JP2003315037A - 高煤塵雰囲気における非接触距離計 - Google Patents
高煤塵雰囲気における非接触距離計Info
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- JP2003315037A JP2003315037A JP2002122468A JP2002122468A JP2003315037A JP 2003315037 A JP2003315037 A JP 2003315037A JP 2002122468 A JP2002122468 A JP 2002122468A JP 2002122468 A JP2002122468 A JP 2002122468A JP 2003315037 A JP2003315037 A JP 2003315037A
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Waste-Gas Treatment And Other Accessory Devices For Furnaces (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高煤塵雰囲気の炉底に滞留している高温物体
の表面までの距離を計測することの可能な非接触距離計
を提供する。 【解決手段】 レーザー３１は煤塵の平均粒径２μｍ以
上の波長の光線を炉底に滞留する高温物体の表面に向け
て発振する。レーザー光線は高温物体表面で反射され、
光電素子アレイ３２を照射する。レーザー光線による照
射位置を検出することにより高温物体表面までの距離を
非接触で測定することができる。又レーザー光の波長は
煤塵の粒径より大であるので、煤塵により散乱されるこ
とはなく、確実に距離が測定できる。
の表面までの距離を計測することの可能な非接触距離計
を提供する。 【解決手段】 レーザー３１は煤塵の平均粒径２μｍ以
上の波長の光線を炉底に滞留する高温物体の表面に向け
て発振する。レーザー光線は高温物体表面で反射され、
光電素子アレイ３２を照射する。レーザー光線による照
射位置を検出することにより高温物体表面までの距離を
非接触で測定することができる。又レーザー光の波長は
煤塵の粒径より大であるので、煤塵により散乱されるこ
とはなく、確実に距離が測定できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は高煤塵雰囲気におけ
る非接触距離計に係り、特に、高煤塵雰囲気の炉底に滞
留又は炉側壁に堆積している高温物体の表面までの距離
を計測することの可能な非接触距離計に関する。
る非接触距離計に係り、特に、高煤塵雰囲気の炉底に滞
留又は炉側壁に堆積している高温物体の表面までの距離
を計測することの可能な非接触距離計に関する。
【０００２】
【従来の技術】灰溶融プラズマアーク炉においては、炉
内が高温雰囲気であるだけでなく炉底に滞留する溶融物
も高温である。
内が高温雰囲気であるだけでなく炉底に滞留する溶融物
も高温である。
【０００３】灰溶融プラズマアーク炉では溶融物はオー
バーフロー口から外部に排出されるが、出滓口の閉塞な
どによって液面が上昇するとその後、大量出滓となるた
め、高温溶融物を安全に取り出すには溶融物液面を正確
に検出することが必要となる。
バーフロー口から外部に排出されるが、出滓口の閉塞な
どによって液面が上昇するとその後、大量出滓となるた
め、高温溶融物を安全に取り出すには溶融物液面を正確
に検出することが必要となる。
【０００４】従来非接触で計測可能な液面計としては、
レーザー距離計を使用することが一般的であった。
レーザー距離計を使用することが一般的であった。
【０００５】図１はレーザー距離計の原理図であって、
レーザー距離計１はレーザー１１とＣＣＤアレイ１２か
ら構成されている。
レーザー距離計１はレーザー１１とＣＣＤアレイ１２か
ら構成されている。
【０００６】即ちレーザー１１から発振されたレーザー
光は液面で反射され、ＣＣＤアレイ１２の表面に到達す
る。
光は液面で反射され、ＣＣＤアレイ１２の表面に到達す
る。
【０００７】液面が低い（レーザー距離計と液面の距離
が長い）場合（イ）はレーザー光はＣＣＤ１２のａ点に
到達し、液面が高い（レーザー距離計と液面の距離が短
い）場合（ロ）はレーザー光はＣＣＤ１２のｂ点に到達
する。
