JP2003346704A - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置Info
- Publication number
- JP2003346704A JP2003346704A JP2002153257A JP2002153257A JP2003346704A JP 2003346704 A JP2003346704 A JP 2003346704A JP 2002153257 A JP2002153257 A JP 2002153257A JP 2002153257 A JP2002153257 A JP 2002153257A JP 2003346704 A JP2003346704 A JP 2003346704A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- ions
- time
- mass spectrometer
- mass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/4265—Controlling the number of trapped ions; preventing space charge effects
Abstract
型質量分析計に導入して質量分析する装置において、イ
オントラップから排出されたイオンの殆ど全てが飛行時
間型質量分析部に導入されるようにする。 【解決手段】低真空部3に配置された四重極イオントラ
ップ5にイオンを蓄積した後、イオンを射出して高真空
部8に移送し、加速電極9においてイオンの進行方向に
対して直角に電場加速して飛行時間測定する飛行時間型
質量分析装置において、検出されたイオンの総量をデー
タ処理部62で計算する。得られたイオン総量とイオン
トラップへのイオン導入時間、および予め設定されたイ
オン総量の閾値に基づいて次回のイオン導入時間を決定
する。イオン総量の閾値をイオントラップから排出され
たイオンが低真空部と高真空部とを隔てる隔壁19に設
けられたスリット7を殆ど全て通過できるように設定し
ておく。 【効果】質量精度と定量精度が高く、多段のMS/MS
分析が可能な質量分析装置が実現される。
Description
時間型質量分析計とを結合した質量分析装置に関し、多
段のタンデム質量分析(MSn)機能と5ppm以下の
高い質量精度を兼ね備えた質量分析計を提供するもので
ある。
発現タンパクを網羅的に解析するプロテオーム解析が注
目されている。質量分析計を用いる解析法は高感度・高
スループットを特徴とし、プロテオーム解析の中心技術
となっている。その中で、タンデム質量分析(MSn)
技術は、プロテオーム解析の解析効率を飛躍的に向上で
きることから重要視されている。
Patent 2939952に記載されたイオントラップ質量分析計
が知られている。イオントラップ質量分析計ではRF電
圧を印加してイオントラップ内部に四重極電場を形成す
ることによりイオンを捕捉・蓄積し、次に、RF電圧の
振幅を走査して蓄積したイオンをその質量対電荷比(m
/z)の小さい順に排出して検出することにより質量分
析する。イオントラップ質量分析計では、次のようにし
てMS2分析が行われる。まずイオントラップにイオン
を蓄積する。次に、任意に選択した質量範囲のイオンを
残して他の質量範囲のイオンをイオントラップから排除
する(この操作はアイソレーションと呼ばれる。次に選
択されたイオン(親イオン)を分解し、生成したフラグ
メントイオン(娘イオン)をイオントラップに捕捉す
る。最後にRF電圧を走査して蓄積した娘イオンをその
質量対電荷比(m/z)の小さい順に排出して検出する
ことにより質量分析する。娘イオンのうちから特定の質
量範囲のイオンを選択し、これを親イオンとして同様の
操作により娘イオンを生成し質量分析することができ
る。すなわちMS3分析である。同様の操作を繰り返す
ことによりMSn分析が可能である。親イオンの分解は
衝突誘起解離(CID)により行われる。CIDでは、
イオントラップ内部に中性ガス(ターゲットガス)を導
入しておき、イオンを中性ガスと衝突させて分解する。
MSn分析は、分析対象物質について詳細な構造情報を
与えるため、未知物質の構造解析に有効な技術である。
しかしながらイオントラップ質量分析計には、空間電荷
効果により質量精度が乏しいという問題がある。この場
合の空間電荷効果とは、イオンを捕捉するための四重極
電場が捕捉されたイオンの電荷により摂動を受けること
である。捕捉されたイオン量が増加するほど空間電荷効
果が顕著となり、イオンが損失したり質量スペクトルの
質量分解能および質量精度が劣化する。
間電荷効果が顕著とならないようにイオントラップ質量
分析計を動作させる方法および装置が開示されている。
液体クロマトグラフなどから溶出した試料はイオン源で
イオン化されイオントラップに導入される。イオントラ
ップ直前に配置したレンズ系を制御することにより、一
定時間だけイオンをイオントラップに導入する。MSn
分析の場合には尾やイオンの選択および分解を行う。最
後にRF電圧を走査することによりイオントラップに捕
捉されたイオンを質量分析する。液体クロマトグラフな
どからの試料の溶出が終了するまでこの操作が繰り返さ
れる。このとき、イオントラップにイオンを導入する時
間は、直前に行われた質量分析で検出されたイオンの総
量と予め設定された閾値とに基づいて決定される。ここ
で、閾値は空間電荷効果が顕著とならないようなイオン
量に設定される。しかしながら、イオントラップ質量分
析計では、イオントラップ内部に中性ガスが存在するた
め、質量分析の際にもイオンとガスとの衝突が発生す
る。ガスとの衝突断面積はイオンの種類によって大きく
異なり、同じm/z(質量対電荷比)のイオンであって
も検出される時間がずれる。このためイオントラップ質
量分析計の質量精度を0.1amu(原子質量単位)以下にす
ることは困難である。
and D. M. Lubman, Rapid Commun.Mass Spectrum. 7 (1
