JP2004072086A5 - - Google Patents
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Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003168912A JP4610867B2 (ja) | 2002-06-14 | 2003-06-13 | 半導体装置の作製方法 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002173599 | 2002-06-14 | ||
| JP2003168912A JP4610867B2 (ja) | 2002-06-14 | 2003-06-13 | 半導体装置の作製方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004072086A JP2004072086A (ja) | 2004-03-04 |
| JP2004072086A5 true JP2004072086A5 (ja) | 2006-07-27 |
| JP4610867B2 JP4610867B2 (ja) | 2011-01-12 |
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ID=32032334
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003168912A Expired - Fee Related JP4610867B2 (ja) | 2002-06-14 | 2003-06-13 | 半導体装置の作製方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4610867B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4873858B2 (ja) * | 2002-08-19 | 2012-02-08 | ザ トラスティーズ オブ コロンビア ユニヴァーシティ イン ザ シティ オブ ニューヨーク | エッジ領域を最小にするために基板のフィルム領域のレーザ結晶化処理方法及び装置並びにそのようなフィルム領域の構造 |
| BRPI0513669A (pt) * | 2004-07-30 | 2008-05-13 | Mitsuboshi Diamond Ind Co Ltd | método para formação de fissura intermediária em substrato e equipamento para formação de fissura intermediária em substrato |
| JP4586585B2 (ja) * | 2005-03-15 | 2010-11-24 | 日立電線株式会社 | 薄膜半導体装置の製造方法 |
| KR100796590B1 (ko) * | 2005-07-12 | 2008-01-21 | 삼성에스디아이 주식회사 | 다결정 실리콘 박막의 제조 방법, 이에 사용되는 마스크패턴 및 이를 사용하는 평판 표시 장치의 제조 방법 |
| JP5110830B2 (ja) | 2006-08-31 | 2012-12-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| JP2012156168A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-16 | Disco Abrasive Syst Ltd | 分割方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2641101B2 (ja) * | 1988-04-12 | 1997-08-13 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置の製造方法および装置 |
| JPH09260681A (ja) * | 1996-03-23 | 1997-10-03 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置の作製方法 |
| JPH09270393A (ja) * | 1996-03-29 | 1997-10-14 | Sanyo Electric Co Ltd | レーザー光照射装置 |
| JPH1074697A (ja) * | 1996-08-29 | 1998-03-17 | Toshiba Corp | 多結晶シリコン膜、多結晶シリコンの製造方法、薄膜トランジスタの製造方法、液晶表示装置の製造方法、及びレーザアニール装置 |
| JPH10199826A (ja) * | 1997-01-14 | 1998-07-31 | Fujitsu Ltd | レーザ処理容器及びレーザ処理装置 |
| JP4841740B2 (ja) * | 2000-04-26 | 2011-12-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| JP2002141301A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-05-17 | Mitsubishi Electric Corp | レーザアニーリング用光学系とこれを用いたレーザアニーリング装置 |
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2003
- 2003-06-13 JP JP2003168912A patent/JP4610867B2/ja not_active Expired - Fee Related