JP2004070963A - シリアルバス・ネットワークのためのリンキング・アドレス可能シャドウ・ポート及びプロトコル - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明によれば、リンキング・アドレス可能シャドウ・ポート(LASP)とプロトコルが単一プロトコル又はプロトコル・バイパス入力を使用してLASPにアドレスすること及びLASPの複数の2次テスト・アクセス・ポート(TAP)の接続を構成できる。複数のLASPはカスケードされてそれらの2次TAPの接続はLASPプロトコル又はプロトコル・バイパス入力を使用して構成される。
【選択図】 図1
Description
TAPは、1149.1バスに接続された装置の標準ハードウェア・インターフェイスのテスト・アクセス・ポートを示す。
ASP回路上の複数の出力ポートであって、各出力ポートがシリアルバス・スレーブをシリアルバスに接続することが可能な前記出力ポートと、
ASP回路を通るデータ信号の経路を決定するための放送メッセージ中の第1構成コードとを含み、これによりシリアルパスがASP回路の出力ポートに接続されたシリアルバス・スレーブの全て又はいくつか又は1つを含むことを特徴とするシステム。
ASP回路上の複数のカスケードされた入力線とカスケードされた出力線であって、カスケード入力線は別のASP回路からデータ信号を受信することが可能であり、カスケード出力線は別のASP回路へデータ信号を送信することが可能であり、
ASP回路がスタンド・アロン回路として動作するかどうか又はそれがカスケード入力線上でデータを受信しそしてカスケード出力線を介してデータを送信するかどうかを決定するための放送メッセージ中の第2構成コードとを含むことを特徴とするシステム。
選択されるべきASP回路のアドレス及び選択されたASP回路を通るデータ信号の経路を決定する第1構成コードを含んだ放送メッセージをシリアルバス上に送信し、
データ経路が複数の出力ポートの1つに接続したシリアルバススレーブの全て又はいくつかを含む又は全く含まないように選択されたASP回路を構成することを含む方法。
選択されるべきASP回路のアドレス及び入力信号がテストデータ入力線上又はカスケード入力線上で受信されるかどうかそして出力信号がテストデータ出力線上又はカスケード出力線上で送信されるかどうかを決定する第2構成コードを含んだ放送メッセージをシリアルバス上に送信し、
第2構成コードに従い、データをテストデータ入力線又はカスケード入力線上で受信しそしてデータをテストデータ出力線又はカスケード出力線上で送信するために選択されたASP回路を構成することを含む方法。
マスター装置からデータが受信される少なくとも1つスレーブ装置と、
マスター装置とスレーブ装置との間に結合されてそのアドレスにより選択された接続回路を識別する放送メッセージに応答するアドレス可能接続回路と、該接続回路は複数の出力ポートを有して複数の出力ポートの1つは少なくとも1つのスレーブ装置に接続されており、
マスター装置のデータパスが前記出力ポートの全て又はいくつかと結合した又は結合しないスレーブ装置を含むように前記複数の出力ポートを構成するために放送メッセージ中の第1構成コードに応答する前記接続回路中の出力構成回路とを含むアドレス可能接続システム。
マスター装置からデータが受信される少なくとも1つスレーブ装置と、
マスター装置とスレーブ装置との間に結合されてそのアドレスにより選択された接続回路を識別する放送メッセージに応答するアドレス可能接続回路と、該接続回路はシリアルバスに互いに接続されたテストデータ入力線とテストデータ出力線とカスケード入力線とカスケード出力線を有して、カスケード入力線は別のアドレス可能接続回路からデータを受信することが可能で、カスケード出力線は別のアドレス可能接続回路へデータを送信することが可能であり、
入力データをテストデータ入力線又はカスケード入力線上で受信しそして出力データをテストデータ出力線又はカスケード出力線上に送信するため前記接続回路入力線と出力線を構成するために放送メッセージ中の第2構成コードに応答する前記接続回路中のカスケード構成回路とを含むアドレス可能接続システム。
テストデータ入力線上で入力データを受信しそしてカスケード出力線上に出力データを送信するように構成された第1ASP回路と、
カスケード入力線上で入力データを受信しそしてテストデータ出力線上に出力データを送信するように構成された最後ASP回路とを含み、該最後ASP回路が放送メッセージ中に送信された位置データからカスケードされたASP回路のグループ中でのその位置を決定し及びそれが放送メッセージの源へアクノレッジ・メッセージを送信する回路であることを決定することを特徴とするシステム。
選択されるべきASP回路のアドレス及びシリアルバス上でカスケード接続にASP回路を構成するための少なくとも1つの構成メッセージを含んだ放送メッセージをシリアルバス上で全ての装置にメッセージ源から送信し、
バス上でASP回路を少なくとも1つの第1ASP回路と最後ASP回路に構成し、最後ASP回路は構成メッセージ中に含まれた位置データからその位置を決定し及びそれがアクノレッジメント・メッセージをメッセージ源へ放送メッセージを送り返す回路であると決定することを含む方法。
各々がシリアルバス・スレーブをシリアルバスに接続することが可能な複数の出力ポートと、
ASP回路を通るデータ信号の経路を決定するための放送メッセージ中の第1構成コードに応答し、これにより出力ポートに接続されたシリアルバス・スレーブの全て又はいくつかがパス中にあり又は全くないASP回路中の構成回路と、
ASP回路の構成を決定して放送メッセージ中の構成コードにより設定された構成を覆すハードワイヤド・バイパス・コードを受信するためのASP回路上のバイパス入力とを含むシステム。
