JP2003347266A - Apparatus and method for treating substrate - Google Patents

Apparatus and method for treating substrate

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JP2003347266A
JP2003347266A JP2002157938A JP2002157938A JP2003347266A JP 2003347266 A JP2003347266 A JP 2003347266A JP 2002157938 A JP2002157938 A JP 2002157938A JP 2002157938 A JP2002157938 A JP 2002157938A JP 2003347266 A JP2003347266 A JP 2003347266A
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JP
Japan
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processing
processing chamber
substrate
adjustment space
pressure
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Application number
JP2002157938A
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Japanese (ja)
Inventor
Kounosuke Hayashi
航之介 林
Shinsuke Ueki
慎介 植木
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Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a treatment apparatus capable of preventing the leakage of mist-like treatment liquid from a treatment chamber for treating a substrate to the outside, and preventing the invasion of outside air to the treatment chamber. <P>SOLUTION: This apparatus is provided with: an inner case 2 having a treatment chamber 5 therein; an outer case 3 housing the inner case inside; a treatment tank 1 formed with an adjusting space 6 between the inner peripheral surface of the outer case and the outer peripheral surface of the inner case; a rotary table 12 provided in the treatment chamber for rotating the substrate; a nozzle body for supplying the treatment liquid to the substrate and treating; a fan filter unit 14 for supplying clean air to the treatment chamber and the adjusting space; a first discharge pipe 16 for discharging the atmosphere of the treatment chamber; a second discharge pipe 19 for discharging the atmosphere of the adjusting space section; and a controller for controlling the pressure of the adjusting space according to the pressure of the treatment chamber. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は処理槽内で基板を
処理液によって処理するための基板の処理装置及び処理
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus and a processing method for processing a substrate with a processing liquid in a processing bath.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置や液晶表示装置などを製造す
る場合、半導体ウエハやガラス基板などの基板に回路パ
タ−ンを形成するリソグラフィプロセスがある。このリ
ソグラフィプロセスは、周知のように上記基板にレジス
トを塗布し、このレジストに回路パタ−ンが形成された
マスクを介して光を照射し、ついでレジストの光が照射
されない部分(あるいは光が照射された部分)を除去
し、除去された部分をエッチングするなどの一連の工程
を複数回繰り返すことで、上記基板に回路パタ−ンを形
成するものである。
2. Description of the Related Art When a semiconductor device or a liquid crystal display device is manufactured, there is a lithography process for forming a circuit pattern on a substrate such as a semiconductor wafer or a glass substrate. In this lithography process, as is well known, a resist is applied to the substrate, and the resist is irradiated with light through a mask on which a circuit pattern is formed. The circuit pattern is formed on the substrate by repeating a series of steps such as removing the removed portion and etching the removed portion a plurality of times.

【0003】上記一連の各工程において、上記基板が汚
染されていると回路パタ−ンを精密に形成することがで
きなくなり、不良品の発生原因となる。したがって、そ
れぞれの工程で回路パタ−ンを形成する際には、レジス
トや塵埃などの微粒子が残留しない清浄な状態に上記基
板を洗浄処理するということが行われている。
In the above-described series of steps, if the substrate is contaminated, the circuit pattern cannot be precisely formed, which causes defective products. Therefore, when forming a circuit pattern in each step, the substrate is cleaned in a clean state in which fine particles such as resist and dust do not remain.

【0004】上記基板を洗浄処理する装置としてスピン
処理装置が知られている。このスピン処理装置は処理槽
を有し、この処理槽内にはカップ体が設けられている。
このカップ体内には回転テーブルが設けられ、この回転
テーブルには上記基板が着脱可能に保持される。
[0004] A spin processing apparatus is known as an apparatus for cleaning the substrate. The spin processing apparatus has a processing tank, and a cup body is provided in the processing tank.
A rotary table is provided in the cup body, and the substrate is detachably held on the rotary table.

【0005】回転テーブルに基板を保持し、回転テーブ
ルを回転させながら基板に処理液を供給して処理したな
らば、上記回転テーブルを処理液による処理時に比べて
高速度で回転させることで、この基板を乾燥処理する。
When the substrate is held on the rotary table and the processing liquid is supplied to the substrate while rotating the rotary table and the processing is performed, the rotary table is rotated at a higher speed than in the processing with the processing liquid. The substrate is dried.

【0006】上記処理槽の上部にはULPAやHEPA
などのファン・フィルタユニットが設けられ、基板を処
理するときに処理槽内に清浄空気を供給するようにして
いる。上記カップ体の底部には排出管が接続されてい
る。この排出管には排気ポンプが接続されている。それ
によって、上記ファン・フィルタユニットから処理槽内
に供給された清浄空気は上記カップ体内を通り、上記排
出管から排出される。
[0006] ULPA or HEPA is placed above the processing tank.
A fan / filter unit is provided to supply clean air into the processing tank when processing a substrate. A discharge pipe is connected to the bottom of the cup body. An exhaust pump is connected to this exhaust pipe. Thereby, the clean air supplied from the fan / filter unit into the processing tank passes through the inside of the cup and is discharged from the discharge pipe.

