JP2003507745A - 電気コネクタの試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 試験装置（３０）は、コネクタ・ブロック（３２）、ピン・ブロック（３４）、摺動ブロック（３６）、摺動ゲート（３８）、キー・プレート（４０）、挿入アセンブリ（４２）、ラッチ・アセンブリ（４４）、解除アセンブリ（４６）およびカバー・プレート（４８、５０）を含む。試験装置（３０）は、摺動ゲート（３８）により保持された電気コネクタ（１３０）を受け入れる。着脱可能なキー・プレート（４０）は、試験装置（３０）に対して方向性を提供する。試験装置（３０）は、スィッチ（１８４、１８６、２９４）により遠隔ロジック・アナライザに対し電気信号を送信し得る。挿入アセンブリ（４２）は摺動ブロック（３６）およびピン・ブロック（３４）を、ワイヤ・アセンブリ診断位置へと移動する。ラッチ・アセンブリ（４４）は試験装置（３０）を前記ワイヤ診断モードにラッチする。試験装置（３０）は、完全固定されて適切に配置された各ワイヤ・アセンブリおよび閉鎖された各補助ロックに関して電気コネクタ（１３０）を検査する。解除アセンブリ（４６）はコネクタ取り外しの支援を行い、試験装置（３０）は別の電気コネクタ（１３０）の受け入れを再現する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】 発明の分野 本発明は試験装置に関し、より詳細には電気コネクタを試験すべく使用され得
る試験装置に関する。本発明は特に、ワイヤリング・ハーネスで使用されるに適
している。

【０００２】 発明の背景 電気コネクタは、種々のデバイスに対してワイヤを接続すべく外部環境で使用
される。外部環境としては、過度の湿気および温度などの天候に露出され得る乗
用車、トラック、農業機器、建設機器および他の車両が挙げられる。これに加え
て斯かる電気コネクタは、エンジンもしくは車両の移動に依る振動に晒される。
故に電気コネクタは、これらの動作条件に耐えねばならない。

【０００３】 これに加え、電気コネクタは個々のワイヤに対して取付けられる必要がある。
特に、個々のワイヤは電気接点に取付けられる。取付けられたワイヤを備えた電
気接点は次に、電気コネクタに対するハウジング内に組立てられる。この工程は
作業者により実施されることから、比較的にコスト高となる。

【０００４】 故に、斯かる車両において利用される電気コネクタは、各コネクタの機械的お
よび電気的な特徴を試験する効率的で信頼性の高い手段を必要とする。たとえば
、電気コネクタの形式および方向性すなわち配向が照合されねばならない。また
、電気コネクタを取付けるべく使用されるボルトの存在も確認されねばならない
。同様に、補助ロック（ｓｅｃｏｎｄａｒｙ ｌｏｃｋ）の存在および位置も確
認されねばならない。更に、ワイヤの接続および配置構成が照合されねばならな
い。

【０００５】 発明の要約 本発明の教示に依れば試験装置は、コネクタ・ブロック、ピン・ブロック、摺
動ブロック、摺動ゲート、キー・プレート、挿入アセンブリ、ラッチ・アセンブ
リ、解除アセンブリ、および、複数のカバー・プレートを含み得る。

【０００６】 前記試験装置は、試験のために電気コネクタを受け入れる。前記コネクタが前
記コネクタ・ブロック内に設置されたなら、前記摺動ゲートは前記電気コネクタ
を固定する。前記摺動ゲートは、前記コネクタ・ブロックの面と連携されると共
に、常閉とされる。前記摺動ゲートは、各面取りキー溝を含み得る。前記電気コ
ネクタは、各突起を含み得る。

【０００７】 前記各突起は、前記常閉の摺動ゲートと接触結合し、該摺動ゲートを開放する
。詳細には、前記各突起は前記摺動ゲート上の各面取りキー溝と係合する。前記
摺動ゲート内に前記電気コネクタを更に挿入すると、前記摺動ゲートは開放する
まで並進される。前記電気コネクタが設置されたなら、前記摺動ゲートはその閉
鎖位置へと戻されると共に各保持力の平衡を提供し、先行技術に伴う側部負荷を
排除する。

【０００８】 前記キー・プレートによれば、異なる型式の各電気コネクタに対して同一の試
験装置が利用され得る。前記キー・プレートは前記コネクタ・ブロック内に設置
されると共に、各キー溝を含む。前記各キー溝の個数および間隔は、特定型式の
電気コネクタ上の各リブに対応する。設置されたキー・プレートを別のキー・プ
レートと変更することにより、前記試験装置は異なる型式の電気コネクタを受け
入れ得る。

【０００９】 先行技術の試験装置は固定された各キー溝を保有することから、ハーネス・シ
ョップ（ｈａｒｎｅｓｓ ｓｈｏｐ）は電気コネクタの方向性の各々に対して個
々の試験装置を保存する必要がある。試験されつつある電気コネクタの型式を先
行技術の試験装置を使用して変更するためには、ひとつの試験装置がアナライザ
から取り外されねばならない。次に、前記アナライザに対して第二の試験装置が
接続されねばならない。本発明の試験装置に依れば、各電気コネクタを試験する
ハーネス・ショップは、交換可能で安価な各キー・プレートを備えた１台の試験
装置を購入するという利点が提供される。前記キー・プレートは、先行技術と比
較して時間および設備コストの節約を提供する。

【００１０】 前記解除アセンブリは、前記コネクタ・ブロック内に配置された各接触解除ピ
ンおよび各圧縮スプリングを含む。各ピンには圧縮スプリングが連携される。前
記電気コネクタが前記コネクタ・ブロック内に設置されたとき、該電気コネクタ
は前記各ピンに係合して前記各スプリングを圧縮する。これにより前記電気コネ
クタは、前記各スプリングのスプリング力により前記摺動ゲートに対して保持さ
れる。

【００１１】 前記電気コネクタは、ボルトおよび各補助ロックを含み得る。前記各補助ロッ
クは、装填用の事前開放位置もしくは閉鎖位置に置かれ得る。但し、前記電気コ
ネクタ内における各ワイヤ・アセンブリの設置を許容すべく、前記各補助ロック
は開放位置に在る。前記コネクタが前記コネクタ・ブロック内に設置されたとき
に前記試験装置は、前記ボルトおよび前記各補助ロックが存在して適切な位置に
在ることを確認し得る。

【００１２】 前記ピン・ブロックは、テスト面、裏面、および、スプリング負荷ピン・スィ
ッチの配列を含む。各スィッチは一対の端部を有する。該各端部は前記ピン・ブ
ロックの前記各面から突出する。前記テスト面から突出する前記各端部は、前記
ボルトおよび前記各補助ロックに係合する。前記試験装置は診断機能を提供する
と共に、遠隔ロジック・アナライザに対して電気信号が受け渡されるのを許容す
る。前記裏面から突出する前記各端部は前記アナライザに電気的に結線され、前
記ボルトおよび前記各補助ロックの存在および正しい位置を信号通知し得る。

【００１３】 前記試験装置は、設置された電気コネクタのバックプレートに対するアクセス
を許容する。前記バックプレートは、各ワイヤ・アセンブリが貫通して装填され
得る各開孔を含む。前記電気コネクタは、各対応開孔に対する固定タブを含む。
該固定タブは、各開孔と連携された開口内に配置される。前記ワイヤ・アセンブ
リは該ワイヤ・アセンブリの接点と前記固定タブが係合する如く前記電気コネク
タ内に挿入されることで、前記電気コネクタからの該ワイヤ・アセンブリの取り
外しを防止し得る。

【００１４】 前記挿入アセンブリは、ハンドル、一対のサイド・バー、一対のサイド・リン
ク、各位置合せピン、および、各スプリング部材を含む。前記サイド・バーは両
者ともに、前記各位置合せピンにより前記コネクタ・ブロックにピン止めされた
端部を有する。前記ハンドルは、両サイド・バーの他端にて前記各サイド・バー
に取付けられると共に、該各サイド・バーの間に配置される。前記各サイド・バ
ーおよび前記ハンドルは、前記コネクタ・ブロックに対してピン止めされた該各
サイド・バーの各端部の回りで回転し得る。

【００１５】 両サイド・リンクは、一対の端部を含む。一方のサイド・リンクは一方のサイ
ド・バーに取付けられる。前記サイド・リンクの一端は、該サイド・リンクが当
該試験装置の長手軸心に平行である如く、前記サイド・バーに取付けられる。前
記サイド・リンクの他端は、前記摺動ブロックに取付けられる。該摺動ブロック
は、前記ピン・ブロックに取付けられる。

【００１６】 前記ハンドルを前記コネクタ・ブロックの前記面に向けて移動すると、前記摺
動ブロックおよび前記ピン・ブロックは前記コネクタ・ブロックに向けて移動さ
れると共に、前記各スプリング部材は圧縮される。

