JP2004191739A - 距離測定装置およびそれを装着した撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】小チップサイズでパララックスが精度よく補正できる距離測定装置とそれを装着したカメラなどの撮像装置を提供すること。
【解決手段】上段の１対の光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、中段の１対の光センサアレイ２２ａ、２２ｂ、下段の１対の光センサアレイ２３ａ、２３ｂの３ライン（３列）を微小な隙間で配置し、これら３ラインの光センサアレイに１ラインの１対の積分回路アレイ２４ａ、２４ｂを配置し、被写体の距離に応じて光センサアレイを選択することで、光センサアレイが捕らえる視野を広げて、遠景から至近の対象物の距離を測定できるようにする。また、カメラに装着した場合は、距離測定装置とカメラレンズ（撮像レンズ）との視差を補正することができる。
【選択図】 図３
【解決手段】上段の１対の光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、中段の１対の光センサアレイ２２ａ、２２ｂ、下段の１対の光センサアレイ２３ａ、２３ｂの３ライン（３列）を微小な隙間で配置し、これら３ラインの光センサアレイに１ラインの１対の積分回路アレイ２４ａ、２４ｂを配置し、被写体の距離に応じて光センサアレイを選択することで、光センサアレイが捕らえる視野を広げて、遠景から至近の対象物の距離を測定できるようにする。また、カメラに装着した場合は、距離測定装置とカメラレンズ（撮像レンズ）との視差を補正することができる。
【選択図】 図３
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば、カメラの自動焦点機構に用いられる距離測定装置とそれを装着したカメラに関し、特に、被写体を撮像レンズを通して撮影する撮像光学系と距離を測距レンズを通して測定する測距光学系とのパララックス（視差）を補正する機能を有する距離測定装置とそれを装着したカメラなどの撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図８は、三角測距の原理に基づく原理図である。この三角測距の原理について説明する（例えば、非特許文献１参照）。
被写体５５の光がレンズ５１、５２を通して、光センサアレイ５３、５４上に被写体像５６、５７として結像する。点Ｇ、点Ｈは、正面の無限遠からレンズ５１、５２の中心点Ｃ、Ｄを通過する光線（光軸５８、５９）と光センサアレイ５３、５４との交点である。点Ｇと点Ｈの間の距離をＢ、光センサアレイ５３、５４とレンズ５１、５２との距離をｆｅ（焦点距離と等しい）とする。また、光軸５８、５９からの被写体像５６、５７のずれをＸ１、Ｘ２とする。このＸ１とＸ２を足した長さをＸとする。尚、６１は測定系を示す。
【０００３】
ここで三角形ＡＣＥと三角形ＣＦＧおよび三角形ＡＥＤと三角形ＤＨＩはそれぞれ相似であることから、被写体５５までの距離ｄは次式で求められる。
【０００４】
【数１】
ｄ＝Ｂ・ｆe ／（Ｘ１＋Ｘ２）＝Ｂ・ｆe ／Ｘ
Ｘは被写体５５が無限遠にあるとき、すなわち二つの被写体像５６、５７がレンズ５１、５２の光軸５８、５９と光センサアレイの交点にある場合を基準とした２像の相対変移である。Ｂとｆｅは定数であるので、Ｘを検出することで距離ｄを求めることができる。
図９は、三角測距の原理に基づく距離測定装置の構成図である。測距原理については、前記した通りである。また、構成図は内部が分かる分解斜視図で示した。
【０００５】
この距離測定装置は、１対のレンズ７１、７２と、１対の光センサアレイ８１、８２を内蔵するオートフォーカスＩＣ（以下ＡＦＩＣ７６と称す）と、遮光箱７３とで構成され、必要に応じてＩＲ（赤外線）カットフィルタ７４が挿入される。ＡＦＩＣ７６と１対のレンズ７１、７２は遮光箱７３に固定して組み立てられる。
図１０は、ＡＦＩＣに封止されている半導体チップの要部構成図で、同図（ａ）は半導体チップの平面図、同図（ｂ）は光センサアレイの平面図、同図（ｃ）は光センサの平面図である。
【０００６】
半導体チップ８０は、１対の光センサアレイ８１、８２と、その回りに配置される増幅回路８３ａ、８３ｂ、８４ａ、８４ｂ、アドレス回路８５ａ、８５ｂ、８６ａ、８６ｂ、基準電圧回路８７ａ、８７ｂなどが集積される。尚、８８ａ、８８ｂはボンデングパッドアレイである。尚、増幅回路８３ａ、８３ｂ、８３ｃ、８３ｄ内に、後で説明する光センサの電流を積分する積分回路アレイが入っている。
また、１対の光センサアレイ８１、８２は、それぞれ多数の光センサ９１ａ、９１ｂから構成される。
【０００７】
また、各光センサ９１ａ、９１ｂは受光領域９８（受光部）とピックアップ電極９２で構成され、受光領域９８はフォトダイオードやフォトトランジスタで形成され、これらのフォトダイオードやフォトトランジスタは、半導体基板の表面層にイオン注入や拡散などで形成される。
この１対の光センサアレイ８１、８２の長手方向に対して垂直方向に各光センサ９１ａ、９１ｂの領域を広げて、図９のレンズ７１、７２と光センサアレイ８１、８２との位置合わせがズレた場合に、そのズレを補正する方法が特願２００２−０７７６７０に開示されている。
【０００８】
つぎに、従来の距離測定装置の主要回路と構成およびこの距離測定装置を搭載したカメラについて説明する。
図１１は、従来の距離測定装置を構成する光センサ回路である。光センサ回路１００は、光センサ１０１と、各光センサ１０１に流れるそれぞれの光電流を積分して、電圧に変換する積分回路１０２で構成される。光センサ１０１は、例えば、フォトダイオードやフォトトランジスタなどの光電変換素子であり、積分回路１０２は、例えば、オペアンプ１０３にコンデンサ１０４を接続した回路である。光センサ１０１であるフォトイオードのカソードに正、アノードに負の電圧を印加し、このフォトダイオードに光が入射すると、光電流が流れる。この光電流を積分回路１０２で積分し、この積分量に応じた電圧が光センサ回路１００からセンサ出力１０５として出力される。
【０００９】
