JP2004071153A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】　ランド/グルーブ記録が可能で、その両者に置いて簡単にアドレス信号を再生でき、また品質の高い情報再生信号を与えることのできる光ディスクの光ディスク装置を提供する。
【解決手段】　記録トラックとしてグルーブ１及びランド２を有している。グルーブ１は略同一幅に形成されており、第一の領域において両側壁がアドレス情報に対応して蛇行している。グルーブ１の第１の領域は隣接する少なくとも一方のグルーブ１と同一角度位置を先頭して形成されている。また、アドレス情報の各ビットに対応する蛇行部分は隣接するグルーブ１間で同期して形成されている。当該光ディスクから情報を読み出す光ディスク装置は、光ビームが、ランド２を追従しているときに、その両側の側壁の形状が異なっている相違部を検出し、該検出結果に基づき、ランド２のアドレス情報を再生する。
【選択図】　図１

Description

　本発明は、トラッキング用のランド／グルーブを有し、グルーブ／ランド両方とも記録可能な光ディスクの光ディスク装置に関し、特に、ランド及びグルーブにおいてアドレス情報を正確に読み出せる光ディスク装置に関するものである。

　近年、光ディスクに対してさらなる高密度化が要求されており、それに対応するため、様々な方式が提案されている。その方式の１つとしてランド／グルーブ記録が検討されている。このランド／グルーブ記録は光ディスクに形成されたランド及びグルーブの両方に記録行う方式であるが、この場合、ランド及びグルーブの両方にアドレスを記録しておくことが必要である。アドレス情報の記録方法としては、例えば、後述の特許文献１や特許文献２に記載された方法が提案されている。

　図１３は、特許文献１に記載されたアドレス信号の検出方式を説明する図である。図１３に示したように、この方式ではグルーブの側壁の一方（図中１ａ）だけをアドレスに応じて蛇行させている。そして、グルーブ幅（ランド幅）の倍より小さい光スポットを用いて、蛇行した側壁１ａの蛇行周波数をトラッキング誤差信号から検出することによりアドレス情報を求める。

　また、特許文献２に記載されたアドレス信号の検出方式では、アドレス記録領域においてグルーブ幅（ランド幅）がアドレス信号に応じて変えられている。そして、光ディスクからの反射光のトータル光量がグルーブ幅（ランド幅）に応じて変化することを利用してアドレス信号を再生する。
特開平５−３１４５３８号公報 特開平６−３０１９７６号公報

　しかしながら、従来の特許文献１に記載の光ディスクでは、ランド及びグルーブの幅が場所によって異なることにより、反射率が変化するため、情報再生信号が劣化するなどの問題がある。また、非常に高密度での情報記録が可能になるものの、ランド及びグルーブの幅が場所によって異なるため、ビームスポットにトラックオフセットが発生しやすく、再生信号に影響を及ぼすという問題がある。

　また、特許文献２の光ディスクでは、トータル光量でアドレス信号を再生するが、トータル光量のしきい値は、レーザー光量の変動、グルーブ幅の変動及びディスク毎の反射率の差等によって影響を受けやすいため、それを防止するためのシステムが複雑になってしまう。

　さらに、以上２つの従来例ではランド及びグルーブの両方ともその幅が一定とはなっていないため、製造が困難であるという問題がある。

　本発明は、上記問題を解決するためになされたものであって、グルーブ及びランドに対するアドレス信号を確実に与えることができ、且つ、品質の高い情報再生信号を与えることのできる光ディスクの光ディスク装置を提供することを目的とする。

　請求項１に記載の光ディスク装置は、グルーブ及びランドからなる記録トラックを有し、該記録トラックの少なくとも一部に隣接記録トラックと同一角度位置を先頭とするアドレス領域が形成されており、前記グルーブと前記ランドのどちらか一方である第１記録トラックは、前記アドレス領域において、両側壁がアドレス情報に応じて蛇行しているとともに略同一幅に形成されている光ディスクから情報を再生する光ディスク装置であって、光ビームが第１記録トラックを追従しているときに、その側壁の蛇行を検出することにより、第１記録トラックにおけるアドレス情報を再生する第１アドレス再生手段と、光ビームが、隣接する２つの第１記録トラックに挟まれた第２記録トラックを追従しているときに、その両側の側壁の形状が異なっている相違部を検出する検出手段と、該検出手段の検出結果に基づき、第２記録トラックのアドレス情報を再生する第２アドレス再生手段と、を有してなることを特徴としている。

　請求項２に記載の光ディスク装置は、グルーブ及びランドからなる記録トラックを有し、該記録トラックの少なくとも一部に隣接記録トラックと同一角度位置を先頭とするアドレス領域が形成されており、前記グルーブと前記ランドのどちらか一方である第１記録トラックは、前記アドレス領域において、両側壁がアドレス情報に応じて蛇行しているとともに、略同一幅に形成され、第１記録トラックに記録されたアドレス情報は、隣接する第１記録トラックに記録されたアドレス情報と１ビットのみが異なっているグレイコードからなる光ディスクから情報を再生する光ディスク装置であって、光ビームが第１記録トラックを追従しているときに、その側壁の蛇行を検出することにより、第１記録トラックにおけるアドレス情報を再生する第１アドレス再生手段と、光ビームが、隣接する２つの第１記録トラックに挟まれた第２記録トラックを追従しているときに、その両側の側壁の形状が異なっている相違部を検出する検出手段と、該検出手段の検出結果に基づき、第２記録トラックのアドレス情報を再生する第２アドレス再生手段と、を有してなることを特徴としている。