【００１７】 前記ハンドルを前記コネクタ・ブロックに向けて十分な距離だけ移動すること
により、前記試験装置はワイヤ・アセンブリ診断モードに置かれ得る。前記試験
装置は、完全固定された各ワイヤ・アセンブリ、適切なワイヤ・アセンブリ位置
および閉鎖された各補助ロックに関して前記電気コネクタを検査する。

【００１８】 前記ピン・ブロックは、特定寸法および特定配置にて該ピン・ブロックの前記
各面から突出する各スプリング負荷ピン・スィッチを保持する。各スィッチは、
対応するワイヤ・アセンブリと整列する。前記ハンドルが前記コネクタ・ブロッ
クの前記面に向けて十分な距離だけ移動されたなら、前記各スィッチは前記ワイ
ヤ・アセンブリの個々の接点と物理的に接触する。

【００１９】 前記ピン・ブロックは、該ピン・ブロックが前記各ワイヤ・アセンブリを試験
するのと同時に前記各補助ロックを閉鎖する。前記ピン・ブロックは前記電気コ
ネクタの前記各補助ロックに作用し、該各補助ロックを閉鎖するには十分だが前
記各ワイヤ・アセンブリを損傷はしないという圧縮力を行使する。先行技術は、
移動するもしくはスプリング負荷されたブロックを有さず、シーケンス化された
移動特徴も取入れていない。

【００２０】 前記解除アセンブリを起動すると、前記電気コネクタは前記コネクタ・ブロッ
クから取り外され得る。前記解除アセンブリは、トグル、レバーおよび圧縮スプ
リングも含む。前記トグルおよびレバーは、前記常閉の摺動ゲートに取付けられ
る。前記圧縮スプリングは前記レバーに作用し、前記トグル、レバーおよび摺動
ゲートを付勢する。前記圧縮スプリングは、前記摺動ゲートの前記常閉位置を提
供する。前記スプリングを圧縮する方向に前記トグルを移動すると、前記摺動ゲ
ートが開放される。

【００２１】 前記各接触解除ピンは、電気コネクタの取り外しを支援する。前記摺動ゲート
が開放すると、前記各ピンと連携する前記各圧縮スプリングは前記電気コネクタ
にスプリング力を及ぼし、前記電気コネクタを前記コネクタ・ブロックから押し
出す。

【００２２】 前記試験装置は開始位置に戻り移動すると共に、コネクタ取り外し操作と同時
に別の電気コネクタを受け入れる準備ができている。前記トグルが解除されたと
き、前記レバーと連携する前記スプリングは該レバー、前記摺動ゲートおよび該
トグルを付勢すべく作用する。故に前記摺動ゲートは、その常閉位置へと復帰せ
しめられる。

【００２３】 前記試験装置は、もし適切な電気コネクタ試験シーケンスが辿られなければ試
験操作者に対し前記アナライザが電気的に信号通知する如く、該アナライザとイ
ンタフェースし得る。たとえば電気コネクタが前記コネクタ・ブロック内に挿入
され乍らも前記ワイヤ診断モードが実行されなければ、前記アナライザは作動停
止すべくプログラムされ得る。

【００２４】 実施例の説明 本発明のこれらのおよび他の目的、特徴および利点は、添付図面を参照して以
下の代表的実施例の詳細な説明を読破すれば更に容易に明らかとなろう。 図１には、本発明の教示に従い構築された試験装置３０が示される。図１およ
び図２に示された如く試験装置３０は、コネクタ・ブロック３２、ピン・ブロッ
ク３４、摺動ブロック３６、摺動ゲート３８、キー・プレート４０、挿入アセン
ブリ４２、ラッチ・アセンブリ４４、解除アセンブリ４６および複数のカバー・
プレート４８、５０、５２、５４を含み得る。

【００２５】 コネクタ・ブロック３２は、矩形で中空の導管である。コネクタ・ブロック３
２はたとえば、アセタール、ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材
料から作成され得るが、デラウェア州、ウィルミントンのＤｕＰｏｎｔエンジニ
アリング・ポリマ社製のＤｅｌｒｉｎ（登録商標）はアセタールの特定例である
。コネクタ・ブロック３２は、コネクタ面６０、キー・プレート面６２、各側部
６４、頂部６６およびピン表面６８を含む。面６０は複数のキー溝７０を含む。
各側部６４は相互に同様であると共に、各溝７８を含む。図８を参照すると、各
溝７８は各側部６４の間に延在して摺動ゲート３８を保持する。以下に記述され
る如く、各キー溝７０は面６０から各溝７８を越えて所定量だけ内方に延在する
。コネクタ・ブロック３２を貫通して各ボア７２が延在し、該ボア７２は試験装
置３０を取付けるべく使用され得る。図１２を参照すると、コネクタ・ブロック
３２はコネクタ部分８８およびピン・ブロック部分９０を含む。キー・プレート
面６２は、部分８８および９０間に配置される。図２を参照すると、キー・プレ
ート４０は複数のネジ９２により面６２に取付けられる。

【００２６】 図１１を参照すると、解除アセンブリ４６はトグル１００、レバー１０２およ
び圧縮スプリング１０４を含む。トグル１００およびレバー１０２はたとえば、
アセタール、ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材料から作成され
得るが、デラウェア州、ウィルミントンのＤｕＰｏｎｔエンジニアリング・ポリ
マ社製のＤｅｌｒｉｎ（登録商標）はアセタールの特定例である。コネクタ・ブ
ロック３２の頂部６６はチャネル１０６を含む。チャネル１０６内には、トグル
１００、レバー１０２および圧縮スプリング１０４が配置される。

【００２７】 図２および図１１を参照すると、トグル１００、ゲート３８およびレバー１０
２は複数のネジ１０８により結合される。これにより、トグル１００、ゲート３
８およびレバー１０２は相互接続されて一体的集合体として移動する。代替的に
トグル１００およびレバー１０２は、該トグル１００およびレバー１０２が結合
されるのと同様にしてネジなどによりゲート３８に取付けられ得る一体的なワン
ピース・アームとされ得る。

【００２８】 図１１を参照すると、レバー１０２はボア１１０を含む。スプリング１０４は
ボア１１０内に挿入されると共に、レバー１０２とチャネル１０６の第一の壁部
１１２との間に捕捉される。スプリング１０４のスプリング力によりレバー１０
２、ゲート３８およびトグル１００は壁部１１２から離間付勢され、レバー１０
２およびトグル１００を前記チャネルの第二の壁部１１４と接触させる。

【００２９】 図２、図６および図１２を参照すると解除アセンブリ４６は、複数の接触解除
ピン１１６および対応する複数の圧縮スプリング１１８も含んでいる。各ピン１
１６はたとえば、青銅、鋼鉄もしくはアルミニウム、または、他の任意の適切な
材料から作成され得る。ピン１１６は、各ボア１２０により受け入れられる。ボ
ア１２０はキー・プレート４０を貫通し、キー・プレート面６２からコネクタ・
ブロック３２を貫通してピン表面６８に出る。ピン・ブロック３４内の各ボア１
２２は、各ボア１２０と整列される。スプリング１１８が先ずボア１２２内に装
填されると共に、ピン１１６がそれに続く。ピン１１６の回りには保持リング１
２４が挿入され、コネクタ・ブロック３２とピン・ブロック３４との間に配置さ
れる。保持リング１２４によりピン１１６は、面６０に向けてボア１２０、１２
２から引抜かれるのが防止される。リング１２４は、ピン１１６がスプリング１
１８と接触すると共にボア１２０を貫通延在しキー・プレート４０から面６０に
向けて突出する如く、ピン１１６上に位置決めされる。

【００３０】 図３を参照すると試験装置３０は、Ｐａｃｉｎｉ等に対する米国特許第５，８
７１，３７３号に記述されたコネクタなどの電気コネクタ１３０を受け入れ得る
。電気コネクタ１３０はコネクタ・ブロック３２内に設置される。摺動ゲート３
８は電気コネクタ１３０を保持する。常閉でスプリング負荷された摺動ゲート３
８は、好適にはアルミニウムから作成された矩形フレームである。摺動ゲート３
８は、複数の面取りキー溝１３２を含む。

【００３１】 図３に示された如く、摺動ゲート３８は常閉位置に在ると共に４個の面取りキ
ー溝１３２を含んでいる。各面取りキー溝１３２には、コネクタ・ブロック３２
の対応キー溝７０が連携される。摺動ゲート３８の常閉位置を達成すべく、面取
りキー溝１３２は対応キー溝７０から僅かにオフセットされる。