993) 837.)にはイオントラップと飛行時間型質量分析
計とを結合した装置が開示されている。この装置では、
イオントラップ内部でイオンの捕捉とアイソレーション
およびイオンの分解までを行い、生成された娘イオンの
質量分析は飛行時間型質量分析計により行う。飛行時間
型質量分析計は5ppm以下の高い質量精度を有する特
徴がある。しかしながら、この装置ではイオントラップ
が飛行時間型質量分析計の一部(加速部)を兼ねている
ため、質量分析中にイオンと中性ガスとの衝突が発生す
る。そのため飛行時間の測定精度、従って質量分解能お
よび質量精度が損なわれる。
にはイオントラップと飛行時間型質量分析計とを結合し
た別方式の装置が開示されている。この装置では、イオ
ントラップ内部でイオンの捕捉とアイソレーションおよ
びイオンの分解までを行い、生成された娘イオンの質量
分析は飛行時間型質量分析計により行う。この装置で
は、イオントラップと質量分析計とは分離しており、イ
オントラップに蓄積されたイオンは、一旦イオントラッ
プから排出され、飛行時間型質量分析計内に導入され、
そこで質量分析が行われる。飛行時間型質量分析計の内
部では、イオンの進行方向に対して直交する方向に加速
電場が形成され、加速部から検出器に到達するまでの飛
行時間が測定される。飛行時間型質量分析計内部は高真
空に維持されており、イオンとガスとの衝突は殆ど発生
しない。そのため飛行時間型質量分析計が有する高い質
量精度でMSn分析を実行できる。
析計では、空間電荷効果によりイオントラップ内部での
イオンの損失や、質量スペクトルの質量分解能および質
量精度が劣化する問題がある。公知例1では、空間電荷
効果が顕著とならないようにイオントラップに蓄積され
るイオン量を調節することができるが、イオントラップ
により質量分析を行うため、質量精度は0.1amu以下に過
ぎない。この精度はプロテオーム解析には不十分であ
る。公知例2では、質量精度が高い飛行時間型質量分析
計によりイオントラップに蓄積したイオンを質量分析す
る装置が開示されている。しかしイオントラップが飛行
時間型質量分析計の加速部を兼ねているため、イオント
ラップの内部および近傍でイオンとガスとの衝突が発生
し、その結果、飛行時間型質量分析計が本来有する高い
質量精度を実現できない。公知例3では、イオントラッ
プに蓄積したイオンを高真空部である飛行時間型質量分
析計に移送してから質量分析するため、飛行時間型質量
分析計の有する5ppm以下の高い質量精度でMSn分
析を行うことができる。そのためプロテオーム解析など
にも十分活用できる。しかしながら、飛行時間型質量分
析計内部を高真空に維持する必要があるため、飛行時間
型質量分析計内部にイオンを導入するための入口の大き
さに制約がある。またこの入口はイオンビームの幅を規
制して高分解能を実現する役割も有るため、この点にお
いても入口の大きさには制約がある。一方、イオントラ
ップに蓄積されるイオンの空間分布は、蓄積されるイオ
ン量が増すにつれて増大する。そして蓄積されるイオン
量が一定値を超えると、イオントラップから排出された
イオンの一部は飛行時間型質量分析計の入口を通過でき
なくなる。すなわちイオン蓄積量が一定値を超えると信
号強度が飽和する。従って定量精度が乏しい問題があ
る。プロテオーム解析では、高い精度でタンパクを同定
すると同時に、それらのタンパク発現量の差を調べるこ
とが目的である。従って定量精度は重要である。
たイオンを飛行時間型質量分析計に導入し、飛行時間型
質量分析計内部でイオンの進行方向に対して直交する電
場を印加してイオンを加速し、検出器に到達するまでの
飛行時間を測定する、イオントラップ-飛行時間型質量
分析計において、イオントラップに一定時間イオンを蓄
積した後、蓄積したイオンを排出して飛行時間型質量分
析計内部に導入し、飛行時間型質量分析計内部に導入さ
れたイオンの総量を計測し、その結果と予め設定された
閾値とに基づいて次回のイオン蓄積時間を決定する。こ
の閾値としては、イオントラップに蓄積されたイオンの
全てまたは殆ど全てが飛行時間型質量分析計の入口を通
過する場合のイオン量、またはそれに相当する値とす
る。
ン総量値の計測は正確であることが望ましいが、次のよ
うな理由により正確さが損なわれる問題がある。イオン
トラップから飛行時間型質量分析計内部の直交加速部ま
で移動する時間はイオンの質量対電荷比に依存するた
め、加速電圧を印加する時点において加速部内を通過中
のイオンしか分析できない。すなわち一度に分析できる
質量範囲(これをマスウィンドウと呼ぶ)が限られてい
る。従ってイオン総量の計測値が不正確となる。本発明
では次の3方式によりこれを解決する。 (1) イオントラップに補助交流電圧を印加するなど
の手段を用いて、イオントラップに捕捉可能なイオンの
質量範囲を制限する。その質量範囲をマスウィンドウの
範囲内に設定する。 (2) イオン源とイオントラップとの間に質量フィル
ターを配置し、質量フィルターの通過帯域をマスウィン
ドウの範囲内に設定する。 (3) 飛行時間型質量分析計の入口を通過したイオン
の総量を計測する場合にスリットを通過したイオンを直
交加速することなく、直進させて検出器で検出する。
eaugrand, G. Bolbach, J. -C. Tabet, Proceedings of
the 49th ASMS Conference on Mass Spectrometry and
Allied Topics, Chicago, Illinois, May 27-31,200
1)では、イオントラップから排出したイオンを、排出
方向に分散させて連続的ビームを形成する方法が開示さ
れている。この場合には、イオンビームが加速部通過す
る間、イオンの直交加速を繰り返し行う。この方法を用
いればマスウィンドウは解消されるものの、加速部を通
過しているイオンしか分析できない事情は同じであり、
分析毎のインターバルの間にイオンが加速部を通り抜け
てしまう問題がある。低m/zのイオンほど速度が速い
ので、加速部を通り抜けてしまうイオンの量はm/zに
