JP2004079620A - 透明半導体バルク単結晶基板を用いた電子素子 - Google Patents
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Abstract
【課題】p型のバルク酸化物半導体単結晶を基板として利用する電子素子を提供する。
【解決手段】SrCu2O2バルク単結晶に薄膜の1種または2種以上を組み合わせて多層構造を構成させた電子素子。
【選択図】 図1
【解決手段】SrCu2O2バルク単結晶に薄膜の1種または2種以上を組み合わせて多層構造を構成させた電子素子。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は純粋なまたはわずかに他元素を添加した、具体的にはGa、Zn、In、Co、Ni等を添加したSrCu2O2のみからなるバルク単結晶基板を用いた半導体のpn接合を用いた光素子およびショットキーバリヤFET等の電子素子に関する発明である。
【0002】
【従来の技術】
近年、光エレクトロニクスの急速な発展に伴い、半導体材料に要求される性質は多様化している。その一つが光との相互作用に関する性質で、可視光領域の波長の光に対して透明であるという性質である。この要請に応えるために開発されたのが酸化物半導体材料である。現在、半導体電子素子はp型もしくはn型のバルク単結晶を基板として利用し、その上にp型やn型の半導体薄膜を多層に堆積させているのが一般的である。
従って酸化物半導体においても同様なことが考えられるが、p型にドーピングすることが可能な酸化物半導体材料は種類が少なく、また従来技術においてはそれらのバルク単結晶を利用することは不可能であった。たとえば、p型の酸化物半導体材料としてSrCu2O2が従来より知られているが、SrCu2O2が利用されている例としてはn型の半導体薄膜上にp型の薄膜として堆積され、pn接合を構成した素子に用いられた例があるだけである。(参考文献1 表面科学 22、(2001)419)。このようにp型を示す酸化物半導体のバルク単結晶は作製された報告は無く、基板として電子素子に応用されたことはなかった。
【0003】
【発明が解決しょうとする課題】
前記したようにn型のバルク酸化物半導体単結晶を基板として利用することは可能であったが、p型のバルク酸化物半導体単結晶を基板として利用することは不可能であるという課題があった。これに対して本願発明者らはSrCu2O2単結晶製造実験を重ねた結果、先に、SrO : CuOの組成比40〜25モル%:60〜75モル%の混合物を1000℃以上に加熱融解し、アルゴンあるいは窒素中に酸素が5%以下の雰囲気中で成長速度0.8〜1.0mm/hの結晶育成条件でフローティングゾーン法やひきあげ法によりSrCu2O2単結晶が得られることを見い出した。(特願2002−92709)つまりフローティングゾーン法やひきあげ法によって条件を設定すれば電子素子に用いることのできる基板であるSrCu2O2大型バルク単結晶が得られることを見い出した。
希少なp型である結晶性の良いSrCu2O2バルク単結晶を基板に用いれば、pn接合を構成する際に多数のn型の材料から格子定数の近いものや製作容易である適切な薄膜材料を選択することが可能になり、多様な高性能電子素子が得られる。
【0004】
【課題を解決するための手段】
この発明は上記知見に基づいて完成したものであり、具体的にはSrCu2O2バルク単結晶を用いた電子素子、すなわち、SrCu2O2バルク単結晶を基板として用いた電子素子を提供するものである。
さらに具体的には、SrCu2O2バルク単結晶を基板として用いその上に、薄膜の1種または2種以上を組み合わせて多層構造を構成させた電子素子を提案するものである。
【0005】
【発明の実施の形態】
本発明で用いるSrCu2O2バルク単結晶は、静置徐冷法、ひきあげ法、フローティングゾーン法、溶融固化法、いずれの方法で作製されたものでもよく、純粋なものや微量の他元素、具体的にはGa、Zn、In、Co、Ni等を含むものであっても、バルク単結晶を生成するものであれば良い。
SrCu2O2バルク単結晶は現在フローティングゾーン法で5x5x40mm以上の大きさ、チョクラルスキー法で10x10x6mmの大きさの単結晶が得られているので、少なくとも10x10mmのバルク単結晶基板が得られる。さらに単結晶製造容器等の製造設備の大型化を図れば大型単結晶が製造できる。これに薄膜を成長させて多層構造を構成し、発光素子、等の電子素子を作製することが可能である。
【0006】
実施例1
以下この発明を具体例に基づいて説明する。
この実施例では図1に示すように単結晶SrCu2O2を基板とし、この上にp型のSrCu2O2薄膜をホモエピタキシャル成長により成長させ、その上にn型ZnOの薄膜を堆積させてpn接合を形成し、積層薄膜構造からなる電子素子を作製する。
この実施例では最初に堆積されたSrCu2O2薄膜は基板物質と同一物質であるためその結晶品質は非常に高く、高性能な電子素子を作製できた。
またSrCu2O2も可視光領域の波長の光に対して透明であるという性質を持っており、光学透明性という点でも従来よりは高性能な電子素子を作製できた。
【0007】
実施例2
ABO2化合物(A=Cu,Ag,Pd,Pt B=Al,Ga,In,Sc,Tl,Cr,Fe,Co,Rh 文献1の420頁17〜24行目によればデラフォサイト構造をもつ、)は六方晶構造であり、SrCu2O2の(112)面および(100)面のCuとOの六回対称とドメイン整合エピタキシーが起こるので、これらと構成した積層薄膜構造からなる第2図の電子素子を作製出来る。
【0008】
実施例3
