JP2003254895A - ホロカソードランプ、原子吸光分析装置及び原子蛍光分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ステムピンで起こり得る異常放電を低減させ
るようにしたホロカソードランプを提供する。 【解決手段】 本発明に係るホロカソードランプ１は、
セラミックス等の電気絶縁性の筒状部材８で複数のステ
ムピン６ａ〜６ｆの全てを一度に包囲させ、これによっ
て、ステムピンに起こり得る異常放電を低減させてい
る。また、ステム４に筒状部材８の載せるだけの簡単な
作業を可能にする。また、使用時の安心感を与える一助
になる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、原子吸光分析又は
原子蛍光分析などを行う分析装置の光源や、高輝度輝線
光源として利用されるホロカソードランプに関するもの
である。更に、本発明は、前述のホロカソードランプを
利用した原子吸光分析装置及び原子蛍光分析装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、このような分野の技術として、Ｕ
ＳＰ４，８８５，５０４号公報がある。この公報に記載
されたホロカソードランプは、ガラスバルブ内の中空陰
極と陽極との間で放電を発生させ、中空陰極の表面をイ
オンでスパッタリングさせることで、中空陰極の内部か
ら放電空間内に原子を飛散させ、電子エネルギの授受に
よって所定のスペクトル線を発生させる。また、スペク
トル線の一部が放電空間内の未励起原子にエネルギを奪
われて、これによりスペクトル線の強度が減少してしま
ういわゆる自己吸収がランプ内で発生するが、この現象
を防止するため、ランプ内には、熱電子を放出させる電
子供給源（補助陰極）が中空陰極と別に設けられてい
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来のホロカソードランプには、次のような課題が存
在している。すなわち、前述したＵＳＰ４，８８５，５
０４号公報のランプに利用されるステムピンが、ガラス
バルブ内で露出する結果、各ステムピンで異常放電が発
生し易いといった問題点がある。なお、特開２０００−
２４３３５４号公報に記載しているように、ステムピン
のそれぞれにシールドチューブを装着させることで、各
ステムピンの異常放電を防止することができる。

【０００４】本発明は、上述の課題を解決するためにな
されたもので、特に、ステムピンで起こり得る異常放電
を低減させるようにしたホロカソードランプを提供する
ことを目的とする。また、本発明は、このようなホロカ
ソードランプを利用する原子吸光分析装置及び原子蛍光
分析装置を提供することをも目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明に係るホロカソー
ドランプは、バルブの一端側に光出射窓を配置させ、バ
ルブの他端側にステムを配置させると共に、バルブ内で
光出射窓側から管軸方向に中空陰極と陽極とを順次配列
させたホロカソードランプにおいて、陽極を取り囲むよ
うにステムに複数のステムピンを立設させ、複数のステ
ムピンの全てを包囲する電気絶縁性の筒状部材をステム
に立設させたことを特徴とする。

【０００６】陽極を取り囲むように配置させた複数のス
テムピンをバルブ内で露出させた場合、各ステムピンの
周囲にモヤのような光溜まりが異常放電の結果発生し、
このような光溜まりは性能上影響がなくとも、利用者が
何らかの異常であると誤解する虞があった。そこで、本
発明に係るホロカソードランプは、セラミックス等の電
気絶縁性の筒状部材で複数のステムピンの全てを一度に
包囲させ、これによって、ステムピンに起こり得る異常
放電を低減させている。また、ステムに筒状部材の載せ
るだけの簡単な作業を可能にする。また、使用時の安心
感を与える一助になる。

【０００７】また、ステムピンはシールドチューブ内に
差し込まれていると好適である。このような構成を採用
した場合、セラミックス等の電気絶縁性の筒状部材で複
数のステムピンの全てを一度に包囲させると同時に、各
ステムピンにシールドチューブを装着させることになる
ので、ステムピンの異常放電をより一層低減する構造が
実現される。

【０００８】また、筒状部材には、ステムピンを収容す
るステムピン挿入孔が設けられていると好適である。こ
のような構成を採用した場合、筒状部材に設けられたス
テムピン挿入孔内にステムピンを差し入れるだけの簡単
な作業で、各ステムピンで発生する異常放電を低減させ
ることができる。