が長い）場合（イ）はレーザー光はＣＣＤ１２のａ点に
到達し、液面が高い（レーザー距離計と液面の距離が短
い）場合（ロ）はレーザー光はＣＣＤ１２のｂ点に到達
する。
【０００８】従って、ＣＣＤアレイ１２で検出されるレ
ーザー光の位置を検出することによって液面を計測する
ことが可能となる。
ーザー光の位置を検出することによって液面を計測する
ことが可能となる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一般的
に使用されているレーザーが発振するレーザー光の波長
は６７０ナノメートル程度であるため、灰溶融プラズマ
アーク炉内に充満する高温の煤塵によりレーザー光が散
乱され液面に到達するレーザー光の光量は微量となるの
で、正確な液面を計測することは困難であった。
に使用されているレーザーが発振するレーザー光の波長
は６７０ナノメートル程度であるため、灰溶融プラズマ
アーク炉内に充満する高温の煤塵によりレーザー光が散
乱され液面に到達するレーザー光の光量は微量となるの
で、正確な液面を計測することは困難であった。
【００１０】本発明は上記課題に鑑みなされたものであ
って、高煤塵雰囲気の炉底に滞留している高温物体の表
面までの距離を計測することの可能な非接触距離計を提
供することを目的とする。
って、高煤塵雰囲気の炉底に滞留している高温物体の表
面までの距離を計測することの可能な非接触距離計を提
供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】第一の発明に係る高煤塵
雰囲気における非接触距離計は、距離測定対象表面に対
して９０度未満の角度をなして波長が２マイクロメート
ルより長い光線を発振するレーザーと、レーザーから発
振され距離測定対象表面で反射された反射光線を受光す
る光電素子アレイと、光電素子アレイ上の反射光線によ
る照射位置に基づいて距離測定対象表面までの距離を検
出する検出部を具備する。
雰囲気における非接触距離計は、距離測定対象表面に対
して９０度未満の角度をなして波長が２マイクロメート
ルより長い光線を発振するレーザーと、レーザーから発
振され距離測定対象表面で反射された反射光線を受光す
る光電素子アレイと、光電素子アレイ上の反射光線によ
る照射位置に基づいて距離測定対象表面までの距離を検
出する検出部を具備する。
【００１２】本発明にあっては、レーザーが発振する光
線の波長は２マイクロメートルより大きいのでレーザー
光線及び反射光線は煤塵により散乱されることはなく確
実に煤塵中を伝播する。
線の波長は２マイクロメートルより大きいのでレーザー
光線及び反射光線は煤塵により散乱されることはなく確
実に煤塵中を伝播する。
【００１３】第二の発明に係る高煤塵雰囲気における非
接触距離計は、レーザーの発振する光線の波長が５マイ
クロメートル以上である。
接触距離計は、レーザーの発振する光線の波長が５マイ
クロメートル以上である。
【００１４】本発明にあっては、レーザーが発振する光
線の波長は５マイクロメートル以上であるのでレーザー
光線及び反射光線は煤塵により散乱されることはなく確
実に煤塵中を伝播するだけでなく、炉中のガスによって
吸収されることもない。
線の波長は５マイクロメートル以上であるのでレーザー
光線及び反射光線は煤塵により散乱されることはなく確
実に煤塵中を伝播するだけでなく、炉中のガスによって
吸収されることもない。
【００１５】第三の発明に係る高煤塵雰囲気における非
接触距離計は、光電素子アレイの受光面にレーザーの発
振する光線の波長帯域の光線を透過するバンドパスフィ
ルタを具備する。
接触距離計は、光電素子アレイの受光面にレーザーの発
振する光線の波長帯域の光線を透過するバンドパスフィ
ルタを具備する。
【００１６】本発明にあっては、距離測定対象が発振す
る光線はバンドパスフィルタによって遮断される。
る光線はバンドパスフィルタによって遮断される。
【００１７】第四の発明に係る高煤塵雰囲気における非
接触距離計は、レーザーが光線をパルス状に発振するパ
ルスレーザーであり、検出部がパルスレーザーの発振周
期に同期して距離測定対象表面までの距離を検出する。
接触距離計は、レーザーが光線をパルス状に発振するパ
ルスレーザーであり、検出部がパルスレーザーの発振周
期に同期して距離測定対象表面までの距離を検出する。
【００１８】本発明にあっては、レーザーからパルス光
