JP2004170180A - 非接触icカード用lsi試験用ソケット及び非接触icカード用lsiの試験方法 - Google Patents
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- JP2004170180A JP2004170180A JP2002334937A JP2002334937A JP2004170180A JP 2004170180 A JP2004170180 A JP 2004170180A JP 2002334937 A JP2002334937 A JP 2002334937A JP 2002334937 A JP2002334937 A JP 2002334937A JP 2004170180 A JP2004170180 A JP 2004170180A
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Abstract
【課題】非接触ICカードにおいて、非接触ICカードLSIをカードに組み込む前に単体で、動作および機能確認を行なう試験方法を提供する。
【解決手段】非接触ICカードLSI用ソケットを用いて非接触ICカード用LSIを単体で試験することが出来る。不良となった非接触ICカード用LSIは、単体で廃棄が可能となり、コストを削減し、歩留りを上げることが出来る。
【選択図】図1
【解決手段】非接触ICカードLSI用ソケットを用いて非接触ICカード用LSIを単体で試験することが出来る。不良となった非接触ICカード用LSIは、単体で廃棄が可能となり、コストを削減し、歩留りを上げることが出来る。
【選択図】図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、非接触ICカード用LSIを試験するための試験用ソケットと非接触ICカード用LSIの試験方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、情報処理の効率化やセキュリティーの観点から、磁気ストライプを記憶媒体としていた従来のクレジットカードにメモリやCPUを内蔵した接触型のICカードが普及している。この接触型ICカードは、接続端子をもつリーダライタを介して外部の親装置からデータをカード内部のCPUに取り込んで、このデータとメモリ内のデータとの照合を行ったり、メモリの内容を書き換えたりすることが可能となっている。
【0003】
しかし、カードを携帯する利用者にとって、接触型ICカードをリーダライタの差し込み口に挿入しなければならないため、操作が面倒であった。そこで解決策として、非接触型のICカード(以下、「非接触ICカード」と記す)が用いられるようになってきた。
【0004】
この非接触ICカードとは、ICカード本体に送受信回路、送受信制御回路等の電子回路を設け、データの伝送媒体として例えば電磁波、光、静電結合などを用いてICカード内のメモリにデータを書き込み又は読み出すものである。これによれば、使用の際にカードをリーダライタに挿入する必要がなくなるという利点がある
一般的に非接触ICカードはプラスチックなどを基材とするカード本体に半導体メモリー等のICモジュールおよび非接触伝達素子であるアンテナ又はコイルが内蔵されている。そして、専用の読み書き装置の通信機能部から放射される電磁界を、このカード内部のアンテナ又はコイルにより検出して読み書き装置とのデータの交信が行われる。
【0005】
前記した非接触ICカードは以下のように製作される。図6は、非接触ICカードの内部構成図であり、図7は、非接触ICカードの試験方法を示す。
【0006】
図6に示すように、アンテナ13は絶縁膜によって被覆された被覆アルミニウムワイヤをカード基板シート15の上面に配線して形成してある。被覆アルミニウムワイヤであるため交差して配線してもアンテナの通信特性に支障が生じないようになる。アンテナ13の終端部は、絶縁膜が除去されて、接触子14に接合される。非接触ICカード用LSI12はアンテナ13からの電力と信号でデータの読込み、書込みを行うものであり、半田付けや導電性接着剤などを用いて接触子14に接合されている。その後、カード基板シート15は、表裏シートによってラミネート加工されて非接触ICカード11となる。
【0007】
従来、非接触ICカードは、非接触ICカード用LSIをアンテナを内蔵した非接触ICカードへ組み込んだカードの状態で、実際のリーダライタにより試験していた。(例えば、特許文献1参照。)。
【0008】
図7に示すように、完成した非接触ICカード11はICカードリーダライタ20より一定距離離れた形で、非接触ICカードとの間で通信を行う試験にて検査される。
【0009】
【特許文献1】
特開平9−102021号公報(第2−3頁、第1図)
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような試験方法では、非接触ICカード完成後の試験であるため、製造工程において不良な非接触ICカード用LSIの混入があった場合でもカード製造は通常どおり行われ、カード完成後の試験で初めて不良カードであることが判明する結果となってしまう。一旦完成したカードは分解出来ないため、試験で不良となったカードは、非接触ICカード用LSIが悪い場合でもICカードの状態で廃却する必要がある。そのため、非接触ICカードを構成する部材、例えば、アンテナを形成するカード基材シートや、これを挟み込む表裏シート等が無駄になり、製造コストがアップする要因となる。
