JP2003338480A - Spin treating device - Google Patents

Spin treating device

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JP2003338480A
JP2003338480A JP2002144774A JP2002144774A JP2003338480A JP 2003338480 A JP2003338480 A JP 2003338480A JP 2002144774 A JP2002144774 A JP 2002144774A JP 2002144774 A JP2002144774 A JP 2002144774A JP 2003338480 A JP2003338480 A JP 2003338480A
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cup
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substrate
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Yasushi Chin
康 陳
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spin treating device for preventing inflow of turbulent flow into a cup body even when the turbulent flow is generated in a treating tank. <P>SOLUTION: The spin treating device is provided with a treating tank 1, a cup body 2 provided in the treating tank and having an opening on the upper surface of the same, a turn table 16 driven to turn while retaining a substrate provided in the cup body, a fan filter unit 32 provided in the upper part of the treating tank to introduce clean air into the treating tank, a discharging pipe 5 for discharging the clean air supplied into the treating tank from the fan filter unit through an internal space in the cup body, and an annular wall body 23 provided at the peripheral part of the opening on the upper surface of the cup body to preclude the inflow of air in the outside of the cup body into the cup body through the opening. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は基板を回転させな
がら処理液によって処理したり、処理液によって処理さ
れた基板を乾燥処理するスピン処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a spin processing apparatus for treating a substrate with a treatment liquid while rotating the substrate and for drying a substrate treated with the treatment liquid.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置や液晶表示装置などを製造す
る場合、半導体ウエハやガラス基板などの基板に回路パ
タ−ンを形成するリソグラフィプロセスがある。このリ
ソグラフィプロセスは、周知のように上記基板にレジス
トを塗布し、このレジストに回路パタ−ンが形成された
マスクを介して光を照射し、ついでレジストの光が照射
されない部分(あるいは光が照射された部分)を除去
し、除去された部分をエッチングするなどの一連の工程
を複数回繰り返すことで、上記基板に回路パタ−ンを形
成するものである。
2. Description of the Related Art When manufacturing a semiconductor device or a liquid crystal display device, there is a lithographic process for forming a circuit pattern on a substrate such as a semiconductor wafer or a glass substrate. In this lithographic process, as is well known, a resist is applied to the above substrate, light is irradiated through a mask on which a circuit pattern is formed, and then a portion of the resist which is not irradiated (or light is irradiated). The circuit pattern is formed on the substrate by repeating a series of steps such as removing the removed portion) and etching the removed portion a plurality of times.

【0003】上記一連の各工程において、上記基板が汚
染されていると回路パタ−ンを精密に形成することがで
きなくなり、不良品の発生原因となる。したがって、そ
れぞれの工程で回路パタ−ンを形成する際には、レジス
トや塵埃などの微粒子が残留しない清浄な状態に上記基
板を洗浄処理するということが行われている。
In the above series of steps, if the substrate is contaminated, the circuit pattern cannot be precisely formed, which causes defective products. Therefore, when the circuit pattern is formed in each step, the substrate is cleaned so that fine particles such as resist and dust do not remain.

【0004】上記基板を洗浄処理する装置としてスピン
処理装置が知られている。このスピン処理装置は処理槽
を有し、この処理槽内にはカップ体が設けられている。
このカップ体内には回転テーブルが設けられ、この回転
テーブルには上記基板が着脱可能に保持される。
A spin processing apparatus is known as an apparatus for cleaning the substrate. This spin processing apparatus has a processing tank, and a cup body is provided in this processing tank.
A rotary table is provided in the cup body, and the substrate is detachably held on the rotary table.

【0005】回転テーブルに基板を保持し、回転テーブ
ルを回転させながら基板に処理液を供給して処理したな
らば、上記回転テーブルを処理液による処理時に比べて
高速度で回転させることで、この基板を乾燥処理する。
When the substrate is held on the turntable and the treatment liquid is supplied to the substrate while the turntable is rotated, the turntable is rotated at a higher speed than the treatment with the treatment liquid. The substrate is dried.

【0006】上記処理槽の上部にはULPAやHEPA
などのファン・フィルタユニットが設けられ、基板を処
理するときに処理槽内に清浄空気を供給するようにして
いる。上記カップ体の底部には排出管が接続されてい
る。この排出管には排気ポンプが接続されている。それ
によって、上記ファン・フィルタユニットから処理槽内
に供給された清浄空気は上記カップ体内を通り、上記排
出管から排出される。
ULPA and HEPA are provided above the processing tank.
A fan / filter unit such as is provided to supply clean air into the processing tank when processing a substrate. A discharge pipe is connected to the bottom of the cup body. An exhaust pump is connected to this discharge pipe. As a result, the clean air supplied from the fan / filter unit into the processing tank passes through the cup body and is discharged from the discharge pipe.

【0007】このように、基板の処理時にファン・フィ
ルタユニットから処理槽内に清浄空気を供給し、カップ
体内を通過させて排出することで、基板を乾燥処理する
ときに発生するミストがカップ体や処理槽内に浮遊する
のを防止している。それによって、乾燥処理時に基板に
ミストが付着して汚染原因となるのを防止している。
As described above, when the substrate is processed, clean air is supplied from the fan / filter unit into the processing tank, passes through the cup body, and is discharged, so that mist generated when the substrate is dried is generated in the cup body. And prevents floating in the treatment tank. This prevents mist from adhering to the substrate during the drying process and causing contamination.

