JP2003203843A - マーク合わせ装置 - Google Patents

マーク合わせ装置

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JP2003203843A
JP2003203843A JP2002000932A JP2002000932A JP2003203843A JP 2003203843 A JP2003203843 A JP 2003203843A JP 2002000932 A JP2002000932 A JP 2002000932A JP 2002000932 A JP2002000932 A JP 2002000932A JP 2003203843 A JP2003203843 A JP 2003203843A
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Japan
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sample stage
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Seiichi Itabashi
聖一 板橋
Kazunari Miyoshi
一功 三好
Norio Sato
紀夫 佐藤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子ビーム露光装置内のウエハの位置・角度
を特定方向に一致させて固定することを可能とするマー
ク合わせ装置を提供すること。 【解決手段】 複数枚のウエハを載置するための試料台
と、試料台を水平面内で移動させるためのステージと、
試料台の移動方向とステージの駆動方向とを一致させる
ための試料台固定部と、試料台固定部の下部に設けたマ
ーク検出器とでマーク合わせ装置を構成し、試料台とス
テージと試料台固定部の各々に光を通過させるための穴
部を設け、試料台固定部の隣接する2つの端面をウエハ
上に設けられたマークの位置を検出するための基準面と
して予め定め、試料台の隣接する2つの端面と、試料台
固定部に設けられた基準面とが互いに密接するように固
定し、マーク検出器によりマークの基準面からの相対位
置を検出し、その相対位置が所望の値となるようにステ
ージを駆動させてウエハの位置と角度を調整するように
した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、マーク合わせ装
置に関し、より詳細には、電子ビーム露光装置内のウエ
ハの位置・角度を特定方向に一致させて固定することを
可能とするマーク合わせ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】LSI等の微細なパタン形成には電子ビ
ーム露光法が採用される。
【0003】図5は、従来の電子ビーム露光を行なう際
の電子ビーム露光装置とウエハの様子を説明するための
図で、複数のウエハ5が露光面を上にしてパレット4上
に載置され、その状態で電子ビーム露光装置の真空容器
1内にセットされる。真空容器1内は真空ポンプ3によ
って排気されて所望の真空度に維持される。
【0004】電子ビーム鏡筒2には、図示しない電子銃
が備えられており、この電子銃から射出される電子ビー
ムが、電子ビーム鏡筒2内に設けられた数段の電磁レン
ズによって露光対象であるウエハ5上に照射されること
により露光が行なわれる。この露光は、電子的にCAD
ソフト等で作製された描画データに従って電子ビームを
走査させることが可能で、かつ、収束された電子ビーム
を高精度にコントロール可能なことから微細パタン形成
がなされる。
【0005】電子ビーム露光を高精度で行なうために
は、ウエハ上に形成されたマークを検出し、そのマーク
を基準としてウエハの位置・回転を認識し、これに合わ
せて電子ビームの位置を補正しつつ描画する。すなわ
ち、補正描画によって、電子ビームをウエハ上の描画し
たい位置にパタンを高い位置精度で描画できるように制
御することで、例え、下地にパタンが形成されているウ
エハに露光する場合であっても、下地パタンの上から別
のパタンを重ね合わせて描画することが可能となり、そ
のような重ね合わせ描画を繰り返すことにより、描画精
度を向上させたり、トランジスタデバイス等の製造がな
されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一旦、
