JP2003142416A - 気相成長方法および気相成長装置 - Google Patents
気相成長方法および気相成長装置Info
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- JP2003142416A JP2003142416A JP2001339105A JP2001339105A JP2003142416A JP 2003142416 A JP2003142416 A JP 2003142416A JP 2001339105 A JP2001339105 A JP 2001339105A JP 2001339105 A JP2001339105 A JP 2001339105A JP 2003142416 A JP2003142416 A JP 2003142416A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 気相成長炉において、サセプタ上に単一ある
いは複数個設置されているウエハー上に堆積する膜厚の
空間分布の一様性を改善させると共に、成長炉内の内壁
への堆積膜の堆積を抑え、成長膜の膜質を改善させる。 【解決手段】 ウエハーの設置ができる単一あるいは複
数個の自転可能な回転ステージと、これら複数個の自転
回転ステージが設置できる公転可能な回転ステージとを
有し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのサセ
プタが具備され、気相に接しているウエハー表面、自転
可能な回転ステージ表面、公転可能な回転ステージ表
面、サセプタ表面が実質的に同一表面となる構成を有す
る気相成長装置において、自転回転ステージあるいは公
転可能な回転ステージの毎分あたりの回転数を、100
回転以上の高速回転をさせるか、単位時間あたりの回転
数あるいは回転方向を時間的に変化させながら気相成長
をさせる。
いは複数個設置されているウエハー上に堆積する膜厚の
空間分布の一様性を改善させると共に、成長炉内の内壁
への堆積膜の堆積を抑え、成長膜の膜質を改善させる。 【解決手段】 ウエハーの設置ができる単一あるいは複
数個の自転可能な回転ステージと、これら複数個の自転
回転ステージが設置できる公転可能な回転ステージとを
有し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのサセ
プタが具備され、気相に接しているウエハー表面、自転
可能な回転ステージ表面、公転可能な回転ステージ表
面、サセプタ表面が実質的に同一表面となる構成を有す
る気相成長装置において、自転回転ステージあるいは公
転可能な回転ステージの毎分あたりの回転数を、100
回転以上の高速回転をさせるか、単位時間あたりの回転
数あるいは回転方向を時間的に変化させながら気相成長
をさせる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数個のウエハー
の設置が可能な複数個の自転可能な回転ステージと、こ
れら複数個の自転回転ステージが設置できる公転可能な
回転ステージとを有し、かつウエハーを所望の温度に加
熱するためのウエハーに直接あるいは近接して接するサ
セプタが具備されている構成を有し、かつ前記ウエハー
を設置した際の、気相に接している前記ウエハー表面、
前記自転可能な回転ステージ表面、前記公転可能な回転
ステージ表面、及びサセプタ表面が実質的に同一表面と
なる構成を有し、反応させるべき原料ガス及びこれを搬
送するガスをガス導入口よりウエハー表面と実質的に平
行に導入し、これを化学反応を生起するに十分な高温の
前記サセプタ上に誘導し、前記サセプタ上の自転回転ス
テージに設置したウエハー上において化学反応に由来す
る所望の堆積膜を堆積させることを目的とした横型気相
成長炉において、前記自転回転ステージあるいは公転可
能な回転ステージの毎分あたりの回転数を、100回転
以上の高速回転をさせることを特徴とする気相成長方法
に関するものであり、さらに、複数個のウエハーの設置
が可能な複数個の自転可能な回転ステージと、これら複
