JP2003282379A - チップ部品選別方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 チップ部品供給装置用として最適なチップ部
品を選別するための方法を提供する。 【解決手段】 四角柱形状のチップコンデンサＣＣを基
準横断面形状が矩形の搬送通路１１ａに沿って整列状態
で移動させ、チップコンデンサＣＣが搬送通路１１ａ中
に設定された第１検査位置ＩＰ１を通過するときにチッ
プコンデンサＣＣの一端側の一方の端面対角線寸法Ｄａ
と他端側の一方の端面対角線寸法Ｄａを測定し、チップ
コンデンサＣＣが搬送通路１１ａ中に設定された第２検
査位置ＩＰ２を通過するときにチップコンデンサＣＣの
一端側の他方の端面対角線寸法Ｄｂと他端側の他方の端
面対角線寸法Ｄｂを測定し、測定された４つの端面対角
線寸法Ｄａ，Ｄｂの少なくとも１つが予め規定した寸法
範囲から外れるときにこれを不適正部品として搬送通路
１１ａから排除する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、チップ部品供給装
置用として最適なチップ部品を選別するための方法及び
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】チップ部品供給装置の１種として近年着
目されているバルクフィーダは、チップ部品をバルク状
態で貯蔵するための貯蔵室と、貯蔵室内のチップ部品を
整列するための整列手段と、チップ部品を整列状態で搬
送するための通路と、通路内のチップ部品を搬送するた
めの搬送手段とを備えており、貯蔵室内のチップ部品を
整列した後に同チップ部品を整列状態のまま通路に沿っ
て所定の取出位置まで搬送することができる。このバル
クフィーダは、四角柱形状や円柱形状を成すチップ部
品、例えばチップコンデンサやチップ抵抗器やチップイ
ンダクタやＬＣフィルターやコンデンサアレイ等をその
供給対象とすることが可能である。

【０００３】図１（Ａ）に示したチップ部品は、四角柱
形状を成すチップ部品の代表例であるところのチップコ
ンデンサＣＣであり、このチップコンデンサＣＣは長さ
寸法Ｌ＞幅寸法Ｗ＝厚さ寸法Ｔの基本的寸法関係を有し
ていて、長さ方向両端部に外部電極ＣＣａを備えてい
る。ちなみに、１００５サイズのチップコンデンサＣＣ
は基本となる長さ寸法Ｌが１．０mm，幅寸法Ｗが０．５
mm，厚さ寸法Ｔが０．５mmで各々にプラスマイナスの公
差を有し、また、０６０３サイズのチップコンデンサＣ
Ｃは基本となる長さ寸法Ｌが０．６mm，幅寸法Ｗが０．
３mm，厚さ寸法Ｔが０．３mmで各々にプラスマイナスの
公差を有する。

【０００４】また、前記のチップコンデンサＣＣは、各
外部電極ＣＣａの端面に、前記の幅寸法Ｗ及び厚さ寸法
Ｔによって概ね規定される所定の対角線寸法（端面対角
線寸法）Ｄを有している（図１（Ａ）及び（Ｂ）参
照）。しかし、この端面対角線寸法Ｄは、幅寸法Ｗ及び
厚さ寸法Ｔによって一義的に定まるものではなく、各外
部電極ＣＣａの稜線及び角に設けられた丸みＲとの関係
においてばらつきを生じる。

【０００５】具体的には、図２（Ａ）に示したチップコ
ンデンサＣＣのように外部電極ＣＣａの丸みＲの度合が
図１（Ｂ）の丸みＲよりも大きい場合には、その端面対
角線寸法Ｄ１は基本となる端面対角線寸法Ｄよりもかな
り小さくなる。また、図２（Ｂ）に示したチップコンデ
ンサＣＣのように外部電極ＣＣａの丸みＲの度合が図１
（Ｂ）の丸みＲよりも小さい場合には、その端面対角線
寸法Ｄ２は基本となる端面対角線寸法Ｄよりもかなり大
きくなる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のチッ
プコンデンサＣＣは一連の製造工程の最後に実施される
外観検査工程においてその長さ寸法Ｌ，幅寸法Ｗ及び厚
さ寸法Ｔを検査され、何れかの寸法が公差範囲外のもの
は不良品として除かれるため、長さ寸法Ｌ，幅寸法Ｗ及
び厚さ寸法Ｔの全てが公差範囲内にある良品のみが製品
として取り扱われることになる。

【０００７】前記のバルクフィーダによって前記のチッ
プコンデンサＣＣの供給を行う場合にその貯蔵室に投入
されるチップコンデンサＣＣは当然ながら前記のような
良品であるため、部品供給上で特段問題を生じ得ないと
考えられるが、実際には前記の端面対角線寸法Ｄのばら
つきを原因として以下のような問題を生じている。

【０００８】前記のチップコンデンサＣＣを取り扱うバ
ルクフィーダは、図３（Ａ）に示すように、チップコン
デンサＣＣの幅寸法Ｗ及び厚さ寸法Ｔよりも僅かに大き
な縦・横寸法を有する矩形断面の通路ＰＡ１を備えてい
て、チップコンデンサＣＣは長さ向きに整列した状態で
この通路ＰＡ１を通過する。

【０００９】しかし、多数のチップコンデンサＣＣの中
にあって外部電極ＣＣａの丸みＲの度合が大きなチップ
コンデンサＣＣ（図２（Ａ）参照）は、その端面対角線
寸法Ｄ１が基本となる端面対角線寸法Ｄよりもかなり小
さいことから、その通過過程で図３（Ａ）に示すように
回転してその姿勢に乱れを生じる。特に、通路ＰＡ１が
水平で取出位置に至る場合には、前記のチップコンデン
サＣＣは姿勢が乱れたままの状態で取出位置まで搬送さ
れて吸着ノズル等による部品取り出しに不良を生じてし
まう。

【００１０】また、前記のチップコンデンサＣＣを取り
扱うバルクフィーダの中には、図３（Ｂ）に示すよう
に、基本となる端面対角線寸法Ｄよりも僅かに大きな内
径寸法を有する円形断面の通路ＰＡ２を備えるものもあ
り、チックコンデンサＣＣはこの通路ＰＡ２を長さ向き
で通過する。

【００１１】しかし、多数のチップコンデンサＣＣの中
にあって外部電極ＣＣａの丸みＲの度合が小さなチップ
コンデンサＣＣ（図２（Ｂ）参照）は、その端面対角線
寸法Ｄ２が基本となる端面対角線寸法Ｄよりもかなり大
きいことから、その通過過程で図３（Ｂ）に示すように
通路ＰＡ２の内壁にきつく接触して詰まりを生じる。

