JP2003507745A - 電気コネクタの試験装置 - Google Patents
電気コネクタの試験装置Info
- Publication number
- JP2003507745A JP2003507745A JP2001519201A JP2001519201A JP2003507745A JP 2003507745 A JP2003507745 A JP 2003507745A JP 2001519201 A JP2001519201 A JP 2001519201A JP 2001519201 A JP2001519201 A JP 2001519201A JP 2003507745 A JP2003507745 A JP 2003507745A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- block
- connector
- pin
- electrical connector
- test device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
- G01R31/69—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/005—Testing of electric installations on transport means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
試験装置(30)は、コネクタ・ブロック(32)、ピン・ブロック(34)、摺動ブロック(36)、摺動ゲート(38)、キー・プレート(40)、挿入アセンブリ(42)、ラッチ・アセンブリ(44)、解除アセンブリ(46)およびカバー・プレート(48、50)を含む。試験装置(30)は、摺動ゲート(38)により保持された電気コネクタ(130)を受け入れる。着脱可能なキー・プレート(40)は、試験装置(30)に対して方向性を提供する。試験装置(30)は、スィッチ(184、186、294)により遠隔ロジック・アナライザに対し電気信号を送信し得る。挿入アセンブリ(42)は摺動ブロック(36)およびピン・ブロック(34)を、ワイヤ・アセンブリ診断位置へと移動する。ラッチ・アセンブリ(44)は試験装置(30)を前記ワイヤ診断モードにラッチする。試験装置(30)は、完全固定されて適切に配置された各ワイヤ・アセンブリおよび閉鎖された各補助ロックに関して電気コネクタ(130)を検査する。解除アセンブリ(46)はコネクタ取り外しの支援を行い、試験装置(30)は別の電気コネクタ(130)の受け入れを再現する。
Description
【0001】
発明の分野
本発明は試験装置に関し、より詳細には電気コネクタを試験すべく使用され得
る試験装置に関する。本発明は特に、ワイヤリング・ハーネスで使用されるに適
している。
る試験装置に関する。本発明は特に、ワイヤリング・ハーネスで使用されるに適
している。
【0002】
発明の背景
電気コネクタは、種々のデバイスに対してワイヤを接続すべく外部環境で使用
される。外部環境としては、過度の湿気および温度などの天候に露出され得る乗
用車、トラック、農業機器、建設機器および他の車両が挙げられる。これに加え
て斯かる電気コネクタは、エンジンもしくは車両の移動に依る振動に晒される。
故に電気コネクタは、これらの動作条件に耐えねばならない。
される。外部環境としては、過度の湿気および温度などの天候に露出され得る乗
用車、トラック、農業機器、建設機器および他の車両が挙げられる。これに加え
て斯かる電気コネクタは、エンジンもしくは車両の移動に依る振動に晒される。
故に電気コネクタは、これらの動作条件に耐えねばならない。
【0003】
これに加え、電気コネクタは個々のワイヤに対して取付けられる必要がある。
特に、個々のワイヤは電気接点に取付けられる。取付けられたワイヤを備えた電
気接点は次に、電気コネクタに対するハウジング内に組立てられる。この工程は
作業者により実施されることから、比較的にコスト高となる。
特に、個々のワイヤは電気接点に取付けられる。取付けられたワイヤを備えた電
気接点は次に、電気コネクタに対するハウジング内に組立てられる。この工程は
作業者により実施されることから、比較的にコスト高となる。
【0004】
故に、斯かる車両において利用される電気コネクタは、各コネクタの機械的お
よび電気的な特徴を試験する効率的で信頼性の高い手段を必要とする。たとえば
、電気コネクタの形式および方向性すなわち配向が照合されねばならない。また
、電気コネクタを取付けるべく使用されるボルトの存在も確認されねばならない
。同様に、補助ロック(secondary lock)の存在および位置も確
認されねばならない。更に、ワイヤの接続および配置構成が照合されねばならな
い。
よび電気的な特徴を試験する効率的で信頼性の高い手段を必要とする。たとえば
、電気コネクタの形式および方向性すなわち配向が照合されねばならない。また
、電気コネクタを取付けるべく使用されるボルトの存在も確認されねばならない
。同様に、補助ロック(secondary lock)の存在および位置も確
認されねばならない。更に、ワイヤの接続および配置構成が照合されねばならな
い。
【0005】
発明の要約
本発明の教示に依れば試験装置は、コネクタ・ブロック、ピン・ブロック、摺
動ブロック、摺動ゲート、キー・プレート、挿入アセンブリ、ラッチ・アセンブ
リ、解除アセンブリ、および、複数のカバー・プレートを含み得る。
動ブロック、摺動ゲート、キー・プレート、挿入アセンブリ、ラッチ・アセンブ
リ、解除アセンブリ、および、複数のカバー・プレートを含み得る。
【0006】
前記試験装置は、試験のために電気コネクタを受け入れる。前記コネクタが前
記コネクタ・ブロック内に設置されたなら、前記摺動ゲートは前記電気コネクタ
を固定する。前記摺動ゲートは、前記コネクタ・ブロックの面と連携されると共
に、常閉とされる。前記摺動ゲートは、各面取りキー溝を含み得る。前記電気コ
ネクタは、各突起を含み得る。
記コネクタ・ブロック内に設置されたなら、前記摺動ゲートは前記電気コネクタ
を固定する。前記摺動ゲートは、前記コネクタ・ブロックの面と連携されると共
に、常閉とされる。前記摺動ゲートは、各面取りキー溝を含み得る。前記電気コ
ネクタは、各突起を含み得る。
【0007】
前記各突起は、前記常閉の摺動ゲートと接触結合し、該摺動ゲートを開放する
。詳細には、前記各突起は前記摺動ゲート上の各面取りキー溝と係合する。前記
摺動ゲート内に前記電気コネクタを更に挿入すると、前記摺動ゲートは開放する
まで並進される。前記電気コネクタが設置されたなら、前記摺動ゲートはその閉
鎖位置へと戻されると共に各保持力の平衡を提供し、先行技術に伴う側部負荷を
排除する。
。詳細には、前記各突起は前記摺動ゲート上の各面取りキー溝と係合する。前記
摺動ゲート内に前記電気コネクタを更に挿入すると、前記摺動ゲートは開放する
まで並進される。前記電気コネクタが設置されたなら、前記摺動ゲートはその閉
鎖位置へと戻されると共に各保持力の平衡を提供し、先行技術に伴う側部負荷を
排除する。
【0008】
前記キー・プレートによれば、異なる型式の各電気コネクタに対して同一の試
験装置が利用され得る。前記キー・プレートは前記コネクタ・ブロック内に設置
されると共に、各キー溝を含む。前記各キー溝の個数および間隔は、特定型式の
電気コネクタ上の各リブに対応する。設置されたキー・プレートを別のキー・プ
レートと変更することにより、前記試験装置は異なる型式の電気コネクタを受け
入れ得る。
験装置が利用され得る。前記キー・プレートは前記コネクタ・ブロック内に設置
されると共に、各キー溝を含む。前記各キー溝の個数および間隔は、特定型式の
電気コネクタ上の各リブに対応する。設置されたキー・プレートを別のキー・プ
レートと変更することにより、前記試験装置は異なる型式の電気コネクタを受け
入れ得る。
【0009】
先行技術の試験装置は固定された各キー溝を保有することから、ハーネス・シ
ョップ(harness shop)は電気コネクタの方向性の各々に対して個
々の試験装置を保存する必要がある。試験されつつある電気コネクタの型式を先
行技術の試験装置を使用して変更するためには、ひとつの試験装置がアナライザ
から取り外されねばならない。次に、前記アナライザに対して第二の試験装置が
接続されねばならない。本発明の試験装置に依れば、各電気コネクタを試験する
ハーネス・ショップは、交換可能で安価な各キー・プレートを備えた1台の試験
装置を購入するという利点が提供される。前記キー・プレートは、先行技術と比
較して時間および設備コストの節約を提供する。
ョップ(harness shop)は電気コネクタの方向性の各々に対して個
々の試験装置を保存する必要がある。試験されつつある電気コネクタの型式を先
行技術の試験装置を使用して変更するためには、ひとつの試験装置がアナライザ
から取り外されねばならない。次に、前記アナライザに対して第二の試験装置が
接続されねばならない。本発明の試験装置に依れば、各電気コネクタを試験する
ハーネス・ショップは、交換可能で安価な各キー・プレートを備えた1台の試験
装置を購入するという利点が提供される。前記キー・プレートは、先行技術と比
較して時間および設備コストの節約を提供する。
【0010】
前記解除アセンブリは、前記コネクタ・ブロック内に配置された各接触解除ピ
ンおよび各圧縮スプリングを含む。各ピンには圧縮スプリングが連携される。前
記電気コネクタが前記コネクタ・ブロック内に設置されたとき、該電気コネクタ
は前記各ピンに係合して前記各スプリングを圧縮する。これにより前記電気コネ
クタは、前記各スプリングのスプリング力により前記摺動ゲートに対して保持さ
れる。
ンおよび各圧縮スプリングを含む。各ピンには圧縮スプリングが連携される。前
記電気コネクタが前記コネクタ・ブロック内に設置されたとき、該電気コネクタ
は前記各ピンに係合して前記各スプリングを圧縮する。これにより前記電気コネ
クタは、前記各スプリングのスプリング力により前記摺動ゲートに対して保持さ
れる。
【0011】
前記電気コネクタは、ボルトおよび各補助ロックを含み得る。前記各補助ロッ
クは、装填用の事前開放位置もしくは閉鎖位置に置かれ得る。但し、前記電気コ
ネクタ内における各ワイヤ・アセンブリの設置を許容すべく、前記各補助ロック
は開放位置に在る。前記コネクタが前記コネクタ・ブロック内に設置されたとき
に前記試験装置は、前記ボルトおよび前記各補助ロックが存在して適切な位置に
在ることを確認し得る。
クは、装填用の事前開放位置もしくは閉鎖位置に置かれ得る。但し、前記電気コ
ネクタ内における各ワイヤ・アセンブリの設置を許容すべく、前記各補助ロック
は開放位置に在る。前記コネクタが前記コネクタ・ブロック内に設置されたとき
に前記試験装置は、前記ボルトおよび前記各補助ロックが存在して適切な位置に
在ることを確認し得る。
【0012】
前記ピン・ブロックは、テスト面、裏面、および、スプリング負荷ピン・スィ
ッチの配列を含む。各スィッチは一対の端部を有する。該各端部は前記ピン・ブ
ロックの前記各面から突出する。前記テスト面から突出する前記各端部は、前記
ボルトおよび前記各補助ロックに係合する。前記試験装置は診断機能を提供する
と共に、遠隔ロジック・アナライザに対して電気信号が受け渡されるのを許容す
る。前記裏面から突出する前記各端部は前記アナライザに電気的に結線され、前
記ボルトおよび前記各補助ロックの存在および正しい位置を信号通知し得る。
ッチの配列を含む。各スィッチは一対の端部を有する。該各端部は前記ピン・ブ
ロックの前記各面から突出する。前記テスト面から突出する前記各端部は、前記
ボルトおよび前記各補助ロックに係合する。前記試験装置は診断機能を提供する
と共に、遠隔ロジック・アナライザに対して電気信号が受け渡されるのを許容す
る。前記裏面から突出する前記各端部は前記アナライザに電気的に結線され、前
記ボルトおよび前記各補助ロックの存在および正しい位置を信号通知し得る。
【0013】
前記試験装置は、設置された電気コネクタのバックプレートに対するアクセス
を許容する。前記バックプレートは、各ワイヤ・アセンブリが貫通して装填され
得る各開孔を含む。前記電気コネクタは、各対応開孔に対する固定タブを含む。
該固定タブは、各開孔と連携された開口内に配置される。前記ワイヤ・アセンブ
リは該ワイヤ・アセンブリの接点と前記固定タブが係合する如く前記電気コネク
タ内に挿入されることで、前記電気コネクタからの該ワイヤ・アセンブリの取り
外しを防止し得る。
を許容する。前記バックプレートは、各ワイヤ・アセンブリが貫通して装填され
得る各開孔を含む。前記電気コネクタは、各対応開孔に対する固定タブを含む。
該固定タブは、各開孔と連携された開口内に配置される。前記ワイヤ・アセンブ
リは該ワイヤ・アセンブリの接点と前記固定タブが係合する如く前記電気コネク
タ内に挿入されることで、前記電気コネクタからの該ワイヤ・アセンブリの取り
外しを防止し得る。
【0014】
前記挿入アセンブリは、ハンドル、一対のサイド・バー、一対のサイド・リン
ク、各位置合せピン、および、各スプリング部材を含む。前記サイド・バーは両
者ともに、前記各位置合せピンにより前記コネクタ・ブロックにピン止めされた
端部を有する。前記ハンドルは、両サイド・バーの他端にて前記各サイド・バー
に取付けられると共に、該各サイド・バーの間に配置される。前記各サイド・バ
ーおよび前記ハンドルは、前記コネクタ・ブロックに対してピン止めされた該各
サイド・バーの各端部の回りで回転し得る。
ク、各位置合せピン、および、各スプリング部材を含む。前記サイド・バーは両
者ともに、前記各位置合せピンにより前記コネクタ・ブロックにピン止めされた
端部を有する。前記ハンドルは、両サイド・バーの他端にて前記各サイド・バー
に取付けられると共に、該各サイド・バーの間に配置される。前記各サイド・バ
ーおよび前記ハンドルは、前記コネクタ・ブロックに対してピン止めされた該各
サイド・バーの各端部の回りで回転し得る。
【0015】
両サイド・リンクは、一対の端部を含む。一方のサイド・リンクは一方のサイ
ド・バーに取付けられる。前記サイド・リンクの一端は、該サイド・リンクが当
該試験装置の長手軸心に平行である如く、前記サイド・バーに取付けられる。前
記サイド・リンクの他端は、前記摺動ブロックに取付けられる。該摺動ブロック
は、前記ピン・ブロックに取付けられる。
ド・バーに取付けられる。前記サイド・リンクの一端は、該サイド・リンクが当
該試験装置の長手軸心に平行である如く、前記サイド・バーに取付けられる。前
記サイド・リンクの他端は、前記摺動ブロックに取付けられる。該摺動ブロック
は、前記ピン・ブロックに取付けられる。
【0016】
前記ハンドルを前記コネクタ・ブロックの前記面に向けて移動すると、前記摺
動ブロックおよび前記ピン・ブロックは前記コネクタ・ブロックに向けて移動さ
れると共に、前記各スプリング部材は圧縮される。
動ブロックおよび前記ピン・ブロックは前記コネクタ・ブロックに向けて移動さ
れると共に、前記各スプリング部材は圧縮される。
【0017】
前記ハンドルを前記コネクタ・ブロックに向けて十分な距離だけ移動すること
