JP2003320458A - チタンおよびチタン合金のmig溶接方法 - Google Patents

チタンおよびチタン合金のmig溶接方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 チタン又はチタン合金をMIG溶接方法を用
いて、安定、かつ高能率に、かつ半自動溶接による現場
溶接を可能とし、溶接時間短縮によるシールドガス使用
量低減によるコスト削減を図ったチタンまたはチタン合
金のMIG溶接方法を提供する。 【解決手段】 チタンまたはチタン合金の溶接におい
て、断面外形が1.6〜2.0mmの純チタンの溶接ワイ
ヤ表面、溶接前の被溶接材の開先表面の何れか一方、ま
たは両者の表面に熱処理を伴う表面処理方法により、1
0nm〜10μmの厚さのAl23とTiO2 の2層酸化
膜またはこれらの混在する酸化膜を付与し、この酸化膜
が好ましくは、Al:0.5〜10質量%を含み、MI
G溶接に際しては、300A≦(ピーク電流)≦500
A、2.0≦(ピーク電流)/(ベース電流)≦5.
0、の条件を満たす条件で溶接する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、船舶、建築構造物
などに使用されるチタンまたはチタン合金部材の溶接の
際に使用されるMIG溶接用チタン合金溶接ワイヤに関
する。
【0002】
【従来の技術】従来より、チタンまたはチタン合金は、
高い耐食性が要求される船舶、建築構造物、自動車、自
動二輪車等に使用されており、最近においてはその使用
量が益々増加している。このチタンまたはチタン合金の
溶接に際しては、現在では、主に非消耗電極式溶接方法
の1種であるTIG溶接方法(タングステンイナートガ
スメタル溶接方法)を採用している。これに対して、消
耗電極式溶接方法であるMIG溶接方法(イナートガス
メタルアーク溶接方法)では、TIG溶接方法に比較し
て数倍以上の溶接能率が得られるという利点を有するも
のの、純チタン製の溶接ワイヤを用いてMIG溶接を行
った場合、溶接アークが極めて不安定になる。
【0003】これは、チタンおよびチタン合金をMIG
溶接方法で溶接した場合、アークは陰極点を維持するた
めに、チタンおよびチタン合金の被溶接材の表面酸化膜
が残存する位置にアークが激しく移動して暴れるワンダ
リング現象が生じるため、溶接スパッタが多量に発生
し、母材となるチタンおよびチタン合金にスパッタが付
着する。また、このワンダリング現象によって溶接ビー
ドが蛇行するという問題があり、溶接部の外観不良が頻
発している。このため、チタンおよびチタン合金をMI
G溶接方法で溶接するという危険は極力忌避されてき
た。
【0004】一方、TIG溶接方法を採用した場合に
は、高融点の非消耗電極を使用してアークを発生させ
て、母材に生成される溶融池に、溶接ワイヤを供給しな
がら溶接を行うためにスパッタ発生はない。また、電極
側が負極性で、被溶接側が正極性であるために、被溶接
材表面に生成する酸化膜を除去するクリーニング作用が
あることから上記ワンダリング現象が生じることはな
く、依って、溶接ビードは蛇行はなく、良好な溶接外観
形状が得られる。このために、チタンおよびチタン合金
の溶接に際しては専らTIG溶接方法が採用されてい
た。
【0005】また、TIG溶接では溶接トーチを適正な
位置に保持しつつ、溶接ワイヤも適正な位置に保持する
必要がある。そのために、工場等で溶接トーチと溶接ワ
イヤを適切な位置に保持できる装置を準備できる場合は
良いものの、非溶接物が大型の構造物である場合には、
溶接作業者がこれら溶接トーチと溶接ワイヤ等を適切な
位置に保持しつつ、溶接進行に伴って移動しなければな
らないために溶接作業者にかかる負担は想像もできな
い。更に、溶接トーチ内に溶接ワイヤを送給するガイド
装置が組み込まれているものは、MIG溶接用半自動溶
接トーチに比較して極めて高価である。加えて、TIG
溶接は、MIG溶接に比べて溶接入熱が小さいために溶
接時間が長く、そのために溶接能率が悪いという問題が
ある。また、溶接時間が長いためにシールドガスに使用
するガス量が多量となり、コスト高となる。
【0006】例えば、特公昭59−226159号公報
には、加工組織をなす2本のチタン帯板の長さ方向端面
を突き合わせ、TIG溶接して溶接部近傍の母材部を軟
化焼鈍することで破断することのないチタン帯板の接続
方法が開示されている。このように、従来ではチタン帯
板の溶接に際しては専らTIG溶接方法での溶接が行わ
