JP2003228035A - 電気光学装置、これを備えた複板式カラープロジェクタ及び電子機器、並びに電気光学装置の修正方法及び装置 - Google Patents
電気光学装置、これを備えた複板式カラープロジェクタ及び電子機器、並びに電気光学装置の修正方法及び装置Info
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- JP2003228035A JP2003228035A JP2002026137A JP2002026137A JP2003228035A JP 2003228035 A JP2003228035 A JP 2003228035A JP 2002026137 A JP2002026137 A JP 2002026137A JP 2002026137 A JP2002026137 A JP 2002026137A JP 2003228035 A JP2003228035 A JP 2003228035A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶装置等の電気光学装置において、輝点等
の欠陥個所を効率的に修正できるようにする。 【解決手段】 電気光学装置は、基板(10)上に、複
数の画素電極(9a)と、該画素電極に接続された電子
素子又は配線(30、70、71)とを備える。複数の
画素電極に対応する複数の画素のうち、輝点(903)
等となる不良化した画素の少なくとも一部については、
不透明材料(910)で覆われることによって黒点化さ
れている。このような黒点化は、例えば、点燈検査によ
り輝点を検出後に、これに向けてインクジェットヘッド
(530)からインクを吐出することで実施する。
の欠陥個所を効率的に修正できるようにする。 【解決手段】 電気光学装置は、基板(10)上に、複
数の画素電極(9a)と、該画素電極に接続された電子
素子又は配線(30、70、71)とを備える。複数の
画素電極に対応する複数の画素のうち、輝点(903)
等となる不良化した画素の少なくとも一部については、
不透明材料(910)で覆われることによって黒点化さ
れている。このような黒点化は、例えば、点燈検査によ
り輝点を検出後に、これに向けてインクジェットヘッド
(530)からインクを吐出することで実施する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶装置等の電気
光学装置、これを備えた複板式カラープロジェクタ及び
電子機器、並びにこのような電気光学装置の修正方法及
び装置の技術分野に属する。
光学装置、これを備えた複板式カラープロジェクタ及び
電子機器、並びにこのような電気光学装置の修正方法及
び装置の技術分野に属する。
【0002】
【背景技術】一般にこの種の電気光学装置は、例えば薄
膜トランジスタ(以下適宜、TFT(Thin Film Transi
stor)と称す)駆動によるアクティブマトリクス駆動方
式であれば、多数の画素電極及びこれをスイッチング制
御するTFT並びにこれに接続され画像信号や走査信号
を供給するデータ線、走査線等の配線などが設けられた
アレイ基板と、これに対向配置される対向電極、カラー
フィルタなどが設けられた対向基板とを備える。
膜トランジスタ(以下適宜、TFT(Thin Film Transi
stor)と称す)駆動によるアクティブマトリクス駆動方
式であれば、多数の画素電極及びこれをスイッチング制
御するTFT並びにこれに接続され画像信号や走査信号
を供給するデータ線、走査線等の配線などが設けられた
アレイ基板と、これに対向配置される対向電極、カラー
フィルタなどが設けられた対向基板とを備える。
【0003】従って、この種の電気光学装置では、各画
素に係る画素電極、配線或いはTFTのショートや断線
に起因して、画素単位で欠陥個所が発生する。そして、
このような欠陥個所は、当該電気光学装置の動作時にお
ける「輝点」個所、即ち表示画像によらずに常時光抜け
して輝いて見える不良表示個所として視認される。或い
は「黒点」個所、即ち表示画像によらずに常時黒く見え
る不良表示個所として視認される。この際、欠陥個所が
輝点個所となるか黒点個所となるかは、ノーマリーブラ
ックモード又はノーマリーホワイトモードといった動作
モードの別、並びに欠陥個所の性質(例えば、断線なの
かショートなのか等)に概ね依存するものである。
素に係る画素電極、配線或いはTFTのショートや断線
に起因して、画素単位で欠陥個所が発生する。そして、
このような欠陥個所は、当該電気光学装置の動作時にお
ける「輝点」個所、即ち表示画像によらずに常時光抜け
して輝いて見える不良表示個所として視認される。或い
は「黒点」個所、即ち表示画像によらずに常時黒く見え
る不良表示個所として視認される。この際、欠陥個所が
輝点個所となるか黒点個所となるかは、ノーマリーブラ
ックモード又はノーマリーホワイトモードといった動作
モードの別、並びに欠陥個所の性質(例えば、断線なの
かショートなのか等)に概ね依存するものである。
【0004】そこで従来は、このような画素単位の欠陥
個所を修正すべく、先ず液晶封入前など、アレイ基板上
に配線や電子素子が形成された段階で、パターン検査
機、テスタ等で欠陥個所を検出する。その後、検出され
た欠陥個所に対して、レーザによる切断、溶接、レーザ
CVD(Chemical Vapor Deposition:化学蒸着)によ
る回路接続等を行なったりしている。
個所を修正すべく、先ず液晶封入前など、アレイ基板上
に配線や電子素子が形成された段階で、パターン検査
機、テスタ等で欠陥個所を検出する。その後、検出され
た欠陥個所に対して、レーザによる切断、溶接、レーザ
CVD(Chemical Vapor Deposition:化学蒸着)によ
る回路接続等を行なったりしている。
【0005】或いは、液晶封入後など、電気光学装置が
概ね完成した段階で、点灯検査を行って、欠陥個所に対
するレーザ修正等を行ったりしている。
概ね完成した段階で、点灯検査を行って、欠陥個所に対
するレーザ修正等を行ったりしている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た液晶封入前などにパターン検査機等で欠陥個所を検出
する修正技術によれば、例えば画素電極或いは表示用電
極として透明電極が用いられる透過型の電気光学装置の
場合に、当該画素電極或いは表示用電極のパターンを検
出できない。即ち、透過型の電気光学装置であると、こ
の修正技術は役に立たないという問題点がある。
た液晶封入前などにパターン検査機等で欠陥個所を検出
する修正技術によれば、例えば画素電極或いは表示用電
極として透明電極が用いられる透過型の電気光学装置の
場合に、当該画素電極或いは表示用電極のパターンを検
出できない。即ち、透過型の電気光学装置であると、こ
の修正技術は役に立たないという問題点がある。
【0007】他方、上述した液晶封入後などに点灯検査
する修正技術によれば、レーザ修正の際に、電気光学装
置内部にパーティクルが飛散して、新たな欠陥が即時に
発生したり、出荷後における新たな欠陥の原因となった
りするという問題点がある、更に、この対策として、一
つの画素に対して画素スイッチング用のTFTを複数設
けて、異常が発見された方のTFTをレーザにて切断す
る技術も考えられる。しかしながら、これでは余分なT
FTを設ける必要が生じてしまい、各画素の開口率(即
ち、各画素における全領域に対する、実際に表示に寄与
する光が出射される領域の比率)の低下を招き、最終的
には表示が暗くなるという問題点が生じる。
する修正技術によれば、レーザ修正の際に、電気光学装
置内部にパーティクルが飛散して、新たな欠陥が即時に
発生したり、出荷後における新たな欠陥の原因となった
りするという問題点がある、更に、この対策として、一
つの画素に対して画素スイッチング用のTFTを複数設
けて、異常が発見された方のTFTをレーザにて切断す
る技術も考えられる。しかしながら、これでは余分なT
FTを設ける必要が生じてしまい、各画素の開口率(即
ち、各画素における全領域に対する、実際に表示に寄与
する光が出射される領域の比率)の低下を招き、最終的
には表示が暗くなるという問題点が生じる。
【0008】また特に、例えば赤色用、緑色用及び青色
用のライトバルブとして三枚の電気光学装置を用いる複
板式カラープロジェクタの場合には、製造される各電気
光学装置に対する表示検査で、電気光学装置毎に良品・
不良品の判定を行っている。しかるに、人間の視覚上の
感度との関係で、緑色のライトバルブについての、この
不良品の判定における基準は、赤色用や青色用のライト
バルブの場合と比較して厳しい。この結果、緑色用のラ
イトバルブが相対的に不足すると共に、赤色用や青色用
のライトバルブが余ってしまい、全体として複板式カラ
ープロジェクタを生産する際の歩留まりは非効率的に低
下してしまうという問題点もある。
用のライトバルブとして三枚の電気光学装置を用いる複
板式カラープロジェクタの場合には、製造される各電気
光学装置に対する表示検査で、電気光学装置毎に良品・
不良品の判定を行っている。しかるに、人間の視覚上の
感度との関係で、緑色のライトバルブについての、この
不良品の判定における基準は、赤色用や青色用のライト
バルブの場合と比較して厳しい。この結果、緑色用のラ
イトバルブが相対的に不足すると共に、赤色用や青色用
のライトバルブが余ってしまい、全体として複板式カラ
ープロジェクタを生産する際の歩留まりは非効率的に低
下してしまうという問題点もある。
【0009】本発明は上記問題点に鑑みなされたもので
あり、欠陥個所が効率的に修正され得る電気光学装置、
そのような電気光学装置を備えてなる複板式カラープロ
ジェクタ及び電子機器、並びに、そのような欠陥個所を
効率的に修正可能な電気光学装置の修正方法及び装置を
提供することを課題とする。
あり、欠陥個所が効率的に修正され得る電気光学装置、
そのような電気光学装置を備えてなる複板式カラープロ
ジェクタ及び電子機器、並びに、そのような欠陥個所を
効率的に修正可能な電気光学装置の修正方法及び装置を
提供することを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の電気光学装置は
上記課題を解決するために、基板上に、複数の画素電極
と、該画素電極に接続された電子素子又は配線とを備え
ており、前記複数の画素電極に対応する複数の画素のう
ち不良化した画素の少なくとも一部については、不透明
材料で覆われることによって黒点化されている。
上記課題を解決するために、基板上に、複数の画素電極
と、該画素電極に接続された電子素子又は配線とを備え
ており、前記複数の画素電極に対応する複数の画素のう
ち不良化した画素の少なくとも一部については、不透明
材料で覆われることによって黒点化されている。
【0011】本発明の電気光学装置によれば、例えば画
素スイッチング用TFTやTFD(Thin Film Diode:
薄膜ダイオード)等の電子素子や、走査線及びデータ線
などの配線を利用して、複数の画素電極に画像信号を供
給することで、アクティブマトリクス駆動を行える。そ
して、複数の画素電極に対応する複数の画素のうち、不
良化した画素の少なくとも一部については黒点化されて
いる。ここに「黒点化」とは、液的吐出ヘッド、例えば
インクジェットヘッドや熱により気泡を吐出する方式の
ヘッドなどにより、不透明材料で不良個所を、画素単位
で覆うことで黒点個所にすることをいう。尚、不良化し
ていない、一般に大部分の画素については、黒点化され
ていない。ここで特に、表示上で輝点及び黒点のいずれ
かとして現れる不良個所は、人間の視覚との関係で輝点
と比べて黒点のほうが目立たない。このため、本発明の
如く、不良化した画素を積極的に黒点化することで、同
じ不良個所であっても、より目立たなくできる。
素スイッチング用TFTやTFD(Thin Film Diode:
薄膜ダイオード)等の電子素子や、走査線及びデータ線
などの配線を利用して、複数の画素電極に画像信号を供
給することで、アクティブマトリクス駆動を行える。そ
して、複数の画素電極に対応する複数の画素のうち、不
良化した画素の少なくとも一部については黒点化されて
いる。ここに「黒点化」とは、液的吐出ヘッド、例えば
インクジェットヘッドや熱により気泡を吐出する方式の
ヘッドなどにより、不透明材料で不良個所を、画素単位
で覆うことで黒点個所にすることをいう。尚、不良化し
ていない、一般に大部分の画素については、黒点化され
ていない。ここで特に、表示上で輝点及び黒点のいずれ
かとして現れる不良個所は、人間の視覚との関係で輝点
と比べて黒点のほうが目立たない。このため、本発明の
如く、不良化した画素を積極的に黒点化することで、同
じ不良個所であっても、より目立たなくできる。
【0012】より具体的には、製品の規格上、一つの電
気光学装置について、輝点個数がm以上であると、不良
品であると判定され、黒点個数がn以上であると、やは
り不良品と判定される。ここで人間の視覚との関係で、
規格上“m<n”なる関係が成立するので、本発明のよ
うに、不良個所を黒点化すること、即ち“m+n”を一
定として、mを減らしつつnを増加させることで、不良
品と判定される電気光学装置を、良品として判定される
電気光学装置に修正することも可能となるのである。
気光学装置について、輝点個数がm以上であると、不良
品であると判定され、黒点個数がn以上であると、やは
り不良品と判定される。ここで人間の視覚との関係で、
規格上“m<n”なる関係が成立するので、本発明のよ
うに、不良個所を黒点化すること、即ち“m+n”を一
定として、mを減らしつつnを増加させることで、不良
品と判定される電気光学装置を、良品として判定される
電気光学装置に修正することも可能となるのである。
【0013】以上のように本発明の電気光学装置によれ
ば、画素単位の黒点化によって、欠陥個所が極めて効率
的に効率的に修正可能となる。
ば、画素単位の黒点化によって、欠陥個所が極めて効率
的に効率的に修正可能となる。
【0014】本発明の電気光学装置の一態様では、前記
不良化した画素の少なくとも一部とは、黒点化されない
場合に当該電気光学装置の動作状態で輝点となる画素で
ある。
不良化した画素の少なくとも一部とは、黒点化されない
場合に当該電気光学装置の動作状態で輝点となる画素で
ある。
【0015】この態様によれば、当該電気光学装置の動
作状態で輝点となる不良化した画素が、積極的に黒点化
される。例えば、ノーマリーホワイトモードで動作させ
る電気光学装置であれば、電圧印加によって全画面ブラ
ックとした動作状態で、輝点となる不良化した画素を黒
点化する。これにより、極めて効率的に不良個所を目立
たなくできる。
作状態で輝点となる不良化した画素が、積極的に黒点化
される。例えば、ノーマリーホワイトモードで動作させ
る電気光学装置であれば、電圧印加によって全画面ブラ
ックとした動作状態で、輝点となる不良化した画素を黒
点化する。これにより、極めて効率的に不良個所を目立
たなくできる。
【0016】但し、不良化した画素については、輝点で
ない或いは黒点であっても、輝点と区別することなく黒
点化してもよい。不良個所は、動作上の安定性に欠ける
ため、検査状態や検査後或いは出荷後の状態変化で、黒
点が輝点となってしまう可能性も否定できないからであ
る。即ち、不良個所であれば一律に黒点化しておけば、
安定な表示状態を確保し得る。
ない或いは黒点であっても、輝点と区別することなく黒
点化してもよい。不良個所は、動作上の安定性に欠ける
ため、検査状態や検査後或いは出荷後の状態変化で、黒
