JP2003513411A - 光制御memスイッチ - Google Patents
光制御memスイッチInfo
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H59/00—Electrostatic relays; Electro-adhesion relays
- H01H59/0009—Electrostatic relays; Electro-adhesion relays making use of micromechanics
-
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- H01H1/0036—Switches making use of microelectromechanical systems [MEMS]
-
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- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H47/00—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current
- H01H47/22—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the relay and designed to obtain desired operating characteristics or to provide energising current for supplying energising current for relay coil
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- H01H67/22—Switches without multi-position wipers
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Abstract
(57)【要約】
MEMスイッチが組み付けられる半導体基板の光導電特性を利用するのが望ましい光制御微小電気機械(MEM)スイッチについて説明する。一実施形態では、スイッチの動作を行うために供給されるバイアス電圧は、そのスイッチの光電部分に光を当てることで変化して、そのスイッチを動作しないようにする。他の実施形態では、全くバイアス線なしで、光起電力装置がスイッチを作動する電圧を供給する。印加電圧に応じた電気機械スイッチングのヒステリシスのために、光制御の下でスイッチを素早く開かせ、または閉じさせるためには、スイッチに印加される電圧のただ比較的小さな変化だけが必要である。
Description
【0001】
(発明の分野)
本発明は、基板上に製造することができる微細加工電気機械(MEM)スイッ
チに関する。
チに関する。
【0002】
(背景)
様々な形のMEMスイッチが当技術分野ではよく知られている。1992年に
許可された、Larsonの米国特許第5,121,089号には、電機子が柱
のまわりに対称的に回転するMEMスイッチの例が記載されている。また、「M
icroactuators for GaAs−based microwa
ve integrated circuits (ガリウムヒ素ベースのマイ
クロ波集積回路用の微小アクチュエータ)」by L.E.Larson et
al., Journal of the Optical Society
of America B,10,404−407(1993)で、Lars
onは片持ち梁形MEMスイッチを提案した。
許可された、Larsonの米国特許第5,121,089号には、電機子が柱
のまわりに対称的に回転するMEMスイッチの例が記載されている。また、「M
icroactuators for GaAs−based microwa
ve integrated circuits (ガリウムヒ素ベースのマイ
クロ波集積回路用の微小アクチュエータ)」by L.E.Larson et
al., Journal of the Optical Society
of America B,10,404−407(1993)で、Lars
onは片持ち梁形MEMスイッチを提案した。
【0003】
MEMスイッチは、1GHz以上で動作するアンテナの給電線およびスイッチ
のような非常に高い周波数を制御するのに非常に有用である。その理由は、それ
らの周波数で挿入損失が比較的小さくかつアイソレーションの値が高いからであ
る。したがって、Lam等の米国特許第5,541,614号(1996年)で
教示されているように、MEMスイッチは特に高周波アンテナを制御するのに有
用である。そのような使用は、一般に、MEMスイッチのアレイを必要とし、M
EMスイッチのN×Nのアレイは、直接電気制御を行うためにN2+1の出力線
およびN2の制御回路を必要とする。この制御線は、高周波アンテナ線との干渉
を防ぐために遮蔽する必要があるかもしれない。したがって、この制御線は、こ
のスイッチの製造の複雑さおよびコストを相当に増すことになる。
のような非常に高い周波数を制御するのに非常に有用である。その理由は、それ
らの周波数で挿入損失が比較的小さくかつアイソレーションの値が高いからであ
る。したがって、Lam等の米国特許第5,541,614号(1996年)で
教示されているように、MEMスイッチは特に高周波アンテナを制御するのに有
用である。そのような使用は、一般に、MEMスイッチのアレイを必要とし、M
EMスイッチのN×Nのアレイは、直接電気制御を行うためにN2+1の出力線
およびN2の制御回路を必要とする。この制御線は、高周波アンテナ線との干渉
を防ぐために遮蔽する必要があるかもしれない。したがって、この制御線は、こ
のスイッチの製造の複雑さおよびコストを相当に増すことになる。
【0004】
このようにして、制御線を引き回すことで課される問題を軽減する手段で、そ
のようなアレイのMEMスイッチを制御する必要がある。
のようなアレイのMEMスイッチを制御する必要がある。
【0005】
(発明の概要)
本発明は、MEMスイッチのアレイに制御線を設けることに関する上述の問題
を軽減し、さらに他の利益をも与える。特に、アイソレーションのような付随的
な便宜のある光を用いてMEMスイッチを制御する機構、および本当に制御光源
からの遠隔性を提供する。
を軽減し、さらに他の利益をも与える。特に、アイソレーションのような付随的
な便宜のある光を用いてMEMスイッチを制御する機構、および本当に制御光源
からの遠隔性を提供する。
【0006】
本発明は、MEMスイッチの光制御を実現する。好ましい実施形態では、各M
EMスイッチの近傍に2本の直流バイアス線を設ける。このスイッチのオン・オ
フ制御は、スイッチ基板に光を収束することで行う。照明の下で、半絶縁基板の
光導電性によって直列バイアス抵抗器に電圧損失が生じて、スイッチにかかる直
流バイアス電圧を減少させる。スイッチを組み合わせて使用して、アンテナ・ア
レイを制御することができる。本発明の他の実施形態では、光起電力装置を使用
して、照明下で動作電圧を供給し、全てのバイアス線を不要にする。
EMスイッチの近傍に2本の直流バイアス線を設ける。このスイッチのオン・オ
フ制御は、スイッチ基板に光を収束することで行う。照明の下で、半絶縁基板の
光導電性によって直列バイアス抵抗器に電圧損失が生じて、スイッチにかかる直
流バイアス電圧を減少させる。スイッチを組み合わせて使用して、アンテナ・ア
レイを制御することができる。本発明の他の実施形態では、光起電力装置を使用
して、照明下で動作電圧を供給し、全てのバイアス線を不要にする。
【0007】
(好ましい実施形態の説明)
図1は、本発明に従った光制御MEMスイッチの好ましい実施形態の平面図で
ある。好ましくは24ミクロン幅の片持ち梁10が、電機子静電極板14および
スイッチ導体16も含む電機子構造12を支持する。この電機子静電極板14は
、好ましくは約100ミクロン平方である。基板静電極板40は、この図に示さ
ないが、電機子静電極板14とほぼ同じ大きさであり、この平面図で電機子構造
12の後ろに位置し、点線としてしか見えない。スイッチ導体16の幅は、用い
方によって決まる。この幅は、比例して約30ミクロンで図示するが、更に、小
さくてもよい。好ましい実施形態では、望ましい高周波インピーダンスのために
、幅は69ミクロンである。スイッチ導体16は、電機子絶縁領域30で電機子
静電極板14から絶縁されている。この電機子絶縁領域30は、好ましい実施形
態では約30ミクロンである。スイッチ導体16は、接点くぼみ18を有する各
端部で終わる。電機子静電極板14は、片持ち梁形導体28および電機子ビア2
4を通って基板電機子パッド26に接続されている。アンカー構造20で、4個
のアンカー、例えば22と電機子ビア24を用いて、片持ち梁10は基板(図1
