JP2003219141A - 電子透かし処理装置、電子透かし処理方法および電子透かし処理プログラム - Google Patents
電子透かし処理装置、電子透かし処理方法および電子透かし処理プログラムInfo
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- JP2003219141A JP2003219141A JP2002011382A JP2002011382A JP2003219141A JP 2003219141 A JP2003219141 A JP 2003219141A JP 2002011382 A JP2002011382 A JP 2002011382A JP 2002011382 A JP2002011382 A JP 2002011382A JP 2003219141 A JP2003219141 A JP 2003219141A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ノイズの付加や切り出しに対する耐性が向上し
た電子透かし処理装置を提供すること。 【解決手段】電子透かし処理装置は、データをブロック
に分割する手段と、ブロックデータを１次元データに変
換する手段と、１次元データに透かしデータを埋め込む
手段と、１次元データを元のブロックに戻す手段と、ブ
ロックを合成して元の画像データを復元する手段とを含
む。更に、ブロックの位置を探索する手段と、１次元デ
ータから透かしデータを検出する手段も含む。本発明の
装置によれば、切り出されたデータでもブロックが１つ
以上含まれていれば透かしデータの検出が可能となる。
また、複数ブロックから検出した透かしデータの多数決
を取ることが可能であり、ノイズに対する耐性が向上
し、検出精度が向上する。
た電子透かし処理装置を提供すること。 【解決手段】電子透かし処理装置は、データをブロック
に分割する手段と、ブロックデータを１次元データに変
換する手段と、１次元データに透かしデータを埋め込む
手段と、１次元データを元のブロックに戻す手段と、ブ
ロックを合成して元の画像データを復元する手段とを含
む。更に、ブロックの位置を探索する手段と、１次元デ
ータから透かしデータを検出する手段も含む。本発明の
装置によれば、切り出されたデータでもブロックが１つ
以上含まれていれば透かしデータの検出が可能となる。
また、複数ブロックから検出した透かしデータの多数決
を取ることが可能であり、ノイズに対する耐性が向上
し、検出精度が向上する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電子透かし処理
装置、電子透かし処理方法および電子透かし処理プログ
ラムに関し、特に、画像データに適用した場合にノイズ
や切り出し等の加工に対して耐性が強化された電子透か
し処理装置、電子透かし処理方法および電子透かし処理
プログラムに関する。
装置、電子透かし処理方法および電子透かし処理プログ
ラムに関し、特に、画像データに適用した場合にノイズ
や切り出し等の加工に対して耐性が強化された電子透か
し処理装置、電子透かし処理方法および電子透かし処理
プログラムに関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、画像データの機密保持や著作権保
護等を目的として、画像データ等に見た目には判らない
ように、透かしデータを埋め込む技術が提案されてい
る。例えば、ファクシミリ等において使用されるランレ
ングス符号を使用して、符号化された画像情報の白また
は黒のランレングス値を１ビットだけ増減する（ラン長
を伸縮させる）ことによって透かしデータを埋め込む方
法が提案されている。
護等を目的として、画像データ等に見た目には判らない
ように、透かしデータを埋め込む技術が提案されてい
る。例えば、ファクシミリ等において使用されるランレ
ングス符号を使用して、符号化された画像情報の白また
は黒のランレングス値を１ビットだけ増減する（ラン長
を伸縮させる）ことによって透かしデータを埋め込む方
法が提案されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たような従来の透かしデータ埋め込み方式においては、
書き込みや切り出しなどの加工、あるいはノイズの付加
等によって透かしデータが検出不可能となってしまうと
いう問題点があった。この発明の目的は、上述した従来
技術による問題点（課題）を解消することにあり、ノイ
ズ付加や切り出し等の加工に対して耐性が強化された電
子透かし処理装置、電子透かし処理方法および電子透か
し処理プログラムを提供することにある。
たような従来の透かしデータ埋め込み方式においては、
書き込みや切り出しなどの加工、あるいはノイズの付加
等によって透かしデータが検出不可能となってしまうと
いう問題点があった。この発明の目的は、上述した従来
技術による問題点（課題）を解消することにあり、ノイ
ズ付加や切り出し等の加工に対して耐性が強化された電
子透かし処理装置、電子透かし処理方法および電子透か
し処理プログラムを提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の電子透かし処理
装置は、画像データを複数のブロックに分割するブロッ
ク化手段と、ブロックの画像データを１次元データに変
換する１次元変換手段と、１次元データに透かしデータ
を埋め込む埋め込み手段と、透かしデータを埋め込んだ
１次元データを元のブロックに戻すブロック復元手段
と、復元されたブロックを合成して元の画像データを復
元する画像復元手段とを含む電子透かし埋め込み手段を
備えたことを特徴とする。
装置は、画像データを複数のブロックに分割するブロッ
ク化手段と、ブロックの画像データを１次元データに変
換する１次元変換手段と、１次元データに透かしデータ
を埋め込む埋め込み手段と、透かしデータを埋め込んだ
１次元データを元のブロックに戻すブロック復元手段
と、復元されたブロックを合成して元の画像データを復
元する画像復元手段とを含む電子透かし埋め込み手段を
備えたことを特徴とする。
【０００５】また、本発明の電子透かし処理装置は、ブ
ロックの位置を探索するブロック探索手段と、画像デー
タを複数のブロックに分割するブロック化手段と、ブロ
ックの画像データを１次元データに変換する１次元変換
手段と、１次元データから透かしデータを検出する検出
手段とを含む電子透かし検出手段を備えたことを特徴と
する。
ロックの位置を探索するブロック探索手段と、画像デー
タを複数のブロックに分割するブロック化手段と、ブロ
ックの画像データを１次元データに変換する１次元変換
手段と、１次元データから透かしデータを検出する検出
手段とを含む電子透かし検出手段を備えたことを特徴と
する。
【０００６】本発明の電子透かし処理装置によれば、各
ブロック毎に透かしデータを埋め込むので、切り出した
データにブロックが１つ以上含まれていれば、透かしデ
ータの検出が可能となる。また、複数のブロックから検
出した透かしデータにより多数決を取ることが可能であ
り、ノイズの付加等に対する耐性が向上し、検出精度が
向上する。
ブロック毎に透かしデータを埋め込むので、切り出した
データにブロックが１つ以上含まれていれば、透かしデ
ータの検出が可能となる。また、複数のブロックから検
出した透かしデータにより多数決を取ることが可能であ
り、ノイズの付加等に対する耐性が向上し、検出精度が
向上する。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明に係る好適な実施の形態について詳細に説明する。
図１は、本発明による電子透かし埋め込み方法を示す説
明図である。本発明においては、例えば元画像データを
Ｎx×Ｎy画素の長方形の２次元ブロックＢiに分割する
（ブロック化手段）。
発明に係る好適な実施の形態について詳細に説明する。
図１は、本発明による電子透かし埋め込み方法を示す説
明図である。本発明においては、例えば元画像データを
Ｎx×Ｎy画素の長方形の２次元ブロックＢiに分割する
（ブロック化手段）。
【０００８】ブロックサイズは、あまり大きくすると、
切り出し耐性の低下や多数決による検出の精度低下など
の問題があるが、逆に小さくすると、画質の劣化、埋め
込みデータ量の減少等の問題がある。そこで、ブロック
の大きさは、例えば元画像データを切り出して使用しよ
うとした場合に、最低１つのブロックは切り出した画像
