JP2003156312A - 熱間ビレットの端部切断位置検出方法 - Google Patents

熱間ビレットの端部切断位置検出方法

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JP2003156312A JP2001357330A JP2001357330A JP2003156312A JP 2003156312 A JP2003156312 A JP 2003156312A JP 2001357330 A JP2001357330 A JP 2001357330A JP 2001357330 A JP2001357330 A JP 2001357330A JP 2003156312 A JP2003156312 A JP 2003156312A
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cutting
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Koki Senoo
耕基 妹尾
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Sumitomo Metals Kokura Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 形状不良部だけでなく、ビレット表面疵であ
っても精度良く検出し、最適な切断長さを決定するこ
と。 【解決手段】 圧延中におけるビレット1の端部に発生
した不良部分を切断するに際し、ビレット1の端部切断
位置を検出する方法である。切断機3前、或いは、最終
圧延スタンド出側にてビレット1の端部表裏面を撮像す
る。表裏面の画像を処理してビレット端部の輝度を抽出
する。抽出した輝度の違いからビレット1の先端或いは
後端位置と、先端凸部位置或いは後端凸部位置と、へげ
状疵7及びまくれ込み部8の位置を検出する。へげ状疵
7及びまくれ込み部8の内の最もビレット中央部側に位
置するものと、先端凸部位置或いは後端凸部位置を比較
し、両者のうちビレット中央部側に位置する方の位置を
切断位置とする。 【効果】 圧延材の種類、寸法が変っても、常に最適な
切断長さを検出できるようになり、ビレット端部の切り
過ぎや切り不足の問題が解決できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、熱間ビレット(以
下、単に「ビレット」という。)の端部に発生したクロ
ップ等の形状不良部やまくれ込み部等のビレット表面疵
を切断するに際し、端部切断位置を検出する方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、ビレットの圧延においては、クロ
ップ等の形状不良部や、まくれ込み部、へげ状疵等のビ
レット表面疵が存在するビレット先端部及び後端部を切
断し、次工程での鋼片手入れの労力を軽減している。
【0003】この時、ビレット端部の切断長さが短すぎ
ると、端部に発生している前記形状不良部やビレット表
面疵が取り除かれないまま次工程に搬送される為、ガス
カットやグラインダによる手入れに労力を要することに
なる。また、反対にビレット端部の切断長さが長すぎる
と、切捨てロスが大きくなって歩留りの低下を招く。
【0004】このビレット端部の切断方法として、従来
は上位計算機から出力される基準切捨て長さを基に、切
断オペレータが切断機上部に設置されたカメラから得ら
れる映像をテレビモニター等を見ながら微調整すること
で切断指示を出していた。
【0005】しかしながら、上記の方法ではテレビモニ
ター等の死角になる部分は確認できない為、ビレット端
部の形状不良部やビレット表面疵が切り残ってしまう可
能性がある。
【0006】また、上記の方法では切断オペレータの経
験に頼る場合が多く、切断オペレータが変わる毎に切断
長さがばらつくという問題もある。更に、切断オペレー
タに形状不良部やビレット表面疵を残したくないという
心理が働くと、ビレット端部を長めに切断してしまうこ
とになり、切捨てロスにつながる場合も少なくない。
【0007】以上の理由から最適切断長さでビレット端
部を切断することは歩留り向上の意味からも非常に重要
となる。そこで、ビレット端部の形状不良部を最適長さ
に切断する方法として、例えば特開平9−57305号
に、粗圧延材の形状から製品形状を予測し、最適切断長
さを算出するという方法が提案されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上述した特開平9−5
