JP2004198154A - X線透視検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】X線管1とX線検出器2とを、試料テーブル3に対して互いに独立して異なる角度で傾動可能な機構(フレーム4,トラニオン軸4a,支持軸4b)を設け、X線検出器2を試料テーブル3に対して所要の角度で傾動させたとき、X線検出器2がX線の有効な照射領域内に入る程度にX線管1を傾動させることで、従来に比してX線管1と試料Wとの距離Aを短くして拡大率を大きくし、X線管1からのX線の照射角度範囲による透視角度の制約もなくする。
【選択図】 図2
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、検査対象物にX線を照射し、その透過X線を検出することによってその物品のX線透視像を得るX線透視検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
産業用のX線透視検査装置においては、一般に、X線管に対向してイメージインテンシファイアおよびCCDカメラ等からなるX線検出器を配置するとともに、その間に検査対象物である試料を搭載するための試料テーブルを設けた構造を採り、試料を透過したX線を検出することによって試料のX線透過像を得て、非破壊のもとに試料内部の欠陥や異物の有無などを検査する。
【0003】
このようなX線透視検査装置において、試料のX線透視方向を変化させるために、図4に示すように、X線管31およびX線検出器32を固定し、試料テーブル33を傾動させる機構を備えたものや、図5に示すように、試料テーブル33を固定し、X線源31とX線検出器32を一体的に互いに同角度だけ連動して傾動させる機構を備えたもの、あるいは図6に示すように、X線管31および試料テーブル33を固定し、X線検出器32のみを傾動させる機構を備えたもの、が知られている。
【0004】
【特許文献1】
特開2001−330567号公報(第3頁,図2)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記した従来のX線透視方向を変化させるための各方式のうち、図4および図5に示すものは、傾動時に試料テーブル33とX線管31とが干渉することに起因して、X線管31(焦点)と試料Wとを接近させるには限界があり、これら両者間の距離Aを短くして拡大率を大きくすることができないという問題がある。
【0006】
一方、図6に示す方式では、X線管31から照射されるX線の広がり角度φによって実質的な傾動角度θの限界が決まり、しかも、X線はその光軸から遠ざかるほど強度が低下するため、実効的な傾動角度の限界はより狭くなってしまい、透視角度を大きくするには制約があるという問題がある。
【0007】
本発明はこのような実情に鑑みてなされたもので、図4,図5に示す従来の方式よりも拡大率を大きくすることができ、かつ、図6に示す従来の方式よりも透視角度を大きくすることのできるX線透視検査装置の提供を目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明のX線透視検査装置は、X線管と、そのX線管に対向して配置されたX線検出器と、これらのX線管とX線検出器の間に配置された試料テーブルを備えたX線透視検査装置において、上記X線管とX線検出器を、試料テーブルに対して互いに独立して異なる角度で傾動可能な機構を備えていることによって特徴づけられる。
【0009】
本発明は、X線管とX線検出器の双方を傾動させる方式を採用するが、これらを従来のように一体的に傾動させるのではなく、互いに独立して異なる角度で傾動させることによって、所期の目的を達成しようとするものである。
【0010】
すなわち、X線検出器の傾動角度を、所要の透視角度が得られるように傾動させるとともに、X線管については、それと同角度だけ傾動させるのではなく、当該X線管からのX線の照射角度に応じて、X線検出器がX線の有効な照射領域内に入る程度に傾動させる。例えば、図2に例示するように、X線検出器2を60°傾動させたとき、X線管1については30°だけ傾動させる。これにより、図4,図5に示した方式に比して、同じ透視角度60°で透視する場合においてもX線管1と試料Wとの距離Aをより接近させることが可能となると同時に、図6に示した方式のようにX線管からのX線の照射角度範囲による透視角度の制約を無くすことができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
図1は本発明の実施の形態の要部構成図である。
【0012】
X線管1に対向してX線検出器2が配置されており、これらの間に試料テーブル3が設けられている。X線管1およびX線検出器2は、共通のフレーム4に支持されている。
【0013】
フレーム4は略矩形の枠形をしており、その左右両辺部に形成された水平のトラニオン軸4aを介して、装置ベースに設けられた軸受5に対して回動自在に支持されている。X線検出器2はこのフレーム4の上辺部に取り付けられており、X線管1はこのフレーム4の下辺部に回動自在に支持されている。
【0014】
すなわち、X線管1は、そのケーシングの外周に固着された支持部材1aを介して、フレーム4の下辺部に設けられている水平の支持軸4bの回りに回動自在に支持されている。この支持軸4bは、X線管1の焦点1bを通っている。この支持軸4bと、上記したフレーム4を回動自在に支持するトラニオン軸4aは、互いに同じ方向(x軸方向)に沿っている。トラニオン軸4aの回りへのフレーム4の回動と、支持軸4bの回りへのX線管1の回動は、例えばモータを駆動源とする公知の駆動機構(図示せず)により行われる。
【0015】
試料テーブル3は、フレーム4に対して独立しており、公知の機構によって互いに直交するx,yおよびz方向に移動できるようになっている。
【0016】
以上の構成によると、X線検出器2はフレーム4を回動させることによって試料テーブル3に対して傾動させることができ、また、X線管1はフレーム4に対して回動させることによって試料テーブル3に対してX線検出器2とは異なる角度のもとに傾動させることができる。
【0017】
従って、X線管1、X線検出器2を試料テーブル3に対して傾動させた状態の例を、図1の右側面図で、かつ、主要部材のみを抽出した図2に示すように、試料テーブル3上の試料Wを60°の透視角度で観察しようとする場合、試料テーブル3に対してX線検出器2を60°傾動させるとともに、X線管1については、X線検出器2の60°の傾動状態において試料Wを透過したX線がX線検出器2に入射するように、つまり、X線管1からのX線の有効な照射角度範囲内に試料Wが入るように、試料テーブル3に対して例えば30°だけ傾動させる。この状態を得るための実際の動作は、フレーム4を60°傾動させると同時に、その傾動の向きと逆向きにX線管1をフレーム4に対して傾動させればよい。