【００１２】先に述べたチップコンデンサＣＣの姿勢乱
れや詰まりの問題は、前記バルクフィーダにおいてのみ
生じるものではなく、チップコンデンサＣＣを搬送する
ための通路を有するバルクフーダ以外のチップ部品供給
装置でも同様に生じ得るし、また、チップコンデンサＣ
Ｃ以外の四角柱形状のチップ部品を供給対象とする場合
にも同様に生じ得る。

【００１３】本発明は前記事情に鑑みて創作されたもの
で、その目的とするところは、端面対角線寸法のばらつ
きを原因とした諸問題を解消できるように、チップ部品
供給装置用として最適なチップ部品を選別するための方
法及び装置を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係るチップ部品選別方法は、四角柱形状の
チップ部品を基準横断面形状が矩形の搬送通路に沿って
整列状態で移動させ、チップ部品が搬送通路中に設定さ
れた第１測定位置を通過するときにチップ部品の一端側
の一方の端面対角線寸法と他端側の一方の端面対角線寸
法を測定し、チップ部品が搬送通路中に設定された第２
測定位置を通過するときにチップ部品の一端側の他方の
端面対角線寸法と他端側の他方の端面対角線寸法を測定
し、測定された４つの端面対角線寸法の少なくとも１つ
が予め規定した寸法範囲から外れるときにこれを不適正
部品として搬送通路から排除する、ことをその主たる特
徴とする。

【００１５】このチップ部品選別方法によれば、良品扱
いのチップ部品からチップ部品供給装置用として最適な
端面対角線寸法を有するチップ部品を選別することがで
きる。従って、チップ部品供給装置によって選別後のチ
ップ部品を供給してもチップ部品が通路に沿って搬送さ
れるときに姿勢乱れや詰まり等の問題を生じることがな
く、端面対角線寸法のばらつきを原因とした諸問題を解
消してチップ部品供給装置によるチップ部品の供給を極
めて良好に行うことができる。

【００１６】一方、本発明に係るチップ部品選別装置
は、四角柱形状のチップ部品を整列状態で移動させるた
めの基準横断面形状が矩形の搬送通路と、チップ部品が
搬送通路中に設定された第１測定位置を通過するときに
チップ部品の一端側の一方の端面対角線寸法と他端側の
一方の端面対角線寸法を測定する第１寸法測定手段と、
チップ部品が搬送通路中に設定された第２測定位置を通
過するときにチップ部品の一端側の他方の端面対角線寸
法と他端側の他方の端面対角線寸法を測定する第２寸法
測定手段と、測定された４つの端面対角線寸法の少なく
とも１つが予め規定した寸法範囲から外れるときにこれ
を不適正部品として搬送通路から排除するＮＧ部品排除
手段とを備える、ことをその主たる特徴とする。

【００１７】このチップ部品選別装置によれば、前記の
方法を的確且つ安定に実施して同様の作用効果を得るこ
とができる。

【００１８】本発明の前記目的とそれ以外の目的と、構
成特徴と、作用効果は、以下の説明と添付図面によって
明らかとなる。

【００１９】

【発明の実施の形態】図４〜図８は本発明の第１実施形
態を示す。図４は部品搬送部材の上面図、図５は図４の
ａ１−ａ１線断面図とａ２−ａ２線断面図とａ３−ａ３
線断面図とａ４−ａ４線断面図とａ５−ａ５線断面図、
図６は図４のａ６−ａ６線断面図とａ７−ａ７線断面図
とａ８−ａ８線断面図とａ９−ａ９線断面図、図７は寸
法測定手段の構成図、図８は部品選別方法の説明図であ
る。

【００２０】また、図４〜図８における符号ＣＣはチッ
プコンデンサ、１１は部品搬送部材、１２は第１検出
器、１３は第２検出器、１４は測定器である。ちなみ
に、チップコンデンサＣＣは図１（Ａ）及び（Ｂ）に示
したチップコンデンサＣＣと同じものであり、長さ寸法
Ｌ＞幅寸法Ｗ＝厚さ寸法Ｔの基本的寸法関係を有してい
る。

【００２１】部品搬送部材１１は、図５（Ａ）に示すよ
うな基準横断面形状が矩形を成す搬送通路１１ａを有し
ている。この基準横断面形状における底面１１ａ１の幅
寸法はチップコンデンサＣＣの幅寸法Ｗまたは厚さ寸法
Ｔよりも僅かに大きく、且つ、内側面１１ａ２の高さ寸
法はチップコンデンサＣＣの幅寸法Ｗまたは厚さ寸法Ｔ
よりも僅かに大きい。この部品搬送部材１１は、図示省
略の振動源からの振動付与によって、チップコンデンサ
ＣＣを長さ向きに整列した状態で図４において右方向に
移動させることができる。勿論、底面１１ａ１をベルト
等の可動部材から構成しておき、この可動部材を移動さ
せることでチップコンデンサＣＣの移動を行うようにし
ても構わない。

【００２２】また、搬送通路１１ａは、チップコンデン
サＣＣをその中心線を軸として所定方向に４５度回転さ
せて復帰させるための第１姿勢変更区域（図４の上側部
分）ＣＡ１と、同チップコンデンサＣＣをその中心線を
軸として逆方向に４５度回転させて復帰させるための第
２姿勢変更区域（図４の下側部分）ＣＡ２を備えてい
る。

【００２３】第１姿勢変更区域ＣＡ１は、図５（Ｂ）〜
図５（Ｅ）に示すように、底面１１ａ１及び一方の内側
面１１ａ２が反時計回り方向に徐々に傾いて４５度傾斜
状態となり、同状態から逆方向に徐々に傾いて元の状態
に戻る形状を有している。つまり、第１姿勢変更区域Ｃ
Ａ１を通過するチップコンデンサＣＣはその中心線を軸
として反時計回り方向に４５度回転し、一方の端面対角
線寸法Ｄａが垂直向きとなる姿勢に変更される。

【００２４】また、第１姿勢変更区域ＣＡ１の中央、即
ち、チップコンデンサＣＣが４５度回転した後の位置は
第１測定位置ＩＰ１として設定されており、この第１測
定位置ＩＰ１の上面には、チップコンデンサＣＣを露出
量を拡大するための切り欠き１１ｂが設けられている。
また、第１測定位置ＩＰ１の下面には、底面１１ａ１と
一方の内側面１１ａ２との境界部分を通じて搬送通路１
１ａに至る検出孔１１ｃが設けられている。