　請求項３に記載の光ディスク装置は、請求項１または２記載の光ディスク装置であって、前記検出手段は、前記光ビームが、隣接する２つの第１記録トラックに挟まれた第２記録トラックを追従しているときに、前記光ディスクからの反射光量に依存するトータル信号の変化場所の検出により、前記第２記録トラックの両側の側壁の形状が異なっている相違部を検出することを特徴としている。

　請求項４に記載の光ディスク装置は、請求項１ないし３のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記第２アドレス再生手段は、光ビームが第２記録トラックを追従しているときに、前記相違部以外の一致部分における側壁の蛇行に基づいた一致部信号を得る一致部信号検出手段と、前記相違部における信号を“０”，“１”と仮定して前記一致部信号に付加することにより、少なくとも２つの仮定信号を生成し、予め決められた規則に基づきその少なくとも２つの仮定信号の内の一つを選択して第２記録トラックのアドレス情報とする合成手段と、を有してなることを特徴としている。

　請求項５に記載の光ディスク装置は、請求項４に記載の光ディスク装置において、前記少なくとも２つの仮定信号の内の２つが、互いに隣接する２つの第１記録トラックのアドレス情報ではないときに、読取エラーと判定する第１エラー検出手段を有してなることを特徴としている。

　請求項６に記載の光ディスク装置は、請求項１乃至５のいずれかに記載の光ディスク装置において、１本の第２記録トラック中に存在する前記相違部の個数が所定値と一致しない場合に、読取エラーと判定する第２エラー検出手段を有してなることを特徴としている。

　本発明の光ディスク装置では、両側の側壁の蛇行状態が異なっている相違部を検出するため、ランドまたはグルーブのアドレス情報を正確に再生することが可能となる。

　また、アドレス情報をグレイコードとすることにより、簡単にアドレス信号の再生が行える。

　また、相違部における信号を“０”，“１”と仮定することで、２つの仮定信号を生成し、その仮定信号によりアドレスを定義される記録トラックが互いに隣接する同種の記録トラック（ランドまたはグルーブ）であるか否かによりアドレス情報の読取エラーを検出すれば、再生したアドレス情報の信頼性を向上させることができる。

　また、上記相違部の個数に基づきアドレス情報の読取エラーを検出すれば、再生したアドレス情報の信頼性を向上させることができる。

　〔実施の形態１〕
　本発明の光ディスク基板の一実施の形態について図１〜図５に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

　図１は本実施の形態に係る光ディスク基板の平面図、図２は半径方向の断面図を示し、基板５にトラッキング用のグルーブ１（請求項における第１記録トラック）とランド２（請求項における第２記録トラック）が形成されている。ランド２の幅はグルーブ１の幅とほぼ等しくなるよう設定されている。

　本実施の形態の光ディスクにおいて、アドレス情報を得るための第一の領域（請求項におけるアドレス領域）では、グルーブ１（図１における第１グルーブａ，第２グルーブｂ）の両側壁はアドレス情報に応じて光ディスク基板５の半径方向に蛇行している。各グルーブにおける第一の領域は、そのスタート位置が隣接するグルーブの少なくとも一方と同一角度位置となっている（例えば、ＺＣＡＶ方式で情報が記録される場合には、同一半径領域（ゾーン）内に属するグルーブの第一の領域のスタート位置が、ディスクの中心と外周とを結ぶ同じ線分上に存在するようになっている）。また、隣接するグルーブ１において、アドレス情報の同一ビットに対応する蛇行部分は同期して（アドレス再生系から見て、同一長さに）形成されている（すなわち、互いに隣接するグルーブ１の側壁の蛇行は、同期した基準クロックを元にして形成されている）。

　また、蛇行周波数は、トラッキングサーボ系の追従周波数よりも高く設定されている。このため、光ビームは側壁の蛇行には追従せず、グルーブ１あるいはランド２（第１ランドａ）の略中央を走査する。第二の領域は情報の記録、再生、もしくは消去を行う領域である。第一の領域，第二の領域を通じてグルーブ１は略同一幅に形成されている。

　記録再生用光スポット４をグルーブ１に追従させるか、ランド２に追従させるかは、トラッキング信号の極性を反転することによって容易に選択できる。トラッキング信号は例えばプッシュプル法によって得られる。

　このような光ディスクにおいて、ランド１及びグルーブ２から記録されたアドレス情報を読み取るには、ランド１及びグルーブ２における側壁の蛇行状態を検出すればよい。なお、アドレス情報を得るために信号成分を確保するためには、上記蛇行の振幅量は±５ｎｍ以上有ればよい。振幅量を大きくすれば信号量は大きくなるが、作製するのが難しくなる。作製上、好ましくは、±１０ｎｍから±５０ｎｍの範囲に設定すればよい。

　以下、図１に基づき本実施の形態のアドレス情報の再生方法について具体的に説明する。図１において、第一の領域内では、第１グルーブａは（１００１）に相当するグレイコードに変調されたアドレス情報に応じて、略同一幅を保ったまま光ディスク基板５の半径方向に蛇行し、第２グルーブｂは（１０１１）に相当するグレイコードに変調されたアドレス情報に応じて、略同一幅を保ったまま光ディスク基板５の半径方向に蛇行している。なお、当然ながら図１において情報“０”と“１”の振れ方向を反対にしても良い。