【００３２】 電気コネクタ１３０をコネクタ・ブロック３２内に装填すべく、該電気コネク
タ１３０は摺動ゲート３８内に挿入される。図５および図１１を参照すると電気
コネクタ１３０は、絶縁体ハウジング１４０と、該ハウジング１４０から突出す
る複数の突起１４２を含む。図３を参照すると電気コネクタ１３０は、各突起１
４２が各面取りキー溝１３２と接触結合するまでコネクタ・ブロック３２内に挿
入され得る。

【００３３】 各突起１４２は各面取りキー溝１３２と物理接触すると共にキー溝１３２に対
して当接掛止する。各面取りキー溝１３２は、電気コネクタ１３０に対して長手
方向に付与された設置力を、ゲート３８に横方向に付与される摺動力に変換する
。これによりゲート３８は図２に示された如く開放方向１４４に並進する。故に
トグル１００およびレバー１０２も並進してスプリング１０４を圧縮する。

【００３４】 電気コネクタ１３０を更に挿入すると、各面取りキー溝１３２が各キー溝７０
と整列されるまでゲート３８は並進し続ける。電気コネクタ１３０は、ゲート３
８を貫通し得る。各突起１４２が摺動ゲート３８を貫通したなら、各突起１４２
は各キー溝１３２に対する当接掛止を終了する。スプリング１０４はレバー１０
２に対して力を及ぼす。これによりスプリング１０４のスプリング力は、戻り方
向１４６において摺動ゲート３８をその常閉位置へと復帰させる。

【００３５】 図５、図６および図１４を参照すると、電気コネクタ１３０の絶縁体ハウジン
グ１４０は各突起１４６を含む。コネクタ・ブロック３２内への電気コネクタ１
３０の挿入の間、各突起１４６は各ピン１１６に係合すると共に該各ピン１１６
をピン・ブロック３４に向けて移動することで各スプリング１１８を圧縮する。
各ピン１１６は設置された電気コネクタ１３０を押圧し、力はコネクタ・ブロッ
ク３２の面６０に付与される。閉鎖されたゲート３８は、電気コネクタ１３０を
保持する。各面取りキー溝１３２は、各キー溝１３２が面６０に向けて開口する
如く面取りされる。電気コネクタ１３０がコネクタ・ブロック３２内に設置され
たなら、図３に示された如く各突起１４２は干渉的にゲート３８と係合する。こ
れにより各ピン１１６は圧縮位置に留まる一方、電気コネクタ１３０はコネクタ
・ブロック３２内に設置され且つゲート３８は閉鎖される。

【００３６】 図１２を参照すると、コネクタ部分８８は頂部表面１５０、底部表面１５２お
よび各側部表面１５４を含んでいる。図１３を参照すると、設置された電気コネ
クタ１３０の絶縁体ハウジング１４０は、表面１５０、１５２、１５４、キー・
プレート４０およびゲート３８に対して密接に連携される。これにより電気コネ
クタ１３０はコネクタ・ブロック３２内の所定位置に保持されると共に実質的に
固定配向で保持される。

【００３７】 図１４を参照すると、電気コネクタ１３０がコネクタ・ブロック３２内に設置
されたとき、面６０からはバックプレート１５６が僅かに突出する。バックプレ
ート１５６は、絶縁体ハウジング１４０に取付けられる。図３を参照すると、コ
ネクタ・ブロック３２内に設置された電気コネクタ１３０のバックプレート１５
６は、ゲート３８を介してアクセス可能である。バックプレート１５６は、電気
コネクタ１３０内への設置のために各終端ワイヤを受け入れる。

【００３８】 図１４を参照すると、ゲート３８は設置された電気コネクタ１３０に対して各
突起１４２にて接触結合する。ゲート３８と各突起１４２との間の前記接触結合
により、均一な保持力が提供される。各突起１４２は各箇所１５８にて干渉的に
ゲート３８に係合する。ゲート３８は、各箇所１５８にて電気コネクタ１３０に
対し保持力を付与する。各箇所１５８は、該各箇所１５８が少なくとも２つの異
なる軸心に沿って配置される如く配置構成される。故に各箇所１５８は、電気コ
ネクタ１３０に対し少なくとも２つの軸心に沿って保持力を及ぼす。

【００３９】 各箇所１５８にてゲート３８により電気コネクタ１３０に対して及ぼされる保
持力により、電気コネクタ１３０は安定化されると共にバックプレート１５６を
貫通したワイヤ設置は容易化される。先行技術の試験装置は、電気コネクタの一
側すなわちひとつの軸心に沿ってのみ保持力を付与していた。故に先行技術の試
験装置では電気コネクタが不適切に整列されて、電気コネクタ内へのワイヤ・ア
センブリの挿入を阻害し且つ電気コネクタの配向に依存する試験結果および組立
て処理に影響する可能性があった。

【００４０】 図２および図４を参照すると、試験装置３０は異なる型式の電気コネクタを試
験すべく使用され得る。キー・プレート４０によれば確実に、適切な型式の電気
コネクタが選択されて試験される。キー・プレート４０は、ひとつの型式のコネ
クタのみを受け入れるべくキー設定される。キー・プレート４０はたとえば、樹
脂含浸ガラス繊維、アルミニウム、鋼鉄またはポリエステルなどの任意の適切な
材料から作成され得る。キー・プレート４０は、各ネジ９２によりコネクタ・ブ
ロック３２内に取付けられると共に、異なる型式の電気コネクタを受け入れ得る
別のキー・プレートと交換され得る。キー・プレートは、試験されるべき各型式
のコネクタに対して作成され得る。目印１５８により、ひとつのキー・プレート
は別のキー・プレートから区別され得る。

【００４１】 図４を参照すると、キー・プレート４０は複数のキー溝１６０、１６２、１６
４、１６６を含む。図５を参照すると、電気コネクタ１３０の絶縁体ハウジング
１４０は複数のリブ１７０、１７２、１７４、１７６を含む。リブ１７０、１７
２、１７４、１７６の個数および間隔は、前記コネクタに対して方向性を与え得
ると共に、特定のワイヤ配置構成を有するコネクタを識別すべく使用され得る。

【００４２】 図２、図４および図５を参照すると、キー溝１６０、１６２、１６４、１６６
は夫々、方向性化リブ１７０、１７２、１７４、１７６と対応する。キー・プレ
ート４０上のキー溝１６０、１６２、１６４、１６６はリブ１７０、１７２、１
７４、１７６と夫々整合すると共に、電気コネクタ１３０がひとつの配向におい
てのみ挿入されるのを許容することで、試験装置３０に対する合致係合方向性を
提供する。

【００４３】 図１１、図１２、図１３および図１４を参照すると試験装置３０は、電気コネ
クタ１３０がボルト１８０および各補助ロック１８２を含むことを確認すべく使
用され得る。図７を参照するとピン・ブロック３４は、ボルト検出スィッチ１８
４、一対の補助ロック検出スィッチ１８６、テスト面１８８、ならびに、裏面１
９０およびボア１９２を含む。前記ピン・ブロックは、たとえば、アセタール、
ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材料から作成され得るが、デラ
ウェア州、ウィルミントンのＤｕＰｏｎｔエンジニアリング・ポリマ社製のＤｅ
ｌｒｉｎ（登録商標）はアセタールの特定例である。スィッチ１８４は、一対の
端部１９４、１９６を含む。スィッチ１８６は、一対の端部１９８、２００を含
む。

【００４４】 スィッチ１８４、１８６はたとえば、ピン・ブロック３４との摩擦嵌めにより
ピン・ブロック３４に取付けられる。スィッチ１８４はボア１９２と整列される
と共に、端部１９４、１９６が夫々ボア１９２内に突出して裏面１９０から離間
する如く位置せしめられる。各スィッチ１８６は、端部１９８、２００が面１８
８、１９０から夫々離間突出する如く位置せしめられる。

【００４５】 診断機能を実施すべく、試験装置３０のスィッチ１８４、１８６は遠隔ロジッ
ク・アナライザに電気的に結線される。端部１９６、２００は、前記アナライザ
に接続された各ワイヤに対して半田付けなどで接続され得る。故に試験動作は、
前記アナライザを介して電気的に行われる。スィッチ１８４、１８６は、スプリ
ング負荷されたピン・スィッチである。端部１９４、１９８はスプリング負荷さ
れると共に、端部１９４、１９８が端部１９６、２００に夫々接近移動する如く
長手方向に圧縮され得る。端部１９４、１９８が所定量だけ圧縮されたなら、ス
ィッチ１８４、１８６に亙る電気的連続性が確立される。

【００４６】 図１３および図１４を参照すると、試験装置３０は電気コネクタ１３０を検査
することで、ボルト１８０が存在してコネクタ１３０に機械的に固定されている
ことを確認し得る。電気コネクタ１３０がコネクタ・ブロック３２内に挿入され
たとき、ボルト１８０はスィッチ１８４と接触する。図１４に示された如くスィ
ッチ１８４は、点線１８５により示された開放位置から実線により示された閉鎖
位置へと移動する。スィッチ１８４のスプリング力は、ボルト１８０に対して特
定の抵抗を与えるサイズとされる。もしボルト１８０が正しく位置されて前記ス
プリング力を克服すべく機械的に固定されたなら、スィッチ１８４は閉鎖され、
ボルト１８０が存在して固定されたことを前記アナライザに信号通知する。