【0008】上記処理槽の一側には基板を出し入れする
ための出し入れ口が設けられ、この出し入れ口はシャッ
タによって開閉できるようになっている。上記回転テー
ブルに未処理の基板を供給するときや乾燥処理された基
板を上記回転テーブルから取り出すときには、上記出し
入れ口を開放し、ロボットなどによって基板の出し入れ
を行なう。
A loading / unloading port for loading / unloading the substrate is provided on one side of the processing bath, and the loading / unloading port can be opened and closed by a shutter. When supplying an unprocessed substrate to the rotary table or taking out a dried substrate from the rotary table, the loading / unloading port is opened and the substrate is loaded / unloaded by a robot or the like.

【0009】ところで、基板を処理する処理工場におい
ては、複数のスピン処理装置が設置され、複数のスピン
処理装置の排気を1台の排気ポンプで行なうようにして
いる。つまり、排気ポンプに接続された排出管を複数に
分岐し、分岐された各排出管をそれぞれのスピン処理装
置のカップ体に接続するようにしている。
By the way, in a processing factory for processing substrates, a plurality of spin processing apparatuses are installed and the plurality of spin processing apparatuses are exhausted by a single exhaust pump. That is, the discharge pipe connected to the exhaust pump is branched into a plurality of pipes, and each branched discharge pipe is connected to the cup body of each spin processing apparatus.

【0010】複数のスピン処理装置のうち、基板を処理
しているスピン処理装置にはファン・フィルタユニット
から清浄空気が供給されるとともに、上記排出管を通じ
てカップ体内の排気が行なわれる。
Of the plurality of spin processing apparatuses, the spin processing apparatus for processing the substrate is supplied with clean air from the fan / filter unit, and the inside of the cup is exhausted through the exhaust pipe.

【0011】基板を処理していないスピン処理装置で
は、ファン・フィルタユニットからの清浄空気の供給が
停止され、また排出管に設けられた開閉弁を閉じて排気
も停止される。
In the spin processing apparatus which does not process the substrate, the supply of clean air from the fan / filter unit is stopped, and the on-off valve provided in the exhaust pipe is closed to stop the exhaust.

【0012】そのため、複数のスピン処理装置におい
て、基板を処理しているスピン処理装置と処理していな
いスピン処理装置との数が経時的に変動することになる
から、その変動に応じて基板を処理しているスピン処理
装置ではその処理槽内の圧力が変動することが避けられ
ない。
Therefore, in a plurality of spin processing apparatuses, the number of spin processing apparatuses that are processing a substrate and the number of spin processing apparatuses that are not processing vary with time. In the spin processing apparatus which is processing, it is inevitable that the pressure in the processing tank fluctuates.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】処理槽内の圧力が変動
すると、処理槽内における空気の流れも変動することが
避けられない。たとえば、ファン・フィルタユニットか
ら所定量の清浄空気が供給されているときに運転される
スピン処理装置の数が増加すると、各処理槽の排気ポン
プによる排気量が減少する。
When the pressure in the processing tank changes, the air flow in the processing tank also inevitably changes. For example, when the number of spin processing devices that are operated while a predetermined amount of clean air is being supplied from the fan / filter unit increases, the exhaust amount of the exhaust pump of each processing tank decreases.

【0014】排気量が減少すると、ファン・フィルタユ
ニットからの清浄空気の供給量が排気量よりも多くな
り、処理槽内の圧力が上昇して処理槽内に供給された空
気がカップ体を通じて円滑に排出され難くなる。
When the amount of exhaust air decreases, the amount of clean air supplied from the fan / filter unit becomes larger than the amount of exhaust air, and the pressure in the processing tank rises so that the air supplied into the processing tank smoothly flows through the cup body. It becomes difficult to be discharged to.

【0015】その結果、処理槽内には乱流が発生し、そ
の乱流がカップ体の外周面に沿って流れ、一部はカップ
体の上面に形成された開口部から内部に流入する虞があ
る。処理槽内で生じた乱流には、処理槽の内面に付着し
た塵埃が含まれ易くなる。そのため、乱流の一部がカッ
プ体内に入り込むことで、基板が汚染されるということ
がある。
As a result, a turbulent flow is generated in the processing tank, the turbulent flow flows along the outer peripheral surface of the cup body, and a part of the turbulent flow may flow into the inside from the opening formed on the upper surface of the cup body. There is. The turbulent flow generated in the processing tank is likely to include dust adhering to the inner surface of the processing tank. Therefore, a part of the turbulent flow enters the cup body, which may contaminate the substrate.