【0007】このように、基板の処理時にファン・フィ
ルタユニットから処理槽内に清浄空気を供給し、カップ
体内を通過させて排出することで、基板を乾燥処理する
ときに発生するミストがカップ体や処理槽内に浮遊する
のを防止している。それによって、乾燥処理時に基板に
ミストが付着して汚染原因となるのを防止している。
As described above, by supplying clean air from the fan / filter unit into the processing tank during processing of the substrate, and passing the clean air through the cup to discharge the mist, mist generated when the substrate is subjected to the drying process is reduced. And floating in the treatment tank. This prevents mist from adhering to the substrate during the drying process and causing contamination.

【0008】上記処理槽の一側には基板を出し入れする
ための出し入れ口が設けられ、この出し入れ口はシャッ
タによって開閉できるようになっている。上記回転テー
ブルに未処理の基板を供給するときや乾燥処理された基
板を上記回転テーブルから取り出すときには、上記出し
入れ口を開放し、ロボットなどによって基板の出し入れ
を行なう。
An access port for loading and unloading a substrate is provided on one side of the processing tank, and the access port can be opened and closed by a shutter. When supplying an unprocessed substrate to the rotating table or removing a dried substrate from the rotating table, the opening is opened and the substrate is loaded and unloaded by a robot or the like.

【0009】上記処理槽内の圧力は、乾燥処理時に発生
するミストが処理槽内で浮遊するのを防止するために、
たとえば負圧に設定されることがある。つまり、ファン
・フィルタユニットから処理槽内に供給される清浄空気
の量が排出管から排出される排気量よりもわずかに少な
くなるよう設定することで、処理槽内のミストを効率よ
く排出できるようにしている。
[0009] The pressure in the processing tank is set to prevent mist generated during the drying processing from floating in the processing tank.
For example, a negative pressure may be set. In other words, by setting the amount of clean air supplied from the fan / filter unit into the processing tank to be slightly smaller than the amount of exhaust discharged from the discharge pipe, the mist in the processing tank can be efficiently discharged. I have to.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、処理槽
内を負圧にすると、処理槽は気密構造でないため、外気
が処理槽内に流入するということがある。処理槽がクリ
ーンルーム内に設置されていても、クリーンルーム内の
気体、つまり処理槽内に流入する外気にはパーティクル
が含まれるから、処理槽内に流入したパーティクルによ
って基板が汚染される虞がある。
However, when a negative pressure is applied to the inside of the processing tank, the outside air may flow into the processing tank because the processing tank does not have an airtight structure. Even if the processing bath is installed in a clean room, the gas in the clean room, that is, the outside air flowing into the processing bath contains particles, and therefore, the substrate may be contaminated by the particles flowing into the processing bath.

【0011】処理槽内に外気が流入するのを防止するた
め、処理槽内の圧力を正圧に維持するということが考え
られる。しかしながら、その場合、処理槽内の雰囲気が
外部に流出する虞がある。処理槽内の雰囲気にはミスト
状の処理液が含まれている。処理液には有害な薬液が用
いられることがある。そのため、ミスト状の処理液を含
む気体が処理槽から流出すると、クリーンルームの作業
環境の悪化を招くということがあり、好ましくない。
In order to prevent outside air from flowing into the processing tank, it is conceivable to maintain the pressure in the processing tank at a positive pressure. However, in that case, there is a possibility that the atmosphere in the processing tank flows out. The atmosphere in the processing tank contains a mist-like processing liquid. Harmful chemicals may be used for the treatment liquid. Therefore, when the gas containing the mist-like processing liquid flows out of the processing tank, the working environment of the clean room may be deteriorated, which is not preferable.

【0012】この発明は、処理槽内に外気が侵入した
り、処理槽内の雰囲気が外部に流出するのを防止できる
ようにした基板の処理装置及び処理方法を提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus and a processing method capable of preventing outside air from entering a processing tank and preventing the atmosphere in the processing tank from flowing out.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
を処理液によって処理する処理装置において、内部を処
理室とした内部筐体及び内部にこの内部筐体を収容した
外部筐体を有し、この外部筐体の内周面と上記内部筐体
の外周面との間に調整空間部が形成された処理槽と、上
記処理室に設けられ上記基板に処理液を供給して処理す
る処理手段と、上記処理室と上記調整空間部とに清浄空
気を供給する清浄空気供給手段と、上記処理室の雰囲気
を排出する第1の排出手段と、上記調整空間部の雰囲気
を排出する第2の排出手段と、上記処理室の圧力に応じ
て上記調整空間部の圧力を制御する制御手段と、を具備
したことを特徴とする基板の処理装置にある。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid, comprising: an internal housing having an internal processing chamber; and an external housing housing the internal housing. A processing tank having an adjustment space formed between an inner peripheral surface of the outer housing and an outer peripheral surface of the inner housing; and a processing liquid provided to the processing chamber for supplying a processing liquid to the substrate for processing. Processing means, clean air supply means for supplying clean air to the processing chamber and the adjustment space, first discharging means for discharging the atmosphere in the processing chamber, and discharging the atmosphere in the adjustment space. A substrate processing apparatus, comprising: a second discharge unit; and a control unit that controls a pressure in the adjustment space according to a pressure in the processing chamber.