P0−P2 位置入力
BYP5−BYP0 プロトコル・バイパス入力
LASP リンキングアドレス可能シャドウ・ポート
Claims (2)
- 選択されるべきアドレス可能シャドウポート(ASP)回路のアドレスを含んだ放送メッセージをシリアルバス上に送信することで選択されるASP回路を使用してシリアルバスを介して装置間の通信を行なうためのシステムにおいて、
ASP回路上の複数の出力ポートであって、各出力ポートがシリアルバス・スレーブをシリアルバスに接続することが可能な前記出力ポートと、
ASP回路を通るデータ信号の経路を決定するための放送メッセージ中の第1構成コードとを含み、これによりシリアルパスがASP回路の出力ポートに接続されたシリアルバス・スレーブの全て又はいくつか又は1つを含むことを特徴とするシステム。 - 複数の出力ポートを持つアドレス可能シャドウポート(ASP)回路を使用してシリアルバスを介して装置間の通信をする方法であって、
選択されるべきASP回路のアドレス及び選択されたASP回路を通るデータ信号の経路を決定する第1構成コードを含んだ放送メッセージをシリアルバス上に送信し、
データ経路が複数の出力ポートの1つに接続したシリアルバススレーブの全て又はいくつかを含む又は全く含まないように選択されたASP回路を構成することを含む方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US40190802P | 2002-08-08 | 2002-08-08 | |
US10/331,628 US6968408B2 (en) | 2002-08-08 | 2002-12-30 | Linking addressable shadow port and protocol for serial bus networks |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004070963A true JP2004070963A (ja) | 2004-03-04 |
Family
ID=31891040
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003289548A Pending JP2004070963A (ja) | 2002-08-08 | 2003-08-08 | シリアルバス・ネットワークのためのリンキング・アドレス可能シャドウ・ポート及びプロトコル |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US6968408B2 (ja) |
JP (1) | JP2004070963A (ja) |
KR (1) | KR20040014335A (ja) |
CN (1) | CN1489342A (ja) |
TW (1) | TWI326414B (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6968408B2 (en) * | 2002-08-08 | 2005-11-22 | Texas Instruments Incorporated | Linking addressable shadow port and protocol for serial bus networks |
CN100442074C (zh) * | 2002-12-20 | 2008-12-10 | Nxp股份有限公司 | 通过单个测试访问端口连接多个测试访问端口控制器 |
DE102004057532A1 (de) * | 2004-11-29 | 2006-06-01 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Testen von Halbleiter-Chips unter Verwendung von Registersätzen |
US7818641B2 (en) * | 2006-10-18 | 2010-10-19 | Texas Instruments Incorporated | Interface to full and reduce pin JTAG devices |
TWI331223B (en) * | 2007-04-24 | 2010-10-01 | Function Res Inc | Boundary scan connector test method capable of fully utilizing test i/o modules |
US7647442B2 (en) * | 2007-05-22 | 2010-01-12 | Keng-Kuei Su | Series-connected control system |
US8046650B2 (en) | 2008-03-14 | 2011-10-25 | Texas Instruments Incorporated | TAP with control circuitry connected to device address port |
US8006151B2 (en) | 2008-03-28 | 2011-08-23 | Texas Instruments Incorporated | TAP and shadow port operating on rising and falling TCK |
US9710410B2 (en) * | 2013-10-31 | 2017-07-18 | Qualcomm Incorporated | Camera control slave devices with multiple slave device identifiers |