【0016】この発明は、圧力変動などによって処理槽
内で乱流が発生しても、その乱流がカップ体内に流れ込
むのを防止できるようにしたスピン処理装置を提供する
ことにある。
An object of the present invention is to provide a spin processing apparatus capable of preventing the turbulent flow from flowing into the cup body even if the turbulent flow is generated in the processing tank due to pressure fluctuation or the like.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
を回転させて処理するスピン処理装置において、処理槽
と、この処理槽内に設けられた上面に開口部を有するカ
ップ体と、このカップ体内に設けられ上記基板を保持し
て回転駆動される回転テーブルと、上記処理槽の上部に
設けられこの処理槽内に清浄空気を導入するファン・フ
ィルタユニットと、このファン・フィルタユニットから
上記処理槽内に供給された清浄空気を上記カップ体の内
部空間を通じて排出する排出手段と、上記カップ体の上
面の上記開口部の周辺部に設けられ上記カップ体の外部
の空気が上記開口部からカップ体内へ流入するのを阻止
する流入阻止手段とを具備したことを特徴とするスピン
処理装置にある。
According to a first aspect of the present invention, in a spin processing apparatus for rotating a substrate for processing, a processing tank and a cup body having an opening on an upper surface provided in the processing tank are provided. A rotary table that is provided in the cup body and is driven to rotate while holding the substrate, a fan / filter unit that is provided above the processing bath and that introduces clean air into the processing bath, and a fan / filter unit Exhaust means for discharging the clean air supplied into the processing tank through the inner space of the cup body, and air provided outside the cup body around the opening on the upper surface of the cup body is the opening. And a flow-in prevention means for preventing the fluid from flowing into the cup body from the spin processing apparatus.

【0018】請求項2の発明は、上記流入阻止手段は、
上記カップ体の上面の上記開口部の周縁部に設けられた
環状壁体であることを特徴とする請求項1記載のスピン
処理装置にある。
According to a second aspect of the invention, the inflow preventing means is
The spin processing apparatus according to claim 1, wherein the spin processing apparatus is an annular wall body provided on a peripheral portion of the opening on the upper surface of the cup body.

【0019】請求項3の発明は、上記環状壁体には、高
さ調整部材が着脱可能に設けられることを特徴とする請
求項1記載のスピン処理装置にある。
A third aspect of the present invention is the spin processing apparatus according to the first aspect, wherein a height adjusting member is detachably provided on the annular wall body.

【0020】この発明によれば、カップ体の上面の開口
部の周縁部に設けられた流入阻止手段によって、カップ
体の外部の空気がカップ体の上面開口からカップ体内に
流入するのが阻止されるから、処理槽内の圧力変動で乱
流が生じても、その乱流がカップ体内に流入して基板を
汚染するのが防止される。
According to the present invention, the inflow prevention means provided at the peripheral portion of the opening on the upper surface of the cup body prevents the air outside the cup body from flowing into the cup body from the upper opening of the cup body. Therefore, even if a turbulent flow occurs due to the pressure fluctuation in the processing tank, the turbulent flow is prevented from flowing into the cup body and contaminating the substrate.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながらこの発
明の一実施の形態を説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0022】図1はこの発明のスピン処理装置の概略的
構成を示し、このスピン処理装置は箱型状の処理槽1を
有する。この処理槽1内にはカップ体2が配置されてい
る。このカップ体2は、上記処理槽1の底板上に設けら
れた下カップ3と、この下カップ3に対して図示しない
上下駆動機構により上下動可能に設けられた上カップ4
とからなる。
FIG. 1 shows a schematic configuration of a spin processing apparatus according to the present invention, which has a box-shaped processing tank 1. A cup body 2 is arranged in the processing tank 1. The cup body 2 includes a lower cup 3 provided on the bottom plate of the processing tank 1 and an upper cup 4 provided on the lower cup 3 so as to be vertically movable by a vertical drive mechanism (not shown).
Consists of.

【0023】上記下カップ3の底壁には周方向に所定間
隔で複数の排出管5が接続されている。これら排出管5
は排気ポンプ6に連通している。排出管5にはバタフラ
イ弁5aが設けられ、このバタフライ弁5aの開度は制
御装置7によって設定できるようになっている。
A plurality of discharge pipes 5 are connected to the bottom wall of the lower cup 3 at predetermined intervals in the circumferential direction. These discharge pipes 5
Communicates with the exhaust pump 6. The discharge pipe 5 is provided with a butterfly valve 5a, and the opening degree of the butterfly valve 5a can be set by the controller 7.

【0024】上記カップ体7の下面側にはベース板8が
配置されている。このベース板8には、上記下カップ3
と対応する位置に取付け孔9が形成されている。この取
付け孔9には駆動手段を構成する制御モータ11の固定
子12の上端部が嵌入固定されている。
A base plate 8 is arranged on the lower surface side of the cup body 7. The lower plate 3 is attached to the base plate 8.
A mounting hole 9 is formed at a position corresponding to. An upper end of a stator 12 of a control motor 11 which constitutes a driving means is fitted and fixed in the mounting hole 9.