線が発振されたときだけ距離が測定される。
線が発振されたときだけ距離が測定される。
【００１９】第五の発明に係る高煤塵雰囲気における非
接触距離計は、レーザーが発振光線の波長が周期的に変
化する波長変化レーザーであり、検出部が波長変化レー
ザーから発振される光線の波長の周期的変化に同期した
光線を検出する同期検出器である。
接触距離計は、レーザーが発振光線の波長が周期的に変
化する波長変化レーザーであり、検出部が波長変化レー
ザーから発振される光線の波長の周期的変化に同期した
光線を検出する同期検出器である。
【００２０】本発明にあっては、レーザー光線が周波数
変調され、変調光によって距離が測定される。
変調され、変調光によって距離が測定される。
【００２１】
【発明の実施の形態】図２は本発明に係る高煤塵雰囲気
における非接触距離計がスラグ液面計あるいは耐火物厚
さ計として適用される灰溶融炉の垂直断面図である。
における非接触距離計がスラグ液面計あるいは耐火物厚
さ計として適用される灰溶融炉の垂直断面図である。
【００２２】炉２には炉上部に設置された灰ホッパ２０
１からスクリュー２０２によって灰が供給される。灰は
炉頂から炉内に挿入された負電極２０３と炉底から炉内
に挿入された正電極２０４間に直流電力を供給してプラ
ズマからの伝熱及びスラグ中を流れる電流によるジュー
ル発熱によって溶融スラグとなる。
１からスクリュー２０２によって灰が供給される。灰は
炉頂から炉内に挿入された負電極２０３と炉底から炉内
に挿入された正電極２０４間に直流電力を供給してプラ
ズマからの伝熱及びスラグ中を流れる電流によるジュー
ル発熱によって溶融スラグとなる。
【００２３】溶融された灰は金属成分２０５とスラグ２
０６に分離し、比重の大きい金属成分は炉底部に沈殿
し、スラグは金属成分の上に滞留する。滞留量が増加す
るとスラグはオーバーフロー口２０７から流出して回収
される。
０６に分離し、比重の大きい金属成分は炉底部に沈殿
し、スラグは金属成分の上に滞留する。滞留量が増加す
るとスラグはオーバーフロー口２０７から流出して回収
される。
【００２４】炉２の下部は耐火レンガ２０８及びスタン
プ材２０９で、上部はキャスタブル２１０で熱遮蔽さ
れ、さらにスタンプ材２０９及びキャスタブル２１０の
外側に設置された水ジャケット２１１により水冷され
る。
プ材２０９で、上部はキャスタブル２１０で熱遮蔽さ
れ、さらにスタンプ材２０９及びキャスタブル２１０の
外側に設置された水ジャケット２１１により水冷され
る。
【００２５】本発明に係る非接触距離計３は炉頂部に埋
め込まれて（貫通して）設置されており、スラグ液面計
として使用する場合にはスラグ液面を、耐火物厚さ計と
して使用する場合にはスラグ液面と接触している耐火物
を視野に含む。
め込まれて（貫通して）設置されており、スラグ液面計
として使用する場合にはスラグ液面を、耐火物厚さ計と
して使用する場合にはスラグ液面と接触している耐火物
を視野に含む。
【００２６】図３は本発明に係る非接触距離計の詳細構
成図であって、スラグ液面計として使用する場合を示
す。
成図であって、スラグ液面計として使用する場合を示
す。
【００２７】即ち、レーザー３１はスラグ表面に対して
所定の角度θをなしてレーザー光線を発振する。レーザ
ー光線はスラグ表面で反射され、ＣＣＤアレイ３２を照
射する。
所定の角度θをなしてレーザー光線を発振する。レーザ
ー光線はスラグ表面で反射され、ＣＣＤアレイ３２を照
射する。
【００２８】スラグ液面が（１）から（２）に上昇する
とＣＣＤアレイ３２上の照射位置が変化する。そして、
この照射位置と炉底・距離計間の距離に基づいてスラグ
液位を計測することが可能となる。
とＣＣＤアレイ３２上の照射位置が変化する。そして、
この照射位置と炉底・距離計間の距離に基づいてスラグ
液位を計測することが可能となる。
【００２９】即ち、本発明に係る非接触距離計で計測さ
れた炉底・距離計間の距離をＬ0、液面（１）までの距
離をＬ1、そして液面（２）までの距離をＬ2とすれば、 液面（１）の液位ΔＬ1＝Ｌ0−Ｌ1 液面（２）の液位ΔＬ2＝Ｌ0−Ｌ2 として液位を求めることができる。
れた炉底・距離計間の距離をＬ0、液面（１）までの距
離をＬ1、そして液面（２）までの距離をＬ2とすれば、 液面（１）の液位ΔＬ1＝Ｌ0−Ｌ1 液面（２）の液位ΔＬ2＝Ｌ0−Ｌ2 として液位を求めることができる。