により、前記試験装置はワイヤ・アセンブリ診断モードに置かれ得る。前記試験
装置は、完全固定された各ワイヤ・アセンブリ、適切なワイヤ・アセンブリ位置
および閉鎖された各補助ロックに関して前記電気コネクタを検査する。
により、前記試験装置はワイヤ・アセンブリ診断モードに置かれ得る。前記試験
装置は、完全固定された各ワイヤ・アセンブリ、適切なワイヤ・アセンブリ位置
および閉鎖された各補助ロックに関して前記電気コネクタを検査する。
【0018】
前記ピン・ブロックは、特定寸法および特定配置にて該ピン・ブロックの前記
各面から突出する各スプリング負荷ピン・スィッチを保持する。各スィッチは、
対応するワイヤ・アセンブリと整列する。前記ハンドルが前記コネクタ・ブロッ
クの前記面に向けて十分な距離だけ移動されたなら、前記各スィッチは前記ワイ
ヤ・アセンブリの個々の接点と物理的に接触する。
各面から突出する各スプリング負荷ピン・スィッチを保持する。各スィッチは、
対応するワイヤ・アセンブリと整列する。前記ハンドルが前記コネクタ・ブロッ
クの前記面に向けて十分な距離だけ移動されたなら、前記各スィッチは前記ワイ
ヤ・アセンブリの個々の接点と物理的に接触する。
【0019】
前記ピン・ブロックは、該ピン・ブロックが前記各ワイヤ・アセンブリを試験
するのと同時に前記各補助ロックを閉鎖する。前記ピン・ブロックは前記電気コ
ネクタの前記各補助ロックに作用し、該各補助ロックを閉鎖するには十分だが前
記各ワイヤ・アセンブリを損傷はしないという圧縮力を行使する。先行技術は、
移動するもしくはスプリング負荷されたブロックを有さず、シーケンス化された
移動特徴も取入れていない。
するのと同時に前記各補助ロックを閉鎖する。前記ピン・ブロックは前記電気コ
ネクタの前記各補助ロックに作用し、該各補助ロックを閉鎖するには十分だが前
記各ワイヤ・アセンブリを損傷はしないという圧縮力を行使する。先行技術は、
移動するもしくはスプリング負荷されたブロックを有さず、シーケンス化された
移動特徴も取入れていない。
【0020】
前記解除アセンブリを起動すると、前記電気コネクタは前記コネクタ・ブロッ
クから取り外され得る。前記解除アセンブリは、トグル、レバーおよび圧縮スプ
リングも含む。前記トグルおよびレバーは、前記常閉の摺動ゲートに取付けられ
る。前記圧縮スプリングは前記レバーに作用し、前記トグル、レバーおよび摺動
ゲートを付勢する。前記圧縮スプリングは、前記摺動ゲートの前記常閉位置を提
供する。前記スプリングを圧縮する方向に前記トグルを移動すると、前記摺動ゲ
ートが開放される。
クから取り外され得る。前記解除アセンブリは、トグル、レバーおよび圧縮スプ
リングも含む。前記トグルおよびレバーは、前記常閉の摺動ゲートに取付けられ
る。前記圧縮スプリングは前記レバーに作用し、前記トグル、レバーおよび摺動
ゲートを付勢する。前記圧縮スプリングは、前記摺動ゲートの前記常閉位置を提
供する。前記スプリングを圧縮する方向に前記トグルを移動すると、前記摺動ゲ
ートが開放される。
【0021】
前記各接触解除ピンは、電気コネクタの取り外しを支援する。前記摺動ゲート
が開放すると、前記各ピンと連携する前記各圧縮スプリングは前記電気コネクタ
にスプリング力を及ぼし、前記電気コネクタを前記コネクタ・ブロックから押し
出す。
が開放すると、前記各ピンと連携する前記各圧縮スプリングは前記電気コネクタ
にスプリング力を及ぼし、前記電気コネクタを前記コネクタ・ブロックから押し
出す。
【0022】
前記試験装置は開始位置に戻り移動すると共に、コネクタ取り外し操作と同時
に別の電気コネクタを受け入れる準備ができている。前記トグルが解除されたと
き、前記レバーと連携する前記スプリングは該レバー、前記摺動ゲートおよび該
トグルを付勢すべく作用する。故に前記摺動ゲートは、その常閉位置へと復帰せ
しめられる。
に別の電気コネクタを受け入れる準備ができている。前記トグルが解除されたと
き、前記レバーと連携する前記スプリングは該レバー、前記摺動ゲートおよび該
トグルを付勢すべく作用する。故に前記摺動ゲートは、その常閉位置へと復帰せ
しめられる。
【0023】
前記試験装置は、もし適切な電気コネクタ試験シーケンスが辿られなければ試
験操作者に対し前記アナライザが電気的に信号通知する如く、該アナライザとイ
ンタフェースし得る。たとえば電気コネクタが前記コネクタ・ブロック内に挿入
され乍らも前記ワイヤ診断モードが実行されなければ、前記アナライザは作動停
止すべくプログラムされ得る。
験操作者に対し前記アナライザが電気的に信号通知する如く、該アナライザとイ
ンタフェースし得る。たとえば電気コネクタが前記コネクタ・ブロック内に挿入
され乍らも前記ワイヤ診断モードが実行されなければ、前記アナライザは作動停
止すべくプログラムされ得る。
【0024】
実施例の説明
本発明のこれらのおよび他の目的、特徴および利点は、添付図面を参照して以
下の代表的実施例の詳細な説明を読破すれば更に容易に明らかとなろう。 図1には、本発明の教示に従い構築された試験装置30が示される。図1およ
び図2に示された如く試験装置30は、コネクタ・ブロック32、ピン・ブロッ
ク34、摺動ブロック36、摺動ゲート38、キー・プレート40、挿入アセン
ブリ42、ラッチ・アセンブリ44、解除アセンブリ46および複数のカバー・
プレート48、50、52、54を含み得る。
下の代表的実施例の詳細な説明を読破すれば更に容易に明らかとなろう。 図1には、本発明の教示に従い構築された試験装置30が示される。図1およ
び図2に示された如く試験装置30は、コネクタ・ブロック32、ピン・ブロッ
ク34、摺動ブロック36、摺動ゲート38、キー・プレート40、挿入アセン
ブリ42、ラッチ・アセンブリ44、解除アセンブリ46および複数のカバー・
プレート48、50、52、54を含み得る。
【0025】
コネクタ・ブロック32は、矩形で中空の導管である。コネクタ・ブロック3
2はたとえば、アセタール、ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材
料から作成され得るが、デラウェア州、ウィルミントンのDuPontエンジニ
アリング・ポリマ社製のDelrin(登録商標)はアセタールの特定例である
。コネクタ・ブロック32は、コネクタ面60、キー・プレート面62、各側部
64、頂部66およびピン表面68を含む。面60は複数のキー溝70を含む。
各側部64は相互に同様であると共に、各溝78を含む。図8を参照すると、各
溝78は各側部64の間に延在して摺動ゲート38を保持する。以下に記述され
る如く、各キー溝70は面60から各溝78を越えて所定量だけ内方に延在する
。コネクタ・ブロック32を貫通して各ボア72が延在し、該ボア72は試験装
置30を取付けるべく使用され得る。図12を参照すると、コネクタ・ブロック
32はコネクタ部分88およびピン・ブロック部分90を含む。キー・プレート
面62は、部分88および90間に配置される。図2を参照すると、キー・プレ
ート40は複数のネジ92により面62に取付けられる。
2はたとえば、アセタール、ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材
料から作成され得るが、デラウェア州、ウィルミントンのDuPontエンジニ
アリング・ポリマ社製のDelrin(登録商標)はアセタールの特定例である
。コネクタ・ブロック32は、コネクタ面60、キー・プレート面62、各側部
64、頂部66およびピン表面68を含む。面60は複数のキー溝70を含む。
各側部64は相互に同様であると共に、各溝78を含む。図8を参照すると、各
溝78は各側部64の間に延在して摺動ゲート38を保持する。以下に記述され
る如く、各キー溝70は面60から各溝78を越えて所定量だけ内方に延在する
。コネクタ・ブロック32を貫通して各ボア72が延在し、該ボア72は試験装
置30を取付けるべく使用され得る。図12を参照すると、コネクタ・ブロック
32はコネクタ部分88およびピン・ブロック部分90を含む。キー・プレート
面62は、部分88および90間に配置される。図2を参照すると、キー・プレ
ート40は複数のネジ92により面62に取付けられる。
【0026】
図11を参照すると、解除アセンブリ46はトグル100、レバー102およ
び圧縮スプリング104を含む。トグル100およびレバー102はたとえば、
アセタール、ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材料から作成され
得るが、デラウェア州、ウィルミントンのDuPontエンジニアリング・ポリ
マ社製のDelrin(登録商標)はアセタールの特定例である。コネクタ・ブ
ロック32の頂部66はチャネル106を含む。チャネル106内には、トグル
100、レバー102および圧縮スプリング104が配置される。
び圧縮スプリング104を含む。トグル100およびレバー102はたとえば、
アセタール、ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材料から作成され
得るが、デラウェア州、ウィルミントンのDuPontエンジニアリング・ポリ
マ社製のDelrin(登録商標)はアセタールの特定例である。コネクタ・ブ
ロック32の頂部66はチャネル106を含む。チャネル106内には、トグル
100、レバー102および圧縮スプリング104が配置される。
【0027】
図2および図11を参照すると、トグル100、ゲート38およびレバー10
2は複数のネジ108により結合される。これにより、トグル100、ゲート3
8およびレバー102は相互接続されて一体的集合体として移動する。代替的に
トグル100およびレバー102は、該トグル100およびレバー102が結合
されるのと同様にしてネジなどによりゲート38に取付けられ得る一体的なワン
ピース・アームとされ得る。
2は複数のネジ108により結合される。これにより、トグル100、ゲート3
8およびレバー102は相互接続されて一体的集合体として移動する。代替的に
トグル100およびレバー102は、該トグル100およびレバー102が結合
されるのと同様にしてネジなどによりゲート38に取付けられ得る一体的なワン
ピース・アームとされ得る。
【0028】
図11を参照すると、レバー102はボア110を含む。スプリング104は
ボア110内に挿入されると共に、レバー102とチャネル106の第一の壁部
112との間に捕捉される。スプリング104のスプリング力によりレバー10
2、ゲート38およびトグル100は壁部112から離間付勢され、レバー10
2およびトグル100を前記チャネルの第二の壁部114と接触させる。
ボア110内に挿入されると共に、レバー102とチャネル106の第一の壁部
112との間に捕捉される。スプリング104のスプリング力によりレバー10
2、ゲート38およびトグル100は壁部112から離間付勢され、レバー10
2およびトグル100を前記チャネルの第二の壁部114と接触させる。
【0029】
図2、図6および図12を参照すると解除アセンブリ46は、複数の接触解除
ピン116および対応する複数の圧縮スプリング118も含んでいる。各ピン1
16はたとえば、青銅、鋼鉄もしくはアルミニウム、または、他の任意の適切な
材料から作成され得る。ピン116は、各ボア120により受け入れられる。ボ
ア120はキー・プレート40を貫通し、キー・プレート面62からコネクタ・
ブロック32を貫通してピン表面68に出る。ピン・ブロック34内の各ボア1
22は、各ボア120と整列される。スプリング118が先ずボア122内に装
填されると共に、ピン116がそれに続く。ピン116の回りには保持リング1
24が挿入され、コネクタ・ブロック32とピン・ブロック34との間に配置さ
れる。保持リング124によりピン116は、面60に向けてボア120、12
2から引抜かれるのが防止される。リング124は、ピン116がスプリング1
18と接触すると共にボア120を貫通延在しキー・プレート40から面60に
向けて突出する如く、ピン116上に位置決めされる。
ピン116および対応する複数の圧縮スプリング118も含んでいる。各ピン1
16はたとえば、青銅、鋼鉄もしくはアルミニウム、または、他の任意の適切な
材料から作成され得る。ピン116は、各ボア120により受け入れられる。ボ
ア120はキー・プレート40を貫通し、キー・プレート面62からコネクタ・
ブロック32を貫通してピン表面68に出る。ピン・ブロック34内の各ボア1
22は、各ボア120と整列される。スプリング118が先ずボア122内に装
填されると共に、ピン116がそれに続く。ピン116の回りには保持リング1
24が挿入され、コネクタ・ブロック32とピン・ブロック34との間に配置さ
れる。保持リング124によりピン116は、面60に向けてボア120、12
2から引抜かれるのが防止される。リング124は、ピン116がスプリング1
18と接触すると共にボア120を貫通延在しキー・プレート40から面60に
向けて突出する如く、ピン116上に位置決めされる。
【0030】
図3を参照すると試験装置30は、Pacini等に対する米国特許第5,8
71,373号に記述されたコネクタなどの電気コネクタ130を受け入れ得る
。電気コネクタ130はコネクタ・ブロック32内に設置される。摺動ゲート3
8は電気コネクタ130を保持する。常閉でスプリング負荷された摺動ゲート3
8は、好適にはアルミニウムから作成された矩形フレームである。摺動ゲート3
8は、複数の面取りキー溝132を含む。
71,373号に記述されたコネクタなどの電気コネクタ130を受け入れ得る
。電気コネクタ130はコネクタ・ブロック32内に設置される。摺動ゲート3
8は電気コネクタ130を保持する。常閉でスプリング負荷された摺動ゲート3
8は、好適にはアルミニウムから作成された矩形フレームである。摺動ゲート3
8は、複数の面取りキー溝132を含む。
【0031】
図3に示された如く、摺動ゲート38は常閉位置に在ると共に4個の面取りキ
ー溝132を含んでいる。各面取りキー溝132には、コネクタ・ブロック32
の対応キー溝70が連携される。摺動ゲート38の常閉位置を達成すべく、面取
りキー溝132は対応キー溝70から僅かにオフセットされる。
ー溝132を含んでいる。各面取りキー溝132には、コネクタ・ブロック32
の対応キー溝70が連携される。摺動ゲート38の常閉位置を達成すべく、面取
りキー溝132は対応キー溝70から僅かにオフセットされる。
【0032】
電気コネクタ130をコネクタ・ブロック32内に装填すべく、該電気コネク
タ130は摺動ゲート38内に挿入される。図5および図11を参照すると電気
コネクタ130は、絶縁体ハウジング140と、該ハウジング140から突出す
る複数の突起142を含む。図3を参照すると電気コネクタ130は、各突起1
42が各面取りキー溝132と接触結合するまでコネクタ・ブロック32内に挿
入され得る。
タ130は摺動ゲート38内に挿入される。図5および図11を参照すると電気
コネクタ130は、絶縁体ハウジング140と、該ハウジング140から突出す
る複数の突起142を含む。図3を参照すると電気コネクタ130は、各突起1
