JPH08340283A - 光加入者伝送路試験方法および装置 - Google Patents
光加入者伝送路試験方法および装置Info
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- JPH08340283A JPH08340283A JP14490795A JP14490795A JPH08340283A JP H08340283 A JPH08340283 A JP H08340283A JP 14490795 A JP14490795 A JP 14490795A JP 14490795 A JP14490795 A JP 14490795A JP H08340283 A JPH08340283 A JP H08340283A
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- optical
- optical subscriber
- transmission line
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- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 スターカップラと各光加入者装置間の伝送距
離、破断場所の数の大小によらず、経済的に光加入者伝
送路の試験を行う。 【構成】 スターカップラ２の光加入者装置４側に通過
波長が可変の可変波長フルタ７を挿入し、個々の分岐伝
送路を別個に試験する。また、光加入者装置４の入出力
端に設ける波長選択フィルタ３として二つの波長選択フ
ィルタを用い、障害がない場合の反射光に規則性をもた
せることで、光反射測定装置５で個々の分岐伝送路を識
別する。
離、破断場所の数の大小によらず、経済的に光加入者伝
送路の試験を行う。 【構成】 スターカップラ２の光加入者装置４側に通過
波長が可変の可変波長フルタ７を挿入し、個々の分岐伝
送路を別個に試験する。また、光加入者装置４の入出力
端に設ける波長選択フィルタ３として二つの波長選択フ
ィルタを用い、障害がない場合の反射光に規則性をもた
せることで、光反射測定装置５で個々の分岐伝送路を識
別する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光加入者通信に利用す
る。特に、ひとつのセンタ装置と複数の光加入者装置と
を１対多に接続する光加入者伝送路の試験に関する。
る。特に、ひとつのセンタ装置と複数の光加入者装置と
を１対多に接続する光加入者伝送路の試験に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、各家庭に大量の情報を送ることの
できるＦＴＴＨ（Fiber To The Home）の実現に向け、
光加入者システムの研究開発が盛んに行われている。そ
の中でも、ＴＣＭ（時分割上り下り多重）とＴＤＭＡ
（時分割ユーザー多重）によるＰＤＳ（Passive Double
Star ）システムが、複数の光加入者によるセンタ装置
の共有化により低コスト化が実現される点で注目をあび
ている。ＰＤＳシステムのようなスターカップラ等によ
りユーザー多重を行う伝送方式では、光ファイバ伝送路
の破断その他の障害場所を通信に影響を与えず経済的に
検査できる監視システムが必要とされる。
できるＦＴＴＨ（Fiber To The Home）の実現に向け、
光加入者システムの研究開発が盛んに行われている。そ
の中でも、ＴＣＭ（時分割上り下り多重）とＴＤＭＡ
（時分割ユーザー多重）によるＰＤＳ（Passive Double
Star ）システムが、複数の光加入者によるセンタ装置
の共有化により低コスト化が実現される点で注目をあび
ている。ＰＤＳシステムのようなスターカップラ等によ
りユーザー多重を行う伝送方式では、光ファイバ伝送路
の破断その他の障害場所を通信に影響を与えず経済的に
検査できる監視システムが必要とされる。
【０００３】図１２は従来例の光加入者伝送路試験方法
を説明する図である。試験対象となる光加入者伝送路
は、ひとつのセンタ装置（ＳＬＴ：Subscriber Line Te
rminal）１と複数の光加入者装置（ＯＮＵ：Optical Ne
trwork Unit ）４とを１対多に接続する伝送路であり、
スターカップラ２とこのスターカップラ２に接続された
光ファイバとにより構成される。ただし、図ではｋ番目
（ｋ＝１〜Ｎ）の光加入者装置４のみを示す。この光加
入者伝送路の障害箇所を検出するには、センタ装置１の
近傍の伝送路上に波長合分波器（ＷＤＭ）６を配置し、
光反射測定装置（ＯＴＤＲ：Optical Time Domain Refl
ectmeter）５から試験光として光パルスを入射する。そ
して、光加入者伝送路内で反射されて光反射測定装置５
に戻る反射光により、光加入者伝送路の障害場所を検出
する。このとき、試験光を入射してから反射光が戻る時
間により障害場所までの距離がわかり、光加入者装置４
の入出力端からの反射光の有無あるいは強度変化によ
り、どの分岐伝送路に障害があったかがわかる。
を説明する図である。試験対象となる光加入者伝送路
は、ひとつのセンタ装置（ＳＬＴ：Subscriber Line Te
rminal）１と複数の光加入者装置（ＯＮＵ：Optical Ne
trwork Unit ）４とを１対多に接続する伝送路であり、
スターカップラ２とこのスターカップラ２に接続された
光ファイバとにより構成される。ただし、図ではｋ番目
（ｋ＝１〜Ｎ）の光加入者装置４のみを示す。この光加
入者伝送路の障害箇所を検出するには、センタ装置１の
近傍の伝送路上に波長合分波器（ＷＤＭ）６を配置し、
光反射測定装置（ＯＴＤＲ：Optical Time Domain Refl
ectmeter）５から試験光として光パルスを入射する。そ
して、光加入者伝送路内で反射されて光反射測定装置５
に戻る反射光により、光加入者伝送路の障害場所を検出
する。このとき、試験光を入射してから反射光が戻る時
間により障害場所までの距離がわかり、光加入者装置４
の入出力端からの反射光の有無あるいは強度変化によ
り、どの分岐伝送路に障害があったかがわかる。
【０００４】ここで、試験光がセンタ装置１と光加入者
装置４との通信に影響を与えることがないように、光加
入者装置４の入出力端（ターミネーションケーブル）に
は、センタ装置１との通信に用いられる波長を透過し試
験光の波長については反射する波長選択フィルタ３が挿
入される。例えば、１．３μｍの波長帯で通信が行われ
ている場合には、試験光の波長帯として１．６５μｍを
選択し、波長選択フィルタ３として、１．３μｍの波長
帯を透過し１．６５μｍの波長帯を反射する短波長通過
フィルタを用いる。通信用１．３μｍの波長は通過させ
るが、１．６５μｍの波長は反射させることが可能とな
り、通信には影響を与えることなく光加入者伝送路の試
験が可能となる。
装置４との通信に影響を与えることがないように、光加
入者装置４の入出力端（ターミネーションケーブル）に
は、センタ装置１との通信に用いられる波長を透過し試
験光の波長については反射する波長選択フィルタ３が挿
入される。例えば、１．３μｍの波長帯で通信が行われ
ている場合には、試験光の波長帯として１．６５μｍを
選択し、波長選択フィルタ３として、１．３μｍの波長
帯を透過し１．６５μｍの波長帯を反射する短波長通過
フィルタを用いる。通信用１．３μｍの波長は通過させ
るが、１．６５μｍの波長は反射させることが可能とな
り、通信には影響を与えることなく光加入者伝送路の試
験が可能となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の光加入者伝送路
試験方法では、光加入者伝送路の分岐点から各光加入者
装置までの距離がすべて異なる場合には、各光加入者装
置の入出力端からの反射光を測定することで、どの分岐
伝送路に障害があったかを検出できる。しかし、この方
法により検出できるのは障害点がひとつの場合のみであ
り、複数の障害点があるときには、どの反射光がどの分
岐伝送路からの反射光であるかを識別できず、光加入者
伝送路の障害点を検出することはできない。
試験方法では、光加入者伝送路の分岐点から各光加入者
装置までの距離がすべて異なる場合には、各光加入者装
置の入出力端からの反射光を測定することで、どの分岐
伝送路に障害があったかを検出できる。しかし、この方
法により検出できるのは障害点がひとつの場合のみであ
り、複数の障害点があるときには、どの反射光がどの分
岐伝送路からの反射光であるかを識別できず、光加入者
伝送路の障害点を検出することはできない。
【０００６】これを図１３を参照して説明する。以下で
は、障害として破断の場合を例に説明する。光反射測定
装置から試験光を入射すると、光加入者伝送路上のスタ
ーカップラ、コネクタその他で試験光が反射し、さら
に、光加入者装置の入出力端に挿入された波長選択フィ
ルタで試験光が反射する。光反射測定装置は、これらの
反射光を時間の経過に伴って観測する。破断点が１箇所
の場合には、その破断点からの反射光が光反射測定装置
で観測される。破断点から先には試験光が到達しないの
で、その破断点の先に接続されている光加入者装置（図
ではＮ番目の光加入者装置）からの反射光は観測されて
ない。これに対し、破断点が２箇所の場合には、破断点
からの反射光が二つ観測され、二つの光加入者装置（図
では１番目とＮ番目）からの反射光が観測されない。し
たがって、二つの分岐伝送路に破断があり、その破断点
までの距離は判明するが、どちらの分岐伝送路のどの位
置に破断があるかまでは特定できない。
は、障害として破断の場合を例に説明する。光反射測定
装置から試験光を入射すると、光加入者伝送路上のスタ
ーカップラ、コネクタその他で試験光が反射し、さら
に、光加入者装置の入出力端に挿入された波長選択フィ
ルタで試験光が反射する。光反射測定装置は、これらの
反射光を時間の経過に伴って観測する。破断点が１箇所
の場合には、その破断点からの反射光が光反射測定装置
で観測される。破断点から先には試験光が到達しないの
で、その破断点の先に接続されている光加入者装置（図
ではＮ番目の光加入者装置）からの反射光は観測されて
ない。これに対し、破断点が２箇所の場合には、破断点
からの反射光が二つ観測され、二つの光加入者装置（図
では１番目とＮ番目）からの反射光が観測されない。し
たがって、二つの分岐伝送路に破断があり、その破断点
までの距離は判明するが、どちらの分岐伝送路のどの位
置に破断があるかまでは特定できない。
【０００７】また、光加入者伝送路の分岐点から各光加
入者装置までの距離で同じものが存在する場合にもそれ
らを区別することができない。
入者装置までの距離で同じものが存在する場合にもそれ
らを区別することができない。
【０００８】これを図１４を参照して説明する。ここで
は、１番目とｋ番目の光加入者装置までの距離が同じ場
合を説明する。この場合、光反射測定装置には、この二
つの光加入者装置からの反射光が互いに重なり合って観
測される。この二つの光加入者装置のいずれかに接続さ
れた分岐伝送路に破断がある場合には、その破断点から
の反射光が光反射測定装置で観測され、その二つの光加
入者装置からの反射光の強度が低下する。このため、そ
の二つの光加入者装置のいずれかに接続された分岐伝送
路で破断があったことは判明するが、それらを区別する
ことはできない。
は、１番目とｋ番目の光加入者装置までの距離が同じ場
合を説明する。この場合、光反射測定装置には、この二
つの光加入者装置からの反射光が互いに重なり合って観
測される。この二つの光加入者装置のいずれかに接続さ
れた分岐伝送路に破断がある場合には、その破断点から
の反射光が光反射測定装置で観測され、その二つの光加
入者装置からの反射光の強度が低下する。このため、そ
の二つの光加入者装置のいずれかに接続された分岐伝送
路で破断があったことは判明するが、それらを区別する
ことはできない。
【０００９】本発明は、以上の課題を解決し、１対多接
続の光加入者伝送路の個々の分岐伝送路を個別に光反射
測定することのできる光加入者伝送路試験方法および装
置を提供することを目的とする。
続の光加入者伝送路の個々の分岐伝送路を個別に光反射
測定することのできる光加入者伝送路試験方法および装
置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の第一の観点によ
ると、光信号を１対多に接続する光合分岐手段を介して
ひとつのセンタ装置と複数の光加入者装置と接続する光
加入者伝送路にセンタ装置側から試験光を入射し、光加
入者伝送路内で反射されてセンタ装置側に戻る反射光に
より光加入者伝送路の欠陥場所を検出する光加入者伝送
路試験方法において、光合分岐手段の複数の光加入者装
置側の入出力端にそれぞれ、センタ装置と光加入者装置
との間の通信に用いられる波長は透過し、試験光および
その反射光の波長については通過または遮断を切替可能
なフィルタ手段を設け、このフィルタ手段を個々に設定
することにより、光合分岐手段と複数の光加入者装置と
の間のそれぞれの欠陥場所を個々に検出することを特徴
とする光加入者伝送路試験方法が提供される。
ると、光信号を１対多に接続する光合分岐手段を介して
ひとつのセンタ装置と複数の光加入者装置と接続する光
加入者伝送路にセンタ装置側から試験光を入射し、光加
入者伝送路内で反射されてセンタ装置側に戻る反射光に
より光加入者伝送路の欠陥場所を検出する光加入者伝送
路試験方法において、光合分岐手段の複数の光加入者装
置側の入出力端にそれぞれ、センタ装置と光加入者装置
との間の通信に用いられる波長は透過し、試験光および
その反射光の波長については通過または遮断を切替可能
なフィルタ手段を設け、このフィルタ手段を個々に設定
することにより、光合分岐手段と複数の光加入者装置と
の間のそれぞれの欠陥場所を個々に検出することを特徴
とする光加入者伝送路試験方法が提供される。
【００１１】本発明の第二の観点によると、光信号を１
対多に接続する光合分岐手段を介してひとつのセンタ装
置と複数の光加入者装置と接続する光加入者伝送路にセ
ンタ装置側から試験光を入射し、光加入者伝送路内で反
射されてセンタ装置側に戻る反射光により光加入者伝送
路の欠陥場所を検出する光加入者伝送路試験方法におい
て、複数の光加入者装置のそれぞれの入出力端に、光合
分岐手段側から、センタ装置との通信に用いられる波長
は透過し試験光の波長については部分的に反射する第一
の試験光反射手段と、センタ試験との通信に用いられる
波長は透過し試験光の波長については実質的にすべて反
射する第二の試験光反射手段とを複数の光加入者装置毎
に異なる距離で配置し、この第一の試験光反射手段と第
二の試験光反射手段との間の多重反射により生じる反射
光のパルス列により、光合分岐手段と複数の光加入者装
置との間のそれぞれの伝送路を識別することを特徴とす
る光加入者伝送路試験方法が提供される。
対多に接続する光合分岐手段を介してひとつのセンタ装
置と複数の光加入者装置と接続する光加入者伝送路にセ
ンタ装置側から試験光を入射し、光加入者伝送路内で反
射されてセンタ装置側に戻る反射光により光加入者伝送
路の欠陥場所を検出する光加入者伝送路試験方法におい
て、複数の光加入者装置のそれぞれの入出力端に、光合
分岐手段側から、センタ装置との通信に用いられる波長
は透過し試験光の波長については部分的に反射する第一
の試験光反射手段と、センタ試験との通信に用いられる
波長は透過し試験光の波長については実質的にすべて反
射する第二の試験光反射手段とを複数の光加入者装置毎
に異なる距離で配置し、この第一の試験光反射手段と第
二の試験光反射手段との間の多重反射により生じる反射
光のパルス列により、光合分岐手段と複数の光加入者装
置との間のそれぞれの伝送路を識別することを特徴とす
る光加入者伝送路試験方法が提供される。
【００１２】本発明の第三の観点によると、光信号を１
対多に接続する光合分岐手段を介してひとつのセンタ装
置と複数の光加入者装置と接続する光加入者伝送路にセ
ンタ装置側から試験光を入射し、光加入者伝送路内で反
射されてセンタ装置側に戻る反射光により光加入者伝送
路の欠陥場所を検出する光反射測定装置を備えた光加入
者伝送路試験装置において、光合分岐手段の複数の光加
入者装置側の入出力端にそれぞれ、センタ装置と光加入
者装置との間の通信に用いられる波長は透過し、試験光
およびその反射光の波長については通過または遮断を切
替可能なフィルタ手段を備えたことを特徴とする光加入
者伝送路試験装置が提供される。
対多に接続する光合分岐手段を介してひとつのセンタ装
置と複数の光加入者装置と接続する光加入者伝送路にセ
ンタ装置側から試験光を入射し、光加入者伝送路内で反
射されてセンタ装置側に戻る反射光により光加入者伝送
路の欠陥場所を検出する光反射測定装置を備えた光加入
者伝送路試験装置において、光合分岐手段の複数の光加
入者装置側の入出力端にそれぞれ、センタ装置と光加入
者装置との間の通信に用いられる波長は透過し、試験光
およびその反射光の波長については通過または遮断を切
替可能なフィルタ手段を備えたことを特徴とする光加入
者伝送路試験装置が提供される。
【００１３】この装置において、フィルタ手段は、光加
入者伝送路を構成する光ファイバの曲率半径を変化させ
ることにより通過波長を変える手段を含むことがよい。
入者伝送路を構成する光ファイバの曲率半径を変化させ
ることにより通過波長を変える手段を含むことがよい。
【００１４】本発明の第四の観点によると、光信号を１
対多に接続する光合分岐手段を介してひとつのセンタ装
置と複数の光加入者装置と接続する光加入者伝送路にセ
ンタ装置側から試験光を入射し、光加入者伝送路内で反
射されてセンタ装置側に戻る反射光により光加入者伝送
路の欠陥場所を検出する光反射測定装置と、複数の光加
入者装置のそれぞれの入出力端に設けられ、センタ装置
との通信に用いられる波長を透過し試験光の波長につい
ては反射する試験光反射手段とを備えた光加入者伝送路
試験装置において、試験光反射手段は、光合分岐手段側
に配置されセンタ装置との通信に用いられる波長は透過
し試験光の波長については部分的に反射する第一の試験
光反射手段と、光加入者装置側に配置されセンタ試験と
の通信に用いられる波長は透過し試験光の波長について
は実質的にすべて反射する第二の試験光反射手段とを含
み、第一の試験光反射手段と第二の試験光反射手段とは
複数の光加入者装置毎に異なる距離で配置されたことを
特徴とする光加入者伝送路試験装置が提供される。
対多に接続する光合分岐手段を介してひとつのセンタ装
置と複数の光加入者装置と接続する光加入者伝送路にセ
ンタ装置側から試験光を入射し、光加入者伝送路内で反
射されてセンタ装置側に戻る反射光により光加入者伝送
路の欠陥場所を検出する光反射測定装置と、複数の光加
入者装置のそれぞれの入出力端に設けられ、センタ装置
との通信に用いられる波長を透過し試験光の波長につい
ては反射する試験光反射手段とを備えた光加入者伝送路
試験装置において、試験光反射手段は、光合分岐手段側
に配置されセンタ装置との通信に用いられる波長は透過
し試験光の波長については部分的に反射する第一の試験
光反射手段と、光加入者装置側に配置されセンタ試験と
の通信に用いられる波長は透過し試験光の波長について
は実質的にすべて反射する第二の試験光反射手段とを含
み、第一の試験光反射手段と第二の試験光反射手段とは
複数の光加入者装置毎に異なる距離で配置されたことを
特徴とする光加入者伝送路試験装置が提供される。
【００１５】
【作用】光分岐手段の光加入者装置側に通過波長が可変
のフィルタ手段を挿入することにより、個々の分岐伝送
路の別個に試験することができる。また、光加入者装置
の入出力端に二つの試験光反射手段を設け、障害がない
場合の反射光に規則性をもたせることで、光反射測定装
置で個々の分岐伝送路を識別することができる。
のフィルタ手段を挿入することにより、個々の分岐伝送
路の別個に試験することができる。また、光加入者装置
の入出力端に二つの試験光反射手段を設け、障害がない
場合の反射光に規則性をもたせることで、光反射測定装
置で個々の分岐伝送路を識別することができる。
【００１６】
【実施例】図１は本発明第一実施例の光加入者伝送路試
験方法および装置を示すブロック構成図である。この実
施例は、光信号を１対多に接続するスターカップラ２を
介してひとつのセンタ装置１と複数の光加入者装置４と
接続する光加入者伝送路を試験するためのものであり、
この光加入者伝送路にセンタ装置１側から試験光を入射
し、この光加入者伝送路内で反射されてセンタ装置１側
に戻る反射光により光加入者伝送路の欠陥場所を検出す
るため、光反射測定装置５および波長合分波器６を備え
る。各光加入者装置４の入出力端には、通信に用いられ
る波長λ0 を透過し試験光の波長λ1 を反射する波長選
択フィルタ３が挿入される。また、スターカップラ２の
光加入者装置４側の入出力端にはそれぞれ、通信に用い
られる波長λ0 は透過し試験光およびその反射光の波長
λ1 については通過または遮断を切替可能な可変波長フ
ィルタ７を備える。
験方法および装置を示すブロック構成図である。この実
施例は、光信号を１対多に接続するスターカップラ２を
介してひとつのセンタ装置１と複数の光加入者装置４と
接続する光加入者伝送路を試験するためのものであり、
この光加入者伝送路にセンタ装置１側から試験光を入射
し、この光加入者伝送路内で反射されてセンタ装置１側
に戻る反射光により光加入者伝送路の欠陥場所を検出す
るため、光反射測定装置５および波長合分波器６を備え
る。各光加入者装置４の入出力端には、通信に用いられ
る波長λ0 を透過し試験光の波長λ1 を反射する波長選
択フィルタ３が挿入される。また、スターカップラ２の
光加入者装置４側の入出力端にはそれぞれ、通信に用い
られる波長λ0 は透過し試験光およびその反射光の波長
λ1 については通過または遮断を切替可能な可変波長フ
ィルタ７を備える。
【００１７】図２は測定動作を説明する図である。以下
では、障害として破断の場合を例に説明する。光反射測
定装置５から試験光を入射すると、光加入者伝送路上の
スターカップラ２やコネクタその他で試験光が反射し、
さらに、光加入者装置４の入出力端に挿入された波長選
択フィルタ３で試験光が反射する。光反射測定装置５
は、これらの反射光を時間の経過に伴って観測する。可
変波長フィルタ７をすべてオンにしておくと、光反射測
定装置５で各伝送路からの反射光を観測することができ
る。
では、障害として破断の場合を例に説明する。光反射測
定装置５から試験光を入射すると、光加入者伝送路上の
スターカップラ２やコネクタその他で試験光が反射し、
さらに、光加入者装置４の入出力端に挿入された波長選
択フィルタ３で試験光が反射する。光反射測定装置５
は、これらの反射光を時間の経過に伴って観測する。可
変波長フィルタ７をすべてオンにしておくと、光反射測
定装置５で各伝送路からの反射光を観測することができ
る。
【００１８】ここで、１番目とｋ番目の光加入者装置４
が、スターカップラ２から等しい距離に配置されている
ものとする。このとき光反射測定装置５には、複数の光
加入者装置４のそれぞれの入出力端に挿入された波長選
択フィルタ３からの反射光が重なり合って観測される。
これらの光加入者装置４への分岐伝送路に破断がある
と、光反射測定装置５では、破断点からの反射光が観測
される。しかし、これだけでは、どちらの分岐伝送路に
破断があったのかを識別することはできない。そこで、
一方の光加入者装置４に接続された分岐伝送路の可変波
長フィルタ７のみをオンとし、それ以外をオフとする。
このとき、破断点からの反射光があれば、その分岐伝送
路に破断があること、およびその位置を識別することが
できる。破断点からの反射光がなければ、その分岐伝送
路には破断がないことが判明する。
が、スターカップラ２から等しい距離に配置されている
ものとする。このとき光反射測定装置５には、複数の光
加入者装置４のそれぞれの入出力端に挿入された波長選
択フィルタ３からの反射光が重なり合って観測される。
これらの光加入者装置４への分岐伝送路に破断がある
と、光反射測定装置５では、破断点からの反射光が観測
される。しかし、これだけでは、どちらの分岐伝送路に
破断があったのかを識別することはできない。そこで、
一方の光加入者装置４に接続された分岐伝送路の可変波
長フィルタ７のみをオンとし、それ以外をオフとする。
このとき、破断点からの反射光があれば、その分岐伝送
路に破断があること、およびその位置を識別することが
できる。破断点からの反射光がなければ、その分岐伝送
路には破断がないことが判明する。
【００１９】同様にして、２以上の分岐伝送路に破断が
ある場合や、複数の光加入者装置４がスターカップラか
ら等しい距離に配置されているときでも、個々の分岐伝
送路を別個に測定することができ、その障害点の位置を
識別することができる。
ある場合や、複数の光加入者装置４がスターカップラか
ら等しい距離に配置されているときでも、個々の分岐伝
送路を別個に測定することができ、その障害点の位置を
識別することができる。
【００２０】図３はこの測定の流れを示すフローチャー
トである。この測定では、まず、すべての可変波長フィ
ルタ７をオンとし、光反射測定を行う。その結果得られ
た測定データをデータベースにあらかじめ蓄積された未
故障時のデータと比較し、伝送路障害場所の有無を判定
する。データの不整合がない場合には、伝送路に障害が
ないとして測定を終了する。不整合があり、スターカッ
プラ２から各光加入者装置４までの距離がすべて異な
り、不整合が１箇所のみ存在する場合は、伝送路欠陥点
が特定されて測定が終了する。同じ条件で不整合が２箇
所以上の場合は、可変波長フィルタ７をすべてオフと
し、試験光およびその反射光の波長λ1 に損失を与え
る。その後、問題有りとされる分岐伝送路に対して順次
可変波長フィルタ７を個々にオンし、光反射測定装置５
により反射光の測定および伝送路障害場所の特定を行
う。スターカップラ２から各光加入者装置４までの距離
に同一のものがある場合には、可変波長フィルタ７をす
べてオフとし、その後、順次可変波長フィルタ７を一つ
ずつオンにして、光反射測定装置５により測定および障
害場所の検出を行う。
トである。この測定では、まず、すべての可変波長フィ
ルタ７をオンとし、光反射測定を行う。その結果得られ
た測定データをデータベースにあらかじめ蓄積された未
故障時のデータと比較し、伝送路障害場所の有無を判定
する。データの不整合がない場合には、伝送路に障害が
ないとして測定を終了する。不整合があり、スターカッ
プラ２から各光加入者装置４までの距離がすべて異な
り、不整合が１箇所のみ存在する場合は、伝送路欠陥点
が特定されて測定が終了する。同じ条件で不整合が２箇
所以上の場合は、可変波長フィルタ７をすべてオフと
し、試験光およびその反射光の波長λ1 に損失を与え
る。その後、問題有りとされる分岐伝送路に対して順次
可変波長フィルタ７を個々にオンし、光反射測定装置５
により反射光の測定および伝送路障害場所の特定を行
う。スターカップラ２から各光加入者装置４までの距離
に同一のものがある場合には、可変波長フィルタ７をす
べてオフとし、その後、順次可変波長フィルタ７を一つ
ずつオンにして、光反射測定装置５により測定および障
害場所の検出を行う。
【００２１】図４は別の測定フローを示す。図３に示し
た測定フローでは、最初にすべての可変波長フィルタ７
をオンにして測定し、その測定で障害場所が特定できな
い場合に個々の分岐伝送路の測定を行っていた。これに
対して図４に示す測定フローでは、最初から個々の分岐
伝送路の測定を行う。すなわち、スターカップラ２から
各光加入者装置４まで同一距離が存在する場合と同様
に、まず可変波長フィルタ７をすべてオフとする。その
後、順次可変波長フィルタ７をオンとし、光反射測定装
置５により測定および障害場所の検出を行う。
た測定フローでは、最初にすべての可変波長フィルタ７
をオンにして測定し、その測定で障害場所が特定できな
い場合に個々の分岐伝送路の測定を行っていた。これに
対して図４に示す測定フローでは、最初から個々の分岐
伝送路の測定を行う。すなわち、スターカップラ２から
各光加入者装置４まで同一距離が存在する場合と同様
に、まず可変波長フィルタ７をすべてオフとする。その
後、順次可変波長フィルタ７をオンとし、光反射測定装
置５により測定および障害場所の検出を行う。
【００２２】図５は可変波長フィルタ７の構造例を示
す。この構造では、基板ブロック上に形成された可動式
の下部ブロック７１および上部ブロック７２を備え、こ
れらが互いに鋸歯状にかみあう構造となっている。そし
て、あらかじめ緩く張られた光ファイバ７０を下部ブロ
ック７１および部ブロック７２により挟み込むことによ
り、光ファイバ７０を曲率半径Ｒに湾曲させ、長波長帯
の光を放射させる。したがって、通信に用いられる波長
λ0 と試験光およびその反射光の波長λ1 とにλ1 ＞λ
0 の関係があるとき、波長λ0 は常に通過させ、波長λ
1 については通過または遮断で切り替えることができ
る。
す。この構造では、基板ブロック上に形成された可動式
の下部ブロック７１および上部ブロック７２を備え、こ
れらが互いに鋸歯状にかみあう構造となっている。そし
て、あらかじめ緩く張られた光ファイバ７０を下部ブロ
ック７１および部ブロック７２により挟み込むことによ
り、光ファイバ７０を曲率半径Ｒに湾曲させ、長波長帯
の光を放射させる。したがって、通信に用いられる波長
λ0 と試験光およびその反射光の波長λ1 とにλ1 ＞λ
0 の関係があるとき、波長λ0 は常に通過させ、波長λ
1 については通過または遮断で切り替えることができ
る。
【００２３】図６は可変波長フィルタ８の別の構造例を
示す。この構造では、あらかじめ円状に巻いた光ファイ
バ７０を左ブロック７３および右ブロック７４で挟み、
これらをバネ７５により押しつけることで、光ファイバ
７０の曲率半径を変化させ、試験光の波長を放射させる
ことができる。所望の特性を得るために、光ファイバ７
０をあらかじめｎ回巻いておくことも可能である。
示す。この構造では、あらかじめ円状に巻いた光ファイ
バ７０を左ブロック７３および右ブロック７４で挟み、
これらをバネ７５により押しつけることで、光ファイバ
７０の曲率半径を変化させ、試験光の波長を放射させる
ことができる。所望の特性を得るために、光ファイバ７
０をあらかじめｎ回巻いておくことも可能である。
【００２４】図７は可変波長フィルタ７の別の構造例を
示す。この構造では、下部基板ブロック７６上に、光フ
ァイバが引かれたときに曲率半径がＲとなるように設け
られた半径Ｒの円状ブロック７７とを備える。あらかじ
め緩く張られた光ファイバの片側に引っ張り力を加える
ことで、曲率半径を変え、試験光の波長を放射させるこ
とができる。所望の特性を得るために、この構造を多段
接続することも可能である。
示す。この構造では、下部基板ブロック７６上に、光フ
ァイバが引かれたときに曲率半径がＲとなるように設け
られた半径Ｒの円状ブロック７７とを備える。あらかじ
め緩く張られた光ファイバの片側に引っ張り力を加える
ことで、曲率半径を変え、試験光の波長を放射させるこ
とができる。所望の特性を得るために、この構造を多段
接続することも可能である。
【００２５】図８は図５ないし図７に示した可変波長フ
ィルタの動作原理を説明する図であり、曲率半径Ｒをパ
ラメータとして波長と損失との関係を示す。曲率半径を
小さくすることで、長波長の損失が大きくなることがわ
かる図９は本発明第二実施例の光加入者伝送路試験方法
および装置を示すブロック構成図である。この実施例
は、各光加入者装置４のそれぞれの入出力端に設けられ
センタ装置１との通信に用いられる波長λ0 を透過し試
験光の波長λ1 については反射する波長選択フィルタの
構成が第一実施例と異なり、スターカップラ２側に配置
され波長λ0 は透過して波長λ1 については部分的に反
射する第一の波長選択フィルタ３１と、光加入者装置４
側に配置され波長λ0 は透過し波長λ1については実質
的にすべて反射する第二の波長選択フィルタ３２とを備
える。これらの波長選択フィルタ３１、３２は、光加入
者装置４毎に異なる距離で配置される。
ィルタの動作原理を説明する図であり、曲率半径Ｒをパ
ラメータとして波長と損失との関係を示す。曲率半径を
小さくすることで、長波長の損失が大きくなることがわ
かる図９は本発明第二実施例の光加入者伝送路試験方法
および装置を示すブロック構成図である。この実施例
は、各光加入者装置４のそれぞれの入出力端に設けられ
センタ装置１との通信に用いられる波長λ0 を透過し試
験光の波長λ1 については反射する波長選択フィルタの
構成が第一実施例と異なり、スターカップラ２側に配置
され波長λ0 は透過して波長λ1 については部分的に反
射する第一の波長選択フィルタ３１と、光加入者装置４
側に配置され波長λ0 は透過し波長λ1については実質
的にすべて反射する第二の波長選択フィルタ３２とを備
える。これらの波長選択フィルタ３１、３２は、光加入
者装置４毎に異なる距離で配置される。
【００２６】図１０は第二実施例の動作を説明する図で
あり、図１１はその測定フローを示す。二つの波長選択
フィルタ３１、３２を用いることで、多重反射が生じ、
光反射測定装置５では、パルス間隔２Ｌ／ν、振幅比
（１−ｘ）：ｘ2 ：（１−ｘ）ｘ2 ：（１−ｘ）
2 ｘ2 ：…：（１−ｘ）k-2 ｘ2 ：…のパルス列が観測
される。ただし、Ｌは波長選択フィルタ３１、３２間の
距離、νは光ファイバ中の光伝送速度、ｘは波長選択フ
ィルタ３１の透過率である。したがって、そのパルス列
が観測された場合にはその分岐伝送路に障害がなく、そ
のパルス列が観測されない場合にはその分岐伝送路に障
害があることがわかる。障害場所については、第一実施
例と同様に、障害点からの反射光により特定できる。
あり、図１１はその測定フローを示す。二つの波長選択
フィルタ３１、３２を用いることで、多重反射が生じ、
光反射測定装置５では、パルス間隔２Ｌ／ν、振幅比
（１−ｘ）：ｘ2 ：（１−ｘ）ｘ2 ：（１−ｘ）
2 ｘ2 ：…：（１−ｘ）k-2 ｘ2 ：…のパルス列が観測
される。ただし、Ｌは波長選択フィルタ３１、３２間の
距離、νは光ファイバ中の光伝送速度、ｘは波長選択フ
ィルタ３１の透過率である。したがって、そのパルス列
が観測された場合にはその分岐伝送路に障害がなく、そ
のパルス列が観測されない場合にはその分岐伝送路に障
害があることがわかる。障害場所については、第一実施
例と同様に、障害点からの反射光により特定できる。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、スタ
ーカップラと各光加入者装置間の伝送距離、破断場所の
数の大小によらず、経済的に光加入者伝送路の試験を行
うことができる。
ーカップラと各光加入者装置間の伝送距離、破断場所の
数の大小によらず、経済的に光加入者伝送路の試験を行
うことができる。
【図１】本発明第一実施例を示すブロック構成図。
【図２】測定動作を説明する図。
【図３】測定フローを示す図。
【図４】別の測定フローを示す図。
【図５】可変波長フィルタの構造例を示す図
【図６】可変波長フィルタの別の構造例を示す図。
【図７】可変波長フィルタの別の構造例を示す図。
【図８】図５ないし図７に示した可変波長フィルタの動
作原理を説明する図。
作原理を説明する図。
【図９】本発明第二実施例を示すブロック構成図。
【図１０】第二実施例の動作を説明する図。
【図１１】測定フローを示す図。
【図１２】従来例の光加入者伝送路試験方法を説明する
図。
図。
【図１３】従来例の問題点を説明する図。
【図１４】従来例の問題点を説明する図。
１ センタ装置 ２ スターカップラ ３、３１、３２ 波長選択フィルタ ４ 光加入者装置 ５ 光反射測定装置 ６ 波長合分波器 ７ 可変波長フィルタ
Claims (5)
- 【請求項１】 光信号を１対多に接続する光合分岐手段
を介してひとつのセンタ装置と複数の光加入者装置と接
続する光加入者伝送路に前記センタ装置側から試験光を
入射し、 前記光加入者伝送路内で反射されて前記センタ装置側に
戻る反射光により前記光加入者伝送路の欠陥場所を検出
する光加入者伝送路試験方法において、 前記光合分岐手段の前記複数の光加入者装置側の入出力
端にそれぞれ、前記ひとつのセンタ装置と前記複数の光
加入者装置との間の通信に用いられる波長は透過し、試
験光およびその反射光の波長については通過または遮断
を切替可能なフィルタ手段を設け、 このフィルタ手段を個々に設定することにより、前記光
合分岐手段と前記複数の光加入者装置との間のそれぞれ
の欠陥場所を個々に検出することを特徴とする光加入者
伝送路試験方法。 - 【請求項２】 光信号を１対多に接続する光合分岐手段
を介してひとつのセンタ装置と複数の光加入者装置と接
続する光加入者伝送路に前記センタ装置側から試験光を
入射し、 前記光加入者伝送路内で反射されて前記センタ装置側に
戻る反射光により前記光加入者伝送路の欠陥場所を検出
する光加入者伝送路試験方法において、 前記複数の光加入者装置のそれぞれの入出力端に、前記
光合分岐手段側から、前記センタ装置との通信に用いら
れる波長は透過し試験光の波長については部分的に反射
する第一の試験光反射手段と、前記センタ試験との通信
に用いられる波長は透過し試験光の波長については実質
的にすべて反射する第二の試験光反射手段とを前記複数
の光加入者装置毎に異なる距離で配置し、 この第一の試験光反射手段と第二の試験光反射手段との
間の多重反射により生じる反射光のパルス列により、前
記光合分岐手段と前記複数の光加入者装置との間のそれ
ぞれの伝送路を識別することを特徴とする光加入者伝送
路試験方法。 - 【請求項３】 光信号を１対多に接続する光合分岐手段
を介してひとつのセンタ装置と複数の光加入者装置と接
続する光加入者伝送路に前記センタ装置側から試験光を
入射し、前記光加入者伝送路内で反射されて前記センタ
装置側に戻る反射光により前記光加入者伝送路の欠陥場
所を検出する光反射測定装置を備えた光加入者伝送路試
験装置において、 前記光合分岐手段の前記複数の光加入者装置側の入出力
端にそれぞれ、前記ひとつのセンタ装置と前記複数の光
加入者装置との間の通信に用いられる波長は透過し、試
験光およびその反射光の波長については通過または遮断
を切替可能なフィルタ手段を備えたことを特徴とする光
加入者伝送路試験装置。 - 【請求項４】 前記フィルタ手段は、前記光加入者伝送
路を構成する光ファイバの曲率半径を変化させることに
より通過波長を変える手段を含む請求項３記載の光加入
者伝送路試験装置。 - 【請求項５】 光信号を１対多に接続する光合分岐手段
を介してひとつのセンタ装置と複数の光加入者装置と接
続する光加入者伝送路に前記センタ装置側から試験光を
入射し、前記光加入者伝送路内で反射されて前記センタ
装置側に戻る反射光により前記光加入者伝送路の欠陥場
所を検出する光反射測定装置と、前記複数の光加入者装
置のそれぞれの入出力端に設けられ、前記ひとつのセン
タ装置との通信に用いられる波長を透過し前記試験光の
波長については反射する試験光反射手段とを備えた光加
入者伝送路試験装置において、 前記試験光反射手段は、 前記光合分岐手段側に配置され前記センタ装置との通信
に用いられる波長は透過し前記試験光の波長については
部分的に反射する第一の試験光反射手段と、 前記光加入者装置側に配置され前記センタ試験との通信
に用いられる波長は透過し前記試験光の波長については
実質的にすべて反射する第二の試験光反射手段とを含
み、 前記第一の試験光反射手段と前記第二の試験光反射手段
とは前記複数の光加入者装置毎に異なる距離で配置され
たことを特徴とする光加入者伝送路試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14490795A JP3255214B2 (ja) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | 光加入者伝送路試験方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14490795A JP3255214B2 (ja) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | 光加入者伝送路試験方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08340283A true JPH08340283A (ja) | 1996-12-24 |
| JP3255214B2 JP3255214B2 (ja) | 2002-02-12 |
Family
ID=15373072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14490795A Expired - Fee Related JP3255214B2 (ja) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | 光加入者伝送路試験方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3255214B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100307319B1 (ko) * | 1998-12-07 | 2001-10-20 | 이계철 | 광가입자선로감시및시험장치 |
| JP2011146865A (ja) * | 2010-01-13 | 2011-07-28 | Hitachi Ltd | 光通信システム及びその監視方法 |
| JP2013504225A (ja) * | 2009-09-04 | 2013-02-04 | 中興通訊股▲ふん▼有限公司 | 波長分割多重フィルタ |
-
1995
- 1995-06-12 JP JP14490795A patent/JP3255214B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100307319B1 (ko) * | 1998-12-07 | 2001-10-20 | 이계철 | 광가입자선로감시및시험장치 |
| JP2013504225A (ja) * | 2009-09-04 | 2013-02-04 | 中興通訊股▲ふん▼有限公司 | 波長分割多重フィルタ |
| JP2011146865A (ja) * | 2010-01-13 | 2011-07-28 | Hitachi Ltd | 光通信システム及びその監視方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3255214B2 (ja) | 2002-02-12 |
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