JPH1194947A - Ｘ線検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検出器列を複数有するＸ線検出器のエッジ部
分の感度の向上を図り、高画質な薄いスライス厚の断層
像を得ることを可能とする。 【解決手段】 隣接する検出器列３、４を所定の角度を
持って突き合わせるようにし、Ｘ線管１から曝射された
Ｘ線を検出面に対して斜めに取り込むようにＸ線検出器
を構成する。これにより、各検出器列３、４の検出面で
Ｘ線管１から曝射されたＸ線を垂直に取り込むようにし
たときよりも、蛍光体１２、１７を透過するＸ線の透過
距離を長くすることができる。このため、感度の鈍る各
検出器列３、４のエッジ部分の蛍光体１２、１７の発光
量を多くすることができるうえ、フォトダイオード１
１、１６のアクティブエリア１１ａ、１１ｂの感度のよ
い中央領域に近い部分でＸ線の検出を行うことができ
る。従って、Ｘ線検出器のエッジ部分の感度の向上を図
り、高画質な薄いスライス厚の断層像を得ることができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばＸ線ＣＴ装
置やＸ線診断装置等のＸ線検出部として設けて好適なＸ
線検出装置に関し、特に複数の検出器列を有するＸ線検
出器のエッジ部分の感度の向上等を図ったＸ線検出装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】現在、医用機器として画像診断に用いら
れているＸ線コンピュータ断層撮影装置（Ｘ線ＣＴ装
置）としては、図９（ａ）に示すようなシングルスライ
ス用のＸ線ＣＴ装置（シングルスライスＣＴ装置）が主
流となっている。このシングルスライスＣＴ装置は、Ｘ
線管１００から被検体に対してＸ線を曝射することによ
り形成されたＸ線を、複数チャンネル分のＸ線検出素子
１０１ｎ〜１０１ｎ＋ｉ（ｎは１、ｉは任意の整数）を
被検体の体軸方向（架台の回転軸方向＝スライス方向）
に直交する方向であるチャンネル方向に一列に並設して
なる検出器列を有するＸ線検出器１０１で取り込むよう
になっている。

【０００３】一般的に、このＸ線検出器１０１を構成す
る各Ｘ線検出素子１０１ｎ〜１０１ｎ＋ｉは、図９
（ｂ）に示すようにフォトダイオード１１０、蛍光体１
１１及び遮蔽板１１２を順次積層して構成されており、
Ｘ線の取り込みを行う際には、遮蔽板１１２が、Ｘ線源
から発生した直接検出器に入るＸ線のみを取り込むよ
う、散乱線を吸収する。蛍光体１１１は、この遮蔽板１
１２を介して取り込まれたＸ線の線量に応じた光を形成
する（Ｘ線量に応じて発光する）。

【０００４】フォトダイオード上には、図９（ｂ）中斜
線で示すように蛍光体１１１に覆われるかたちでアクテ
ィブエリア１１０ａが設けられており、このアクティブ
エリア１１０ａにより、蛍光体１１１が発光することで
形成されたＸ線に応じた光を電気信号に変換し、これを
画像再構成部等を介してモニタ装置等に供給する。これ
により、被検体の所望の部位の断層像をモニタ表示する
ことができ、医師等は、このモニタ表示された断層像に
基づいて、診断、治療計画等を立てることとなる。

【０００５】一方、近年において、前記検出器列をスラ
イス方向に沿って複数列設けることにより、一度に複数
列分の断層像を得られるようにしたＸ線検出器を有する
Ｘ線ＣＴ装置（マルチスライスＣＴ装置）が提案されて
いる。

【０００６】このマルチスライスＣＴ装置と呼ばれるＸ
線ＣＴ装置のうち、２列の検出器列を有するＸ線検出器
が設けられたＸ線ＣＴ装置は、デュアルスライスＣＴ装
置と呼ばれ、図１０に示すように構成されている。