【0014】請求項2の発明は、上記制御手段は、上記
処理室の圧力を検出する第1の圧力センサと、上記調整
空間部の圧力を検出する第2の圧力センサと、これら第
1、第2の圧力センサからの検出信号によって上記清浄
空気供給手段による清浄空気の供給量若しくは上記第1
の排出手段と第2の排出手段とによる排気量の少なくと
も一方を制御する制御装置とから構成されていることを
特徴とする請求項1記載の基板の処理装置にある。
According to a second aspect of the present invention, the control means includes: a first pressure sensor for detecting a pressure in the processing chamber; a second pressure sensor for detecting a pressure in the adjustment space; According to a detection signal from the second pressure sensor, the supply amount of the clean air or the first
2. A substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising a control device for controlling at least one of the exhaust amount of said second discharge means and said exhaust means.

【0015】請求項3の発明は、上記清浄空気供給手段
は、上記処理室と上記調整空間部との上部から清浄空気
を供給するファン・フィルタユニットであって、上記第
1の排出手段と上記第2の搬出手段は、上記処理室と上
記調整空間部の底部に一端をそれぞれ連通させた第1、
第2の排気管及び各排気管にそれぞれ設けられた第1、
第2の排気ファンからなることを特徴とする請求項1又
は記載の基板の処理装置にある。
According to a third aspect of the present invention, the clean air supply means is a fan / filter unit for supplying clean air from above the processing chamber and the adjustment space, wherein the first discharge means and the first discharge means are provided. The second unloading means includes first and second ends each having one end communicating with the processing chamber and the bottom of the adjustment space.
A second exhaust pipe and a first exhaust pipe provided in each exhaust pipe.
The substrate processing apparatus according to claim 1 or 2, further comprising a second exhaust fan.

【0016】請求項4の発明によれば、基板を処理液に
よって処理する処理方法において、上記基板を処理室に
供給する工程と、この処理室と該処理室の周囲を囲む調
整空間部とに清浄空気を供給する工程と、上記処理室と
上記調整空間部とへの清浄空気の供給量及び上記処理室
と調整空間部からの排気量を制御して上記処理室と調整
空間部とに圧力差を持たせる工程と、上記処理室と調整
空間部とが圧力差を有する状態で上記処理室で上記基板
を処理する工程と、を具備したことを特徴とする基板の
処理方法にある。
According to a fourth aspect of the present invention, in the processing method of processing a substrate with a processing liquid, the step of supplying the substrate to the processing chamber and the adjusting space surrounding the processing chamber and the periphery of the processing chamber are performed. A step of supplying clean air, and controlling a supply amount of clean air to the processing chamber and the adjustment space and an exhaust amount from the processing chamber and the adjustment space to apply pressure to the processing chamber and the adjustment space. A method for processing a substrate, comprising: a step of providing a difference; and a step of processing the substrate in the processing chamber with the processing chamber and the adjustment space having a pressure difference.

【0017】この発明によれば、清浄空気が供給される
処理室の外側に、同じく清浄空気が供給される調整空間
部を設け、上記処理室内の圧力に応じて上記調整空間部
内の圧力を調整するようにしたから、外気が処理室に侵
入したり、処理室内の雰囲気が外部に流出するのを防止
することができる。
According to the present invention, an adjustment space to which clean air is supplied is provided outside the processing chamber to which clean air is supplied, and the pressure in the adjustment space is adjusted according to the pressure in the processing chamber. Thus, it is possible to prevent the outside air from entering the processing chamber and the atmosphere in the processing chamber from flowing out.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながらこの発
明の実施の形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0019】図1はこの発明の一実施の形態に係る処理
装置を示し、この処理装置は処理槽1を備えている。こ
の処理槽1は内部筐体2と、この内部筐体2を内部に収
容した外部筐体3とによって構成されている。
FIG. 1 shows a processing apparatus according to an embodiment of the present invention. The processing apparatus has a processing tank 1. The processing tank 1 includes an inner housing 2 and an outer housing 3 that houses the inner housing 2 therein.