【００２５】第２姿勢変更区域ＣＡ２は、図６（Ａ）〜
図６（Ｄ）に示すように、底面１１ａ１及び他方の内側
面１１ａ２が時計回り方向に徐々に傾いて４５度傾斜状
態となり、同状態から逆方向に徐々に傾いて元の状態に
戻る形状を有している。つまり、第２姿勢変更区域ＣＡ
２を通過するチップコンデンサＣＣはその中心線を軸と
して時計回り方向に４５度回転し、他方の端面対角線寸
法Ｄｂが垂直向きとなる姿勢に変更される。

【００２６】また、第２姿勢変更区域ＣＡ２の中央、即
ち、チップコンデンサＣＣが４５度回転した後の位置は
第２測定位置ＩＰ２として設定されており、この第２測
定位置ＩＰ２の上面には、チップコンデンサＣＣを露出
量を拡大するための切り欠き１１ｂが設けられている。
また、第２測定位置ＩＰ２の下面には、底面１１ａ１と
他方の内側面１１ａ２との境界部分を通じて搬送通路１
１ａに至る検出孔１１ｃが設けられている。

【００２７】第１検出器１２は公知の電気式マイクロメ
ータから成り、差動トランス１２ａと、差動トランス１
２ａの内側に移動可能に挿入されたコア１２ｂと、コア
１２ｂに連結された検出ロッド１２ｃと、検出ロッド１
２ｃを付勢するスプリング１２ｄと、検出ロッド１２ｄ
に取り付けられたローラー支持部材１２ｅと、ローラー
支持部材１２ｅに回転自在に設けられた検出ローラー１
２ｆとを備え、ブラケット１２ｇによって支持されてい
る。この第１検出器１２は、図７及び図８に示すよう
に、第１測定位置ＩＰ１の上側と第２測定位置ＩＰ２の
上側のそれぞれに、各々の検出ローラー１２ｆが４５度
回転後のチップコンデンサＣＣにおける外部電極ＣＣａ
の上側の稜線及び角に接触するように配置されている。

【００２８】第２検出器１３は第１検出器１２と同じ電
気式マイクロメータから成り、差動トランス１３ａと、
差動トランス１３ａの内側に移動可能に挿入されたコア
１３ｂと、コア１３ｂに連結された検出ロッド１３ｃ
と、検出ロッド１３ｃを付勢するスプリング１３ｄと、
検出ロッド１３ｄに取り付けられたローラー支持部材１
３ｅと、ローラー支持部材１３ｅに回転自在に設けられ
た検出ローラー１３ｆとを備え、ブラケット１３ｇによ
って支持されている。この第２検出器１３は、図７及び
図８に示すように、第１測定位置ＩＰ１の下側と第２測
定位置ＩＰ２の下側のそれぞれに、各々の検出ローラー
１３ｅが検出孔１１ｃを通じて４５度回転後のチップコ
ンデンサＣＣにおける外部電極ＣＣａの下側の稜線及び
角に接触するように配置されている。

【００２９】測定器１４は、第１検出器１２の差動トラ
ンス１２ａからの電気信号に基づいてコア１２ｂの変位
を検出すると共に第２検出器１３の差動トランス１３ａ
からの電気信号に基づいてコア１３ｂの変位を検出し、
検出された各々の変位からチップコンデンサＣＣの一方
の端面対角線寸法Ｄａと他方の端面対角線寸法Ｄｂが演
算により測定し、各々の測定寸法Ｄａ，Ｄｂが予め規定
した寸法範囲から外れるときにＮＧ信号を送出する。こ
のＮＧ信号は後述するＮＧ部品排除の際に利用される。

【００３０】ちなみに、本第１実施形態では、第１測定
位置ＩＰ１に対応して設けられた第１検出器１２及び第
２検出器１３とこれらに接続された測定器１４によって
第１の寸法測定手段が構成され、第２測定位置ＩＰ２に
対応して設けられた第１検出器１２及び第２検出器１３
とこれらに接続された測定器１４によって第２の寸法測
定手段が構成されている。測定器１４は各測定位置に対
応して１個宛用意されていてもよいし、１つの測定器を
共用しても構わない。

【００３１】以下に第１実施形態による部品選別方法、
具体的には、長さ寸法Ｌ，幅寸法Ｗ及び厚さ寸法Ｔの全
てが公差範囲内にある良品扱いのチップコンデンサＣＣ
から、チップ部品供給装置用として最適な端面対角線寸
法を有するチップコンデンサＣＣを選別する方法につい
て説明する。

【００３２】部品選別を行うときには、長さ寸法Ｌ，幅
寸法Ｗ及び厚さ寸法Ｔの全てが公差範囲内にある良品扱
いのチップコンデンサＣＣを、長さ向きに整列した状態
で、部品搬送部材１１の搬送通路１１ａに沿って図４に
おいて右方向に移動させる。

【００３３】チップコンデンサＣＣを整列状態で移動さ
せる方法としては、例えば、振動源に連結された整列用
ボウルに良品扱いのチップコンデンサＣＣを多数個バル
ク状態で投入し、振動源からの振動付与によってボウル
内のチップコンデンサＣＣを長さ向きに整列し、整列後
のチップコンデンサＣＣを部品搬送部材１１の搬送通路
１１ａに送り込んで、振動源からの振動を部品搬送部材
１１に付与してチップコンデンサＣＣを搬送通路１１ａ
に沿って移動させる方法、即ち、公知のボウルフィーダ
とリニアフィーダを組み合わせて用いる方法が挙げられ
る。

【００３４】搬送通路１１ａに沿って整列状態で移動す
るチップコンデンサＣＣは、図５（Ｂ）〜図５（Ｄ）に
示すように第１姿勢変更領域ＣＡ１を通過する過程にお
いてその中心線を軸として反時計回り方向に４５度回転
し、第１測定位置ＩＰ１において図５（Ｅ）に示すよう
に一方の端面対角線が垂直向きとなる姿勢に変更され
る。

【００３５】４５度回転後のチップコンデンサＣＣは自
らの移動に従って、図７及び図８に示すように、まず、
前側の外部電極ＣＣａの端面対角線寸法Ｄａ方向の上側
の稜線及び角を第１検出器１２の検出ローラー１２ｆに
接触し、且つ、下側の稜線及び角を第２検出器１３の検
出ローラー１３ｆに接触する。続いて、後側の外部電極
ＣＣａの端面対角線寸法Ｄａ方向の上側の稜線及び角を
第１検出器１２の検出ローラー１２ｆに接触し、且つ、
下側の稜線及び角を第２検出器１３の検出ローラー１３
ｆに接触する。

