JP2003174043A - Apparatus and method for mounting electronic component - Google Patents

Apparatus and method for mounting electronic component

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JP2003174043A JP2001372291A JP2001372291A JP2003174043A JP 2003174043 A JP2003174043 A JP 2003174043A JP 2001372291 A JP2001372291 A JP 2001372291A JP 2001372291 A JP2001372291 A JP 2001372291A JP 2003174043 A JP2003174043 A JP 2003174043A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic component-mounting apparatus and an electronic component-mounting method that can secure correct mounting position accuracy even when misalignment occurs in the relative position between the appearance of electronic components and an active surface. <P>SOLUTION: In the electronic component-mounting apparatus for taking out a chip 5 that is put to a wafer sheet 4 by a transfer head 16 for mounting onto a substrate 11, the chip 5 on the wafer sheet 4 is imaged by a component- recognizing camera 18 for detecting the appearance and active surface positions of the chip 5. In a path where a transfer head 16 that retains the chip 5 is moved to the substrate 11, the chip 5 is imaged from a rear side by a line camera 13 for detecting the appearance position of the chip 5. Then, when the chip 5 is to be mounted by the transfer head 16, a transfer head drive mechanism 42 is controlled based on a position detection result detected by the component recognition and line cameras 18 and 13, and the active surface of the chip 5 is alined to the substrate 11. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ウェハシートに貼
着された状態の半導体チップなど電子部品を基板に実装
する電子部品実装装置および電子部品実装方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component mounting apparatus and an electronic component mounting method for mounting an electronic component such as a semiconductor chip attached to a wafer sheet on a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の製造工程において、半導体
チップは多数の個片チップより成るウェハから切り出さ
れ、切り出された個片の半導体チップはウェハシートか
ら剥ぎ取られてピックアップされる。このピックアップ
工程では、ウェハシートの上方に配置されたカメラによ
って各半導体素子を認識することにより各半導体の位置
が検出される。そして半導体素子を移載ヘッドによって
取り出して基板に搭載する際には、この位置検出結果に
基づいて移載ヘッドの位置合わせを行うようにしてい
た。
2. Description of the Related Art In a semiconductor device manufacturing process, a semiconductor chip is cut out from a wafer composed of a large number of individual chips, and the cut individual semiconductor chips are peeled off from a wafer sheet and picked up. In this pick-up process, the position of each semiconductor is detected by recognizing each semiconductor element by the camera arranged above the wafer sheet. Then, when the semiconductor element is taken out by the transfer head and mounted on the substrate, the position of the transfer head is adjusted based on the position detection result.

【0003】ところで、半導体チップの外形の中心と回
路パターンなどの能動面の中心とは、半導体ウェハを個
片に切断するダイシング時の位置誤差などの要因によっ
て必ずしも一致せず、位置ずれを生じている場合があ
る。基板上における半導体素子の実装位置精度は能動面
が基準となるため、前述の半導体素子の位置認識の際に
は能動面の位置を検出して機能上の素子中心位置を求
め、この素子中心位置をねらって移載ヘッドの吸着ノズ
ルを位置合わせすることが望ましい。
By the way, the center of the outer shape of the semiconductor chip and the center of the active surface such as a circuit pattern do not always coincide with each other due to factors such as a position error at the time of dicing for cutting the semiconductor wafer into pieces, and a position shift occurs. There is a case. Since the active surface is the standard for the mounting position accuracy of the semiconductor element on the board, when recognizing the position of the semiconductor element described above, the position of the active surface is detected to obtain the functional element center position. It is desirable to align the suction nozzle of the transfer head aiming at this.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、吸着ノ
ズルによって半導体素子の上面を真空吸着し取り出すピ
ックアップ動作時には、吸着ノズルに対して半導体素子
の位置ずれが生じ易く、検出された素子中心位置をねら
って吸着ノズルを位置合わせしても、ピックアップ後に
おいては半導体素子が位置ずれ状態となる場合が多い。
そしてピックアップ後には半導体素子の能動面は吸着ノ
ズルによって隠された状態になることから、素子中心位
置を改めて検出することができない。このため従来の電
子部品実装装置においては、半導体素子などの電子部品
の外形と回路パターンなどの能動面との相対位置が位置
ずれを生じている場合には、この位置ずれがそのまま実
装位置精度を低下させる要因となっていた。
However, during the pickup operation in which the upper surface of the semiconductor element is vacuum-sucked by the suction nozzle and is taken out, the semiconductor element is apt to be displaced with respect to the suction nozzle, and the detected element center position is aimed at. Even if the suction nozzle is aligned, the semiconductor element is often in a misaligned state after pickup.
After the pickup, since the active surface of the semiconductor element is hidden by the suction nozzle, the center position of the element cannot be detected again. Therefore, in the conventional electronic component mounting apparatus, when the relative position between the outer shape of the electronic component such as a semiconductor element and the active surface such as the circuit pattern is misaligned, this misalignment directly affects the mounting position accuracy. It was a factor that caused the decrease.