【0011】
従って、カード化する前に非接触ICカード用LSIの動作および機能確認を行なう必要がある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明は、非接触ICカード用LSIを非接触ICカードへ組み込まずに、非接触通信試験を行うことが出来る試験用ソケットと非接触ICカード用LSIの試験方法を提供することを目的とする。
【0013】
【発明の実施の形態】
[第一実施形態]
本発明の実施例による非接触ICカード用LSI試験用ソケットについて、図1乃至図5を用いて説明する。図1は非接触ICカード用LSI試験用ソケットの構成図であり、図2乃至図5は非接触ICカード用LSI試験用ソケットの構造を示す図である。
【0014】
図1を参照して、本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験用ソケット1は、基板5とアンテナ3と接触子4と押さえ6からなる。基板5は、一般に使用されているICカードと類似の基板であり、基板5上には通信用アンテナ3が配線され、またその終端には接触子4がついている。非接触ICカード用LSI2を、位置合わせ用のガイド7に合わせて、接触子4の上にのせ、押さえ6により非接触ICカード用LSI2のアンテナ端子と接触子4との接触を保持するために固定する。
【0015】
図2に、アンテナ3の終端の接触子4が、板バネ状になっているものを示す。接触子4が、板バネ状になっていることにより、非接触ICカード用LSI2のアンテナ端子との接触がより確実となる。
【0016】
図3に、アンテナ3の終端の接触子4が、ポゴピン状になっているものを示す。接触子4が、ポゴピン状になっていることにより、非接触ICカード用LSI2のアンテナ端子との接触がより確実となる。
【0017】
図4に、導電シートタイプを示す。アンテナ3の終端の接触子4は、金パッド状になっており、その上には導電シート8が乗せられ、非接触ICカード用LSI2との接触が図られる。
【0018】
図5に、押さえ機構付きソケットを示す。図2乃至4の試験ソケットの押さえ6は基板5から取り外しできる構造となっているが、図5の試験ソケットの押さえ6は、開閉ができる構造となっており、蝶番で基板5に固定されている。非接触ICカード用LSI2を位置合わせ用のガイド7に合わせて接触子4上に乗せ、押さえ6を閉め固定する。
【0019】
図7を参照して、非接触ICカード用LSI2の出荷試験は、非接触ICカード用LSI試験ソケット1にセットした状態で、非接触ICカード11と同じ様にICカードリーダライタ20との間で非接触通信試験を行い、合否判定を行う。
【0020】
【発明の効果】
以上の通り、本発明によれば、非接触ICカード用LSIを非接触ICカードに組み込む前に、非接触ICカードLSI用ソケットを用いて単体で試験することが出来る。従来は非接触ICカードに組み込んだ後に試験を行なっていたため、不良となった非接触ICカードは分解できないのでそのまま廃棄していた。本発明によると、不良となった非接触ICカード用LSIは、単体で廃棄すればよいので、いままで一緒に捨てていたアンテナ、基板などの他の部材が無駄になるのを防ぐことができるので、コスト削減の効果がある。また、不良非接触ICカードLSI用を組み立てる余計な作業時間を減らし歩留りを上げることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットの構成図である。
【図2】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットである。
【図3】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットである。
【図4】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットである。
【図5】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットである。
【図6】非接触ICカードの内部構成図である。
【図7】非接触ICカードの試験方法を示す。
【符号の説明】
1…非接触ICカードLSI用ソケット
2…非接触ICカード用LSI
3…アンテナ
4…接触子
5…基板
6…押さえ
7…ガイド
8…導電シート
11…非接触ICカード
12…非接触ICカード用LSI
13…アンテナ
14…接触子
15…カード基板シート
20…ICカードリーダライタ
【発明の属する技術分野】
本発明は、非接触ICカード用LSIを試験するための試験用ソケットと非接触ICカード用LSIの試験方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、情報処理の効率化やセキュリティーの観点から、磁気ストライプを記憶媒体としていた従来のクレジットカードにメモリやCPUを内蔵した接触型のICカードが普及している。この接触型ICカードは、接続端子をもつリーダライタを介して外部の親装置からデータをカード内部のCPUに取り込んで、このデータとメモリ内のデータとの照合を行ったり、メモリの内容を書き換えたりすることが可能となっている。
