JP2003505682A - 大きな物体の幾何学的形状を走査するシステム - Google Patents

大きな物体の幾何学的形状を走査するシステム

Info

Publication number
JP2003505682A
JP2003505682A JP2001512250A JP2001512250A JP2003505682A JP 2003505682 A JP2003505682 A JP 2003505682A JP 2001512250 A JP2001512250 A JP 2001512250A JP 2001512250 A JP2001512250 A JP 2001512250A JP 2003505682 A JP2003505682 A JP 2003505682A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
sensor
scanner
robot
coordinate system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001512250A
Other languages
English (en)
Inventor
ペターゼン,アルフ
Original Assignee
メトロノール・エイエスエイ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by メトロノール・エイエスエイ filed Critical メトロノール・エイエスエイ
Publication of JP2003505682A publication Critical patent/JP2003505682A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates

Abstract

(57)【要約】 表面の幾何学的形状を局所的に一点毎に検出する装置(2)を備えたセンサーユニット(1)、および該センサーユニット(1)を動かすためのロボットユニット(4)を具備した物体(6)の表面の幾何学的形状を検出するシステムにおいて、該センサーユニット(1)は該物体の表面の幾何学的形状を非接触的に探査検出するための光学的スキャナーユニット(2)、および既知の位置にある基準点(9)のネットワーク(8)によって定義される全体的な座標系の中における該センサーユニット(1)の位置を決定するように設計された位置測定ユニット(3)を含にでいるシステム。さらに計算ユニット(5)が備えられ、該計算ユニット(5)はスキャナーユニット(2)および位置測定ユニット(3)からのデータを集め、スキャナーユニット(2)からのデータを全体的な座標系に関係付けるために変換するように設計されている。またさらに物体(6)の表面の幾何学的形状を検出する方法、およびセンサーユニット(1)を較正する方法が提供される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 本発明は特許請求の範囲請求項1および11の冒頭の部分に記載したような物
体の幾何学的形状を走査(スキャン)するシステムおよび方法に関する。
【0002】 表面を測定するためのレーザーをベースにしたスキャナーは多数存在している
。これらの装置は制限された作動容積または制限された測定容積をもち、また該
表面から特定のずらされた位置に置かれることを必要とし、さらに表面に対して
特定の向きをもつことを必要とすることを特徴としている。従ってスキャナーは
正確な座標測定器の上に取り付けられ、スキャナーが表面を横切って一つの領域
から別の領域へと段階的に移動できるようにされていることが多い。座標測定器
は複雑で、融通性がなく、価格が高い。
【0003】 もっと融通性に富み簡便な解決法が求められている。別法としては、スキャナ
ーをロボットに取り付け、物体を横切ってロボットによりスキャナーを動かす方
法がある。この場合各位置に対し表面の一部を走査する。この測定によってスキ
ャナーの位置に関する情報が記録され、この値はロボットによって提供される全
体的な座標系へ変換される。
【0004】 大部分のロボットは精度が低い。従ってロボットの座標系に基づいてデータの
変換を行なっても物体の全体的な幾何学的形状を十分正確に記録することはでき
ない。ロボットの動きをもっと良く記述するためにロボットを較正することは改
善の助けになるが、摩耗のような効果および温度の変動のためにその効果はあま
り十分ではない。
【0005】 本発明においてはノルウェー特許303.595号記載の位置測定装置を使用
してロボットとスキャナーとから成る解決法が組み合わされている。スキャナー
および位置測定装置は一体化された一つのスキャナー・ユニットになっている。
この解決法においては、位置測定装置がスキャナーの正確な位置に関する情報を
与える。ロボットは単にセンサー・ユニットを動かすためだけに使用される。
【0006】 このシステムおよび方法の特徴はそれぞれ特許請求の範囲請求項1および11
に記載され、他の具体化例は他の従属請求項に記載されている。
【0007】 図1はシステムの形態の一例を示す。このシステムは原則として二つのユニッ
ト、即ちセンサー1とロボット4から成っている。ロボットは物体6の上の現在
測定される区域12に対してセンサー1を位置させるのに使用される。センサー
1は物体の局所的な位置を記録し、それ自身の位置を全体的な座標系13に対し
て測定する。
【0008】 センサーユニット1は幾何学的形状を局所的に走査するスキャナーユニット2
および全体的な座標系13に対しセンサーユニット自身の位置を測定するための
位置測定ユニット3から成っている。スキャナーユニット2、例えばレーザー・
