JP2003162826A - 光ディスク装置及び光学的情報処理方法 - Google Patents
光ディスク装置及び光学的情報処理方法Info
- Publication number
- JP2003162826A JP2003162826A JP2001362198A JP2001362198A JP2003162826A JP 2003162826 A JP2003162826 A JP 2003162826A JP 2001362198 A JP2001362198 A JP 2001362198A JP 2001362198 A JP2001362198 A JP 2001362198A JP 2003162826 A JP2003162826 A JP 2003162826A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- focus
- error signal
- servo
- tracking
- offset
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 トラバース送り中にフォーカスエラー信号に
トラッキングエラー信号成分が漏れ込み、光ピックアッ
プのアクチュエーターを誤動作させるので、この誤動作
を軽減させる。 【解決手段】 漏れ込みレベル検出回路108はトラッ
キングサーボオフ時のフォーカスエラー信号105に漏
れ込むトラッキングエラー信号成分をフォーカスオフセ
ット値に応じて測定する。トラバース送り中に漏れ込み
レベルが最小となるようフォーカスオフセットを可変制
御すると同時にフォーカスサーボゲインを制御する。こ
れにより、光ピックアップ102のアクチュエーター1
13の誤動作を軽減できる。
トラッキングエラー信号成分が漏れ込み、光ピックアッ
プのアクチュエーターを誤動作させるので、この誤動作
を軽減させる。 【解決手段】 漏れ込みレベル検出回路108はトラッ
キングサーボオフ時のフォーカスエラー信号105に漏
れ込むトラッキングエラー信号成分をフォーカスオフセ
ット値に応じて測定する。トラバース送り中に漏れ込み
レベルが最小となるようフォーカスオフセットを可変制
御すると同時にフォーカスサーボゲインを制御する。こ
れにより、光ピックアップ102のアクチュエーター1
13の誤動作を軽減できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク等の光
学的情報記録媒体に情報を記録し、または光学的情報記
録媒体に記録された情報を再生するための光ディスク装
置等の光学的情報処理技術に係り、特に、レーザービー
ムを微小なスポットとして光学的情報記録媒体上に照射
しつつ光学的情報記録媒体上に形成されたトラックを横
断して所望の情報記録領域に高速かつ安定にアクセスす
るための光ディスク装置等の光学的情報処理技術に関す
る。
学的情報記録媒体に情報を記録し、または光学的情報記
録媒体に記録された情報を再生するための光ディスク装
置等の光学的情報処理技術に係り、特に、レーザービー
ムを微小なスポットとして光学的情報記録媒体上に照射
しつつ光学的情報記録媒体上に形成されたトラックを横
断して所望の情報記録領域に高速かつ安定にアクセスす
るための光ディスク装置等の光学的情報処理技術に関す
る。
【0002】
【従来の技術】光ディスク装置等の光学的情報処理技術
としては、レーザービーム等をフォーカスレンズ等によ
り微小な光スポットに絞込み、光ディスク等の光学的情
報媒体に照射して情報の記録または再生を行う。レーザ
ービームの波長をλ、フォーカスレンズの開口数をNA
とすれば、光ディスク上に照射する光スポットの直径は
概略λ/NA、その焦点深度は概略λ/(NA)2であ
る。例えば、波長λ=660nmでNA=0.6の場
合、光スポットの直径は約1.1μmで、その焦点深度
は約1.8μmとなる。一方、光ディスクの情報記録面
は回転によって光スポットの焦点深度方向に数100μ
m程度変動する。よって、光ディスクの情報記録面の変
動を光学的に検出し、そのフォーカスエラー信号をもと
にレンズアクチュエーターを用いてフォーカスレンズを
焦点深度方向に移動させ、常に光ディスクの情報記録面
に微小な光スポットを位置決めするフォーカスサーボが
必要である。通常、フォーカスエラー信号は、光ディス
クからの反射ビームを光ピックアップ内に配置した検出
光学系を通して多分割型光検出器で受光し、各々の受光
素子の出力信号を差演算処理することによって生成して
いる。また、光ディスクの情報記録面には、光スポット
を導くための螺旋状または同心円状のトラックが形成さ
れている。例えば、CD−ROM等の光ディスクでは、
記録情報として形成された凹凸形状のピット列がそのま
まトラックとして機能している。また、記録可能な光デ
ィスクのトラックは溝で形成されている。光ディスクの
回転により光スポットがトラックからずれるので、その
ずれを光学的に検出しトラッキングエラー信号をもとに
レンズアクチュエーターを用いてフォーカスレンズをデ
ィスク半径方向に移動させ、光スポットをトラック上に
位置決めするトラッキングサーボも行われている。さら
に、光ピックアップのアクチュエーターがトラッキング
可動範囲を超えた場合に光ピックアップ本体を信号トラ
ックと直交する方向に移動させる。また、トラックを横
断して所望の目標アドレスにアクセスするトラバース送
りが行われる。
としては、レーザービーム等をフォーカスレンズ等によ
り微小な光スポットに絞込み、光ディスク等の光学的情
報媒体に照射して情報の記録または再生を行う。レーザ
ービームの波長をλ、フォーカスレンズの開口数をNA
とすれば、光ディスク上に照射する光スポットの直径は
概略λ/NA、その焦点深度は概略λ/(NA)2であ
る。例えば、波長λ=660nmでNA=0.6の場
合、光スポットの直径は約1.1μmで、その焦点深度
は約1.8μmとなる。一方、光ディスクの情報記録面
は回転によって光スポットの焦点深度方向に数100μ
m程度変動する。よって、光ディスクの情報記録面の変
動を光学的に検出し、そのフォーカスエラー信号をもと
にレンズアクチュエーターを用いてフォーカスレンズを
焦点深度方向に移動させ、常に光ディスクの情報記録面
に微小な光スポットを位置決めするフォーカスサーボが
必要である。通常、フォーカスエラー信号は、光ディス
クからの反射ビームを光ピックアップ内に配置した検出
光学系を通して多分割型光検出器で受光し、各々の受光
素子の出力信号を差演算処理することによって生成して
いる。また、光ディスクの情報記録面には、光スポット
を導くための螺旋状または同心円状のトラックが形成さ
れている。例えば、CD−ROM等の光ディスクでは、
記録情報として形成された凹凸形状のピット列がそのま
まトラックとして機能している。また、記録可能な光デ
ィスクのトラックは溝で形成されている。光ディスクの
回転により光スポットがトラックからずれるので、その
ずれを光学的に検出しトラッキングエラー信号をもとに
レンズアクチュエーターを用いてフォーカスレンズをデ
ィスク半径方向に移動させ、光スポットをトラック上に
位置決めするトラッキングサーボも行われている。さら
に、光ピックアップのアクチュエーターがトラッキング
可動範囲を超えた場合に光ピックアップ本体を信号トラ
ックと直交する方向に移動させる。また、トラックを横
断して所望の目標アドレスにアクセスするトラバース送
りが行われる。
【0003】アクセスにより目標アドレスの信号トラッ
クを検索するのにトラバース送りが行われる場合、横切
るトラック数をカウントするために、あるいはトラバー
ス送り後に速やかにディスクから信号を読み取るために
トラバース送り中にフォーカスサーボをオン状態に保持
する。しかし、トラックは上述のように凹凸形状のピッ
ト列または溝によって形成されているので、光スポット
がトラックを横断すると、光スポットがトラックによっ
て回折または散乱されてディスク反射ビームの光強度分
布が変化し、多分割型光検出器の各々の受光素子出力信
号が変化し、フォーカスエラー信号が変動する。即ち、
トラバース送り中において信号トラックの外乱によりフ
ォーカスエラー信号にトラッキングエラー信号成分が漏
れ込む現象が発生する。フォーカスエラー信号にトラッ
キングエラー信号成分が漏れ込むと、フォーカスサーボ
手段は漏れ込んだトラッキングエラー信号成分によりレ
ンズアクチュエーターを駆動してフォーカスレンズを振
動させるので、トラバース送り時にフォーカスサーボが
不安定になり、これによりアクチュエーターが絶えず大
きく変位することに起因してフォーカスサーボが外れて
しまう場合があった。
クを検索するのにトラバース送りが行われる場合、横切
るトラック数をカウントするために、あるいはトラバー
ス送り後に速やかにディスクから信号を読み取るために
トラバース送り中にフォーカスサーボをオン状態に保持
する。しかし、トラックは上述のように凹凸形状のピッ
ト列または溝によって形成されているので、光スポット
がトラックを横断すると、光スポットがトラックによっ
て回折または散乱されてディスク反射ビームの光強度分
布が変化し、多分割型光検出器の各々の受光素子出力信
号が変化し、フォーカスエラー信号が変動する。即ち、
トラバース送り中において信号トラックの外乱によりフ
ォーカスエラー信号にトラッキングエラー信号成分が漏
れ込む現象が発生する。フォーカスエラー信号にトラッ
キングエラー信号成分が漏れ込むと、フォーカスサーボ
手段は漏れ込んだトラッキングエラー信号成分によりレ
ンズアクチュエーターを駆動してフォーカスレンズを振
動させるので、トラバース送り時にフォーカスサーボが
不安定になり、これによりアクチュエーターが絶えず大
きく変位することに起因してフォーカスサーボが外れて
しまう場合があった。
【0004】これに対して、特開平7−262571号
公報には、トラバース送り中にフォーカスエラー信号に
漏れ込むトラッキングエラー信号成分を軽減する手段と
して、トラバース送り中にフォーカスエラー信号にオフ
セット値を印加する手段が開示されている。即ち、トラ
ッキングサーボは動作させずにフォーカスサーボのみを
動作させた状態で、フォーカスサーボ手段にオフセット
信号を注入してフォーカスサーボの目標位置をずらして
焦点ずれを生じさせ、フォーカスエラー信号に漏れ込む
トラッキングエラー信号成分を測定し、漏れ込むトラッ
キングエラー信号成分が最も少ないオフセット信号を予
め記憶しておく。トラバース送りを行う場合、フォーカ
スサーボ手段に記憶しておいたオフセット信号を注入す