【0003】
しかし、カードを携帯する利用者にとって、接触型ICカードをリーダライタの差し込み口に挿入しなければならないため、操作が面倒であった。そこで解決策として、非接触型のICカード(以下、「非接触ICカード」と記す)が用いられるようになってきた。
【0004】
この非接触ICカードとは、ICカード本体に送受信回路、送受信制御回路等の電子回路を設け、データの伝送媒体として例えば電磁波、光、静電結合などを用いてICカード内のメモリにデータを書き込み又は読み出すものである。これによれば、使用の際にカードをリーダライタに挿入する必要がなくなるという利点がある
一般的に非接触ICカードはプラスチックなどを基材とするカード本体に半導体メモリー等のICモジュールおよび非接触伝達素子であるアンテナ又はコイルが内蔵されている。そして、専用の読み書き装置の通信機能部から放射される電磁界を、このカード内部のアンテナ又はコイルにより検出して読み書き装置とのデータの交信が行われる。
【0005】
前記した非接触ICカードは以下のように製作される。図6は、非接触ICカードの内部構成図であり、図7は、非接触ICカードの試験方法を示す。
【0006】
図6に示すように、アンテナ13は絶縁膜によって被覆された被覆アルミニウムワイヤをカード基板シート15の上面に配線して形成してある。被覆アルミニウムワイヤであるため交差して配線してもアンテナの通信特性に支障が生じないようになる。アンテナ13の終端部は、絶縁膜が除去されて、接触子14に接合される。非接触ICカード用LSI12はアンテナ13からの電力と信号でデータの読込み、書込みを行うものであり、半田付けや導電性接着剤などを用いて接触子14に接合されている。その後、カード基板シート15は、表裏シートによってラミネート加工されて非接触ICカード11となる。
【0007】
従来、非接触ICカードは、非接触ICカード用LSIをアンテナを内蔵した非接触ICカードへ組み込んだカードの状態で、実際のリーダライタにより試験していた。(例えば、特許文献1参照。)。
【0008】
図7に示すように、完成した非接触ICカード11はICカードリーダライタ20より一定距離離れた形で、非接触ICカードとの間で通信を行う試験にて検査される。
【0009】
【特許文献1】
特開平9−102021号公報(第2−3頁、第1図)
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような試験方法では、非接触ICカード完成後の試験であるため、製造工程において不良な非接触ICカード用LSIの混入があった場合でもカード製造は通常どおり行われ、カード完成後の試験で初めて不良カードであることが判明する結果となってしまう。一旦完成したカードは分解出来ないため、試験で不良となったカードは、非接触ICカード用LSIが悪い場合でもICカードの状態で廃却する必要がある。そのため、非接触ICカードを構成する部材、例えば、アンテナを形成するカード基材シートや、これを挟み込む表裏シート等が無駄になり、製造コストがアップする要因となる。
【0011】
従って、カード化する前に非接触ICカード用LSIの動作および機能確認を行なう必要がある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明は、非接触ICカード用LSIを非接触ICカードへ組み込まずに、非接触通信試験を行うことが出来る試験用ソケットと非接触ICカード用LSIの試験方法を提供することを目的とする。
【0013】
【発明の実施の形態】
[第一実施形態]
本発明の実施例による非接触ICカード用LSI試験用ソケットについて、図1乃至図5を用いて説明する。図1は非接触ICカード用LSI試験用ソケットの構成図であり、図2乃至図5は非接触ICカード用LSI試験用ソケットの構造を示す図である。
【0014】
図1を参照して、本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験用ソケット1は、基板5とアンテナ3と接触子4と押さえ6からなる。基板5は、一般に使用されているICカードと類似の基板であり、基板5上には通信用アンテナ3が配線され、またその終端には接触子4がついている。非接触ICカード用LSI2を、位置合わせ用のガイド7に合わせて、接触子4の上にのせ、押さえ6により非接触ICカード用LSI2のアンテナ端子と接触子4との接触を保持するために固定する。
【0015】
図2に、アンテナ3の終端の接触子4が、板バネ状になっているものを示す。接触子4が、板バネ状になっていることにより、非接触ICカード用LSI2のアンテナ端子との接触がより確実となる。
【0016】
図3に、アンテナ3の終端の接触子4が、ポゴピン状になっているものを示す。接触子4が、ポゴピン状になっていることにより、非接触ICカード用LSI2のアンテナ端子との接触がより確実となる。
【0017】
図4に、導電シートタイプを示す。アンテナ3の終端の接触子4は、金パッド状になっており、その上には導電シート8が乗せられ、非接触ICカード用LSI2との接触が図られる。
【0018】
図5に、押さえ機構付きソケットを示す。図2乃至4の試験ソケットの押さえ6は基板5から取り外しできる構造となっているが、図5の試験ソケットの押さえ6は、開閉ができる構造となっており、蝶番で基板5に固定されている。非接触ICカード用LSI2を位置合わせ用のガイド7に合わせて接触子4上に乗せ、押さえ6を閉め固定する。