【０００７】すなわち、このデュアルスライスＣＴ装置
は、Ｘ線管１２０から被検体にＸ線が曝射されることで
形成されたＸ線を、スライス方向に沿って２列分設けら
れた検出器列１２２、１２３でそれぞれ取り込むＸ線検
出器１２１を有している。各検出器列１２２、１２３
は、それぞれチャンネル方向に沿って一列に並設された
複数のＸ線検出素子１２２ｎ〜１２２ｎ＋ｉ、１２３ｎ
〜１２３ｎ＋ｉで形成されている。

【０００８】このデュアルスライスＣＴ装置用のＸ線検
出器１２１としては、各検出器列１２２、１２３が分離
された状態で設けられている「分離型」と、各検出器列
１２２、１２３が一体的に接続された状態で設けられて
いる「一体型」とが考えられる。

【０００９】例えば、分離型のＸ線検出器１２１は、図
１１（ａ）、（ｂ）に示すようにフォトダイオード１３
０、蛍光体１３１及び遮蔽板１３２が順次積層されてな
る検出器列１２２と、同様にフォトダイオード１４０、
蛍光体１４１及び遮蔽板１４２が順次積層されてなる検
出器列１２３とを並設することで構成されている。な
お、動作としては、各検出器列１２２、１２３とも、前
述のＸ線検出器１０１と同様であり、各遮蔽板１３２、
１４２を介して取り込まれたＸ線を各蛍光体１３１、１
４１が光に変換し、この光を各フォトダイオード１３
０、１４０の各アクティブエリア１３０ａ、１４０ａで
電気信号に変換するようになっている。

【００１０】例えば、一体型のＸ線検出器１２１は、図
１２（ａ）、（ｂ）に示すように一体型のフォトダイオ
ード１５０、蛍光体１５１及び遮蔽板１５２が順次積層
されてなる検出器列１２２と、同様に蛍光体１６１及び
遮蔽板１６２が順次積層されてなる検出器列１２３とを
接続部１６５を介して互いに接続することで両者を一体
的に構成している。この一体型のＸ線検出器１２１の各
検出器列１２２、１２３の動作も前述のＸ線検出器１０
１と同様であり、各遮蔽板１５２、１６２を介して取り
込まれたＸ線を各蛍光体１５１、１６１が光に変換し、
この光をフォトダイオード１５０の各アクティブエリア
１５０ａ、１５０ｂで電気信号に変換するようになって
いる。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】ここで、このようなデ
ュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出器１２１で問題とな
るのが、各検出器列のスライス中心面付近にあたるエッ
ジ部分の感度である。

【００１２】すなわち、フォトダイオードの出力は、図
１３（ａ）に示すように蛍光体が積層されていない状態
では、アクティブエリアの中心部分の出力レベルを１０
０％とした場合に、アクティブエリアのエッジ部分及び
このエッジ部分から中心方向へ所定分、中に入った部分
では、出力レベルに数％の落ち込みが見られるのである
が、全体的には、略々１００％の出力レベルとなる。

【００１３】これに対して、フォトダイオード上に蛍光
体を積層すると、フォトダイオードの出力は、図１３
（ｂ）に示すようにアクティブエリアのエッジ部分での
出力レベルの落ち込みが大きくなる。

【００１４】このため、シングルスライスＣＴ装置の場
合は、図１３（ｂ）に示すようにアクティブエリアの中
心部分から得られた出力のみを用いて断層像の再構成を
行うのであるが、デュアルスライスＣＴ装置により、例
えば１ｍｍ、２ｍｍ等の薄いスライス厚の断層像を得よ
うとした場合は、図１４に示すように前記出力レベルの
落ち込みを生じているエッジ部分の出力を用いる必要が
ある。

【００１５】従って、デュアルスライスＣＴ装置等のマ
ルチスライスＣＴ装置では、前記エッジ部分の出力を用
いる薄いスライス厚の断層像を得ようとした場合に、高
画質の断層像を得ることができない問題があった。

【００１６】なお、薄いスライス厚の断層像を得る場合
にＸ線曝射条件を変更し、厚いスライス厚の断層像を得
るときよりも高い管電圧でＸ線管を駆動して多量のＸ線
を曝射することで、高画質の断層像を得ることができる
が、これは、被検体に対する被曝量低減の観点から安全
上好ましいことではない。

