JP2003501663A - 加速度や角速度の計測などの用途に適した振動構造体の周波数及び振幅を測定する装置及び方法 - Google Patents

加速度や角速度の計測などの用途に適した振動構造体の周波数及び振幅を測定する装置及び方法

Info

Publication number
JP2003501663A
JP2003501663A JP2001501899A JP2001501899A JP2003501663A JP 2003501663 A JP2003501663 A JP 2003501663A JP 2001501899 A JP2001501899 A JP 2001501899A JP 2001501899 A JP2001501899 A JP 2001501899A JP 2003501663 A JP2003501663 A JP 2003501663A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
threshold value
period
vibration
position sensors
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001501899A
Other languages
English (en)
Inventor
シャルク・ヨセフ
ザッセン・シュテファン
フィッケル・ヴィルヘルム
レントネル・コンラッド
Original Assignee
エーアーデーエス・ドイッチェランド・ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エーアーデーエス・ドイッチェランド・ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング filed Critical エーアーデーエス・ドイッチェランド・ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Publication of JP2003501663A publication Critical patent/JP2003501663A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P1/00Details of instruments
    • G01P1/04Special adaptations of driving means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P1/00Details of instruments
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/14Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of gyroscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 振動構造体の周波数及び/または振幅を測定する装置であって、この装置は、加速度や角速度の計測などの用途に特に適しており、振動させることのできる可動部材2を備えている。2個の位置センサ10、11から成る位置センサ・ペアによって、可動部材2の変位を測定するようにしており、それら2個の位置センサは、振動の半波期間においてそれら2個の位置センサの夫々の検出値の一方が他方を上回り及び/または下回るように配設してある。また、比較器によって、前記2個の位置センサ10、11の夫々の検出値を互いに比較し、その比較結果から、振動の半波期間におけるスレショルド値Usを求められるようにしている。また、計時手段によって、前記2個の位置センサ10、11のうちの一方の位置センサの検出値が前記スレショルド値Usを上回っている期間及び/または下回っている期間の期間長さを求めるようにしている。また、前記位置センサ10、11は、例えばキャパシタで構成し、その複数の電極を、段差を付けて配設するようにしてもよい。以上により、可動部材2が平行移動的な変位を発生した場合でも、それによって何ら影響されることなく振動振幅を測定することができ、従って、そのような変位によって振動振幅の測定結果が損なわれることがない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 本発明は、加速度や角速度の計測などの用途に適した、振動構造体の周波数及
び/または振幅を測定する装置及び方法に関する。
【0002】 振動を発生するように構成した振動構造体が、様々な技術分野において利用さ
れている。例えば、このような振動構造体は、加速度センサや角速度センサなど
に用いられており、それらは、その振動構造体に発生する振動の特性から、運動
に関する物理量を求めるようにしたものである。