で示さない)に取り付けられる。
ある。好ましくは24ミクロン幅の片持ち梁10が、電機子静電極板14および
スイッチ導体16も含む電機子構造12を支持する。この電機子静電極板14は
、好ましくは約100ミクロン平方である。基板静電極板40は、この図に示さ
ないが、電機子静電極板14とほぼ同じ大きさであり、この平面図で電機子構造
12の後ろに位置し、点線としてしか見えない。スイッチ導体16の幅は、用い
方によって決まる。この幅は、比例して約30ミクロンで図示するが、更に、小
さくてもよい。好ましい実施形態では、望ましい高周波インピーダンスのために
、幅は69ミクロンである。スイッチ導体16は、電機子絶縁領域30で電機子
静電極板14から絶縁されている。この電機子絶縁領域30は、好ましい実施形
態では約30ミクロンである。スイッチ導体16は、接点くぼみ18を有する各
端部で終わる。電機子静電極板14は、片持ち梁形導体28および電機子ビア2
4を通って基板電機子パッド26に接続されている。アンカー構造20で、4個
のアンカー、例えば22と電機子ビア24を用いて、片持ち梁10は基板(図1
で示さない)に取り付けられる。
【0008】
信号「A」のメタライゼーション32は、破線で示すように、電機子構造12
の第1のスイッチくぼみ18の下で終わる。信号「B」のメタライゼーション3
4は、同様に、電機子構造12の第2のスイッチくぼみ18の下で終わる。基板
静電パッド接続36は、共通電位を基板静電パッド40(図2に示す)に伝える
。この基板静電パッド40は、電機子静電極板14の下の基板上に配置されてお
り、これを図1で電機子静電極板14の下の破線で示す。スイッチが閉じている
とき、信号Aは、スイッチくぼみ18およびスイッチ導体16を通って信号Bに
接続される。
の第1のスイッチくぼみ18の下で終わる。信号「B」のメタライゼーション3
4は、同様に、電機子構造12の第2のスイッチくぼみ18の下で終わる。基板
静電パッド接続36は、共通電位を基板静電パッド40(図2に示す)に伝える
。この基板静電パッド40は、電機子静電極板14の下の基板上に配置されてお
り、これを図1で電機子静電極板14の下の破線で示す。スイッチが閉じている
とき、信号Aは、スイッチくぼみ18およびスイッチ導体16を通って信号Bに
接続される。
【0009】
図2は、図1のMEMスイッチの、図示しの区分線に沿った断面を示す。基板
静電極板40の境界を明らかにするために、基板静電極板接続36が片持ち梁1
0の下に延びるところでは、その基板静電極板接続36を示さない。絶縁層42
が電機子アセンブリー12の表面および底面に配置され、スイッチ導体16を支
持する。下および上の電機子絶縁体42は各々、電機子メタライゼーション(例
えば、14、28)でほぼ等しい差動応力を受けるので、差が平衡して、電機子
の反りを最小にしている。極板14は、片持ち梁形導体28およぶ電機子ビア2
4により基板電機子パッド26に接続されている。スイッチ導体16がくぼみ1
8と一体化するところで、スイッチ導体16は下の電機子絶縁体42を通って突
出しているのが分かる。信号「A」接続32の終りはスイッチ接続くぼみ18の
下に配置されているのが分かる。基板44は、この構造全ての下にある。基板4
4は、部分的には信号線のインピーダンス制御の目的のために、厚さがほんの約
100ミクロンであるのが好ましいが、比例的に表していない。
静電極板40の境界を明らかにするために、基板静電極板接続36が片持ち梁1
0の下に延びるところでは、その基板静電極板接続36を示さない。絶縁層42
が電機子アセンブリー12の表面および底面に配置され、スイッチ導体16を支
持する。下および上の電機子絶縁体42は各々、電機子メタライゼーション(例
えば、14、28)でほぼ等しい差動応力を受けるので、差が平衡して、電機子
の反りを最小にしている。極板14は、片持ち梁形導体28およぶ電機子ビア2
4により基板電機子パッド26に接続されている。スイッチ導体16がくぼみ1
8と一体化するところで、スイッチ導体16は下の電機子絶縁体42を通って突
出しているのが分かる。信号「A」接続32の終りはスイッチ接続くぼみ18の
下に配置されているのが分かる。基板44は、この構造全ての下にある。基板4
4は、部分的には信号線のインピーダンス制御の目的のために、厚さがほんの約
100ミクロンであるのが好ましいが、比例的に表していない。
【0010】
図3は、図2のMEMスイッチの断面をスイッチが閉じた位置で示す。電圧が
電機子静電極板14と基板静電極板40の間に加えられる。電機子構造12は、
静電力で下方に基板44に向かって引っ張られるが、片持ち梁10の変位に比例
するばね回復力で平衡がとれる。(ばね回復力は、電機子導体28とその上およ
び下の電機子絶縁体42の変形に対する弾性抵抗で与えられる。電機子構造は、
アンカー構造20で基板44から支持されている)。印加電圧が増加し続けると
、バイアス電圧に比例し2枚の極板間のギャップの2乗に反比例する静電力は、
最終的には片持ち梁10のばね回復力を超え、平衡は維持されなくなる。このい
わゆる「スナップ・ダウン」電圧で、下の電機子絶縁体42が極板を隔てる程度
に小さくなるように、極板14はパチンと下にさがって、極板40にしっかりと
載る。絶縁領域30は、いくらか曲がって、くぼみ18が信号「A」の導体32
をしっかり押しつけるように力を与え、その間に繰返し可能な信頼性の高い接続
を保証する。
電機子静電極板14と基板静電極板40の間に加えられる。電機子構造12は、
静電力で下方に基板44に向かって引っ張られるが、片持ち梁10の変位に比例
するばね回復力で平衡がとれる。(ばね回復力は、電機子導体28とその上およ
び下の電機子絶縁体42の変形に対する弾性抵抗で与えられる。電機子構造は、
アンカー構造20で基板44から支持されている)。印加電圧が増加し続けると
、バイアス電圧に比例し2枚の極板間のギャップの2乗に反比例する静電力は、
最終的には片持ち梁10のばね回復力を超え、平衡は維持されなくなる。このい
わゆる「スナップ・ダウン」電圧で、下の電機子絶縁体42が極板を隔てる程度
に小さくなるように、極板14はパチンと下にさがって、極板40にしっかりと
載る。絶縁領域30は、いくらか曲がって、くぼみ18が信号「A」の導体32
をしっかり押しつけるように力を与え、その間に繰返し可能な信頼性の高い接続
を保証する。
【0011】
スイッチの動作のヒステリシスは、切れの良い動作にとって重要である。図4
は、印加電圧の関数としてスイッチ状態を示し、これは、一般的なRF MEM
スイッチのヒステリシス特性を実証している。印加電圧が増加するにつれて、ス
イッチ状態は、実線の軸を有する矢印で示す経路を辿る。このようにして、印加
電圧がスナップ・ダウン電圧V2を超えたときに、スイッチは、「オフ」状態か
ら「オン」状態に変わる。しかし、印加電圧がV2を超え、それから減少すると
き、スイッチ状態は、破線の軸を有する矢印で示される経路を辿る。このように
して、印加バイアス電圧がスナップ・ダウン電圧V2をまさに下回るまで減少し
たとき、スイッチは「オフ」状態に戻らずに、印加電圧が「ホールド・オン」電
圧V1に低下するまで「オン」状態のままである。印加電圧がホールド・オン電
圧V1をまさに下回ったときに、スイッチはそのとき突然開く。オン・オフの差
V2−V1は一般に数ボルトである。例えば、スナップ・ダウン電圧が60Vで
ある好ましい実施形態では、オン・オフの差V2−V1は5Vである。印加電圧
に応じたスイッチ動作のヒステリシスは、ここで説明するMEMスイッチの光導
電性とともに、本発明の基礎である。
は、印加電圧の関数としてスイッチ状態を示し、これは、一般的なRF MEM
スイッチのヒステリシス特性を実証している。印加電圧が増加するにつれて、ス
イッチ状態は、実線の軸を有する矢印で示す経路を辿る。このようにして、印加
電圧がスナップ・ダウン電圧V2を超えたときに、スイッチは、「オフ」状態か
ら「オン」状態に変わる。しかし、印加電圧がV2を超え、それから減少すると
き、スイッチ状態は、破線の軸を有する矢印で示される経路を辿る。このように
して、印加バイアス電圧がスナップ・ダウン電圧V2をまさに下回るまで減少し
たとき、スイッチは「オフ」状態に戻らずに、印加電圧が「ホールド・オン」電
圧V1に低下するまで「オン」状態のままである。印加電圧がホールド・オン電
圧V1をまさに下回ったときに、スイッチはそのとき突然開く。オン・オフの差
V2−V1は一般に数ボルトである。例えば、スナップ・ダウン電圧が60Vで
ある好ましい実施形態では、オン・オフの差V2−V1は5Vである。印加電圧
に応じたスイッチ動作のヒステリシスは、ここで説明するMEMスイッチの光導
電性とともに、本発明の基礎である。
【0012】
図5は、本発明の好ましい実施形態で使用される電気部品を形成する詳細を示
し、これは図6に示す電気回路図を参照してより容易に理解することができる。