依存する。このため、やはりイオン総量値の計測が不正
確となる。この場合には、上記(3)の手段が有効であ
る。
を示す。液体クロマトグラフ60などから溶出した試料
はイオン源1においてイオン化される。イオンはサンプ
リングオリフィス2を通過して第一の真空部3に導入さ
れ、ゲート電極4を通過して四重極イオントラップ5に
入射する。イオントラップ5の内部にはガス管6を通し
て中性ガス(ヘリウム、アルゴン、窒素など)が導入さ
れている。中性ガスはイオンの捕捉効率を向上する役割
と、CIDにおけるターゲットガスとしての役割があ
る。一定時間イオントラップにイオンを導入してイオン
を蓄積した後、ゲート電極4の印加電圧をスイッチ52
により切替えることにより、イオントラップ5へのイオ
ンの導入を停止する。次にスイッチ48を切替えること
により、リング電極15へのRF電圧の印加を停止す
る。RF電圧の印加を停止すると同時に、エンドキャッ
プ電極16および17とリング電極15にそれぞれ直流
電圧を印加してイオントラップ内部に直流電場を形成す
る。その結果、イオントラップ5に蓄積されたイオンは
イオントラップ5から射出される。イオントラップから
射出されたイオンは、イオンビームを収束させるための
レンズ30を通過し、第一の真空部3と第二の真空部8
とを仕切る隔壁19に形成されたスリット7を通過して
第二の真空部8に入射する。イオントラップに中性ガス
を導入しているために第一の真空部は10-4〜10-5T
orr程度の低真空である。これに対し第二の真空部
は、イオンとガスとの衝突を低減するために10-6〜1
0-7Torr程度の高真空に設定される。第二の真空部
に入射したイオンは加速部18の内部空間を飛行する。
イオンが加速部の内部空間を飛行している間に、スイッ
チ49を切替えて加速電極9にパルス高電圧(10kV程
度)を印加し、イオンの飛行方向とは直交する方向に加
速電場を形成する。加速されたイオンは、電極10と電
極11との間でさらに加速され、電極11で囲まれた無
電場空間を飛行して、リフレクトロン12に入射する。
リフレクトロン12の内部でイオンは反転し、再び無電
場空間を飛行して検出器13に到達する。制御部14
は、スイッチ48、49および52の切り替えを制御す
る。イオントラップからイオンを射出した後、直交加速
部に加速パルスを印加するまでの間に、ゲート電極の電
圧を切替えて再びイオンの導入を開始する。液体クロマ
トグラフ等からの試料溶液の溶出が終了するまでの間、
この動作が繰り返し行われる。
延時間(Td)の後に、AD変換器63により検出器1
3の出力がサンプリングされる。サンプリングは時間T
sの間続けられる。TdおよびTsの値は、分析しよう
とする質量範囲に応じて設定される。データ処理装置6
2は時間Tsの間の全サンプリングデータの積算値を計
算する。この値をイオン総量値(Is)とし、予め設定
された閾値Itおよびイオントラップへのイオン導入時
間Tnに基づいて次回のイオン導入時間Tn+1を計算す
る。計算式としてはTn+1=α(It/Is)Tnを用い
る。αは係数である。図4はイオン検出量とイオン導入
時間の関係を模式的に示した図である。閾値Itは検出
されるイオン量の上限値またはそれに近い値とする。I
tの値は、図4のようなデータを予備実験により求める
ことにより、予め決定しておく。係数αは1より小さい
値、典型的には0.7〜0.9程度に設定する。IsがItに
ほぼ等しいときにはイオン量が飽和している可能性があ
るため、α=1であるとイオン量の制御が不正確とな
る。逆にαが小さすぎると、イオン導入時間が短くなる
ために感度が低下する問題がある。Isの測定精度を上
げるために、イオン導入時間を固定して複数回の分析を
行い、積算値Isの平均値を求めてこれをIsとしても良
い。データ処理装置62はTn+1を計算し、Tn+1または
それに対応する出力信号が制御部14に転送される。制
御部14は転送された信号に応じて次回のイオン導入時
間を設定する。
間、交流電源42および45より2個のエンドキャップ
電極間に補助交流電圧を印加することにより、マスウィ
ンドウの範囲内のイオンのみを蓄積し、それ以外のイオ
ンをイオントラップから排除することができる。イオン
トラップに蓄積したイオンを射出した後、次回のイオン
射出が行われるまでの間に、加速電極に複数回の加速電
圧(パルス電圧)を印加して複数回の分析を行うことに
より、複数の質量範囲(マスウィンドウ)を分析するこ
とがある。この場合には複数のマスウィンドウの範囲内
のイオンのみを蓄積し、それ以外のイオンをイオントラ
ップから排除する。以上のように、イオントラップに蓄
積するイオンの質量範囲を検出可能な質量範囲に一致ま
たはその範囲内に設定することにより、イオン総量を正
確に計測できるため、イオン量制御の精度が向上する。
ィルターを配置し、質量フィルターの質量通過範囲をマ
スウィンドウの範囲内に設定することによっても達成で
きる。図2はこの方式の装置構成を示す。イオン源1で
生成されたイオンはサンプリングオリフィス2から第一
の真空部3に導入され、四重極フィルター25、ゲート
電極4を通過してイオントラップ5に導入される。質量
フィルターとしては例えば四重極フィルターを用いる
が、これに限定されない。四重極フィルターには電源7
1よりRF電圧および直流電圧が印加される。これらの
電圧値により通過可能な質量範囲が制御される。質量フ
ィルターを用いるとイオントラップにイオンが入射する
前に不要なイオンが排除されるため、空間電荷による捕
捉効率の低下やイオン−イオン反応など望ましくない現
象が低減される効果も得られる。
別方式の構成を示す。本装置では、イオンの質量分析を
行うための分析用検出器13とは別に、加速部を通過し
たイオンを検出するための第二の検出器68を配置して
イオン総量(Is)を計測する。イオン総量を計測する
場合には、加速電極9に加速電圧を印加せず、スリット
を通過したイオンを直進させて第二の検出器68に到達
させる。イオンの質量分析を行う場合には加速電極9に
