JP2003232807A - 積層型プローブ組立装置、積層型プローブの組立方法、積層型プローブ及びプローブカード - Google Patents

積層型プローブ組立装置、積層型プローブの組立方法、積層型プローブ及びプローブカード

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JP2003232807A
JP2003232807A JP2002030159A JP2002030159A JP2003232807A JP 2003232807 A JP2003232807 A JP 2003232807A JP 2002030159 A JP2002030159 A JP 2002030159A JP 2002030159 A JP2002030159 A JP 2002030159A JP 2003232807 A JP2003232807 A JP 2003232807A
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Masao Okubo
昌男 大久保
Hikarichiyu Bun
光中 文
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Japan Electronic Materials Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 積層型プローブ等の低コスト化を図るように
する。 【構成】 積層型プローブ組立装置Aを用いて積層型プ
ローブBを製造する。積層型プローブ組立装置Aは、ブ
レードプローブ10を入り込ませて保持するための切り
欠き21及び貫通穴22が形成されたプローブスペーサ
ー20と、プローブスペーサー20の切り欠き21に比
べて小さな寸法の切り欠き31及び貫通穴32が形成さ
れた間隔スペーサー30と、プローブスペーサー20及
び間隔スペーサー30を複数積層した状態で貫通穴15
及び切り欠き31に各々通される貫通棒72と、プロー
ブスペーサー20及び間隔スペーサー30を複数積層し
た状態で貫通穴22及び貫通穴32に各々通される貫通
棒73と、複数積層されたプローブスペーサー20及び
間隔スペーサー30をその両側から固定するための固定
板60とを具備している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は次世代の半導体素子
等の電気的特性を測定するために使用されるプローブカ
ードに関し、具体的には、金属薄板であるブレードプロ
ーブが所定ピッチ間隔で多数積層された積層型プローブ
を組み立てる際に使用される積層型プローブ組立装置、
積層型プローブの製造方法、積層型プローブ及びプロー
ブカードに関する。
【0002】
【従来の技術】次世代のIC、LSI等のチップ上に形
成された回路の検査を行うに当たっては、積層型プロー
ブを有したプローブカードが使用されることが一般的で
ある。積層型プローブは金属薄板のブレードプローブが
数十μmのピッチ間隔で多数積層されたもので、その間
隔規制には非金属の絶縁フィルムが用いられている。即
ち、隣り合うブレードプローブの間に絶縁フィルムを介
在させ、これによりブレードプローブを数十μmのピッ
チ間隔で位置決めするようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例による場合、以下のような問題が指摘されている。
即ち、ブレードプローブの間隔規制のために使用されて
いる絶縁フィルムの弾性率が高く、積層して組み立てる
過程で絶縁フィルムの両側面が圧縮されることがあり、
圧縮により絶縁フィルムの厚みが変化すると、ブレード
プローブの数が多いこともあり、ピッチ精度に大きなバ
ラツキが生じる。しかも絶縁フィルムの加工が困難であ
ることから、結果として、コスト高になっている。ま
た、絶縁フィルムの厚さの種類が少ないので、IC、L
SI等のチップのピッチ変更に対応することも困難であ
る。このような問題はIC、LSI等の今後の超ファイ
ンピッチ化を図る上で大きな障害になるのは明らかであ
る。
【0004】本発明は上記した背景の下で創作されたも