US9875210B2 (en) | 2014-06-27 | 2018-01-23 | Intel Corporation | Method and apparatus of USB 3.1 retimer presence detect and index |
SG11201806880QA (en) * | 2016-02-26 | 2018-09-27 | Micro Motion Inc | Communicating with two or more slaves |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5483518A (en) * | 1992-06-17 | 1996-01-09 | Texas Instruments Incorporated | Addressable shadow port and protocol for serial bus networks |
US5640521A (en) * | 1992-06-17 | 1997-06-17 | Texas Instruments Incorporated | Addressable shadow port and protocol with remote I/O, contol and interrupt ports |
US5617420A (en) * | 1992-06-17 | 1997-04-01 | Texas Instrument Incorporated | Hierarchical connection method, apparatus, and protocol |
US5448576A (en) * | 1992-10-29 | 1995-09-05 | Bull Hn Information Systems Inc. | Boundary scan architecture extension |
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US6625643B1 (en) * | 1998-11-13 | 2003-09-23 | Akamai Technologies, Inc. | System and method for resource management on a data network |
US6912606B2 (en) * | 2001-06-08 | 2005-06-28 | Sycamore Networks, Inc. | Generic serial bus architecture |
US6968408B2 (en) * | 2002-08-08 | 2005-11-22 | Texas Instruments Incorporated | Linking addressable shadow port and protocol for serial bus networks |
US6908408B2 (en) * | 2003-09-12 | 2005-06-21 | Ford Global Technologies, Llc | Multiple-speed power transmission for motor vehicles |
-
2002
- 2002-12-30 US US10/331,628 patent/US6968408B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-07-11 TW TW092118936A patent/TWI326414B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-08-07 KR KR1020030054741A patent/KR20040014335A/ko not_active Application Discontinuation
- 2003-08-08 JP JP2003289548A patent/JP2004070963A/ja active Pending
- 2003-08-08 CN CNA031530362A patent/CN1489342A/zh active Pending
-
2005
- 2005-08-26 US US11/213,254 patent/US7177965B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2005-08-26 US US11/212,156 patent/US7353307B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1489342A (zh) | 2004-04-14 |
US7353307B2 (en) | 2008-04-01 |
TW200408959A (en) | 2004-06-01 |
US20040037303A1 (en) | 2004-02-26 |
US6968408B2 (en) | 2005-11-22 |
US20070067519A1 (en) | 2007-03-22 |
US7177965B2 (en) | 2007-02-13 |
KR20040014335A (ko) | 2004-02-14 |
TWI326414B (en) | 2010-06-21 |
US20050289267A1 (en) | 2005-12-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050720 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060808 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090806 |