【0020】上記内部筐体2と外部筐体3とは上下面が
開口した円筒状若しくは角筒状をなしていて、下端面の
開口は底板4によって閉塞されている。上記内部筐体2
内は、後述するごとく基板Wを処理する処理室5になっ
ており、内部筐体2の外周面と、外部筐体3の内周面と
の間には、周方向全長にわたって調整空間部6が形成さ
れている。
The inner housing 2 and the outer housing 3 are formed in a cylindrical shape or a rectangular tube shape whose upper and lower surfaces are open, and the opening at the lower end surface is closed by a bottom plate 4. Internal housing 2
The inside is a processing chamber 5 for processing a substrate W, as will be described later. Between the outer peripheral surface of the inner housing 2 and the inner peripheral surface of the outer housing 3, an adjustment space 6 extends over the entire length in the circumferential direction. Are formed.

【0021】上記内部空間部2内にはカップ体8が配設
されている。このカップ体8は上記底板4に固定された
下カップ8a及びこの下カップ8aに対して上下動可能
に設けられた上カップ8bからなり、上カップ8bは第
1のシリンダ9によって上下動されるようになってい
る。
A cup body 8 is provided in the internal space 2. The cup body 8 includes a lower cup 8a fixed to the bottom plate 4 and an upper cup 8b provided to be vertically movable with respect to the lower cup 8a. The upper cup 8b is vertically moved by a first cylinder 9. It has become.

【0022】上記カップ体7内には駆動源11によって
回転駆動される回転テーブル12が設けられている。こ
の回転テーブル12の上面には半導体ウエハや液晶表示
装置用のガラス基板などの上記基板Wが着脱可能に保持
される。
A rotary table 12 which is driven to rotate by a drive source 11 is provided in the cup body 7. The substrate W such as a semiconductor wafer or a glass substrate for a liquid crystal display device is detachably held on the upper surface of the turntable 12.

【0023】上記底板4の中央部分には、上端部が上記
回転テーブル12の下面に形成された図示せぬ環状溝に
非接触状態で入り込んでラビリンス構造をなした環状の
シール壁4aが設けられている。そして、上記駆動源1
はこのシール壁4aの内部に配置されている。
An annular seal wall 4a having a labyrinth structure is provided at a central portion of the bottom plate 4 so that an upper end thereof is inserted into an annular groove (not shown) formed on a lower surface of the rotary table 12 in a non-contact state. ing. And the driving source 1
Is disposed inside the seal wall 4a.

【0024】上記内部筐体2と外部筐体3との開口した
上端面には、清浄空気供給手段としてのファン・フィル
タユニット14が設けられている。このファン・フィル
タユニット14はULPAやHEPAなどからなり、モ
ータ15によって図示せずファンが回転されることで、
上記処理室5と調整空間6とに清浄空気を供給するよう
になっている。
A fan / filter unit 14 as a clean air supply means is provided on the open upper end surface of the inner casing 2 and the outer casing 3. The fan / filter unit 14 is made of ULPA, HEPA, or the like.
Clean air is supplied to the processing chamber 5 and the adjustment space 6.

【0025】上記底板4には、上記下カップ8aの内部
に一端を連通させて複数の第1の排出管16が接続され
ている。この実施の形態では、たとえば周方向に180
度間隔で2本或いは90度間隔で4本の第1の排出管1
6が接続されている。複数の第1の排出管16は処理槽
1の上方に向かって延出され、他端は第1の集合管17
によって集合されている。この第1の集合管17は第1
の排気ファン18の吸引側に接続されている。
A plurality of first discharge pipes 16 are connected to the bottom plate 4 such that one end thereof communicates with the inside of the lower cup 8a. In this embodiment, for example, 180
2 first discharge pipes 1 at 90 degree intervals or 4 at 90 degree intervals
6 are connected. The plurality of first discharge pipes 16 extend toward the upper side of the processing tank 1, and the other ends thereof are the first collecting pipes 17.
Are gathered by This first collecting pipe 17 is
Is connected to the suction side of the exhaust fan 18.

【0026】したがって、上記ファン・フィルタユニッ
ト14から上記処理室5に供給された清浄空気は、上記
カップ体8内を通って上記第1の排出管16から第1の
集合管17を通って排出されるようになっている。
Therefore, the clean air supplied from the fan / filter unit 14 to the processing chamber 5 passes through the cup body 8 and is discharged from the first discharge pipe 16 through the first collecting pipe 17. It is supposed to be.

【0027】上記調整空間部6の底部には周方向に18
0度間隔若しくは90度間隔で複数の第2の排出管19
の一端が接続されている。この第2の排出管19は上記
処理槽1の上方に向かって延出され、他端は第2の集合
管20によって集合されている。この第2の集合管20
は第2の排気ファン21の吸引側に接続されている。そ
れによって、上記ファン・フィルタユニット14から上
記調整空間部6に供給された清浄空気は上記第2の排気
管及び第2の集合管20を通って排出されるようになっ
ている。
The bottom of the adjustment space 6 is 18
A plurality of second discharge pipes 19 are provided at intervals of 0 degrees or 90 degrees.
Are connected at one end. The second discharge pipe 19 extends upward from the processing tank 1, and the other end is collected by a second collecting pipe 20. This second collecting pipe 20
Is connected to the suction side of the second exhaust fan 21. Thereby, the clean air supplied from the fan / filter unit 14 to the adjustment space 6 is discharged through the second exhaust pipe and the second collecting pipe 20.

