjunction with each other, and controlling a rotating direction, a number of rotations, and a rotating time, and a self-revolving barrel including a driving and rotating mechanism. In the etching equipment,
The revolving shaft is provided in a direction perpendicular to the device installation surface.
[0015]
Further, the inclination of the axis of the rotation axis is inclined in the range of 0 ° to 45 ° toward the revolution axis with respect to the axis of the revolution axis.
[0016]
Further, a revolving plate fixed to a revolving shaft provided in a direction perpendicular to the apparatus installation surface, a revolving shaft provided on the revolving plate, a container holder fixed to the revolving shaft and revolving, the revolving shaft, A drive motor for rotating the rotation shaft and controlling the rotation direction, the number of rotations, and the rotation time, and a processing container fixed and held by the container holder used in a rotation and revolution type barrel etching apparatus having a drive rotation mechanism At
At least the part that comes into contact with the etching solution has chemical resistance, the shape of the processing container is substantially cylindrical, and one end of the processing container has a bottom portion having a predetermined curvature, or a predetermined curvature portion and a flat portion. It is characterized in that it is closed by the constructed bottom, the other end is open, and the opening has a structure that can be sealed with a lid.
[0017]
Further, a revolving plate fixed to a revolving shaft provided in a direction perpendicular to the apparatus installation surface, a revolving shaft provided on the revolving plate, a container holder fixed to the revolving shaft and revolving, the revolving shaft, A drive motor for rotating the rotation shaft and controlling the rotation direction, the number of rotations, and the rotation time, and a processing container fixed and held by the container holder used in a rotation and revolution type barrel etching apparatus having a drive rotation mechanism At
At least the part that comes into contact with the etching solution has chemical resistance, the shape of the processing container is substantially cylindrical, and one end of the processing container is constituted by a predetermined polygonal weight and a flat portion, and the bottom is closed. The other end is open and the opening has a structure that can be sealed with a lid.
[0018]
Further, a revolving plate fixed to a revolving shaft provided in a direction perpendicular to the apparatus installation surface, a revolving shaft provided on the revolving plate, a container holder fixed to the revolving shaft and revolving, the revolving shaft, A drive motor for rotating the rotation shaft and controlling the rotation direction, the number of rotations, and the rotation time, and a processing container fixed and held by the container holder used in a rotation and revolution type barrel etching apparatus having a drive rotation mechanism At
At least the part that comes into contact with the etching solution has chemical resistance, the shape of the processing container is substantially cylindrical, the inner surface of the processing container has irregularities and the bottom is closed, the other end is open, and the open The mouth has a structure that can be sealed with a lid.
[0019]
Also, a revolving plate fixed to a revolving shaft provided in a direction perpendicular to the device installation surface, a revolving shaft provided on the revolving plate, a container holder fixed to the revolving shaft and revolving, the revolving shaft, and In a processing method using a self-revolving barrel etching apparatus having a drive motor that rotates the rotation shaft and controls the rotation direction, the number of rotations, and the rotation time, and a drive rotation mechanism,
It is characterized in that a medium having chemical resistance to an etching solution is used.
[0020]
By using the above-described revolving barrel etching apparatus, the acceleration generated from the revolving motion is applied to the bottom direction of the processing container, so that the thickness of the wall of the container other than the bottom peripheral portion is made as thin as possible. Further, by making the processing container substantially vertical, it is possible to limit the portion where the piezoelectric plate is etched to the vicinity of the bottom of the processing container, so that the length of the processing container can be reduced. Therefore, an effect that the size of the revolving barrel etching apparatus itself can be reduced is obtained.
[0021]
By using such a self-revolving barrel etching apparatus, a processing container used therefor, and a medium, the sticking phenomenon of the piezoelectric element plate can be suppressed, and the etching processing speed in a reaction solution such as an etching solution is reduced. Since the surface is selectively accelerated at a position where the stress generated by the rotation and orbital movement acts, when the surface of the piezoelectric element has irregularities, etching is performed from the convex part, and as a result, the surface roughness is improved.
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
Note that the same reference numerals in each drawing indicate the same objects.
[0022]
FIG. 1 is a view schematically showing an example of a revolving barrel etching apparatus 2 according to the present invention. FIGS. 2 and 3 are schematic cross-sectional views showing one embodiment of the etching container 7 shown in FIG. In FIGS. 1 to 6, a part of the structure 8 is not shown for simplicity of description, and the size is a schematic diagram partially exaggerated.
