JP2003303427A - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

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JP2003303427A
JP2003303427A JP2002103847A JP2002103847A JP2003303427A JP 2003303427 A JP2003303427 A JP 2003303427A JP 2002103847 A JP2002103847 A JP 2002103847A JP 2002103847 A JP2002103847 A JP 2002103847A JP 2003303427 A JP2003303427 A JP 2003303427A
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Yasuhiro Muraoka
保宏 村岡
Tatsushi Arai
達志 新井
Kazuya Kogure
一也 木暮
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 記録マークが形成されたディスクであっても
メインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号との合
成比αをトラッキングエラー信号の外乱によるオフセッ
トの影響が最小となるように調整する光ディスク装置を
提供する。 【解決手段】 メインプッシュプル信号とサブプッシュ
プル信号との合成比αを調整してトラッキングエラー信
号をトラッキングエラー信号生成回路3により生成し、
メインビームをトラッキング方向にオフセットを付与し
て変位させる所定周波数の外乱信号を外乱信号発生回路
6により発生し、このトラッキング駆動時にトラッキン
グエラー信号から外乱信号に基づくオフセット信号をフ
ィルタ回路7により抽出し、このオフセット信号の外乱
信号周波数に対応する1周期期間における振幅値を計測
し、この計測を前記合成比αを変えながら行い、トラッ
キングエラー信号生成回路を前記振幅値が最小になる合
成比αとなる設定を行う。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、トラッキングサー
ボに差動プッシュプル方式を採用した場合において、光
学ヘッドのトラッキング駆動光学素子の移動により生じ
るトラッキングエラー信号のオフセットを減少させる調
整を行う光ディスク装置に関する。 【0002】 【従来の技術】光学ヘッドを用いてディスクに記録再生
する光ディスク装置においては、周知の如く、光学ヘッ
ドから出射される光ビームをディスクの信号面に合焦さ
せるのにフォーカスサーボが用いられ、前記光ビームを
ディスクの信号トラックに追従させるのにトラッキング
サーボが用いられる。 【0003】ところで、CD−R/RWドライブの如
く、記録可能な光ディスク装置においては、記録用ディ
スクにウォブルが存在していることから一般的にトラッ
キングサーボに差動プッシュプル方式が採用されてい
る。 【0004】この差動プッシュプル方式のトラッキング
サーボに用いられるトラッキングエラー信号を得る場
合、光学ヘッドからディスクに出射する3ビームのう
ち、メインビームを信号トラック上に配置すると共に、
2つのサブビームをそれぞれメインビームがオントラッ
クされる信号トラックとそれぞれ異なる方向の隣接信号
トラックとの間に配置し、光検出器のメインビームに対
応する受光出力から演算されるメインプッシュプル信号
と光検出器の各サブビームに対応する受光出力から演算
されるサブプッシュプル信号とをそれぞれ演算し、メイ
ンプッシュプル信号とサブプッシュプル信号とを所定の
合成比に調整した後、これらの信号の差分を演算してト
ラッキングエラー信号生成回路によりトラッキングエラ
ー信号を生成する。 【0005】ところで、メインプッシュプル信号とサブ
プッシュプル信号との合成比αの調整は、従来、組立工
程の検査に組み入れられ、トラッキングエラー信号生成
回路からのトラッキングエラー信号に所定周波数の光学
ヘッドのトラッキング駆動光学素子、通常、対物レンズ
をトラッキング方向にオフセットを付与して駆動するべ
く対物レンズのトラッキング駆動コイルに外乱信号を与
え、この外乱信号によるトラッキングエラー信号の変動
量を測定して行われ、この変動量が最小になるように行
われる。 【0006】この場合、外乱信号によるトラッキングエ
ラー信号の変動量の測定は、記録マークのないテストデ