図6で、バイアスおよびコモンは、スナップ・ダウン電圧を超えるように、好ま
しくは約60V加えられ、これはバイアス電源(図示しない)で供給される。R b は直列バイアス抵抗器であり、好ましくは約1メグオームである。Rpはフォト
レジスタであり、これは、単に、基板の一部であるのが好ましい。Rpが基板の
一部である場合は、基板は絶縁性GaAsであるのが好ましい。光をRpに向け
るとき、抵抗は約100メグオームから約10メグオームに減少する。その結果
、電気子静電極板プレートAと基板静電極板プレートSの間の使用可能電圧は、
Rpに向けられる光の強度に依存して変わる。好ましい実施形態では、基板が暗
い時にスイッチに60Vがかかり、スナップ・ダウン電圧を超えてMEMスイッ
チを閉じる。一方で、強い照明の下で、54Vがかかり、この電圧はホールド・
ダウン電圧よりも小さく、したがってスイッチを開く。
し、これは図6に示す電気回路図を参照してより容易に理解することができる。
図6で、バイアスおよびコモンは、スナップ・ダウン電圧を超えるように、好ま
しくは約60V加えられ、これはバイアス電源(図示しない)で供給される。R b は直列バイアス抵抗器であり、好ましくは約1メグオームである。Rpはフォト
レジスタであり、これは、単に、基板の一部であるのが好ましい。Rpが基板の
一部である場合は、基板は絶縁性GaAsであるのが好ましい。光をRpに向け
るとき、抵抗は約100メグオームから約10メグオームに減少する。その結果
、電気子静電極板プレートAと基板静電極板プレートSの間の使用可能電圧は、
Rpに向けられる光の強度に依存して変わる。好ましい実施形態では、基板が暗
い時にスイッチに60Vがかかり、スナップ・ダウン電圧を超えてMEMスイッ
チを閉じる。一方で、強い照明の下で、54Vがかかり、この電圧はホールド・
ダウン電圧よりも小さく、したがってスイッチを開く。
【0013】
図5に戻って、アレイの全てのスイッチに共通などこかほかのところから、バ
イアス接続48にバイアスを加える。バイアス抵抗器46は、好ましくは線幅が
6ミクロンのスパッタCrSiOの40から50の方形であり、好ましくは約1
メグオームの適切な抵抗器を介してバイアス源から電機子基板パッド26に電流
を伝える。バイアス抵抗器46は、フォトレジスト効果で抵抗が減少しないよう
に、任意の非伝導性不透明材料で覆われているのが好ましい。バイアス源からの
電流は、他の重要な抵抗はなくて、アンカー構造20の電機子ビア24を通り、
さらに片持ち梁形導体28を通って、電機子基板パッド26から図示しない電機
子静電パッドに伝えられる。バイアス電源のコモン(図6)は、著しい抵抗なし
に、基板静電接続36とともに図示しない基板静電極板に設けてもよい。
イアス接続48にバイアスを加える。バイアス抵抗器46は、好ましくは線幅が
6ミクロンのスパッタCrSiOの40から50の方形であり、好ましくは約1
メグオームの適切な抵抗器を介してバイアス源から電機子基板パッド26に電流
を伝える。バイアス抵抗器46は、フォトレジスト効果で抵抗が減少しないよう
に、任意の非伝導性不透明材料で覆われているのが好ましい。バイアス源からの
電流は、他の重要な抵抗はなくて、アンカー構造20の電機子ビア24を通り、
さらに片持ち梁形導体28を通って、電機子基板パッド26から図示しない電機
子静電パッドに伝えられる。バイアス電源のコモン(図6)は、著しい抵抗なし
に、基板静電接続36とともに図示しない基板静電極板に設けてもよい。
【0014】
半絶縁性GaAs基板は、図5の全ての構造の下にあるのが好ましい。基板に
照明を当てることで、その抵抗は、非常に大雑把に1平方当り10メグオームま
で減少する。したがって、光を当てると、電機子基板パッド26と基板静電接続
36の間のギャップ50内の基板は、十分な電流を通して、電機子静電極板と基
板静電極板の間の使用可能な電圧を減少させるので、スイッチが開く。
照明を当てることで、その抵抗は、非常に大雑把に1平方当り10メグオームま
で減少する。したがって、光を当てると、電機子基板パッド26と基板静電接続
36の間のギャップ50内の基板は、十分な電流を通して、電機子静電極板と基
板静電極板の間の使用可能な電圧を減少させるので、スイッチが開く。
【0015】
スイッチの製造
図7〜10は、図2に示した完成されたMEMスイッチにいたる製造ステップ
を示す。基板44は、厚さが約100ミクロンの半絶縁性GaAsであるのが好
ましく、結果として選られたMERスイッチが使用される回路と共存性を得るよ
うに主として選ばれる。可視光または赤外光による照明を受けて変化する抵抗を
示す任意の半絶縁性基板を使用することができる。これは、例えば、InPまた
はSiを使用して達成することができる。セラミックまたはポリイミドのような
本質的に光導電特性を持たない他の基板もまた使用することができるが、これに
は別個のフォトレジスタを作ることが必要であろう。配線の伝送線路特性の制御
を行うために接地面から適切な間隔を得ることのような回路に対する要件で、基
板の厚さは大部分決まる。
を示す。基板44は、厚さが約100ミクロンの半絶縁性GaAsであるのが好
ましく、結果として選られたMERスイッチが使用される回路と共存性を得るよ
うに主として選ばれる。可視光または赤外光による照明を受けて変化する抵抗を
示す任意の半絶縁性基板を使用することができる。これは、例えば、InPまた
はSiを使用して達成することができる。セラミックまたはポリイミドのような
本質的に光導電特性を持たない他の基板もまた使用することができるが、これに
は別個のフォトレジスタを作ることが必要であろう。配線の伝送線路特性の制御
を行うために接地面から適切な間隔を得ることのような回路に対する要件で、基
板の厚さは大部分決まる。
【0016】
図7において、基板44上にメタライゼーションをパターン形成して、電機子
基板パッド26、基板静電極板40、および信号Aの導体32を形成した。例え
ばリソグラフィ的なレジストのリフト・オフまたはレジスト画定と金属エッチン
グを含むが、また余り一般的でない方法も含んだ任意の方法を使用して、パター
ン形成メタライゼーションを実現することができる。このメタライゼーションは
、基板への付着を確実にするために、250〜500ÅのTiから始まり、その
後に、Auの拡散からTiを保護するために約1000ÅのPt、さらに約20
00ÅのAuが続くのが好ましい。任意の共存可能なメタライゼーションを使用
することができるが、もちろん完成したMEMスイッチの特性に影響を与える。
基板パッド26、基板静電極板40、および信号Aの導体32を形成した。例え
ばリソグラフィ的なレジストのリフト・オフまたはレジスト画定と金属エッチン
グを含むが、また余り一般的でない方法も含んだ任意の方法を使用して、パター
ン形成メタライゼーションを実現することができる。このメタライゼーションは
、基板への付着を確実にするために、250〜500ÅのTiから始まり、その
後に、Auの拡散からTiを保護するために約1000ÅのPt、さらに約20
00ÅのAuが続くのが好ましい。任意の共存可能なメタライゼーションを使用
することができるが、もちろん完成したMEMスイッチの特性に影響を与える。
【0017】
図8で、プラズマ増速気相化学反応法(PECVD)またはスパッタリングの
ような任意の互換性のある方法を使用して、好ましくは厚さ2ミクロンのSiO 2 の犠牲支持層72を析出する。犠牲支持層72の厚さは、静電極板の間隔およ
びスイッチ開放に影響を及ぼす。これらは、両方とも重要な設計パタメータであ
る。ビア74は、層72を通して形成される。これは、例えば、リソグラフィ的
なフォトレジストとエッチングで行うことができる。
ような任意の互換性のある方法を使用して、好ましくは厚さ2ミクロンのSiO 2 の犠牲支持層72を析出する。犠牲支持層72の厚さは、静電極板の間隔およ
びスイッチ開放に影響を及ぼす。これらは、両方とも重要な設計パタメータであ
る。ビア74は、層72を通して形成される。これは、例えば、リソグラフィ的
なフォトレジストとエッチングで行うことができる。
【0018】
図9で、第1の電機子構造層82がパターン形成されている。構造層82は、
室化珪素であるのが好ましいが、望ましくは犠牲層72に比べてエッチング速度
が小さい他の材料でもよい。ビア84は任意の方法、例えば、リソグラフィとド
ライ・エッチングで形成することができるが、エッチング・ステップでビア84
の下の犠牲層72の一部を取り除いて、第1の構造層82の下に制御された深さ
で延びるくぼみ受口を形成することが望ましい。
室化珪素であるのが好ましいが、望ましくは犠牲層72に比べてエッチング速度
が小さい他の材料でもよい。ビア84は任意の方法、例えば、リソグラフィとド
ライ・エッチングで形成することができるが、エッチング・ステップでビア84
の下の犠牲層72の一部を取り除いて、第1の構造層82の下に制御された深さ
で延びるくぼみ受口を形成することが望ましい。