加速電圧を印加して検出器13によりイオンを検出す
る。この構成ではマスウィンドウの制約が無いという利
点がある。図では検出器68用のAD変換器63とは別
に、質量分析用検出器13用にAD変換器64を用いて
いるが、1台のAD変換器を切替えて使用しても良い。
イオンの分析が中断されるため、試料の利用効率が低
く、結果的に感度が低下する問題がある。そこで図5に
模式的に示すように、イオンの分析を行うと同時に、加
速部を通過したイオンの総量(Is1)を第二の検出器
を用いて検出し、分析用検出器で検出されたイオン総量
(Is2)と足し合わせた値をイオン総量値(Is)と
する。分析用検出器と第二の検出器とで増倍率やサンプ
リングレートなどが異なる場合には、Is1またはIs2に
適当な係数を掛けてから両者を加算する。この場合、図
5に示すように、分析可能な質量範囲(マスウィンド
ウ)近傍に存在するイオンは、加速電極に加速電圧が印
加されることにより加速されるものの、電極等に衝突し
ていずれの検出器にも到達しない。しかしながら、第二
の検出器を用いない場合に比べてより正確にイオン総量
を測定できる。
た後、次回のイオン射出が行われるまでの間に、加速電
極に複数回の加速電圧(パルス電圧)を印加して複数回
の分析を行うことにより、複数の質量範囲(マスウィン
ドウ)を分析することがある。この場合には複数回の分
析において分析用検出器により検出されるイオン総量値
と、第二の検出器により検出されるイオン総量値とを加
算した値をIsとする。
出された方向に分散し、直交加速部を通過する時点で連
続的なビームを形成する場合がある。この場合には、イ
オントラップに蓄積したイオンを射出した後、次回のイ
オン射出が行われるまでの間に、加速電極に複数回の加
速電圧(パルス電圧)を印加して複数回の分析を行うこ
とにより、検出感度を向上することができる。このよう
な場合にはマスウィンドウの制約はほぼ解消される。し
かしながら、分析毎のインターバルの間に、後れて加速
部に到達したイオンの一部が加速部を通り抜けてしまう
問題がある。低m/zのイオンほど速度が速く、従って
加速部を通り抜けてしまうイオン量が多い。そのため分
析用検出器によるイオンの検出効率はイオンのm/zに
依存する。このため、分析用検出器のみを用いて計測し
たイオン総量値は不正確である。この場合には複数回の
分析において分析用検出器により検出されるイオン総量
値と、第二の検出器により検出されるイオン総量値とを
加算した値をIsとする。これによりイオン総量値をよ
り正確に計測できる。
る手段として赤外レーザー光を用いる方法が知られてい
る。赤外レーザー光を用いるとCIDに比べて高い分解
効率が得られるなどの利点がある。図6に示すように、
直交加速部を通過したイオンを偏向電極71により偏向さ
せ、第二の検出器68で検出する構成とすることによ
り、スリット7およびエンドキャップ電極17のイオン通
過口を通してレーザー72からのレーザー光をイオント
ラップ内部に入射させることができる。従って、イオン
トラップにレーザー入射口を新たに設ける必要が無い。
プの外部に配置されている例を示したが、同様の効果は
イオントラップの内部において電子衝撃イオン化などの
方法を用いて試料をイオン化する装置構成においても、
イオン導入時間の代わりにイオン化時間を本発明と同様
にして制御することにより達成できる。
直交加速して飛行時間型質量分析計により質量分析する
装置において、検出されたイオンの総量値に基づいてイ
オントラップにイオンを導入する時間を設定し、それに
よりイオントラップ部と飛行時間型質量分析計との間に
存在するスリットを通過するイオン量が飽和しないよう
に制御することにより、定量精度が向上される。その結
果、高い質量精度と高い定量精度で質量分析および多段
のMS/MS分析が可能な装置を提供することができ
る。
の構成。
低真空部、4・・・ゲート電極、5・・・四重極イオントラッ
プ、6・・・ガス管、7・・・スリット、8・・・飛行時間型質
量分析計、9・・・加速電極、10、11・・・電極、12・・
・リフレクトロン、13・・・検出器、14・・・制御部、1
5リング電極、16、17・・・エンドキャップ電極、1
8・・・加速部、19・・・隔壁、21、24・・・エンドキャ
ップ電極、22、23・・・リング電極、30、32・・・静
電レンズ、31・・・スリット、41、43、44、4
6、47・・・直流電源、42、45・・・交流電源、48,
49、52・・・スイッチ、62・・・データ処理装置、6
3、64・・・AD変換器、68・・・第二の検出器、71・・
・偏向電極 71・・・レーザー。
Claims (7)
- 【請求項1】イオン蓄積器が配置された第一の真空部
と、飛行時間型質量分析部である第二の真空部と、両真
空部を仕切る隔壁に設けられたスリットと、イオン蓄積
器にイオンを蓄積する時間を制御する手段と、蓄積され
たイオンをイオン蓄積器から排出する手段とを備え、飛
行時間型質量分析部により排出されたイオンを検出し、
検出されたイオンの総量に対応する値を計算し、イオン
総量値とイオン蓄積時間と予め設定されたイオン総量の
閾値とに基づいて次回のイオン蓄積時間が設定されるこ
とを特徴とした質量分析計。 - 【請求項2】請求項1の質量分析計であって、イオン蓄
積器への印加電圧を制御して蓄積されるイオンの質量範
囲を限定する装置と、イオン蓄積器からイオンを排出し
てから飛行時間型質量分析を開始するまでの遅延時間を
設定する装置を備え、該質量範囲が該遅延時間に対応し
て設定されることを特徴とする質量分析計。 - 【請求項3】請求項1の質量分析計であって、イオン蓄
積器の外部に配置されたイオン源と該イオン源とイオン
蓄積器との間に配置された質量フィルターを備え、質量
フィルターへの印加電圧を制御して質量フィルターを通
過する質量範囲を限定する装置と、イオン蓄積器からイ
オンを排出してから飛行時間型質量分析を開始するまで
の遅延時間を設定する装置を備え、該質量範囲が該遅延
時間に対応して設定されることを特徴とする質量分析
計。 - 【請求項4】請求項1の質量分析計であって、飛行時間