42が各面取りキー溝132と接触結合するまでコネクタ・ブロック32内に挿
入され得る。
【0033】
各突起142は各面取りキー溝132と物理接触すると共にキー溝132に対
して当接掛止する。各面取りキー溝132は、電気コネクタ130に対して長手
方向に付与された設置力を、ゲート38に横方向に付与される摺動力に変換する
。これによりゲート38は図2に示された如く開放方向144に並進する。故に
トグル100およびレバー102も並進してスプリング104を圧縮する。
して当接掛止する。各面取りキー溝132は、電気コネクタ130に対して長手
方向に付与された設置力を、ゲート38に横方向に付与される摺動力に変換する
。これによりゲート38は図2に示された如く開放方向144に並進する。故に
トグル100およびレバー102も並進してスプリング104を圧縮する。
【0034】
電気コネクタ130を更に挿入すると、各面取りキー溝132が各キー溝70
と整列されるまでゲート38は並進し続ける。電気コネクタ130は、ゲート3
8を貫通し得る。各突起142が摺動ゲート38を貫通したなら、各突起142
は各キー溝132に対する当接掛止を終了する。スプリング104はレバー10
2に対して力を及ぼす。これによりスプリング104のスプリング力は、戻り方
向146において摺動ゲート38をその常閉位置へと復帰させる。
と整列されるまでゲート38は並進し続ける。電気コネクタ130は、ゲート3
8を貫通し得る。各突起142が摺動ゲート38を貫通したなら、各突起142
は各キー溝132に対する当接掛止を終了する。スプリング104はレバー10
2に対して力を及ぼす。これによりスプリング104のスプリング力は、戻り方
向146において摺動ゲート38をその常閉位置へと復帰させる。
【0035】
図5、図6および図14を参照すると、電気コネクタ130の絶縁体ハウジン
グ140は各突起146を含む。コネクタ・ブロック32内への電気コネクタ1
30の挿入の間、各突起146は各ピン116に係合すると共に該各ピン116
をピン・ブロック34に向けて移動することで各スプリング118を圧縮する。
各ピン116は設置された電気コネクタ130を押圧し、力はコネクタ・ブロッ
ク32の面60に付与される。閉鎖されたゲート38は、電気コネクタ130を
保持する。各面取りキー溝132は、各キー溝132が面60に向けて開口する
如く面取りされる。電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内に設置され
たなら、図3に示された如く各突起142は干渉的にゲート38と係合する。こ
れにより各ピン116は圧縮位置に留まる一方、電気コネクタ130はコネクタ
・ブロック32内に設置され且つゲート38は閉鎖される。
グ140は各突起146を含む。コネクタ・ブロック32内への電気コネクタ1
30の挿入の間、各突起146は各ピン116に係合すると共に該各ピン116
をピン・ブロック34に向けて移動することで各スプリング118を圧縮する。
各ピン116は設置された電気コネクタ130を押圧し、力はコネクタ・ブロッ
ク32の面60に付与される。閉鎖されたゲート38は、電気コネクタ130を
保持する。各面取りキー溝132は、各キー溝132が面60に向けて開口する
如く面取りされる。電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内に設置され
たなら、図3に示された如く各突起142は干渉的にゲート38と係合する。こ
れにより各ピン116は圧縮位置に留まる一方、電気コネクタ130はコネクタ
・ブロック32内に設置され且つゲート38は閉鎖される。
【0036】
図12を参照すると、コネクタ部分88は頂部表面150、底部表面152お
よび各側部表面154を含んでいる。図13を参照すると、設置された電気コネ
クタ130の絶縁体ハウジング140は、表面150、152、154、キー・
プレート40およびゲート38に対して密接に連携される。これにより電気コネ
クタ130はコネクタ・ブロック32内の所定位置に保持されると共に実質的に
固定配向で保持される。
よび各側部表面154を含んでいる。図13を参照すると、設置された電気コネ
クタ130の絶縁体ハウジング140は、表面150、152、154、キー・
プレート40およびゲート38に対して密接に連携される。これにより電気コネ
クタ130はコネクタ・ブロック32内の所定位置に保持されると共に実質的に
固定配向で保持される。
【0037】
図14を参照すると、電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内に設置
されたとき、面60からはバックプレート156が僅かに突出する。バックプレ
ート156は、絶縁体ハウジング140に取付けられる。図3を参照すると、コ
ネクタ・ブロック32内に設置された電気コネクタ130のバックプレート15
6は、ゲート38を介してアクセス可能である。バックプレート156は、電気
コネクタ130内への設置のために各終端ワイヤを受け入れる。
されたとき、面60からはバックプレート156が僅かに突出する。バックプレ
ート156は、絶縁体ハウジング140に取付けられる。図3を参照すると、コ
ネクタ・ブロック32内に設置された電気コネクタ130のバックプレート15
6は、ゲート38を介してアクセス可能である。バックプレート156は、電気
コネクタ130内への設置のために各終端ワイヤを受け入れる。
【0038】
図14を参照すると、ゲート38は設置された電気コネクタ130に対して各
突起142にて接触結合する。ゲート38と各突起142との間の前記接触結合
により、均一な保持力が提供される。各突起142は各箇所158にて干渉的に
ゲート38に係合する。ゲート38は、各箇所158にて電気コネクタ130に
対し保持力を付与する。各箇所158は、該各箇所158が少なくとも2つの異
なる軸心に沿って配置される如く配置構成される。故に各箇所158は、電気コ
ネクタ130に対し少なくとも2つの軸心に沿って保持力を及ぼす。
突起142にて接触結合する。ゲート38と各突起142との間の前記接触結合
により、均一な保持力が提供される。各突起142は各箇所158にて干渉的に
ゲート38に係合する。ゲート38は、各箇所158にて電気コネクタ130に
対し保持力を付与する。各箇所158は、該各箇所158が少なくとも2つの異
なる軸心に沿って配置される如く配置構成される。故に各箇所158は、電気コ
ネクタ130に対し少なくとも2つの軸心に沿って保持力を及ぼす。
【0039】
各箇所158にてゲート38により電気コネクタ130に対して及ぼされる保
持力により、電気コネクタ130は安定化されると共にバックプレート156を
貫通したワイヤ設置は容易化される。先行技術の試験装置は、電気コネクタの一
側すなわちひとつの軸心に沿ってのみ保持力を付与していた。故に先行技術の試
験装置では電気コネクタが不適切に整列されて、電気コネクタ内へのワイヤ・ア
センブリの挿入を阻害し且つ電気コネクタの配向に依存する試験結果および組立
て処理に影響する可能性があった。
持力により、電気コネクタ130は安定化されると共にバックプレート156を
貫通したワイヤ設置は容易化される。先行技術の試験装置は、電気コネクタの一
側すなわちひとつの軸心に沿ってのみ保持力を付与していた。故に先行技術の試
験装置では電気コネクタが不適切に整列されて、電気コネクタ内へのワイヤ・ア
センブリの挿入を阻害し且つ電気コネクタの配向に依存する試験結果および組立
て処理に影響する可能性があった。
【0040】
図2および図4を参照すると、試験装置30は異なる型式の電気コネクタを試
験すべく使用され得る。キー・プレート40によれば確実に、適切な型式の電気
コネクタが選択されて試験される。キー・プレート40は、ひとつの型式のコネ
クタのみを受け入れるべくキー設定される。キー・プレート40はたとえば、樹
脂含浸ガラス繊維、アルミニウム、鋼鉄またはポリエステルなどの任意の適切な
材料から作成され得る。キー・プレート40は、各ネジ92によりコネクタ・ブ
ロック32内に取付けられると共に、異なる型式の電気コネクタを受け入れ得る
別のキー・プレートと交換され得る。キー・プレートは、試験されるべき各型式
のコネクタに対して作成され得る。目印158により、ひとつのキー・プレート
は別のキー・プレートから区別され得る。
験すべく使用され得る。キー・プレート40によれば確実に、適切な型式の電気
コネクタが選択されて試験される。キー・プレート40は、ひとつの型式のコネ
クタのみを受け入れるべくキー設定される。キー・プレート40はたとえば、樹
脂含浸ガラス繊維、アルミニウム、鋼鉄またはポリエステルなどの任意の適切な
材料から作成され得る。キー・プレート40は、各ネジ92によりコネクタ・ブ
ロック32内に取付けられると共に、異なる型式の電気コネクタを受け入れ得る
別のキー・プレートと交換され得る。キー・プレートは、試験されるべき各型式
のコネクタに対して作成され得る。目印158により、ひとつのキー・プレート
は別のキー・プレートから区別され得る。
【0041】
図4を参照すると、キー・プレート40は複数のキー溝160、162、16
4、166を含む。図5を参照すると、電気コネクタ130の絶縁体ハウジング
140は複数のリブ170、172、174、176を含む。リブ170、17
2、174、176の個数および間隔は、前記コネクタに対して方向性を与え得
ると共に、特定のワイヤ配置構成を有するコネクタを識別すべく使用され得る。
4、166を含む。図5を参照すると、電気コネクタ130の絶縁体ハウジング
140は複数のリブ170、172、174、176を含む。リブ170、17
2、174、176の個数および間隔は、前記コネクタに対して方向性を与え得
ると共に、特定のワイヤ配置構成を有するコネクタを識別すべく使用され得る。
【0042】
図2、図4および図5を参照すると、キー溝160、162、164、166
は夫々、方向性化リブ170、172、174、176と対応する。キー・プレ
ート40上のキー溝160、162、164、166はリブ170、172、1
74、176と夫々整合すると共に、電気コネクタ130がひとつの配向におい
てのみ挿入されるのを許容することで、試験装置30に対する合致係合方向性を
提供する。
は夫々、方向性化リブ170、172、174、176と対応する。キー・プレ
ート40上のキー溝160、162、164、166はリブ170、172、1
74、176と夫々整合すると共に、電気コネクタ130がひとつの配向におい
てのみ挿入されるのを許容することで、試験装置30に対する合致係合方向性を
提供する。
【0043】
図11、図12、図13および図14を参照すると試験装置30は、電気コネ
クタ130がボルト180および各補助ロック182を含むことを確認すべく使
用され得る。図7を参照するとピン・ブロック34は、ボルト検出スィッチ18
4、一対の補助ロック検出スィッチ186、テスト面188、ならびに、裏面1
90およびボア192を含む。前記ピン・ブロックは、たとえば、アセタール、
ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材料から作成され得るが、デラ
ウェア州、ウィルミントンのDuPontエンジニアリング・ポリマ社製のDe
lrin(登録商標)はアセタールの特定例である。スィッチ184は、一対の
端部194、196を含む。スィッチ186は、一対の端部198、200を含
む。
クタ130がボルト180および各補助ロック182を含むことを確認すべく使
用され得る。図7を参照するとピン・ブロック34は、ボルト検出スィッチ18
4、一対の補助ロック検出スィッチ186、テスト面188、ならびに、裏面1
90およびボア192を含む。前記ピン・ブロックは、たとえば、アセタール、
ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材料から作成され得るが、デラ
ウェア州、ウィルミントンのDuPontエンジニアリング・ポリマ社製のDe
lrin(登録商標)はアセタールの特定例である。スィッチ184は、一対の
端部194、196を含む。スィッチ186は、一対の端部198、200を含
む。
【0044】
スィッチ184、186はたとえば、ピン・ブロック34との摩擦嵌めにより
ピン・ブロック34に取付けられる。スィッチ184はボア192と整列される
と共に、端部194、196が夫々ボア192内に突出して裏面190から離間
する如く位置せしめられる。各スィッチ186は、端部198、200が面18
8、190から夫々離間突出する如く位置せしめられる。
ピン・ブロック34に取付けられる。スィッチ184はボア192と整列される
と共に、端部194、196が夫々ボア192内に突出して裏面190から離間
する如く位置せしめられる。各スィッチ186は、端部198、200が面18
8、190から夫々離間突出する如く位置せしめられる。
【0045】
診断機能を実施すべく、試験装置30のスィッチ184、186は遠隔ロジッ
ク・アナライザに電気的に結線される。端部196、200は、前記アナライザ
に接続された各ワイヤに対して半田付けなどで接続され得る。故に試験動作は、
前記アナライザを介して電気的に行われる。スィッチ184、186は、スプリ
ング負荷されたピン・スィッチである。端部194、198はスプリング負荷さ
れると共に、端部194、198が端部196、200に夫々接近移動する如く
長手方向に圧縮され得る。端部194、198が所定量だけ圧縮されたなら、ス
ィッチ184、186に亙る電気的連続性が確立される。
ク・アナライザに電気的に結線される。端部196、200は、前記アナライザ
に接続された各ワイヤに対して半田付けなどで接続され得る。故に試験動作は、
前記アナライザを介して電気的に行われる。スィッチ184、186は、スプリ
ング負荷されたピン・スィッチである。端部194、198はスプリング負荷さ
れると共に、端部194、198が端部196、200に夫々接近移動する如く
長手方向に圧縮され得る。端部194、198が所定量だけ圧縮されたなら、ス
ィッチ184、186に亙る電気的連続性が確立される。
【0046】
図13および図14を参照すると、試験装置30は電気コネクタ130を検査
することで、ボルト180が存在してコネクタ130に機械的に固定されている
ことを確認し得る。電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内に挿入され
たとき、ボルト180はスィッチ184と接触する。図14に示された如くスィ
ッチ184は、点線185により示された開放位置から実線により示された閉鎖
位置へと移動する。スィッチ184のスプリング力は、ボルト180に対して特
定の抵抗を与えるサイズとされる。もしボルト180が正しく位置されて前記ス
プリング力を克服すべく機械的に固定されたなら、スィッチ184は閉鎖され、
ボルト180が存在して固定されたことを前記アナライザに信号通知する。
することで、ボルト180が存在してコネクタ130に機械的に固定されている
ことを確認し得る。電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内に挿入され
