JP2003185531A - カメラレンズの描写性能検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】カメラレンズの描写性能検査を実写に近い状態
で検査することが可能なカメラレンズ描写性能検査装置
を提供する。 【解決手段】本カメラレンズ描写性能検査装置１０にお
いては、カメラ６のレンズ鏡筒５０により実際にシャッ
タの開閉を行って得られるチャートユニット５のチャー
ト像が撮像デバイス１３にて撮像信号に変換され、ＣＰ
Ｕ２１に取り込まれ、さらに、ＭＴＦ演算部２２にてチ
ャート像のＭＴＦ値が演算され、そのＭＴＦ値に基づい
て撮影レンズの描写性能が判別される。上記チャート像
がシャッタ開閉時の駆動部に衝撃等による像ぶれを含む
実写により近い像であることから、上記撮影レンズの描
写性能の検査結果によれば、カメラが実査に使用される
状態に近い状態で描写性を判別することになり、極めて
実用的なレンズの描写性能の検査がなされる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、カメラレンズの描
写性能を検査するカメラレンズの描写性能検査装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来のカメラの撮影レンズの解像能力を
検査する検査装置として知られているものとして、チャ
ートを実際にカメラに装填されたフィルムに撮影し、そ
れを現像したフィルム上のチャートの本数を観察して解
像力を判断する撮影像による解像能力検査装置がある。

【０００３】また、別の従来の解像能力検査装置として
ＭＴＦによる検査装置がある。この検査装置は、撮影レ
ンズを介して得られる定常的なチャート像を撮像手段
（ＣＣＤ）上に結像させ、そのときの撮像のＭＴＦ（ M
odulation Transfer Function） 値を算出して、撮影レ
ンズのピント状態を検査するものである。なお、上記定
常的なチャート像とは、カメラ側のシャッタを開状態に
保持した状態で得られるチャート像である。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の撮影像による解像能力検査装置では、現像したフィル
ム上のチャート像のチャート本数を観察する場合、現像
濃度を一定にすることが困難であること、また、人間の
目による観察ばらつきがあることなどでチャート本数を
正確に読み取ることができず、精度のよい解像能力の検
査が難しかった。

【０００５】また、別の従来のＭＴＦによる検査装置で
は、上述したようにシャッタを開状態に保持した定常状
態で得られるチャート像によって検査されることから、
実際の撮影状態と異なる可能性があった。すなわち、実
際の撮影時でのシャッタの開閉動作で発生するぶれ、あ
るいは、シャッタ開口波形の影響などが上記定常的露光
によるＭＴＦ値には表れない。従って、実際の撮影時に
おけるカメラレンズの描写性能的な検査結果が選らない
といった問題があった。

【０００６】本発明は、上述の不具合を解決するために
なされたものであり、実際の撮影状態に等価なカメラレ
ンズの解像能力を正確に検査することが可能なカメラレ
ンズの描写性能検査装置を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１記載の
カメラレンズの描写性能検査装置は、所定位置に配置さ
れる被検物であるカメラの撮影光学系を介して撮像する
撮像手段と、上記カメラに対して上記撮像手段が配され
る側の反対側に所定距離離間して配置されるチャート
と、上記撮像手段が撮像したチャート像に基づき、上記
被検物となりカメラの撮影光学系のＭＴＦ特性を算出す
るＭＴＦ算出手段と、上記チャートと撮像手段との間に
配置され、上記チャートから撮像手段への光路を開閉す
るシャッタ手段とを具備し、上記シャッタ手段が開状態
にあるときに上記撮像手段が撮像したチャート像に基づ
いて上記ＭＴＦ算出手段が上記被検物となるカメラの撮
影光学系のＭＴＦ特性を算出する。

【０００８】本発明の請求項２記載のカメラレンズの描
写性能検査装置は、請求項１記載のカメラレンズの描写
性能検査装置において、上記シャッタ手段は、上記被検
物となるカメラが有しており、上記シャッタ手段の駆動
開始信号を出力可能な駆動指示手段を具備する。

【０００９】本発明の請求項３記載のカメラレンズの描
写性能検査装置は、請求項２記載のカメラレンズの描写
性能検査装置において、上記撮像手段による撮像を制御
する撮像制御手段を有しており、上記制御手段は、上記
被検物となるカメラが有する上記シャッタ手段の駆動開
始信号を出力すると共に、上記撮像制御手段に対して撮
像開始信号を出力し、この撮像開始信号に基づいて上記
撮像手段による上記チャートの撮像を開始する。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
基づいて説明する。本発明の実施形態のカメラレンズの
描写性能検査装置であるカメラレンズのＭＴＦ検査装置
の説明に先立って、上記検査装置により検査される被検
物であるカメラに装着されるレンズ鏡筒（カメラレン
ズ）の構造について説明する。

【００１１】図１は、上記レンズ鏡筒のテレ状態におけ
る縦断面図である。図２は、上記レンズ鏡筒に組み込ま
れるシャッタ装置の分解斜視図である。図３，４，５
は、それぞれ上記シャッタ装置の閉状態、小絞り状態、
または、完全開状態における図１のＡ−Ａ断面図であ
る。

【００１２】なお、以下の説明において、レンズ鏡筒の
被写体側を前方とし、結像面側を後方側とする。

【００１３】上記レンズ鏡筒５０は、銀塩カメラに装着
されるカメラレンズであって、図１に示すように本体固
定部７８を介してカメラ６（図６）の本体側に固定され
る固定枠５１と、固定枠５１に対して回転、進退自在に
支持される回転枠５２と、固定枠５１によって回転規制
され、回転枠５２とともに進退する直進ガイド枠７３
と、直進ガイド枠７３および後述する第２群枠５５によ
り回転規制された状態で回転枠５２に対して進退可能に
支持されるズーム枠５３に固定して支持される第１群枠
５４と、ズーム枠５３に支持される第２群枠５５と、第
２群枠５５に装着されるシャッタ手段としてのシャッタ
装置７４と、本レンズ鏡筒の撮影光学系としての第１群
枠５４に保持される第１レンズ群７５および第２群枠５
５に保持される第２レンズ群７６とを有してなる。な
お、上記撮影光学系のレンズ光軸を光軸Ｏｃとする。

【００１４】上記固定枠５１は、円筒形状部材であり、
本体固定部７８に固定支持され、内周部に雌ヘリコイド
ねじ５１ａと光軸Ｏｃに平行な直進キー溝５１ｂが設け
られている。