第3図に示すように、単結晶SrCu2O2基板上にp型にドープしたSrCu2O2膜を堆積させ、ソース、ゲート、ドレイン電極をさらに堆積させ、ショットキーバリヤFET素子を作製出来る。
【0009】
【本発明の効果】
この発明によって SrCu2O2単結晶基板を用いることにより、良質の積層薄膜を構成することでき、高性能の多様な電子素子を作製することが出来る。また光学的に透明な性質等、従来の半導体になかった多様な電子素子を作製することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の電子素子の具体例
【図2】実施例2の電子素子の具体例
【図3】実施例3の電子素子の具体例
【発明の属する技術分野】
この発明は純粋なまたはわずかに他元素を添加した、具体的にはGa、Zn、In、Co、Ni等を添加したSrCu2O2のみからなるバルク単結晶基板を用いた半導体のpn接合を用いた光素子およびショットキーバリヤFET等の電子素子に関する発明である。
【0002】
【従来の技術】
近年、光エレクトロニクスの急速な発展に伴い、半導体材料に要求される性質は多様化している。その一つが光との相互作用に関する性質で、可視光領域の波長の光に対して透明であるという性質である。この要請に応えるために開発されたのが酸化物半導体材料である。現在、半導体電子素子はp型もしくはn型のバルク単結晶を基板として利用し、その上にp型やn型の半導体薄膜を多層に堆積させているのが一般的である。
従って酸化物半導体においても同様なことが考えられるが、p型にドーピングすることが可能な酸化物半導体材料は種類が少なく、また従来技術においてはそれらのバルク単結晶を利用することは不可能であった。たとえば、p型の酸化物半導体材料としてSrCu2O2が従来より知られているが、SrCu2O2が利用されている例としてはn型の半導体薄膜上にp型の薄膜として堆積され、pn接合を構成した素子に用いられた例があるだけである。(参考文献1 表面科学 22、(2001)419)。このようにp型を示す酸化物半導体のバルク単結晶は作製された報告は無く、基板として電子素子に応用されたことはなかった。
【0003】
【発明が解決しょうとする課題】
前記したようにn型のバルク酸化物半導体単結晶を基板として利用することは可能であったが、p型のバルク酸化物半導体単結晶を基板として利用することは不可能であるという課題があった。これに対して本願発明者らはSrCu2O2単結晶製造実験を重ねた結果、先に、SrO : CuOの組成比40〜25モル%:60〜75モル%の混合物を1000℃以上に加熱融解し、アルゴンあるいは窒素中に酸素が5%以下の雰囲気中で成長速度0.8〜1.0mm/hの結晶育成条件でフローティングゾーン法やひきあげ法によりSrCu2O2単結晶が得られることを見い出した。(特願2002−92709)つまりフローティングゾーン法やひきあげ法によって条件を設定すれば電子素子に用いることのできる基板であるSrCu2O2大型バルク単結晶が得られることを見い出した。
希少なp型である結晶性の良いSrCu2O2バルク単結晶を基板に用いれば、pn接合を構成する際に多数のn型の材料から格子定数の近いものや製作容易である適切な薄膜材料を選択することが可能になり、多様な高性能電子素子が得られる。
【0004】
【課題を解決するための手段】
この発明は上記知見に基づいて完成したものであり、具体的にはSrCu2O2バルク単結晶を用いた電子素子、すなわち、SrCu2O2バルク単結晶を基板として用いた電子素子を提供するものである。
さらに具体的には、SrCu2O2バルク単結晶を基板として用いその上に、薄膜の1種または2種以上を組み合わせて多層構造を構成させた電子素子を提案するものである。
【0005】
【発明の実施の形態】
本発明で用いるSrCu2O2バルク単結晶は、静置徐冷法、ひきあげ法、フローティングゾーン法、溶融固化法、いずれの方法で作製されたものでもよく、純粋なものや微量の他元素、具体的にはGa、Zn、In、Co、Ni等を含むものであっても、バルク単結晶を生成するものであれば良い。
SrCu2O2バルク単結晶は現在フローティングゾーン法で5x5x40mm以上の大きさ、チョクラルスキー法で10x10x6mmの大きさの単結晶が得られているので、少なくとも10x10mmのバルク単結晶基板が得られる。さらに単結晶製造容器等の製造設備の大型化を図れば大型単結晶が製造できる。これに薄膜を成長させて多層構造を構成し、発光素子、等の電子素子を作製することが可能である。
【0006】
実施例1
以下この発明を具体例に基づいて説明する。
この実施例では図1に示すように単結晶SrCu2O2を基板とし、この上にp型のSrCu2O2薄膜をホモエピタキシャル成長により成長させ、その上にn型ZnOの薄膜を堆積させてpn接合を形成し、積層薄膜構造からなる電子素子を作製する。
この実施例では最初に堆積されたSrCu2O2薄膜は基板物質と同一物質であるためその結晶品質は非常に高く、高性能な電子素子を作製できた。
またSrCu2O2も可視光領域の波長の光に対して透明であるという性質を持っており、光学透明性という点でも従来よりは高性能な電子素子を作製できた。
【0007】
実施例2
ABO2化合物(A=Cu,Ag,Pd,Pt B=Al,Ga,In,Sc,Tl,Cr,Fe,Co,Rh 文献1の420頁17〜24行目によればデラフォサイト構造をもつ、)は六方晶構造であり、SrCu2O2の(112)面および(100)面のCuとOの六回対称とドメイン整合エピタキシーが起こるので、これらと構成した積層薄膜構造からなる第2図の電子素子を作製出来る。
【0008】
実施例3
第3図に示すように、単結晶SrCu2O2基板上にp型にドープしたSrCu2O2膜を堆積させ、ソース、ゲート、ドレイン電極をさらに堆積させ、ショットキーバリヤFET素子を作製出来る。
