JP2004125938A - 映像表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】表示デバイスのコントローラより調整用のテストパターンを表示してもOSD表示可能にすることで工場の調整者が調整値を数値管理できるようにすることを目的とする。
【解決手段】ドットマトリクス型の表示デバイス上にテストパターンを表示して自身を調整するようになされた映像表示装置であって、
テストパターンの一部領域は前段からの映像信号がそのまま表示されるようにしたことを特徴とする映像表示装置。
【選択図】 図1
【解決手段】ドットマトリクス型の表示デバイス上にテストパターンを表示して自身を調整するようになされた映像表示装置であって、
テストパターンの一部領域は前段からの映像信号がそのまま表示されるようにしたことを特徴とする映像表示装置。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、表示デバイスを用いた映像表示装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
ドットマトリクス型の表示デバイスを用いた映像表示装置には、例えば液晶テレビやコンピューター用の液晶モニター、プラズマテレビ等がある。また、今後は有機EL(エレクトロ・ルミネッセンス)やFED(フィールド・エミッション・ディスプレイ)等のデバイスを使用したテレビや携帯電話等が登場してくると考えられる。
【0003】
これらの表示デバイスは表示のためにそれぞれ固有の調整方法がある。その一例としてTFT(シン・フィルム・トランジスタ)液晶ディスプレイを例に説明する(特許文献1参照)。
【0004】
液晶ディスプレイは液晶層に電極であるラインを通じて直流電圧を印加すると液晶の寿命を短くし、焼き付き等の問題を引き起こすことが知られている。そのため一般的に映像のフレーム毎に極性を反転させる交流駆動を行っている。しかし、TFT部に発生する寄生キャパシタの影響でTFTのゲート非選択期間に他ラインのゲート選択による突き抜け電圧が画素電極に発生する。これは画素電極の極性にかかわらず同一方向に発生する為、液晶層に直流成分を印加することとなり前述した問題を引き起こす。
【0005】
寄生キャパシタはパネル毎にばらつく為、通常はパネルの生産行程にて調整が必要となる。未調整のパネルの場合、特定のパターンの信号を表示させると画像にフリッカとして現われる為、調整行程ではこのフリッカが最小となる値に前記対向電極の電圧を調整する。このときに表示するテストパターンはTFTの極性反転の仕方により異なる。例えばフレーム毎且つ隣接画素毎に反転さている場合(これをドット反転駆動と呼ぶ)は画素毎に中間調と黒を表示するようなテストパターンを表示させる。このようなドットマトリクス型の表示デバイスは通常これらを駆動するコントローラが専用に内蔵されており、これら調整パターンもコントローラから表示できるようになっていることが多い。
【0006】
図4は従来の映像表示装置のブロック図である。1は入力映像信号が入る入力端子であり、4は入力映像信号を表示するドットマトリクス表示装置である。ドットマトリクス表示装置4は下記の3つのブロックで構成される。12は映像を表示するドットマトリクス表示パネル、9はドットマトリクス表示パネル12を駆動するための信号を出力するドライバ、10はドットマトリクス表示パネル12とドライバ9を制御したり、調整用テストパターンを出力するコントローラである。
【0007】
11は、入力端子1から入った映像信号を信号処理し、ドットマトリクス表示装置4に出力する映像信号処理手段である。また、映像信号処理手段4の内部において、2は入力映像信号に文字やグラフィックなどを重畳するOSD表示回路である。
【0008】
このように従来の映像表示装置にはドットマトリクス表示装置4にコントローラ10が内蔵されており、ドットマトリクス表示装置4単体で前述したデバイス固有の調整が可能な構成となっている。よって映像表示装置は、ドットマトリクス表示装置4のもの調整がなされるだけで、映像信号処理手段など他の手段を含めた映像表示装置セットとして調整されることは無かった。
【0009】
【特許文献1】
特開平07−13516号公報
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、コストダウンや薄型化等のために前記したコントローラ10等を映像表示装置本体に組み込もうとすれば映像表示装置セットの生産工程での調整が必要となる。そこで前記したコントローラ10を制御しテストパターンを表示パネルに表示させ、調整する必要がある。