【0028】図2に示すように、上記ファン・フィルタ
ユニット14による上記処理室5と上記調整空間部6へ
の清浄空気の供給量、つまりモータ15の回転数は制御
装置23によって制御することができるようになってい
る。
As shown in FIG. 2, the amount of clean air supplied to the processing chamber 5 and the adjustment space 6 by the fan / filter unit 14, that is, the number of revolutions of the motor 15, can be controlled by a control unit 23. I can do it.

【0029】上記供給部5と、上記調整空間部6に供給
された清浄空気の排出量は、上記第1の排気ファン18
と第2の排気ファン21との回転数を上記制御装置23
によって制御することで行われる。
The discharge amount of the clean air supplied to the supply section 5 and the adjustment space section 6 is determined by the first exhaust fan 18.
And the second exhaust fan 21 are controlled by the controller 23
It is performed by controlling by.

【0030】したがって、上記ファン・フィルタユニッ
ト14による清浄空気の供給量と上記第1、第2の排気
ファン18,21による清浄空気の排出量とを制御する
ことで、上記処理室5と上記調整空間部6との圧力を設
定することができるようになっている。
Therefore, by controlling the supply amount of clean air by the fan / filter unit 14 and the discharge amount of clean air by the first and second exhaust fans 18 and 21, the processing chamber 5 and the adjustment are adjusted. The pressure with the space 6 can be set.

【0031】上記処理室5の圧力は第1の圧力センサ2
4によって検出され、上記調整空間部6の圧力は第2の
圧力センサ25によって検出される。各圧力センサ2
4,25の検出信号は上記制御装置23に入力され、こ
こで予め設定された設定値と比較され、その比較結果に
基づいて設定された圧力になるよう、上記ファン・フィ
ルタユニット14からの清浄空気の量及び第1、第2の
排気ファン18,21による排気量を制御する。
The pressure in the processing chamber 5 is the first pressure sensor 2
4, and the pressure in the adjustment space 6 is detected by the second pressure sensor 25. Each pressure sensor 2
The detection signals 4 and 25 are input to the control device 23, where the detection signals are compared with preset values, and the cleaning from the fan / filter unit 14 is adjusted to a pressure set based on the comparison result. The amount of air and the amount of exhaust by the first and second exhaust fans 18 and 21 are controlled.

【0032】上記処理槽1の一側には、外部を上記処理
室5内に連通させる連通部26が上記調整空間部6に対
して気密に形成されている。この連通部26の処理槽1
の外面に開口した一端はシャッタ27によって開閉され
る。このシャッタ27は第2のシリンダ28によって上
下駆動される。
On one side of the processing tank 1, a communication part 26 for communicating the outside with the inside of the processing chamber 5 is formed airtight with respect to the adjustment space part 6. Processing tank 1 of this communication part 26
The shutter 27 opens and closes one end opened to the outer surface of the shutter. The shutter 27 is driven up and down by a second cylinder 28.

【0033】上記連通部26を開放し、上記カップ体8
の上カップ8bを下降させることで、図示せぬロボット
により上記カップ体8内の回転テーブル12に未処理の
基板Wを供給したり、処理された基板Wを搬出できるよ
うになっている。
The communication part 26 is opened, and the cup body 8 is opened.
By lowering the upper cup 8b, an unprocessed substrate W can be supplied to the turntable 12 in the cup body 8 or a processed substrate W can be carried out by a robot (not shown).

【0034】上記上カップ8bの上端には、回転テーブ
ル12に保持された基板Wに向けて処理液を供給するノ
ズル体29が設けられている。この発明では上記ノズル
体29が基板Wを処理するための処理手段を構成してい
る。
At the upper end of the upper cup 8b, a nozzle body 29 for supplying a processing liquid toward the substrate W held on the turntable 12 is provided. In the present invention, the nozzle body 29 constitutes a processing unit for processing the substrate W.

【0035】つぎに、上記構成の処理装置によって基板
Wを処理する手順を説明する。
Next, a procedure for processing the substrate W by the processing apparatus having the above configuration will be described.

【0036】最初に、制御装置23によって処理室5と
調整空間部6との圧力を設定する。たとえば、基板Wを
処理する処理液がミスト状となって外部に漏れ出るのを
防止するため、処理室5を−5.0Pa程度の負圧に設
定し、調整空間部6を+5.0Pa程度の正圧に設定す
る。
First, the pressure in the processing chamber 5 and the adjustment space 6 is set by the control device 23. For example, the processing chamber 5 is set at a negative pressure of about -5.0 Pa, and the adjustment space 6 is set at about +5.0 Pa in order to prevent the processing liquid for processing the substrate W from becoming a mist and leaking to the outside. Set to positive pressure.