【０００９】また、筒状部材の内側に中空陰極を配置さ
せ、中央に開口部を有する電気絶縁性の蓋部で、筒状部
材の光出射窓側の端部を塞ぐと好適である。このような
構成を採用すると、筒状部材の内側に中空陰極、陽極及
びステムピンを収容した状態で、筒状部材に蓋をするこ
とができるので、異常放電が起こり得る各構成部品を筒
状部材の内側に閉じこめることができる。

【００１０】また、ステムピンの内側において、中空陰
極を収容するホルダに設けられたフランジ部を支持する
電気絶縁性の内筒部材を、ステムに立設させると好適で
ある。このような構成を採用した場合、内筒部材でホル
ダ内の中空陰極を支持することができ、しかも、電気絶
縁性の内筒部材の採用により、異常放電の更なる低減が
可能となる。

【００１１】本発明に係る原子吸光分析装置は、サンプ
ル中に含有される特定成分を測定するための原子吸光分
析装置において、サンプルを原子化する原子化手段と、
サンプル中に含有される成分の共鳴線を含んでいる光ビ
ームを、原子化されたサンプルに向けて照射する光源
と、原子化されたサンプルを通過した光ビームを入射さ
せて、入射光の吸光度を測定する測定部とを備え、光源
は、陽極を取り囲むようにステムに複数のステムピンを
立設させ、複数のステムピンの全てを包囲する電気絶縁
性の筒状部材をステムに立設させたホロカソードランプ
であることを特徴とする。

【００１２】この原子吸光分析装置は、原子化されたサ
ンプルを通過した光ビームの入射光の吸収度を測定部に
よって測定させるための装置であり、ここで利用される
光源としてのホロカソードランプは、セラミックス等の
電気絶縁性の筒状部材で複数のステムピンの全てを一度
に包囲させ、これによって、ステムピンに起こる異常放
電を低減させている。また、ステムに筒状部材の載せる
だけの簡単な作業によって、ステムピンの異常放電を低
減させることができる。

【００１３】本発明に係る原子蛍光分析装置は、サンプ
ル中に含有される特定成分を測定するための原子蛍光分
析装置において、サンプルを原子化する原子化手段と、
光ビームを、原子化されたサンプルに向けて照射する光
源と、光ビームにより励起された原子の発する蛍光の強
度を測定する測定部とを備え、光源は、陽極を取り囲む
ようにステムに複数のステムピンを立設させ、複数のス
テムピンの全てを包囲する電気絶縁性の筒状部材をステ
ムに立設させたホロカソードランプであることを特徴と
する。

【００１４】この原子蛍光分析装置は、光ビームにより
励起された原子の発する蛍光の強度を測定部によって測
定させるための装置であり、ここで利用される光源とし
てのホロカソードランプは、セラミックス等の電気絶縁
性の筒状部材で複数のステムピンの全てを一度に包囲さ
せ、これによって、ステムピンに起こる異常放電を低減
させている。また、ステムに筒状部材の載せるだけの簡
単な作業によって、ステムピンの異常放電を低減させる
ことができる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつホロカソ
ードランプ、原子吸光分析装置及び原子蛍光分析装置の
実施形態について詳細に説明する。

【００１６】［第１の実施形態］図１及び図２に示すよ
うに、ホロカソードランプ１は、下端を開放させた硼珪
酸ガラス製の円筒状バルブ２を有している。このバルブ
２の上端を閉鎖することにより、バルブ２の上端に円形
の光出射窓３を形成させ、この光出射窓３から所定の光
を外部に放出させる。このバルブ２には、下端の開放側
を閉鎖するように円板状のガラス製ステム４を融着さ
せ、バルブ２とステム４とでガラス製の密封容器５を構
成する。このステム４には、管軸Ｌ方向に延びる４本の
コバール金属製のステムピン６ａ〜６ｄが、ガラス製ス
テム４の溶融によって固定されている。なお、耐振性を
高めるために、無給電のステムピン６ｅ，６ｆが追加さ
れている。

【００１７】更に、ステム４の略中心には、管軸Ｌ方向
に延びる排気用陽極管７がガラス製ステム４の溶融によ
って固定されている。この陽極管７は、密封容器５内で
陽極として利用されると共に、ステム４の中央を管軸Ｌ
方向に貫通させるように延在する。そして、この陽極管
７は、ホロカソードランプ１の組立て時には、密封容器
５内の空気を真空引きした後に、外部から所定のガス
（例えば、ネオンガス）を注入するための管として利用
され、ホロカソードランプ１を発光させる場合には、外
部電源に接続させて陽極として機能させる。