【0019】
図10は、さらに2つの他のステップの結果を示す。第2のメタライゼーショ
ン・パターンを追加して、くぼみ18、スイッチ導体16、電機子静電極板14
および片持ち梁形導体28が形成されている。この第2のメタライゼーション・
パターンは電機子基板パッド26に付着して電機子ビア24を形成する。このメ
タライゼーションは、一般にはスパッタで析出され、200ÅのTiの後に10
00ÅのAu(上述のメタライゼーションよりも薄い)が続くのが好ましいが、
もちろん他の金属および厚さを選ぶことができる。また、図10は、第2のメタ
ライゼーション・ステップの後に追加してパターン形成された第2の構造層92
も示す。電機子内の応力を平衡させ、それによって電機子の反りを最小にするた
めに、第2の高造層92は、図9に関して上で説明した第1の構造層82と同じ
材料および同じ厚さであるのが好ましい。
ン・パターンを追加して、くぼみ18、スイッチ導体16、電機子静電極板14
および片持ち梁形導体28が形成されている。この第2のメタライゼーション・
パターンは電機子基板パッド26に付着して電機子ビア24を形成する。このメ
タライゼーションは、一般にはスパッタで析出され、200ÅのTiの後に10
00ÅのAu(上述のメタライゼーションよりも薄い)が続くのが好ましいが、
もちろん他の金属および厚さを選ぶことができる。また、図10は、第2のメタ
ライゼーション・ステップの後に追加してパターン形成された第2の構造層92
も示す。電機子内の応力を平衡させ、それによって電機子の反りを最小にするた
めに、第2の高造層92は、図9に関して上で説明した第1の構造層82と同じ
材料および同じ厚さであるのが好ましい。
【0020】
MEMスイッチを完成させるために、犠牲層72を取り除くためのウェット・
エッチングの他の製造ステップを行い、これによって、図2に示すようなスイッ
チが生じる。バイアス抵抗器のスパッタ析出並びに望ましい場合にバイアス抵抗
器を不透明にコーティングするステップをその後で行うことができる。犠牲層7
2の析出ステップの前にバイアス抵抗器を析出することもまた可能である。実際
、犠牲層72に不透明材料を選んだ場合、バイアス抵抗器の領域内の犠牲層72
を単にエッチングしないようにするだけで、照明によるバイアス抵抗器の漏れを
防ぐことになる。
エッチングの他の製造ステップを行い、これによって、図2に示すようなスイッ
チが生じる。バイアス抵抗器のスパッタ析出並びに望ましい場合にバイアス抵抗
器を不透明にコーティングするステップをその後で行うことができる。犠牲層7
2の析出ステップの前にバイアス抵抗器を析出することもまた可能である。実際
、犠牲層72に不透明材料を選んだ場合、バイアス抵抗器の領域内の犠牲層72
を単にエッチングしないようにするだけで、照明によるバイアス抵抗器の漏れを
防ぐことになる。
【0021】
追加の実施形態
図11は、アンテナ特性を変えるための本発明によるMEMスイッチのアレイ
を示す。適正なバイアス電源電圧が、接続103で、各光制御MEMスイッチ1
07に加えられる。このMEMスイッチ107には、バイアス電源コモン105
も接続されている。アンテナ要素101が選択的に接続されるように、例えば適
切に取り付けられた光ファイバで各MEMスイッチ107の光電素子に個々に光
を向けることで、各MEMスイッチ107に選択的に光を当てることができる。
アンテナ・アレイはアンテナAに向かって上に延びことができ、またはアンテナ
Bに向かって下に延びることができる。細かく同調可能なアンテナを実現するよ
うに、アンテナ要素を広い範囲で変えることができる。
を示す。適正なバイアス電源電圧が、接続103で、各光制御MEMスイッチ1
07に加えられる。このMEMスイッチ107には、バイアス電源コモン105
も接続されている。アンテナ要素101が選択的に接続されるように、例えば適
切に取り付けられた光ファイバで各MEMスイッチ107の光電素子に個々に光
を向けることで、各MEMスイッチ107に選択的に光を当てることができる。
アンテナ・アレイはアンテナAに向かって上に延びことができ、またはアンテナ
Bに向かって下に延びることができる。細かく同調可能なアンテナを実現するよ
うに、アンテナ要素を広い範囲で変えることができる。
【0022】
図12は、ハイブリッドを形成するようにMEMスイッチ1とともに取り付け
られた光起電力装置120と一緒に製造されたMEMスイッチを示す。光起電力
装置120は、直列に接続された72個の単体光起電力セル、例えば125、を
有する代表的な集積回路であり、この直列の光起電力セルの端部はボンディング
・パッド123および124に接続されている。ボンディング線121は、光起
電力装置120の第1のボンディング・パッド123を基板静電極板接続36に
接続し、ボンディング線122は光起電力装置120の第2のボンディング・パ
ッド124を電機子静電極板接続26に接続する。光が当ったとき、光起電力装
置は、スイッチを作動させるのに十分な電圧(現在の好ましい実施形態では60
Vより高い)を生成するので、他の実施形態では必要なように、MEMスイッチ
1のバイアス線をバイアス電源または他の外部駆動電源に接続する必要がない。
図12に示すハイブリッドの製造は好ましい本実施形態であり、このハイブリッ
ド製造はMEMスイッチを製造することができる実質的に任意の表面と共存可能
であるので、MEMスイッチは様々な基板状表面に製造することができる。しか
し、そうではなくて、光起電力装置を、適切な処理で基板に製造することができ
る。例えば、SiまたはGaAs基板を当技術分野でよく知られているステップ
で処理して、多くの光起電力セルを含む光起電力装置を製造することができる。
図2および図7〜10に関して上で説明したように処理された基板にMEMスイ
ッチ1を製造して、完全な集積装置を形成することができる。この装置をアレイ
で使用するとき、各光起電力装置に取り付けられた光ファイバによるように、個
々の光起電力装置に光を向けることで、この装置を選択的に動作させることがで
きる。
られた光起電力装置120と一緒に製造されたMEMスイッチを示す。光起電力
装置120は、直列に接続された72個の単体光起電力セル、例えば125、を
有する代表的な集積回路であり、この直列の光起電力セルの端部はボンディング
・パッド123および124に接続されている。ボンディング線121は、光起
電力装置120の第1のボンディング・パッド123を基板静電極板接続36に
接続し、ボンディング線122は光起電力装置120の第2のボンディング・パ
ッド124を電機子静電極板接続26に接続する。光が当ったとき、光起電力装
置は、スイッチを作動させるのに十分な電圧(現在の好ましい実施形態では60
Vより高い)を生成するので、他の実施形態では必要なように、MEMスイッチ
1のバイアス線をバイアス電源または他の外部駆動電源に接続する必要がない。
図12に示すハイブリッドの製造は好ましい本実施形態であり、このハイブリッ
ド製造はMEMスイッチを製造することができる実質的に任意の表面と共存可能
であるので、MEMスイッチは様々な基板状表面に製造することができる。しか
し、そうではなくて、光起電力装置を、適切な処理で基板に製造することができ
る。例えば、SiまたはGaAs基板を当技術分野でよく知られているステップ
で処理して、多くの光起電力セルを含む光起電力装置を製造することができる。
図2および図7〜10に関して上で説明したように処理された基板にMEMスイ
ッチ1を製造して、完全な集積装置を形成することができる。この装置をアレイ
で使用するとき、各光起電力装置に取り付けられた光ファイバによるように、個
々の光起電力装置に光を向けることで、この装置を選択的に動作させることがで
きる。
【0023】
他の実施形態
当業者は理解するであろうが、前述の説明は単なる例証に過ぎず、無数の変形
形態を使用することができる。特に、MEMスイッチの動作(閉路)電圧および
ドロップアウト(開路)電圧は、ほんのいくつかの変数に言及すると、電機子層
構造、静電極板サイズ、片持ち梁の材料、厚さ、長さおよび幅、および電機子と
基板の間の間隔に依存する。したがって、動作電圧は、実施形態間で大きく変わ
る。基板フォトレジスタRpもまた大きく変えることができる。これは、例えば
、電機子基板パッド接続と基板静電パッド接続の間の基板の光の当たる方形の数
を変えることで、光導電効果を変えるように不純物を変えることで、また、照明
の強度を変えることで行うことができる。さらに、他の基板は類似の光導電効果
を実現すると思われる。または、異なる光導電材料を任意の基板上に配置して光
導電効果を実現することができる。無数の異なる方法および材料が、適切な値の
バイアス抵抗Rbを実現するために使用することができる。抵抗器を形成するよ
うにパターン形成された別個の材料を使用する好ましい本方法の多くの可能な変
形形態に加えて、多くの基板は、不純物のパターン形成された打込みによって、