ることにより、フォーカスエラー信号に漏れ込むトラッ
キングエラー信号成分が最も少ない状態でトラバース送
りを達成するものである。
公報には、トラバース送り中にフォーカスエラー信号に
漏れ込むトラッキングエラー信号成分を軽減する手段と
して、トラバース送り中にフォーカスエラー信号にオフ
セット値を印加する手段が開示されている。即ち、トラ
ッキングサーボは動作させずにフォーカスサーボのみを
動作させた状態で、フォーカスサーボ手段にオフセット
信号を注入してフォーカスサーボの目標位置をずらして
焦点ずれを生じさせ、フォーカスエラー信号に漏れ込む
トラッキングエラー信号成分を測定し、漏れ込むトラッ
キングエラー信号成分が最も少ないオフセット信号を予
め記憶しておく。トラバース送りを行う場合、フォーカ
スサーボ手段に記憶しておいたオフセット信号を注入す
ることにより、フォーカスエラー信号に漏れ込むトラッ
キングエラー信号成分が最も少ない状態でトラバース送
りを達成するものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
特開平7−262571号公報に開示された技術では、
印加するオフセット値が大きくなるとフォーカスエラー
信号の検出感度低下が起こり、その結果フォーカスサー
ボループゲインが低下しフォーカスサーボ外れが生じる
という問題がある。この従来技術の問題点を、図8を用
いて説明する。図8はフォーカスエラー検出特性を示す
特性図であり、フォーカスレンズで絞り込まれたレーザ
ービームの焦点深度方向における光ディスクの位置
(D)を横軸51にとり、検出されるフォーカスエラー
信号レベル(L)を縦軸52に示す。図において、各々
のディスク位置において検出されるフォーカスエラー信
号を実線の曲線53で示す。曲線53の形状がS字の形
状に似ていることから、曲線53をS字曲線、図8のフ
ォーカスエラー検出特性をS字特性、とも呼んでいる。
点Aは、フォーカスレンズで絞り込まれたレーザービー
ムの焦点位置である。通常、光ディスクが点Aの焦点位
置でフォーカスエラー信号がゼロレベルになるように焦
点ずれ検出光学系を調整する。直線54は、点Aにおけ
る検出感度を示す。
特開平7−262571号公報に開示された技術では、
印加するオフセット値が大きくなるとフォーカスエラー
信号の検出感度低下が起こり、その結果フォーカスサー
ボループゲインが低下しフォーカスサーボ外れが生じる
という問題がある。この従来技術の問題点を、図8を用
いて説明する。図8はフォーカスエラー検出特性を示す
特性図であり、フォーカスレンズで絞り込まれたレーザ
ービームの焦点深度方向における光ディスクの位置
(D)を横軸51にとり、検出されるフォーカスエラー
信号レベル(L)を縦軸52に示す。図において、各々
のディスク位置において検出されるフォーカスエラー信
号を実線の曲線53で示す。曲線53の形状がS字の形
状に似ていることから、曲線53をS字曲線、図8のフ
ォーカスエラー検出特性をS字特性、とも呼んでいる。
点Aは、フォーカスレンズで絞り込まれたレーザービー
ムの焦点位置である。通常、光ディスクが点Aの焦点位
置でフォーカスエラー信号がゼロレベルになるように焦
点ずれ検出光学系を調整する。直線54は、点Aにおけ
る検出感度を示す。
【0006】通常、フォーカスエラー検出感度は、点A
で示した焦点位置の近傍が最も高く、焦点位置から離れ
るにしたがって低くなる。前述したように光ディスクの
情報記録面に凹凸形状のピット列または溝によって形成
されたトラックがある場合、光スポットがトラックによ
って回折または散乱されてディスク反射ビームの光強度
分布が変化し、フォーカスエラー検出用の多分割型光検
出器の各々の受光素子出力信号が変化し、S字曲線は破
線の曲線55で示すようトラッキングエラー信号成分が
漏れ込む。この変動成分が最も小さくなる光ディスク位
置は、点Aで示した焦点位置の近傍とは限らず、焦点ず
れ検出光学系等の誤差によって焦点位置から離れた位置
となる場合が多い。図8の点Bは、変動成分が最も小さ
くなる点で、点Bにおけるフォーカスエラー信号レベル
をVoffで示す。上記の従来例等では、光ピックアッ
プで検出されたフォーカスエラー信号からオフセット値
Voffを減算した信号でフォーカスレンズアクチュエ
ーターを駆動する。図8において、フォーカスエラー信
号からオフセット値Voffを減算すると、信号がゼロ
レベルとなる位置は点A’に移り、破線D’が新しい横
軸になる。よって、光ディスク位置は、フォーカスサー
ボにより点Aで示した焦点位置から点Bの位置に移動
し、トラッキングエラー信号成分の漏れ込む量が低減さ
れる。しかしながら、点Bの位置は焦点位置から離れて
いるので、直線56で示すように検出感度が低い。その
ため、フォーカスサーボループゲインが低下し、フォー
カスレンズや光ディスク等の僅かな振動や光ディスク装
置に外から加えられたショックや電気的なノイズ等によ
ってフォーカスサーボが外れやすい、という問題があ
る。
で示した焦点位置の近傍が最も高く、焦点位置から離れ
るにしたがって低くなる。前述したように光ディスクの
情報記録面に凹凸形状のピット列または溝によって形成
されたトラックがある場合、光スポットがトラックによ
って回折または散乱されてディスク反射ビームの光強度
分布が変化し、フォーカスエラー検出用の多分割型光検
出器の各々の受光素子出力信号が変化し、S字曲線は破
線の曲線55で示すようトラッキングエラー信号成分が
漏れ込む。この変動成分が最も小さくなる光ディスク位
置は、点Aで示した焦点位置の近傍とは限らず、焦点ず
れ検出光学系等の誤差によって焦点位置から離れた位置
となる場合が多い。図8の点Bは、変動成分が最も小さ
くなる点で、点Bにおけるフォーカスエラー信号レベル
をVoffで示す。上記の従来例等では、光ピックアッ
プで検出されたフォーカスエラー信号からオフセット値
Voffを減算した信号でフォーカスレンズアクチュエ
ーターを駆動する。図8において、フォーカスエラー信
号からオフセット値Voffを減算すると、信号がゼロ
レベルとなる位置は点A’に移り、破線D’が新しい横
軸になる。よって、光ディスク位置は、フォーカスサー
ボにより点Aで示した焦点位置から点Bの位置に移動
し、トラッキングエラー信号成分の漏れ込む量が低減さ
れる。しかしながら、点Bの位置は焦点位置から離れて
いるので、直線56で示すように検出感度が低い。その
ため、フォーカスサーボループゲインが低下し、フォー
カスレンズや光ディスク等の僅かな振動や光ディスク装
置に外から加えられたショックや電気的なノイズ等によ
ってフォーカスサーボが外れやすい、という問題があ
る。
【0007】本発明の目的は、上記問題点を解決するた
めになされたものであり、トラバース送り時にフォーカ
スエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成分を
軽減し、安定したフォーカス制御ができる光学的情報処
理技術を提供することにある。
めになされたものであり、トラバース送り時にフォーカ
スエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成分を
軽減し、安定したフォーカス制御ができる光学的情報処
理技術を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、本発明の光ディスク装置では、トラッキングサーボ
オフ時にフォーカスエラー信号へのトラッキングエラー
信号の漏れ込み成分レベルをフォーカスオフセットレベ
ルに応じて測定し、漏れ込み成分が小さくなったときの
フォーカスオフセットレベルを設定し、さらにフォーカ
スサーボゲインを調整して設定し、トラバース送り中に
フォーカスエラー信号へのトラッキングエラー信号の漏
れ込みレベルが小さくなるようフォーカスオフセット制
御動作を行うと同時にフォーカスサーボゲイン制御動作
を行う。
に、本発明の光ディスク装置では、トラッキングサーボ
オフ時にフォーカスエラー信号へのトラッキングエラー
信号の漏れ込み成分レベルをフォーカスオフセットレベ
ルに応じて測定し、漏れ込み成分が小さくなったときの
フォーカスオフセットレベルを設定し、さらにフォーカ
スサーボゲインを調整して設定し、トラバース送り中に
フォーカスエラー信号へのトラッキングエラー信号の漏
れ込みレベルが小さくなるようフォーカスオフセット制
御動作を行うと同時にフォーカスサーボゲイン制御動作
を行う。
【0009】以下、更に詳細に説明する。
【0010】第1の発明では、光ディスク装置における
光学的情報処理方法は、光ピックアップからディスクの
信号面に照射される光ビームをそのディスクの信号面に
合焦させるフォーカスサーボを行うと共に、その光ビー
ムを信号トラックに追従させるトラッキングサーボを行
う光学的情報処理方法において、フォーカスサーボに用
いられるフォーカスエラー信号を生成するステップと、
フォーカスオフセットを制御するステップと、トラッキ
ングサーボに用いられるトラッキングエラー信号を生成
するステップと、トラッキングサーボオフ時にフォーカ
スエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成分レ
ベルを検出するステップと、フォーカスサーボゲインを
制御するステップとを備え、トラッキングサーボオフ時
にトラバース送りが実行される際、フォーカスオフセッ
トを可変制御すると同時にフォーカスサーボゲインも可
変制御する。
光学的情報処理方法は、光ピックアップからディスクの
信号面に照射される光ビームをそのディスクの信号面に
合焦させるフォーカスサーボを行うと共に、その光ビー
ムを信号トラックに追従させるトラッキングサーボを行
う光学的情報処理方法において、フォーカスサーボに用
いられるフォーカスエラー信号を生成するステップと、
フォーカスオフセットを制御するステップと、トラッキ
ングサーボに用いられるトラッキングエラー信号を生成
するステップと、トラッキングサーボオフ時にフォーカ
スエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成分レ
ベルを検出するステップと、フォーカスサーボゲインを
制御するステップとを備え、トラッキングサーボオフ時
にトラバース送りが実行される際、フォーカスオフセッ
トを可変制御すると同時にフォーカスサーボゲインも可
変制御する。
【0011】第1の発明において、検出した漏れ込みレ
ベルが一定値以上の場合のみ、トラッキングサーボオフ