に含まれる確率が高くなるように選定される。
切り出し耐性の低下や多数決による検出の精度低下など
の問題があるが、逆に小さくすると、画質の劣化、埋め
込みデータ量の減少等の問題がある。そこで、ブロック
の大きさは、例えば元画像データを切り出して使用しよ
うとした場合に、最低１つのブロックは切り出した画像
に含まれる確率が高くなるように選定される。
【０００９】次に、ブロックデータＢiを１次元データ
に変換する。図２は、本発明において１次元データへの
変換に使用する走査情報を図示した説明図である。図示
するように、ブロック内の全ての画素データを「一筆書
き」で走査（並べ替え）することにより、ブロックデー
タＢiを１次元データＲiに変換する（１次元変換手
段）。図示するように、一筆書きのパターンは複数存在
するので、データ毎にパターンを変えれば秘匿性が増
す。なお、図２に示すような走査方法は「ピアノ（Pean
o）走査」として既に知られている。ここでは、一般化
ピアノ走査と呼ばれる任意の矩形領域を再帰的に分割し
てピアノ走査を得る方法を用いる。分割毎に乱数を使用
するため、分割数の増加と共にパターン数は指数関数的
に増加する。
に変換する。図２は、本発明において１次元データへの
変換に使用する走査情報を図示した説明図である。図示
するように、ブロック内の全ての画素データを「一筆書
き」で走査（並べ替え）することにより、ブロックデー
タＢiを１次元データＲiに変換する（１次元変換手
段）。図示するように、一筆書きのパターンは複数存在
するので、データ毎にパターンを変えれば秘匿性が増
す。なお、図２に示すような走査方法は「ピアノ（Pean
o）走査」として既に知られている。ここでは、一般化
ピアノ走査と呼ばれる任意の矩形領域を再帰的に分割し
てピアノ走査を得る方法を用いる。分割毎に乱数を使用
するため、分割数の増加と共にパターン数は指数関数的
に増加する。
【００１０】次に、１次元データＲiに対して、詳細は
後述するが、黒あるいは白ランの端部のビットの値を埋
め込みデータの値によって制御することによって透かし
データＳを埋め込み、透かしデータを埋め込んだ１次元
データをＲi’を生成する（埋め込み手段）。
後述するが、黒あるいは白ランの端部のビットの値を埋
め込みデータの値によって制御することによって透かし
データＳを埋め込み、透かしデータを埋め込んだ１次元
データをＲi’を生成する（埋め込み手段）。
【００１１】次に、１次元データＲi’に対して上記１
次元変換とは逆の処理を施すことによってブロックデー
タＢi’を復元する（ブロック復元手段）。最後に、復
元されたブロックＢi’を合成して元の画像データを復
元する（画像復元手段）。復元された画像は、見た目に
は全く元の画像と同一に見える。
次元変換とは逆の処理を施すことによってブロックデー
タＢi’を復元する（ブロック復元手段）。最後に、復
元されたブロックＢi’を合成して元の画像データを復
元する（画像復元手段）。復元された画像は、見た目に
は全く元の画像と同一に見える。
【００１２】図３は、ランレングス（ＲＬ）への透かし
データ１ビットの埋め込み方法を示す説明図である。図
３（ａ）はランレングス値が奇数である場合の透かしデ
ータ１ビットの埋め込みを説明する図であり、図３
（ｂ）はランレングス値が偶数である場合の透かしデー
タ１ビットの埋め込みを説明する図である。なお、ａ0
は注目ランレングスの先頭画素（の位置）、ａ1は次の
ランレングスの先頭画素（の位置）である。
データ１ビットの埋め込み方法を示す説明図である。図
３（ａ）はランレングス値が奇数である場合の透かしデ
ータ１ビットの埋め込みを説明する図であり、図３
（ｂ）はランレングス値が偶数である場合の透かしデー
タ１ビットの埋め込みを説明する図である。なお、ａ0
は注目ランレングスの先頭画素（の位置）、ａ1は次の
ランレングスの先頭画素（の位置）である。
【００１３】ランレングスに透かしデータを埋め込む場
合に、ビット”０”を埋め込む場合にはランレングス値
が偶数になるように加工し、ビット”１”を埋め込む場
合にはランレングス値が奇数になるように加工する。例
えば図３（ａ）において、元のＲＬが５（奇数）であ
り、このＲＬにビット”０”を埋め込む場合には、ＲＬ
値が偶数になるように加工する必要があるので、ＲＬに
１ビット追加して６（偶数）とする（黒ランを１ビット
伸張する）。また、このＲＬにビット”１”を埋め込む
場合には、元々ＲＬ値が奇数であるので加工はしない。
偶数ＲＬの場合には、例えば加工が必要な場合にはＲＬ
から１ビット削除する（ランを１ビット短縮する）。
合に、ビット”０”を埋め込む場合にはランレングス値
が偶数になるように加工し、ビット”１”を埋め込む場
合にはランレングス値が奇数になるように加工する。例
えば図３（ａ）において、元のＲＬが５（奇数）であ
り、このＲＬにビット”０”を埋め込む場合には、ＲＬ
値が偶数になるように加工する必要があるので、ＲＬに
１ビット追加して６（偶数）とする（黒ランを１ビット
伸張する）。また、このＲＬにビット”１”を埋め込む
場合には、元々ＲＬ値が奇数であるので加工はしない。
偶数ＲＬの場合には、例えば加工が必要な場合にはＲＬ
から１ビット削除する（ランを１ビット短縮する）。
【００１４】図４は、データ誤りによる透かしデータ誤
りの伝搬を示す説明図である。図４（ａ）はノイズによ
るデータ誤りのない場合のデータであり、透かしデータ
列”１０１１”が検出される。ところが、図４（ｂ）に
示すようにノイズによって最初のランの１ビットが反転
した場合には、後述する復号条件によって、短いランは
無視されるので、最初のランの透かしデータが消失し、
すかしデータ列としては”０１１”が検出される。この
データはデータ数も誤っており、この誤りは走査線の最
後まで伝搬する。
りの伝搬を示す説明図である。図４（ａ）はノイズによ
るデータ誤りのない場合のデータであり、透かしデータ
列”１０１１”が検出される。ところが、図４（ｂ）に
示すようにノイズによって最初のランの１ビットが反転
した場合には、後述する復号条件によって、短いランは
無視されるので、最初のランの透かしデータが消失し、
すかしデータ列としては”０１１”が検出される。この
データはデータ数も誤っており、この誤りは走査線の最
後まで伝搬する。
【００１５】図５は、本発明における１次元データへの
透かしデータの埋め込み方法を示す説明図である。本発
明においては、１次元データＲiを予め定められた長
さ、例えば図５においてはセグメント長Ｌ＝１２で区切
ってセグメントとする。そして、各セグメントに対し
て、どの透かしビットから埋め込みを開始するかを指定
して、各セグメントに対して独立して透かしビットを埋
め込んでいく。
透かしデータの埋め込み方法を示す説明図である。本発
明においては、１次元データＲiを予め定められた長
さ、例えば図５においてはセグメント長Ｌ＝１２で区切
ってセグメントとする。そして、各セグメントに対し
て、どの透かしビットから埋め込みを開始するかを指定
して、各セグメントに対して独立して透かしビットを埋
め込んでいく。
【００１６】各セグメントに含まれるランの数は一定で
はないが、最低１つは存在するので、図示するように、
例えばセグメント番号と埋め込みを開始する透かしビッ
ト番号とを一致させて、第１セグメントには１番目の透
かしビットから、第ｎセグメントにはｎ番目の透かしビ
ットから埋め込んで行く。従って、例えば図５（ａ）に
おいては、透かしビットＳ2＝”０”が２つのセグメン
トに重複して記録される。そして、復号時には複数の復
号結果の多数決によってＳ2の値が決定される。
はないが、最低１つは存在するので、図示するように、
例えばセグメント番号と埋め込みを開始する透かしビッ
ト番号とを一致させて、第１セグメントには１番目の透
かしビットから、第ｎセグメントにはｎ番目の透かしビ
ットから埋め込んで行く。従って、例えば図５（ａ）に
おいては、透かしビットＳ2＝”０”が２つのセグメン
トに重複して記録される。そして、復号時には複数の復
号結果の多数決によってＳ2の値が決定される。
【００１７】図５は、透かしデータを埋め込んだ後の１
次元データを表しており、（ｂ）に示すように、セグメ
ントに分割することにより、ビットエラーによる検出誤
りがそのセグメント内しか伝搬しないので、図４に示し
たセグメント化しない場合よりノイズ耐性が向上し、検
出精度が高くなる。
次元データを表しており、（ｂ）に示すように、セグメ
ントに分割することにより、ビットエラーによる検出誤