【００４７】 米国特許第５，８７１，３７３号に記述された如く、各補助ロック１８２は絶
縁体ハウジング１４０に取付けられる。各補助ロック１８２は、各終端ワイヤを
電気コネクタ１３０に機械的に固定するのを助力する。各補助ロック１８２は絶
縁体ハウジング１４０に対し、ワイヤ装填用の事前開放位置で取付けられ得る。
前記開放位置において各補助ロック１８２はハウジング１４０により保持される
が、ハウジング１４０内には部分的にのみ挿入される。各補助ロック１８２が前
記開放位置に在るとき、各ワイヤは電気コネクタ１３０内に挿入され得る。各補
助ロック１８２が前記閉鎖位置に在るとき、各ワイヤは電気コネクタ１３０内に
挿入され得ない。試験装置３０によれば、電気コネクタ１３０の各補助ロック１
８２が存在すると共に該補助ロック１８２がワイヤ装填用の事前開放位置に在る
ことが確実とされ得る。

【００４８】 電気コネクタ１３０がコネクタ・ブロック３２内に挿入されたとき、各補助ロ
ック１８２は各スィッチ１８６と接触する。図１４に示された如くスィッチ１８
６は、点線１８７により示された開放位置から、実線により示された閉鎖位置へ
と移動する。各スィッチ１８６のスプリング力は、各補助ロック１８２が各端部
１８６を圧縮し得るが各補助ロック１８２は各スィッチ１８６により前記閉鎖位
置へと付勢されはしない様に、各補助ロック１８２に対して特定の抵抗を与える
サイズとされる。もし各補助ロック１８２が前記開放位置に正しく位置されたな
ら、各スィッチ１８６が閉鎖して、補助ロック１８２が存在して前記開放位置に
在ることを前記アナライザに信号通知する。

【００４９】 前記アナライザは、ボルト１８０および各補助ロック１８２の特性が試験され
るまで電気コネクタ１３０に関する更なる試験が行われ得る如くプログラムされ
得る。換言すると前記アナライザは、スィッチ１８４、１８６が起動されるまで
は付加的試験を実施しない様にプログラムされ得る。

【００５０】 図１５を参照すると、ボルト検出スィッチ１８４および各補助ロック検出スィ
ッチ１８６の両者が起動されたなら、試験装置３０の操作者は電気コネクタ１３
０を結線し得る。電気コネクタ１３０は、バックプレート１５６を介して終端ワ
イヤ・アセンブリ２１０、２１２、２１４を受け入れ得る。図３および図１５を
参照すると、前記バックプレートは開孔２１６の配列を含む。各開孔２１６は、
ワイヤ・アセンブリを受け入れ得る。バックプレート１５６は、目印２１８、２
２０を含み得る。電気コネクタ１３０は、所定の結線配置構成に追随すべく目印
２１８、２２０を用いて結線され得る。

【００５１】 図１５を参照すると、ワイヤ・アセンブリ２１０、２１２、２１４は各々、接
点２３０により終端されたワイヤ２２８を含むと共に、開孔２１６を介して電気
コネクタ１３０のハウジング１４０内に挿入され得る。ハウジング１４０は各開
口２３４および固定タブ２３５、２３６、２３７を含み、ひとつの開口およびひ
とつの固定タブが各開孔２１６に対するものである。開口２３４は、接点２３０
をひとつの特定配向に正しく整列すべく溝２３８を含む。固定タブ２３５、２３
６、２３７は各々、傾斜部２４０を含む。傾斜部２４０は接点２３０に係合し得
る。各接点２３０は、傾斜部２４０を受け入れ得る開口２４４を含む。

【００５２】 ピン・ブロック３４に向けて接点２３０を挿入する間、該接点２３０はワイヤ
・アセンブリ２１４により示された如く傾斜部２４０と係合する。故に接点２３
０の挿入を継続すると、ワイヤ・アセンブリ２１０により示された如く固定タブ
２３５は開口２３４から外方に撓曲される。接点２３０がピン・ブロック３４に
向けて移動を継続すると、傾斜部２４０はワイヤ・アセンブリ２１２により示さ
れた如く接点２３０内の開口２４４に係合する。接点２３０がピン・ブロック３
４に向けて移動するのは、停止部２４６により防止される。これにより接点２３
０の開口２４４および固定タブ２３６の傾斜部２４０は、接点２３０が電気コネ
クタ１３０から引き抜かれるのを防止する。

【００５３】 図１５乃至図２１を参照すると、電気コネクタ１３０が結線されたなら、試験
装置３０は診断モードとされ得る。前記診断モードにおいて試験装置３０は電気
コネクタ３０を検査することにより、前記開孔の配列における適切な位置に完全
固定接点が配置された各ワイヤ・アセンブリを電気コネクタ３０が有すること、
および、コネクタ１３０は前記閉鎖位置に在る各補助ロック１８２を有すること
を確認し得る。

【００５４】 図１、図３および図６を参照すると挿入アセンブリ４２は、ハンドル２５０、
一対のサイド・バー２５２、一対のサイド・リンク２５４およびスプリング部材
２５８、２６０を含む。両サイド・バー２５２は一対の端部２６４、２６６を含
む。各サイド・バー２５２は、たとえば鋼鉄、または、他の任意の適切な金属も
しくは適切なプラスチックから作成され得る。各サイド・バー２５２はコネクタ
・ブロック３２の各端部２６４に対し、各位置合せピン２６８により取付けられ
る。ハンドル２５０は、各端部２６６にて各サイド・バー２５２に取付けられる
。ハンドル２５０は、各サイド・バー２５２間に配置される。ハンドル２５０は
、たとえばアルミニウム、または他の任意の適切な金属または適切なプラスチッ
クにより作成され得る。各サイド・バー２５２およびハンドル２５０は各端部２
６４の回りで回転し得る。

【００５５】 図１および図１１を参照すると、各サイド・バー２５２はコネクタ・ブロック
３２上の各テーパ溝２７０内に配置される。溝２７０は、壁部２７２、２７４を
含む。該壁部２７２、２７４は、該壁部２７２、２７４の高さが各サイド・バー
２５２の厚みと実質的に等しくなる如きサイズとされる。各サイド・バー２５２
およびハンドル２５０は、壁部２７２、２７４により描かれる円弧内において各
端部２６４の回りで回転し得る。

【００５６】 図１を参照すると、両サイド・リンク２５４は一対の端部２７８、２８０を含
む。各サイド・リンク２５４はたとえば鋼鉄または他の任意の適切な金属または
適切なプラスチックにより作成され得る。サイド・リンク２５２に対してサイド
・バー２５２が回転し得ると共にサイド・リンク２５４は試験装置３０の長手軸
心に実質的に平行な軸心に沿って並進し得る如く、一方のサイド・リンク２５４
は位置合せピン２８２により端部２７８にてサイド・バー２５２に取付けられる
。サイド・リンク２５４の端部２８０は、摺動ブロック３６に取付けられる。

【００５７】 図６および図１３を参照すると、摺動ブロック３６とピン・ブロック３４は相
関されるがピン・ブロック３４は摺動ブロック３６から独立して移動し得る如く
、摺動ブロック３６はピン・ブロック３４と連携される。摺動ブロック３６は、
たとえば、アセタール、ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材料か
ら作成され得るが、デラウェア州、ウィルミントンのＤｕＰｏｎｔエンジニアリ
ング・ポリマ社製のＤｅｌｒｉｎ（登録商標）はアセタールの特定例である。

【００５８】 ボルト２８４、２８６は、摺動ブロック３６、ピン・ブロック３４およびコネ
クタ・ブロック３２を相関させる。ボルト２８４は、摺動ブロック３６、スプリ
ング部材２６０およびピン・ブロック３４およびスプリング部材２５８を貫通す
ると共に、コネクタ・ブロック３２に取付けられる。ボルト２８６はピン・ブロ
ック３４およびスプリング部材２６０を貫通すると共に、摺動ブロック３６に取
付けられる。ボルト２８４、２８６は夫々、ヘッド２８８、２９０を含む。