【0011】
しかしながら通常これら調整行程では、調整者がオン・スクリーン・ディスプレイ(以下、OSDと記す)等を通して現在の調整値や調整モードをドットマトリクス表示パネルの画面上で認識する必要があるが、前記したコントローラ10は表示デバイスの直前に位置するため、OSDがテストパターンに上書きされOSD表示ができないという問題があった。
【0012】
上記の問題に鑑み本発明はなされたものであって、表示デバイスのコントローラより調整用のテストパターンを表示してもOSD表示可能にすることで工場の調整者が調整値を数値管理できるようにすることを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明の映像表示装置は、ドットマトリクス型の表示デバイス上にテストパターンを表示して自身を調整するようになされた映像表示装置であって、テストパターンの一部領域は前段からの映像信号がそのまま表示されるようにしたことを特徴とするものである。
【0014】
上記発明により、テストパターンの一部領域は前段からの映像信号がそのまま表示され、その上にOSD信号を表示することができるため、工場の調整者が数値管理できる映像表示装置を提供することが可能となる。
【0015】
【発明の実施の形態】
(実施の形態1)
本発明の映像表示装置について、具体的な形態である実施の形態を、図1を用いて説明する。図1は本発明の実施の形態例である映像表示装置のブロック図である。
【0016】
1は入力映像信号が入力される入力端子であり、4は入力映像信号を表示するドットマトリクス表示装置である。ドットマトリクス表示装置4は従来のものと構成は同じで、コントローラやドライバを備えている。本実施の形態においてドットマトリクス表示装置4の動作は従来のものと同じであるため、ここではその説明を省略する。
【0017】
11は映像信号処理手段であり、入力映像信号に文字やグラフィックなどを重畳するOSD表示回路2を備えている。3はテストパターンを発生させ且つその一部領域は前段からの映像信号をそのままスルーするように構成されたテストパターン発生手段である。6はテストパターン発生手段3の内部にあり、ドットマトリクス表示装置4を調整する為の一つないしは複数のテストパターンを発生するテストパターン発生回路である。5はテストパターン発生手段3の内部にあり、OSD表示回路2の出力とテストパターン発生回路6の出力とを予め設定された画面領域に応じて選択出力するセレクタである。以上のように構成された映像表示装置の動作を説明する。
【0018】
ドットマトリクス表示装置4を調整する際は、OSD表示装置2により調整値をドットマトリクス表示装置4の表示デバイスである表示パネルにOSD表示する。セレクタ5ではOSD表示された調整値の表示領域のみそのまま表示し、それ以外の表示領域は調整用テストパターンを表示するように適宜その出力を選択し、ドットマトリクス表示装置4にその信号を出力する。
【0019】
以上説明したように本発明の第1の実施の形態では、テストパターン発生手段3は、テストパターンと前段からの調整値を表示したOSD信号とを画素毎に切り替えるセレクタ5を備えることでテストパターンの一部領域は前段からの映像信号がそのまま表示さ、そこにOSD表示が可能となるため、工場の調整者がテストパターン上でも数値管理ができるという効果がある。
【0020】
なお、表示デバイスとしてドットマトリクス表示装置を例として説明したが、特にこれに限られる物でなく、陰極線管などのスキャン操作による表示方法を行う表示デバイスで用いられることも可能である。
【0021】
(実施の形態2)
前記実施の形態では、OSD表示のための映像信号表示領域を設定しなければならないというわずらわしさがあった。本実施の形態の目的は表示領域を設定しなくても調整値がOSD表示可能な映像表示装置を提供することである。
【0022】
図2は本発明の第2の実施の形態における映像表示装置のブロック図である。
図1と同様の働きをするブロックについては同一の参照符号を付しその説明は省略する。
【0023】
図2において図1と異なるのは、OSD表示回路2から出力された信号と、テストパターン6から出力された信号とを選択して出力するセレクタ5の代わりに、混合器7が用いられていることである。混合器7はOSD表示回路2からの映像信号とテストパターン発生回路6からのテストパターンとの論理演算を行う混合回路である。
【0024】