図１２は、従来の光センサ回路アレイを示す図である。図１１の光センサ１０１と積分回路１０２で構成される光センサ回路１００を１列（１ライン）に並べて光センサ回路アレイ１３０が構成される。
この光センサ回路アレイ１３０は、見方を変えると光センサ１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ・・・をライン状に複数個並べた光センサアレイ１１０と、各光センサと接続する積分回路１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ・・・をライン状に複数個並べた積分回路アレイ１２０とから構成されているとも言える。
図１３は、従来の距離測定装置の要部構成図である。図１２の光センサ回路アレイ１１０を左右に１対（１１０ａ、１１０ｂ）配置し、それと図示しない選択スイッチを介して接続する１対の積分回路アレイ１２０ａ、１２０ｂからのセンサ出力信号が入力される出力回路１３２で構成される。
【００１０】
この１対の光センサアレイ１１０ａ、１１０ｂと１対の積分回路アレイ１２０ａ、１２０ｂで構成される１対の光センサ回路アレイ１３０ａ、１３０ｂを半導体チップ（ＡＦＩＣ）に形成する。また、１対の光センサアレイ１１０ａ、１１０ｂの直上には図９に示すように１対の測距レンズ（レンズ７１、７２）が配置される。
図１４は、図１３の距離測定装置を装着した従来のカメラの図である。この距離測定装置１４２は自動焦点装置として利用され、これをカメラ１４０に装着する場合、カメラ１４０内部の部品レイアウトの制約上、通常、距離測定装置１４２を撮像レンズ１４１の真横に装着することは難しいため、撮像レンズ１４１の直上や斜め方向に装着する。被写体に焦点を合わせる方法は、距離測定装置１４２で被写体までの距離を測定し、その測定データに基づいて、カメラ１４０の撮像レンズ１４１を移動させて行う。
【００１１】
光センサに被写体像を結像させる光学系と組み合わせて、距離測定装置を使用する場合、光センサアレイが１ラインでは、上下方向の視野は、光学系で決まる１方向と一定視野角に限定されてしまう。
そのため、図１５に示すように、測距レンズ１４３を通して１対の光センサアレイ１１０ａ、１１０ｂの上下の視野Ｅと撮像レンズ１４１を通してフィルムなどの感光面１４４の上下の視野Ｆとの間にずれ（視差：パララックス）により、視差領域１４５が生じてしまう。この視差領域１５１に対象とした被写体が入ると、被写体を距離測定装置の１対の光センサアレイ１１０ａ、１１０ｂが捕らえることができなくなり、精度の高い距離測定ができなくなる。そのため、被写体を感光面１４４に正確に合焦することができなくなる。
【００１２】
これを解決するために、パララックスが発生しないように、マルチ（多点）ラインセンサを利用することが特許文献で示唆されている（例えば、特許文献１参照）。
図１６は、マルチラインセンサを用いた距離測定装置の要部構成図である。
マルチラインセンサは、図１２の１対の光センサ回路アレイ１３０を長手方向に対して垂直方向に複数個配置した構成となっている。このマルチラインセンサは、隣接して配置される上段の光センサアレイ１５１ａ、１５１ｂと中段の光センサアレイ１５２ａ、１５２ｂの間に積分回路アレイ１５５ａ、１５５ｂが配置される構成となっている。また、同様に中段と下段の光センサアレイの間にも積分回路アレイが配置されている。
【００１３】
【非特許文献１】
富士時報Ｖｏｌ．６８ Ｎｏ．７ １９９５ ｐｐ４１５−ｐｐ４２０
【特許文献１】
特開２００１−３５００８１号公報 第１７頁、第１２図
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、マルチセンサアレイを用いる場合、この積分回路アレイが占める領域は、光センサが配置されない領域であるため、図１７に示すように、隣の１対の光センサアレイ１５１ａ，ｂ、１５２ａ，ｂ、１５３ａ，ｂの間に大きな隙間が空き、撮像レンズ１４１を介して見る感光面１６１の視野Ｐと測距レンズ１４３を介して見る１対の光センサアレイ１５１ａ，ｂ、１５２ａ，ｂ、１５３ａ，ｂの視野Ｌ、Ｍ、Ｎの間で重ならない領域（視差領域１６２）が複数箇所で生じる。つまり、視差（パララックス）を生じてしまう。そのため、精度のよい距離の測定ができなくなり、正確に被写体を感光面１６１に合焦することができない。
【００１５】
また、個々の光センサにそれぞれ積分回路が設けられているため、配線数が多くなる。そのため、配線の占める面積と積分回路アレイが占める面積が増大し、チップサイズが大きくなる。
この発明の目的は、前記の課題を解決して、小チップサイズでパララックスが精度よく補正できる距離測定装置とそれを装着したカメラなどの撮像装置を提供することにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するために、互いに空間的に異なる測距レンズを通した光路を介して測定すべき対象の映像が結像される左右に１対の光センサアレイを有し、該光センサアレイの各光センサの受光強度に応じた映像出力信号により前記対象までの距離を測定する距離測定装置において、光センサアレイの長手方向に対して垂直方向に、１対の光センサアレイが複数個隣接して配置されて形成される１対の光センサアレイ群を有し、該光センサアレイ群の中から受光有効領域となる１対の光センサアレイを、前記対象が含まれる距離範囲に応じて選択する選択手段と、該選択手段で選択された光センサアレイの出力電流を該光センサアレイを構成する光センサ毎に積分する積分回路と、を備える構成とする。
【００１７】
また、前記選択手段が、選択スイッチとなる半導体素子（ＭＯＳＦＥＴなど）と、該半導体素子のオン・オフ信号を前記対象が含まれる距離範囲に応じて出力する制御回路とからなるとよい。
また、互いに空間的に異なる測距レンズを通した光路を介して測定すべき対象の映像が結像される左右に１対の光センサアレイを有し、該光センサアレイの各光センサの受光強度に応じた映像出力信号により前記対象までの距離を測定する距離測定装置を装着し、撮像レンズを通して前記対象の映像が結像される感光面を有するカメラなどの撮像装置において、光センサアレイの長手方向に対して垂直方向に、１対の光センサアレイが複数個隣接して配置されて形成される１対の光センサアレイ群を有し、該光センサアレイ群の中から受光有効領域となる１対の光センサアレイを、前記撮像レンズを通しての視野と前記測距レンズを通しての視野が前記対象までの距離により異なることで生じるパララックスを補正するように選択する選択手段と、該選択手段で選択された光センサアレイの出力電流を該光センサアレイを構成する光センサ毎に積分する積分回路と、を備える構成とする。