【００５９】 図９および図１３を参照するとボルト２８４は、コネクタ・ブロック３２に対
して該ボルト２８４が取付けられたときにスプリング部材２５８、２６０が部分
的に圧縮される如きサイズとされる。図１０を参照すると、ヘッド２８８はボア
２８９内に挿入されると共に、干渉的に該ボア２８９に係合する。図９および図
１３を参照するとヘッド２８８は、摺動ブロック３６を保持すると共に、スプリ
ング部材２５８、２６０が緩和位置に復帰するのを防止する。これにより摺動ブ
ロック３６は各ボルト２８４によりコネクタ・ブロック３２から所定距離に保持
される。摺動ブロック３６はスプリング部材２５８、２６０を圧縮することでコ
ネクタ・ブロック３２に対して更に接近して移動し得る一方、コネクタ・ブロッ
ク３２から突出するボルト２８４の長さ以上にコネクタ・ブロック３２から更に
離間して進行することはできない。

【００６０】 ボルト２８６は、該ボルト２８６が摺動ブロック３６に取付けられたときにス
プリング部材２６０が部分的に圧縮される如きサイズである。図７を参照すると
、ヘッド２９０はボア２９１内に挿入されて該ボア２９１と干渉的に係合し得る
。図６および図１３を参照するとヘッド２９０は、ピン・ブロック３４を保持す
ると共にスプリング部材２６０が緩和位置に復帰するのを防止する。これにより
ピン・ブロック３４は各ボルト２８６により摺動ブロック３６から所定距離に保
持される。ピン・ブロック３４はスプリング部材２６０を圧縮することで摺動ブ
ロック３６に対して更に接近して移動し得る一方、摺動ブロック３６から突出す
るボルト２８６の長さ以上に摺動ブロック３６から更に離間して進行することは
できない。

【００６１】 図１６および図１７を参照すると、コネクタ・ブロック３２の面６０に対して
ハンドル２５０を移動すると、各サイド・バー２５２が回転されると共に、各サ
イド・リンク２５４、摺動ブロック３６およびピン・ブロック３４はコネクタ・
ブロック３２の面６０に向けて並進されることによりスプリング部材２５８、２
６０を圧縮する。

【００６２】 コネクタ・ブロック３２の面６０に向けてハンドル２５０を十分な距離だけ移
動することにより、試験装置３０はワイヤ・アセンブリ診断モードに置かれ得る
。試験装置３０は、完全固定された各ワイヤ・アセンブリ、適切なワイヤ・アセ
ンブリ位置および閉鎖された各補助ロックに関して電気コネクタ１３０を検査す
る。

【００６３】 図１６乃至図２１を参照すると、試験装置３０はハンドル２５０を移動するこ
とでワイヤ・アセンブリ診断モードへと起動される。試験装置３０は、電気コネ
クタ１３０の各補助ロック１８２を閉鎖すべく試行する。各補助ロック１８２が
閉鎖位置に到達したなら、試験装置３０は電気コネクタ１３０内の全てのワイヤ
・アセンブリと個々に接触結合する。

【００６４】 図６および図７を参照するとピン・ブロック３４は、ワイヤ・アセンブリ用ス
ィッチ２９４の配列を含む。スィッチ２９４はスプリング負荷ピン・スィッチで
あり、一対の端部２９６、２９８を含む。各スィッチ２９４はたとえばピン・ブ
ロック３４との摩擦嵌めによりピン・ブロック３４に取付けられる。各スィッチ
２９４は対応するワイヤ・アセンブリと整列する。端部２９６、２９８は、特定
寸法および特定形状にて面１８８、１９０から突出する。ハンドル２５０がコネ
クタ・ブロック３２の面６０に向けて十分な距離だけ移動されたなら、前記各ス
ィッチは前記ワイヤ・アセンブリの個々の接点と物理的に接触する。

【００６５】 診断機能を実施すべく、試験装置３０の各スィッチ２９４は該試験装置３０を
制御する遠隔ロジック・アナライザに電気的に結線され得る。各端部２９８は前
記アナライザに結線され得る。故に前記試験動作は前記アナライザに電気的に接
続される。前記各ワイヤ・アセンブリと前記アナライザとの間には各スィッチ２
９４を介して電気連続性が確立される。各端部２９６が所定量だけ圧縮されたな
ら、各スィッチ２９４を介して電気的連続性が確立される。

【００６６】 図１７、図１８、図２０および図２１を参照するとピン・ブロック３４は、該
ピン・ブロック３４がワイヤ・アセンブリ２１０、２１２、２１４を試験すると
同時に電気コネクタ１３０の各補助ロック１８２を閉鎖する。先行技術は、移動
するもしくはスプリング負荷されたブロックを有さず、シーケンス化された移動
特徴を取入れてもいない。図１８を参照すると、各スィッチ２９４は各補助ロッ
ク１８２における各開孔３００とハウジング１４０における各開孔３０２とを貫
通する。ピン・ブロック３４のテスト面１８８は電気コネクタ１３０の各補助ロ
ック１８２と接触し、各補助ロック１８２を閉鎖するには十分だがワイヤ・アセ
ンブリ２１０、２１２、２１４を損傷はしないという圧縮力を行使する。

【００６７】 図１５および図２１を参照すると、補助ロック１８２は３個の棚状部３０３、
３０４、３０５を含んでいる。ハウジング１４０は、各棚状部３０４を受け入れ
得る各開口３０６を含んでいる。図２１を参照すると、補助ロック１８２が完全
に挿入されたときに棚状部３０３、３０４、３０５は夫々、固定タブ２３５、２
３６、２３７の近傍である。棚状部３０３、３０４、３０５は固定タブ２３５、
２３６、２３７が各開口３０６内に偏向して各接点２３０を解除するのを防止す
る。故に補助ロック１８２は、固定タブ２３５、２３６により保持された各接点
２３０の付加的な保持を提供する。

【００６８】 図１６を参照するとラッチ・アセンブリ４４は、レバー３１０、圧縮スプリン
グ３１２および保持ポスト３１４、３１６を含んでいる。レバー３１０はコネク
タ・ブロック３２に対して位置合せピン３２０によりピン止めされる。レバー３
１０は、たとえば鋼鉄または他の任意の適切な金属または適切なプラスチックに
より作成され得る。レバー３１０は、ピン３２０の回りで回転し得る。レバー３
１０は、チャネル１０６と、ピン・ブロック３４上のチャネル３１８と、摺動ブ
ロック３６上のチャネル３１９との内部に配置される。

【００６９】 図６を参照すると、レバー３１０はボア３２２を含んでいる。図１６を参照す
ると、スプリング３１２はボア３２２内に保持されると共に、チャネル１０６の
第一の壁部１１２と係合する。レバー３１０は、段部３２４、３２６を含んでい
る。ポスト３１４はピン・ブロック３４に取付けられる。ポスト３１４は、たと
えば鋼鉄、アルミニウムもしくは青銅、または他の任意の適切な金属または適切
なプラスチックにより作成され得る。ポスト３１４は、段部３２６と接触関係に
在る。レバー３１０に当接掛止することにより、ポスト３１４はスプリング３１
２を圧縮位置に維持する。ポスト３１６は摺動ブロック３６に取付けられる。ポ
スト３１６は、たとえば鋼鉄、アルミニウムもしくは青銅、または他の任意の適
切な金属または適切なプラスチックにより作成され得る。

【００７０】 これに加え、レバー３１０は端部３３０、３３２を含んでいる。端部３３０、
３３２には夫々、停止部３３４、３３６が配置される。

【００７１】 図１６および図１９を参照すると、ラッチ・アセンブリ４４は、図２０に示さ
れた方向３３３においてハンドル２５０をコネクタ・ブロック３２の面６０に向
けて移動することで、ラッチされ得る。ピン・ブロック３４はコネクタ・ブロッ
ク３２に向けて移動し、ポスト３１４を携行する。図１９を参照すると段部３２
４、３２６間には壁部３４２が配置される。ハンドル２５０は十分な距離だけ移
動されたなら、ポスト３１４は段部３２６および壁部３４２を越えて滑動する。
スプリング３１２はレバー３１０に作用し、レバー３１０は位置合せピン３２０
の回りで回転する。停止部３３４はレバー１０２と接触すると共に、段部３４０
はポスト３１６と接触する。

【００７２】 このラッチ位置において、停止部３３６は摺動ブロック３６を保持する。停止
部３３６はポスト３１６と係合することにより、ハンドル２５０が解除された後
で摺動ブロック３６がコネクタ・ブロック３２から離間移動するのを防止する。

【００７３】 図２０および図２１を参照すると、ラッチ・アセンブリ４４が前記ラッチ位置
にもたらされたときにピン・ブロック３４はコネクタ・ブロック３２に関し、各
スィッチ２９４が前記各ワイヤ・アセンブリと接触結合し得る如き位置に在る。
換言すると、ラッチ・アセンブリ４４によれば試験装置３０は、前記ワイヤ診断
モードにおいて所定位置にラッチされ得る。ピン・ブロック３４および摺動ブロ
ック３６は、ハンドル２５０が解除されたとしてもワイヤ診断モードに留まる。
ラッチ・アセンブリ４４がラッチされたとき、スプリング部材２５８、２６０は
圧縮される。

