JP2003227777A - マルチポート光学装置の測定 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】光学装置の検査時間を短縮する装置及び方法を
提供すること。 【解決手段】m個の入力(ｍ=1,2,3,...,M)及びn個の出力
(n=1,2,3,...,N)を有する検査対象光学装置(DUT(10))の
少なくとも１つの入力に、特徴の異なる複数の刺激信号
(Si)を印加することにより、該DUTを検査する。n個の出
力のうちの少なくとも１つにおいて応答信号(Ri)を受信
し、印加した前記刺激信号またはその指示を用いて該応
答信号を評価することにより、DUT(10)の特性を判定ま
たは検証することができる。前記特徴の異なる複数の刺
激信号は、個別に印加された各刺激信号を応答信号にお
いて追跡（存在の確認、即ち検出可能閾値を超えている
か否かの確認）できるような方法で印加される。

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は、スイッチやクロス
コネクトなどのマルチポート光学装置の測定に関する。 【０００２】 【従来の技術】複数の出力と複数の入力とを接続するク
ロスコネクトなどの光学マルチポート装置の検査業務
は、現代の光電気通信産業においてその重要度が益々高
まっている。これらのマルチポート装置は幅広い様々な
接続オプションを提供するため、各オプションの検査や
検証及び光学特性や望ましくない副作用の測定には極め
て長時間を要することになる。例えばｎ×ｎクロスコネ
クト（入力数がｎで出力数もｎ）の場合、発生し得る２
ⁿ通り、或いは場合によっては、ｎ！通りもの切り換え
パターンの各々を検査する必要がある。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、マル
チポート光学装置用の改良された検査方法を提供するこ
とである。この目的は独立請求項の発明によって解決さ
れ、好適な実施形態は従属請求項に示される。 【０００４】 【課題を解決するための手段】本発明によれば、ｍ個の
入力（ｍ＝１、２、３、．．．、Ｍ）とｎ個の出力（ｎ
＝１、２、３、．．．、Ｎ）とを有する検査対象光学装
置（ＤＵＴ）のｍ個の入力の中の少なくとも１つに複数
の特徴が異なる刺激信号を印加することによって該ＤＵ
Ｔを検査する。ｎ個の出力の中の少なくとも１つにおい
て受信した応答信号を、印加した刺激信号又は少なくと
も１つのその指示と共に評価装置へ提供する。該評価装
置は、これらの受信応答信号と刺激の指示から、光学特
性（例えば挿入損失、クロストーク、又はアイソレーシ
ョンなど）や装置特性の検証（例えば異なる入出力間の
経路の接続、スイッチマトリックス）などのＤＵＴの特
性を判定する。 【０００５】刺激信号は、個別に印加された各刺激信号
を受信応答信号において追跡（存在の確認、検証可能閾
値を超えているか否かの確認）できるように提供しなけ
ればならない。この「追跡」という用語は、印加された
刺激信号のうちの少なくとも一部を受信応答信号におい
て識別することを意味しており、印加された刺激信号に
関する識別部分の定量分析も含まれる。 【０００６】又、印加刺激信号の「指示」という用語
は、応答信号においてこの刺激信号を追跡することが可
能なあらゆる種類の代表的な情報を意味している。 【０００７】各刺激信号は、受信された各応答信号にお
いて各刺激信号（或いは、その一部）を明確に識別でき
るようにする固有の特徴を提供するものが望ましい。受
信した各応答信号において特徴のある印加刺激信号の各
々の部分を追跡する能力により、複数の刺激信号を同時
に、或いは少なくとも実質的に同時に印加することが可
能となり、この結果、検査時間を大幅に短縮できる。 【０００８】一実施例において、各刺激信号は搬送波部
分及び識別部分から構成される。搬送波部分と識別部分
とのうちの少なくとも一方は、各受信応答信号において
各刺激信号（或いはその一部）を明確に識別する固有の
特徴を有する。一実施例において、この搬送波部分は印
加される刺激信号の全部または一部について同一または
実質的に同一のものであるが、異なる搬送波部分を印加