【0018】
以上のような傾動のさせ方により、図4および図5に示した従来の装置に比して、同じ透視角度でもX線管1(焦点1b)と試料Wとの距離Aを短くすることができ、より大きな拡大率を確保することができる。また、X線管1は必要に応じた角度だけ傾動させることができるが故に、図6に示した従来の装置に比して、X線の照射角度範囲による透視角度の制約を受けることがなくなり、より大きな透視角度を実現することができる。
【0019】
なお、以上の実施の形態においては、試料テーブル3をx,y,z軸方向に移動可能とし、X線管1をz軸方向には固定した例を示したが、試料テーブル3をz軸方向に固定し、X線管1側を移動させるように構成することもできる。
【0020】
図3にその要部構成図を示す。この例は、先の例と同様の枠型のフレーム4′の両側辺を、これら両側辺に沿って伸びるガイド部材6に対して移動可能に支持している。そして、その各ガイド部材6に水平のトラニオン軸6aを設け、軸受5によって回動自在に支持している。フレーム4′の下辺には支持軸4bの回りにX線管1を回動自在に支持している点、および、フレーム4′の上辺にはX線検出器2を支持している点については先の例と同様である。また、この図3の例では、試料テーブル3はx,y軸方向にのみ移動可能としている。
【0021】
以上の構成において、X線検出器2を傾動させるには、両側のガイド部材6を傾動させる。これによってフレーム4′が傾動してX線検出器2が試料テーブル3に対して傾動する。なお、X線管1は、先の例と同様に支持軸4bの回りに回動させることにより、X線検出器2とは異なる角度で傾動する。そして、X線管1と試料テーブル3との距離を変化させるには、フレーム4′をガイド部材6に沿って移動させればよい。これにより、試料テーブル3に対するX線管1およびX線検出器2のそれぞれの傾動角度を維持したまま、試料テーブル3とX線管1の距離を変化させることができる。
【0022】
なお、本発明は、X線管1とX線検出器2の傾動機構については、以上の各実施の形態で示した機構に限られることなく、他の公知の機構を採用し得ることは勿論である。
【0023】
また、以上の各実施の形態においては、X線管1とX線検出器2とをそれぞれ個別に傾動させる例を示したが、本発明はX線管1とX線検出器2とが互いに独立的に、つまり互いに異なる角度のもとに傾動するものであればよく、従って、例えば、X線検出器2を傾動させる動作と、X線管1を傾動させる動作を同期させるとともに、これらの傾動速度を、X線検出器2の半分の速度でX線管1を傾動させるように構成してもよい。
【0024】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、X線検出器およびX線管の双方を試料テーブルに対して傾動できるように構成するとともに、これら両者の傾動角度を、互いに独立して傾動できるように構成しているので、X線検出器とX線管を一体的に傾動させる従来装置、およびX線検出器とX線管を固定して試料テーブルを傾動させる従来装置に比して、X線検出器と試料との距離をより接近させることができ、大きな拡大率を確保しながら透視角度を変化させることができる。また、X線検出器のみをX線照射角度範囲内で傾動させる従来装置に比して、透視角度をより大きくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の要部構成図である。
【図2】図1の右側面図で、主要構成部材のみを抽出して示す図である。
【図3】本発明の他の実施の形態の要部構成図である。
【図4】試料の透視角度を変化させるための従来の機構の説明図で、試料テーブルのみを傾動させる方式の例を示す図である。
【図5】試料の透視角度を変化させるための従来の他の機構の説明図で、X線検出器とX線管とを一体的に同角度ずつ傾動させる方式の例を示す図である。
【図6】試料の透視角度を変化させるための従来の更に他の機構の説明図で、X線検出器のみを傾動させる方式の例を示す図である。
【符号の説明】
1 X線管
1a 支持部材
2 X線検出器
3 試料テーブル
4,4′ フレーム
4a,6a トラニオン軸
4b 支持軸
6 ガイド部材
W 試料
Claims (1)
- X線管と、そのX線管に対向して配置されたX線検出器と、これらのX線管とX線検出器の間に配置された試料テーブルを備えたX線透視検査装置において、
上記X線管とX線検出器を、試料テーブルに対して互いに独立して異なる角度で傾動可能な機構を備えていることを特徴とするX線透視検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002364586A JP4085260B2 (ja) | 2002-12-17 | 2002-12-17 | X線透視検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002364586A JP4085260B2 (ja) | 2002-12-17 | 2002-12-17 | X線透視検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004198154A true JP2004198154A (ja) | 2004-07-15 |
JP4085260B2 JP4085260B2 (ja) | 2008-05-14 |
Family
ID=32762364
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002364586A Expired - Lifetime JP4085260B2 (ja) | 2002-12-17 | 2002-12-17 | X線透視検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4085260B2 (ja) |
-
2002
- 2002-12-17 JP JP2002364586A patent/JP4085260B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP4085260B2 (ja) | 2008-05-14 |
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