【００７４】 図１６、図１７および図１９を参照すると、ハンドル２５０はコネクタ・ブロ
ック３２の面６０に接近移動されてラッチ・アセンブリ４４をラッチ解除し得る
。図１９を参照すると、ポスト３１４、３１６は壁部３４２および停止部３３６
から夫々引き離される。図１６、図１７および図１９を参照すると、レバー３１
０からはラッチ解除ポスト３４８が突出する。図１９を参照するとポスト３４８
はチャネル３１９の壁部３５０に向けて移動され、壁部３４２および停止部３３
６が夫々ポスト３１４、３１６からオフセットされる如く、レバー３１０を回転
し得る。ポスト３１４、３１６は、コネクタ・ブロック３２から拘束無しで離間
並進する。ハンドル２５０をコネクタ・ブロック３２の面６０から離間移動する
と、ポスト３１４は段部３２６に接近移動される。図１６を参照すると、ポスト
３１４が壁部３４２を越えて移動されて段部３２６と整列されたなら、ラッチ・
アセンブリ４４はラッチ解除されてポスト３４８は解除され得る。

【００７５】 スプリング部材２５８、２６０はスプリング力をブロック３４、３６に及ぼし
、試験装置３０を図１に示されたラッチ解除位置へ復帰させるのを支援し得る。

【００７６】 図１６、図１７および図１８を参照すると試験装置３０は、各接点２３０が固
定タブ２３５、２３６、２３７と適切に係合するか否かを検出し得る。図１６は
、前記ラッチ解除位置に在る試験装置３０を示している。ポスト３１４は、段部
３２６と接触関係に配置される。レバー３１０は、位置合せピン３２０の回りで
回転し得ない。

【００７７】 図１７および図１８を参照すると、固定タブ２３５は棚状部３０３と干渉接触
している。ワイヤ・アセンブリ２１０の開口２４４は、固定タブ２３５の傾斜部
２４０と整列されていない。結果として固定タブ２３５は、開口３０６内に更に
撓曲される。ハンドル２５０がコネクタ・ブロック３２の面６０に接近移動され
たとき、ピン・ブロック３４は補助ロック１８２をハウジング１４０内に挿入す
べく作用している。棚状部３０３が固定タブ２３５と干渉接触に至ったなら、ピ
ン・ブロック３４はコネクタ・ブロック３２の面６０に更に接近する様には引張
られ得ない。結果として、各スィッチ２９４は各接点２３０との接触関係に載置
され得ない。図１６を参照すると、ポスト３１４は段部３２４と整列され得ない
。従ってラッチ・アセンブリ４４は、ラッチされ得ない。故に試験装置３０は、
機械的および電気的な信号を提供することで、部分的に挿入されたワイヤ・アセ
ンブリの存在を示す。ワイヤ・アセンブリ２１０の前記位置は当業界において”
短距離非着座ワイヤ（ｓｈｏｒｔ−ｕｎｓｅａｔｅｄ ｗｉｒｅ）”と称される
こともある。

【００７８】 もしラッチ・アセンブリ４４がラッチしなければ、操作者は前記状況の解決を
試行する。操作者は、部分的に挿入された一切のワイヤ・アセンブリを完全に挿
入すべく、前記ワイヤ・アセンブリの全てを押圧する。次に操作者はハンドル２
５０をコネクタ・ブロック３２の面６０に向けて移動し、ラッチ・アセンブリ４
４をラッチすべく試行する。故に試験装置３０は、部分的に挿入されたワイヤ・
アセンブリを備えた電気コネクタの製造を減少する。

【００７９】 図１９、図２０および図２１を参照すると、試験装置３０は各接点２３０がハ
ウジング１４０内に適切に設置されたか否かを検出し得る。試験装置３０は、前
記ワイヤ・アセンブリが機械的に十分な様式で且つ電気的に適切な配置で設置さ
れたことを確認し得る。図１９は、前記ラッチ位置に在る試験装置３０を示して
いる。

【００８０】 図２０および図２１を参照すると、各補助ロック１８２はハウジング１４０内
に完全に挿入されている。固定タブ２３５、２３６、２３７は緩和位置に在ると
共に、各補助ロック１８２が完全に着座されるまで棚状部３０３、３０４、３０
５が各開口３０６内で夫々並進するのを許容する。試験装置３０は、ワイヤ診断
モードに在る。ワイヤ・アセンブリ２１０、２１２は両者ともに、各スィッチ２
９４と接触を行う。結果として前記アナライザは、ワイヤ・アセンブリ２１０、
２１２の存在を確認し、該アセンブリ２１０、２１２が適切な配置構成に在るか
否かを決定する。

【００８１】 ワイヤ・アセンブリ２１４は、該アセンブリ２１４と連携する対応スィッチ２
９４と接触しない。前記アナライザに対してアセンブリ２１５からの電気信号が
無いということは、不適切に設置されたワイヤ・アセンブリが存在することを示
している。前記ワイヤ・アセンブリ２１４の前記位置は当業界において”長距離
非着座ワイヤ（ｌｏｎｇ−ｕｎｓｅａｔｅｄ ｗｉｒｅ）”と称されることもあ
る。故に試験装置３０は、部分的に挿入されたワイヤ・アセンブリを備えた電気
コネクタの製造を減少する。

【００８２】 もし前記アナライザが、ワイヤ・アセンブリが存在しないこと又はワイヤ・ア
センブリが誤った箇所に在ることを表すなら、操作者は前記電気コネクタを除去
し得る。操作者は、電気コネクタ１３０の各ワイヤ・アセンブリが機械的および
電気的に正しくなるまで、前記アナライザにより提供される情報に従い前記各ワ
イヤ・アセンブリを再設置し得る。

【００８３】 図２、図３および図１１を参照すると、解除アセンブリ４６を起動すると電気
コネクタ１３０はコネクタ・ブロック３２から取り外され得る。トグル１００お
よびレバー１０２は、常閉の摺動ゲート３８に取付けられる。圧縮スプリング１
０４はレバー１０２に作用し、トグル１００、レバー１０２および摺動ゲート３
８を付勢する。圧縮スプリング１０４は、摺動ゲート３８の常閉位置を提供する
。トグル１００を開放方向１４４に移動すると、スプリング１０４は圧縮されて
摺動ゲート３８は開放される。

【００８４】 各接触解除ピン１１６は、電気コネクタ取り外しの支援を行う。摺動ゲート３
８が開放されると、各面取りキー溝１３２は各キー溝７０および各突起１４２と
整列される。各ピン１１６と連携する各圧縮スプリング１１８は電気コネクタ１
３０にスプリング力を及ぼし、電気コネクタ１３０の各突起１４２をコネクタ・
ブロック３２から押し出す。電気コネクタ１３０は、コネクタ・ブロック３２か
ら容易に取り外され得る。

【００８５】 図２および図１１を参照すると、試験装置３０は前記開始位置に戻り移動する
と共に、コネクタ取り外し操作と同時に別の電気コネクタ１３０を受け入れる準
備ができている。トグル１００が解除されたとき、スプリング１０４はレバー１
０２、摺動ゲート３８および該トグル１００を付勢すべく作用する。故に摺動ゲ
ート３８は、その常閉位置へと復帰せしめられる。

【００８６】 試験装置３０は、もし適切な電気コネクタ試験シーケンスが辿られなければ試
験操作者に対し前記アナライザが電気的に信号通知する如く、該アナライザとイ
ンタフェースし得る。たとえば電気コネクタ１３０がコネクタ・ブロック３２内
に挿入され乍らも前記ワイヤ診断モードが実行されなければ、前記アナライザは
作動停止すべくプログラムされ得る。

【００８７】 操作者がコネクタ・ブロック３２の面６０に向けてハンドル２５０を引張るシ
ーケンスを完了せずに電気コネクタ１３０を取り外したとしても、電気コネクタ
１３０はコネクタ・ブロック３２から取り外され得ると共に、別の電気コネクタ
が機械的に設置され得る。但し、前記アナライザは作動停止する。操作者は、試
験装置３０を使用するために前記アナライザをリセットせねばならない。

【００８８】 電気コネクタ１３０がコネクタ・ブロック３２内に設置されたとき、ボルト検
出スィッチ１８４および各補助ロック検出スィッチ１８２は閉鎖し、前記アナラ
イザに対して電気的に信号通知を行う。もしハンドル２５０がコネクタ・ブロッ
ク３２の面６０に向けて移動されなければ、ピン・ブロック３４における各ワイ
ヤ・アセンブリ用スィッチ２９４はワイヤ・アセンブリ２１０、２１２、２１４
と物理的に接触しない。故に前記アナライザは、ワイヤ・アセンブリ配置構成の
状態に関する信号を受信しない。もし操作者がコネクタ・ブロック３２から電気
コネクタ１３０を取り外したなら、ボルト検出スィッチ１８４および各補助ロッ
ク検出スィッチ１８６は開放し、前記アナライザに対する前記電気信号は停止す
る。前記アナライザは、スィッチ１８４、１８６が閉鎖されてから各ワイヤ・ア
センブリ用スィッチ２９４が該アナライザに対し介在信号を送信することなく引
き続き開放されたなら、作動停止すべくプログラムされ得る。