時にトラバース送りが実行される際、フォーカスオフセ
ットを可変制御すると同時にフォーカスサーボゲインも
可変制御する。または、該トラッキングエラー信号成分
レベルを検出するステップはディスク種別に応じてフォ
ーカスエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成
分レベルを検出し、トラッキングサーボオフ時にトラバ
ース送りが実行される際、フォーカスオフセットを可変
制御すると同時にフォーカスサーボゲインも可変制御す
る。または、フォーカスオフセット制御時に設定する値
が一定値以上の場合のみ、トラッキングサーボオフ時に
トラバース送りが実行される際にフォーカスオフセット
を可変制御すると同時にフォーカスサーボゲインも可変
制御する。
ベルが一定値以上の場合のみ、トラッキングサーボオフ
時にトラバース送りが実行される際、フォーカスオフセ
ットを可変制御すると同時にフォーカスサーボゲインも
可変制御する。または、該トラッキングエラー信号成分
レベルを検出するステップはディスク種別に応じてフォ
ーカスエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成
分レベルを検出し、トラッキングサーボオフ時にトラバ
ース送りが実行される際、フォーカスオフセットを可変
制御すると同時にフォーカスサーボゲインも可変制御す
る。または、フォーカスオフセット制御時に設定する値
が一定値以上の場合のみ、トラッキングサーボオフ時に
トラバース送りが実行される際にフォーカスオフセット
を可変制御すると同時にフォーカスサーボゲインも可変
制御する。
【0012】第2の発明では、光ディスク装置は、光ピ
ックアップと、該光ピックアップから光ディスクの信号
面に照射される光ビームを該光ディスクの信号面に合焦
させるフォーカスサーボ手段と、該光ビームを信号トラ
ックに追従させるトラッキングサーボ手段とを有し、該
フォーカスサーボ手段は、フォーカスエラー信号を生成
するフォーカスエラー信号生成回路、フォーカスオフセ
ットを制御するフォーカスオフセット制御回路、フォー
カスエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成分
レベルを検出するレベル検出回路及びフォーカスサーボ
ゲイン制御回路を備え、トラッキングサーボオフ時に該
フォーカスオフセット制御回路によりフォーカスオフセ
ットを可変制御するとともに、該フォーカスサーボゲイ
ン制御回路によりフォーカスサーボゲインを可変制御す
る。
ックアップと、該光ピックアップから光ディスクの信号
面に照射される光ビームを該光ディスクの信号面に合焦
させるフォーカスサーボ手段と、該光ビームを信号トラ
ックに追従させるトラッキングサーボ手段とを有し、該
フォーカスサーボ手段は、フォーカスエラー信号を生成
するフォーカスエラー信号生成回路、フォーカスオフセ
ットを制御するフォーカスオフセット制御回路、フォー
カスエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成分
レベルを検出するレベル検出回路及びフォーカスサーボ
ゲイン制御回路を備え、トラッキングサーボオフ時に該
フォーカスオフセット制御回路によりフォーカスオフセ
ットを可変制御するとともに、該フォーカスサーボゲイ
ン制御回路によりフォーカスサーボゲインを可変制御す
る。
【0013】第3の発明では、光ディスク装置は、光ピ
ックアップと、該光ピックアップからディスクの信号面
に照射される光ビームをそのディスクの信号面に合焦さ
せるフォーカスサーボ手段と、該光ビームを信号トラッ
クに追従させるトラッキングサーボを行うトラッキング
サーボ手段と、フォーカスサーボに用いられるフォーカ
スエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成回路
と、フォーカスオフセットを制御するフォーカスオフセ
ット制御回路と、トラッキングサーボに用いられるトラ
ッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号
生成回路と、トラッキングサーボオフ時にフォーカスエ
ラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成分レベル
を検出するレベル検出回路と、フォーカスサーボゲイン
制御回路とを備え、トラッキングサーボオフ時トラバー
ス送りが実行される際にフォーカスオフセットを可変制
御すると同時にフォーカスサーボゲインも可変制御す
る。
ックアップと、該光ピックアップからディスクの信号面
に照射される光ビームをそのディスクの信号面に合焦さ
せるフォーカスサーボ手段と、該光ビームを信号トラッ
クに追従させるトラッキングサーボを行うトラッキング
サーボ手段と、フォーカスサーボに用いられるフォーカ
スエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成回路
と、フォーカスオフセットを制御するフォーカスオフセ
ット制御回路と、トラッキングサーボに用いられるトラ
ッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号
生成回路と、トラッキングサーボオフ時にフォーカスエ
ラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号成分レベル
を検出するレベル検出回路と、フォーカスサーボゲイン
制御回路とを備え、トラッキングサーボオフ時トラバー
ス送りが実行される際にフォーカスオフセットを可変制
御すると同時にフォーカスサーボゲインも可変制御す
る。
【0014】第2叉は第3の発明において、該レベル検
出回路で検出したレベルが一定値以上の場合には該フォ
ーカスオフセット制御回路によりフォーカスオフセット
を可変制御するとともに該フォーカスサーボゲイン制御
回路によりフォーカスサーボゲインを可変制御するため
の漏れ込みレベル判定手段を設ける。または、ディスク
種別の判定手段を設け、該判定手段の結果により該フォ
ーカスオフセット制御回路によりフォーカスオフセット
を可変制御するとともに該フォーカスサーボゲイン制御
回路によりフォーカスサーボゲインを可変制御する。ま
たは、該フォーカスオフセット制御回路により印加され
る予定のフォーカスオフセット値が所定値以上の場合に
該フォーカスサーボゲイン制御回路によりフォーカスサ
ーボゲインを可変制御するためのフォーカスオフセット
値判定手段を設ける。
出回路で検出したレベルが一定値以上の場合には該フォ
ーカスオフセット制御回路によりフォーカスオフセット
を可変制御するとともに該フォーカスサーボゲイン制御
回路によりフォーカスサーボゲインを可変制御するため
の漏れ込みレベル判定手段を設ける。または、ディスク
種別の判定手段を設け、該判定手段の結果により該フォ
ーカスオフセット制御回路によりフォーカスオフセット
を可変制御するとともに該フォーカスサーボゲイン制御
回路によりフォーカスサーボゲインを可変制御する。ま
たは、該フォーカスオフセット制御回路により印加され
る予定のフォーカスオフセット値が所定値以上の場合に
該フォーカスサーボゲイン制御回路によりフォーカスサ
ーボゲインを可変制御するためのフォーカスオフセット
値判定手段を設ける。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、実
施例を用い、図を参照して説明する。以下、図1を用い
て、本発明の第1の実施例について説明する。図1は本
発明による光ディスク装置の第1の実施例を示す概略の
ブロック図及びフォーカス/トラッキング制御回路のブ
ロック図であり、図1(a)は光ディスク装置のブロッ
ク図を、図1(b)はフォーカス/トラッキング制御回
路のブロック図を示す。図において、光ピックアップ1
02は光ディスク101にレーザービームを照射し、そ
の反射光より光ディスク101上の情報を電気信号とし
てフォーカスエラー信号生成回路103およびトラッキ
ングエラー信号生成回路104に出力する。フォーカス
エラー信号生成回路103は光ピックアップ102より
入力した信号を用いてフォーカスエラー信号105を、
トラッキングエラー信号生成回路104は光ピックアッ
プ102より入力した信号を用いてトラッキングエラー
信号106をそれぞれ生成する。フォーカスオフセット
制御回路107はフォーカスエラー信号105にオフセ
ット電圧を加算あるいは減算制御する。なお、この加算
あるいは減算方法はフォーカスエラー信号105にアナ
ログ処理で加減算するものであってもまたは、フォーカ
スエラー信号105をアナログ/デジタル変換した後、
デジタル処理で加減算するものであってもよい。また、
このフォーカスオフセット制御回路107はフォーカス
エラー信号105に加減算するのではなく、アクチュエ
ーターを制御するドライブ信号あるいはそれに準ずる信
号に直接加減算してもよい。漏れ込みレベル検出回路1
08はトラッキングサーボオフ時のフォーカスエラー信
号105に漏れ込んだトラッキングエラー信号レベルを
検出する。
施例を用い、図を参照して説明する。以下、図1を用い
て、本発明の第1の実施例について説明する。図1は本
発明による光ディスク装置の第1の実施例を示す概略の
ブロック図及びフォーカス/トラッキング制御回路のブ
ロック図であり、図1(a)は光ディスク装置のブロッ
ク図を、図1(b)はフォーカス/トラッキング制御回
路のブロック図を示す。図において、光ピックアップ1
02は光ディスク101にレーザービームを照射し、そ
の反射光より光ディスク101上の情報を電気信号とし
てフォーカスエラー信号生成回路103およびトラッキ
ングエラー信号生成回路104に出力する。フォーカス
エラー信号生成回路103は光ピックアップ102より
入力した信号を用いてフォーカスエラー信号105を、
トラッキングエラー信号生成回路104は光ピックアッ
プ102より入力した信号を用いてトラッキングエラー
信号106をそれぞれ生成する。フォーカスオフセット
制御回路107はフォーカスエラー信号105にオフセ
ット電圧を加算あるいは減算制御する。なお、この加算
あるいは減算方法はフォーカスエラー信号105にアナ
ログ処理で加減算するものであってもまたは、フォーカ
スエラー信号105をアナログ/デジタル変換した後、
デジタル処理で加減算するものであってもよい。また、
このフォーカスオフセット制御回路107はフォーカス
エラー信号105に加減算するのではなく、アクチュエ