型質量分析計の加速部を通過したイオンを検出するため
の検出器を備え、該検出器により検出されたイオンの総
量に対応する値を計算し、イオン総量値とイオン導入時
間と予め設定されたイオン総量の閾値とに基づいて次回
のイオン蓄積時間が設定されることを特徴とした質量分
析計。 - 【請求項5】請求項4の質量分析計であって、前記検出
器および前記飛行時間型質量分析計の検出器により検出
された合計のイオン総量に対応する値を計算し、イオン
総量値とイオン導入時間と予め設定されたイオン総量の
閾値とに基づいて次回のイオン蓄積時間が設定されるこ
とを特徴とした質量分析計。 - 【請求項6】請求項5の質量分析計であって、イオント
ラップからイオンを排出してから次にイオンを排出する
までの間に複数回の飛行時間型質量分析を行い、前記検
出器および前記飛行時間型質量分析計の検出器により検
出されたイオンの総量に対応する値を計算し、イオン総
量値とイオン導入時間と予め設定されたイオン総量の閾
値とに基づいて次回のイオン蓄積時間が設定されること
を特徴とした質量分析計。 - 【請求項7】請求項4または5の質量分析計であって、
飛行時間型質量分析計の加速部を通過したイオンの軌道
を偏向する偏向電極を備え、前記検出器により該偏向電
極により偏向されたイオンが検出されることを特徴とし
た質量分析計。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002153257A JP3971958B2 (ja) | 2002-05-28 | 2002-05-28 | 質量分析装置 |
US10/446,079 US6707033B2 (en) | 2002-05-28 | 2003-05-28 | Mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002153257A JP3971958B2 (ja) | 2002-05-28 | 2002-05-28 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003346704A true JP2003346704A (ja) | 2003-12-05 |
JP3971958B2 JP3971958B2 (ja) | 2007-09-05 |
Family
ID=29561296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002153257A Expired - Fee Related JP3971958B2 (ja) | 2002-05-28 | 2002-05-28 | 質量分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6707033B2 (ja) |
JP (1) | JP3971958B2 (ja) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005276787A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Tsutomu Masujima | 質量分析装置 |
JP2005353428A (ja) * | 2004-06-11 | 2005-12-22 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ/飛行時間型質量分析装置および質量分析方法 |
JP2006517723A (ja) * | 2003-01-24 | 2006-07-27 | サーモ フィニガン エルエルシー | 質量分析器におけるイオン集団の制御 |
JP2006275530A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2006339087A (ja) * | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2008192557A (ja) * | 2007-02-07 | 2008-08-21 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2008542739A (ja) * | 2005-05-31 | 2008-11-27 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 質量スペクトル測定における複数イオン注入 |
WO2010032276A1 (ja) * | 2008-09-16 | 2010-03-25 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
WO2010044370A1 (ja) * | 2008-10-14 | 2010-04-22 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置および質量分析方法 |
JP2011216494A (ja) * | 2011-07-22 | 2011-10-27 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2011249069A (ja) * | 2010-05-25 | 2011-12-08 | Jeol Ltd | 質量分析装置 |
JP4844633B2 (ja) * | 2006-12-14 | 2011-12-28 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 |
JP2014519603A (ja) * | 2011-05-20 | 2014-08-14 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | 質量分析の方法及び装置 |
WO2018183201A1 (en) * | 2017-03-27 | 2018-10-04 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
