JP2003283133A - Multi-layer wiring substrate and its manufacturing method - Google Patents

Multi-layer wiring substrate and its manufacturing method

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JP2003283133A
JP2003283133A JP2002082417A JP2002082417A JP2003283133A JP 2003283133 A JP2003283133 A JP 2003283133A JP 2002082417 A JP2002082417 A JP 2002082417A JP 2002082417 A JP2002082417 A JP 2002082417A JP 2003283133 A JP2003283133 A JP 2003283133A
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JP
Japan
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layer
conductor
wiring board
metal
resin
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JP2002082417A
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Japanese (ja)
Inventor
Hitoshi Aoki
仁 青木
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a multi-layer wiring substrate which can obtain good layer connection for all the conductor posts. <P>SOLUTION: The multi-layer wiring substrate has plural insulating layers, a conductor circuit that is formed on at least one face of each insulating layer and the conductor post that passes through the insulating layer and that connects to the conductor circuit. The multi-layer wiring substrate is inter-layer connected by the conductor post. In the multi-layer wiring substrate and its manufacturing method, an inner conductor post is formed only on a position equivalent to a position perpendicularly above the conductor post positioned at an outermost layer on both faces of the multi-layer wiring substrate. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多層配線板および
その製造方法に関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a multilayer wiring board and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年の電子機器の高機能化並びに軽薄短
小化の要求に伴い、電子部品の高密度集積化、さらには
高密度実装化が進んできており、これらの電子機器に使
用される半導体パッケージは、従来にも増して益々小型
化かつ多ピン化が進んできている。
2. Description of the Related Art With the recent demand for high functionality, lightness, thinness, shortness, and miniaturization of electronic devices, high-density integration and further high-density mounting of electronic parts have been advanced, and they are used in these electronic devices. Semiconductor packages are becoming smaller and more pins than ever before.

【0003】従来の回路基板はプリント配線板と呼ば
れ、ガラス繊維の織布にエポキシ樹脂を含浸させた積層
板からなる、ガラスエポキシ板に貼り付けられた銅箔を
パターニングした後、複数枚重ねて積層接着し、ドリル
で貫通穴を開けて、この穴の壁面に銅めっきを行ってビ
アを形成し、層間の電気接続を行った配線基板の使用が
主流であった。しかし、搭載部品の小型化、高密度化が
進み、上記の配線基板では配線密度が不足して、部品の
搭載に問題が生じるようになってきている。
A conventional circuit board is called a printed wiring board, and is composed of a laminate of glass fiber woven cloth impregnated with epoxy resin. After patterning a copper foil attached to a glass epoxy board, a plurality of layers are stacked. The mainstream method is to use a wiring board in which layers are laminated and bonded, a through hole is drilled, copper is plated on the wall surface of the hole to form a via, and electrical connection is made between layers. However, the miniaturization and high densification of mounted components have advanced, and the wiring density is insufficient in the above-described wiring board, which causes a problem in mounting the components.

【0004】このような背景により、近年、ビルドアッ
プ多層配線板が採用されている。ビルドアップ多層配線
板は、樹脂のみで構成される絶縁層と、導体とを積み重
ねながら成形される。ビア形成方法としては、従来のド
リル加工に代わって、レーザ法、プラズマ法、フォト法
等多岐にわたり、小径のビアホールを自由に配置するこ
とで、高密度化を達成するものである。層間接続部とし
ては、ブラインドビア(Blind Via)やバリー
ドビア(Buried Via:ビアを導電体で充填し
た構造)等があり、ビアの上にビアを形成するスタック
ドビアが可能な、バリードビアホールが特に注目されて
いる。バリードビアホールとしては、ビアホールをめっ
きで充填する方法と、導電性ペースト等で充填する場合
とに分けられる。一方、導体回路を形成する方法とし
て、銅箔をエッチングする方法(サブトラクティブ
法)、電解銅めっきによる方法(アディティブ法)等が
あり、配線密度の高密度化に対応可能なアディティブ法
が特に注目され始めている。
Under these circumstances, build-up multilayer wiring boards have been adopted in recent years. The build-up multilayer wiring board is formed by stacking an insulating layer composed only of resin and a conductor. As a method for forming vias, instead of conventional drilling, there are various methods such as laser method, plasma method, and photo method, and via holes of small diameter are freely arranged to achieve high density. There are blind vias (Blind Vias) and buried vias (Buried Vias: a structure in which a via is filled with a conductor) as an interlayer connection portion, and a stacked via in which a via is formed on the via is possible. Has been done. Barry via holes are classified into a method of filling the via holes with plating and a method of filling the via holes with a conductive paste or the like. On the other hand, as a method of forming a conductor circuit, there are a method of etching a copper foil (subtractive method), a method of electrolytic copper plating (additive method), etc., and an additive method capable of coping with high wiring density is particularly noted. Is being started.

【0005】絶縁層と金属層からなる2層基材にビアホ
ールを形成し、金属層を電解めっき用リードとして電解
めっきによりビアホールを充填することにより導体ポス
トを形成した後、金属層をパターニング(エッチング)
して導体回路を形成する片面配線板の製造方法がある。
この片面配線板を積層して得られる多層配線板は、導体
ポストにて層間接続されているため、スタックドビア構
造が可能であり、層間接続密度を高くすることができ
る。
A via hole is formed in a two-layer base material consisting of an insulating layer and a metal layer, and a conductor post is formed by filling the via hole by electrolytic plating using the metal layer as a lead for electrolytic plating. Then, the metal layer is patterned (etched). )
There is a method of manufacturing a single-sided wiring board in which a conductor circuit is formed.
Since the multilayer wiring board obtained by laminating the single-sided wiring boards is interlayer-connected by the conductor posts, a stacked via structure is possible and the interlayer connection density can be increased.

【0006】このような多層配線板の製造方法において
は、導体回路のパターンや密度だけでなく、導体ポスト
の面内方向における位置や厚み方向における位置によ
り、積層時の圧力分布が発生するため、全ての導体ポス
トにおいて良好な層間接続が得られない場合があり、製
造歩留りが低下するという問題あった。
In such a method for manufacturing a multilayer wiring board, the pressure distribution at the time of stacking occurs due to the position in the in-plane direction and the position in the thickness direction of the conductor posts as well as the pattern and density of the conductor circuit. There is a problem that good interlayer connection may not be obtained in all the conductor posts, resulting in a decrease in manufacturing yield.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、層間接続の
このような問題点に鑑み、鋭意検討の結果なされたもの
で、全ての導体ポストにおいて良好な層間接続が得られ
る多層配線板の製造方法を提供することを目的とする。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention has been made as a result of extensive studies in view of such problems of interlayer connection, and manufacture of a multilayer wiring board in which good interlayer connection can be obtained in all conductor posts. The purpose is to provide a method.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、 1. 複数の絶縁層と、各々の絶縁層の少なくとも一方
の面に形成された導体回路と、絶縁層を貫通して導体回
路と接続する導体ポストとを有し、導体ポストにて層間
接続されてなる多層配線板であって、内層の導体ポスト
が、多層配線板の両面の最外層に位置する導体ポストの
鉛直上に相当する位置にのみ形成されてなることを特徴
とする多層配線板、および 2. 導体回路の少なくとも一方の面と接する絶縁層
と、絶縁層を貫通して導体回路と接続する導体ポストと
を有する配線基板を、複数枚積層し、導体ポストにて層
間接続して形成される多層配線板の製造方法であって、
内層となる配線基板の導体ポストを形成する際に、該導
体ポストを、多層配線板の両面の最外層に位置する導体
ポストの鉛直上に相当する位置にのみに形成することを
特徴とする多層配線板の製造方法、を提供するものであ
る。
The present invention includes: A plurality of insulating layers, a conductor circuit formed on at least one surface of each insulating layer, and a conductor post penetrating the insulating layer to connect with the conductor circuit, and are interlayer-connected by the conductor post. A multilayer wiring board, wherein the inner layer conductor posts are formed only at positions corresponding to vertically above the conductor posts located on the outermost layers on both sides of the multilayer wiring board, and 2. . A multilayer formed by laminating a plurality of wiring boards each having an insulating layer in contact with at least one surface of the conductor circuit and a conductor post penetrating the insulating layer and connecting to the conductor circuit, and connecting the layers by the conductor posts. A method of manufacturing a wiring board, comprising:
When forming the conductor posts of the wiring board as the inner layer, the conductor posts are formed only at positions corresponding to vertically above the conductor posts located at the outermost layers on both surfaces of the multilayer wiring board. A method for manufacturing a wiring board is provided.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施形態について具体的に説明するが、本発明はこれに
よって何ら限定されるものではない。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto.