【0019】
図7を参照して、非接触ICカード用LSI2の出荷試験は、非接触ICカード用LSI試験ソケット1にセットした状態で、非接触ICカード11と同じ様にICカードリーダライタ20との間で非接触通信試験を行い、合否判定を行う。
【0020】
【発明の効果】
以上の通り、本発明によれば、非接触ICカード用LSIを非接触ICカードに組み込む前に、非接触ICカードLSI用ソケットを用いて単体で試験することが出来る。従来は非接触ICカードに組み込んだ後に試験を行なっていたため、不良となった非接触ICカードは分解できないのでそのまま廃棄していた。本発明によると、不良となった非接触ICカード用LSIは、単体で廃棄すればよいので、いままで一緒に捨てていたアンテナ、基板などの他の部材が無駄になるのを防ぐことができるので、コスト削減の効果がある。また、不良非接触ICカードLSI用を組み立てる余計な作業時間を減らし歩留りを上げることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットの構成図である。
【図2】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットである。
【図3】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットである。
【図4】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットである。
【図5】本発明の実施形態による非接触ICカード用LSI試験ソケットである。
【図6】非接触ICカードの内部構成図である。
【図7】非接触ICカードの試験方法を示す。
【符号の説明】
1…非接触ICカードLSI用ソケット
2…非接触ICカード用LSI
3…アンテナ
4…接触子
5…基板
6…押さえ
7…ガイド
8…導電シート
11…非接触ICカード
12…非接触ICカード用LSI
13…アンテナ
14…接触子
15…カード基板シート
20…ICカードリーダライタ
Claims (2)
- 基板と、
該基板上に設けた通信用アンテナと、
該通信用アンテナの両端に設けた非接触ICカード用LSIを接続するための接触子と、
非接触ICカード用LSIを固定する押さえ機構と
を有すること特徴とする非接触ICカード用LSI試験用ソケット。 - 非接触ICカード用LSIを非接触ICカードへ組み込むこと無しに、実使用と同等の状態で出荷試験を行うことを特徴とする非接触ICカード用LSIの試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002334937A JP2004170180A (ja) | 2002-11-19 | 2002-11-19 | 非接触icカード用lsi試験用ソケット及び非接触icカード用lsiの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002334937A JP2004170180A (ja) | 2002-11-19 | 2002-11-19 | 非接触icカード用lsi試験用ソケット及び非接触icカード用lsiの試験方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004170180A true JP2004170180A (ja) | 2004-06-17 |
Family
ID=32699195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002334937A Pending JP2004170180A (ja) | 2002-11-19 | 2002-11-19 | 非接触icカード用lsi試験用ソケット及び非接触icカード用lsiの試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004170180A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108490298A (zh) * | 2018-05-25 | 2018-09-04 | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 一种采用金属箔贴片式天线触点设计的纸线圈装置 |
-
2002
- 2002-11-19 JP JP2002334937A patent/JP2004170180A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108490298A (zh) * | 2018-05-25 | 2018-09-04 | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 一种采用金属箔贴片式天线触点设计的纸线圈装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080108 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080430 |