【００３０】そして、本発明に係る非接触距離計に適用
されるレーザー３１の発振光線の波長は以下のように選
択される。
されるレーザー３１の発振光線の波長は以下のように選
択される。
【００３１】図４は灰溶融炉内のスラグの発振する光線
の波長とその透過率の関係を示すグラフであって、横軸
に波長を、縦軸に透過率をとる。
の波長とその透過率の関係を示すグラフであって、横軸
に波長を、縦軸に透過率をとる。
【００３２】即ち、スラグの発振する光線の波長が１マ
イクロメートル以下の領域においては、透過率は略零で
あるがこれは光線の波長がスラグ上部の空間に存在する
煤塵の粒径以下であり、ほとんどの光線が煤塵により散
乱されてしまい炉頂まで透過しないことを示している。
即ち、従来のように６７０ナノメートルの波長の光線を
発振するレーザーを使用した場合にはレーザー光線から
発振されたレーザー光線及びスラグ表面で反射されたレ
ーザー光線はほとんど煤塵により拡散されてしまい炉頂
からスラグ表面までの距離を正確に計測できない。
イクロメートル以下の領域においては、透過率は略零で
あるがこれは光線の波長がスラグ上部の空間に存在する
煤塵の粒径以下であり、ほとんどの光線が煤塵により散
乱されてしまい炉頂まで透過しないことを示している。
即ち、従来のように６７０ナノメートルの波長の光線を
発振するレーザーを使用した場合にはレーザー光線から
発振されたレーザー光線及びスラグ表面で反射されたレ
ーザー光線はほとんど煤塵により拡散されてしまい炉頂
からスラグ表面までの距離を正確に計測できない。
【００３３】光線の波長が１マイクロメートル以上とな
ると、波長が煤塵粒径に近づき、散乱される割合が低下
するため透過率は上昇する。
ると、波長が煤塵粒径に近づき、散乱される割合が低下
するため透過率は上昇する。
【００３４】灰溶融炉にあっては煤塵の粒径は２マイク
ロメートルを中心に分布しているため、２マイクロメー
トル近傍では再び透過率は悪化する。また、灰溶融炉内
に存在するガス（一酸化炭素、二酸化炭素、水蒸気等）
の吸収帯域が４．７マイクロメートル近傍に存在するた
め、この帯域でも透過率は悪化する。
ロメートルを中心に分布しているため、２マイクロメー
トル近傍では再び透過率は悪化する。また、灰溶融炉内
に存在するガス（一酸化炭素、二酸化炭素、水蒸気等）
の吸収帯域が４．７マイクロメートル近傍に存在するた
め、この帯域でも透過率は悪化する。
【００３５】従って、高煤塵雰囲気下で高温のスラグ表
面までの距離を非接触で計測するためには、波長が２マ
イクロメートルより長い、好ましくは波長５マイクロメ
ートル以上の波長のレーザーを使用することが必要とな
る。
面までの距離を非接触で計測するためには、波長が２マ
イクロメートルより長い、好ましくは波長５マイクロメ
ートル以上の波長のレーザーを使用することが必要とな
る。
【００３６】また、スラグも広範囲の波長の輻射光線を
発振しており、ＣＣＤアレイ３２に対してはバックグラ
ンドノイズとして作用する。そこで、バックグランドノ
イズの影響を除くために、ＣＣＤアレイ３２の前面にレ
ーザー３１の発振するレーザー光だけを透過するバンド
パスフィルタ３４を設置することが有効である。
発振しており、ＣＣＤアレイ３２に対してはバックグラ
ンドノイズとして作用する。そこで、バックグランドノ
イズの影響を除くために、ＣＣＤアレイ３２の前面にレ
ーザー３１の発振するレーザー光だけを透過するバンド
パスフィルタ３４を設置することが有効である。
【００３７】バックグランドノイズの影響をさらに取り
除くためには、レーザー光線をパルス状に発振し、発振
タイミングでＣＣＤアレイ３２をアクティブとすること
が有効である。
除くためには、レーザー光線をパルス状に発振し、発振
タイミングでＣＣＤアレイ３２をアクティブとすること
が有効である。
【００３８】またレーザー３１として半導体レーザーを
使用することが普通であるが、半導体レーザーは発振波
長を容易に変更することが可能であるので、レーザー３
１から、例えば中心周波数を正弦波で周波数変調したレ
ーザー光線を発振し、検出器３３としてロックイン増幅
器とすることによりバンドパスフィルタ３４及びパルス
状発振を適用することなくバックグランドノイズを除去
することが可能となる。
使用することが普通であるが、半導体レーザーは発振波
長を容易に変更することが可能であるので、レーザー３
１から、例えば中心周波数を正弦波で周波数変調したレ
ーザー光線を発振し、検出器３３としてロックイン増幅
器とすることによりバンドパスフィルタ３４及びパルス
状発振を適用することなくバックグランドノイズを除去
することが可能となる。
【００３９】上記実施例は非接触距離計をスラグ液面計
として使用する場合について説明したが、レーザー光線
をスラグ液面と接触する耐火レンガ２０８に向けて発振
することにより、耐火レンガ２０８のスラグによる浸食
深さ計測装置、即ち耐火レンガの厚さ計として使用する
ことも可能である。
として使用する場合について説明したが、レーザー光線
をスラグ液面と接触する耐火レンガ２０８に向けて発振
することにより、耐火レンガ２０８のスラグによる浸食
深さ計測装置、即ち耐火レンガの厚さ計として使用する
ことも可能である。
【００４０】また、本発明に係る非接触距離計をごみ焼
却炉のストーカ上に堆積するごみの厚さ計測計に適用す
ることも可能である。
却炉のストーカ上に堆積するごみの厚さ計測計に適用す
ることも可能である。
【００４１】
【発明の効果】第一の発明に係る高煤塵雰囲気における
非接触距離計によれば、レーザーが発振する光線及び距
離測定対象により反射された反射光が煤塵により散乱さ
れないので距離測定対象表面までの距離を確実に測定す
ることができる。
非接触距離計によれば、レーザーが発振する光線及び距
離測定対象により反射された反射光が煤塵により散乱さ
れないので距離測定対象表面までの距離を確実に測定す
ることができる。
【００４２】第二の発明に係る高煤塵雰囲気における非
接触距離計によれば、レーザーが発振する光線及び距離
測定対象により反射された反射光は炉中のガスにより吸
収されないので距離測定対象表面までの距離を確実に測
定することができる。
接触距離計によれば、レーザーが発振する光線及び距離
測定対象により反射された反射光は炉中のガスにより吸
収されないので距離測定対象表面までの距離を確実に測
定することができる。
【００４３】第三から五の発明に係る高煤塵雰囲気にお
ける非接触距離計によれば、距離測定対象から発振され
る光線の影響を排除することができる。
ける非接触距離計によれば、距離測定対象から発振され
る光線の影響を排除することができる。
【図１】レーザー距離計の原理図である。
【図２】本発明に係る高煤塵雰囲気における非接触距離
計が適用される灰溶融炉の垂直断面図である。
計が適用される灰溶融炉の垂直断面図である。
【図３】本発明に係る高煤塵雰囲気における非接触距離
計の詳細構成図である。
計の詳細構成図である。
【図４】スラグの発振する光線の波長とその透過率の関
係を示すグラフである。
係を示すグラフである。
３…非接触距離計
３１…レーザー
３２…光電素子アレイ
３３…検出器
３４…バンドパスフィルタ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０１Ｂ 11/00 Ｇ０１Ｂ 11/00 Ｂ
Ｆターム(参考） 2F065 AA02 AA06 AA30 BB15 CC39
DD05 FF09 GG04 GG08 HH12
HH13 JJ08 JJ09 JJ26 LL26
2F112 AA08 BA06 CA12 DA19 DA25
EA03
4K056 AA05 FA11 FA17 FA19
Claims (8)
- 【請求項１】 距離測定対象表面に対して９０度未満の
角度をなして波長が２マイクロメートルより長い光線を
発振するレーザーと、 前記レーザーから発振され、距離測定対象表面で反射さ
れた反射光線を受光する光電素子アレイと、 前記光電素子アレイ上の前記反射光線による照射位置に
基づいて距離測定対象表面までの距離を検出する検出部
を具備する高煤塵雰囲気における非接触距離計。 - 【請求項２】 前記レーザーの発振する光線の波長が、
５マイクロメートル以上である請求項１に記載の高煤塵
雰囲気における非接触距離計。 - 【請求項３】 前記光電素子アレイの受光面に、前記レ
ーザーの発振する光線の波長帯域の光線を透過するバン
ドパスフィルタを具備する請求項１又は２に記載の高煤
塵雰囲気における非接触距離計。 - 【請求項４】 前記レーザーが、光線をパルス状に発振
するパルスレーザーであり、 前記検出部が、前記パルスレーザーの発振周期に同期し
て距離測定対象表面までの距離を検出する請求項１から
３のいずれか一項に記載の高煤塵雰囲気における非接触
距離計。 - 【請求項５】 前記レーザーが、発振光線の波長が周期
的に変化する波長変化レーザーであり、 前記検出部が、前記波長変化レーザーから発振される光
線の波長の周期的変化に同期した光線を検出する同期検
出器である請求項１から３のいずれか一項に記載の高煤
塵雰囲気における非接触距離計。 - 【請求項６】 前記レーザーから発振される光線を灰溶
融炉のスラグ液面に向けて発振することにより、スラグ
液位計として使用される請求項１から５のいずれか一項
に記載の高煤塵雰囲気における非接触距離計。 - 【請求項７】 前記レーザーから発振される光線を灰溶
融炉のスラグ液面と接触する耐火物に向けて発振するこ
とにより、灰溶融炉の耐火物厚さ計として使用される請
求項１から５のいずれか一項に記載の高煤塵雰囲気にお
ける非接触距離計。 - 【請求項８】 前記レーザーから発振される光線をごみ
焼却炉のごみ表面に向けて発振することにより、ごみ厚
さ計として使用される請求項１から５のいずれか一項に
記載の高煤塵雰囲気における非接触距離計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002122468A JP2003315037A (ja) | 2002-04-24 | 2002-04-24 | 高煤塵雰囲気における非接触距離計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002122468A JP2003315037A (ja) | 2002-04-24 | 2002-04-24 | 高煤塵雰囲気における非接触距離計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003315037A true JP2003315037A (ja) | 2003-11-06 |
Family
ID=29538074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002122468A Withdrawn JP2003315037A (ja) | 2002-04-24 | 2002-04-24 | 高煤塵雰囲気における非接触距離計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003315037A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ303909B6 (cs) * | 2011-10-03 | 2013-06-19 | Ústav prístrojové techniky Akademie ved CR, v.v.i. | Zpusob zjistování rozmerových a tvarových odchylek mechanických soucástí a zarízení pro provádení tohoto zpusobu |
| CN105158873A (zh) * | 2015-08-31 | 2015-12-16 | 武汉宇虹环保产业发展有限公司 | 一种高温密封反射镜装置 |
| US9739547B2 (en) | 2012-12-05 | 2017-08-22 | Valmet Technologies Oy | Arrangement in a thermal process, and a method for measuring the thickness of a contamination layer |
| CN107884038A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-04-06 | 湖北启宏热工设备有限公司 | 一种液位检测装置 |
| JP2023511902A (ja) * | 2020-01-21 | 2023-03-23 | フリースタイル パートナーズ エルエルシー | 距離計測システムを備える携帯紫外線照射装置 |
-
2002
- 2002-04-24 JP JP2002122468A patent/JP2003315037A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
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