【0005】そこで本発明は、電子部品の外形と能動面
との相対位置が位置ずれを生じている場合においても、
正しい実装位置精度を確保することができる電子部品実
装装置および電子部品実装方法を提供することを目的と
する。
Therefore, according to the present invention, even when the relative position between the outer shape of the electronic component and the active surface is displaced,
An object of the present invention is to provide an electronic component mounting apparatus and an electronic component mounting method that can ensure correct mounting position accuracy.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の電子部品
実装装置は、ウェハシートに貼着された電子部品を移載
ヘッドによって取り出して基板に実装する電子部品実装
装置であって、前記電子部品をウェハシートとともに保
持するウェハ保持部と、このウェハ保持部に保持された
電子部品を電子部品の能動面側から撮像する第1のカメ
ラと、この第1のカメラをウェハ保持部上で移動させる
カメラ移動手段と、第1のカメラの撮像結果を認識する
ことにより電子部品の外形位置および電子部品の能動面
位置を検出する第1の認識部と、前記移載ヘッドを移動
させる移載ヘッド駆動機構と、移載ヘッドによって取り
出され移載ヘッドに前記能動面側を保持された電子部品
を裏面側から撮像する第2のカメラと、第2のカメラの
撮像結果を認識することにより電子部品の外形位置を検
出する第2の認識部と、前記第1の認識部による位置検
出結果と第2の認識部による位置検出結果とに基づいて
前記移載ヘッド駆動機構を制御する制御部とを備えた。
An electronic component mounting apparatus according to claim 1, wherein the electronic component adhered to a wafer sheet is taken out by a transfer head and mounted on a substrate. A wafer holder that holds the component together with the wafer sheet, a first camera that images the electronic component held by the wafer holder from the active surface side of the electronic component, and the first camera moves on the wafer holder. A camera moving means, a first recognizing section for recognizing an image pickup result of the first camera to detect an outer shape position of the electronic component and an active surface position of the electronic component, and a transfer head for moving the transfer head. A drive mechanism, a second camera for picking up an image of an electronic component taken out by the transfer head and having the active surface held by the transfer head, and a second camera for recognizing an image pickup result of the second camera. The transfer head drive mechanism is controlled based on the second recognition unit that detects the outer shape position of the electronic component, and the position detection result by the first recognition unit and the position detection result by the second recognition unit. And a control unit.

【0007】請求項2記載の電子部品実装方法は、ウェ
ハシートに貼着された電子部品を移載ヘッドによって取
り出して基板に実装する電子部品実装方法であって、ウ
ェハ保持部に保持された電子部品を電子部品の能動面側
から第1のカメラにより撮像する第1の撮像工程と、第
1の撮像工程の撮像結果を認識することにより電子部品
の外形位置および電子部品の能動面位置を検出する第1
の認識工程と、前記移載ヘッドによって前記能動面側を
保持された電子部品を第2のカメラによって裏面側から
撮像する第2の撮像工程と、第2の撮像工程の撮像結果
を認識することにより電子部品の外形位置を検出する第
2の認識工程と、前記第1の認識工程の位置検出結果と
第2の認識工程の位置検出結果とに基づいて前記移載ヘ
ッドを駆動する移載ヘッド駆動機構を制御することによ
り移載ヘッドに保持された電子部品の能動面を前記基板
に位置合わせした上で基板に搭載する搭載工程とを含
む。
An electronic component mounting method according to a second aspect is an electronic component mounting method in which an electronic component attached to a wafer sheet is taken out by a transfer head and mounted on a substrate, and the electronic component is held by a wafer holder. A first imaging step of imaging the component from the active surface side of the electronic component by the first camera, and detecting the external result position of the electronic component and the active surface position of the electronic component by recognizing the imaging result of the first imaging step First to do
Recognizing the image pickup result of the second image pickup step, and the second image pickup step of picking up the electronic component whose active surface side is held by the transfer head from the back side by the second camera. A second recognition step of detecting the outer shape position of the electronic component by means of a transfer head that drives the transfer head based on the position detection result of the first recognition step and the position detection result of the second recognition step. And a mounting step of mounting an active part of the electronic component held by the transfer head on the substrate by controlling the driving mechanism after aligning the active surface with the substrate.

【0008】本発明によれば、ウェハ保持部で電子部品
を撮像して認識する第1の認識工程において電子部品の
外形位置および電子部品の能動面位置を検出し、移載ヘ
ッドによって部品供給部から取り出され移載ヘッドに保
持された状態の電子部品を下方から撮像して認識する第
2の認識工程において電子部品の外形位置を再び検出
し、第1の認識工程の位置検出結果と第2の認識工程の
位置検出結果とに基づいて移載ヘッド駆動機構を制御す
ることにより、移載ヘッドに保持された電子部品の能動
面を基板に位置合わせした上で基板に搭載することがで
きる。
According to the present invention, the external position of the electronic component and the position of the active surface of the electronic component are detected in the first recognition step in which the electronic component is picked up and recognized by the wafer holder, and the transfer head is used to detect the electronic component. The external position of the electronic component is detected again in the second recognition process in which the electronic component in the state of being picked up from and held by the transfer head is imaged and recognized from below, and the position detection result of the first recognition process and the second position are detected. By controlling the transfer head drive mechanism on the basis of the position detection result of the recognition step, the active surface of the electronic component held by the transfer head can be aligned with the substrate and then mounted on the substrate.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子
部品実装装置の平面図、図2は本発明の一実施の形態の
電子部品実装装置の断面図、図3は本発明の一実施の形
態の電子部品実装装置の単位移載ヘッドの断面図、図
4、図5は本発明の一実施の形態の電子部品実装方法の
工程説明図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a plan view of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an electronic diagram of an embodiment of the present invention. Sectional views of the unit transfer head of the component mounting apparatus, and FIGS. 4 and 5 are process explanatory diagrams of the electronic component mounting method according to the embodiment of the present invention.