ウエハを電子ビーム露光装置の真空容器内にセットして
真空引きを行なった後に、ウエハの位置・角度が所定の
位置・角度とずれており調整を要することが判明した場
合には、真空容器内をリークさせ、再度ウエハの位置・
角度調整を行って、再び真空引きを行なうことが必要と
なるために作業時間の増大を招いてしまい、スループッ
トが低下してしまうという問題があった。
【0007】また、ウエハの位置・角度が所定の位置・
角度とずれている場合には、ウエハ上に形成されたマー
クを検出して電子ビームの軌道を補正するまでに長時間
を要する結果となり、露光時間が長くなり露光工程のス
ループットが低下するという問題もあった。
【0008】本発明は、このような問題に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、電子ビーム露光装
置内のウエハの位置・角度を特定方向に一致させて固定
することを可能とするマーク合わせ装置を提供すること
にある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、請求項1に記載の発明は、ウエハ
上に設けられたマークを露光装置内の所定の位置に設定
するためのマーク合わせ装置であって、複数枚のウエハ
を載置するための方形の試料台と、該試料台を水平面内
で移動させるためのステージと、前記試料台の移動方向
と前記ステージの駆動方向とを一致させるための方形の
試料台固定手段と、該試料台固定手段の下部に設けられ
たマーク検出手段とを備え、前記試料台と前記ステージ
と前記試料台固定手段の各々は、光を通過させるための
穴部を有し、前記試料台固定手段の隣接する2つの端面
は、前記ウエハ上に設けられたマークの位置を検出する
ための基準面として予め定められており、前記試料台と
前記試料台固定手段とは、前記試料台の隣接する2つの
端面と、前記試料台固定手段に設けられた基準面とが互
いに密接されて固定され、前記ウエハ上に設けられたマ
ークを、前記マーク検出手段により前記穴部を通して観
察して該マークの前記基準面からの相対位置を検出し、
該相対位置が所望の値となるように前記ステージを駆動
させて前記ウエハの位置と角度を調整することを特徴と
する。
【0010】また、請求項2に記載の発明は、ウエハ上
に設けられたマークを露光装置内の所定の位置に設定す
るためのマーク合わせ装置であって、複数枚のウエハを
載置するための方形の試料台と、該試料台の下部に設け
られ、該試料台に載置されたウエハの位置と角度を調整
するためのウエハ位置角度調整手段と、該試料台を水平
面内で移動させるためのステージと、前記試料台の移動
方向と前記ステージの駆動方向とを一致させるための方
形の試料台固定手段と、該試料台の上部に設けられたマ
ーク検出手段とを備え、前記試料台固定手段の隣接する
2つの端面は、前記ウエハ上に設けられたマークの位置
を検出するための基準面として予め定められており、前
記試料台と前記試料台固定手段とは、前記試料台の隣接
する2つの端面と、前記試料台固定手段に設けられた基
準面とが互いに密接されて固定され、前記ウエハ上に設
けられたマークを、前記マーク検出手段により観察して
該マークの前記基準面からの相対位置を検出し、該相対
位置が所望の値となるように前記ウエハ位置角度調整手
段を駆動させて前記ウエハの位置と角度を調整すること
を特徴とする。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。
【0012】(実施例1)図1は、本発明のマーク位置
合わせ装置の構成例を説明するための図で、試料台であ
るパレット4と、パレット4を載置するためのパレット
固定装置12と、パレット固定装置12をXY方向に移
動させるためのXYステージ8と、XYステージ8を固
定するためのステージ台14と、XYステージ8の下部
に設けられたマーク検出器9とで構成されている。
【0013】このマーク位置合わせ装置のパレット4は
方形を有し、その隣接する2辺には高い面精度で直線状
に加工された突き当て面6が設けられており、パレット
面内には略円形の穴が複数設けられ、ウエハ5を1枚以
上セットすることが可能なように設計されている。
【0014】パレット固定装置12は、XYステージ8
の移動方向であるX方向とY方向に一致する方向の辺を
有する方形を有し、その隣接する2辺には高い面精度で