【００１８】
このように、１対の光センサアレイを上下方向に複数個配置し、被写体が含まれる距離範囲に応じて光センサアレイを選択することで、精度のよい距離測定を行うことができる。また撮像レンズとの視差も補正できる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
図１は、この発明の第１実施例の距離測定装置を構成する光センサ回路図である。これは、図１１に相当する光センサ回路である。
光センサ回路１０は、複数個の光センサアレイを構成するために、複数個（ここでは３個）の光センサ１、２、３と、この光センサ１、２、３を選択する選択スイッチ（ＭＯＳＦＥＴ４、５、６）と、この複数個の光センサ１、２、３に１個の積分回路７が備えられている。光センサ１、２、３は、例えば、フォトダイオードであり、積分回路７は、例えば、オペアンプ８にコンデンサ９を接続した回路である。フォトダイオードに光が入射すると、光電流が流れ、この光電流を積分回路で積分し、この積分量に応じた電圧が光センサ回路１０からセンサ出力として出力される。
【００２０】
図２は、この発明の第１実施例の距離測定装置を構成する光センサ回路アレイのレイアウト図である。図１２に相当するレイアウト図である。図１の光センサ回路１０をライン状に並べて光センサ回路アレイ２０とする。この光センサ回路アレイ２０は、３個の光センサアレイ２１、２２、２３と１個の積分回路アレイ２４で構成され、ライン間隔の非常に狭いマルチラインセンサを形成する。光センサアレイの個数は３個に限るものではない。
各ライン間は選択スイッチであるＭＯＳＦＥＴ４ａ、４ｂ、４ｃ・・・、ＭＯＳＦＥＴ５ａ、５ｂ、５ｃ・・・、ＭＯＳＦＥＴ６ａ、６ｂ、６ｃ・・・のみのレイアウトになるため、ライン間を狭くすることができる。また、上段の光センサアレイ２１は光センサ１ａ、１ｂ、１ｃ・・・で構成され、中段の光センサアレイ２２は光センサ２ａ、２ｂ、２ｃ・・・で構成され、下段の光センサアレイ２３は光センサ３ａ、３ｂ、３ｃ・・・で構成される。
【００２１】
例えば、ＭＯＳＦＥＴ４ａ、４ｂ、４ｃ・・・がオンすると、光センサ１ａ、１ｂ、１ｃ・・・の光電流が積分回路アレイ２４を構成する積分回路７ａ、７ｂ、７ｃ・・・に流れ、その電流を積分して光電流量に応じた電圧をセンサ出力信号として出力する。
図３は、この発明の第１実施例の距離測定装置の要部構成図である。この図では測距レンズなどの説明は省かれている。
上段の１対の光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、中段の１対の光センサアレイ２２ａ、２２ｂ、下段の１対の光センサアレイ２３ａ、２３ｂの３ライン（３列）が配置され、これら３ラインの光センサアレイに１ラインの１対の積分回路アレイ２４ａ、２４ｂが配置される。また、前記したように各光センサアレイを構成する各光センサは、図示しない微小な選択スイッチであるＭＯＳＦＥＴを介して積分回路アレイを構成する各積分回路に接続し、この積分回路は選択された光センサアレイの光センサから流出する光電流を積分して、光電流量に応じた電圧に変換してセンサ出力信号とする。ＭＯＳＦＥＴをオン・オフさせる信号は中央に配置された制御回路２５から伝送される。また、積分回路からのセンサ出力信号は、出力回路２６に入力され、この積分回路２６からのセンサ出力信号に対応する出力信号が、出力回路２６から図示しない撮像レンズを含む撮像光学系に伝送される。尚、ここでは、各光センサ、各積分回路、制御回路、出力回路間の配線は省略されている。
【００２２】
図４は、図３の距離測定装置による測定距離と視野の関係を説明する図である。図３の下段の１対の光センサアレイ２３ａ、２３ｂが、無限遠の光を受光する受光領域となるように固定した場合で、測距レンズ３０の中心と光センサアレイ２３ａ、２３ｂの中心を結ぶ光軸（面）２７と所定の距離で平行となる測定軸（面）２８にある対象物２９の距離を測定する場合について説明する。
遠距離にある対象物２９ａは下段の１対の光センサアレイ２３ａ、２４ａの視野Ａに入るので距離を測定できる。また、中距離にある対象物２９ｂは中段の１対の光センサアレイ２２ａ、２２ｂの視野Ｂに入るので距離を測定できる。また、至近距離にある対象物２９ｃは上段の１対の光センサアレイ２１ａ、２１ｂの視野Ｃに入るので距離を測定できる。
【００２３】
このように、対象物が入る距離範囲により受光領域となる光センサアレイを選択することで、遠近によらず対象物が光センサアレイの視野に入り、正確な距離を測定することができる。
図５は、この発明の第２実施例の距離測定装置の要部構成図である。図３との違いは、図３の光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、２２ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂを構成する光センサを２つに分割し、この分割された光センサの上下に積分回路２４ａ、２４ｂを配置して点である。
各光センサの幅Ｗは、図３の光センサと比べて半分となり、微細化されているので、図３の距離測定装置より距離の測定精度が上がる。また、図３の距離測定装置と同様に、上下方向に光センサアレイを複数個配置しているので、遠近によらず対象物が光センサアレイの視野に入り、距離を正確に 測定することができる。
【００２４】
図６は、この発明の第３実施例のカメラの要部正面図である。これは、図３の距離測定装置を装着したカメラ３１の図であり、距離測定装置３３の測距レンズ３４は撮像レンズ３２の直上に配置される。こうすることで、図７で説明するように、撮像レンズ３２が捕らえる視野と測距レンズ３４が捕らえる視野が不一致となると領域（視差領域）を小さくすることができる。つまり、撮像レンズ３２と測距レンズ３４との視差（パララックス）を精度よく補正することができる。尚、図５の距離測定装置を装着した場合も同様である。