論理演算の例として、例えば前記テストパタ−ン信号と前記映像信号がそれぞれデジタルの8ビット信号である場合、各ビットのOR(論理和)、またはAND(論理積)、またはEXOR(排他的論理和)をとった結果を出力する。
【0025】
以上説明したように前記テストパターン発生手段は、テストパターンと前段からの映像信号とを論理演算して表示する混合回路を備えることで、前段からの信号を透過するようにテストパタ−ンを発生させるため、OSDの表示領域を設定しなくてもよいという効果がある。
【0026】
(実施の形態3)
前記実施の形態では回路が複雑になるという問題があったカ゛本実施の形態では、簡素な回路で表示領域を設定しなくても調整値がOSD表示可能な映像表示装置を提供することである。
【0027】
図3は本発明の第3の実施の形態である映像表示装置のブロック図である。なお、図1、図2と同様の働きをするブロックについては同一の参照符号を付しその説明は省略する。
【0028】
8はテストパターン発生回路6からの出力とOSD表示回路2の出力する映像信号との特定ビットを挿げ替える切替回路である。OSD信号は調整値という文字情報が表示されれば良い為、特定のビットのみの用いることが可能である。また、調整パターンも例えば前記したフリッカ調整の場合MSBのみ用いることで実用上問題ない。よって、例えば図3のようにテストパターンを1ビットのみ発生させ映像信号のMSBのみに重畳し、OSD信号はその他のビットに割り当てることでテストパターンとOSD信号を表示させることが可能となる。
【0029】
以上説明したように本実施の形態では、テストパターン発生手段3は、特定のビットのみもちい、他のビットは前段からの信号をそのまま通すことで、簡素な回路で表示領域を設定しなくても調整値がOSD表示可能な映像表示装置を提供することである。
【0030】
【発明の効果】
上記したように本発明によれば、テストパターンの一部領域は前段からのOSDが乗った映像信号がそのまま表示されるため、工場の調整者が数値管理できる映像表示装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施の形態における映像表示装置のブロック構成を示す図
【図2】本発明の第2の実施の形態における映像表示装置のブロック構成を示す図
【図3】本発明の第3の実施の形態における映像表示装置のブロック構成を示す図
【図4】従来の映像表示装置のブロック構成を示す図
【符号の説明】
1 映像入力端子
2 OSD表示回路
3 テストパターン発生手段
4 ドットマトリクス表示装置
5 セレクタ
6 テストパターン発生回路
7 混合回路
8 切替回路
9 ドライバ
10 コントローラ
11 映像信号処理手段
12 ドットマトリクス表示パネル
【発明の属する技術分野】
本発明は、表示デバイスを用いた映像表示装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
ドットマトリクス型の表示デバイスを用いた映像表示装置には、例えば液晶テレビやコンピューター用の液晶モニター、プラズマテレビ等がある。また、今後は有機EL(エレクトロ・ルミネッセンス)やFED(フィールド・エミッション・ディスプレイ)等のデバイスを使用したテレビや携帯電話等が登場してくると考えられる。
【0003】
これらの表示デバイスは表示のためにそれぞれ固有の調整方法がある。その一例としてTFT(シン・フィルム・トランジスタ)液晶ディスプレイを例に説明する(特許文献1参照)。
【0004】
液晶ディスプレイは液晶層に電極であるラインを通じて直流電圧を印加すると液晶の寿命を短くし、焼き付き等の問題を引き起こすことが知られている。そのため一般的に映像のフレーム毎に極性を反転させる交流駆動を行っている。しかし、TFT部に発生する寄生キャパシタの影響でTFTのゲート非選択期間に他ラインのゲート選択による突き抜け電圧が画素電極に発生する。これは画素電極の極性にかかわらず同一方向に発生する為、液晶層に直流成分を印加することとなり前述した問題を引き起こす。
【0005】
寄生キャパシタはパネル毎にばらつく為、通常はパネルの生産行程にて調整が必要となる。未調整のパネルの場合、特定のパターンの信号を表示させると画像にフリッカとして現われる為、調整行程ではこのフリッカが最小となる値に前記対向電極の電圧を調整する。このときに表示するテストパターンはTFTの極性反転の仕方により異なる。例えばフレーム毎且つ隣接画素毎に反転さている場合(これをドット反転駆動と呼ぶ)は画素毎に中間調と黒を表示するようなテストパターンを表示させる。このようなドットマトリクス型の表示デバイスは通常これらを駆動するコントローラが専用に内蔵されており、これら調整パターンもコントローラから表示できるようになっていることが多い。