数個の自転回転ステージが設置できる公転可能な回転ス
テージとを有し、かつウエハーを所望の温度に加熱する
ためのウエハーに直接あるいは近接して接するサセプタ
が具備されている構成を有し、かつ前記ウエハーを設置
した際の、気相に接している前記ウエハー表面、前記自
転可能な回転ステージ表面、前記公転可能な回転ステー
ジ表面、及びサセプタ表面が実質的に同一表面となる構
成を有し、反応させるべき原料ガス及びこれを搬送する
ガスをガス導入口より導入し、これを化学反応を生起す
るに十分な高温の前記サセプタ上に誘導し、前記サセプ
タ上の自転回転ステージに設置したウエハー上において
化学反応に由来する所望の堆積膜を堆積させることを目
的とした気相成長方法炉において、前記自転回転ステー
ジあるいは公転可能な回転ステージの単位時間あたりの
回転数あるいは回転方向を時間的に変化させることを特
徴とする気相成長方法に関するものである。
の設置が可能な複数個の自転可能な回転ステージと、こ
れら複数個の自転回転ステージが設置できる公転可能な
回転ステージとを有し、かつウエハーを所望の温度に加
熱するためのウエハーに直接あるいは近接して接するサ
セプタが具備されている構成を有し、かつ前記ウエハー
を設置した際の、気相に接している前記ウエハー表面、
前記自転可能な回転ステージ表面、前記公転可能な回転
ステージ表面、及びサセプタ表面が実質的に同一表面と
なる構成を有し、反応させるべき原料ガス及びこれを搬
送するガスをガス導入口よりウエハー表面と実質的に平
行に導入し、これを化学反応を生起するに十分な高温の
前記サセプタ上に誘導し、前記サセプタ上の自転回転ス
テージに設置したウエハー上において化学反応に由来す
る所望の堆積膜を堆積させることを目的とした横型気相
成長炉において、前記自転回転ステージあるいは公転可
能な回転ステージの毎分あたりの回転数を、100回転
以上の高速回転をさせることを特徴とする気相成長方法
に関するものであり、さらに、複数個のウエハーの設置
が可能な複数個の自転可能な回転ステージと、これら複
数個の自転回転ステージが設置できる公転可能な回転ス
テージとを有し、かつウエハーを所望の温度に加熱する
ためのウエハーに直接あるいは近接して接するサセプタ
が具備されている構成を有し、かつ前記ウエハーを設置
した際の、気相に接している前記ウエハー表面、前記自
転可能な回転ステージ表面、前記公転可能な回転ステー
ジ表面、及びサセプタ表面が実質的に同一表面となる構
成を有し、反応させるべき原料ガス及びこれを搬送する
ガスをガス導入口より導入し、これを化学反応を生起す
るに十分な高温の前記サセプタ上に誘導し、前記サセプ
タ上の自転回転ステージに設置したウエハー上において
化学反応に由来する所望の堆積膜を堆積させることを目
的とした気相成長方法炉において、前記自転回転ステー
ジあるいは公転可能な回転ステージの単位時間あたりの
回転数あるいは回転方向を時間的に変化させることを特
徴とする気相成長方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】Al、Ga、In等のIII族元素とV
族元素との化合物である半導体は、ワイドギャップを有
する直接遷移型半導体であり、可視から紫外域の発光材
料として、最も有望であると考えられる。これら、光半
導体デバイスの材料となる、窒化ガリウムGaN等の、
結晶学的に優れた制作手法が求められている。気相成長
法の一形態である有機金属気相成長(MOCVD:Me
talorganicChemical Vapor
Phase Deposition)法は、これを産業
レベルで実現できる有力な手法として、各方面で研究開
発が進められている。
族元素との化合物である半導体は、ワイドギャップを有
する直接遷移型半導体であり、可視から紫外域の発光材
料として、最も有望であると考えられる。これら、光半
導体デバイスの材料となる、窒化ガリウムGaN等の、
結晶学的に優れた制作手法が求められている。気相成長
法の一形態である有機金属気相成長(MOCVD:Me
talorganicChemical Vapor