れている。また、特公平12−280076号公報に
は、不活性ガスに微量の酸化性ガスを添加したシールド
ガス、及びチタン又はチタン合金の消耗電極を使用して
パルス溶接電流を通電して溶接するチタン又はチタン合
金のアーク溶接方法が開示されている。しかし、シール
ドガスから酸素或いは酸化物を供給すると溶接アークを
安定化させるだけでなく、溶接金属内に大量の酸素が混
入するために、溶接部が硬化し、伸びが低下するなどの
機会的特性の劣化を招くことになる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した従
来技術の問題点に鑑み、チタン又はチタン合金をMIG
溶接方法を用いて、安定、かつ高能率に、かつ半自動溶
接による現場溶接を可能とし、溶接時間短縮によるシー
ルドガス使用量低減によるコスト削減を図ったMIG溶
接用チタン合金溶接ワイヤ、溶接方法および溶接金属を
提供するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するためになされたもので、その要旨は次の通りであ
る。 (1)チタンまたはチタン合金の溶接において、純チタ
ンの溶接ワイヤ表面、溶接前の被溶接材の開先表面の何
れか一方、または両者の表面に熱処理を伴う表面処理方
法により、10nm〜10μmの厚さの酸化膜を付与して
ことを特徴とするチタンおよびチタン合金のMIG溶接
方法。 (2)前記酸化膜がAl23とTiO2 の2層皮膜また
はこれらが混在した皮膜からなることを特徴とする
(1)記載のチタンおよびチタン合金のMIG溶接方
法。 (3)前記酸化膜がAl:0.5〜10質量%含むこと
を特徴とする(1)または(2)記載のチタンおよびチ
タン合金のMIG溶接方法。 (4)前記酸化膜が、更にO:1.0質量%以下を含む
ことを特徴とする(1)〜(3)のいずれかの項に記載
のチタンおよびチタン合金のMIG溶接方法。 (5)前記MIG溶接が、以下の条件を満たすパルス溶
接電流を用いて溶接することを特徴とする(1)〜
(4)の何れかの項に記載のチタンおよびチタン合金の
MIG溶接方法。
【0009】300A≦(ピーク電流)≦500A 2.0≦(ピーク電流)/(ベース電流)≦5.0
【0010】
【発明の実施の形態】先ず、MIG溶接に使用する溶接
装置について図1を用いて説明する。図1において、被
溶接材1に対し、溶接部位の直上に、中心に溶接ワイヤ
3、その外周に別途設けたシールドガス供給装置3から
供給されるシールドガス4を溶融地5に向けて噴射する
噴射口を備えたMIG溶接用トーチ2を配置し、溶接電
流を通電して溶接作業を行い、溶接ビード6を形成す
る。一般に、チタンまたはチタン合金は鋼などに比べて
低温で酸化し易く、鋼で用いる溶接トーチ先端のみのガ
スシールドでは、溶接金属が酸化して硬化し、溶接金属
の良好な伸びが得られなくなる。そのために、溶接直後
の溶接トーチの後方にシールドボックスを設けて、溶接
アーク点の後方もArガスなどの不活性ガスでシールド
する。
【0011】本発明で用いる上記シールドガス供給装置
3は、シールドガス供給パイプ3−1から供給されたシ
ールドガスをシールドボックス3−2内に一旦取り込
み、このシールドボックス3−2内に、シールドガスが
溶接ビード6の表面に均一に供給されるように、溶接方
向と平行にガス供給パイプ3−3を配置し、ガス出口3
−4を溶接ビード6と反対の出口に複数箇所設けてガス
出口から噴射するシールドガス4′をシールドボックス
3−2内の上壁に当ててから、下面の溶接ビード6に当
てる方法が採用される。
【0012】図2に従来方法によるMIG溶接を行った
場合のワンダリング現象によるスパッタの飛散状況を、
また図3に溶接ビード外観の模式図をそれぞれ示した。
図2に示すように、従来のチタンおよびチタン合金のM
IG溶接においては、アークが陰極点を維持するために
溶接アークが極めて不安定になり、被溶接材の表面酸化
膜が残存する位置にアークが激しく移動して暴れるワン
ダリング現象のために溶接スパッタが多量に発生し、母
材表面にスパッタ7が飛散して付着する。また、図3に
示すように、上記スパッタの飛散・付着に加え、ワンダ
リング現象によって溶接ビードが蛇行し、溶接部の外観
不良の発生および溶接金属の強度低下となる。図3にお
いて、ワンダリング現象が起こると溶接ビード始端部の
外側に、上記ワンダリング現象によってアークがうねり
幅方向に移動した痕跡が残り、極めて劣悪な溶接ビード