【0025】上記固定子12は筒状をなしていて、その
内部には同じく筒状の回転子13が回転自在に嵌挿され
ている。この回転子13の上端面には筒状の連結体14
が下端面を接触させて一体的に固定されている。この連
結体14の下端には上記固定子12の内径寸法よりも大
径な鍔部15が形成されている。この鍔部15は上記固
定子12の上端面に摺動可能に接触しており、それによ
って回転子13の回転を阻止することなく、この回転子
13が固定子12から抜け落ちるのを防止している。
The stator 12 has a cylindrical shape, and a cylindrical rotor 13 is also rotatably fitted therein. The upper end surface of the rotor 13 has a cylindrical connecting body 14
Is fixed integrally by contacting the lower end surfaces. A flange portion 15 having a diameter larger than the inner diameter of the stator 12 is formed at the lower end of the connecting body 14. The flange portion 15 slidably contacts the upper end surface of the stator 12, thereby preventing the rotor 13 from falling out of the stator 12 without blocking the rotation of the rotor 13. There is.

【0026】上記下カップ3には上記回転子13と対応
する部分に通孔3aが形成され、上記連結体14は上記
通孔3aからカップ体2内に突出している。この連結体
14の上端には回転テーブル16が取付けられている。
この回転テーブル16の周辺部には周方向に所定間隔、
この実施の形態では60度間隔で6本(2本のみ図示)
の円柱状の保持部材17が図示しない駆動機構によって
回転可能に設けられている。
A through hole 3a is formed in the lower cup 3 at a portion corresponding to the rotor 13, and the connecting body 14 projects into the cup body 2 through the through hole 3a. A rotary table 16 is attached to the upper end of the connecting body 14.
Around the periphery of the rotary table 16, a predetermined interval is provided in the circumferential direction.
In this embodiment, 6 at 60 degree intervals (only 2 shown)
The cylindrical holding member 17 is rotatably provided by a drive mechanism (not shown).

【0027】上記保持部材17の上端面には、この保持
部材17の回転中心から偏心した位置にテーパ面を有す
る支持ピン18が設けられている。回転テーブル16に
は、基板としての半導体ウエハWが周縁部の下面を上記
支持ピン18のテーパ面に当接するよう供給される。そ
の状態で上記保持部材17を回転させれば、支持ピン1
8が偏心回転するから、回転テーブル16に供給された
半導体ウエハWは、上記支持ピン18によって保持され
る。
A support pin 18 having a tapered surface is provided on the upper end surface of the holding member 17 at a position eccentric from the rotation center of the holding member 17. A semiconductor wafer W as a substrate is supplied to the rotary table 16 so that the lower surface of the peripheral edge portion abuts the tapered surface of the support pin 18. If the holding member 17 is rotated in that state, the support pin 1
Since 8 rotates eccentrically, the semiconductor wafer W supplied to the rotary table 16 is held by the support pins 18.

【0028】上記回転テーブル16は乱流防止カバー2
1によって覆われている。この乱流防止カバー21は上
記回転テーブル16の外周面を覆う外周壁22と、上面
を覆う上面壁23とを有し、上記外周壁は上側が小径部
22a、下側が大径部22bに形成されている。
The rotary table 16 has a turbulence prevention cover 2
Covered by 1. The turbulent flow prevention cover 21 has an outer peripheral wall 22 that covers the outer peripheral surface of the rotary table 16 and an upper surface wall 23 that covers the upper surface. The outer peripheral wall has a small diameter portion 22a on the upper side and a large diameter portion 22b on the lower side. Has been done.

【0029】上記上カップ4の上面は開口していて、そ
の開口部4aの内周面には環状壁体25が設けられてい
る。この環状壁体25は高さ方向の下端部を上カップ4
内に位置させ、上端を上カップ4の上端面とほぼ面一に
して設けられている。
The upper surface of the upper cup 4 is open, and an annular wall 25 is provided on the inner peripheral surface of the opening 4a. This annular wall body 25 has a lower end portion in the height direction at the upper cup 4
The upper end of the upper cup 4 is located substantially inside the upper cup 4.

【0030】上記上カップ4の外周面は滑らかな曲面2
6に形成され、この曲面26は上カップ4の内周縁部に
向かって高く傾斜しており、その内周縁部は上カップ4
の上面側に突出した環状突出部27に形成されている。
それによって、この環状突出部27は、後述するように
カップ体2の外部で生じる乱流がカップ体2内に流入す
るのを阻止する流入阻止手段を構成している。
The outer peripheral surface of the upper cup 4 is a smooth curved surface 2
6, the curved surface 26 is highly inclined toward the inner peripheral edge portion of the upper cup 4, and the inner peripheral edge portion thereof is
Is formed on the annular protruding portion 27 that protrudes toward the upper surface side.
As a result, the annular protrusion 27 constitutes inflow blocking means for blocking turbulent flow generated outside the cup body 2 from flowing into the cup body 2 as described later.

【0031】上記回転テーブル16に未処理の半導体ウ
エハWを供給したり、乾燥処理された半導体ウエハWを
取り出すときには、上記上カップ4が後述するごとく下
降させられる。
When the unprocessed semiconductor wafer W is supplied to the rotary table 16 or the dried semiconductor wafer W is taken out, the upper cup 4 is lowered as described later.

