JP2003338989A - フォトダイオードアレイセンサの駆動方法及びそれを用いた投影露光装置 - Google Patents

フォトダイオードアレイセンサの駆動方法及びそれを用いた投影露光装置

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JP2003338989A JP2002146362A JP2002146362A JP2003338989A JP 2003338989 A JP2003338989 A JP 2003338989A JP 2002146362 A JP2002146362 A JP 2002146362A JP 2002146362 A JP2002146362 A JP 2002146362A JP 2003338989 A JP2003338989 A JP 2003338989A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体イメージセンサの全画素を読み出した
ときに、トータルの読み出し時間を短縮することができ
るようにする。 【解決手段】 半導体イメージセンサの全画素のうち、
読み出す画素の読み出し周期をイメージセンサ出力回路
が応答可能な周波数とし、一方、読み捨てる画素の読み
出し周期をシフトレジスタ1、アドレススイッチ2が最
短で応答可能な最高周波数となるように読み出し周期を
変化させるようにタイミング発生器7を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はフォトダイオードア
レイセンサの駆動方法及びそれを用いた投影露光装置に
関し、特に、自己走査型のフォトダイオードアレイセン
サを用いたものに適用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】マルチチャンネル分光光度計用検出素子
や高精度なイメージ検出用素子として、自己走査型フォ
トダイドードアレイセンサが用いられている。このセン
サは、高紫外感度、紫外線に対する安定した特性、低暗
電流と大飽和電荷量による広いダイナミックレンジ、高
出力直線性、各画素の感度均一性、低消費電力等の特徴
をもっている。したがって、投影露光装置など紫外線を
扱う装置での光検出素子としても利用されている。
【0003】図2に、リニアイメージセンサの概略構成
図を示す。この図に示すように、フォトダイオードアレ
イ4より構成される受光部、フォトダイオード4の信号
を読み出すアドレススイッチ2、そのアドレススイッチ
2を順次オン、オフするシフトレジスタ1から構成され
ている。
【0004】このリニアイメージセンサの信号読み出し
は、電荷蓄積方式によって行われる。電荷蓄積方式と
は、各フォトダイオード4にて光信号から光電変換によ
り生成された電荷を一時的に各フォトダイオード4の接
合容量3に蓄積しておき、各フォトダイオード4に接続
されているアドレススイッチ2をシフトレジスタ1から
の信号により、順次オンさせることにより、各フォトダ
イオード4に蓄積されている電荷信号を1本の出力ライ
ンより読み出す方式である。電荷蓄積方式の特徴として
は、蓄積される電荷信号は、光の強さと蓄積時間の積、
即ち露光量に比例する。したがって、蓄積時間を長くと
ると、微弱光でも検出することが可能である。
【0005】前述したように、このタイプのリニアイメ
ージセンサでは、各フォトダイオード4の電荷信号を、
時間をずらして、1本の出力ラインで読み出している。
これにより、各フォトダイオード4に読み出し回路を用
意する必要がなく、回路が簡単になる。各フォトダイオ
ード4の電荷信号を、時間をずらして読み出すために、
アドレススイッチ2が準備されているが、このアドレス
スイッチ2を順次オンするためにシフトレジスタ1が使
用される。
【0006】この部分のタイミングを図11により説明
する。シフトレジスタ1には2相クロックが入力されて
いる。この状態で、スタートパルスを入力すると、アド
レススイッチ2のオンパルス信号が1画素目から最終画
素目まで順に発生し、各フォトダイオード4に蓄積され
ている電荷信号が読み出される。この出力信号をサンプ
リング信号によりA/D変換等行えば、露光量が読み出
せる。2相クロックとしては、周期の一定な信号が用い
られている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例では、2相クロックの周期が一定であったため、以
下のような欠点があった。即ち、高速で各フォトダイオ
ード4の電荷信号を読みだそうとした場合、回路の読み
出し速度を決めているのは、出力ライン(ビデオライ
ン)に接続されている出力回路の応答速度である。シフ
トレジスタ1の応答速度は十分高速なのであるが、出力