たとき、ボルト180はスィッチ184と接触する。図14に示された如くスィ
ッチ184は、点線185により示された開放位置から実線により示された閉鎖
位置へと移動する。スィッチ184のスプリング力は、ボルト180に対して特
定の抵抗を与えるサイズとされる。もしボルト180が正しく位置されて前記ス
プリング力を克服すべく機械的に固定されたなら、スィッチ184は閉鎖され、
ボルト180が存在して固定されたことを前記アナライザに信号通知する。
【0047】
米国特許第5,871,373号に記述された如く、各補助ロック182は絶
縁体ハウジング140に取付けられる。各補助ロック182は、各終端ワイヤを
電気コネクタ130に機械的に固定するのを助力する。各補助ロック182は絶
縁体ハウジング140に対し、ワイヤ装填用の事前開放位置で取付けられ得る。
前記開放位置において各補助ロック182はハウジング140により保持される
が、ハウジング140内には部分的にのみ挿入される。各補助ロック182が前
記開放位置に在るとき、各ワイヤは電気コネクタ130内に挿入され得る。各補
助ロック182が前記閉鎖位置に在るとき、各ワイヤは電気コネクタ130内に
挿入され得ない。試験装置30によれば、電気コネクタ130の各補助ロック1
82が存在すると共に該補助ロック182がワイヤ装填用の事前開放位置に在る
ことが確実とされ得る。
縁体ハウジング140に取付けられる。各補助ロック182は、各終端ワイヤを
電気コネクタ130に機械的に固定するのを助力する。各補助ロック182は絶
縁体ハウジング140に対し、ワイヤ装填用の事前開放位置で取付けられ得る。
前記開放位置において各補助ロック182はハウジング140により保持される
が、ハウジング140内には部分的にのみ挿入される。各補助ロック182が前
記開放位置に在るとき、各ワイヤは電気コネクタ130内に挿入され得る。各補
助ロック182が前記閉鎖位置に在るとき、各ワイヤは電気コネクタ130内に
挿入され得ない。試験装置30によれば、電気コネクタ130の各補助ロック1
82が存在すると共に該補助ロック182がワイヤ装填用の事前開放位置に在る
ことが確実とされ得る。
【0048】
電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内に挿入されたとき、各補助ロ
ック182は各スィッチ186と接触する。図14に示された如くスィッチ18
6は、点線187により示された開放位置から、実線により示された閉鎖位置へ
と移動する。各スィッチ186のスプリング力は、各補助ロック182が各端部
186を圧縮し得るが各補助ロック182は各スィッチ186により前記閉鎖位
置へと付勢されはしない様に、各補助ロック182に対して特定の抵抗を与える
サイズとされる。もし各補助ロック182が前記開放位置に正しく位置されたな
ら、各スィッチ186が閉鎖して、補助ロック182が存在して前記開放位置に
在ることを前記アナライザに信号通知する。
ック182は各スィッチ186と接触する。図14に示された如くスィッチ18
6は、点線187により示された開放位置から、実線により示された閉鎖位置へ
と移動する。各スィッチ186のスプリング力は、各補助ロック182が各端部
186を圧縮し得るが各補助ロック182は各スィッチ186により前記閉鎖位
置へと付勢されはしない様に、各補助ロック182に対して特定の抵抗を与える
サイズとされる。もし各補助ロック182が前記開放位置に正しく位置されたな
ら、各スィッチ186が閉鎖して、補助ロック182が存在して前記開放位置に
在ることを前記アナライザに信号通知する。
【0049】
前記アナライザは、ボルト180および各補助ロック182の特性が試験され
るまで電気コネクタ130に関する更なる試験が行われ得る如くプログラムされ
得る。換言すると前記アナライザは、スィッチ184、186が起動されるまで
は付加的試験を実施しない様にプログラムされ得る。
るまで電気コネクタ130に関する更なる試験が行われ得る如くプログラムされ
得る。換言すると前記アナライザは、スィッチ184、186が起動されるまで
は付加的試験を実施しない様にプログラムされ得る。
【0050】
図15を参照すると、ボルト検出スィッチ184および各補助ロック検出スィ
ッチ186の両者が起動されたなら、試験装置30の操作者は電気コネクタ13
0を結線し得る。電気コネクタ130は、バックプレート156を介して終端ワ
イヤ・アセンブリ210、212、214を受け入れ得る。図3および図15を
参照すると、前記バックプレートは開孔216の配列を含む。各開孔216は、
ワイヤ・アセンブリを受け入れ得る。バックプレート156は、目印218、2
20を含み得る。電気コネクタ130は、所定の結線配置構成に追随すべく目印
218、220を用いて結線され得る。
ッチ186の両者が起動されたなら、試験装置30の操作者は電気コネクタ13
0を結線し得る。電気コネクタ130は、バックプレート156を介して終端ワ
イヤ・アセンブリ210、212、214を受け入れ得る。図3および図15を
参照すると、前記バックプレートは開孔216の配列を含む。各開孔216は、
ワイヤ・アセンブリを受け入れ得る。バックプレート156は、目印218、2
20を含み得る。電気コネクタ130は、所定の結線配置構成に追随すべく目印
218、220を用いて結線され得る。
【0051】
図15を参照すると、ワイヤ・アセンブリ210、212、214は各々、接
点230により終端されたワイヤ228を含むと共に、開孔216を介して電気
コネクタ130のハウジング140内に挿入され得る。ハウジング140は各開
口234および固定タブ235、236、237を含み、ひとつの開口およびひ
とつの固定タブが各開孔216に対するものである。開口234は、接点230
をひとつの特定配向に正しく整列すべく溝238を含む。固定タブ235、23
6、237は各々、傾斜部240を含む。傾斜部240は接点230に係合し得
る。各接点230は、傾斜部240を受け入れ得る開口244を含む。
点230により終端されたワイヤ228を含むと共に、開孔216を介して電気
コネクタ130のハウジング140内に挿入され得る。ハウジング140は各開
口234および固定タブ235、236、237を含み、ひとつの開口およびひ
とつの固定タブが各開孔216に対するものである。開口234は、接点230
をひとつの特定配向に正しく整列すべく溝238を含む。固定タブ235、23
6、237は各々、傾斜部240を含む。傾斜部240は接点230に係合し得
る。各接点230は、傾斜部240を受け入れ得る開口244を含む。
【0052】
ピン・ブロック34に向けて接点230を挿入する間、該接点230はワイヤ
・アセンブリ214により示された如く傾斜部240と係合する。故に接点23
0の挿入を継続すると、ワイヤ・アセンブリ210により示された如く固定タブ
235は開口234から外方に撓曲される。接点230がピン・ブロック34に
向けて移動を継続すると、傾斜部240はワイヤ・アセンブリ212により示さ
れた如く接点230内の開口244に係合する。接点230がピン・ブロック3
4に向けて移動するのは、停止部246により防止される。これにより接点23
0の開口244および固定タブ236の傾斜部240は、接点230が電気コネ
クタ130から引き抜かれるのを防止する。
・アセンブリ214により示された如く傾斜部240と係合する。故に接点23
0の挿入を継続すると、ワイヤ・アセンブリ210により示された如く固定タブ
235は開口234から外方に撓曲される。接点230がピン・ブロック34に
向けて移動を継続すると、傾斜部240はワイヤ・アセンブリ212により示さ
れた如く接点230内の開口244に係合する。接点230がピン・ブロック3
4に向けて移動するのは、停止部246により防止される。これにより接点23
0の開口244および固定タブ236の傾斜部240は、接点230が電気コネ
クタ130から引き抜かれるのを防止する。
【0053】
図15乃至図21を参照すると、電気コネクタ130が結線されたなら、試験
装置30は診断モードとされ得る。前記診断モードにおいて試験装置30は電気
コネクタ30を検査することにより、前記開孔の配列における適切な位置に完全
固定接点が配置された各ワイヤ・アセンブリを電気コネクタ30が有すること、
および、コネクタ130は前記閉鎖位置に在る各補助ロック182を有すること
を確認し得る。
装置30は診断モードとされ得る。前記診断モードにおいて試験装置30は電気
コネクタ30を検査することにより、前記開孔の配列における適切な位置に完全
固定接点が配置された各ワイヤ・アセンブリを電気コネクタ30が有すること、
および、コネクタ130は前記閉鎖位置に在る各補助ロック182を有すること
を確認し得る。
【0054】
図1、図3および図6を参照すると挿入アセンブリ42は、ハンドル250、
一対のサイド・バー252、一対のサイド・リンク254およびスプリング部材
258、260を含む。両サイド・バー252は一対の端部264、266を含
む。各サイド・バー252は、たとえば鋼鉄、または、他の任意の適切な金属も
しくは適切なプラスチックから作成され得る。各サイド・バー252はコネクタ
・ブロック32の各端部264に対し、各位置合せピン268により取付けられ
る。ハンドル250は、各端部266にて各サイド・バー252に取付けられる
。ハンドル250は、各サイド・バー252間に配置される。ハンドル250は
、たとえばアルミニウム、または他の任意の適切な金属または適切なプラスチッ
クにより作成され得る。各サイド・バー252およびハンドル250は各端部2
64の回りで回転し得る。
一対のサイド・バー252、一対のサイド・リンク254およびスプリング部材
258、260を含む。両サイド・バー252は一対の端部264、266を含
む。各サイド・バー252は、たとえば鋼鉄、または、他の任意の適切な金属も
しくは適切なプラスチックから作成され得る。各サイド・バー252はコネクタ
・ブロック32の各端部264に対し、各位置合せピン268により取付けられ
る。ハンドル250は、各端部266にて各サイド・バー252に取付けられる
。ハンドル250は、各サイド・バー252間に配置される。ハンドル250は
、たとえばアルミニウム、または他の任意の適切な金属または適切なプラスチッ
クにより作成され得る。各サイド・バー252およびハンドル250は各端部2
64の回りで回転し得る。
【0055】
図1および図11を参照すると、各サイド・バー252はコネクタ・ブロック
32上の各テーパ溝270内に配置される。溝270は、壁部272、274を
含む。該壁部272、274は、該壁部272、274の高さが各サイド・バー
252の厚みと実質的に等しくなる如きサイズとされる。各サイド・バー252
およびハンドル250は、壁部272、274により描かれる円弧内において各
端部264の回りで回転し得る。
32上の各テーパ溝270内に配置される。溝270は、壁部272、274を
含む。該壁部272、274は、該壁部272、274の高さが各サイド・バー
252の厚みと実質的に等しくなる如きサイズとされる。各サイド・バー252
およびハンドル250は、壁部272、274により描かれる円弧内において各
端部264の回りで回転し得る。
【0056】
図1を参照すると、両サイド・リンク254は一対の端部278、280を含
む。各サイド・リンク254はたとえば鋼鉄または他の任意の適切な金属または
適切なプラスチックにより作成され得る。サイド・リンク252に対してサイド
・バー252が回転し得ると共にサイド・リンク254は試験装置30の長手軸
心に実質的に平行な軸心に沿って並進し得る如く、一方のサイド・リンク254
は位置合せピン282により端部278にてサイド・バー252に取付けられる
。サイド・リンク254の端部280は、摺動ブロック36に取付けられる。
む。各サイド・リンク254はたとえば鋼鉄または他の任意の適切な金属または
適切なプラスチックにより作成され得る。サイド・リンク252に対してサイド
・バー252が回転し得ると共にサイド・リンク254は試験装置30の長手軸
心に実質的に平行な軸心に沿って並進し得る如く、一方のサイド・リンク254
は位置合せピン282により端部278にてサイド・バー252に取付けられる
。サイド・リンク254の端部280は、摺動ブロック36に取付けられる。
【0057】
図6および図13を参照すると、摺動ブロック36とピン・ブロック34は相
関されるがピン・ブロック34は摺動ブロック36から独立して移動し得る如く
、摺動ブロック36はピン・ブロック34と連携される。摺動ブロック36は、
たとえば、アセタール、ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材料か
ら作成され得るが、デラウェア州、ウィルミントンのDuPontエンジニアリ
ング・ポリマ社製のDelrin(登録商標)はアセタールの特定例である。
関されるがピン・ブロック34は摺動ブロック36から独立して移動し得る如く
、摺動ブロック36はピン・ブロック34と連携される。摺動ブロック36は、
たとえば、アセタール、ナイロンまたはポリエステルなどの任意の適切な材料か
ら作成され得るが、デラウェア州、ウィルミントンのDuPontエンジニアリ
ング・ポリマ社製のDelrin(登録商標)はアセタールの特定例である。
【0058】
ボルト284、286は、摺動ブロック36、ピン・ブロック34およびコネ
クタ・ブロック32を相関させる。ボルト284は、摺動ブロック36、スプリ
ング部材260およびピン・ブロック34およびスプリング部材258を貫通す
ると共に、コネクタ・ブロック32に取付けられる。ボルト286はピン・ブロ
ック34およびスプリング部材260を貫通すると共に、摺動ブロック36に取
付けられる。ボルト284、286は夫々、ヘッド288、290を含む。
クタ・ブロック32を相関させる。ボルト284は、摺動ブロック36、スプリ
ング部材260およびピン・ブロック34およびスプリング部材258を貫通す
ると共に、コネクタ・ブロック32に取付けられる。ボルト286はピン・ブロ
ック34およびスプリング部材260を貫通すると共に、摺動ブロック36に取
付けられる。ボルト284、286は夫々、ヘッド288、290を含む。
【0059】
図9および図13を参照するとボルト284は、コネクタ・ブロック32に対
して該ボルト284が取付けられたときにスプリング部材258、260が部分
的に圧縮される如きサイズとされる。図10を参照すると、ヘッド288はボア
289内に挿入されると共に、干渉的に該ボア289に係合する。図9および図
13を参照するとヘッド288は、摺動ブロック36を保持すると共に、スプリ
ング部材258、260が緩和位置に復帰するのを防止する。これにより摺動ブ
ロック36は各ボルト284によりコネクタ・ブロック32から所定距離に保持
される。摺動ブロック36はスプリング部材258、260を圧縮することでコ
ネクタ・ブロック32に対して更に接近して移動し得る一方、コネクタ・ブロッ
ク32から突出するボルト284の長さ以上にコネクタ・ブロック32から更に
