JP6125704B2 - コリメータ - Google Patents
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Description
11:コリメータ・アセンブリ
12:ガントリ
14:X線源
16:投射X線
17:レール
18:検出器アセンブリ
19:コリメート用プレート
20:複数の検出器
21:z方向
22:患者
23:x方向
24:回転中心
25:y方向
26:制御機構
28:X線制御器
30:ガントリ・モータ制御器
32:データ取得システム(DAS)
34:画像再構成器
36:コンピュータ
38:大容量記憶装置
40:コンソール
42:表示器
44:テーブル・モータ制御器
46:電動テーブル
48:ガントリ開口
50:ピクセル素子
51:パック
52:ピン
53:背面照射型ダイオード・アレイ
54:多層基材
55:スペーサ
56:軟質(フレックス)回路
57:面
59:複数のダイオード
60:DAS32と全体的に平行な方向
62:視野(FOV)
64:真中の位置
66:真中の射線(アイソセンタ)
68:真中のチャネル又はアイソチャネル
100:モジュール型コリメータ・アセンブリ
102:側壁
104:末端壁
106:チャネル・プレート
108:スロット
110:スライス・プレート
150:第一の領域
152:第二の領域
154:第三の領域
156:第一の境界
158:第二の境界
160:第一の距離
162:第二の距離
200:加重関数
202:第一の調節関数
204:第二の調節関数
300:二管及び二検出器型CTシステム
302:ガントリ
304:第一のX線源
306:第一の検出器アセンブリ
308:第二のX線源
310:第二の検出器アセンブリ
312:患者
314:電動テーブル
316:開口
318:第一のビーム
320:第二のビーム
500:小包/手荷物検査システム
502:回転式ガントリ
504:開口
506:高周波電磁エネルギ源
508:検出器アセンブリ
510:コンベヤ・システム
512:コンベヤ・ベルト
514:構造
516:小包又は手荷物
Claims (12)
- イメージング・システム用のコリメータであって、
第一の開口アレイを形成するように配置された複数のコリメート用プレートを含む第一の領域と、
第二の開口アレイを形成するように配置された複数のコリメート用プレートを含む第二の領域と、
を備えており、
前記第一の領域における前記複数のコリメート用プレートは、
形成された複数のスロットを含む複数のチャネル・プレートと、
前記複数のチャネル・プレートに対して直交するように配置された複数のスライス・プレートであって、前記複数のチャネル・プレートに形成された複数のスロットのそれぞれのスロットに配置された複数のスライス・プレートと、を有し、
前記チャネル・プレートの間隔の幅に基づいて算出される前記第一の領域のアスペクト比が、前記チャネル・プレートの間隔の幅の方向と同一の方向における開口幅に基づいて算出される前記第二の領域のアスペクト比よりも大きく、
前記複数のスロットの一部が、配置された前記スライス・プレートを含まないように、前記チャネル・プレートの各々に形成された前記複数のスロットの数が前記複数のスライス・プレートの数よりも多い、コリメータ。 - イメージング・システム用のコリメータであって、
第一の開口アレイを形成するように配置された複数のコリメート用プレートを含む第一の領域と、
第二の開口アレイを形成するように配置された複数のコリメート用プレートを含む第二の領域と、
第三の開口アレイを形成するように配置された複数のコリメート用プレートを含む第三の領域と
を備えており、
前記第一の領域における前記複数のコリメート用プレートは、
形成された複数のスロットを含む複数のチャネル・プレートと、
前記複数のチャネル・プレートに対して直交するように配置された複数のスライス・プレートであって、前記複数のチャネル・プレートに形成された複数のスロットのそれぞれのスロットに配置された複数のスライス・プレートと、を有し、
前記チャネル・プレートの間隔の幅に基づいて算出される前記第一の領域のアスペクト比が、前記チャネル・プレートの間隔の幅の方向と同一の方向における開口幅に基づいて算出される前記第二の領域のアスペクト比よりも大きく、
前記第一の領域は、イメージング・システムのチャネル方向に真中のチャネルを含んでおり、
第一の境界が前記第一の領域と前記第二の領域との間に形成されており、
第二の境界が前記第一の領域と前記第三の領域との間に形成されており、
前記第一の境界及び前記第二の境界は、前記第一の境界が、前記第二の境界と前記真中のチャネルとの間の距離とは異なる前記真中のチャネルからの距離に位置するように、前記チャネル方向に非対称に配置される、コリメータ。 - 前記第一の領域は、前記複数のチャネル・プレートと対向する側に位置する側壁であって、前記複数のスライス・プレートを受けるように形成されたスロットを含む側壁を含む、請求項1又は2に記載のコリメータ。
- 前記第一の領域は、前記第一の開口アレイを有する複数の第一のモジュールを含んでおり、
前記第二の領域は、前記第二の開口アレイを有する複数の第二のモジュールを含んでいる、請求項1〜3のいずれか一項に記載のコリメータ。 - 前記第一の領域のコリメート用プレートの前記チャネル方向における間隔が、前記第二及び第三の領域の一方におけるプレートの前記チャネル方向における間隔よりも小さい、請求項2に記載のコリメータ。
- 前記第一の領域における前記チャネル・プレート及びスライス・プレートの高さは変化するものであり、
最大の高さを有するプレートが前記チャネル方向における真中のチャネルに位置し、
前記高さの方向は、計算機式断層写真法(CT)イメージング・システムのX線源の焦点スポットから発した一次X線に対して全体的に平行な方向である、請求項2に記載のコリメータ。 - 前記第二の領域の前記チャネル方向における少なくとも一つの開口は、前記第一の領域の前記チャネル方向における前記第一の開口アレイの前記開口よりも広い、請求項2に記載のコリメータ。
- 前記第一の領域の前記複数のプレートの各々は、形成される各々の開口が計算機式断層写真法(CT)イメージング・システムのX線源の焦点スポットを全体的に指向するように互いに関して変化する角度をなして配置される、請求項1〜7のいずれか一項に記載のコリメータ。
- 前記第二の領域における前記複数のコリメート用プレートは、
形成された複数のスロットを含む複数のチャネル・プレートと、
前記複数のチャネル・プレートに対して直交するように配置された複数のスライス・プレートであって、前記複数のチャネル・プレートに形成された複数のスロットのそれぞれのスロットに配置された複数のスライス・プレートと、を有する、請求項1〜8のいずれか一項に記載のコリメータ。 - イメージング・システム用のコリメータであって、
第一の開口アレイを含む第一の領域と、
第二の開口アレイを含む第二の領域と、
第三の開口アレイを含む第三の領域と、
を備えており、
前記第一、前記第二及び前記第三の領域は、複数のモジュール型コリメータ・アセンブリを含んでおり、前記第一の領域の前記モジュール型コリメータ・アセンブリの各々は、
形成された複数のスロットを含む複数のチャネル・プレートと、
前記複数のチャネル・プレートに対して直交するように配置された複数のスライス・プレートであって、前記複数のチャネル・プレートに形成された複数のスロットのそれぞれのスロットに配置された複数のスライス・プレートと、を有し、
前記複数のチャネル・プレートと前記複数のスライス・プレートは、前記第一の開口アレイを画定し、
前記チャネル・プレートの間隔の幅に基づいて算出される前記第一の領域のアスペクト比が、前記チャネル・プレートの間隔の幅の方向と同一の方向における開口幅に基づいて算出される前記第二及び前記第三の領域のアスペクト比よりも大きく、
前記複数のスロットの一部が、配置された前記スライス・プレートを含まないように、前記チャネル・プレートの各々に形成された前記複数のスロットの数が前記複数のスライス・プレートの数よりも多い、コリメータ。 - 前記第二及び前記第三の領域の前記モジュール型コリメータ・アセンブリの各々は、
形成された複数のスロットを含む複数のチャネル・プレートと、
前記複数のチャネル・プレートに対して直交するように配置された複数のスライス・プレートであって、前記複数のチャネル・プレートに形成された複数のスロットのそれぞれのスロットに配置された複数のスライス・プレートと、を有し、
前記複数のチャネル・プレートと前記複数のスライス・プレートは、前記第二の開口アレイ及び前記第三の開口アレイのそれぞれを画定する、請求項10に記載のコリメータ。 - 前記第一、前記第二及び前記第三の開口アレイの各々は、二次元開口アレイを含み、前記第一の開口アレイの前記アスペクト比は、前記第二及び前記第三の開口アレイの前記アスペクト比よりも大きい、請求項10又は11に記載のコリメータ。
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WO2018030929A1 (en) * | 2016-08-11 | 2018-02-15 | Prismatic Sensors Ab | X-ray detector with lower dose efficiency in peripheral parts |
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DE102017202312B4 (de) * | 2017-02-14 | 2018-10-04 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Röntgen-Streustrahlenrasters |
US10631815B2 (en) | 2017-05-10 | 2020-04-28 | General Electric Company | Scatter correction technique for use with a radiation detector |
US11197643B2 (en) | 2018-03-16 | 2021-12-14 | Mobius Imaging, Llc | Medical x-ray imaging systems and methods |
US11944476B2 (en) | 2021-04-22 | 2024-04-02 | MinFound Medical Systems Co., Ltd. | Apparatus and method of assembly of module for a CT detector |
EP4246536A1 (en) * | 2022-03-17 | 2023-09-20 | Malvern Panalytical B.V. | A parallel plate x-ray collimator having a variable acceptance angle and an x-ray analysis apparatus |
Family Cites Families (17)
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JP4149110B2 (ja) * | 1999-03-19 | 2008-09-10 | 富士フイルム株式会社 | 散乱線除去グリッド |
JP2001174563A (ja) * | 1999-12-15 | 2001-06-29 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | X線検出器およびx線ct装置 |
JP4476471B2 (ja) * | 2000-11-27 | 2010-06-09 | 株式会社東芝 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
US20030029715A1 (en) * | 2001-07-25 | 2003-02-13 | Applied Materials, Inc. | An Apparatus For Annealing Substrates In Physical Vapor Deposition Systems |
JP2003207575A (ja) * | 2002-01-17 | 2003-07-25 | Toshiba Corp | コリメータ、x線検出装置およびx線ct装置 |
AU2002329029A1 (en) * | 2002-09-04 | 2004-03-29 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Anti-scattering x-ray shielding for ct scanners |
DE602004027358D1 (de) * | 2003-03-13 | 2010-07-08 | Philips Intellectual Property | Computertomographisches bildgebungssystem |
WO2005006986A1 (en) | 2003-07-22 | 2005-01-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Radiation mask for two dimensional ct detector |
US7149284B2 (en) | 2003-11-13 | 2006-12-12 | General Electric Company | Segmented collimator assembly |
US7366279B2 (en) * | 2004-07-29 | 2008-04-29 | General Electric Company | Scatter control system and method for computed tomography |
WO2008023431A1 (fr) * | 2006-08-25 | 2008-02-28 | Shimadzu Corporation | Grille et son procédé de fabrication |
US20080101542A1 (en) | 2006-10-19 | 2008-05-01 | Abdelaziz Ikhlef | Collimator Methods and Apparatus |
US20080165922A1 (en) * | 2007-01-09 | 2008-07-10 | Brian David Yanoff | Laminated ct collimator and method of making same |
JP5361486B2 (ja) * | 2009-03-24 | 2013-12-04 | 株式会社東芝 | 放射線検出器及びx線ct装置 |
JP5610461B2 (ja) * | 2009-10-23 | 2014-10-22 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | コリメータモジュール、x線検出器及びx線ct装置 |
US8831180B2 (en) * | 2011-08-04 | 2014-09-09 | General Electric Company | Apparatus for scatter reduction for CT imaging and method of fabricating same |
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