JP2003238295A - ガーネット単結晶基板及びその製造方法 - Google Patents
ガーネット単結晶基板及びその製造方法Info
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Abstract
その製造方法を提供すること。 【解決手段】 格子定数が1.2501nm以上1.2510nm以下で
あり、組成式がGd2.68+xCa0.32Ga4.02-xMg0.33Zr0.65O
12(式中、0.03<x<0.15である)で示されるものであるガ
ーネット単結晶基板;及び酸化ガドリニウム(Gd
2O3)、酸化カルシウム(CaO)、酸化ガリウム(Ga
2O3)、酸化マグネシウム(MgO)、酸化ジルコニウム
(ZrO2)を、原子比でGd=2.68+x、Ca=0.32、Ga=4.02
-x、Mg=0.33、Zr=0.65(式中、0.03<x<0.15である)と
なる割合で含有する溶融物から、種結晶を用いて結晶を
成長させることを特徴とする上記ガーネット単結晶基板
の製造方法。
Description
基板、特に、光アイソレータや磁気センサなどとして有
用な単結晶の成長に用いられる基板単結晶として有用と
される、ガーネット単結晶基板及びその製造方法に関す
るものである。
(以下「BIG 」と記す) は、近赤外領域で優れた透明
性と大きなファラデー効果を示す優れた材料である。BI
Gの厚膜は、通常液相エピタキシャル法(LPE 法)によ
り、非磁性のガーネット単結晶基板上に数百マイクロメ
ートルの厚さに育成される。このような厚い BIG膜を育
成するためには、 BIG膜と基板の格子定数を一致させる
必要がある。BIG膜と基板の格子定数の差が大きい場
合、BIG膜の格子欠陥が増加したり、ストレスによって
基板が割れるなどの不都合が生じる。
しては、格子定数 が1.2496±0.0004nm で組成式が(GdC
a)3(GaMgZr)5O12で示されるガーネット単結晶基板(例
えば格子定数が 1.2496nm で組成式がGd2.68Ca0.32Ga
4.02Mg0.33Zr0.65O12で示される基板)が一般的に用い
られている。しかし、BIG 膜のファラデー効果と格子定
数は、ビスマス置換量に比例して大きくなることから、
さらに格子定数が大きなガーネット単結晶基板が望まれ
ていた。格子定数の大きなガーネット単結晶としてはす
でに、格子定数が1.2509nmで組成式がNd3Ga5O12で示さ
れるNGG基板がある。しかし、これらのNGG基板の転位密
度は、2〜10個/cm2であり、転位密度が低く、直径の大
きい基板を得るのが難しいという問題がある。
は、格子定数が大きいガーネット単結晶基板及びその製
造方法を提供することである。本発明の他の目的は、格
子定数が大きく、転位密度が低く、直径の大きいガーネ
ット単結晶基板及びその製造方法を提供することであ
る。
の大きな BIG厚膜育成用のガーネット単結晶を得るため
鋭意検討を重ねた結果、特定組成の結晶材料を使用する
ことにより、上記目的が達成できることを見出し本発明
を完成させるに至った。すなわち、本発明は、格子定数
が1.2501nm以上1.2510nm以下であり、組成式が(GdCaGaM
gZr)8O12で示されるものであるガーネット単結晶基板を
提供するものである。ここで組成式(GdCaGaMgZr)8O12
とは、Gd、Ca、Ga、Mg及びZrの各原子のモル数の合計と
O原子のモル数との比が8:12となることを意味する
ものとする。本発明はまた、酸化ガドリニウム(Gd
2O3)、酸化カルシウム(CaO)、酸化ガリウム(Ga
2O3)、酸化マグネシウム(MgO)、酸化ジルコニウム
(ZrO2)を、原子比でGd=2.68+x、Ca=0.32、Ga=4.02