【0010】図2は、本発明の実施形態である多層配線
板の製造方法の一例を説明するための図で、図2(c)
は、4層分の導体回路とそれらを層間接続する3層分の
導体ポストを有する多層配線板の構造の一例を示す断面
図である。
FIG. 2 is a view for explaining an example of a method for manufacturing a multilayer wiring board according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 (c).
FIG. 3 is a cross-sectional view showing an example of the structure of a multilayer wiring board having conductor circuits for four layers and conductor posts for three layers connecting them between layers.

【0011】まず、配線基板110a〜110cと、被
接続層220とを位置あわせする(図2(a))。位置
合わせは、配線基板110a〜110cおよび被接続層
220に、予め形成されている位置決めマークを、画像
認識装置により読み取り位置合わせする方法、位置合わ
せ用のピン等で位置合わせする方法等を用いることがで
きる。配線基板110a〜110cは、導体回路の少な
くとも一方の面と接する絶縁層と、絶縁層を貫通して導
体回路と接続する導体ポストとを有し、さらに、層間を
接着するための接着剤層が絶縁層表面に形成された構造
となっている。内層配線基板となる配線基板110bの
導体ポストは、最外層となる配線基板110a,110
cに形成された導体ポストの鉛直上の位置となるように
形成しておく。
First, the wiring boards 110a to 110c and the layer 220 to be connected are aligned with each other (FIG. 2A). For the alignment, use is made of a method of aligning a positioning mark previously formed on the wiring boards 110a to 110c and the layer 220 to be connected by reading with an image recognition device, a method of aligning with a pin for alignment, or the like. You can The wiring boards 110a to 110c each include an insulating layer that is in contact with at least one surface of the conductor circuit, a conductor post that penetrates the insulating layer and is connected to the conductor circuit, and further includes an adhesive layer for bonding the layers. It has a structure formed on the surface of the insulating layer. The conductor posts of the wiring board 110b, which is the inner wiring board, are the outermost wiring boards 110a, 110.
It is formed at a position vertically above the conductor post formed in c.

【0012】次に、配線基板110a〜110cおよび
被接続層220を一括して加熱・加圧して、全層の接合
用金属材料層を一括して溶融させて層間接続を行い、多
層配線板240を得る(図2(b))。加熱・加圧する
方法としては、例えば真空プレスを用いて、接合用金属
材料層108が接着剤層109を排除して、被接合部2
30と導体ポスト107とを、接合用金属材料層108
により金属接合するまで加熱・加圧し、さらに接着剤層
109を硬化させて、配線基板110a〜110cと被
接続層220とを接着する方法が挙げられる。なお、最
高加熱温度は、接合用金属材料層108の融点以上であ
ることが必須である。
Next, the wiring boards 110a to 110c and the layer 220 to be connected are collectively heated and pressed to collectively melt all the joining metal material layers to perform interlayer connection, and the multilayer wiring board 240. Is obtained (FIG. 2 (b)). As a method of heating / pressurizing, for example, a vacuum press is used to remove the adhesive layer 109 from the bonding metal material layer 108, and the bonded portion 2
30 and the conductor post 107, the metal material layer 108 for joining
A method of adhering the wiring substrates 110a to 110c and the layer 220 to be connected to the wiring substrate 110a to 110c is performed by heating and pressurizing until the metal bonding is performed, and further curing the adhesive layer 109. It is essential that the maximum heating temperature is equal to or higher than the melting point of the bonding metal material layer 108.

【0013】最後に、金属層201をエッチングにより
除去して、多層配線板240を得ることができる(図2
(c))。以上の工程により、各層の導体回路と導体ポ
ストとを接合用金属材料層にて金属接合し、各層間を接
着剤層にて接着した多層配線板を製造することができ
る。
Finally, the metal layer 201 is removed by etching to obtain a multilayer wiring board 240 (FIG. 2).
(C)). Through the above steps, it is possible to manufacture a multilayer wiring board in which the conductor circuits of the respective layers and the conductor posts are metal-bonded by the metal material layer for bonding, and the respective layers are bonded by the adhesive layer.

【0014】ここで、本発明の特徴について、図3に示
す従来の多層配線板の製造方法との違いを含めて説明す
る。まず、本発明について説明する。図2(a)におい
て、配線基板110aおよび110cは、最終的に多層
配線板となった際の最外層に位置する導体ポストを含ん
でいるのに対して、配線基板110bは、最終的に多層
配線板となった際の内層に位置する導体ポストを含んで
いる。ここで、多層配線板の内層に位置する導体ポスト
は、図中の点線で示すように、多層配線板の両面の最外
層に位置する導体ポストの鉛直上に相当する位置にのみ
形成されている。
The features of the present invention will now be described, including differences from the conventional method for manufacturing a multilayer wiring board shown in FIG. First, the present invention will be described. In FIG. 2A, the wiring boards 110a and 110c include conductor posts positioned at the outermost layers when the wiring board finally becomes a multilayer wiring board, whereas the wiring board 110b finally has a multilayer wiring board. It includes conductor posts located in the inner layer when it becomes a wiring board. Here, the conductor posts located in the inner layer of the multilayer wiring board are formed only at positions corresponding to vertically above the conductor posts located in the outermost layers on both surfaces of the multilayer wiring board, as shown by the dotted line in the figure. .