図７は、図３の距離測定装置を装着したカメラの視野を示す図である。撮像レンズ３２の直上に距離測定装置の測距レンズ３４を配置した図６のカメラ３１の場合、上段、中段、下段の各光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、２２ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂを微小な隙間で配置し、図３で示す上段、中段、下段の１対の光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、２２ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂの各段の隙間を微小とすることで、撮像レンズでの視野と測距レンズでの視野が重る領域が広がり、各１対の光センサアレイを距離に応じて選択することで、パララックスを補正できて、被写体をフィルムなどの感光面３５に正確に合焦できる。
【００２５】
また、図５のように光センサの幅Ｗを小さくすることで、距離の測定がさらに精度よくできて、被写体をフィルムなどの受光面３５にさらに正確に合焦することができる。
具体的には、被写体が遠景の場合は上段の光センサアレイ（視野Ａ）を、被写体が中景の場合は中段の光センサアレイ（視野Ｂ）を、被写体が至近の場合は下段の光センサアレイ（視野Ｃ）を選択することによって、撮像レンズ３２と測距レンズ３４とのパララックスを補正すことができる。つまり、小さな視差領域３６とすることができる。
【００２６】
また、被写体が遠景か至近かの判断は、詳細説明はしないが、半導体チップに形成したＩＣ回路のアルゴリズムで行うか、ズームカメラの場合はズーム比で行うとよい。
例えば、アルゴリズムで行う場合は、まず、下段の光センサアレイの視野Ａに、被写体が入った場合は、測距し、入らない場合は中段の光センサアレイに切替える。被写体が視野Ｂに入ったら測距し、入らない場合は上段の光センサアレイに切り換え、視野Ｃに入れて測距する。予め各視野Ａ、Ｂ、Ｃで測距する距離範囲（例えば、０．５ｍ未満、０．５ｍ以上で３ｍ未満、３ｍ以上など）を決めておき、両方の視野に入った場合は予め決めた視野と合う光センサアレイで測距する。
【００２７】
また、隣接する上下の光センサアレイを同時に選択することによって上下方向の視野角を広げることができる。
尚、本発明の距離測定装置は、その適用範囲は、車間距離などを測定する装置などカメラなどの撮像装置に限ったことではない。
【００２８】
【発明の効果】
この発明では、１対の光センサアレイを上下方向に複数個配置することで、撮像レンズと測距レンズでの距離による視野のずれ（パララックス）を高精度で補正することができる。
また、複数個の光センサに１個の積分回路を設けることで、１個の光センサに１個の積分回路が接続するマルチラインセンサと比べて、半導体チップの小型化を図ることができる。
また、複数個の光センサに１個の積分回路を設けることで、光センサと積分回路を接続する配線の本数を減らすことができて、配線の占める面積を低減できるので、半導体チップの小型化を図ることができる。
【００２９】
さらに、光センサアレイを構成する光センサを半分に分割し、それぞれに１個の積分回路を設けることで、高精度な距離測定ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の第１実施例の距離測定装置を構成する光センサ回路図
【図２】この発明の第１実施例の距離測定装置を構成する光センサ回路アレイのレイアウト図
【図３】この発明の第１実施例の距離測定装置の要部構成図
【図４】図３の距離測定装置による測定距離と視野の関係を説明する図
【図５】この発明の第２実施例の距離測定装置の要部構成図
【図６】この発明の第３実施例のカメラの要部正面図
【図７】図３の距離測定装置を装着したカメラの視野を示す図
【図８】三角測距の原理に基づく原理図
【図９】三角測距の原理に基づく距離測定装置の構成図
【図１０】ＡＦＩＣに封止されている半導体チップの要部構成図で、（ａ）は半導体チップの平面図、（ｂ）は光センサアレイの平面図、（ｃ）は光センサの平面図
【図１１】従来の距離測定装置を構成する光センサ回路
【図１２】従来の光センサ回路アレイを示す図
【図１３】従来の距離測定装置の要部構成図
【図１４】図１３の距離測定装置を装着した従来のカメラの図
【図１５】従来のカメラで視差（パララックス）が生じることを説明した図
【図１６】マルチラインセンサを用いた距離測定装置の要部構成図
【図１７】マルチラインセンサを用いたカメラでの視差（パララックス）について説明すた図
【符号の説明】
１、１ａ、１ｂ、１ｃ 光センサ
２、２ａ、２ｂ、２ｃ 光センサ
３、３ａ、３ｂ、３ｃ 光センサ
４、４ａ、４ｂ、４ｃ ＭＯＳＦＥＴ
５、５ａ、５ｂ、５ｃ ＭＯＳＦＥＴ
６、６ａ、６ｂ、６ｃ ＭＯＳＦＥＴ
７、７ａ、７ｂ、７ｃ 積分回路
８ オペアンプ
９ コンデンサ
１０、１０ａ、１０ｂ、１０ｃ 光センサ回路
２０ 光センサ回路アレイ
２１、２２、２３ 光センサアレイ
２１ａ、２１ｂ １対の光センサアレイ（上段）
２２ａ、２２ｂ １対の光センサアレイ（中段）
２３ａ、２３ｂ １対の光センサアレイ（下段）
２４ 積分回路アレイ
２４ａ、２４ｂ １対の積分回路アレイ
２５ 制御回路
２６ 出力回路
２７ 光軸
２８ 測定軸
２９ａ、２９ｂ、２９ｃ 対象物
３０ 測距レンズ
３１ カメラ
３２ 撮像レンズ
３３ 距離測定装置
３４ 測距レンズ
３５ 感光面
Ａ 下段の光センサアレイ２３ａ，ｂの視野
Ｂ 中段の光センサアレイ２２ａ，ｂの視野
Ｃ 上段の光センサアレイ２１ａ，ｂの視野
Ｄ 感光面の視野
Ｗ 光センサの幅
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば、カメラの自動焦点機構に用いられる距離測定装置とそれを装着したカメラに関し、特に、被写体を撮像レンズを通して撮影する撮像光学系と距離を測距レンズを通して測定する測距光学系とのパララックス（視差）を補正する機能を有する距離測定装置とそれを装着したカメラなどの撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図８は、三角測距の原理に基づく原理図である。この三角測距の原理について説明する（例えば、非特許文献１参照）。
