JP2003207575A - コリメータ、x線検出装置およびx線ct装置 - Google Patents
コリメータ、x線検出装置およびx線ct装置Info
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Abstract
乱X線を制御したコリメータと、それを用いたX線検出
装置と、そのX線検出装置を搭載したX線CT装置を提
供すること。 【解決手段】コリメータ18の周辺部18Bにおけるコ
リメータ板19…の配置のピッチを、コリメータ18の
中央部18Aにおけるコリメータ板19…の配置のピッ
チよりも疎にするか短くする。
Description
断層撮影装置(以下、「X線CT装置」と称する。)、
及びこれに組み込まれるX線検出装置、及び散乱X線を
除去するコリメータに関する。
の体軸方向(スライス方向)およびX線放射方向に対し
て垂直な方向を接線とする円弧方向(チャンネル方向)
に並ぶ複数の検出器ユニットとを架台と共に被検体の回
りで回転移動させることにより、X線ビームが被検体と
交差する角度を定常的に変化させながらスキャンしてデ
ータを得るものである。
ットに設けられたシンチレータブロックにより、X線発
生源から放射されるX線ファンビーム(X線ビーム)の
X線減衰測定値、即ち投影データを検出している。
を透過したX線線量を電荷量に変換するもので、シンチ
レータブロックを構成する各シンチレータセグメントが
X線を受けて蛍光を発し、光電変換器(フォトダイオー
ド)によって電荷量(電流)に変換するものである。
(b)に基づいて説明する。図8(a)はX線検出装置
の斜視図で、図8(b)はそれの構成要素である検出器
ユニットの斜視図である。
板51…を円弧状に支持したコリメータ部52と、この
コリメータ部52の外周側に設けられた多数の検出器ユ
ニット53とから構成されている。
ように、多数のコリメータ単板51を均等ピッチで且つ
同じ奥行き寸法に配置することで、被検体を通過した際
に生じる散乱X線の検出器ユニット53への入射をチャ
ンネル方向に亘って同レベルで遮り、被検体を透過した
X線線量を正確に認識させる機能を有している。
発光するシンチレータセグメント54…を図示しないリ
フレクタを介して2次元に配列したシンチレータブロッ
ク55と、シンチレータセグメント54…が発光した光
を受光して信号電流を発生するフォトダイオード56…
によって構成されている。
ようにコリメータ部52の全面に亘って、奥行き寸法の
等しいコリメータ単板51…を均等ピッチで配置した構
造では、各検出器ユニット53…に対して同レベルの散
乱X線の遮蔽を行なうことができる。しかし、コリメー
タ部52の両端部付近を通過するX線は、あまり重要で
はない検出部分(例えば脂肪が殆どの皮下部)や被検体
の外側を透過してきたX線であり、同レベルでの散乱X
線の遮蔽を行なう必要はない。にもかかわらず、コリメ
ータ部52の幅方向の中心付近のコリメータ単板51…
と同じ規格のコリメータ単板51を使用しているため、
コストの増加を招いていた。
乱X線の状態、及びコリメータ部52との関係を説明す
る模式図を示すように、円弧状のコリメータ部52とX
線を発生するX線発生源61の間に被検体60が位置す
る状態でX線が曝射されると、被検体60の全体から散
乱X線が発生する。つまり、コリメータ部52の中央部
付近52Aでは、左右からほぼ均等に入射してくる散乱
X線を遮蔽することになる。しかし、端部付近52Bで
は、遮蔽する散乱X線は被検体60側からのものがほと
んどであり、反対側からの散乱X線はほとんどない。更
に、被検体60の外周部、つまり皮下部はあまり重要で
はない検出部分であるため、散乱X線が入射してもそれ
ほど検出結果に影響は及ぼさない。
もので、コリメータ部52のコストを低減できると共
に、検出結果にほとんど影響を及ぼすことのないX線C
T装置、及びこれに組み込まれるX線検出装置、コリメ
ータを提供するものである。
段によれば、複数のコリメータ板により形成された区画
ごとに被検体を透過したX線を通過させるコリメータに
おいて、該コリメータの幅方向の端部付近における前記
コリメータ板の配置のピッチを該コリメータの中央部付
近における配置のピッチよりも疎にしたことを特徴とす
るコリメータ。
複数のコリメータ板により形成された区画ごとに被検体
を透過したX線を通過させるコリメータにおいて、該コ
リメータの幅方向の中央部付近には所定のピッチで前記
コリメータ板を配置し、該コリメータ部の端部付近では
前記コリメータ板を配置しないことを特徴とするコリメ
ータである。
複数のコリメータ板により形成された区画ごとに被検体
を透過したX線を通過させるコリメータにおいて、該コ
リメータの幅方向の端部付近は、中央部付近に比べて前
記コリメータ板の奥行寸法を短く形成したことを特徴と
するコリメータである。
X線発生源からのX線をコリメータを経由して受光する
X線検出器を備えたX線検出装置において、前記コリメ
ータは、上記のいずれかに記載のコリメータを用いてい
ることを特徴とするX線検出装置である。
X線検出に請求項4記載のX線検出装置を用いているこ
とを特徴とするX線CT装置である。
いて図面を参照しながら説明する。
るX線発生源、被検体およびX線検出器の位置関係の模
式説明図である。
ト2が設けられたX線発生源1が設けられ、架台8のほ
ぼ中央に配置される被検体4を挟んで反対側には、コリ
メータ部5および検出器ユニット6を有するX線検出装
置7が設けられている。
数のシンチレータセグメント9が図示しないリフレクタ
を介して二次元的に配列されたシンチレータブロック1
0と、このシンチレータブロック10とほぼ同サイズで
各シンチレータセグメント9と対応する位置に受光部
(図示しない)が形成されたシリコン基板11aとセラ
ミック基板11bに形成されたフォトダイオードから構
成されている。
したX線等は、コリメータ部5により整形された後、各
シンチレータセグメント9に入射される。
トダイオード11との関係を示した図で、シリコン基板
11aのシンチレータセグメント9に対応する位置に
は、シンチレータセグメント9よりやや小さい受光部1
1cが位置し、シリコン基板11aの受光部11cが形
成されていない部分には、リフレクタ10cが位置して
いる。
は接着層17を介してフォトダイオード11に固着され
ている。
より、最大発光波長、減衰時間、反射係数、密度、光出
力比や蛍光効率の温度依存性等が異なるのでそれぞれの
装置の特性に応じて選定されている。また、それぞれ選
定された材料も、事前に、異物の混入、寸法精度、表面
粗さや加工変質層の有無等がチェックされる。また、フ
ォトダイオード11の受光部11cとシンチレータセグ
メント9との位置ずれについては許容範囲内に入るよう
に調整されている。さらに、シンチレータブロック10
とフォトダイオード11との間の接着層17について
も、気泡の有無や膜厚についてチェックされている。
を、図4(b)にA−A断面図を示すように、コリメー
タ部5は、モリブテン等のX線吸収率の高い材質から形
成されている複数のコリメータ板19…が上下方向を支
持板20の櫛歯状部20a…に挿入されて所定ピッチの
間隔で固定されている。なお、支持板20は幅方向の両
端部を固定板21にねじ22によって固定されている。
また、コリメータ板19…の奥行き方向(図面の垂直方
向)には、検出器ユニット6が配置されている。なお、
コリメータ板19…の奥行き方向の先端とシンチレータ
ブロック10の表面との間は、僅かな空隙23が形成さ
れている。
1で検出されたデータは、データ収集部であるDAS
(Data Acquisition System)
により収集処理されている。
成したコリメータの6種類の変形例を示した模式構成図
である。
メータ部5の幅方向(チャンネル方向)中央部付近を通
過して受光したX線により得られる情報(被検体4の内
部、特に臓器との情報)が重要であり、チャンネル方向
端部付近を通過して受光されるX線より得られる情報は
それほど意味を持たないではないため、端部付近に散乱
X線が入射しても、それほど被検体4の検出結果に影響
は及ぼさない。従って、コリメータ部5の端部付近で
は、コリメータ部5の中央部付近におけるコリメータ板
19の配置形状より粗くすることができる。
5では、コリメータ部5a18aの中央部付近18Aに
はチャンネル方向におきる各シンチレータセグメント毎
に区画するように等ピッチでコリメータ板19…を配置
し、それに対して、端部付近18Bでは例えば2個のシ
ンチレータセグメント毎に区画するようなピッチでコリ
メータ板19…を配置している。つまり、中央部付近1
8Aと端部付近18Bとではコリメータ板19…を配置
するピッチが異なり、コリメータ板19…の配置ピッチ
を変化させると共に、コリメータ板19…の総数を減少
させて、それによるコストダウンを達成している。
ータ部5pでは、コリメータ部5pの中央部付近18A
では、チャンネル方向におけるシンチレータセグメント
毎に区画するように等ピッチでコリメータ板19…を配
置し、それに対して、端部付近18Bではコリメータ板
19…を一切配置していない。したがって、コリメータ
板19…の配置ピッチを変化させると共に、コリメータ
板19…の総数を減少させて、それによるコストダウン
を達成している。
ータ部5cでは、コリメータ部5cの中央部18Aには
2個のシンチレータセグメント毎に区画するようなピッ
チでコリメータ板19…を配置し、端部付近18Bでは
コリメータ板19…を一切配置していない。したがっ
て、コリメータ板19…の配置ピッチを変化させると共
に、コリメータ板19…の総数を減少させて、それによ
るコストダウンを達成している。
ータ部5dでは、コリメータ板19…の奥行寸法を、端
部付近18Bでは中央部付近18Aに比べて(図5
(d)は一段であるが複数段であってもよい)短く形成
している。したがって、端部付近18Bのコリメータ板
19…がコストダウンされ、コリメータ部5dとしても
コストダウンされている。
ータ部5eでは、チャンネル方向中心部を境にして両端
側に行くに従って短くなる一定の曲線(階段状であって
もよい)に沿った形に、また、図5(f)に平面図を示
したコリメータ部5fでは、コリメータ板19…の関係
寸法を、中央部付近18Aでは一定の寸法で、端部付近
18Bでは幅方向外側に向かうに従って連続的(階段状
であってもよい)に形成している。この場合も、端部付
近18Bのコリメータ板19…がコストダウンされ、コ
リメータ部5dとしてもコストダウンされている。
の配置ピッチの変更と奥行き長さの変更との両方を組み
合わせて変更することもできる。
おける散乱X線の入射量を決める原理について説明す
る。
シンチレータセグメント9に入射する散乱X線の入射量
の原理を示す説明図である。この場合、一例として、コ
リメータ板19…のチャンネル方向のピッチを1mm、
板厚を0.1mmとすると、X線が入射してくる実質の
開口幅は0.9mmで、コリメータ板19の奥行寸法を
15mmとすると、シンチレータセグメント9の“あ
る″位置から両側コリメータ板19…の先端を望む最大
開口角度はtan−1(0.9/15)=3.434°
となる。つまり、この最大開口角度が散乱X線の入射量
を決定することになる。
グメント9が2個のチャンネルをまとめて区画するよう
にコリメータ板19をチャンネルピッチ2mmで配置
し、板厚を同じく0.1mmとすると、X線が入射して
くる実質の開口幅は1.9mmとなる。そして、ここで
前述の最大開口角度:3.434°と同等にするために
は、コリメータ板19…の奥行寸法を(X)mmとする
と、tan−1(1.9/X)=3.434°を満足す
ればよいことになる。この結果、コリメータ板19…の
奥行寸法は31.7mmにすることで、コリメータ板1
9と同等の散乱X線を除去する効率が得られる。
るピッチおよびコリメータ板19の奥行寸法を変化させ
ることにより、シンチレータセグメント9への散乱X線
入射量をコントロールできることになる。
器ユニットの前面に配置するコリメータ部5の中央部付
近18Aと端部付近18Bのコリメータ板19…を配置
するピッチ、奥行寸法またはピッチと奥行寸法を同時に
変化させることで、各シンチレータセグメントにおける
散乱X線の入射量を全面で均等にすることができる。
したコリメータ部5を用いることにより、検出器ユニッ
トの全面での散乱X線によるデータノイズを均等にでき
る。それにより、X線検出装置で検出したデータの処理
が容易になる。
ータ板の配置や形状に変化をもたせることによって、コ
ストダウンを図ることができると共にデ−タ処理を容易
に行うことができる。
発生源、被検体および検出器の位置関係の模式的説明
図。
の関係図。
面図。
例の模式構成図。
の入射量の原理を示す説明図。
の入射量の原理を示す説明図。
(b)は、それの構成要素であるシンチレータブロック
の斜視図。
ク、7…支持材、11〜…シンチレータ部材、12〜…
フォトダイオード、15〜…シンチレータセグメント、
18、18a〜18e…コリメータ、19〜…コリメー
タ板
Claims (5)
- 【請求項1】 複数のコリメータ板により形成された区
画ごとに被検体を透過したX線を通過させるコリメータ
において、該コリメータの幅方向の端部付近における前
記コリメータ板の配置のピッチを該コリメータの中央部
付近における配置のピッチよりも疎にしたことを特徴と
するコリメータ。 - 【請求項2】 複数のコリメータ板により形成された区
画ごとに被検体を透過したX線を通過させるコリメータ
において、該コリメータの幅方向の中央部付近には所定
のピッチで前記コリメータ板を配置し、該コリメータ部
の端部付近では前記コリメータ板を配置しないことを特
徴とするコリメータ。 - 【請求項3】 複数のコリメータ板により形成された区
画ごとに被検体を透過したX線を通過させるコリメータ
において、該コリメータの幅方向の端部付近は、中央部
付近に比べて前記コリメータ板の奥行寸法を短く形成し
たことを特徴とするコリメータ。 - 【請求項4】 X線発生源からのX線をコリメータを経
由して受光するX線検出器を備えたX線検出装置におい
て、前記コリメータは、請求項1乃至請求項3のいずれか
に記載のコリメータを用いていることを特徴とするX線
検出装置。 - 【請求項5】 X線検出に請求項4記載のX線検出装置
を用いていることを特徴とするX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002008289A JP2003207575A (ja) | 2002-01-17 | 2002-01-17 | コリメータ、x線検出装置およびx線ct装置 |
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JP2003207575A true JP2003207575A (ja) | 2003-07-25 |
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JP2002008289A Pending JP2003207575A (ja) | 2002-01-17 | 2002-01-17 | コリメータ、x線検出装置およびx線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003207575A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008023431A1 (fr) * | 2006-08-25 | 2008-02-28 | Shimadzu Corporation | Grille et son procédé de fabrication |
JP2008224624A (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Toshiba Corp | シンチレータ、放射線検出器、x線ct装置、および放射線検出器の製造方法 |
JP2010220880A (ja) * | 2009-03-24 | 2010-10-07 | Toshiba Corp | 放射線検出器及びx線ct装置 |
US8126119B2 (en) | 2009-03-19 | 2012-02-28 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Collimator unit, radiation detecting device, and radiodiagnostic system |
JP2013034864A (ja) * | 2011-08-04 | 2013-02-21 | General Electric Co <Ge> | 計算機式断層写真法(ct)撮像のための散乱低減の装置、及び該装置を製造する方法 |
-
2002
- 2002-01-17 JP JP2002008289A patent/JP2003207575A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008023431A1 (fr) * | 2006-08-25 | 2008-02-28 | Shimadzu Corporation | Grille et son procédé de fabrication |
JP2008224624A (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Toshiba Corp | シンチレータ、放射線検出器、x線ct装置、および放射線検出器の製造方法 |
US8126119B2 (en) | 2009-03-19 | 2012-02-28 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Collimator unit, radiation detecting device, and radiodiagnostic system |
JP2010220880A (ja) * | 2009-03-24 | 2010-10-07 | Toshiba Corp | 放射線検出器及びx線ct装置 |
JP2013034864A (ja) * | 2011-08-04 | 2013-02-21 | General Electric Co <Ge> | 計算機式断層写真法(ct)撮像のための散乱低減の装置、及び該装置を製造する方法 |
JP2016198680A (ja) * | 2011-08-04 | 2016-12-01 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | コリメータ |
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