のであり、その目的とするところは、積層型プローブの
低コスト化を図ることが可能な積層型プローブ組立装
置、積層型プローブの製造方法、積層型プローブ及びプ
ローブカードを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明に係る積層型プロ
ーブ組立装置は、金属薄板であるブレードプローブがピ
ッチ間隔Tで多数積層された積層型プローブを組み立て
る際に使用される装置であって、前記ブレードプローブ
の基端部の面上には第1の位置決め用貫通穴が形成され
ていることを条件とし、前記ブレードプローブと同一の
厚みを有する金属製のフィルムであり且つブレードプロ
ーブを入り込ませて保持するための第1の切り欠き及び
第2の位置決め用貫通穴が形成されたプローブスペーサ
ーと、ピッチ間隔Tと等しい厚みを有する金属製のフィ
ルムであり且つ第1の切り欠き比べて小さな寸法の第2
の切り欠き及び第3の位置決め用貫通穴が形成された間
隔スペーサーと、前記プローブスペーサー及び間隔スペ
ーサーを複数積層した状態で前記第1の位置決め用貫通
穴及び第2の切り欠きに各々通される第1の貫通棒と、
前記プローブスペーサー及び間隔スペーサーを複数積層
した状態で前記第2、第3の位置決め用貫通穴に各々通
される第2の貫通棒と、複数積層されたプローブスペー
サー及び間隔スペーサーをその両側から固定するための
一対の固定板とを具備したことを特徴としている。
【0006】より好ましくは、前記ブレードプローブの
第1の位置決め用貫通穴を切り欠き穴とすることが望ま
しい。また、前記プローブスペーサーを省略し、前記ブ
レードプローブを隣り合った前記間隔スペーサーの間に
挟みこむようにしても良い。
【0007】本発明に係る積層型プローブの製造方法
は、前記積層型プローブ組立装置を用いて積層型プロー
ブを製造する方法であって、前記プローブスペーサーの
第1の切り欠きに前記ブレードプローブを入り込ませて
保持し、前記プローブスペーサー及び間隔スペーサーを
複数積層し、前記ブレードプローブの第1の位置決め用
貫通穴及び前記間隔スペーサーの第2の切り欠きに第1
の貫通棒を各々通すとともに、前記プローブスペーサー
の第2の位置決め用貫通穴及び間隔スペーサーの第3の
位置決め用貫通穴に第2の貫通棒を各々通し、複数積層
されたプローブスペーサー及び間隔スペーサーの両側を
一対の固定板により固定し、このように間隔規制された
前記ブレードプローブの基端部同士の間を絶縁性の樹脂
を用いて固定した後、複数積層されたプローブスペーサ
ー及び間隔スペーサーから一対の固定板を取り外し、第
1、第2の貫通棒を抜いて、前記プローブスペーサー及
び間隔スペーサーを互いに切り離し、前記プローブスペ
ーサーの第1の切り欠きから積層型プローブを抜き出す
ようにしたことを特徴としている。
【0008】本発明に係る別の積層型プローブの製造方
法は、プローブスペーサーが省略された積層型プローブ
組立装置を用いて積層型プローブを製造する方法であっ
て、前記ブレードプローブ及び間隔スペーサーを複数積
層し、前記ブレードプローブの第1の位置決め用貫通穴
及び前記間隔スペーサーの第2の切り欠きに第1の貫通
棒を各々通すとともに、前記間隔スペーサーの第2の位
置決め用貫通穴に第2の貫通棒を各々通し、複数積層さ
れたプレードプローブ及び間隔スペーサーの両側を一対
の固定板により固定し、このように間隔規制された前記
ブレードプローブの基端部同士の間を絶縁性の樹脂を用
いて固定した後、複数積層されたプレードプローブ及び
間隔スペーサーから一対の固定板を取り外し、第1、第
2の貫通棒を抜いて、前記プレードプローブ及び間隔ス
ペーサーを互いに切り離し、積層型プローブを抜き出す
ようにしたことを特徴としている。
【0009】本発明に係る積層型プローブは、金属薄板
であるブレードプローブが所定ピッチ間隔で多数積層さ
れており且つプローブカードのガイド板の開口に取り付
けられる積層型プローブであって、前記ブレードプロー
ブは、第1の位置決め用貫通穴が形成された本体部と、
前記本体部の先端側に形成された下側カンチレバー部
と、前記本体部と下側カンチレバー部との間に形成され