ーターを制御するドライブ信号あるいはそれに準ずる信
号に直接加減算してもよい。漏れ込みレベル検出回路1
08はトラッキングサーボオフ時のフォーカスエラー信
号105に漏れ込んだトラッキングエラー信号レベルを
検出する。
【0016】フォーカス/トラッキング制御回路109
は、入力部に図には示さないアナログ/デジタル変換器
を、出力部に図には示さないデジタル/アナログ変換器
を、内部にデジタルフィルタで構成された図には示さな
い位相補償回路を備え、フォーカスエラー信号105と
トラッキングエラー信号106に基づいてレーザービー
ムが光ディスク101のトラックを追従するようにドラ
イブ回路111とアクチュエーターコイル113を介し
てレーザービームの位置を制御する。さらに、フォーカ
ス/トラッキング制御回路109の内部には、ドライブ
回路111とアクチュエーターコイル113を介して光
ピックアップ102内部の図には示さないフォーカスレ
ンズを光ディスク101面の法線方向および半径方向に
独立に振動するために、図には示さない複数の発振器を
備えている。また、フォーカス/トラッキング制御回路
109は、トラバース制御回路110へディスク半径方
向に沿った光ピックアップ102の位置を制御するため
の信号を出力する。また、フォーカス/トラッキング制
御回路109は、装置のサーボループゲインが所望の値
となるようフォーカスオフセット未印加時および印加時
の両方でゲイン調整を行うためのゲイン調整回路119
(図1(b)参照)を備え、ゲイン調整実行後調整値を
記憶する。ゲイン調整値の記憶場所は、フォーカス/ト
ラッキング制御回路109であっても、他の回路であっ
ても構わない。また、フォーカス/トラッキング制御回
路109は、外部からの命令でサーボゲインを可変制御
する図には示さないサーボゲイン制御回路を備えてい
る。
は、入力部に図には示さないアナログ/デジタル変換器
を、出力部に図には示さないデジタル/アナログ変換器
を、内部にデジタルフィルタで構成された図には示さな
い位相補償回路を備え、フォーカスエラー信号105と
トラッキングエラー信号106に基づいてレーザービー
ムが光ディスク101のトラックを追従するようにドラ
イブ回路111とアクチュエーターコイル113を介し
てレーザービームの位置を制御する。さらに、フォーカ
ス/トラッキング制御回路109の内部には、ドライブ
回路111とアクチュエーターコイル113を介して光
ピックアップ102内部の図には示さないフォーカスレ
ンズを光ディスク101面の法線方向および半径方向に
独立に振動するために、図には示さない複数の発振器を
備えている。また、フォーカス/トラッキング制御回路
109は、トラバース制御回路110へディスク半径方
向に沿った光ピックアップ102の位置を制御するため
の信号を出力する。また、フォーカス/トラッキング制
御回路109は、装置のサーボループゲインが所望の値
となるようフォーカスオフセット未印加時および印加時
の両方でゲイン調整を行うためのゲイン調整回路119
(図1(b)参照)を備え、ゲイン調整実行後調整値を
記憶する。ゲイン調整値の記憶場所は、フォーカス/ト
ラッキング制御回路109であっても、他の回路であっ
ても構わない。また、フォーカス/トラッキング制御回
路109は、外部からの命令でサーボゲインを可変制御
する図には示さないサーボゲイン制御回路を備えてい
る。
【0017】トラバース制御回路110は、トラバース
ドライブ回路112とトラバースモーター114を制御
し、光ピックアップ102が光ディスク101に対し常
に正対させるよう動作する。また、トラバース制御回路
110は、アクセス時には光ピックアップ102が目標
アドレスへ素早く到達するようトラバースドライブ回路
112とトラバースモーター114を制御する。ディス
ク回転制御回路116は、ディスクモーター115を制
御し、所定の回転速度で光ディスク101を回転させ
る。これらの回路をそれぞれ制御する中央演算処理装置
117がある。
ドライブ回路112とトラバースモーター114を制御
し、光ピックアップ102が光ディスク101に対し常
に正対させるよう動作する。また、トラバース制御回路
110は、アクセス時には光ピックアップ102が目標
アドレスへ素早く到達するようトラバースドライブ回路
112とトラバースモーター114を制御する。ディス
ク回転制御回路116は、ディスクモーター115を制
御し、所定の回転速度で光ディスク101を回転させ
る。これらの回路をそれぞれ制御する中央演算処理装置
117がある。
【0018】まず、光ピックアップ102とフォーカス
エラー信号生成回路103とトラッキングエラー信号生
成回路104の構成と、それらによるフォーカスサーボ
とトラッキングサーボの動作、さらに、情報の記録動作
と再生動作について説明する。図2は図1に示す光ディ
スク装置に使用される光ピックアップの実施例を示す概
略構成図である。図において、光ピックアップ102
は、半導体レーザー62、ハーフミラー63、プリズム
ミラー64、フォーカス及びトラッキング用の2次元レ
ンズアクチュエーター113、フォーカスレンズ65及
び4分割光検出器66からなる。2次元レンズアクチュ
エーター113は、フォーカスレンズ65を光ディスク
101面の法線方向および半径方向の2方向に独立に移
動させることができる。まず、半導体レーザー駆動回路
61は、中央演算処理装置117の指令により半導体レ
ーザー62に電流を供給して半導体レーザー62を発光
させる。半導体レーザー62から出射したレーザービー
ムは、ハーフミラー63とプリズムミラー64で反射さ
れ、フォーカスレンズ65により光ディスク101の記
録面上に光スポットとして絞り込まれる。光ディスク1
01の記録面で反射されたレーザービームは再度フォー
カスレンズ65で集光され、プリズムミラー64で反射
され、ハーフミラー63を透過する。ハーフミラー63
は、並行平板で斜めに配置されているので、透過する集
束状のビームに非点収差を与える。よって、ハーフミラ
ー63を透過したレーザービームは、非点収差が付加さ
れ4分割光検出器66面上に集束される。4分割光検出
器66は受光したレーザービームの光量に応じた電流信
号67を出力する。
エラー信号生成回路103とトラッキングエラー信号生
成回路104の構成と、それらによるフォーカスサーボ
とトラッキングサーボの動作、さらに、情報の記録動作
と再生動作について説明する。図2は図1に示す光ディ
スク装置に使用される光ピックアップの実施例を示す概
略構成図である。図において、光ピックアップ102
は、半導体レーザー62、ハーフミラー63、プリズム
ミラー64、フォーカス及びトラッキング用の2次元レ
ンズアクチュエーター113、フォーカスレンズ65及
び4分割光検出器66からなる。2次元レンズアクチュ
エーター113は、フォーカスレンズ65を光ディスク
101面の法線方向および半径方向の2方向に独立に移
動させることができる。まず、半導体レーザー駆動回路
61は、中央演算処理装置117の指令により半導体レ
ーザー62に電流を供給して半導体レーザー62を発光
させる。半導体レーザー62から出射したレーザービー
ムは、ハーフミラー63とプリズムミラー64で反射さ
れ、フォーカスレンズ65により光ディスク101の記
録面上に光スポットとして絞り込まれる。光ディスク1
01の記録面で反射されたレーザービームは再度フォー
カスレンズ65で集光され、プリズムミラー64で反射
され、ハーフミラー63を透過する。ハーフミラー63
は、並行平板で斜めに配置されているので、透過する集
束状のビームに非点収差を与える。よって、ハーフミラ
ー63を透過したレーザービームは、非点収差が付加さ
れ4分割光検出器66面上に集束される。4分割光検出
器66は受光したレーザービームの光量に応じた電流信
号67を出力する。
【0019】図3は図1に示す光ディスク装置に使用さ
れる光検出器、フォーカスエラー信号生成回路及びトラ
ッキングエラー信号生成回路の実施例を示す概略構成図
であり、4分割光検出器66面上の受光素子形状と、フ
ォーカスエラー信号生成回路103とトラッキングエラ
ー信号生成回路104の構成を示す。4分割光検出器6
6は4つの受光素子D1、D2、D3、D4からなる。
円71はレーザービームを示す。本実施例では、焦点ず
れ検出に非点収差方式を用いており、受光素子D1の出
力信号d1と受光素子D3の出力信号d3を加算回路7
3によって加え、受光素子D2の出力信号d2と受光素
子D4の出力信号d4を加算回路74によって加え、加
算回路73の出力と加算回路74の出力を差動回路75
によって減算し、(d1+d3)−(d2+d4)の焦
点ずれ検出信号105を得る。
れる光検出器、フォーカスエラー信号生成回路及びトラ
ッキングエラー信号生成回路の実施例を示す概略構成図
であり、4分割光検出器66面上の受光素子形状と、フ
ォーカスエラー信号生成回路103とトラッキングエラ
ー信号生成回路104の構成を示す。4分割光検出器6
6は4つの受光素子D1、D2、D3、D4からなる。
円71はレーザービームを示す。本実施例では、焦点ず
れ検出に非点収差方式を用いており、受光素子D1の出
力信号d1と受光素子D3の出力信号d3を加算回路7
3によって加え、受光素子D2の出力信号d2と受光素
子D4の出力信号d4を加算回路74によって加え、加
算回路73の出力と加算回路74の出力を差動回路75
によって減算し、(d1+d3)−(d2+d4)の焦
点ずれ検出信号105を得る。
【0020】焦点ずれ検出信号105は、図8の曲線5
3または曲線55で示したようなS字型の焦点ずれ検出
信号となる。この焦点ずれ検出信号105を、図1に示
したフォーカス/トラッキング制御回路109とドライ
ブ回路111を通して2次元レンズアクチュエーター1
13に供給することにより、フォーカスサーボを達成す
ることができる。また、トラックずれ検出にはプッシュ
プル方式を用いており、光スポットがトラックからずれ
ると4分割光検出器66の分割線72を境にしてレーザ
ービーム71の光強度分布が変化するので、受光素子D
1の出力信号d1と受光素子D2の出力信号d2を加算
回路76によって加え、受光素子D3の出力信号d3と
受光素子D4の出力信号d4を加算回路77によって加
え、加算回路76の出力と加算回路77の出力を差動回
路78によって減算し、(d1+d2)−(d3+d
4)のトラックずれ検出信号106を得る。トラックず
れ検出信号106を、フォーカス/トラッキング制御回
路109とドライブ回路111を通して2次元レンズア