【００３６】この接触により、検出ローラー１２ｅが取
り付けられた検出ロッド１２ｄがコア１２ｂと一緒に移
動してこのときのコア１２ｂの変位が測定器１４によっ
て検出されると共に、検出ローラー１３ｅが取り付けら
れた検出ロッド１３ｄがコア１３ｂと一緒に移動してこ
のときのコア１２ｂの変位が測定器１４によって検出さ
れる。すると、測定器１４によって、検出された各々の
変位からチップコンデンサＣＣの前側の外部電極ＣＣａ
と後側の外部電極ＣＣａにおける一方の端面対角線寸法
Ｄａが演算により測定される。尚、前側と後側の測定寸
法Ｄａの何れかが予め規定した寸法範囲から外れるとき
には、測定器１４からＮＧ信号が送出される。

【００３７】第１測定位置ＩＰ１における測定を完了し
た後のチップコンデンサＣＣは、前記とは逆方向に徐々
に傾いて元の状態に戻る。

【００３８】このチップコンデンサＣＣは、図６（Ａ）
〜図６（Ｃ）に示すように第２姿勢変更領域ＣＡ２を通
過する過程においてその中心線を軸として時計回り方向
に４５度回転し、第２測定位置ＩＰ２において図６
（Ｅ）に示すように他方の端面対角線が垂直向きとなる
姿勢に変更される。

【００３９】４５度回転後のチップコンデンサＣＣは自
らの移動に従って、図７及び図８に示すように、まず、
前側の外部電極ＣＣａの端面対角線寸法Ｄｂ方向の上側
の稜線及び角を第１検出器１２の検出ローラー１２ｆに
接触し、且つ、下側の稜線及び角を第２検出器１３の検
出ローラー１３ｆに接触する。続いて、後側の外部電極
ＣＣａの端面対角線寸法Ｄｂ方向の上側の稜線及び角を
第１検出器１２の検出ローラー１２ｆに接触し、且つ、
下側の稜線及び角を第２検出器１３の検出ローラー１３
ｆに接触する。

【００４０】この接触により、検出ローラー１２ｅが取
り付けられた検出ロッド１２ｄがコア１２ｂと一緒に移
動してこのときのコア１２ｂの変位が測定器１４によっ
て検出されると共に、検出ローラー１３ｅが取り付けら
れた検出ロッド１３ｄがコア１３ｂと一緒に移動してこ
のときのコア１２ｂの変位が測定器１４によって検出さ
れる。すると、測定器１４によって、検出された各々の
変位からチップコンデンサＣＣの前側の外部電極ＣＣａ
と後側の外部電極ＣＣａにおける他方の端面対角線寸法
Ｄｂが演算により測定される。尚、前側と後側の測定寸
法Ｄｂの何れかが予め規定した寸法範囲から外れるとき
には、測定器１４からＮＧ信号が送出される。

【００４１】第２測定位置ＩＰ２における測定を完了し
た後のチップコンデンサＣＣは、前記とは逆方向に徐々
に傾いて元の状態に戻る。

【００４２】ところで、良品扱いのチップコンデンサＣ
Ｃの幅寸法Ｗ及び厚さ寸法Ｔは公差を含むことから、各
外部電極ＣＣａの相対する２辺の寸法は必ずしも一致し
ているわけではなく、良品扱いのチップコンデンサＣＣ
の中には図９に示すチップコンデンサＣＣ’のように外
部電極ＣＣａの端面形状が非正方形のものも存在する。
しかし、幅寸法Ｗ及び厚さ寸法Ｔは何れも公差範囲内で
あることから端面形状は正方形に近似した形状になる
し、また、前記の第１測定位置ＩＰ１及び第２測定位置
ＩＰ２では下側の稜線及び角の一方が検出孔１１ｃに入
り込んで検出ローラー１３ｅに接触することになるの
で、外部電極ＣＣａの端面形状が非正方形であっても端
面対角線寸法Ｄａ，Ｄｂを測定する上で特段支障を生じ
ることはない。

【００４３】第１測定位置ＩＰ１における測定の際、ま
たは、第２測定位置ＩＰ２における測定の際に測定器１
４からＮＧ信号が送出されたチップコンデンサＣＣ、即
ち、測定された４つの端面対角線寸法Ｄａ，Ｄｂの少な
くと１つが予め規定した寸法範囲から外れるチップコン
デンサＣＣは、第２測定位置ＩＰ２における測定を完了
した直後に搬送通路１１ａから排除される。

【００４４】このＮＧ部品の排除は、搬送通路１１ａの
内側面１１ａ２に形成した排出孔（図示省略）を閉じる
シャッタを開いて、ＮＧ信号に対応するチップコンデン
サＣＣをエア押圧やピン押圧によって排出孔に送り込む
方法や、ＮＧ信号に対応するチップコンデンサＣＣをア
クチュエータ駆動の吸着ノズル（図示省略）によって取
り出す方法等によって実行される。

【００４５】このように前述の部品選別方法及び装置に
よれば、搬送通路１１ａに沿って整列状態で移動するチ
ップコンデンサＣＣをその中心線を軸として４５度回転
させた状態でチップコンデンサＣＣの一端側の一方の端
面対角線寸法Ｄａと他端側の一方の端面対角線寸法Ｄａ
を第１測定位置ＩＰ１で測定し、また、逆方向に４５度
回転させた状態でチップコンデンサＣＣの一端側の他方
の端面対角線寸法Ｄｂと他端側の他方の端面対角線寸法
Ｄｂを第２測定位置ＩＰ２で測定して、測定された４つ
の端面対角線寸法Ｄａ，Ｄｂの少なくとも１つが予め規
定した寸法範囲から外れるときにこれを不適正部品とし
て搬送通路１１ａから排除することができる。つまり、
長さ寸法Ｌ，幅寸法Ｗ及び厚さ寸法Ｔの全てが公差範囲
内にある良品扱いのチップコンデンサＣＣから、チップ
部品供給装置用として最適な端面対角線寸法を有するチ
ップコンデンサＣＣを選別することができる。

【００４６】従って、従来の技術で説明したバルクフィ
ーダ等のチップ部品供給装置によって選別後のチップコ
ンデンサＣＣを供給しても、チップコンデンサＣＣが矩
形断面の通路ＰＡ１を通過するときに図３（Ａ）に示す
ように回転してその姿勢に乱れを生じることはないし、
また、チップコンデンサＣＣが円形断面の通路ＰＡ２を
通過するときに図３（Ｂ）に示すように通路ＰＡ２の内
壁にきつく接触して詰まりを生じることもない。即ち、
端面対角線寸法のばらつきを原因とした諸問題を解消し
てバルクフィーダ等のチップ部品供給装置によるチップ
コンデンサＣＣの供給を極めて良好に行うことができ
る。