【0010】まず図1、図2を参照して電子部品実装装
置の全体構造について説明する。図1において基台1上
には、部品供給部2が配設されている。部品供給部2は
保持テーブル3を備えており、保持テーブル3には電子
部品である半導体チップ5(以下、単に「チップ5」と
略記。)が多数個片状態で貼着されたウェハシート4を
保持している。保持テーブル3は、チップ5をウェハシ
ート4とともに保持するウェハ保持部となっている。
First, the overall structure of the electronic component mounting apparatus will be described with reference to FIGS. In FIG. 1, a component supply unit 2 is arranged on a base 1. The component supply unit 2 includes a holding table 3, and a wafer sheet 4 to which a large number of semiconductor chips 5 (hereinafter simply referred to as “chips 5”), which are electronic components, are attached to the holding table 3. Holding The holding table 3 serves as a wafer holding unit that holds the chip 5 together with the wafer sheet 4.

【0011】図2に示すように、保持テーブル3の下方
にはエジェクタ機構6が配設されている。エジェクタ機
構6は可動テーブル6aを備えており、可動テーブル6
aには半導体チップ突き上げ用のエジェクタピンを昇降
させるピン昇降機構7が装着されている。可動テーブル
6aを駆動することにより、ピン昇降機構7はウェハシ
ート4の下方でXY方向に移動する。
As shown in FIG. 2, an ejector mechanism 6 is arranged below the holding table 3. The ejector mechanism 6 is provided with a movable table 6a.
A pin elevating mechanism 7 for elevating the ejector pin for pushing up the semiconductor chip is attached to a. By driving the movable table 6a, the pin lifting mechanism 7 moves in the XY directions below the wafer sheet 4.

【0012】部品供給部2の側方には、基板搬入コンベ
ア8A、基板振り分け部9、基板位置決め部10、基板
取り出し部12および基板搬出コンベア8BがX方向に
直列に配列されている。基板搬入コンベア8Aは、チッ
プ5が実装される基板11を上流側から受け取って搬入
する。基板振り分け部9は、搬送コンベア9aをスライ
ド機構9bによってY方向にスライド可能に配設した構
成となっており、基板搬入コンベア8Aから受け取った
基板11を以下に説明する基板位置決め部の2つの実装
ステージに選択的に振り分ける。
A board carry-in conveyor 8A, a board distributing section 9, a board positioning section 10, a board take-out section 12 and a board carry-out conveyor 8B are arranged in series in the X direction on the side of the component supply section 2. The board carry-in conveyor 8A receives the board 11 on which the chip 5 is mounted from the upstream side and carries it in. The board allocating section 9 has a structure in which the transfer conveyor 9a is slidable in the Y direction by a slide mechanism 9b, and the board 11 received from the board carry-in conveyor 8A is mounted on two board positioning sections to be described below. Selectively distribute to the stage.

【0013】基板位置決め部10は、2つの実装ステー
ジ10A,10Bを備えており、基板振り分け部9によ
って振り分けられた基板11を実装位置に位置決めす
る。基板取り出し部12は、基板振り分け部9と同様に
搬送コンベア12aをスライド機構12bによってY方
向にスライド可能に配設した構成となっており、2つの
実装ステージ10A,10Bから実装済みの基板11を
選択的に受け取り、基板搬出コンベア8Bに渡す。基板
搬出コンベア8Bは、渡された実装済みの基板11を下
流側に搬出する。
The board positioning unit 10 includes two mounting stages 10A and 10B, and positions the board 11 sorted by the board sorting unit 9 at the mounting position. The board take-out section 12 has a structure in which a transfer conveyor 12a is slidable in the Y direction by a slide mechanism 12b, similarly to the board sorting section 9, and the mounted board 11 can be mounted from two mounting stages 10A and 10B. It is selectively received and delivered to the substrate unloading conveyor 8B. The board unloading conveyer 8B carries out the mounted board 11 that has been mounted to the downstream side.

【0014】基台1の上面の両端部には、第1のY軸テ
ーブル14A,第2のY軸テーブル14Bが基板搬送方
向(X方向)と直交する方向に配設されている。第1の
Y軸テーブル14A,第2のY軸テーブル14Bには、
第1のX軸テーブル15A,第2のX軸テーブル15B
が架設されている。第1のX軸テーブル15Aには、後
述する単位移載ヘッドを複数備えた多連型の移載ヘッド
16が装着されており、移載ヘッド16に隣接して、基
板認識カメラ17が移載ヘッド16と一体的に移動可能
に配設されている。
A first Y-axis table 14A and a second Y-axis table 14B are arranged at both ends of the upper surface of the base 1 in a direction orthogonal to the substrate transport direction (X direction). In the first Y-axis table 14A and the second Y-axis table 14B,
First X-axis table 15A, second X-axis table 15B
Has been erected. On the first X-axis table 15A, a multiple-type transfer head 16 including a plurality of unit transfer heads described later is mounted, and a substrate recognition camera 17 is transferred adjacent to the transfer head 16. It is arranged so as to be movable integrally with the head 16.