離間して進行することはできない。
して該ボルト284が取付けられたときにスプリング部材258、260が部分
的に圧縮される如きサイズとされる。図10を参照すると、ヘッド288はボア
289内に挿入されると共に、干渉的に該ボア289に係合する。図9および図
13を参照するとヘッド288は、摺動ブロック36を保持すると共に、スプリ
ング部材258、260が緩和位置に復帰するのを防止する。これにより摺動ブ
ロック36は各ボルト284によりコネクタ・ブロック32から所定距離に保持
される。摺動ブロック36はスプリング部材258、260を圧縮することでコ
ネクタ・ブロック32に対して更に接近して移動し得る一方、コネクタ・ブロッ
ク32から突出するボルト284の長さ以上にコネクタ・ブロック32から更に
離間して進行することはできない。
【0060】
ボルト286は、該ボルト286が摺動ブロック36に取付けられたときにス
プリング部材260が部分的に圧縮される如きサイズである。図7を参照すると
、ヘッド290はボア291内に挿入されて該ボア291と干渉的に係合し得る
。図6および図13を参照するとヘッド290は、ピン・ブロック34を保持す
ると共にスプリング部材260が緩和位置に復帰するのを防止する。これにより
ピン・ブロック34は各ボルト286により摺動ブロック36から所定距離に保
持される。ピン・ブロック34はスプリング部材260を圧縮することで摺動ブ
ロック36に対して更に接近して移動し得る一方、摺動ブロック36から突出す
るボルト286の長さ以上に摺動ブロック36から更に離間して進行することは
できない。
プリング部材260が部分的に圧縮される如きサイズである。図7を参照すると
、ヘッド290はボア291内に挿入されて該ボア291と干渉的に係合し得る
。図6および図13を参照するとヘッド290は、ピン・ブロック34を保持す
ると共にスプリング部材260が緩和位置に復帰するのを防止する。これにより
ピン・ブロック34は各ボルト286により摺動ブロック36から所定距離に保
持される。ピン・ブロック34はスプリング部材260を圧縮することで摺動ブ
ロック36に対して更に接近して移動し得る一方、摺動ブロック36から突出す
るボルト286の長さ以上に摺動ブロック36から更に離間して進行することは
できない。
【0061】
図16および図17を参照すると、コネクタ・ブロック32の面60に対して
ハンドル250を移動すると、各サイド・バー252が回転されると共に、各サ
イド・リンク254、摺動ブロック36およびピン・ブロック34はコネクタ・
ブロック32の面60に向けて並進されることによりスプリング部材258、2
60を圧縮する。
ハンドル250を移動すると、各サイド・バー252が回転されると共に、各サ
イド・リンク254、摺動ブロック36およびピン・ブロック34はコネクタ・
ブロック32の面60に向けて並進されることによりスプリング部材258、2
60を圧縮する。
【0062】
コネクタ・ブロック32の面60に向けてハンドル250を十分な距離だけ移
動することにより、試験装置30はワイヤ・アセンブリ診断モードに置かれ得る
。試験装置30は、完全固定された各ワイヤ・アセンブリ、適切なワイヤ・アセ
ンブリ位置および閉鎖された各補助ロックに関して電気コネクタ130を検査す
る。
動することにより、試験装置30はワイヤ・アセンブリ診断モードに置かれ得る
。試験装置30は、完全固定された各ワイヤ・アセンブリ、適切なワイヤ・アセ
ンブリ位置および閉鎖された各補助ロックに関して電気コネクタ130を検査す
る。
【0063】
図16乃至図21を参照すると、試験装置30はハンドル250を移動するこ
とでワイヤ・アセンブリ診断モードへと起動される。試験装置30は、電気コネ
クタ130の各補助ロック182を閉鎖すべく試行する。各補助ロック182が
閉鎖位置に到達したなら、試験装置30は電気コネクタ130内の全てのワイヤ
・アセンブリと個々に接触結合する。
とでワイヤ・アセンブリ診断モードへと起動される。試験装置30は、電気コネ
クタ130の各補助ロック182を閉鎖すべく試行する。各補助ロック182が
閉鎖位置に到達したなら、試験装置30は電気コネクタ130内の全てのワイヤ
・アセンブリと個々に接触結合する。
【0064】
図6および図7を参照するとピン・ブロック34は、ワイヤ・アセンブリ用ス
ィッチ294の配列を含む。スィッチ294はスプリング負荷ピン・スィッチで
あり、一対の端部296、298を含む。各スィッチ294はたとえばピン・ブ
ロック34との摩擦嵌めによりピン・ブロック34に取付けられる。各スィッチ
294は対応するワイヤ・アセンブリと整列する。端部296、298は、特定
寸法および特定形状にて面188、190から突出する。ハンドル250がコネ
クタ・ブロック32の面60に向けて十分な距離だけ移動されたなら、前記各ス
ィッチは前記ワイヤ・アセンブリの個々の接点と物理的に接触する。
ィッチ294の配列を含む。スィッチ294はスプリング負荷ピン・スィッチで
あり、一対の端部296、298を含む。各スィッチ294はたとえばピン・ブ
ロック34との摩擦嵌めによりピン・ブロック34に取付けられる。各スィッチ
294は対応するワイヤ・アセンブリと整列する。端部296、298は、特定
寸法および特定形状にて面188、190から突出する。ハンドル250がコネ
クタ・ブロック32の面60に向けて十分な距離だけ移動されたなら、前記各ス
ィッチは前記ワイヤ・アセンブリの個々の接点と物理的に接触する。
【0065】
診断機能を実施すべく、試験装置30の各スィッチ294は該試験装置30を
制御する遠隔ロジック・アナライザに電気的に結線され得る。各端部298は前
記アナライザに結線され得る。故に前記試験動作は前記アナライザに電気的に接
続される。前記各ワイヤ・アセンブリと前記アナライザとの間には各スィッチ2
94を介して電気連続性が確立される。各端部296が所定量だけ圧縮されたな
ら、各スィッチ294を介して電気的連続性が確立される。
制御する遠隔ロジック・アナライザに電気的に結線され得る。各端部298は前
記アナライザに結線され得る。故に前記試験動作は前記アナライザに電気的に接
続される。前記各ワイヤ・アセンブリと前記アナライザとの間には各スィッチ2
94を介して電気連続性が確立される。各端部296が所定量だけ圧縮されたな
ら、各スィッチ294を介して電気的連続性が確立される。
【0066】
図17、図18、図20および図21を参照するとピン・ブロック34は、該
ピン・ブロック34がワイヤ・アセンブリ210、212、214を試験すると
同時に電気コネクタ130の各補助ロック182を閉鎖する。先行技術は、移動
するもしくはスプリング負荷されたブロックを有さず、シーケンス化された移動
特徴を取入れてもいない。図18を参照すると、各スィッチ294は各補助ロッ
ク182における各開孔300とハウジング140における各開孔302とを貫
通する。ピン・ブロック34のテスト面188は電気コネクタ130の各補助ロ
ック182と接触し、各補助ロック182を閉鎖するには十分だがワイヤ・アセ
ンブリ210、212、214を損傷はしないという圧縮力を行使する。
ピン・ブロック34がワイヤ・アセンブリ210、212、214を試験すると
同時に電気コネクタ130の各補助ロック182を閉鎖する。先行技術は、移動
するもしくはスプリング負荷されたブロックを有さず、シーケンス化された移動
特徴を取入れてもいない。図18を参照すると、各スィッチ294は各補助ロッ
ク182における各開孔300とハウジング140における各開孔302とを貫
通する。ピン・ブロック34のテスト面188は電気コネクタ130の各補助ロ
ック182と接触し、各補助ロック182を閉鎖するには十分だがワイヤ・アセ
ンブリ210、212、214を損傷はしないという圧縮力を行使する。
【0067】
図15および図21を参照すると、補助ロック182は3個の棚状部303、
304、305を含んでいる。ハウジング140は、各棚状部304を受け入れ
得る各開口306を含んでいる。図21を参照すると、補助ロック182が完全
に挿入されたときに棚状部303、304、305は夫々、固定タブ235、2
36、237の近傍である。棚状部303、304、305は固定タブ235、
236、237が各開口306内に偏向して各接点230を解除するのを防止す
る。故に補助ロック182は、固定タブ235、236により保持された各接点
230の付加的な保持を提供する。
304、305を含んでいる。ハウジング140は、各棚状部304を受け入れ
得る各開口306を含んでいる。図21を参照すると、補助ロック182が完全
に挿入されたときに棚状部303、304、305は夫々、固定タブ235、2
36、237の近傍である。棚状部303、304、305は固定タブ235、
236、237が各開口306内に偏向して各接点230を解除するのを防止す
る。故に補助ロック182は、固定タブ235、236により保持された各接点
230の付加的な保持を提供する。
【0068】
図16を参照するとラッチ・アセンブリ44は、レバー310、圧縮スプリン
グ312および保持ポスト314、316を含んでいる。レバー310はコネク
タ・ブロック32に対して位置合せピン320によりピン止めされる。レバー3
10は、たとえば鋼鉄または他の任意の適切な金属または適切なプラスチックに
より作成され得る。レバー310は、ピン320の回りで回転し得る。レバー3
10は、チャネル106と、ピン・ブロック34上のチャネル318と、摺動ブ
ロック36上のチャネル319との内部に配置される。
グ312および保持ポスト314、316を含んでいる。レバー310はコネク
タ・ブロック32に対して位置合せピン320によりピン止めされる。レバー3
10は、たとえば鋼鉄または他の任意の適切な金属または適切なプラスチックに
より作成され得る。レバー310は、ピン320の回りで回転し得る。レバー3
10は、チャネル106と、ピン・ブロック34上のチャネル318と、摺動ブ
ロック36上のチャネル319との内部に配置される。
【0069】
図6を参照すると、レバー310はボア322を含んでいる。図16を参照す
ると、スプリング312はボア322内に保持されると共に、チャネル106の
第一の壁部112と係合する。レバー310は、段部324、326を含んでい
る。ポスト314はピン・ブロック34に取付けられる。ポスト314は、たと
えば鋼鉄、アルミニウムもしくは青銅、または他の任意の適切な金属または適切
なプラスチックにより作成され得る。ポスト314は、段部326と接触関係に
在る。レバー310に当接掛止することにより、ポスト314はスプリング31
2を圧縮位置に維持する。ポスト316は摺動ブロック36に取付けられる。ポ
スト316は、たとえば鋼鉄、アルミニウムもしくは青銅、または他の任意の適
切な金属または適切なプラスチックにより作成され得る。
ると、スプリング312はボア322内に保持されると共に、チャネル106の
第一の壁部112と係合する。レバー310は、段部324、326を含んでい
る。ポスト314はピン・ブロック34に取付けられる。ポスト314は、たと
えば鋼鉄、アルミニウムもしくは青銅、または他の任意の適切な金属または適切
なプラスチックにより作成され得る。ポスト314は、段部326と接触関係に
在る。レバー310に当接掛止することにより、ポスト314はスプリング31
2を圧縮位置に維持する。ポスト316は摺動ブロック36に取付けられる。ポ
スト316は、たとえば鋼鉄、アルミニウムもしくは青銅、または他の任意の適
切な金属または適切なプラスチックにより作成され得る。
【0070】
これに加え、レバー310は端部330、332を含んでいる。端部330、
332には夫々、停止部334、336が配置される。
332には夫々、停止部334、336が配置される。
【0071】
図16および図19を参照すると、ラッチ・アセンブリ44は、図20に示さ
れた方向333においてハンドル250をコネクタ・ブロック32の面60に向
けて移動することで、ラッチされ得る。ピン・ブロック34はコネクタ・ブロッ
ク32に向けて移動し、ポスト314を携行する。図19を参照すると段部32
4、326間には壁部342が配置される。ハンドル250は十分な距離だけ移
動されたなら、ポスト314は段部326および壁部342を越えて滑動する。
スプリング312はレバー310に作用し、レバー310は位置合せピン320
の回りで回転する。停止部334はレバー102と接触すると共に、段部340
はポスト316と接触する。
れた方向333においてハンドル250をコネクタ・ブロック32の面60に向
けて移動することで、ラッチされ得る。ピン・ブロック34はコネクタ・ブロッ
ク32に向けて移動し、ポスト314を携行する。図19を参照すると段部32
4、326間には壁部342が配置される。ハンドル250は十分な距離だけ移
動されたなら、ポスト314は段部326および壁部342を越えて滑動する。
スプリング312はレバー310に作用し、レバー310は位置合せピン320
の回りで回転する。停止部334はレバー102と接触すると共に、段部340
はポスト316と接触する。
【0072】
このラッチ位置において、停止部336は摺動ブロック36を保持する。停止
部336はポスト316と係合することにより、ハンドル250が解除された後
で摺動ブロック36がコネクタ・ブロック32から離間移動するのを防止する。
部336はポスト316と係合することにより、ハンドル250が解除された後
で摺動ブロック36がコネクタ・ブロック32から離間移動するのを防止する。
【0073】
図20および図21を参照すると、ラッチ・アセンブリ44が前記ラッチ位置
にもたらされたときにピン・ブロック34はコネクタ・ブロック32に関し、各
スィッチ294が前記各ワイヤ・アセンブリと接触結合し得る如き位置に在る。
換言すると、ラッチ・アセンブリ44によれば試験装置30は、前記ワイヤ診断
モードにおいて所定位置にラッチされ得る。ピン・ブロック34および摺動ブロ
ック36は、ハンドル250が解除されたとしてもワイヤ診断モードに留まる。
ラッチ・アセンブリ44がラッチされたとき、スプリング部材258、260は
圧縮される。
にもたらされたときにピン・ブロック34はコネクタ・ブロック32に関し、各
スィッチ294が前記各ワイヤ・アセンブリと接触結合し得る如き位置に在る。
換言すると、ラッチ・アセンブリ44によれば試験装置30は、前記ワイヤ診断
モードにおいて所定位置にラッチされ得る。ピン・ブロック34および摺動ブロ
ック36は、ハンドル250が解除されたとしてもワイヤ診断モードに留まる。
ラッチ・アセンブリ44がラッチされたとき、スプリング部材258、260は
圧縮される。
【0074】
図16、図17および図19を参照すると、ハンドル250はコネクタ・ブロ
ック32の面60に接近移動されてラッチ・アセンブリ44をラッチ解除し得る
。図19を参照すると、ポスト314、316は壁部342および停止部336
から夫々引き離される。図16、図17および図19を参照すると、レバー31
0からはラッチ解除ポスト348が突出する。図19を参照するとポスト348