【００１８】ステム４には、陽極管７を取り囲むように
して、環状に配列したステムピン６ａ〜６ｆを立設させ
る。また、密封容器５内には、管軸Ｌ方向に延在するセ
ラミックス製の電気絶縁性筒状部材８が収容され、この
筒状部材８は、陽極管７を同心的に包囲すると共に、全
てのステムピン６ａ〜６ｆを包囲するようにステム４に
立設される。これによって、給電用のステムピン６ａ〜
６ｄで起こり得る異常放電の低減を可能にする。更に、
少なくとも給電用のステムピン６ａ〜６ｄは、シールド
チューブ２３，２４，１７，１８内に差し込まれてお
り、これによっても、ステムピン６ａ〜６ｄで起こり得
る異常放電の低減を可能にしている。

【００１９】更に、密封容器５内において、筒状部材８
の両開口端のうちの光出射窓３側の端部（上端部）内に
は円筒状の中空陰極１０が配置されている。この中空陰
極１０の材質は、バナジウム、セレン又はヒ素などが利
用される。この中空陰極１０は、ステンレス等からなる
カップ状のホルダ１１内に収容されている。このホルダ
１１は、管軸Ｌ方向に延在する円筒状の本体部１１ａ
と、この本体部１１ａのステム４側の端部（下端）で内
方に張り出し形成させて中空陰極１０を支持するリング
状の底部１１ｂと、本体部１１ａの光出射窓３側端部
（上端）で外方に張り出させたフランジ部１１ｃとから
なる。そして、ホルダ１１を導電性の金属によって形成
すると、ホルダ１１を介在させた中空陰極１０への給電
が可能となる。また、ホルダ１１を熱伝導性の良好な金
属によって形成すると、ホルダ１１の放熱効果によっ
て、ランプ１の光出力を向上させることができる。

【００２０】このようなホルダ１１によって、中空陰極
１０は、リング状の底部１１ｂによって下から支持され
るので、中空陰極１０をホルダ１１内に上から落とし込
むことが可能となる。また、ホルダ１１のフランジ部１
１ｃは、電気絶縁性セラミックスからなる円板状の支持
板１３で支持され、この支持板１３は、シールドチュー
ブ１７，１８の端部で支持されている。更に、支持板１
３の中央には、ホルダ１１の本体部１１ａを落とし込む
ための開口部１３ａが設けられ、フランジ部１１ｃを支
持板１３で支持した場合、中空陰極１０は、陽極管７の
上方で同心的に配置されることになる。更に、この支持
板１３には、ステムピン６ｃ，６ｄの差し込みを可能に
する貫通孔１３ｂ，１３ｃが形成されると共に、シール
ドチューブ２３，２４の差し込みを可能にする貫通孔１
３ｄ，１３ｅが形成されている。

【００２１】このように、支持板１３によって支持した
ホルダ１１は、給電板として利用される板状の導通電極
１２を介してステムピン６ｃ，６ｄの先端に接続されて
いる。この導通電極１２の周縁には、それぞれのステム
ピン６ｃ，６ｄに溶接する左右一対の折り曲げ部１２
ａ，１２ｂが設けられている。また、導通電極１２は、
ホルダ１１のフランジ部１１ｃ上に載せられて、中空陰
極１０の飛び出しを防止すると共に、ホルダ１１と電気
的に接続される。更に、導通電極１２の中央には、中空
陰極１０の外径より小さな径の開口部１２ｃが設けられ
ている。

【００２２】さらに、ステムピン６ａ，６ｂの露出部分
にハトメからなる円筒状の金属製抜け止め部材２０を加
締め固定すると、抜け止め部材２０のフランジ部２０ａ
によって、筒状部材８及びシールドチューブ２３，２４
が押さえ込まれ、これらの抜けが防止される。また、ス
テムピン６ａ，６ｂの先端には、コイル状の熱電子放出
陰極（電子供給源）２１の脚部２２が溶接固定されてい
る。この熱電子放出陰極２１は、タングステンからなる
コイルの表面にバリウムオキサイトを形成させたもので
ある。