【0003】 米国特許第4598585号には角速度センサが記載されており、その角速度
センサでは、マス(質量部材)を、互いに直交する2本の軸心(x軸及びy軸)
の周りの回転振動が可能な状態で支持している。そして、x軸及びy軸の両方に
直交するz軸の周りの回転運動における角速度を測定するために、その質量部材
に、所定の振動周期で、y軸の周りの回転振動をさせている。z軸の周りの回転
運動が生じたならば、それによって発生するコリオリ力によって、質量部材が、
x軸の周りの回転振動をするようになり、その振動の振幅によって、z軸の周り
の回転運動の角速度が表される。図3に、この種の、ダブル・カルダン・懸架型
の支持機構を装備した角速度センサの一例を示した。
【0004】 また、公知の加速度センサのうちには、振動を発生させ、その振動の周波数に
よって、所定方向に作用する加速度が表されるようにしたものがある。
【0005】 しかしながら、それら公知の振動構造体には、振動させている可動部材の振動
振幅の変化と、ときに発生するその可動部材の平行移動的な変位とを、明確に区
別できないという問題が付随していた。そのため、例えば、可動部材の支持構造
によって確保されている間隔が変動すると、それによって、誤った検出量が発生
するおそれがあった。また、可動部材の位置ないし変位を、キャパシタを用いて
検出するようにしている場合には、そのキャパシタの両電極間の間隔が僅かに変
動するだけで、その変動が本来検出すべき振動振幅に重畳してしまい、正確な検
出結果が得られないことがあった。これは、特に、検出を妨害する可動部材の平
行移動的な変位の周波数領域が、本来検出すべき振動の周波数領域と重なってい
る場合に、大きな問題となっていた。
【0006】 従って本発明の目的は、例えば振動構造体の平行移動的な変位や歪みなどによ
る妨害を効果的に抑制し、振動振幅の測定を高精度で行えるようにした、振動構
造体の周波数及び/または振幅を測定する装置、及びその方法を提供することに
ある。
【0007】 上記目的は、請求項1に記載した装置、並びに請求項9に記載した方法によっ
て達成される。尚、本発明の更なる有利な特徴、局面、並びに詳細は、従属請求
項、詳細な説明、及び図面から明らかとなる。
【0008】 本発明にかかる振動構造体の周波数及び/または振幅を測定する装置は、加速
度や角速度の計測などの用途に特に適したものである。この装置は、振動させる
ことのできる可動部材を備えており、また、前記可動部材の変位を測定するため
の2個の位置センサから成る位置センサ・ペアであって、振動の半波期間におい
てそれら2個の位置センサの夫々の検出値の一方が他方を上回り及び/または下
回るようにそれら2個の位置センサが配設されている位置センサ・ペアと、前記
2個の位置センサの夫々の検出値を互いに比較し、その比較結果から振動の半波
期間におけるスレショルド値を求められるようにする比較回路と、前記2個の位
置センサのうちの一方の位置センサの検出値が前記スレショルド値を上回ってい
る期間及び/または下回っている期間の期間長さを求める手段とを備えている。
【0009】 このように2個の位置センサを独特の形態で配設し、且つ、それら2個の位置
センサの夫々の検出値を互いに比較することで、振動の半波期間におけるスレシ
ョルド値を求めるようにしているため、振動させる可動部材が、検出値に悪影響
を及ぼしかねない平行移動的な変位を生じた場合でも、振動振幅の測定を高精度
で行うことができる。即ち、振動振幅の測定値における誤差を抑制することがで
きる。
【0010】 この装置は、振動の第2の半波期間におけるスレショルド値である第2のスレ
ショルド値を求めるための、2個の間隔センサから成るもう1つの間隔センサ・
ペアを備えたものとすると有利である。また、その場合に、正の半波期間におけ
る前記スレショルド値と、負の半波期間における前記スレショルド値とが、互い
に等しい値を取るように、前記2つの間隔センサ・ペアを配設することが望まし
い。そのようにしておけば、特に、その振動構造体が、所定の軸心の周りの回転
振動を発生するような機械的構造体である場合に、その回転振動の軸心Aに対し
て垂直な方向の加速度が作用しても、その加速度によって振動振幅の測定値に誤
差が発生するということはない。
【0011】 前記位置センサは、キャパシタで構成することが望ましく、そうすることによ
って、費用対効果において優れた構造が得られる。ただし、前記位置センサを光
学部材で構成するようにしてもよく、また更に、位置または間隔の測定に用いら
れている当業者には周知の様々なセンサを、前記位置センサとして使用するよう
にしてもよい。
【0012】 前記位置センサ・ペアの1個のエレメントを、一段と高い位置に配設すること
で、前記スレショルド値が、前記可動部材が所定の変位を生じたときの値に定め
られるようにすることが望ましい。また、前記スレショルド値が、例えば、物理
的な段差の大きさに応じた値となるようにするのもよく、より具体的には、揺動