【0009】
【本発明の効果】
この発明によって SrCu2O2単結晶基板を用いることにより、良質の積層薄膜を構成することでき、高性能の多様な電子素子を作製することが出来る。また光学的に透明な性質等、従来の半導体になかった多様な電子素子を作製することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の電子素子の具体例
【図2】実施例2の電子素子の具体例
【図3】実施例3の電子素子の具体例
Claims (5)
- SrCu2O2バルク単結晶を基板として用いた電子素子。
- SrCu2O2バルク単結晶に薄膜の1種または2種以上を組み合わせて多層構造を構成させた電子素子。
- SrCu2O2バルク単結晶が純粋なものであるか、微量の他元素を含有する請求項1又は請求項2に記載した電子素子。
- SrCu2O2バルク単結晶の基板上にp型にドープしたSrCu2O2膜を堆積させ、その上にn型にドープしたZnO膜を堆積させてpn接合を形成した発光素子。
- SrCu2O2バルク単結晶の基板上にp型にドープしたデラフォサイト化合物膜を堆積させ、その上にn型にドープしたZnO膜を堆積させてpn接合を形成した発光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002234820A JP2004079620A (ja) | 2002-08-12 | 2002-08-12 | 透明半導体バルク単結晶基板を用いた電子素子 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2002234820A JP2004079620A (ja) | 2002-08-12 | 2002-08-12 | 透明半導体バルク単結晶基板を用いた電子素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004079620A true JP2004079620A (ja) | 2004-03-11 |
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ID=32019515
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---|---|---|---|
JP2002234820A Pending JP2004079620A (ja) | 2002-08-12 | 2002-08-12 | 透明半導体バルク単結晶基板を用いた電子素子 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015144240A (ja) * | 2013-12-26 | 2015-08-06 | 株式会社リコー | p型酸化物半導体、p型酸化物半導体製造用組成物、p型酸化物半導体の製造方法、半導体素子、表示素子、画像表示装置、及びシステム |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000228516A (ja) * | 1999-02-08 | 2000-08-15 | Tdk Corp | 半導体積層薄膜、電子デバイスおよびダイオード |
-
2002
- 2002-08-12 JP JP2002234820A patent/JP2004079620A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000228516A (ja) * | 1999-02-08 | 2000-08-15 | Tdk Corp | 半導体積層薄膜、電子デバイスおよびダイオード |
Non-Patent Citations (22)
Title |
---|
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A. REVCOLEVSHI: "Crystal growth of pure and substituted low-dimensionality cuprates CuGeO3, La2CuO4, SrCuO2, Sr2CuO3", JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, vol. Vol.198/199(1999), JPNX006020240, 1999, pages 593 - 599, ISSN: 0000734975 * |
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XILIANG NIE ET AL.: "First-principles study of transparent p-type cunductive SrCu2O2 and related compounds", PHYSICAL REVIEW B, vol. Vol.65, 075111, JPNX006020247, 31 January 2002 (2002-01-31), pages 075111 - 1, ISSN: 0000734982 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2015144240A (ja) * | 2013-12-26 | 2015-08-06 | 株式会社リコー | p型酸化物半導体、p型酸化物半導体製造用組成物、p型酸化物半導体の製造方法、半導体素子、表示素子、画像表示装置、及びシステム |
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