【００１５】上記回転枠５２は、円筒形状部材であっ
て、後端側端部に雄ヘリコイドねじ５２ｄが設けられ、
内周面の３方箇所に各２本のカム溝５２ａ、５２ｂと、
内周面後端部に内周溝５２ｅが設けられる。上記２本の
カム溝のうち、カム溝５２ａは、ズーム枠進退駆動用で
あり、カム溝５２ｂは、第２群枠進退駆動用である。上
記雄ヘリコイドねじ５２ｄは、固定枠５１の雌ヘリコイ
ドねじ５１ａに螺合するので、回転枠５２は、図示しな
い回転枠駆動部により回転駆動された場合、回転しなが
ら進退駆動される。

【００１６】上記直進ガイド枠７３は、リング形状部材
であり、基板外周部に突出するガイド突起部７３ａと、
基板内周部から前方外側に折り曲げて突出するバヨネッ
ト爪部７３ｂと、基板内周部から光軸Ｏｃに沿って前方
に延出する直進ガイド部７３ｃとが設けられる。上記ガ
イド突出部７３ａは、固定枠５１の直進キー溝５１ｂに
摺動自在に嵌入する。上記バヨネット爪部７３ｂは、回
転枠５２の内周溝５２ｅに摺動自在に嵌入する。したが
って、回転枠５２が回転、進退駆動されると、直進ガイ
ド枠７３は、回転することなく、回転枠５２と共に光軸
Ｏｃ方向に沿って直進移動する。

【００１７】上記ズーム枠５３は、円筒形状部材であ
り、回転枠５２の内周に回転、進退可能な状態で嵌入し
ている。ズーム枠５３の外周部に３組のカムフォロア５
９がその軸部を介して固着されている。また、ズーム枠
５３の前方開口部５３ａには第１レンズ群７５を保持す
る第１群枠５４が固着され、ズーム枠５３の内周部には
光軸Ｏｃ方向に沿った３本の直進ガイド溝５３ｂが設け
られている。

【００１８】上記カムフォロア５９は、回転枠５２のカ
ム溝５２ａに摺動自在に係合する。また、上記直進ガイ
ド溝５３ｂには、後述する第２群枠５５の３本の直進ガ
イドピン５５ｂが摺動自在に嵌入している。したがっ
て、回転枠５２が回転した場合、ズーム枠５３は、直進
ガイドピン５５ｂに回転規制された状態でカム溝５２ａ
とカムフォロア５９により、光軸Ｏｃ方向に進退駆動す
ることになる。

【００１９】上記第２群枠５５は、円環部材であって、
ズーム枠５３の内周に進退可能な状態で配置されてい
る。第２群枠５５の外周部に３本のカムフォロア６０が
その軸部を介して植設されている。また、３本のカムフ
ォロア６０のラジアル当接部６０ｂがズーム枠５３の内
周面に嵌合して第２群枠５５の光軸位置が決められる。

【００２０】また、第２群枠５５には、光軸Ｏｃに沿っ
た直進ガイド溝５５ａと、外方への突起部である３つの
直進ガイドピン５５ｂが設けられている。また、その内
周開口部に第２レンズ群７６が保持されている。上記直
進ガイド溝５５ａには、直進ガイド枠７３の直進ガイド
部７３ｃが摺動自在に嵌入している。

【００２１】上記カムフォロア６０は、ズーム枠５３の
周面開口部を挿通して回転枠５２のカム溝５２ｂに摺動
自在に嵌入している。したがって、この第２群枠５５
は、直進ガイド枠７３により回転規制された状態でカム
溝５２ｂにより直進進退駆動される。

【００２２】上記第２群枠５５の前面部とズーム枠５３
の前方内壁面間には、第２群枠５５を後方に付勢するた
めに付勢バネ５６が配置されている。

【００２３】上記シャッタ装置７４は、図１および図２
に示すように固定絞り開口５７ａを有するシャッタ枠５
７と、開閉回動可能なシャッタ手段である３枚のシャッ
タ羽根６１，６２，６３と、シャッタ羽根駆動用のシャ
ッタレバー６４と、シャッタレバー回動付勢用のシャッ
タ開きバネ６５と、羽根押さえ板５８と、シャッタ開閉
するための駆動源であるシャッタ開閉用電磁石装置６６
とを有してなる。

【００２４】上記シャッタ枠５７は、第２群枠５５の前
方側に固着して配置され、そのシャッタ枠５７には、中
央部に撮影光路の開放絞りを与える固定絞り開口５７ａ
と、後方側に突出するシャッタレバー支持軸５７ｂと、
前方側に突出する２つの羽根支持ピン５７ｃ，５７ｄ
と、上記支持ピン５７ｃ，５７ｄ間に配置され、シャッ
タレバー６４のシャッタ駆動ピンが挿通するピン挿通穴
５７ｅとが設けられる。

【００２５】上記シャッタレバー６４には、軸穴６４ａ
と、羽根駆動ピン６４ｂと、プランジャ当接部６４ｃ
と、バネ当接ピン６４ｄとが設けられる。上記シャッタ
レバー６４は、シャッタ枠５７の後方側にて軸穴６４ａ
を介してシャッタレバー支持軸５７ｂにより回動自在に
支持される。その支持状態でシャッタ駆動ピン６４ｂが
シャッタ枠５７のピン挿通穴５７ｅを挿通し、後述する
シャッタ羽根６１，６２，６３の駆動ピン穴６１ｂ，６
２ｂ，６３ｂに嵌入する。また、上記シャッタレバー６
４は、バネ当接ピン６４ｄに当接するシャッタ開きバネ
６５によりシャッタ開放方向である反時計回り（被写体
側から見て）に付勢されている。

【００２６】上記シャッタ羽根６１，６２，６３には、
それぞれ支持ピン穴６１ａ，６２ａ，６３ａと、駆動ピ
ン穴（長穴）６１ｂ，６２ｂ，６３ｂが設けられてい
る。上記シャッタ羽根６１，６２，６３のうち、シャッ
タ羽根６１と６３とは、同一形状とし、シャッタ羽根６
２に対して光軸Ｏｃ中心に対して略左右対称の形状であ
る。そして、シャッタ羽根６１と６３とでシャッタ羽根
６２を挟持した状態でそれぞれシャッタ枠５７の羽根支
持ピン５７ｃ、または、５７ｄに支持ピン穴６１ａ，６
３ａ、または、６２ａをそれぞれ嵌入させた状態で回動
自在に支持され、羽根押さえ板５８で押さえられた状態
で装着されている。その装着位置は、第１群枠５４の第
１レンズ群７５と第２群枠５５の第２レンズ群７６の間
とする。