【0037】処理装置の運転を開始することで、上記設
定値に基づいて、ファン・フィルタユニット14からの
清浄空気の供給量と、第1、第2の排気ファン18,2
1による処理室5と調整空間部6からの排気量とが所定
量となるよう、上記ファン・フィルタユニット14のモ
ータ15と、第1、第2の排気ファン18,21との回
転数が制御されて運転される。
By starting the operation of the processing apparatus, the supply amount of the clean air from the fan / filter unit 14 and the first and second exhaust fans 18 and 2 are set based on the above set values.
The number of rotations of the motor 15 of the fan / filter unit 14 and the first and second exhaust fans 18 and 21 is controlled so that the amount of exhaust from the processing chamber 5 and the adjustment space 6 by the first unit 1 becomes a predetermined amount. Being driven.

【0038】処理室5と調整空間部6との圧力が第1の
圧力センサ24と第2の圧力センサ25とによって検出
され、その検出値によって制御されることで設定値にな
ったならば、ノズル体29から基板Wに向けて処理液を
供給する。それによって、基板Wは処理液によって処理
される。
If the pressures in the processing chamber 5 and the adjustment space 6 are detected by the first pressure sensor 24 and the second pressure sensor 25 and controlled by the detected values to reach a set value, The processing liquid is supplied from the nozzle body 29 toward the substrate W. Thereby, the substrate W is processed by the processing liquid.

【0039】基板Wの処理液による処理が終了したなら
ば、図示せぬリンスノズルから基板Wへ純水を供給して
リンス処理した後、回転テーブル12をリンス処理時に
比べて高速度で回転させることで、基板Wを乾燥処理す
る。
After the processing of the substrate W with the processing liquid is completed, pure water is supplied to the substrate W from a rinsing nozzle (not shown) to perform a rinsing process, and then the rotary table 12 is rotated at a higher speed than in the rinsing process. Thus, the substrate W is dried.

【0040】このようにして基板Wを処理すると、処理
液や処理液を含む純水がミスト状となって処理室5に浮
遊し、この処理室5から外部へ流出する虞がある。しか
しながら、上記処理室5は負圧に制御され、処理室5を
囲んで形成された調整空間部6は正圧に制御されてい
る。
When the substrate W is processed in this manner, the processing liquid or pure water containing the processing liquid may form a mist and float in the processing chamber 5, and may flow out of the processing chamber 5 to the outside. However, the processing chamber 5 is controlled at a negative pressure, and the adjustment space 6 formed surrounding the processing chamber 5 is controlled at a positive pressure.

【0041】そのため、処理室5を形成する内部筐体2
の気密性が十分に確保されていなくても、負圧の処理室
5には、この処理室5の外周に形成された調整空間部6
に供給された清浄空気が流入する。そのため、処理室5
に浮遊するミストがこの処理室5から処理槽1の外部に
漏れ出るのを防止することができる。
Therefore, the inner casing 2 forming the processing chamber 5
Even if the airtightness of the processing chamber 5 is not sufficiently ensured, the adjusting chamber 6 formed on the outer periphery of the processing chamber 5 is provided in the processing chamber 5 under the negative pressure.
The clean air supplied to the air flows in. Therefore, the processing room 5
Can be prevented from leaking from the processing chamber 5 to the outside of the processing tank 1.

【0042】上記調整空間部6から処理室5に流入する
気体はファン・フィルタユニット14から供給された清
浄空気である。そのため、負圧の処理室5に調整空間部
6から清浄空気が流入しても、この処理室5内の基板W
が汚染されることがない。
The gas flowing into the processing chamber 5 from the adjustment space 6 is clean air supplied from the fan / filter unit 14. Therefore, even if clean air flows into the processing chamber 5 under negative pressure from the adjustment space 6, the substrate W
Is not contaminated.

【0043】このようにして、基板Wの洗浄処理、リン
ス処理及び調整処理が終了したならば、回転テーブル1
2を停止し、処理室5及び調整空間部6のうち、少なく
とも処理室5が大気圧になるよう圧力を調整する。つい
で、第2のシリンダ28によりシャッタ27を上方にス
ライドさせて連通部26を開放し、この連通部26を介
して処理された基板Wを回転テーブル12から取り出
し、未処理の基板Wを上記回転テーブル12に供給す
る。
When the cleaning, rinsing, and adjustment processes for the substrate W are completed in this manner, the rotating table 1
2 is stopped, and the pressure is adjusted so that at least the processing chamber 5 of the processing chamber 5 and the adjustment space 6 has the atmospheric pressure. Next, the shutter 27 is slid upward by the second cylinder 28 to open the communication portion 26, the processed substrate W is taken out of the turntable 12 via the communication portion 26, and the unprocessed substrate W is rotated by the rotation. Supply to the table 12.