スキャナーはレーザービーム11を放射し、このビームは限定された区域12を
走査する。位置測定ユニット3はそれ自身の位置を記録し、従って基準点9のネ
ットワーク8に対しセンサーユニット1の位置を記録する。基準点の位置は全体
的な座標系13に対して既知である。
【0009】 このシステムはまた、スキャナーユニット2および位置測定ユニット3からデ
ータを集め、スキャナーユニットからのすべての情報を同じ全体的な座標系13
へ変換する計算ユニット5を含んでいる。また計算ユニット5はデータをロボッ
ト4に送り、物体に対するロボットの動きを制御する。
【0010】 図2は他の形態を示す。基準点9は物体6に取り付けられている。位置測定ユ
ニット3はこれらの基準点を見るために配置されている。
【0011】 スキャナーユニット2は例えば次のような型の一つであることができるが、こ
れだけに限定されるものではない。
【0012】 ・ 一点においてスキャナーユニットと物体との間の距離を測定するレーザー
距離計。
【0013】 ・ 単一軸走査レーザーまたはレーザーライン投影機をベースにし、これをカ
メラ(例えばCCDセンサー)と組み合わせた三角測量形式のセンサー。このよ
うなセンサーは各センサーの位置から1本の線の走査を行う。
【0014】 ・ 二重軸走査レーザーまたはレーザー・ラスター投影機をベースにし、これ
をカメラ(例えばCCDセンサー)と組み合わせた三角測量形式のセンサー。
【0015】 ・ パターンの投影機をベースにし、これを1個またはそれ以上のカメラ(例
えばCCDセンサー)と組み合わせたセンサー。
【0016】 図3は三角測量形式センサーの原理を示す。このセンサーはレーザー・ビーム
11またはレーザー面(線の投影)を放射するレーザー14を含んでいる。レー
ザーは点15または線を物体6に投影する。点15はレンズ16を通してセンサ
ー17、例えばCCDの配列の上に像を結ぶ。スキャナーユニット2は、それが
内部座標系18に対して点15の位置を測定するように較正されている。他の実
装においては、レーザー・ビームは二つの軸をもつ動き得るミラーを通って表面
に当たることができる。このようにして三角測量形式のセンサーの各点から表面
の区域を走査することができる。
【0017】 このスキャナーの重要な特徴は、スキャナーの内部座標系に対し物体の局所的
な幾何学的形状を記録することである。スキャナーの各位置に対し点、線に沿っ
た点、または二次元のパターンの点について記録を行うことができる。
【0018】 好適具体化例においては、位置測定装置3は図4に示すようなノルウェー特許
303.595号記載のような型の装置である。実質的にはこれはユニットの中
に一緒に取り付けられた1個またはそれ以上のカメラから成っている。各カメラ
は、点、線または他の容易に認識できる物体の形の基準パターンを見ている。セ
ンサーユニット1の各位置に対し、基準パターン8の点9はレンズ19を通して
センサー20の上に像を結ぶ。このデータは計算ユニット5へ送られる。計算ユ
ニットのソフトウエアによって基準パターン8に対し位置測定ユニット3の位置
および向きが計算される。図4の位置測定装置は手動操作のための運搬把手21
および作動スイッチ22が取り付けられているように示されている。また基準パ
ターン8を照らすための照明用光源23およびノルウェー特許303.595号
記載のような物体に触ることによって各点を測定するための機械的なプローブ2
4も示されている。
【0019】 物体の座標系の中における基準パターン8が知られているか、或いは基準パタ
ーン8が図2に示すように物体自身の一部である場合には利点が得られる。これ
は、位置測定装置によって認識できる孔を物体がもっているか、或いは例えば物
体の中の孔または凹部の中へ容易に認識できる標的を取り付けることによって基
準パターンを物体に付加することにより達成される。これらの標的は例えば純粋
に受動的な標識、光源、光反射体または同様物であることができる。
【0020】 スキャナーユニット2と位置を測定するためのユニットとの間の幾何学的関係
が知られており且つ安定であることは重要である。このことは、安定で正確な公
知の機械的な構成物によって、また下記に説明するような較正法によってその一
部を達成することができる。
【0021】 ロボット4の唯一の目的はセンサーユニット1を物体6の対して正しい位置お
よび方向で位置させることである。いくつかの型のロボット原理、例えばアーム
・ロボット、デカルト座標系ロボット、および1、2、3またはそれ以上の自由
度をもったロボットを使用することができる。ロボットは予め定められたプログ
ラムにより或いは物体に対するセンサーユニットの測定された位置を使用して制
御され、現在の位置に関する相対的な運動に対する指令を発行する。
【0022】 各位置に対しセンサーユニット1からのデータは同じ全体的な座標系13の中
で評価されなければならない。そのためにはスキャナーユニットの座標系XS
S、ZSと位置を測定するユニットの座標系XC、YC、ZCとの間の関係を知る
必要がある。図5はこの関係を決定する方法を示す。センサーユニット1は少な
くとも三つの基準点9が測定容積の内部に入るように配置されている。スキャナ
ーユニットの座標系に対する基準点の位置および基準点に対する位置測定ユニッ
トの位置を同時に記録することにより、これらの二つの座標系の間の変換を計算
するのに必要な情報が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 システムの解決法を示す図。
【図2】 他の形態を示す図。
【図3】 センサーユニットの一例、三角測量方式のセンサーを示す図。
【図4】 ノルウェー特許303.595号記載の位置測定装置の一例を示す図。