部材の表面、または、揺動部材に対向する部材の表面に配設する複数の電極を、
段差を付けて配設することによって、前記スレショルド値が、その段差の大きさ
に応じた値となるようにすることができる。また、その場合に、前記2個の位置
センサを、前記可動部材の回動軸心からの距離が互いに異なる位置に配設するこ
とが望ましい。
【0013】 本発明にかかる振動構造体の周波数及び/または振幅を測定する方法は、振動
の正の半波期間及び/または振動の負の半波期間におけるスレショルド値を求め
るステップと、振動が前記スレショルド値を上回っている期間及び/または下回
っている期間の期間長さを求めるステップと、前記スレショルド値を上回ってい
る期間及び/または下回っている期間の期間長さから、周波数及び/または振幅
を求めるステップとを含んでいる。このようにして、振動エレメントと、固定エ
レメントとの間の距離にかかわらず、振動の振幅を測定することができ、また、
振動周波数も同様に測定することができる。
【0014】 ここで、振動の正の半波期間におけるスレショルド値と振動の負の半波期間に
おけるスレショルド値とを求め、それら2つのスレショルド値の夫々を上回って
いる期間及び/または下回っている期間の期間長さから、周波数及び/または振
幅を求めるようにすることが望ましい。また、正の半波期間における前記スレシ
ョルド値と、負の半波期間における前記スレショルド値とが、互いに等しい値を
取るようにするのもよい。また特に、前記スレショルド値が、物理的な段差の大
きさに応じた値となるようにするのもよい。
【0015】 以下に添付図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について更に詳細に説明し
て行く。
【0016】 図1は、本発明にかかる装置を示した図であり、この装置は可動部材2を備え
ている。可動部材2は、揺動部材であり、軸心Aの周りの回転振動が可能なよう
に支持されている。揺動部材2は、棒状の部材としてもよく、また、板状の部材
としてもよい。揺動部材2は、外力を作用させることで振動させることができる
ようにしてある。揺動部材2に対向するように、固定部材1が配設されており、
この固定部材1は、板状部材として形成されている。2個の位置センサ10及び
11から成る第1位置センサ・ペアが、可動部材2と固定部材1との間の距離を
計測することによって、可動部材2が軸心Aを中心とした回転振動(揺動振動)
をする際の揺動変位を計測できるようにしている。それら2個の位置センサ10
及び11は、振動の半波期間において、それら位置センサの夫々の検出値の一方
が他方を上回ったり下回ったりするような位置に配設されている。これについて
更に詳しく説明すると、振動部材2の中立位置からの揺動変位が、所定の角度ψ
になったときに、2個の位置センサ10及び11の検出値が互いに等しくなるよ
うにしてあり、その揺動変位が角度ψを超えているときには、位置センサ10の
検出値が位置センサ11の検出値より大きく、その揺動変位が角度ψ以下である
ときには、位置センサ10の検出値が位置センサ11の検出値より小さくなって
いる。
【0017】 2個の位置センサ10、11は、比較器(比較回路)に接続されている。この
比較器(比較回路)は、それら位置センサ10、11の夫々の検出値を互いに比
較し、その比較結果に基づいてスレショルド値Usを、それら位置センサ10、
11の検出値が互いに等しくなったときの値に定めるものである。また、計時手
段を備えており、この計時手段を用いて、スレショルド値Usと、一方の位置セ
ンサの検出信号とから、振動の振幅Asと周波数fsとを求めることができるよう
にしており、それについて以下に詳細に説明する。
【0018】 図示の実施の形態では、2個の位置センサ10及び11の各々を、キャパシタ
で構成してある。また、この好適な実施の形態においては、揺動部材2の回動軸
心(揺動軸心)Aの両側に位置センサ・ペア(キャパシタ・ペア)を配設してあ
り、即ち、位置センサ(キャパシタ)10及び11から成るキャパシタ・ペアと
、位置センサ(キャパシタ)20及び21から成るキャパシタ・ペアとを配設し
てある。キャパシタ・ペア10、11における1個の電極11aと、キャパシタ
・ペア20、21における1個の電極21aとは、揺動部材2の表面の一段と高
い位置に配設してある。そして、揺動部材2が中立位置にあるとき、即ち、揺動
変位角ψ=0のときに、一段と高い位置に配設してある電極11a、21aと、
それらの対向電極との間の間隔が、夫々のキャパシタ・ペアにおける別の電極1
0a及び20aと、それらの対向電極との間の間隔よりも、小さくなるようにし
てある。また、そのようにするために、図示の実施の形態では、電極10a、1
1a、20a、21aを配設する揺動部材2の表面8を、段差を有する形状に形
成してある。ただし、本発明にかかる装置を構成する上では、揺動部材2の側に