JP2020024890A (ja) * | 2018-08-08 | 2020-02-13 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置およびプログラム |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7084395B2 (en) * | 2001-05-25 | 2006-08-01 | Ionwerks, Inc. | Time-of-flight mass spectrometer for monitoring of fast processes |
JP2004259452A (ja) * | 2003-02-24 | 2004-09-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置及び質量分析方法 |
JP3912345B2 (ja) * | 2003-08-26 | 2007-05-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
GB0408751D0 (en) * | 2004-04-20 | 2004-05-26 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US20070090287A1 (en) * | 2005-10-20 | 2007-04-26 | Foote James D | Intelligent SIM acquisition |
CA2636822C (en) * | 2006-01-11 | 2015-03-03 | Mds Inc., Doing Business Through Its Mds Sciex Division | Fragmenting ions in mass spectrometry |
JP4902230B2 (ja) * | 2006-03-09 | 2012-03-21 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
DE102006016896B4 (de) * | 2006-04-11 | 2009-06-10 | Bruker Daltonik Gmbh | Orthogonal-Flugzeitmassenspektrometer geringer Massendiskriminierung |
JP4369454B2 (ja) * | 2006-09-04 | 2009-11-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ質量分析方法 |
US7638763B2 (en) * | 2007-05-04 | 2009-12-29 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for scaling intensity data in a mass spectrometer |
US8334506B2 (en) * | 2007-12-10 | 2012-12-18 | 1St Detect Corporation | End cap voltage control of ion traps |
US7973277B2 (en) * | 2008-05-27 | 2011-07-05 | 1St Detect Corporation | Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter |
EP3087581A4 (en) * | 2013-12-23 | 2017-07-26 | DH Technologies Development PTE. Ltd. | Mass spectrometer |
CN106169411B (zh) * | 2016-07-13 | 2018-03-27 | 中国计量科学研究院 | 新型串并联质谱装置系统及其参数调节方法和使用方法 |
JP7215121B2 (ja) * | 2018-12-05 | 2023-01-31 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1533829A3 (en) * | 1994-02-28 | 2006-06-07 | Analytica Of Branford, Inc. | Multipole ion guide for mass spectrometry |
WO1997007530A1 (en) * | 1995-08-11 | 1997-02-27 | Mds Health Group Limited | Spectrometer with axial field |
US6331702B1 (en) * | 1999-01-25 | 2001-12-18 | University Of Manitoba | Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use |
-
2002
- 2002-05-28 JP JP2002153257A patent/JP3971958B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-05-28 US US10/446,079 patent/US6707033B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006517723A (ja) * | 2003-01-24 | 2006-07-27 | サーモ フィニガン エルエルシー | 質量分析器におけるイオン集団の制御 |
JP2005276787A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Tsutomu Masujima | 質量分析装置 |