【図5】 センサーユニットの内部幾何学的形状を決定する方法を示す図。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成13年10月8日(2001.10.8)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項】 基準点(9)のネットワーク(8)は該物体の上にあり、該
ネットワークの中の各基準点に対する位置は該物体に関する座標系に対して既知
であることを特徴とする請求項1記載のシステム。
【請求項】 ロボットユニット(4)は物体(6)の上方でセンサーユニ
ット(1)を段階的に動かすようにに設計されていることを特徴とする請求項1
記載のシステム。
【請求項】 スキャナーユニット(2)は、レーザー・スキャナー、単一
点距離計、カメラと組み合わされたレーザーをベースにした三角測量方式のセン
サー、二軸走査レーザーを備えた三角測量方式センサー、カメラと組み合わされ
たレーザー・ラスター投影機を備えた三角測量方式センサー、少なくとも1個の
カメラと組み合わされたパターン投影をベースにしたセンサーから成る群から選
ばれることを特徴とする請求項1〜5記載のシステム。
【請求項】 位置測定ユニット(3)の該カメラはCCDカメラであるこ
とを特徴とする請求項1〜7記載のシステム。
【請求項】 基準点(9)は物体(6)の表面にある孔または凹部である
ことを特徴とする請求項記載のシステム。
【請求項】 基準点(9)は物体(6)の上にあるかまたは該物体(6)
の表面の孔または凹部にあるいわゆる「標的」であることを特徴とする請求項 または8 記載のシステム。
【請求項10】 表面の幾何学的形状を局所的に一点毎に検出する装置(2
)を備えたセンサーユニット(1)、既知の位置にある基準点(9)のネットワ
ーク(8)に関するセンサーユニットの位置を全体的な座標系に対して決定する
位置測定ユニット(3)、および該センサーユニット(1)を動かすためのロボ
ットユニットを使用して物体(6)の表面の幾何学的形状を検出する方法におい
て、 該物体(6)の表面の区域が該装置(2)の測定容積の内部に入るようにセン サーユニット(1)を配置し、 該装置(2)によって該区域を光学的に走査し、 同時に該位置測定ユニット(3)によって該ネットワーク(8)の座標系に対 する光学的走査装置(2)の位置を決定し、 走査装置(2)からのデータを計算ユニット(5)へ送り、ここで該データを ネットワーク(8)の座標系へ変換して保存する工程から成ることを特徴とする 方法。
【請求項11】 ロボットユニット(4)によりセンサーユニット(1)を
段階的に動かすことを特徴とする請求項10記載の方法。
【請求項12】 表面の幾何学的形状を局所的に検出する装置(2)、およ
び既知の位置にある基準点(9)のネットワーク(8)に関し全体的な座標系の
中におけるセンサーユニット(1)の位置を決定するための位置測定ユニット(
3)を具備し、且つ物体に対して動くようにロボットユニット(4)に取り付け
られているセンサーユニット(1)を較正する方法において、 a)少なくとも三つの基準点(9)が該装置(2)の測定容積の内部に入るよ うにセンサーユニット(1)を配置し、ここで該装置(2)は光学的に捜査を行 うことが でき、 b)該光学的に走査を行う装置(2)に対する該基準点(9)の位置を決定し c)同時に位置測定ユニット(3)によってネットワーク(8)の座標系に対 するセンサー(1)の位置を決定し、 d)光学的走査装置の座標系に対し少なくとも3個の基準点(9)の位置が決 定されるまでa〜cまたはb、cを繰り返し、 e)走査装置(2)および位置測定ユニット(3)によって記録されたデータ に基づいて該二つのユニットの相互関係を記述する変換マトリックスを計算する 工程から成ることを特徴とする方法。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ,UG ,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD, RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM,AT, AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,BZ,C A,CH,CN,CR,CU,CZ,DE,DK,DM ,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH, GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,K E,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS ,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN, MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,PT,RO,R U,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM ,TR,TT,TZ,UA,UG,US,UZ,VN, YU,ZA,ZW Fターム(参考) 2F065 AA01 AA04 AA06 AA19 AA20 AA53 AA56 BB02 BB05 BB27 DD19 FF01 FF02 FF04 FF09 FF23 FF41 FF61 GG04 HH04 JJ02 JJ03 JJ05 JJ25 JJ26 LL04 LL12 LL62 MM16 PP04 PP25 QQ25 QQ28 QQ31 RR07 RR09 RR10