　まず、このような光ディスクにおいて、グルーブ１からアドレス情報を再生する方法について説明する。

　記録再生用光スポット４は上記したように第１グルーブａ，第２グルーブｂの略中央位置を走査しており、この走査中にアドレス情報を再生する。第一の領域では第１グルーブａ，第２グルーブｂの側壁が蛇行しているため、記録再生用光スポット４と第１グルーブａ，第２グルーブｂとの位置関係が変化し、それに伴いトラッキング誤差信号が変化する。つまり、第１グルーブａ，第２グルーブｂの側壁が内周側に蛇行している場合には記録再生用光スポット４は相対的に外周側にずれる（トラッキング誤差信号は記録再生用光スポット４が外周側にずれたことを示す信号となる）。また、第１グルーブａ，第２グルーブｂの側壁が外周側に蛇行している場合には記録再生用光スポット４は相対的に内周側にずれる（トラッキング誤差信号は記録再生用光スポット４が内周側にずれたことを示す信号となる）。従って、トラッキング誤差信号をモニタしておけば、グルーブ１（第１グルーブａ，第２グルーブｂ）の蛇行状態を検出でき、そこに記録されたアドレス情報を再生できる。

　図３（１），（３）はそれぞれ図１の第１グルーブａ，第２グルーブｂにおけるトラッキング誤差信号の模式図である。この図に示すように、それらの側壁が光ディスクの内周側あるいは外周側に蛇行するのに応じてトラッキング誤差信号のレベルがＨ，Ｌと変化する。したがって、このトラッキング誤差信号の変化を検出することで第１グルーブａからは（１００１）、第２グルーブｂからは（１０１１）のアドレス情報を得ることができる。

　次に、ランド２からアドレス情報を再生する方法について説明する。この場合、第一の領域におけるｙ部（請求項における一致部分）では第１ランドａの両側の側壁が同じ方向に蛇行しているため、上記グルーブ１の場合と同様にしてその蛇行を検出することができる。しかしながら、ｘ部（請求項における相違部）ではランドａの側壁が両側で異なる方向に蛇行しており、ここではトラッキング誤差信号の様子が異なる。具体的には、図１のｘ部では、両側の側壁がともに第１ランドａの幅を狭める方向に蛇行しているため、この部分での第１ランドａは記録再生用光スポット４の略中央に位置することになる。従って、ｘ部におけるトラッキング誤差信号は位置ずれのないことを示す信号となる。

　図３（２）は第１ランドａからのトラッキング誤差信号を示す模式図である。この図に示すように、ｘ部では、トラッキング誤差信号のレベルが他の部分（両側の側壁が同じように蛇行している部分）とは異なっており、上記したＨ，Ｌの中間のレベルＭとなる。この中間レベルＭは、３値検出等により検出することが可能であり、これにより上記ｘ部の検出を行うことができる。

　本実施の形態の光ディスク装置では、このｘ部の検出結果に基づき、ランド２からアドレス情報を再生する。例えば、以下のようにして行う。

　ｘ部を検出したら、このｘ部での信号を“０”，“１”と仮定して、ｙ部から得られた信号（図１では（１０Ｘ１）、Ｘはｘ部における信号）に付加して、２つの仮定信号（（１００１），（１０１１））を得る。この２つの仮定信号は必ずその第１ランドａに隣接する２つのグルーブａ，ｂのアドレス情報となっているはずであるから、ここで、ランド２のアドレス情報を例えばその内周側に隣接するグルーブ１のアドレス情報と同一信号と決めておけば、その２つのアドレス情報を有するグルーブ１の内の内周側のもののアドレス情報を選択して、ランド２のアドレス情報とすることができる。なお、図１の場合にはｘ部が１カ所しかないため上記のように簡単にアドレス情報を生成できるが、ｘ部が複数ある場合には複雑な処理を施す必要がある。

　この例では、ランド２は隣接するグルーブ１と同一のアドレス情報を有することとなるが、このようにランド２とグルーブ１とを同一アドレス情報に設定したとしても、トラッキング誤差信号の極性等により光ビームがランド２とグルーブ１のどちらを走査しているかの判別が可能であるため、その判別結果に応じて正確にトラックを特定できる。

　以上説明したように、本実施の形態の光ディスクでは、アドレス情報を記録する領域のスタート位置が隣接するトラックと同一角度位置となっており、また、隣接する２つのグルーブにおいて、アドレス情報の同一の１ビットに対応する蛇行部分が同期して形成されているため、記録再生用光スポットがランド２を走査しているときに、ランド２の両側に存在する２つのグルーブ１に記録されたアドレス情報の相違する部分を検出でき、これに基づいて、ランド２のアドレス情報を再生することができる。従って、ランド２及びグルーブ１の両方からアドレス情報を正確に得ることができ、これに基づき再生や記録等の処理を行うことができる。

　なお、ランド１からのアドレス情報の再生は、上記の方法に限るものではなく、例えば、３値検出によって得た信号（図３（２）の場合、（ＨＬＭＨ）なる信号）を直接アドレス信号に用い、その３値信号に基づきトラックアドレスの判別を行っても良い。また、中間レベルＭの存在位置（ｘ部の存在位置）に基づきアドレス信号を生成しても良い。

　また、ｘ部の検出も上記方法に限るものではなく、例えば、光ディスクからの反射光量に依存するトータル信号を使用してその検出を行うことができる。なぜなら、ｘ部以外の部分ではランド２の幅は略一定であり反射光量を蛇行の有無によらず略一定となり、ｘ部ではランドの幅が増減しており反射光量が変化しているからである。図１のような場合、トータル信号は図３（４）のようになり、その変化を検出することでｘ部を検出できる。したがって、上記のような３値検出をしなくても、トラッキング誤差信号のＨ（あるいはＬ）の判別（Ｈ（あるいはＬ）以外はＬ（あるいはＨ）とみなす）とトータル信号の変化場所の検出のみでアドレス情報を再生できる。

　なお、図１の例では、グルーブ１のアドレス情報は、隣接するグルーブ１と１ビットのみが異なっているグレイコードからなっている。このようにすることで、上記したｘ部は各ランド２に１カ所しか存在しなくなり、その検出が簡単かつ正確となる。