点が輝点となってしまう可能性も否定できないからであ
る。即ち、不良個所であれば一律に黒点化しておけば、
安定な表示状態を確保し得る。
【0017】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記基板の外表面における、前記不良化した画素に対向す
る領域に、前記不透明材料が塗布されている。
記基板の外表面における、前記不良化した画素に対向す
る領域に、前記不透明材料が塗布されている。
【0018】この態様によれば、当該電気光学装置の内
部に悪影響を与えることなく、単純に基板の外表面に不
透明材料を塗布することで、黒点化を行える。
部に悪影響を与えることなく、単純に基板の外表面に不
透明材料を塗布することで、黒点化を行える。
【0019】或いは本発明の電気光学装置の他の態様で
は、前記基板に対向配置されており前記基板との間で電
気光学物質層を挟持する対向基板を更に備えており、前
記対向基板の外表面における、前記不良化した画素に対
向する領域に、前記不透明材料が塗布されている。
は、前記基板に対向配置されており前記基板との間で電
気光学物質層を挟持する対向基板を更に備えており、前
記対向基板の外表面における、前記不良化した画素に対
向する領域に、前記不透明材料が塗布されている。
【0020】この態様によれば、当該電気光学装置の内
部に悪影響を与えることなく、基板に対向配置された対
向基板の外表面に不透明材料を塗布することで、黒点化
を行える。
部に悪影響を与えることなく、基板に対向配置された対
向基板の外表面に不透明材料を塗布することで、黒点化
を行える。
【0021】或いは本発明の電気光学装置の他の態様で
は、前記基板に対して重ねられた板状の光学要素を更に
備えており、前記光学要素の外表面における、前記不良
化した画素に対向する領域に、前記不透明材料が塗布さ
れている。
は、前記基板に対して重ねられた板状の光学要素を更に
備えており、前記光学要素の外表面における、前記不良
化した画素に対向する領域に、前記不透明材料が塗布さ
れている。
【0022】この態様によれば、当該電気光学装置の内
部に悪影響を与えることなく、基板に対して重ねられた
偏光板、位相差板、反射板、導光板等の各種光学要素の
外表面に不透明材料を塗布することで、黒点化を行え
る。
部に悪影響を与えることなく、基板に対して重ねられた
偏光板、位相差板、反射板、導光板等の各種光学要素の
外表面に不透明材料を塗布することで、黒点化を行え
る。
【0023】本発明の電気光学装置の他の態様では、ノ
ーマリーホワイトモードで駆動される。
ーマリーホワイトモードで駆動される。
【0024】この態様によれば、画素単位で電圧無印加
時に白表示となるノーマリーホワイトモードにおける電
圧印加時に発生する輝点を、黒点化によって見えなくす
ることで、良好な画像表示を行える。
時に白表示となるノーマリーホワイトモードにおける電
圧印加時に発生する輝点を、黒点化によって見えなくす
ることで、良好な画像表示を行える。
【0025】但し、画素単位で電圧無印加時に黒表示と
なるノーマリーブラックモードにおいても電圧無印加時
に発生する輝点を、黒点化によって見えなくすること
で、良好な画像表示を行える。
なるノーマリーブラックモードにおいても電圧無印加時
に発生する輝点を、黒点化によって見えなくすること
で、良好な画像表示を行える。
【0026】本発明の電気光学装置の他の態様では、前
記画素電極は透明電極からなり、前記電子素子は薄膜ト
ランジスタからなる。
記画素電極は透明電極からなり、前記電子素子は薄膜ト
ランジスタからなる。
【0027】この態様によれば、特に前述した従来のパ
ターン検査機等を用いたレーザ修正技術が利用できな
い、透過型のTFTアクティブマトリクス駆動方式の電
気光学装置において、効率的な修正が可能とされる。
ターン検査機等を用いたレーザ修正技術が利用できな
い、透過型のTFTアクティブマトリクス駆動方式の電
気光学装置において、効率的な修正が可能とされる。
【0028】但し、画素電極が反射電極からなる反射型
の電気光学装置として構成してもよいし、或いは画素電
極が半透過反射電極からなる半透過反射型の電気光学装
置として構成してもよい。
の電気光学装置として構成してもよいし、或いは画素電
極が半透過反射電極からなる半透過反射型の電気光学装
置として構成してもよい。
【0029】本発明の電子機器は上記課題を解決するた
めに、上述した本発明の電気光学装置(但し、その各種
態様も含む)を具備する。
めに、上述した本発明の電気光学装置(但し、その各種
態様も含む)を具備する。
【0030】本発明の電子機器は、上述した本発明の電
気光学装置を具備して構成されているので、表示品質に
優れた、複板式プロジェクタの他、単板式プロジェク
タ、液晶テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッ
サ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテー
プレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、POS
端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。
気光学装置を具備して構成されているので、表示品質に
優れた、複板式プロジェクタの他、単板式プロジェク
タ、液晶テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッ
サ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテー
プレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、POS
端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。
【0031】本発明の複板式カラープロジェクタは上記
課題を解決するために、赤色用、青色用及び緑色用の三
つのライトバルブが組み合わされてなる複板式カラープ
ロジェクタであって、前記緑色用のライトバルブは、上
述した本発明の電気光学装置(但し、その各種態様も含
む)からなり、前記赤色用及び前記青色用のライトバル
ブは夫々、基板上に、複数の画素電極と、該画素電極に
接続された電子素子又は配線とを備え、前記複数の画素
電極に対応する複数の画素のいずれについても黒点化さ
れていない他の電気光学装置からなる。
課題を解決するために、赤色用、青色用及び緑色用の三
つのライトバルブが組み合わされてなる複板式カラープ
ロジェクタであって、前記緑色用のライトバルブは、上
述した本発明の電気光学装置(但し、その各種態様も含
む)からなり、前記赤色用及び前記青色用のライトバル
ブは夫々、基板上に、複数の画素電極と、該画素電極に
接続された電子素子又は配線とを備え、前記複数の画素
電極に対応する複数の画素のいずれについても黒点化さ
れていない他の電気光学装置からなる。
【0032】本発明の複板式カラープロジェクタによれ
ば、規格が最も厳しい緑色用の基準をクリアする電気光
学装置の個数が、黒点化によって結果として増加させら
れている。他方、特に黒点化せずとも緑色用に比べて個
数は余っている、規格が緩い赤色用及び青色用の電気光
学装置については、無駄な黒点化が結果として行われて
いない。ここで、規格上、緑色用の電気光学装置は、黒
点個数は、数個(n1個)まで許されるが、輝点個数
は、1個も許されない。これに対して、規格上、赤色用
の電気光学装置は、黒点個数は、n1個より多いn2個
まで許され、輝点個数も数個まで許される。青色用の電
気光学装置では更に、より多くの個数の黒点や輝点が許
される。
ば、規格が最も厳しい緑色用の基準をクリアする電気光
学装置の個数が、黒点化によって結果として増加させら
れている。他方、特に黒点化せずとも緑色用に比べて個
数は余っている、規格が緩い赤色用及び青色用の電気光
学装置については、無駄な黒点化が結果として行われて
いない。ここで、規格上、緑色用の電気光学装置は、黒
点個数は、数個(n1個)まで許されるが、輝点個数
は、1個も許されない。これに対して、規格上、赤色用
の電気光学装置は、黒点個数は、n1個より多いn2個
まで許され、輝点個数も数個まで許される。青色用の電
気光学装置では更に、より多くの個数の黒点や輝点が許
される。
【0033】即ち、三色用の中で、緑色用としては不良
品であるものの、赤色用及び青色用としては良品である
電気光学装置に対して、黒点化による修正を施すことに
よって、緑色用の基準を満たす電気光学装置の個数が相
対的に増加させられている。従って、全体として極めて
効率的に歩留まりが向上されている。
品であるものの、赤色用及び青色用としては良品である
電気光学装置に対して、黒点化による修正を施すことに
よって、緑色用の基準を満たす電気光学装置の個数が相
対的に増加させられている。従って、全体として極めて
効率的に歩留まりが向上されている。
【0034】但し、赤色用及び青色用の電気光学装置の
一部或いは全部についても、黒点化による修正が行われ
ているように構成してもよい。この場合にも、歩留まり
向上については、相応の効果が得られる。
一部或いは全部についても、黒点化による修正が行われ
ているように構成してもよい。この場合にも、歩留まり
向上については、相応の効果が得られる。
【0035】本発明の複板式カラープロジェクタは上記
課題を解決するために、赤色用、青色用及び緑色用の三
つのライトバルブが組み合わされてなる複板式カラープ
ロジェクタであって、前記青色用のライトバルブは、上
述した本発明の電気光学装置(但し、その各種態様も含
む)からなり、前記赤色用及び前記緑色用のライトバル
ブは夫々、基板上に、複数の画素電極と、該画素電極に
接続された電子素子又は配線とを備え、前記複数の画素
電極に対応する複数の画素のいずれについても黒点化さ
れていない他の電気光学装置からなる。
課題を解決するために、赤色用、青色用及び緑色用の三
つのライトバルブが組み合わされてなる複板式カラープ
ロジェクタであって、前記青色用のライトバルブは、上
述した本発明の電気光学装置(但し、その各種態様も含
む)からなり、前記赤色用及び前記緑色用のライトバル
ブは夫々、基板上に、複数の画素電極と、該画素電極に
接続された電子素子又は配線とを備え、前記複数の画素
電極に対応する複数の画素のいずれについても黒点化さ
れていない他の電気光学装置からなる。
【0036】本発明の複板式カラープロジェクタによれ
ば、規格が最も緩い青色用の基準をクリアする電気光学
装置の個数が、黒点化によって増加させられている。即
ち、何らかの理由によって製造品質が相対的に悪く、黒
点化なしでは不良品と判定されてしまう程度に不良個所
が多いものであっても、最も規格が緩い黒点の個数とし
て認められる総数内に、輝点及び黒点の総数が入ってい
る限り、黒点化によって、青色用の電気光学装置として
良品として判定されるレベルにまで修正できる。他方、
規格が厳しい緑色用や赤色用の電気光学装置には、製造
品質が本来的に良く、黒点化を待たずして、予め輝点が
0或いは少ないものを優先的に割り振るようにする。こ
れらによって、三色用の中で、緑色用或いは赤色用とし
ては不良品であるものの、黒点化によって青色用として
は良品となる電気光学装置の個数が相対的に増加させら
れている。従って、全体として極めて効率的に歩留まり
が向上されている。
ば、規格が最も緩い青色用の基準をクリアする電気光学
装置の個数が、黒点化によって増加させられている。即
ち、何らかの理由によって製造品質が相対的に悪く、黒
点化なしでは不良品と判定されてしまう程度に不良個所
が多いものであっても、最も規格が緩い黒点の個数とし
て認められる総数内に、輝点及び黒点の総数が入ってい
る限り、黒点化によって、青色用の電気光学装置として
良品として判定されるレベルにまで修正できる。他方、
規格が厳しい緑色用や赤色用の電気光学装置には、製造
品質が本来的に良く、黒点化を待たずして、予め輝点が
0或いは少ないものを優先的に割り振るようにする。こ
れらによって、三色用の中で、緑色用或いは赤色用とし
ては不良品であるものの、黒点化によって青色用として
は良品となる電気光学装置の個数が相対的に増加させら
れている。従って、全体として極めて効率的に歩留まり
が向上されている。
【0037】但し、赤色用及び緑色用の電気光学装置の
一部或いは全部についても、黒点化による修正が行われ
ているように構成してもよい。この場合にも、歩留まり
向上については、相応の効果が得られる。
一部或いは全部についても、黒点化による修正が行われ
ているように構成してもよい。この場合にも、歩留まり
向上については、相応の効果が得られる。
【0038】本発明の複板式カラープロジェクタは上記
課題を解決するために、赤色用、青色用及び緑色用の三
つのライトバルブが組み合わされてなる複板式カラープ
ロジェクタであって、前記青色用及び前記赤色用のライ
トバルブは夫々、上述した本発明の電気光学装置(但
し、その各種態様も含む)からなり、前記緑色用のライ
トバルブは、基板上に、複数の画素電極と、該画素電極
に接続された電子素子又は配線とを備え、前記複数の画
素電極に対応する複数の画素のいずれについても黒点化
されていない他の電気光学装置からなる。
課題を解決するために、赤色用、青色用及び緑色用の三
つのライトバルブが組み合わされてなる複板式カラープ
ロジェクタであって、前記青色用及び前記赤色用のライ
トバルブは夫々、上述した本発明の電気光学装置(但
し、その各種態様も含む)からなり、前記緑色用のライ
トバルブは、基板上に、複数の画素電極と、該画素電極
に接続された電子素子又は配線とを備え、前記複数の画
素電極に対応する複数の画素のいずれについても黒点化
されていない他の電気光学装置からなる。
【0039】本発明の複板式カラープロジェクタによれ
ば、規格が相対的に緩い青色用及び赤色用の基準をクリ
アする電気光学装置の個数が、黒点化によって増加させ
られている。即ち、何らかの理由によって製造品質が相
対的に悪く、黒点化なしでは不良品と判定されてしまう
程度に不良個所が多いものであっても、規格が緩い黒点
の個数として認められる総数内に、輝点及び黒点の総数
が入っている限り、黒点化によって、青色用及び赤色用
の電気光学装置として良品として判定されるレベルにま
で修正できる。他方、規格が最も厳しい緑色用の電気光
学装置には、製造品質が本来的に良く、黒点化を待たず
して、予め輝点が0或いは少ないものを優先的に割り振
るようにする。これらによって、三色用の中で、緑色用
としては不良品であるものの、黒点化によって青色用或
いは赤色用としては良品となる電気光学装置の個数が相
対的に増加させられている。従って、全体として極めて
効率的に歩留まりが向上されている。
ば、規格が相対的に緩い青色用及び赤色用の基準をクリ
アする電気光学装置の個数が、黒点化によって増加させ
られている。即ち、何らかの理由によって製造品質が相
対的に悪く、黒点化なしでは不良品と判定されてしまう
程度に不良個所が多いものであっても、規格が緩い黒点
の個数として認められる総数内に、輝点及び黒点の総数
が入っている限り、黒点化によって、青色用及び赤色用
の電気光学装置として良品として判定されるレベルにま
で修正できる。他方、規格が最も厳しい緑色用の電気光
学装置には、製造品質が本来的に良く、黒点化を待たず
して、予め輝点が0或いは少ないものを優先的に割り振
るようにする。これらによって、三色用の中で、緑色用
としては不良品であるものの、黒点化によって青色用或
いは赤色用としては良品となる電気光学装置の個数が相