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面の幾何学的形状を局所的に一点毎に検出する装置(2)
    を備えたセンサーユニット(1)、および該センサーユニット(1)を動かすた
    めのロボットユニット(4)を具備した物体(6)の表面の幾何学的形状を検出
    するシステムにおいて、該センサーユニット(1)は該物体の表面の幾何学的形
    状を非接触的に探査検出するための光学的スキャナーユニット(2)、および既
    知の位置にある基準点(9)のネットワーク(8)によって定義される全体的な
    座標系の中における該センサーユニット(1)の位置を決定するように設計され
    た位置測定ユニット(3)を含み、さらに計算ユニット(5)が備えられ、該計
    算ユニット(5)はスキャナーユニット(2)および位置測定ユニット(3)か
    らのデータを集め、スキャナーユニット(2)からのデータを全体的な座標系に
    関係付けるために変換するように設計されていることを特徴とするシステム。
  2. 【請求項2】 ロボットユニット(4)はセンサーユニット(1)を段階的
    に動かすように設計されていることを特徴とする請求項1記載のシステム。
  3. 【請求項3】 位置測定ユニット(3)はカメラをベースにしたセンサー(
    7)から成り、該ユニット(3)は既知の位置にある基準点(9)から成るネッ
    トワーク(8)の像を記録するように設計されていることを特徴とする請求項1
    記載のシステム。
  4. 【請求項4】 基準点(9)のネットワーク(8)は該物体の上にあり、該
    ネットワークの中の各基準点に対する位置は該物体に関する座標系に対して既知
    であることを特徴とする請求項1記載のシステム。
  5. 【請求項5】 ロボットユニット(4)は物体(6)の上方でセンサーユニ
    ット(1)を段階的に動かすように設計されていることを特徴とする請求項1記
    載のシステム。
  6. 【請求項6】 スキャナーユニット(2)は、レーザー・スキャナー、単一
    点距離計、カメラと組み合わされたレーザーをベースにした三角測量方式のセン
    サー、二軸走査レーザーを備えた三角測量方式センサー、カメラと組み合わされ
    たレーザー・ラスター投影機を備えた三角測量方式センサー、少なくとも1個の
    カメラと組み合わされたパターン投影をベースにしたセンサーから成る群から選
    ばれることを特徴とする請求項1〜5記載のシステム。
  7. 【請求項7】 ロボットユニット(4)はアームをベースにしたロボット、
    デカルト座標系ロボット、1、2またはそれより多くの自由度をもつロボット、
    プログラムにより制御されるロボット、被測定物体に関しセンサーユニット(1
    )の記録された位置および現在の位置に対する運動の指令に基づく実時間位置制
    御ロボットから成る群から選ばれることを特徴とする請求項1〜6記載のシステ
    ム。
  8. 【請求項8】 位置測定ユニット(3)の該カメラはCCDカメラであるこ
    とを特徴とする請求項1〜7記載のシステム。
  9. 【請求項9】 基準点(9)は物体(6)の表面にある孔または凹部である
    ことを特徴とする請求項4記載のシステム。
  10. 【請求項10】 基準点(9)は物体(6)の上にあるかまたは該物体(6
    )の表面の孔または凹部にあるいわゆる「標的」であることを特徴とする請求項
    4または9記載のシステム。
  11. 【請求項11】 表面の幾何学的形状を局所的に一点毎に検出する装置(2
    )を備えたセンサーユニット(1)、既知の位置にある基準点(9)のネットワ
    ーク(8)に関するセンサーユニットの位置を全体的な座標系に対して決定する
    位置測定ユニット(3)、および該センサーユニット(1)を動かすためのロボ
    ットユニットを使用して物体(6)の表面の幾何学的形状を検出する方法におい
    て、 該物体(6)の表面の区域がスキャナーユニット(2)の測定容積の内部に入
    るようにセンサーユニット(1)を配置してこの区域を走査し、位置測定ユニッ
    ト(3)が該ネットワーク(8)の座標系に対するスキャナーの位置を同時に決
    定し、スキャナーユニット(2)からのデータを計算ユニット(5)へ送り、こ
    こで該データはネットワーク(8)の座標系へ変換されて保存されることを特徴
    とする方法。
  12. 【請求項12】 ロボットユニット(4)によりセンサーユニット(1)を
    段階的に動かすことを特徴とする請求項11記載の方法。
  13. 【請求項13】 表面の幾何学的形状を局所的に検出する装置(2)、およ
    び既知の位置にある基準点(9)のネットワーク(8)に関し全体的な座標系の
    中におけるセンサーユニット(1)の位置を決定するための位置測定ユニット(
    3)を具備し、且つ物体に対して動くようにロボットユニット(4)に取り付け
    られているセンサーユニット(1)を較正する方法において、 少なくとも三つの基準点(9)がスキャナーユニット(2)の測定容積の内部
    に入るようにセンサーユニット(1)を配置し、スキャナー(2)に対する基準
    点(9)の位置を決定し、同時に位置測定ユニット(3)によってネットワーク
    (8)の座標系に対するセンサー(1)の位置を決定し、スキャナーユニットの
    座標系に対し少なくとも3個の基準点(9)の位置が決定されるまでこれを繰り
    返し、スキャナーユニット(2)および位置測定ユニット(3)によって記録さ
    れたデータに基づいて該二つのユニットの間の関係を記述する変換マトリックス
    を計算することを特徴とする方法。
JP2001512250A 1999-07-13 2000-07-10 大きな物体の幾何学的形状を走査するシステム Pending JP2003505682A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NO19993446A NO313113B1 (no) 1999-07-13 1999-07-13 System for scanning av store objekters geometri
NO19993446 1999-07-13
PCT/NO2000/000235 WO2001007866A1 (en) 1999-07-13 2000-07-10 System for scanning of the geometry of large objects