はチャネル319の壁部350に向けて移動され、壁部342および停止部33
6が夫々ポスト314、316からオフセットされる如く、レバー310を回転
し得る。ポスト314、316は、コネクタ・ブロック32から拘束無しで離間
並進する。ハンドル250をコネクタ・ブロック32の面60から離間移動する
と、ポスト314は段部326に接近移動される。図16を参照すると、ポスト
314が壁部342を越えて移動されて段部326と整列されたなら、ラッチ・
アセンブリ44はラッチ解除されてポスト348は解除され得る。
ック32の面60に接近移動されてラッチ・アセンブリ44をラッチ解除し得る
。図19を参照すると、ポスト314、316は壁部342および停止部336
から夫々引き離される。図16、図17および図19を参照すると、レバー31
0からはラッチ解除ポスト348が突出する。図19を参照するとポスト348
はチャネル319の壁部350に向けて移動され、壁部342および停止部33
6が夫々ポスト314、316からオフセットされる如く、レバー310を回転
し得る。ポスト314、316は、コネクタ・ブロック32から拘束無しで離間
並進する。ハンドル250をコネクタ・ブロック32の面60から離間移動する
と、ポスト314は段部326に接近移動される。図16を参照すると、ポスト
314が壁部342を越えて移動されて段部326と整列されたなら、ラッチ・
アセンブリ44はラッチ解除されてポスト348は解除され得る。
【0075】
スプリング部材258、260はスプリング力をブロック34、36に及ぼし
、試験装置30を図1に示されたラッチ解除位置へ復帰させるのを支援し得る。
、試験装置30を図1に示されたラッチ解除位置へ復帰させるのを支援し得る。
【0076】
図16、図17および図18を参照すると試験装置30は、各接点230が固
定タブ235、236、237と適切に係合するか否かを検出し得る。図16は
、前記ラッチ解除位置に在る試験装置30を示している。ポスト314は、段部
326と接触関係に配置される。レバー310は、位置合せピン320の回りで
回転し得ない。
定タブ235、236、237と適切に係合するか否かを検出し得る。図16は
、前記ラッチ解除位置に在る試験装置30を示している。ポスト314は、段部
326と接触関係に配置される。レバー310は、位置合せピン320の回りで
回転し得ない。
【0077】
図17および図18を参照すると、固定タブ235は棚状部303と干渉接触
している。ワイヤ・アセンブリ210の開口244は、固定タブ235の傾斜部
240と整列されていない。結果として固定タブ235は、開口306内に更に
撓曲される。ハンドル250がコネクタ・ブロック32の面60に接近移動され
たとき、ピン・ブロック34は補助ロック182をハウジング140内に挿入す
べく作用している。棚状部303が固定タブ235と干渉接触に至ったなら、ピ
ン・ブロック34はコネクタ・ブロック32の面60に更に接近する様には引張
られ得ない。結果として、各スィッチ294は各接点230との接触関係に載置
され得ない。図16を参照すると、ポスト314は段部324と整列され得ない
。従ってラッチ・アセンブリ44は、ラッチされ得ない。故に試験装置30は、
機械的および電気的な信号を提供することで、部分的に挿入されたワイヤ・アセ
ンブリの存在を示す。ワイヤ・アセンブリ210の前記位置は当業界において”
短距離非着座ワイヤ(short−unseated wire)”と称される
こともある。
している。ワイヤ・アセンブリ210の開口244は、固定タブ235の傾斜部
240と整列されていない。結果として固定タブ235は、開口306内に更に
撓曲される。ハンドル250がコネクタ・ブロック32の面60に接近移動され
たとき、ピン・ブロック34は補助ロック182をハウジング140内に挿入す
べく作用している。棚状部303が固定タブ235と干渉接触に至ったなら、ピ
ン・ブロック34はコネクタ・ブロック32の面60に更に接近する様には引張
られ得ない。結果として、各スィッチ294は各接点230との接触関係に載置
され得ない。図16を参照すると、ポスト314は段部324と整列され得ない
。従ってラッチ・アセンブリ44は、ラッチされ得ない。故に試験装置30は、
機械的および電気的な信号を提供することで、部分的に挿入されたワイヤ・アセ
ンブリの存在を示す。ワイヤ・アセンブリ210の前記位置は当業界において”
短距離非着座ワイヤ(short−unseated wire)”と称される
こともある。
【0078】
もしラッチ・アセンブリ44がラッチしなければ、操作者は前記状況の解決を
試行する。操作者は、部分的に挿入された一切のワイヤ・アセンブリを完全に挿
入すべく、前記ワイヤ・アセンブリの全てを押圧する。次に操作者はハンドル2
50をコネクタ・ブロック32の面60に向けて移動し、ラッチ・アセンブリ4
4をラッチすべく試行する。故に試験装置30は、部分的に挿入されたワイヤ・
アセンブリを備えた電気コネクタの製造を減少する。
試行する。操作者は、部分的に挿入された一切のワイヤ・アセンブリを完全に挿
入すべく、前記ワイヤ・アセンブリの全てを押圧する。次に操作者はハンドル2
50をコネクタ・ブロック32の面60に向けて移動し、ラッチ・アセンブリ4
4をラッチすべく試行する。故に試験装置30は、部分的に挿入されたワイヤ・
アセンブリを備えた電気コネクタの製造を減少する。
【0079】
図19、図20および図21を参照すると、試験装置30は各接点230がハ
ウジング140内に適切に設置されたか否かを検出し得る。試験装置30は、前
記ワイヤ・アセンブリが機械的に十分な様式で且つ電気的に適切な配置で設置さ
れたことを確認し得る。図19は、前記ラッチ位置に在る試験装置30を示して
いる。
ウジング140内に適切に設置されたか否かを検出し得る。試験装置30は、前
記ワイヤ・アセンブリが機械的に十分な様式で且つ電気的に適切な配置で設置さ
れたことを確認し得る。図19は、前記ラッチ位置に在る試験装置30を示して
いる。
【0080】
図20および図21を参照すると、各補助ロック182はハウジング140内
に完全に挿入されている。固定タブ235、236、237は緩和位置に在ると
共に、各補助ロック182が完全に着座されるまで棚状部303、304、30
5が各開口306内で夫々並進するのを許容する。試験装置30は、ワイヤ診断
モードに在る。ワイヤ・アセンブリ210、212は両者ともに、各スィッチ2
94と接触を行う。結果として前記アナライザは、ワイヤ・アセンブリ210、
212の存在を確認し、該アセンブリ210、212が適切な配置構成に在るか
否かを決定する。
に完全に挿入されている。固定タブ235、236、237は緩和位置に在ると
共に、各補助ロック182が完全に着座されるまで棚状部303、304、30
5が各開口306内で夫々並進するのを許容する。試験装置30は、ワイヤ診断
モードに在る。ワイヤ・アセンブリ210、212は両者ともに、各スィッチ2
94と接触を行う。結果として前記アナライザは、ワイヤ・アセンブリ210、
212の存在を確認し、該アセンブリ210、212が適切な配置構成に在るか
否かを決定する。
【0081】
ワイヤ・アセンブリ214は、該アセンブリ214と連携する対応スィッチ2
94と接触しない。前記アナライザに対してアセンブリ215からの電気信号が
無いということは、不適切に設置されたワイヤ・アセンブリが存在することを示
している。前記ワイヤ・アセンブリ214の前記位置は当業界において”長距離
非着座ワイヤ(long−unseated wire)”と称されることもあ
る。故に試験装置30は、部分的に挿入されたワイヤ・アセンブリを備えた電気
コネクタの製造を減少する。
94と接触しない。前記アナライザに対してアセンブリ215からの電気信号が
無いということは、不適切に設置されたワイヤ・アセンブリが存在することを示
している。前記ワイヤ・アセンブリ214の前記位置は当業界において”長距離
非着座ワイヤ(long−unseated wire)”と称されることもあ
る。故に試験装置30は、部分的に挿入されたワイヤ・アセンブリを備えた電気
コネクタの製造を減少する。
【0082】
もし前記アナライザが、ワイヤ・アセンブリが存在しないこと又はワイヤ・ア
センブリが誤った箇所に在ることを表すなら、操作者は前記電気コネクタを除去
し得る。操作者は、電気コネクタ130の各ワイヤ・アセンブリが機械的および
電気的に正しくなるまで、前記アナライザにより提供される情報に従い前記各ワ
イヤ・アセンブリを再設置し得る。
センブリが誤った箇所に在ることを表すなら、操作者は前記電気コネクタを除去
し得る。操作者は、電気コネクタ130の各ワイヤ・アセンブリが機械的および
電気的に正しくなるまで、前記アナライザにより提供される情報に従い前記各ワ
イヤ・アセンブリを再設置し得る。
【0083】
図2、図3および図11を参照すると、解除アセンブリ46を起動すると電気
コネクタ130はコネクタ・ブロック32から取り外され得る。トグル100お
よびレバー102は、常閉の摺動ゲート38に取付けられる。圧縮スプリング1
04はレバー102に作用し、トグル100、レバー102および摺動ゲート3
8を付勢する。圧縮スプリング104は、摺動ゲート38の常閉位置を提供する
。トグル100を開放方向144に移動すると、スプリング104は圧縮されて
摺動ゲート38は開放される。
コネクタ130はコネクタ・ブロック32から取り外され得る。トグル100お
よびレバー102は、常閉の摺動ゲート38に取付けられる。圧縮スプリング1
04はレバー102に作用し、トグル100、レバー102および摺動ゲート3
8を付勢する。圧縮スプリング104は、摺動ゲート38の常閉位置を提供する
。トグル100を開放方向144に移動すると、スプリング104は圧縮されて
摺動ゲート38は開放される。
【0084】
各接触解除ピン116は、電気コネクタ取り外しの支援を行う。摺動ゲート3
8が開放されると、各面取りキー溝132は各キー溝70および各突起142と
整列される。各ピン116と連携する各圧縮スプリング118は電気コネクタ1
30にスプリング力を及ぼし、電気コネクタ130の各突起142をコネクタ・
ブロック32から押し出す。電気コネクタ130は、コネクタ・ブロック32か
ら容易に取り外され得る。
8が開放されると、各面取りキー溝132は各キー溝70および各突起142と
整列される。各ピン116と連携する各圧縮スプリング118は電気コネクタ1
30にスプリング力を及ぼし、電気コネクタ130の各突起142をコネクタ・
ブロック32から押し出す。電気コネクタ130は、コネクタ・ブロック32か
ら容易に取り外され得る。
【0085】
図2および図11を参照すると、試験装置30は前記開始位置に戻り移動する
と共に、コネクタ取り外し操作と同時に別の電気コネクタ130を受け入れる準
備ができている。トグル100が解除されたとき、スプリング104はレバー1
02、摺動ゲート38および該トグル100を付勢すべく作用する。故に摺動ゲ
ート38は、その常閉位置へと復帰せしめられる。
と共に、コネクタ取り外し操作と同時に別の電気コネクタ130を受け入れる準
備ができている。トグル100が解除されたとき、スプリング104はレバー1
02、摺動ゲート38および該トグル100を付勢すべく作用する。故に摺動ゲ
ート38は、その常閉位置へと復帰せしめられる。
【0086】
試験装置30は、もし適切な電気コネクタ試験シーケンスが辿られなければ試
験操作者に対し前記アナライザが電気的に信号通知する如く、該アナライザとイ
ンタフェースし得る。たとえば電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内
に挿入され乍らも前記ワイヤ診断モードが実行されなければ、前記アナライザは
作動停止すべくプログラムされ得る。
験操作者に対し前記アナライザが電気的に信号通知する如く、該アナライザとイ
ンタフェースし得る。たとえば電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内
に挿入され乍らも前記ワイヤ診断モードが実行されなければ、前記アナライザは
作動停止すべくプログラムされ得る。
【0087】
操作者がコネクタ・ブロック32の面60に向けてハンドル250を引張るシ
ーケンスを完了せずに電気コネクタ130を取り外したとしても、電気コネクタ
130はコネクタ・ブロック32から取り外され得ると共に、別の電気コネクタ
が機械的に設置され得る。但し、前記アナライザは作動停止する。操作者は、試
験装置30を使用するために前記アナライザをリセットせねばならない。
ーケンスを完了せずに電気コネクタ130を取り外したとしても、電気コネクタ
130はコネクタ・ブロック32から取り外され得ると共に、別の電気コネクタ
が機械的に設置され得る。但し、前記アナライザは作動停止する。操作者は、試
験装置30を使用するために前記アナライザをリセットせねばならない。
【0088】
電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内に設置されたとき、ボルト検
出スィッチ184および各補助ロック検出スィッチ182は閉鎖し、前記アナラ
イザに対して電気的に信号通知を行う。もしハンドル250がコネクタ・ブロッ
ク32の面60に向けて移動されなければ、ピン・ブロック34における各ワイ
ヤ・アセンブリ用スィッチ294はワイヤ・アセンブリ210、212、214
と物理的に接触しない。故に前記アナライザは、ワイヤ・アセンブリ配置構成の
状態に関する信号を受信しない。もし操作者がコネクタ・ブロック32から電気
コネクタ130を取り外したなら、ボルト検出スィッチ184および各補助ロッ
ク検出スィッチ186は開放し、前記アナライザに対する前記電気信号は停止す
る。前記アナライザは、スィッチ184、186が閉鎖されてから各ワイヤ・ア
センブリ用スィッチ294が該アナライザに対し介在信号を送信することなく引
き続き開放されたなら、作動停止すべくプログラムされ得る。
出スィッチ184および各補助ロック検出スィッチ182は閉鎖し、前記アナラ
イザに対して電気的に信号通知を行う。もしハンドル250がコネクタ・ブロッ
ク32の面60に向けて移動されなければ、ピン・ブロック34における各ワイ
ヤ・アセンブリ用スィッチ294はワイヤ・アセンブリ210、212、214
と物理的に接触しない。故に前記アナライザは、ワイヤ・アセンブリ配置構成の
状態に関する信号を受信しない。もし操作者がコネクタ・ブロック32から電気
コネクタ130を取り外したなら、ボルト検出スィッチ184および各補助ロッ
ク検出スィッチ186は開放し、前記アナライザに対する前記電気信号は停止す
る。前記アナライザは、スィッチ184、186が閉鎖されてから各ワイヤ・ア
センブリ用スィッチ294が該アナライザに対し介在信号を送信することなく引
き続き開放されたなら、作動停止すべくプログラムされ得る。
【0089】
この特徴により、診断されない電気コネクタが製造される可能性は減少される
。故に、顧客により拒絶される部品の個数は減少し、ゼロに近づく。先行技術は
、電気的な排除(lock−out)の特徴を提供していなかった。