回路により信号が鈍るため、読み出し速度が制限されて
いた。
【0008】例えば、シフトレジスタ1の応答速度が1
MHz出力回路の応答速度が500kHzとすると、全
体の読み出し速度は、500kHzとなってしまう。全
画素が256画素の場合、全画素を読み出すには、 256(画素)×1/500000(秒)=0.000512(秒)=512
(usec) の時間を必要とした。
【0009】もし、必要とする計測分解能が画素間隔の
2倍でよければ、画素寸法が2倍即ち画素間隔が2倍の
センサの採用や、従来の画素間隔のセンサでも偶数画素
や奇数画素のみを読み出すことにより、読み出し時間を
半分に短縮することが可能である。しかし、画素寸法が
2倍のセンサを採用するにはセンサを交換しなければな
らないし、奇数、偶数画素読み出しでは、一般的には、
リニアイメージセンサの回路構成は、そのような読み出
しが可能には構成されていない。
【0010】本発明は上述の問題点にかんがみてなされ
たもので、必要とする計測分解能が画素ピッチの2倍以
上で良い場合、または一部の画素の出力データのみ利用
する場合に、偶数画素や奇数画素のみを読み出すような
特殊な回路構成のセンサを準備することなく、従来の一
般的なセンサ回路構成のままで読み出し時間を従来に比
べて十分に短縮する読み出し方式を提供することを第1
の目的とする。
【0011】また、本出願に係わる第2の発明の目的
は、高い計測分解能を必要とする場合は、低速で均一な
読み出し、低い計測分解能でよい場合は、高速で不均一
な読み出しを、センサ内部の回路構成を変えることな
く、二つの読み出しモードを目的に即して提供すること
を第2の目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本出願に係わる発明は、センサの計測分解能が1/
2以下で良い場合や、一部の画素出力データのみ使用す
る場合は、読み出す必要のない画素(偶数画素または奇
数画素等)のシフトレジスタ2相クロックの周期をシフ
トレジスタが応答可能な範囲で短く、また、読み出す必
要がある画素の周期を出力回路が応答可能な範囲に設定
するように構成したことを特徴とする。上記構成によ
り、シフトレジスタ2相クロックの周期を長短にするこ
とは、全画素を読み出した場合の読み出し時間を短縮す
るように作用する。
【0013】また、本出願に係わる他の発明は、高い計
測分解能を必要とする場合は、シフトレジスタ2相クロ
ックを出力回路が応答可能な周波数で全画素同一周期で
読み出し、低い計測分解能でよい場合は、2相クロック
の周期を長短として高速な読み出しを、センサ内部の回
路構成を変えることなく可変に設定可能に構成したこと
を特徴とする。上記構成により、シフトレジスタ2相ク
ロックの周期を同一および長短に設定することは、高分
解能で低速読み出し、低分解能で高速読み出しを使用目
的により選択可能なように作用する。
【0014】
【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照しながら本
発明のフォトダイオードアレイセンサの駆動方法及びそ
れを用いた投影露光装置の実施形態について説明する。
【0015】(第1の実施形態)図1は、本発明の第1
の実施形態に係るフォトダイオードアレイセンサのパル
スタイミングを示す図であり、図3は、ビデオライン積
分方式のフォトダイオードアレイセンサの概略構成図で
ある。
【0016】図3において7は、基準クロック等よりス
タートパルス、2相クロック、リセット信号を生成する
タイミング発生器である。1はタイミング発生器7で生
成したスタートパルス、2相クロック信号から各フォト
ダイオード4に接続されているアドレススイッチ2を順
次オンするための信号を生成するシフトレジスタであ
る。4は光信号を電気信号に光電変換するフォトダイオ
ードである。
【0017】フォトダイオード4の光電変換により生成
された電荷は、各フォトダイオード4の接合容量3に蓄
積される。各フォトダイオード4に接続されているアド
レススイッチ2を、シフトレジスタ1からの信号により
順次オンさせることにより、各フォトダイオード4の接
合容量3に蓄積されている電荷信号を1本の出力ライン
(ビデオライン)で読み出す。
【0018】このビデオライン積分方式のフォトダイオ
ードアレイセンサの読み出しタイミングについてさらに
詳しく説明する、まず、アドレススイッチ2とリセット
スイッチ6を同時にオンして、ビデオラインとフォトダ
イオード4の電位をリセット電圧に初期化する。この初
期化動作は、1画素の信号を読み出す毎に行われる。
【0019】続いて、アドレススイッチ2とリセットス
イッチ6の両方をオフにすると、電荷の蓄積が開始され
る。蓄積時間の間、フォトダイオード4の接合容量3に