することもできる。この固有の部分は、応答信号におい
て明瞭且つ明確に追跡できるように選択しなければなら
ない。つまり、応答信号を評価するために提供する追跡
手段すなわち識別手段は、識別部分に適用する際にその
識別の種類に適したものにする必要がある。 【０００９】固有の識別部分を提供するものであれば、
およそあらゆる適当な識別手段を適用することも可能で
あるが、特に変調（例：強度、振幅、位相、又は周波数
変調）によると非常に有効な追跡を実行できることが判
明しており、特に、加えられた光の強度に反応する標準
的なパワーメーターで応答信号を検出する場合に適して
いる。但し、符号化（例：固有のデータ内容による符号
化）などのその他の識別手段も同様に適用可能である。 【００１０】刺激信号の搬送波部分は、実質的に同一或
いは同一のものでよく、同一の光源から取り出したもの
でよいが、同一のアプリケーションが異なる搬送波部分
を必要とする場合もある。特にＤＵＴが波長ごとに異な
る経路（例：伝送経路）を提供する場合には、波長の異
なる複数の搬送波部分を提供する場合もある。 【００１１】ＤＵＴが少なくとも２つの入力を有する好
適な実施例においては、入力の中の２つ以上（望ましく
は、入力のすべて）の各々が、搬送波部分は共通してい
るが識別部分が固有である異なる刺激信号を受信する。 【００１２】ＤＵＴが少なくとも１つの搬送波依存型入
力（例：ＤＵＴの動作が印加した搬送波部分に依存する
入力）を有する別の好適な実施例においては、この搬送
波依存型入力は、異なる搬送波部分及び／又は異なる固
有の識別部分を各々が備えた少なくとも２つの異なる刺
激信号を受信する。異なる波長について異なる伝送経路
を有するＤＵＴの例においては、同時に印加される各搬
送波部分の波長が異なる。 【００１３】一実施例においては、複数の刺激信号の搬
送波は複数の異なる搬送波部分から構成され、各印加刺
激信号は異なる固有の識別部分を有する。これは、例え
ば、複数の異なる搬送波部分を既に提供している広帯域
光源を使用することによって実現できる。 【００１４】好適な一実施例においては、当該技術分野
で知られた変調手段を適用することによって各刺激信号
の固有の識別部分を提供している。搬送波部分を表す搬
送波信号を変調することによって振幅変調を行うのが望
ましい。振幅変調は搬送波信号の強度を変調することに
よって実行できる。そして、応答信号は、受信した光信
号を電気信号に変換する一般的なパワーメーター（例え
ばフォトダイオードによるもの）を使用して検出可能で
ある。評価装置では、各受信応答信号における固有の識
別部分（又はその一部）の追跡に当該技術分野で知られ
た各種評価方法を適用できる。つまり、評価装置は、異
なる各刺激信号とそれらの刺激信号のＤＵＴの入力への
配分についての知識とを利用し、要求されているＤＵＴ
の特性（例えば各伝送経路の挿入損失、異なる伝送経路
間のクロストーク又はアイソレーション、或いは入出力
間の接続体系（予想されているもの及び予想外のもの）
など）を判定することができる。 【００１５】時間領域における望ましい評価方法の例と
しては、同期復調、相関、回帰アルゴリズム（例：３パ
ラメータフィット）がある。中間周波数（ＺＦ）上での
転送やフィルターバンクのような前処理法を追加または
代替として適用することもできる。又、周波数領域にお
いては、例えば、フーリエ変換（例：高速フーリエ変換
−ＦＦＴ）又は相関を適用可能である。しかしながら、
その他の或いは複数の評価方法も同様に適用可能である
のは明らかである。 【００１６】大部分の一般的に入手可能な検出器（例え
ばフォトダイオードなど）による光信号から電気信号へ
の変換においては、通常、光信号の強度の変動には非常
に敏感に反応するが波長の変動にはさほどでもないた
め、振幅変調が特に有用である。 【００１７】振幅変調を適用する好適な実施例において
は、変調周波数範囲としてサブ超音波帯（特に１００Ｍ
Ｈｚ未満の範囲）をカバーするものが望ましい。しかし
ながら、適用される変調周波数範囲は、通常、関連する
コンポーネントの帯域幅によしか制限されない。最新技
術を提供する際の最大の制限要素は、所定の入力帯域幅