りがそのセグメント内しか伝搬しないので、図４に示し
たセグメント化しない場合よりノイズ耐性が向上し、検
出精度が高くなる。
【００１８】図６は、本発明における透かしデータの埋
め込み処理を示すフローチャートである。なお、本発明
のシステムは、市販されている周知のコンピュータシス
テムに後述する処理を実行するプログラムを実装するこ
とにより実現される。
め込み処理を示すフローチャートである。なお、本発明
のシステムは、市販されている周知のコンピュータシス
テムに後述する処理を実行するプログラムを実装するこ
とにより実現される。
【００１９】Ｓ１０においては、原画像データＧ、鍵デ
ータＫpおよびＫL、透かしデータＳを読み込む。鍵デー
タＫpはピアノ走査順序を示す情報である。また、鍵デ
ータＫLは分割された各セグメントの長さを示す情報で
ある。Ｓ１１においては画像をＮx×Ｎy画素のｍ個のブ
ロックＢiに分割する。Ｓ１２においては、変数ｉを１
に設定する。
ータＫpおよびＫL、透かしデータＳを読み込む。鍵デー
タＫpはピアノ走査順序を示す情報である。また、鍵デ
ータＫLは分割された各セグメントの長さを示す情報で
ある。Ｓ１１においては画像をＮx×Ｎy画素のｍ個のブ
ロックＢiに分割する。Ｓ１２においては、変数ｉを１
に設定する。
【００２０】Ｓ１３においては、ブロックＢiを鍵デー
タＫpを用いてピアノ走査し、２次元データから１次元
データＲiへ変換する。Ｓ１４においては、後述する１
次元データＲiへの透かしデータの埋め込み処理（EMBE
D）を行う。Ｓ１５においては、透かしデータが埋め込
まれた１次元データＲi’を逆ピアノ走査によって２次
元データＢi’に戻す。
タＫpを用いてピアノ走査し、２次元データから１次元
データＲiへ変換する。Ｓ１４においては、後述する１
次元データＲiへの透かしデータの埋め込み処理（EMBE
D）を行う。Ｓ１５においては、透かしデータが埋め込
まれた１次元データＲi’を逆ピアノ走査によって２次
元データＢi’に戻す。
【００２１】Ｓ１６においては、ｉに１を加算し、Ｓ１
７においては、ｉがブロック数ｍより大きくないか否か
が判定される。そして判定結果が肯定の場合にはＳ１３
に戻るが、否定の場合にはＳ１８に移行する。Ｓ１８に
おいては、ブロックデータＢ i’から透かしの埋め込ま
れた画像Ｇ’を再構成して出力する。
７においては、ｉがブロック数ｍより大きくないか否か
が判定される。そして判定結果が肯定の場合にはＳ１３
に戻るが、否定の場合にはＳ１８に移行する。Ｓ１８に
おいては、ブロックデータＢ i’から透かしの埋め込ま
れた画像Ｇ’を再構成して出力する。
【００２２】図７、８は、本発明における透かしデータ
の埋め込み処理（EMBED）の詳細を示すフローチャート
である。Ｓ２０においては、１次元データＲiを入力
し、セグメントの先頭からの距離ｌ＝０、変数ｊ＝ｋ＝
１、埋め込み対象となる注目ランレングスの先頭画素の
位置ａ0＝０に設定する。Ｓ２１においては、次のラン
の先頭画素位置ａ1を検出し、ａ0とａ1間のランレング
ス値ＲＬ（ａ0ａ1）を計算する。そしてｌにＲＬ（ａ0
ａ1）を加算する。
の埋め込み処理（EMBED）の詳細を示すフローチャート
である。Ｓ２０においては、１次元データＲiを入力
し、セグメントの先頭からの距離ｌ＝０、変数ｊ＝ｋ＝
１、埋め込み対象となる注目ランレングスの先頭画素の
位置ａ0＝０に設定する。Ｓ２１においては、次のラン
の先頭画素位置ａ1を検出し、ａ0とａ1間のランレング
ス値ＲＬ（ａ0ａ1）を計算する。そしてｌにＲＬ（ａ0
ａ1）を加算する。
【００２３】Ｓ２２においては、ｌがセグメント長Ｌj
以下か否かが判定され、判定結果が否定の場合にはＳ２
３に移行するが、肯定の場合にはＳ２４に移行する。な
お、セグメント長Ｌj（j=1,2,…,ｒ）は鍵ＫLによって
決定されるが、図５の例ではＬjは全て１２である。Ｓ
２３においては、ランレングスがセグメントを越えたと
きの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、さらに（ａ1−ｄ）
をａ0に代入する。そしてＳ３６に移行する。
以下か否かが判定され、判定結果が否定の場合にはＳ２
３に移行するが、肯定の場合にはＳ２４に移行する。な
お、セグメント長Ｌj（j=1,2,…,ｒ）は鍵ＫLによって
決定されるが、図５の例ではＬjは全て１２である。Ｓ
２３においては、ランレングスがセグメントを越えたと
きの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、さらに（ａ1−ｄ）
をａ0に代入する。そしてＳ３６に移行する。
【００２４】Ｓ２４においては、ＲＬ（ａ0ａ1）が埋め
込み条件を満たしているか否かが判定される。埋め込み
条件は以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が４
以上である。そして、判定結果が否定の場合にはＳ３０
に移行するが、肯定の場合にはＳ２５に移行する。
込み条件を満たしているか否かが判定される。埋め込み
条件は以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が４
以上である。そして、判定結果が否定の場合にはＳ３０
に移行するが、肯定の場合にはＳ２５に移行する。
【００２５】Ｓ２５においては、ａ1の更に右にあるラ
ンレングスの先頭画素ａ2を検出し、ＲＬ（ａ1ａ2）を
計算する。そしてｌにＲＬ（ａ1ａ2）を加算する。Ｓ２
６においては、ｌがセグメント長Ｌj以下か否かが判定
され、判定結果が否定の場合にはＳ３２に移行するが、
肯定の場合にはＳ２７に移行する。
ンレングスの先頭画素ａ2を検出し、ＲＬ（ａ1ａ2）を
計算する。そしてｌにＲＬ（ａ1ａ2）を加算する。Ｓ２
６においては、ｌがセグメント長Ｌj以下か否かが判定
され、判定結果が否定の場合にはＳ３２に移行するが、
肯定の場合にはＳ２７に移行する。
【００２６】Ｓ２７においては、ＲＬ（ａ1ａ2）が埋め
込み条件を満たしているか否かが判定される。埋め込み
条件は以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が２
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ２９に移行する
が、肯定の場合にはＳ２８に移行する。Ｓ２８において
は、後述する１ビットの透かしデータの埋め込み処理
（BITEMBED）が行われる。
込み条件を満たしているか否かが判定される。埋め込み
条件は以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が２
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ２９に移行する
が、肯定の場合にはＳ２８に移行する。Ｓ２８において
は、後述する１ビットの透かしデータの埋め込み処理
（BITEMBED）が行われる。
【００２７】Ｓ２９においては、ｌからＲＬ（ａ1ａ2）
を減算する。Ｓ３０においては、ａ 0にａ1を代入する。
Ｓ３１においては、Ｒiの全ての要素を終了したか否か
が判定され、判定結果が否定の場合にはＳ２１に戻る
が、肯定の場合には処理を終了する。
を減算する。Ｓ３０においては、ａ 0にａ1を代入する。
Ｓ３１においては、Ｒiの全ての要素を終了したか否か
が判定され、判定結果が否定の場合にはＳ２１に戻る
が、肯定の場合には処理を終了する。
【００２８】Ｓ３２においては、ランレングスがセグメ
ントを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、さ
らにａ2からｄを減算してＲＬ（ａ1ａ2）を修正する。
そしてＳ３３に移行する。Ｓ３３、Ｓ３４においては、
それぞれＳ２７、Ｓ２８と同じ処理が行われる。Ｓ３５
においては、ａ2をａ0に代入し、Ｓ３６においては、ｌ
を０にする。
ントを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、さ
らにａ2からｄを減算してＲＬ（ａ1ａ2）を修正する。
そしてＳ３３に移行する。Ｓ３３、Ｓ３４においては、
それぞれＳ２７、Ｓ２８と同じ処理が行われる。Ｓ３５
においては、ａ2をａ0に代入し、Ｓ３６においては、ｌ
を０にする。
【００２９】Ｓ３７においては、ｊに１を加算し、Ｓ３
８においては、ｊがセグメント数ｒを越えたか否かが判
定され、判定結果が肯定の場合にはＳ３９に移行してｊ
が１に初期化される。Ｓ４０においては、ｋにｊが代入
され、Ｓ３１に移行する。
８においては、ｊがセグメント数ｒを越えたか否かが判
定され、判定結果が肯定の場合にはＳ３９に移行してｊ
が１に初期化される。Ｓ４０においては、ｋにｊが代入
され、Ｓ３１に移行する。
【００３０】図９は、本発明における透かしデータ１ビ
ットの埋め込み処理（BITEMBED）を示すフローチャート
である。Ｓ５０においては、１ビットの透かしデータｓ
kを準備する。Ｓ５１においては、ＲＬ（ａ0ａ1）が奇
数か否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ５２
に移行するが、否定の場合にはＳ５４に移行する。
ットの埋め込み処理（BITEMBED）を示すフローチャート
である。Ｓ５０においては、１ビットの透かしデータｓ
kを準備する。Ｓ５１においては、ＲＬ（ａ0ａ1）が奇
数か否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ５２
に移行するが、否定の場合にはＳ５４に移行する。
【００３１】Ｓ５２においては、透かしデータｓkが０
であるか否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ
５３に移行して、ａ1に１を加算してＲＬ（ａ0ａ1）を
伸張することにより、ＲＬ（ａ0ａ1）を偶数化する。
であるか否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ
５３に移行して、ａ1に１を加算してＲＬ（ａ0ａ1）を
伸張することにより、ＲＬ（ａ0ａ1）を偶数化する。
【００３２】Ｓ５４においては、透かしデータｓkが１
であるか否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ
５５に移行して、ａ1から１を減算してＲＬ（ａ0ａ1）
を縮小することにより、ＲＬ（ａ0ａ1）を奇数化する。
であるか否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ
５５に移行して、ａ1から１を減算してＲＬ（ａ0ａ1）
を縮小することにより、ＲＬ（ａ0ａ1）を奇数化する。
【００３３】Ｓ５６においては、ｋに１を加算し、Ｓ５
７においては、ｋが透かしデータ長ｒを越えたか否かが
判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ５８に移行して
ｋを１に初期化する。
７においては、ｋが透かしデータ長ｒを越えたか否かが
判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ５８に移行して
ｋを１に初期化する。
【００３４】次に、透かしデータの検出処理について説
明する。図１０は、本発明における透かしデータの検出
処理を示すフローチャートである。Ｓ６０においては透
かしの埋め込まれた画像Ｇ、鍵データＫp、ＫLを入力す
る。Ｓ６１においては、画像をＮx×Ｎyのｍ個のブロッ
クＢiに分割し、Ｓ６２においては、ｉを１に設定す
る。
明する。図１０は、本発明における透かしデータの検出
処理を示すフローチャートである。Ｓ６０においては透
かしの埋め込まれた画像Ｇ、鍵データＫp、ＫLを入力す
る。Ｓ６１においては、画像をＮx×Ｎyのｍ個のブロッ
クＢiに分割し、Ｓ６２においては、ｉを１に設定す
る。
【００３５】Ｓ６３においてはブロックＢi’を鍵デー
タＫpを用いてピアノ走査することによって２次元デー
タから１次元データＲi’に変換する。Ｓ６４において
は、後述する透かしデータの抽出処理（EXTRACTION）が
行われる。Ｓ６５においてはｉに１を加算し、Ｓ６６に
おいては、ｉがブロック数ｍ以下であるか否かが判定さ
れ、判定結果が肯定の場合にはＳ６３に移行するが、否
定の場合にはＳ６７に移行する。
タＫpを用いてピアノ走査することによって２次元デー
タから１次元データＲi’に変換する。Ｓ６４において
は、後述する透かしデータの抽出処理（EXTRACTION）が
行われる。Ｓ６５においてはｉに１を加算し、Ｓ６６に
おいては、ｉがブロック数ｍ以下であるか否かが判定さ
れ、判定結果が肯定の場合にはＳ６３に移行するが、否
定の場合にはＳ６７に移行する。
【００３６】Ｓ６７においては、得られたｍ個の透かし
データＳi’の各ビットｓk'(i)について多数決による判
定を行い、透かしデータＳ’を決定する。Ｓ６８におい
ては、最終的に得られたＳ’を出力する。
データＳi’の各ビットｓk'(i)について多数決による判
定を行い、透かしデータＳ’を決定する。Ｓ６８におい
ては、最終的に得られたＳ’を出力する。
【００３７】図１１、図１２は、本発明における透かし
データ抽出処理（EXTRACTION）を示すフローチャートで
ある。Ｓ１００においては、１次元データＲi’を入力
し、セグメントの先頭からの距離ｌ＝０、変数ｊ＝ｋ＝
１、注目ランレングスの先頭画素の位置ａ0＝０に設定
する。Ｓ１０１においては、復号された透かしデータが
０である頻度ｓk0、復号された透かしデータが１である
頻度ｓk1（k＝1,2,…,ｒ）を全て０に初期化する。
データ抽出処理（EXTRACTION）を示すフローチャートで
ある。Ｓ１００においては、１次元データＲi’を入力
し、セグメントの先頭からの距離ｌ＝０、変数ｊ＝ｋ＝
１、注目ランレングスの先頭画素の位置ａ0＝０に設定
する。Ｓ１０１においては、復号された透かしデータが
０である頻度ｓk0、復号された透かしデータが１である
頻度ｓk1（k＝1,2,…,ｒ）を全て０に初期化する。
【００３８】Ｓ１０２においては、ａ1を検出し、ａ0と
ａ1間のランレングス値ＲＬ（ａ0ａ 1）を計算する。そ
してｌにＲＬ（ａ0ａ1）を加算する。Ｓ１０３において
は、ｌがセグメント長Ｌj以下か否かが判定され、判定
結果が否定の場合にはＳ１０４に移行するが、肯定の場
合にはＳ１０５に移行する。
ａ1間のランレングス値ＲＬ（ａ0ａ 1）を計算する。そ
してｌにＲＬ（ａ0ａ1）を加算する。Ｓ１０３において
は、ｌがセグメント長Ｌj以下か否かが判定され、判定
結果が否定の場合にはＳ１０４に移行するが、肯定の場
合にはＳ１０５に移行する。
【００３９】Ｓ１０４においては、ランレングスがセグ
メントを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、
さらに（ａ1−ｄ）をａ0に代入する。そしてＳ１１６に
移行する。
メントを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、
さらに（ａ1−ｄ）をａ0に代入する。そしてＳ１１６に
移行する。
【００４０】Ｓ１０５においては、ＲＬ（ａ0ａ1）が復
号条件を満たしているか否かが判定される。復号条件は
以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が４
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ１１１に移行する
が、肯定の場合にはＳ１０６に移行する。
号条件を満たしているか否かが判定される。復号条件は
以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が４
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ１１１に移行する
が、肯定の場合にはＳ１０６に移行する。
【００４１】Ｓ１０６においては、ａ2を検出し、ＲＬ
（ａ1ａ2）を計算する。そしてｌにＲＬ（ａ1ａ2）を加
算する。Ｓ１０７においては、ｌがセグメント長Ｌj以
下か否かが判定され、判定結果が否定の場合にはＳ１１
２に移行するが、肯定の場合にはＳ１０８に移行する。
（ａ1ａ2）を計算する。そしてｌにＲＬ（ａ1ａ2）を加
算する。Ｓ１０７においては、ｌがセグメント長Ｌj以
下か否かが判定され、判定結果が否定の場合にはＳ１１
２に移行するが、肯定の場合にはＳ１０８に移行する。
【００４２】Ｓ１０８においては、ＲＬ（ａ1ａ2）が復
号条件を満たしているか否かが判定される。復号条件は
以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が２
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ１１０に移行する
が、肯定の場合にはＳ１０９に移行する。Ｓ１０９にお
いては、後述する透かしデータ１ビットの抽出処理（BI
TEXTRACTION）が行われる。
号条件を満たしているか否かが判定される。復号条件は
以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が２
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ１１０に移行する
が、肯定の場合にはＳ１０９に移行する。Ｓ１０９にお
いては、後述する透かしデータ１ビットの抽出処理（BI
TEXTRACTION）が行われる。
【００４３】Ｓ１１０においては、ｌからＲＬ（ａ
1ａ2）を減算する。Ｓ１１１においては、ａ0にａ1を代
入する。
1ａ2）を減算する。Ｓ１１１においては、ａ0にａ1を代
入する。
【００４４】Ｓ１１２においては、ランレングスがセグ
メントを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、
さらにａ2からｄを減算してＲＬ（ａ1ａ2）を修正す
る。そしてＳ１１３に移行する。Ｓ１１３、Ｓ１１４に
おいては、それぞれＳ１０８、Ｓ１０９と同じ処理が行
われる。Ｓ１１５においては、ａ2をａ0に代入し、Ｓ１
１６においては、ｌを０にする。
メントを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、
さらにａ2からｄを減算してＲＬ（ａ1ａ2）を修正す
る。そしてＳ１１３に移行する。Ｓ１１３、Ｓ１１４に
おいては、それぞれＳ１０８、Ｓ１０９と同じ処理が行
われる。Ｓ１１５においては、ａ2をａ0に代入し、Ｓ１
１６においては、ｌを０にする。
【００４５】Ｓ１１７においては、ｊに１を加算し、Ｓ
１１８においては、ｊがセグメント数ｒを越えたか否か
が判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ１１９に移行
してｊが１に初期化される。Ｓ１２０においては、ｋに
ｊが代入され、Ｓ１２１に移行する。Ｓ１２１において
は、Ｒiの全ての要素を終了したか否かが判定され、判
定結果が否定の場合にはＳ１０２に戻るが、肯定の場合
にはＳ１２２に移行する。
１１８においては、ｊがセグメント数ｒを越えたか否か
が判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ１１９に移行
してｊが１に初期化される。Ｓ１２０においては、ｋに
ｊが代入され、Ｓ１２１に移行する。Ｓ１２１において
は、Ｒiの全ての要素を終了したか否かが判定され、判
定結果が否定の場合にはＳ１０２に戻るが、肯定の場合
にはＳ１２２に移行する。
【００４６】Ｓ１２２においては、ｋを１に設定し、Ｓ
１２３においては、ｓk0がｓk1以上であるか否かが判定
され、判定結果が肯定の場合にはＳ１２４に移行してｓ
k'＝０とするが、否定の場合にはＳ１２５に移行してｓ
k'＝１とする。
１２３においては、ｓk0がｓk1以上であるか否かが判定
され、判定結果が肯定の場合にはＳ１２４に移行してｓ
k'＝０とするが、否定の場合にはＳ１２５に移行してｓ
k'＝１とする。
【００４７】Ｓ１２６においては、ｋに１を加算し、Ｓ
１２７においては、ｋがｒを越えたか否かが判定され
る。そして、判定結果が否定の場合にはＳ１２３に移行
するが、肯定の場合にはＳ１２８に移行する。Ｓ１２８
においては、検出結果の透かしデータＳ’＝ｓk'（ｋ=
1,2,…,ｒ）を出力する。
１２７においては、ｋがｒを越えたか否かが判定され
る。そして、判定結果が否定の場合にはＳ１２３に移行
するが、肯定の場合にはＳ１２８に移行する。Ｓ１２８
においては、検出結果の透かしデータＳ’＝ｓk'（ｋ=
1,2,…,ｒ）を出力する。
【００４８】図１３は、本発明における透かしデータ１
ビットの抽出処理（BITEXTRACTION）を示すフローチャ
ートである。Ｓ１３０においては、ＲＬ（ａ0ａ1）が奇
数か否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ１３
１に移行するが、否定の場合にはＳ１３２に移行する。
ビットの抽出処理（BITEXTRACTION）を示すフローチャ
ートである。Ｓ１３０においては、ＲＬ（ａ0ａ1）が奇
数か否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ１３
１に移行するが、否定の場合にはＳ１３２に移行する。
【００４９】Ｓ１３１においては、ｓk1に１を加算す
る。また、Ｓ１３２においては、ｓk0に１を加算する。
Ｓ１３３においては、ｋに１を加算し、Ｓ１３４におい
ては、ｋが透かしデータ長ｒを越えたか否かが判定さ
れ、判定結果が肯定の場合にはＳ１３５に移行してｋを
１に初期化する。以上のような処理により、透かしデー
タが未知であっても検出が可能である。
る。また、Ｓ１３２においては、ｓk0に１を加算する。
Ｓ１３３においては、ｋに１を加算し、Ｓ１３４におい
ては、ｋが透かしデータ長ｒを越えたか否かが判定さ
れ、判定結果が肯定の場合にはＳ１３５に移行してｋを
１に初期化する。以上のような処理により、透かしデー
タが未知であっても検出が可能である。
【００５０】次に、切り取られた画像から透かしデータ
を検出する方法について説明する。図１４は、画像に文
字が書き込まれ、かつ切り取られた画像例を示す説明図
である。図１４においては、説明のためにブロックの境
界線が描かれているが、通常はブロックの境界線は描か
れていないので、ブロックの境界および始点（左上の
点）の位置は不明である。そこで、ブロック位置を探索
する処理が必要となる。
を検出する方法について説明する。図１４は、画像に文
字が書き込まれ、かつ切り取られた画像例を示す説明図
である。図１４においては、説明のためにブロックの境
界線が描かれているが、通常はブロックの境界線は描か
れていないので、ブロックの境界および始点（左上の
点）の位置は不明である。そこで、ブロック位置を探索
する処理が必要となる。
【００５１】図１５は、本発明におけるブロック探索処
理を示す説明図である。切り取られた画像データの場合
には、ブロックの境界である基準線および始点（基準座
標：ｘ0，ｙ0）が不明である。従って、基準点を探索す
る必要がある。探索方法は、例えば左上からブロックサ
イズと同じＮx×Ｎyの範囲を図示するように１行づつ走
査しながら、各点が基準点であると仮定して透かしデー
タの検出処理を行う。透かしデータＳk（k＝1,2,…,
ｒ）はセグメント毎に反復的に埋め込まれているので、
これを抽出するたびに系列ｔv(v=1,2,…)として記憶し
ておき、自己相関係数ρxyの最大値を調べる。
理を示す説明図である。切り取られた画像データの場合
には、ブロックの境界である基準線および始点（基準座
標：ｘ0，ｙ0）が不明である。従って、基準点を探索す
る必要がある。探索方法は、例えば左上からブロックサ
イズと同じＮx×Ｎyの範囲を図示するように１行づつ走
査しながら、各点が基準点であると仮定して透かしデー
タの検出処理を行う。透かしデータＳk（k＝1,2,…,
ｒ）はセグメント毎に反復的に埋め込まれているので、
これを抽出するたびに系列ｔv(v=1,2,…)として記憶し
ておき、自己相関係数ρxyの最大値を調べる。
【００５２】図１６は、本発明におけるブロック探索に
おける自己相関係数波形例を示す説明図である。自己相
関値ρxyは、正しい基準点においては１に近く、その他
の点においてはほぼ０となる。従って自己相関値ρxyが
最大となる点を基準点とする。
おける自己相関係数波形例を示す説明図である。自己相
関値ρxyは、正しい基準点においては１に近く、その他
の点においてはほぼ０となる。従って自己相関値ρxyが
最大となる点を基準点とする。
【００５３】図１７は、本発明における切り取られた画
像からの透かしデータの検出処理を示すフローチャート
である。Ｓ１４０においては、切り出された、透かしの
埋め込まれた画像データＧ”、鍵データＫp、ＫLを入力
する。Ｓ１４１においては、チェックする基準点の座標
ｙ＝０に設定する。Ｓ１４２においては、チェックする
基準点の座標ｘ＝０に設定する。
像からの透かしデータの検出処理を示すフローチャート
である。Ｓ１４０においては、切り出された、透かしの
埋め込まれた画像データＧ”、鍵データＫp、ＫLを入力
する。Ｓ１４１においては、チェックする基準点の座標
ｙ＝０に設定する。Ｓ１４２においては、チェックする
基準点の座標ｘ＝０に設定する。
【００５４】Ｓ１４３においては、（ｘ，ｙ）を基準点
として、ブロックサイズＮx×ＮyのブロックＢxyをピア
ノ走査して、２次元データを１次元データＲxyに変換す
る。Ｓ１４４においては、後述する、ブロックＢxyから
透かしデータＳ”を抽出する処理（CUT_EXTRACTION）が
実行される。この処理は、前半部は図１１、１２の処理
と同様であるが、後半部の処理は図１８、１９に示すよ
うに、自己相関係数の計算を伴うために修正されてい
る。
として、ブロックサイズＮx×ＮyのブロックＢxyをピア
ノ走査して、２次元データを１次元データＲxyに変換す
る。Ｓ１４４においては、後述する、ブロックＢxyから
透かしデータＳ”を抽出する処理（CUT_EXTRACTION）が
実行される。この処理は、前半部は図１１、１２の処理
と同様であるが、後半部の処理は図１８、１９に示すよ
うに、自己相関係数の計算を伴うために修正されてい
る。
【００５５】Ｓ１４５においては、ｘに１を加算し、Ｓ
１４６においては、ｘがブロックサイズ（ｘ方向）Ｎx
より小さいか否かが判定され、判定結果が否定の場合に
はＳ１４３に移行するが、肯定の場合にはＳ１４７に移
行する。Ｓ１４７においては、ｙに１を加算し、Ｓ１４
８においては、ｙがブロックサイズＮyより小さいか否
かが判定され、判定結果が否定の場合にはＳ１４２に移
行するが、肯定の場合にはＳ１４９に移行する。Ｓ１４
９においては、最大の自己相関係数ρmaxが得られた座
標を（ｘ*，ｙ*）とし、そのとき得られた系列を透かし
データＳ”x*y*として出力する。
１４６においては、ｘがブロックサイズ（ｘ方向）Ｎx
より小さいか否かが判定され、判定結果が否定の場合に
はＳ１４３に移行するが、肯定の場合にはＳ１４７に移
行する。Ｓ１４７においては、ｙに１を加算し、Ｓ１４
８においては、ｙがブロックサイズＮyより小さいか否
かが判定され、判定結果が否定の場合にはＳ１４２に移
行するが、肯定の場合にはＳ１４９に移行する。Ｓ１４
９においては、最大の自己相関係数ρmaxが得られた座
標を（ｘ*，ｙ*）とし、そのとき得られた系列を透かし
データＳ”x*y*として出力する。
【００５６】図１８、１９は、本発明におけるＳ１４４
の切り取られた画像からの透かしデータ抽出処理（CUT_
EXTRACTION）を示すフローチャートである。Ｓ１６０に
おいては、１次元データＲxyを入力し、セグメントの先
頭からの距離ｌ＝０、変数ｊ＝ｋ＝１、注目ランレング
スの先頭画素の位置ａ0＝０に設定する。Ｓ１６１にお
いては、透かしの第ｋビットＳkが何回抽出されたかを
示すカウンタであるｕk（k＝1,2,…,ｒ）を全て０に初
期化する。Ｓ１６２においては、復号された透かしデー
タが０である頻度ｓk0、復号された透かしデータが１で
ある頻度ｓk1（k＝1,2,…,ｒ）を全て０に初期化する。
の切り取られた画像からの透かしデータ抽出処理（CUT_
EXTRACTION）を示すフローチャートである。Ｓ１６０に
おいては、１次元データＲxyを入力し、セグメントの先
頭からの距離ｌ＝０、変数ｊ＝ｋ＝１、注目ランレング
スの先頭画素の位置ａ0＝０に設定する。Ｓ１６１にお
いては、透かしの第ｋビットＳkが何回抽出されたかを
示すカウンタであるｕk（k＝1,2,…,ｒ）を全て０に初
期化する。Ｓ１６２においては、復号された透かしデー
タが０である頻度ｓk0、復号された透かしデータが１で
ある頻度ｓk1（k＝1,2,…,ｒ）を全て０に初期化する。
【００５７】Ｓ１６３においては、ａ1を検出し、ａ0と
ａ1間のランレングス値ＲＬ（ａ0ａ 1）を計算する。そ
してｌにＲＬ（ａ0ａ1）を加算する。Ｓ１６４において
は、ｌがセグメント長Ｌj以下か否かが判定され、判定
結果が否定の場合にはＳ１６５に移行するが、肯定の場
合にはＳ１６６に移行する。
ａ1間のランレングス値ＲＬ（ａ0ａ 1）を計算する。そ
してｌにＲＬ（ａ0ａ1）を加算する。Ｓ１６４において
は、ｌがセグメント長Ｌj以下か否かが判定され、判定
結果が否定の場合にはＳ１６５に移行するが、肯定の場
合にはＳ１６６に移行する。
【００５８】Ｓ１６５においては、ランレングスがセグ
メントを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、
さらに（ａ1−ｄ）をａ0に代入する。そしてＳ１７７に
移行する。
メントを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、
さらに（ａ1−ｄ）をａ0に代入する。そしてＳ１７７に
移行する。
【００５９】Ｓ１６６においては、ＲＬ（ａ0ａ1）が復
号条件を満たしているか否かが判定される。復号条件は
以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が４
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ１７２に移行する
が、肯定の場合にはＳ１６７に移行する。
号条件を満たしているか否かが判定される。復号条件は
以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ0ａ1）が４
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ１７２に移行する
が、肯定の場合にはＳ１６７に移行する。
【００６０】Ｓ１６７においては、ａ2を検出し、ＲＬ
（ａ1ａ2）を計算する。そしてｌにＲＬ（ａ1ａ2）を加
算する。Ｓ１６８においては、ｌがセグメント長Ｌj以
下か否かが判定され、判定結果が否定の場合にはＳ１７
３に移行するが、肯定の場合にはＳ１６９に移行する。
（ａ1ａ2）を計算する。そしてｌにＲＬ（ａ1ａ2）を加
算する。Ｓ１６８においては、ｌがセグメント長Ｌj以
下か否かが判定され、判定結果が否定の場合にはＳ１７
３に移行するが、肯定の場合にはＳ１６９に移行する。
【００６１】Ｓ１６９においては、ＲＬ（ａ1ａ2）が復
号条件を満たしているか否かが判定される。復号条件は
以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が２
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ１７１に移行する
が、肯定の場合にはＳ１７０に移行する。Ｓ１７０にお
いては、後述する透かしデータ１ビットの抽出処理（CU
T_BITEXTRACTION）が行われる。
号条件を満たしているか否かが判定される。復号条件は
以下の通りである。 （１）ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が３
以上である。あるいは （２）ＲＬ（ａ0ａ1）が偶数の時、ＲＬ（ａ1ａ2）が２
以上である。 そして、判定結果が否定の場合にはＳ１７１に移行する
が、肯定の場合にはＳ１７０に移行する。Ｓ１７０にお
いては、後述する透かしデータ１ビットの抽出処理（CU
T_BITEXTRACTION）が行われる。
【００６２】Ｓ１７１においては、ｌからＲＬ（ａ
1ａ2）を減算する。Ｓ１７２においては、ａ0にａ1を代
入する。Ｓ１７３においては、ランレングスがセグメン
トを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、さら
にａ2からｄを減算してＲＬ（ａ1ａ2）を修正する。そ
してＳ１７４に移行する。Ｓ１７４、Ｓ１７５において
は、それぞれＳ１６９、Ｓ１７０と同じ処理が行われ
る。Ｓ１７６においては、ａ2をａ0に代入し、Ｓ１７７
においては、ｌを０にする。
1ａ2）を減算する。Ｓ１７２においては、ａ0にａ1を代
入する。Ｓ１７３においては、ランレングスがセグメン
トを越えたときの超過距離ｄ＝ｌ−Ｌiを算出し、さら
にａ2からｄを減算してＲＬ（ａ1ａ2）を修正する。そ
してＳ１７４に移行する。Ｓ１７４、Ｓ１７５において
は、それぞれＳ１６９、Ｓ１７０と同じ処理が行われ
る。Ｓ１７６においては、ａ2をａ0に代入し、Ｓ１７７
においては、ｌを０にする。
【００６３】Ｓ１７８においては、ｊに１を加算し、Ｓ
１７９においては、ｊがセグメント数ｒを越えたか否か
が判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ１８０に移行
してｊが１に初期化される。Ｓ１８１においては、ｋに
ｊが代入され、Ｓ１８２に移行する。Ｓ１８２において
は、Ｒxyの全ての要素を終了したか否かが判定され、判
定結果が否定の場合にはＳ１６３に戻るが、肯定の場合
にはＳ１８３に移行する。
１７９においては、ｊがセグメント数ｒを越えたか否か
が判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ１８０に移行
してｊが１に初期化される。Ｓ１８１においては、ｋに
ｊが代入され、Ｓ１８２に移行する。Ｓ１８２において
は、Ｒxyの全ての要素を終了したか否かが判定され、判
定結果が否定の場合にはＳ１６３に戻るが、肯定の場合
にはＳ１８３に移行する。
【００６４】Ｓ１８３においては、ｕk(k=1,2,…,r)に
ついて、最小のｕkをｕminとし、ｖm ax＝ｕmin×ｒとす
る。Ｓ１８４においては、得られた系列ｔv(v=1,2,…,
ｖmax)について、周期ｒで自己相関係数ρxyを計算す
る。
ついて、最小のｕkをｕminとし、ｖm ax＝ｕmin×ｒとす
る。Ｓ１８４においては、得られた系列ｔv(v=1,2,…,
ｖmax)について、周期ｒで自己相関係数ρxyを計算す
る。
【００６５】Ｓ１８５においては、ｋを１に設定し、Ｓ
１８６においては、ｓk0がｓk1以上であるか否かが判定
され、判定結果が肯定の場合にはＳ１８７に移行してｓ
k＝０とするが、否定の場合にはＳ１８８に移行してｓk
＝１とする。
１８６においては、ｓk0がｓk1以上であるか否かが判定
され、判定結果が肯定の場合にはＳ１８７に移行してｓ
k＝０とするが、否定の場合にはＳ１８８に移行してｓk
＝１とする。
【００６６】Ｓ１８９においては、ｋに１を加算し、Ｓ
１９０においては、ｋがｒを越えたか否かが判定され
る。そして、判定結果が否定の場合にはＳ１８６に移行
するが、肯定の場合にはＳ１９１に移行する。Ｓ１９１
においては、ρxyおよび検出結果の透かしデータＳxy”
＝ｓk”(ｋ=1,2,…,ｒ)を出力する。
１９０においては、ｋがｒを越えたか否かが判定され
る。そして、判定結果が否定の場合にはＳ１８６に移行
するが、肯定の場合にはＳ１９１に移行する。Ｓ１９１
においては、ρxyおよび検出結果の透かしデータＳxy”
＝ｓk”(ｋ=1,2,…,ｒ)を出力する。
【００６７】図２０は、Ｓ１７０、Ｓ１７５の切り取ら
れた画像からの透かしデータ１ビットの抽出処理（CUT_
BITEXTRACTION）を示すフローチャートである。Ｓ２０
０においては、ｖ＝ｕk×ｒ＋ｋを計算する。Ｓ２０１
においては、ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数か否かが判定され、
判定結果が肯定の場合にはＳ２０２に移行するが、否定
の場合にはＳ２０３に移行する。
れた画像からの透かしデータ１ビットの抽出処理（CUT_
BITEXTRACTION）を示すフローチャートである。Ｓ２０
０においては、ｖ＝ｕk×ｒ＋ｋを計算する。Ｓ２０１
においては、ＲＬ（ａ0ａ1）が奇数か否かが判定され、
判定結果が肯定の場合にはＳ２０２に移行するが、否定
の場合にはＳ２０３に移行する。
【００６８】Ｓ２０２においては、ｔuを１に設定し、
ｓk1に１を加算する。また、Ｓ２０３においては、ｔu
を０に設定し、ｓk0に１を加算する。Ｓ２０４において
は、ｕkに１を加算し、Ｓ２０５においては、ｋに１を
加算し、Ｓ２０６においては、ｋが透かしデータ長ｒを
越えたか否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ
２０７に移行してｋを１に初期化する。以上のような処
理によって、切り取られた画像データからにおいても未
知の透かしデータを検出することができる。
ｓk1に１を加算する。また、Ｓ２０３においては、ｔu
を０に設定し、ｓk0に１を加算する。Ｓ２０４において
は、ｕkに１を加算し、Ｓ２０５においては、ｋに１を
加算し、Ｓ２０６においては、ｋが透かしデータ長ｒを
越えたか否かが判定され、判定結果が肯定の場合にはＳ
２０７に移行してｋを１に初期化する。以上のような処
理によって、切り取られた画像データからにおいても未
知の透かしデータを検出することができる。
【００６９】以上、実施例を開示したが、本発明におい
ては、以下に示すような変形例も考えられる。実施例に
おいては、透かしデータとして所定のデータを繰り返し
埋め込む方法を開示したが、例えば透かしデータとして
固定部分と可変部分を設け、固定部分に著作権者情報
等、可変部分に当該画像固有の情報等を埋め込むことも
可能である。また、ブロックを固定データ部分と可変デ
ータ部分に分割してそれぞれの領域に固定データおよび
可変データを埋め込んでもよい。実施例においては、２
値画像データについて透かしデータを埋め込む例につい
て説明したが、多値やカラー画像データについても、２
値化して透かしデータを埋め込み、再び多値化すること
により、本発明を適用可能である。
ては、以下に示すような変形例も考えられる。実施例に
おいては、透かしデータとして所定のデータを繰り返し
埋め込む方法を開示したが、例えば透かしデータとして
固定部分と可変部分を設け、固定部分に著作権者情報
等、可変部分に当該画像固有の情報等を埋め込むことも
可能である。また、ブロックを固定データ部分と可変デ
ータ部分に分割してそれぞれの領域に固定データおよび
可変データを埋め込んでもよい。実施例においては、２
値画像データについて透かしデータを埋め込む例につい
て説明したが、多値やカラー画像データについても、２
値化して透かしデータを埋め込み、再び多値化すること
により、本発明を適用可能である。
【００７０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子透か
し処理装置によれば、各ブロック毎に透かしデータを埋
め込むので、切り出したデータにブロックが１つ以上含
まれていれば、透かしデータの検出が可能となる。ま
た、複数のブロックから検出した透かしデータにより多
数決を取ることが可能であり、ノイズの付加等に対する
耐性が向上し、検出精度が向上するという効果を奏す
る。
し処理装置によれば、各ブロック毎に透かしデータを埋
め込むので、切り出したデータにブロックが１つ以上含
まれていれば、透かしデータの検出が可能となる。ま
た、複数のブロックから検出した透かしデータにより多
数決を取ることが可能であり、ノイズの付加等に対する
耐性が向上し、検出精度が向上するという効果を奏す
る。
【図１】本発明による電子透かし埋め込み方法を示す説
明図である。
明図である。
【図２】本発明において１次元データへの変換に使用す
る走査情報を図示した説明図である。
る走査情報を図示した説明図である。
【図３】ランレングスへの透かしデータ１ビットの埋め
込み方法を示す説明図である。
込み方法を示す説明図である。
【図４】データ誤りによる透かしデータ誤りの伝搬を示
す説明図である。
す説明図である。
【図５】本発明における１次元データへの透かしデータ
の埋め込み方法を示す説明図である。
の埋め込み方法を示す説明図である。
【図６】本発明における透かしデータの埋め込み処理を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図７】本発明における透かしデータの埋め込み処理の
詳細を示すフローチャート（１）である。
詳細を示すフローチャート（１）である。
【図８】本発明における透かしデータの埋め込み処理の
詳細を示すフローチャート（２）である。
詳細を示すフローチャート（２）である。
【図９】本発明における透かしデータ１ビットの埋め込
み処理を示すフローチャートである。
み処理を示すフローチャートである。
【図１０】本発明における透かしデータの検出処理を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図１１】本発明における透かしデータ抽出処理を示す
フローチャート（１）である。
フローチャート（１）である。
【図１２】本発明における透かしデータ抽出処理を示す
フローチャート（２）である。
フローチャート（２）である。
【図１３】本発明における透かしデータ１ビットの抽出
処理を示すフローチャートである。
処理を示すフローチャートである。
【図１４】書き込まれ、かつ切り取られた画像例を示す
説明図である。
説明図である。
【図１５】本発明におけるブロック探索処理を示す説明
図である。
図である。
【図１６】本発明におけるブロック探索における自己相
関係数波形例を示す説明図である。
関係数波形例を示す説明図である。
【図１７】本発明における切り取られた画像からの検出
処理を示すフローチャートである。
処理を示すフローチャートである。
【図１８】本発明における切り取られた画像からの透か
しデータ抽出処理を示すフローチャート（１）である。
しデータ抽出処理を示すフローチャート（１）である。
【図１９】本発明における切り取られた画像からの透か
しデータ抽出処理を示すフローチャート（２）である。
しデータ抽出処理を示すフローチャート（２）である。
【図２０】本発明における切り取られた画像からの透か
しデータ１ビットの抽出処理を示すフローチャートであ
る。
しデータ１ビットの抽出処理を示すフローチャートであ
る。
Ｎx、Ｎy…ブロックサイズ
Ｂi…２次元ブロック
Ｒi…１次元データ
Ｂi’…透かしデータ入り２次元ブロック
Ｒi’…透かしデータ入り１次元データ
Ｓ…透かしデータ
Claims (7)
- 【請求項１】画像データを複数のブロックに分割するブ
ロック化手段と、 ブロックの画像データを１次元データに変換する１次元
変換手段と、 １次元データに透かしデータを埋め込む埋め込み手段
と、 透かしデータを埋め込んだ１次元データを元のブロック
に戻すブロック復元手段と、 復元されたブロックを合成して元の画像データを復元す
る画像復元手段とを含む電子透かし埋め込み手段を備え
たことを特徴とする電子透かし処理装置。 - 【請求項２】前記埋め込み手段は、１次元データを予め
定められたセグメントに分割し、セグメント毎に独立し
て透かしデータを埋め込んでいくことを特徴とする請求
項１に記載の電子透かし処理装置。 - 【請求項３】画像データを複数のブロックに分割するブ
ロック化手段と、 ブロックの画像データを１次元データに変換する１次元
変換手段と、 １次元データから透かしデータを検出する検出手段と、
を含む電子透かし検出手段を備えたことを特徴とする電
子透かし処理装置。 - 【請求項４】前記検出手段は、複数のブロックから検出
した透かしデータの多数決を取る多数決手段を備えたこ
とを特徴とする請求項３に記載の電子透かし処理装置。 - 【請求項５】更に、ブロックの位置を探索するブロック
探索手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載の電
子透かし処理装置。 - 【請求項６】画像データを複数のブロックに分割するス
テップと、 ブロックの画像データを１次元データに変換するステッ
プと、 １次元データに透かしデータを埋め込むステップと、 透かしデータを埋め込んだ１次元データを元のブロック
に戻すステップと、 復元されたブロックを合成して元の画像データを復元す
るステップとを含むことを特徴とする電子透かし処理方
法。 - 【請求項７】コンピュータに、 画像データを複数のブロックに分割するブロック化手
段、 ブロックの画像データを１次元データに変換する１次元
変換手段、 １次元データに透かしデータを埋め込む埋め込み手段、 透かしデータを埋め込んだ１次元データを元のブロック
に戻すブロック復元手段、 復元されたブロックを合成して元の画像データを復元す
る画像復元手段の機能を実行させる電子透かし処理プロ
グラム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002011382A JP2003219141A (ja) | 2002-01-21 | 2002-01-21 | 電子透かし処理装置、電子透かし処理方法および電子透かし処理プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002011382A JP2003219141A (ja) | 2002-01-21 | 2002-01-21 | 電子透かし処理装置、電子透かし処理方法および電子透かし処理プログラム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003219141A true JP2003219141A (ja) | 2003-07-31 |
Family
ID=27648871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002011382A Pending JP2003219141A (ja) | 2002-01-21 | 2002-01-21 | 電子透かし処理装置、電子透かし処理方法および電子透かし処理プログラム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003219141A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005074248A1 (ja) * | 2004-02-02 | 2005-08-11 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | 電子透かし埋め込み装置、電子透かし検出装置、及びそれらの方法、並びにプログラム |
| WO2005074249A1 (ja) * | 2004-02-02 | 2005-08-11 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | 電子透かし埋め込み装置、電子透かし検出装置、及びそれらの方法、並びにプログラム |
| US7295680B2 (en) | 2004-02-17 | 2007-11-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Embedding and detecting digital watermark in image |
| JP2009033512A (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラム |
-
2002
- 2002-01-21 JP JP2002011382A patent/JP2003219141A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005074248A1 (ja) * | 2004-02-02 | 2005-08-11 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | 電子透かし埋め込み装置、電子透かし検出装置、及びそれらの方法、並びにプログラム |
| WO2005074249A1 (ja) * | 2004-02-02 | 2005-08-11 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | 電子透かし埋め込み装置、電子透かし検出装置、及びそれらの方法、並びにプログラム |
| KR100714202B1 (ko) * | 2004-02-02 | 2007-05-07 | 니폰 덴신 덴와 가부시끼가이샤 | 전자 워터마크 매립장치, 전자 워터마크 검출장치, 및 그방법, 및 프로그램 |
| US7489796B2 (en) | 2004-02-02 | 2009-02-10 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Electronic watermark embedding device, electronic watermark detection device, method thereof, and program |
| US7672474B2 (en) | 2004-02-02 | 2010-03-02 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Electronic watermark embedding device, electronic watermark detection device, method thereof, and program |
| US7295680B2 (en) | 2004-02-17 | 2007-11-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Embedding and detecting digital watermark in image |
| JP2009033512A (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラム |
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