配設する複数の電極の間に高さの差をつける代わりに、揺動部材2に対向する板
状部材1の側に配設する複数の電極の間に高さの差をつけるようにしてもよい。
ここで重要なことは、どのような実施の形態とする場合でも、また、位置センサ
10、11、20、21の具体的な構造をどのようなものとする場合でも、揺動
部材2の揺動変位が所定の角度ψにあるときにだけ、2個の位置センサ10、1
1の検出値が互いに同じ値になり、その他の角度になっているときには、それら
位置センサの検出値が互いに異なっているようにすることである。
【0019】 2個の位置センサ(キャパシタ)20及び21から成る第2位置センサ・ペア
(キャパシタ・ペア)を備えているのは、揺動部材2がどちらの揺動方向へ揺動
変位した場合でも、その揺動変位が所定の角度になったときに、その揺動方向に
対応した方の位置センサ・ペアの2個の位置センサの検出値が互いに等しくなる
ようにするためである。そして、このときの検出値をもって、振動の夫々の半波
期間におけるスレショルド値Usとするようにしている。従って、揺動部材2の
揺動変位が、角度+ψまたは−ψを超えているときには、いずれか一方の位置セ
ンサ・ペアにおいて、その2個の位置センサのうちの一方の位置センサの検出信
号の値が、このスレショルド値を超えている。
【0020】 以上の構成によれば、キャパシタ10及び11から成る第1キャパシタ・ペア
における電極11aと、キャパシタ20及び21から成る第2キャパシタ・ペア
における電極21aとを、どれ程の高さに配設するか、即ち、どれ程突出させる
かによって、スレショルド値Usの大きさが定まる。このことを利用して、スレ
ショルド値Usを、個々の用途における具体的な条件に応じて、様々な値に設定
することができる。
【0021】 次に図2を参照して、揺動部材2と板状部材1との間の間隔dが変動した場合
でも、その変動に何ら影響されることなく、位置センサ(キャパシタ)10、1
1、20、21の検出信号から振動振幅を求めることのできる方法について説明
する。ここでは、図2の信号振幅Asは、位置センサ10から出力される検出信
号の振幅であるものとする。位置センサ10は、図1で見た揺動部材2の右半分
の、その外端寄りに配設されている。揺動部材2が中立位置から角度ψまで揺動
変位して行くと、この揺動部材2の右半分が板状部材1の対向部位へ近付いて行
き、その揺動変位が角度ψになった時点で、位置センサ10と11の夫々の検出
信号の値が互いに等しくなり、これが比較器(比較回路)によって検出されるこ
とによって、そのときの検出信号の値が、正のスレショルド値+Usとされる。
揺動部材2がそこから更に正の揺動方向へ揺動変位して行くと、位置センサ10
の検出信号の値は、正のスレショルド値(スレショルド電圧)+Usを超えてそ
の極大値に達し、続いて、揺動部材2の揺動方向が逆転すると、位置センサ10
の検出信号の値は次第に低下して、スレショルド電圧+Usを下回る値になる。
以上において、位置センサ10の検出信号の値が、スレショルド電圧+Usを上
回った時点から、スレショルド電圧+Usを下回る値になった時点までの期間長
さTpを計測しておく。続いて、揺動部材2が中立位置を通過すると、揺動変位
の方向が、それまでと逆方向になり、その負の変位角が−ψになったときに、揺
動部材2の左半分に配設されている2個の位置センサ20及び21の夫々の検出
信号の値が互いに等しくなり、このときのそれら検出信号の値をもって、第2半
波期間(負の半波期間)におけるスレショルド値−Usとする。揺動部材2がこ
の方向へ更に揺動してまた戻るまでの間に、位置センサ20の検出信号の値は、
一旦このスレショルド値−Usを超え、そして再びこのスレショルド値−Usを超
える値になり、その間の期間長さTnを計測しておく。
【0022】 振動振幅Asは、スレショルド値Usと、周波数fsと、検出信号の値がスレシ
ョルド値+Usを上回っている期間の期間長さTpとから求めることができ、次の
式(1)に従って算出する。 As=Us/cos(Tp×π×fs) (1) また、周波数fsは、一方の揺動方向においてそのスレショルド値を超えた時点
から、同じ揺動方向において次にそのスレショルド値を超える時点までの期間長
さから求めることができ、その場合には、一方の半波期間におけるスレショルド
値を求めるために使用している、一方の位置センサ・ペアだけを用いて、周波数
を求めることができる。
【0023】 ただし、ここでは、位置センサ10及び11から成る位置センサ・ペアと、位
置センサ20及び21から成る位置センサ・ペアとの、合計2つの位置センサ・
ペアを備えており、それら位置センサ・ペアを揺動軸心Aの両側に1つずつ配設
しているため、周波数fsを以下の式(2)に従って期間長さTfpから求めるよ
うにしてもよく、また、周波数fs’を以下の式(3)に従って期間長さTfn