【0015】続いて、図3を用いて、従来の多層配線板
の製造方法を説明する。図3(a)に示すように、多層
配線板の内層に位置する導体ポストは、図中の点線で示
すように、多層配線板の両面の最外層に位置する導体ポ
ストの鉛直上に相当する位置にのみに形成されているの
ではなく、図3中の350で示すように、多層配線板の
両面の最外層に位置する導体ポストの鉛直上に相当する
位置以外にも形成されている。図3(b)の加熱・加圧
工程において、鉛直上に相当する位置に形成されている
導体ポストには層間接続に必要な適正な圧力がかかる
が、鉛直上に相当する位置以外に形成されている導体ポ
ストには層間接続に必要な適正な圧力がかかりにくいた
め、この部分で層間接続不良が発生し、歩留りが低下す
る。加熱・加圧工程における圧力を高くすることで、鉛
直上に相当する位置以外に形成されている導体ポストに
おける層間接続不良を回避することができるが、鉛直上
に相当する位置に形成されている導体ポストにかかる圧
力が高くなりすぎるため、導体ポストが導体回路に食い
込み、導体回路にうねりが生じてしまう。
Next, a conventional method for manufacturing a multilayer wiring board will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 3A, the conductor posts located in the inner layer of the multilayer wiring board correspond to the vertical positions of the conductor posts located in the outermost layers on both sides of the multilayer wiring board, as indicated by the dotted line in the figure. It is not formed only at the position, but as shown at 350 in FIG. 3, it is also formed at a position other than the position corresponding to the vertical position of the conductor post located at the outermost layer on both surfaces of the multilayer wiring board. In the heating / pressurizing step of FIG. 3B, the conductor post formed at the position corresponding to the vertical position receives an appropriate pressure necessary for interlayer connection, but it is formed at a position other than the vertical position. Since the appropriate pressure required for interlayer connection is unlikely to be applied to the conductor posts that are present, interlayer connection failure occurs at this portion, and the yield decreases. By increasing the pressure in the heating / pressurizing process, it is possible to avoid interlayer connection failure in the conductor posts formed at positions other than vertically corresponding positions, but it is formed at positions corresponding vertically. Since the pressure applied to the conductor post becomes too high, the conductor post cuts into the conductor circuit, causing undulations in the conductor circuit.

【0016】一方、本発明においては、多層配線板の内
層に位置する導体ポストが、多層配線板の両面の最外層
に位置する導体ポストの鉛直上に相当する位置にのみ形
成されているため、層間接続に必要な適正な圧力がかか
り、全ての導体ポストにおいて良好な層間接続を得るこ
とができる。これが本発明の最大の特徴である。
On the other hand, in the present invention, the conductor posts located in the inner layer of the multilayer wiring board are formed only at the positions corresponding to vertically above the conductor posts located in the outermost layers on both sides of the multilayer wiring board. Appropriate pressure required for interlayer connection is applied, and good interlayer connection can be obtained in all conductor posts. This is the greatest feature of the present invention.

【0017】続いて、本発明の多層配線板の製造方法に
使用する配線基板110の製造方法の一例について、図
1を用いて説明する。
Next, an example of a method for manufacturing the wiring board 110 used in the method for manufacturing a multilayer wiring board according to the present invention will be described with reference to FIG.

【0018】まず、金属層101上に、パターニングさ
れためっきレジスト102を形成する(図1(a))。
めっきレジスト102は、例えば、金属層101上に紫
外線感光性のドライフィルムレジストをラミネートし、
ネガフィルム等を用いて選択的に露光し、その後現像す
ることにより形成することができる。また、液状レジス
トをカーテンコートやロールコータで塗布し、同様に露
光・現像を行うことにより形成することもできる。
First, a patterned plating resist 102 is formed on the metal layer 101 (FIG. 1A).
As the plating resist 102, for example, an ultraviolet-sensitive dry film resist is laminated on the metal layer 101,
It can be formed by selectively exposing with a negative film or the like and then developing. Alternatively, the liquid resist may be applied by curtain coating or a roll coater, and similarly exposed and developed to form the liquid resist.

【0019】金属層101の材質は、この製造方法に適
するものであれば、どのようなものでも良いが、特に、
使用される薬液に対して耐性を有するものであって、最
終的にエッチングにより除去可能であることが必要であ
る。例えば、銅、銅合金、42合金、ニッケル等が挙げ
られる。特に、銅箔、銅板、銅合金板は、電解めっき品
・圧延品を選択できるだけでなく、様々な厚みのものを
容易に入手できるため、金属層101として使用するの
に好ましい。
The material of the metal layer 101 may be any material as long as it is suitable for this manufacturing method.
It must be resistant to the chemical used and can be finally removed by etching. For example, copper, a copper alloy, 42 alloy, nickel, etc. are mentioned. In particular, copper foil, copper plate, and copper alloy plate are preferable for use as the metal layer 101 because not only electrolytic plated products and rolled products can be selected, but also those with various thicknesses can be easily obtained.

【0020】次に、金属層101を電解めっき用リード
(給電用電極)として、レジスト金属層103を電解め
っきにより形成し、続いて、導体回路104を電解めっ
きにより形成する(図1(b))。この電解めっきによ
り、金属層101上のめっきレジスト102が形成され
ていない部分に、レジスト金属層103および導体回路
104が形成される。
Next, the resist metal layer 103 is formed by electrolytic plating using the metal layer 101 as an electrolytic plating lead (feeding electrode), and subsequently, the conductor circuit 104 is formed by electrolytic plating (FIG. 1 (b)). ). By this electrolytic plating, the resist metal layer 103 and the conductor circuit 104 are formed on the portion of the metal layer 101 where the plating resist 102 is not formed.

【0021】レジスト金属層103の材質は、この製造
方法に適するものであればどのようなものでも良いが、
特に、最終的に金属層101をエッチングにより除去す
る際に使用する薬液に対して耐性を有することが必要で
ある。例えば、ニッケル、金、錫、銀、半田、パラジウ
ム等が挙げられる。なお、レジスト金属層103を形成
する目的は、金属層101をエッチングする際に使用す
る薬液により、導体回路104がエッチングされるのを
防ぐことである。例えば、金属層101の材質が銅(銅
箔、銅板または銅合金板)で、導体回路104の材質が
銅の場合には、レジスト金属層103の材質として、金
を選択するのが最も好ましい。レジスト金属層103の
材質を金にすることで、金属層101をエッチングする
際に用いるほとんどのエッチング液(一般的には、塩化
第二鉄溶液、塩化第二銅溶液)に耐性を有するだけでな
く、層間接合時の半田濡れ性を確保しやすくなる。ま
た、レジスト金属層103の材質として、ニッケル、錫
または半田を選択する方法もあるが、通常の酸系のエッ
チング液では溶解するため、アルカリ系のエッチング液
(塩化アンモニウム溶液)を使用する必要があるという
欠点があるものの、金と比べて低コストであるという利
点もある。
The resist metal layer 103 may be made of any material as long as it is suitable for this manufacturing method.
In particular, it is necessary to have resistance to a chemical liquid used when finally removing the metal layer 101 by etching. For example, nickel, gold, tin, silver, solder, palladium, etc. may be mentioned. The purpose of forming the resist metal layer 103 is to prevent the conductor circuit 104 from being etched by a chemical solution used when etching the metal layer 101. For example, when the material of the metal layer 101 is copper (copper foil, copper plate or copper alloy plate) and the material of the conductor circuit 104 is copper, it is most preferable to select gold as the material of the resist metal layer 103. By making the material of the resist metal layer 103 gold, it has resistance to almost all etching solutions (generally, ferric chloride solution, cupric chloride solution) used when etching the metal layer 101. Therefore, it becomes easier to secure solder wettability during interlayer bonding. There is also a method of selecting nickel, tin, or solder as the material of the resist metal layer 103, but since it is soluble in a normal acid-based etching solution, it is necessary to use an alkali-based etching solution (ammonium chloride solution). Despite the drawbacks, it also has the advantage of being less expensive than gold.

【0022】一方で、金属層101をエッチングする際
に使用する薬液に対して、導体回路104が耐性を有し
ている場合は、このレジスト金属103は不要である。
また、レジスト金属層103は導体回路104と同一の
パターンである必要はなく、金属層101上にめっきレ
ジスト102を形成する前に、金属層101の全面にレ
ジスト金属層103を形成しても良い。その場合は、金
属層101をエッチングにより除去した後、導体回路1
04がエッチングされない薬液を用いて、レジスト金属
層103をエッチングする必要がある。
On the other hand, if the conductor circuit 104 has resistance to the chemical liquid used for etching the metal layer 101, the resist metal 103 is unnecessary.
The resist metal layer 103 does not have to have the same pattern as the conductor circuit 104, and the resist metal layer 103 may be formed on the entire surface of the metal layer 101 before forming the plating resist 102 on the metal layer 101. . In that case, after removing the metal layer 101 by etching, the conductor circuit 1
It is necessary to etch the resist metal layer 103 using a chemical solution that does not etch 04.