　次に、上記のような光ディスクにおけるアドレス情報の読取エラー検出方法について説明する。

　図１のようにアドレス情報がグレイコードからなっている場合、ｘ部（相違部）は各ランド２に必ず１個である。このため、ｘ部が２カ所以上検出された場合あるいは検出されなかった場合にアドレス読取エラーと判断することができる。もちろん、このエラー検出はｘ部が１カ所だけの場合にのみ有効なわけではなく、ｘ部の個数が予め決められている場合には適用可能である。つまり、ｘ部の個数が所定の個数以外の場合に読取エラーと判断することができる。

　また、上記したようにランド２のアドレス情報が隣接するグルーブ１のアドレス情報と同一の場合には、上記ｘ部の信号を“０”，“１”と仮定したときに得られる信号が隣接する２つのグルーブ１のアドレス情報となっていない場合にアドレス読取エラーと判断することができる。

　このようなエラー検出を行うことでアドレス情報の信頼性を向上させることができる。

　また、本実施の形態の光ディスク基板５では、記録再生用光スポット４の直径をトラックピッチよりも大きく、かつ、トラックピッチの２倍よりも小さくすることにより正確なアドレス情報が得られる。

　上記のように本実施の形態の光ディスク及び光ディスク装置では、トラッキング誤差信号によりアドレス情報を再生できるため、レーザー光量の変動、グルーブ幅の変動及びディスク毎の反射率の差等などの影響を受けにくい。さらに、図１に示したように蛇行形状が曲線状になっているため、その蛇行部分（第一の領域）からアドレス情報を読み出す際に、高周波ノイズが生じにくくなり、確実にアドレス情報を読み出すことが可能となる。これは、本願のように、一部分のみにアドレス情報を記録しておく場合には、非常に重要である。

　次に、上記の光ディスク基板５の製造プロセスについて図４（ａ）〜図４（ｅ）に基づいて説明する。

　（ａ）ガラス基板５の片面にフォトレジスト６を塗布する。

　（ｂ）レーザー光を対物レンズ７によってフォトレジスト６上に集光し、フォトレジスト６を所望のグルーブ１のパターンに感光させる。

　（ｃ）現像することにより、感光させたフォトレジスト６を除去し、残ったフォトレジスト６により所望のパターンを形成する。

　（ｄ）ドライエッチングもしくはウエットエッチングにより、ガラス基板５、フォトレジスト６をエッチングし、ガラス基板５に所望のパターンを形成する。

　（ｅ）残ったフォトレジストをアッシングにより除去する。

　上記のフォトレジスト６をグルーブ１のパターンに感光させる装置を図５に示す。図５に示すように、フォトレジスト６を感光させるためのレーザー光源１１ａと、対物レンズ７のフォーカス用レーザー光源１１ｂを備えており、レーザー光源１１ａには、例えばＡｒレーザーが使用され、レーザー光源１１ｂには、例えばＨｅ−Ｎｅレーザーが使用される。

　レーザー光源１１ａからのレーザー光は、ノイズ抑制装置１２ａにより光ノイズが低減された後、ミラー１９、２０で反射され、光変調器２２に入射する。光変調器２２としては、例えば音響光学素子を用いることができ、その場合、光変調器２２の前後に集束レンズ２１を配置する。

　光変調器２２を通ったレーザー光はレーザー光は光偏向器２３に入射する。光偏向器２３としては、例えば、電気光学素子、あるいは音響光学素子を用いることができ、レーザー光の進行方向を変えることができる。

　さらに、レーザー光はビームエキスパンダー２４によって適当なビーム径に拡大され、２色ミラー１５によって対物レンズ７に入射する。そして、対物レンズ７によってガラス基板５上のフォトレジスト６に感光用光スポットとして集光される。

　尚、上記の光変調器２２、光偏向器２３、ビームエキスパンダー２４は、それぞれ、ドライバー２５、２６、２７により制御されている。

　一方、レーザー光源１１ｂからのレーザー光は、ノイズ抑制装置１２ｂにより光ノイズが低減された後、偏光ビームスプリッター１３、（１／４）波長板１４、２色ミラー１５を通り、対物レンズ７によってガラス基板５上のフォトレジスト６に集光される。

　その反射光は、対物レンズ７により再び集光され、２色ミラー１５、（１／４）波長板１４、偏光ビームスプリッター１３を通り、対物レンズ１６及びシリンドリカルレンズ１７によって光検出器１８に集光される。光検出器１８からの信号に基づいて、フォーカスサーボ系が対物レンズ７をフォーカス方向に駆動し、スピンドルモーターで回転しているガラス基板５上のフォトレジスト６に対物レンズ７の焦点が合わされる。

　上記の構成において、まず光ビームスポットの位置決めを行う。すなわち、ドライバー２６により、光偏向器２３に印加される直流電圧の大きさの調整される。その後、グルーブ１のアドレス情報に応じて蛇行している領域でのみ上記の直流電圧にその蛇行に応じた信号電圧を重畳させた電圧をドライバー２６により光偏向器２３に印加する。これによりグルーブ１がアドレス情報に応じて蛇行している領域を形成することができる。

　また、製造方法としては、本実施の形態に限らず、２ビームを用いて作製することも可能であり、これらの製造方法に限られるものではない。

　また、本実施の形態の光ディスク基板５は、上記のもの限らず、図６（ａ）〜図６（ｆ）のプロセスで作成したスタンパーを用いて、射出成型もしくは射出圧縮成型によるプラスチック樹脂からなるものでもよい。