ら求めるようにしてもよい。 fs =1/(2×Tfp) (2) fs’=1/(2×Tfn) (3) これらの式において、Tfpは、検出信号の値が、正の半波期間におけるスレショ
ルド値+Usを超える値になった時点から、負の半波期間におけるスレショルド
値−Usを超える値になった時点までの期間長さである。また、Tfnは、検出信
号の値が、正の半波期間におけるスレショルド値+Usを超えない値になった時
点から、負の半波期間におけるスレショルド値−Usを超えない値になった時点
までの期間長さである。
【0024】 更に、振幅が正のスレショルド電圧+Usを超えている期間Tpに対応したステ
ップ関数状の信号Spと、振幅が負のスレショルド電圧−Usを超えている期間T n に対応したステップ関数状の信号Snとを発生させており、これら信号Sp及び
nに処理を施して、振動の振幅及び/または周波数を算出することによって、
揺動部材2と板状部材1との間の間隔dの変動に何ら影響されることなく、それ
らを算出することができるようにしている。
【0025】 以上に説明した構造ないし装置は、マイクロメカニクス技術を用いて製作する
ことができ、そうすることによって、コンパクトな構造で、大量生産に適した、
費用対効果に優れた構造ないし装置が得られる。尚、かかる構造において、回動
軸心Aに垂直な方向の加速度が作用したときには、可動部材2が平行移動的な変
位を発生する可能性があるが、本発明によれば、そのような変位が生じても、そ
れによって振幅の測定値に誤差が発生することはない。
【0026】 本発明にかかる装置は、例えば、図3に示したような、公知の角速度センサに
利用し得るものである。図3の角速度センサでは、y軸の周りの回動(揺動)が
可能なように形成されたフレーム部30の内側に、インナ部31が形成されてお
り、このインナ部31は、x軸の周りの回動(揺動)が可能なようにフレーム部
30に支持されている。この角速度センサに、本発明にかかる装置を組込めば、
フレーム部30やインナ部31が、平行移動的な変位を生じたために、個々の位
置センサの検出値が変動した場合でも、それによって振動振幅の測定値に誤差が
発生することはなく、従って、フレーム部30の揺動変位並びにインナ部31の
揺動変位を正確に測定することができる。また、そうするためには、フレーム部
30及び/またはインナ部31に、揺動変位を測定してスレショルド値を求める
ための位置センサ・ペアを配設する。そして、上で説明したように、それら位置
センサ・ペアを構成している位置センサの検出値から、振動の振幅及び周波数を
求めるようにすれば、それによって、フレーム部やインナ部の平行移動的な変位
が振幅ないし周波数の測定値に悪影響を及ぼすのを防止することができる。
【0027】 本発明は、以上に説明した具体的な用途ばかりでなく、回動(揺動)可能に支
持した部材の変位から所望の物理量を求めるようにした、その他の様々な用途に
も利用し得るものである。その種の用途においては、その具体的な形態がどのよ
うなものであれ、その回動(揺動)可能な部材の平行移動的な変位や変形による
悪影響を排除して、周波数ないし振幅を良好に測定し得るようにすることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明にかかる装置の好適な実施の形態を示した模式的断面図である。
【図2】 振動と、本発明にかかる方法を用いてその振幅及び周波数を測定する際に利用
する特性物理量とを、説明するための波形図である。
【図3】 振動構造体を備えた公知の角速度センサを示した図である。
【手続補正書】
【提出日】平成13年4月6日(2001.4.6)
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図1】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 フィッケル・ヴィルヘルム ドイツ連邦共和国 ディー−85604 ポー リング,ズグスピツシュトラッセ 5 (72)発明者 レントネル・コンラッド ドイツ連邦共和国 ディー−85375 ミン トラヒング,イザルヴェッグ 7ベー Fターム(参考) 2F105 BB03 CC04 CD03 CD05 CD11 2G064 AB23 BA02 BD05 CC13 【要約の続き】 って何ら影響されることなく振動振幅を測定することが でき、従って、そのような変位によって振動振幅の測定 結果が損なわれることがない。

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 加速度や角速度の計測などの用途に適した、振動構造体の周
    波数及び/または振幅を測定する装置であって、振動させることのできる可動部
    材(2)を備えた装置において、 前記可動部材(2)の変位を測定するための2個の位置センサ(10、11)
    から成る位置センサ・ペアであって、振動の半波期間においてそれら2個の位置