【0023】導体回路104の材質としては、この製造
方法に適するものであればどのようなものでも良いが、
例えば、銅、ニッケル、金、錫、銀、パラジウム等が挙
げられる。特に、導体回路104の材質を銅にすること
で、低抵抗で安定した導体回路104が得られる。
The conductor circuit 104 may be made of any material as long as it is suitable for this manufacturing method.
Examples thereof include copper, nickel, gold, tin, silver and palladium. In particular, when the material of the conductor circuit 104 is copper, the conductor circuit 104 with low resistance and stable can be obtained.

【0024】次に、めっきレジスト102を除去し、続
いて、形成した導体回路104上に絶縁層105を形成
する(図1(c))。絶縁層105の形成方法は、使用
する樹脂に応じて適した方法で良く、樹脂ワニスを印
刷、カーテンコート、バーコート等の方法で直接塗布し
たり、ドライフィルムタイプの樹脂を真空ラミネート、
真空プレス等の方法で積層する方法が挙げられる。特
に、ドライフィルムタイプの樹脂は取扱が容易であるだ
けでなく、生産性に優れる。一方で、市販されている樹
脂付銅箔(例えば、ビルドアップ多層配線板用)は入手
が容易であり、真空ラミネート・真空プレスにより導体
回路104の凹凸を埋め込みながら成形し、最後に銅箔
をエッチングすれば、絶縁層105の表面が導体回路1
04の凹凸に影響されることなく、非常に平坦に形成す
ることができる。また、絶縁層105の表面には銅箔表
面の微細な粗化形状が転写されるため、図1(g)に示
す接着剤層109との密着性を確保することができる。
Next, the plating resist 102 is removed, and then the insulating layer 105 is formed on the formed conductor circuit 104 (FIG. 1C). The insulating layer 105 may be formed by a method suitable for the resin used, such as printing resin varnish, curtain coating, or bar coating directly, or vacuum laminating a dry film type resin,
A method of laminating by a method such as vacuum pressing may be used. In particular, the dry film type resin is not only easy to handle but also excellent in productivity. On the other hand, a commercially available resin-coated copper foil (for example, for build-up multilayer wiring board) is easily available, and is formed by embedding the unevenness of the conductor circuit 104 by vacuum lamination / vacuum pressing, and finally the copper foil is formed. If etched, the surface of the insulating layer 105 becomes a conductor circuit 1.
It can be formed very flat without being affected by the unevenness of 04. Further, since the finely roughened shape of the copper foil surface is transferred to the surface of the insulating layer 105, it is possible to secure the adhesiveness with the adhesive layer 109 shown in FIG.

【0025】本発明に用いる絶縁層105は、この製造
方法に適するものであれば良く、熱硬化性樹脂や熱可塑
性樹脂を使用することができる。熱硬化性樹脂として
は、エポキシ、フェノール、ビスマレイミド、ビスマレ
イミド・トリアジン、トリアゾール、シアネート、イソ
シアネート、ベンゾシクロブテンなどの樹脂が挙げられ
る。熱可塑性樹脂としては、ポリアミド、ポリイミド、
ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリエステル
イミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレン
サルフィド、ポリエーテルサルフォン、ポリキノリン、
ポリノルボルネン、ポリベンゾオキサゾール、ポリベン
ゾイミダゾール、ポリテトラフルオロエチレン、液晶ポ
リマーなどの樹脂が挙げられる。これらを一種または複
数種混ぜ合わせて用いても良く、また、シリカフィラー
等の無機フィラー、レベリング剤、カップリング剤、消
泡剤、硬化触媒等を添加しても良い。または、ガラスエ
ポキシ基材に代表されるようなガラスクロスやアラミド
不織布などの補強繊維に樹脂を含浸させて硬化あるいは
半硬化させたものを、絶縁層105として使用すること
もできる。
The insulating layer 105 used in the present invention may be any one suitable for this manufacturing method, and a thermosetting resin or a thermoplastic resin can be used. Examples of the thermosetting resin include resins such as epoxy, phenol, bismaleimide, bismaleimide triazine, triazole, cyanate, isocyanate and benzocyclobutene. As the thermoplastic resin, polyamide, polyimide,
Polyamideimide, polyetherimide, polyesterimide, polyetheretherketone, polyphenylene sulfide, polyethersulfone, polyquinoline,
Examples thereof include resins such as polynorbornene, polybenzoxazole, polybenzimidazole, polytetrafluoroethylene, and liquid crystal polymer. These may be used alone or in combination of two or more, and inorganic filler such as silica filler, leveling agent, coupling agent, defoaming agent, curing catalyst and the like may be added. Alternatively, a material obtained by impregnating a resin into a reinforcing fiber such as a glass cloth or an aramid non-woven fabric typified by a glass epoxy base material and curing or semi-curing the resin may be used as the insulating layer 105.

【0026】次に、形成した絶縁層105にビアホール
106を形成する(図1(d))。内層となる配線基板
の製造においては、ビアホールは、外層となる配線基板
のビアホール位置のいずれかに相当する位置に形成す
る。ビアホール106の形成方法は、この製造方法に適
する方法であればどのような方法でも良く、レーザ、プ
ラズマによるドライエッチング、ケミカルエッチング等
が挙げられる。また、絶縁層105を感光性樹脂とした
場合には、絶縁層105を選択的に感光し、現像するこ
とでビアホール106を形成することもできる。レーザ
による開口では、絶縁層105が感光性・非感光性に関
係なく、微細なビアホール106を容易に形成すること
ができるので、有利である。レーザとしては、エキシマ
レーザ、UVレーザ、炭酸ガスレーザなどが使用でき
る。
Next, a via hole 106 is formed in the formed insulating layer 105 (FIG. 1 (d)). In the manufacture of the wiring board which is the inner layer, the via hole is formed at a position corresponding to any of the via hole positions of the wiring board which is the outer layer. The method for forming the via hole 106 may be any method as long as it is suitable for this manufacturing method, and examples thereof include dry etching with laser and plasma, and chemical etching. When the insulating layer 105 is a photosensitive resin, the via hole 106 can be formed by selectively exposing the insulating layer 105 to light and developing it. Opening with a laser is advantageous because the fine via holes 106 can be easily formed regardless of whether the insulating layer 105 is photosensitive or non-photosensitive. As the laser, an excimer laser, a UV laser, a carbon dioxide laser, or the like can be used.

【0027】次に、金属層101を電解めっき用リード
(給電用電極)として、導体ポスト107を電解めっき
により形成する(図1(e))。この電解めっきによ
り、絶縁層105のビアホール106が形成されている
部分に、導体ポスト107が形成される。電解めっきに
より導体ポスト107を形成する場合には、めっき電流
密度や、めっき浴への添加剤を選択することによって、
導体ポスト107の先端形状を平坦な形状から凸状まで
自由に制御することができる。導体ポスト107の材質
としては、この製造方法に適するものであればどのよう
なものでも良く、例えば、銅、ニッケル、金、錫、銀、
パラジウム等が挙げられる。特に、銅を用いることで、
低抵抗で安定した導体ポスト107が得られる。
Next, the conductor post 107 is formed by electrolytic plating using the metal layer 101 as an electrolytic plating lead (feeding electrode) (FIG. 1E). By this electrolytic plating, the conductor post 107 is formed in the portion of the insulating layer 105 where the via hole 106 is formed. When the conductor post 107 is formed by electrolytic plating, by selecting the plating current density and the additive to the plating bath,
The tip shape of the conductor post 107 can be freely controlled from a flat shape to a convex shape. The material of the conductor post 107 may be any material as long as it is suitable for this manufacturing method. For example, copper, nickel, gold, tin, silver,
Examples thereof include palladium. Especially by using copper,
A stable conductor post 107 having a low resistance can be obtained.