【0015】第1のY軸テーブル14A及び第1のX軸
テーブル15Aを駆動することにより、移載ヘッド16
および基板認識カメラ17は一体的に移動する。第1の
Y軸テーブル14A及び第1のX軸テーブル15Aは、
移載ヘッド16を移動させる移載ヘッド駆動機構42を
構成する。移載ヘッド駆動機構42は制御部40によっ
て制御される。移載ヘッド16の上部には、後述する単
位移載ヘッドに供給される空圧の圧力制御を行う電空レ
ギュレータ19が配置されている。電空レギュレータ1
9は、制御部40に制御されることにより後述するよう
に空圧供給部から供給される空圧の圧力を調整する。
The transfer head 16 is driven by driving the first Y-axis table 14A and the first X-axis table 15A.
And the board recognition camera 17 moves integrally. The first Y-axis table 14A and the first X-axis table 15A are
A transfer head drive mechanism 42 that moves the transfer head 16 is configured. The transfer head drive mechanism 42 is controlled by the controller 40. Above the transfer head 16, an electropneumatic regulator 19 for controlling the pressure of pneumatic pressure supplied to the unit transfer head, which will be described later, is arranged. Electro-pneumatic regulator 1
9 is adjusted by the control unit 40 to adjust the pressure of the pneumatic pressure supplied from the pneumatic pressure supply unit as described later.

【0016】また第2のX軸テーブル15Bには、部品
認識カメラ18が装着されており、部品認識カメラ18
の撮像データは第1の認識部41に送られる。第2のY
軸テーブル14B及び第2のX軸テーブル15Bを駆動
することにより、部品認識カメラ18はXY方向に水平
移動する。部品供給部2の上方に位置した部品認識カメ
ラ18によって下方を撮像することにより、ウェハシー
ト4に貼着されたチップ5が撮像される。そしてこの撮
像により得られた画像データを第1の認識部41によっ
て認識処理することにより、任意のチップ5の能動面位
置および外形位置が検出され、位置検出結果は制御部4
0に伝達される。
A component recognition camera 18 is mounted on the second X-axis table 15B.
The imaging data of is sent to the first recognition unit 41. Second Y
By driving the axis table 14B and the second X-axis table 15B, the component recognition camera 18 horizontally moves in the XY directions. The chip 5 attached to the wafer sheet 4 is imaged by imaging the lower side by the component recognition camera 18 located above the component supply unit 2. Then, the first recognition unit 41 performs recognition processing on the image data obtained by this imaging to detect the active surface position and the outer shape position of the arbitrary chip 5, and the position detection result is the control unit 4
Transmitted to 0.

【0017】部品認識カメラ18は、保持テーブル3に
保持されたチップ5を能動面側から撮像する第1のカメ
ラとなっており、第2のY軸テーブル14B及び第2の
X軸テーブル15Bは、部品認識カメラ18を保持テー
ブル3上で移動させるカメラ移動手段となっている。
The component recognition camera 18 is a first camera for taking an image of the chip 5 held on the holding table 3 from the active surface side, and the second Y-axis table 14B and the second X-axis table 15B are , Which is a camera moving means for moving the component recognition camera 18 on the holding table 3.

【0018】そしてこの位置認識結果に基づいて、移載
ヘッド16を取り出し対象のチップ5に位置合わせし、
単位移載ヘッドによってチップ5をピックアップする。
このピックアップ時には、エジェクタ機構6の可動テー
ブル6aを駆動してピン昇降機構7を同様に当該チップ
5に位置合わせし、ピン昇降機構7によってエジェクタ
ピンを上昇させてチップ5を下方から突き上げる。これ
により、チップ5はウェハシート4から剥離される。
Based on this position recognition result, the transfer head 16 is aligned with the chip 5 to be taken out,
The chip 5 is picked up by the unit transfer head.
At the time of this pickup, the movable table 6a of the ejector mechanism 6 is driven to align the pin elevating mechanism 7 with the chip 5 in the same manner, and the pin elevating mechanism 7 raises the ejector pin to push up the chip 5 from below. As a result, the chip 5 is separated from the wafer sheet 4.

【0019】このとき移載ヘッド16の複数の単位移載
ヘッドによって複数のチップ5をピックアップすること
により、移載ヘッド16が基板11と部品供給部2との
間を1往復する1実装ターンにおいて、複数のチップ5
を取り出して、基板位置決め部10の基板11へ移送搭
載することができるようになっている。
At this time, by picking up the plurality of chips 5 by the plurality of unit transfer heads of the transfer head 16, the transfer head 16 makes one reciprocation between the substrate 11 and the component supply unit 2 in one mounting turn. , Multiple chips 5
Can be taken out and transferred to and mounted on the substrate 11 of the substrate positioning unit 10.

【0020】基板位置決め部10と部品供給部2との間
にはラインカメラ13が配設されており、部品供給部2
から取り出したチップを保持した移載ヘッド16がライ
ンカメラ13の上方でX方向に移動してスキャン動作を
行うことにより、移載ヘッド16に能動面側を保持され
たチップ5が裏側から撮像される。ラインカメラ13は
移載ヘッド16に能動面側を保持されたチップ5を裏面
側から撮像する第2のカメラとなっている。ラインカメ
ラ13の撮像データは第2の認識部43に送られ、第2
の認識部43によってこの撮像データを認識処理するこ
とにより、これらのチップ5の外形位置が検出され、こ
の位置検出結果は、制御部40に伝達される。
A line camera 13 is arranged between the board positioning unit 10 and the component supply unit 2, and the component supply unit 2 is provided.
The transfer head 16 holding the chip taken out from the device moves in the X direction above the line camera 13 and performs a scanning operation, so that the chip 5 whose active surface side is held by the transfer head 16 is imaged from the back side. It The line camera 13 is a second camera that captures an image of the chip 5 whose active surface side is held by the transfer head 16 from the back surface side. The image data of the line camera 13 is sent to the second recognition unit 43,
By recognizing the imaged data by the recognition unit 43, the outer shape positions of the chips 5 are detected, and the position detection result is transmitted to the control unit 40.