JP2005353428A (ja) * | 2004-06-11 | 2005-12-22 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ/飛行時間型質量分析装置および質量分析方法 |
JP4653972B2 (ja) * | 2004-06-11 | 2011-03-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | イオントラップ/飛行時間型質量分析装置および質量分析方法 |
JP4644506B2 (ja) * | 2005-03-28 | 2011-03-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
JP2006275530A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-10-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
US9536717B2 (en) | 2005-05-31 | 2017-01-03 | Thermo Finnigan Llc | Multiple ion injection in mass spectrometry |
JP2008542739A (ja) * | 2005-05-31 | 2008-11-27 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 質量スペクトル測定における複数イオン注入 |
US8410424B2 (en) | 2005-05-31 | 2013-04-02 | Thermo Finnigan Llc | Multiple ion injection in mass spectrometry |
JP4636943B2 (ja) * | 2005-06-06 | 2011-02-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
JP2006339087A (ja) * | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP4844633B2 (ja) * | 2006-12-14 | 2011-12-28 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 |
JP2008192557A (ja) * | 2007-02-07 | 2008-08-21 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
US9613787B2 (en) | 2008-09-16 | 2017-04-04 | Shimadzu Corporation | Time-of-flight mass spectrometer for conducting high resolution mass analysis |
WO2010032276A1 (ja) * | 2008-09-16 | 2010-03-25 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
WO2010044370A1 (ja) * | 2008-10-14 | 2010-04-22 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置および質量分析方法 |
JPWO2010044370A1 (ja) * | 2008-10-14 | 2012-03-15 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置および質量分析方法 |
JP2011249069A (ja) * | 2010-05-25 | 2011-12-08 | Jeol Ltd | 質量分析装置 |
JP2014519603A (ja) * | 2011-05-20 | 2014-08-14 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | 質量分析の方法及び装置 |
JP2011216494A (ja) * | 2011-07-22 | 2011-10-27 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
WO2018183201A1 (en) * | 2017-03-27 | 2018-10-04 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
GB2574558A (en) * | 2017-03-27 | 2019-12-11 | Leco Corp | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
US11158495B2 (en) | 2017-03-27 | 2021-10-26 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
GB2574558B (en) * | 2017-03-27 | 2022-04-06 | Leco Corp | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
JP2020024890A (ja) * | 2018-08-08 | 2020-02-13 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置およびプログラム |
US11361957B2 (en) | 2018-08-08 | 2022-06-14 | Shimadzu Corporation | Time-of-flight mass spectrometer and program |