-x、Mg=0.33、Zr=0.65(式中、0.03<x<0.15である)と
なる割合で含有する溶融物から、種結晶を用いて結晶を
成長させることを特徴とする上記ガーネット単結晶基板
の製造方法を提供するものである。
は、好ましくは組成式が、Gd2.68+xCa0.32Ga4. 02-xMg
0.33Zr0.65O12(式中、0.03<x<0.15である)で示されるも
のである。本発明のガーネット単結晶基板は、結晶材
料、例えば、酸化ガドリニウム(Gd 2O3)、酸化カルシ
ウム(CaO)、酸化ガリウム(Ga2O3)、酸化マグネシウ
ム(MgO)、酸化ジルコニウム(ZrO2)を、原子比でGd
=2.68+x、Ca=0.32、Ga=4.02-x、Mg=0.33、Zr=0.65
(式中、0.03<x<0.15である) となるように混合し、例え
ば、チョクラルスキー法等により種結晶を用いて結晶を
成長させる方法により製造することができる。xが0.03
以下では格子定数が1.2501nm以上とならない場合があ
り、また、xが0.15以上では転位密度が1個/cm2以下とな
らない場合がある。xのさらに好ましい範囲は0.05〜0.1
0、最も好ましい範囲は0.06〜0.08である。
く、純度99.9%以上、好ましくは99.99%以上、さらに
好ましくは純度99.995%以上のものを使用することが望
ましい。種結晶としては、転位密度の低いもの、例え
ば、転位密度が好ましくは100個/cm2以下、より好まし
くは50個/cm2以下、さらに好ましくは10個/cm2以下のも
のを使用することが望ましい。種結晶の大きさは、通
常、直径2〜10mm、長さ30〜200mm程度のものを使用する
ことが望ましい。
えば、窒素、ヘリウム、ネオン、アルゴン等)中に、酸
素が体積規準で0.5%〜2.5%含まれるガスを使用すること
が好ましい。酸素が0.5%より少ないと、イリジウム等の
坩堝材が原料溶液中に溶け出し、転位発生の原因となる
ことがあり、2.5%より多いと坩堝材が酸化され、酸化イ
リジウム等となって蒸発することがおこり得る。上記結
晶を溶融させる坩堝等の容器の材質は特に限定されず、
イリジウムや、融点が2000℃以上のもの等が使用できる
が、イリジウムが最も好適である。結晶成長の際の結晶
材料の溶融温度は、好ましくは1600〜1800℃、さらに好
ましくは1650〜1750℃である。また種結晶の回転数は、
3〜20r.p.m. 程度、結晶の引き上げ速度は1〜6mm/hr程
度が適当である。
は、リン酸(例えば、リン酸と硫酸の体積比1:1の混
合液)で、180℃、3分間程度処理することにより単
結晶表面を薄く溶かし、50〜80倍程度の光学顕微鏡
を用いて、局部的にエッチングされたエッチピットの単
位面積当たりの個数を測定するなどの方法により求めら
れる。本発明のガーネット単結晶基板の転位密度は、好
ましくは1個/cm2以下、さらに好ましくは0.5個/cm2以下
である。本発明のガーネット単結晶基板の直径は、好ま
しくは75mm以上、さらに好ましくは76.2mm(3インチ)
以上である。
するが、これは本発明を限定するものではない。 実施例1 組成式が(GdCaGaMgZr)8O12で示されるガーネット単結
晶基板を以下のとおり製造した。原子比で Gd:Ca:Ga:M
g:Zr=2.73:0.32:3.97:0.33:0.65 になるように調整され
た 99.99%の純度の酸化ガドリニウム(Gd2O3)、酸化
カルシウム(CaO)、酸化ガリウム(Ga2O3)、酸化マグ
ネシウム(MgO)、酸化ジルコニウム(ZrO2)の混合物
13kg を、直径150mm、高さ150mmのイリジウム坩堝に仕
込み、窒素+1.5% (体積比)酸素雰囲気下、種結晶(8mm
Φ×50mm長、転位密度30個/cm2)の回転数 5〜20r.p.