【0021】基板11の上方に移動した移載ヘッド16
が、基板11に対して昇降してチップ5を搭載する実装
動作を行う際には、この第2の認識部43による外形位
置の認識結果と、前述の第1の認識部41による能動面
位置および外形位置に基づいて搭載位置が補正される。
The transfer head 16 moved above the substrate 11.
However, when performing the mounting operation of moving up and down with respect to the substrate 11 to mount the chip 5, the recognition result of the outer shape position by the second recognition unit 43 and the active surface position by the first recognition unit 41 described above. And the mounting position is corrected based on the outer shape position.

【0022】制御部40は第1のX軸テーブル15A、
第1のY軸テーブル14A、エジェクタ機構6および基
板位置決め部10を制御し、第1の認識部41および第
2の認識部43によるチップ5の位置検出結果に基づい
て、制御部40が移載ヘッド駆動機構42,エジェクタ
機構6および基板位置決め部10を制御することによ
り、後述するように電子部品実装動作においてチップ5
の位置合わせを行う。
The control unit 40 uses the first X-axis table 15A,
The first Y-axis table 14A, the ejector mechanism 6, and the substrate positioning unit 10 are controlled, and the control unit 40 is transferred based on the position detection result of the chip 5 by the first recognition unit 41 and the second recognition unit 43. By controlling the head drive mechanism 42, the ejector mechanism 6, and the substrate positioning unit 10, the chip 5 is mounted in the electronic component mounting operation as described later.
Align the.

【0023】次に図3を参照して、移載ヘッド16に装
着された単位移載ヘッド20の構造について説明する。
図3において、水平な共通のベース部16aには、複数
の単位移載ヘッド20が並列に配置されている。ここで
は、隣接した2つの単位移載ヘッド20のみを示してい
る。ベース部16aの下面には、軸保持部22が固着さ
れており、軸保持部22にはスライド軸受け25が装着
されている。
Next, the structure of the unit transfer head 20 mounted on the transfer head 16 will be described with reference to FIG.
In FIG. 3, a plurality of unit transfer heads 20 are arranged in parallel on a horizontal common base portion 16a. Here, only two adjacent unit transfer heads 20 are shown. A shaft holding portion 22 is fixed to the lower surface of the base portion 16a, and a slide bearing 25 is attached to the shaft holding portion 22.

【0024】スライド軸受け25に上下方向にスライド
自在に嵌合した昇降軸26には、ナット部材24が結合
されている。ナット部材24には、ベース部16aの上
面に垂直に配設されたモータ21によって回転駆動され
る送りねじ23が螺合している。モータ21を回転駆動
することにより、昇降軸26は昇降する。
A nut member 24 is coupled to an elevating shaft 26 which is fitted in a slide bearing 25 so as to be vertically slidable. A feed screw 23, which is rotationally driven by a motor 21 arranged perpendicularly to the upper surface of the base portion 16a, is screwed into the nut member 24. By rotating the motor 21, the elevating shaft 26 moves up and down.

【0025】昇降軸26の下端部には、連結ブロック2
7を介してノズル保持部30が結合されている。ノズル
保持部30にはスライド軸受け31が装着されており、
スライド軸受け31にはノズル軸32がスライド自在に
嵌合している。ノズル軸32の頭部32aの上面には、
ノズル保持部30の上部に装着されたダイヤフラム弁2
9が当接している。
At the lower end of the lifting shaft 26, the connecting block 2
The nozzle holding unit 30 is connected via 7. A slide bearing 31 is attached to the nozzle holding portion 30,
A nozzle shaft 32 is slidably fitted in the slide bearing 31. On the upper surface of the head 32a of the nozzle shaft 32,
Diaphragm valve 2 mounted on the top of the nozzle holder 30
9 is in contact.

【0026】ダイヤフラム弁29の気室29aは、連結
ブロック27に設けられた内孔27aを介して継ぎ手2
8に連通しており、継ぎ手28は電空レギュレータ19
を介して空圧供給部37に接続されている。空圧供給部
37によって気室29a内に空圧を供給することによ
り、ダイヤフラム弁29は頭部32aに対して供給され
た空圧に応じた下向きの荷重を作用させる。
The air chamber 29a of the diaphragm valve 29 is connected to the joint 2 through an inner hole 27a provided in the connecting block 27.
8 and the joint 28 is an electropneumatic regulator 19
Is connected to the air pressure supply unit 37 via. By supplying air pressure into the air chamber 29a by the air pressure supply unit 37, the diaphragm valve 29 exerts a downward load on the head portion 32a according to the air pressure supplied.

【0027】このとき、図3に示す右側の単位移載ヘッ
ド20のように、ノズル軸32の下端部がチップ5の上
面に当接した状態において、頭部32aの下面とスライ
ド軸受け31の上面との間にわずかな隙間Cが生じるよ
うにノズル保持部30を下降させることにより、ダイヤ
フラム弁29が発生した下向きの荷重はノズル軸32に
そのまま伝達され、チップ5を基板11に対して押圧す
る。
At this time, like the right unit transfer head 20 shown in FIG. 3, in the state where the lower end of the nozzle shaft 32 is in contact with the upper surface of the tip 5, the lower surface of the head portion 32a and the upper surface of the slide bearing 31. The downward load generated by the diaphragm valve 29 is transmitted to the nozzle shaft 32 as it is, and the chip 5 is pressed against the substrate 11 by lowering the nozzle holding portion 30 so that a slight gap C is generated between the nozzle 5 and the substrate 11. .