【００４７】尚、前述の部品選別方法及び装置では、チ
ップコンデンサＣＣの外部電極ＣＣａを第１検出器１２
の検出ローラー１２ｆと第２検出器１３の検出ローラー
１３ｆによって挟み込むことで端面対角線寸法Ｄａ及び
Ｄｂを測定するものを示したが、第２検出器１３がなく
とも同様の寸法測定を行うことは十分に可能である。図
１０はその一例を示すもので、寸法測定手段は第２検出
器１３を除く第１検出器１２及び測定器１４によって構
成されている。端面対角線寸法Ｄａ（Ｄｂ）が予め規定
した寸法範囲内にあるときのコア１２ｂの変位範囲を予
め定めておけば、外部電極ＣＣａの端面対角線寸法Ｄａ
（Ｄｂ）方向の上側の稜線及び角が第１検出器１２の検
出ローラー１２ｆに接触したときのコア１２ｂの変位か
ら、端面対角線寸法Ｄａ（Ｄｂ）が適正範囲内にあるか
否かを判断することができる。

【００４８】また、前述の部品選別方法及び装置では、
電気式マイクロメータから成る第１検出器１２及び第２
検出器１３を含むものを寸法測定手段としてを用いたも
のを示したが、この寸法測定手段に代わりに図１１に示
す寸法測定手段を用いることもできる。

【００４９】この寸法測定手段は、発光器１５と受光器
１６と測定器１７とから構成されていて、発光器１５
は、レーザー発振器と、レーザー発振器から出射された
レーザービームが照射されるポリゴンミラーと、ポリゴ
ンミラー用回転源と、ポリゴンミラーで反射されたレー
ザービームを平行に走査させるためのミラー，レンズ等
の光学素子とを備え、受光器１６は受光レンズと受光素
子とを備える。測定器１７は、４５度回転後のチップコ
ンデンサＣＣの上側露出部分をレーザービームＬＢによ
って走査したときに受光素子から得られる電気信号に基
づいて、チップコンデンサＣＣによって走査ビームＬＢ
が遮断される時間等から端面対角線方向の最大厚さ位置
を検出して端面対角線寸法Ｄａ，Ｄｂを演算により測定
し、測定寸法Ｄａ，Ｄｂが予め規定した寸法範囲から外
れるときにＮＧ信号を送出する。端面対角線寸法Ｄａ
（Ｄｂ）が予め規定した寸法範囲にあるときのビーム遮
断時間の範囲を予め定めておけば、チップコンデンサＣ
Ｃの上側露出部分をレーザービームＬＢによって走査し
たときの遮光時間から、端面対角線寸法Ｄａ（Ｄｂ）が
適正範囲内にあるか否かを判断することができる。

【００５０】さらに、前述の部品選別方法及び装置で
は、選別対象としてチップコンデンサＣＣを示したが、
四角柱形状を成すチップ部品、例えばチップ抵抗器やチ
ップインダクタやＬＣフィルターやコンデンサアレイ等
をその選別対象としても前記同様の作用効果を得ること
ができる。

【００５１】図１２〜図１５は本発明の第２実施形態を
示す。図１２は部品搬送部材の上面図、図１３は図１２
のｂ１−ｂ１線断面図とｂ２−ｂ２線断面図とｂ３−ｂ
３線断面図、図１４及び図１５は部品選別方法の説明図
である。

【００５２】また、図１２〜図１５における符号ＣＣは
チップコンデンサ、２１は部品搬送部材、２２は第１検
出器、２３は第２検出器である。ちなみに、チップコン
デンサＣＣは図１（Ａ）及び（Ｂ）に示したチップコン
デンサＣＣと同じものであり、長さ寸法Ｌ＞幅寸法Ｗ＝
厚さ寸法Ｔの基本的寸法関係を有している。

【００５３】部品搬送部材２１は、図１３（Ａ）に示す
ような基準横断面形状が矩形を成す搬送通路２１ａを有
している。この基準横断面形状における底面２１ａ１の
幅寸法はチップコンデンサＣＣの幅寸法Ｗまたは厚さ寸
法Ｔよりも僅かに大きく、且つ、内側面１１ａ２の高さ
寸法はチップコンデンサＣＣの幅寸法Ｗまたは厚さ寸法
Ｔよりも僅かに大きい。この部品搬送部材２１は、図示
省略の振動源からの振動付与によって、チップコンデン
サＣＣを長さ向きに整列した状態で図１２において右方
向に移動させることができる。勿論、底面２１ａ１をベ
ルト等の可動部材から構成しておき、この可動部材を移
動させることでチップコンデンサＣＣの移動を行うよう
にしても構わない。

【００５４】また、搬送通路１１ａは上面開口を部分的
に２箇所覆われていて、図１３（Ａ）及び図１３（Ｂ）
に示すように各閉塞部分には上面２１ａ３が存在する。

【００５５】図１２中の左側に設けられた閉塞部分の中
央は第１測定位置ＩＰ１として設定されており、図１３
（Ｂ）に示すようこの第１測定位置ＩＰ１の右上角部分
には搬送通路２１ａに至る上側検出孔２１ｂが４５度の
傾きをもって設けられており、左下角部分には搬送通路
２１ａに至る下側検出孔２１ｃが４５度の傾きをもって
設けられている。

【００５６】また、図１２中の右側に設けられた閉塞部
分の中央は第２測定位置ＩＰ２として設定されており、
図１３（Ｃ）に示すようこの第２測定位置ＩＰ２の左上
角部分には搬送通路２１ａに至る上側検出孔２１ｂが４
５度の傾きをもって設けられており、右下角部分には搬
送通路２１ａに至る下側検出孔２１ｃが４５度の傾きを
もって設けられている。

【００５７】第１検出器２２は第１実施形態の第１検出
器１２と同じ電気式マイクロメータから成り、検出ロッ
ド２２ａと、検出ロッド２２ａに取り付けられたローラ
ー支持部材２２ｂと、ローラー支持部材２２ｂに回転自
在に設けられた検出ローラー２２ｃと、図示省略の差動
トランス，コア及びスプリングとを備え、図示省略のブ
ラケットによって支持されている。この第１検出器２２
は、図１４及び図１５に示すように、第１測定位置ＩＰ
１の上側と第２測定位置ＩＰ２の上側のそれぞれに、各
々の検出ローラー２２ｃが上側検出孔２１ｂを通じて搬
送通路２１ａ内に突出し、チップコンデンサＣＣにおけ
る外部電極ＣＣａの右上側の稜線及び角に接触するよう
に配置されている。