【００２７】上記シャッタ開閉用電磁石装置６６は、図
２，３に示すように外形が円弧状に湾曲したコイル部を
有する可動鉄心を持つプランジャ型直流電磁石装置であ
って、湾曲したボビン６８に巻回された上記湾曲コイル
部６７と、上記コイル部６７に沿って先端部から後端部
を磁気結合するヨーク部６９と、上記ボビン６８内出力
側端部に出没可能に支持される可動鉄心であるプランジ
ャ７１と、固定鉄心７０と、上記プランジャ７１を突出
側に付勢するプランジャバネ７２とを有してなる。上記
プランジャ７１の先端部には、上記シャッタレバー６４
の先端当接部６４ｃがシャッタ開きバネ６５で付勢され
て、常時、当接している。

【００２８】そして、上記電磁石装置６６のコイル部６
７への励磁電圧がオフ状態では、プランジャ７１は、シ
ャッタ開きバネ６５の付勢力より強いプランジャバネ７
２の付勢力で付勢され、突出位置にある。この状態で
は、シャッタレバー６４は、図３に示すように時計回り
に所定量だけ回動している。従って、シャッタ羽根６
１，６３と、シャッタ羽根６２は、シャッタレバー６４
によってそれぞれ閉じ方向である反時計回り，または、
時計回りに回動し、シャッタ枠５７の固定絞り開口５７
ａを閉鎖している。

【００２９】また、上記電磁石装置６６のコイル部６７
に励磁電圧を印加すると、プランジャ７１は、コイル部
６７に発生した磁力により固定鉄心７０に当接する位置
まで吸引される。プランジャ７１の吸引に伴ってシャッ
タレバー６４は、シャッタ開きバネ６５の付勢力で反時
計回りに図示しないストッパに当接する所定位置まで回
動駆動される。シャッタ羽根６１，６３と、シャッタ羽
根６２は、図５に示すようにそれぞれ開き方向である時
計回り，または、反時計回りに回動し、シャッタ枠５７
の固定絞り開口５７ａを全開状態とする。なお、図３の
開口閉鎖状態から図５の開口全開状態への動作の途中、
図４に示す小絞り開口状態を経て上記全開状態に変化す
る。

【００３０】上述した構成を有する上記レンズ鏡筒５０
により撮影を行うためにズーム枠５３，第１群枠５４，
第２群枠５５等を沈胴位置から撮影可能なテレ位置等に
繰り出すには、回転枠５２を回転駆動する。その回転に
よってズーム枠５３と第１群枠５４および第２群枠５５
が直進ガイド枠７３により直進ガイドされながら、カム
フォロア５９，６０で駆動され、例えば、図１に示す撮
影可能なテレ位置に繰り出される。

【００３１】上記撮影可能状態にあるレンズ鏡筒５０に
て露光を実行する場合、シャッタ開閉用電磁石装置６６
のコイル部６７に励磁電圧を印加し、プランジャ７１を
吸引すると、シャッタ羽根６１，６３と６２が開放方向
に回動し、固定絞り開口が開放されてシャッタ開放状態
とする。所定のシャッタ秒時経過後、上記コイル部６７
に励磁電圧をオフとすると、再度、プランジャ７１が突
出し、シャッタ羽根６１，６３、および、６２が上述し
た開口閉鎖位置に回動駆動され、露光が終了する。この
ようなカメラの実使用上においては、例えば、被写体ま
での距離を測定する測距手段からの出力の応じて、レン
ズ鏡筒５０の所定のレンズを光軸方向に変位させること
により、合焦動作がなされる。そして、この合焦動作の
ためのレンズ変位量は、部品などのばらつきによりレン
ズ鏡筒５０それぞれで異なる。よって、レンズ鏡筒５０
の一つ一つに対して、所定距離に対して所定のレンズの
変位量を調整値としてカメラに記憶されている。

【００３２】なお、上記レンズ鏡筒５０は、後述するカ
メラレンズのＭＴＦ特性検査装置１０（図６）によりカ
メラレンズとしての描写性能が検査されるが、その検査
に先立って、第１レンズ群７５，第２レンズ群７６の撮
影可能位置のピント位置調整がすでになされているもの
とする。

【００３３】次に、本発明の一実施形態であるカメラレ
ンズの描写性能検査装置であるＭＴＦ特性検査装置の構
成について、図６，７等を用いて説明する。図６は、上
記ＭＴＦ特性検査装置１０の構成を示す系統図である。
図７は、上記ＭＴＦ特性検査装置１０の構成を示すブロ
ック構成図である。なお、本実施形態のＭＴＦ特性検査
装置１０を構成する撮像部（後述）１において、撮影レ
ンズ光軸Ｏｃおよび撮像光軸Ｏｄと平行な方向をＺ方向
とし、Ｚ方向と直交する方向であって、左右方向をＸ方
向とし、上下方向をＹ方向とする。

【００３４】上記カメラ６においては、通常、鏡枠の構
成部品の寸法の誤差や組み立て誤差、例えば、単レンズ
のＲＤＮ（面形状，厚さ，屈折率）、各レンズ間隔、偏
心などに起因する描写性能に影響を与えるとともに、実
際の撮影時においては、ピント位置や像ぶれなどがさら
に影響を与えた総合的描写性能が変化する。本ＭＴＦ特
性検査装置は、上記総合的描写性能を実際の撮影状態に
近い状態で得られる撮像データに基づき、撮影像に対す
る評価の尺度として実写との対応がとれるＭＴＦ（Modu
lation Transfer Function）値によって被検物であるカ
メラ６のレンズの描写性能を評価し、カメラレンズ品質
を判定する。

【００３５】なお、上記カメラ６のレンズ鏡筒５０の場
合、シャッタ開閉を行ったとき、質量のあるプランジャ
７１が高速度で吸引，開放移動することから第２群枠５
５が衝撃を受ける。従って、第２群枠５５に保持されて
いる第２レンズ群７６が露光中に振動し、結像面上での
像ぶれが生じ、レンズの描写性能に悪影響を与える場合
がある。本ＭＴＦ特性検査装置１０は、鏡枠の構成部品
の誤差以外に特に上記像ぶれの影響も考慮して検査を行
うものである。