【0032】上記処理槽1の上部壁には開口部31が形
成されている。この開口部31にはULPAやHEPA
などのファン・フィルタユニット32が設けられてい
る。このファン・フィルタユニット32はクリーンルー
ム内の空気をさらに清浄化して処理槽1内に導入する。
上記ファン・フィルタユニット32は駆動部33を有
し、この駆動部33によって図示しないファンが回転駆
動されて清浄空気を処理槽1内に導入する。
An opening 31 is formed in the upper wall of the processing tank 1. ULPA or HEPA is provided in this opening 31.
And a fan / filter unit 32 are provided. The fan / filter unit 32 further purifies the air in the clean room and introduces it into the processing tank 1.
The fan / filter unit 32 has a drive unit 33, and a fan (not shown) is rotationally driven by the drive unit 33 to introduce clean air into the processing tank 1.

【0033】上記ファン・フィルタユニット32によっ
て上記処理槽1内に導入された清浄空気は、カップ体2
の上面の開口部4aから内部に流入し、排出管5を通っ
て排出される。
The clean air introduced into the processing tank 1 by the fan / filter unit 32 is transferred to the cup body 2.
It flows into the inside through the opening 4a on the upper surface and is discharged through the discharge pipe 5.

【0034】つまり、ファン・フィルタユニット32か
らの清浄空気の供給量に対し、排出管5からの排出量が
ほぼ同じ或いはわずかに多い状態であれば、ファン・フ
ィルタユニット32から処理槽1内に供給された清浄空
気は、カップ体2内を通って円滑に排出されるから、処
理槽1内で乱流が生じることがない。
That is, if the amount of discharge from the exhaust pipe 5 is approximately the same as or slightly larger than the amount of clean air supplied from the fan / filter unit 32, the fan / filter unit 32 moves into the processing tank 1. Since the supplied clean air is smoothly discharged through the cup body 2, turbulent flow does not occur in the processing tank 1.

【0035】なお、上記駆動部33は上記制御装置7に
よって発停が制御されるようになっている。
The start / stop of the drive unit 33 is controlled by the control device 7.

【0036】上記処理槽1の一側には出し入れ口34が
開口形成されている。この出し入れ口34は、処理槽1
の一側に上下方向にスライド可能に設けられたシャッタ
35によって開閉される。このシャッタ35は圧縮空気
で作動するシリンダ36によって駆動される。つまり、
上記シリンダ36には圧縮空気の流れを制御する制御弁
37が設けられ、この制御弁37を上記制御装置7によ
って切換え制御することで、上記シャッタ35を上下動
させることができるようになっている。
An inlet / outlet opening 34 is formed on one side of the processing tank 1. The inlet / outlet port 34 is used as the processing tank 1.
It is opened and closed by a shutter 35 provided on one side so as to be vertically slidable. The shutter 35 is driven by a cylinder 36 that operates with compressed air. That is,
A control valve 37 for controlling the flow of compressed air is provided in the cylinder 36, and the shutter 35 can be moved up and down by switching the control valve 37 by the control device 7. .

【0037】上記制御モータ11の回転子13内には筒
状の固定軸41が挿通されている。この固定軸41の上
端には、上記回転テーブル16に形成された通孔42か
ら上記回転テーブル16の上面側に突出したノズルヘッ
ド43が設けられている。このノズルヘッド43には上
記回転テーブル16に保持された半導体ウエハWの下面
に向けて処理液としての薬液及び洗浄液を選択的に噴射
する一対のノズル44が設けられている。
A cylindrical fixed shaft 41 is inserted into the rotor 13 of the control motor 11. A nozzle head 43 is provided at the upper end of the fixed shaft 41 so as to project from the through hole 42 formed in the rotary table 16 to the upper surface side of the rotary table 16. The nozzle head 43 is provided with a pair of nozzles 44 that selectively eject the chemical liquid and the cleaning liquid as the processing liquid toward the lower surface of the semiconductor wafer W held on the rotary table 16.

【0038】上記乱流防止カバー21の上面壁23には
上記ノズルヘッド43と対向して開口部45が形成さ
れ、この開口部45によって上記ノズル44から噴射さ
れた処理液が半導体ウエハWの下面に到達可能となって
いる。
An opening 45 is formed in the upper wall 23 of the turbulent flow prevention cover 21 so as to face the nozzle head 43, and the processing liquid sprayed from the nozzle 44 by the opening 45 causes the lower surface of the semiconductor wafer W. Is reachable.

【0039】回転テーブル16に保持された半導体ウエ
ハWの上方には上部ノズル体46が配置されている。こ
の上部ノズル体46からは上記半導体ウエハWの上面に
処理液が供給されるようになっている。
An upper nozzle body 46 is arranged above the semiconductor wafer W held on the rotary table 16. The processing liquid is supplied from the upper nozzle body 46 to the upper surface of the semiconductor wafer W.

【0040】つぎに、上記構成のスピン処理装置の作用
について説明する。
Next, the operation of the spin processing apparatus having the above structure will be described.