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003505682A true JP2003505682A (ja) 2003-02-12

Family

ID=19903575

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001512250A Pending JP2003505682A (ja) 1999-07-13 2000-07-10 大きな物体の幾何学的形状を走査するシステム

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP1200798A1 (ja)
JP (1) JP2003505682A (ja)
AU (1) AU7459900A (ja)
NO (1) NO313113B1 (ja)
WO (1) WO2001007866A1 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005517914A (ja) * 2002-02-14 2005-06-16 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 内蔵ラインレーザスキャナを備えた携帯可能な座標測定装置
JP2006322937A (ja) * 2005-05-18 2006-11-30 Steinbichler Optotechnik Gmbh オブジェクトの表面の3d座標を判定する方法
JP2006349547A (ja) * 2005-06-17 2006-12-28 Kanto Auto Works Ltd 非接触式三次元形状計測方法及び計測機
US7321841B2 (en) 2003-06-30 2008-01-22 Honda Motor Co., Ltd. Three-dimensional shape measuring method and measuring apparatus thereof
CN103033183A (zh) * 2012-12-14 2013-04-10 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所 工业机器人室内精确定位系统及方法
JP2017062262A (ja) * 2011-02-16 2017-03-30 シュタインビフラー オプトテヒニク ゲーエムベーハー 対象物の3次元座標を決定するための、および工業用ロボットを較正するための装置および方法
WO2019176118A1 (ja) * 2018-03-16 2019-09-19 三菱電機株式会社 重畳表示システム