【0006】
図4は従来の映像表示装置のブロック図である。1は入力映像信号が入る入力端子であり、4は入力映像信号を表示するドットマトリクス表示装置である。ドットマトリクス表示装置4は下記の3つのブロックで構成される。12は映像を表示するドットマトリクス表示パネル、9はドットマトリクス表示パネル12を駆動するための信号を出力するドライバ、10はドットマトリクス表示パネル12とドライバ9を制御したり、調整用テストパターンを出力するコントローラである。
【0007】
11は、入力端子1から入った映像信号を信号処理し、ドットマトリクス表示装置4に出力する映像信号処理手段である。また、映像信号処理手段4の内部において、2は入力映像信号に文字やグラフィックなどを重畳するOSD表示回路である。
【0008】
このように従来の映像表示装置にはドットマトリクス表示装置4にコントローラ10が内蔵されており、ドットマトリクス表示装置4単体で前述したデバイス固有の調整が可能な構成となっている。よって映像表示装置は、ドットマトリクス表示装置4のもの調整がなされるだけで、映像信号処理手段など他の手段を含めた映像表示装置セットとして調整されることは無かった。
【0009】
【特許文献1】
特開平07−13516号公報
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、コストダウンや薄型化等のために前記したコントローラ10等を映像表示装置本体に組み込もうとすれば映像表示装置セットの生産工程での調整が必要となる。そこで前記したコントローラ10を制御しテストパターンを表示パネルに表示させ、調整する必要がある。
【0011】
しかしながら通常これら調整行程では、調整者がオン・スクリーン・ディスプレイ(以下、OSDと記す)等を通して現在の調整値や調整モードをドットマトリクス表示パネルの画面上で認識する必要があるが、前記したコントローラ10は表示デバイスの直前に位置するため、OSDがテストパターンに上書きされOSD表示ができないという問題があった。
【0012】
上記の問題に鑑み本発明はなされたものであって、表示デバイスのコントローラより調整用のテストパターンを表示してもOSD表示可能にすることで工場の調整者が調整値を数値管理できるようにすることを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明の映像表示装置は、ドットマトリクス型の表示デバイス上にテストパターンを表示して自身を調整するようになされた映像表示装置であって、テストパターンの一部領域は前段からの映像信号がそのまま表示されるようにしたことを特徴とするものである。
【0014】
上記発明により、テストパターンの一部領域は前段からの映像信号がそのまま表示され、その上にOSD信号を表示することができるため、工場の調整者が数値管理できる映像表示装置を提供することが可能となる。
【0015】
【発明の実施の形態】
(実施の形態1)
本発明の映像表示装置について、具体的な形態である実施の形態を、図1を用いて説明する。図1は本発明の実施の形態例である映像表示装置のブロック図である。
【0016】
1は入力映像信号が入力される入力端子であり、4は入力映像信号を表示するドットマトリクス表示装置である。ドットマトリクス表示装置4は従来のものと構成は同じで、コントローラやドライバを備えている。本実施の形態においてドットマトリクス表示装置4の動作は従来のものと同じであるため、ここではその説明を省略する。
【0017】
11は映像信号処理手段であり、入力映像信号に文字やグラフィックなどを重畳するOSD表示回路2を備えている。3はテストパターンを発生させ且つその一部領域は前段からの映像信号をそのままスルーするように構成されたテストパターン発生手段である。6はテストパターン発生手段3の内部にあり、ドットマトリクス表示装置4を調整する為の一つないしは複数のテストパターンを発生するテストパターン発生回路である。5はテストパターン発生手段3の内部にあり、OSD表示回路2の出力とテストパターン発生回路6の出力とを予め設定された画面領域に応じて選択出力するセレクタである。以上のように構成された映像表示装置の動作を説明する。
【0018】
ドットマトリクス表示装置4を調整する際は、OSD表示装置2により調整値をドットマトリクス表示装置4の表示デバイスである表示パネルにOSD表示する。セレクタ5ではOSD表示された調整値の表示領域のみそのまま表示し、それ以外の表示領域は調整用テストパターンを表示するように適宜その出力を選択し、ドットマトリクス表示装置4にその信号を出力する。