Phase Deposition)法は、これを産業
レベルで実現できる有力な手法として、各方面で研究開
発が進められている。
【0003】このMOCVD法においては、サセプタ上
において、原料ガスの供給が空間的に一様になるように
することが、優れた結晶成長を実現するために必要であ
る。MOCVD法においては、サセプタ上において、ウ
エハーを静止させたまま結晶成長を行うと、しばしばウ
エハー上の成膜の均一性が失われる場合がある。これを
解決するために、ウエハーの自転、あるいは、個々のウ
エハーの自転と、これら複数個の自転回転ステージが設
置できる回転ステージの公転とを組み合わせ、かつ自転
及び公転の単位時間あたりの回転数あるいは回転方向を
実質的に時間的に一定にしながら、これら複数個のウエ
ハー上への原料ガスの供給が空間的にほぼ一様となるよ
うに工夫されていた。例えば、ガスの供給方向がウエハ
ー表面と実質的に平行な横型気相成長炉に対し、特許公
報(特公平7−8710号公報)においては、自転ある
いは公転を組み合わせ、自転及び公転の回転方向を常に
同じにして、それぞれの毎分あたりの回転数を、数十回
転及び約20回転の割合で行う方法が述べられている。
一方、ガスの供給方向がウエハー表面と実質的に垂直な
縦型気相成長炉に対しは、自転の毎分あたりの回転数
を、300〜1400回転の割合の高速回転で行う方法
が報告されている(例えば、W.G.Breiland
et al.:Annual Rev. Mate
r. Sci.1998. "AlGaAs OMVP
E in an RDR" 12/09/97)。この
高速回転を用いることにより、ウエハー上部から供給さ
れるガスを引き込むポンプの役割を担わせると同時に、
ウエハー表面に形成される温度境界層を薄くし、ウエハ
ー表面近傍で温度勾配を大きくすることにより、ウエハ
ーから離れた上部における温度を低く抑え、この領域に
おけるガスのクラッキングと、これに起因する堆積物の
成長を抑える工夫がなされている。
において、原料ガスの供給が空間的に一様になるように
することが、優れた結晶成長を実現するために必要であ
る。MOCVD法においては、サセプタ上において、ウ
エハーを静止させたまま結晶成長を行うと、しばしばウ
エハー上の成膜の均一性が失われる場合がある。これを
解決するために、ウエハーの自転、あるいは、個々のウ
エハーの自転と、これら複数個の自転回転ステージが設
置できる回転ステージの公転とを組み合わせ、かつ自転
及び公転の単位時間あたりの回転数あるいは回転方向を
実質的に時間的に一定にしながら、これら複数個のウエ
ハー上への原料ガスの供給が空間的にほぼ一様となるよ
うに工夫されていた。例えば、ガスの供給方向がウエハ
ー表面と実質的に平行な横型気相成長炉に対し、特許公
報(特公平7−8710号公報)においては、自転ある
いは公転を組み合わせ、自転及び公転の回転方向を常に
同じにして、それぞれの毎分あたりの回転数を、数十回
転及び約20回転の割合で行う方法が述べられている。
一方、ガスの供給方向がウエハー表面と実質的に垂直な
縦型気相成長炉に対しは、自転の毎分あたりの回転数
を、300〜1400回転の割合の高速回転で行う方法
が報告されている(例えば、W.G.Breiland
et al.:Annual Rev. Mate
r. Sci.1998. "AlGaAs OMVP
E in an RDR" 12/09/97)。この
高速回転を用いることにより、ウエハー上部から供給さ
れるガスを引き込むポンプの役割を担わせると同時に、
ウエハー表面に形成される温度境界層を薄くし、ウエハ
ー表面近傍で温度勾配を大きくすることにより、ウエハ
ーから離れた上部における温度を低く抑え、この領域に
おけるガスのクラッキングと、これに起因する堆積物の
成長を抑える工夫がなされている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図12
に示す自転のみを有する横型気相成長炉や、図13に示
す複数個のウエハーの設置ができる複数個の自転可能な