【0028】ノズル軸32の下部は吸着ノズル32bと
なっており、吸着ノズル32bの内部には吸着孔32c
が形成されている。吸着孔32cは継ぎ手33および真
空バルブ34を介して真空ポンプ35に接続されてお
り、吸着ノズル32bの下端部をチップ5に当接させて
真空ポンプ35によって吸着孔32cから真空吸引する
ことにより、吸着ノズル32bはチップ5を吸着保持す
る。真空バルブ34は、真空吸引回路を断接することに
より、吸着ノズル32bによる真空吸着・吸着解除の切
り替えを行う。
Below the nozzle shaft 32 is a suction nozzle 32b, and inside the suction nozzle 32b is a suction hole 32c.
Are formed. The suction hole 32c is connected to a vacuum pump 35 via a joint 33 and a vacuum valve 34, and the lower end of the suction nozzle 32b is brought into contact with the chip 5 and the vacuum pump 35 sucks vacuum from the suction hole 32c. The suction nozzle 32b holds the chip 5 by suction. The vacuum valve 34 switches between vacuum suction and suction release by the suction nozzle 32b by connecting and disconnecting the vacuum suction circuit.

【0029】上記構成において、モータ21,送りねじ
23およびナット部材24は、吸着ノズル32bが設け
られたノズル軸32を保持するノズル保持部30を昇降
させる昇降手段となっている。またノズル保持部30に
設けられたダイヤフラム弁29は、吸着ノズル32bに
対して空圧による下向きの荷重を作用させることによ
り、チップ5の搭載時に吸着ノズル32bを介してチッ
プ5を基板11に対して押圧する押圧手段となってい
る。
In the above structure, the motor 21, the feed screw 23 and the nut member 24 serve as an elevating means for elevating and lowering the nozzle holding portion 30 holding the nozzle shaft 32 provided with the suction nozzle 32b. Further, the diaphragm valve 29 provided in the nozzle holding unit 30 applies a downward load due to air pressure to the suction nozzle 32b, so that the chip 5 is attached to the substrate 11 via the suction nozzle 32b when the chip 5 is mounted. It is a pressing means for pressing.

【0030】そして、複数の単位移載ヘッド20の各押
圧手段には、共通の空圧供給部37によって空圧が供給
される。ここで、制御部40により制御される電空レギ
ュレータ19によって空圧供給部37から各単位移載ヘ
ッド20に対して供給される空圧の圧力を制御すること
により、チップ5を基板11へ搭載する際の実装荷重を
変えることができるようになっている。
A common pneumatic pressure supply unit 37 supplies pneumatic pressure to each pressing means of the plurality of unit transfer heads 20. Here, the chip 5 is mounted on the substrate 11 by controlling the pressure of the pneumatic pressure supplied from the pneumatic pressure supply unit 37 to each unit transfer head 20 by the electropneumatic regulator 19 controlled by the control unit 40. It is possible to change the mounting load when doing.

【0031】この電子部品実装装置は上記のように構成
されており、以下電子部品実装方法について説明する。
図4(a)において、ウェハシート4に貼着された状態
のチップ5は、上方の部品認識カメラ18によって撮像
される。そしてこの撮像結果を第1の認識部41で認識
処理することにより、図4(b)で示すように、チップ
5の外形位置および能動面5aの位置が検出される(第
1の認識工程)。
The electronic component mounting apparatus is configured as described above, and the electronic component mounting method will be described below.
In FIG. 4A, the chip 5 attached to the wafer sheet 4 is imaged by the upper part recognition camera 18. Then, the image recognition result is subjected to recognition processing by the first recognition unit 41 to detect the outer shape position of the chip 5 and the position of the active surface 5a as shown in FIG. 4B (first recognition step). .

【0032】これにより、チップ5の外形中心C1およ
びチップ5の能動面中心C2が検出され、さらにこの検
出結果に基づいて、外形中心C1と能動面中心C2との
位置ずれ量(Δx、Δy)が求められる。これらの検出
結果は制御部に伝達される。ここで位置ずれ量(Δx、
Δy)は、半導体ウェハのダイシングにおける位置合わ
せ誤差などによって生じるものである。
As a result, the outer shape center C1 of the chip 5 and the active surface center C2 of the chip 5 are detected, and based on this detection result, the positional deviation amount (Δx, Δy) between the outer shape center C1 and the active surface center C2. Is required. These detection results are transmitted to the control unit. Here, the positional deviation amount (Δx,
Δy) is caused by an alignment error in dicing the semiconductor wafer.

【0033】次いで上記位置検出結果に基づいて制御部
40が移載ヘッド駆動機構42、エジェクタ機構6を制
御することにより、移載ヘッド16の各単位移載ヘッド
20が備えた吸着ノズル32bによってチップ5を吸着
して取り出す。このとき、図4(c)に示すように、制
御部40は移載ヘッド16のノズルセンタをチップ5の
能動面中心C2に位置合わせするように制御する。
Then, the control unit 40 controls the transfer head drive mechanism 42 and the ejector mechanism 6 based on the position detection result, and the chips are picked up by the suction nozzles 32b provided in each unit transfer head 20 of the transfer head 16. Adsorb and take out 5. At this time, as shown in FIG. 4C, the control unit 40 controls so that the nozzle center of the transfer head 16 is aligned with the active surface center C2 of the chip 5.