クチュエーター113に供給することにより、トラッキ
ングサーボが達成される。
3または曲線55で示したようなS字型の焦点ずれ検出
信号となる。この焦点ずれ検出信号105を、図1に示
したフォーカス/トラッキング制御回路109とドライ
ブ回路111を通して2次元レンズアクチュエーター1
13に供給することにより、フォーカスサーボを達成す
ることができる。また、トラックずれ検出にはプッシュ
プル方式を用いており、光スポットがトラックからずれ
ると4分割光検出器66の分割線72を境にしてレーザ
ービーム71の光強度分布が変化するので、受光素子D
1の出力信号d1と受光素子D2の出力信号d2を加算
回路76によって加え、受光素子D3の出力信号d3と
受光素子D4の出力信号d4を加算回路77によって加
え、加算回路76の出力と加算回路77の出力を差動回
路78によって減算し、(d1+d2)−(d3+d
4)のトラックずれ検出信号106を得る。トラックず
れ検出信号106を、フォーカス/トラッキング制御回
路109とドライブ回路111を通して2次元レンズア
クチュエーター113に供給することにより、トラッキ
ングサーボが達成される。
【0021】フォーカスサーボおよびトラッキングサー
ボが達成されると、図1に示した中央演算処理装置11
7は、図には示さない外部のコンピュータ等から記録す
べきデータを受取り、記録すべきデータをもとに変調デ
ータをレーザー駆動回路61に送り、レーザー駆動回路
61は変調データによって半導体レーザー62の発光光
量を変調し、光ディスク101のトラック上にデータが
記録される。記録されたデータを再生する場合、光スポ
ットが光ディスク101のトラックに記録されたデータ
上を走査すると、図3に示したレーザービーム71の全
光量が変調されるので、加算回路76の出力と加算回路
77の出力を加算回路79によって加算し、(d1+d
2+d3+d4)の再生信号80を得る。再生信号80
は図1に示した中央演算処理装置117に送られ、中央
演算処理装置117によりもとの情報データに復調さ
れ、図には示さない外部のコンピュータ等に送られる。
以上の動作により情報の記録または再生が達成される。
ボが達成されると、図1に示した中央演算処理装置11
7は、図には示さない外部のコンピュータ等から記録す
べきデータを受取り、記録すべきデータをもとに変調デ
ータをレーザー駆動回路61に送り、レーザー駆動回路
61は変調データによって半導体レーザー62の発光光
量を変調し、光ディスク101のトラック上にデータが
記録される。記録されたデータを再生する場合、光スポ
ットが光ディスク101のトラックに記録されたデータ
上を走査すると、図3に示したレーザービーム71の全
光量が変調されるので、加算回路76の出力と加算回路
77の出力を加算回路79によって加算し、(d1+d
2+d3+d4)の再生信号80を得る。再生信号80
は図1に示した中央演算処理装置117に送られ、中央
演算処理装置117によりもとの情報データに復調さ
れ、図には示さない外部のコンピュータ等に送られる。
以上の動作により情報の記録または再生が達成される。
【0022】次に、トラバース送り時に用いるフォーカ
スサーボのオフセット値とゲイン値の設定方法について
説明する。ここで説明するフォーカスサーボのオフセッ
ト値とゲイン値の設定は、例えば、光ディスクが光ディ
スク装置に挿入された後で情報の記録や再生を行う前
に、必要に応じて予め行うものである。まず、フォーカ
スサーボを動作させトラッキングサーボは動作していな
い状態で、図1に示したフォーカスオフセット制御回路
107によりフォーカスエラー信号105にオフセット
を与え、漏れ込みレベル検出回路108によりフォーカ
スエラー信号105に含まれるトラッキングエラー信号
成分の漏れ込みレベルを検出し、フォーカスオフセット
値と漏れ込みレベルを記憶しておく。この動作を、フォ
ーカスサーボが外れない範囲内でフォーカスオフセット
値を少しずつ変えて行う。その後、記憶しておいた最小
の漏れ込みレベルに対応したフォーカスオフセット値
を、トラバース送り時のフォーカスオフセット値として
記憶する。
スサーボのオフセット値とゲイン値の設定方法について
説明する。ここで説明するフォーカスサーボのオフセッ
ト値とゲイン値の設定は、例えば、光ディスクが光ディ
スク装置に挿入された後で情報の記録や再生を行う前
に、必要に応じて予め行うものである。まず、フォーカ
スサーボを動作させトラッキングサーボは動作していな
い状態で、図1に示したフォーカスオフセット制御回路
107によりフォーカスエラー信号105にオフセット
を与え、漏れ込みレベル検出回路108によりフォーカ
スエラー信号105に含まれるトラッキングエラー信号
成分の漏れ込みレベルを検出し、フォーカスオフセット
値と漏れ込みレベルを記憶しておく。この動作を、フォ
ーカスサーボが外れない範囲内でフォーカスオフセット
値を少しずつ変えて行う。その後、記憶しておいた最小
の漏れ込みレベルに対応したフォーカスオフセット値
を、トラバース送り時のフォーカスオフセット値として
記憶する。
【0023】次に、フォーカスエラー信号105のオフ
セットをゼロに戻し、フォーカスサーボとトラッキング
サーボを動作させた状態で、図1に示したフォーカス/
トラッキング制御回路109内部に備えた発振器にてゲ
イン調整用の正弦波信号を生成する。ここでは正弦波周
波数を4kHzと仮定する。この4kHzの正弦波信号
をフォーカス/トラッキング制御回路109の出力信号
に重畳する。出力信号はドライブ回路111とアクチュ
エーターコイル113を介してフォーカスレンズ65を
フォーカスサーボ方向に振動させ、4kHzの周期で微
小な焦点ずれを生じさせる。その結果、フォーカスエラ
ー信号105に4kHzの信号成分が重畳してフォーカ
ス/トラッキング制御回路109に戻ってくる。この戻
ってきたフォーカスエラー信号105に重畳されている
4kHzの信号成分をフォーカス/トラッキング制御回
路109に内蔵しているバンドパスフィルタで抽出し、
抽出した信号と内部で生成した正弦波信号との間の位相
差を測定する。この位相差はサーボループゲインの大小
で変わる。例えば所望のサーボループゲイン設定時の位
相差を90度として、サーボゲインを大きくしたり、小
さくしたりして測定した位相差が90度になるゲイン値
を最適ゲイン値GAとして記憶する。トラッキングサー
ボループゲイン調整についても同様の方法でフォーカス
レンズ65をトラッキングサーボ方向に振動させて行
う。このフォーカスサーボループゲイン調整は以下で述
べるトラバース送り時のフォーカスエラー信号105へ
のトラッキングエラー信号の漏れ込み軽減のためフォー
カスエラー信号105にフォーカスオフセットを与えな
い状態と、フォーカスエラー信号105に漏れ込むトラ
ッキングエラー信号が最小となるようなフォーカスオフ
セットを与えた状態両方で実施する。次に、フォーカス
エラー信号105にトラバース送り時のフォーカスオフ
セット値として記憶しておいたオフセット量を与え、上
記と同様の方法でフォーカスレンズ65をトラッキング
サーボ方向に振動させて、測定した位相差が90度にな
るゲイン値を最適ゲイン値GBとして記憶する。
セットをゼロに戻し、フォーカスサーボとトラッキング
サーボを動作させた状態で、図1に示したフォーカス/
トラッキング制御回路109内部に備えた発振器にてゲ
イン調整用の正弦波信号を生成する。ここでは正弦波周
波数を4kHzと仮定する。この4kHzの正弦波信号
をフォーカス/トラッキング制御回路109の出力信号
に重畳する。出力信号はドライブ回路111とアクチュ
エーターコイル113を介してフォーカスレンズ65を
フォーカスサーボ方向に振動させ、4kHzの周期で微
小な焦点ずれを生じさせる。その結果、フォーカスエラ
ー信号105に4kHzの信号成分が重畳してフォーカ
ス/トラッキング制御回路109に戻ってくる。この戻
ってきたフォーカスエラー信号105に重畳されている
4kHzの信号成分をフォーカス/トラッキング制御回
路109に内蔵しているバンドパスフィルタで抽出し、
抽出した信号と内部で生成した正弦波信号との間の位相
差を測定する。この位相差はサーボループゲインの大小
で変わる。例えば所望のサーボループゲイン設定時の位
相差を90度として、サーボゲインを大きくしたり、小
さくしたりして測定した位相差が90度になるゲイン値
を最適ゲイン値GAとして記憶する。トラッキングサー
ボループゲイン調整についても同様の方法でフォーカス
レンズ65をトラッキングサーボ方向に振動させて行
う。このフォーカスサーボループゲイン調整は以下で述
べるトラバース送り時のフォーカスエラー信号105へ
のトラッキングエラー信号の漏れ込み軽減のためフォー
カスエラー信号105にフォーカスオフセットを与えな
い状態と、フォーカスエラー信号105に漏れ込むトラ
ッキングエラー信号が最小となるようなフォーカスオフ
セットを与えた状態両方で実施する。次に、フォーカス
エラー信号105にトラバース送り時のフォーカスオフ
セット値として記憶しておいたオフセット量を与え、上
記と同様の方法でフォーカスレンズ65をトラッキング
サーボ方向に振動させて、測定した位相差が90度にな
るゲイン値を最適ゲイン値GBとして記憶する。
【0024】次に、トラバース送り時の動作について説
明する。トラバース送り時、フォーカスエラー信号10
5に漏れ込むトラッキングエラー信号が最小となるよう
フォーカスオフセット制御回路107によりフォーカス
エラー信号105にオフセットを与えると同時に、フォ
ーカス/トラッキング制御回路109でフォーカスゲイ
ンをフォーカスオフセット値に対応した値GBに変更す
る。トラバース送り終了後あるいは終了直前に、オフセ
ットを元の値(ゼロレベル)に戻しフォーカスゲインも
元の値GAに戻す。このオフセットを与える/元に戻す
という動作は、オフセット値が大きい場合、1度に行う
とフォーカスサーボに悪影響を及ぼすことがあるが、徐
々に値を変えることで避けられる。なお、トラバース送
り時はトラッキング制御を伴わないためトラッキングゲ
イン変更の必要は無い。以上の動作制御は中央演算処理
装置117によって行う。
明する。トラバース送り時、フォーカスエラー信号10
5に漏れ込むトラッキングエラー信号が最小となるよう
フォーカスオフセット制御回路107によりフォーカス
エラー信号105にオフセットを与えると同時に、フォ
ーカス/トラッキング制御回路109でフォーカスゲイ
ンをフォーカスオフセット値に対応した値GBに変更す
る。トラバース送り終了後あるいは終了直前に、オフセ