    センサの夫々の検出値の一方が他方を上回り及び/または下回るようにそれら2
    個の位置センサが配設されている位置センサ・ペアと、 前記2個の位置センサ(10、11)の夫々の検出値を互いに比較し、その比
    較結果から振動の半波期間におけるスレショルド値(Us)を求められるように
    する比較手段と、 前記2個の位置センサ(10、11)のうちの一方の位置センサの検出値が前
    記スレショルド値(Us)を上回っている期間及び/または下回っている期間の
    期間長さを求める手段と、 を備えたことを特徴とする装置。
  2. 【請求項2】 振動の第2の半波期間におけるスレショルド値である第2の
    スレショルド値を求めるための、2個の位置センサ(20、21)から成るもう
    1つの位置センサ・ペアを備えていることを特徴とする請求項1記載の装置。
  3. 【請求項3】 正の半波期間における前記スレショルド値と、負の半波期間
    における前記スレショルド値とが、互いに等しい値(Us)を取るように、前記
    2つの位置センサ・ペア(10、11、20、21)が配設されていることを特
    徴とする請求項2記載の装置。
  4. 【請求項4】 前記位置センサ(10、11、20、21)が、キャパシタ
    または光学部材で構成されていることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項
    記載の装置。
  5. 【請求項5】 位置センサ(10、11、20、21)の少なくとも1個の
    エレメント(11a、21a)が、一段と高い位置に配設されており、それによ
    って、前記スレショルド値(Us)が、前記可動部材(2)が所定の変位ψを生
    じたときの値に定められるようにしたことを特徴とする請求項1乃至4の何れか
    1項記載の装置。
  6. 【請求項6】 前記可動部材(2)の表面(8)に、固定部材(3)の表面
    (9)に配設されている複数の電極(10b、11b、20b、21b)の夫々
    と対向する複数の電極(10a、11a、20a、21a)が配設されており、
    それら2つの表面(8、9)の少なくとも一方が、段差を有する形状に形成され
    ていることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項記載の装置。
  7. 【請求項7】 前記スレショルド値が、物理的な段差の大きさに応じた値と
    なるようにしたことを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項記載の装置。
  8. 【請求項8】 前記2個の位置センサ(10、11)が、前記可動部材(2
    )の回動軸心Aからの距離が互いに異なる位置に配設されていることを特徴とす
    る請求項1乃至7の何れか1項記載の装置。
  9. 【請求項9】 加速度や角速度の計測などの用途に適した、振動構造体の周
    波数及び/または振幅を測定する方法において、 振動の正の半波期間及び/または振動の負の半波期間におけるスレショルド値
    (Us)を求めるステップと、 振動が前記スレショルド値(Us)を上回っている期間及び/または下回って
    いる期間の期間長さ(Tp)を求めるステップと、 前記スレショルド値(Us)を上回っている期間及び/または下回っている期
    間の期間長さから、周波数及び/または振幅を求めるステップと、 を含んでいることを特徴とする方法。
  10. 【請求項10】 振動の正の半波期間におけるスレショルド値(+Us)と
    振動の負の半波期間におけるスレショルド値(−Us)とを求め、それら2つの
    スレショルド値の夫々を上回っている期間及び/または下回っている期間の期間
    長さから、周波数及び/または振幅を求めることを特徴とする請求項9記載の方
    法。
  11. 【請求項11】 前記振幅Asを、 As=Us/cos(Tp×π×fs) なる式に従って求めるようにし、この式において、Tpは、半波期間における
    前記スレショルド値(Us)を上回っている期間及び/または下回っている期間
    の期間長さであり、fsは振動の周波数である、 ことを特徴とする請求項9または10記載の方法。
  12. 【請求項12】 正の半波期間における前記スレショルド値と、負の半波期
    間における前記スレショルド値とが、互いに等しい値(Us)を取るようにする
    ことを特徴とする請求項9乃至10の何れか1項記載の方法。
  13. 【請求項13】 前記スレショルド値(Us)が、物理的な段差の大きさに
    応じた値となるようにすることを特徴とする請求項9乃至12の何れか1項記載
    の方法。