　（ａ）ガラス基板５の片面にフォトレジスト６を塗布する。

　（ｂ）レーザー光を対物レンズ７によってフォトレジスト６上に集光し、フォトレジスト６を所望のグルーブ１のパターンに感光させる。

　（ｃ）現像することにより、感光させたフォトレジスト６を除去し、残ったフォトレジスト６により所望のパターンを形成する。

　（ｄ）フォトレジスト６からなるパターン上に導電性の薄膜８をスパッタ、あるいは、無電解メッキなどによって形成する。

　（ｅ）薄膜８上に金属層９を電鋳などによって形成する。

　（ｆ）ガラス基板５、フォトレジスト６から薄膜８、金属層９を剥離する。

　尚、薄膜８の材料には、Ｎｉ、Ｔａ、Ｃｒまたはその合金、あるいはそれらの複合膜が用いられ、金属層９の材料にも、Ｎｉ、Ｔａ、Ｃｒまたはその合金、あるいはそれらの複合膜が用いられる。

　工程（ｆ）により剥離された薄膜８、金属層９はスタンパー１０と呼ばれ、このスタンパー１０を用いて、射出成型もしくは射出圧縮成型によりプラスチックからなる光ディスク基板５が製造される。プラスチック材料には、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、エチレン樹脂、エステル樹脂、ナイロン樹脂、ＡＰＯなどの熱可塑性樹脂が用いられる。

　また、本実施の形態のスタンパー１０の製造方法は、上記に限らず、アドレス情報に応じてグルーブの側壁が蛇行したマスク原盤を作成し、マスク原盤を用いて製造してもよい。

　また、光ディスク基板５の材料、製造方法は上記のものに限られるものではない。

　なお、本実施の形態の光ディスクでは、ランドとグルーブのどちらか一方の幅が略一定であるため、１本のレーザビームでも製造することが可能であり、製造が容易であり、また、非常に精密な製造が可能である。

　〔実施の形態２〕
　本発明の他の光ディスク基板の実施の形態について図２、図７に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

　本実施の形態に用いられる光ディスク基板５は、〔実施の形態１〕の光ディスク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有しており、アドレス情報に基づいたグルーブ形状が異なるものである。

　本実施の形態に係るグルーブ形状を図７に示す。基板５にトラッキング用のグルーブ１とランド２が形成されている。ランド２の幅はグルーブ１の幅とほぼ等しくなるよう設定されている。

　グルーブの両側壁は、アドレス情報の“１”に応じて、光ディスク基板５の内周側，外周側の両方に振れており、その振れの周波数は、トラッキングサーボ系の追従周波数よりも高く設定されている。

　このように側壁の蛇行したグルーブ１あるいはランド２からのアドレス情報の検出は、〔実施の形態１〕とほぼ同様に行えるが、本実施の形態では、記録再生用光スポットがグルーブ１あるいはランド２を走査しているときのトラッキング誤差信号を微分処理した信号に基づきアドレス情報を生成する。なお、この微分処理した信号波形は、図３に模式的に示した信号波形と同様の波形となる。

　図７のような蛇行形状では、製造時に、蛇行周波数を変化させる必要がなくなり、製造装置の制御機構を簡易なものとすることが可能となる。

　〔実施の形態３〕
　本発明の他の光ディスク基板の実施の形態について図２、図８に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

　本実施の形態に用いられる光ディスク基板５は、〔実施の形態１〕の光ディスク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有しており、アドレス情報に基ずいたグルーブ形状が異なるものである。

　本実施の形態に係るグルーブ形状を図８に示す。基板５にトラッキング用のグルーブ１とランド２が形成されている。ランド２の幅はグルーブ１の幅とほぼ等しくなるよう設定されている。グルーブの両側壁はアドレス情報の“１”に応じて光ディスク基板５の内周側（あるいは外周側）に振れた後元に戻る形状をしており、その蛇行周波数は、トラッキングサーボ系の追従周波数よりも高く設定されている。当然ながら反対方向に振れていても良い。

　このような形状にすることにより、蛇行形状が平易であるため再生信号の検出が簡単に行える。

　なお、上記した〔実施の形態１〜３〕では側壁の蛇行形状を曲線状としているが矩形状であってもよいことは言うまでもない。

　〔実施の形態４〕
　本発明の他の光ディスクの実施の形態について図９に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

　本実施の形態に用いられる光ディスク基板５は、〔実施の形態１〜３〕の光ディスク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有しており、グルーブ部とランド部が反対になったもので、ランドの両側壁を蛇行させるものである。すなわち、ランドのアドレス情報はそのまま読み取り、グルーブのアドレス情報は隣接するランド部からのアドレス情報を組み合わせて再生する。再生方法は〔実施の形態１〜３〕で述べたものと同一でよい。

　〔実施の形態５〕
　本発明の他の光ディスクの実施の形態について図２に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

　本実施の形態に用いられる光ディスク基板５は、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態３〕の光ディスク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有しており、グルーブ深さ（ランド高さ）が異なるものである。

　上記の光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド高さ）は、λ／６ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、記録波長：λ〕となっており、グルーブ深さ（ランド高さ）を変えるには、エッチング比を変更したり、エッチング条件を変えたり、スタンパー１０のグルーブ深さ（ランド高さ）をλ／６ｎ近傍にするか、成型条件を変えることにより行う。

　光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド高さ）が、λ／６ｎ近傍であると、トラック間のクロストーク（隣接トラック信号からの回り込みノイズ）を低減でき、高密度化が可能になる。

　〔実施の形態６〕
　本発明の他の光ディスクの実施の形態について図２に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

　本実施の形態に用いられる光ディスク基板５は、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態３〕の光ディスク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有しており、グルーブ深さ（ランド高さ）が異なるものである。