【0028】次に、導体ポスト107の先端表面に、接
合用金属材料層108を形成する(図1(f))。接合
用金属材料層108の形成方法としては、無電解めっき
により形成する方法、金属層101を電解めっき用リー
ド(給電用電極)として電解めっきにより形成する方
法、接合用金属材料を含有するペーストを印刷する方法
が挙げられる。印刷による方法では、印刷用マスクを導
体ポスト107に対して精度良く位置合せする必要があ
るが、無電解めっきや電解めっきによる方法では、導体
ポスト107の表面以外に接合用金属材料108が形成
されることがないため、導体ポスト107の微細化・高
密度化にも対応しやすい。特に、電解めっきによる方法
では、無電解めっきによる方法よりも、めっき可能な金
属が多種多様であり、また薬液の管理も容易であるた
め、非常に好適である。
Next, a metal material layer for bonding 108 is formed on the tip surface of the conductor post 107 (FIG. 1 (f)). As the method of forming the bonding metal material layer 108, a method of forming it by electroless plating, a method of forming the metal layer 101 as an electrolytic plating lead (feeding electrode) by electrolytic plating, and a paste containing a bonding metal material are used. There is a method of printing. In the method by printing, it is necessary to accurately align the printing mask with the conductor post 107. However, in the method by electroless plating or electrolytic plating, the bonding metal material 108 is formed on the surface other than the surface of the conductor post 107. Since it does not occur, it is easy to deal with miniaturization and high density of the conductor post 107. In particular, the electrolytic plating method is very suitable because it has a wider variety of metals that can be plated and the chemical solution is easier to manage than the electroless plating method.

【0029】接合用金属材料層108の材質としては、
図2(a)に示す被接続層220の被接合部230と金
属接合可能な金属であればどのようなものでもよく、例
えば、半田が挙げられる。半田の中でも、SnやIn、
もしくはSn、Ag、Cu、Zn、Bi、Pd、Sb、
Pb、In、Auの少なくとも二種からなる半田を使用
することが好ましい。より好ましくは、環境に優しいP
bフリー半田である。
As the material of the bonding metal material layer 108,
Any metal may be used as long as it can be metal-bonded to the joined portion 230 of the connected layer 220 shown in FIG. 2A, and examples thereof include solder. Among solder, Sn, In,
Alternatively, Sn, Ag, Cu, Zn, Bi, Pd, Sb,
It is preferable to use a solder composed of at least two kinds of Pb, In and Au. More preferably, environmentally friendly P
b Free solder.

【0030】接合用金属材料層108の先端形状として
は、凸状であるものが好ましい。接合用金属材料層10
8の先端を凸状にすることによって、図2(a)に示す
被接続層220と熱圧着する際に、接合用金属材料層1
08と被接合部230の間に存在する接着剤層109が
容易に排除されるので、接合用金属材料層108と被接
合部230の間に接着剤残り無く、金属接合することが
できる。
The tip shape of the bonding metal material layer 108 is preferably convex. Bonding metal material layer 10
By making the tip of 8 a convex shape, the metal material layer 1 for bonding is used when thermocompression-bonding with the layer 220 to be connected shown in FIG.
Since the adhesive layer 109 that exists between the bonding target 08 and the bonding target 230 is easily removed, metal bonding can be performed without an adhesive remaining between the bonding metal material layer 108 and the bonding target 230.

【0031】次に、接合用金属材料層108の先端表面
と絶縁層105を覆うように、接着剤層109を形成す
る(図1(g))。接着剤層109の形成は、使用する
樹脂に応じて適した方法で良く、樹脂ワニスを印刷、カ
ーテンコート、バーコート等の方法で直接塗布したり、
ドライフィルムタイプの樹脂を真空ラミネート、真空プ
レス等の方法で積層する方法が挙げられる。
Next, an adhesive layer 109 is formed so as to cover the tip surface of the joining metal material layer 108 and the insulating layer 105 (FIG. 1 (g)). The adhesive layer 109 may be formed by a method suitable for the resin used, and a resin varnish may be directly applied by a method such as printing, curtain coating, bar coating, or the like.
Examples thereof include a method of laminating a dry film type resin by a method such as vacuum lamination or vacuum pressing.

【0032】接着剤層109に用いる樹脂としては、エ
ポキシ、フェノール、ポリイミド、ポリアミドイミドな
ど、耐熱性と絶縁性が良好な樹脂を用いることができ
る。さらには、接着剤層109が、金属接合接着剤、す
なわち、表面清浄化機能を有し、且つ絶縁信頼性の高い
接着剤であることが好ましい。表面清浄化機能として
は、例えば、接合用金属材料層表面や被接続金属表面に
存在する酸化膜の除去機能や、酸化膜の還元機能であ
る。この表面清浄化機能により、接合用金属材料層と接
続するための表面との濡れ性が十分に高まり、接合用金
属材料層の濡れ拡がりの力により、金属接合部における
金属接合接着剤が排除、金属接合接着剤を用いた金属接
合には、樹脂残りが発生しにくく、且つその電気的接続
信頼性は高いものとなる。
As the resin used for the adhesive layer 109, a resin having good heat resistance and insulating properties such as epoxy, phenol, polyimide, and polyamide-imide can be used. Furthermore, it is preferable that the adhesive layer 109 is a metal bonding adhesive, that is, an adhesive having a surface cleaning function and having high insulation reliability. The surface cleaning function is, for example, a function of removing an oxide film existing on the surface of the bonding metal material layer or the surface of the metal to be connected, and a function of reducing the oxide film. By this surface cleaning function, the wettability with the surface for connecting with the joining metal material layer is sufficiently enhanced, and the metal joining adhesive in the metal joining portion is eliminated by the force of the wetting and spreading of the joining metal material layer, In metal joining using a metal joining adhesive, resin residue is less likely to occur, and its electrical connection reliability is high.

【0033】最後に、金属層101をエッチングにより
除去して、配線基板110を得る(図1(h))。金属
層101と導体回路104との間にレジスト金属層10
3が形成されており、そのレジスト金属層103は、金
属層101をエッチングにより除去する際に使用する薬
液に対して耐性を有しているため、金属層101をエッ
チングしてもレジスト金属層103がエッチングされる
ことがなく、結果的に導体回路104がエッチングされ
ることはない。金属層101の材質が銅、レジスト金属
の材質がニッケル、錫または半田の場合、市販のアンモ
ニア系エッチング液を使用することができる。金属層1
01の材質が銅、レジスト金属層103の材質が金の場
合、塩化第二鉄溶液、塩化第二銅溶液を含め、ほとんど
のエッチング液を使用することができる。
Finally, the metal layer 101 is removed by etching to obtain the wiring board 110 (FIG. 1 (h)). A resist metal layer 10 is provided between the metal layer 101 and the conductor circuit 104.
3 is formed, and the resist metal layer 103 has resistance to a chemical solution used when removing the metal layer 101 by etching. Therefore, even if the metal layer 101 is etched, the resist metal layer 103 is formed. Are not etched, and consequently the conductor circuit 104 is not etched. When the material of the metal layer 101 is copper and the material of the resist metal is nickel, tin, or solder, a commercially available ammonia-based etching solution can be used. Metal layer 1
When the material of 01 is copper and the material of the resist metal layer 103 is gold, most etching solutions including ferric chloride solution and cupric chloride solution can be used.