【００２３】次に、前述したホロカソードランプ１の組
立て手順について説明する。

【００２４】先ず、４本の給電用ステムピン６ａ〜６ｄ
及び陽極管７を固着させたステム４を準備する。なお、
ランプ１の耐振性を高めるために、無給電のステムピン
６ｅ，６ｆを追加している。そして、筒状部材８内にス
テムピン６ａ〜６ｆを差し入れるように、筒状部材８を
ステム４上に置く。その後、各ステムピン６ａ，６ｂを
シールドチューブ２３，２４内に差し入れ、各ステムピ
ン６ｃ，６ｄをシールドチューブ１７，１８内に差し入
れる。なお、無給電のステムピン６ｅ，６ｆもシールド
チューブ２８，２９内に差し入れる。その後、支持板１
３をシールドチューブ１７，１８の端面に載せる。その
後、支持板１３の開口部１３ａ内にホルダ１１の本体部
１１ａを落とし込み、フランジ部１１ｃを支持板１３で
支持させる。

【００２５】その後、導通電極１２をホルダ１１のフラ
ンジ部１１ｃ上に載せるようにして、導通電極１２の折
り曲げ部１２ａ，１２ｂをステムピン６ｃ，６ｄに接触
させる。このとき、折り曲げ部１２ａ，１２ｂをステム
ピン６ｃ，６ｄに溶接する。その後、ステムピン６ａ，
６ｂの露出部分にハトメからなる抜け止め部材２０を加
締め固定して、筒状部材８及びシールドチューブ２３，
２４の抜け止めを行う。その後、ステムピン６ａ，６ｂ
の先端に、コイル状の熱電子放出陰極（電子供給源）２
１の脚部２２を溶接固定する。そして、ステム４上で各
部品を組立てた後、この組立体をバルブ２の開放側から
差し入れ、バルブ２の開放端をステム４の周縁部に融着
させる。

【００２６】その後、陽極管７の下端を開放させた状態
において、密封容器５内の空気を真空引きして、外部か
ら所定のガス（例えばネオンガス等）を注入する。そし
て、陽極管７の露出部分を所定の長さに切断しながら、
その下端を潰すことで、密封容器５内を所定のガス圧に
保ちながら閉鎖させる。このような一連の作業によっ
て、ホロカソードランプ１の組み立てが完了する。

【００２７】次に、ホロカソードランプの他の実施形態
について説明するが、その説明は、第１の実施形態と実
質的に異なるものに留め、第１の実施形態と同一又は同
等な構成部分は同一符号を付してその説明を省略する。

【００２８】［第２の実施形態］図３及び図４に示すホ
ロカソードランプ３０は、中央に開口３１ａを有する電
気絶縁性の蓋部３１を有し、この蓋部３１によって、筒
状部材８の光出射窓３側の端部を塞ぐ。さらに、ステム
ピン６ａ，６ｂの露出部分にハトメからなる円筒状の金
属製抜け止め部材３２を加締め固定することで、抜け止
め部材３２によって蓋部３１が押さえ込まれ、筒状部材
８及びシールドチューブ２３，２４の抜けが防止され
る。このように、筒状部材８の内側に中空陰極１０、陽
極管７及びステムピン６ａ〜６ｆを収容した状態で、筒
状部材８に蓋がされるので、異常放電が起こり得る各構
成部品を筒状部材８の内側に閉じこめることができる。
なお、この蓋部３１には、筒状部材８の周面に密着する
スカート部３１ｂが設けられている。

【００２９】［第３の実施形態］図５に示すホロカソー
ドランプ４０は、中央に開口４１ａを有する電気絶縁性
の蓋部４１を有し、この蓋部４１によって、筒状部材８
の光出射窓３側の端部を塞ぐ。この蓋部４１には、筒状
部材８の端部に当接させる段部４１ｂが設けられてい
る。このような蓋部４１の採用により、筒状部材８の内
側に中空陰極１０、陽極管７及びステムピン６ａ〜６ｆ
を収容した状態で、筒状部材８に蓋がされるので、異常
放電が起こり得る各構成部品を筒状部材８の内側に閉じ
こめることができる。なお、他の構成は、図３及び図４
に示した第２実施形態と同じである。

【００３０】［第４の実施形態］図６に示すホロカソー
ドランプ５０は、環状に配列したステムピン６ａ〜６ｆ
の内側において、中空陰極１０を収容するホルダ１１の
フランジ部１１ｃを下から支持する円筒状の内筒部材５
１を有し、この内筒部分５１は、電気絶縁性の材質（例
えばセラミックス）からなる。この内筒部材５１の端面
には支持板１３が載せられている。このような電気絶縁
性の内筒部材５１の採用により、異常放電の更なる低減
が可能となる。なお、他の構成は、図５に示した第３実
施形態と同じである。

【００３１】［第５の実施形態］図７に示すホロカソー
ドランプ６０は、筒状部材８と内筒部材５１との間に配
置したステムピン６ａ〜６ｆにシールドチューブを装着
させない。これにより、部品点数の低減を可能にし、ラ
ンプ６０を組立て易くする。なお、他の構成は、図６に
示した第４実施形態と同じである。

【００３２】［第６の実施形態］図８に示すホロカソー
ドランプ７０において、電気絶縁性の材質（例えばセラ
ミックス）からなる筒状部材７１には、ステムピン６ａ
〜６ｆを収容するために管軸Ｌ方向に延在する６本のス
テムピン挿入孔７２が設けられている。このような構成
を採用した場合、筒状部材７１に設けられた各ステムピ
ン挿入孔７２内に各ステムピン６ａ〜６ｆを差し入れる
だけの簡単な作業で、給電用のステムピン６ａ〜６ｄの
異常放電を低減させることができる。また、支持板は採
用せず、筒状部材７１の端面でホルダ１１のフランジ部
１１ｃを支持する。なお、他の構成は、図３及び図４に
示した第２実施形態と同じである。

【００３３】図９に示すように、原子吸光分析装置１０
５は、サンプル１００を原子化させる原子化手段１０１
を有している。また、サンプル１００中に含有される測
定対象である目的元素の共鳴線を含んだ光ビームは、光
源１０２から出射させ、この光は、原子化されたサンプ
ル１００に照射される。そして、原子化されたサンプル
１００を通過させた光ビームを測定部１０３に入射さ
せ、このときの吸光度に基づいて目的元素を定量する。
この光源１０２には、前述した種々のホロカソードラン
プの適用が可能であり、このホロカソードランプ内の中
空陰極は、サンプル１００中に含有される特定成分元素
で構成させている。なお、符号１０４は、複数種類のホ
ロカソードランプを集光させるための反射ミラーからな
る集光手段である。また、原子吸光分析装置１０５で行
われる原子化は、一般的にフレーム法や電熱炉を用いた
フレームレス法などが利用される。

【００３４】図９に示すように、原子蛍光分析装置１０
６は、サンプル１００を原子化させる原子化手段１０１
を有している。また、光源１０２から光ビームは、原子
化されたサンプル１００に照射される。そして、光ビー
ムによって励起された元素の発する蛍光強度を測定部１
０３で測定して、目的元素を定量化する。この光ビーム
は、目的元素の共鳴線を含むものである。この光源１０
２には、前述した種々のホロカソードランプの適用が可
能であり、このホロカソードランプ内の中空陰極は、サ
ンプル１００中に含有される特定成分元素で構成させて
いる。なお、符号１０４は、複数種類のホロカソードラ
ンプを集光させるための反射ミラーからなる集光手段で
ある。また、原子蛍光分析装置１０６で行われる原子化
は、一般的にフレーム法や電熱炉を用いたフレームレス
法などが利用される。

【００３５】

【発明の効果】本発明によるホロカソードランプは、以
上のように構成されているため、次のような効果を得
る。すなわち、バルブの一端側に光出射窓を配置させ、
バルブの他端側にステムを配置させると共に、バルブ内
で光出射窓側から管軸方向に中空陰極と陽極とを順次配
列させたホロカソードランプにおいて、陽極を取り囲む
ようにステムに複数のステムピンを立設させ、複数のス
テムピンの全てを包囲する電気絶縁性の筒状部材をステ
ムに立設させたことにより、ステムピンで起こる異常放
電を低減させることができる。

【００３６】また、本発明による原子吸光分析装置及び
原子蛍光分析装置で利用される光源としてのホロカソー
ドランプは、ステムピンで起こる異常放電を低減させる
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るホロカソードランプの第１の実施
形態を示す断面図である。

【図２】図１に示したホロカソードランプの他の断面図
である。

【図３】本発明に係るホロカソードランプの第２の実施
形態を示す断面図である。

【図４】図３に示したホロカソードランプの他の断面図
である。

【図５】本発明に係るホロカソードランプの第３の実施
形態を示す断面図である。

【図６】本発明に係るホロカソードランプの第４の実施
形態を示す断面図である。

【図７】本発明に係るホロカソードランプの第５の実施
形態を示す断面図である。

【図８】本発明に係るホロカソードランプの第６の実施
形態を示す断面図である。

【図９】本発明に係る原子吸光分析装置及び原子蛍光分
析装置の概略を示す図である。

【符号の説明】

Ｌ…管軸、１，３０，４０，５０，６０，７０…ホロカ
ソードランプ、２…バルブ、３…光出射窓、４…ステ
ム、６ａ〜６ｄ…ステムピン、７…陽極管（陽極）、
８，７１…筒状部材、１０…中空陰極、１１…ホルダ、
１１ｃ…フランジ部、１７，１８，２３，２４…シール
ドチューブ、３１，４１…蓋部、５１…内筒部材、７２
…ステムピン挿入孔、１００…サンプル、１０１…原子
化手段、１０２…光源、１０３…測定部、１０５…原子
吸光分析装置、１０６…原子蛍光分析装置。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G043 AA01 BA01 BA02 EA01 FA06 GA06 GB01 GB05 GB16 HA02 MA11 2G059 AA01 CC03 EE01 EE11 FF10 GG10 JJ13 NN05 5C043 AA02 AA20 BB09 CC16 CD02 DD17 DD19 EA01 EA09

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 バルブの一端側に光出射窓を配置させ、
   前記バルブの他端側にステムを配置させると共に、前記
   バルブ内で前記光出射窓側から管軸方向に中空陰極と陽
   極とを順次配列させたホロカソードランプにおいて、 前記陽極を取り囲むように前記ステムに複数のステムピ
   ンを立設させ、前記複数のステムピンの全てを包囲する
   電気絶縁性の筒状部材を前記ステムに立設させたことを
   特徴とするホロカソードランプ。
2. 【請求項２】 前記ステムピンはシールドチューブ内に
   差し込まれていることを特徴とする請求項１記載のホロ
   カソードランプ。
3. 【請求項３】 前記筒状部材には、前記ステムピンを収
   容するステムピン挿入孔が設けられていることを特徴と
   する請求項１又は２記載のホロカソードランプ。
4. 【請求項４】 前記筒状部材の内側に前記中空陰極を配
   置させ、中央に開口部を有する電気絶縁性の蓋部で、前
   記筒状部材の光出射窓側の端部を塞ぐことを特徴とする
   請求項１〜３のいずれか一項記載のホロカソードラン
   プ。
5. 【請求項５】 前記ステムピンの内側において、前記中
   空陰極を収容するホルダに設けられたフランジ部を支持
   する電気絶縁性の内筒部材を、前記ステムに立設させた
   ことを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項記載のホ
   ロカソードランプ。
6. 【請求項６】 サンプル中に含有される特定成分を測定
   するための原子吸光分析装置において、 前記サンプルを原子化する原子化手段と、 前記サンプル中に含有される成分の共鳴線を含んでいる
   光ビームを、原子化された前記サンプルに向けて照射す
   る光源と、 原子化された前記サンプルを通過した前記光ビームを入
   射させて、入射光の吸光度を測定する測定部とを備え、 前記光源は、 前記陽極を取り囲むように前記ステムに複数のステムピ
   ンを立設させ、前記複数のステムピンの全てを包囲する
   電気絶縁性の筒状部材を前記ステムに立設させたホロカ
   ソードランプであることを特徴とする原子吸光分析装
   置。
7. 【請求項７】 サンプル中に含有される特定成分を測定
   するための原子蛍光分析装置において、 前記サンプルを原子化する原子化手段と、 光ビームを、原子化された前記サンプルに向けて照射す
   る光源と、 前記光ビームにより励起された原子の発する蛍光の強度
   を測定する測定部とを備え、 前記光源は、 前記陽極を取り囲むように前記ステムに複数のステムピ
   ンを立設させ、前記複数のステムピンの全てを包囲する
   電気絶縁性の筒状部材を前記ステムに立設させたホロカ
   ソードランプであることを特徴とする原子蛍光分析装
   置。