【0041】ファン・フィルタユニット32を作動させ
て清浄空気を処理槽1内に供給するとともに、バタフラ
イ弁5aを所定の開度に設定することで、上記ファン・
フィルタユニット32から処理槽1内に供給された清浄
空気は、排気ポンプ6の吸引力が作用する排出管5を通
じてカップ体2内から排出される。
By operating the fan / filter unit 32 to supply clean air into the processing tank 1 and setting the butterfly valve 5a to a predetermined opening,
The clean air supplied from the filter unit 32 into the processing tank 1 is discharged from the inside of the cup body 2 through the discharge pipe 5 on which the suction force of the exhaust pump 6 acts.

【0042】ファン・フィルタユニット32から供給さ
れる清浄空気量が排気ポンプ6による排気量とほぼ同等
或いはわずかに少ない状態であれば、処理槽1内の圧力
は0若しくは負圧に維持される。それによって、ファン
・フィルタユニット32から処理槽1内に供給された清
浄空気はカップ体2内を通って排出管5から円滑に排出
されることになるから、処理槽1内で乱流が発生するこ
とはない。
If the amount of clean air supplied from the fan / filter unit 32 is substantially equal to or slightly smaller than the exhaust amount of the exhaust pump 6, the pressure in the processing tank 1 is maintained at 0 or negative pressure. As a result, the clean air supplied from the fan / filter unit 32 into the processing tank 1 passes through the cup body 2 and is smoothly discharged from the discharge pipe 5, so that turbulent flow occurs in the processing tank 1. There is nothing to do.

【0043】たとえば、工場において、複数のスピン処
理装置のうち、休止していたスピン処理装置が運転を開
始すると、スピン処理装置1台当たりの排気ポンプ6に
よる排気量が減少し、処理槽1内の圧力が高くなること
がある。また、処理槽1に半導体ウエハWを出し入れす
るためにシャッタ35を下げて出し入れ口34を開放す
ると、処理槽1内に外気が流入し、処理槽1内の圧力が
高くなることがある。
For example, in a factory, when a spin processing apparatus that has been idle among a plurality of spin processing apparatuses starts operating, the exhaust amount of the exhaust pump 6 per spin processing apparatus decreases, and the inside of the processing tank 1 decreases. The pressure may increase. Further, when the shutter 35 is lowered to open the loading / unloading port 34 in order to load / unload the semiconductor wafer W into / from the processing bath 1, outside air may flow into the processing bath 1 and the pressure in the processing bath 1 may increase.

【0044】なお、工場における排気ポンプ6の排気作
用は、スピン処理装置だけでなく、他の機器に用いられ
ていることもあるから、それらの機器の使用状況によっ
ても、処理槽1内の圧力が変動することがある。
The exhaust action of the exhaust pump 6 in the factory may be used not only in the spin processing apparatus but also in other equipment. Therefore, the pressure in the processing tank 1 may vary depending on the usage status of those equipment. May fluctuate.

【0045】処理槽1内の圧力が負圧からプラス圧に変
動すると、排気ポンプ6による処理槽1内の排気が円滑
に行なえず、ファン・フィルタユニット32からの清浄
空気の一部が処理槽1内で滞留し、その滞留によって乱
流が生じることがある。処理槽1内で発生する乱流に
は、処理槽1の内面に付着した塵埃が含まれ易い。
When the pressure in the processing tank 1 changes from a negative pressure to a positive pressure, the exhaust pump 6 cannot exhaust the inside of the processing tank 1 smoothly, and a part of the clean air from the fan / filter unit 32 is treated. There is a case where turbulent flow occurs due to the retention in the No. 1 chamber. The turbulent flow generated in the processing tank 1 is likely to include dust attached to the inner surface of the processing tank 1.

【0046】このように、処理槽1内で乱流が発生する
と、その乱流はカップ体2の周壁に沿って上カップ4の
上面の開口部4aから内部に流入しようとする。しかし
ながら、上記上カップ4の内周縁部は、上カップ4の上
面側に突出した環状突出部27に形成されている。
When a turbulent flow is generated in the processing tank 1 as described above, the turbulent flow tends to flow into the inside from the opening 4a on the upper surface of the upper cup 4 along the peripheral wall of the cup body 2. However, the inner peripheral edge portion of the upper cup 4 is formed as an annular protruding portion 27 protruding toward the upper surface side of the upper cup 4.

【0047】そのため、処理槽1内で乱流が発生し、そ
の乱流が図2に矢印で示すようにカップ体2の周壁に沿
って流れてカップ体2内に流入しようとしても、上記上
カップ4の上面側に突出した上記環状突出部27によっ
て上カップ4の開口部4aから内部に流入するのが阻止
される。そのため、塵埃を含む乱流によってカップ体2
内の回転テーブル16に保持された半導体ウエハWが汚
染されるのを防止できる。
Therefore, even if a turbulent flow is generated in the processing tank 1 and the turbulent flow flows along the peripheral wall of the cup body 2 as shown by the arrow in FIG. The annular protrusion 27 protruding toward the upper surface of the cup 4 prevents the inflow from the opening 4a of the upper cup 4 into the inside. Therefore, the cup body 2 is caused by the turbulent flow containing dust.
It is possible to prevent the semiconductor wafer W held on the rotary table 16 therein from being contaminated.