。故に、顧客により拒絶される部品の個数は減少し、ゼロに近づく。先行技術は
、電気的な排除(lock−out)の特徴を提供していなかった。
【0090】
前記からは、特に上述の教示に鑑みれば、本発明の有効範囲もしくは精神から
逸脱することなく、開示された構造に対し改変および変更が為され得ることは理
解されよう。故に、本明細書中に記述かつ図示された特定実施例に関する限定は
企図されておらず、限定が推測されるべきでもない。実際、添付の請求の範囲は
本発明の有効範囲および精神に含まれる全ての改変および変更を包含することが
意図される。更に、本明細書中で引用された全ての公報および同時係属出願は、
言及したことによりその全てが本明細書中に援用される。
逸脱することなく、開示された構造に対し改変および変更が為され得ることは理
解されよう。故に、本明細書中に記述かつ図示された特定実施例に関する限定は
企図されておらず、限定が推測されるべきでもない。実際、添付の請求の範囲は
本発明の有効範囲および精神に含まれる全ての改変および変更を包含することが
意図される。更に、本明細書中で引用された全ての公報および同時係属出願は、
言及したことによりその全てが本明細書中に援用される。
【図1】
本発明の教示に従い構築された試験装置の側面図である。
【図2】
図1の試験装置の前面図である。
【図3】
電気コネクタが挿入された図2の前記試験装置の前面図である。
【図4】
キー・プレートの平面図である。
【図5】
前記電気コネクタの対応端面図である。
【図6】
前記試験装置の分解図である。
【図7】
図6の7−7線に沿った前記試験装置の断面図である。
【図8】
図6の8−8線に沿った前記試験装置の断面図である。
【図9】
前記試験装置のコネクタ・ブロックに向けて見た摺動ブロックの端面図である
。
。
【図10】
図9の10−10線に沿った前記摺動ブロックの断面図である。
【図11】
開放かつ負荷解除された前記試験装置と前記補助ロックが事前装填位置に在る
前記電気コネクタとの上部平面図である。
前記電気コネクタとの上部平面図である。
【図12】
図11の12−12線に沿った前記試験装置および電気コネクタの断面図であ
る。
る。
【図13】
図11の13−13線に沿った前記試験装置の断面図であるが、前記電気コネ
クタは前記試験装置に挿入されている。
クタは前記試験装置に挿入されている。
【図14】
図13に示された前記試験装置内に挿入された前記電気コネクタの部分的拡大
断面図である。
断面図である。
【図15】
図13における前記試験装置内に挿入された前記電気コネクタの部分的拡大断
面図であるが、該電気コネクタ内にはワイヤ・アセンブリが挿入されている。
面図であるが、該電気コネクタ内にはワイヤ・アセンブリが挿入されている。
【図16】
図13における前記試験装置および電気コネクタの上部平面図である。
【図17】
図16の17−17線に沿った前記試験装置および電気コネクタの断面図であ
る。
る。
【図18】
図17における前記試験装置内に挿入された前記電気コネクタの部分的拡大断
面図である。
面図である。
【図19】
前記試験装置および電気コネクタの上部平面図である。
【図20】
図19の20−20線に沿った前記試験装置および電気コネクタの断面図であ
る。
る。
【図21】
図20における前記試験装置内に挿入された前記電気コネクタの部分的拡大断
面図である。
面図である。
【手続補正書】
【提出日】平成14年4月11日(2002.4.11)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0048
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0048】
電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内に挿入されたとき、各補助ロ
ック182は各スィッチ186と接触する。図14に示された如くスィッチ18
6は、点線187により示された開放位置から、実線により示された閉鎖位置へ
と移動する。各スィッチ186のスプリング力は、各補助ロック182が各端部
189を圧縮し得るが各補助ロック182は各スィッチ186により前記閉鎖位
置へと付勢されはしない様に、各補助ロック182に対して特定の抵抗を与える
サイズとされる。もし各補助ロック182が前記開放位置に正しく位置されたな
ら、各スィッチ186が閉鎖して、補助ロック182が存在して前記開放位置に
在ることを前記アナライザに信号通知する。
ック182は各スィッチ186と接触する。図14に示された如くスィッチ18
6は、点線187により示された開放位置から、実線により示された閉鎖位置へ
と移動する。各スィッチ186のスプリング力は、各補助ロック182が各端部
189を圧縮し得るが各補助ロック182は各スィッチ186により前記閉鎖位
置へと付勢されはしない様に、各補助ロック182に対して特定の抵抗を与える
サイズとされる。もし各補助ロック182が前記開放位置に正しく位置されたな
ら、各スィッチ186が閉鎖して、補助ロック182が存在して前記開放位置に
在ることを前記アナライザに信号通知する。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0053
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0053】
図15乃至図21を参照すると、電気コネクタ130が結線されたなら、試験
装置30は診断モードとされ得る。前記診断モードにおいて試験装置30は電気
コネクタ130を検査することにより、前記開孔の配列における適切な位置に完
全固定接点が配置された各ワイヤ・アセンブリを電気コネクタ130が有するこ
と、および、コネクタ130は前記閉鎖位置に在る各補助ロック182を有する
ことを確認し得る。
装置30は診断モードとされ得る。前記診断モードにおいて試験装置30は電気
コネクタ130を検査することにより、前記開孔の配列における適切な位置に完
全固定接点が配置された各ワイヤ・アセンブリを電気コネクタ130が有するこ
と、および、コネクタ130は前記閉鎖位置に在る各補助ロック182を有する
ことを確認し得る。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0056
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0056】
図1を参照すると、両サイド・リンク254は一対の端部278、280を含
む。各サイド・リンク254はたとえば鋼鉄または他の任意の適切な金属または
適切なプラスチックにより作成され得る。サイド・リンク254に対してサイド
・バー252が回転し得ると共にサイド・リンク254は試験装置30の長手軸
心に実質的に平行な軸心に沿って並進し得る如く、一方のサイド・リンク254
は位置合せピン282により端部278にてサイド・バー252に取付けられる
。サイド・リンク254の端部280は、摺動ブロック36に取付けられる。
む。各サイド・リンク254はたとえば鋼鉄または他の任意の適切な金属または
適切なプラスチックにより作成され得る。サイド・リンク254に対してサイド
・バー252が回転し得ると共にサイド・リンク254は試験装置30の長手軸
心に実質的に平行な軸心に沿って並進し得る如く、一方のサイド・リンク254
は位置合せピン282により端部278にてサイド・バー252に取付けられる
。サイド・リンク254の端部280は、摺動ブロック36に取付けられる。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0067
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0067】
図15および図21を参照すると、補助ロック182は3個の棚状部303、
304、305を含んでいる。ハウジング140は、各棚状部303、304、
305を受け入れ得る各開口306を含んでいる。図21を参照すると、補助ロ
ック182が完全に挿入されたときに棚状部303、304、305は夫々、固
定タブ235、236、237の近傍である。棚状部303、304、305は
固定タブ235、236、237が各開口306内に偏向して各接点230を解
除するのを防止する。故に補助ロック182は、固定タブ235、236により
保持された各接点230の付加的な保持を提供する。
304、305を含んでいる。ハウジング140は、各棚状部303、304、
305を受け入れ得る各開口306を含んでいる。図21を参照すると、補助ロ
ック182が完全に挿入されたときに棚状部303、304、305は夫々、固
定タブ235、236、237の近傍である。棚状部303、304、305は
固定タブ235、236、237が各開口306内に偏向して各接点230を解
除するのを防止する。故に補助ロック182は、固定タブ235、236により
保持された各接点230の付加的な保持を提供する。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0081
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0081】
ワイヤ・アセンブリ214は、該アセンブリ214と連携する対応スィッチ2
94と接触しない。前記アナライザに対してワイヤ・アセンブリ214からの電
気信号が無いということは、不適切に設置されたワイヤ・アセンブリが存在する
ことを示している。前記ワイヤ・アセンブリ214の前記位置は当業界において
”長距離非着座ワイヤ(long−unseated wire)”と称される
こともある。故に試験装置30は、部分的に挿入されたワイヤ・アセンブリを備
えた電気コネクタの製造を減少する。
94と接触しない。前記アナライザに対してワイヤ・アセンブリ214からの電
気信号が無いということは、不適切に設置されたワイヤ・アセンブリが存在する
ことを示している。前記ワイヤ・アセンブリ214の前記位置は当業界において
”長距離非着座ワイヤ(long−unseated wire)”と称される
こともある。故に試験装置30は、部分的に挿入されたワイヤ・アセンブリを備
えた電気コネクタの製造を減少する。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0088
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0088】
電気コネクタ130がコネクタ・ブロック32内に設置されたとき、ボルト検
出スィッチ184および各補助ロック検出スィッチ186は閉鎖し、前記アナラ
イザに対して電気的に信号通知を行う。もしハンドル250がコネクタ・ブロッ
ク32の面60に向けて移動されなければ、ピン・ブロック34における各ワイ
ヤ・アセンブリ用スィッチ294はワイヤ・アセンブリ210、212、214
と物理的に接触しない。故に前記アナライザは、ワイヤ・アセンブリ配置構成の
状態に関する信号を受信しない。もし操作者がコネクタ・ブロック32から電気
コネクタ130を取り外したなら、ボルト検出スィッチ184および各補助ロッ
ク検出スィッチ186は開放し、前記アナライザに対する前記電気信号は停止す
る。前記アナライザは、スィッチ184、186が閉鎖されてから各ワイヤ・ア
センブリ用スィッチ294が該アナライザに対し介在信号を送信することなく引
き続き開放されたなら、作動停止すべくプログラムされ得る。
出スィッチ184および各補助ロック検出スィッチ186は閉鎖し、前記アナラ
イザに対して電気的に信号通知を行う。もしハンドル250がコネクタ・ブロッ
ク32の面60に向けて移動されなければ、ピン・ブロック34における各ワイ
ヤ・アセンブリ用スィッチ294はワイヤ・アセンブリ210、212、214
と物理的に接触しない。故に前記アナライザは、ワイヤ・アセンブリ配置構成の
状態に関する信号を受信しない。もし操作者がコネクタ・ブロック32から電気
コネクタ130を取り外したなら、ボルト検出スィッチ184および各補助ロッ
ク検出スィッチ186は開放し、前記アナライザに対する前記電気信号は停止す
る。前記アナライザは、スィッチ184、186が閉鎖されてから各ワイヤ・ア
センブリ用スィッチ294が該アナライザに対し介在信号を送信することなく引
き続き開放されたなら、作動停止すべくプログラムされ得る。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY,
DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I
T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ
,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML,
MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K
E,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ,UG
,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,
RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM,AT,
AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,BZ,C
A,CH,CN,CR,CU,CZ,DE,DK,DM
,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH,
GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,K
E,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS
,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN,
MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,PT,RO,R
U,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM
,TR,TT,TZ,UA,UG,UZ,VN,YU,
ZA,ZW
Fターム(参考) 2G014 AA01 AA14 AB24 AB38 AB60
AC08
5E051 GA09 GB10
【要約の続き】
電気コネクタ(130)の受け入れを再現する。
Claims (22)
- 【請求項1】 コネクタ面と、ピン表面と、コネクタ部分とを含むコネクタ
・ブロックであって、前記コネクタ面を介して前記コネクタ部分へと電気コネク
タを受容し得るコネクタ・ブロックと、 前記コネクタ・ブロックに摺動可能に取付けられた摺動ブロックと、 ピン表面と裏面とを含むピン・ブロックと、を備えた試験装置であって、 前記ピン・ブロックは、前記ピン表面を前記コネクタ・ブロックの近傍とし且