で光の強度を測定する装置（例えばフォトダイオードな
ど）である。この最大変調周波数は、パワー値のサンプ
リングレートをＦｓ、望ましい最高変調周波数をＦｍａ
ｘとすると、Ｆｍａｘ≦Ｆｓ／４に制限される。従っ
て、使用するパワーメーターの入力帯域幅は、通常、概
ねＦｓ／４の範囲内にある。 【００１８】少なくとも２つの特徴の異なる刺激信号を
並行して（例えば、同時に或いは実質的に同時に（即
ち、短時間の間に））印加するのが望ましい。受信した
各応答信号において独立的に追跡可能であるという本発
明における刺激信号の規定により、このような複数の刺
激信号の並行的な印加が可能になっていることが理解さ
れるであろう。この結果、特に多数の入力及び／又は出
力を有するｍ×ｎ装置を検査する際、即ち検査対象とな
る接続可能パターンを装置が多数提供している場合に検
査時間の大幅な短縮が可能となる。但し、刺激信号を連
続的又は擬似並行モードで印加可能であることも明らか
である。 【００１９】本発明は、光クロスコネクタ、光スイッ
チ、又はスイッチファブリックなどの光学マルチポート
装置の検査において特に有用であることが判明してお
り、特に入力及び／又は出力の数が多数に上る場合に有
用である。１つの入力と１つの出力との間の伝送経路を
開閉可能なｍ個の入力とｎ個の出力を有するスイッチの
場合、例えば、スイッチ全体の損失又はクロストークを
測定するには、通常、ｍ個の入力及び接続されているす
べての伝送経路の各々に異なる刺激信号を同時に印加す
る測定を１回行えば十分である。ｍ個の入力の各々をｎ
個の出力の中の１つに選択的に経路設定可能な光クロス
コネクトの場合は、通常、同様にｍ回の測定を実行すれ
ば十分である。但し、本発明を使用し、あらゆるｍ×ｎ
マルチポート装置を検査できることは明らかである。 【００２０】本発明を部分的又は全体的に１つ以上の適
切なソフトウェアプログラムによって実施又はサポート
できることは明らかであり、それらのソフトウェアプロ
グラムはあらゆる種類のデータ媒体上に保存、或いはそ
れらのデータ媒体から提供可能であり、適切な処理装置
内で、或いは処理装置によって実行できる。刺激信号の
印加及び／又は規定を制御したり（例：１つ以上の信号
ソース及び／又は変調装置の制御）、応答信号の評価
（例：評価装置による評価）のためにソフトウェアプロ
グラム又はルーチンを提供することが望ましい。 【００２１】本発明のその他の目的と付随する多数の利
点は、添付の図面を参照しつつ以下の詳細な説明を参照
することによって容易に判明し、理解することができ
る。実質的又は機能的に等しい或いは類似の要素は、同
一の参照符号によって参照されている。 【００２２】 【発明の実施の形態】図１において、ｍ個の入力とｎ個
の出力とを有する検査対象装置（ＤＵＴ）１０を検査す
るものとする（ｍ、ｎ＝１、２、３、．．．、Ｎ）。ｍ
個の入力の各々は特徴の異なる刺激信号Ｓ_i（ｉ＝１、
２、３、．．．、ｍ）を受信し、ｎ個の出力の各々は応
答信号Ｒ_j（ｊ＝１、２、３、．．．、ｎ）を提供す
る。各応答信号Ｒ_jは、個別の検出器２０−ｊによって
受信され、この検出された応答信号は評価装置３０に提
供される。該評価装置３０は、各刺激信号Ｓ_i又は各刺
激信号Ｓ_iの少なくとも１つの指示を更に受信し、これ
によって応答信号Ｒ_jにおいて各印加刺激信号Ｓ_i（又は
対応するその一部）を明白に識別することが可能になっ
ている。 【００２３】動作の際には、すべての刺激信号Ｓ_iを並
行して（望ましくは同時に）ＤＵＴ１０に印加し、得ら
れた応答信号Ｒ_jを個別の検出器２０−ｊにより検出し
て評価装置３０へ提供する。評価装置３０は、ＤＵＴ１
０の少なくとも１つの光学特性を導出するため、各刺激
信号Ｓ_iの固有の特徴に関する知識を利用して応答信号
Ｒ_jを評価する。このような光学特性としては、例え
ば、挿入損失、クロストーク、アイソレーション、ある
いは、入出力間の所望の伝送経路の検証などがある。 【００２４】好適な実施例において、各刺激信号Ｓ
_iは、個別の変調装置４０−ｉによって提供される。各
変調装置４０−ｉは、搬送波信号Ｃ_iおよび変調信号Ｍ_i
を受信し、それらから刺激信号Ｓ_iを生成する。 【００２５】好適な実施例において、各変調装置４０−
ｉは、印加した搬送波信号Ｃ_iの光強度を変調するため
の振幅変調を実行する。この実施例の場合、搬送波信号
Ｃ_iは、すべて同一又は少なくとも実質的に同一であっ
てもよく、或いは、同一光源から取り出したものであっ
てもよい。その場合には、固有の刺激信号Ｓ_iの各々に
ついての指示として、変調信号Ｍ_i、または変調周波数
ｆ_iなどのそれに対応する指示又は表現のみを提供すれ
ば十分である。 【００２６】この振幅変調を適用する実施例において
は、検出器２０−ｊは、例えば、従来のフォトダイオー
ドによって実現可能である。評価装置３０は、応答信号
Ｒ_jの各々における周波数成分ｆ_iを検出する。図１の右
側は、刺激信号Ｓ₁及びＳ_mから生じた検出周波数成分ｆ
₁及びｆ_mの例を示している。アプリケーションに応じ
て、評価装置３０は、受信した周波数成分の強度を互い
に組み合わせて処理することにより、挿入損失、アイソ
レーション、又はクロストークを判定する。このような
処理方法は当該技術分野でよく知られているので、本明
細書では詳細説明を省略する。一般的なアルゴリズムと
しては、周波数領域での相関又はフーリエ変換（例えば
高速フーリエ変換）などが可能があり、例えば、３パラ
メータフィットなどの同期復調、相関、回帰アルゴリズ
ムがある（これらは更に中間周波数（ＺＦ）での転送や
フィルタバンクなどの前処理法と組み合わせることがで
きる）。 【００２７】スイッチファブリック１００を検査する好
適な実施例が図２に示されており、これは特にいわゆる
３Ｄ ＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍｅｃ
ｈａｎｉｃａｌ Ｓｙｓｔｅｍｓ）用の一般的モデルを
表している。本実施例における光スイッチファブリック
１００は、Ｉ₁、Ｉ₂、Ｉ₃、及びＩ₄という４つの入力と
Ｏ₁、Ｏ₂、Ｏ₃、又はＯ₄という４つの出力を有してい
る。但し、入力と出力の数に制限がないことは明らかで
ある。これらの入力の各々は、出力のいずれかに接続で
きる。例えば、可能な接続が、例えば入力Ｉ₁と出力Ｏ₁
との間の接続として図２にスイッチ１１０により示され
ている。尚、その他の接続も同様に提供可能であること
はいうまでもない。 【００２８】スイッチファブリック１００を検査するた
め、特徴の異なる刺激信号Ｓ₁−Ｓ₄を入力Ｉ₁−Ｉ₄に同
時に印加して測定を４回実施する。対応する応答信号Ｒ
₁−Ｒ₄を出力Ｏ₁−Ｏ₄で測定する。各測定ごとにスイッ
チファブリック１００のマトリックス接続構造の１ライ
ンを測定するのが望ましい。これが図２の４×４スイッ
チファブリック例において測定が４回である理由であ
る。従って、ｍ×ｍスイッチファブリックの場合は、少
なくともｍ回の測定が必要となる。 【００２９】図３Ａは、合波器又は分波器装置２００を
検査するための原理を示している。装置２００が合波器
として設けられるか分波器として設けられるかは、装置
２００を動作させる方向、即ち、（図３Ａにおいて）信
号を左側から印加するのか（分波器の場合）右側から印
加するのか（合波器の場合）によって決まる。 【００３０】分波器形態の場合、装置２００は１つの入
力とｎ個の出力とを有する。装置２００の入力（左側）
に印加された信号は、装置２００の構成及び入力信号の
波長に応じて装置２００のｎ個の出力（右側）の中の１
以上に提供される。装置２００を検査するためには、波
長が異なる搬送波信号と異なる固有の識別部分とを各々
が有する複数の刺激信号を同時に装置２００の入力に提
供する。そして前述のように、応答信号Ｒ_jを検出して
分析する。合波器形態の装置２００を検査するために
は、図３Ａの右側から刺激信号Ｓ_jを提供し、応答信号
Ｒ_jを装置２００の左側で検出する。 【００３１】合波器／分波器装置２００を検査するため
の図３Ａに示した原理と同じ原理は、図３Ｂに示した光
クロスコネクトの検査にも適用することができる。この
光クロスコネクトは、１つの入力をｍ個の出力に分離す
るための１×ｍ分波器装置２００、ｍ個の入力をｎ個の
出力に切り換えるｍ×ｎスイッチファブリック１００、
及びｎ個の入力を１つの出力に多重化するｎ×１合波器
装置２００から構成される。 【００３２】以下においては、本発明の種々の構成要件
の組み合わせからなる例示的な実施態様を示す。 １．ｍ個の入力（ｍ＝１、２、３、...、Ｎ）とｎ個の
出力（ｎ＝１、２、３、...、Ｎ）とを有する検査対象
光学装置（ＤＵＴ）の特性を判定または検証するための
システムであって、特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓ
ｉ）が前記ｍ個の入力のうちの少なくとも１つに供給さ
れるものにおいて、前記ｎ個の出力のうちの少なくとも
１つにおいて応答信号（Ｒｉ）を受信するための信号受
信装置（２０）と、印加された前記刺激信号（Ｓｉ）の
うちの少なくとも１つまたはその指示を用いて受信した
前記応答信号を評価することにより、前記ＤＵＴ（１
０）の特性を判定または検証するための評価装置（３
０）と、からなるシステム。 ２．前記評価装置（３０）は、受信した前記応答信号の
各々において、印加された前記刺激信号の少なくとも一
部を識別するようになっている、請求項１のシステム。 ３．前記評価装置（３０）は、印加された前記刺激信号
について識別された部分の定量分析を提供するようにな
っている、請求項２のシステム。 ４．ｍ個の入力（ｍ＝１、２、３、...、Ｎ）とｎ個の
出力（ｎ＝１、２、３、...、Ｎ）とを有する検査対象
光学装置（ＤＵＴ）を検査するためのシステムであっ
て、特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓｉ）を前記ｍ個の
入力のうちの少なくとも１つに印加するための信号印加
装置（４０）と、請求項１から３のうちのいずれか１項
に記載のＤＵＴ（１０）の特性を判定または検証するた
めのシステムと、からなるシステム。 ５．前記信号印加装置（４０）は、受信した各応答信号
（Ｒｉ）において個別に印加された各刺激信号（Ｓｉ）
を追跡（存在の確認、即ち検出可能閾値を超えているか
否かの確認）できるように前記特徴の異なる複数の刺激
信号（Ｓｉ）を印加する、請求項４のシステム。 ６．前記信号印加装置（４０）は、固有の異なる特徴を
有する複数の刺激信号（Ｓｉ）を印加することにより、
受信した各応答信号において各刺激信号またはその一部
を明確に識別できるようにしている、請求項４または５
に記載のシステム。 ７．前記信号印加装置（４０）は搬送波部分と識別部分
とを有する特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓｉ）を印加
するようになっており、該搬送波部分と識別部分とのう
ちの少なくとも一方が受信した各応答信号において各刺
激信号またはその一部を明確に識別できるようにする固
有の特徴を含む、請求項４〜６のうちのいずれか１項に
記載のシステム。 ８．前記信号印加装置（４０）は、特徴の異なる複数の
刺激信号（Ｓｉ）を生成するための変調または符号化を
提供するようになっている、請求項１のシステム。 ９．前記信号印加装置（４０）は、前記特徴の異なる複
数の刺激信号（Ｓｉ）のうちの少なくともいくらかを並
列に、好ましくは同時にまたは少なくとも実質的に同時
に提供するようになっている、請求項１及び５〜８のう
ちのいずれか１項に記載のシステム。 １０．特徴の異なる複数の光学刺激信号（Ｓｉ）を、ｍ
個の入力（ｍ＝１、２、３、...、Ｎ）とｎ個の出力
（ｎ＝１、２、３、...、Ｎ）とを有する検査対象光学
装置（ＤＵＴ）の、少なくとも１つの前記入力に印加す
るための信号印加装置（４０）。 １１．特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓｉ）であって該
刺激信号の各々が各刺激信号を明確に識別することを可
能にする固有の特徴を有する複数の刺激信号（Ｓｉ）を
印加するようになっている、請求項１０の信号印加装置
（４０）。 １２．前記信号印加装置（４０）が搬送波部分及び／又
は識別部分を有する特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓ
ｉ）を印加するようになっており、前記搬送波部分及び
識別部分のうちの少なくとも一方が受信した各応答信号
において各刺激信号またはその一部を明確に識別するこ
とを可能にする固有の特徴を含む、請求項１０または１
１の信号印加装置。 １３．前記特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓｉ）を生成
するための変調または符号化を提供する装置を含む、請
求項１０〜１２のうちのいずれか１項に記載の信号印加
装置（４０）。 １４．前記信号印加装置（４０）は前記特徴の異なる複
数の刺激信号（Ｓｉ）のうちの少なくともいくつかを平
行に、好ましくは同時にまたは少なくとも実質的に同時
に提供するようになっている、請求項１０〜１３のうち
のいずれか１項に記載の信号印加装置（４０）。 １５．ｍ個の入力（ｍ＝１、２、３、...、Ｎ）とｎ個
の出力（ｎ＝１、２、３、...、Ｎ）とを有する検査対
象光学装置（ＤＵＴ）を検査するためのシステムであっ
て、特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓｉ）を前記ｍ個の
入力のうちの少なくとも１つに印加するための信号印加
装置（４０）と、前記ｎ個の出力のうちの少なくとも１
つにおいて応答信号（Ｒｉ）を受信するための信号受信
装置（２０）と、印加した前記刺激信号（Ｓｉ）のうち
の少なくとも１つまたはその指示を用いて受信した前記
応答信号を評価することにより、前記ＤＵＴ（１０）の
特性を判定または評価するための評価装置（３０）と、
からなるシステム。 １６．前記信号印加装置（４０）は、受信した各応答信
号（Ｒｉ）において個別に印加された各刺激信号（Ｓ
ｉ）を追跡（存在の確認、即ち検出可能閾値を超えてい
るか否かの確認）できるように前記特徴の異なる複数の
刺激信号（Ｓｉ）を印加する、請求項１５のシステム。 １７．前記評価装置（３０）は、受信した各応答信号に
おいて、印加された前記刺激信号の少なくとも一部を識
別するようになっている、請求項１５または１６に記載
のシステム。 １８．前記評価装置（３０）は、印加された前記刺激信
号について前記識別された部分の定量分析を提供するよ
うになっている、請求項１６のシステム。 １９．前記信号印加装置（４０）は、特徴の異なる複数
の刺激信号（Ｓｉ）であって該刺激信号の各々が受信し
た各応答信号において各刺激信号またはその一部を明確
に識別することを可能にする固有の特徴を有する複数の
刺激信号（Ｓｉ）を印加するようになっている、請求項
１５〜１８のうちのいずれか１項に記載のシステム。 ２０．前記信号印加装置（４０）は搬送波部分及び／又
は識別部分を有する特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓ
ｉ）を印加するようになっており、前記搬送波部分及び
識別部分のうちの少なくとも一方が受信した応答信号に
おいて各刺激信号またはその一部を明確に識別すること
を可能にする固有の特徴を含む、請求項１５〜１９のう
ちのいずれか１項に記載のシステム。 ２１．前記信号印加装置（４０）は特徴の異なる複数の
刺激信号（Ｓｉ）を生成するための変調または符号化を
提供するようになっている、請求項１５〜２０のうちの
いずれか１項に記載のシステム。 ２２．前記信号印加装置（４０）は前記特徴の異なる複
数の刺激信号（Ｓｉ）を平行に、好ましくは同時にまた
は少なくとも実質的に同時に提供するようになってい
る、請求項１６〜２１のうちのいずれか１項に記載のシ
ステム。 ２３．ｍ個の入力（ｍ＝１、２、３、...、Ｎ）とｎ個
の出力（ｎ＝１、２、３、...、Ｎ）とを有する検査対
象光学装置（ＤＵＴ）の特性を判定または検証するため
の方法であって、（ａ）前記ｍ個の入力のうちの少なく
とも１つに印加された特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓ
ｉ）に応答して前記ｍ個の出力のうちの少なくとも１つ
において応答信号（Ｒｉ）を受信するステップと、
（ｂ）印加された前記刺激信号（Ｓｉ）のうちの少なく
とも１つまたはその指示を用いて受信した前記応答信号
を評価することにより、前記ＤＵＴ（１０）の特性を判
定または検証するステップと、からなる方法。 ２４．ｍ個の入力（ｍ＝１、２、３、...、Ｎ）とｎ個
の出力（ｎ＝１、２、３、...、Ｎ）とを有する検査対
象光学装置（ＤＵＴ）を検査するための方法であって、
（ａ）特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓｉ）を前記ｍ個
の入力のうちの少なくとも１つに印加するステップと、
（ｂ）前記ｎ個の出力のうちの少なくとも１つにおいて
応答信号（Ｒｉ）を受信するステップと、（ｃ）印加さ
れた刺激信号（Ｓｉ）のうちの少なくとも１つまたはそ
の指示を用いて受信した応答信号を評価することによ
り、前記ＤＵＴの特性を判定または検証するステップ
と、からなる方法。 ２５．前記ステップ（ａ）において印加される特徴の異
なる複数の刺激信号（Ｓｉ）は、前記ステップ（ｃ）で
受信された各応答信号（Ｒｉ）において、印加された個
々の刺激信号（Ｓｉ）を追跡（存在の確認、即ち検出可
能閾値を超えているか否かの確認）できるように印加さ
れる、請求項２４の方法。 ２６．前記ステップ（ａ）は、各刺激信号（Ｓｉ）を明
確に変調または符号化するステップを含む、請求項２４
または２５の方法。 ２７．前記ステップ（ａ）において、前記特徴の異なる
複数の刺激信号（Ｓｉ）のうちの少なくともいくつかが
平行に、好ましくは同時にまたは少なくとも実質的に同
時に印加される、請求項２４〜２６のうちのいずれか１
項に記載の方法。 ２８．特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓｉ）を、ｍ個の
入力（ｍ＝１、２、３、...、Ｎ）とｎ個の出力（ｎ＝
１、２、３、...、Ｎ）とを有する検査対象光学装置
（ＤＵＴ）の少なくとも１つの入力に印加するための方
法であって、（ａ）搬送波部分及び／又は識別部分を有
する特徴の異なる複数の刺激信号であって該搬送波部分
と識別部分とのうちの少なくとも一方が各々の刺激信号
を明確に識別する固有の特徴を有する複数の刺激信号を
印加するステップを含む方法。 ２９．前記特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓｉ）を生成
するための変調または符号化のステップをさらに含む、
請求項２８の方法。 ３０．前記特徴の異なる複数の刺激信号（Ｓｉ）のうち
の少なくともいくつかを平行に、好ましくは同時にまた
は少なくとも実質的に同時に印加するステップを含む、
請求項２８または２９の方法。 【００３３】 【発明の効果】本発明は、上記のように構成することに
より、光学装置を検査する際、その入力に加える刺激信
号を同時に印加することが可能になるため、検査時間を
大幅に短縮することが可能になる。

【図面の簡単な説明】 【図１】本発明による好適な実施例を示す図である。 【図２】光スイッチファブリックを迅速に検査する方法
を示す図である。 【図３】その他の検査機構を示す図である。 【符号の説明】 １０ 検査対象光学装置（ＤＵＴ） ２０ 信号受信装置 ３０ 評価装置 ４０ 信号印加装置 Ｓ_i 刺激信号 Ｒ_i 応答信号

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ディートマール・スタドラー ドイツ連邦共和国71034ブライテンシュタ イン，チュルペンシュトラーセ・４ Ｆターム(参考） 2G086 EE12

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 【請求項１】ｍ個の入力（ｍ＝１、２、３、...、Ｎ）
   とｎ個の出力（ｎ＝１、２、３、...、Ｎ）とを有する
   検査対象光学装置（ＤＵＴ）の特性を判定または検証す
   るためのシステムであって、特徴の異なる複数の刺激信
   号（Ｓｉ）が前記ｍ個の入力のうちの少なくとも１つに
   供給されるものにおいて、 前記ｎ個の出力のうちの少なくとも１つにおいて応答信
   号（Ｒｉ）を受信するための信号受信装置（２０）と、 印加された前記刺激信号（Ｓｉ）のうちの少なくとも１
   つまたはその指示を用いて受信した前記応答信号を評価
   することにより、前記ＤＵＴ（１０）の特性を判定また
   は検証するための評価装置（３０）と、 からなるシステム。