蓄積された充電電荷は、光出力や暗電流出力によって放
電される。
【0020】続いて、蓄積された電荷を読み出すために
アドレススイッチ2をオンする。そうすると、ビデオラ
インとフォトダイオード4の接合容量3との間の容量分
割により、フォトダイオード4の電位とビデオラインの
電位とが一致するまでビデオラインの容量からフォトダ
イオード4の接合容量3に電荷が充電される。このビデ
オラインの電圧は、トランジスタのソースフォロワ回路
により構成される出力回路5により出力信号として読み
出される。
【0021】図8は、フォトダイオードアレイセンサの
通常の使用状態におけるパルスタイミングを説明する図
であり、出力回路5の応答が2相クロック信号の周波数
に比べて、十分早い場合である。この場合、サンプリン
グ時の出力波形は、十分に安定しているので正しいデー
タが取得可能である。
【0022】しかし、センサの用途によっては、もっと
早く読み出す必要がある。例えば、図9、図10に示す
ようにエキシマレーザを用いた投影露光装置の露光光の
形状を観察するのに用いることを考える。エキシマレー
ザは非常に短い期間だけ発光するパルスレーザである。
従来は、繰り返し発振周波数が1kHzのエキシマレー
ザが使用されていた。この場合、例えば256画素のセ
ンサを500kHzの2相クロックで読み出すとする。
読み出し時間は、前述のように 256(画素)×1/500000(秒)=0.000512(秒)=512
(usec) となる。また、読み出した後のデータ処理は残りの48
8(uusec)で行っていた。
【0023】しかし、近年の技術の進歩により、エキシ
マレーザの発振周波数も2kHzが可能となってきた。
この2kHzのエキシマレーザを採用した場合、従来の
500kHzで読み出していると、レーザの繰り返し発
振周期500(usec)よりも短くなってしまい、読み出
し後の計算だけでなく、読み出し自体も不可能となって
しまう。
【0024】この事態を解決するために、もっと高速で
読み出した場合のパルスタイミングを図11に示す。こ
の場合、シフトレジスタ1やアドレススイッチ2等の動
作スピードは問題ないが、出力回路5の応答性不足によ
り、出力信号のサンプリングタイミングにおいて、十分
な出力信号の安定性が得られていない。したがって、サ
ンプリングしたデータは、光量リニアリティ等がないデ
ータとなってしまう。
【0025】このエキシマレーザを用いた投影露光装置
の露光光の形状を観察するのに用いる場合のように、な
るべく計測分解能が高いほうが高精度な形状測定ができ
るため、2kHzのレーザであってもそれを1kHzで
発振することにより、従来の1kHzレーザの時と同様
な2相クロック周波数で全画素読み出しを行って救済可
能な場合もある。
【0026】ここで他の例として、エキシマレーザを用
いた投影露光装置において、2kHzで発振している状
態での露光光の光量を観察する場合を考える。この場
合、256画素のうち、中心の数画素の出力の平均値を
用いれば十分であり、256画素の全画素出力は必要で
なく、例えば、偶数画素や奇数画素の出力のみでも十分
である。
【0027】しかし、読み出しや読み出し後の計算を含
めて500usec以内に処理が終了する必要がある。この
場合の読み出しタイミングを図1に示す。図1に示すよ
うに、例えば読み捨てる画素のデータ(この例の場合、
偶数画素)は、出力信号が安定する必要がないため、次
のリセット信号がオンするまでの期間をシフトレジスタ
1やアドレススイッチ2が応答可能な最短時間まで短く
することが可能である。正確に読み出す必要がある画素
は、シフトレジスタ1、アドレススイッチ2が応答可能
で、かつ出力回路5が応答可能な周期に設定される。
【0028】例えば、正確に読み出す必要がある奇数画
素のクロック周期をToとし、読み捨てる偶数画素のク
ロック周期をTeとすると、Toが2usec、Teが1us
ecの場合、256画素の読み出しは、 128(画素)×2(usec)+128(画素)×1(usec)=38
(usec) で終了することになる。これは、2kHzでエキシマレ
ーザを発振させた場合でも、読み出し後の計算時間とし
て116(usec)とれるということである。したがっ
て、計測分解能があまり必要でない場合は、リセット信
号即ち2相クロックの周期を偶数画素、奇数画素で変化
させることにより、高速読み出しが可能となる。
【0029】さらに、計測分解能は必要とされないがも
っと高速読み出しが必要な場合や、ある一部分の数画素
のデータだけが必要な場合等は、読み出しが必要な画素
のタイミングのみを出力回路5が応答するのに十分な周
期で、その他読み捨てる画素のタイミングをシフトレジ
スタ1が動作する最小周期で読み出せば、さらに高速な
読み出しが可能である。