【００１７】本発明は、上述の課題に鑑みてなされたも
のであり、複数の検出器列のエッジ部分の感度の向上を
図り、通常のＸ線曝射条件でも高画質の薄いスライス厚
の断層像を得ることができるようなＸ線検出装置の提供
を目的とする。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本発明に係るＸ線検出装
置は、Ｘ線の取り込みを行う検出器列を、例えば２列を
有する、いわゆるデュアルスライス用のＸ線検出装置、
或いは３列以上の検出器列を有する、いわゆるマルチス
ライス用のＸ線検出装置に適用される技術的思想であ
り、所定の検出器列に、検出面に対して垂直となるＸ線
の入射角に対して所定の傾き角を持たせることで、Ｘ線
を斜めに取り込むようにしたことを特徴とする構成とな
っている。

【００１９】このような構成とすることで、前記Ｘ線を
垂直に取り込む際のＸ線の透過距離よりも、当該Ｘ線を
斜めに取り込む際のＸ線の透過距離を長くすることがで
き、感度の向上を図ることができる。従って、薄いスラ
イス厚の断層像であっても、Ｘ線の曝射量を多くするこ
となく明瞭に撮影することができ、これを通じて被検体
の被曝低減を図ることができる。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係るＸ線検出装置
の好ましい実施の形態について図面を参照しながら詳細
に説明する。

【００２１】まず、本発明に係るＸ線検出装置は、２列
の検出器列のＸ線検出器を有するＸ線検出装置である、
いわゆるデュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出器に適用
することができる。図１は、この第１の実施の形態のデ
ュアルスライスＣＴ装置の撮影系の要部を示したもので
ある。

【００２２】この図１において、デュアルスライスＣＴ
装置の撮影系は、寝台に載置された被検体に対してＸ線
を曝射するＸ線管１と、デュアルスライス用のＸ線検出
器２とを有している。このＸ線管１及びＸ線検出器２
は、ガントリの内周に相対向するように設けられてお
り、この相対関係を保持したままガントリの内周に沿っ
て回転するようになっている。そして、回転軸に沿って
載置された被検体の所望の部位にＸ線管１からＸ線を曝
射し、これにより形成されたＸ線をＸ線検出器２で取り
込むことで撮影を行うようになっている。

【００２３】Ｘ線検出器２は、被検体の体軸方向（＝回
転軸方向）であるスライス方向に直交する方向であるチ
ャンネル方向に複数の検出素子３ｎ〜３ｎ＋ｉ（ｎは
１、ｉは任意の整数）を一列に並設して形成した第１、
第２の検出器列３、４を、前記スライス方向に並設する
ことで構成されている。このＸ線検出器２をチャンネル
方向に沿って見ると図２（ａ）の側面図に示すように、
また、チャンネル方向或いはスライス方向に垂直な方向
から見ると同図（ｂ）の上面図に示すようになってい
る。

【００２４】この図２（ａ）において、第１の検出器列
３は、傾き角が例えば４５度に形成された台座１０の傾
斜面１０ａに沿って、フォトダイオード１１、蛍光体１
２及びコリメータ１３を順に積層することで形成されて
いる。同様に、第２の検出器列４も、傾き角が例えば４
５度に形成された台座１５の傾斜面１５ａに沿って、フ
ォトダイオード１６、蛍光体１７及びコリメータ１８を
順に積層することで形成されている。

【００２５】各台座１０、１５は、各傾斜面１０ａ、１
５ａの１辺同士が突き合わされるかたちで設けられてお
り、これらに積層されたフォトダイオード１１、１６、
蛍光体１２、１７、及びコリメータ１３、１８も同様に
各端部が突き合わされるかたちで設けられている。従っ
て、この台座１０、１５に積層された各フォトダイオー
ド１１、１６、蛍光体１２、１７、及びコリメータ１
３、１８も例えば４５度の傾き角を持って設けられてい
ることとなる。

【００２６】各フォトダイオード１１、１６、蛍光体１
２、１７、及びコリメータ１３、１８の突き合わせ面に
は、各検出器列３、４の遮蔽板２０及び例えば拡散反射
板となっている反射板１４、１９が設けられている。遮
蔽板２０としては、例えば各検出器列３、４の傾き角及
びスライス方向の幅等に基づいて所定の計算により求め
た高さを有するものが設けられている。

【００２７】ここで、この実施の形態においては、各フ
ォトダイオード１１、１６、蛍光体１２、１７、及びコ
リメータ１３、１８の傾き角は、例えば４５度であるこ
ととしたが、この傾き角は、蛍光体１２、１７の厚み、
及び前記遮蔽板２０から蛍光体１２、１７の中心までの
長さに基づいて決定されるようになっている。

【００２８】すなわち、図４に示すように蛍光体の厚み
を「ｔ」、遮蔽板２０から蛍光体１２、１７の中心まで
の長さを「ｌ（エル）」とすると、傾き角「ｔａｎθ」
は、「ｔａｎθ＝ｔ／ｌ」の演算式に基づいて算出さ
れ、蛍光体１２、１７等は、この算出された傾き角とな
るように前記台座１０、１５上に積層される。

【００２９】なお、この傾き角は、各蛍光体１２、１７
及び各フォトダイオード１１、１６を接着して固定する
場合は、その接着部材の屈折率も考慮して決定される。
また、Ｘ線焦点からの距離により単位面積あたりのＸ線
の束（密度）が決まるため、その面積との関係からエッ
ジ部の出力を向上させるように最適な傾き角が決定され
る。

【００３０】次に、このように所定の傾き角を有するよ
うに設けられる各検出器列３、４は、ガントリの内周に
沿った円滑な回転移動を可能とするために、前記チャン
ネル方向に沿って円弧状となるように各検出素子３ｎ〜
３ｎ＋ｉ、４ｎ〜４ｎ＋ｉを並設する必要がある。この
ため、各検出器列３、４は、図２（ｂ）に示すように前
記遮蔽板２０側（内側）が、反接続部側（外側）よりも
広くなっている。Ｘ線検出器の感度は、Ｘ線の取り込み
範囲（いわゆる検出窓）が広ければ広い程、良好なもの
となるのであるが、当該Ｘ線検出器２は、各検出器列
３、４に所定の傾き角を持たせている結果、全体形状を
前記円弧状に形成しようとすると、結果的に外側よりも
内側のＸ線の取り込み範囲が広がるようになり、後に説
明する遮蔽板２０近傍の感度であるエッジ部分の感度向
上の一役を担うようになっている。

【００３１】次に、このような構成を有する当該第１の
実施の形態のデュアルスライスＣＴ装置の動作説明をす
る。

【００３２】このデュアルスライスＣＴ装置は、撮影の
位置決め等に用いられるスキャノグラム像を撮影する際
には、寝台を所定の速度で移動しながら寝台に載置され
た被検体の上側にＸ線管１を固定すると共に、被検体の
下側にＸ線検出器２を固定し、いわゆるオーバーチュー
ブのかたちで少線量のＸ線の曝射を行い、これによるＸ
線であるスキャノグラム像の収集を行う。また、このス
キャノグラム像等に基づいて行われる所望の部位の撮影
の際には、Ｘ線管１及びＸ線検出器２を回転制御しなが
ら（いわゆるヘリカルスキャンを行う際には、この回転
制御に寝台の速度移動が加わる。）Ｘ線の曝射を行い、
これによるＸ線の取り込みを行う。

【００３３】具体的には、図２に示すようにＸ線の曝射
により形成されたＸ線は、図２に示す各検出器列３、４
のコリメータ１３、１８に入射される。コリメータ１
３、１８は、各検出器列３、４への散乱線の入射を防止
する。このＸ線は、次に蛍光体１２、１７に入射され
る。この蛍光体１２、１７は、入射されたＸ線に応じた
光を形成する。

【００３４】フォトダイオード１１、１６上には、アク
ティブエリア１１ａ、１６ａが形成されており、このア
クティブエリア１１ａ、１６ａにより、蛍光体１２、１
７が発光することで形成された光の光量に応じたレベル
の電気信号を形成して出力する（光−電流変換）。

【００３５】この電気信号は、Ｉ−Ｖ変換回路により電
流から電圧のかたちに変換され、信号収集部に供給され
る。そして、プリアンプ回路で所定の利得で増幅され、
アナログ−デジタル変換処理により収集データとして画
像再構成部に供給される。画像再構成部は、この収集デ
ータに基づいて画像再構成を行うことで、被検体の所望
の部位の断層像を形成し、これをモニタ装置等に供給す
る。これにより、Ｘ線検出器２で検出されたＸ線に応じ
た断層像をモニタ表示等することができる。

【００３６】ここで、通常、各検出器列は、図３中点線
で示すようにＸ線管から曝射されたＸ線を垂直に取り込
むように設けられるのであるが、前述のように当該Ｘ線
検出器２の各検出器列３、４は、同図中実線で示すよう
に所定の角度を持ってＸ線を取り込むように設けられて
いる。

【００３７】すなわち、この所定の角度を設けたときの
各蛍光体１２、１７を透過するＸ線の透過長を「ｔ１」
とし、前記通常時において蛍光体を透過するＸ線の透過
長を「ｔ２」とすると「ｔ１＞ｔ２」となり、所定の角
度を設けたときの各蛍光体１２、１７を透過するＸ線の
透過長の方が、前記通常時のＸ線の透過長よりも長くな
る。

【００３８】これは、各蛍光体１２、１７の前記垂直方
向の厚みである実際の厚みよりも厚い蛍光体でＸ線の検
出を行うことを意味する。言い換えれば、通常の厚みの
蛍光体を用いながらにして、これよりも厚さの厚い蛍光
体でＸ線の検出を行ったときと同等の感度が得られるこ
とを意味する。また、各蛍光体１２、１７の前記遮蔽板
２０の近傍のエッジ部分を考えると、このエッジ部分か
らより離れた位置までＸ線が入射し、発光分布（感度分
布）としてはより均一な感度を有する入射位置まで使用
できることを意味する。

【００３９】一方、当該Ｘ線検出器は、この各蛍光体１
２、１７により発光された光の検出を行うフォトダイオ
ード１１、１６にも、各蛍光体１２、１７に設けられた
傾き角と同じ傾き角が設けられている。図３の各反射板
１４、１９近傍であるエッジ部分に注目すると、各蛍光
体１２、１７のエッジ部分で形成された光は、各フォト
ダイオード１１、１６上に各蛍光体１２、１７が積層さ
れた構造上、各フォトダイオード１１、１６のアクティ
ブエリア１１ａ、１６ａのエッジ部分ではなく、このエ
ッジ部分から中央寄りの感度が良好な部分で検出される
ようになる。

【００４０】このようなことから、当該Ｘ線ＣＴ装置
は、前記角度を持たせた構成により、蛍光体１２、１７
のエッジ部分での光の発光量を多くすることができるう
え、この多い発光量の光を、図５に示すように各フォト
ダイオード１１、１６のアクティブエリア１１ａ、１６
ａのエッジ部分から離れた中央寄りの部分で検出するこ
とができる。しかも、図２（ｂ）を用いて説明したよう
に検出器外側の検出窓よりも、前記エッジ部分近傍の検
出器内側の検出窓の方が広い構成となっている。このた
め、エッジ部分での感度を良好なものとすることがで
き、厚いスライス厚の断層像は勿論のこと、前記エッジ
部分を用いて撮影を行う、例えば１ｍｍ、２ｍｍ等の薄
いスライス厚の断層像でも明瞭な画像を得ることができ
る。

【００４１】また、通常の線量のＸ線で、この薄いスラ
イス厚の明瞭な断層像を得ることができるため、薄いス
ライス厚の明瞭な断層像を得るために線量の多いＸ線の
曝射を行う不都合を防止することができ、被検体の被曝
低減を通じて当該Ｘ線検出器２が設けられた当該デュア
ルスライスＣＴ装置の安全性の向上を図ることができ
る。

【００４２】次に、本発明に係るＸ線検出装置の第２の
実施の形態の説明をする。

【００４３】上述の第１の実施の形態は、各検出器列
３、４の傾き角を蛍光体の厚み等に応じて固定するもの
であったが、この第２の実施の形態では、各検出器列
３、４の傾き角をスライス厚に応じて可変制御するよう
にしたものである。なお、この第２の実施の形態は、こ
の点のみが上述の第１の実施の形態と異なるものである
ため、以下、この差異の説明のみ行い重複説明を省略す
ることとする。

【００４４】すなわち、この第２の実施の形態のデュア
ルスライスＣＴ装置に設けられているＸ線検出器２は、
例えば１ｍｍ〜１０ｍｍのスライス厚の断層像の撮影が
可能であるとすると、この中間の５ｍｍのスライス厚を
基準として蛍光体１２、１７の厚みが決定されている。

【００４５】また、各検出器列３、４は、操作者により
指定されたスライス厚に応じて傾き角が可変制御される
ようになっており、そのために当該デュアルスライスＣ
Ｔ装置は、図６に示すように操作者が所望のスライス厚
の入力を行うための操作部５６と、この入力されたスラ
イス厚を検出するスライス厚検出部５７と、スライス厚
に応じた傾き角に各検出器列３、４を制御するための角
度制御データが記憶された角度メモリ５８と、入力され
たスライス厚に応じて角度メモリ５８から角度制御デー
タを読み出し、これに基づいて各検出器列３、４の傾き
角を制御する駆動制御部５９と、各検出器列３、４の傾
き角制御機構とが設けられた構成となっている。

【００４６】このようなデュアルスライスＣＴ装置は、
操作者が操作部５６を操作することにより所望のスライ
ス厚を指定すると、スライス厚検出部５７がこれを検出
し、駆動制御部５９に指定されたスライス厚を示すスラ
イス厚指定データを供給する。

【００４７】角度メモリ５８には、５ｍｍのスライス厚
を基準としてその厚みが設定された蛍光体１２、１７に
対応する、各スライス厚に応じた各検出器列３、４の傾
き角を示す角度制御データがそれぞれ記憶されている。
駆動制御部５９は、スライス厚指定データで示されるス
ライス厚に対応する角度制御データを角度メモリ５８か
ら読み出し、この角度制御データに基づいて、図６に示
すようにＸ線管１の焦点からＸ線検出器２の外側までの
焦点距離Ａと、Ｘ線管１の焦点からＸ線検出器２の内側
（前記遮蔽板２０）までの焦点距離Ｂとが同じ距離とな
るように（Ａ＝Ｂ）、前記傾き角制御機構を介して各検
出器列３、４の傾き角を制御する。すなわち、Ｘ線管１
の焦点を頂点とし、前記焦点距離Ａ及び焦点距離Ｂで２
等辺三角形を形成するように各検出器列３、４の傾き角
を制御する。

【００４８】これにより、スライス厚に応じて、各検出
器列３、４の常に最適な傾き角で撮影等を行うことがで
き、良好な断層像を得ることができる他、上述の第１の
実施の形態のデュアルスライスＣＴ装置と同じ効果を得
ることができる。

【００４９】次に、本発明に係るＸ線検出装置の第３の
実施の形態の説明をする。

【００５０】上述の第１、第２の実施の形態は、本発明
に係るＸ線検出装置をデュアルスライスＣＴ装置のＸ線
検出器に適用したものであったが、この第２の実施の形
態は、本発明に係るＸ線検出装置を、例えばＸ線診断装
置等に用いられる固体検出器に適用したものである。

【００５１】通常、固体平面検出器は、図７に示すよう
に複数の半導体Ｘ線検出素子を２次元的に配列して設け
ることにより平面的に構成されている。内部構造は、上
述の各Ｘ線検出素子３ｎ等と同様に、光等を反射してＸ
線のみの取り込みを行う反射部材と、この取り込んだＸ
線に応じて発光するＸ線−光変換部材と、光を電気信号
に変換する光−電変換手段とで構成されている。

【００５２】ここで、このような固体平面検出器４１
は、複数の半導体Ｘ線検出素子を２次元的に配列して構
成されているため、図７に示すようにＸ線管４０の焦点
から固体平面検出器４１の中央部までの距離（焦点距離
Ａ）よりも、該焦点から固体平面検出器４１の端部まで
の距離（焦点距離Ｂ）の方が長くなり、端部分近傍に相
当する表示画像にぼけを生ずる問題がある。

【００５３】このため、当該第３の実施の形態のＸ線検
出器は、図８（ａ）に示すように全体的な形状がいわば
お椀型となっており、当該固体検出器８０の中心部分か
ら外周部分にかけて、迫り上がるかたちで傾き角が設け
られている。この傾き角は、図８（ｂ）に示すようにＸ
線管８１の焦点から当該固体検出器８０の中心部分まで
の焦点距離Ａと、Ｘ線管８１の焦点から当該固体検出器
８０の外周部分までの焦点距離Ｂとが同じ焦点距離（Ａ
＝Ｂ）となる角度に設定されている。また、その内面に
は、当該固体検出器８０の中心部を中心として隙間無く
放射状に配されるように複数のＸ線検出素子が設けられ
ている。

【００５４】これにより、図８（ｂ）に示すように前記
焦点距離Ａと焦点距離Ｂとを同じとすることができ（Ａ
＝Ｂ）、検出器の端部分近傍に相当する表示画像にぼけ
を生ずる不都合を防止することができ、端部分まで明瞭
な表示画像を提供することを可能とすることができる。

【００５５】最後に、上述の第１、第２の実施の形態の
説明では、本発明に係るＸ線検出装置をデュアルスライ
スＣＴ装置のＸ線検出器に適用することとしたが、当該
Ｘ線検出装置は、３列以上の検出器列を有するマルチス
ライスＣＴ装置用のＸ線検出器に適用するようにしても
よい。この場合は、例えば４列、６列、８列・・・等の
ように偶数の検出器列を有するＸ線検出器に適用するこ
とが好ましく、例えば４列の検出器列を有するＸ線検出
装置に適用した場合には、１列目、２列目を図１に示し
たように断面Ｖの字上となるように所定の傾き角を有す
るように設けると共に、同様に３列目、４列目を所定の
傾き角を有するように設ければよい。また、必ずしも偶
数の検出器列を有するＸ線検出器でなくとも、例えば３
列の検出器列を有するＸ線検出器に適用してもよく、こ
の場合は、例えば１列目、２列目（或いは２列目、３列
目）にのみ所定の角度をつけて設けるようにすればよ
い。

【００５６】さらに、上述の各実施の形態では、本発明
を、半導体で形成されたＸ線検出器に適用することとし
たが、これは、いわゆるゼノン検出器等に適用してもよ
く、この他、本発明に係る技術的思想を逸脱しない範囲
であれば設計等に応じて種々の変更が可能であることは
勿論である。

【００５７】

【発明の効果】本発明に係るＸ線検出装置は、複数の検
出器列のエッジ部分の感度の向上を図ることができる。
このため、通常のＸ線曝射条件でも高画質の薄いスライ
ス厚の断層像を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るＸ線検出装置を適用した第１の実
施の形態のデュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出器の斜
視図である。

【図２】前記Ｘ線検出器の側面図及び上面図である。

【図３】前記Ｘ線検出器の接続部を説明するための図で
ある。

【図４】前記Ｘ線検出器の設置角度と蛍光体の厚みとの
関係を説明するための図である。

【図５】前記Ｘ線検出器において、薄いスライス厚の断
層像を得る場合に用いられるフォトダイオードの出力領
域を示す図である。

【図６】本発明に係るＸ線検出装置を適用した第２の実
施の形態のデュアルスライスＣＴ装置を示す図である。

【図７】固体平面検出器の中央部分と周辺部分とで、Ｘ
線管焦点からの距離が異なることによる生ずる不都合を
説明するための図である。

【図８】本発明に係るＸ線検出装置を適用した第３の実
施の形態の固体検出器を説明するための図である。

【図９】従来のシングルスライスＣＴ装置のＸ線検出器
の斜視図である。

【図１０】従来のデュアルスライスＣＴ装置のＸ線検出
器の斜視図である。

【図１１】前記デュアルスライスＣＴ装置に設けられて
いる分離型のＸ線検出器の側面図及び上面図である。

【図１２】前記デュアルスライスＣＴ装置に設けられて
いる一体型のＸ線検出器の側面図及び上面図である。

【図１３】蛍光体が積層されていない状態及び蛍光体が
積層された状態でのフォトダイオードの出力の違いを説
明するための図である。

【図１４】従来のデュアルスライスＣＴ装置で、薄いス
ライス厚の断層像を得る場合に用いられるフォトダイオ
ードの出力領域を示す図である。

【符号の説明】

１…Ｘ線管、２…デュアルスライス用のＸ線検出器、１
０，１５…台座 ３，４…第１，第２の検出器列、１２，１７…蛍光体 ３ｎ〜３ｎ＋ｉ，４ｎ〜４ｎ＋ｉ…Ｘ線検出素子、１５
…接続部 １１，１６…フォトダイオード、１１ａ，１６ａ…アク
ティブエリア １３，１８…コリメータ、１４，１９…反射板、２０…
遮蔽板

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 Ｘ線の取り込みを行う複数の検出器列を
   有するＸ線検出装置であって、 所定の検出器列に、検出面に対して垂直となるＸ線の入
   射角に対して所定の傾き角を持たせることで、Ｘ線を斜
   めに取り込むようにしたことを特徴とするＸ線検出装
   置。
2. 【請求項２】 前記傾き角の設けられた検出器列を構成
   する各Ｘ線検出素子は、外側のスライス方向端部の検出
   領域よりも内側のスライス方向端部の検出領域の方が広
   くなっていることを特徴とする請求項１記載のＸ線検出
   装置。
3. 【請求項３】 前記傾き角の設けられた検出器列同士が
   隣接する部分には、取り込まれたＸ線の他の検出器列へ
   の入射を防止する遮蔽板が設けられていることを特徴と
   する請求項１又は請求項２記載のＸ線検出装置。
4. 【請求項４】 前記遮蔽板には、放射線を受け蛍光体が
   発した光を拡散反射する拡散反射部材にて形成された反
   射板を設けたことを特徴とする請求項３記載のＸ線検出
   装置。
5. 【請求項５】 前記遮蔽板には、遮蔽板同士が相対向す
   る面の少なくとも一方の面に放射線を遮蔽するための遮
   蔽処理が施されていることを特徴とする請求項３又は請
   求項４記載のＸ線検出装置。
6. 【請求項６】 前記各検出器列を構成する各Ｘ線検出素
   子は、 Ｘ線の散乱線を吸収してＸ線源から発生した直接検出器
   に入るＸ線のみの取り込みを行うための遮蔽材と、前記
   遮蔽材の間を介して取り込まれたＸ線の線量に応じた光
   を形成する蛍光体と、前記蛍光体により形成された光を
   電気信号に変換する光−電変換手段とを有し、 前記検出器列は、各Ｘ線検出素子の蛍光体の厚みに応じ
   た傾き角を有するように調整されていることを特徴とす
   る請求項１乃至請求項５のうちいずれか１項記載のＸ線
   検出装置。
7. 【請求項７】 前記検出器列の傾き角を可変制御する傾
   き角可変機構と、 指定された断層像のスライス厚に応じて、前記傾き角可
   変機構を介して各検出器列の傾き角を制御する傾き角制
   御手段とを有することを特徴とする請求項１乃至請求項
   ６のうちいずれか１項記載のＸ線検出装置。
8. 【請求項８】 前記傾き角制御手段は、Ｘ線発生手段の
   焦点を頂点とし、この頂点から当該Ｘ線ＣＴ装置の中心
   位置までの焦点距離と、該焦点から当該Ｘ線ＣＴ装置の
   端部までの焦点距離とが同じとなるように、前記傾き角
   を制御することを特徴とする請求項７記載のＸ線検出装
   置。
9. 【請求項９】 前記検出器列は、少なくとも２列分設け
   られていることを特徴とする請求項１乃至請求項８のう
   ちいずれか１項記載のＸ線検出装置。