【0019】
以上説明したように本発明の第1の実施の形態では、テストパターン発生手段3は、テストパターンと前段からの調整値を表示したOSD信号とを画素毎に切り替えるセレクタ5を備えることでテストパターンの一部領域は前段からの映像信号がそのまま表示さ、そこにOSD表示が可能となるため、工場の調整者がテストパターン上でも数値管理ができるという効果がある。
【0020】
なお、表示デバイスとしてドットマトリクス表示装置を例として説明したが、特にこれに限られる物でなく、陰極線管などのスキャン操作による表示方法を行う表示デバイスで用いられることも可能である。
【0021】
(実施の形態2)
前記実施の形態では、OSD表示のための映像信号表示領域を設定しなければならないというわずらわしさがあった。本実施の形態の目的は表示領域を設定しなくても調整値がOSD表示可能な映像表示装置を提供することである。
【0022】
図2は本発明の第2の実施の形態における映像表示装置のブロック図である。
図1と同様の働きをするブロックについては同一の参照符号を付しその説明は省略する。
【0023】
図2において図1と異なるのは、OSD表示回路2から出力された信号と、テストパターン6から出力された信号とを選択して出力するセレクタ5の代わりに、混合器7が用いられていることである。混合器7はOSD表示回路2からの映像信号とテストパターン発生回路6からのテストパターンとの論理演算を行う混合回路である。
【0024】
論理演算の例として、例えば前記テストパタ−ン信号と前記映像信号がそれぞれデジタルの8ビット信号である場合、各ビットのOR(論理和)、またはAND(論理積)、またはEXOR(排他的論理和)をとった結果を出力する。
【0025】
以上説明したように前記テストパターン発生手段は、テストパターンと前段からの映像信号とを論理演算して表示する混合回路を備えることで、前段からの信号を透過するようにテストパタ−ンを発生させるため、OSDの表示領域を設定しなくてもよいという効果がある。
【0026】
(実施の形態3)
前記実施の形態では回路が複雑になるという問題があったカ゛本実施の形態では、簡素な回路で表示領域を設定しなくても調整値がOSD表示可能な映像表示装置を提供することである。
【0027】
図3は本発明の第3の実施の形態である映像表示装置のブロック図である。なお、図1、図2と同様の働きをするブロックについては同一の参照符号を付しその説明は省略する。
【0028】
8はテストパターン発生回路6からの出力とOSD表示回路2の出力する映像信号との特定ビットを挿げ替える切替回路である。OSD信号は調整値という文字情報が表示されれば良い為、特定のビットのみの用いることが可能である。また、調整パターンも例えば前記したフリッカ調整の場合MSBのみ用いることで実用上問題ない。よって、例えば図3のようにテストパターンを1ビットのみ発生させ映像信号のMSBのみに重畳し、OSD信号はその他のビットに割り当てることでテストパターンとOSD信号を表示させることが可能となる。
【0029】
以上説明したように本実施の形態では、テストパターン発生手段3は、特定のビットのみもちい、他のビットは前段からの信号をそのまま通すことで、簡素な回路で表示領域を設定しなくても調整値がOSD表示可能な映像表示装置を提供することである。
【0030】
【発明の効果】
上記したように本発明によれば、テストパターンの一部領域は前段からのOSDが乗った映像信号がそのまま表示されるため、工場の調整者が数値管理できる映像表示装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施の形態における映像表示装置のブロック構成を示す図
【図2】本発明の第2の実施の形態における映像表示装置のブロック構成を示す図
【図3】本発明の第3の実施の形態における映像表示装置のブロック構成を示す図
【図4】従来の映像表示装置のブロック構成を示す図
【符号の説明】
1 映像入力端子
2 OSD表示回路
3 テストパターン発生手段
4 ドットマトリクス表示装置
5 セレクタ
6 テストパターン発生回路
7 混合回路
8 切替回路
9 ドライバ
10 コントローラ
11 映像信号処理手段
12 ドットマトリクス表示パネル
Claims (5)
- 映像信号が表示される表示デバイス上にテストパターン信号を表示して調整する映像表示装置であって、前記テストパターン信号の一部領域には前記映像信号が表示されることを特徴とする映像表示装置。