【0030】上記の低速高分解能読み出しおよび高速低
分解能読み出しは、タイミング発生器7により、計測目
的に即してより最適なものを選択することが可能であ
る。
【0031】(第2の実施形態)本発明の第2の実施形
態は、図3に示した読み出し回路を電流積分型にしたも
のであり、図4に、その概略構成図を示す。また、その
読み出しのタイミングを図5に示す。この場合は、まず
リセット信号をオンし、積分器の積分コンデンサ8の電
荷を放電させる。
【0032】続いて、アドレススイッチ2をオンさせる
と、蓄積時間中の放電電荷、即ち光出力や暗電流出力に
よる放電電荷に相当する電荷がフォトダイオード4の接
合容量3に充電される。それと同時に、積分コンデンサ
8にも同じ電荷が充電される。したがって、積分器9の
出力には、光量に比例した出力が現れる。この電流積分
型の読み出し応答性は積分器9の放電時定数で決まるた
め、第1の実施形態で示したようなビデオライン積分型
読み出し回路と同様に、図5に示すタイミング信号によ
り読み出せば、第1の実施形態で示したような高速低分
解能読み出しが可能となる。また、従来通り、図6に示
すようなタイミングで読み出せば低速高分解能読み出し
も可能である。また、第1の実施形態に示したように、
計測目的に即してより最適なものを選択することも可能
である。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
センサの計測分解能が1/2以下で良い場合や、一部の
画素出力データのみ使用する場合は、読み出す必要のな
い画素(偶数画素または奇数画素等)のシフトレジスタ
の2相クロックの周期をシフトレジスタが応答可能な範
囲で短く、また、読み出す必要がある画素の周期を出力
回路が応答可能な範囲に設定するように構成したことに
より、全画素を読み出した場合にトータルの読み出し時
間を短縮できるという効果がある。
【0034】また、本発明の他の特徴によれば、高い計
測分解能を必要とする場合は、シフトレジスタ2相クロ
ックを全画素同一周期で読み出し、低い計測分解能でよ
い場合は、2相クロックの周期を長短として高速な読み
出しを、センサ内部の回路構成を変えることなく可変に
設定可能に構成したことにより、同一構造のセンサを用
いても高分解能で低速読み出し、低分解能で高速読み出
しをセンサの使用目的に即して選択可能になるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係るフォトダイオー
ドアレイセンサのパルスタイミングを示す図である。
【図2】従来例を示し、リニアイメージセンサの概略構
成図である。
【図3】本発明の第1の実施形態に係るフォトダイオー
ドアレイセンサの概略構成図である。
【図4】本発明の第2の実施形態に係るフォトダイオー
ドアレイセンサの概略構成図である。
【図5】本発明の第2の実施形態に係るフォトダイオー
ドアレイセンサのパルスタイミングを示す図である。
【図6】本発明の第2の実施形態に係るフォトダイオー
ドアレイセンサのパルスタイミングを示す図である。
【図7】本発明の第2の実施形態に係るフォトダイオー
ドアレイセンサのパルスタイミングを示す図である。
【図8】本発明の第1の実施形態に係るフォトダイオー
ドアレイセンサのパルスタイミングを示す図である。
【図9】本発明に係わるフォトダイオードアレイセンサ
を用いた投影露光装置の概略構成図である。
【図10】本発明に係わるフォトダイオードアレイセン
サを用いた露光光形状測定を説明する図である。
【図11】従来例を示し、リニアイメージセンサの高速
読み出し時のパルスタイミングを示す図である。
【符号の説明】
1 シフトレジスタ 2 アドレススイッチ 3 接合容量 4 フォトダイオード 5 出力回路 6 リセットスイッチ 7 タイミング発生器 8 積分コンデンサ 9 オペアンプ 10 印加電圧 11 露光光ビーム 12 露光光計測センサ(フォトダイオードアレイセン
サ) 13 エキシマレーザ 14 レンズ 15 ミラー 16 スリット 17 レチクル 18 投影レンズ 19 ウエハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 31/10 H01L 27/14 A Fターム(参考) 2H097 AA03 BA10 CA13 LA10 LA20 4M118 AA10 AB10 BA06 CA02 DB06 DB09 5C024 EX01 JX05 JX35 5F046 BA03 CB25 DA12 DB01 DB05 DB08 5F049 MA01 NA04 NB03 RA08

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フォトダイオードアレイより構成される