高抵抗配線に作ることができる。選択されたフォトレジスタRpとともに、選択
されたバイアス抵抗器Rbによって、選択された光源を使用してRpに光りを当て
るときに、電機子静電極板と基板静電極板の間の使用可能な電圧は、動作電圧よ
り上からドロップアウト電圧より下に変えることができる。これらの要因の全て
を広い範囲で変えることができるので、本発明は添付の特許請求の範囲によって
のみ定義される。
形態を使用することができる。特に、MEMスイッチの動作(閉路)電圧および
ドロップアウト(開路)電圧は、ほんのいくつかの変数に言及すると、電機子層
構造、静電極板サイズ、片持ち梁の材料、厚さ、長さおよび幅、および電機子と
基板の間の間隔に依存する。したがって、動作電圧は、実施形態間で大きく変わ
る。基板フォトレジスタRpもまた大きく変えることができる。これは、例えば
、電機子基板パッド接続と基板静電パッド接続の間の基板の光の当たる方形の数
を変えることで、光導電効果を変えるように不純物を変えることで、また、照明
の強度を変えることで行うことができる。さらに、他の基板は類似の光導電効果
を実現すると思われる。または、異なる光導電材料を任意の基板上に配置して光
導電効果を実現することができる。無数の異なる方法および材料が、適切な値の
バイアス抵抗Rbを実現するために使用することができる。抵抗器を形成するよ
うにパターン形成された別個の材料を使用する好ましい本方法の多くの可能な変
形形態に加えて、多くの基板は、不純物のパターン形成された打込みによって、
高抵抗配線に作ることができる。選択されたフォトレジスタRpとともに、選択
されたバイアス抵抗器Rbによって、選択された光源を使用してRpに光りを当て
るときに、電機子静電極板と基板静電極板の間の使用可能な電圧は、動作電圧よ
り上からドロップアウト電圧より下に変えることができる。これらの要因の全て
を広い範囲で変えることができるので、本発明は添付の特許請求の範囲によって
のみ定義される。
【図1】
本発明に適したMEMスイッチの平面図である。
【図2】
開いた状態の図1のMEMスイッチの横方向断面図である。
【図3】
閉じた状態の図1のMEMスイッチの横方向断面図である。
【図4】
印加電圧の関数としてスイッチ状態のヒステリシスを示す図である。
【図5】
図1のフォトレジスタ領域の詳細を示す図である。
【図6】
MEMスイッチに対するバイアス電圧の印加および制御の回路図である。
【図7】
所定の位置に第1の金属層を有する基板を示す図である。
【図8】
犠牲層の選択的追加後の図7を示す図である。
【図9】
絶縁層の選択的追加および接点くぼみのエッチングを示す図である。
【図10】
カンチレバー導体メタライゼーションおよび最終絶縁層の追加を示す図である
。
。
【図11】
光制御MEMスイッチのアレイを示す図である。
【図12】
外部バイアス線のない光起電力駆動MEMスイッチを示す図である。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成13年9月28日(2001.9.28)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY,
DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I
T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ
,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML,
MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K
E,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ,UG
,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,
RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM,AT,
AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,BZ,C
A,CH,CN,CR,CU,CZ,DE,DK,DM
,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH,
GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,K
E,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS
,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN,
MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,PT,RO,R
U,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM
,TR,TT,TZ,UA,UG,UZ,VN,YU,
ZA,ZW
(72)発明者 スー,ツング−ユアン
アメリカ合衆国,91361 カリフォルニア
州,ウェストレイク ヴィレッジ,スプリ
ングス ドライヴ 3463
(72)発明者 ルー,ロバート,ワイ.
アメリカ合衆国,91301 カリフォルニア
州,アゴーラ ヒルズ,オールド キャリ
アッジ コート 29046
(72)発明者 タンゴ−ナン,グレッグ
アメリカ合衆国,93035 カリフォルニア
州,オックスナード,サンタ ロサ アヴ
ェニュー 141
(72)発明者 ラム,ジュアン,エフ.
アメリカ合衆国,90266 カリフォルニア
州,マンハッタン ビーチ,ウェンディ
ウェイ 1905
Fターム(参考) 5G055 AA01 AB01 AD04 AE12 AG13
5G057 AA01 KK27
Claims (19)
- 【請求項1】 静電力で作動する光制御式機械スイッチであって、 電荷を蓄積するように前記スイッチの対向する部分に配置された静電極板と、 バイアス電源から前記静電極板に電荷を伝える導体と、 前記バイアス電源から前記静電極板に届く電荷の量に影響を及ぼすように配列
された光電素子とを備え、前記スイッチは、前記光電素子が第1のレベルの照明
に曝された時に、第1の位置に作動され、また、前記光電素子が異なる第2のレ
ベルの照明に曝された時に第2の位置に作動されるようになる光制御式機械スイ
ッチ。 - 【請求項2】 前記光電素子が、フォトレジスタまたは光起電力セルである
、請求項1に記載の光制御式スイッチ。 - 【請求項3】 前記光電素子に照明を当てることで前記スイッチが開く、請
求項1または2に記載の光制御式スイッチ。 - 【請求項4】 前記光電素子が、前記スイッチが組み付けられる基板内に存
在する、先行する請求項のいずれか一項に記載の光制御式スイッチ。 - 【請求項5】 先行する請求項のいずれか一項に記載の複数の光制御式スイ
ッチであって、前記複数の光制御式スイッチの各々がバイアス電源とバイアス・
コモンを共有し、さらに、前記複数の光制御式スイッチの各々が選択的照明によ
って個々に制御可能である複数の光制御式スイッチ。 - 【請求項6】 前記複数の光制御式スイッチの各々が、バイアス電源を必要
としないで、選択的照明によって制御可能である、請求項5に記載の複数の光制
御式スイッチ。 - 【請求項7】 前記光電素子が、前記スイッチが組み付けられる基板のメタ
ライゼーション・パターン間の領域内に形成される、先行する請求項のいずれか
一項に記載の光制御式スイッチ。 - 【請求項8】 前記光電素子を形成するために、前記メタライゼーションの
析出以外に前記基板を処理することを必要としない、請求項7に記載の光制御式
スイッチ。 - 【請求項9】 請求項1から8のいずれか一項に記載の光制御式スイッチの
選択的動作で同調可能なアンテナ・アレイ。 - 【請求項10】 機械スイッチを制御する方法であって、 前記機械スイッチの対向する部分に静電極板を設けるステップと、 前記静電極板のための電荷の供給源を設けるステップと、 前記電荷供給源から前記静電極板に供給される電荷の量に影響を及ぼすように
光電素子を接続するステップと、 第1のレベルまで前記光電素子に光を当て、それによって前記スイッチが第1
の位置をとるようにするステップと、 異なる第2のレベルまで前記光電素子に光を当て、それによって前記スイッチ
が異なる第2の位置に作動するようにするステップとを含む方法。 - 【請求項11】 接続された前記光電素子が、フォトレジスタである、請求
項11に記載の方法。 - 【請求項12】 前記スイッチを開かせるようなフォトレジスタの照明を増
加する他のステップを含む、請求項12に記載の方法。 - 【請求項13】 接続された前記光電素子が、光起電力セルである、請求項