【００５８】第２検出器２３は第１実施形態の第２検出
器１３と同じ電気式マイクロメータから成り、検出ロッ
ド２３ａと、検出ロッド２３ａに取り付けられたローラ
ー支持部材２３ｂと、ローラー支持部材２３ｂに回転自
在に設けられた検出ローラー２３ｃと、図示省略の差動
トランス，コア及びスプリングとを備え、図示省略のブ
ラケットによって支持されている。この第２検出器２３
は、図１４及び図１５に示すように、第１測定位置ＩＰ
１の下側と第２測定位置ＩＰ２の下側のそれぞれに、各
々の検出ローラー２３ｃが下側検出孔２１ｃを通じてチ
ップコンデンサＣＣにおける外部電極ＣＣａの左下側の
稜線及び角に接触するように配置されている。

【００５９】ちなみに、本第２実施形態では、第１測定
位置ＩＰ１に対応して設けられた第１検出器２２及び第
２検出器２３とこれらに接続された測定器によって第１
の寸法測定手段が構成され、第２測定位置ＩＰ２に対応
して設けられた第１検出器２２及び第２検出器２３とこ
れらに接続された測定器によって第２の寸法測定手段が
構成されている。測定器は各測定位置に対応して１個宛
用意されていてもよいし、１つの測定器を共用しても構
わない。

【００６０】以下に第２実施形態による部品選別方法、
具体的には、長さ寸法Ｌ，幅寸法Ｗ及び厚さ寸法Ｔの全
てが公差範囲内にある良品扱いのチップコンデンサＣＣ
から、チップ部品供給装置用として最適な端面対角線寸
法を有するチップコンデンサＣＣを選別する方法につい
て説明する。

【００６１】部品選別を行うときには、長さ寸法Ｌ，幅
寸法Ｗ及び厚さ寸法Ｔの全てが公差範囲内にある良品扱
いのチップコンデンサＣＣを、長さ向きに整列した状態
で、部品搬送部材２１の搬送通路２１ａに沿って図１２
において右方向に移動させる。

【００６２】チップコンデンサＣＣを整列状態で移動さ
せる方法としては、例えば、振動源に連続された整列用
ボウルに良品扱いのチップコンデンサＣＣを多数個バル
ク状態で投入し、振動源からの振動付与によってボウル
内のチップコンデンサＣＣを長さ向きに整列し、整列後
のチップコンデンサＣＣを部品搬送部材２１の搬送通路
２１ａに送り込んで、振動源からの振動を部品搬送部材
２１に付与してチップコンデンサＣＣを搬送通路２１ａ
に沿って移動させる方法、即ち、公知のボウルフィーダ
とリニアフィーダを組み合わせて用いる方法が挙げられ
る。

【００６３】搬送通路２１ａに沿って整列移動するチッ
プコンデンサＣＣは、第１測定位置ＩＰ１を通過する過
程で、図１４に示すように、まず、前側の外部電極ＣＣ
ａの端面対角線寸法Ｄａ方向の右上側の稜線及び角を第
１検出器２２の検出ローラー２２ｃに接触して左側内側
面２１ａ２に当接するように押圧移動され、且つ、左下
側の稜線及び角を第２検出器２３の検出ローラー２３ｃ
に接触する。続いて、後側の外部電極ＣＣａの端面対角
線寸法Ｄａ方向の右上側の稜線及び角を第１検出器２２
の検出ローラー２２ｃに接触して左側内側面２１ａ２に
当接するように押圧移動され、、且つ、左下側の稜線及
び角を第２検出器２３の検出ローラー２３ｃに接触す
る。

【００６４】この接触により、検出ローラー２２ｃが取
り付けられた検出ロッド２２ａがコアと一緒に移動して
このときのコアの変位が測定器によって検出されると共
に、検出ローラー２３ｃが取り付けられた検出ロッド２
３ａがコアと一緒に移動してこのときのコアの変位が測
定器によって検出される。すると、測定器によって、検
出された各々の変位からチップコンデンサＣＣの前側の
外部電極ＣＣａと後側の外部電極ＣＣａにおける一方の
端面対角線寸法Ｄａが演算により測定される。尚、前側
と後側の測定寸法Ｄａの何れかが予め規定した寸法範囲
から外れるときには、測定器からＮＧ信号が送出され
る。

【００６５】第１測定位置ＩＰ１における測定を完了し
た後のチップコンデンサＣＣは、第２測定位置ＩＰ２を
通過する過程で、図１５に示すように、まず、前側の外
部電極ＣＣａの端面対角線寸法Ｄａ方向の左上側の稜線
及び角を第１検出器２２の検出ローラー２２ｃに接触し
て右側内側面２１ａ２に当接するように押圧移動され、
且つ、右下側の稜線及び角を第２検出器２３の検出ロー
ラー２３ｃに接触する。続いて、後側の外部電極ＣＣａ
の端面対角線寸法Ｄａ方向の左上側の稜線及び角を第１
検出器２２の検出ローラー２２ｃに接触して右側内側面
２１ａ２に当接するように押圧移動され、且つ、右下側
の稜線及び角を第２検出器２３の検出ローラー２３ｃに
接触する。

【００６６】この接触により、検出ローラー２２ｃが取
り付けられた検出ロッド２２ａがコアと一緒に移動して
このときのコアの変位が測定器によって検出されると共
に、検出ローラー２３ｃが取り付けられた検出ロッド２
３ａがコアと一緒に移動してこのときのコアの変位が測
定器によって検出される。すると、測定器によって、検
出された各々の変位からチップコンデンサＣＣの前側の
外部電極ＣＣａと後側の外部電極ＣＣａにおける他方の
端面対角線寸法Ｄｂが演算により測定される。尚、前側
と後側の測定寸法Ｄｂの何れかが予め規定した寸法範囲
から外れるときには、測定器からＮＧ信号が送出され
る。

【００６７】第１測定位置ＩＰ１における測定の際、ま
たは、第２測定位置ＩＰ２における測定の際に測定器か
らＮＧ信号が送出されたチップコンデンサＣＣ、即ち、
測定された４つの端面対角線寸法Ｄａ，Ｄｂの少なくと
１つが予め規定した寸法範囲から外れるチップコンデン
サＣＣは、第２測定位置ＩＰ２における測定を完了した
直後に搬送通路２１ａから排除される。

【００６８】このＮＧ部品の排除は、搬送通路１１ａの
内側面１１ａ２に形成した排出孔（図示省略）を閉じる
シャッタを開いて、ＮＧ信号に対応するチップコンデン
サＣＣをエア押圧やピン押圧によって排出孔に送り込む
方法や、ＮＧ信号に対応するチップコンデンサＣＣをア
クチュエータ駆動の吸着ノズル（図示省略）によって取
り出す方法等によって実行される。