直線状に加工された突き当て面7が設けらており、この
突き当て面7と、パレット4に設けられた突き当て面6
とが一致するようにパレット4がパレット固定装置12
に固定される。これにより、XYステージ8の移動方向
と、パレット固定装置12に固定されるパレット4の突
き当て面6の方向とが一致することとなる。また、パレ
ット固定装置12は、パレット4を載置するための載置
面を有する一方、その内側には略方形の穴を備えてお
り、パレット4にセットされたウエハ5のマークが望め
るようになっている。
【0015】マーク検出装置9は、XYステージ8に設
けられた穴をとおしてウエハ5の面上に形成されたマー
ク10を検出するためのもので、例えば、マーク検出装
置9として顕微鏡を使用する場合には、顕微鏡の光軸と
ウエハ5上に形成された十字マークとを一致させること
で、マークの位置と回転角を計測することが可能である
から、ウエハ5がどのような位置・角度でパレット4に
載置されているかを検出することができる。
【0016】すなわち、このマーク合わせ装置は、複数
枚のウエハを載置するための方形の試料台と、試料台を
水平面内で移動させるためのステージと、試料台の移動
方向とステージの駆動方向とを一致させるための方形の
試料台固定部と、試料台固定部の下部に設けられたマー
ク検出器とを備え、試料台とステージと試料台固定部の
各々は、光を通過させるための穴部を有し、試料台固定
部の隣接する2つの端面は、ウエハ上に設けられたマー
クの位置を検出するための基準面として予め定められて
おり、試料台と試料台固定部とは、試料台の隣接する2
つの端面と、試料台固定部に設けられた基準面とが互い
に密接されて固定され、ウエハ上に設けられたマーク
を、マーク検出器により穴部を通して観察してマークの
基準面からの相対位置を検出し、相対位置が所望の値と
なるようにステージを駆動させてウエハの位置と角度を
調整するように構成されている。
【0017】以下に、このマーク合わせ装置を用いてマ
ーク合わせを行なう手順を説明する。先ず、XYステー
ジに載置したパレットに、ウエハ上に形成したマークの
位置がXYステージの移動方向と所定の関係(例えば、
マークを結ぶ直線とステージの移動方向とが一致する方
向)となるようにウエハをセットする。次に、マーク検
出器によりマーク位置を検出し、XYステージを移動さ
せてマークを基準にしてウエハ位置・方向をXYステー
ジ移動方向を基準にしながら位置を固定する。所定の枚
数のウエハについて、同一の基準で位置・方向の固定を
繰り返す。この作業によって、全てのウエハの位置・方
向の固定が完了する。
【0018】このようにしてウエハを固定したパレット
を露光装置内に導入し、露光装置内に設けた突き当て面
を基準にしてパレットを固定する。この操作により、ウ
エハの位置・回転方向が露光装置内の基準面に対して一
定の関係に固定されることとなり、再度大気中に取り出
して調整する必要がなくなって作業時間が短縮されると
ともに、描画時間も短縮されることとなる。
【0019】なお、パレット固定装置の突き当て面の替
わりに、図2に示すように、パレットの隣接する各辺に
一直線上に並べられたピンを適当な本数だけ設けること
としても良い。
【0020】(実施例2)図3は、本発明のマーク位置
合わせ装置の第2の構成例を説明するための図で、パレ
ット4と、パレット4を載置するためのパレット固定装
置12と、パレット固定装置12をXY方向に移動させ
るためのXYステージ8と、XYステージ8上に設けら
れたマーク検出装置9とで構成されている。
【0021】このマーク位置合わせ装置のパレット4は
方形を有し、その隣接する2辺には高い面精度で直線状
に加工された突き当て面6が設けられており、パレット
面内には略円形の穴が複数設けられ、ウエハ5を1枚以
上セットすることが可能なように設計されている。
【0022】パレット固定装置12は、XYステージ8
の移動方向であるX方向とY方向に一致する方向の辺を
有する方形を有し、その隣接する2辺には高い面精度で
直線状に加工された突き当て面7が設けらており、この
突き当て面7と、パレット4に設けられた突き当て面6
とが一致するようにパレット4がパレット固定装置12
に固定される。これにより、XYステージ8の移動方向
と、パレット固定装置12に固定されるパレット4の突
き当て面6の方向とが一致することとなる。また、パレ
ット固定装置12は、パレット4を載置するための載置
面を有する一方、その内側には略方形の穴を備えてお