被写体５５の光がレンズ５１、５２を通して、光センサアレイ５３、５４上に被写体像５６、５７として結像する。点Ｇ、点Ｈは、正面の無限遠からレンズ５１、５２の中心点Ｃ、Ｄを通過する光線（光軸５８、５９）と光センサアレイ５３、５４との交点である。点Ｇと点Ｈの間の距離をＢ、光センサアレイ５３、５４とレンズ５１、５２との距離をｆｅ（焦点距離と等しい）とする。また、光軸５８、５９からの被写体像５６、５７のずれをＸ１、Ｘ２とする。このＸ１とＸ２を足した長さをＸとする。尚、６１は測定系を示す。
【０００３】
ここで三角形ＡＣＥと三角形ＣＦＧおよび三角形ＡＥＤと三角形ＤＨＩはそれぞれ相似であることから、被写体５５までの距離ｄは次式で求められる。
【０００４】
【数１】
ｄ＝Ｂ・ｆe ／（Ｘ１＋Ｘ２）＝Ｂ・ｆe ／Ｘ
Ｘは被写体５５が無限遠にあるとき、すなわち二つの被写体像５６、５７がレンズ５１、５２の光軸５８、５９と光センサアレイの交点にある場合を基準とした２像の相対変移である。Ｂとｆｅは定数であるので、Ｘを検出することで距離ｄを求めることができる。
図９は、三角測距の原理に基づく距離測定装置の構成図である。測距原理については、前記した通りである。また、構成図は内部が分かる分解斜視図で示した。
【０００５】
この距離測定装置は、１対のレンズ７１、７２と、１対の光センサアレイ８１、８２を内蔵するオートフォーカスＩＣ（以下ＡＦＩＣ７６と称す）と、遮光箱７３とで構成され、必要に応じてＩＲ（赤外線）カットフィルタ７４が挿入される。ＡＦＩＣ７６と１対のレンズ７１、７２は遮光箱７３に固定して組み立てられる。
図１０は、ＡＦＩＣに封止されている半導体チップの要部構成図で、同図（ａ）は半導体チップの平面図、同図（ｂ）は光センサアレイの平面図、同図（ｃ）は光センサの平面図である。
【０００６】
半導体チップ８０は、１対の光センサアレイ８１、８２と、その回りに配置される増幅回路８３ａ、８３ｂ、８４ａ、８４ｂ、アドレス回路８５ａ、８５ｂ、８６ａ、８６ｂ、基準電圧回路８７ａ、８７ｂなどが集積される。尚、８８ａ、８８ｂはボンデングパッドアレイである。尚、増幅回路８３ａ、８３ｂ、８３ｃ、８３ｄ内に、後で説明する光センサの電流を積分する積分回路アレイが入っている。
また、１対の光センサアレイ８１、８２は、それぞれ多数の光センサ９１ａ、９１ｂから構成される。
【０００７】
また、各光センサ９１ａ、９１ｂは受光領域９８（受光部）とピックアップ電極９２で構成され、受光領域９８はフォトダイオードやフォトトランジスタで形成され、これらのフォトダイオードやフォトトランジスタは、半導体基板の表面層にイオン注入や拡散などで形成される。
この１対の光センサアレイ８１、８２の長手方向に対して垂直方向に各光センサ９１ａ、９１ｂの領域を広げて、図９のレンズ７１、７２と光センサアレイ８１、８２との位置合わせがズレた場合に、そのズレを補正する方法が特願２００２−０７７６７０に開示されている。
【０００８】
つぎに、従来の距離測定装置の主要回路と構成およびこの距離測定装置を搭載したカメラについて説明する。
図１１は、従来の距離測定装置を構成する光センサ回路である。光センサ回路１００は、光センサ１０１と、各光センサ１０１に流れるそれぞれの光電流を積分して、電圧に変換する積分回路１０２で構成される。光センサ１０１は、例えば、フォトダイオードやフォトトランジスタなどの光電変換素子であり、積分回路１０２は、例えば、オペアンプ１０３にコンデンサ１０４を接続した回路である。光センサ１０１であるフォトイオードのカソードに正、アノードに負の電圧を印加し、このフォトダイオードに光が入射すると、光電流が流れる。この光電流を積分回路１０２で積分し、この積分量に応じた電圧が光センサ回路１００からセンサ出力１０５として出力される。
【０００９】
図１２は、従来の光センサ回路アレイを示す図である。図１１の光センサ１０１と積分回路１０２で構成される光センサ回路１００を１列（１ライン）に並べて光センサ回路アレイ１３０が構成される。
この光センサ回路アレイ１３０は、見方を変えると光センサ１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ・・・をライン状に複数個並べた光センサアレイ１１０と、各光センサと接続する積分回路１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ・・・をライン状に複数個並べた積分回路アレイ１２０とから構成されているとも言える。
図１３は、従来の距離測定装置の要部構成図である。図１２の光センサ回路アレイ１１０を左右に１対（１１０ａ、１１０ｂ）配置し、それと図示しない選択スイッチを介して接続する１対の積分回路アレイ１２０ａ、１２０ｂからのセンサ出力信号が入力される出力回路１３２で構成される。
【００１０】
この１対の光センサアレイ１１０ａ、１１０ｂと１対の積分回路アレイ１２０ａ、１２０ｂで構成される１対の光センサ回路アレイ１３０ａ、１３０ｂを半導体チップ（ＡＦＩＣ）に形成する。また、１対の光センサアレイ１１０ａ、１１０ｂの直上には図９に示すように１対の測距レンズ（レンズ７１、７２）が配置される。
図１４は、図１３の距離測定装置を装着した従来のカメラの図である。この距離測定装置１４２は自動焦点装置として利用され、これをカメラ１４０に装着する場合、カメラ１４０内部の部品レイアウトの制約上、通常、距離測定装置１４２を撮像レンズ１４１の真横に装着することは難しいため、撮像レンズ１４１の直上や斜め方向に装着する。被写体に焦点を合わせる方法は、距離測定装置１４２で被写体までの距離を測定し、その測定データに基づいて、カメラ１４０の撮像レンズ１４１を移動させて行う。
【００１１】
光センサに被写体像を結像させる光学系と組み合わせて、距離測定装置を使用する場合、光センサアレイが１ラインでは、上下方向の視野は、光学系で決まる１方向と一定視野角に限定されてしまう。