ットを元の値(ゼロレベル)に戻しフォーカスゲインも
元の値GAに戻す。このオフセットを与える/元に戻す
という動作は、オフセット値が大きい場合、1度に行う
とフォーカスサーボに悪影響を及ぼすことがあるが、徐
々に値を変えることで避けられる。なお、トラバース送
り時はトラッキング制御を伴わないためトラッキングゲ
イン変更の必要は無い。以上の動作制御は中央演算処理
装置117によって行う。
【0025】以上の構成によって、本発明の第1の実施
例である光ディスク装置では、トラバース送り時にフォ
ーカスエラー信号105にオフセットを与えると同時に
フォーカスサーボゲインも変更することでフォーカスエ
ラー信号105に漏れ込むトラッキングエラー信号レベ
ルを軽減し、安定したフォーカス制御が可能となる。な
お、漏れ込みレベル検出回路108はフォーカスエラー
信号ではなくフォーカス/トラッキング制御回路109
出力につないでも構わない。また、フォーカスエラー信
号へのトラッキングエラー信号レベルの漏れ込みレベル
を記憶する場所は漏れ込みレベル検出回路108であっ
ても、中央演算処理装置117であっても、他の回路で
あっても構わない。また、記憶容量軽減のため漏れ込み
レベルが最小となるオフセット値のみの記憶でも構わな
い。
例である光ディスク装置では、トラバース送り時にフォ
ーカスエラー信号105にオフセットを与えると同時に
フォーカスサーボゲインも変更することでフォーカスエ
ラー信号105に漏れ込むトラッキングエラー信号レベ
ルを軽減し、安定したフォーカス制御が可能となる。な
お、漏れ込みレベル検出回路108はフォーカスエラー
信号ではなくフォーカス/トラッキング制御回路109
出力につないでも構わない。また、フォーカスエラー信
号へのトラッキングエラー信号レベルの漏れ込みレベル
を記憶する場所は漏れ込みレベル検出回路108であっ
ても、中央演算処理装置117であっても、他の回路で
あっても構わない。また、記憶容量軽減のため漏れ込み
レベルが最小となるオフセット値のみの記憶でも構わな
い。
【0026】図4は本発明の第1の実施例である光ディ
スク装置のフォーカスエラー信号へのトラッキングエラ
ー信号の漏れ込みレベルを示す概念図であり、図4
(a)はフォーカスオフセット制御回路の出力を示し、
図4(b)は漏れこみレベル検出回路で検出される漏れ
こみ量を示す。図4(a)に示すように、通常再生時、
フォーカスオフセットは印加せずA点で動作する。その
時の検出感度(図8の直線58に相当)をA″とする
と、最も感度が高いものとなる。A点でのトラッキング
サーボオフ時のフォーカスエラー信号105へのトラッ
キングエラー信号の漏れ込みレベルをA’(図4(b)
参照)とする。フォーカスサーボが外れないレベルでト
ラッキングサーボオフ時のフォーカスエラー信号105
へのトラッキングエラー信号の漏れ込みレベルが最小と
なる点をB点とする。B点での検出感度をB″とする
と、これはA点での検出感度に比べ低いものとなる。B
点でのトラッキングサーボオフ時のフォーカスエラー信
号105へのトラッキングエラー信号の漏れ込みレベル
をB’(図4(b)参照)とする。A点、B点それぞれ
でのゲイン調整値をGA、GBとするとGA/GB=
B″/A″でフォーカスオフセット印加後のゲイン調整
値は印加前より大きい値となる。つまり、アクチュエー
ターコイル113を介してフォーカスレンズ65をフォ
ーカスオフセット印加前より多く動かすことになるが、
トラッキングエラー信号の漏れ込みレベル比B’/A’
はB″/A″に比べ小さいことから、トータル特性では
漏れ込みの影響を軽減することとなる。
スク装置のフォーカスエラー信号へのトラッキングエラ
ー信号の漏れ込みレベルを示す概念図であり、図4
(a)はフォーカスオフセット制御回路の出力を示し、
図4(b)は漏れこみレベル検出回路で検出される漏れ
こみ量を示す。図4(a)に示すように、通常再生時、
フォーカスオフセットは印加せずA点で動作する。その
時の検出感度(図8の直線58に相当)をA″とする
と、最も感度が高いものとなる。A点でのトラッキング
サーボオフ時のフォーカスエラー信号105へのトラッ
キングエラー信号の漏れ込みレベルをA’(図4(b)
参照)とする。フォーカスサーボが外れないレベルでト
ラッキングサーボオフ時のフォーカスエラー信号105
へのトラッキングエラー信号の漏れ込みレベルが最小と
なる点をB点とする。B点での検出感度をB″とする
と、これはA点での検出感度に比べ低いものとなる。B
点でのトラッキングサーボオフ時のフォーカスエラー信
号105へのトラッキングエラー信号の漏れ込みレベル
をB’(図4(b)参照)とする。A点、B点それぞれ
でのゲイン調整値をGA、GBとするとGA/GB=
B″/A″でフォーカスオフセット印加後のゲイン調整
値は印加前より大きい値となる。つまり、アクチュエー
ターコイル113を介してフォーカスレンズ65をフォ
ーカスオフセット印加前より多く動かすことになるが、
トラッキングエラー信号の漏れ込みレベル比B’/A’
はB″/A″に比べ小さいことから、トータル特性では
漏れ込みの影響を軽減することとなる。
【0027】次に、本発明の第2の実施例について説明
する。第2の実施例は、第1の実施例の光ディスク装置
に光ディスク種別の判別機能を付加したものである。こ
の光ディスク種別の判別機能は、図1の中央演算処理装
置117内部に組み込まれたプログラムによっておこな
われる。よって、第2の実施例は、図1で説明した各手
段をそのまま用いており、光ディスク種別判別機能以外
は同じであるため、ブロック図としては図1を用いその
説明を省略する。
する。第2の実施例は、第1の実施例の光ディスク装置
に光ディスク種別の判別機能を付加したものである。こ
の光ディスク種別の判別機能は、図1の中央演算処理装
置117内部に組み込まれたプログラムによっておこな
われる。よって、第2の実施例は、図1で説明した各手
段をそのまま用いており、光ディスク種別判別機能以外
は同じであるため、ブロック図としては図1を用いその
説明を省略する。
【0028】図5及び図6は本発明による光ディスク装
置の第2の実施例の動作を示すフローチャートである。
まず、図5において、光ディスクが光ディスク装置内に
挿入されて回転し半導体レーザーが発光すると、最初に
ステップ31でディスク判別により漏れ込みレベル検出
を行うか否かを決定する。例えば、再生専用の光ディス
クは反射率が大きく、一方、記録可能な記録系光ディス
クの反射率は小さい。よって、これらのディスク判別は
フォーカスエラー信号振幅の大きさの違い等で初期判別
可能である。再生専用の光ディスクのトラックは凹凸形
状のピット列でできているが、記録系光ディスクのトラ
ックは凹凸形状の溝でできている。そのため、記録系光
ディスクは、再生専用の光ディスクに比べて漏れ込みが
大きいので、トラバース送り時にフォーカスサーボのオ
フセット付加とゲイン変更が必要となる。よって、ステ
ップ31で、フォーカスエラー信号振幅が所定レベルよ
り小さくて記録系光ディスクであり、漏れ込みレベル検
出を行うと判別した場合、ステップ32に移り、フォー
カスオフセットを印加しない状態でトラッキングエラー
信号漏れ込みレベルを漏れ込みレベル検出回路108で
測定し、測定結果をVleakminとして記憶する。次
にステップ33で、フォーカスオフセット制御回路10
7よりフォーカスオフセットを印加しそれぞれの印加値
に応じたトラッキングエラー信号漏れ込みレベルを漏れ
込みレベル検出回路108で測定し、今回測定値にVl
eak0として記憶する。Vleak0とVleakmin
とを比較し、小さいほうを新たにVleakminとして
記憶する。ステップ34でこの動作をフォーカスサーボ
が外れない範囲内でn回繰り返し行い、最終的にVle
akminに記憶された値が最小値となる。nは初期設定
で決めておき、精度を優先させる場合は大きく、測定時
間短縮を優先させる場合は小さく設定する。ステップ3
5で、その時のフォーカスオフセット値および漏れ込み
レベルを記憶する。その後、ステップ36で、フォーカ
スオフセットを印加せずフォーカスサーボとトラッキン
グサーボのゲイン調整を行いフォーカスサーボの最適ゲ
イン値の測定結果をGAとして記憶する。次に、図6の
ステップ37に移り、ステップ35で記憶した漏れ込み
レベルが大きい場合、例えばフォーカスエラー信号振幅
のpp値(ピーク〜ピークの値)の30%より大きい場
合、ステップ38に移り、ステップ35で記憶した漏れ
込みレベルが最小となるフォーカスオフセットを印加し
フォーカスサーボのゲイン調整を行い、最適ゲイン値の
測定結果をGBとして記憶する。ステップ37で、逆に
漏れ込みレベルがフォーカスエラー信号振幅のpp値の
30%より小さいと判断すれば、ステップ38のゲイン
調整を省略する。また、ステップ31で、フォーカスエ
ラー信号振幅が所定レベルより大きくて再生専用の光デ
ィスクであると判断した場合は、ステップ39に移り、
フォーカスオフセットを印加せずフォーカスサーボとト
ラッキングサーボのゲイン調整を行いフォーカスサーボ
の最適ゲイン値の測定結果をGAとして記憶する。これ
らにより、漏れ込みの少ないディスクでの初期調整時間
の短縮が図られる。
置の第2の実施例の動作を示すフローチャートである。
まず、図5において、光ディスクが光ディスク装置内に
挿入されて回転し半導体レーザーが発光すると、最初に
ステップ31でディスク判別により漏れ込みレベル検出
を行うか否かを決定する。例えば、再生専用の光ディス
クは反射率が大きく、一方、記録可能な記録系光ディス
クの反射率は小さい。よって、これらのディスク判別は
フォーカスエラー信号振幅の大きさの違い等で初期判別
可能である。再生専用の光ディスクのトラックは凹凸形
状のピット列でできているが、記録系光ディスクのトラ
ックは凹凸形状の溝でできている。そのため、記録系光
ディスクは、再生専用の光ディスクに比べて漏れ込みが
大きいので、トラバース送り時にフォーカスサーボのオ
フセット付加とゲイン変更が必要となる。よって、ステ
ップ31で、フォーカスエラー信号振幅が所定レベルよ
り小さくて記録系光ディスクであり、漏れ込みレベル検
出を行うと判別した場合、ステップ32に移り、フォー
カスオフセットを印加しない状態でトラッキングエラー
信号漏れ込みレベルを漏れ込みレベル検出回路108で
測定し、測定結果をVleakminとして記憶する。次
にステップ33で、フォーカスオフセット制御回路10
7よりフォーカスオフセットを印加しそれぞれの印加値