[0023]
In FIG. 1, a revolving
[0024]
Thus, the container holder 5 and the processing container 7 fixed and held by the container holder 5 revolve around the
[0025]
Further, the
[0026]
As a specific mechanism for rotating the processing vessel 7 around the
[0027]
In order to ensure free movement in the etching container 7 containing the etching solution of the material to be etched such as a piezoelectric element, these are put in the processing container 7 and sealed with a
[0028]
By revolving the processing container 7, the contents in the processing container 7 are pressed against the
[0029]
FIG. 6 shows that the
[0030]
FIG. 2 and FIG. 3 are schematic cross-sectional views each showing one shape of the processing container 7 which is detachably fixed and supported on the container holder 5. The processing container 7 is composed of a substantially cylindrical bottomed main body and a
[0031]
In the etching process of the strip-shaped
[0032]
Further, by making the shape of the inner surface 11 of the processing container 7 uneven as shown in FIG. 4, the sticking of the strip-shaped
[0033]
Further, by using the processing container 7 and the medium 12 having chemical resistance to the
[0034]
【The invention's effect】
In the self-revolving barrel etching apparatus of the present invention and the processing container used for the same, it is possible to efficiently and efficiently etch a piezoelectric element having a reduced size and a higher frequency in a short time, and to improve the surface roughness thereof. Therefore, an electronic component such as a piezoelectric vibrator using a piezoelectric element plate can be provided inexpensively in a short time.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a view schematically showing an example of a self-revolving barrel etching apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing one embodiment of an etching container to be loaded into the revolving barrel etching apparatus of the present invention.
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing one embodiment of another etching processing container to be loaded in the self-revolving barrel etching apparatus of the present invention.
FIG. 4 is a schematic diagram showing one shape of an inner surface of a processing container loaded in the self-revolving barrel etching apparatus of the present invention, which is uneven.
FIG. 5 is a schematic view showing a state in which a spherical medium is placed as an example in a processing container using the self-revolving barrel etching apparatus of the present invention and etching is performed.
FIG. 6 is a schematic flowchart showing a state in which a piezoelectric element plate is etched in a processing container loaded in the self-revolving barrel etching apparatus of the present invention.
FIG. 7 is a schematic view showing a conventional state in which an etching processing container is rocked or rotated in an etching solution to perform etching processing on a piezoelectric element plate.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Case 2 Revolving
Claims (6)
該公転軸を装置設置面に対し垂直方向に設けたことを特徴とする自公転式バレルエッチング装置。A revolving plate fixed to a revolving shaft, a revolving shaft provided on the revolving plate, a container holder fixed to the revolving shaft and revolving, a processing container fixed and held by the container holder, the revolving shaft, and In a self-revolving barrel etching apparatus equipped with a drive motor that rotates the rotation axis independently or in conjunction with and controls the rotation direction, the number of rotations, and the rotation time, and a drive rotation mechanism,
A self-revolving barrel etching apparatus, wherein the revolving shaft is provided in a direction perpendicular to an apparatus installation surface.
エッチング液に対して耐薬品性を持つメディアを使用することを特徴とする加工方法。A revolving plate fixed to a revolving shaft provided in a direction perpendicular to the apparatus installation surface, a revolving shaft provided on the revolving plate, a container holder fixed to the revolving shaft and revolving, the revolving shaft, and the revolving shaft In a processing method using a self-revolving barrel etching apparatus equipped with a drive motor that rotates the shaft and controls the rotation direction, the number of rotations, and the rotation time, and a drive rotation mechanism,
A processing method using a medium having chemical resistance to an etching solution.
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006286946A (en) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Kyocera Kinseki Corp | Wet etching device for piezoelectric wafer |
JP2006311228A (en) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Kyocera Kinseki Corp | Etching jig |
CN100414671C (en) * | 2004-10-14 | 2008-08-27 | 宋国隆 | Method for etching wafer accurately |
JP2009119586A (en) * | 2007-11-19 | 2009-06-04 | Matsumoto Kazuhiko | Centrifugal barrelling machine |
JP2009190151A (en) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Tipton Mfg Corp | Barrel polishing device |
CN107370414A (en) * | 2017-08-17 | 2017-11-21 | 浙江师范大学 | A kind of boat-carrying positioner |
-
2002
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100414671C (en) * | 2004-10-14 | 2008-08-27 | 宋国隆 | Method for etching wafer accurately |
JP2006286946A (en) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Kyocera Kinseki Corp | Wet etching device for piezoelectric wafer |
JP4532328B2 (en) * | 2005-03-31 | 2010-08-25 | 京セラキンセキ株式会社 | Wet etching equipment for piezoelectric wafers |
JP2006311228A (en) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Kyocera Kinseki Corp | Etching jig |
JP2009119586A (en) * | 2007-11-19 | 2009-06-04 | Matsumoto Kazuhiko | Centrifugal barrelling machine |
JP2009190151A (en) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Tipton Mfg Corp | Barrel polishing device |
CN107370414A (en) * | 2017-08-17 | 2017-11-21 | 浙江师范大学 | A kind of boat-carrying positioner |
CN107370414B (en) * | 2017-08-17 | 2023-06-16 | 浙江师范大学 | Shipborne positioning device |
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