た張出部とを有した構成となっており、前記ブレードプ
ローブ同士が絶縁性の樹脂により固定されていることを
特徴としている。
【0010】より好ましくは、前記張出部には、前記ガ
イド板の開口の周りに形成された位置決め穴に挿入され
る位置決め突起部を形成することが望ましい。また、前
記絶縁性の樹脂を用いてプローブカードのガイド板の開
口に固定するために、前記絶縁性の樹脂を前記開口と同
一形状及び同一寸法にして前記開口に挿入可能にするこ
とが望ましい。更に、前記ブレードプローブの第1の位
置決め用貫通穴を切り欠き穴にすることが望ましい。
【0011】本発明に係るプローブカードは、プリント
基板と、前記プリント基板の下側に配置されたガイド板
と、前記ガイド板に形成された開口に取り付けられた前
記積層型プローブとを備えたことを特徴としている。
【0012】
【発明を実施するための最良の形態】以下、本発明の実
施の形態を図面を参照して説明する。図1は積層型プロ
ーブのプレードプローブの概略的斜視図、図2は各種の
プレードプローブの概略的斜視図、図3は別のプレード
プローブの概略的斜視図、図4は積層型プローブ組立装
置のプローブスペーサーの斜視図、図5は同装置の間隔
スペーサーの斜視図、図6は同装置の固定板の正面図、
図7は同装置の構成を示す分解斜視図、図8は別の積層
型プローブ組立装置の構成を示す分解斜視図、図9は積
層型プローブをプローブカードのガイド板の開口に取り
付ける方法を説明するための図、図10は積層型プロー
ブが取り付けられた同ガイド板の様子を示す模式図、図
11はプローブカードの模式的側面図である。
【0013】図11に示すプローブカードCは、次世代
の半導体素子等の電気的特性を測定する際に使用される
ものであり、プリント基板100と、プリント基板10
0の下側に配置されたガイド板140と、ガイド板14
0に形成された開口141に取り付けられた積層型プロ
ーブBとを備えている。
【0014】プリント基板100の上面には開口101
が形成されており、その周辺には回路パターンの一部を
構成するパッド120が形成されている。プリント基板
100の下側にはリング120を介して円板状のカイド
板140が取り付けられている。カイド部140には複
数の開口141が形成されており、開口141に積層型
プローブBが取り付けられている。
【0015】なお、図中150は固定樹脂であり、図中
160は次に説明する積層型プローブBの各ブレードプ
ローブ10の端部とパッド120との間を電気接続する
ためのワイヤである。
【0016】積層型プローブBは、図9に示すように金
属薄板であるブレードプローブ10がピッチ間隔T(こ
こでは40μm)で多数積層されたもので(図示例では
便宜上ブレードプローブ10が3枚であるとして示して
いる)、ブレードプローブ10同士が絶縁性の樹脂80
により固定されている。
【0017】ブレードプローブ10は、図1に示すよう
に貫通孔15、15(第1の位置決め用穴に相当する)
以外に連結孔14が形成された本体部11と、本体部1
1の先端側に形成された下側カンチレバー部13と、本
体部11と下側カンチレバー部13との間に形成された
張出部16と、張出部16の両外側に形成されており且
つガイド板140の開口141の周りに形成された位置
決め穴142(図9参照)に挿入される位置決め突起部
13とを有した構成となっている。ここではブレードプ
ローブ10として、ニッケル合金、SUS、BeCu等
の箔を用いている。
【0018】なお、図1に示すブレードプローブ10の
代わりに、図2(a),(b),(c)に示すブレード
プローブ10を用いても良い。また、図3に示すブレー
ドプローブ10’を用いてもかまわない。ブレードプロ
ーブ10’が図1に示すものと異なるのは貫通孔15が
切り欠き穴にされている点である。
【0019】樹脂80として、温度変化に対して伸縮率
が大きく変化しないもの、例えば、ポリイミド等を用い
ている。樹脂80は、ブレードプローブ10同士を固定
するだけでなく、プローブカードCのガイド板140の
開口141に固定するためにも使用されている。即ち、
図9に示されているように、樹脂80が開口141と同
一形状及び同一寸法にされて開口141に挿入可能にな
っている。なお、積層型プローブBのガイド板140へ
の取り付け方法等については後述する。
【0020】このような積層型プローブBを組み立てる
際に使用されるのが図7に示す積層型プローブ組立装置
Aである。
【0021】積層型プローブ組立装置Aは、図4に示さ
れているようにブレードプローブ10と同一の厚みを有
する金属製のフィルムであり且つブレードプローブ10
を入り込ませて保持するための切り欠き21(第1の切
り欠きに相当する)及び貫通穴22、22(第2の位置
決め用貫通穴に相当する)が形成されたプローブスペー
サー20と、図5に示されているようにピッチ間隔Tと
等しい厚みを有する金属製のフィルムであり且つプロー
ブスペーサー20の切り欠き21に比べて小さな寸法の
切り欠き31(第2の切り欠きに相当する)及び貫通穴
32、32(第3の位置決め用貫通穴に相当する)が形
成された間隔スペーサー30と、図7に示されているよ
うにプローブスペーサー20及び間隔スペーサー30を
複数積層した状態で貫通穴15及び切り欠き31に各々
通される貫通棒72、72(第1の貫通棒に相当する)
と、プローブスペーサー20及び間隔スペーサー30を
複数積層した状態で貫通穴22、22及び貫通穴32、
32に各々通される貫通棒73、73(第2の貫通棒に
相当する)と、図6及び図7に示されているように複数
積層されたプローブスペーサー20及び間隔スペーサー
30をその両側から固定するための固定板60、60
(一対の固定板に相当する)とを具備している。
【0022】プローブスペーサー20及び間隔スペーサ
ー30については、ここではステンレス製のフィルムに
エッチングを施すことにより作成しており、同じ大きさ
のものを用いている。
【0023】プローブスペーサー20の切り欠き21の
寸法は、図4に示されているようにブレードプローブ1
0を嵌まり込んで保持することが可能な程度の大きさに
設定されている。一方、間隔スペーサー30の切り欠き
31の寸法は、ブレードプローブ10が嵌まり込まない
程度、ここではブレードプローブ10の張出部16及び
下側カンチレバー部13と連結孔14との間の寸法程度
に設定されている。
【0024】貫通棒72は、図7に示されているように
ブレードプローブ10の貫通孔15に通してブレードプ
ローブ10をブレードプローブ10及び間隔スペーサー
30に対し位置決めするために使用される一方、貫通棒
73は複数積層されるブローブスペーサー20と間隔ス
ペーサー30との間を位置決めするために使用される。
ここでは貫通棒72、73として、硬質の金属棒材を用
いている。
【0025】固定板60、60は、複数積層されたプロ
ーブスペーサー20及び間隔スペーサー30をその両面
から押さえ付けるためのものである。ここでは、セラミ
ック、金属板等を用いている。
【0026】固定板60の上側には、図6及び図7に示
されているようにユニット固定ネジ71、71が通され
るユニット固定貫通孔62、62が形成されている。ユ
ニット固定貫通孔62と62との間の距離は、次に説明
するスペーサー貫通孔64の距離より大きくて、プロー
ブスペーサー20及び間隔スペーサー30の横幅より小
さくなっている。
【0027】固定板60のユニット固定貫通孔62、6
2の間の中心部分には、貫通棒72、72が通されるプ
ローブ貫通孔63、63が、その両側には貫通棒73、
73が通されるスペーサー貫通孔64、64が横一列に
形成されている。固定板60のプローブ貫通孔63と6
3との間の距離は、ブレードプローブ10の貫通孔15
と15との間の距離に等しくなっている。また、スペー
サー貫通孔64と64との間の距離は、プローブスペー
サー20の貫通孔22と22との間、間隔スペーサー3
0の貫通孔22と22との間の距離に各々等しくなって
いる。
【0028】即ち、プローブスペーサー20及び間隔ス
ペーサー30を複数積層し、その両側に固定板60を配
置した状態で、貫通棒72、73をプローブ貫通孔6
3、スペーサー貫通孔64に別々に通すようにする。す
ると、固定板60、複数積層されたプローブスペーサー
20及び間隔スペーサー30、ブレードプローブ10、
固定板60が互いに位置決めされる。この状態で、ユニ
ット固定貫通孔62、62にユニット固定ネジ71、7
1を通すと、複数積層されたプローブスペーサー20及
び間隔スペーサー30の両側面に貫通棒71、71が当
接することから、複数積層されたプローブスペーサー2
0及び間隔スペーサー30が固定板60に対して確実に
位置決めされる。
【0029】固定板60の下側には固定板貫通ネジ7
0、70が通される固定板貫通孔61、61が各々形成
されている。即ち、固定板貫通ネジ70及び図外のナッ
トを用いて、固定板60、60を複数積層されたプロー
ブスペーサー20及び間隔スペーサー30の両側に固定
する。このように固定板貫通ネジ70等を用いると、複
数積層されたプローブスペーサー20及び間隔スペーサ
ー30の両面に固定板60が確実に固定される。即ち、
複数積層されたプローブスペーサー20及び間隔スペー
サー30が固定板60、60との間で強固に挟まれる。
このときプローブスペーサー20の切り欠き21に各々
保持されたブレードプローブ10については、隣り合う
間隔スペーサー30の間に挟まれことになり、そのピッ
チ間隔が間隔スペーサー30の厚み分であるTに等しく
なる。
【0030】具体的には、以下のような方法により積層
型プローブAを製造している。
【0031】まず、プローブスペーサー20の切り欠き
21にブレードプローブ10を入り込ませて保持し、プ
ローブスペーサー20及び間隔スペーサー30を複数積
層し、その両側に固定板60、60を配置する。固定板
60のプローブ貫通孔63、ブレードブローブ10の貫
通穴15に貫通棒72を各々通すとともに、固定板60
のスペーサー貫通孔64、プローブスペーサー20の貫
通穴22及び間隔スペーサー30の貫通穴32に貫通棒
73を各々通す。そして、固定板60のユニット固定貫
通孔62にユニット固定ネジ71を通した後、固定板貫
通孔61に固定板貫通ネジ70を通して、図外のナット
を用いて、複数積層されたプローブスペーサー20及び
間隔スペーサー30の両側を固定板60、60により固
定する。このように間隔規制されたブレードプローブ1
0の本体同士の間を絶縁性の樹脂80を用いて固定した
後、上記と全く逆の過程を経て、複数積層されたプロー
ブスペーサー20及び間隔スペーサー30から固定板6
0、60を取り外し、プローブスペーサー20及び間隔
スペーサー30を互いに切り離し、プローブスペーサー
20の切り欠き21から積層型プローブBを抜き出すよ
うにする。
【0032】このように積層型プローブ組立装置Aを用
いて積層型プローブAを製造した場合、次のようなメリ
ットが得られる。まず、ブレードプローブ10を間隔規
制するためのプローブスペーサー20及び間隔スペーサ
ー30が金属製のフィルムで作成されていることから、
従来例による場合とは異なり、積層して組み立てる過程
でプローブスペーサー20及び間隔スペーサー30が圧
縮されず、この結果、高いピッチ精度が得られる。エッ
チング等の技術を用いることができるので、プローブス
ペーサー20及び間隔スペーサー30の加工が容易とな
る。また、IC、LSI等のチップのピッチ変更に対応
することも容易であるので、これらのチップの超ファイ
ンピッチ化を図る上で大きな意義がある。
【0033】また、ブレードプローブ10の代わりに図
3に示すブレードプローブ10’を用いた場合、次のよ
うなメリットが得られる。即ち、積層型プローブ組立装
置Aを用いて積層型プローブAを製造する途中におい
て、積層されたブレードプローブ10’のうち1枚に不
具合のあるものを発見したとき、たとえ貫通棒72がブ
レードプローブ10の貫通穴15’を通っている状態で
も、不具合のあるブレードプローブ10’のみを抜き出
して新しいものに交換することができる。この点で非常
に便利であり、製造工程の効率化を図ることが可能にな
る。
【0034】更に、図8に示すような積層型プローブ組
立装置A’に設計変更してもかまわない。上記例と異な
るのはプローブスペーサー20が省略されている点であ
る。この場合、ブレードプローブ10(又は10’)は
隣り合った間隔スペーサー30の間に挟まれることな
る。具体的には、次のようにして積層型プローブAが製
造される。
【0035】まず、プレードフローブ10及び間隔スペ
ーサー30を複数積層し、その両側に固定板60、60
を配置する。固定板60のプローブ貫通孔63、ブレー
ドブローブ10の貫通穴15を通すとともに、固定板6
0のスペーサー貫通孔64、間隔スペーサー30の貫通
孔32に貫通棒73を各々通す。そして、固定板60の
ユニット固定貫通孔62にユニット固定ネジ71を通し
た後、固定板貫通孔61に固定板貫通ネジ70を通し
て、図外のナットを用いて、複数積層されたプレードフ
ローブ10及び間隔スペーサー30の両側を固定板6
0、60により固定する。このように間隔規制されたブ
レードプローブ10の基端部同士の間を絶縁性の樹脂8
0を用いて固定した後、上記と全く逆の過程を経て、複
数積層されたプレードフローブ10及び間隔スペーサー
30から固定板60、60を取り外し、間隔スペーサー
30から積層型プローブAを抜き出すようにする。
【0036】この場合であっても積層型プローブのピッ
チ間隔は間隔スペーサー30の厚み分であるTに等しく
なり、必要とされる十分な精度が得られる。上記例で述
べたメリットに加えて、上記例とは異なり、プローブス
ペーサー20が不要であり、プローブスペーサー20の
切り欠き21にブレードプローブ10を保持する必要が
なくなる。
【0037】このようにして製造された積層型プローブ
Bは図9に示すようにプローブカードCのガイド板14
0の開口141に下側から挿入される。すると、積層型
プローブBの各ブレードプローブ10の張出部16がガ
イド板140の裏面に当接するとともに、位置決め突起
部13がガイド板140に形成された位置決め穴142
に挿入される。このとき開口141と同一形状及び同一
寸法にされた樹脂80が開口141に挿入された状態に
なっている。即ち、積層型プローブBをガイド板140
の開口141に挿入するだけで、積層型プローブBがガ
イド板140に固定される。図10(a)は積層型プロ
ーブBが取り付けられたガイド板140の裏面を示して
おり、(b)はその表面を示している。その後、図11
に示されているように、ガイド板140をリング130
を介してプリント基板100の裏面に取り付け、ワイヤ
配線等を行うと、プローブカードCが作成される。
【0038】以上述べたように、積層型プローブBの組
立からプローブカードCの作成に至るまでの全工程が非
常に簡単になるので、結果として、プローブカードCの
低コストを実現することが可能になる。
【0039】なお、本発明に係る積層型プローブ等につ
いては上記実施形態に限定されない。例えば、プローブ
スペーサー及び間隔スペーサーに形成すべき位置決め用
貫通穴の個数、形状については適宜設計変更すれば良い
し、一対の固定板については、複数積層されたプローブ
スペーサー及び間隔スペーサー等をその両側から固定す
ることができる限り、このような構成のものを用いても
かまわない。
【0040】
【発明の効果】以上、本発明に係る積層型プローブ組立
装置、積層型プローブの組立方法による場合、ブレード
プローブを間隔規制するための間隔スペーサー等が金属
製のフィルムで作成されていることから、従来例による
場合とは異なり、積層して組み立てる過程でプローブス
ペーサー及び間隔スペーサーが圧縮されず、この結果、
高いピッチ精度が得られる。エッチング等の技術を用い
ることができるので、間隔スペーサー等の加工が容易と
なり、結果として、積層型プローブの低コストを実現す
ることが可能になる。また、IC、LSI等のチップの
ピッチ変更に対応することも容易であるので、これらの
チップの超ファインピッチ化を図る上で大きな意義があ
る。本発明に係る積層型プローブ及びプローブカードに
ついても同様である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を説明するための図であっ
て、積層型プローブのプレードプローブの概略的斜視図
である。
【図2】各種のプレードプローブの概略的斜視図であ
る。
【図3】別のプレードプローブの概略的斜視図である。
【図4】積層型プローブ組立装置のプローブスペーサー
の斜視図である。
【図5】同装置の間隔スペーサーの斜視図である。
【図6】同装置の固定板の正面図である。
【図7】同装置の構成を示す分解斜視図である。
【図8】別の積層型プローブ組立装置の構成を示す分解
斜視図である。
【図9】積層型プローブをプローブカードのガイド板の
開口に取り付ける方法を説明するための図である。
【図10】積層型プローブが取り付けられた同ガイド板
の様子を示す模式図である。
【図11】プローブカードの模式的側面図である。
【符号の説明】
A 積層型プローブ組立装置 20 プローブスペーサー 22 貫通穴 30 間隔スペーサー 31 切り欠き31 32 貫通穴 60 固定板 72、73 貫通棒 B 積層型プローブ 10 ブレードプローブ 11 本体部 12 位置決め突起部 13 下側カンチレバー部 14 連結孔 15 貫通孔 16 張出部 80 樹脂 C プローブカード 100 プリント基板 140 ガイド板、141 開口
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G011 AA04 AA10 AA18 AB06 AE01 AF07 4M106 AA01 BA01 DD03 DD04 DD10 DD30

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属薄板であるブレードプローブがピッ
    チ間隔Tで多数積層された積層型プローブを組み立てる
    際に使用される積層型プローブ組立装置において、 前記ブレードプローブの基端部の面上には第1の位置決
    め用貫通穴が形成されていることを条件とし、 前記ブレードプローブと同一の厚みを有する金属製のフ
    ィルムであり且つブレードプローブを入り込ませて保持
    するための第1の切り欠き及び第2の位置決め用貫通穴
    が形成されたプローブスペーサーと、ピッチ間隔Tと等
    しい厚みを有する金属製のフィルムであり且つ第1の切
    り欠き比べて小さな寸法の第2の切り欠き及び第3の位
    置決め用貫通穴が形成された間隔スペーサーと、前記プ
    ローブスペーサー及び間隔スペーサーを複数積層した状
    態で前記第1の位置決め用貫通穴及び第2の切り欠きに
    各々通される第1の貫通棒と、前記プローブスペーサー
    及び間隔スペーサーを複数積層した状態で前記第2、第
    3の位置決め用貫通穴に各々通される第2の貫通棒と、
    複数積層されたプローブスペーサー及び間隔スペーサー
    をその両側から固定するための一対の固定板とを具備し
    たことを特徴とする積層型プローブ組立装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の積層型プローブ組立装置
    において、前記ブレードプローブの第1の位置決め用貫
    通穴が切り欠き穴となっていることを特徴とする積層型
    プローブ組立装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の積層型プローブ組
    立装置において、前記プローブスペーサーを省略し、前
    記ブレードプローブが隣り合った前記間隔スペーサーの
    間に挟まれていることを特徴とする積層型プローブ組立
    装置。
  4. 【請求項4】 請求項1又は2の積層型プローブ組立装
    置を用いて積層型プローブを製造する方法において、前
    記プローブスペーサーの第1の切り欠きに前記ブレード
    プローブを入り込ませて保持し、前記プローブスペーサ
    ー及び間隔スペーサーを複数積層し、前記ブレードプロ
    ーブの第1の位置決め用貫通穴及び前記間隔スペーサー
    の第2の切り欠きに第1の貫通棒を各々通すとともに、
    前記プローブスペーサーの第2の位置決め用貫通穴及び
    間隔スペーサーの第3の位置決め用貫通穴に第2の貫通
    棒を各々通し、複数積層されたプローブスペーサー及び
    間隔スペーサーの両側を一対の固定板により固定し、こ
    のように間隔規制された前記ブレードプローブの基端部
    同士の間を絶縁性の樹脂を用いて固定した後、複数積層
    されたプローブスペーサー及び間隔スペーサーから一対
    の固定板を取り外し、第1、第2の貫通棒を抜いて、前
    記プローブスペーサー及び間隔スペーサーを互いに切り
    離し、前記プローブスペーサーの第1の切り欠きから積
    層型プローブを抜き出すようにしたことを特徴とする積
    層型プローブの製造方法。
  5. 【請求項5】 請求項3の積層型プローブ組立装置を用
    いて積層型プローブを製造する方法において、前記ブレ
    ードプローブ及び間隔スペーサーを複数積層し、前記ブ
    レードプローブの第1の位置決め用貫通穴及び前記間隔
    スペーサーの第2の切り欠きに第1の貫通棒を各々通す
    とともに、前記間隔スペーサーの第2の位置決め用貫通
    穴に第2の貫通棒を各々通し、複数積層されたプレード
    プローブ及び間隔スペーサーの両側を一対の固定板によ
    り固定し、このように間隔規制された前記ブレードプロ
    ーブの基端部同士の間を絶縁性の樹脂を用いて固定した
    後、複数積層されたプレードプローブ及び間隔スペーサ
    ーから一対の固定板を取り外し、第1、第2の貫通棒を
    抜いて、前記プレードプローブ及び間隔スペーサーを互
    いに切り離し、積層型プローブを抜き出すようにしたこ
    とを特徴とする積層型プローブの製造方法。
  6. 【請求項6】 金属薄板であるブレードプローブが所定
    ピッチ間隔で多数積層されており且つプローブカードの
    ガイド板の開口に取り付けられる積層型プローブにおい
    て、前記ブレードプローブは、第1の位置決め用貫通穴
    が形成された本体部と、前記本体部の先端側に形成され
    た下側カンチレバー部と、前記本体部と下側カンチレバ
    ー部との間に形成された張出部とを有した構成となって
    おり、前記ブレードプローブ同士が絶縁性の樹脂により
    固定されていることを特徴とする積層型プローブ。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の積層型プローブにおい
    て、前記張出部には、前記ガイド板の開口の周りに形成
    された位置決め穴に挿入される位置決め突起部が形成さ
    れていることを特徴とする積層型プローブ。
  8. 【請求項8】 請求項6又は7記載の積層型プローブに
    おいて、前記絶縁性の樹脂を用いてプローブカードのガ
    イド板の開口に固定するために、前記絶縁性の樹脂が前
    記開口と同一形状及び同一寸法にされて前記開口に挿入
    可能になっていること特徴とする積層型プローブ。
  9. 【請求項9】 請求項6、7又は8記載の積層型プロー
    ブにおいて、前記ブレードプローブの第1の位置決め用
    貫通穴が切り欠き穴となっていることを特徴とする積層
    型プローブ。
  10. 【請求項10】 プリント基板と、前記プリント基板の
    下側に配置されたガイド板と、前記ガイド板に形成され
    た開口に取り付けられた請求項6、7、8又は9の積層
    型プローブとを備えたことを特徴とするプローブカー
    ド。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008286601A (ja) * 2007-05-16 2008-11-27 Micronics Japan Co Ltd プローブ組立体及び検査装置
JP2010261841A (ja) * 2009-05-08 2010-11-18 Japan Electronic Materials Corp コンタクトプローブ
JP2013541006A (ja) * 2010-09-30 2013-11-07 イスメカ セミコンダクター ホールディング エス アー 電気接点と試験用プラットフォーム
JP7452317B2 (ja) 2020-08-05 2024-03-19 オムロン株式会社 ソケット、ソケットユニット、検査治具および検査治具ユニット

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