形状となる。
【0013】そこで、本発明においては、チタンまたは
チタン合金の溶接において、断面外形が1.6〜2.0
mmの純チタンの溶接ワイヤ表面、溶接前の被溶接材の開
先表面の何れか一方、または両者の表面に熱処理を伴う
表面処理方法により、10nm〜10μmの厚さの酸化膜
を付与して溶接することを特徴とするチタンおよびチタ
ン合金のMIG溶接方法で、この酸化物はAl23とT
iO2 の2層皮膜であるか、またはAl23とTiO2
の混在した皮膜からなり、更に、この酸化膜は、好まし
くは、Al:0.5〜10質量%、必要に応じて、更に
O:1.0質量%以下を含み、MIG溶接に際しては、
以下の条件を満たすパルス溶接電流を用いて溶接するこ
とによりワンダリング現象を起こさず、安定してMIG
溶接しうる条件を見いだしたものである。
【0014】300A≦(ピーク電流)≦500A 2.0≦(ピーク電流)/(ベース電流)≦5.0 上述した本発明においては、純チタンの溶接ワイヤの表
面、或いは溶接前の被溶接材の開先表面に、Al23
いはAl粉末を塗布して、大気中で350℃以上では5
分以上、500℃以上では1分以上加熱保持する熱処理
を伴う表面処理方法で、10nm〜10μmの厚さの酸化
膜を付与することでMIG溶接を行うものである。この
ようにして得られた酸化膜の構造は、Al23とTiO
2 の2層構造を有した酸化膜であるが、熱処理条件によ
ってはAl23とTiO2 が混在した層となる場合もあ
り、このような混在層であってもよい。なお、上記酸化
膜の膜中においてAl23とTiO2 の2層構造の場
合、或いはこれらの混在層の場合においてもTiO2
Al23の比は1:1〜1:10であることが好まし
い。本発明において、酸化膜の厚さを10nm〜10μm
と限定した理由は、酸化膜の厚みが10nm以下の殆ど酸
化膜がないような状態ではワンダリング現象およびビー
ド蛇行幅が大きく、ビード形状が不良となる。また、酸
化膜の厚みが10μmを超えると同様にワンダリング現
象およびビード蛇行幅が大きく、ビード形状が不良とな
る。これは、酸化膜の増大に伴い、酸素量が増加するた
めに陰極点が出来やすくなり過ぎて、却って溶接アーク
が不安定になるためと考えられる。
【0015】また、本発明においてAl23を塗布後、
200℃以上で1分以上保持するか、Al粉末を塗布後
不活性ガス雰囲気中で200℃以上で1分以上保持する
ことで上記酸化膜厚み10nm〜10μmが得られる。こ
れらの熱処理は電熱炉または誘導加熱炉を用いて熱処理
することで表面処理を行うことが好ましい。
【0016】また、本発明においては、MIG溶接に際
し、溶接電源にパルス溶接電源を用い、かつ、300A
≦(ピーク電流)≦500A、および2.0≦(ピーク
電流)/(ベース電流)≦5.0、の条件を満たすパル
ス溶接電流を用いて溶接することによりワンダリング現
象を起こさず、安定してMIG溶接しうる条件を採用す
ることが好ましい。
【0017】すなわち、図5に示すように、上記条件内
でMIG溶接することにより極めて良好な溶接ビード
(図5中の◎)を得ることができる。また、上記条件を
外れた場合においても良好な溶接ビード(図5中の○)
を得ることができる。なお、上記の良好な溶接ビード外
観とはワンダリング現象幅(Ww)が0mm、ビード蛇行
幅(Wb)が0.2超0.6mm以下を云う。また、極め
て良好な溶接ビード外観とはワンダリング現象幅(W
w)が0mm、ビード蛇行幅(Wb)が0.2mm以下を云
う。
【0018】このような溶接ワイヤを用い、かつ上述で
特定した溶接条件を採用してチタン或いはチタン合金を
MIG溶接した場合には、チタンまたはチタン合金の溶
着部の組成が、質量%で、Al:0.5〜10%、O:
0〜1.0%、残部チタンである溶着金属を得ることが
できる。
【0019】また、本発明においては、溶接時の溶滴移
行を規則的、かつスムースに行うため、一般にパルス溶
接電流を用いて溶接電流をパルス状に制御して溶接する
ことが知られているが、本発明におけるMIG溶接にお
いては、通常の直流溶接電源の代わりに、直流パルス溶
接電源を用いてパルス溶接電流を使用することで、ワン
ダリング現象幅、或いは溶接ビード蛇行幅を更に現象さ
せることができる。
【0020】
【実施例】<実施例1>熱処理を伴う表面処理により、
純チタン溶接ワイヤ表面にAl:5質量%を含む0nmか
ら200nmの酸化被膜を付与し、該溶接ワイヤで、被溶
接材料として、板厚:12.7mmのV開先(90°)を