【0034】レジスト金属層103は除去しても、除去
しなくても、どちらでも構わない。例えば、レジスト金
属層103が金の場合にはエッチングにより除去するこ
とが困難であるだけでなく、金表面は酸化しにくいため
接合用金属材料層108との接合が比較的に容易に行わ
れる利点があることから、除去せずに残しておくことが
好ましい。一方、レジスト金属層103がニッケル、錫
または半田の場合には、導体回路104の露出面全体に
形成されていることが性能上問題になるようであれば、
除去することが好ましい。なお、市販の半田・ニッケル
剥離剤(例えば、三菱ガス化学製・Pewtax)を用
いれば、ニッケル、錫または半田を容易に除去すること
ができる。
The resist metal layer 103 may or may not be removed. For example, when the resist metal layer 103 is gold, it is not only difficult to remove it by etching, but also the gold surface is difficult to oxidize so that the bonding with the bonding metal material layer 108 is relatively easy. Therefore, it is preferable to leave it without removing it. On the other hand, when the resist metal layer 103 is nickel, tin, or solder, if formation on the entire exposed surface of the conductor circuit 104 poses a performance problem,
It is preferable to remove. Note that nickel, tin, or solder can be easily removed by using a commercially available solder / nickel release agent (for example, Pewtax manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Inc.).

【0035】金属接合接着剤としては、少なくとも1つ
以上のフェノール性水酸基を有する樹脂(A)と、その
硬化剤として作用する樹脂(B)とを必須成分する接着
剤や、エポキシ樹脂(C)と、イミダゾール環を有し且
つエポキシ樹脂(C)の硬化剤として作用する化合物
(D)とを必須成分とする接着剤が好ましい。第1の好
ましい金属接合接着剤において、フェノール性水酸基を
有する樹脂(A)の、フェノール性水酸基は、その表面
清浄化機能により、接合用金属材料層および金属表面の
酸化物などの汚れの除去あるいは、酸化物を還元し、金
属接合のフラックスとして作用する。更に、その硬化剤
として作用する樹脂(B)により、良好な硬化物を得る
ことができるため、金属接合後の洗浄除去が必要なく、
高温、多湿雰囲気でも電気絶縁性を保持し、接合強度、
信頼性の高い金属接合を可能とする。
As the metal-bonding adhesive, an adhesive containing at least one resin having a phenolic hydroxyl group (A) and a resin (B) acting as a curing agent as essential components, and an epoxy resin (C). An adhesive agent containing, as an essential component, a compound (D) having an imidazole ring and acting as a curing agent for the epoxy resin (C) is preferable. In the first preferred metal bonding adhesive, the phenolic hydroxyl group of the resin (A) having a phenolic hydroxyl group removes stains such as oxides on the bonding metal material layer and the metal surface due to its surface cleaning function or , Reduces oxides and acts as a flux for metal bonding. Further, since a good cured product can be obtained by the resin (B) acting as the curing agent, there is no need for washing and removing after metal bonding,
Maintains electrical insulation even in high temperature and high humidity atmosphere, and has good bonding strength,
Enables highly reliable metal bonding.

【0036】本発明において第1の好ましい金属接合接
着剤に用いる、少なくとも1つ以上のフェノール性水酸
基を有する樹脂(A)としては、フェノールノボラック
樹脂、アルキルフェノールノボラック樹脂、レゾール樹
脂、クレゾールノボラック樹脂および、ポリビニルフェ
ノール樹脂から選ばれるのが好ましく、これらの1種以
上を用いることができる。
The resin (A) having at least one phenolic hydroxyl group used in the first preferred metal bonding adhesive in the present invention includes phenol novolac resin, alkylphenol novolac resin, resole resin, cresol novolac resin, and It is preferably selected from polyvinylphenol resins, and one or more of them can be used.

【0037】本発明において第1の好ましい金属接着剤
に用いる、フェノール性水酸基を有する樹脂(A)の、
硬化剤として作用する樹脂(B)としては、エポキシ樹
脂やイソシアネート樹脂などが用いられる。具体的には
いずれも、ビスフェノール系、フェノールノボラック
系、アルキルフェノールノボラック系、ビフェノール
系、ナフトール系やレソルシノール系などのフェノール
ベースのもの樹脂や、脂肪族、環状脂肪族や不飽和脂肪
族などの骨格をベースとして変性されたエポキシ化合物
やイソシアネート化合物が挙げられる。
The resin (A) having a phenolic hydroxyl group, which is used in the first preferred metal adhesive in the present invention,
An epoxy resin, an isocyanate resin, or the like is used as the resin (B) that acts as a curing agent. Specifically, in both cases, phenol-based resins such as bisphenol-based, phenol novolac-based, alkylphenol novolac-based, biphenol-based, naphthol-based or resorcinol-based resins and skeletons such as aliphatic, cycloaliphatic and unsaturated aliphatic resins are used. Examples thereof include modified epoxy compounds and isocyanate compounds.

【0038】本発明において第1の好ましい金属接合接
着剤に用いる、フェノール性水酸基を有する樹脂(A)
は、接合強度と信頼性から、接着剤中に、20wt%以
上80wt%以下で含まれることが好ましい。更に好ま
しい上限値は、60wt%である。一方、硬化剤として
作用する樹脂(B)は、接着剤中に、20wt%以上8
0wt%以下で含まれることが好ましい。また、金属接
合接着剤に用いる樹脂に、着色料や、硬化触媒、無機充
填材、各種のカップリング剤、溶媒などを添加しても良
い。
A resin (A) having a phenolic hydroxyl group, which is used in the first preferred metal bonding adhesive in the present invention.
Is preferably contained in the adhesive in an amount of 20 wt% or more and 80 wt% or less from the viewpoint of bonding strength and reliability. A more preferable upper limit value is 60 wt%. On the other hand, the resin (B) acting as a curing agent is contained in the adhesive in an amount of 20 wt% or more 8
It is preferably contained in an amount of 0 wt% or less. Further, a colorant, a curing catalyst, an inorganic filler, various coupling agents, a solvent, etc. may be added to the resin used for the metal bonding adhesive.

【0039】第2の好ましい金属接合接着剤において、
化合物(D)のイミダゾール環は、三級アミンの不対電
子に起因する表面清浄化機能により、接合用金属材料層
および金属表面の酸化物などの汚れの除去あるいは、酸
化膜を還元し、金属接合のフラックスとして作用する。
更に、イミダゾール環は、エポキシ樹脂(C)をアニオ
ン重合する際の硬化剤としても作用するため、良好な硬
化物を得ることができ、半田接合後の洗浄除去が必要な
く、高温、多湿雰囲気でも電気絶縁性を保持し、接合強
度、信頼性の高い金属接合を可能とする。
In a second preferred metal bonding adhesive,
The imidazole ring of the compound (D) removes stains such as oxides on the bonding metal material layer and the metal surface or reduces the oxide film by the surface cleaning function due to the unpaired electron of the tertiary amine, and reduces the metal. Acts as a bonding flux.
Further, since the imidazole ring also acts as a curing agent when anionically polymerizing the epoxy resin (C), a good cured product can be obtained, and cleaning and removal after soldering are not required, and even in a high temperature and high humidity atmosphere. Maintains electrical insulation and enables metal bonding with high bonding strength and reliability.

【0040】本発明において第2の好ましい金属接合接
着剤に用いる化合物(D)の添加量は、金属接合の強度
や信頼性から1wt%以上10wt%以下であることが
好ましい。より好ましい上限値としては5wt%であ
る。
In the present invention, the addition amount of the compound (D) used in the second preferable metal bonding adhesive is preferably 1 wt% or more and 10 wt% or less from the viewpoint of strength and reliability of metal bonding. A more preferable upper limit value is 5 wt%.

【0041】本発明において第2の好ましい金属接合接
着剤で、化合物(D)と組み合わせて用いるエポキシ樹
脂(C)としては、ビスフェノール系、フェノールノボ
ラック系、アルキルフェノールノボラック系、ビフェノ
ール系、ナフトール系やレソルシノール系などの、フェ
ノールベースのエポキシ樹脂や、脂肪族、環状脂肪族や
不飽和脂肪族などの骨格をベースとして変性されたエポ
キシ化合物が挙げられる。
The epoxy resin (C) used in the second preferred metal bonding adhesive in combination with the compound (D) in the present invention includes bisphenol type, phenol novolac type, alkylphenol novolac type, biphenol type, naphthol type and resorcinol type. Examples thereof include a phenol-based epoxy resin such as a system, and an epoxy compound modified based on a skeleton such as aliphatic, cycloaliphatic, or unsaturated aliphatic.

【0042】本発明において第2の好ましい金属接合接
着剤で用いるイミダゾール環を有し且つエポキシ樹脂
(C)の硬化剤として作用する化合物(D)としては、
イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチル−
4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、
1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、2−ウンデシ
ルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾー
ル、ビス(2−エチル−4−メチル−イミダゾール)、
2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミ
ダゾール、2−フェニル−4、5−ジヒドロキシメチル
イミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メ
チルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミ
ダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾー
ル、あるいはトリアジン付加型イミダゾール等が挙げら
れる。また、これらをエポキシアダクト化したものや、
マイクロカプセル化したものも使用できる。これらは単
独で使用しても2種類以上を併用しても良い。
The compound (D) having an imidazole ring and used as a curing agent for the epoxy resin (C) used in the second preferred metal bonding adhesive in the present invention includes:
Imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethyl-
4-methylimidazole, 2-phenylimidazole,
1-benzyl-2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, bis (2-ethyl-4-methyl-imidazole),
2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1- Examples thereof include cyanoethyl-2-phenylimidazole, triazine addition type imidazole and the like. Also, those made into epoxy adducts,
Microencapsulated products can also be used. These may be used alone or in combination of two or more.

【0043】本発明において第2の好ましい金属接合接
着剤に用いるエポキシ樹脂(C)の配合量は、金属接合
接着剤全体の30wt%以上、99wt%以下が好まし
い。30wt%未満であると、十分な硬化物が得られな
くなる恐れがある。エポキシ樹脂(C)とその硬化剤と
して作用する化合物(D)以外の成分としては、金属接
合接着剤に用いる樹脂に、シアネート樹脂、アクリル酸
樹脂、メタクリル酸樹脂、マレイミド樹脂等の熱硬化性
樹脂や熱可塑性樹脂を配合しても良い。また、金属接合
接着剤に用いる樹脂に、着色料や、硬化触媒、無機充填
材、各種のカップリング剤、溶媒などを添加しても良
い。
In the present invention, the compounding amount of the epoxy resin (C) used in the second preferred metal bonding adhesive is preferably 30 wt% or more and 99 wt% or less of the whole metal bonding adhesive. If it is less than 30 wt%, a sufficient cured product may not be obtained. As a component other than the epoxy resin (C) and the compound (D) that acts as a curing agent thereof, a thermosetting resin such as a cyanate resin, an acrylic acid resin, a methacrylic acid resin, or a maleimide resin can be used as a resin for a metal bonding adhesive. Alternatively, a thermoplastic resin may be blended. Further, a colorant, a curing catalyst, an inorganic filler, various coupling agents, a solvent, etc. may be added to the resin used for the metal bonding adhesive.

【0044】金属接合接着剤の調製方法は、例えば、固
形のフェノール性水酸基を有する樹脂(A)と固形の硬
化剤として作用する樹脂(B)を溶媒に溶解して調製す
る方法、固形のフェノール性水酸基を有する樹脂(A)
を液状の硬化剤として作用する樹脂(B)に溶解して調
製する方法、固形の硬化剤として作用する樹脂(B)を
液状のフェノール性水酸基を有する樹脂(A)に溶解し
て調製する方法、固形のエポキシ樹脂(C)を溶媒に溶
解した溶液に、イミダゾール環を有し且つエポキシ樹脂
(C)の硬化剤として作用する化合物(D)を分散もし
くは溶解する方法、液状のエポキシ樹脂(C)にイミダ
ゾール環を有し且つエポキシ樹脂(C)の硬化剤として
作用する化合物(D)を分散もしくは溶解する方法等が
挙げられる。使用する溶媒としては、アセトン、メチル
エチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサ
ノン、トルエン、メシチレン、キシレン、ヘキサン、イ
ソブタノール、n−ブタノール、1−メトキシ,2−プ
ロパノールアセテート、ブチルセルソルブ、エチルセル
ソルブ、メチルセルソルブ、セルソルブアセテート、乳
酸エチル、酢酸エチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジ
エチル、フタル酸ジブチル、ジエチレングリコール、安
息香酸−n−ブチル、N−メチルピロリドン、N,N−
ジメチルホルムアミド、テトラヒドロフラン、γ−ブチ
ルラクトン、アニソール等が挙げられる。好ましくは、
沸点が200℃以下の溶媒である。
The metal bonding adhesive can be prepared, for example, by dissolving a resin (A) having a solid phenolic hydroxyl group and a resin (B) acting as a solid curing agent in a solvent to prepare a solid phenol. Resin Having a Hydrophilic Hydroxyl Group (A)
Of the resin (B) acting as a liquid curing agent, and a method of dissolving the resin (B) acting as a solid curing agent in the resin (A) having a liquid phenolic hydroxyl group A method of dispersing or dissolving a compound (D) having an imidazole ring and acting as a curing agent for the epoxy resin (C) in a solution of a solid epoxy resin (C) dissolved in a solvent, a liquid epoxy resin (C ), And a method of dispersing or dissolving the compound (D) having an imidazole ring and acting as a curing agent for the epoxy resin (C). As the solvent used, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, toluene, mesitylene, xylene, hexane, isobutanol, n-butanol, 1-methoxy, 2-propanol acetate, butyl cellosolve, ethyl cellosolve, methylcello Sorb, cellosolve acetate, ethyl lactate, ethyl acetate, dimethyl phthalate, diethyl phthalate, dibutyl phthalate, diethylene glycol, -n-butyl benzoate, N-methylpyrrolidone, N, N-
Examples thereof include dimethylformamide, tetrahydrofuran, γ-butyl lactone, anisole and the like. Preferably,
It is a solvent having a boiling point of 200 ° C. or lower.