　上記の光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド高さ）は、λ／８ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、記録波長：λ〕となっており、グルーブ深さ（ランド高さ）を変えるには、エッチング比を変更したり、エッチング条件を変えたり、スタンパー１０のグルーブ深さ（ランド高さ）をλ／８ｎ近傍にするか、成型条件を変えることにより行う。

　光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド高さ）が、λ／８ｎ近傍であると、トラッキング信号が最大となり、安定したトラック追従が可能となる。

　〔実施の形態７〕
　本発明の他の光ディスクの実施の形態について図２に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

　本実施の形態に用いられる光ディスク基板５は、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態３〕の光ディスク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有しており、グルーブ深さ（ランド高さ）が異なるものである。

　上記の光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド高さ）は、λ／１０ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、記録波長：λ〕となっており、グルーブ深さ（ランド高さ）を変えるには、エッチング比を変更したり、エッチング条件を変えたり、スタンパー１０のグルーブ深さ（ランド高さ）をλ／１０ｎ近傍にするか、成型条件を変えることにより行う。

　光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド高さ）が、λ／１０ｎ近傍であると、再生信号が大きくなり、安定した再生信号特性を得ることが可能となる。

　〔実施の形態８〕
　本発明の他の光ディスクの実施の形態について図２に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

　本実施の形態に用いられる光ディスク基板５は、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態３〕の光ディスク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有しており、グルーブ深さ（ランド高さ）が異なるものである。

　上記の光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド高さ）は、λ／３ｎ以上〔基板の屈折率：ｎ、記録波長：λ〕となっており、グルーブ深さ（ランド高さ）を変えるには、エッチング比を変更したり、エッチング条件を変えたり、スタンパー１０のグルーブ深さ（ランド高さ）をλ／３ｎ以上にするか、成型条件を変えることにより行う。

　光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド高さ）が、λ／３ｎ以上であると、光ビームの照射強度が強い場合においても、クロスイレース（情報の消去時に隣のトラックの記録情報を誤って消してしまうこと）がなくなり、光ビームの強度制御が容易となり、安定した消去動作を行うことが可能となる。

　〔実施の形態９〕
　本発明の光ディスクの実施の形態について図１０に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

　本実施の形態の光ディスクは、図１０に示すように、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態８〕の光ディスク基板５上に、光磁気記録層２８ａとオーバーコート層２９とを順次形成した構成になっている。光磁気記録層２８ａは、図示していないが、透光性を有する誘電体層と、磁性層と、保護層と、反射層から構成されており、磁性層は、例えば、ＤｙＦｅＣｏ、ＴｂＦｅＣｏ、ＤｙＴｂＦｅＣｏ、ＧｄＴｂＦｅ、ＧｄＴｂＦｅＣｏなどの希土類金属−遷移金属合金からなっている。磁性層は、室温からキュリー点まで垂直磁化となる特性を示す。

　上記の構成において記録を行う場合、レーザー光を照射して磁性層の温度をキュリー点近傍まで昇温し、磁性層の磁化がゼロもしくは記録磁界で反転するような状態にし、例えば、上向きの記録磁界を印加することにより、磁性層の磁化を上向きに揃え、その後、同じくレーザー光を照射して磁性層の温度をキュリー点近傍まで昇温し、磁性層の磁化がゼロもしくは記録磁界で反転するような状態にし、（反対向きの）下向きの記録磁界を印加することにより、磁性層の磁化を下向きに揃えることにより記録を行う。

　実際には、レーザー光を変調する光変調記録方法と記録磁界を変調する磁界変調記録方法がある。

　これにより、１００万回以上書き換えが可能な光ディスクである光磁気ディスクとなる。

　また、磁性層としては単層に限らず、多層膜にしても良い。多層膜にした場合、オーバーライト機能等を付加することができ、さらに高性能化が可能である。

　〔実施の形態１０〕
　本発明の光ディスクの実施の形態について図１１に基づいて説明すれば、以下の通りである。

　本実施の形態の光ディスクは、図１１に示すように、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態８〕に記載の光ディスク基板５上に、相変化型記録層２８ｂとオーバーコート層２９とを順次形成した構成になっている。相変化型記録層２８ｂは、図示していないが、透光性を有する誘電体層と、記録層と、保護層と、反射層から構成されており、記録層は、例えば、ＧｅＳｂＴｅなどの相変化型記録材料からなっている。

　上記の構成において記録を行う場合、高パワーレーザー光を照射して記録層を非晶質状態にし、低パワーレーザー光を照射して記録層を結晶質状態にすることにより記録を行う。

　これにより、レーザー光のみで書き換えが可能な光ディスクである相変化型光ディスクとなる。

　〔実施の形態１１〕
　本発明の光ディスクの実施の形態１１について図１２に基づいて説明すれば、以下の通りである。

　本実施の形態の光ディスクは、図９に示すように、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態８〕に記載の光ディスク基板５上に、光磁気記録層２８ｃとオーバーコート層２９とを順次形成した構成になっている。光磁気記録層２８ｃは、図示していないが、透光性を有する誘電体層と、再生磁性層と、記録磁性層と、保護層から構成されており、再生磁性層は、例えば、ＧｄＦｅＣｏ、ＧｄＤｙＦｅＣｏなどの希土類金属−遷移金属合金、記録磁性層は、例えば、ＤｙＦｅＣｏ、ＴｂＦｅＣｏ、ＤｙＴｂＦｅＣｏ、ＧｄＴｂＦｅ、ＧｄＴｂＦｅＣｏなどの希土類金属−遷移金属合金からなっている。