そのため、図１５に示すように、測距レンズ１４３を通して１対の光センサアレイ１１０ａ、１１０ｂの上下の視野Ｅと撮像レンズ１４１を通してフィルムなどの感光面１４４の上下の視野Ｆとの間にずれ（視差：パララックス）により、視差領域１４５が生じてしまう。この視差領域１５１に対象とした被写体が入ると、被写体を距離測定装置の１対の光センサアレイ１１０ａ、１１０ｂが捕らえることができなくなり、精度の高い距離測定ができなくなる。そのため、被写体を感光面１４４に正確に合焦することができなくなる。
【００１２】
これを解決するために、パララックスが発生しないように、マルチ（多点）ラインセンサを利用することが特許文献で示唆されている（例えば、特許文献１参照）。
図１６は、マルチラインセンサを用いた距離測定装置の要部構成図である。
マルチラインセンサは、図１２の１対の光センサ回路アレイ１３０を長手方向に対して垂直方向に複数個配置した構成となっている。このマルチラインセンサは、隣接して配置される上段の光センサアレイ１５１ａ、１５１ｂと中段の光センサアレイ１５２ａ、１５２ｂの間に積分回路アレイ１５５ａ、１５５ｂが配置される構成となっている。また、同様に中段と下段の光センサアレイの間にも積分回路アレイが配置されている。
【００１３】
【非特許文献１】
富士時報Ｖｏｌ．６８ Ｎｏ．７ １９９５ ｐｐ４１５−ｐｐ４２０
【特許文献１】
特開２００１−３５００８１号公報 第１７頁、第１２図
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、マルチセンサアレイを用いる場合、この積分回路アレイが占める領域は、光センサが配置されない領域であるため、図１７に示すように、隣の１対の光センサアレイ１５１ａ，ｂ、１５２ａ，ｂ、１５３ａ，ｂの間に大きな隙間が空き、撮像レンズ１４１を介して見る感光面１６１の視野Ｐと測距レンズ１４３を介して見る１対の光センサアレイ１５１ａ，ｂ、１５２ａ，ｂ、１５３ａ，ｂの視野Ｌ、Ｍ、Ｎの間で重ならない領域（視差領域１６２）が複数箇所で生じる。つまり、視差（パララックス）を生じてしまう。そのため、精度のよい距離の測定ができなくなり、正確に被写体を感光面１６１に合焦することができない。
【００１５】
また、個々の光センサにそれぞれ積分回路が設けられているため、配線数が多くなる。そのため、配線の占める面積と積分回路アレイが占める面積が増大し、チップサイズが大きくなる。
この発明の目的は、前記の課題を解決して、小チップサイズでパララックスが精度よく補正できる距離測定装置とそれを装着したカメラなどの撮像装置を提供することにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するために、互いに空間的に異なる測距レンズを通した光路を介して測定すべき対象の映像が結像される左右に１対の光センサアレイを有し、該光センサアレイの各光センサの受光強度に応じた映像出力信号により前記対象までの距離を測定する距離測定装置において、光センサアレイの長手方向に対して垂直方向に、１対の光センサアレイが複数個隣接して配置されて形成される１対の光センサアレイ群を有し、該光センサアレイ群の中から受光有効領域となる１対の光センサアレイを、前記対象が含まれる距離範囲に応じて選択する選択手段と、該選択手段で選択された光センサアレイの出力電流を該光センサアレイを構成する光センサ毎に積分する積分回路と、を備える構成とする。
【００１７】
また、前記選択手段が、選択スイッチとなる半導体素子（ＭＯＳＦＥＴなど）と、該半導体素子のオン・オフ信号を前記対象が含まれる距離範囲に応じて出力する制御回路とからなるとよい。
また、互いに空間的に異なる測距レンズを通した光路を介して測定すべき対象の映像が結像される左右に１対の光センサアレイを有し、該光センサアレイの各光センサの受光強度に応じた映像出力信号により前記対象までの距離を測定する距離測定装置を装着し、撮像レンズを通して前記対象の映像が結像される感光面を有するカメラなどの撮像装置において、光センサアレイの長手方向に対して垂直方向に、１対の光センサアレイが複数個隣接して配置されて形成される１対の光センサアレイ群を有し、該光センサアレイ群の中から受光有効領域となる１対の光センサアレイを、前記撮像レンズを通しての視野と前記測距レンズを通しての視野が前記対象までの距離により異なることで生じるパララックスを補正するように選択する選択手段と、該選択手段で選択された光センサアレイの出力電流を該光センサアレイを構成する光センサ毎に積分する積分回路と、を備える構成とする。
【００１８】
このように、１対の光センサアレイを上下方向に複数個配置し、被写体が含まれる距離範囲に応じて光センサアレイを選択することで、精度のよい距離測定を行うことができる。また撮像レンズとの視差も補正できる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
図１は、この発明の第１実施例の距離測定装置を構成する光センサ回路図である。これは、図１１に相当する光センサ回路である。
光センサ回路１０は、複数個の光センサアレイを構成するために、複数個（ここでは３個）の光センサ１、２、３と、この光センサ１、２、３を選択する選択スイッチ（ＭＯＳＦＥＴ４、５、６）と、この複数個の光センサ１、２、３に１個の積分回路７が備えられている。光センサ１、２、３は、例えば、フォトダイオードであり、積分回路７は、例えば、オペアンプ８にコンデンサ９を接続した回路である。フォトダイオードに光が入射すると、光電流が流れ、この光電流を積分回路で積分し、この積分量に応じた電圧が光センサ回路１０からセンサ出力として出力される。
【００２０】
図２は、この発明の第１実施例の距離測定装置を構成する光センサ回路アレイのレイアウト図である。図１２に相当するレイアウト図である。図１の光センサ回路１０をライン状に並べて光センサ回路アレイ２０とする。この光センサ回路アレイ２０は、３個の光センサアレイ２１、２２、２３と１個の積分回路アレイ２４で構成され、ライン間隔の非常に狭いマルチラインセンサを形成する。光センサアレイの個数は３個に限るものではない。