有する純チタン材を、溶接ピーク電流:500A、溶接
ベース電流:150A、溶接電圧:30V、溶接速度:
100cm/min 、流量:251/min のArガスをシー
ルドガスとして用い、径1.6mmφの溶接ワイヤでMI
G溶接を行った。その結果を表1に示した。
【0021】
【表1】
【0022】なお、表1において、ワンダリング現象幅
とは、ワンダリング現象によりアークが不安定となって
ワンダリング現象が大きくなり、溶接ビード始端部の外
側にワンダリング現象の痕跡が残る幅をいい、溶接ビー
ド蛇行幅とは、溶接ビード始端部が最も凹んでいる位置
を通って溶接方向に平行な直線と、溶接ビード始端部が
最も出っ張っている位置を通って溶接方向に平行な直線
との最短距離をいう。 (図1参照) <実施例2>熱処理を伴う表面処理により、被溶接チタ
ン材の開先表面にAl:5質量%を含む0nmから200
nmの酸化被膜を付与し、純チタン溶接ワイヤで、被溶接
材料として、板厚:12.7mmのV開先(90°)を有
する純チタン材を、溶接ピーク電流:500A、溶接ベ
ース電流:150A、溶接電圧:30V、溶接速度:1
00cm/min 、流量:251/min のArガスをシール
ドガスとして用い、径1.6mmφの溶接ワイヤでMIG
溶接を行った。その結果を表2に示した。
【0023】
【表2】
【0024】表2および図5から分かるように、ピーク
溶接電流が300〜500Aで、かつピーク電流/ベー
ス電流が2.0〜5.0の範囲内にある場合にはワンダ
リング幅およびビード蛇行幅が著しく減少し、溶接ビー
ドの外観形状も極めて良好であった。
【0025】
【発明の効果】以上述べたように、本発明は、チタン又
はチタン合金をMIG溶接方法を用いて、安定、かつ高
能率に、かつ半自動溶接による現場溶接を可能とし、溶
接時間短縮によるシールドガス使用量低減によるコスト
削減を図ったMIG溶接用チタン合金溶接ワイヤ、溶接
方法および溶接金属の提供を可能にする。
【図面の簡単な説明】
【図1】MIG溶接装置の外観模式図。
【図2】MIG溶接法の外観模式図。
【図3】従来のMIG溶接による溶接ビードの平面模式
図。
【図4】本発明によるMIG溶接による溶接ビードの平
面模式図。
【図5】パルス溶接時の適正溶接電流範囲を示す図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤井 秀樹 千葉県富津市新富20−1 新日本製鐵株式 会社技術開発本部内 (72)発明者 長谷 泰治 千葉県習志野市東習志野7−6−1 日鐵 溶接工業株式会社内日溶工テクノサービス 株式会社内 Fターム(参考) 4E001 AA03 BB08 CB04 DE04 DG01 EA01

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 チタンまたはチタン合金の溶接におい
    て、純チタンの溶接ワイヤ表面、溶接前の被溶接材の開
    先表面の何れか一方、または両者の表面に熱処理を伴う
    表面処理方法により、10nm〜10μmの厚さの酸化膜
    を付与して溶接することを特徴とするチタンおよびチタ
    ン合金のMIG溶接方法。
  2. 【請求項2】 前記酸化膜がAl23とTiO2 の2層
    皮膜またはこれらが混在した皮膜からなることを特徴と
    する請求項1記載のチタンおよびチタン合金のMIG溶
    接方法。
  3. 【請求項3】 前記酸化膜がAl:0.5〜10質量%
    含むことを特徴とする請求項1または2記載のチタンお
    よびチタン合金のMIG溶接方法。
  4. 【請求項4】 前記酸化膜が、更にO:1.0質量%以
    下を含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれかの項
    に記載のチタンおよびチタン合金のMIG溶接方法。
  5. 【請求項5】 前記MIG溶接が、以下の条件を満たす
    パルス溶接電流を用いて溶接することを特徴とする請求
    項1〜4の何れかの項に記載のチタンおよびチタン合金
    のMIG溶接方法。 300A≦(ピーク電流)≦500A 2.0≦(ピーク電流)/(ベース電流)≦5.0
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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