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10156431B4 (de) * 2001-11-16 2005-12-22 Dantec Ettemeyer Gmbh Verfahren zur Lagebestimmung von Meßpunkten auf einem Objekt
BE1014484A3 (nl) 2001-11-22 2003-11-04 Krypton Electronic Eng Nv Werkwijze en inrichting voor het vergroten van het meetvolume van een optisch meetsysteem.
US6944564B2 (en) 2002-05-08 2005-09-13 Metris N.V. Method for the automatic calibration-only, or calibration and qualification simultaneously of a non-contact probe
EP1361414B1 (en) * 2002-05-08 2011-01-26 3D Scanners Ltd Method for the calibration and qualification simultaneously of a non-contact probe
US7009717B2 (en) 2002-08-14 2006-03-07 Metris N.V. Optical probe for scanning the features of an object and methods therefor
DE10341042A1 (de) * 2003-09-03 2005-03-31 Claas Fertigungstechnik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung von Bauteilen
DE102004017172A1 (de) 2004-04-02 2005-10-20 Jan Bernd Lugtenburg Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines Messobjekts
WO2006114216A1 (en) * 2005-04-25 2006-11-02 Metris N.V. Method and device for scanning an object using robot manipulated non-contact scannering means and separate position and orientation detection means
EP1754951B1 (en) 2005-08-16 2011-01-05 3D Scanners Ltd Method for the simultaneous calibration, qualification and synchronization of a non-contact probe
US7299145B2 (en) 2005-08-16 2007-11-20 Metris N.V. Method for the automatic simultaneous synchronization, calibration and qualification of a non-contact probe
DE202006020719U1 (de) 2006-01-25 2009-08-27 Axios 3D Services Gmbh Positionsbestimmungssystem
JP4657275B2 (ja) * 2007-10-29 2011-03-23 パナソニック株式会社 光学的測定装置
DE102008022338B4 (de) * 2008-04-09 2015-02-19 Waldemar Knittel Glasbearbeitungs Gmbh Verfahren zum Erfassen eines Kantenverlaufs einer Kante einer Platte
DE102014105456B4 (de) * 2014-04-16 2020-01-30 Minikomp Bogner GmbH Verfahren zur Vermessung der Außenkontur von dreidimensionalen Messobjekten und zugehöriges Messsystem
DE202016106062U1 (de) 2016-10-27 2016-11-07 LPKF SolarQuipment GmbH Druckmaschine mit einer Vorrichtung zur Erfassung zumindest einer Glaskante einer Glasplatte
CN110849267B (zh) * 2019-12-02 2021-02-26 南京航空航天大学 一种基于局部基准孔的移动式自动化系统在产品上定位和坐标系转换的方法
DE102021105176A1 (de) 2021-03-04 2022-09-08 Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung und Darstellung einer Relativorientierung eines Gegenstandes

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05312521A (ja) * 1992-05-13 1993-11-22 Nec Corp ターゲットマーク
JPH06501774A (ja) * 1990-10-15 1994-02-24 シュルツ・ウォールディーン・エー 三次元における非接触の形状検出方法及び装置
JPH09166410A (ja) * 1995-12-14 1997-06-24 Toshiba Corp 位置計測装置
WO1998004881A1 (en) * 1996-07-22 1998-02-05 Metronor As System and method for determining spatial coordinates
JPH10510352A (ja) * 1994-08-24 1998-10-06 トリコーダー テクノロジー ピーエルシー 走査装置および走査方法
WO1999022281A1 (fr) * 1997-10-24 1999-05-06 Commissariat A L'energie Atomique Procede d'etalonnage de la position et de l'orientation d'origine d'une ou plusieurs cameras mobiles

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE464322B (sv) * 1989-11-09 1991-04-08 Johansson Ab C E Beroeringsfri maetprob
DE4325269A1 (de) * 1993-07-28 1995-02-02 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur koordinatenmäßigen Ermittlung der Form und Lage von Strukturen, Kanten und Formelementen
NZ293713A (en) * 1994-09-28 1997-09-22 William Richard Fright Laser surface scanning system: shape of surface recorded by determining relative positions of laser, camera, and laser spot on surface with respect to fixed reference point
JP3373367B2 (ja) * 1996-08-09 2003-02-04 松下電器産業株式会社 3次元計測装置及び3次元計測方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06501774A (ja) * 1990-10-15 1994-02-24 シュルツ・ウォールディーン・エー 三次元における非接触の形状検出方法及び装置
JPH05312521A (ja) * 1992-05-13 1993-11-22 Nec Corp ターゲットマーク
JPH10510352A (ja) * 1994-08-24 1998-10-06 トリコーダー テクノロジー ピーエルシー 走査装置および走査方法
JPH09166410A (ja) * 1995-12-14 1997-06-24 Toshiba Corp 位置計測装置
WO1998004881A1 (en) * 1996-07-22 1998-02-05 Metronor As System and method for determining spatial coordinates
WO1999022281A1 (fr) * 1997-10-24 1999-05-06 Commissariat A L'energie Atomique Procede d'etalonnage de la position et de l'orientation d'origine d'une ou plusieurs cameras mobiles