11に記載の方法。 - 【請求項14】 請求項10から13のいずれか一項に記載の機械スイッチ
を選択的に制御することにより、アンテナ・アレイを同調させる方法。 - 【請求項15】 前記スイッチが組み付けられる基板内に前記光電素子を形
成する更なるステップを含む、請求項10から14のいずれか一項に記載の方法
。 - 【請求項16】 請求項10から15のいずれか一項に記載の方法に従った
複数の光制御式スイッチを制御する方法であって、 バイアス電源およびバイアス・コモンを前記複数のスイッチの一つ一つに設け
るステップと、 各スイッチの前記光電素子に選択的に光を当てるステップとをさらに含む方法
。 - 【請求項17】 請求項10から15のいずれか一項に記載の方法に従った
複数の光制御式スイッチを制御する方法であって、 各特定の光制御式スイッチの状態を、前記特定のスイッチの光電素子に選択的に
光を当てることで、前記スイッチまたはそれの前記光電素子以外の装置に接続さ
れた電圧に関係なく、独立に制御するステップをさらに含む方法。 - 【請求項18】 基板のメタライゼーション・パターン間の領域内に前記光
電素子を形成し、さらに前記基板上に前記光電素子を形成するステップをさらに
含む、請求項10から17のいずれか一項に記載の方法。 - 【請求項19】 前記光電素子を形成する前記ステップが、メタライゼーシ
ョンの析出以外に前記基板の処理を必要としない、請求項18に記載の光制御式
スイッチ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/429,234 US6310339B1 (en) | 1999-10-28 | 1999-10-28 | Optically controlled MEM switches |
US09/429,234 | 1999-10-28 | ||
PCT/US2000/023196 WO2001031664A1 (en) | 1999-10-28 | 2000-08-23 | Optically controlled mem switches |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003513411A true JP2003513411A (ja) | 2003-04-08 |
Family
ID=23702377
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001534167A Pending JP2003513411A (ja) | 1999-10-28 | 2000-08-23 | 光制御memスイッチ |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US6310339B1 (ja) |
EP (1) | EP1226595A1 (ja) |
JP (1) | JP2003513411A (ja) |
AU (1) | AU6931700A (ja) |
TW (1) | TW569259B (ja) |
WO (1) | WO2001031664A1 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005279831A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Sony Corp | Mems素子、光学mems素子、回折型光学mems素子、並びにレーザディスプレイ |
JP2009514142A (ja) * | 2003-07-08 | 2009-04-02 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | マイクロ電気機械スイッチ(マイクロ電気機械スイッチのための貴金属コンタクト) |
US7825755B2 (en) | 2004-10-29 | 2010-11-02 | The Foundation For The Promotion Of Industrial Science | Electrostatic micro actuator, electrostatic microactuator apparatus and driving method of electrostatic micro actuator |
JP2012086315A (ja) * | 2010-10-20 | 2012-05-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 微細可動構造体の製造方法および微細可動構造体 |
Families Citing this family (55)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000188049A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-04 | Nec Corp | マイクロマシンスイッチおよびその製造方法 |
JP3119255B2 (ja) * | 1998-12-22 | 2000-12-18 | 日本電気株式会社 | マイクロマシンスイッチおよびその製造方法 |
US6417807B1 (en) * | 2001-04-27 | 2002-07-09 | Hrl Laboratories, Llc | Optically controlled RF MEMS switch array for reconfigurable broadband reflective antennas |
US6310339B1 (en) * | 1999-10-28 | 2001-10-30 | Hrl Laboratories, Llc | Optically controlled MEM switches |
US7388186B2 (en) * | 1999-10-28 | 2008-06-17 | Hrl Laboratories, Llc | Optically controlled MEMS devices |
US6469677B1 (en) | 2001-05-30 | 2002-10-22 | Hrl Laboratories, Llc | Optical network for actuation of switches in a reconfigurable antenna |
US6670921B2 (en) * | 2001-07-13 | 2003-12-30 | Hrl Laboratories, Llc | Low-cost HDMI-D packaging technique for integrating an efficient reconfigurable antenna array with RF MEMS switches and a high impedance surface |
US6794793B2 (en) * | 2001-09-27 | 2004-09-21 | Memx, Inc. | Microelectromechnical system for tilting a platform |
US6640023B2 (en) | 2001-09-27 | 2003-10-28 | Memx, Inc. | Single chip optical cross connect |
AU2002363529A1 (en) | 2001-11-09 | 2003-05-19 | Coventor, Incorporated | Micro-scale interconnect device with internal heat spreader and method for fabricating same |
US6717496B2 (en) * | 2001-11-13 | 2004-04-06 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Electromagnetic energy controlled low actuation voltage microelectromechanical switch |
US6944365B2 (en) * | 2002-01-03 | 2005-09-13 | Memx, Inc. | Off axis optical signal redirection architectures |
US6608268B1 (en) * | 2002-02-05 | 2003-08-19 | Memtronics, A Division Of Cogent Solutions, Inc. | Proximity micro-electro-mechanical system |
US7224757B2 (en) | 2002-03-13 | 2007-05-29 | Hrl Laboratories, Llc | Method and apparatus for improving the performance of delta-sigma modulators |