り、パレット4にセットされたウエハ5のマークが望め
るようになっている。
【0023】マーク検出装置9は、パレット固定装置1
2に設けられた穴をとおしてウエハ5の面上に形成され
たマーク10を検出するためのもので、XYステージ8
を移動させながらウエハ5のマークを検出し、マーク検
出位置が、突き当て面6からどれだけずれているかが計
測可能であり、この計測結果を元にして、ウエハ5の位
置・回転角を修正し、固定することが可能となってい
る。所定の枚数のウエハについて、同一の基準で位置・
方向の固定を繰り返す。この作業によって、全てのウエ
ハの位置・方向の固定が完了する。
【0024】このマーク検出装置9は、例えば、顕微鏡
を用いて構成することが可能で、顕微鏡の光軸とウエハ
5上に形成された十字マークとを一致させることで、マ
ークの位置と回転角を計測することが可能であるから、
ウエハ5がどのような位置・角度でパレット4に載置さ
れているかを検出することができる。
【0025】(実施例3)図4は、本発明のマーク位置
合わせ装置の第3の構成例を説明するための図で、試料
台であるパレット4と、パレット4の下部に装着され、
外部からの電気信号に応答してウエハ5の位置・回転合
わせを行なうためのウエハ位置角度調整装置であるウエ
ハ位置回転合わせ装置13と、ウエハ位置回転合わせ装
置13の下部に設けられるパレット固定装置12と、ウ
エハ位置回転合わせ装置13をXY方向に移動させるた
めのXYステージ8と、パレット4の上部に設けられた
マーク検出器9とで構成されている。
【0026】このマーク位置合わせ装置のパレット4と
ウエハ位置回転合わせ装置13は同一の方形を有し、各
々の隣接する2辺には高い面精度で直線状に加工された
突き当て面6が設けられており、パレット4面内には略
円形の穴が複数設けられ、ウエハ5を1枚以上セットす
ることが可能なように設計されている。
【0027】XYステージ8は、その移動方向であるX
方向とY方向に一致する方向の辺を有する方形を有し、
その隣接する2辺には高い面精度で直線状に加工された
突き当て面7が設けらており、この突き当て面7と、パ
レット4及びウエハ位置回転合わせ装置13に設けられ
た突き当て面6とが一致するようにパレット4が固定さ
れる。これにより、XYステージ8の移動方向と、ウエ
ハ位置回転合わせ装置13に固定されるパレット4の突
き当て面6の方向とが一致することとなる。
【0028】マーク検出装置9は、パレット5にセット
されたウエハ5の面上に形成されたマーク10を検出す
るためのもので、ウエハ位置回転合わせ装置13を用い
てウエハ5の位置・回転角を修正し、固定することが可
能となっている。所定の枚数のウエハについて、同一の
基準で位置・方向の固定を繰り返す。この作業によっ
て、全てのウエハの位置・方向の固定が完了する。
【0029】すなわち、このマーク合わせ装置は、複数
枚のウエハを載置するための方形の試料台と、試料台の
下部に設けられ、試料台に載置されたウエハの位置と角
度を調整するためのウエハ位置角度調整装置と、試料台
を水平面内で移動させるためのステージと、試料台の移
動方向とステージの駆動方向とを一致させるための方形
の試料台固定部と、試料台の上部に設けられたマーク検
出器とを備え、試料台固定部の隣接する2つの端面は、
ウエハ上に設けられたマークの位置を検出するための基
準面として予め定められており、試料台と試料台固定部
とは、試料台の隣接する2つの端面と、試料台固定部に
設けられた基準面とが互いに密接されて固定され、ウエ
ハ上に設けられたマークを、マーク検出部により観察し
てマークの基準面からの相対位置を検出し、相対位置が
所望の値となるようにウエハ位置角度調整装置を駆動さ
せてウエハの位置と角度を調整するように構成されてい
る。
【0030】なお、マーク検出装置9は、例えば、顕微
鏡を用いて構成することが可能で、顕微鏡の光軸とウエ
ハ5上に形成された十字マークとを一致させることで、
マークの位置と回転角を計測することが可能であるか
ら、ウエハ5がどのような位置・角度でパレット4に載
置されているかを検出することができる。
【0031】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明のマーク
合わせ装置によれば、複数のウエハを同一基準に対して
正確に位置・回転合わせを行なうことが大気中で可能と
なるため、真空中での位置・回転合わせ作業の労力が軽