に応じたトラッキングエラー信号漏れ込みレベルを漏れ
込みレベル検出回路108で測定し、今回測定値にVl
eak0として記憶する。Vleak0とVleakmin
とを比較し、小さいほうを新たにVleakminとして
記憶する。ステップ34でこの動作をフォーカスサーボ
が外れない範囲内でn回繰り返し行い、最終的にVle
akminに記憶された値が最小値となる。nは初期設定
で決めておき、精度を優先させる場合は大きく、測定時
間短縮を優先させる場合は小さく設定する。ステップ3
5で、その時のフォーカスオフセット値および漏れ込み
レベルを記憶する。その後、ステップ36で、フォーカ
スオフセットを印加せずフォーカスサーボとトラッキン
グサーボのゲイン調整を行いフォーカスサーボの最適ゲ
イン値の測定結果をGAとして記憶する。次に、図6の
ステップ37に移り、ステップ35で記憶した漏れ込み
レベルが大きい場合、例えばフォーカスエラー信号振幅
のpp値(ピーク〜ピークの値)の30%より大きい場
合、ステップ38に移り、ステップ35で記憶した漏れ
込みレベルが最小となるフォーカスオフセットを印加し
フォーカスサーボのゲイン調整を行い、最適ゲイン値の
測定結果をGBとして記憶する。ステップ37で、逆に
漏れ込みレベルがフォーカスエラー信号振幅のpp値の
30%より小さいと判断すれば、ステップ38のゲイン
調整を省略する。また、ステップ31で、フォーカスエ
ラー信号振幅が所定レベルより大きくて再生専用の光デ
ィスクであると判断した場合は、ステップ39に移り、
フォーカスオフセットを印加せずフォーカスサーボとト
ラッキングサーボのゲイン調整を行いフォーカスサーボ
の最適ゲイン値の測定結果をGAとして記憶する。これ
らにより、漏れ込みの少ないディスクでの初期調整時間
の短縮が図られる。
【0029】図7は本発明による光ディスク装置の第2
の実施例のアクセスまでの動作を示すフローチャートで
ある。図において、ステップ41によるディスク判別で
の結果、漏れ込みレベルの大きさ、印加するフォーカス
オフセットの大きさに応じてトラバース送り時の制御方
法を変更する。つまり、ステップ41において、非記録
系ディスクの場合、あるいは、漏れ込みレベルが小さい
と判断した場合(例えばフォーカスエラー信号振幅のp
p値の30%より小さい場合)、あるいは、印加するフ
ォーカスオフセットの大きさが小さい場合(例えばフォ
ーカスエラー信号振幅のpp値の10%以下の場合)、
これらの場合は漏れ込み軽減効果は小さいと判断し、ス
テップ43に移る。ステップ41で漏れ込み軽減効果は
大きいと判断した場合はステップ42に移り、フォーカ
スサーボにオフセットを印加しサーボゲインをGBに変
更し、ステップ43に移りアクセスを開始する。本実施
例においては、ステップ41で漏れ込み軽減効果は小さ
いと判断した場合に、フォーカスオフセットの印加、フ
ォーカスゲインの変更を行わないことで中央演算処理装
置117の負荷を減らす。
の実施例のアクセスまでの動作を示すフローチャートで
ある。図において、ステップ41によるディスク判別で
の結果、漏れ込みレベルの大きさ、印加するフォーカス
オフセットの大きさに応じてトラバース送り時の制御方
法を変更する。つまり、ステップ41において、非記録
系ディスクの場合、あるいは、漏れ込みレベルが小さい
と判断した場合(例えばフォーカスエラー信号振幅のp
p値の30%より小さい場合)、あるいは、印加するフ
ォーカスオフセットの大きさが小さい場合(例えばフォ
ーカスエラー信号振幅のpp値の10%以下の場合)、
これらの場合は漏れ込み軽減効果は小さいと判断し、ス
テップ43に移る。ステップ41で漏れ込み軽減効果は
大きいと判断した場合はステップ42に移り、フォーカ
スサーボにオフセットを印加しサーボゲインをGBに変
更し、ステップ43に移りアクセスを開始する。本実施
例においては、ステップ41で漏れ込み軽減効果は小さ
いと判断した場合に、フォーカスオフセットの印加、フ
ォーカスゲインの変更を行わないことで中央演算処理装
置117の負荷を減らす。
【0030】以上述べたように、本発明によれば、標準
的に光ディスク装置が備えている機能を用い、部品点数
の追加、変更を不要とし簡単なソフトウェア制御の変更
のみで、トラバース送り時にフォーカスエラー信号に漏
れ込むトラッキングエラー信号成分を軽減し、安定した
フォーカス制御ができる。
的に光ディスク装置が備えている機能を用い、部品点数
の追加、変更を不要とし簡単なソフトウェア制御の変更
のみで、トラバース送り時にフォーカスエラー信号に漏
れ込むトラッキングエラー信号成分を軽減し、安定した
フォーカス制御ができる。
【0031】
【発明の効果】本発明によれば、トラバース送り時にフ
ォーカスエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号
成分を軽減し、安定したフォーカス制御ができる。
ォーカスエラー信号に漏れ込むトラッキングエラー信号
成分を軽減し、安定したフォーカス制御ができる。
【図1】本発明による光ディスク装置の第1の実施例を
示す概略のブロック図及びフォーカス/トラッキング制
御回路のブロック図である。
示す概略のブロック図及びフォーカス/トラッキング制
御回路のブロック図である。
【図2】図1に示す光ディスク装置に使用される光ピッ
クアップの実施例を示す概略構成図である。
クアップの実施例を示す概略構成図である。
【図3】図1に示す光ディスク装置に使用される光検出
器、フォーカスエラー信号生成回路及びトラッキングエ
ラー信号生成回路の実施例を示す概略構成図である。
器、フォーカスエラー信号生成回路及びトラッキングエ
ラー信号生成回路の実施例を示す概略構成図である。
【図4】本発明の第1の実施例である光ディスク装置の
フォーカスエラー信号へのトラッキングエラー信号の漏
れ込みレベルを示す概念図である。
フォーカスエラー信号へのトラッキングエラー信号の漏
れ込みレベルを示す概念図である。
【図5】本発明による光ディスク装置の第2の実施例の
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
【図6】本発明による光ディスク装置の第2の実施例の
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
【図7】本発明による光ディスク装置の第2の実施例の
アクセスまでの動作を示すフローチャートである。
アクセスまでの動作を示すフローチャートである。
【図8】図8はフォーカスエラー検出特性を示す特性図
である。
である。
101…光ディスク、102…光ピックアップ、103
…フォーカスエラー信号生成回路、104…トラッキン
グエラー信号生成回路、105…フォーカスエラー信
号、106…トラッキングエラー信号、107…フォー
カスオフセット制御回路、108…漏れ込みレベル検出
回路、109…フォーカス/トラッキング制御回路、1
10…トラバース制御回路、111…ドライブ回路、1
12…トラバースドライブ回路、113…アクチュエー
ターコイル、114…トラバースモーター、115…デ
ィスクモーター、116…ディスク回転制御回路、11
7…中央演算処理装置。
…フォーカスエラー信号生成回路、104…トラッキン
グエラー信号生成回路、105…フォーカスエラー信
号、106…トラッキングエラー信号、107…フォー
カスオフセット制御回路、108…漏れ込みレベル検出
回路、109…フォーカス/トラッキング制御回路、1
10…トラバース制御回路、111…ドライブ回路、1
12…トラバースドライブ回路、113…アクチュエー
ターコイル、114…トラバースモーター、115…デ
ィスクモーター、116…ディスク回転制御回路、11
7…中央演算処理装置。
フロントページの続き
Fターム(参考) 5D117 AA02 CC06 FF07 FF08 FF14
5D118 AA14 BA01 BF11 CA02 CA08
CB01 CD02 CD11
Claims (9)
- 【請求項1】光ピックアップからディスクの信号面に照
射される光ビームをそのディスクの信号面に合焦させる
フォーカスサーボを行うと共に、その光ビームを信号ト
ラックに追従させるトラッキングサーボを行う光学的情
報処理方法において、フォーカスサーボに用いられるフ
ォーカスエラー信号を生成するステップと、フォーカス
オフセットを制御するステップと、トラッキングサーボ
に用いられるトラッキングエラー信号を生成するステッ
プと、トラッキングサーボオフ時にフォーカスエラー信
号に漏れ込むトラッキングエラー信号成分レベルを検出
するステップと、フォーカスサーボゲインを制御するス
テップとを備え、トラッキングサーボオフ時にトラバー
ス送りが実行される際、フォーカスオフセットを可変制
御すると同時にフォーカスサーボゲインも可変制御する
ことを特徴とする光ディスク装置における光学的情報処
理方法。 - 【請求項2】請求項1記載の光学的情報処理方法におい
て、検出した漏れ込みレベルが一定値以上の場合のみ、
トラッキングサーボオフ時にトラバース送りが実行され
る際、フォーカスオフセットを可変制御すると同時にフ
ォーカスサーボゲインも可変制御することを特徴とする
光ディスク装置における光学的情報処理方法。 - 【請求項3】請求項1記載の光学的情報処理方法におい
て、該トラッキングエラー信号成分レベルを検出するス
テップはディスク種別に応じてフォーカスエラー信号に
漏れ込むトラッキングエラー信号成分レベルを検出し、
トラッキングサーボオフ時にトラバース送りが実行され
る際、フォーカスオフセットを可変制御すると同時にフ
ォーカスサーボゲインも可変制御することを特徴とする
光ディスク装置における光学的情報処理方法。 - 【請求項4】請求項1記載の光学的情報処理方法におい
て、フォーカスオフセット制御時に設定する値が一定値
以上の場合のみ、トラッキングサーボオフ時にトラバー
ス送りが実行される際にフォーカスオフセットを可変制
御すると同時にフォーカスサーボゲインも可変制御する
ことを特徴とする光ディスク装置における光学的情報処
理方法。 - 【請求項5】光ピックアップと、該光ピックアップから
光ディスクの信号面に照射される光ビームを該光ディス
クの信号面に合焦させるフォーカスサーボ手段と、該光
ビームを信号トラックに追従させるトラッキングサーボ
手段とを有し、該フォーカスサーボ手段は、フォーカス
エラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成回路、
フォーカスオフセットを制御するフォーカスオフセット