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005517914A (ja) * 2002-02-14 2005-06-16 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 内蔵ラインレーザスキャナを備えた携帯可能な座標測定装置
US7321841B2 (en) 2003-06-30 2008-01-22 Honda Motor Co., Ltd. Three-dimensional shape measuring method and measuring apparatus thereof
JP2006322937A (ja) * 2005-05-18 2006-11-30 Steinbichler Optotechnik Gmbh オブジェクトの表面の3d座標を判定する方法
JP2006349547A (ja) * 2005-06-17 2006-12-28 Kanto Auto Works Ltd 非接触式三次元形状計測方法及び計測機
JP2017062262A (ja) * 2011-02-16 2017-03-30 シュタインビフラー オプトテヒニク ゲーエムベーハー 対象物の3次元座標を決定するための、および工業用ロボットを較正するための装置および方法
CN103033183A (zh) * 2012-12-14 2013-04-10 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所 工业机器人室内精确定位系统及方法
WO2019176118A1 (ja) * 2018-03-16 2019-09-19 三菱電機株式会社 重畳表示システム
JPWO2019176118A1 (ja) * 2018-03-16 2020-12-03 三菱電機株式会社 重畳表示システム
JP7003219B2 (ja) 2018-03-16 2022-01-20 三菱電機株式会社 重畳表示システム

Also Published As

Publication number Publication date
WO2001007866A1 (en) 2001-02-01
NO993446D0 (no) 1999-07-13
AU7459900A (en) 2001-02-13
NO993446L (no) 2001-01-15
EP1200798A1 (en) 2002-05-02
NO313113B1 (no) 2002-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003505682A (ja) 大きな物体の幾何学的形状を走査するシステム
US9967545B2 (en) System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurment devices
EP1076221B1 (en) A robot with gauging system for determining three-dimensional measurement data
CN101363717B (zh) 用于在物体表面上进行非接触坐标测量的方法和勘测系统
US8036452B2 (en) Method and measurement system for contactless coordinate measurement on an object surface
US10751883B2 (en) Robot system with supplementary metrology position coordinates determination system
EP2132523B1 (en) Method and device for exact measurement of objects
US9188430B2 (en) Compensation of a structured light scanner that is tracked in six degrees-of-freedom
EP1015845B1 (en) System for determining spatial coordinates and method for its calibration
US9020240B2 (en) Method and surveying system for noncontact coordinate measurement on an object surface
US20060145703A1 (en) Automatic component testing
JPH08510835A (ja) 幾何学的配列の測定方法及び装置
JP2004170412A (ja) 測定系の較正のための方法と装置
JPH1183452A (ja) 高精度表面走査を行なうための携帯デジタル化用システムおよび方法
JP2003530561A (ja) 測定装置及び方法
US7375827B2 (en) Digitization of undercut surfaces using non-contact sensors
JP5260175B2 (ja) 非接触で対象表面の座標を測定する測定方法および測定システム
US20220048199A1 (en) Referencing pose manipulation system for marker based tracking of position measurement system
US11276198B2 (en) Apparatus for determining dimensional and geometric properties of a measurement object
US6730926B2 (en) Sensing head and apparatus for determining the position and orientation of a target object
JP2000039310A (ja) 形状測定方法および形状測定装置
JP3359241B2 (ja) 撮像方法および装置
US11371828B2 (en) Coordinate measuring machine and method for measuring coordinates of a workpiece
CA2356618C (en) Sensing head and apparatus for determining the position and orientation of a target object
JPH0364801B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070622

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090126

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20090126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100302

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100601

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100608

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100702

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100709

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100802

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100809

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100901

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110118