【００６９】このように前述の部品選別方法及び装置に
よれば、搬送通路２１ａに沿って整列状態で移動するチ
ップコンデンサＣＣの一端側の一方の端面対角線寸法Ｄ
ａと他端側の一方の端面対角線寸法Ｄａを第１測定位置
ＩＰ１で測定し、また、チップコンデンサＣＣの一端側
の他方の端面対角線寸法Ｄｂと他端側の他方の端面対角
線寸法Ｄｂを第２測定位置ＩＰ２で測定して、測定され
た４つの端面対角線寸法Ｄａ，Ｄｂの少なくとも１つが
予め規定した寸法範囲から外れるときにこれを不適正部
品として搬送通路２１ａから排除することができる。つ
まり、長さ寸法Ｌ，幅寸法Ｗ及び厚さ寸法Ｔの全てが公
差範囲内にある良品扱いのチップコンデンサＣＣから、
チップ部品供給装置用として最適な端面対角線寸法を有
するチップコンデンサＣＣを選別することができる。

【００７０】従って、従来の技術で説明したバルクフィ
ーダ等のチップ部品供給装置によってチップコンデンサ
ＣＣを供給する場合でも、チップコンデンサＣＣが矩形
断面の通路ＰＡ１を通過するときに図３（Ａ）に示すよ
うに回転してその姿勢に乱れを生じることはないし、ま
た、チップコンデンサＣＣが円形断面の通路ＰＡ２を通
過するときに図３（Ｂ）に示すように通路ＰＡ２の内壁
にきつく接触して詰まりを生じることもない。即ち、端
面対角線寸法のばらつきを原因とした諸問題を解消して
バルクフィーダ等のチップ部品供給装置によるチップコ
ンデンサＣＣの供給を極めて良好に行うことができる。

【００７１】尚、前述の部品選別方法及び装置では、チ
ップコンデンサＣＣの外部電極ＣＣａを第１検出器２２
の検出ローラー２２ｃと第２検出器２３の検出ローラー
２３ｃによって挟み込むことで端面対角線寸法Ｄａ及び
Ｄｂを測定するものを示したが、第２検出器２３がなく
とも同様の寸法測定を行うことは十分に可能である。図
１６（Ａ）及び図１６（Ｂ）はその一例を示すもので、
寸法測定手段は第２検出器２３を除く第１検出器２２及
び測定器によって構成されている。端面対角線寸法Ｄａ
（Ｄｂ）が予め規定した寸法範囲内にあるときのコアの
変位範囲を予め定めておけば、外部電極ＣＣａの端面対
角線寸法Ｄａ（Ｄｂ）方向の上側の稜線及び角が第１検
出器１２の検出ローラー１２ｆに接触したときのコア１
２ｂの変位から、端面対角線寸法Ｄａ（Ｄｂ）が適正範
囲内にあるか否かを判断することができる。

【００７２】また、前述の部品選別方法及び装置では、
選別対象としてチップコンデンサＣＣを示したが、四角
柱形状を成すチップ部品、例えばチップ抵抗器やチップ
インダクタやＬＣフィルターやコンデンサアレイ等をそ
の選別対象としても前記同様の作用効果を得ることがで
きる。

【００７３】図１７は先に説明した第１実施形態による
部品選別方法及び装置と第２実施形態による部品選別方
法及び装置を適用可能な装置の一例を示す。

【００７４】図１７に示した装置は、従来の技術で説明
したバルクフィーダ用の部品ケース（図示省略）にチッ
プ部品ＥＣを所定数投入する装置であり、符号１０１は
ボウルフィーダ、１０２はリニアフィーダ、１０３は分
離プレートである。

【００７５】この装置を用いて部品ケースにチップ部品
を投入するときには、ボウルフィーダ１０１の整列用ボ
ウルに良品扱いのチップ部品ＥＣを多数個バルク状態で
投入し、振動源からの振動付与によってボウル内のチッ
プ部品ＥＣを長さ向きに整列し、整列後のチップ部品Ｅ
Ｃをリニアフィーダ１０２の搬送通路に送り込んで、振
動源からの振動を搬送通路に付与してチップ部品ＥＣを
搬送通路に沿って移動させる。そして、搬送されたチッ
プ部品ＥＣを回転運動を行う分離プレート１０３の切り
欠き１０３ａ内に挿入し、切り欠きに挿入されたチップ
部品ＥＣの電気特性を検査位置ＭＰで検査し、電気特性
が良好でないチップ部品ＥＣを排出位置ＤＰで排除す
る。そして、電気特性が良好なチップ部品ＥＣを投入位
置ＣＰで部品ケースに投入する。部品ケースに投入され
るチップ部品ＥＣの数は電気的或いは機械的にカウント
され、投入数が所定数に達したところで部品ケースの交
換を行う。

【００７６】先に説明した第１実施形態による部品選別
方法及び装置と第２実施形態による部品選別方法及び装
置は、図１７に示した装置のリニアフィーダ１０２によ
る部品搬送箇所に適宜組み込むことが可能であり、バル
クフィーダ用として最適な端面対角線寸法を有するチッ
プ部品ＥＣを部品ケースに投入することができる。

【００７７】

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
チップ部品供給装置用として最適な端面対角線寸法を有
するチップ部品を選別することができ、選別後のチップ
部品は端面対角線寸法のばらつきを原因とした諸問題を
生じることがなくチップ部品供給装置によるチップ部品
の供給を極めて良好に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】チップコンデンサの斜視図とその端面図

【図２】チップコンデンサの外部電極の稜線及び角に設
けられた丸みの度合を示す図

【図３】図２に示したチップコンデンサの部品供給上で
の不具合を説明するための図

【図４】本発明の第１実施形態を示す部品搬送部材の上
面図

【図５】図４のａ１−ａ１線断面図とａ２−ａ２線断面
図とａ３−ａ３線断面図とａ４−ａ４線断面図とａ５−
ａ５線断面図

【図６】図４のａ６−ａ６線断面図とａ７−ａ７線断面
図とａ８−ａ８線断面図とａ９−ａ９線断面図

【図７】第１実施形態における寸法測定手段の構成図

【図８】第１実施形態による部品選別方法の説明図

【図９】外部電極の端面形状が非正方形である場合の部
品選別方法の説明図

【図１０】第１実施形態における寸法測定手段の変形例
を示す図

【図１１】第１実施形態における寸法測定手段の他の変
形例を示す図

【図１２】本発明の第２実施形態を示す部品搬送部材の
上面図

【図１３】図１２のｂ１−ｂ１線断面図とｂ２−ｂ２線
断面図とｂ３−ｂ３線断面図

【図１４】第２実施形態による部品選別方法の説明図

【図１５】第２実施形態による部品選別方法の説明図

【図１６】第２実施形態における寸法測定手段の変形例
を示す図

【図１７】第１実施形態による部品選別方法及び装置と
第２実施形態による部品選別方法及び装置を適用可能な
装置の一例を示す図

【符号の説明】

ＣＣ…チップコンデンサ、ＣＣａ…外部電極、Ｄ，Ｄ
１，Ｄ２，Ｄａ，Ｄｂ…端面対角線寸法、１１…部品搬
送部材、１１ａ…搬送通路、１１ｃ…検出孔、ＣＡ１…
第１姿勢変更区域、ＣＡ２…第２姿勢変更区域、ＩＰ１
…第１測定位置、ＩＰ２…第２測定位置、１２…第１検
出器、１２ｆ…検出ローラー、１３…第２検出器、１３
ｆ…検出ローラー、１４…測定器、１５…発光器、１６
…受光器、１７…測定器、２１…部品搬送部材、２１ａ
…搬送通路、２１ｂ…上側検出孔、２１ｃ…下側検出
孔、２２…第１検出器、２２ｃ…検出ローラー、２３…
第２検出器、２３ｃ…検出ローラー。

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 四角柱形状のチップ部品を基準横断面形
   状が矩形の搬送通路に沿って整列状態で移動させ、 チップ部品が搬送通路中に設定された第１測定位置を通
   過するときにチップ部品の一端側の一方の端面対角線寸
   法と他端側の一方の端面対角線寸法を測定し、 チップ部品が搬送通路中に設定された第２測定位置を通
   過するときにチップ部品の一端側の他方の端面対角線寸
   法と他端側の他方の端面対角線寸法を測定し、 測定された４つの端面対角線寸法の少なくとも１つが予
   め規定した寸法範囲から外れるときにこれを不適正部品
   として搬送通路から排除する、 ことを特徴とするチップ部品選別方法。
2. 【請求項２】 搬送通路は、チップ部品の一方の端面対
   角線が所定向きとなるようにチップ部品の姿勢を変更す
   るための第１姿勢変更区域と、チップ部品の他方の端面
   対角線が前記と同じ向きとなるようにチップ部品の姿勢
   を変更するための第２姿勢変更区域とを備え、 第１姿勢変更区域中に設けられた第１測定位置をチップ
   部品が通過するときに姿勢変更後のチップ部品の一端側
   の一方の端面対角線寸法と他端側の一方の端面対角線寸
   法を所定向きから測定し、 第２姿勢変更区域中に設けられた第２測定位置をチップ
   部品が通過するときに姿勢変更後のチップ部品の一端側
   の他方の端面対角線寸法と他端側の他方の端面対角線寸
   法を同じ向きから測定する、 ことを特徴とする請求項１に記載のチップ部品選別方
   法。
3. 【請求項３】 チップ部品は長さ寸法＞幅寸法＝厚さ寸
   法の基本的寸法関係を有していて、 第１測定位置におけるチップ部品の姿勢は第２測定位置
   におけるチップ部品の姿勢とチップ部品を端面側から見
   た状態で９０度異なる、 ことを特徴とする請求項２に記載のチップ部品選別方
   法。
4. 【請求項４】 第１測定位置をチップ部品が通過すると
   きにチップ部品の一端側の一方の端面対角線寸法と他端
   側の一方の端面対角線寸法をその端面対角線向きから測
   定し、 第２測定位置をチップ部品が通過するときにチップ部品
   の一端側の他方の端面対角線寸法と他端側の他方の端面
   対角線寸法をその端面対角線向きから測定する、 ことを特徴とする請求項１に記載のチップ部品選別方
   法。
5. 【請求項５】 チップ部品は長さ寸法＞幅寸法＝厚さ寸
   法の基本的寸法関係を有しており、 第１測定位置の測定方向と第２測定位置の測定方向はチ
   ップ部品を端面側から見た状態で９０度異なる、 ことを特徴とする請求項４に記載のチップ部品選別方
   法。
6. 【請求項６】 四角柱形状のチップ部品を整列状態で移
   動させるための基準横断面形状が矩形の搬送通路と、 チップ部品が搬送通路中に設定された第１測定位置を通
   過するときにチップ部品の一端側の一方の端面対角線寸
   法と他端側の一方の端面対角線寸法を測定する第１寸法
   測定手段と、 チップ部品が搬送通路中に設定された第２測定位置を通
   過するときにチップ部品の一端側の他方の端面対角線寸
   法と他端側の他方の端面対角線寸法を測定する第２寸法
   測定手段と、 測定された４つの端面対角線寸法の少なくとも１つが予
   め規定した寸法範囲から外れるときにこれを不適正部品
   として搬送通路から排除するＮＧ部品排除手段とを備え
   る、 ことを特徴とするチップ部品選別装置。
7. 【請求項７】 搬送通路は、チップ部品の一方の端面対
   角線が所定向きとなるようにチップ部品の姿勢を変更す
   るための第１姿勢変更区域と、チップ部品の他方の端面
   対角線が前記と同じ向きとなるようにチップ部品の姿勢
   を変更するための第２姿勢変更区域とを備え、 第１姿勢変更区域中に設けられた第１測定位置を通過す
   るチップ部品は、姿勢変更後のチップ部品の一端側の一
   方の端面対角線寸法と他端側の一方の端面対角線寸法を
   所定向きから第１寸法測定手段によって測定され、 第２姿勢変更区域中に設けられた第２測定位置を通過す
   るチップ部品は、姿勢変更後のチップ部品の一端側の他
   方の端面対角線寸法と他端側の他方の端面対角線寸法を
   同じ向きから第２寸法測定手段によって測定される、 ことを特徴とする請求項６に記載のチップ部品選別装
   置。
8. 【請求項８】 第１測定位置を通過するチップ部品は、
   チップ部品の一端側の一方の端面対角線寸法と他端側の
   一方の端面対角線寸法をその端面対角線向きから第１寸
   法測定手段によって測定され、 第２測定位置をチップ部品が通過するチップ部品は、チ
   ップ部品の一端側の他方の端面対角線寸法と他端側の他
   方の端面対角線寸法をその端面対角線向きから第２寸法
   測定手段によって測定される、 ことを特徴とする請求項６に記載のチップ部品選別装
   置。
9. 【請求項９】 チップ部品は長さ寸法＞幅寸法＝厚さ寸
   法の基本的寸法関係を有する、 ことを特徴とする請求項７または８に記載のチップ部品
   選別装置。
10. 【請求項１０】 第１寸法測定手段と第２寸法測定手段
    は、接触型または非接触型の検出器と、検出器からの信
    号に基づいて対角線寸法を演算すると共に測定寸法が予
    め規定した寸法範囲から外れるときにＮＧ信号を送出す
    る測定器とを含む、 ことを特徴とする請求項６〜９の何れか１項に記載のチ
    ップ部品選別装置。