【0048】しかも、上記上カップ4の外周面は滑らか
な曲面26に形成されている。そのため、図2に矢印で
示す気流は上カップ4の外周面に沿って円滑に流れ、乱
流が発生することがないから、そのことによっても半導
体ウエハWの汚染を防止できる。
Moreover, the outer peripheral surface of the upper cup 4 is formed into a smooth curved surface 26. Therefore, the air flow indicated by the arrow in FIG. 2 smoothly flows along the outer peripheral surface of the upper cup 4 and no turbulent flow is generated, which also prevents the semiconductor wafer W from being contaminated.

【0049】図3に示すように、上記環状突出部27に
は、複数の高さ調整部材、この実施の形態では第1の高
さ調整部材51と第2の高さ調整部材52とが着脱可能
に順次装着できるようになっている。
As shown in FIG. 3, a plurality of height adjusting members, in this embodiment, a first height adjusting member 51 and a second height adjusting member 52 are attached to and detached from the annular protrusion 27. It is possible to install them one after another.

【0050】上記第1、第2の高さ調整部材51,52
はそれぞれ環状をなしていて、第1の高さ調整部材51
の下端面は上カップ4の外周面の曲面26及び環状突出
部27の上端面に接合するよう形成されている。上記第
2の高さ調整部材52の下端面は上記第1の高さ調整部
材51の外周面及び上端面に接合するよう形成されてい
る。
The above first and second height adjusting members 51, 52
Each has an annular shape, and the first height adjusting member 51
Is formed so as to be joined to the curved surface 26 of the outer peripheral surface of the upper cup 4 and the upper end surface of the annular protruding portion 27. The lower end surface of the second height adjusting member 52 is formed so as to be joined to the outer peripheral surface and the upper end surface of the first height adjusting member 51.

【0051】したがって、上記上カップ4の環状突出部
27に第1の高さ調整部材51を装着すれば、この第1
の高さ調整部材51の高さに応じて上カップ4の高さを
高くすることができる。第1の高さ調整部材51に第2
の高さ調整部材52を装着すれば、上カップ4の高さ
を、さらに高くすることができる。
Therefore, if the first height adjusting member 51 is mounted on the annular protrusion 27 of the upper cup 4, the first height adjusting member 51
The height of the upper cup 4 can be increased according to the height of the height adjusting member 51. Second to the first height adjusting member 51
If the height adjusting member 52 is attached, the height of the upper cup 4 can be further increased.

【0052】環状突出部27に装着された第1、第2の
高さ調整部材51,52の内周面は、上記環状壁体25
の内周面と面一になり、段差が生じることがない滑らか
な内周面となる。それによって、環状突出部27に第
1、第2の高さ調整部材51,52を装着しても、これ
の内周面に汚れが付着残留し難くなっている。
The inner peripheral surfaces of the first and second height adjusting members 51 and 52 mounted on the annular protruding portion 27 have the above-mentioned annular wall body 25.
The inner surface is flush with the inner peripheral surface of, and a smooth inner peripheral surface is formed without a step. As a result, even if the first and second height adjusting members 51 and 52 are mounted on the annular protruding portion 27, dirt is unlikely to adhere and remain on the inner peripheral surfaces thereof.

【0053】処理槽1内の圧力変動の大きさによってこ
の処理槽1内で生じる乱流の勢いに差がある。たとえ
ば、処理槽1内の圧力がプラス圧に大きく変動するよう
な使用条件下では、処理槽1内に生じる乱流の勢いも強
くなる。したがって、そのような条件下でスピン処理装
置を使用する場合には、上記環状突出部27に第1の高
さ調整部材51を装着したり、さらに第2の高さ調整部
材52を積層装着する。
There is a difference in the force of the turbulent flow generated in the processing tank 1 depending on the magnitude of the pressure fluctuation in the processing tank 1. For example, under a use condition in which the pressure in the processing tank 1 greatly changes to a positive pressure, the turbulent flow generated in the processing tank 1 also becomes strong. Therefore, when the spin processing apparatus is used under such conditions, the first height adjusting member 51 is attached to the annular protruding portion 27, and the second height adjusting member 52 is further attached in layers. .

【0054】それによって、処理槽1内で生じる乱流の
勢いが強くても、環状壁体25に装着された第1、第2
の高さ調整部材51,52によってカップ体2内に乱流
が流入するのを確実に阻止することが可能となる。
As a result, even if the turbulent flow generated in the processing tank 1 is strong, the first and second members mounted on the annular wall 25 are mounted.
The height adjusting members 51 and 52 can reliably prevent turbulent flow from flowing into the cup body 2.