JP2001501899A 1999-06-08 2000-06-06 加速度や角速度の計測などの用途に適した振動構造体の周波数及び振幅を測定する装置及び方法 Withdrawn JP2003501663A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19925979.8 1999-06-08
DE19925979A DE19925979B4 (de) 1999-06-08 1999-06-08 Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Frequenz und Amplitude einer schwingenden Struktur, insbesondere zur Messung von Beschleunigungen oder Drehraten
PCT/DE2000/001824 WO2000075676A1 (de) 1999-06-08 2000-06-06 Vorrichtung und verfahren zur bestimmung von frequenz und amplitude einer schwingenden struktur, insbesondere zur messung von beschleunigungen oder drehraten

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003501663A true JP2003501663A (ja) 2003-01-14

Family

ID=7910473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001501899A Withdrawn JP2003501663A (ja) 1999-06-08 2000-06-06 加速度や角速度の計測などの用途に適した振動構造体の周波数及び振幅を測定する装置及び方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6631641B1 (ja)
EP (1) EP1102996A1 (ja)
JP (1) JP2003501663A (ja)
CN (1) CN1319187A (ja)
DE (1) DE19925979B4 (ja)
WO (1) WO2000075676A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE50308298D1 (de) 2003-04-01 2007-11-08 Fraunhofer Ges Forschung Beschleunigungssensor und verfahren zum erfassen einer beschleunigung
US6935175B2 (en) * 2003-11-20 2005-08-30 Honeywell International, Inc. Capacitive pick-off and electrostatic rebalance accelerometer having equalized gas damping
US7392685B2 (en) * 2005-07-26 2008-07-01 Honeywell International Inc. Accelerometer having adjustable damping
CN100397085C (zh) * 2005-11-01 2008-06-25 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 悬臂梁-质量块结构的吸合时间式数字加速度传感器
JP5790296B2 (ja) 2011-08-17 2015-10-07 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー及び電子機器
US9290067B2 (en) * 2012-08-30 2016-03-22 Freescale Semiconductor, Inc. Pressure sensor with differential capacitive output

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4598585A (en) * 1984-03-19 1986-07-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Planar inertial sensor
US5313835A (en) * 1991-12-19 1994-05-24 Motorola, Inc. Integrated monolithic gyroscopes/accelerometers with logic circuits
EP0765464B1 (de) 1994-06-16 2003-05-14 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor
US5618338A (en) 1994-07-08 1997-04-08 Canon Kabushiki Kaisha Liquid composition, ink set and image-forming method and apparatus which employ the same
US6102537A (en) 1995-02-13 2000-08-15 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for ink-jet printing
US6084619A (en) 1995-04-21 2000-07-04 Seiko Epson Corporation Ink jet recording method
JPH08295034A (ja) 1995-04-27 1996-11-12 Canon Inc カラー記録装置
JP3579748B2 (ja) * 1995-05-24 2004-10-20 株式会社トキメック ジャイロ装置
JP3988210B2 (ja) 1997-06-09 2007-10-10 富士フイルム株式会社 記録液による記録方法及び記録装置
US6196067B1 (en) * 1998-05-05 2001-03-06 California Institute Of Technology Silicon micromachined accelerometer/seismometer and method of making the same

Also Published As

Publication number Publication date
US6631641B1 (en) 2003-10-14
CN1319187A (zh) 2001-10-24
DE19925979A1 (de) 2000-12-28
EP1102996A1 (de) 2001-05-30
DE19925979B4 (de) 2004-07-01
WO2000075676A1 (de) 2000-12-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3811444B2 (ja) 垂直振動質量体を有するmemsジャイロスコープ
US5747690A (en) Vibratory microgyroscope
JP5553846B2 (ja) 加速度センサおよび加速度センサの作動方法
US7004024B1 (en) Horizontal and tuning fork vibratory microgyroscope
JP5027984B2 (ja) 揺動体を用いた電位測定装置、電位測定方法、及び画像形成装置
JP6931487B2 (ja) 変位検出装置
JP5159062B2 (ja) 角速度センサ
JP2008241242A (ja) 集積化モノリシック・ジャイロスコープ/加速度計
JPH05248874A (ja) 多軸振動モノリシックジャイロスコープ
EP3234503B1 (en) A quadrature compensation method for mems gyroscopes and a gyroscope sensor
JP2011141281A (ja) 角速度のための振動マイクロ−メカニカルセンサー
JPH0520693B2 (ja)
JP3770676B2 (ja) マイクロジャイロスコープ
JP2003501663A (ja) 加速度や角速度の計測などの用途に適した振動構造体の周波数及び振幅を測定する装置及び方法
JP2015125124A (ja) 多軸センサ
JP2005172836A (ja) 信号の対称的な制限を有するセンサ
JPH0682469A (ja) 加速度計
US6895819B1 (en) Acceleration sensor
CN111780736B (zh) 微机械结构驱动幅度校正系统及方法
JPH11325905A (ja) 振動ジャイロ
Sato et al. Analysis of parallel beam gyroscope
JP2007178300A (ja) 音叉型振動子
RU2761764C1 (ru) Микромеханический вибрационный гироскоп
RU2659097C2 (ru) Способ компенсации погрешности от углового ускорения основания для кориолисова вибрационного гироскопа с непрерывным съёмом навигационной информации
JP2010025840A (ja) 力検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20070807