つ前記裏面を前記摺動ブロックの近傍として、前記摺動ブロックと前記コネクタ
・ブロックとの間に介設され、 前記ピン・ブロックは、該ピン・ブロックに取付けられたワイヤ・アセンブリ
用スィッチの配列を含み、 前記各スィッチは、各スィッチの端部が前記ピン・ブロックの前記ピン表面か
ら突出する如く且つ当該各スィッチが前記電気コネクタ内に設置されたワイヤ・
アセンブリの配列に接触して配置される如く、配置される、 試験装置。 - 【請求項2】 前記ピン・ブロックに取付けられたスィッチであって前記電
気コネクタに取付けられたボルトと接触すべく配置されたスィッチを更に備えて
成る、請求項1記載の試験装置。 - 【請求項3】 前記ピン・ブロックに取付けられたスィッチであって前記電
気コネクタに取付けられた補助ロックと接触すべく配置されたスィッチを更に備
えて成る、請求項1記載の試験装置。 - 【請求項4】 前記コネクタ・ブロックの前記コネクタ面の近傍にて該コネ
クタ・ブロックに摺動可能に取付けられたゲートであって、開放位置と閉鎖位置
との間で摺動可能なゲートを更に備えて成る、請求項1記載の試験装置。 - 【請求項5】 前記摺動ゲートは矩形フレームであり、該摺動ゲートは、前
記電気コネクタが前記コネクタ・ブロック内に挿入された後に前記各ワイヤ・ア
センブリが前記電気コネクタ内に設置され得る如く、前記電気コネクタに対する
アクセスを許容する、請求項4記載の試験装置。 - 【請求項6】 前記摺動ゲートは、前記電気コネクタ上の複数の対応突起と
整列する複数のキー溝を含む、請求項4記載の試験装置。 - 【請求項7】 前記ゲートが摺動開放して前記電気コネクタが前記コネクタ
・ブロック内に挿入され得る如く、前記コネクタ・ブロック内への前記電気コネ
クタの挿入の間において前記各キー溝は前記各突起と係合する、請求項6記載の
試験装置。 - 【請求項8】 前記摺動ゲートは、第一の軸心および第二の軸心に沿って前
記電気コネクタを保持する複数の箇所を含む、請求項4記載の試験装置。 - 【請求項9】 解除アセンブリを更に備えて成る、請求項4記載の試験装置
。 - 【請求項10】 前記ゲートを閉鎖位置に付勢すべく且つ該ゲートが開放位
置へと摺動されるのを許容すべく、前記解除アセンブリは前記ゲートに取付けら
れたアームと該アームおよび前記コネクタ・ブロックに係合するスプリングとを
含む、請求項9記載の試験装置。 - 【請求項11】 前記コネクタ・ブロック内の前記コネクタ部分の近傍のキ
ー・プレート面に着脱自在に取付けられたキー・プレートを更に備えて成る、請
求項1記載の試験装置。 - 【請求項12】 前記キー・プレートは複数のキー溝を含み、該各キー溝の
個数および間隔は前記電気コネクタ上の複数のリブの個数および間隔に対応する
、請求項11記載の試験装置。 - 【請求項13】 前記コネクタ・ブロックは第一の側部および第二の側部を
含む、請求項1記載の試験装置。 - 【請求項14】 挿入アセンブリを更に備えて成る、請求項13記載の試験
装置。 - 【請求項15】 前記挿入アセンブリは、 前記コネクタ・ブロックの前記第一の側部および前記第二の側部に夫々回転可
能にピン止めされた第一のサイド・バーおよび第二のサイド・バーと、 前記第一のサイド・バーおよび前記第二のサイド・バーに取付けられたハンド
ルと、 前記第一のサイド・バーおよび前記第二のサイド・バーに夫々回転可能にピン
止めされた第一のサイド・リンクおよび第二のサイド・リンクと、 を含む、請求項14記載の試験装置。 - 【請求項16】 ラッチ・アセンブリを更に備えて成る、請求項1記載の試
験装置。 - 【請求項17】 前記ラッチ・アセンブリは前記コネクタ・ブロックに回転
可能にピン止めされたレバーを含み、 該レバーは、 当該第一の段部および第二の段部の間に壁部が介設された第一の段部および第
二の段部と、 前記ピン・ブロックに取付けられると共に、前記第一の段部、前記第二の段部
および前記壁部と係合的に関連付けられ得る第一の保持ポストと、 前記レバーおよび前記コネクタ・ブロックに圧縮的に係合されたスプリングと
、を含み、 該レバーはまた、 相互に隣接して配置された第三の段部および停止部、 前記摺動ブロックに取付けられると共に当該レバーの第三の段部に係合的に関
連付けられ得る第二の保持ポスト、および、 当該レバーから突出するラッチ解除ポスト、も含む、 請求項16記載の試験装置。 - 【請求項18】 当該試験装置は、前記摺動ブロックと前記コネクタ・ブロ
ックとの間に圧縮的に係合された第一のスプリング部材を含む、請求項1記載の
試験装置。 - 【請求項19】 当該試験装置は第一のボルトを含み、 前記摺動ブロックはボアを含み、 前記第一のボルトは前記摺動ブロックの前記ボアと前記第一のスプリング部材
とを貫通し、 前記第一のボルトは、前記摺動ブロックの前記ボアと干渉的に係合可能なヘッ
ドを含む、 請求項18記載の試験装置。 - 【請求項20】 当該試験装置は前記摺動ブロックにより保持された第二の
スプリング部材を含む、請求項1記載の試験装置。 - 【請求項21】 当該試験装置は第二のボルトを含み、 前記ピン・ブロックはボアを含み、 前記第二のボルトは前記ピン・ブロックの前記ボアを貫通し、 前記第二のボルトは前記ピン・ブロックの前記ボアと干渉的に係合可能なヘッ
ドを含み、且つ、 前記第二のスプリング部材は前記ピン・ブロックおよび前記摺動ブロックと圧
縮的に係合される、請求項20記載の試験装置。 - 【請求項22】 コネクタ面と、ピン表面と、コネクタ部分とを含むコネク
タ・ブロックであって、前記コネクタ面を介して前記コネクタ部分へと電気コネ
クタを受容し得るコネクタ・ブロックと、 ボアを含むと共に前記コネクタ・ブロックに対して第一のボルトにより摺動可
能に取付けられた摺動ブロックであって、前記第一のボルトは前記摺動ブロック
の前記ボアと第一のスプリング部材とを貫通すると共に前記コネクタ・ブロック
に取付けられ、前記第一のボルトは前記摺動ブロックの前記ボアに干渉的に係合
可能なヘッドを含み、且つ、前記第一のスプリング部材は前記摺動ブロックおよ
び前記コネクタ・ブロックと圧縮的に係合される、摺動ブロックと、 ピン表面、裏面およびボアを含むピン・ブロックであって、該ピン・ブロック
は前記ピン表面を前記コネクタ・ブロックの近傍とし且つ前記裏面を前記摺動ブ
ロックの近傍として前記摺動ブロックと前記コネクタ・ブロックとの間に介設さ
れ、該ピン・ブロックは第二のボルトにより前記摺動ブロックに摺動可能に取付
けられた、ピン・ブロックと、を備えた試験装置であって、 前記第二のボルトは、前記ピン・ブロックの前記ボアと第二のスプリング部材
とを貫通すると共に、前記摺動ブロックに取付けられ、 前記第二のボルトは前記ピン・ブロックの前記ボアと干渉的に係合可能なヘッ
ドを含み、 前記第二のスプリング部材は前記ピン・ブロックおよび前記摺動ブロックに圧
縮的に係合され、 前記ピン・ブロックは、各々が端部を含むワイヤ・アセンブリ用スィッチであ
って該ピン・ブロックに取付けられたワイヤ・アセンブリ用スィッチの配列を含
み、 前記各スィッチは、各スィッチの前記端部が前記ピン・ブロックの前記ピン表
面から突出する如く且つ当該各スィッチが前記電気コネクタ内に設置されたワイ
ヤ・アセンブリの配列に接触して配置される如く、配置される、 試験装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US38272499A | 1999-08-25 | 1999-08-25 | |
US09/382,724 | 1999-08-25 | ||
PCT/US2000/040735 WO2001014896A1 (en) | 1999-08-25 | 2000-08-24 | Testing device for an electrical connector |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003507745A true JP2003507745A (ja) | 2003-02-25 |
Family
ID=23510143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001519201A Pending JP2003507745A (ja) | 1999-08-25 | 2000-08-24 | 電気コネクタの試験装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1206706A1 (ja) |
JP (1) | JP2003507745A (ja) |
AU (1) | AU8033900A (ja) |
CA (1) | CA2382397A1 (ja) |
WO (1) | WO2001014896A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1124136A1 (en) * | 2000-02-10 | 2001-08-16 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Electrical connection testing device and method for connector terminals |
JP5571976B2 (ja) * | 2010-03-01 | 2014-08-13 | 住友電装株式会社 | コネクタ |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5614820A (en) * | 1994-03-10 | 1997-03-25 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Connector examination device for determining a connection in a connector |
EP0692718A1 (en) * | 1994-07-11 | 1996-01-17 | SIX TAU S.p.A. | A method and a device for testing an electric connector |
US5871373A (en) * | 1996-02-23 | 1999-02-16 | Labinal Components And Systems, Inc. | Electrical connector |
JPH1152001A (ja) * | 1997-07-31 | 1999-02-26 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | コネクタ検査装置の検査部 |
-
2000
- 2000-08-24 EP EP00971043A patent/EP1206706A1/en not_active Withdrawn
- 2000-08-24 CA CA002382397A patent/CA2382397A1/en not_active Abandoned
- 2000-08-24 AU AU80339/00A patent/AU8033900A/en not_active Abandoned
- 2000-08-24 JP JP2001519201A patent/JP2003507745A/ja active Pending
- 2000-08-24 WO PCT/US2000/040735 patent/WO2001014896A1/en not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2001014896A1 (en) | 2001-03-01 |
AU8033900A (en) | 2001-03-19 |
EP1206706A1 (en) | 2002-05-22 |
CA2382397A1 (en) | 2001-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2871332B2 (ja) | コネクタ検査装置 | |
US4902968A (en) | Connector terminal checking tool | |
US5562458A (en) | Interface engagement and locking system | |
US6254438B1 (en) | Battery side-terminal adapter and Kelvin connector | |
EP0901204A2 (en) | Inspection unit of a connector inspection apparatus | |
JP4058952B2 (ja) | 導通検査ユニット及びそれを用いた導通検査装置 | |
US6480005B2 (en) | Electrical connection testing device and an electrical connection testing method for terminal fittings accommodated in a connector | |
JP2003507745A (ja) | 電気コネクタの試験装置 | |
US5718603A (en) | Inspection device for connectors and connector | |
US7611372B2 (en) | Rotatably locking plug and connector | |
US6676452B2 (en) | Unlock proof squib connector | |
KR102597065B1 (ko) | 밴드 케이블의 이종 여부를 검사하기 위한 기구 | |
JP3744387B2 (ja) | コネクタ検査装置 | |
JP2002040084A (ja) | コネクタの検査器 | |
JP3211671B2 (ja) | コネクタ検査方法および装置 | |
JP2568609Y2 (ja) | コネクタ検査装置 | |
JPH0982444A (ja) | コネクタ検査器 | |
US20030032340A1 (en) | Secondary lock for a cable harness plug having different types of contacts | |
JP3449033B2 (ja) | コネクタ検査装置 | |
JP2000150102A (ja) | 導通検査装置 | |
JP2606400Y2 (ja) | コネクタ検査具 | |
US20220352659A1 (en) | Assembly for Securing a Printed Circuit Board to a Plug Body, Method of Securing a Printed Circuit Board to a Plug Body | |
JP3997957B2 (ja) | リテーナ検査機能付箱型ホルダ及びリテーナ検査機構 | |
JP2002367752A (ja) | コネクタ検査装置 | |
JP2000137052A (ja) | コネクタ検査装置 |