【0055】なお、上カップに装着される高さ調整部材
の数は2つに限られず、3つ以上であってもよい。ま
た、上カップの内周縁部に環状突出部を一体に設け、こ
の環状突出部に高さ調整部材を装着したが、上カップの
内周面に設けられた環状壁体の上端部を上カップの上面
側に突出させ、この環状壁体の上カップの上面側に突出
した部分を流入阻止手段としてもよい。その場合、この
環状壁体に高さ調整部材を着脱可能に装着すればよい。
The number of height adjusting members mounted on the upper cup is not limited to two and may be three or more. In addition, an annular protrusion is integrally provided on the inner peripheral edge of the upper cup, and a height adjusting member is attached to the annular protrusion, but the upper end of the annular wall body provided on the inner peripheral surface of the upper cup is attached to the upper cup. Of the annular wall body may be used as the inflow prevention means. In that case, the height adjusting member may be detachably attached to the annular wall body.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、カップ
体の上面の開口部の周縁部に、カップ体の外部の空気が
カップ体の上面開口からカップ体内に流入するのを阻止
する流入阻止手段を設けるようにした。
As described above, according to the present invention, the inflow to the peripheral portion of the opening on the upper surface of the cup body for preventing the air outside the cup body from flowing into the cup body from the upper surface opening of the cup body. A blocking means is provided.

【0057】そのため、処理槽内に乱流が生じても、そ
の乱流がカップ体内に流入するのが阻止されるから、カ
ップ体内に生じた乱流で基板が汚染されるのを防止でき
る。
Therefore, even if a turbulent flow occurs in the processing tank, the turbulent flow is prevented from flowing into the cup body, so that the substrate can be prevented from being contaminated by the turbulent flow generated in the cup body.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施の形態を示すスピン処理装置
の概略的構成の断面図。
FIG. 1 is a sectional view of a schematic configuration of a spin processing apparatus showing an embodiment of the present invention.

【図2】上カップに設けられた環状壁体によってカップ
体内に乱流が流入するのを阻止する状態を示す説明図。
FIG. 2 is an explanatory view showing a state in which a turbulent flow is prevented from flowing into the cup body by an annular wall body provided on the upper cup.

【図3】上記環状壁体に高さ調整部材を積層した状態の
一部を拡大して示す断面図。
FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view showing a part of a state where a height adjusting member is laminated on the annular wall body.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…処理槽 2…カップ体 3…下カップ 4…上カップ 5…排出管(排出手段) 6…排気ポンプ(排出手段) 16…回転テーブル 27…環状突出部(流入阻止手段) 32…ファン・フィルタユニット 51…第1の高さ調整部材 52…第2の高さ調整部材 1 ... Treatment tank 2 ... Cup body 3 ... Lower cup 4 ... Upper cup 5 ... Discharge pipe (discharging means) 6 ... Exhaust pump (discharging means) 16 ... Rotary table 27 ... Annular protrusion (inflow prevention means) 32 ... Fan / filter unit 51 ... First height adjusting member 52 ... Second height adjusting member

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を回転させて処理するスピン処理装
置において、 処理槽と、 この処理槽内に設けられた上面に開口部を有するカップ
体と、 このカップ体内に設けられ上記基板を保持して回転駆動
される回転テーブルと、 上記処理槽の上部に設けられこの処理槽内に清浄空気を
導入するファン・フィルタユニットと、 このファン・フィルタユニットから上記処理槽内に供給
された清浄空気を上記カップ体の内部空間を通じて排出
する排出手段と、 上記カップ体の上面の上記開口部の周辺部に設けられ上
記カップ体の外部の空気が上記開口部からカップ体内へ
流入するのを阻止する流入阻止手段とを具備したことを
特徴とするスピン処理装置。
1. A spin processing apparatus for rotating and processing a substrate, comprising: a processing tank; a cup body having an opening on an upper surface provided in the processing tank; and a substrate provided in the cup body for holding the substrate. The rotary table driven to rotate, the fan / filter unit provided above the processing tank for introducing clean air into the processing tank, and the clean air supplied from the fan / filter unit into the processing tank. A discharge means for discharging through the inner space of the cup body and an inflow for preventing air outside the cup body from flowing into the cup body through the opening provided on the upper surface of the cup body around the opening. A spin processing apparatus comprising: a blocking means.
【請求項2】 上記流入阻止手段は、上記カップ体の上
面の上記開口部の周縁部に設けられた環状壁体であるこ
とを特徴とする請求項1記載のスピン処理装置。
2. The spin processing apparatus according to claim 1, wherein the inflow prevention means is an annular wall body provided on a peripheral portion of the opening on the upper surface of the cup body.
【請求項3】 上記環状壁体には、高さ調整部材が着脱
可能に設けられることを特徴とする請求項1記載のスピ
ン処理装置。
3. The spin processing apparatus according to claim 1, wherein a height adjusting member is detachably provided on the annular wall body.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JP2007053154A (en) * 2005-08-16 2007-03-01 Pre-Tech Co Ltd Cleaning device for mask substrate, and cleaning method for mask substrate using the device
US8313609B2 (en) 2005-03-31 2012-11-20 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2016096337A (en) * 2014-11-11 2016-05-26 株式会社荏原製作所 Substrate cleaning device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006286831A (en) * 2005-03-31 2006-10-19 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate processing apparatus
US8313609B2 (en) 2005-03-31 2012-11-20 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method
US8545668B2 (en) 2005-03-31 2013-10-01 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2007053154A (en) * 2005-08-16 2007-03-01 Pre-Tech Co Ltd Cleaning device for mask substrate, and cleaning method for mask substrate using the device
JP2016096337A (en) * 2014-11-11 2016-05-26 株式会社荏原製作所 Substrate cleaning device

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