【0044】処理室5を大気圧にしてから連通部26を
開放すれば、処理室5内の雰囲気が外部に流出して作業
空間を汚染したり、外気が処理室5内に流入して処理室
5内を汚すなどのことをなくすことができる。
If the communication section 26 is opened after the processing chamber 5 is set to the atmospheric pressure, the atmosphere in the processing chamber 5 flows out to contaminate the working space, or the outside air flows into the processing chamber 5 to perform processing. The inside of the room 5 can be prevented from being dirty.

【0045】上記一実施の形態では、処理室5を負圧、
調整空間部6を正圧にして基板Wを処理したが、汚れた
外気が処理室5に流入するのを確実に防止するために
は、処理室5を正圧に制御して処理が行われることがあ
る。その場合、調整空間部6は負圧に設定する。
In the above embodiment, the processing chamber 5 is set to a negative pressure,
Although the substrate W is processed with the adjustment space 6 at a positive pressure, the processing is performed by controlling the processing chamber 5 to a positive pressure in order to surely prevent dirty outside air from flowing into the processing chamber 5. Sometimes. In that case, the adjustment space 6 is set to a negative pressure.

【0046】処理室5を正圧に設定することで、外気が
処理室5に流入するのを確実に防止することができるも
のの、処理室5内の雰囲気が外部に流出する虞がある。
しかしながら、処理室5の周囲を囲む調整空間部6は負
圧に設定されるから、処理室5から漏れ出た雰囲気は調
整空間部6に流れ込んで排出される。そのため、処理室
5の雰囲気が外部に流出するのを防止することができ
る。
By setting the processing chamber 5 to a positive pressure, the outside air can be surely prevented from flowing into the processing chamber 5, but the atmosphere in the processing chamber 5 may flow out to the outside.
However, since the adjustment space 6 surrounding the periphery of the processing chamber 5 is set to a negative pressure, the atmosphere leaking from the processing chamber 5 flows into the adjustment space 6 and is discharged. Therefore, it is possible to prevent the atmosphere in the processing chamber 5 from flowing out.

【0047】つまり、処理室5に外気が侵入するのを防
止するため、処理室5を正圧にして基板Wを処理して
も、処理室5のミスト状の処理液を含む雰囲気が外部に
流出するのを確実に防止することが可能となる。
That is, in order to prevent outside air from entering the processing chamber 5, even if the processing chamber 5 is processed at a positive pressure and the substrate W is processed, the atmosphere containing the mist-like processing liquid in the processing chamber 5 is not exposed to the outside. Outflow can be reliably prevented.

【0048】なお、上記一実施の形態では処理室と調整
空間部とに1つのファン・フィルタユニットによって清
浄空気を供給するようにしたが、上記処理室と調整空間
部とには別々のファン・フィルタユニットによって清浄
空気を供給するようにしてもよい。そうすることによっ
て、処理室と調整空間部とへの清浄空気の供給量を別々
に制御することが可能となる。
In the above-described embodiment, one fan / filter unit is used to supply clean air to the processing chamber and the adjustment space. You may make it supply clean air by a filter unit. By doing so, it becomes possible to separately control the supply amount of clean air to the processing chamber and the adjustment space.

【0049】また、第1の排出管と第2の排出官からの
排気量を、第1、第2の排気ファンによって制御するよ
うにしたが、各排気管にそれぞれバタフライ弁などの流
量調整弁を設け、その弁の開度を調整して排気量を制御
するようにしてもよい。
Further, the amount of exhaust from the first exhaust pipe and the second exhauster is controlled by the first and second exhaust fans. Each exhaust pipe has a flow control valve such as a butterfly valve. May be provided, and the opening degree of the valve may be adjusted to control the displacement.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上のようにこの発明は、清浄空気が供
給される処理室の外側に、同じく清浄空気が供給される
調整空間部を設け、上記処理室内の圧力に応じて上記調
整空間部内の圧力を調整するようにした。
As described above, according to the present invention, an adjustment space to which clean air is supplied is provided outside the processing chamber to which clean air is supplied, and the inside of the adjustment space is adjusted according to the pressure in the processing chamber. Pressure was adjusted.

【0051】そのため、処理室と調整空間部とに圧力差
を持たせることで、外気が処理室に侵入したり、処理室
内の雰囲気が外部に流出するのを確実に防止することが
できる。
Therefore, by providing a pressure difference between the processing chamber and the adjustment space, it is possible to reliably prevent the outside air from entering the processing chamber and the atmosphere in the processing chamber from flowing out.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施の形態に係る処理装置の概略
的構成を示す縦断面図。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a schematic configuration of a processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】処理室と調整空間部との圧力を制御するための
制御系統のブロック図。
FIG. 2 is a block diagram of a control system for controlling the pressure between the processing chamber and the adjustment space.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…処理槽 2…内部筐体 3…外部筐体 5…処理室 6…調整空間部 12…回転テーブル 14…ファン・フィルタユニット 16…第1の排出管 18…第1の排気ファン 19…第2の排気管 21…第2の排気ファン 23…制御装置 24…第1の圧力センサ 25…第2の圧力センサ 29…ノズル体 1 ... Treatment tank 2. Internal housing 3: External housing 5 Processing room 6. Adjustment space 12 ... Rotary table 14. Fan / filter unit 16 First discharge pipe 18 First exhaust fan 19: second exhaust pipe 21 ... second exhaust fan 23 ... Control device 24 first pressure sensor 25 ... second pressure sensor 29 ... Nozzle body