【００８９】 この特徴により、診断されない電気コネクタが製造される可能性は減少される
。故に、顧客により拒絶される部品の個数は減少し、ゼロに近づく。先行技術は
、電気的な排除（ｌｏｃｋ−ｏｕｔ）の特徴を提供していなかった。

【００９０】 前記からは、特に上述の教示に鑑みれば、本発明の有効範囲もしくは精神から
逸脱することなく、開示された構造に対し改変および変更が為され得ることは理
解されよう。故に、本明細書中に記述かつ図示された特定実施例に関する限定は
企図されておらず、限定が推測されるべきでもない。実際、添付の請求の範囲は
本発明の有効範囲および精神に含まれる全ての改変および変更を包含することが
意図される。更に、本明細書中で引用された全ての公報および同時係属出願は、
言及したことによりその全てが本明細書中に援用される。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の教示に従い構築された試験装置の側面図である。

【図２】 図１の試験装置の前面図である。

【図３】 電気コネクタが挿入された図２の前記試験装置の前面図である。

【図４】 キー・プレートの平面図である。

【図５】 前記電気コネクタの対応端面図である。

【図６】 前記試験装置の分解図である。

【図７】 図６の７−７線に沿った前記試験装置の断面図である。

【図８】 図６の８−８線に沿った前記試験装置の断面図である。

【図９】 前記試験装置のコネクタ・ブロックに向けて見た摺動ブロックの端面図である
。

【図１０】 図９の１０−１０線に沿った前記摺動ブロックの断面図である。

【図１１】 開放かつ負荷解除された前記試験装置と前記補助ロックが事前装填位置に在る
前記電気コネクタとの上部平面図である。

【図１２】 図１１の１２−１２線に沿った前記試験装置および電気コネクタの断面図であ
る。

【図１３】 図１１の１３−１３線に沿った前記試験装置の断面図であるが、前記電気コネ
クタは前記試験装置に挿入されている。

【図１４】 図１３に示された前記試験装置内に挿入された前記電気コネクタの部分的拡大
断面図である。

【図１５】 図１３における前記試験装置内に挿入された前記電気コネクタの部分的拡大断
面図であるが、該電気コネクタ内にはワイヤ・アセンブリが挿入されている。

【図１６】 図１３における前記試験装置および電気コネクタの上部平面図である。

【図１７】 図１６の１７−１７線に沿った前記試験装置および電気コネクタの断面図であ
る。

【図１８】 図１７における前記試験装置内に挿入された前記電気コネクタの部分的拡大断
面図である。

【図１９】 前記試験装置および電気コネクタの上部平面図である。

【図２０】 図１９の２０−２０線に沿った前記試験装置および電気コネクタの断面図であ
る。

【図２１】 図２０における前記試験装置内に挿入された前記電気コネクタの部分的拡大断
面図である。

【手続補正書】

【提出日】平成１４年４月１１日（２００２．４．１１）

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】特許請求の範囲

【補正方法】変更

【補正の内容】

【特許請求の範囲】

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００４８

【補正方法】変更

【補正の内容】

【００４８】 電気コネクタ１３０がコネクタ・ブロック３２内に挿入されたとき、各補助ロ
ック１８２は各スィッチ１８６と接触する。図１４に示された如くスィッチ１８
６は、点線１８７により示された開放位置から、実線により示された閉鎖位置へ
と移動する。各スィッチ１８６のスプリング力は、各補助ロック１８２が各端部
１８９を圧縮し得るが各補助ロック１８２は各スィッチ１８６により前記閉鎖位
置へと付勢されはしない様に、各補助ロック１８２に対して特定の抵抗を与える
サイズとされる。もし各補助ロック１８２が前記開放位置に正しく位置されたな
ら、各スィッチ１８６が閉鎖して、補助ロック１８２が存在して前記開放位置に
在ることを前記アナライザに信号通知する。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００５３

【補正方法】変更

【補正の内容】

【００５３】 図１５乃至図２１を参照すると、電気コネクタ１３０が結線されたなら、試験
装置３０は診断モードとされ得る。前記診断モードにおいて試験装置３０は電気
コネクタ１３０を検査することにより、前記開孔の配列における適切な位置に完
全固定接点が配置された各ワイヤ・アセンブリを電気コネクタ１３０が有するこ
と、および、コネクタ１３０は前記閉鎖位置に在る各補助ロック１８２を有する
ことを確認し得る。

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００５６

【補正方法】変更

【補正の内容】

【００５６】 図１を参照すると、両サイド・リンク２５４は一対の端部２７８、２８０を含
む。各サイド・リンク２５４はたとえば鋼鉄または他の任意の適切な金属または
適切なプラスチックにより作成され得る。サイド・リンク２５４に対してサイド
・バー２５２が回転し得ると共にサイド・リンク２５４は試験装置３０の長手軸
心に実質的に平行な軸心に沿って並進し得る如く、一方のサイド・リンク２５４
は位置合せピン２８２により端部２７８にてサイド・バー２５２に取付けられる
。サイド・リンク２５４の端部２８０は、摺動ブロック３６に取付けられる。

【手続補正５】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００６７

【補正方法】変更

【補正の内容】

【００６７】 図１５および図２１を参照すると、補助ロック１８２は３個の棚状部３０３、
３０４、３０５を含んでいる。ハウジング１４０は、各棚状部３０３、３０４、
３０５を受け入れ得る各開口３０６を含んでいる。図２１を参照すると、補助ロ
ック１８２が完全に挿入されたときに棚状部３０３、３０４、３０５は夫々、固
定タブ２３５、２３６、２３７の近傍である。棚状部３０３、３０４、３０５は
固定タブ２３５、２３６、２３７が各開口３０６内に偏向して各接点２３０を解
除するのを防止する。故に補助ロック１８２は、固定タブ２３５、２３６により
保持された各接点２３０の付加的な保持を提供する。

【手続補正６】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００８１

【補正方法】変更

【補正の内容】

【００８１】 ワイヤ・アセンブリ２１４は、該アセンブリ２１４と連携する対応スィッチ２
９４と接触しない。前記アナライザに対してワイヤ・アセンブリ２１４からの電
気信号が無いということは、不適切に設置されたワイヤ・アセンブリが存在する
ことを示している。前記ワイヤ・アセンブリ２１４の前記位置は当業界において
”長距離非着座ワイヤ（ｌｏｎｇ−ｕｎｓｅａｔｅｄ ｗｉｒｅ）”と称される
こともある。故に試験装置３０は、部分的に挿入されたワイヤ・アセンブリを備
えた電気コネクタの製造を減少する。

【手続補正７】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００８８

【補正方法】変更

【補正の内容】

【００８８】 電気コネクタ１３０がコネクタ・ブロック３２内に設置されたとき、ボルト検
出スィッチ１８４および各補助ロック検出スィッチ１８６は閉鎖し、前記アナラ
イザに対して電気的に信号通知を行う。もしハンドル２５０がコネクタ・ブロッ
ク３２の面６０に向けて移動されなければ、ピン・ブロック３４における各ワイ
ヤ・アセンブリ用スィッチ２９４はワイヤ・アセンブリ２１０、２１２、２１４
と物理的に接触しない。故に前記アナライザは、ワイヤ・アセンブリ配置構成の
状態に関する信号を受信しない。もし操作者がコネクタ・ブロック３２から電気
コネクタ１３０を取り外したなら、ボルト検出スィッチ１８４および各補助ロッ
ク検出スィッチ１８６は開放し、前記アナライザに対する前記電気信号は停止す
る。前記アナライザは、スィッチ１８４、１８６が閉鎖されてから各ワイヤ・ア
センブリ用スィッチ２９４が該アナライザに対し介在信号を送信することなく引
き続き開放されたなら、作動停止すべくプログラムされ得る。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＭＺ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ，ＵＧ ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ， ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＧ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ， ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＢＺ，Ｃ Ａ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＲ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＤＭ ，ＤＺ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ，ＧＨ， ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ，ＪＰ，Ｋ Ｅ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＡ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ， ＭＷ，ＭＸ，ＭＺ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，Ｒ Ｕ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ ，ＴＲ，ＴＴ，ＴＺ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ， ＺＡ，ＺＷ Ｆターム(参考） 2G014 AA01 AA14 AB24 AB38 AB60 AC08 5E051 GA09 GB10 【要約の続き】 電気コネクタ（１３０）の受け入れを再現する。