7305号で提案されている方法では形状不良部の予測
はできるものの、その他のまくれ込み部やへげ状疵のよ
うな形状には現れないビレット表面疵の検出は困難であ
る。
【0009】本発明は、上記した従来の問題点に鑑みて
なされたものであり、クロップ等の形状不良部だけでな
く、まくれ込みやへげ状疵のような、形状には現れない
ビレット表面疵であっても精度良く検出し、最適な切断
長さを決定することができるビレットの端部切断位置検
出方法を提供することを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明に係るビレットの端部切断位置検出方法
は、切断機前、或いは、最終圧延スタンド出側にてビレ
ットの端部表裏面を撮像し、これら表裏面の画像を処理
してビレット端部の輝度を抽出し、抽出した輝度の違い
からビレットの先端或いは後端位置と、先端凸部位置或
いは後端凸部位置と、へげ状疵及びまくれ込み部の位置
を検出し、へげ状疵及びまくれ込み部の内の最もビレッ
ト中央部側に位置するものと、前記先端凸部位置或いは
後端凸部位置を比較し、両者のうちビレット中央部側に
位置する方の位置を切断位置とすることとしている。
【0011】そして、このようにすることで、画像の輝
度の違いによって、形状不良部のみならず、まくれ込み
部やへげ状疵などのビレット表面疵をも検出できるよう
になるので、常に最適な切断長さを検出できるようにな
る。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明に係るビレットの端部切断
位置検出方法は、圧延中におけるビレットの端部に発生
した不良部分を切断するに際し、ビレットの端部切断位
置を検出する方法において、切断機前、或いは、最終圧
延スタンド出側にてビレットの端部表裏面を撮像し、こ
れら表裏面の画像を処理してビレット端部の輝度を抽出
し、抽出した輝度の違いからビレットの先端或いは後端
位置と、先端凸部位置或いは後端凸部位置と、へげ状疵
及びまくれ込み部の位置を検出し、へげ状疵及びまくれ
込み部の内の最もビレット中央部側に位置するものと、
前記先端凸部位置或いは後端凸部位置を比較し、両者の
うちビレット中央部側に位置する方の位置を切断位置と
するものである。
【0013】本発明に係るビレットの端部切断位置検出
方法によれば、画像の輝度の違いによって、形状不良部
のみならず、まくれ込み部やへげ状疵などのビレット表
面疵をも検出できるので、圧延材の種類、寸法が変って
も、常に最適な切断長さを検出できるようになる。
【0014】本発明に係るビレットの端部切断位置検出
方法において、へげ状疵及びまくれ込み部の位置に加え
て面積をも検出し、所定の面積以上のへげ状疵及びまく
れ込み部の内の最もビレット中央側に位置するものと、
先端凸部位置或いは後端凸部位置を比較するようにした
場合には、次工程における鋼片手入れの必要の無い微小
なへげ状疵やまくれ込み部を無視できるようになる。
【0015】また、本発明に係るビレットの端部切断位
置検出方法において、ビレットの先端或いは後端位置
と、先端或いは後端凸部位置と、へげ状疵及びまくれ込
み部の位置、或いは、位置及び面積の検出を二値化処理
した別個の画像により行うようにすれば、これらの検出
がより高精度に行なえるようになる。
【0016】
【実施例】以下、本発明に係るビレットの端部切断位置
検出方法を図1〜図4に示す実施例に基づいて説明す
る。図1は本発明に係るビレットの端部切断位置検出方
法を実施するための装置構成の概略図、図2はビレット
先端位置の検出方法の説明図、図3はビレット凸部位置
の検出方法の説明図、図4はへげ状疵位置及びまくれ込
み部位置の説明図である。
【0017】図1において、1は連続圧延機2によって
熱間圧延されたビレットであり、連続圧延機2の出側、
或いは、ビレット1を切断する切断機3の入側のビレッ
ト搬送ラインを挟む上下に設置されたカメラ4a,4b
で、前記ビレット1の先端部1a及び後端部1bを表裏
面から撮像する。
【0018】前記カメラ4a,4bによって撮像した画
像は、表面用及び裏面用それぞれの画像処理装置5a,
5bに取り込み、ビレット1の先後端部1a,1bの表
裏面において、例えば以下の要領でそれぞれ先端(後
端)位置と、先端(後端)凸部位置と、へげ状疵及びま
くれ込み部の検出を行う。
【0019】通常、ビレット1の先端部1a(後端部1
b)は、中央部側が高温で、先端(後端)が若干温度が
低いというように、測定部位によって温度差を有するた
め、取り込んだ画像の明るさ(輝度)にばらつきがあ
る。そのため、画像処理を施す過程で例えば二値化の閾