US20040207893A1 (en) * | 2002-03-14 | 2004-10-21 | Miller Samuel Lee | Channel processing unit for WDM network |
US6879429B2 (en) * | 2002-05-15 | 2005-04-12 | Jds Uniphase Inc. | Drive circuit for a MEMS device |
US6794101B2 (en) * | 2002-05-31 | 2004-09-21 | Motorola, Inc. | Micro-electro-mechanical device and method of making |
US7064637B2 (en) * | 2002-07-18 | 2006-06-20 | Wispry, Inc. | Recessed electrode for electrostatically actuated structures |
JP2004055410A (ja) * | 2002-07-22 | 2004-02-19 | Advantest Corp | バイモルフスイッチ、バイモルフスイッチ製造方法、電子回路、及び電子回路製造方法 |
US6975783B2 (en) * | 2003-02-19 | 2005-12-13 | Northrop Grumman Corporation | Switch control with light beams |
US6842055B1 (en) * | 2003-08-13 | 2005-01-11 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Clock adjustment |
US20050062565A1 (en) * | 2003-09-18 | 2005-03-24 | Chia-Shing Chou | Method of using a metal platform for making a highly reliable and reproducible metal contact micro-relay MEMS switch |
GB0330010D0 (en) | 2003-12-24 | 2004-01-28 | Cavendish Kinetics Ltd | Method for containing a device and a corresponding device |
US6962832B2 (en) * | 2004-02-02 | 2005-11-08 | Wireless Mems, Inc. | Fabrication method for making a planar cantilever, low surface leakage, reproducible and reliable metal dimple contact micro-relay MEMS switch |
US7447273B2 (en) * | 2004-02-18 | 2008-11-04 | International Business Machines Corporation | Redundancy structure and method for high-speed serial link |
US7352266B2 (en) * | 2004-02-20 | 2008-04-01 | Wireless Mems, Inc. | Head electrode region for a reliable metal-to-metal contact micro-relay MEMS switch |
FR2868591B1 (fr) * | 2004-04-06 | 2006-06-09 | Commissariat Energie Atomique | Microcommutateur a faible tension d'actionnement et faible consommation |
US6985109B2 (en) * | 2004-04-23 | 2006-01-10 | Honeywell International, Inc. | Reconfigurable aperture with an optical backplane |
US7042308B2 (en) * | 2004-06-29 | 2006-05-09 | Intel Corporation | Mechanism to prevent self-actuation in a microelectromechanical switch |
US20080004700A1 (en) * | 2004-09-22 | 2008-01-03 | Laxminarayana Saggere | Light Powdered Microactuator, Microfluidic Dispenser and Retinal Prosthesis |
US7446927B2 (en) | 2004-09-27 | 2008-11-04 | Idc, Llc | MEMS switch with set and latch electrodes |
US7310179B2 (en) * | 2004-09-27 | 2007-12-18 | Idc, Llc | Method and device for selective adjustment of hysteresis window |
US7724993B2 (en) | 2004-09-27 | 2010-05-25 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | MEMS switches with deforming membranes |
US7230513B2 (en) * | 2004-11-20 | 2007-06-12 | Wireless Mems, Inc. | Planarized structure for a reliable metal-to-metal contact micro-relay MEMS switch |
US20060122309A1 (en) * | 2004-12-02 | 2006-06-08 | Grah Michael D | Intercalated layered silicate |
GB0523715D0 (en) * | 2005-11-22 | 2005-12-28 | Cavendish Kinetics Ltd | Method of minimising contact area |
US7907033B2 (en) * | 2006-03-08 | 2011-03-15 | Wispry, Inc. | Tunable impedance matching networks and tunable diplexer matching systems |
US7724417B2 (en) * | 2006-12-19 | 2010-05-25 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | MEMS switches with deforming membranes |
US8022896B2 (en) * | 2007-08-08 | 2011-09-20 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | ESD protection for MEMS display panels |
WO2009067222A1 (en) * | 2007-11-19 | 2009-05-28 | Xcom Wireless, Inc. | Microfabricated cantilever slider with asymmetric spring constant |
US7989262B2 (en) | 2008-02-22 | 2011-08-02 | Cavendish Kinetics, Ltd. | Method of sealing a cavity |
US7993950B2 (en) | 2008-04-30 | 2011-08-09 | Cavendish Kinetics, Ltd. | System and method of encapsulation |
US20100013033A1 (en) * | 2008-07-18 | 2010-01-21 | Chia-Shing Chou | Enablement of IC devices during assembly |
US8242865B1 (en) * | 2009-01-13 | 2012-08-14 | Hrl Laboratories, Llc | Planar RF electromechanical switch |