各ライン間は選択スイッチであるＭＯＳＦＥＴ４ａ、４ｂ、４ｃ・・・、ＭＯＳＦＥＴ５ａ、５ｂ、５ｃ・・・、ＭＯＳＦＥＴ６ａ、６ｂ、６ｃ・・・のみのレイアウトになるため、ライン間を狭くすることができる。また、上段の光センサアレイ２１は光センサ１ａ、１ｂ、１ｃ・・・で構成され、中段の光センサアレイ２２は光センサ２ａ、２ｂ、２ｃ・・・で構成され、下段の光センサアレイ２３は光センサ３ａ、３ｂ、３ｃ・・・で構成される。
【００２１】
例えば、ＭＯＳＦＥＴ４ａ、４ｂ、４ｃ・・・がオンすると、光センサ１ａ、１ｂ、１ｃ・・・の光電流が積分回路アレイ２４を構成する積分回路７ａ、７ｂ、７ｃ・・・に流れ、その電流を積分して光電流量に応じた電圧をセンサ出力信号として出力する。
図３は、この発明の第１実施例の距離測定装置の要部構成図である。この図では測距レンズなどの説明は省かれている。
上段の１対の光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、中段の１対の光センサアレイ２２ａ、２２ｂ、下段の１対の光センサアレイ２３ａ、２３ｂの３ライン（３列）が配置され、これら３ラインの光センサアレイに１ラインの１対の積分回路アレイ２４ａ、２４ｂが配置される。また、前記したように各光センサアレイを構成する各光センサは、図示しない微小な選択スイッチであるＭＯＳＦＥＴを介して積分回路アレイを構成する各積分回路に接続し、この積分回路は選択された光センサアレイの光センサから流出する光電流を積分して、光電流量に応じた電圧に変換してセンサ出力信号とする。ＭＯＳＦＥＴをオン・オフさせる信号は中央に配置された制御回路２５から伝送される。また、積分回路からのセンサ出力信号は、出力回路２６に入力され、この積分回路２６からのセンサ出力信号に対応する出力信号が、出力回路２６から図示しない撮像レンズを含む撮像光学系に伝送される。尚、ここでは、各光センサ、各積分回路、制御回路、出力回路間の配線は省略されている。
【００２２】
図４は、図３の距離測定装置による測定距離と視野の関係を説明する図である。図３の下段の１対の光センサアレイ２３ａ、２３ｂが、無限遠の光を受光する受光領域となるように固定した場合で、測距レンズ３０の中心と光センサアレイ２３ａ、２３ｂの中心を結ぶ光軸（面）２７と所定の距離で平行となる測定軸（面）２８にある対象物２９の距離を測定する場合について説明する。
遠距離にある対象物２９ａは下段の１対の光センサアレイ２３ａ、２４ａの視野Ａに入るので距離を測定できる。また、中距離にある対象物２９ｂは中段の１対の光センサアレイ２２ａ、２２ｂの視野Ｂに入るので距離を測定できる。また、至近距離にある対象物２９ｃは上段の１対の光センサアレイ２１ａ、２１ｂの視野Ｃに入るので距離を測定できる。
【００２３】
このように、対象物が入る距離範囲により受光領域となる光センサアレイを選択することで、遠近によらず対象物が光センサアレイの視野に入り、正確な距離を測定することができる。
図５は、この発明の第２実施例の距離測定装置の要部構成図である。図３との違いは、図３の光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、２２ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂを構成する光センサを２つに分割し、この分割された光センサの上下に積分回路２４ａ、２４ｂを配置して点である。
各光センサの幅Ｗは、図３の光センサと比べて半分となり、微細化されているので、図３の距離測定装置より距離の測定精度が上がる。また、図３の距離測定装置と同様に、上下方向に光センサアレイを複数個配置しているので、遠近によらず対象物が光センサアレイの視野に入り、距離を正確に 測定することができる。
【００２４】
図６は、この発明の第３実施例のカメラの要部正面図である。これは、図３の距離測定装置を装着したカメラ３１の図であり、距離測定装置３３の測距レンズ３４は撮像レンズ３２の直上に配置される。こうすることで、図７で説明するように、撮像レンズ３２が捕らえる視野と測距レンズ３４が捕らえる視野が不一致となると領域（視差領域）を小さくすることができる。つまり、撮像レンズ３２と測距レンズ３４との視差（パララックス）を精度よく補正することができる。尚、図５の距離測定装置を装着した場合も同様である。
図７は、図３の距離測定装置を装着したカメラの視野を示す図である。撮像レンズ３２の直上に距離測定装置の測距レンズ３４を配置した図６のカメラ３１の場合、上段、中段、下段の各光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、２２ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂを微小な隙間で配置し、図３で示す上段、中段、下段の１対の光センサアレイ２１ａ、２１ｂ、２２ａ、２２ｂ、２３ａ、２３ｂの各段の隙間を微小とすることで、撮像レンズでの視野と測距レンズでの視野が重る領域が広がり、各１対の光センサアレイを距離に応じて選択することで、パララックスを補正できて、被写体をフィルムなどの感光面３５に正確に合焦できる。
【００２５】
また、図５のように光センサの幅Ｗを小さくすることで、距離の測定がさらに精度よくできて、被写体をフィルムなどの受光面３５にさらに正確に合焦することができる。
具体的には、被写体が遠景の場合は上段の光センサアレイ（視野Ａ）を、被写体が中景の場合は中段の光センサアレイ（視野Ｂ）を、被写体が至近の場合は下段の光センサアレイ（視野Ｃ）を選択することによって、撮像レンズ３２と測距レンズ３４とのパララックスを補正すことができる。つまり、小さな視差領域３６とすることができる。
【００２６】
また、被写体が遠景か至近かの判断は、詳細説明はしないが、半導体チップに形成したＩＣ回路のアルゴリズムで行うか、ズームカメラの場合はズーム比で行うとよい。
例えば、アルゴリズムで行う場合は、まず、下段の光センサアレイの視野Ａに、被写体が入った場合は、測距し、入らない場合は中段の光センサアレイに切替える。被写体が視野Ｂに入ったら測距し、入らない場合は上段の光センサアレイに切り換え、視野Ｃに入れて測距する。予め各視野Ａ、Ｂ、Ｃで測距する距離範囲（例えば、０．５ｍ未満、０．５ｍ以上で３ｍ未満、３ｍ以上など）を決めておき、両方の視野に入った場合は予め決めた視野と合う光センサアレイで測距する。