制御回路、フォーカスエラー信号に漏れ込むトラッキン
グエラー信号成分レベルを検出するレベル検出回路及び
フォーカスサーボゲイン制御回路を備え、トラッキング
サーボオフ時に該フォーカスオフセット制御回路により
フォーカスオフセットを可変制御するとともに、該フォ
ーカスサーボゲイン制御回路によりフォーカスサーボゲ
インを可変制御することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項6】光ピックアップと、該光ピックアップから
ディスクの信号面に照射される光ビームをそのディスク
の信号面に合焦させるフォーカスサーボ手段と、該光ビ
ームを信号トラックに追従させるトラッキングサーボを
行うトラッキングサーボ手段と、フォーカスサーボに用
いられるフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエ
ラー信号生成回路と、フォーカスオフセットを制御する
フォーカスオフセット制御回路と、トラッキングサーボ
に用いられるトラッキングエラー信号を生成するトラッ
キングエラー信号生成回路と、トラッキングサーボオフ
時にフォーカスエラー信号に漏れ込むトラッキングエラ
ー信号成分レベルを検出するレベル検出回路と、フォー
カスサーボゲイン制御回路とを備え、トラッキングサー
ボオフ時トラバース送りが実行される際にフォーカスオ
フセットを可変制御すると同時にフォーカスサーボゲイ
ンも可変制御することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項7】請求項5叉は6記載の光ディスク装置にお
いて、該レベル検出回路で検出したレベルが一定値以上
の場合には該フォーカスオフセット制御回路によりフォ
ーカスオフセットを可変制御するとともに該フォーカス
サーボゲイン制御回路によりフォーカスサーボゲインを
可変制御するための漏れ込みレベル判定手段を設けるこ
とを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項8】請求項5叉は6記載の光ディスク装置にお
いて、ディスク種別の判定手段を設け、該判定手段の結
果により該フォーカスオフセット制御回路によりフォー
カスオフセットを可変制御するとともに該フォーカスサ
ーボゲイン制御回路によりフォーカスサーボゲインを可
変制御することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項9】請求項5叉は6記載の光ディスク装置にお
いて、該フォーカスオフセット制御回路により印加され
る予定のフォーカスオフセット値が所定値以上の場合に
該フォーカスサーボゲイン制御回路によりフォーカスサ
ーボゲインを可変制御するためのフォーカスオフセット
値判定手段を設けることを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001362198A JP2003162826A (ja) | 2001-11-28 | 2001-11-28 | 光ディスク装置及び光学的情報処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001362198A JP2003162826A (ja) | 2001-11-28 | 2001-11-28 | 光ディスク装置及び光学的情報処理方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003162826A true JP2003162826A (ja) | 2003-06-06 |
Family
ID=19172737
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001362198A Pending JP2003162826A (ja) | 2001-11-28 | 2001-11-28 | 光ディスク装置及び光学的情報処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003162826A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007066483A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フォーカスサーボ方法とトラッキングサーボ方法および光ディスク装置 |
EP1831877A1 (en) * | 2004-12-20 | 2007-09-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical focus error offset to reduce radial to vertical crosstalk |
-
2001
- 2001-11-28 JP JP2001362198A patent/JP2003162826A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1831877A1 (en) * | 2004-12-20 | 2007-09-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical focus error offset to reduce radial to vertical crosstalk |
JP2008524767A (ja) * | 2004-12-20 | 2008-07-10 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | ラジアル−バーティカル・クロストークを抑制する光学式焦点誤差オフセット |
US8085629B2 (en) | 2004-12-20 | 2011-12-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical focus error offset to reduce radial to vertical crosstalk |
JP2007066483A (ja) * | 2005-09-02 | 2007-03-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フォーカスサーボ方法とトラッキングサーボ方法および光ディスク装置 |
JP4572778B2 (ja) * | 2005-09-02 | 2010-11-04 | パナソニック株式会社 | 光ディスク装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI222632B (en) | Optical disk device | |
KR20030084756A (ko) | 광디스크 장치, 빔 스폿의 이동 방법 및 광디스크 장치에있어서 실행 가능한 컴퓨터 프로그램 | |
JPH06243496A (ja) | ディスク再生装置及びそのフォーカスバランス自動調整方法及び信号処理装置 | |
US6970405B2 (en) | Optical recording/reproducing apparatus | |
JP3574747B2 (ja) | 光ピックアップ、情報再生装置及び情報記録装置 | |
US7307926B2 (en) | Apparatus and method for tracking control | |
US7933177B2 (en) | Optical pickup apparatus, optical read/write apparatus, and gap control method | |
JP4537780B2 (ja) | チルト補正装置及び方法、情報記録装置、並びに情報記録再生装置 | |
US6882602B2 (en) | Calibration method for control device of optical storage medium drive | |
US7295498B2 (en) | Disk apparatus and method of generating a tracking error signal | |
US7313058B2 (en) | Optical disk device and method for controlling optical disk | |
JP2003162826A (ja) | 光ディスク装置及び光学的情報処理方法 | |
JP2000076679A (ja) | 光ピックアップ装置及びそのチルト検出方法 | |
JP2004241100A (ja) | 光ディスク装置、ビームスポットの移動方法、および、光ディスク装置において実行可能なコンピュータプログラム | |
JP2000276743A (ja) | 光磁気ディスクの記録再生方法及び記録再生装置 | |
JP2006521646A (ja) | 光ディスクのチルトを測定するための方法及び装置 | |
KR100640584B1 (ko) | 광디스크 장치 및 광디스크의 틸트 보정방법 | |
JP2553651B2 (ja) | 焦点制御装置 | |
KR100665399B1 (ko) | 최적서보구현방법 | |
JP2553656B2 (ja) | 焦点制御装置 | |
JP4520906B2 (ja) | タンジェンシャルチルト検出装置および光ディスク装置 | |
KR20080032837A (ko) | 고밀도 다층 디스크에 대한 층간 포커스 제어 장치 및 방법 | |
JP3607670B2 (ja) | 光ディスク装置及びディスクチルト検出方法 | |
JP3695863B2 (ja) | 光ディスク装置とそのトラッキング制御方法 | |
JP2003317288A (ja) | 光ディスク装置及びディスクチルト検出方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040121 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20050922 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20051101 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20060228 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |