JP4239650B2 - Manufacturing method of multilayer wiring board - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、多層配線板の製造方法に関するものである。より詳しくは、導体ポストにより層間接続した多層配線板の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、電子機器の高機能化並びに軽薄短小化の要求に伴い、電子部品の高密度集積化と高密度実装化が進んでいる。プリント配線板も、この軽薄短小化の要求によって配線密度がより高く、配線層数が複数になるなど、より高精度な加工プロセスが望まれるようになってきている。
【0003】
従来の回路基板は、一般的に、ガラス繊維の織布もエポキシ樹脂を含浸させた積層板からなるガラスエポキシ板に張り付けられた銅箔をパターニングした後、複数枚重ねて積層接着し、ドリルで貫通穴を開けて、この穴の壁面に、銅めっきを行ってビアを形成し、層間の電気接続を行った配線基板の使用が主流であった。しかし、搭載部品の小型化、高密度化が進み、上記の配線基板では配線密度が不足して、部品の搭載に問題が生じるようになってきている。
【0004】
このような背景により近年、ビルドアップ多層配線板が採用されている。ビルドアップ多層配線板は、樹脂のみで構成される絶縁層と、導体回路とを積み重ねながら成形される。このビルドアップ多層配線板はその構成材料及び構造から超高密度化と高速化に適したものと考えられているが、導体回路と絶縁層との相互間の密着性を確保することと、配線板同士の導通信頼性を確保することが、大きな問題とされている。即ち、絶縁層とこれの上に形成した導電材との密着性と、電気的導通の確実性の二点であるが、これらの密着性と電気的導通の確実性が確保されないと、多層配線板即ち配線板の信頼性の上で望ましくない。
【0005】
それに対応するため、近年では、絶縁フィルムの少なくとも片面に配線パターンを有し、絶縁フィルムの表裏面を貫通して、導電性のビア穴を有し、そのビア穴と電気的に接続された表裏面の任意の場所に、接続用電極を設けた回路基板同士を、絶縁層(接着剤層)を介して複数枚積層した構造の多層回路基板がある。ここで用いる回路基板は、表面に銅被膜が形成された絶縁フィルムの裏面からビア穴を形成し、貫通させずにビア穴内から銅被膜を露出させる工程と、銅めっきにより前記ビア穴内を埋め込み、絶縁フィルム裏面から突出するまでめっきを続けてビア穴に突起電極を形成し、接続金属としての錫めっきを行う工程により形成される(例えば、特許文献1、および2参照。)。
【0006】
【特許文献1】
特開2000−294933号公報(第5頁、第1図)
【特許文献2】
特開2002−305378号公報(第19頁、第1図)
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述の工法においては、複数の回路基板同士を、接着剤層を介して積層する際に、絶縁層に含まれる吸湿による水分、絶縁層に含まれる熱硬化性樹脂の未硬化成分、絶縁層に含まれる樹脂の加熱による分解成分、あるいは、絶縁層がシアネート樹脂を含む場合にはシアネート樹脂の加水分解成分が、接着剤層に拡散してボイドになるという問題があった。このボイド発生現象は、接着剤層が流動状態あるいは軟化状態となるときに最も発生しやすいが、接着剤層の接着機能を発現させるためには、接着剤層を流動状態あるいは軟化状態にせざるを得ない。
【0008】
本発明は、多層配線板におけるこのような現状の問題点に鑑み、接着剤層にボイド発生のない多層配線板の製造方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
即ち、本発明は、
1. 一方の面を露出するように絶縁層に埋め込まれた導体回路と、前記導体回路上に前記絶縁層を貫通し突出してなる導体ポストと、少なくとも前記絶縁層の表裏露出面に形成されたガスバリア膜からなる配線板を、加熱接着する際の最高温度において流動状態または軟化状態となる接着剤層を介して、複数枚積層して、前記導体ポストにより層間接続することを特徴とする多層配線板の製造方法、
2. 前記ガスバリア膜が、無機物により形成される第1項記載の多層配線板の製造方法、
3. 前記導体ポストの少なくとも絶縁層から突出する表面先端に半田層を形成する第1項または第2項に記載の多層配線板の製造方法、
4. 前記接着剤層が、表面清浄化機能を有する接着剤からなる第1項〜第3項のいずれかに記載の多層配線板の製造方法、
5. 前記配線板が、金属層上に導体回路を形成する工程と、前記金属層および前記導体回路を覆うようにガスバリア膜を形成する工程と、前記ガスバリア膜上に絶縁層を形成する工程と、前記導体回路の一部が露出するように前記絶縁層にビアホールを形成する工程と、前記ビアホール内に導体ポストを形成する工程と、前記金属層を除去する工程により得られる第1項〜第4項のいずれかに記載の多層配線板の製造方法、
を提供するものである。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について具体的に説明するが、本発明はこれによって何ら限定されるものではない。
【0011】
図1は、本発明の実施形態である多層配線板の製造方法の一例を説明するための図で、図1(b)は得られる多層配線板の構造を示す断面図である。また、図3に従来の実施形態を示す。
【0012】
まず、配線板110(110a、110b、110c)を必要枚数(図中では3層分)と、被接続基板120とを用意し、接着剤層130(130a、130b、130c)をそれらの間に配置する(図1(a))。配線板110は、一方の面を露出するように絶縁層103に埋め込まれた導体回路102と、絶縁層103を貫通して導体回路102まで達し、絶縁層103から突出する導体ポスト105と、少なくとも絶縁層103の表裏露出面に形成されたガスバリア膜111、112から構成されているものである。導体回路102および導体回路122は、多層配線板100の平面方向において信号を伝送するための配線として利用されるものである。導体ポスト105は、導体回路102と導体回路122を電気的・機械的に接続させて、多層配線板100の厚み方向において信号を伝送するための配線として利用される。ここで、配線板110は、常温でリジット状態であり、かつ、接着剤層130で加熱接着する際の最高温度において、リジット状態を維持する特性を有するものである。また、接着剤層130を形成する接着剤は、接着剤層130で加熱接着する際の最高温度において、流動状態または軟化状態となる特性を有し、常温での状態は任意で良い。
【0013】
なお、被接続基板120は、どのような構造でも構わないが、図1(a)においては、接続される配線板110cの導体ポスト105cと接続するための導体回路122と、導体回路122を支える基材123と、基材123の露出面を覆うガスバリア膜121をから構成された例を示している。導体回路122は、一方の面を露出するように基材123に埋め込まれていても良いし、基材123と一方の面を接して基材123表面から突出していても良い。すなわち、図2(c)に示した配線板110の製造途中のものに対して、金属層101を除去することで、被接続基板120を得ることができる。あるいは、図2(a)に示すように、金属層101上に導体回路102が形成されたものを被接続基板120として使用することもできる。この場合は、金属層101および導体回路102からはガスが発生しないので、ガスバリア膜は特に必要ない。基材123の材質は、配線板110を構成する絶縁層103と同様な材質で良い。
【0014】
前記配線板110の導体ポスト105としては、層間接続を得られるものであれば、どのような構成でも構わないが、図1に示すように、絶縁層103を貫通する部分と突出先端表面を覆う半田層からなること、あるいは、導体ポスト105そのものが半田や導電性ペーストからなることが好ましい。そうすることで、導体ポスト105の少なくとも先端部分と、相対する導体回路とを電気的・機械的に接続することができる。
【0015】
前記導体ポスト105の材質としては、例えば、Cu、Ni、Au、Sn、Ag、Pd等が挙げられ、特に銅を用いることで、低抵抗で安定した導体ポスト105が得られる。先端表面を覆う半田の材質としては、相対する導体回路と金属接合可能な金属であればどのようなものでもよいが、SnやIn、もしくはSn、Ag、Cu、Zn、Bi、Pd、Sb、Pb、In、Auの少なくとも二種からなる半田を使用することが好ましい。より好ましくは、環境に優しいPbフリー半田である。
【0016】
前記導電性ペーストとしては、Cu、Ni、Au、Sn、Ag、Pdを樹脂中に分散させたものや、SnやIn、もしくはSn、Ag、Cu、Zn、Bi、Pd、Sb、Pb、In、Auの少なくとも二種からなる半田を樹脂中に分散させたものが挙げられる。
【0017】
前記導体ポスト105の形成方法としては、どのような方法でも良いが、絶縁層103に形成したビアホール内に、めっきにより金属を充填する方法、導電性ペーストを充填する方法が挙げられる。電解めっきにより、導体ポスト105を形成する場合には、めっき電流密度や、めっき浴への添加剤を選択することによって、導体ポスト105の先端形状を平坦な形状から凸状まで自由に制御することができる。
【0018】
前記絶縁層103としては、熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂を使用することができる。熱硬化性樹脂としては、エポキシ、フェノール、ビスマレイミド、ビスマレイミド・トリアジン、トリアゾール、シアネート、イソシアネート、ベンゾシクロブテンなどの樹脂が挙げられる。熱可塑性樹脂としては、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリエステルイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンサルフィド、ポリエーテルサルフォン、ポリキノリン、ポリノルボルネン、ポリベンゾオキサゾール、ポリベンゾイミダゾール、ポリテトラフルオロエチレン、液晶ポリマーなどの樹脂が挙げられる。これらを一種または複数種混ぜ合わせて用いても良く、また、シリカフィラー等の無機フィラー、レベリング剤、カップリング剤、消泡剤、硬化触媒等を添加しても良い。または、ガラスエポキシ基材に代表されるようなガラスクロスやアラミド不織布などの補強繊維に樹脂を含浸させて硬化あるいは半硬化させたものを、絶縁層103として使用することもできる。
【0019】
続いて、配線板110、接着剤層130、被接続基板120を密着させ、加熱してこれらを接着して、多層配線板100を得る(図1(b))。加熱する温度は、接着剤層130を構成する接着剤や、配線板110および被接続基板120の特性に応じて決めればよいが、導体ポスト105と相対する導体回路が電気的・機械的に接続できる温度以上が好ましい。また、必要に応じて、加圧工程を加えることが好ましい。加熱・加圧する方法としては、例えば、真空プレスを用いて、導体ポスト105が接着剤層130を排除して、相対する導体回路と導体ポスト105とが半田接合するまで加熱・加圧し、さらに、接着剤層130を硬化させて、配線板110および被接続基板120を接着する方法が挙げられる。なお、半田を用いる場合の最高加熱温度は、半田の融点以上であることが好ましい。
【0020】
図1に示す例においては、3層分の配線板110と被接続基板120を接着剤層130で一括して接着する例を示したが、1層分の配線板110と被接続基板120を接着剤層130で接着し、その上に更にもう1層分の配線板110を接着剤層130で接着する工程を繰り返す、いわゆる逐次積層により多層配線板を得ても良い。
【0021】
また、図1に示す例においては、接着剤層130を自立性の接着剤フィルムとして用いる場合の例を示したが、自立性のフィルムにすることが困難であれば、配線板110あるいは被接続基板120の表面に直接形成しても構わない。
【0022】
従来の実施形態(図3参照)においては、加熱する際に、配線板310(310a、310b、310c)および被接続基板320、特に、これらを構成する有機物に含まれる吸湿による水分、熱硬化性樹脂の未硬化成分、樹脂の加熱による分解成分などが、流動状態あるいは軟化状態になる接着剤層330(330a、330b、330c)に拡散してボイド350になることがあった。しかしながら、本発明の実施形態(図1参照)においては、ガスバリア膜111、112によって、前記配線板110および被接続基板120に含まれるボイド発生成分の接着剤層130への拡散が抑制されるため、ボイドは発生しない。
【0023】
前記ガスバリア膜111、112としては、ボイド成分の接着剤層130への拡散抑制効果の高い無機物からなることが好ましい。ガスバリア膜の材質としては、珪素酸化物、ホウ素酸化物、りん酸化物、ナトリウム酸化物、カリウム酸化物、鉛酸化物、チタン酸化物、マグネシウム酸化物、バリウム酸化物などの無機物が挙げられる。また、ガスバリア膜111、112の形成方法としては、プラズマCVD、熱CVD、光CVDなどのCVD(化学的気相成長法)や、真空蒸着、スパッタリング、イオンプレーティングなどのPVD(物理的気相成長法)のようなドライプロセスによるものだけでなく、スプレー、溶射法、ウエット・オン・ウエット法、液相析出法、ゾルゲル法などのウエットプロセスによる方法が挙げられる。
【0024】
配線板110および被接続基板120において、選択的にガスバリア膜111、112を形成する必要がある場合には、すなわち、ガスバリア膜111、112を有さない配線板および被接続基板を得た後に、絶縁層の表裏露出面および基材の露出面にガスバリア膜111、112を形成する必要がある場合には、(1)全面にガスバリア膜を形成して、レーザーにより不要箇所のガスバリア膜を除去する方法、(2)全面にガスバリア膜を形成して、その上に、感光性レジストを形成して、不要箇所のガスバリア膜をエッチングなどにより除去し、最後に、感光性レジストを除去する方法、(3)薄膜の感光性レジストを形成しておき、その上に、全面ガスバリア膜を形成した後に、感光性レジストを除去する方法、(4)メカニカルマスクを介して、ガスバリア膜を形成することで、予め、必要箇所にのみ、ガスバリア膜を形成する方法などを用いればよい。
【0025】
本発明において、接着剤層130に用いる樹脂としては、エポキシ、フェノール、ポリイミド、ポリアミドイミドなど、耐熱性と絶縁性が良好な樹脂を用いることができる。さらには、接着剤層が、表面清浄化機能を有し、且つ絶縁信頼性の高い接着剤(以下、金属接合接着剤と呼ぶ)であることが好ましい。表面清浄化機能としては、例えば、半田表面や導体回路表面に存在する酸化膜の除去機能や、酸化膜の還元機能である。この表面清浄化機能により、半田と接続するための表面との濡れ性が十分に高まり、半田の濡れ拡がりの力により、金属接合部における金属接合接着剤が排除され、金属接合接着剤を用いた金属接合には、樹脂残りが発生しにくく、且つその電気的接続信頼性は高いものとなる。
【0026】
前記金属接合接着剤としては、少なくとも1つ以上のフェノール性水酸基を有する樹脂(A)と、その硬化剤として作用する樹脂(B)とを必須成分する接着剤や、エポキシ樹脂(C)と、イミダゾール環を有し且つエポキシ樹脂(C)の硬化剤として作用する化合物(D)とを必須成分とする接着剤が好ましい。
【0027】
前記第1の好ましい金属接合接着剤において、フェノール性水酸基を有する樹脂(A)の、フェノール性水酸基は、その表面清浄化機能により、半田および金属表面の酸化物などの汚れの除去あるいは、酸化物を還元し、金属接合のフラックスとして作用する。更に、その硬化剤として作用する樹脂(B)により、良好な硬化物を得ることができるため、金属接合後の洗浄除去が必要なく、高温、多湿雰囲気でも電気絶縁性を保持し、接合強度、信頼性の高い金属接合を可能とする。
【0028】
本発明において第1の好ましい金属接合接着剤に用いる、少なくとも1つ以上のフェノール性水酸基を有する樹脂(A)としては、フェノールノボラック樹脂、アルキルフェノールノボラック樹脂、レゾール樹脂、クレゾールノボラック樹脂および、ポリビニルフェノール樹脂から選ばれるのが好ましく、これらの1種以上を用いることができる。
【0029】
また、硬化剤として作用する樹脂(B)としては、エポキシ樹脂やイソシアネート樹脂などが用いられる。具体的にはいずれも、ビスフェノール系、フェノールノボラック系、アルキルフェノールノボラック系、ビフェノール系、ナフトール系やレソルシノール系などのフェノールベースのものや、脂肪族、環状脂肪族や不飽和脂肪族などの骨格をベースとして変性されたエポキシ化合物やイソシアネート化合物が挙げられる。
【0030】
フェノール性水酸基を有する樹脂(A)は、接合強度と信頼性から、接着剤中に、20wt%以上80wt%以下で含まれることが好ましい。更に好ましい上限値は、60wt%である。一方、硬化剤として作用する樹脂(B)は、接着剤中に、20wt%以上80wt%以下で含まれることが好ましい。また、金属接合接着剤に用いる樹脂に、着色料や、硬化触媒、無機充填材、各種のカップリング剤、溶媒などを添加しても良い。
【0031】
前記第2の好ましい金属接合接着剤において、化合物(D)のイミダゾール環は、三級アミンの不対電子に起因する表面清浄化機能により、半田および金属表面の酸化物などの汚れの除去あるいは、酸化膜を還元し、金属接合のフラックスとして作用する。更に、イミダゾール環は、エポキシ樹脂(C)をアニオン重合する際の硬化剤としても作用するため、良好な硬化物を得ることができ、半田接合後の洗浄除去が必要なく、高温、多湿雰囲気でも電気絶縁性を保持し、接合強度、信頼性の高い金属接合を可能とする。
【0032】
イミダゾール環を有し且つエポキシ樹脂(C)の硬化剤として作用する化合物(D)としては、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、ビス(2−エチル−4−メチル−イミダゾール)、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4、5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、あるいはトリアジン付加型イミダゾール等が挙げられる。また、これらをエポキシアダクト化したものや、マイクロカプセル化したものも使用できる。これらは単独で使用しても2種類以上を併用しても良い。
【0033】
また、化合物(D)と組合わせて用いるエポキシ樹脂(C)としては、ビスフェノール系、フェノールノボラック系、アルキルフェノールノボラック系、ビフェノール系、ナフトール系やレソルシノール系などの、フェノールベースのエポキシ樹脂や、脂肪族、環状脂肪族や不飽和脂肪族などの骨格をベースとして変性されたエポキシ化合物が挙げられる。
【0034】
エポキシ樹脂(C)の配合量としては、金属接合接着剤全体の30〜99wt%が好ましい。30wt%未満であると、十分な硬化物が得られなくなる恐れがある。化合物(D)の配合量としては、金属接合の強度や信頼性から1wt%以上10wt%以下であることが好ましい。より好ましい上限値としては5wt%である。エポキシ樹脂(C)とその硬化剤として作用する化合物(D)以外の成分としては、金属接合接着剤に用いる樹脂に、シアネート樹脂、アクリル酸樹脂、メタクリル酸樹脂、マレイミド樹脂等の熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂を配合しても良い。また、金属接合接着剤に用いる樹脂に、着色料や、硬化触媒、無機充填材、各種のカップリング剤、溶媒などを添加しても良い。
【0035】
金属接合接着剤の調製方法は、例えば、固形のフェノール性水酸基を有する樹脂(A)と固形の硬化剤として作用する樹脂(B)を溶媒に溶解して調製する方法、固形のフェノール性水酸基を有する樹脂(A)を液状の硬化剤として作用する樹脂(B)に溶解して調製する方法、固形の硬化剤として作用する樹脂(B)を液状のフェノール性水酸基を有する樹脂(A)に溶解して調製する方法、固形のエポキシ樹脂(C)を溶媒に溶解した溶液に、イミダゾール環を有し且つエポキシ樹脂(C)の硬化剤として作用する化合物(D)を分散もしくは溶解する方法、液状のエポキシ樹脂(C)にイミダゾール環を有し且つエポキシ樹脂(C)の硬化剤として作用する化合物(D)を分散もしくは溶解する方法等が挙げられる。
【0036】
金属接合接着剤に使用する溶媒としては、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、トルエン、メシチレン、キシレン、ヘキサン、イソブタノール、n−ブタノール、1−メトキシ,2−プロパノールアセテート、ブチルセルソルブ、エチルセルソルブ、メチルセルソルブ、セルソルブアセテート、乳酸エチル、酢酸エチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジエチル、フタル酸ジブチル、ジエチレングリコール、安息香酸−n−ブチル、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルホルムアミド、テトラヒドロフラン、γ−ブチルラクトン、アニソール等が挙げられる。好ましくは、沸点が200℃以下の溶媒である。
【0037】
図2は、本発明の実施形態である多層配線板の製造方法に用いられる配線板の製造方法の一例を説明するための図で、図2(g)は、得られる配線板の構造を示す断面図である。
【0038】
まず、金属層101上に、パターンニングされた導体回路102を形成する(図2(a))。金属層101の材質は、この製造方法に適するものであれば、どのようなものでも良いが、特に、使用される薬液などに対して耐性を有するものであって、最終的にエッチングや剥離により除去可能であることが好ましい。そのような金属層101の材質としては、例えば、銅、銅合金、42合金、ニッケル等が挙げられる。特に、銅箔、銅板、銅合金板は、電解めっき品・圧延品を選択できるだけでなく、様々な厚みのものを容易に入手できるため、金属層101として使用するのに好ましい。
【0039】
導体回路102の材質としては、この製造方法に適するものであればどのようなものでも良いが、例えば、銅、ニッケル、金、錫、銀、パラジウム等が挙げられる。特に、導体回路102の材質を銅にすることで、低抵抗で安定した導体回路102が得られる。導体回路102の形成方法としては、金属層101を電極として電解めっきにより形成する方法、無電解めっきにより形成する方法、金属層101上に形成した導電層(図示せず)をエッチングする方法、導電性ペーストを印刷する方法が挙げられる。電解めっきや無電解めっきによる方法の場合、パターニングされためっきレジスト(図示せず)を形成した後に電解・無電解めっきを行い、めっきレジストを剥離することで、導体回路102を得ることができる。エッチングによる方法の場合、金属層101上にスパッタリングやめっきにより導電層を形成し、一般的なエッチング工程により、導体回路102を得ることができる。
【0040】
次に、金属層101の導体回路102形成面にガスバリア膜111を形成する(図2(b))。ガスバリア膜111の材質や形成方法は上述と同様である。
【0041】
次に、ガスバリア膜111上に絶縁層103を形成する(図2(c))。絶縁層103の形成は、使用する樹脂に応じて適した方法で良く、樹脂ワニスを印刷、カーテンコート、バーコート等の方法で直接塗布したり、ドライフィルムタイプの樹脂を真空ラミネート、真空プレス等の方法で積層する方法が挙げられる。なお、絶縁層103の材質は上述と同様である。
【0042】
次に、絶縁層103の露出表面にガスバリア膜112を形成する(図2(d))。ガスバリア膜112の材質や形成方法は上述と同様である。
【0043】
次に、絶縁層103にビアホール104を形成する(図2(e))。ビアホール104の形成方法は、この製造方法に適する方法であればどのような方法でも良く、レーザ、プラズマによるドライエッチング、ケミカルエッチング等が挙げられる。また、絶縁層103を感光性樹脂とした場合には、絶縁層103を選択的に感光し、現像することでビアホール104を形成することもできる。レーザによる開口では、絶縁層103が感光性・非感光性に関係なく、微細なビアホール104を容易に形成することができるので、有利である。レーザとしては、エキシマレーザ、UVレーザ、炭酸ガスレーザなどが使用できる。また、必要に応じてデスミア処理を行っても良い。
【0044】
次に、ビアホール104に導電体を充填して、導体ポスト105を形成する(図2(f))。導体ポスト105の材質や形成方法は上述と同様である。
【0045】
最後に、金属層101を除去して、本発明の多層配線板の製造方法に用いる配線板110を得ることができる(図2(g))。金属層101を除去する方法としては、エッチングや剥離などが挙げられる。エッチングにより除去する場合、導体回路102をエッチングせずに、金属層101のみをエッチングできる薬液を用いればよい。金属層101と導体回路102の材質が同じ場合には、金属層101をエッチングする薬液に対して耐性を有するバリア金属層(図示せず)を金属層101と導体回路102の間に形成しておくことで、導体回路102がエッチングされるのを防止することができる。剥離により除去する場合には、金属層101と、導体回路102および絶縁層103の界面で剥離ができるように、金属層101表面に、予め、離型処理などを施しておくことが好ましい。
【0046】
このようにして得られた配線板110は、一方の面を露出するように絶縁層103に埋め込まれた導体回路102と、絶縁層103を貫通して導体回路102まで達し、絶縁層103から突出する導体ポスト105と、少なくとも絶縁層103の表裏露出面に形成されたガスバリア膜111、112から構成されているものであり、本発明の多層配線板の製造方法に用いることができる。
【0047】
【発明の効果】
本発明によれば、複数配線板を接着剤層で接着した多層配線板において、接着剤層が加熱時に流動状態や軟化状態となっても、絶縁層の表裏露出面に形成されたガスバリア膜の効果により接着剤層にボイドが発生することがない。また、絶縁層と導体回路と導体ポストを有する配線板を接着剤で接着し、導体ポストと隣接層の導体回路とを接続した多層配線板において、半田の融点以上の高温まで加熱しても、ガスバリア膜の効果により接着剤層にボイドが発生することがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態である多層配線板の製造方法の一例を説明するための断面図である。
【図2】本発明の実施形態である多層配線板に用いる配線板の製造方法の一例を説明するための断面図である。
【図3】従来の実施形態である多層配線板の製造方法の一例を説明するための断面図である。
【符号の説明】
100 :多層配線板
101 :金属層
102 :導体回路
103 :絶縁層
104 :ビアホール
105、105c :導体ポスト
110、110a、110b、110c:配線板
111、112 :ガスバリア膜
120 :被接続基板
121 :ガスバリア膜
122 :導体回路
123 :基材
130a、130b、130c:接着剤層
300 :多層配線板
310a、310b、310c:配線板
320 :被接続基板
330a、330b、330c:接着剤層
350 :ボイド
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer wiring board. More specifically, the present invention relates to a method for manufacturing a multilayer wiring board in which interlayer connections are made by conductor posts.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In recent years, with the demand for higher functionality and lighter, thinner and smaller electronic devices, high-density integration and high-density mounting of electronic components are progressing. With respect to printed wiring boards, there is a demand for higher-precision processing processes such as higher wiring density and a plurality of wiring layers due to the demand for lightness, thinness, and miniaturization.
[0003]
Conventional circuit boards are generally made by patterning copper foil affixed to a glass epoxy plate made of a laminated plate impregnated with epoxy resin, and then laminating and laminating a plurality of sheets, and then using a drill. The mainstream is to use a wiring board in which a through hole is formed, a via is formed on the wall surface of the hole by copper plating, and electrical connection between layers is made. However, with the progress of miniaturization and high density of mounted components, the above wiring board has insufficient wiring density, and problems have arisen in mounting components.
[0004]
Due to such a background, a build-up multilayer wiring board has been adopted in recent years. The build-up multilayer wiring board is molded while stacking an insulating layer composed only of a resin and a conductor circuit. This build-up multilayer wiring board is thought to be suitable for ultra-high density and high speed due to its constituent materials and structure, but it ensures the adhesion between the conductor circuit and the insulating layer, and the wiring Ensuring the conduction reliability between the plates is regarded as a major problem. That is, there are two points of adhesion between the insulating layer and the conductive material formed thereon and the reliability of electrical continuity. If these adhesion and reliability of electrical continuity are not ensured, the multilayer wiring It is not desirable in terms of the reliability of the board, that is, the wiring board.
[0005]
In order to cope with this, in recent years, there is a wiring pattern on at least one surface of the insulating film, a conductive via hole is formed through the front and back surfaces of the insulating film, and the surface is electrically connected to the via hole. There is a multilayer circuit board having a structure in which a plurality of circuit boards provided with connection electrodes are laminated via insulating layers (adhesive layers) at arbitrary positions on the back surface. The circuit board used here forms a via hole from the back surface of the insulating film having a copper film formed on the surface, exposes the copper film from the via hole without penetrating, and fills the via hole by copper plating, Plating is continued until protruding from the back surface of the insulating film to form protruding electrodes in the via holes, and tin plating as a connecting metal is performed (see, for example, Patent Documents 1 and 2).
[0006]
[Patent Document 1]
JP 2000-294933 A (5th page, FIG. 1)
[Patent Document 2]
JP 2002-305378 A (page 19, FIG. 1)
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above-described construction method, when a plurality of circuit boards are laminated via an adhesive layer, moisture due to moisture absorption contained in the insulating layer, uncured components of the thermosetting resin contained in the insulating layer, insulation There is a problem that a decomposition component due to heating of the resin contained in the layer or a hydrolysis component of the cyanate resin diffuses into the adhesive layer when the insulating layer contains a cyanate resin. This void generation phenomenon is most likely to occur when the adhesive layer is in a fluidized state or a softened state, but in order to develop the adhesive function of the adhesive layer, the adhesive layer must be in a fluidized state or a softened state. I don't get it.
[0008]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems in a multilayer wiring board, and an object thereof is to provide a method for manufacturing a multilayer wiring board in which no void is generated in an adhesive layer.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
That is, the present invention
1. A conductor circuit embedded in an insulating layer so as to expose one surface; a conductor post extending through the insulating layer on the conductor circuit; and a gas barrier film formed on at least the front and back exposed surfaces of the insulating layer A multilayer wiring board, wherein a plurality of wiring boards are laminated through an adhesive layer that is in a fluidized state or a softened state at the highest temperature when heat-bonding, and interlayer connection is made by the conductor posts. Production method,
2. The method for producing a multilayer wiring board according to claim 1, wherein the gas barrier film is formed of an inorganic substance.
3. The method for producing a multilayer wiring board according to claim 1 or 2, wherein a solder layer is formed at the front end of the conductor post protruding from at least the insulating layer,
4). The method for producing a multilayer wiring board according to any one of Items 1 to 3, wherein the adhesive layer is made of an adhesive having a surface cleaning function,
5. The wiring board forming a conductor circuit on a metal layer; forming a gas barrier film so as to cover the metal layer and the conductor circuit; forming an insulating layer on the gas barrier film; Items 1 to 4 obtained by forming a via hole in the insulating layer so that a part of the conductor circuit is exposed, forming a conductor post in the via hole, and removing the metal layer. A method for producing a multilayer wiring board according to any one of
Is to provide.
[0010]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto.
[0011]
FIG. 1 is a view for explaining an example of a method for manufacturing a multilayer wiring board according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view showing the structure of the resulting multilayer wiring board. FIG. 3 shows a conventional embodiment.
[0012]
First, the required number of wiring boards 110 (110a, 110b, 110c) (for three layers in the figure) and the substrate to be connected 120 are prepared, and the adhesive layer 130 (130a, 130b, 130c) is placed between them. It arrange | positions (FIG. 1 (a)). The wiring board 110 includes a conductor circuit 102 embedded in the insulating layer 103 so as to expose one surface, a conductor post 105 that penetrates through the insulating layer 103 to reach the conductor circuit 102, and protrudes from the insulating layer 103. It is composed of gas barrier films 111 and 112 formed on the front and back exposed surfaces of the insulating layer 103. The conductor circuit 102 and the conductor circuit 122 are used as wiring for transmitting signals in the plane direction of the multilayer wiring board 100. The conductor post 105 is used as a wiring for transmitting a signal in the thickness direction of the multilayer wiring board 100 by electrically and mechanically connecting the conductor circuit 102 and the conductor circuit 122. Here, the wiring board 110 is in a rigid state at room temperature and has a characteristic of maintaining the rigid state at the highest temperature when heat-bonding with the adhesive layer 130. Further, the adhesive forming the adhesive layer 130 has a characteristic of being in a fluidized state or a softened state at the highest temperature when the adhesive layer 130 is heated and bonded, and the state at normal temperature may be arbitrary.
[0013]
In addition, although the to-be-connected board | substrate 120 may be what kind of structure, in FIG. 1A, the conductor circuit 122 for connecting with the conductor post 105c of the wiring board 110c to be connected, and the conductor circuit 122 are supported. The example comprised from the base material 123 and the gas barrier film 121 which covers the exposed surface of the base material 123 is shown. The conductor circuit 122 may be embedded in the base material 123 so as to expose one surface, or may protrude from the surface of the base material 123 in contact with the base material 123 and one surface. In other words, the substrate to be connected 120 can be obtained by removing the metal layer 101 from the circuit board 110 shown in FIG. Alternatively, as shown in FIG. 2A, a substrate in which the conductor circuit 102 is formed on the metal layer 101 can be used as the connected substrate 120. In this case, since no gas is generated from the metal layer 101 and the conductor circuit 102, a gas barrier film is not particularly necessary. The material of the base material 123 may be the same material as that of the insulating layer 103 constituting the wiring board 110.
[0014]
The conductor post 105 of the wiring board 110 may have any configuration as long as it can obtain an interlayer connection. However, as shown in FIG. 1, the portion that penetrates the insulating layer 103 and the protruding tip surface are covered. It is preferable that it is made of a solder layer, or the conductor post 105 itself is made of solder or conductive paste. By doing so, at least the tip portion of the conductor post 105 and the opposing conductor circuit can be electrically and mechanically connected.
[0015]
Examples of the material of the conductor post 105 include Cu, Ni, Au, Sn, Ag, Pd, and the like. In particular, by using copper, a stable conductor post 105 with low resistance can be obtained. The material of the solder covering the tip surface may be any metal as long as it can be metal-bonded to the opposing conductor circuit, but Sn, In, or Sn, Ag, Cu, Zn, Bi, Pd, Sb, It is preferable to use solder composed of at least two of Pb, In, and Au. More preferably, it is an environmentally friendly Pb-free solder.
[0016]
Examples of the conductive paste include Cu, Ni, Au, Sn, Ag, and Pd dispersed in a resin, Sn and In, or Sn, Ag, Cu, Zn, Bi, Pd, Sb, Pb, and In. And a solder in which at least two kinds of Au are dispersed in a resin.
[0017]
As a method for forming the conductor post 105, any method may be used. Examples thereof include a method of filling a via hole formed in the insulating layer 103 with a metal by plating and a method of filling a conductive paste. When the conductor post 105 is formed by electrolytic plating, the tip shape of the conductor post 105 can be freely controlled from a flat shape to a convex shape by selecting a plating current density and an additive to the plating bath. Can do.
[0018]
As the insulating layer 103, a thermosetting resin or a thermoplastic resin can be used. Examples of the thermosetting resin include resins such as epoxy, phenol, bismaleimide, bismaleimide / triazine, triazole, cyanate, isocyanate, and benzocyclobutene. Thermoplastic resins include polyamide, polyimide, polyamideimide, polyetherimide, polyesterimide, polyetheretherketone, polyphenylene sulfide, polyethersulfone, polyquinoline, polynorbornene, polybenzoxazole, polybenzimidazole, polytetrafluoro Examples thereof include resins such as ethylene and liquid crystal polymer. These may be used singly or in combination, and inorganic fillers such as silica filler, leveling agents, coupling agents, antifoaming agents, curing catalysts and the like may be added. Alternatively, a material obtained by impregnating a resin into a reinforcing fiber such as a glass cloth or an aramid nonwoven fabric typified by a glass epoxy base material and curing or semi-curing can be used as the insulating layer 103.
[0019]
Subsequently, the wiring board 110, the adhesive layer 130, and the substrate to be connected 120 are brought into close contact with each other, and are heated and bonded together to obtain the multilayer wiring board 100 (FIG. 1B). The heating temperature may be determined in accordance with the adhesive constituting the adhesive layer 130 and the characteristics of the wiring board 110 and the connected substrate 120, but the conductor circuit facing the conductor post 105 is electrically and mechanically connected. Above the temperature at which it can be performed is preferred. Moreover, it is preferable to add a pressurization process as needed. As a method of heating and pressurizing, for example, using a vacuum press, the conductor post 105 excludes the adhesive layer 130 and heats and pressurizes until the opposing conductor circuit and the conductor post 105 are soldered. There is a method in which the adhesive layer 130 is cured and the wiring board 110 and the connected substrate 120 are bonded. In addition, when using solder, it is preferable that the maximum heating temperature is more than melting | fusing point of solder.
[0020]
In the example shown in FIG. 1, an example in which the wiring board 110 for three layers and the connected substrate 120 are bonded together with the adhesive layer 130 is shown, but the wiring board 110 for one layer and the connected substrate 120 are connected. A multilayer wiring board may be obtained by so-called sequential lamination, in which the process of adhering with the adhesive layer 130 and further adhering another wiring board 110 thereon with the adhesive layer 130 is repeated.
[0021]
In the example shown in FIG. 1, an example in which the adhesive layer 130 is used as a self-supporting adhesive film is shown. However, if it is difficult to make a self-supporting film, the wiring board 110 or the connected object is used. It may be formed directly on the surface of the substrate 120.
[0022]
In the conventional embodiment (see FIG. 3), when heating, the wiring board 310 (310a, 310b, 310c) and the substrate to be connected 320, in particular, moisture due to moisture absorption contained in the organic matter constituting them, thermosetting In some cases, an uncured component of the resin, a decomposition component due to heating of the resin, or the like diffuses into the adhesive layer 330 (330a, 330b, 330c) that is in a fluidized state or a softened state and becomes a void 350. However, in the embodiment of the present invention (see FIG. 1), the gas barrier films 111 and 112 suppress the diffusion of void generating components contained in the wiring board 110 and the connected substrate 120 into the adhesive layer 130. , No voids are generated.
[0023]
The gas barrier films 111 and 112 are preferably made of an inorganic material that has a high effect of suppressing the diffusion of void components into the adhesive layer 130. Examples of the material for the gas barrier film include inorganic substances such as silicon oxide, boron oxide, phosphorus oxide, sodium oxide, potassium oxide, lead oxide, titanium oxide, magnesium oxide, and barium oxide. The gas barrier films 111 and 112 can be formed by CVD (chemical vapor deposition) such as plasma CVD, thermal CVD, and photo CVD, or PVD (physical vapor phase) such as vacuum deposition, sputtering, and ion plating. In addition to a dry process such as a growth method), a wet process such as a spray, thermal spray method, wet-on-wet method, liquid phase precipitation method, or sol-gel method may be used.
[0024]
When it is necessary to selectively form the gas barrier films 111 and 112 on the wiring board 110 and the connected substrate 120, that is, after obtaining the wiring board and the connected substrate that do not have the gas barrier films 111 and 112, When it is necessary to form the gas barrier films 111 and 112 on the exposed front and back surfaces of the insulating layer and the exposed surface of the base material, (1) a gas barrier film is formed on the entire surface, and the unnecessary gas barrier film is removed by a laser. (2) A method in which a gas barrier film is formed on the entire surface, a photosensitive resist is formed thereon, an unnecessary portion of the gas barrier film is removed by etching or the like, and finally the photosensitive resist is removed. 3) A method of removing a photosensitive resist after forming a thin-film photosensitive resist and forming a gas barrier film on the entire surface, (4) mechanical mass Through, by forming a gas barrier film, in advance, only the necessary portions, or the like may be used a method of forming a gas barrier film.
[0025]
In the present invention, as the resin used for the adhesive layer 130, a resin having good heat resistance and insulation, such as epoxy, phenol, polyimide, polyamideimide, or the like can be used. Further, the adhesive layer is preferably an adhesive having a surface cleaning function and high insulation reliability (hereinafter referred to as a metal bonding adhesive). Examples of the surface cleaning function include a function of removing an oxide film present on the surface of the solder and the surface of the conductor circuit, and a function of reducing the oxide film. With this surface cleaning function, the wettability with the surface for connecting with the solder is sufficiently enhanced, and the metal bonding adhesive in the metal bonded portion is eliminated by the force of wet spreading of the solder, and the metal bonding adhesive is used. Residual resin hardly occurs in metal bonding, and the electrical connection reliability is high.
[0026]
As the metal bonding adhesive, an adhesive having an essential component of a resin (A) having at least one phenolic hydroxyl group and a resin (B) acting as a curing agent thereof, an epoxy resin (C), An adhesive having an imidazole ring and a compound (D) that acts as a curing agent for the epoxy resin (C) as an essential component is preferable.
[0027]
In the first preferred metal bonding adhesive, the phenolic hydroxyl group of the resin (A) having a phenolic hydroxyl group can be used to remove dirt such as oxide on the solder and metal surface or to be oxidized by the surface cleaning function. It acts as a flux for metal bonding. Furthermore, since a good cured product can be obtained by the resin (B) that acts as the curing agent, it is not necessary to wash and remove after metal bonding, and maintains electrical insulation even in high temperature and high humidity atmospheres. Enables highly reliable metal bonding.
[0028]
As the resin (A) having at least one or more phenolic hydroxyl groups used for the first preferred metal bonding adhesive in the present invention, a phenol novolak resin, an alkylphenol novolak resin, a resole resin, a cresol novolak resin, and a polyvinyl phenol resin are used. It is preferable to select from 1 or more types of these.
[0029]
Moreover, as resin (B) which acts as a hardening | curing agent, an epoxy resin, an isocyanate resin, etc. are used. Specifically, all are based on phenol-based ones such as bisphenol, phenol novolac, alkylphenol novolac, biphenol, naphthol and resorcinol, and skeletons such as aliphatic, cycloaliphatic and unsaturated aliphatic And modified epoxy compounds and isocyanate compounds.
[0030]
The resin (A) having a phenolic hydroxyl group is preferably contained in the adhesive at 20 wt% or more and 80 wt% or less from the viewpoint of bonding strength and reliability. A more preferable upper limit value is 60 wt%. On the other hand, the resin (B) acting as a curing agent is preferably contained in the adhesive at 20 wt% or more and 80 wt% or less. Moreover, you may add a coloring agent, a curing catalyst, an inorganic filler, various coupling agents, a solvent, etc. to resin used for a metal bonding adhesive.
[0031]
In the second preferred metal bonding adhesive, the imidazole ring of the compound (D) can be used to remove dirt such as oxides on the solder and the metal surface by a surface cleaning function caused by unpaired electrons of the tertiary amine, or It reduces the oxide film and acts as a flux for metal bonding. Furthermore, since the imidazole ring also acts as a curing agent for anionic polymerization of the epoxy resin (C), a good cured product can be obtained, and it is not necessary to wash and remove after solder bonding, even in a high temperature and high humidity atmosphere. Maintains electrical insulation and enables metal bonding with high bonding strength and reliability.
[0032]
Examples of the compound (D) having an imidazole ring and acting as a curing agent for the epoxy resin (C) include imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, and 1-benzyl-2. -Methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, bis (2-ethyl-4-methyl-imidazole), 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2-phenyl- Examples include 4,5-dihydroxymethylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, or triazine addition type imidazole. Moreover, what made these epoxy adducts and what made microcapsules can also be used. These may be used alone or in combination of two or more.
[0033]
The epoxy resin (C) used in combination with the compound (D) includes phenol-based epoxy resins such as bisphenol, phenol novolac, alkylphenol novolac, biphenol, naphthol and resorcinol, and aliphatic. And epoxy compounds modified based on a skeleton such as cycloaliphatic or unsaturated aliphatic.
[0034]
As a compounding quantity of an epoxy resin (C), 30-99 wt% of the whole metal joining adhesive agent is preferable. If it is less than 30 wt%, a sufficient cured product may not be obtained. The compounding amount of the compound (D) is preferably 1 wt% or more and 10 wt% or less from the strength and reliability of metal bonding. A more preferable upper limit value is 5 wt%. Components other than the epoxy resin (C) and the compound (D) acting as a curing agent thereof include resins used for metal bonding adhesives, and thermosetting resins such as cyanate resins, acrylic resins, methacrylic resins, and maleimide resins. Or a thermoplastic resin. Moreover, you may add a coloring agent, a curing catalyst, an inorganic filler, various coupling agents, a solvent, etc. to resin used for a metal bonding adhesive.
[0035]
The method for preparing the metal bonding adhesive is, for example, a method in which a resin (A) having a solid phenolic hydroxyl group and a resin (B) acting as a solid curing agent are dissolved in a solvent, and a solid phenolic hydroxyl group is prepared. A method of preparing a resin (A) having a liquid phenolic hydroxyl group by dissolving it in a resin (B) acting as a liquid curing agent, and dissolving a resin (B) acting as a solid curing agent in a resin (A) having a liquid phenolic hydroxyl group A method in which the compound (D) having an imidazole ring and acting as a curing agent for the epoxy resin (C) is dispersed or dissolved in a solution obtained by dissolving the solid epoxy resin (C) in a solvent, And a method of dispersing or dissolving the compound (D) having an imidazole ring in the epoxy resin (C) and acting as a curing agent for the epoxy resin (C).
[0036]
Solvents used for metal bonding adhesives include acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, toluene, mesitylene, xylene, hexane, isobutanol, n-butanol, 1-methoxy, 2-propanol acetate, butyl cellosolve, ethyl Cellosolve, methyl cellosolve, cellosolve acetate, ethyl lactate, ethyl acetate, dimethyl phthalate, diethyl phthalate, dibutyl phthalate, diethylene glycol, benzoic acid-n-butyl, N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide, Tetrahydrofuran, γ-butyllactone, anisole and the like can be mentioned. A solvent having a boiling point of 200 ° C. or lower is preferable.
[0037]
FIG. 2 is a diagram for explaining an example of a method for manufacturing a wiring board used in the method for manufacturing a multilayer wiring board according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 (g) shows the structure of the obtained wiring board. It is sectional drawing.
[0038]
First, a patterned conductor circuit 102 is formed on the metal layer 101 (FIG. 2A). The material of the metal layer 101 may be any material as long as it is suitable for this manufacturing method. In particular, the metal layer 101 is resistant to the chemical solution used, and is finally etched or peeled off. It is preferably removable. Examples of the material of the metal layer 101 include copper, a copper alloy, a 42 alloy, and nickel. In particular, the copper foil, the copper plate, and the copper alloy plate are preferable for use as the metal layer 101 because not only electrolytic plated products and rolled products can be selected, but also various thicknesses can be easily obtained.
[0039]
The material of the conductor circuit 102 may be any material as long as it is suitable for this manufacturing method, and examples thereof include copper, nickel, gold, tin, silver, and palladium. In particular, by using copper as the material of the conductor circuit 102, a stable conductor circuit 102 with low resistance can be obtained. As a method for forming the conductor circuit 102, a method of forming by electroplating using the metal layer 101 as an electrode, a method of forming by electroless plating, a method of etching a conductive layer (not shown) formed on the metal layer 101, conductive And a method of printing an adhesive paste. In the case of a method using electrolytic plating or electroless plating, a conductive circuit 102 can be obtained by forming a patterned plating resist (not shown), performing electrolysis / electroless plating, and peeling the plating resist. In the case of the etching method, a conductive layer can be formed on the metal layer 101 by sputtering or plating, and the conductor circuit 102 can be obtained by a general etching process.
[0040]
Next, the gas barrier film 111 is formed on the surface of the metal layer 101 where the conductor circuit 102 is formed (FIG. 2B). The material and forming method of the gas barrier film 111 are the same as described above.
[0041]
Next, the insulating layer 103 is formed on the gas barrier film 111 (FIG. 2C). The insulating layer 103 may be formed by a method suitable for the resin to be used, such as direct application of a resin varnish by printing, curtain coating, bar coating or the like, or vacuum laminating, vacuum pressing, etc. of a dry film type resin. The method of laminating by this method is mentioned. Note that the material of the insulating layer 103 is the same as described above.
[0042]
Next, a gas barrier film 112 is formed on the exposed surface of the insulating layer 103 (FIG. 2D). The material and formation method of the gas barrier film 112 are the same as described above.
[0043]
Next, a via hole 104 is formed in the insulating layer 103 (FIG. 2E). The via hole 104 may be formed by any method as long as it is suitable for this manufacturing method, and examples thereof include laser, plasma dry etching, and chemical etching. Further, when the insulating layer 103 is made of a photosensitive resin, the via hole 104 can be formed by selectively exposing and developing the insulating layer 103. The opening by laser is advantageous because the fine via hole 104 can be easily formed regardless of whether the insulating layer 103 is photosensitive or non-photosensitive. As the laser, an excimer laser, a UV laser, a carbon dioxide gas laser, or the like can be used. Moreover, you may perform a desmear process as needed.
[0044]
Next, a conductor post 105 is formed by filling the via hole 104 with a conductor (FIG. 2F). The material and forming method of the conductor post 105 are the same as described above.
[0045]
Finally, the metal layer 101 is removed to obtain the wiring board 110 used in the method for manufacturing a multilayer wiring board of the present invention (FIG. 2 (g)). Examples of the method for removing the metal layer 101 include etching and peeling. In the case of removing by etching, a chemical solution that can etch only the metal layer 101 without etching the conductor circuit 102 may be used. When the material of the metal layer 101 and the conductor circuit 102 is the same, a barrier metal layer (not shown) that is resistant to a chemical solution for etching the metal layer 101 is formed between the metal layer 101 and the conductor circuit 102. Thus, the conductor circuit 102 can be prevented from being etched. In the case of removing by peeling, it is preferable to perform release treatment or the like on the surface of the metal layer 101 in advance so that the metal layer 101 can be peeled at the interface between the conductor circuit 102 and the insulating layer 103.
[0046]
The wiring board 110 obtained in this way has a conductor circuit 102 embedded in the insulating layer 103 so as to expose one surface, and reaches the conductor circuit 102 through the insulating layer 103 and protrudes from the insulating layer 103. And the gas barrier films 111 and 112 formed on at least the front and back exposed surfaces of the insulating layer 103, and can be used in the method for manufacturing a multilayer wiring board of the present invention.
[0047]
【The invention's effect】
According to the present invention, in a multilayer wiring board in which a plurality of wiring boards are bonded with an adhesive layer, the gas barrier film formed on the exposed front and back surfaces of the insulating layer even when the adhesive layer is in a fluidized state or a softened state when heated. Due to the effect, no void is generated in the adhesive layer. In addition, in a multilayer wiring board in which a wiring board having an insulating layer, a conductor circuit, and a conductor post is bonded with an adhesive, and the conductor post and an adjacent layer of the conductor circuit are connected, even when heated to a temperature higher than the melting point of solder, Voids are not generated in the adhesive layer due to the effect of the gas barrier film.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view for explaining an example of a method for producing a multilayer wiring board according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view for explaining an example of a method for producing a wiring board used for a multilayer wiring board according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a cross-sectional view for explaining an example of a method for manufacturing a multilayer wiring board according to a conventional embodiment.
[Explanation of symbols]
100: multilayer wiring board
101: Metal layer
102: Conductor circuit
103: Insulating layer
104: Via hole
105, 105c: Conductor post
110, 110a, 110b, 110c: wiring board
111, 112: gas barrier film
120: Substrate to be connected
121: Gas barrier film
122: Conductor circuit
123: Base material
130a, 130b, 130c: adhesive layer
300: Multilayer wiring board
310a, 310b, 310c: wiring board
320: Substrate to be connected
330a, 330b, 330c: Adhesive layer
350: Void

Claims (5)

一方の面を露出するように絶縁層に埋め込まれた導体回路と、前記導体回路上に前記絶縁層を貫通し突出してなる導体ポストと、少なくとも前記絶縁層の表裏露出面に形成されたガスバリア膜からなる配線板を、加熱接着する際の最高温度において流動状態または軟化状態となる接着剤層を介して、複数枚積層して、前記導体ポストにより層間接続することを特徴とする多層配線板の製造方法。A conductor circuit embedded in an insulating layer so as to expose one surface; a conductor post extending through the insulating layer on the conductor circuit; and a gas barrier film formed on at least the front and back exposed surfaces of the insulating layer A multilayer wiring board, wherein a plurality of wiring boards are laminated through an adhesive layer that is in a fluidized state or a softened state at a maximum temperature when heat-bonding, and interlayer connection is made by the conductor posts. Production method. 前記ガスバリア膜が、無機物により形成される請求項1記載の多層配線板の製造方法。The method for manufacturing a multilayer wiring board according to claim 1, wherein the gas barrier film is formed of an inorganic substance. 前記導体ポストの少なくとも絶縁層から突出する表面先端に半田層を形成する請求項1または請求項2に記載の多層配線板の製造方法。The method for manufacturing a multilayer wiring board according to claim 1, wherein a solder layer is formed at least on a front end of the conductor post protruding from the insulating layer. 前記接着剤層が、表面清浄化機能を有する接着剤からなる請求項1〜3のいずれかに記載の多層配線板の製造方法。The method for manufacturing a multilayer wiring board according to claim 1, wherein the adhesive layer is made of an adhesive having a surface cleaning function. 前記配線板が、金属層上に導体回路を形成する工程と、前記金属層および前記導体回路を覆うようにガスバリア膜を形成する工程と、前記ガスバリア膜上に絶縁層を形成する工程と、前記導体回路の一部が露出するように前記絶縁層にビアホールを形成する工程と、前記ビアホール内に導体ポストを形成する工程と、前記金属層を除去する工程により得られる請求項1〜4のいずれかに記載の多層配線板の製造方法。The wiring board forming a conductor circuit on the metal layer; forming a gas barrier film so as to cover the metal layer and the conductor circuit; forming an insulating layer on the gas barrier film; 5. The method according to claim 1, which is obtained by a step of forming a via hole in the insulating layer so that a part of the conductor circuit is exposed, a step of forming a conductor post in the via hole, and a step of removing the metal layer. A method for producing a multilayer wiring board according to claim 1.
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