　再生磁性層は、室温から所定温度まで面内磁化となり、所定温度から垂直磁化となる特性を示し、記録磁性層は、室温からキュリー点まで垂直磁化となる特性を示す。

　上記の構成において記録を行う場合は〔実施の形態１０〕と同じであり、再生は次のように行われる。再生磁性層に光ビームが照射されると、照射された部位の温度分布はガウス分布になるので、光ビームの径より小さい領域のみの温度が上昇する。この温度上昇に伴って、温度上昇部位の磁化は、面内磁化から垂直磁化に移行する。つまり、再生磁性層と記録磁性層の２層間の交換結合により、記録磁性層の磁化の向きが再生磁性層に転写される。温度上昇部位が面内磁化から垂直磁化に移行すると、温度上昇部位のみが磁気光学効果を示すようになり、温度上昇部位からの反射光に基づいて記録磁性層に記録された情報が再生される。

　そして、光ビームが移動して次の記録ビットを再生するときは、先の再生部位の温度は低下し、垂直磁化から面内磁化に移行する。これに伴って、この温度の低下した部位は磁気光学効果を示さなくなり、記録磁性層に記録された磁化は再生磁性層の面内磁化にマスクされて再生されなくなる。これにより、雑音の原因である隣接ビットからの信号が混入することがなくなる。

　以上のように、所定温度以上の温度を有する領域のみを再生に関与させるので、光ビームの径より小さい記録ビットの再生が行え、記録密度は著しく向上することになる。

　尚、再生磁性層と、記録磁性層との間に誘電多層や金属層からなる非磁性層が形成され、再生時の記録磁性からの漏洩磁界を用いて、再生磁性層を再生するタイプでもよい。また、保護層の後に反射層や保護層を設けても良い。

　以上のように、本発明に係る光ディスクは、グルーブ及びランドからなる記録トラックを有し、該記録トラックの少なくとも一部に、隣接記録トラックと同一角度位置を先頭とするアドレス領域が形成されている光ディスクであって、前記グルーブと前記ランドのどちらか一方である第１記録トラックが、前記アドレス領域において、両側壁がアドレス情報に応じて蛇行しているとともに略同一幅に形成されており、前記アドレス情報の各ビットに対応する蛇行部分は、互いに隣接する第１記録トラック間で同期して形成されている。

　当該光ディスクでは、グルーブとランドのどちらか一方の記録トラックの両側の側壁が、アドレス情報に応じて蛇行しており、アドレス情報の各ビットに対応する蛇行部分が隣接する少なくとも一方の記録トラックと同期して形成されているため、隣接する２つの記録トラック間のアドレス情報の相違点を検出でき、この検出結果を用いることで、ランド及びグルーブの両方からアドレス情報を正確に得ることができる。また、また、グルーブとランドのどちらか一方の幅が略一定であるため、製造が容易である。

　また、上記光ディスクは、上記構成に加えて、第１記録トラックに記録されたアドレス情報が、隣接する第１記録トラックに記録されたアドレス情報と１ビットのみが異なっているグレイコードからなることを特徴としていてもよい。アドレス情報をグレイコードとすることにより、簡単にアドレス信号の再生が行える。

　さらに、上記光ディスクは、上記構成に加えて、前記グルーブ深さが、λ／６ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、記録波長：λ〕に設定されていてもよい。グルーブ深さをλ/６ｎ近傍に設定することにより、トラック間のクロストークを低減でき、高密度記録が可能となる。

　また、上記光ディスクは、上記構成に加えて、前記グルーブ深さが、λ／８ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、記録波長：λ〕に設定されていてもよい。グルーブ深さをλ/８ｎ近傍に設定することにより、トラッキング信号が最大となり、安定したトラック追従が可能となる。

　さらに、上記光ディスクは、上記構成に加えて、前記グルーブ深さが、λ／１０ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、記録波長：λ〕に設定されていてもよい。グルーブ深さをλ/１０ｎ近傍に設定することにより、再生信号が最大となり、安定した再生信号特性を得ることが可能となる。

　また、上記光ディスクは、上記構成に加えて、前記グルーブ深さが、λ／３ｎ以上〔基板の屈折率：ｎ、記録波長：λ〕に設定されていてもよい。グルーブ深さをλ/３ｎ以上に設定することにより、光ビームの照射強度が強い場合においても、クロスイレース（情報の消去時に隣のトラックの記録情報を誤って消してしまうこと）がなくなり、光ビームの強度制御が容易となり、安定した消去動作を行うことが可能となる。

　また、本発明に係る光ディスク装置は、上記光ディスクから情報を再生する光ディスク装置において、光ビームが第１記録トラックを追従しているときに、その側壁の蛇行を検出することにより、第１記録トラックにおけるアドレス情報を再生する第１アドレス再生手段を備えてなることを特徴としている。

　さらに、上記光ディスク装置は、上記構成に加えて、光ビームが、隣接する２つの第１記録トラックに挟まれた第２記録トラックを追従しているときに、その両側の側壁の形状が異なっている相違部を検出する検出手段と、該検出手段の検出結果に基づき、第２記録トラックのアドレス情報を再生する第２アドレス再生手段と、を有していてもよい。当該光ディスク装置では、両側の側壁の蛇行状態が異なっている相違部を検出するため、ランドまたはグルーブのアドレス情報を正確に再生することが可能となる。