Claims (22)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コネクタ面と、ピン表面と、コネクタ部分とを含むコネクタ
   ・ブロックであって、前記コネクタ面を介して前記コネクタ部分へと電気コネク
   タを受容し得るコネクタ・ブロックと、 前記コネクタ・ブロックに摺動可能に取付けられた摺動ブロックと、 ピン表面と裏面とを含むピン・ブロックと、を備えた試験装置であって、 前記ピン・ブロックは、前記ピン表面を前記コネクタ・ブロックの近傍とし且
   つ前記裏面を前記摺動ブロックの近傍として、前記摺動ブロックと前記コネクタ
   ・ブロックとの間に介設され、 前記ピン・ブロックは、該ピン・ブロックに取付けられたワイヤ・アセンブリ
   用スィッチの配列を含み、 前記各スィッチは、各スィッチの端部が前記ピン・ブロックの前記ピン表面か
   ら突出する如く且つ当該各スィッチが前記電気コネクタ内に設置されたワイヤ・
   アセンブリの配列に接触して配置される如く、配置される、 試験装置。
2. 【請求項２】 前記ピン・ブロックに取付けられたスィッチであって前記電
   気コネクタに取付けられたボルトと接触すべく配置されたスィッチを更に備えて
   成る、請求項１記載の試験装置。
3. 【請求項３】 前記ピン・ブロックに取付けられたスィッチであって前記電
   気コネクタに取付けられた補助ロックと接触すべく配置されたスィッチを更に備
   えて成る、請求項１記載の試験装置。
4. 【請求項４】 前記コネクタ・ブロックの前記コネクタ面の近傍にて該コネ
   クタ・ブロックに摺動可能に取付けられたゲートであって、開放位置と閉鎖位置
   との間で摺動可能なゲートを更に備えて成る、請求項１記載の試験装置。
5. 【請求項５】 前記摺動ゲートは矩形フレームであり、該摺動ゲートは、前
   記電気コネクタが前記コネクタ・ブロック内に挿入された後に前記各ワイヤ・ア
   センブリが前記電気コネクタ内に設置され得る如く、前記電気コネクタに対する
   アクセスを許容する、請求項４記載の試験装置。
6. 【請求項６】 前記摺動ゲートは、前記電気コネクタ上の複数の対応突起と
   整列する複数のキー溝を含む、請求項４記載の試験装置。
7. 【請求項７】 前記ゲートが摺動開放して前記電気コネクタが前記コネクタ
   ・ブロック内に挿入され得る如く、前記コネクタ・ブロック内への前記電気コネ
   クタの挿入の間において前記各キー溝は前記各突起と係合する、請求項６記載の
   試験装置。
8. 【請求項８】 前記摺動ゲートは、第一の軸心および第二の軸心に沿って前
   記電気コネクタを保持する複数の箇所を含む、請求項４記載の試験装置。
9. 【請求項９】 解除アセンブリを更に備えて成る、請求項４記載の試験装置
   。
10. 【請求項１０】 前記ゲートを閉鎖位置に付勢すべく且つ該ゲートが開放位
    置へと摺動されるのを許容すべく、前記解除アセンブリは前記ゲートに取付けら
    れたアームと該アームおよび前記コネクタ・ブロックに係合するスプリングとを
    含む、請求項９記載の試験装置。
11. 【請求項１１】 前記コネクタ・ブロック内の前記コネクタ部分の近傍のキ
    ー・プレート面に着脱自在に取付けられたキー・プレートを更に備えて成る、請
    求項１記載の試験装置。
12. 【請求項１２】 前記キー・プレートは複数のキー溝を含み、該各キー溝の
    個数および間隔は前記電気コネクタ上の複数のリブの個数および間隔に対応する
    、請求項１１記載の試験装置。
13. 【請求項１３】 前記コネクタ・ブロックは第一の側部および第二の側部を
    含む、請求項１記載の試験装置。
14. 【請求項１４】 挿入アセンブリを更に備えて成る、請求項１３記載の試験
    装置。
15. 【請求項１５】 前記挿入アセンブリは、 前記コネクタ・ブロックの前記第一の側部および前記第二の側部に夫々回転可
    能にピン止めされた第一のサイド・バーおよび第二のサイド・バーと、 前記第一のサイド・バーおよび前記第二のサイド・バーに取付けられたハンド
    ルと、 前記第一のサイド・バーおよび前記第二のサイド・バーに夫々回転可能にピン
    止めされた第一のサイド・リンクおよび第二のサイド・リンクと、 を含む、請求項１４記載の試験装置。
16. 【請求項１６】 ラッチ・アセンブリを更に備えて成る、請求項１記載の試
    験装置。
17. 【請求項１７】 前記ラッチ・アセンブリは前記コネクタ・ブロックに回転
    可能にピン止めされたレバーを含み、 該レバーは、 当該第一の段部および第二の段部の間に壁部が介設された第一の段部および第
    二の段部と、 前記ピン・ブロックに取付けられると共に、前記第一の段部、前記第二の段部
    および前記壁部と係合的に関連付けられ得る第一の保持ポストと、 前記レバーおよび前記コネクタ・ブロックに圧縮的に係合されたスプリングと
    、を含み、 該レバーはまた、 相互に隣接して配置された第三の段部および停止部、 前記摺動ブロックに取付けられると共に当該レバーの第三の段部に係合的に関
    連付けられ得る第二の保持ポスト、および、 当該レバーから突出するラッチ解除ポスト、も含む、 請求項１６記載の試験装置。
18. 【請求項１８】 当該試験装置は、前記摺動ブロックと前記コネクタ・ブロ
    ックとの間に圧縮的に係合された第一のスプリング部材を含む、請求項１記載の
    試験装置。
19. 【請求項１９】 当該試験装置は第一のボルトを含み、 前記摺動ブロックはボアを含み、 前記第一のボルトは前記摺動ブロックの前記ボアと前記第一のスプリング部材
    とを貫通し、 前記第一のボルトは、前記摺動ブロックの前記ボアと干渉的に係合可能なヘッ
    ドを含む、 請求項１８記載の試験装置。
20. 【請求項２０】 当該試験装置は前記摺動ブロックにより保持された第二の
    スプリング部材を含む、請求項１記載の試験装置。
21. 【請求項２１】 当該試験装置は第二のボルトを含み、 前記ピン・ブロックはボアを含み、 前記第二のボルトは前記ピン・ブロックの前記ボアを貫通し、 前記第二のボルトは前記ピン・ブロックの前記ボアと干渉的に係合可能なヘッ
    ドを含み、且つ、 前記第二のスプリング部材は前記ピン・ブロックおよび前記摺動ブロックと圧
    縮的に係合される、請求項２０記載の試験装置。
22. 【請求項２２】 コネクタ面と、ピン表面と、コネクタ部分とを含むコネク
    タ・ブロックであって、前記コネクタ面を介して前記コネクタ部分へと電気コネ
    クタを受容し得るコネクタ・ブロックと、 ボアを含むと共に前記コネクタ・ブロックに対して第一のボルトにより摺動可
    能に取付けられた摺動ブロックであって、前記第一のボルトは前記摺動ブロック
    の前記ボアと第一のスプリング部材とを貫通すると共に前記コネクタ・ブロック
    に取付けられ、前記第一のボルトは前記摺動ブロックの前記ボアに干渉的に係合
    可能なヘッドを含み、且つ、前記第一のスプリング部材は前記摺動ブロックおよ
    び前記コネクタ・ブロックと圧縮的に係合される、摺動ブロックと、 ピン表面、裏面およびボアを含むピン・ブロックであって、該ピン・ブロック
    は前記ピン表面を前記コネクタ・ブロックの近傍とし且つ前記裏面を前記摺動ブ
    ロックの近傍として前記摺動ブロックと前記コネクタ・ブロックとの間に介設さ
    れ、該ピン・ブロックは第二のボルトにより前記摺動ブロックに摺動可能に取付
    けられた、ピン・ブロックと、を備えた試験装置であって、 前記第二のボルトは、前記ピン・ブロックの前記ボアと第二のスプリング部材
    とを貫通すると共に、前記摺動ブロックに取付けられ、 前記第二のボルトは前記ピン・ブロックの前記ボアと干渉的に係合可能なヘッ
    ドを含み、 前記第二のスプリング部材は前記ピン・ブロックおよび前記摺動ブロックに圧
    縮的に係合され、 前記ピン・ブロックは、各々が端部を含むワイヤ・アセンブリ用スィッチであ
    って該ピン・ブロックに取付けられたワイヤ・アセンブリ用スィッチの配列を含
    み、 前記各スィッチは、各スィッチの前記端部が前記ピン・ブロックの前記ピン表
    面から突出する如く且つ当該各スィッチが前記電気コネクタ内に設置されたワイ
    ヤ・アセンブリの配列に接触して配置される如く、配置される、 試験装置。