m.、引き上げ速度 1〜6mm/hr、溶融温度1650〜1750℃の
条件の下、チョクラルスキー法により直径80mmの単結晶
インゴットを育成した。得られた単結晶インゴットか
ら、直径76.2mm(3インチ)の基板を作成した。得られ
た基板の格子定数は1.2501nmであることがX線回折によ
り測定された。また、転位密度は0.5個/cm2であった。
晶基板を以下のとおり製造した。原子比で Gd:Ca:Ga:M
g:Zr=2.76:0.32:3.94:0.33:0.65 になるように調整され
た 99.99%の純度の酸化ガドリニウム(Gd2O3)、酸化
カルシウム(CaO)、酸化ガリウム(Ga2O3)、酸化マグ
ネシウム(MgO)、酸化ジルコニウム(ZrO2)の混合物
を用いた以外は実施例1と同様にして、チョクラルスキ
ー法により直径80mmの単結晶インゴットを育成した。得
られた単結晶インゴットから、直径76.2mm(3インチ)
の基板を作成した。得られた基板の格子定数は1.2502nm
であることがX線回折により測定された。また、転位密
度は0.3個/cm2であった。
示されるガーネット単結晶基板を以下のとおり製造し
た。原子比で Gd:Ca:Ga:Mg:Zr=2.68:0.32:4.02:0.33:0.
65 になるように調整された 99.99%の純度の酸化ガド
リニウム(Gd2O3)、酸化カルシウム(CaO)、酸化ガリ
ウム(Ga2O3)、酸化マグネシウム(MgO)、酸化ジルコ
ニウム(ZrO2)の混合物を用いた以外は実施例1と同様
にして、チョクラルスキー法により直径80mmの単結晶イ
ンゴットを育成した。得られた単結晶インゴットから、
直径76.2mm(3インチ)の基板を作成した。得られた基
板の格子定数は1.2496nmであることがX線回折により測
定された。また、転位密度は5個/cm2であった。
の、格子定数が 1.2496±0.0004nmで組成式が(GdCa)
3(GaMgZr)5O12で示されるガーネット単結晶基板よりも
大きな格子定数を有し、転位密度が低く、直径が大き
い。特に直径の大きいガーネット単結晶基板が得られた
ことで、製造歩留良くLPE 法で育成されるビスマス置換
希土類鉄ガーネット単結晶膜のビスマス置換量を増すこ
とが可能となった。このため、光アイソレータや光スイ
ッチあるいは光磁界センサに利用される磁気光学効果の
大きいファラデー回転子が得られるようになった。
Claims (5)
- 【請求項1】 格子定数が1.2501nm以上1.2510nm以下で
あり、組成式が(GdCaGaMgZr)8O12で示されるものである
ガーネット単結晶基板。 - 【請求項2】 組成式がGd2.68+xCa0.32 Ga4.02-xMg0.33
Zr0.65O12(式中、0.03<x<0.15である)で示されるもので
ある請求項1記載のガーネット単結晶基板。 - 【請求項3】 転位密度が1個/cm2以下である、請求項1
又は2記載のガーネット単結晶基板。 - 【請求項4】 基板直径が75mm以上である、請求項1〜
3のいずれか1項記載のガーネット単結晶基板。 - 【請求項5】 酸化ガドリニウム(Gd2O3)、酸化カル
シウム(CaO)、酸化ガリウム(Ga2O3)、酸化マグネシ
ウム(MgO)、酸化ジルコニウム(ZrO2)を、原子比でG
d=2.68+x、Ca=0.32、Ga=4.02-x、Mg=0.33、Zr=0.6
5(式中、0.03<x<0.15である)となる割合で含有する溶融
物から、種結晶を用いて結晶を成長させることを特徴と
する請求項1〜4のいずれか1項記載のガーネット単結
晶基板の製造方法。
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EP2982782A4 (en) * | 2013-10-23 | 2017-04-19 | Fujikura Ltd. | Crystal body, optical device having same and crystal body production method |
JP2017145180A (ja) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | 住友金属鉱山株式会社 | 非磁性ガーネット単結晶基板の識別方法およびBi置換型希土類鉄ガーネット単結晶膜用基板の製造方法 |
JP2017186189A (ja) * | 2016-04-04 | 2017-10-12 | 住友金属鉱山株式会社 | 非磁性ガーネット単結晶の育成方法 |
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2002
- 2002-02-15 JP JP2002037649A patent/JP4292565B2/ja not_active Expired - Fee Related
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