US8779886B2 (en) * | 2009-11-30 | 2014-07-15 | General Electric Company | Switch structures |
US8569861B2 (en) | 2010-12-22 | 2013-10-29 | Analog Devices, Inc. | Vertically integrated systems |
WO2015171115A1 (en) | 2014-05-05 | 2015-11-12 | Empire Technology Development Llc | Optically-controlled micromirror device |
US9496230B1 (en) | 2015-04-30 | 2016-11-15 | International Business Machines Corporation | Light sensitive switch for semiconductor package tamper detection |
EP3625554A1 (en) | 2017-05-15 | 2020-03-25 | Analog Devices Global Unlimited Company | Integrated ion sensing apparatus and methods |
US10730743B2 (en) | 2017-11-06 | 2020-08-04 | Analog Devices Global Unlimited Company | Gas sensor packages |
US11587839B2 (en) | 2019-06-27 | 2023-02-21 | Analog Devices, Inc. | Device with chemical reaction chamber |
US11340399B2 (en) | 2020-07-02 | 2022-05-24 | Robert Bosch Gmbh | In-plane MEMS optical switch |
US11360270B2 (en) | 2020-07-02 | 2022-06-14 | Robert Bosch Gmbh | MEMS optical switch with stop control |
US11300852B2 (en) | 2020-07-02 | 2022-04-12 | Robert Bosch Gmbh | MEMS optical switch with a cantilever coupler |
US11307483B2 (en) | 2020-07-02 | 2022-04-19 | Robert Bosch Gmbh | MEMS optical switch with dual cantilever couplers |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3955059A (en) * | 1974-08-30 | 1976-05-04 | Graf Ronald E | Electrostatic switch |
US4922253A (en) | 1989-01-03 | 1990-05-01 | Westinghouse Electric Corp. | High attenuation broadband high speed RF shutter and method of making same |
US5121089A (en) | 1990-11-01 | 1992-06-09 | Hughes Aircraft Company | Micro-machined switch and method of fabrication |
US5541614A (en) | 1995-04-04 | 1996-07-30 | Hughes Aircraft Company | Smart antenna system using microelectromechanically tunable dipole antennas and photonic bandgap materials |
JPH10227986A (ja) * | 1997-02-17 | 1998-08-25 | Hitachi Ltd | 光スイッチとその製造方法及び光スイッチを用いた光通信機器 |
US6075239A (en) * | 1997-09-10 | 2000-06-13 | Lucent Technologies, Inc. | Article comprising a light-actuated micromechanical photonic switch |
US6310339B1 (en) | 1999-10-28 | 2001-10-30 | Hrl Laboratories, Llc | Optically controlled MEM switches |
-
1999
- 1999-10-28 US US09/429,234 patent/US6310339B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-08-23 WO PCT/US2000/023196 patent/WO2001031664A1/en not_active Application Discontinuation
- 2000-08-23 EP EP00957743A patent/EP1226595A1/en not_active Withdrawn
- 2000-08-23 AU AU69317/00A patent/AU6931700A/en not_active Abandoned
- 2000-08-23 JP JP2001534167A patent/JP2003513411A/ja active Pending
-
2001
- 2001-02-20 TW TW090103782A patent/TW569259B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-10-15 US US09/978,314 patent/US6639205B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-05-15 US US10/439,624 patent/US6803559B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009514142A (ja) * | 2003-07-08 | 2009-04-02 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | マイクロ電気機械スイッチ(マイクロ電気機械スイッチのための貴金属コンタクト) |
JP2005279831A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-10-13 | Sony Corp | Mems素子、光学mems素子、回折型光学mems素子、並びにレーザディスプレイ |
JP4581453B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2010-11-17 | ソニー株式会社 | Mems素子、光学mems素子、回折型光学mems素子、並びにレーザディスプレイ |
US7825755B2 (en) | 2004-10-29 | 2010-11-02 | The Foundation For The Promotion Of Industrial Science | Electrostatic micro actuator, electrostatic microactuator apparatus and driving method of electrostatic micro actuator |
JP2012086315A (ja) * | 2010-10-20 | 2012-05-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 微細可動構造体の製造方法および微細可動構造体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW569259B (en) | 2004-01-01 |
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WO2001031664A1 (en) | 2001-05-03 |
US20020023999A1 (en) | 2002-02-28 |
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