減されるとともに、各ウエハに対する電子ビーム描画動
作の補正時間も短縮されるため、露光作業効率を大幅に
向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のマーク合わせ装置の第1の構成例を説
明するための図である。
【図2】突き当てをピンで形成するパレット固定装置の
構成例を説明するための図である。
【図3】本発明のマーク合わせ装置の第2の構成例を説
明するための図である。
【図4】本発明のマーク合わせ装置の第3の構成例を説
明するための図である。
【図5】従来の露光方法を説明するための図である。
【符号の説明】
1 真空容器 2 電子ビーム鏡筒 3 真空ポンプ 4 パレット 5 ウエハ 6、7 突き当て面 8 XYステージ 9 マーク検出装置 10 マーク 11 突き当てピン 12 パレット固定装置 13 ウエハ位置・回転合わせ装置 14 ステージ台
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/30 503Z (72)発明者 三好 一功 東京都新宿区西新宿二丁目1番1号 エ ヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株 式会社内 (72)発明者 佐藤 紀夫 東京都新宿区西新宿二丁目1番1号 エ ヌ・ティ・ティ・アドバンステクノロジ株 式会社内 Fターム(参考) 2H097 AA03 CA16 KA03 KA13 KA23 LA10 5F046 CC01 CC08 CD01 EA02 EB01 EB10 FA17 5F056 BD02 BD05 EA14 EA15 FA06

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエハ上に設けられたマークを露光装置
    内の所定の位置に設定するためのマーク合わせ装置であ
    って、 複数枚のウエハを載置するための方形の試料台と、 該試料台を水平面内で移動させるためのステージと、 前記試料台の移動方向と前記ステージの駆動方向とを一
    致させるための方形の試料台固定手段と、 該試料台固定手段の下部に設けられたマーク検出手段と
    を備え、 前記試料台と前記ステージと前記試料台固定手段の各々
    は、光を通過させるための穴部を有し、 前記試料台固定手段の隣接する2つの端面は、前記ウエ
    ハ上に設けられたマークの位置を検出するための基準面
    として予め定められており、 前記試料台と前記試料台固定手段とは、前記試料台の隣
    接する2つの端面と、前記試料台固定手段に設けられた
    基準面とが互いに密接されて固定され、 前記ウエハ上に設けられたマークを、前記マーク検出手
    段により前記穴部を通して観察して該マークの前記基準
    面からの相対位置を検出し、 該相対位置が所望の値となるように前記ステージを駆動
    させて前記ウエハの位置と角度を調整することを特徴と
    するマーク合わせ装置。
  2. 【請求項2】 ウエハ上に設けられたマークを露光装置
    内の所定の位置に設定するためのマーク合わせ装置であ
    って、 複数枚のウエハを載置するための方形の試料台と、 該試料台の下部に設けられ、該試料台に載置されたウエ
    ハの位置と角度を調整するためのウエハ位置角度調整手
    段と、 該試料台を水平面内で移動させるためのステージと、 前記試料台の移動方向と前記ステージの駆動方向とを一
    致させるための方形の試料台固定手段と、 該試料台の上部に設けられたマーク検出手段とを備え、 前記試料台固定手段の隣接する2つの端面は、前記ウエ
    ハ上に設けられたマークの位置を検出するための基準面
    として予め定められており、 前記試料台と前記試料台固定手段とは、前記試料台の隣
    接する2つの端面と、 前記試料台固定手段に設けられた基準面とが互いに密接
    されて固定され、 前記ウエハ上に設けられたマークを、前記マーク検出手
    段により観察して該マークの前記基準面からの相対位置
    を検出し、 該相対位置が所望の値となるように前記ウエハ位置角度
    調整手段を駆動させて前記ウエハの位置と角度を調整す
    ることを特徴とするマーク合わせ装置。
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