【0045】ここで得られた配線基板110は、電解め
っきにより形成された導体回路104を有し、導体回路
104が一方の面を露出するように絶縁層105中に埋
め込まれた構造となっており、導体ポスト107の先端
が絶縁層105から突出しているが、導体ポストが他の
構造であっても良く、例えば、導体ポストの表面に接合
用金属材料層が形成されていない構造、導体ポストが接
合用金属材料からなる構造導体ポストの先端が絶縁層か
ら突出せず接合用金属材料層の先端が突出する構造等が
挙げられる。
The wiring board 110 obtained here has a conductor circuit 104 formed by electrolytic plating, and has a structure in which the conductor circuit 104 is embedded in an insulating layer 105 so that one surface is exposed. However, the tip of the conductor post 107 projects from the insulating layer 105, but the conductor post may have another structure, for example, a structure in which the bonding metal material layer is not formed on the surface of the conductor post, or the conductor post. There is a structure in which the tip of the conductor post does not project from the insulating layer but the tip of the metal material layer for joining projects.

【0046】また、前記製造方法の他に、導電層が形成
された絶縁層からなる基材を用意し、該導電層を電解め
っき用リードとして、導電層の表面に導体回路を形成
し、絶縁層にビアホールを形成し、該ビアホール内に前
記の製造方法同様に導体ポストを形成した配線基板を得
て、本発明に用いても良い。あるいは、選択エッチング
が可能な複数の金属層からなる基材を用い、その片面の
金属層をエッチングして導体回路を形成し、該導体回路
上に絶縁層を形成することにより、導体回路層が一方の
面を露出するように絶縁層に埋め込まれた配線基板を得
て、本発明に用いても良い。さらには、絶縁層と金属層
からなる基材を用い、金属層をエッチングして導体回路
を形成することにより、導体回路が一方の面を接するよ
うに絶縁層表面に形成された配線基板を得て、本発明に
用いても良い。
In addition to the above-mentioned manufacturing method, a base material made of an insulating layer on which a conductive layer is formed is prepared, and the conductive layer is used as a lead for electrolytic plating to form a conductor circuit on the surface of the conductive layer and insulation is performed. A wiring board in which a via hole is formed in a layer and a conductor post is formed in the via hole in the same manner as the manufacturing method described above may be obtained and used in the present invention. Alternatively, by using a base material composed of a plurality of metal layers that can be selectively etched, the metal layer on one surface is etched to form a conductor circuit, and an insulating layer is formed on the conductor circuit, whereby the conductor circuit layer is formed. A wiring board embedded in an insulating layer so as to expose one surface may be obtained and used in the present invention. Further, by using a base material composed of an insulating layer and a metal layer, the metal layer is etched to form a conductor circuit, thereby obtaining a wiring board formed on the surface of the insulating layer so that the conductor circuit contacts one surface. And may be used in the present invention.

【0047】以上、多層配線板の製造方法の一例、およ
び、それに用いる配線基板の製造方法について図2およ
び図1を用いて詳細に説明した。ただし、本発明の多層
配線板の製造に用いる配線基板は多種多様であるため、
当然、本発明により得られる多層配線板の構造は多種多
様である。
An example of the method for manufacturing the multilayer wiring board and the method for manufacturing the wiring board used therefor have been described above in detail with reference to FIGS. 2 and 1. However, since there are a wide variety of wiring boards used for manufacturing the multilayer wiring board of the present invention,
Naturally, the structure of the multilayer wiring board obtained by the present invention is various.

【0048】[0048]

【発明の効果】本発明によれば、多層配線板の内層に位
置する導体ポストが、多層配線板の両面の最外層に位置
する導体ポストの鉛直上に相当する位置にのみ形成され
ている配線基板を用いることで、層間接続に必要な圧力
が適正化でき、全ての導体ポストにおいて良好な層間接
続を得ることができる。
According to the present invention, the wiring is such that the conductor posts located in the inner layer of the multilayer wiring board are formed only at positions corresponding to vertically above the conductor posts located in the outermost layers on both surfaces of the multilayer wiring board. By using the substrate, the pressure required for interlayer connection can be optimized, and good interlayer connection can be obtained in all conductor posts.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の多層配線板の製造に用いる、配線基板
の製造方法の一例を説明するための断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view for explaining an example of a method of manufacturing a wiring board used for manufacturing a multilayer wiring board according to the present invention.

【図2】本発明の多層配線板の製造方法(一括積層方
式)の一例を説明するための断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view for explaining an example of the method for manufacturing a multilayer wiring board (collective stacking method) according to the present invention.

【図3】従来の多層配線板の製造方法(一括積層方式)
の一例を説明するための断面図である。
FIG. 3 Conventional manufacturing method of multilayer wiring board (collective stacking method)
It is sectional drawing for demonstrating an example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101、201、301:金属層 102:めっきレジスト 103:レジスト金属層 104:導体回路 105:絶縁層 106:ビアホール 107:導体ポスト 108:接合用金属材料層 109:接着剤層(金属接合接着剤層) 110、110a、110b、110c、110a’、
110b’、110c’:配線基板 220、320:被接続層 230、330:被接合部 240、340:多層配線板 350:多層配線板の両面の最外層に位置する導体ポス
トの鉛直上に相当する位置以外に形成されている導体ポ
スト
101, 201, 301: Metal layer 102: Plating resist 103: Resist metal layer 104: Conductor circuit 105: Insulating layer 106: Via hole 107: Conductor post 108: Metal material layer for bonding 109: Adhesive layer (Metal bonding adhesive layer ) 110, 110a, 110b, 110c, 110a ',
110b ', 110c': Wiring boards 220, 320: Connected layers 230, 330: Joined parts 240, 340: Multilayer wiring board 350: Corresponding to vertically above the conductor posts located on the outermost layers of both surfaces of the multilayer wiring board. Conductor posts formed outside the position

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の絶縁層と、各々の絶縁層の少なく
とも一方の面に形成された導体回路と、絶縁層を貫通し
て導体回路と接続する導体ポストとを有し、導体ポスト
にて層間接続されてなる多層配線板であって、内層の導
体ポストが、多層配線板の両面の最外層に位置する導体
ポストの鉛直上に相当する位置にのみ形成されてなるこ
とを特徴とする多層配線板。
1. A conductor post having a plurality of insulating layers, a conductor circuit formed on at least one surface of each insulating layer, and a conductor post penetrating the insulating layer and connecting to the conductor circuit. A multilayer wiring board formed by connecting layers, wherein the inner-layer conductor posts are formed only at positions corresponding to vertically above the outermost conductor posts on both sides of the multilayer wiring board. Wiring board.
【請求項2】 導体回路の少なくとも一方の面と接する
絶縁層と、絶縁層を貫通して導体回路と接続する導体ポ
ストとを有する配線基板を、複数枚積層し、導体ポスト
にて層間接続して形成される多層配線板の製造方法であ
って、内層となる配線基板の導体ポストを形成する際
に、該導体ポストを、多層配線板の両面の最外層に位置
する導体ポストの鉛直上に相当する位置にのみに形成す
ることを特徴とする多層配線板の製造方法。
2. A plurality of wiring boards, each having an insulating layer in contact with at least one surface of the conductor circuit and a conductor post penetrating the insulating layer and connected to the conductor circuit, are stacked and interconnected by the conductor post. A method of manufacturing a multilayer wiring board formed by: forming a conductor post of a wiring board as an inner layer, the conductor post being vertically above the conductor posts located on the outermost layers of both surfaces of the multilayer wiring board. A method for manufacturing a multilayer wiring board, which is characterized in that it is formed only at corresponding positions.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005317953A (en) * 2004-03-31 2005-11-10 Sumitomo Bakelite Co Ltd Multilayer interconnection board and manufacturing method of the multilayer interconnection board

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