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02F 1/1333 500 G02F 1/1333 500 Fターム(参考) 2H090 HC18 JC06 JC19 3B201 AA01 AB33 AB47 BB22 BB92 BB98 CD11 CD33 CD41 4G059 AA08 AB09 AC24 AC30 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI theme coat ゛ (Reference) G02F 1/1333 500 G02F 1/1333 500 F term (Reference) 2H090 HC18 JC06 JC19 3B201 AA01 AB33 AB47 BB22 BB92 BB98 CD11 CD33 CD41 4G059 AA08 AB09 AC24 AC30

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を処理液によって処理する処理装置
において、 内部を処理室とした内部筐体及び内部にこの内部筐体を
収容した外部筐体を有し、この外部筐体の内周面と上記
内部筐体の外周面との間に調整空間部が形成された処理
槽と、 上記処理室に設けられ上記基板に処理液を供給して処理
する処理手段と、 上記処理室と上記調整空間部とに清浄空気を供給する清
浄空気供給手段と、 上記処理室の雰囲気を排出する第1の排出手段と、 上記調整空間部の雰囲気を排出する第2の排出手段と、 上記処理室の圧力に応じて上記調整空間部の圧力を制御
する制御手段と、 を具備したことを特徴とする基板の処理装置。
1. A processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid, comprising: an internal housing having an internal processing chamber; and an external housing housing the internal housing therein, and an inner peripheral surface of the external housing. A processing tank in which an adjustment space is formed between the processing chamber and the outer peripheral surface of the internal housing; a processing unit provided in the processing chamber for supplying a processing liquid to the substrate to perform processing; Clean air supply means for supplying clean air to the space, first discharge means for discharging the atmosphere in the processing chamber, second discharge means for discharging the atmosphere in the adjustment space, Control means for controlling the pressure in the adjustment space according to the pressure.
【請求項2】 上記制御手段は、上記処理室の圧力を検
出する第1の圧力センサと、上記調整空間部の圧力を検
出する第2の圧力センサと、これら第1、第2の圧力セ
ンサからの検出信号によって上記清浄空気供給手段によ
る清浄空気の供給量若しくは上記第1の排出手段と第2
の排出手段とによる排気量の少なくとも一方を制御する
制御装置とから構成されていることを特徴とする請求項
1記載の基板の処理装置。
2. The control means includes a first pressure sensor for detecting a pressure in the processing chamber, a second pressure sensor for detecting a pressure in the adjustment space, and the first and second pressure sensors. The supply amount of clean air by the clean air supply means or the first discharge means and the second discharge means
2. A substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising: a control device for controlling at least one of the exhaust amount by said discharge means.
【請求項3】 上記清浄空気供給手段は、上記処理室と
上記調整空間部との上部から清浄空気を供給するファン
・フィルタユニットであって、上記第1の排出手段と上
記第2の搬出手段は、上記処理室と上記調整空間部の底
部に一端をそれぞれ連通させた第1、第2の排気管及び
各排気管にそれぞれ設けられた第1、第2の排気ファン
からなることを特徴とする請求項1又は記載の基板の処
理装置。
3. The fan / filter unit for supplying clean air from above the processing chamber and the adjustment space, wherein the first air discharging means and the second discharging means are provided. Comprises first and second exhaust pipes each having one end communicating with the processing chamber and the bottom of the adjustment space, and first and second exhaust fans respectively provided in the exhaust pipes. The substrate processing apparatus according to claim 1.
【請求項4】 基板を処理液によって処理する処理方法
において、 上記基板を処理室に供給する工程と、 この処理室と該処理室の周囲を囲む調整空間部とに清浄
空気を供給する工程と、 上記処理室と上記調整空間部とへの清浄空気の供給量及
び上記処理室と調整空間部からの排気量を制御して上記
処理室と調整空間部とに圧力差を持たせる工程と、 上記処理室と調整空間部とが圧力差を有する状態で上記
処理室で上記基板を処理する工程と、 を具備したことを特徴とする基板の処理方法。
4. A processing method for processing a substrate with a processing liquid, comprising: supplying the substrate to a processing chamber; and supplying clean air to the processing chamber and an adjustment space surrounding the processing chamber. Controlling the supply amount of clean air to the processing chamber and the adjustment space and the amount of exhaust air from the processing chamber and the adjustment space to provide a pressure difference between the processing chamber and the adjustment space; Processing the substrate in the processing chamber with the processing chamber and the adjustment space having a pressure difference.
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