- 映像信号を表示する表示デバイスと、前記表示デバイス上にテキストやグラフィック等の情報を表示するOSD回路と、前記映像信号または前記OSD回路からの信号を入力するとともに前記表示デバイス上にテストパターンまたは前記映像信号に基づく信号を出力するテストパターン発生手段とを備え、前記テストパターン発生手段は前記テストパターン信号の一部領域には前記映像信号が表示されることを特徴とする映像表示装置。
- テストパターン発生手段は、テストパターンと映像信号または前記OSD回路からの信号を画素毎に切り替えるセレクタを備えることを特徴とする請求項2記載の映像表示装置。
- テストパターン発生手段は、テストパターンと映像信号または前記OSD回路からの信号とを論理演算して出力する混合回路を備えたことを特徴とする請求項2記載の映像表示装置。
- テストパターン発生手段は、テストパターンとして特定のビットのみもちい、他のビットは映像信号または前記OSD回路からの信号を通すことを特徴とする請求項2記載の映像表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002286734A JP2004125938A (ja) | 2002-09-30 | 2002-09-30 | 映像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002286734A JP2004125938A (ja) | 2002-09-30 | 2002-09-30 | 映像表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004125938A true JP2004125938A (ja) | 2004-04-22 |
Family
ID=32279727
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002286734A Pending JP2004125938A (ja) | 2002-09-30 | 2002-09-30 | 映像表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004125938A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006293078A (ja) * | 2005-04-12 | 2006-10-26 | Funai Electric Co Ltd | プラズマディスプレイ装置 |
JP2006528372A (ja) * | 2003-07-21 | 2006-12-14 | トムソン ライセンシング | Osdモードの間、入力信号の変化による画面上の変動を回避するためのシステムと方法 |
JP2008035306A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Sharp Corp | 画像表示装置 |
JP2012234121A (ja) * | 2011-05-09 | 2012-11-29 | Mitsubishi Electric Corp | スクリーンテスト機能付きled表示装置 |
-
2002
- 2002-09-30 JP JP2002286734A patent/JP2004125938A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006528372A (ja) * | 2003-07-21 | 2006-12-14 | トムソン ライセンシング | Osdモードの間、入力信号の変化による画面上の変動を回避するためのシステムと方法 |
JP2006293078A (ja) * | 2005-04-12 | 2006-10-26 | Funai Electric Co Ltd | プラズマディスプレイ装置 |
JP4661317B2 (ja) * | 2005-04-12 | 2011-03-30 | 船井電機株式会社 | プラズマディスプレイ装置 |
JP2008035306A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Sharp Corp | 画像表示装置 |
JP2012234121A (ja) * | 2011-05-09 | 2012-11-29 | Mitsubishi Electric Corp | スクリーンテスト機能付きled表示装置 |
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