値を固定してしまうと、特徴抽出をできる部位とできな
い部位ができる。
【0020】そこで、ビレット1の先端部1a(後端部
1b)の画像を二値化処理する場合、一つの画像に対
し、ビレット1の先端(後端)位置、ビレット1の
先端凸部(後端凸部)位置、へげ状疵及びまくれ込み
部の3箇所毎に適した閾値を設定し、画像処理を施すこ
とで各部位の特徴を精度良く抽出できるようになる。
【0021】例えばビレット1の先端位置を検出するに
は、図2に示すように、画像処理装置5a,5bに取り
込んだ画像10内における検出ウィンドウ6内を、例え
ば若干低めに設定した閾値で二値化処理してビレット1
の先端部1aを表裏面それぞれについて抽出する。
【0022】そして、この抽出した先端部1aの水平座
標(図2における紙面左右方向)の最も小さな位置(最
も紙面左側の位置)を表裏面それぞれの先端位置とする
のである。なお、後端位置は、抽出した後端部1bの水
平座標の最も大きな位置(最も紙面右側の位置)を用い
て後端位置を検出することは言うまでもない。
【0023】また、ビレット1の先端凸部位置を検出す
るには、図3に示すように、画像処理装置5a,5bに
取り込んだ画像10内における検出ウィンドウ6内を、
例えば前記ビレット1の先端位置を検出する場合よりも
高めに設定した閾値で二値化処理してビレット1の先端
部1aを表裏面それぞれについて抽出した後、これらの
抽出した先端部1aをそれぞれ輪郭処理する。
【0024】前記先端部1aの輪郭処理後は、表裏面そ
れぞれについて予め設定した凸部検出用微小ウィンドウ
6a毎にビレット1の幅長さを求める処理を、ウィンド
ウ6内においてビレット1の先端方向へ順次行いつつ、
隣接する微小ウィンドウ6aにおけるビレット1の幅長
さの比較を繰り返していく。
【0025】そして、隣接する微小ウィンドウ6aにお
けるビレット1の幅長さの差が予め設定した値以上にな
ったとき、その隣接する微小ウィンドウ6aの内のビレ
ット1の中央部側の位置を先端凸部位置とするのであ
る。なお、後端凸部位置は、抽出した表裏面における後
端凸部位置の水平座標の小さい方の位置(ビレット1の
中央部側の位置)とすることは言うまでもない。
【0026】また、へげ状疵7及びまくれ込み部8を検
出するには、図4に示すように、画像処理装置5a,5
bに取り込んだ画像10内における検出ウィンドウ6内
を、例えばビレット1の先端凸部位置を検出する場合と
同じ閾値で二値化処理し、ビレット1の表面(裏面)に
含まれるへげ状疵7及びまくれ込み部8の面積とその位
置を検出する。
【0027】そして、前記検出したうちの所定の面積以
上のへげ状疵7及びまくれ込み部8の内の最も水平方向
座標位置(図4における紙面左右方向)が大きいもの
(図4における紙面右方向に位置するもの)、すなわ
ち、ビレット1の中央部側に位置するものを表面側(裏
面側)に発生した表面疵位置とし、これらの表面疵のう
ち、ビレット1の最も中央部側に位置するものをビレッ
ト1の表面疵位置とするのである。
【0028】上記の検出方法でビレット1の表裏面それ
ぞれについて先端(後端)位置、先端凸部(後端凸部)
位置、表面疵位置が検出されると、先端(後端)位置か
ら、表面疵位置或いは先端凸部(後端凸部)位置の内の
ビレット中央部側に位置する方の位置までの長さX(1)
,X(2) を検出し、これら両長さX(1) ,X(2) を比
較して長い方の長さを最適切断位置として、切断司令室
9に出力し、モニターに表示するのである。なお、表面
疵がない場合は先端(後端)位置から先端凸部(後端凸
部)位置までの長さを最適切断位置として出力すること
は言うまでもない。
【0029】上記した本発明に係るビレットの端部切断
位置検出方法によれば、画像の輝度の違いによって、形
状不良部のみならず、まくれ込み部やへげ状疵等のビレ
ット表面疵をも検出できるので、圧延材の種類、寸法が
変っても、常に最適な切断長さを検出できるようにな
る。
【0030】また、上記した本発明方法においては、画
像処理画面内における検出ウィンドウ内全体の平均輝度
又は最大輝度又は最小輝度を求めることで、操業上ビレ
ツト毎に加熱温度が変化して明るさが変化しても対応で
きるようになることは言うまでもない。
【0031】上記した実施例では、へげ状疵やまくれ込
み部の面積をも抽出するものについて説明したが、へげ
状疵やまくれ込み部の面積は抽出せず、位置のみ抽出す
るものであっても良い。
【0032】また、上記した実施例では二値化処理した
画像によって、ビレット端部の切断位置を検出するもの
について説明したが、画像処理は二値化するものに限ら
ないことは言うまでもない。例えば三値化処理した画像
を使用する場合には、先端或いは後端位置と、先端或い
は後端凸部位置と、へげ状疵及びまくれ込み部の検出
を、前記したような3つの画面に分けて行う必要がなく
1つの画面で検出することができる。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
画像の輝度の違いによって、形状不良部のみならず、ま
くれ込み部やへげ状疵等のビレット表面疵をも検出でき
るので、圧延材の種類、寸法が変っても、常に最適な切
断長さを検出できるようになり、ビレット端部を切断す
る際における切り過ぎや切り不足の問題が解決できる。
【0034】また、へげ状疵及びまくれ込み部の位置に
加えて面積をも検出し、所定の面積以上のへげ状疵及び
まくれ込み部の内の最もビレット中央側に位置するもの
と、先端凸部位置或いは後端凸部位置を比較するように
した場合には、次工程における鋼片手入れの必要の無い
微小なへげ状疵及びまくれ込み部は無視できるので、切
断位置の検出精度が更に良くなる。
【0035】更に、ビレットの先端或いは後端位置と、
先端或いは後端凸部位置と、へげ状疵及びまくれ込み部
の位置、或いは、位置及び面積の検出を二値化処理した
別個の画像により行うようにすれば、これらの検出がよ
り高精度に行なえるようになり、切断位置の検出精度が
より向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るビレットの端部切断位置検出方法
を実施するための装置構成の概略図である。
【図2】ビレット先端位置の検出方法の説明図である。
【図3】ビレット凸部位置の検出方法の説明図である。
【図4】へげ状疵位置及びまくれ込み部位置の説明図で
ある。
【符号の説明】
1 ビレット 1a 先端部 1b 後端部 2 連続圧延機 3 切断機 4a カメラ 4b カメラ 5a 画像処理装置 5b 画像処理装置 7 へげ状疵 8 まくれ込み部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01B 11/24 G01B 11/28 Z 11/28 G06T 1/00 300 G06T 1/00 300 G01B 11/24 K Fターム(参考) 2F065 AA01 AA12 AA14 AA20 AA51 AA58 BB13 BB15 BB24 CC02 CC06 FF04 FF42 GG09 JJ03 JJ05 JJ09 JJ26 PP16 QQ06 QQ25 QQ28 QQ31 QQ36 SS02 SS13 TT08 5B057 AA01 AA17 BA02 CA08 CA12 CA16 CE12 DA03 DA07 DB02 DB09 DC04

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 圧延中における熱間ビレットの端部に発
    生した不良部分を切断するに際し、熱間ビレットの端部
    切断位置を検出する方法において、 切断機前、或いは、最終圧延スタンド出側にて熱間ビレ
    ットの端部表裏面を撮像し、これら表裏面の画像を処理
    して熱間ビレット端部の輝度を抽出し、抽出した輝度の
    違いから熱間ビレットの先端或いは後端位置と、先端凸
    部位置或いは後端凸部位置と、へげ状疵及びまくれ込み
    部の位置を検出し、へげ状疵及びまくれ込み部の内の最
    も熱間ビレット中央部側に位置するものと、前記先端凸
    部位置或いは後端凸部位置を比較し、両者のうち熱間ビ
    レット中央部側に位置する方の位置を切断位置とするこ
    とを特徴とする熱間ビレットの端部切断位置検出方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の熱間ビレットの端部切断
    位置検出方法において、へげ状疵及びまくれ込み部の位
    置に加えて面積をも検出し、所定の面積以上のへげ状疵
    及びまくれ込み部の内の最も熱間ビレット中央部側に位
    置するものと、先端凸部位置或いは後端凸部位置を比較
    することを特徴とする熱間ビレットの端部切断位置検出
    方法。
  3. 【請求項3】 熱間ビレットの先端或いは後端位置と、
    先端或いは後端凸部位置と、へげ状疵及びまくれ込み部
    の位置、或いは、位置及び面積の検出を二値化処理した
    別個の画像により行うことを特徴とする請求項1又は2
    記載の熱間ビレットの端部切断位置検出方法。
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