    受光部と、前記フォトダイオードの信号を読み出すアド
    レススイッチと、前記アドレススイッチを順次オン、オ
    フするシフトレジスタとから構成されており、前記各フ
    ォトダイオードにおいて光信号から電気信号に光電変換
    された電荷を一時的に前記各フォトダイオードの接合容
    量に蓄積しておき、前記各フォトダイオードに接続され
    ている前記アドレススイッチを前記シフトレジスタから
    の信号により順次オンさせることにより、前記各フォト
    ダイオードの接合容量に蓄積されている電荷信号を1本
    の出力ラインより読み出す形式の自己走査型のフォトダ
    イオードアレイセンサの駆動方法であって、 各画素の読み出し信号周期を前記画素からの出力の利用
    状況に応じて変化させるように構成したことを特徴とす
    るフォトダイオードアレイセンサの駆動方法。
  2. 【請求項2】 前記各画素の読み出し信号周期を前記各
    画素からの出力の利用状況に応じて変化させる場合にお
    いて、利用する画素の読み出し信号周期は、前記フォト
    ダイオードアレイセンサの出力回路応答が可能な周波数
    とし、利用せずに読み捨てる画素の読み出し周期は、最
    短で前記シフトレジスタ、前記アドレススイッチが応答
    可能な最高周波数としたことを特徴とする請求項1に記
    載のフォトダイオードアレイセンサの駆動方法。
  3. 【請求項3】 前記各画素の読み出し信号周期を前記各
    画素からの出力の利用状況に応じて変化させる場合にお
    いて、高い計測分解能が必要とされる場合は、前記各画
    素の読み出し信号周期を一定とする読み出しと、反対に
    高い計測分解能が必要とされない場合もしくは前記全画
    素中の一部の画素からの出力のみを利用する場合は、前
    記画素の読み出し信号周期を長短に変化させる読み出し
    との二種類の読み出し方法を使用目的に応じて切り換え
    可能に構成したことを特徴とする請求項1に記載のフォ
    トダイオードアレイセンサの駆動方法。
  4. 【請求項4】 前記各画素の読み出し信号周期を前記各
    画素からの出力の利用状況に応じて変化させる場合にお
    いて、偶数画素または奇数画素の一方の読み出し周期は
    出力回路応答が可能な周波数とし、前記偶数画素または
    前記奇数画素の他方の読み出し周期は最短で前記シフト
    レジスタ、前記アドレススイッチが応答可能な最高周波
    数としたことを特徴とする請求項1に記載のフォトダイ
    オードアレイセンサの駆動方法。
  5. 【請求項5】 フォトダイオードアレイより構成される
    受光部と、前記フォトダイオードの信号を読み出すアド
    レススイッチと、前記アドレススイッチを順次オン、オ
    フするシフトレジスタとから構成されており、前記各フ
    ォトダイオードにおいて光信号から電気信号に光電変換
    された電荷を一時的に前記各フォトダイオードの接合容
    量に蓄積しておき、前記各フォトダイオードに接続され
    ている前記アドレススイッチを前記シフトレジスタから
    の信号により順次オンさせることにより、前記各フォト
    ダイオードの接合容量に蓄積されている電荷信号を1本
    の出力ラインより読み出す方式の自己走査型のフォトダ
    イオードアレイセンサの駆動方法を用いた投影露光装置
    であって、 各画素の読み出し信号周期を、前記各画素からの出力の
    利用状況に応じて変化させるように構成したことを特徴
    とする投影露光装置。
  6. 【請求項6】 前記各画素の読み出し信号周期は、光源
    レーザの発振周波数に応じて、前記各画素の読み出し信
    号周期を一定とした読み出しと、前記各画素の読み出し
    信号周期を長短に変化させる読み出しとの二種類の読み
    出し方法を切り換え可能に構成したことを特徴とする請
    求項5に記載の投影露光装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010135817A (ja) * 2005-03-03 2010-06-17 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置の専用計量ステージ
US8547522B2 (en) 2005-03-03 2013-10-01 Asml Netherlands B.V. Dedicated metrology stage for lithography applications

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