ィスクを用いて行われる。 【0007】そして、トラッキングエラー信号の変動量
が最小となる合成比αに対応する調整データは、製品ご
とにメモリに記憶され、通常動作時にそのメモリから読
み出されてメインプッシュプル信号とサブプッシュプル
信号との合成比αを設定するのに用いられる。 【0008】 【発明が解決するための課題】しかしながら、オフセッ
トによるトラッキングエラー信号の変動量が最小になる
メインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号との最
適な合成比αは、温度変化やディスクのチャッキング状
態等の使用状態によって必ずしも一定とならない。 【0009】その為、光ディスク装置に装着されるディ
スクごとに最適な合成比αを調整することが望ましい
が、再生ディスクには記録マーク(ピット)が形成され
ているので、この記録マークの高周波信号(HF信号)
が重畳されるため、外乱信号によるトラッキングエラー
信号の変動量の正確な測定が困難であり、ディスクごと
に最適な合成比αを調整することを行っていなかった。 【0010】本発明は、ディスクごとに最適な合成比α
を調整する光ディスク装置を提供することを課題とす
る。 【0011】 【課題を解決するための手段】本発明は、光学ヘッドに
おけるメインビームに対応する受光出力から演算される
メインプッシュプル信号とサブビームに対応する受光出
力から演算されるサブプッシュプル信号との合成比αを
調整してトラッキングエラー信号をトラッキングエラー
信号生成回路により生成し、メインビームをトラッキン
グ方向にオフセットを付与して変位させる所定周波数の
外乱信号を外乱信号発生回路により発生し、この外乱信
号によるトラッキング駆動時にトラッキングエラー信号
生成回路により生成されるトラッキングエラー信号から
外乱信号に基づくオフセット信号をフィルタ回路により
抽出し、このオフセット信号の外乱信号周波数に対応す
る1周期期間における振幅値を計測し、この計測を前記
合成比αを変えながら行い、前記振幅値が最小になる合
成比αを検出し、これにより検出された合成比αとする
べくトラッキングエラー信号生成回路を設定する。 【0012】 【実施例】図1は本発明に係る光ディスク装置の一実施
例を示す回路ブロック図であり、この光ディスク装置は
トラッキングサーボに差動プッシュプル方式が採用され
ている。 【0013】光学ヘッド1からディスクに照射されて反
射される光ビームは光学ヘッド1に備える光検出器に受
光され、該光検出器の各種受光出力はフロントエンド処
理回路2に供給され、このフロントエンド処理回路2は
ディスクから読み取られるHF信号(高周波信号)を生
成し、そのHF信号を最適レベルにゲインコントロール
すると共に、各種ディスクに応じてイコライジングして
2値データ化し、かつ、光学ヘッド1からディスクに照
射されるレーザービームのディスク信号面とのフォーカ
ス誤差を示すフォーカスエラー信号、及び前記レーザー
ビームのディスクの信号トラックとのトラッキング誤差
を示すトラッキングエラー信号を生成する。 【0014】フロントエンド処理回路2に備えられるト
ラッキングエラー信号生成回路(TE信号生成回路)3
により生成されるイコライジング後のトラッキングエラ
ー信号は、スイッチ回路4によりトラッキングサーボ時
にドライバ回路5に供給され、光学ヘッド1の対物レン
ズは該ドライバ回路5から出力されるトラッキング駆動
信号によりトラッキング方向に駆動される。 【0015】また、ドライバ回路5にはスイッチ回路4
によりディスクが装着されるごとに外乱信号発生回路6
から発生される外乱信号が供給される。この外乱信号は
50Hzの一定周波数のサイン波となっている。 【0016】また、トラッキングエラー信号生成回路3
から出力されるイコライジング前のトラッキングエラー
信号は外乱信号発生回路6から外乱信号が発生される期
間、フィルタ回路7に供給され、該フィルタ回路7によ
り外乱信号に基づくオフセット信号が抽出される。 【0017】フィルタ回路7により抽出されるオフセッ
ト信号はA/Dコンバータ8によりデジタル信号に変換
され、測定回路9はこのデジタルのオフセット信号によ
りオフセット信号の外乱信号周波数に対応する1周期期
間における振幅値を計測すると共に、計測した振幅値を
内部メモリ9aに記憶する。α設定回路10は測定回路
9により計測される振幅値の所定数サンプルから最小値
の振幅値を検出し、この振幅値に基づいてTE信号生成
回路3のメインプッシュプル信号とサブプッシュプル信
号との合成比αを設定する。 【0018】ここで、本発明に関係するフロントエンド
処理回路2のトラッキングエラー信号の生成について図