　また、上記光ディスク装置は、上記構成に加えて、前記第２アドレス再生手段は、光ビームが第２記録トラックを追従しているときに、前記相違部以外の一致部分における側壁の蛇行に基づいた一致部信号を得る一致部信号検出手段と、前記相違部における信号を“０”，“１”と仮定して前記一致部信号に付加することにより、少なくとも２つの仮定信号を生成し、予め決められた規則に基づきその少なくとも２つの仮定信号の内の一つを選択して第２記録トラックのアドレス情報とする合成手段と、を有していてもよい。相違部における信号を“０”，“１”と仮定することで、２つの仮定信号を生成し、その仮定信号によりアドレスを定義される記録トラックが互いに隣接する同種の記録トラック（ランドまたはグルーブ）であるか否かによりアドレス情報の読取エラーを検出すれば、再生したアドレス情報の信頼性を向上させることができる。

　さらに、上記光ディスク装置は、上記構成に加えて、前記少なくとも２つの仮定信号の内の２つが、互いに隣接する２つの第１記録トラックのアドレス情報ではないときに、読取エラーと判定する第１エラー検出手段を有していてもよい。

　また、上記光ディスク装置は、上記構成に加えて、１本の第２記録トラック中に存在する前記相違部の個数が所定値と一致しない場合に、読取エラーと判定する第２エラー検出手段を有していてもよい。上記相違部の個数に基づきアドレス情報の読取エラーを検出すれば、再生したアドレス情報の信頼性を向上させることができる。

本発明の光ディスク基板の一構成例を示す概略上面模式図である。 本発明の光ディスク基板の一構成例を示す断面模式図である。 本発明の光ディスク基板からの再生信号を表す模式図である。 図１，２の光ディスク基板の製造プロセスを示す説明図である。 図１，２の光ディスク基板の製造装置を示す説明図である。 図１，２の光ディスク基板の他の製造プロセスを示す説明図である。 本発明の光ディスク基板の他の構成例を示す概略上面模式図である。 本発明の光ディスク基板の他の構成例を示す概略上面模式図である。 本発明の光ディスク基板の他の構成例を示す概略上面模式図である。 本発明の光ディスク基板を利用した他の光ディスクの構成を示す断面模式図である。 本発明の光ディスク基板を利用した他の光ディスクの構成を示す断面模式図である。 本発明の光ディスク基板を利用した他の光ディスクの構成を示す断面模式図である。 従来の光ディスク基板の構成を示す概略上面模式図である。

符号の説明

　１　グルーブ
　２　ランド
　４　記録再生用光スポット
　５　ディスク基板

Claims (6)

1. 　グルーブ及びランドからなる記録トラックを有し、該記録トラックの少なくとも一部に隣接記録トラックと同一角度位置を先頭とするアドレス領域が形成されており、前記グルーブと前記ランドのどちらか一方である第１記録トラックは、前記アドレス領域において、両側壁がアドレス情報に応じて蛇行しているとともに略同一幅に形成されている光ディスクから情報を再生する光ディスク装置であって、
   　光ビームが第１記録トラックを追従しているときに、その側壁の蛇行を検出することにより、第１記録トラックにおけるアドレス情報を再生する第１アドレス再生手段と、光ビームが、隣接する２つの第１記録トラックに挟まれた第２記録トラックを追従しているときに、その両側の側壁の形状が異なっている相違部を検出する検出手段と、
   　該検出手段の検出結果に基づき、第２記録トラックのアドレス情報を再生する第２アドレス再生手段と、を有してなることを特徴とする光ディスク装置。
2. 　グルーブ及びランドからなる記録トラックを有し、該記録トラックの少なくとも一部に隣接記録トラックと同一角度位置を先頭とするアドレス領域が形成されており、前記グルーブと前記ランドのどちらか一方である第１記録トラックは、前記アドレス領域において、両側壁がアドレス情報に応じて蛇行しているとともに、略同一幅に形成され、第１記録トラックに記録されたアドレス情報は、隣接する第１記録トラックに記録されたアドレス情報と１ビットのみが異なっているグレイコードからなる光ディスクから情報を再生する光ディスク装置であって、
   　光ビームが第１記録トラックを追従しているときに、その側壁の蛇行を検出することにより、第１記録トラックにおけるアドレス情報を再生する第１アドレス再生手段と、光ビームが、隣接する２つの第１記録トラックに挟まれた第２記録トラックを追従しているときに、その両側の側壁の形状が異なっている相違部を検出する検出手段と、
   　該検出手段の検出結果に基づき、第２記録トラックのアドレス情報を再生する第２アドレス再生手段と、を有してなることを特徴とする光ディスク装置。
3. 　請求項１または２記載の光ディスク装置であって、前記検出手段は、前記光ビームが、隣接する２つの第１記録トラックに挟まれた第２記録トラックを追従しているときに、前記光ディスクからの反射光量に依存するトータル信号の変化場所の検出により、前記第２記録トラックの両側の側壁の形状が異なっている相違部を検出することを特徴とする光ディスク装置。
4. 　請求項１ないし３のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記第２アドレス再生手段は、光ビームが第２記録トラックを追従しているときに、前記相違部以外の一致部分における側壁の蛇行に基づいた一致部信号を得る一致部信号検出手段と、前記相違部における信号を“０”，“１”と仮定して前記一致部信号に付加することにより、少なくとも２つの仮定信号を生成し、予め決められた規則に基づきその少なくとも２つの仮定信号の内の一つを選択して第２記録トラックのアドレス情報とする合成手段と、を有してなることを特徴とする光ディスク装置。
5. 　請求項４に記載の光ディスク装置において、前記少なくとも２つの仮定信号の内の２つが、互いに隣接する２つの第１記録トラックのアドレス情報ではないときに、読取エラーと判定する第１エラー検出手段を有してなることを特徴とする光ディスク装置。
6. 　請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の光ディスク装置において、１本の第２記録トラック中に存在する前記相違部の個数が所定値と一致しない場合に、読取エラーと判定する第２エラー検出手段を有してなることを特徴とする光ディスク装置。

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