対的に増加させられている。従って、全体として極めて
効率的に歩留まりが向上されている。
【0040】但し、緑色用の電気光学装置の一部につい
ても、黒点化による修正が行われているように構成して
もよい。この場合にも、歩留まり向上については、相応
の効果が得られる。
ても、黒点化による修正が行われているように構成して
もよい。この場合にも、歩留まり向上については、相応
の効果が得られる。
【0041】本発明の電気光学装置の修正方法は上記課
題を解決するために、基板上に、複数の画素電極と、該
画素電極に接続された電子素子又は配線とを備えた電気
光学装置を修正する電気光学装置の修正方法であって、
前記電子素子又は配線を介して前記画素電極に所定信号
を印加しつつ前記電気光学装置の動作時における輝点個
所を検出する検出工程と、前記検出された輝点個所を、
不透明材料で覆うことによって黒点化する黒点化工程と
を含む。
題を解決するために、基板上に、複数の画素電極と、該
画素電極に接続された電子素子又は配線とを備えた電気
光学装置を修正する電気光学装置の修正方法であって、
前記電子素子又は配線を介して前記画素電極に所定信号
を印加しつつ前記電気光学装置の動作時における輝点個
所を検出する検出工程と、前記検出された輝点個所を、
不透明材料で覆うことによって黒点化する黒点化工程と
を含む。
【0042】本発明の電気光学装置の修正方法によれ
ば、検出工程では、例えばプローブ等を電気光学装置の
外部入出力端子に当てることによって、画素スイッチン
グ用TFTなどの電子素子又は配線を介して、画素電極
に所定信号を印加する。この状態で、電気光学装置の動
作時における輝点個所を検出する。そして、この工程後
に或いは殆ど同時に、黒点化工程では、このように検出
された輝点個所を、不透明材料で覆うことによって黒点
化する。尚、不良化していない、一般に大部分の画素に
ついては、黒点化しない。この結果、不良化した画素を
積極的に黒点化することで、同じ不良個所であっても、
より目立たなくできる。即ち、不良品と判定される電気
光学装置を、良品として判定される電気光学装置に修正
することも可能となる。特に、前述したレーザ修正を行
う場合のように、パーティクルを飛散させることもな
く、また画素電極が透明電極からなる場合にも問題なく
修正できる。
ば、検出工程では、例えばプローブ等を電気光学装置の
外部入出力端子に当てることによって、画素スイッチン
グ用TFTなどの電子素子又は配線を介して、画素電極
に所定信号を印加する。この状態で、電気光学装置の動
作時における輝点個所を検出する。そして、この工程後
に或いは殆ど同時に、黒点化工程では、このように検出
された輝点個所を、不透明材料で覆うことによって黒点
化する。尚、不良化していない、一般に大部分の画素に
ついては、黒点化しない。この結果、不良化した画素を
積極的に黒点化することで、同じ不良個所であっても、
より目立たなくできる。即ち、不良品と判定される電気
光学装置を、良品として判定される電気光学装置に修正
することも可能となる。特に、前述したレーザ修正を行
う場合のように、パーティクルを飛散させることもな
く、また画素電極が透明電極からなる場合にも問題なく
修正できる。
【0043】本発明の電気光学装置の修正方法の一態様
では、前記電気光学装置は、前記基板に対向配置されて
おり前記基板との間に電気光学物質層が封入される対向
基板を更に備えており、前記検出工程及び前記黒点化工
程は、前記電気光学物質層が封入された後に実行され
る。
では、前記電気光学装置は、前記基板に対向配置されて
おり前記基板との間に電気光学物質層が封入される対向
基板を更に備えており、前記検出工程及び前記黒点化工
程は、前記電気光学物質層が封入された後に実行され
る。
【0044】この態様によれば、基板及び対向基板間に
電気光学物質層が封入された後に、検出工程及び黒点化
工程は、実行される。例えば、製品としての電気光学装
置の出荷前に実行されてもよいし、出荷後における点検
時に実行されてもよく、更に、使用後における修理時に
実行されてもよい。いずれにせよ、液晶層等の電気光学
物質層を利用して点灯させた状態で、検出工程を実行で
きるので便利である。
電気光学物質層が封入された後に、検出工程及び黒点化
工程は、実行される。例えば、製品としての電気光学装
置の出荷前に実行されてもよいし、出荷後における点検
時に実行されてもよく、更に、使用後における修理時に
実行されてもよい。いずれにせよ、液晶層等の電気光学
物質層を利用して点灯させた状態で、検出工程を実行で
きるので便利である。
【0045】本発明の電気光学装置の修正方法の他の態
様では、前記黒点化工程は、液的吐出ヘッドから前記不
透明材料を吐出する。
様では、前記黒点化工程は、液的吐出ヘッドから前記不
透明材料を吐出する。
【0046】この態様によれば、液的吐出ヘッドから、
例えば15〜20μmの画素ピッチに対して同ピッチ
で、黒色インク等の不透明材料を吐出することによっ
て、黒点化する。尚、不良化した一画素を一回の不透明
材料の吐出によって黒点化するのが簡単であるが、既存
のインクジェットヘッド或いは熱により気泡を吐出する
方式のヘッドでは8μm程度の微細ピッチまで可能であ
るので、不良化した一画素を複数回の不透明材料の吐出
によって黒点化することも可能である。
例えば15〜20μmの画素ピッチに対して同ピッチ
で、黒色インク等の不透明材料を吐出することによっ
て、黒点化する。尚、不良化した一画素を一回の不透明
材料の吐出によって黒点化するのが簡単であるが、既存
のインクジェットヘッド或いは熱により気泡を吐出する
方式のヘッドでは8μm程度の微細ピッチまで可能であ
るので、不良化した一画素を複数回の不透明材料の吐出
によって黒点化することも可能である。
【0047】本発明の電気光学装置の修正装置は上記課
題を解決するために、基板上に、複数の画素電極と、該
画素電極に接続された電子素子又は配線とを備えた電気
光学装置を修正する電気光学装置の修正装置であって、
前記電子素子又は配線を介して前記画素電極に所定信号
を印加しつつ前記電気光学装置の動作時における輝点個
所を検出する検出装置と、前記検出された輝点個所を、
不透明材料で覆うことによって黒点化する黒点化装置と
を備える。
題を解決するために、基板上に、複数の画素電極と、該
画素電極に接続された電子素子又は配線とを備えた電気
光学装置を修正する電気光学装置の修正装置であって、
前記電子素子又は配線を介して前記画素電極に所定信号
を印加しつつ前記電気光学装置の動作時における輝点個
所を検出する検出装置と、前記検出された輝点個所を、
不透明材料で覆うことによって黒点化する黒点化装置と
を備える。
【0048】本発明の電気光学装置の修正装置によれ
ば、検出装置では、例えばプローブ等を電気光学装置の
外部入出力端子に当てることによって、画素スイッチン
グ用TFTなどの電子素子又は配線を介して、画素電極
に所定信号を印加する。この状態で、電気光学装置の動
作時における輝点個所を検出する。そして、黒点化装置
では、このように検出された輝点個所を、不透明材料で
覆うことによって黒点化する。この結果、不良化した画
素を積極的に黒点化することで、同じ不良個所であって
も、より目立たなくできる。即ち、不良品と判定される
電気光学装置を、良品として判定される電気光学装置に
修正することも可能となる。
ば、検出装置では、例えばプローブ等を電気光学装置の
外部入出力端子に当てることによって、画素スイッチン
グ用TFTなどの電子素子又は配線を介して、画素電極
に所定信号を印加する。この状態で、電気光学装置の動
作時における輝点個所を検出する。そして、黒点化装置
では、このように検出された輝点個所を、不透明材料で
覆うことによって黒点化する。この結果、不良化した画
素を積極的に黒点化することで、同じ不良個所であって
も、より目立たなくできる。即ち、不良品と判定される
電気光学装置を、良品として判定される電気光学装置に
修正することも可能となる。
【0049】本発明の電気光学装置の修正装置の一態様
では、前記黒点化装置は、前記不透明材料を吐出する液
的吐出ヘッドを備える。
では、前記黒点化装置は、前記不透明材料を吐出する液
的吐出ヘッドを備える。
【0050】この態様によれば、液的吐出ヘッドから、
例えば15〜20μmの画素ピッチに対して同ピッチ
で、黒色インク等の不透明材料を吐出することによっ
て、黒点化する。
例えば15〜20μmの画素ピッチに対して同ピッチ
で、黒色インク等の不透明材料を吐出することによっ
て、黒点化する。
【0051】本発明の電気光学装置の修正装置の他の態
様では、前記検出装置は、前記所定信号を印加するプロ
ーブと、該プローブを前記電気光学装置に対して位置決
めする位置決め手段とを備える。
様では、前記検出装置は、前記所定信号を印加するプロ
ーブと、該プローブを前記電気光学装置に対して位置決
めする位置決め手段とを備える。
【0052】この態様によれば、例えばフルオートプロ
ーバ等の検出装置は、プローブカードとして構成される
プローブを、位置決め手段によって、電気光学装置の入
出力端子に位置決めして当てる。その後、所定信号を印
加し、輝点の検出を実行する。
ーバ等の検出装置は、プローブカードとして構成される
プローブを、位置決め手段によって、電気光学装置の入
出力端子に位置決めして当てる。その後、所定信号を印
加し、輝点の検出を実行する。
【0053】本発明の電気光学装置の修正装置の他の態
様では、前記検出装置は、前記輝点個所を撮像すると共
に該撮像された輝点個所の前記基板上における座標を特
定する撮像装置を備え、前記黒点化装置は、黒点化を実
行する所定位置に対して、前記特定された座標に応じて
前記基板を相対的に位置合わせするアラインメント装置
を備える。
様では、前記検出装置は、前記輝点個所を撮像すると共
に該撮像された輝点個所の前記基板上における座標を特
定する撮像装置を備え、前記黒点化装置は、黒点化を実
行する所定位置に対して、前記特定された座標に応じて
前記基板を相対的に位置合わせするアラインメント装置
を備える。
【0054】この態様によれば、検出装置は例えば、フ
ルオートプローバ内で、CCD(Charged Coupled Devi
ce:電荷結合素子)等の撮像装置によって、輝点個所を
撮像すると共に該撮像された輝点個所の基板上における
座標を特定する。そして、アラインメント装置によっ
て、この座標に応じて、基板を相対的に位置合わせす
る。即ち、例えば黒点化を実行する所定位置に配置され
た液的吐出ヘッドであるインクジェットヘッド等に対し
て基板を移動させ固定したり、例えば基板に対して、イ
ンクジェットヘッド等を移動して固定したりする。その
後、黒点化を実行する。
ルオートプローバ内で、CCD(Charged Coupled Devi
ce:電荷結合素子)等の撮像装置によって、輝点個所を
撮像すると共に該撮像された輝点個所の基板上における
座標を特定する。そして、アラインメント装置によっ
て、この座標に応じて、基板を相対的に位置合わせす
る。即ち、例えば黒点化を実行する所定位置に配置され
た液的吐出ヘッドであるインクジェットヘッド等に対し
て基板を移動させ固定したり、例えば基板に対して、イ
ンクジェットヘッド等を移動して固定したりする。その
後、黒点化を実行する。
【0055】本発明の電気光学装置の修正装置の他の態
様では、前記検出装置は、前記電気光学装置を固定する
透明或いは半透明の真空チャックと、該真空チャックの
背面に配置されており、該真空チャックを介して前記電
気光学装置に光源光を照射するバックライトとを備え
る。
様では、前記検出装置は、前記電気光学装置を固定する
透明或いは半透明の真空チャックと、該真空チャックの
背面に配置されており、該真空チャックを介して前記電
気光学装置に光源光を照射するバックライトとを備え
る。
【0056】この態様によれば、透明或いは半透明の真
空チャックにより固定された電気光学装置に対して、そ
の背面側からバックライトによる光源光を照射して、点
灯試験を実行できる。そして、この状態で、その表面側
から輝点についての位置合わせを行うことができ、更に
その表面側から輝点についての黒点化を行える。この結
果、非常に精度良く且つ効率的に、輝点の検出から黒点
化までの処理を、透明或いは半透明の真空チャック上に
おける一連の処理として行うことが可能となる。
空チャックにより固定された電気光学装置に対して、そ
の背面側からバックライトによる光源光を照射して、点
灯試験を実行できる。そして、この状態で、その表面側
から輝点についての位置合わせを行うことができ、更に
その表面側から輝点についての黒点化を行える。この結
果、非常に精度良く且つ効率的に、輝点の検出から黒点
化までの処理を、透明或いは半透明の真空チャック上に
おける一連の処理として行うことが可能となる。
【0057】本発明のこのような作用及び他の利得は次
に説明する実施の形態から明らかにされる。
に説明する実施の形態から明らかにされる。
【0058】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。以下の実施形態は、本発明の電気光
学装置を液晶装置に適用したものである。
基づいて説明する。以下の実施形態は、本発明の電気光
学装置を液晶装置に適用したものである。
【0059】(電気光学装置)先ず、本発明の電気光学
装置に係る実施形態の全体構成について、図1及び図2
を参照して説明する。ここでは、電気光学装置の一例で
ある駆動回路内蔵型のTFTアクティブマトリクス駆動
方式の液晶装置を例にとる。
装置に係る実施形態の全体構成について、図1及び図2
を参照して説明する。ここでは、電気光学装置の一例で
ある駆動回路内蔵型のTFTアクティブマトリクス駆動
方式の液晶装置を例にとる。
【0060】図1は、TFTアレイ基板をその上に形成
された各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図で
あり、図2は、図1のH−H’断面図である。
された各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図で
あり、図2は、図1のH−H’断面図である。
【0061】図1及び図2において、本実施形態に係る
電気光学装置では、TFTアレイ基板10と対向基板2
0とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対
向基板20との間に液晶層50が封入されており、TF
Tアレイ基板10と対向基板20とは、画像表示領域1
0aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材
52により相互に接着されている。
電気光学装置では、TFTアレイ基板10と対向基板2
0とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対
向基板20との間に液晶層50が封入されており、TF
Tアレイ基板10と対向基板20とは、画像表示領域1
0aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材
52により相互に接着されている。
【0062】シール材52は、両基板を貼り合わせるた
めの、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、
製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10上に塗布さ
れた後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたもの
である。また、シール材52中には、TFTアレイ基板
10と対向基板20との間隔(基板間ギャップ)を所定
値とするためのグラスファイバ或いはガラスビーズ等の
ギャップ材が散布されている。即ち、本実施形態の電気
光学装置は、プロジェクタのライトバルブ用として小型
で拡大表示を行うのに適している。但し、当該電気光学
装置が液晶ディスプレイや液晶テレビのように大型で等
倍表示を行う液晶装置であれば、このようなギャップ材
は、液晶層50中に含まれてもよい。
めの、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、
製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10上に塗布さ
れた後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたもの
である。また、シール材52中には、TFTアレイ基板
10と対向基板20との間隔(基板間ギャップ)を所定
値とするためのグラスファイバ或いはガラスビーズ等の
ギャップ材が散布されている。即ち、本実施形態の電気
光学装置は、プロジェクタのライトバルブ用として小型
で拡大表示を行うのに適している。但し、当該電気光学
装置が液晶ディスプレイや液晶テレビのように大型で等
倍表示を行う液晶装置であれば、このようなギャップ材
は、液晶層50中に含まれてもよい。
【0063】シール材52が配置されたシール領域の内
側に並行して、画像表示領域10aの額縁領域を規定す
る遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けら
れている。但し、このような額縁遮光膜の一部又は全部
は、TFTアレイ基板10側に内蔵遮光膜として設けら
れてもよい。
側に並行して、画像表示領域10aの額縁領域を規定す
る遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けら
れている。但し、このような額縁遮光膜の一部又は全部
は、TFTアレイ基板10側に内蔵遮光膜として設けら
れてもよい。
【0064】画像表示領域の周辺に広がる領域のうち、
シール材52が配置されたシール領域の外側に位置する
周辺領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接
続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設
けられており、走査線駆動回路104が、この一辺に隣
接する2辺に沿って設けられている。更にTFTアレイ
基板10の残る一辺には、画像表示領域10aの両側に
設けられた走査線駆動回路104間をつなぐための複数
の配線105が設けられている。また図1に示すよう
に、対向基板20の4つのコーナー部には、両基板間の
上下導通端子として機能する上下導通材106が配置さ
れている。他方、TFTアレイ基板10にはこれらのコ
ーナーに対向する領域において上下導通端子が設けられ
ている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基
板20との間で電気的な導通をとることができる。
シール材52が配置されたシール領域の外側に位置する
周辺領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接
続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設
けられており、走査線駆動回路104が、この一辺に隣
接する2辺に沿って設けられている。更にTFTアレイ
基板10の残る一辺には、画像表示領域10aの両側に
設けられた走査線駆動回路104間をつなぐための複数
の配線105が設けられている。また図1に示すよう
に、対向基板20の4つのコーナー部には、両基板間の
上下導通端子として機能する上下導通材106が配置さ
れている。他方、TFTアレイ基板10にはこれらのコ
ーナーに対向する領域において上下導通端子が設けられ
ている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基
板20との間で電気的な導通をとることができる。
【0065】図2において、TFTアレイ基板10上に
は、画素スイッチング用のTFTや走査線、データ線等
の配線が形成された後の画素電極9a上に、配向膜が形
成されている。他方、対向基板20上には、対向電極2
1の他、最上層部分に配向膜が形成されている。また、
液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液
晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、
所定の配向状態をとる。
は、画素スイッチング用のTFTや走査線、データ線等
の配線が形成された後の画素電極9a上に、配向膜が形
成されている。他方、対向基板20上には、対向電極2
1の他、最上層部分に配向膜が形成されている。また、
液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液
晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、
所定の配向状態をとる。
【0066】尚、図1及び図2に示したTFTアレイ基
板10上には、これらのデータ線駆動回路101、走査
線駆動回路104等に加えて、画像信号線上の画像信号
をサンプリングしてデータ線に供給するサンプリング回
路、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリチャージ信
号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回
路、製造途中や出荷時の当該電気光学装置の品質、欠陥
等を検査するための検査回路等を形成してもよい。
板10上には、これらのデータ線駆動回路101、走査
線駆動回路104等に加えて、画像信号線上の画像信号
をサンプリングしてデータ線に供給するサンプリング回
路、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリチャージ信
号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回
路、製造途中や出荷時の当該電気光学装置の品質、欠陥
等を検査するための検査回路等を形成してもよい。
【0067】次に、本実施形態における特徴の一つであ
る、元々は輝点であった画素が黒点化されている構成に
ついて、図3から図6を参照して説明する。ここに、図
3(a)から図3(c)は夫々、各種状態にある、上述
の如く構成された電気光学装置の画像表示領域10aの
一部を拡大して図式的に示す部分拡大平面図である。図
4は、図3(c)のE−E’断面を図式的に示す断面図
である。また、図5及び図6は夫々、輝点が黒点化され
た構成の他の具体例を、図4と同様の断面について示す
断面図である。
る、元々は輝点であった画素が黒点化されている構成に
ついて、図3から図6を参照して説明する。ここに、図
3(a)から図3(c)は夫々、各種状態にある、上述
の如く構成された電気光学装置の画像表示領域10aの
一部を拡大して図式的に示す部分拡大平面図である。図
4は、図3(c)のE−E’断面を図式的に示す断面図
である。また、図5及び図6は夫々、輝点が黒点化され
た構成の他の具体例を、図4と同様の断面について示す
断面図である。
【0068】図3(a)に示すように本実施形態では、
画像表示領域10aは、各画素の開口領域901(即
ち、各画素において実際に表示に寄与する光が透過する
領域)と、非開口領域902(即ち、各画素において実
際に表示に寄与する光が透過しない領域)とに大別され
る。非開口領域902は、後に詳述するように、配線や
電極等としても機能する、TFTアレイ基板10に作り
込まれた内蔵遮光膜により規定されている。或いは、こ
のような遮光膜は、対向基板20側に作り込まれてもよ
い。更に、これら両基板に設けられた遮光膜を組み合わ
せて、非開口領域902を規定することも可能である。
他方、開口領域901には、ITO(Indium Tin Oxid
e)膜等の透明導電膜からなる画素電極9aの他の透明
膜のみが形成されている。
画像表示領域10aは、各画素の開口領域901(即
ち、各画素において実際に表示に寄与する光が透過する
領域)と、非開口領域902(即ち、各画素において実
際に表示に寄与する光が透過しない領域)とに大別され
る。非開口領域902は、後に詳述するように、配線や
電極等としても機能する、TFTアレイ基板10に作り
込まれた内蔵遮光膜により規定されている。或いは、こ
のような遮光膜は、対向基板20側に作り込まれてもよ
い。更に、これら両基板に設けられた遮光膜を組み合わ
せて、非開口領域902を規定することも可能である。
他方、開口領域901には、ITO(Indium Tin Oxid
e)膜等の透明導電膜からなる画素電極9aの他の透明
膜のみが形成されている。
【0069】この種の電気光学装置では、図3(b)に
示すように、次に説明する黒点化を行わないと仮定する
と、不良個所において、輝点903が発生する。例え
ば、本実施形態の電気光学装置をノーマリーホワイトモ
ードで駆動すると仮定すれば、画素電極に電圧を印加し
ない状態では図3(a)のような白のベタ表示が得ら
れ、全画素電極に電圧を印加した状態では図3(b)の
ような黒のベタ表示が得られる。この際特に、各画素に
係る画素電極9aや後述する画素スイッチング用のTF
T或いはそれに接続された配線、電極等におけるショー
トや断線に起因して、画素単位で欠陥個所が発生する
と、輝点903が発生し得る。輝点903では、画像信
号によらずに常時光抜けして、輝いて見える不良表示個
所として視認される。尚、図示していないが、欠陥個所
の性質に応じて、図3(a)に示した如き、例えばノー
マリーホワイトモードにおける電圧無印加状態で、黒点
が発生する場合もある。
示すように、次に説明する黒点化を行わないと仮定する
と、不良個所において、輝点903が発生する。例え
ば、本実施形態の電気光学装置をノーマリーホワイトモ
ードで駆動すると仮定すれば、画素電極に電圧を印加し
ない状態では図3(a)のような白のベタ表示が得ら
れ、全画素電極に電圧を印加した状態では図3(b)の
ような黒のベタ表示が得られる。この際特に、各画素に
係る画素電極9aや後述する画素スイッチング用のTF
T或いはそれに接続された配線、電極等におけるショー
トや断線に起因して、画素単位で欠陥個所が発生する
と、輝点903が発生し得る。輝点903では、画像信
号によらずに常時光抜けして、輝いて見える不良表示個
所として視認される。尚、図示していないが、欠陥個所
の性質に応じて、図3(a)に示した如き、例えばノー
マリーホワイトモードにおける電圧無印加状態で、黒点
が発生する場合もある。
【0070】しかるに、本実施形態では特に、図3
(c)及び図4に示すように、このような輝点903は
(後に修正方法の説明のところで詳述するように)製品
完成に相前後して検出されて、局所的に不透明材料91
0によって覆われている。即ち、輝点903であった不
良個所は、不透明材料910の存在によって、黒点化さ
れている。
(c)及び図4に示すように、このような輝点903は
(後に修正方法の説明のところで詳述するように)製品
完成に相前後して検出されて、局所的に不透明材料91
0によって覆われている。即ち、輝点903であった不
良個所は、不透明材料910の存在によって、黒点化さ
れている。
【0071】このように輝点903を黒点化しておく
と、人間の視覚との関係で輝点と比べて黒点のほうが目
立たないので、同じ不良個所であっても、より目立たな
くできる。言い換えれば、製品の規格上、許容される輝
点個数よりも許容される黒点個数の方が多いので、同じ
不良個所であっても、輝点903を黒点化することで、
電気光学装置全体として(黒点個数がその許容値を下回
っている限りにおいて)、不良品を良品に修正し得るの
である。
と、人間の視覚との関係で輝点と比べて黒点のほうが目
立たないので、同じ不良個所であっても、より目立たな
くできる。言い換えれば、製品の規格上、許容される輝
点個数よりも許容される黒点個数の方が多いので、同じ
不良個所であっても、輝点903を黒点化することで、
電気光学装置全体として(黒点個数がその許容値を下回
っている限りにおいて)、不良品を良品に修正し得るの
である。
【0072】尚、本実施形態の電気光学装置は、ノーマ
リーホワイトモードで駆動されるものに限らず、電圧無
印加時に図3(b)に示した如き黒のベタ表示となるノ
ーマリーブラックモードにおいても、輝点903を黒点
化によって見えなくすることで、良好な画像表示を行え
る。また、画素電極9aは、透明電極でなく例えば反射
電極や半透過反射電極から構成されている場合にであっ
ても(即ち、電気光学装置が反射型や半透過反射型であ
っても)、本実施形態における黒点化による修正による
利益は相応に得られる。
リーホワイトモードで駆動されるものに限らず、電圧無
印加時に図3(b)に示した如き黒のベタ表示となるノ
ーマリーブラックモードにおいても、輝点903を黒点
化によって見えなくすることで、良好な画像表示を行え
る。また、画素電極9aは、透明電極でなく例えば反射
電極や半透過反射電極から構成されている場合にであっ
ても(即ち、電気光学装置が反射型や半透過反射型であ
っても)、本実施形態における黒点化による修正による
利益は相応に得られる。
【0073】次に、図5及び図6を参照して変形形態に
ついて説明する。
ついて説明する。
【0074】図4に示した実施形態では、対向基板20
の外表面に不透明材料910が塗布されているが、図5
に示した変形形態では、TFTアレイ基板10の外表面
に不透明材料910’が塗布されている。このような変
形形態によっても、輝点903を黒点化できる。但し、
強力な光源光を対向基板20側から入射する構成を採用
する場合には、図4に示した実施形態の方が、当該電気
光学装置内に迷光を発生させない観点からは有利であ
る。
の外表面に不透明材料910が塗布されているが、図5
に示した変形形態では、TFTアレイ基板10の外表面
に不透明材料910’が塗布されている。このような変
形形態によっても、輝点903を黒点化できる。但し、
強力な光源光を対向基板20側から入射する構成を採用
する場合には、図4に示した実施形態の方が、当該電気
光学装置内に迷光を発生させない観点からは有利であ
る。
【0075】図6に示した変形形態では、TFTアレイ
基板10に重ねられた位相差板921及び偏光板922
の外表面に、不透明材料910”が塗布されている。こ
のような変形形態によっても、輝点903を黒点化でき
る。但し、一般に完全な平行光ではない強力な光源光を
対向基板20側から入射する構成を採用する場合には、
図4に示した実施形態の方が、輝点903に近接した位
置にて、より完全な黒点化を可能ならしめる観点からは
有利である。但し、位相差板921及び偏光板922等
が取り付けられた完成品に近い段階で黒点化を可能なら
しめる観点からは、図6に示した変形形態の方が有利で
ある。
基板10に重ねられた位相差板921及び偏光板922
の外表面に、不透明材料910”が塗布されている。こ
のような変形形態によっても、輝点903を黒点化でき
る。但し、一般に完全な平行光ではない強力な光源光を
対向基板20側から入射する構成を採用する場合には、
図4に示した実施形態の方が、輝点903に近接した位
置にて、より完全な黒点化を可能ならしめる観点からは
有利である。但し、位相差板921及び偏光板922等
が取り付けられた完成品に近い段階で黒点化を可能なら
しめる観点からは、図6に示した変形形態の方が有利で
ある。
【0076】図4から図6に示したいずれの場合にも、
電気光学装置の内部に悪影響を与えることなく、単純に
外表面に不透明材料を塗布することで、黒点化を行え
る。
電気光学装置の内部に悪影響を与えることなく、単純に
外表面に不透明材料を塗布することで、黒点化を行え
る。
【0077】次に以上の如く構成された電気光学装置に
おける回路構成及び動作について図7を参照して説明す
る。図7は、電気光学装置の画像表示領域を構成するマ
トリクス状に形成された複数の画素における各種素子、
配線等の等価回路を示すブロック図である。
おける回路構成及び動作について図7を参照して説明す
る。図7は、電気光学装置の画像表示領域を構成するマ
トリクス状に形成された複数の画素における各種素子、
配線等の等価回路を示すブロック図である。
【0078】図7において、本実施形態における電気光
学装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成さ
れた複数の画素には夫々、画素電極9aと当該画素電極
9aをスイッチング制御するためのTFT30とが形成
されており、画像信号が供給されるデータ線6aが当該
TFT30のソースに電気的に接続されている。そし
て、画像信号S1、S2、…、Snが、各データ線6a
に供給されるように構成されている。このようにデータ
線6aに書き込む画像信号S1、S2、…、Snは、こ
の順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数
のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するよ
うにしても良い。
学装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成さ
れた複数の画素には夫々、画素電極9aと当該画素電極
9aをスイッチング制御するためのTFT30とが形成
されており、画像信号が供給されるデータ線6aが当該
TFT30のソースに電気的に接続されている。そし
て、画像信号S1、S2、…、Snが、各データ線6a
に供給されるように構成されている。このようにデータ
線6aに書き込む画像信号S1、S2、…、Snは、こ
の順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数
のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するよ
うにしても良い。
【0079】また、画素スイッチング用のTFT30の
ゲートに走査線3aが電気的に接続されており、所定の
タイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、
G2、…、Gmを、この順に線順次で印加するように構
成されている。画素電極9aは、TFT30のドレイン
に電気的に接続されており、スイッチング素子であるT
FT30を一定期間だけそのスイッチを閉じることによ
り、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、
…、Snを所定のタイミングで書き込む。画素電極9a
を介して電気光学物質の一例としての液晶に書き込まれ
た所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、対向
基板に形成された対向電極との間で一定期間保持され
る。液晶は、印加される電位レベルにより分子集合の配
向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示
を可能にする。ノーマリーホワイトモードであれば、各
画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透
過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各
画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透
過率が増加され、全体として電気光学装置からは画像信
号に応じたコントラストを持つ光が出射する。ここで、
保持された画像信号がリークするのを防ぐために、画素
電極9aと対向電極との間に形成される液晶容量と並列
に蓄積容量70を付加する。走査線3aと並行して、蓄
積容量70の固定電位側容量電極を含むと共に定電位に
固定された容量線300が設けられている。
ゲートに走査線3aが電気的に接続されており、所定の
タイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、
G2、…、Gmを、この順に線順次で印加するように構
成されている。画素電極9aは、TFT30のドレイン
に電気的に接続されており、スイッチング素子であるT
FT30を一定期間だけそのスイッチを閉じることによ
り、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、
…、Snを所定のタイミングで書き込む。画素電極9a
を介して電気光学物質の一例としての液晶に書き込まれ
た所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、対向
基板に形成された対向電極との間で一定期間保持され
る。液晶は、印加される電位レベルにより分子集合の配
向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示
を可能にする。ノーマリーホワイトモードであれば、各
画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透
過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各
画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透
過率が増加され、全体として電気光学装置からは画像信
号に応じたコントラストを持つ光が出射する。ここで、
保持された画像信号がリークするのを防ぐために、画素
電極9aと対向電極との間に形成される液晶容量と並列
に蓄積容量70を付加する。走査線3aと並行して、蓄
積容量70の固定電位側容量電極を含むと共に定電位に
固定された容量線300が設けられている。
【0080】次に、本発明の実施形態の電気光学装置の
画像表示領域における構成について、図8及び図9を参
照して説明する。図8は、データ線、走査線、画素電極
等が形成されたTFTアレイ基板の相隣接する複数の画
素群の平面図である。図9は、図8のA−A’断面図で
ある。尚、図9においては、各層や各部材を図面上で認
識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮
尺を異ならしめてある。
画像表示領域における構成について、図8及び図9を参
照して説明する。図8は、データ線、走査線、画素電極
等が形成されたTFTアレイ基板の相隣接する複数の画
素群の平面図である。図9は、図8のA−A’断面図で
ある。尚、図9においては、各層や各部材を図面上で認
識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮
尺を異ならしめてある。
【0081】図8において、電気光学装置のTFTアレ
イ基板上には、マトリクス状に複数の透明な画素電極9
a(点線部9a’により輪郭が示されている)が設けら
れており、画素電極9aの縦横の境界に各々沿ってデー
タ線6a及び走査線3aが設けられている。
イ基板上には、マトリクス状に複数の透明な画素電極9
a(点線部9a’により輪郭が示されている)が設けら
れており、画素電極9aの縦横の境界に各々沿ってデー
タ線6a及び走査線3aが設けられている。
【0082】また、半導体層1aのうち図中右上がりの
斜線領域で示したチャネル領域1a’に対向するように
走査線3aが配置されており、走査線3aはゲート電極
として機能する。このように、走査線3aとデータ線6
aとの交差する個所には夫々、チャネル領域1a’に走
査線3aがゲート電極として対向配置された画素スイッ
チング用のTFT30が設けられている。
斜線領域で示したチャネル領域1a’に対向するように
走査線3aが配置されており、走査線3aはゲート電極
として機能する。このように、走査線3aとデータ線6
aとの交差する個所には夫々、チャネル領域1a’に走
査線3aがゲート電極として対向配置された画素スイッ
チング用のTFT30が設けられている。
【0083】図8及び図9に示すように、蓄積容量70
は、TFT30の高濃度ドレイン領域1e及び画素電極
9aに接続された画素電位側容量電極としての中継層7
1と、固定電位側容量電極としての容量線300の一部
とが、誘電体膜75を介して対向配置されることにより
形成されている。
は、TFT30の高濃度ドレイン領域1e及び画素電極
9aに接続された画素電位側容量電極としての中継層7
1と、固定電位側容量電極としての容量線300の一部
とが、誘電体膜75を介して対向配置されることにより
形成されている。
【0084】容量線300は平面的に見て、走査線3a
に沿ってストライプ状に伸びており、TFT30に重な
る個所が図8中上下に突出している。このような容量線
300は好ましくは、例えば金属を含む遮光性の導電膜
からなる。このように構成すれば、容量線300は、蓄
積容量70の固定電位側容量電極としての機能の他、T
FT30の上側において入射光からTFT30を遮光す
る遮光層としての機能を持つ。
に沿ってストライプ状に伸びており、TFT30に重な
る個所が図8中上下に突出している。このような容量線
300は好ましくは、例えば金属を含む遮光性の導電膜
からなる。このように構成すれば、容量線300は、蓄
積容量70の固定電位側容量電極としての機能の他、T
FT30の上側において入射光からTFT30を遮光す
る遮光層としての機能を持つ。
【0085】他方、TFTアレイ基板10上におけるT
FT30の下側には、下側遮光膜11aが格子状に設け
られている。下側遮光膜11aは、例えば、Ti(チタ
ン)、Cr(クロム)、W(タングステン)、Ta(タ
ンタル)、Mo(モリブデン)等の高融点金属のうち少
なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイ
ド、ポリシリサイド、これらを積層したもの等からな
る。
FT30の下側には、下側遮光膜11aが格子状に設け
られている。下側遮光膜11aは、例えば、Ti(チタ
ン)、Cr(クロム)、W(タングステン)、Ta(タ
ンタル)、Mo(モリブデン)等の高融点金属のうち少
なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイ
ド、ポリシリサイド、これらを積層したもの等からな
る。
【0086】そして、図8中縦方向に夫々伸びるデータ
線6aと図8中横方向に夫々伸びる容量線300とが相
交差して形成されること及び格子状に形成された下側遮
光膜11aにより、各画素の非開口領域を規定してい
る。
線6aと図8中横方向に夫々伸びる容量線300とが相
交差して形成されること及び格子状に形成された下側遮
光膜11aにより、各画素の非開口領域を規定してい
る。
【0087】図8及び図9に示すように、データ線6a
は、コンタクトホール81を介して、例えばポリシリコ
ン膜からなる半導体層1aのうち高濃度ソース領域1d
に電気的に接続されている。尚、上述した中継層71と
同一膜からなる中継層を形成して、当該中継層及び2つ
のコンタクトホールを介してデータ線6aと高濃度ソー
ス領域1dとを電気的に接続してもよい。
は、コンタクトホール81を介して、例えばポリシリコ
ン膜からなる半導体層1aのうち高濃度ソース領域1d
に電気的に接続されている。尚、上述した中継層71と
同一膜からなる中継層を形成して、当該中継層及び2つ
のコンタクトホールを介してデータ線6aと高濃度ソー
ス領域1dとを電気的に接続してもよい。
【0088】また容量線300は好ましくは、画素電極
9aが配置された画像表示領域10a(図1参照)から
その周囲に延設され、定電位源と電気的に接続されて、
固定電位とされる。このような定電位源としては、デー
タ線駆動回路や走査線駆動回路に供給される正電源や負
電源の定電位源でもよいし、対向基板20の対向電極2
1に供給される定電位でも構わない。更に、TFT30
の下側に設けられる下側遮光膜11aについても、その
電位変動がTFT30に対して悪影響を及ぼすことを避
けるために、容量線300と同様に、画像表示領域10
aからその周囲に延設して定電位源に接続するとよい。
9aが配置された画像表示領域10a(図1参照)から
その周囲に延設され、定電位源と電気的に接続されて、
固定電位とされる。このような定電位源としては、デー
タ線駆動回路や走査線駆動回路に供給される正電源や負
電源の定電位源でもよいし、対向基板20の対向電極2
1に供給される定電位でも構わない。更に、TFT30
の下側に設けられる下側遮光膜11aについても、その
電位変動がTFT30に対して悪影響を及ぼすことを避
けるために、容量線300と同様に、画像表示領域10
aからその周囲に延設して定電位源に接続するとよい。
【0089】画素電極9aは、中継層71を中継するこ
とにより、コンタクトホール83及び85を介して半導
体層1aのうち高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続
されている。
とにより、コンタクトホール83及び85を介して半導
体層1aのうち高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続
されている。
【0090】図8及び図9において、電気光学装置は、
透明なTFTアレイ基板10と、これに対向配置される
透明な対向基板20とを備えている。TFTアレイ基板
10は、例えば石英基板、ガラス基板、シリコン基板か
らなり、対向基板20は、例えばガラス基板や石英基板
からなる。
透明なTFTアレイ基板10と、これに対向配置される
透明な対向基板20とを備えている。TFTアレイ基板
10は、例えば石英基板、ガラス基板、シリコン基板か
らなり、対向基板20は、例えばガラス基板や石英基板
からなる。
【0091】図9に示すように、TFTアレイ基板10
には、画素電極9aが設けられており、その上側には、
ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜16
が設けられている。画素電極9aは例えば、ITO膜な
どの透明導電性膜からなる。また配向膜16は例えば、
ポリイミド膜などの透明な有機膜からなる。
には、画素電極9aが設けられており、その上側には、
ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜16
が設けられている。画素電極9aは例えば、ITO膜な
どの透明導電性膜からなる。また配向膜16は例えば、
ポリイミド膜などの透明な有機膜からなる。
【0092】他方、対向基板20には、その全面に渡っ
て対向電極21が設けられており、その下側には、ラビ
ング処理等の所定の配向処理が施された配向膜22が設
けられている。対向電極21は例えば、ITO膜などの
透明導電性膜からなる。また配向膜22は、ポリイミド
膜などの透明な有機膜からなる。
て対向電極21が設けられており、その下側には、ラビ
ング処理等の所定の配向処理が施された配向膜22が設
けられている。対向電極21は例えば、ITO膜などの
透明導電性膜からなる。また配向膜22は、ポリイミド
膜などの透明な有機膜からなる。
【0093】対向基板20には、各画素の非開口領域に
対応して格子状又はストライプ状の遮光膜を設けるよう
にしてもよい。このような構成を採ることで、前述の如
く非開口領域を規定する容量線300やデータ線6aと
共に当該対向基板20上の遮光膜により、対向基板20
側からの入射光がチャネル領域1a’や低濃度ソース領
域1b及び低濃度ドレイン領域1cに侵入するのを、よ
り確実に阻止できる。
対応して格子状又はストライプ状の遮光膜を設けるよう
にしてもよい。このような構成を採ることで、前述の如
く非開口領域を規定する容量線300やデータ線6aと
共に当該対向基板20上の遮光膜により、対向基板20
側からの入射光がチャネル領域1a’や低濃度ソース領
域1b及び低濃度ドレイン領域1cに侵入するのを、よ
り確実に阻止できる。
【0094】このように構成された、画素電極9aと対
向電極21とが対面するように配置されたTFTアレイ
基板10と対向基板20との間には、シール材52(図
1及び図2参照)により囲まれた空間に電気光学物質の
一例である液晶が封入され、液晶層50が形成される。
向電極21とが対面するように配置されたTFTアレイ
基板10と対向基板20との間には、シール材52(図
1及び図2参照)により囲まれた空間に電気光学物質の
一例である液晶が封入され、液晶層50が形成される。
【0095】更に、画素スイッチング用のTFT30下
には、下地絶縁膜12が設けられている。下地絶縁膜1
2は、下側遮光膜11aからTFT30を層間絶縁する
機能の他、TFTアレイ基板10の全面に形成されるこ
とにより、TFTアレイ基板10の表面の研磨時におけ
る荒れや、洗浄後に残る汚れ等で画素スイッチング用の
TFT30の特性変化を防止する機能を有する。
には、下地絶縁膜12が設けられている。下地絶縁膜1
2は、下側遮光膜11aからTFT30を層間絶縁する
機能の他、TFTアレイ基板10の全面に形成されるこ
とにより、TFTアレイ基板10の表面の研磨時におけ
る荒れや、洗浄後に残る汚れ等で画素スイッチング用の
TFT30の特性変化を防止する機能を有する。
【0096】図9において、画素スイッチング用のTF
T30は、LDD(Lightly DopedDrain)構造を有して
おり、走査線3a、当該走査線3aからの電界によりチ
ャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1
a’、走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶
縁膜を含む絶縁膜2、半導体層1aの低濃度ソース領域
1b及び低濃度ドレイン領域1c、半導体層1aの高濃
度ソース領域1d並びに高濃度ドレイン領域1eを備え
ている。
T30は、LDD(Lightly DopedDrain)構造を有して
おり、走査線3a、当該走査線3aからの電界によりチ
ャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1
a’、走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶
縁膜を含む絶縁膜2、半導体層1aの低濃度ソース領域
1b及び低濃度ドレイン領域1c、半導体層1aの高濃
度ソース領域1d並びに高濃度ドレイン領域1eを備え
ている。
【0097】走査線3a上には、高濃度ソース領域1d
へ通じるコンタクトホール81及び高濃度ドレイン領域
1eへ通じるコンタクトホール83が各々開孔された第
1層間絶縁膜41が形成されている。
へ通じるコンタクトホール81及び高濃度ドレイン領域
1eへ通じるコンタクトホール83が各々開孔された第
1層間絶縁膜41が形成されている。
【0098】第1層間絶縁膜41上には中継層71及び
容量線300が形成されており、これらの上には、高濃
度ソース領域1dへ通じるコンタクトホール81及び中
継層71へ通じるコンタクトホール85が各々開孔され
た第2層間絶縁膜42が形成されている。
容量線300が形成されており、これらの上には、高濃
度ソース領域1dへ通じるコンタクトホール81及び中
継層71へ通じるコンタクトホール85が各々開孔され
た第2層間絶縁膜42が形成されている。
【0099】第2層間絶縁膜42上にはデータ線6aが
形成されており、これらの上には、中継層71へ通じる
コンタクトホール85が形成された平坦化した第3層間
絶縁膜43が形成されている。画素電極9aは、このよ
うに構成された第3層間絶縁膜43の上面に設けられて
いる。
形成されており、これらの上には、中継層71へ通じる
コンタクトホール85が形成された平坦化した第3層間
絶縁膜43が形成されている。画素電極9aは、このよ
うに構成された第3層間絶縁膜43の上面に設けられて
いる。
【0100】本実施形態では、第3層間絶縁膜43の表
面は、CMP(Chemical Mechanical Polishing:化学
的機械研磨)処理等により平坦化されており、その下方
に存在する各種配線や素子による段差に起因する液晶層
50における液晶の配向不良を低減する。
面は、CMP(Chemical Mechanical Polishing:化学
的機械研磨)処理等により平坦化されており、その下方
に存在する各種配線や素子による段差に起因する液晶層
50における液晶の配向不良を低減する。
【0101】以上説明したように本実施形態では、各画
素に複雑な積層構造が構築されており、各画素に係る画
素電極9aやTFT30、更にそれに接続された電極或
いは配線等に、ショートや断線が発生する可能性があ
る。そして、このようなショートや断線に起因して、画
素単位で欠陥個所が発生し、特に図3(b)に示したよ
うな輝点903が発生し得る。しかるに、本実施形態で
は、このように発生する輝点903を黒点化するので、
同じ不良個所であっても目立たなくできる。結果とし
て、本実施形態によれば、表示品位を向上させると共に
製造歩留まりを向上させられるので、極めて実践的であ
る。
素に複雑な積層構造が構築されており、各画素に係る画
素電極9aやTFT30、更にそれに接続された電極或
いは配線等に、ショートや断線が発生する可能性があ
る。そして、このようなショートや断線に起因して、画
素単位で欠陥個所が発生し、特に図3(b)に示したよ
うな輝点903が発生し得る。しかるに、本実施形態で
は、このように発生する輝点903を黒点化するので、
同じ不良個所であっても目立たなくできる。結果とし
て、本実施形態によれば、表示品位を向上させると共に
製造歩留まりを向上させられるので、極めて実践的であ
る。
【0102】以上図1から図9を参照して説明した各実
施形態では、データ線駆動回路101や走査線駆動回路
104をTFTアレイ基板10の上に設ける代わりに、
例えばTAB(Tape Automated bonding)基板上に実装
された駆動用LSIに、TFTアレイ基板10の周辺部
に設けられた異方性導電フィルムを介して電気的及び機
械的に接続するようにしてもよい。また、対向基板20
の投射光が入射する側及びTFTアレイ基板10の出射
光が出射する側には各々、例えば、TN(Twisted Nema
tic)モード、VA(Vertically Aligned)モード、P
DLC(PolymerDispersed Liquid Crystal)モード等の
動作モードや、ノーマリーホワイトモード/ノーマリー
ブラックモードの別に応じて、偏光フィルム、位相差フ
ィルム、偏光板などが所定の方向で配置される。
施形態では、データ線駆動回路101や走査線駆動回路
104をTFTアレイ基板10の上に設ける代わりに、
例えばTAB(Tape Automated bonding)基板上に実装
された駆動用LSIに、TFTアレイ基板10の周辺部
に設けられた異方性導電フィルムを介して電気的及び機
械的に接続するようにしてもよい。また、対向基板20
の投射光が入射する側及びTFTアレイ基板10の出射
光が出射する側には各々、例えば、TN(Twisted Nema
tic)モード、VA(Vertically Aligned)モード、P
DLC(PolymerDispersed Liquid Crystal)モード等の
動作モードや、ノーマリーホワイトモード/ノーマリー
ブラックモードの別に応じて、偏光フィルム、位相差フ
ィルム、偏光板などが所定の方向で配置される。
【0103】そして、いずれの場合にも、図5及び図6
に示したように、それらの外表面から輝点を黒点化する
ことが可能である。
に示したように、それらの外表面から輝点を黒点化する
ことが可能である。
【0104】(電気光学装置の修正方法及び装置)図1
0及び図11を参照して、電気光学装置の修正方法及び
装置について説明する。ここに図10は、電気光学装置
の修正装置の図式的な斜視図であり、図11は、これを
用いて実行する電気光学装置の修正方法のフローチャー
トである。
0及び図11を参照して、電気光学装置の修正方法及び
装置について説明する。ここに図10は、電気光学装置
の修正装置の図式的な斜視図であり、図11は、これを
用いて実行する電気光学装置の修正方法のフローチャー
トである。
【0105】本実施形態の電気光学装置の修正装置は、
上述した実施形態に係る電気光学装置における、液晶層
50を構成する液晶を封入以降の段階であって、図3か
ら図6に示した黒点化以前のいずれかの段階にあるもの
に対して、先ず欠陥個所(特に、輝点個所)を検出し、
更にその検出された輝点を黒点化する装置である。
上述した実施形態に係る電気光学装置における、液晶層
50を構成する液晶を封入以降の段階であって、図3か
ら図6に示した黒点化以前のいずれかの段階にあるもの
に対して、先ず欠陥個所(特に、輝点個所)を検出し、
更にその検出された輝点を黒点化する装置である。
【0106】図10に示すように、修正装置は、フルオ
ートプローバ500、真空チャック502、バックライ
ト504、プローブカード508、CCD510、テス
タ520、液的吐出ヘッドの一例であるインクジェット
ヘッド530、アラインメント装置534及び制御装置
550を備えて構成されている。
ートプローバ500、真空チャック502、バックライ
ト504、プローブカード508、CCD510、テス
タ520、液的吐出ヘッドの一例であるインクジェット
ヘッド530、アラインメント装置534及び制御装置
550を備えて構成されている。
【0107】フルオートプローバ500は、マザー基板
600上に、例えば数十個といった複数形成された状態
にある、液晶封入後における電気光学装置(図1から図
9参照)が投入されるものである。真空チャック502
は、この投入されたマザー基板600を真空吸着により
固定する。真空チャック502は特に、透明或いは半透
明材料からなる。バックライト504は、真空チャック
502に固定されたマザー基板600に対して、真空チ
ャック502の裏側から光源光LBを照射する。バック
ライト504は、光源504aと導光板504bとを備
えて構成されている。但し、バックライトは、LED
(Light Emitting Diode)等を備えて構成されてもよ
い。
600上に、例えば数十個といった複数形成された状態
にある、液晶封入後における電気光学装置(図1から図
9参照)が投入されるものである。真空チャック502
は、この投入されたマザー基板600を真空吸着により
固定する。真空チャック502は特に、透明或いは半透
明材料からなる。バックライト504は、真空チャック
502に固定されたマザー基板600に対して、真空チ
ャック502の裏側から光源光LBを照射する。バック
ライト504は、光源504aと導光板504bとを備
えて構成されている。但し、バックライトは、LED
(Light Emitting Diode)等を備えて構成されてもよ
い。
【0108】プローブカード508は、複数のプローブ
508pを備えており、マザー基板600上に形成され
た各電気光学装置における、任意の外部回路接続端子1
02(図1及び図2参照)に、プローブ508pを当て
られるように構成されている。そして、テスタ520
は、制御装置550による制御下で、このプローブ50
8pを介して所定信号を各電気光学装置に入力するよう
に構成されている。
508pを備えており、マザー基板600上に形成され
た各電気光学装置における、任意の外部回路接続端子1
02(図1及び図2参照)に、プローブ508pを当て
られるように構成されている。そして、テスタ520
は、制御装置550による制御下で、このプローブ50
8pを介して所定信号を各電気光学装置に入力するよう
に構成されている。
【0109】CCD510は、制御装置550による制
御下で、テスタ520により所定信号が入力された状態
にあると共に、バックライト504により光源光LBが
照射された状態にある電気光学装置を撮像し、不良個所
として輝点及び黒点を検出する。即ち、点燈検査を実行
する。この際特に、制御装置550による制御下でCC
Dとテスタとを連動させることで、CCDにより撮像さ
れた輝点個所のマザー基板600上における座標を特定
する。
御下で、テスタ520により所定信号が入力された状態
にあると共に、バックライト504により光源光LBが
照射された状態にある電気光学装置を撮像し、不良個所
として輝点及び黒点を検出する。即ち、点燈検査を実行
する。この際特に、制御装置550による制御下でCC
Dとテスタとを連動させることで、CCDにより撮像さ
れた輝点個所のマザー基板600上における座標を特定
する。
【0110】アラインメント装置534は、CCD51
0及びテスタ520により輝点の座標が特定された後
に、それに対応する位置にインクジェットヘッド530
を移動させ固定する。或いは、アラインメント装置53
4は、インクジェットヘッド530を固定したまま、真
空チャック502側を移動させてもよい。
0及びテスタ520により輝点の座標が特定された後
に、それに対応する位置にインクジェットヘッド530
を移動させ固定する。或いは、アラインメント装置53
4は、インクジェットヘッド530を固定したまま、真
空チャック502側を移動させてもよい。
【0111】そして、インクジェットヘッド530は、
係る移動後に、輝点に向けてインクIKを吐出するよう
に構成されている。例えば、インクジェットヘッド53
0は、8μmピッチ程度の解像度を有しており、フルオ
ートプローバの位置精度を±5μm程度とすることによ
って、電気光学装置における15〜20μm程度の画素
ピッチに対して問題なく図3(c)に示したように輝点
をなす画素を局所的に黒点化できる。
係る移動後に、輝点に向けてインクIKを吐出するよう
に構成されている。例えば、インクジェットヘッド53
0は、8μmピッチ程度の解像度を有しており、フルオ
ートプローバの位置精度を±5μm程度とすることによ
って、電気光学装置における15〜20μm程度の画素
ピッチに対して問題なく図3(c)に示したように輝点
をなす画素を局所的に黒点化できる。
【0112】加えて、インクジェットヘッド530を用
いて、黒点化した電気光学装置にその旨のマーキングを
行ってもよい。或いは、インクジェットヘッド530を
用いて、修正後における黒点の個数や品質レベルを、各
電気光学装置に記してもよい。
いて、黒点化した電気光学装置にその旨のマーキングを
行ってもよい。或いは、インクジェットヘッド530を
用いて、修正後における黒点の個数や品質レベルを、各
電気光学装置に記してもよい。
【0113】ここで、図10に加えて図11のフローチ
ャートを参照して、本実施形態に係る電気光学装置の修
正方法について説明する。
ャートを参照して、本実施形態に係る電気光学装置の修
正方法について説明する。
【0114】図11において先ず、複数の電気光学装置
が形成されたマザー基板600を真空チャック502に
より固定した状態で、バックライト504を点燈させる
(ステップS11)。この状態で、プローブカード50
8によりプローブ508pを順次、外部回路接続端子1
02に当てて、テスタ520により所定信号を印加しつ
つ、CCDにより対応する画素を撮像する。これらによ
り、輝点及び黒点の位置並びにそれらの個数を、マザー
基板600上に構築された各電気光学装置について特定
する(ステップS12)。
が形成されたマザー基板600を真空チャック502に
より固定した状態で、バックライト504を点燈させる
(ステップS11)。この状態で、プローブカード50
8によりプローブ508pを順次、外部回路接続端子1
02に当てて、テスタ520により所定信号を印加しつ
つ、CCDにより対応する画素を撮像する。これらによ
り、輝点及び黒点の位置並びにそれらの個数を、マザー
基板600上に構築された各電気光学装置について特定
する(ステップS12)。
【0115】続いて、各電気光学装置についての累計輝
点個数が0以上であるか否かを判定する(ステップS1
3)。ここで、輝点数が0であれば(ステップS13:
No)、黒点化による修正を行うことなく、そのまま処
理を終了する。但し、必要であれば、インクジェットヘ
ッド530等によって、良品である旨のマーキングを当
該電気光学装置に対して記してもよい。
点個数が0以上であるか否かを判定する(ステップS1
3)。ここで、輝点数が0であれば(ステップS13:
No)、黒点化による修正を行うことなく、そのまま処
理を終了する。但し、必要であれば、インクジェットヘ
ッド530等によって、良品である旨のマーキングを当
該電気光学装置に対して記してもよい。
【0116】他方、ステップS13の判定の結果、輝点
数が0より多ければ(ステップS13:Yes)、各輝
点の座標にインクジェットヘッド530を相対移動させ
る(ステップS14)。そして、移動完了後に、インク
ジェットヘッド530からインクIKを吐出することに
よって、輝点を黒点化する(ステップS15)。この際
のインクIKの吐出量は、インクIKの不透明度に応じ
て可変であるが、最終的に輝点を目立たなくできる程度
に不透明とすれば足り、その吐出量は、実験的、経験的
に或いはシミュレーションによって、適当な値に設定す
ればよい。
数が0より多ければ(ステップS13:Yes)、各輝
点の座標にインクジェットヘッド530を相対移動させ
る(ステップS14)。そして、移動完了後に、インク
ジェットヘッド530からインクIKを吐出することに
よって、輝点を黒点化する(ステップS15)。この際
のインクIKの吐出量は、インクIKの不透明度に応じ
て可変であるが、最終的に輝点を目立たなくできる程度
に不透明とすれば足り、その吐出量は、実験的、経験的
に或いはシミュレーションによって、適当な値に設定す
ればよい。
【0117】加えて、ステップS12で検出された黒点
についても、インクIKによって黒点化してもよい。不
良個所は、動作上の安定性に欠けるため、検査状態や検
査後或いは出荷後の状態変化で、黒点が輝点となってし
まう可能性も否定できないからである。
についても、インクIKによって黒点化してもよい。不
良個所は、動作上の安定性に欠けるため、検査状態や検
査後或いは出荷後の状態変化で、黒点が輝点となってし
まう可能性も否定できないからである。
【0118】尚、ステップS14における輝点個数が、
最も規格が緩いB用の電気光学装置において許容される
黒点数よりも多い場合には、黒点化の意味はない。この
ため、黒点化による修正を実施することなく、そのまま
処理を終了してもよい。
最も規格が緩いB用の電気光学装置において許容される
黒点数よりも多い場合には、黒点化の意味はない。この
ため、黒点化による修正を実施することなく、そのまま
処理を終了してもよい。
【0119】ステップS15における各電気光学装置に
ついての1回又は複数回の黒点化が完了すると、インク
ジェットヘッド530等を用いて、黒点化した旨のマー
キングを記した後(ステップS16)、一連の処理を終
了する。
ついての1回又は複数回の黒点化が完了すると、インク
ジェットヘッド530等を用いて、黒点化した旨のマー
キングを記した後(ステップS16)、一連の処理を終
了する。
【0120】本実施形態の修正装置によれば、輝点を黒
点化することで、同じ不良個所であっても、より目立た
なくできる。即ち、不良品と判定される電気光学装置
を、良品として判定される電気光学装置に修正すること
も可能となる。この際、前述したレーザ修正を行う場合
のように、パーティクルを飛散させることもなく、また
画素電極が透明電極からなる場合にも問題なく修正でき
るので大変有利である。そして特に、透明或いは半透明
な真空チャック502を用いることで、非常に精度良く
且つ効率的に、輝点の検出から黒点化までの処理を一連
の処理として行うことが可能となる。
点化することで、同じ不良個所であっても、より目立た
なくできる。即ち、不良品と判定される電気光学装置
を、良品として判定される電気光学装置に修正すること
も可能となる。この際、前述したレーザ修正を行う場合
のように、パーティクルを飛散させることもなく、また
画素電極が透明電極からなる場合にも問題なく修正でき
るので大変有利である。そして特に、透明或いは半透明
な真空チャック502を用いることで、非常に精度良く
且つ効率的に、輝点の検出から黒点化までの処理を一連
の処理として行うことが可能となる。
【0121】尚、一般に大量生産される電気光学装置に
対しては、本実施形態の如くマザー基板600上で、修
正を実施すれば効率が高くなるが、マザー基板600か
ら個々に分断された後の電気光学装置を対象として、輝
点の検出から黒点化までの処理を同様に実施することも
可能である。加えて、完成品の段階や、出荷後更にはユ
ーザによる使用後に、このような輝点の検出及び黒点化
を実施することも可能である。
対しては、本実施形態の如くマザー基板600上で、修
正を実施すれば効率が高くなるが、マザー基板600か
ら個々に分断された後の電気光学装置を対象として、輝
点の検出から黒点化までの処理を同様に実施することも
可能である。加えて、完成品の段階や、出荷後更にはユ
ーザによる使用後に、このような輝点の検出及び黒点化
を実施することも可能である。
【0122】(電子機器の実施形態)次に、以上詳細に
説明した電気光学装置をライトバルブとして用いた電子
機器の具体例として、複板式カラープロジェクタの実施
形態について、その全体構成、特に光学的な構成につい
て説明する。ここに図12は、複板式カラープロジェク
タの図式的断面図である。
説明した電気光学装置をライトバルブとして用いた電子
機器の具体例として、複板式カラープロジェクタの実施
形態について、その全体構成、特に光学的な構成につい
て説明する。ここに図12は、複板式カラープロジェク
タの図式的断面図である。
【0123】図12において、本実施形態における複板
式カラープロジェクタの一例たる、液晶プロジェクタ1
100は、駆動回路がTFTアレイ基板上に搭載された
電気光学装置を含む液晶モジュールを3個用意し、夫々
RGB用のライトバルブ100R、100G及び100
Bとして用いたプロジェクタとして構成されている。液
晶プロジェクタ1100では、メタルハライドランプ等
の白色光源のランプユニット1102から投射光が発せ
られると、3枚のミラー1106及び2枚のダイクロイ
ックミラー1108によって、RGBの3原色に対応す
る光成分R、G、Bに分けられ、各色に対応するライト
バルブ100R、100G及び100Bに夫々導かれ
る。この際特にB光は、長い光路による光損失を防ぐた
めに、入射レンズ1122、リレーレンズ1123及び
出射レンズ1124からなるリレーレンズ系1121を
介して導かれる。そして、ライトバルブ100R、10
0G及び100Bにより夫々変調された3原色に対応す
る光成分は、ダイクロイックプリズム1112により再
度合成された後、投射レンズ1114を介してスクリー
ン1120にカラー画像として投射される。
式カラープロジェクタの一例たる、液晶プロジェクタ1
100は、駆動回路がTFTアレイ基板上に搭載された
電気光学装置を含む液晶モジュールを3個用意し、夫々
RGB用のライトバルブ100R、100G及び100
Bとして用いたプロジェクタとして構成されている。液
晶プロジェクタ1100では、メタルハライドランプ等
の白色光源のランプユニット1102から投射光が発せ
られると、3枚のミラー1106及び2枚のダイクロイ
ックミラー1108によって、RGBの3原色に対応す
る光成分R、G、Bに分けられ、各色に対応するライト
バルブ100R、100G及び100Bに夫々導かれ
る。この際特にB光は、長い光路による光損失を防ぐた
めに、入射レンズ1122、リレーレンズ1123及び
出射レンズ1124からなるリレーレンズ系1121を
介して導かれる。そして、ライトバルブ100R、10
0G及び100Bにより夫々変調された3原色に対応す
る光成分は、ダイクロイックプリズム1112により再
度合成された後、投射レンズ1114を介してスクリー
ン1120にカラー画像として投射される。
【0124】本実施形態では特に、液晶プロジェクタ1
100は、電気光学装置をRGB(赤色、緑色、青色)
用に3個用いた複板式カラープロジェクタとして構築さ
れている。ここで、製品規格上、G用の電気光学装置と
しては、例えば黒点個数は、n1個(例えば、2〜3個
など)まで許されるが、輝点個数は1個も許されない。
これに対して、R用の電気光学装置としては、黒点個数
は、n1より多いn2個まで許され、輝点個数も数個
(例えば、2〜3個)まで許される。B用の電気光学装
置としては更に、n2より多くの個数n3の黒点や輝点
が許される。従って、液晶プロジェクタ1100におい
て、図1から図9を参照して説明した実施形態の如く、
黒点化による修正を施した電気光学装置を如何に組み合
わせるかについて、次のような各種方法が考えられる。
100は、電気光学装置をRGB(赤色、緑色、青色)
用に3個用いた複板式カラープロジェクタとして構築さ
れている。ここで、製品規格上、G用の電気光学装置と
しては、例えば黒点個数は、n1個(例えば、2〜3個
など)まで許されるが、輝点個数は1個も許されない。
これに対して、R用の電気光学装置としては、黒点個数
は、n1より多いn2個まで許され、輝点個数も数個
(例えば、2〜3個)まで許される。B用の電気光学装
置としては更に、n2より多くの個数n3の黒点や輝点
が許される。従って、液晶プロジェクタ1100におい
て、図1から図9を参照して説明した実施形態の如く、
黒点化による修正を施した電気光学装置を如何に組み合
わせるかについて、次のような各種方法が考えられる。
【0125】第1の方法としては、輝点個数及び黒点個
数を前述の如く検査した結果、G用としては不良品と判
定されるものの、R用及びB用としては良品であると判
定される電気光学装置に対して、前述の如く黒点化によ
る修正を施すことにより(図10及び図11参照)、G
用の基準を満たす電気光学装置の個数を相対的に増加さ
せる。即ち、黒点化による修正によって、規格が厳しい
が故に不足しがちなG用の電気光学装置の個数を増加さ
せることができ、効率的に液晶プロジェクタ1100の
製造歩留まりを向上させられる。但し、この場合にも、
R用及びB用の電気光学装置の一部或いは全部について
黒点化による修正を行ってもよい。
数を前述の如く検査した結果、G用としては不良品と判
定されるものの、R用及びB用としては良品であると判
定される電気光学装置に対して、前述の如く黒点化によ
る修正を施すことにより(図10及び図11参照)、G
用の基準を満たす電気光学装置の個数を相対的に増加さ
せる。即ち、黒点化による修正によって、規格が厳しい
が故に不足しがちなG用の電気光学装置の個数を増加さ
せることができ、効率的に液晶プロジェクタ1100の
製造歩留まりを向上させられる。但し、この場合にも、
R用及びB用の電気光学装置の一部或いは全部について
黒点化による修正を行ってもよい。
【0126】或いは第2の方法としては、輝点個数及び
黒点個数を前述の如く検査した結果、例えば輝点が少な
いなど、製造品質が本来的に優れており黒点化による修
正を必要としない電気光学装置を、規格が厳しいG用や
R用の電気光学装置に優先的に割り振るようにして液晶
プロジェクタ1100を製造してもよい。他方で、輝点
個数及び黒点個数を前述の如く検査した結果、例えば輝
点が多数個存在するなど、製造品質が本来的に劣ってお
り黒点化による修正を必要とする電気光学装置を、上述
の如く黒点化による修正を施した後(図10及び図11
参照)、製品規格が最も緩いB用の電気光学装置に割り
振るようにしてもよい。最も規格が緩いB用の黒点個数
さえクリアできれば、当該B用の電気光学装置として採
用可能となり、効率的に液晶プロジェクタ1100の製
造歩留まりを向上させられる。但し、この場合にも、G
用やR用の電気光学装置の一部或いは全部について黒点
化による修正を行ってもよい。
黒点個数を前述の如く検査した結果、例えば輝点が少な
いなど、製造品質が本来的に優れており黒点化による修
正を必要としない電気光学装置を、規格が厳しいG用や
R用の電気光学装置に優先的に割り振るようにして液晶
プロジェクタ1100を製造してもよい。他方で、輝点
個数及び黒点個数を前述の如く検査した結果、例えば輝
点が多数個存在するなど、製造品質が本来的に劣ってお
り黒点化による修正を必要とする電気光学装置を、上述
の如く黒点化による修正を施した後(図10及び図11
参照)、製品規格が最も緩いB用の電気光学装置に割り
振るようにしてもよい。最も規格が緩いB用の黒点個数
さえクリアできれば、当該B用の電気光学装置として採
用可能となり、効率的に液晶プロジェクタ1100の製
造歩留まりを向上させられる。但し、この場合にも、G
用やR用の電気光学装置の一部或いは全部について黒点
化による修正を行ってもよい。
【0127】或いは第3の方法としては、輝点個数及び
黒点個数を前述の如く検査した結果、例えば輝点が0個
であるなど、製造品質が本来的に大変優れており黒点化
による修正を必要としない電気光学装置を、規格が最も
厳しいG用の電気光学装置に、優先的に割り振るように
して液晶プロジェクタ1100を製造してもよい。他方
で、輝点個数及び黒点個数を前述の如く検査した結果、
例えば輝点が複数個存在するなど、製造品質が本来的に
劣っており、黒点化による修正を必要とする電気光学装
置を、上述の如く黒点化による修正を施した後(図10
及び図11参照)、製品規格が緩いB用やR用の電気光
学装置に割り振るようにしてもよい。規格が緩いB用や
R用の黒点個数をクリアできれば、当該B用やR用の電
気光学装置として採用可能となり、効率的に液晶プロジ
ェクタ1100の製造歩留まりを向上させられる。但
し、この場合にも、G用の電気光学装置の一部或いは全
部について黒点化による修正を行ってもよい。
黒点個数を前述の如く検査した結果、例えば輝点が0個
であるなど、製造品質が本来的に大変優れており黒点化
による修正を必要としない電気光学装置を、規格が最も
厳しいG用の電気光学装置に、優先的に割り振るように
して液晶プロジェクタ1100を製造してもよい。他方
で、輝点個数及び黒点個数を前述の如く検査した結果、
例えば輝点が複数個存在するなど、製造品質が本来的に
劣っており、黒点化による修正を必要とする電気光学装
置を、上述の如く黒点化による修正を施した後(図10
及び図11参照)、製品規格が緩いB用やR用の電気光
学装置に割り振るようにしてもよい。規格が緩いB用や
R用の黒点個数をクリアできれば、当該B用やR用の電
気光学装置として採用可能となり、効率的に液晶プロジ
ェクタ1100の製造歩留まりを向上させられる。但
し、この場合にも、G用の電気光学装置の一部或いは全
部について黒点化による修正を行ってもよい。
【0128】これら第1から第3の方法のいずれを採用
するかは、製品規格上要求される輝点個数及び黒点個
数、大量生産或いはバッチ処理で多数の製造された電気
光学装置において検出される輝点個数及び黒点個数、黒
点化を用いた修正によるコストアップ、個々の電気光学
装置の製造コスト等の各種要因を総合的に勘案して、無
駄にする電気光学装置の個数を低減すると共に不要な黒
点化による修正工程を実行しなくて済むものを採用すれ
ばよい。
するかは、製品規格上要求される輝点個数及び黒点個
数、大量生産或いはバッチ処理で多数の製造された電気
光学装置において検出される輝点個数及び黒点個数、黒
点化を用いた修正によるコストアップ、個々の電気光学
装置の製造コスト等の各種要因を総合的に勘案して、無
駄にする電気光学装置の個数を低減すると共に不要な黒
点化による修正工程を実行しなくて済むものを採用すれ
ばよい。
【0129】本発明は、上述した実施形態に限られるも
のではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる
発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能で
あり、そのような変更を伴なう電気光学装置、これを備
えた複板式カラープロジェクタ及び電子機器、並びに電
気光学装置の修正方法及び装置もまた本発明の技術的範
囲に含まれるものである。
のではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる
発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能で
あり、そのような変更を伴なう電気光学装置、これを備
えた複板式カラープロジェクタ及び電子機器、並びに電
気光学装置の修正方法及び装置もまた本発明の技術的範
囲に含まれるものである。
【図1】 本発明の電気光学装置に係る実施形態おける
TFTアレイ基板をその上に形成された各構成要素と共
に対向基板の側から見た平面図である。
TFTアレイ基板をその上に形成された各構成要素と共
に対向基板の側から見た平面図である。
【図2】 図1のH−H’断面図である。
【図3】 各種状態にある、電気光学装置の実施形態に
おける画像表示領域10aの一部を拡大して図式的に示
す部分拡大平面図である。
おける画像表示領域10aの一部を拡大して図式的に示
す部分拡大平面図である。
【図4】 図3(c)のE−E’断面を図式的に示す断
面図である。
面図である。
【図5】 輝点が黒点化された構成の他の具体例を、図
4と同様の断面について示す断面図である。
4と同様の断面について示す断面図である。
【図6】 輝点が黒点化された構成の更に他の具体例
を、図4と同様の断面について示す断面図である。
を、図4と同様の断面について示す断面図である。
【図7】 本発明の実施形態の電気光学装置における画
像表示領域を構成するマトリクス状の複数の画素に設け
られた各種素子、配線等の等価回路を示すブロック図で
ある。
像表示領域を構成するマトリクス状の複数の画素に設け
られた各種素子、配線等の等価回路を示すブロック図で
ある。
【図8】 実施形態の電気光学装置におけるデータ線、
走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ基板の相
隣接する複数の画素群の平面図である。
走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ基板の相
隣接する複数の画素群の平面図である。
【図9】 図8のA−A’断面図である。
【図10】 電気光学装置の修正装置の図式的な斜視図
である。
である。
【図11】 図10の修正装置を用いて実行する、電気
光学装置の修正方法のフローチャートである。
光学装置の修正方法のフローチャートである。
【図12】 本発明の電子機器の実施形態である複板式
カラープロジェクタの一例たるカラー液晶プロジェクタ
を示す図式的断面図である。
カラープロジェクタの一例たるカラー液晶プロジェクタ
を示す図式的断面図である。
9a…画素電極
10…TFTアレイ基板
20…対向基板
30…TFT
50…液晶層
300…容量線
500…フルオートプローバ
502…真空チャック
504…バックライト
508…プローブカード
510…CCD
520…テスタ
530…インクジェットヘッド
534…アラインメント装置
901…開口領域
902…非開口領域
903…輝点
910、910’、910”…不透明材料
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Fターム(参考) 2G051 AA90 AB02 CA04 CB02 DA05
EA16
2H088 EA14 EA15 FA14 FA16 FA30
HA14 MA20
2H091 FA26Z FA34X FA34Z FA43Z
FC30 FD14 GA01 LA30
Claims (19)
- 【請求項1】 基板上に、複数の画素電極と、該画素電
極に接続された電子素子又は配線とを備えており、 前記複数の画素電極に対応する複数の画素のうち不良化
した画素の少なくとも一部については、不透明材料で覆
われることによって黒点化されていることを特徴とする
電気光学装置。 - 【請求項2】 前記不良化した画素の少なくとも一部と
は、黒点化されない場合に当該電気光学装置の動作状態
で輝点となる画素であることを特徴とする請求項1に記
載の電気光学装置。 - 【請求項3】 前記基板の外表面における、前記不良化
した画素に対向する領域に、前記不透明材料が塗布され
ていることを特徴とする請求項1又は2に記載の電気光
学装置。 - 【請求項4】 前記基板に対向配置されており前記基板
との間で電気光学物質層を挟持する対向基板を更に備え
ており、 前記対向基板の外表面における、前記不良化した画素に
対向する領域に、前記不透明材料が塗布されていること
を特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置。 - 【請求項5】 前記基板に対して重ねられた板状の光学
要素を更に備えており、 前記光学要素の外表面における、前記不良化した画素に
対向する領域に、前記不透明材料が塗布されていること
を特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置。 - 【請求項6】 ノーマリーホワイトモードで駆動される
ことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載
の電気光学装置。 - 【請求項7】 前記画素電極は透明電極からなり、前記
電子素子は薄膜トランジスタからなることを特徴とする
請求項1から6のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 【請求項8】 請求項1から7のいずれか一項に記載の
電気光学装置を具備することを特徴とする電子機器。 - 【請求項9】 赤色用、青色用及び緑色用の三つのライ
トバルブが組み合わされてなる複板式カラープロジェク
タであって、 前記緑色用のライトバルブは、請求項1から7のいずれ
か一項に記載の電気光学装置からなり、 前記赤色用及び前記青色用のライトバルブは夫々、基板
上に、複数の画素電極と、該画素電極に接続された電子
素子又は配線とを備え、前記複数の画素電極に対応する
複数の画素のいずれについても黒点化されていない他の
電気光学装置からなることを特徴とする複板式カラープ
ロジェクタ。 - 【請求項10】 赤色用、青色用及び緑色用の三つのラ
イトバルブが組み合わされてなる複板式カラープロジェ
クタであって、 前記青色用のライトバルブは、請求項1から7のいずれ
か一項に記載の電気光学装置からなり、 前記赤色用及び前記緑用のライトバルブは夫々、基板上
に、複数の画素電極と、該画素電極に接続された電子素
子又は配線とを備え、前記複数の画素電極に対応する複
数の画素のいずれについても黒点化されていない他の電
気光学装置からなることを特徴とする複板式カラープロ
ジェクタ。 - 【請求項11】 赤色用、青色用及び緑色用の三つのラ
イトバルブが組み合わされてなる複板式カラープロジェ
クタであって、 前記青色用及び前記赤色用のライトバルブは夫々、請求
項1から7のいずれか一項に記載の電気光学装置からな
り、 前記緑用のライトバルブは、基板上に、複数の画素電極
と、該画素電極に接続された電子素子又は配線とを備
え、前記複数の画素電極に対応する複数の画素のいずれ
についても黒点化されていない他の電気光学装置からな
ることを特徴とする複板式カラープロジェクタ。 - 【請求項12】 基板上に、複数の画素電極と、該画素
電極に接続された電子素子又は配線とを備えた電気光学
装置を修正する電気光学装置の修正方法であって、 前記電子素子又は配線を介して前記画素電極に所定信号
を印加しつつ前記電気光学装置の動作時における輝点個
所を検出する検出工程と、 前記検出された輝点個所を、不透明材料で覆うことによ
って黒点化する黒点化工程とを含むことを特徴とする電
気光学装置の修正方法。 - 【請求項13】 前記電気光学装置は、前記基板に対向
配置されており前記基板との間に電気光学物質層が封入
される対向基板を更に備えており、 前記検出工程及び前記黒点化工程は、前記電気光学物質
層が封入された後に実行されることを特徴とする請求項
12に記載の電気光学装置の修正方法。 - 【請求項14】 前記黒点化工程は、液的吐出ヘッドか
ら前記不透明材料を吐出することによって黒点化するこ
とを特徴とする請求項12又は13に記載の電気光学装
置の修正方法。 - 【請求項15】 基板上に、複数の画素電極と、該画素
電極に接続された電子素子又は配線とを備えた電気光学
装置を修正する電気光学装置の修正装置であって、 前記電子素子又は配線を介して前記画素電極に所定信号
を印加しつつ前記電気光学装置の動作時における輝点個
所を検出する検出装置と、 前記検出された輝点個所を、不透明材料で覆うことによ
って黒点化する黒点化装置とを備えたことを特徴とする
電気光学装置の修正装置。 - 【請求項16】 前記黒点化装置は、前記不透明材料を
吐出する液的吐出ヘッドを備えたことを特徴とする請求
項15に記載の電気光学装置の修正装置。 - 【請求項17】 前記検出装置は、 前記所定信号を印加するプローブと、 該プローブを前記電気光学装置に対して位置決めする位
置決め手段とを備えたことを特徴とする請求項15又は
16に記載の電気光学装置の修正装置。 - 【請求項18】 前記検出装置は、前記輝点個所を撮像
すると共に該撮像された輝点個所の前記基板上における
座標を特定する撮像装置を備え、 前記黒点化装置は、黒点化を実行する所定位置に対し
て、前記特定された座標に応じて前記基板を位置合わせ
するアラインメント装置を備えたことを特徴とする請求
項15から17のいずれか一項に記載の電気光学装置の
修正装置。 - 【請求項19】 前記検出装置は、 前記電気光学装置を固定する透明或いは半透明の真空チ
ャックと、 該真空チャックの背面に配置されており、該真空チャッ
クを介して前記電気光学装置に光源光を照射するバック
ライトとを備えたことを特徴とする請求項15から18
のいずれか一項に記載の電気光学装置の修正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002026137A JP2003228035A (ja) | 2002-02-01 | 2002-02-01 | 電気光学装置、これを備えた複板式カラープロジェクタ及び電子機器、並びに電気光学装置の修正方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002026137A JP2003228035A (ja) | 2002-02-01 | 2002-02-01 | 電気光学装置、これを備えた複板式カラープロジェクタ及び電子機器、並びに電気光学装置の修正方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003228035A true JP2003228035A (ja) | 2003-08-15 |
Family
ID=27748071
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002026137A Withdrawn JP2003228035A (ja) | 2002-02-01 | 2002-02-01 | 電気光学装置、これを備えた複板式カラープロジェクタ及び電子機器、並びに電気光学装置の修正方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003228035A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101174287B1 (ko) * | 2005-06-13 | 2012-08-14 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시패널 및 그 리페어 방법 |
JP2014202818A (ja) * | 2013-04-02 | 2014-10-27 | 三菱電機株式会社 | 液晶表示パネルの欠陥修理方法、およびそれを用いた液晶表示装置 |
CN105807461A (zh) * | 2016-05-31 | 2016-07-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示屏亮点维修方法及显示屏 |
-
2002
- 2002-02-01 JP JP2002026137A patent/JP2003228035A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101174287B1 (ko) * | 2005-06-13 | 2012-08-14 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시패널 및 그 리페어 방법 |
JP2014202818A (ja) * | 2013-04-02 | 2014-10-27 | 三菱電機株式会社 | 液晶表示パネルの欠陥修理方法、およびそれを用いた液晶表示装置 |
CN105807461A (zh) * | 2016-05-31 | 2016-07-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示屏亮点维修方法及显示屏 |
WO2017206551A1 (zh) * | 2016-05-31 | 2017-12-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示屏亮点维修方法及显示屏 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050405 |