【0034】そして吸着ノズル32bによってチップ5
の上面を吸着したならば、図4(d)に示すように、吸
着ノズル32bを上昇させてチップ5をウェハシート4
から剥離させる。この取り出し動作において、チップ5
は吸着ノズル32bに対して位置ずれを発生しやすく、
吸着ノズル32bを上昇させた後の状態では、能動面中
心C2と吸着ノズル32bのノズルセンタとは必ずしも
一致しない。
Then, the chip 5 is sucked by the suction nozzle 32b.
After the upper surface of the wafer is sucked, as shown in FIG. 4D, the suction nozzle 32b is raised to move the chip 5 onto the wafer sheet 4.
Peel from. In this take-out operation, the chip 5
Is likely to be displaced with respect to the suction nozzle 32b,
In the state after raising the suction nozzle 32b, the center C2 of the active surface and the nozzle center of the suction nozzle 32b do not necessarily coincide.

【0035】次いで吸着ノズル32bによってチップ5
を保持した移載ヘッド16は、基板位置決め部10の上
方に移動する。この移動経路において、図5(a)に示
すように、吸着ノズル32bに保持された状態のチップ
5は、ラインカメラ13によって裏面側から撮像され
る。この撮像結果を第2の認識部43によって認識処理
することにより、チップ5の外形位置が検出される(第
2の認識工程)。
Then, the chip 5 is picked up by the suction nozzle 32b.
The transfer head 16 holding the above moves to above the substrate positioning unit 10. In this movement path, as shown in FIG. 5A, the chip 5 held by the suction nozzle 32b is imaged from the back side by the line camera 13. The outer shape position of the chip 5 is detected by performing recognition processing on this imaging result by the second recognition unit 43 (second recognition step).

【0036】この後、基板11へのチップ5の実装が行
われる。すなわち図5(b)に示すように、実装位置に
予め樹脂接着材44が塗布された基板11へ吸着ノズル
32bを下降させ、チップ5を基板11の樹脂接着材4
4上に搭載する。この搭載動作においては、第2の認識
部43による外形位置検出結果と、図4(b)において
検出された外形中心C1と能動面中心C2との位置ずれ
量(Δx、Δy)とに基づいて、すなわち第1の認識工
程の位置検出結果と第2の認識工程の位置検出結果とに
基づいて、吸着ノズル32bに保持されているチップ5
の能動面の正確な位置を制御部が計算し、移載ヘッド駆
動機構42を制御する。
After that, the chip 5 is mounted on the substrate 11. That is, as shown in FIG. 5B, the suction nozzle 32b is lowered to the substrate 11 on which the resin adhesive 44 is applied in advance at the mounting position, and the chip 5 is attached to the resin adhesive 4 on the substrate 11.
Mounted on 4. In this mounting operation, based on the outer shape position detection result by the second recognition unit 43 and the positional deviation amount (Δx, Δy) between the outer shape center C1 and the active surface center C2 detected in FIG. 4B. That is, based on the position detection result of the first recognition process and the position detection result of the second recognition process, the chip 5 held by the suction nozzle 32b.
The control unit calculates the accurate position of the active surface of the transfer head and controls the transfer head drive mechanism 42.

【0037】これにより、吸着ノズル32bのノズルセ
ンタとチップ5の能動面中心C2が位置ずれを生じてい
る場合にあっても、図5(c)に示すように、ノズルセ
ンタと能動面位置との位置ずれ誤差を補正した上で、能
動面5aの中心位置を正しく基板11の実装位置に位置
合わせしてチップ5を実装することができる。
As a result, even if the nozzle center of the suction nozzle 32b and the center C2 of the active surface of the chip 5 are displaced, as shown in FIG. It is possible to mount the chip 5 by correcting the position deviation error of (1) and then correctly aligning the center position of the active surface 5a with the mounting position of the substrate 11.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明によれば、部品供給部において電
子部品を撮像して認識する第1の認識工程において電子
部品の外形位置および電子部品の能動面位置を検出し、
移載ヘッドによって部品供給部から取り出され移載ヘッ
ドに保持された状態の電子部品を下方から撮像して認識
する第2の認識工程において電子部品の外形位置を再び
検出し、第1の認識工程の位置検出結果と第2の認識工
程の位置検出結果とに基づいて移載ヘッドを駆動する移
載ヘッド駆動機構を制御することにより、移載ヘッドに
保持された電子部品の能動面を基板の実装位置に位置合
わせした上で基板に搭載することができる。
According to the present invention, the outer shape position of the electronic component and the active surface position of the electronic component are detected in the first recognition step in which the electronic component is imaged and recognized in the component supply unit.
In the second recognition step of recognizing the electronic component in a state of being taken out from the component supply section by the transfer head and held by the transfer head from below, the external position of the electronic component is detected again, and the first recognition step is performed. By controlling the transfer head drive mechanism that drives the transfer head based on the position detection result of step 2 and the position detection result of the second recognition step, the active surface of the electronic component held by the transfer head is transferred to the substrate. It can be mounted on a substrate after being aligned with the mounting position.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の平
面図
FIG. 1 is a plan view of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の断
面図
FIG. 2 is a sectional view of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の単
位移載ヘッドの断面図
FIG. 3 is a sectional view of a unit transfer head of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施の形態の電子部品実装方法の工
程説明図
FIG. 4 is a process explanatory diagram of an electronic component mounting method according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施の形態の電子部品実装方法の工
程説明図
FIG. 5 is a process explanatory diagram of an electronic component mounting method according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 部品供給部 5 チップ 10 基板位置決め部 10A、10B 実装ステージ 11 基板 13 ラインカメラ 16 移載ヘッド 18 部品認識カメラ 20 単位移載ヘッド 40 制御部 41 第1の認識部 42 移載ヘッド駆動機構 43 第2の認識部 2 parts supply department 5 chips 10 Board positioning part 10A, 10B mounting stage 11 board 13 line camera 16 Transfer head 18 Parts recognition camera 20 unit transfer head 40 control unit 41 First Recognition Unit 42 Transfer head drive mechanism 43 Second recognition unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E313 AA03 AA11 AA21 AA23 AA31 CC03 CC04 CC09 DD02 DD03 DD13 DD23 EE02 EE03 EE24 EE25 EE33 EE35 EE37 FF03 FF24 FF26 FF28 FF32 FF33 FG10 5F047 AA17 BA21 BB16 FA02 FA04 FA08 FA34 FA73 FA79    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 5E313 AA03 AA11 AA21 AA23 AA31                       CC03 CC04 CC09 DD02 DD03                       DD13 DD23 EE02 EE03 EE24                       EE25 EE33 EE35 EE37 FF03                       FF24 FF26 FF28 FF32 FF33                       FG10                 5F047 AA17 BA21 BB16 FA02 FA04                       FA08 FA34 FA73 FA79

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ウェハシートに貼着された電子部品を移載
ヘッドによって取り出して基板に実装する電子部品実装
装置であって、前記電子部品をウェハシートとともに保
持するウェハ保持部と、このウェハ保持部に保持された
電子部品を電子部品の能動面側から撮像する第1のカメ
ラと、この第1のカメラをウェハ保持部上で移動させる
カメラ移動手段と、第1のカメラの撮像結果を認識する
ことにより電子部品の外形位置および電子部品の能動面
位置を検出する第1の認識部と、前記移載ヘッドを移動
させる移載ヘッド駆動機構と、移載ヘッドによって取り
出され移載ヘッドに前記能動面側を保持された電子部品
を裏面側から撮像する第2のカメラと、第2のカメラの
撮像結果を認識することにより電子部品の外形位置を検
出する第2の認識部と、前記第1の認識部による位置検
出結果と第2の認識部による位置検出結果とに基づいて
前記移載ヘッド駆動機構を制御する制御部とを備えたこ
とを特徴とする電子部品実装装置。
1. An electronic component mounting apparatus for picking up an electronic component attached to a wafer sheet by a transfer head and mounting the electronic component on a substrate, and a wafer holding section for holding the electronic component together with the wafer sheet, and the wafer holding unit. A first camera for picking up an image of the electronic component held by the electronic part from the side of the active surface of the electronic part, a camera moving means for moving the first camera on the wafer holding part, and recognizing an image pickup result of the first camera By doing so, a first recognizing unit that detects the outer shape position of the electronic component and the active surface position of the electronic component, a transfer head drive mechanism that moves the transfer head, and the transfer head that is taken out by the transfer head A second camera that takes an image of the electronic component whose active surface side is held from the back side, and a second recognition that detects the external position of the electronic component by recognizing the imaging result of the second camera And an electronic component mounting apparatus that controls the transfer head drive mechanism based on a position detection result of the first recognition unit and a position detection result of the second recognition unit. .
【請求項2】ウェハシートに貼着された電子部品を移載
ヘッドによって取り出して基板に実装する電子部品実装
方法であって、ウェハ保持部に保持された電子部品を電
子部品の能動面側から第1のカメラにより撮像する第1
の撮像工程と、第1の撮像工程の撮像結果を認識するこ
とにより電子部品の外形位置および電子部品の能動面位
置を検出する第1の認識工程と、前記移載ヘッドによっ
て前記能動面側を保持された電子部品を第2のカメラに
よって裏面側から撮像する第2の撮像工程と、第2の撮
像工程の撮像結果を認識することにより電子部品の外形
位置を検出する第2の認識工程と、前記第1の認識工程
の位置検出結果と第2の認識工程の位置検出結果とに基
づいて前記移載ヘッドを駆動する移載ヘッド駆動機構を
制御することにより移載ヘッドに保持された電子部品の
能動面を前記基板に位置合わせした上で基板に搭載する
搭載工程とを含むことを特徴とする電子部品実装方法。
2. An electronic component mounting method for picking up an electronic component attached to a wafer sheet by a transfer head and mounting the electronic component on a substrate, wherein the electronic component held by a wafer holding portion is placed from an active surface side of the electronic component. First imaged by the first camera
Image pickup step, a first recognition step of detecting the outer shape position of the electronic component and the active surface position of the electronic component by recognizing the image pickup result of the first image pickup step, and the active surface side by the transfer head. A second imaging step of imaging the held electronic component from the back side by a second camera, and a second recognition step of recognizing the external result position of the electronic component by recognizing the imaging result of the second imaging step. , An electron held by the transfer head by controlling a transfer head drive mechanism that drives the transfer head based on the position detection result of the first recognition step and the position detection result of the second recognition step. And a mounting step of mounting an active surface of a component on the substrate after aligning the active surface of the component with the substrate.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007214477A (en) * 2006-02-13 2007-08-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic component transfer apparatus
JP4544173B2 (en) * 2006-02-13 2010-09-15 パナソニック株式会社 Electronic component transfer equipment
CN111398311A (en) * 2020-02-17 2020-07-10 深圳市海铭德科技有限公司 Weight pressure detection and calibration system and method for chip coating process

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