【００２７】
また、隣接する上下の光センサアレイを同時に選択することによって上下方向の視野角を広げることができる。
尚、本発明の距離測定装置は、その適用範囲は、車間距離などを測定する装置などカメラなどの撮像装置に限ったことではない。
【００２８】
【発明の効果】
この発明では、１対の光センサアレイを上下方向に複数個配置することで、撮像レンズと測距レンズでの距離による視野のずれ（パララックス）を高精度で補正することができる。
また、複数個の光センサに１個の積分回路を設けることで、１個の光センサに１個の積分回路が接続するマルチラインセンサと比べて、半導体チップの小型化を図ることができる。
また、複数個の光センサに１個の積分回路を設けることで、光センサと積分回路を接続する配線の本数を減らすことができて、配線の占める面積を低減できるので、半導体チップの小型化を図ることができる。
【００２９】
さらに、光センサアレイを構成する光センサを半分に分割し、それぞれに１個の積分回路を設けることで、高精度な距離測定ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の第１実施例の距離測定装置を構成する光センサ回路図
【図２】この発明の第１実施例の距離測定装置を構成する光センサ回路アレイのレイアウト図
【図３】この発明の第１実施例の距離測定装置の要部構成図
【図４】図３の距離測定装置による測定距離と視野の関係を説明する図
【図５】この発明の第２実施例の距離測定装置の要部構成図
【図６】この発明の第３実施例のカメラの要部正面図
【図７】図３の距離測定装置を装着したカメラの視野を示す図
【図８】三角測距の原理に基づく原理図
【図９】三角測距の原理に基づく距離測定装置の構成図
【図１０】ＡＦＩＣに封止されている半導体チップの要部構成図で、（ａ）は半導体チップの平面図、（ｂ）は光センサアレイの平面図、（ｃ）は光センサの平面図
【図１１】従来の距離測定装置を構成する光センサ回路
【図１２】従来の光センサ回路アレイを示す図
【図１３】従来の距離測定装置の要部構成図
【図１４】図１３の距離測定装置を装着した従来のカメラの図
【図１５】従来のカメラで視差（パララックス）が生じることを説明した図
【図１６】マルチラインセンサを用いた距離測定装置の要部構成図
【図１７】マルチラインセンサを用いたカメラでの視差（パララックス）について説明すた図
【符号の説明】
１、１ａ、１ｂ、１ｃ 光センサ
２、２ａ、２ｂ、２ｃ 光センサ
３、３ａ、３ｂ、３ｃ 光センサ
４、４ａ、４ｂ、４ｃ ＭＯＳＦＥＴ
５、５ａ、５ｂ、５ｃ ＭＯＳＦＥＴ
６、６ａ、６ｂ、６ｃ ＭＯＳＦＥＴ
７、７ａ、７ｂ、７ｃ 積分回路
８ オペアンプ
９ コンデンサ
１０、１０ａ、１０ｂ、１０ｃ 光センサ回路
２０ 光センサ回路アレイ
２１、２２、２３ 光センサアレイ
２１ａ、２１ｂ １対の光センサアレイ（上段）
２２ａ、２２ｂ １対の光センサアレイ（中段）
２３ａ、２３ｂ １対の光センサアレイ（下段）
２４ 積分回路アレイ
２４ａ、２４ｂ １対の積分回路アレイ
２５ 制御回路
２６ 出力回路
２７ 光軸
２８ 測定軸
２９ａ、２９ｂ、２９ｃ 対象物
３０ 測距レンズ
３１ カメラ
３２ 撮像レンズ
３３ 距離測定装置
３４ 測距レンズ
３５ 感光面
Ａ 下段の光センサアレイ２３ａ，ｂの視野
Ｂ 中段の光センサアレイ２２ａ，ｂの視野
Ｃ 上段の光センサアレイ２１ａ，ｂの視野
Ｄ 感光面の視野
Ｗ 光センサの幅
Claims (3)
- 互いに空間的に異なる測距レンズを通した光路を介して測定すべき対象の映像が結像される左右に１対の光センサアレイを有し、該光センサアレイの各光センサの受光強度に応じた映像出力信号により前記対象までの距離を測定する距離測定装置において、
光センサアレイの長手方向に対して垂直方向に、１対の光センサアレイが複数個隣接して配置されて形成される１対の光センサアレイ群を有し、該光センサアレイ群の中から受光有効領域となる１対の光センサアレイを、前記対象が含まれる距離範囲に応じて選択する選択手段と、該選択手段で選択された光センサアレイの出力電流を該光センサアレイを構成する光センサ毎に積分する積分回路と、を備えることを特徴とする距離測定装置。 - 前記選択手段が、選択スイッチとなる半導体素子と、該半導体素子のオン・オフ信号を前記対象が含まれる距離範囲に応じて出力する制御回路とからなることを特徴とする請求項１に記載の距離測定装置。
- 互いに空間的に異なる測距レンズを通した光路を介して測定すべき対象の映像が結像される左右に１対の光センサアレイを有し、該光センサアレイの各光センサの受光強度に応じた映像出力信号により前記対象までの距離を測定する距離測定装置を装着し、撮像レンズを通して前記対象の映像が結像される感光面を有する撮像装置において、
光センサアレイの長手方向に対して垂直方向に、１対の光センサアレイが複数個隣接して配置されて形成される１対の光センサアレイ群を有し、該光センサアレイ群の中から受光有効領域となる１対の光センサアレイを、前記撮像レンズを通しての視野と前記測距レンズを通しての視野が前記対象までの距離により異なることで生じるパララックスを補正するように選択する選択手段と、該選択手段で選択された光センサアレイの出力電流を該光センサアレイを構成する光センサ毎に積分する積分回路と、を備えることを特徴とする撮像装置。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7333182B2 (en) | 2004-03-18 | 2008-02-19 | Fuji Electric Device Technology Co., Ltd. | Range finder and method of reducing signal noise therefrom |
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2002
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