2の回路図を用いて詳細に説明する。 【0019】図1の光ディスク装置は、トラッキング制
御に差動プッシュプル法を採用し、光学ヘッド1の回折
光の0次光がメインビームとして使用され、回折光の±
1次光がトラッキング制御用の先行及び後方の各サブビ
ームとして使用される。 【0020】メインビーム及び各サブビームがそれぞれ
ディスクの信号面に照射されて形成されるメインスポッ
トSm及び各サブスポットSs1,Ss2は各スポット
が等間隔に配置され、メインスポットSmを信号トラッ
クn上にオントラックに投影した状態において、各サブ
スポットSs1,Ss2がそれぞれ信号トラックnと外
周側の隣接信号トラック(n+1)及び内周側の隣接信
号トラック(n−1)との中間にそれぞれ投影され、ト
ラッキング制御信号が最適に得られる配置となってい
る。 【0021】光学ヘッドの光検出器にはメインビーム、
回折光の±1次光の各サブビームがディスクにより反射
される各反射光を受光する受光領域が備えられ、メイン
ビームの反射光はメイン受光領域Aに受光され、±1次
光の各サブビームの各反射光はそれぞれ一対のサブ受光
領域B,Cに受光される。 【0022】前記メイン受光領域A及び一対のサブ受光
領域B,Cは、ディスクの信号トラックの方向に対応する
方向の分割線により少なくともそれぞれ2分割されてお
り、その分割された前記メイン受光領域A及び一対のサ
ブ受光領域B,Cの各分割領域はそれぞれ受光量に対応し
た受光出力を発生する。 【0023】尚、フォーカス制御に非点収差法を使用す
る場合においては、少なくともメイン受光領域Aを十字
状に4分割するが、フォーカスエラー信号の生成に関し
ては要旨に関係しないので、説明を簡単にするため、メ
イン受光領域Aを2分割で示している。 【0024】光検出器のメイン受光領域Aの各分割領域
はそれぞれ受光出力a1及びa2を発生し、サブ受光領
域Bの各分割領域はそれぞれ受光出力b1及びb2を発
生し、サブ受光領域C の各分割領域はそれぞれ受光出力
c1及びc2を発生する。 【0025】メイン受光領域Aの各分割領域から発生さ
れるそれぞれの受光出力a1及びa2は第1差動アンプ
11によりその受光出力a1及びa2の差分出力(a1
−a2)が得られ、サブ受光領域Bの各分割領域から発
生されるそれぞれの受光出力b1及びb2は第2差動ア
ンプ12によりその受光出力b1及びb2の差分出力
(b1−b2)が得られ、サブ受光領域Cの各分割領域
から発生されるそれぞれの受光出力c1及びc2は第3
差動アンプ13によりその受光出力c1及びc2の差分
出力(c1−c2)が得られる。 【0026】第1差動アンプ11による差分出力(a1
−a2)は第1調整アンプ14によるゲインg1により
レベル調整され、メインプッシュプル信号Smppとな
された後、第4差動アンプ15の一方の入力端、この場
合非反転入力端に入力される。 【0027】一方、第2差動アンプ12による差分出力
(b1−b2)と第3差動アンプ13による差分出力
(c1−c2)とは、加算器16により加算されて加算
出力(b1−b2)+(c1−c2)となった後、第2
調整アンプ17によるゲインg2によりレベル調整され
てサブプッシュプル信号Ssppとなされ、更にこのサ
ブプッシュプル信号Ssppがα調整アンプ18による
ゲインα(i)によりレベル調整され、第4差動アンプ
15の他方の入力端、この場合反転入力端に入力され
る。 【0028】すなわち、前記第4差動アンプ15は非反
転入力端に入力されるメインプッシュプル信号Smpp
{g1×(a1−a2)}と、α調整アンプ18を介し
て反転入力端に入力されるα倍のサブプッシュプル信号
Smpp{α×g2×((b1−b2)+(c1−c
2))}との差分出力{g1×(a1−a2)−α×g
2×((b1−b2)+(c1−c2))}を発生す
る。 【0029】ここで、第1調整アンプ14のゲインg1
及び第2調整アンプ17のゲインg2は、メイン受光領
域Aの各受光出力とサブ受光領域B,Cの各受光出力とレ
ベル比に基づいて予め最適とするべく使用する光学ヘッ
ド1に対応して一義的に決定され、例えば、第1調整ア
ンプ14のゲインg1=2、第2調整アンプ17のゲイ
ンg2=6に設定されている。 【0030】一方、α調整アンプ18のゲインα(i)
は、メインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号と
の合成比αを調整するのに用いられ、1台ごとのバラツ
キ、及び使用状態によって調整されるべくα設定回路1
0によって設定される。 【0031】このようにして、第4差動アンプ15から
は、メインビームとディスクの信号トラックnとのズレ
量及びズレ方向に応じてそれぞれ出力レベル及び極性が
変化するトラッキング誤差に対応したトラッキングエラ
ー信号(以下TE信号と略す)が差動プッシュプル法に
より出力されることになる。 【0032】尚、メイン受光領域Aの各分割領域から出
力される各受光出力a1及びa2は加算アンプ19によ
りディスクに記録された記録信号に対応するHF信号と
なる加算出力(a1+a2)が得られ、この加算出力は
HFアンプ20により増幅されて後段のデコーダ21に
より信号再生される。 【0033】次に、メインプッシュプル信号とサブプッ
シュプル信号との合成比αを調整するα調整アンプ18
のゲインα(i)の設定方法について図3のフローチャ
ートを用いて説明する。 【0034】図1の光ディスク装置は、ディスクの装着
時においてメインプッシュプル信号とサブプッシュプル
信号との合成比αの調整が行われる。 【0035】ディスクの装着時において、スイッチ回路
4は外乱信号発生回路6から発生される外乱信号をドラ
イバ5に供給するべく切り替えられ、外乱信号発生回路
6から一定周期50Hzの外乱信号が発生される。その
為、この外乱信号がドライバ5によりトラッキング駆動
信号となって光学ヘッド1のトラッキングコイルに供給
され(ステップa)、光学ヘッド1は外乱信号に応じて
トラッキング方向に外乱駆動されてオフセットが発生さ
れる。 【0036】光学ヘッド1の外乱駆動が安定状態になる
時間が経過されると、α設定回路10によりα調整アン
プ18のゲインα(i)があらかじめ用意された複数の
ゲインレベルのうち、i=0の初期値α(0)に設定さ
れる(ステップb)。 【0037】その為、TE信号生成回路3はα調整アン
プ18がゲインα(0)の状態でTE信号を生成し、こ
のTE信号はα調整アンプ18のゲインα(0)におけ
る外乱信号に基づくオフセット信号が付与されている。 【0038】すなわち、TE信号生成回路3により生成
されるTE信号は、図4(イ)に示す如く、ディスクに
形成された記録マークに基づくHF信号が前記オフセッ
ト信号に重畳される波形となる。 【0039】フィルタ回路7は前記TE信号からHF信
号成分を阻止し、図4(ロ)に示す如く、オフセット信
号を抽出するので、測定回路9はA/Dコンバータ8を
介してデジタル信号に変換されたオフセット信号を用い
て外乱信号周波数に対応する1周期期間のオフセット信
号の振幅X(i)、すなわち外乱信号周波数が50Hz
であるので、その1周期の20m秒間におけるピーク値
Vmaxとボトム値Vminの差を測定する(ステップ
c)。 【0040】ここで、α調整アンプ18が初期値α
(0)に設定されているので、前記測定回路9によりi
=0時のオフセット信号の振幅X(0)が測定される。 【0041】オフセット信号の振幅X(0)が測定され
ると、iの値が1加えられ(ステップd)、このiの値
が5以下と判断された場合(ステップe)は設定される
iの値に対応するα調整アンプ18のゲインα(i)が
α設定回路10により設定され(ステップf)、オフセ
ット信号の振幅X(0)が測定された直後には前記ゲイ
ンα(i)はi=1の値のゲインレベルのα(1)に設
定される。因みにこのゲインレベルの間隔は2dBとな
っており、iの値が1増えるごとに2dBアップする。 【0042】そして、TE信号生成回路3はα調整アン
プ18がゲインα(1)の状態でTE信号を生成され、
フィルタ回路7によりそのTE信号のオフセット信号が
抽出されるので、測定回路9はi=1の場合におけるオ
フセット信号の振幅X(1)を測定する。 【0043】このような測定回路9によるオフセット信
号の振幅X(i)の測定は、iが1ずつ加えられてα調
整アンプ18がゲインα(i)が変化されるごとに行わ
れ、i=5まで繰り返される(ステップc〜f)。 【0044】測定回路9によるオフセット信号の振幅X
(5)の測定が完了し、iの値が5を超えると判断され
ると(ステップe)、測定回路9により今までに測定さ
れてメモリ9aに記憶されたi=1〜5におけるオフセ
ット信号の振幅X(i)から最小値を検出し、その振幅
X(i)におけるiの値に対応してα調整アンプ18の
ゲインα(i)を設定する(ステップg)。 【0045】その後、外乱信号発生回路6から発生され
る外乱信号を停止し、光学ヘッド1が外乱信号に応じて
トラッキング方向に外乱振動されるのが停止するまで待
機されて(ステップh)メインプッシュプル信号とサブ
プッシュプル信号との合成比αの調整、すなわちα調整
アンプ18のゲインα(i)の設定動作が終了する。 【0046】このようにしてα調整アンプ18のゲイン
α(i)が設定されるが、設定されたゲインα(i)に
おいて外乱信号に基づくオフセット信号の振幅X(i)
が最小であるので、TE信号生成回路3により生成され
るTE信号が外乱によるオフセットの影響を最小とする
ようにα調整アンプ18のゲインα(i)が設定される
こととなり、この結果、光学ヘッド1の対物レンズのト
ラッキング方向の偏移によるTE信号のオフセットが抑
制される。 【0047】尚、上述の実施例では測定回路9によりオ
フセット信号の振幅X(i)を測定するサンプル数をi
=0〜5の6サンプルとし、時間と精度との兼ね合いで
設定しているが、α(i)のゲイン間隔を細かくしてサ
ンプル数を増やせば精度向上が図れ、一方、サンプル数
を減らせば時間短縮が図れる。 【0048】 【発明の効果】以上のとおり、本発明は、ディスクに形
成された記録マークによる高周波信号の影響を受けず
に、光検出器のメインビームに対応する受光出力から演
算されるメインプッシュプル信号と光検出器のサブビー
ムに対応する受光出力から演算されるサブプッシュプル
信号との合成比αをトラッキングエラー信号の外乱によ
るオフセットの影響が最小となるように調整することが
出来る。特に、その合成比αの調整をディスクの装着時
ごとに実行でき、温度変化やディスクのチャッキング状
態等の使用状態に対応させて行えるので、使用状態に対
応して適切にトラッキングエラー信号のオフセットを抑
制することが出来、トラッキングサーボ異常の防止に効
果的であると共に、トラックジャンプ時の信号トラック
の捕捉及びサーチ時のトラックカウントのカウント誤差
の軽減が図れる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明に係る光ディスク装置の一実施例を示す
回路ブロック図である。 【図2】本発明に関係するフロントエンド処理回路2の
トラッキングエラー信号の生成方法を説明するための回
路図である。 【図3】メインプッシュプル信号とサブプッシュプル信
号との合成比αを調整するα調整アンプ18のゲインα
(i)の設定方法を示すフローチャートである。 【図4】外乱信号に基づくオフセット信号の抽出前後の
波形を示すと共に、オフセット信号の振幅の測定を説明
するための波形図である。 【符号の説明】 1 光学ヘッド 3 TE信号生成回路 4 スイッチ回路 6 外乱信号発生回路 7 フィルタ回路 9 測定回路 10 α設定回路 18 α調整アンプ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木暮 一也 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 5D118 AA18 AA20 AA21 BA01 CA08 CA13 CA23 CD03 CD11 CF03 CG04 CG14 CG33 CG36 CG44 DA33 DA35

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 ディスクの信号トラック上に配置される
    メインビームの他にこのメインビームを挟んで配置され
    る2つのサブビームを出射し、それらの各光ビームを受
    光する光検出器を備える光学ヘッドが用いられると共
    に、前記メインビームを信号トラックに追従させるトラ
    ッキング制御を行うのに差動プッシュプル方式を用いた
    光ディスク装置であって、光学ヘッドにおけるメインビ
    ームに対応する受光出力から演算されるメインプッシュ
    プル信号とサブビームに対応する受光出力から演算され
    るサブプッシュプル信号との合成比αを調整してトラッ
    キングエラー信号をトラッキングエラー信号生成回路に
    より生成し、メインビームをトラッキング方向にオフセ
    ットを付与して変位させる所定周波数の外乱信号を外乱
    信号発生回路により発生し、この外乱信号によるトラッ
    キング駆動時にトラッキングエラー信号生成回路により
    生成されるトラッキングエラー信号から外乱信号に基づ
    くオフセット信号をフィルタ回路により抽出し、このオ
    フセット信号の外乱信号周波数に対応する1周期期間に
    おける振幅値を計測し、この計測を前記合成比αを変え
    ながら行い、前記振幅値が最小になる合成比αを検出
    し、これにより検出された合成比αとするべくトラッキ
    ングエラー信号生成回路を設定するようにしたことを特
    徴とする光ディスク装置。
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