JP7115129B2 (ja) | 2018-08-08 | 2022-08-09 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置およびプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6707033B2 (en) | 2004-03-16 |
US20030222211A1 (en) | 2003-12-04 |
JP3971958B2 (ja) | 2007-09-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3971958B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US9287101B2 (en) | Targeted analysis for tandem mass spectrometry | |
JP3990889B2 (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
US7064319B2 (en) | Mass spectrometer | |
EP0917728B1 (en) | Ion storage time-of-flight mass spectrometer | |
JP2011119279A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
US20110006203A1 (en) | Ms/ms mass spectrometer | |
JP2016526168A (ja) | イオン信号を較正する方法 | |
WO2005114703A2 (en) | Tandem-in-time and tandem-in-space mass and ion mobility spectrometer and method | |
US9543131B2 (en) | Method of operating a mass filter in mass spectrometry | |
JP4248540B2 (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
US10088451B2 (en) | Ion mobility spectrometer | |
JP2008108739A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
US7208726B2 (en) | Ion trap mass spectrometer with scanning delay ion extraction | |
CA2909125C (en) | Improved ion mobility spectrometer | |
GB2515617A (en) | Improved ion mobility spectrometer | |
US6310353B1 (en) | Shielded lens | |
US20240105439A1 (en) | Mass and Kinetic Energy Ordering of Ions Prior to Orthogonal Extraction Using Dipolar DC | |
JP4450717B2 (ja) | 質量分析装置 | |
CN112614772A (zh) | 具有或没有离子捕集的快速连续srm采集 | |
JP2011034981A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
CA2491198C (en) | Ion storage time-of-flight mass spectrometer | |
CN117642838A (zh) | 用于将离子注入到静电线性离子阱中的方法和系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041208 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041208 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050929 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051004 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051205 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20060510 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20060510 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070116 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070315 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070605 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070611 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110615 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110615 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120615 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120615 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130615 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |