JP2003207451A - 蛍光観察用装置 - Google Patents

蛍光観察用装置

Info

Publication number
JP2003207451A
JP2003207451A JP2002004141A JP2002004141A JP2003207451A JP 2003207451 A JP2003207451 A JP 2003207451A JP 2002004141 A JP2002004141 A JP 2002004141A JP 2002004141 A JP2002004141 A JP 2002004141A JP 2003207451 A JP2003207451 A JP 2003207451A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
filter
excitation
wavelength
fluorescence
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002004141A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3822498B2 (ja
Inventor
Takeshi Kawamata
健 川俣
Yorio Wada
順雄 和田
Nobuyoshi Toyohara
延好 豊原
Takeshi Deguchi
武司 出口
Kunihiko Uzawa
邦彦 鵜澤
Seiji Sakamoto
静児 坂元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP2002004141A priority Critical patent/JP3822498B2/ja
Publication of JP2003207451A publication Critical patent/JP2003207451A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3822498B2 publication Critical patent/JP3822498B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Endoscopes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 励起フィルター及び吸収フィルターを用いて
蛍光観察する場合において、微弱な蛍光を効率良く取り
出して観察を行う。 【解決手段】 蛍光観察装置は、照明光のうち特定の波
長の励起光のみを透過させる励起フィルターと、励起光
が標本に照明されることにより標本から発生した蛍光の
みを透過し励起光を遮る吸収フィルターとを有する。励
起フィルターの長波長側半値波長と前記吸収フィルター
の短波長側半値波長との間隔が6〜12nmの範囲にあ
り、湿度が10%〜95%まで変化したときの励起フィ
ルター及び吸収フィルターの半値波長の変化が0.5n
m以内であることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、顕微鏡や内視鏡等
に用いられる蛍光観察用装置に関する。
【0002】
【従来の技術】励起光を生体組織等の標本に照明し、標
本から発生した蛍光を用いて観察を行うことが従前より
行われている。この蛍光観察を行うため、照明光のうち
特定の波長の励起光のみを透過させる励起フィルター
と、励起光が標本に照明されることにより標本から発生
した蛍光のみを透過し励起光を遮る吸収フィルターとが
用いられている。
【0003】例えば、蛍光観察を行う内視鏡としては、
特開平10−239517号公報に記載されている。こ
の蛍光観察内視鏡装置は、励起フィルターにより460
nm以下の波長の光を透過させて生体に照射して蛍光を
発生させ、吸収フィルターでは480nm〜600nm
の波長の光を透過させることにより蛍光観察を行うもの
である。
【0004】一般に標本から発生する蛍光は微弱なもの
であり、蛍光のみを効率よく取り出すことが重要であ
り、このことは、励起フィルターや吸収フィルター等の
性能によって決定される。
【0005】図1は、蛍光観察に用いるため、標本への
励起光1の照射によって励起光1よりも長波長の蛍光2
が発生した関係を示している。この関係では、励起フィ
ルター3はできるだけ多くの励起光を透過させ、吸収フ
ィルター4は励起光を完全にカットし、且つ蛍光をでき
るかぎり多く透過させることが望ましい。このために
は、励起フィルター3の長波長側半値波長Aと吸収フィ
ルター4の短波長側半値波長Bとの間隔Cができるだけ
狭く、且つ重なりがないことが必要となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、フィル
ターの性能が悪いため、蛍光を効率良く取り出すことが
できないものとなっている。このため、励起フィルター
3の長波長側半値波長Aと吸収フィルター4の短波長側
半値波長Bとの間隔Cが約20nmの波長幅程度離れた
状態となっている。この20nmの間の光は、励起光と
しても蛍光としても利用されないため、無駄な領域とな
っている問題を有している。
【0007】本発明は、このような従来の問題点を考慮
してなされたものである。励起フィルター及び吸収フィ
ルターを用いた蛍光観察において、微弱な蛍光を効率良
く取り出すことが可能な蛍光観察用装置を提供すること
を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】励起フィルターの長波長
側半値波長と吸収フィルターの短波長側半値波長の間隔
が離れている理由は、(1)フィルターの分光特性の安
定性が十分でないこと及び(2)フィルターの製造上の
層数の限界があることに起因している。
【0009】理由(1)は、従来のフィルターが真空蒸
着法により形成されることから膜の密度が十分ではない
ため、周囲の湿度により多層膜中に水分を吸収したり放
出したりすることにより分光特性がシフトすることによ
る。これにより±5nm程度のシフトが考えられる。こ
のシフトがあっても、励起フィルターの長波長側半値波
長と吸収フィルターの短波長側半値波長とが重なり合っ
てはならないので、設計上、この間隔を広くとる必要が
ある。
【0010】理由(2)については、層数を多くするこ
とにより、励起フィルターの長波長側半値波長や吸収フ
ィルターの短波長側半値波長の分光透過特性の立ち上が
りを急峻にして、2つのフィルターの透過領域が重なり
合いにくくすることができる。しかし、従来から用いら
れている真空蒸着法では、製造誤差の問題や膜の密着性
の問題等があることにより、事実上、50層程度が限界
となっている。
【0011】本発明では、湿度が10%から95%まで
変化したときの励起フィルター及び蛍光フィルターの半
値波長の変化が0.5nm以内であるようなフィルター
を用いることにより、上述した理由(1)の原因を取り
除いている。成膜手法としては従来の真空蒸着法よりも
膜の密度が十分に高くなるイオンアシスト法、イオンプ
レーティング法、スパッタリング法等を用いることがで
きる。このことにより、励起フィルターの長波長側半値
波長と吸収フィルターの短波長側半値波長の間隔を6〜
12nmと狭くしても、フィルターの分光特性がほとん
どシフトすることがなくなるため、2つのフィルターの
透過領域が重なり合うことがない。そして、この間隔を
従来よりも小さくしたので、微弱な蛍光を効率良く観察
することが可能となっている。
【0012】さらに、本発明では、励起フィルター及び
/または吸収フィルターを90層以上の多層膜としたこ
とにより、上述した理由(2)の原因を取り除いてい
る。このことにより、2つのフィルターの間隔を狭くし
ても、透過領域が重なり合うことがなくなる。このよう
なフィルターは、例えばSiOとTaからなる
多層膜により形成することができる。また、本発明は、
蛍光観察をする内視鏡や顕微鏡に適用可能である。
【0013】すなわち、請求項1の発明の蛍光観察用装
置は、照明光のうち特定の波長の励起光のみを透過させ
る励起フィルターと、励起光が標本に照明されることに
より標本から発生した蛍光のみを透過し励起光を遮る吸
収フィルターとを有する蛍光観察用装置であって、前記
励起フィルターの長波長側半値波長と前記吸収フィルタ
ーの短波長側半値波長との間隔が6〜12nmの範囲に
あり、湿度が10%〜95%まで変化したときの励起フ
ィルター及び吸収フィルターの半値波長の変化が0.5
nm以内であることを特徴とする。
【0014】請求項2の発明は、請求項1記載の蛍光観
察用装置であって、前記励起フィルター及び/または吸
収フィルターが90層以上の多層膜を含むことを特徴と
する。
【0015】請求項3の発明は、請求項1または2記載
の蛍光観察用装置であって、前記励起フィルター及び吸
収フィルターがSiOとTaからなる多層膜を
含むことを特徴とする。
【0016】請求項4の発明は、請求項1〜3のいずれ
かに記載の蛍光観察用装置であって、顕微鏡の光学系に
組み込まれることを特徴とする。
【0017】請求項5の発明は、請求項1〜3のいずれ
かに記載の蛍光観察用装置であって、内視鏡の光学系に
組み込まれることを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明を実施の形態によ
り、具体的に説明する。
【0019】(実施の形態1)この本実施の形態は、蛍
光観察を行うことのできる顕微鏡に対して適用するもの
である。
【0020】図2は、この実施の形態における顕微鏡の
光路を示し、励起フィルター12は光源11から発生し
た光の内、特定波長の光のみを選択的に透過させる。励
起フィルター12を透過した光は、ダイクロイックミラ
ー13により光路を曲げられて標本14に照射される。
この照射によって標本14から蛍光が発生する。吸収フ
ィルター15は標本14から発生した蛍光のみを選択的
に透過させる。この蛍光は接眼レンズ17を透過した
後、観察側で観察される。
【0021】図3は、この顕微鏡で使用している励起フ
ィルター12、ダイクロイックミラー13、吸収フィル
ター15の分光特性を示し、特性曲線Dが励起フィルタ
ー12、特性曲線Eがダイクロイックミラー13、特性
曲線Fが吸収フィルター15となっている。
【0022】励起フィルター12の長波長側半値波長は
493nm、吸収フィルター15の短波長側半値波長は
503nmであり、その間隔は10nmと非常に狭くな
っている。そのため、標本から蛍光を効率よく発生さ
せ、かつ効率よく観察することができる。
【0023】これらのフィルターの内、励起フィルター
12、吸収フィルター15は、図2では1枚のように書
いてあるが、実際には数枚のフィルターを組み合わせた
ものである。たとえば、励起フィルター12は、図4に
示すようなロングウェーブパス(LWP)フィルター
H、ショートウェーブパス(SWP)フィルターGの2
つの組み合わせを基本とし、さらに不要な紫外光や赤外
光をカットするフィルターから構成されている。このう
ち、蛍光観察性能に最も影響が大きいSWPフィルター
Gは、SiOとTaとを交互に積層した91層
構成であり、RF基板印加方式のイオンプレーティング
法により形成されている。LWPフィルターHも同様に
SiOとTaを交互に積層した54層構成であ
り、RF基板印加方式のイオンプレーティング法により
形成されている。紫外光や赤外光をカットするフィルタ
ーはSiOとTiOを交互に積層した構成であり、
真空蒸着法により形成されている。
【0024】吸収フィルター15も同様にLWPフィル
ター、SWPフィルター、赤外カットフィルター等で構
成されている。このうち、蛍光観察性能に最も影響の大
きいLWPフィルターは、SiOとTaを交互
に積層した115層構成であり、RF基板印加方式のイ
オンプレーティング法により形成されている。
【0025】RF基板印加方式のイオンプレーティング
法によって形成されたフィルターは、湿度が10%から
95%まで変化したときに半値波長の変化が0〜+0.
1nmであり、いずれも0.5nm以内となっている。
【0026】この顕微鏡を用いて生標本の蛍光観察を行
った。蛍光を極めて効率よく取出して観察することがで
きるため、照明光を弱めても十分に観察することができ
た。一方、従来の顕微鏡では、蛍光観察をするために照
明光を強めなければならないが、その影響で生標本が変
質して、生きたままの状態で観祭することができなかっ
た。
【0027】なお、励起フィルターの長波長側半値波長
と吸収フィルターの短波長側半値波長の間隔は10nm
であったが、フィルターの分光特性をシフトさせること
によって間隔を6〜12nmにしても、観察できる結果
に大きな差はなく、いずれも生標本が変質することな
く、生きたままの状態で観察することができた。
【0028】また、RF基板印加方式のイオンプレーテ
ィング法で形成したフィルターを、イオンアシスト法や
イオンビームスパッタリング法で形成したフィルターに
置換しても同様の結果が得られた。
【0029】(実施の形態2)この実施の形態は、蛍光
観察を行うことにより生体の疾患の有無等の診断を行う
医療用内視鏡へ適用するものである。内視鏡の光学系
は、特開平10−239517号公報に開示されている
ものと同様である。すなわち、光源及び光源からの照明
光を生体組織に導くライトガイドファイバによって照明
光学系を形成し、この照明光学系の光路内に、特定波長
の励起光のみを透過させる励起フィルターを挿入する一
方、生体組織から発生した蛍光が入射するライトガイド
及び観察を行う接眼レンズによって観察光学系を形成
し、この観察光学系の光路内に、蛍光のみを透過させる
吸収フィルターを挿入している。この内視鏡では、励起
フィルターを通過した励起光の照射によって生体組織か
ら蛍光を発生させ、この蛍光に基づいて生体組織の観察
を行う。
【0030】図5は、この実施の形態で使用するフィル
ターの分光特性を示し、特性曲線Jが励起フィルター、
特性曲線Kが吸収フィルターである。励起フィルターの
長波長側半値波長は486nm、吸収フィルターの短波
長側半値波長は498nmであり、その間隔は12nm
となっている。励起フィルターのSWPフィルターと吸
収フィルターのLWPフィルターは、イオンアシスト蒸
着法により形成したものであり、層数はそれぞれ78
層、99層となっている。湿度が10%から95%まで
変化したときの半値波長の変化はいずれも0.5nm以
内となっている。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
励起フィルターと吸収フィルターを用いた蛍光観察用装
置において、微弱な蛍光を効率よく取り出すことができ
る。従って、特に生標本を蛍光観察する場合に、生きた
ままの状態で変質させることなく観察することが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】励起フィルター及び吸収フィルターの特性図で
ある。
【図2】実施の形態1の顕微鏡の光路を示す正面図であ
る。
【図3】実施の形態1で用いたフィルターの分光特性図
である。
【図4】LWPフィルター及びSWPフィルターの分光
特性図である。
【図5】実施の形態2の内視鏡に用いた励起フィルター
及び吸収フィルターの分光特性図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // A61B 1/00 300 A61B 1/00 300D (72)発明者 豊原 延好 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 出口 武司 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 鵜澤 邦彦 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 坂元 静児 東京都渋谷区幡ヶ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内 Fターム(参考) 2G043 AA03 BA16 EA01 FA02 GA02 GA04 GB28 HA01 HA02 HA05 HA09 JA03 KA02 KA05 LA05 MA01 2H040 BA00 CA01 2H052 AA09 AB10 AB24 AC04 AC27 AD34 4C061 GG01 NN01 QQ04 RR04 RR14 WW17

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 照明光のうち特定の波長の励起光のみを
    透過させる励起フィルターと、励起光が標本に照明され
    ることにより標本から発生した蛍光のみを透過し励起光
    を遮る吸収フィルターとを有する蛍光観察用装置であっ
    て、 前記励起フィルターの長波長側半値波長と前記吸収フィ
    ルターの短波長側半値波長との間隔が6〜12nmの範
    囲にあり、湿度が10%〜95%まで変化したときの励
    起フィルター及び吸収フィルターの半値波長の変化が
    0.5nm以内であることを特徴とする蛍光観察用装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の蛍光観察用装置であっ
    て、前記励起フィルター及び/または吸収フィルターが
    90層以上の多層膜を含むことを特徴とする蛍光観察用
    装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の蛍光観察用装置
    であって、前記励起フィルター及び吸収フィルターがS
    iOとTaからなる多層膜を含むことを特徴と
    する蛍光観察用装置。
  4. 【請求項4】 顕微鏡の光学系に組み込まれることを特
    徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の蛍光観察用装
    置。
  5. 【請求項5】 内視鏡の光学系に組み込まれることを特
    徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の蛍光観察用装
    置。
JP2002004141A 2002-01-11 2002-01-11 蛍光観察用装置 Expired - Lifetime JP3822498B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002004141A JP3822498B2 (ja) 2002-01-11 2002-01-11 蛍光観察用装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002004141A JP3822498B2 (ja) 2002-01-11 2002-01-11 蛍光観察用装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003207451A true JP2003207451A (ja) 2003-07-25
JP3822498B2 JP3822498B2 (ja) 2006-09-20

Family

ID=27643549

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002004141A Expired - Lifetime JP3822498B2 (ja) 2002-01-11 2002-01-11 蛍光観察用装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3822498B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005001450A1 (ja) * 2003-06-25 2005-01-06 Olympus Corporation 蛍光観察用装置
WO2006067846A1 (ja) * 2004-12-22 2006-06-29 Takashi Yoshimine 顕微鏡用照明装置及び顕微鏡用照明システム
EP1769730A1 (en) * 2004-07-06 2007-04-04 Olympus Corporation Light source device and fluorescence observation system
WO2007043537A1 (ja) * 2005-10-12 2007-04-19 Olympus Medical Systems Corp. 生体診断装置
JP2009524832A (ja) * 2006-01-24 2009-07-02 ライフ テクノロジーズ コーポレーション 検体を定量するためのデバイスおよび方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10239517A (ja) * 1997-03-03 1998-09-11 Asahi Optical Co Ltd 光学フィルタ及び蛍光観察内視鏡装置
JPH10332931A (ja) * 1997-06-04 1998-12-18 Minolta Co Ltd 光学多層膜およびその製造方法
JPH11305035A (ja) * 1998-04-27 1999-11-05 Fujitsu Ltd 温度依存性のない多層膜フィルタとその製造方法
JPH11352409A (ja) * 1998-06-05 1999-12-24 Olympus Optical Co Ltd 蛍光検出装置
JP2000047027A (ja) * 1998-07-28 2000-02-18 Fujitsu Ltd 光フィルタの製造方法
JP2001100024A (ja) * 1999-09-27 2001-04-13 Alps Electric Co Ltd 多層膜光フィルタ

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10239517A (ja) * 1997-03-03 1998-09-11 Asahi Optical Co Ltd 光学フィルタ及び蛍光観察内視鏡装置
JPH10332931A (ja) * 1997-06-04 1998-12-18 Minolta Co Ltd 光学多層膜およびその製造方法
JPH11305035A (ja) * 1998-04-27 1999-11-05 Fujitsu Ltd 温度依存性のない多層膜フィルタとその製造方法
JPH11352409A (ja) * 1998-06-05 1999-12-24 Olympus Optical Co Ltd 蛍光検出装置
JP2000047027A (ja) * 1998-07-28 2000-02-18 Fujitsu Ltd 光フィルタの製造方法
JP2001100024A (ja) * 1999-09-27 2001-04-13 Alps Electric Co Ltd 多層膜光フィルタ

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7453568B2 (en) 2003-06-25 2008-11-18 Olympus Corporation Fluorescence observation equipment
WO2005001450A1 (ja) * 2003-06-25 2005-01-06 Olympus Corporation 蛍光観察用装置
US7705326B2 (en) 2003-06-25 2010-04-27 Olympus Corporation Apparatus for fluorescence observation
EP1769730A4 (en) * 2004-07-06 2010-10-20 Olympus Corp LIGHT SOURCE DEVICE AND FLUORESCENT OBSERVATION SYSTEM
EP1769730A1 (en) * 2004-07-06 2007-04-04 Olympus Corporation Light source device and fluorescence observation system
WO2006067846A1 (ja) * 2004-12-22 2006-06-29 Takashi Yoshimine 顕微鏡用照明装置及び顕微鏡用照明システム
WO2007043537A1 (ja) * 2005-10-12 2007-04-19 Olympus Medical Systems Corp. 生体診断装置
JP2007105143A (ja) * 2005-10-12 2007-04-26 Olympus Medical Systems Corp 生体診断装置
JP2009524832A (ja) * 2006-01-24 2009-07-02 ライフ テクノロジーズ コーポレーション 検体を定量するためのデバイスおよび方法
US8623282B2 (en) 2006-01-24 2014-01-07 Life Technologies Corporation Device and methods for quantifying analytes
US9964490B2 (en) 2006-01-24 2018-05-08 Life Technologies Corporation Device and methods for quantifying analytes
US10533946B2 (en) 2006-01-24 2020-01-14 Life Technologies Corporation Device and methods for quantifying analytes
US10962480B2 (en) 2006-01-24 2021-03-30 Life Technologies Corporation Device and methods for quantifying analytes introduction
US11635383B2 (en) 2006-01-24 2023-04-25 Life Technologies Corporation Device and methods for quantifying analytes introduction

Also Published As

Publication number Publication date
JP3822498B2 (ja) 2006-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4198086B2 (ja) 蛍光観察用装置
US6527709B2 (en) Light source device for endoscopes
US7662095B2 (en) Endoscope provided with a lighting system and a combined image transmission
US9746662B2 (en) Endoscope observation system
US6510338B1 (en) Method of and devices for fluorescence diagnosis of tissue, particularly by endoscopy
US5879284A (en) Endoscope
US7050224B2 (en) Fluorescence observing apparatus
US20070213593A1 (en) Endoscope system
JP2004008412A (ja) 内視鏡装置用光源装置及び内視鏡装置
WO2011007461A1 (ja) 開口絞り
US11160442B2 (en) Endoscope apparatus
US8039816B2 (en) Fluorescence observation apparatus
JP2009131496A (ja) 蛍光観察装置および内視鏡装置
JP2002153414A (ja) 電子内視鏡及び電子内視鏡システム
CN103257437A (zh) 特殊照明的外科手术立体显微镜
JP2003207451A (ja) 蛍光観察用装置
CN114468950A (zh) 混合照明的自体荧光腹腔镜
JP4919780B2 (ja) 蛍光観察装置
CA3040851A1 (en) Multi-wavelength endoscopic system and image processing method using same
EP2314197A1 (en) Optical element, spectroscopic element, optical unit and optical device
JP2008129504A (ja) 光学ユニット
JP5438550B2 (ja) 内視鏡用撮像光学系及び内視鏡システム
JP4184156B2 (ja) 内視鏡装置
WO2009147715A1 (ja) 蛍光観察装置
JPH11223726A (ja) 蛍光用フィルタ及び蛍光観察内視鏡装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040309

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050822

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050920

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051111

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060404

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060414

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060613

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060622

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 3822498

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090630

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100630

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110630

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120630

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120630

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130630

Year of fee payment: 7

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term