【００３６】上記ＭＴＦ特性検査装置１０においては、
撮影像は、チャートユニット５を用いて、チャート画面
中心の撮影レンズ光軸Ｏｃ上の撮像データ、および、チ
ャート画面周辺の撮像データによりＭＴＦ特性であるそ
れぞれのＭＴＦ値を演算し、そのＭＴＦ値を検査規格値
と比較して合否が判定される。

【００３７】上記ＭＴＦ特性検査装置１０は、図６，７
に示すように撮像部１と、ＭＴＦ測定制御部２と、キー
ボード３と、モニタ４と、チャートユニット５とからな
る。被検物としてのカメラ６は、撮像部１の撮像部本体
部１８上に取り付けられる。

【００３８】上記撮像部１は、図６，７に示すように撮
像手段である撮像ヘッド１１と、撮像制御手段である撮
像制御部１４と、ヘッド駆動部１５と、撮像部本体部１
８からなる。

【００３９】上記撮像ヘッド１１は、光軸Ｏｄを有する
撮像レンズ１２と、撮像素子であるＣＣＤおよび撮像処
理回路を有する撮像デバイス１３とからなる。上記ＣＣ
Ｄにおいては、上記カメラ６の第１，２レンズ群７５，
７６（レンズ鏡筒５０）で取り込まれるチャート像が撮
像レンズ１２を介してＣＣＤの結像面上に結像され、該
ＣＣＤにて電気信号に変換される。上記撮像処理回路に
て上記ＣＣＤの撮像出力信号を処理して得られた画像デ
ータは、ＣＰＵ２１側に出力される。

【００４０】撮像制御部１４は、撮像デバイス１３のＣ
ＣＤおよび撮像処理回路を駆動制御する。

【００４１】上記ヘッド駆動部１５は、撮像部本体１８
に組み付けられるＸＹ軸駆動ステージ（ＸＹ軸駆動部）
１６と、Ｚ軸駆動ステージ（Ｚ軸駆動部）１７とからな
る。上記ＸＹ軸駆動ステージ１６には撮像ヘッド１１が
装着されており、その撮像ヘッド１１をＸ方向およびＹ
方向に駆動する。また、Ｚ軸駆動ステージ１７には上記
ＸＹ軸駆動ステージ１６が取り付けられており、そのＸ
Ｙ軸駆動ステージ１６をＺ方向に駆動することにより上
記撮像ヘッド１１をＺ方向に移動させる。

【００４２】上記ＭＴＦ測定制御部２は、調整制御部内
部および上記撮像部１を制御する制御手段であるＣＰＵ
２１と、演算式情報等を記憶するＲＡＭ部２５とからな
る。

【００４３】上記ＣＰＵ２１には、ＭＴＦ算出手段であ
るＭＴＦ演算部２２と、カメラ６に対して撮影レンズを
ピント位置に繰り出す指示を行うピント位置制御部２３
と、カメラ６のシャッタ開閉を制御するためのシャッタ
制御手段であるシャッタ開閉制御部２４と、撮像ヘッド
側の撮像制御部１４に撮像開始，終了信号を出力する撮
像制御部とが内蔵されている。

【００４４】上記ＭＴＦ演算部２２は、上記撮像デバイ
ス１３より出力されるチャート像データを取り込み、そ
のチャート像のＭＴＦ値を演算により求め、その演算結
果によりＯＫ／ＮＧ判定（合否判定）を行う。上記ピン
ト位置制御部２３は、カメラ６のピント位置への駆動を
指示する。

【００４５】キーボード３は、ＭＴＦ検査を実行する場
合の各種の設定を行うものであり、モニタ４は、ＭＴＦ
検査処理中の動作状態の確認および描写性能検査の結果
を確認するものである。

【００４６】上記チャートユニット５は、通常のカメラ
撮影時に適用される被写体距離である標準撮影距離Ｌ1
、例えば、３ｍだけ離間した位置に配置される撮影画
枠上のテストチャートであって、カメラ６の撮影レンズ
光軸Ｏｃ上に位置する中心チャート部５ａと、ＸＹ平面
の撮影画枠周辺位置における第１象限の周辺チャート部
５ｂ、第２象限の周辺チャート部５ｃと、第３象限の周
辺チャート部５ｄと、第４象限の周辺チャート部５ｅと
を有する。なお、上記中心チャート部５ａは、Ｘ方向と
Ｙ方向の所定のピッチ（空間周波数ｆ0 ＝１０本／ｍ
ｍ）のパターンとし、縦方向パターンと横方向パターン
とからなる。上記各周辺チャート部は、それぞれ放射方
向（Ｓ方向）と周方向（Ｍ方向）との所定のピッチ（空
間周波数ｆ0＝１０本／ｍｍ）のパターンとする。上記
空間周波数ｆ0 ＝１０本／ｍｍをＭＴＦ検査に採用する
のは、その空間周波数が後述するより高い空間周波数ｆ
1 ，ｆ2 等に比べて、実写時の撮影画面の良否とよく対
応するためである。

【００４７】上記カメラ６は、前述したレンズ光軸Ｏｃ
の第１レンズ群７５，第２レンズ群７６やシャッタ装置
７４を内蔵するレンズ鏡筒５０と、カメラ全体の制御を
司り、シャッタ制御手段を有するＣＰＵ３１と、上記撮
影レンズ７５，７６を進退駆動するレンズ駆動部３３
と、ＣＰＵ３１の制御のもとで上記レンズ駆動部３３を
制御する駆動制御部３２と、上記シャッタ装置７４の駆
動源であるシャッタ開閉用電磁石装置６６を駆動する駆
動制御部３４と、レンズ鏡筒５０のピント位置データ等
の撮影のためのデータを記憶するＥＥＰＲＯＭ３５とを
有してなる。なお、このカメラ６は、ＭＴＦ検査処理時
には後述する撮像部１の撮像レンズ１２の撮像光軸Ｏｄ
に対してレンズ鏡筒５０の光軸Ｏｃを平行に保った状態
で上記撮像部本体１８に装着される。

【００４８】次に、上述した構成を有するＭＴＦ特性検
査装置１０によるカメラ６のＭＴＦの測定，ＭＴＦ値の
演算等の処理動作について説明する。カメラ６およびヘ
ッド駆動部１５を光軸Ｏｃ，Ｏｄ中心、または、画面周
辺のチャート像撮像状態にセットする。すなわち、カメ
ラ６を後蓋８０を開放した状態にして撮像部１の撮像部
本体１８に取り付ける。そのとき、上記カメラ６のレン
ズ鏡筒５０の光軸Ｏｃとチャートユニット５の中心チャ
ート部５ａの中心とが一致していることを確認する。こ
のようにしてカメラ６がセットされたらチャートの撮像
動作に先立って、レンズ鏡筒５０のレンズ群を上記標準
撮影距離Ｌ1 に対する合焦位置までの繰り出し動作がな
される。これにより、アパーチャ面（フィルム面）７９
の位置がチャートの結像位置となる。

【００４９】この場合のレンズ群の繰り出し動作は、Ｍ
ＴＦ特性検査装置１０のＣＰＵ２１からカメラ６のＣＰ
Ｕ３１へと距離データを転送して、この距離データに基
づいて行ってもよいし、カメラ６が有する図示しない測
距手段から得られる距離データに基づいて行っても良
い。これらは、カメラ６を検査する際に、カメラ６が有
する測距手段を含んだ描写性能を評価するのか、測距手
段を含まない描写性能を評価するのかによって適宜選択
可能である。光軸Ｏｃ中心のチャート像取り込み（光軸
Ｏｃ中心ＭＴＦ測定）時には、ヘッド駆動部１５のＸＹ
軸駆動ステージ１６を駆動することによりカメラ６のア
パーチャ面７９の光軸Ｏｃ中心に撮像ヘッド１１（撮像
レンズ１２）の光軸Ｏｄを合致させる。

【００５０】また、撮影画枠周辺のチャート像取り込み
（周辺ＭＴＦ測定）時には、上記ＸＹ軸駆動ステージ１
６を駆動することによりカメラ６のアパーチャ面７９の
測定しようとする第１乃至第４象限のいずれかの象限の
周辺パターン像位置に撮像ヘッド１１（撮像レンズ１
２）の光軸Ｏｄを合致させる。

【００５１】光軸Ｏｃ中心のＭＴＦ、または、周辺のＭ
ＴＦ測定時にはＺ軸駆動ステージ１７により撮像ヘッド
１１をＺ方向に駆動することにより撮像レンズ１２の合
焦点をアパーチャ面７９に一致させて、チャート像のＭ
ＴＦを測定する。そのとき、上記撮像ヘッド１１（撮像
レンズ１２）の合焦点がアパーチャ面７９上にあるとき
を基準のＺ方向ずれ量（デフォーカス量）であるずれ位
置Ｚｄ＝０とし、そのＺｄ＝０がカメラ６の像面位置に
対応する。そして、アパーチャ面７９の後方側（背面
側）にあるときのＺ方向ずれ位置Ｚｄを＋側、前方側
（被写体側）にあるときのＺ方向ずれ位置Ｚｄを−側と
する。

【００５２】撮像ヘッド１１の合焦点が上記Ｚ方向ずれ
位置Ｚｄ＝０にあるとき、レンズ鏡筒５０で取り込まれ
た中心チャート５ａの像、または、周辺チャート（この
場合、第４象限の周辺チャート５ｅ）の像は、ＣＣＤの
結像面上に結像し、ＣＣＤにて電気的撮像信号に変換さ
れる。上記チャート像の撮像信号は、撮像デバイス１３
を介してＣＰＵ２１側に出力される。そして、ＭＴＦ演
算部２２にて上記チャート像のＭＴＦ値が演算される。

【００５３】図８は、上記撮像ヘッド１１（撮像レンズ
１２）の合焦点をＺ方向にずらしたときの中心チャート
部５ａの像に対するＭＴＦ値の変化を示す線図である。
この線図は、アパーチャ面７９上のずれ位置Ｚｄ＝０か
らＺ方向（光軸方向）の＋，−ずれ位置Ｚｄに対するチ
ャート像のＭＴＦ値の変化を示す。なお、図中、上記中
心チャート部のｆ0 ，ｆ1 ，ｆ2 の曲線は、それぞれチ
ャートの空間周波数ｆ0 ＝１０本／ｍｍ，ｆ1 ＝２０本
／ｍｍ，ｆ2 ＝３０本／ｍｍの縦、または、横方向パ
ターンのＭＴＦ値の変化を示す。

【００５４】なお、本実施形態のＭＴＦ特性検査装置１
０においては、例えば、通常の被写体撮影に最も対応性
の高い縦方向チャートパターンの空間周波数ｆ0 ＝１０
本／ｍｍの曲線（実線）のＭＴＦデータをＭＴＦ検査に
適用する。また、縦方向パターンと横方向パターンのデ
ータの平均値をＭＴＦ値として採用してもよい。

【００５５】上記図８の測定結果では、中心チャート部
５ａの像に対してＺｄ＝０．００ｍｍでのＭＴＦ値Ｐ0
がピークとなっている。すなわち、アパーチャ面７９上
がＭＴＦ値ピークの位置に一致していることを示してい
る。また、この場合、像面（アパーチャ面）でのＭＴＦ
値は、７３％になっており、規格値Ｍが７０％とする
と、ＭＴＦ演算部２２による検査判定は、合格であり、
モニタ４には、「ＯＫ」が表示される。なお、他の空間
周波数ｆ1 ，ｆ2 ＝２０，３０本／ｍｍの場合、それぞ
れ像面のＺｄ＝０のＭＴＦ値Ｐ0 ′，Ｐ0 ″は、それぞ
れ４２％，２２％となっている。

【００５６】次に、撮影画枠周辺のＭＦＴを測定する場
合、例えば、第４象限の周辺ＭＦＴを測定するには、ア
パーチャ面７９上のチャートユニット５の第４象限の周
辺チャート部５ｅの像位置に撮像ヘッド１１の撮像レン
ズ１２の光軸Ｏｄが合致するようにヘッド駆動部１５の
ＸＹ軸駆動ステージ１６を駆動して、光軸Ｏｃ中心のＭ
ＴＦ測定と同様に撮像ヘッド１１の合焦点をアパーチャ
面７９上に一致させてＭＴＦを測定する。

【００５７】図９は、周辺チャート部５ｅの像に対する
ＭＴＦ値の変化を示す線図である。なお、図中、上記周
辺チャート部のｆ0 ，ｆ1 ，ｆ2 の曲線は、それぞれチ
ャートの空間周波数ｆ0 ＝１０本／ｍｍ，ｆ1 ＝２０本
／ｍｍ，ｆ2 ＝３０本／ｍｍの場合のＭＴＦ値の変化
を示し、実線はＳ方向パターン、破線はＭ方向パターン
のＭＴＦ値を示している。本実施形態のＭＴＦ特性検査
装置１０においては、Ｓ方向チャートパターンの空間周
波数ｆ0 ＝１０本／ｍｍの場合のｆ0 の曲線（実線）の
ＭＴＦ値の変化を適用する。上記図９の測定結果では、
ずれ量Ｚｄ＝０のＭＴＦ値Ｐ4 は、６０％であり、周辺
規格値Ｍの４０％を越えているので検査結果は、合格と
される。なお、他の空間周波数ｆ1 ，ｆ2 ＝２０，３０
本／ｍｍの場合、それぞれ像面のＺｄ＝０のＭＴＦ値Ｐ
4 ′，Ｐ4 ″は、それぞれ３４％，２３％となってい
る。

【００５８】なお、ＭＴＦ特性検査装置１０で実際に検
査を行う場合は、第４象限以外の第１〜第３象限の周辺
パターンのアパーチャ面（像面）を中心にしたＭＴＦも
同様に測定され、その測定結果により周辺パターンに対
するＭＴＦ値が評価される。

【００５９】次に、ＭＴＦ特性検査装置１０による検査
処理動作について、図１０，１１，１２を用いて具体的
に説明する。上記図１０は、上記検査処理のフローチャ
ートである。図１１は、各チャートに対するＭＴＦ値の
測定結果の一例を示す線図であって、図１１（Ａ）が中
心チャート５ａに対し、図１１（Ｂ）が第１象限の周辺
チャート５ｂに対し、図１１（Ｃ）が第２象限の周辺チ
ャート５ｃに対し、図１１（Ｄ）が第３象限の周辺チャ
ート５ｄに対し、図１１（Ｅ）が第４象限の周辺チャー
ト５ｅに対するそれぞれのＭＴＦ値の変化を示す。ま
た、図１２は、シャッタ装置７４のシャッタ開閉タイミ
ングと撮像ヘッド１１による撮像タイミングのタイムチ
ャ−トである。

【００６０】なお、図８、図９に示す曲線ｆ０，ｆｌ，
ｆ２は、カメラ６が有するシャッタ装置７４を開放した
状態で、撮像ヘッド１１を光軸方向に変位させながらＭ
ＴＦ特性を測定することにより得られる空間周波数のチ
ャートにおけるＭＴＦ特性曲線である。

【００６１】カメラ６は、このようにして得られるＭＴ
Ｆ特性曲線に基づいて、予め、所定の距離におけるレン
ズ群の繰り出し量が調整されている。なお、本実施形態
におけるＭＴＦ特性検査装置１０によりカメラレンズの
描写性能を検査する場合においては、Ｚ方向ずれ量Ｚｄ
＝０におけるＭＴＦ特性を測定する。

【００６２】まず、ＭＴＦ特性検査装置１０とチャート
ユニット５およびカメラ６を前述したＭＴＦ測定状態に
セットする。すなわち、撮像部本体１８にカメラ６をセ
ットし、レンズ鏡筒５０の光軸Ｏｃとチャートユニット
５の中心チャート部５ａの中心を一致させる。また、チ
ャート５は、カメラ６から標準撮影距離Ｌ1 だけ離間し
た位置にセットする。そこで、ＭＴＦ特性検査装置１０
側のピント位置制御部２３によりカメラ６側のＣＰＵ３
１を介して駆動制御部３２を駆動し、レンズ鏡筒５０を
標準撮影距離Ｌ1 に対する合焦位置まで繰り出させる。
このセット状態で図１０の特性検査処理がＣＰＵ２１の
制御のもとでスタートする。

【００６３】ステップＳ１から開始されるシャッタ開放
処理に先立って、ＸＹ軸駆動ステージ（ＸＹ軸駆動部）
１６により撮像ヘッド１１の光軸Ｏｄを上記レンズ鏡筒
５０の光軸Ｏｃに合致させて中心チャート部５ａのチャ
ート像を撮像可能な状態とする。さらに、Ｚ軸駆動ステ
ージ（Ｚ軸駆動部）１７を駆動制御して撮像ヘッド１１
をＺ方向に移動させ、撮像ヘッド１１の合焦点をカメラ
６のアパーチャ面７９に一致させる。

【００６４】ステップＳ１にてレンズ鏡筒５０のシャッ
タ装置７４のシャッタ羽根を開放させ、ステップＳにて
光軸Ｏｃ中心のＭＴＦ測定のために撮像ヘッド１１によ
って光軸Ｏｃ中心のチャート像の画像信号が取り込まれ
る。ステップＳ３にてシャッタ装置７４のシャッタを閉
鎖させる。

【００６５】ステップＳ１では、ＭＴＦ特性検査装置１
０のシャッタ開閉制御部２４から、カメラ６のＣＰＵ３
１に対し、所定のシャッタ開閉制御データが転送され
る。

【００６６】ステップＳ２では、ＭＴＦ特性検査装置１
０のＣＰＵ２１から撮像制御部１４に撮像開始信号が出
力され、ステップＳ３から撮像ヘッド１１にて撮像が開
始され、その値が積分されていく。しかしながらこの段
階では、カメラ６のシャッタ装置７４のシャッタ羽根が
閉じているため、実際には積分値は変化しない（タイミ
ングチャート参照）。

【００６７】ステップＳ４では上記シャッタ開閉制御部
２４からカメラ６のＣＰＵ２１に対しシャッタ装置７４
の開閉動作を開始するためのレリーズ信号が出力され
る。このレリーズ信号に基づいて、ＣＰＵ２１は、上記
ステップＳ１にてシャッタ開閉制御部２４から転送され
たシャッタ開閉制御データに基づいて、シャッタ開閉信
号をシャッタ駆動制御部３４に出力する。そして、この
シャッタ駆動制御部３４は、シャッタ開閉用電磁石装置
６６のプランジャ７１を吸引、突出させてシャツタ羽根
６１，６２，６３を開閉駆動する（ステップＳ５、ステ
ップＳ６）。このシャッタ開閉動作に伴い、撮像ヘッド
１１の積分値が変化する。

【００６８】そして、ＭＴＦ特性検査装置１０のＣＰＵ
２１は、上記ＣＰＵ３１から出力されるシャッタ閉信号
に応じて撮像制御部１４に撮像を停止ずるように撮像停
止信号を出力して、ステップＳ７にて撮像が停止され
る。上記撮像による積分データがＭＴＦ演算部２２に転
送される。この場合、シャツタ閉信号が出力されてか
ら、実際にシャッタの閉動作が終了するまでにはｔ0 だ
けの時間的なディレイが存在するため、撮像停止信号は
ディレイ時間を考慮して出力される。

【００６９】このようにして、光軸Ｏｃ中心におけるＭ
ＴＦ測定のための画像取り込みが終了したら、撮像ヘッ
ド１１をＸＹ軸駆動部１６により第１象限へと移動させ
た後、ステップＳ８からステップＳ１４の間を第１象限
〜第４象限における画像データの取り込みが終了するま
で続ける。

【００７０】すなわち、ステップＳ１４にて全象限の画
像データの取り込みが終了していないと判断された場合
は、ステッブＳ１５へと進み、撮像ヘッド１１をＸＹ軸
駆動ステージ１６によりＸＹ平面上で移動させて、撮像
ヘッド１１の光軸Ｏｄをチャート５の次の象限の結像位
置に合致させる。そして、ステップＳ８に戻り、該当す
る象限のチャート像を撮像し、周辺ＭＴＦ値が測定され
る。

【００７１】ステップＳ１４にて全象限における画像デ
ータの取り込みが終了したと判断されたら、ステップＳ
１６へと進む。ステップＳ１６では、ＭＴＦ演算部２２
において、上記ステップＳ３〜Ｓ７の間に撮像ヘッド１
１により取り込まれ、ＭＴＦ演算部２２に転送された上
記光軸Ｏｃ中心の撮像データから光軸中心のＭＴＦ値が
演算される。図１１（Ａ）には、アパーチャ面上である
ずれ量Ｚｄ＝０における光軸Ｏｃ中心のＭＴＦ値Ｐ0 の
演算結果が、例えば、５０％であることが示される。ま
た、図１１（Ａ）に示される光軸中心のＭＴＦ値Ｐ0 ′
は、従来の検査装置によるシャッタ開状態の定常状態で
のＭＴＦ値の演算結果であり、シャッタ開閉による像ぶ
れの影響のないＭＴＦ値を示し、例えば、６５％となっ
ている。このように本検査装置による像ぶれ等の影響を
含むＭＴＦ値Ｐ0 は、像ぶれなしのＭＴＦ値Ｐ0 ′より
も低下する。

【００７２】ステップＳ１７では、ＭＴＦ演算部２２に
おいて、上記ステップＳ９〜Ｓ１３の間にて撮像ヘッド
１１により取り込まれ、ＭＴＦ演算部２２に転送された
第１から第４象限のチャート像の撮像データから周辺Ｍ
ＴＦ値が演算される。図１１（Ｂ）〜（Ｅ）には、アパ
ーチャ面上であるずれ量Ｚｄ＝０における測定演算値で
ある周辺ＭＴＦ値Ｐ1 ，Ｐ2 ，Ｐ3 ，Ｐ4 が示される。
また、図１１（Ｂ）〜（Ｅ）に示される従来の検査装置
による周辺ＭＴＦ値Ｐ1 ′，Ｐ2 ′，Ｐ3 ′，Ｐ4 ′
は、シャッタ開状態の定常状態でのＭＴＦ値測定結果で
あり、シャッタ開閉による像ぶれの影響のないＭＴＦ値
を示している。周辺ＭＴＦ値に関しても同様に本検査装
置による像ぶれ等の影響を含むＭＴＦ値Ｐ1 ，Ｐ2 ，Ｐ
3 ，Ｐ4は、像ぶれなしのＭＴＦ値Ｐ1 ′，Ｐ2 ′，Ｐ3
′，Ｐ4 ′よりもそれぞれ低下している。

【００７３】ステップＳ１８にて上記測定、演算で求め
られた各ＭＴＦ値を検査規格値と比較し、その合否を判
定する。例えば、図１１（Ａ）に示すように光軸中心Ｍ
ＴＦ値の規格値Ｍ0 を７０％とすれば、測定演算値であ
る上記光軸中心ＭＴＦ値Ｐ0は、規格値に満たず、ＮＧ
（不合格）と判定される。また、例えば、図１１（Ｂ）
〜（Ｅ）に示すように周辺ＭＴＦ値の規格値Ｍ1 を４０
％とすれば、測定演算値である上記各周辺ＭＴＦ値Ｐ1
，Ｐ2 ，Ｐ3 ，Ｐ4 は、それぞれ規格値を満足し、Ｏ
Ｋ（合格）と判定される。

【００７４】ステップＳ１８にて上述した判定結果をモ
ニタ４に表示して本ルーチンを終了する。その後、カメ
ラ６をＭＴＦ特性検査装置１０の撮像部本体１８から取
り外して、特性検査処理を終了する。

【００７５】なお、本実施形態においては、シャッタ装
置７４の開閉動作に先立って、撮像ヘッド１１による撮
像を開始し、シャッタ装置７４の閉信号に応じて撮像を
停止しているが、本発明の目的を達成するためにはこれ
に限らず、シャッタ装置７４の開閉動作中に撮像が行え
ればよい。すなわち、撮像動作は、図１２のタイムチャ
ートに示す時間Ｔｓの間に行われれば良い。よって、撮
像開始をシャッタ装置７４の開信号に同期させても良い
し、タイミングチャートにも示されるように、シャッタ
装置７４の閉動作を行った後には積分値が変化しなくな
るので、この、積分値が変化しなくなることをもって撮
像を停止してもよい。

【００７６】また、本実施の形態においては、シャッタ
装置７４を開閉駆動するための制御データをＭＴＦ特性
検査装置１０からカメラ６へと転送している。これは、
シャッタ装置７４の駆動時に生じる振動などの描写性能
への影響度は、シャッタ装置７４の駆動秒時（シャッタ
スピード）によって変化することから、例えば、もっと
も描写性能に影響を与える駆動秒時にてシャッタ装置７
４を駆動するためである。更に、各駆動秒時における描
写性能の影響度を検査するために、図１０に示ずフロー
チャートで駆動秒時を変更して行ってもよい。その場
合、シャッタ装置７４の駆動秒時を変更しても撮像ヘッ
ドｌｌにて、適正な露出が得られるように、ＭＴＦ特性
検査装置１０によってチャート５の照明輝度を制御でき
るようにするとよい。

【００７７】上述した本実施形態のＭＴＦ特性検査装置
１０によれば、シャッタ開閉時でのチャート像のＭＴＦ
値による検査方法を適用することから、一般の被写体を
撮影する実写との対応がとれる。すなわち、上記特性検
査を行ったカメラ６において、少なくとも被写体が標準
距離Ｌ1 にあるとき、上記ＥＥＰＲＯＭ３５に書き込ま
れたレンズ繰り出し量データに基づいてレンズ鏡筒５０
をフォーカシングすれば、光軸Ｏ中心および画面周辺の
撮影像は、上記ＭＴＦ特性検査装置での判定に供された
像と同程度であって、上記ＭＴＦ特性検査装置において
は、実際の露光状態に近い状態での判定がなされる。

【００７８】なお、上記レンズ鏡筒５０は、シャッタ開
閉駆動源としてプランジャ型電磁石６６を適用している
が、その駆動源として、電磁石装置に限らず、例えば、
アイリスモータやＤＣモータを適用するもの、あるい
は、バネチャージ方式を採用するものなどでシャッタ羽
根開閉動作でレンズ枠が微小振動するようなレンズ鏡筒
に対しても上述したＭＴＦ特性検査装置１０を適用可能
である。

【００７９】また、レンズ鏡筒５０に内蔵されるシャッ
タ装置としてシャッタ羽根を用いるものの他にフォーカ
ルプレーンシャッタを適用する一眼レフタイプのカメラ
のレンズ鏡筒にも適用可能である。さらに、上述したＭ
ＴＦ特性検査装置１０の被検物であるカメラとして、銀
塩カメラの他にデジタルカメラも適用可能であること
は、勿論である。

【００８０】

【発明の効果】本発明によれば、カメラレンズの描写性
能検査する際、シャッタ動作中に露光される像によるＭ
ＴＦ値を評価するため、シャッタ動作による衝撃により
レンズ枠は微振動するために生じる像ぶれの影響を含む
描写性能を評価できるカメラレンズ描写性能検査装置を
提供することができ、そのためにカメラがユーザに渡っ
た後の実際の撮影状況と等価な描写性評価が可能にな
り、生産時の品質保証が確実となり、ユーザに高品質な
カメラを提供できるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態のカメラレンズの描写性能検
査装置に対する被検物であるカメラに装着されるレンズ
鏡筒の縦断面図である。

【図２】上記図１のレンズ鏡筒に組み込まれるシャッタ
装置の分解斜視図である。

【図３】図１のレンズ鏡筒のシャッタ装置の閉鎖状態を
示す図１のＡ−Ａ断面図である。

【図４】図１のレンズ鏡筒のシャッタ装置の小絞り状態
を示す図１のＡ−Ａ断面図である。

【図５】図１のレンズ鏡筒のシャッタ装置の開放状態を
示す図１のＡ−Ａ断面図である。

【図６】本発明の一実施形態の描写性能検査装置である
カメラレンズ特性検査の構成を示す系統図である。

【図７】上記図６の一実施形態のＭＴＦ特性検査装置の
構成を示すブロック構成図である。

【図８】上記図６の一実施形態のＭＴＦ特性検査装置に
おける光軸中心ＭＴＦ値のＺ位置に対する変化を示す線
図である。

【図９】上記図６の一実施形態のＭＴＦ特性検査装置に
おける周辺ＭＴＦ値のＺ位置に対する変化を示す線図で
ある。

【図１０】上記図６の一実施形態のＭＴＦ特性検査装置
におけるＭＴＦ検査処理のフローチャートである。

【図１１】上記図６の一実施形態のＭＴＦ特性検査装置
における各チャートに対するＭＴＦ値の測定結果の一例
を示す線図であって、図１１（Ａ）が中心チャートに対
する光軸中心ＭＴＦ値の線図であり、図１１（Ｂ）が第
１象限のチャートに対する周辺ＭＴＦ値の線図であり、
図１１（Ｃ）が第２象限のチャートに対する周辺ＭＴＦ
値の線図であり、図１１（Ｄ）が第３象限のチャートに
対する周辺ＭＴＦ値の線図であり、図１１（Ｅ）が第４
象限のチャートに対する周辺ＭＴＦ値の線図である。

【図１２】上記図６の一実施形態のＭＴＦ特性検査装置
におけるシャッタ開閉信号と撮像ヘッドの撮像信号のタ
イムチャ−トである。

【符号の説明】

５ ……チャートユニット（チャート） ６ ……カメラ（被検物） １１ ……撮像ヘッド（撮像手段） １４ ……撮像制御部（撮像制御手段） ２１……ＣＰＵ（制御手段） ２２ ……ＭＴＦ演算部（ＭＴＦ算出部） ２４ ……シャッタ開閉制御部（制御手段） ３１……ＣＰＵ（シャッタ制御手段） ３４ ……シャッタ駆動制御部（シャッタ制御手段） ５０ ……レンズ鏡筒（撮影光学系） ７４ ……シャッタ装置（シャッタ手段） ７５ ……第１レンズ群（撮影光学系） ７６ ……第２レンズ群（撮影光学系

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 所定位置に配置される被検物であるカメ
   ラの撮影光学系を介して撮像する撮像手段と、 上記カメラに対して上記撮像手段が配される側の反対側
   に所定距離離間して配置されるチャートと、 上記撮像手段が撮像したチャート像に基づき、上記被検
   物となりカメラの撮影光学系のＭＴＦ特性を算出するＭ
   ＴＦ算出手段と、 上記チャートと撮像手段との間に配置され、上記チャー
   トから撮像手段への光路を開閉するシャッタ手段と、 を具備し、上記シャッタ手段が開状態にあるときに上記
   撮像手段が撮像したチャート像に基づいて上記ＭＴＦ算
   出手段が上記被検物となるカメラの撮影光学系のＭＴＦ
   特性を算出することを特徴とするカメラレンズの描写性
   能検査装置。
2. 【請求項２】 上記シャッタ手段は、上記被検物となる
   カメラが有しており、上記シャッタ手段の駆動開始信号
   を出力可能な駆動指示手段を具備することを特徴とする
   請求項１記載のカメラレンズの描写性能検査装置。
3. 【請求項３】 上記撮像手段による撮像を制御する撮像
   制御手段を有しており、上記制御手段は、上記被検物と
   なるカメラが有する上記シャッタ手段の駆動開始信号を
   出力すると共に、上記撮像制御手段に対して撮像開始信
   号を出力し、この撮像開始信号に基づいて上記撮像手段
   による上記チャートの撮像を開始することを特徴とする
   請求項２記載のカメラレンズ描写性能検査装置。