回転ステージと、これら複数個の自転回転ステージが設
置できる公転可能な回転ステージとを有する横型気相成
長炉に対する、自転及び公転の毎分あたりの回転数が、
100回転程度以下のそれ程高速回転でない前記の方法
においては、ウエハー表面に形成される温度境界層はそ
れ程薄くならず、このためにウエハーから離れた上部に
おける温度も比較的高く、この領域におけるガスのクラ
ッキングと気相反応が促進され、熱対流等の影響もあっ
て、結晶炉の側壁や上部壁への堆積物の成長が生じる。
この堆積物はガスの流れを乱すとともに、気相中にパー
ティクルを発生させ、ウエハー上に成長させる堆積膜の
品質劣化を招いていた。
に示す自転のみを有する横型気相成長炉や、図13に示
す複数個のウエハーの設置ができる複数個の自転可能な
回転ステージと、これら複数個の自転回転ステージが設
置できる公転可能な回転ステージとを有する横型気相成
長炉に対する、自転及び公転の毎分あたりの回転数が、
100回転程度以下のそれ程高速回転でない前記の方法
においては、ウエハー表面に形成される温度境界層はそ
れ程薄くならず、このためにウエハーから離れた上部に
おける温度も比較的高く、この領域におけるガスのクラ
ッキングと気相反応が促進され、熱対流等の影響もあっ
て、結晶炉の側壁や上部壁への堆積物の成長が生じる。
この堆積物はガスの流れを乱すとともに、気相中にパー
ティクルを発生させ、ウエハー上に成長させる堆積膜の
品質劣化を招いていた。
【0005】本発明は前記問題点に鑑み、自転回転ステ
ージ及び公転回転ステージの単位時間あたりの回転数を
100回転程度以上の高速にするか、回転数あるいは回
転方向を時間的に変化させることにより、気相成長炉内
壁の堆積物の堆積を極力抑え、膜質の劣化を抑えなが
ら、ウエハー面内における堆積膜の空間一様性を実現す
る気相成長方法を提供するものである。
ージ及び公転回転ステージの単位時間あたりの回転数を
100回転程度以上の高速にするか、回転数あるいは回
転方向を時間的に変化させることにより、気相成長炉内
壁の堆積物の堆積を極力抑え、膜質の劣化を抑えなが
ら、ウエハー面内における堆積膜の空間一様性を実現す
る気相成長方法を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記問題点を解決するた
めに、本発明の気相成長方法およびその装置において
は、以下のような手段を用いる。
めに、本発明の気相成長方法およびその装置において
は、以下のような手段を用いる。
【0007】すなわち、ウエハーの設置ができる単一あ
るいは複数個の自転可能な回転ステージと、これら複数
個の自転回転ステージが設置できる公転可能な回転ステ
ージとを有し、かつウエハーを所望の温度に加熱するた
めのウエハーに直接あるいは近接して接するサセプタが
具備されている構成を有し、かつ前記ウエハーを設置し
た際の、気相に接している前記ウエハー表面、前記自転
可能な回転ステージ表面、前記公転可能な回転ステージ
表面、及びサセプタ表面が実質的に同一表面となる構成
を有し、反応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガ
スをガス導入口よりウエハー表面と実質的に平行に導入
し、これを化学反応を生起するに十分な高温の前記サセ
プタ上に誘導し、前記サセプタ上の自転回転ステージに
設置したウエハー上において化学反応に由来する所望の
堆積膜を堆積させることを目的とした横型気相成長炉に
おいて、前記自転回転ステージあるいは公転可能な回転
ステージの毎分あたりの回転数を、100回転以上の高
速回転をさせる。
るいは複数個の自転可能な回転ステージと、これら複数
個の自転回転ステージが設置できる公転可能な回転ステ
ージとを有し、かつウエハーを所望の温度に加熱するた
めのウエハーに直接あるいは近接して接するサセプタが
具備されている構成を有し、かつ前記ウエハーを設置し
た際の、気相に接している前記ウエハー表面、前記自転
可能な回転ステージ表面、前記公転可能な回転ステージ
表面、及びサセプタ表面が実質的に同一表面となる構成
を有し、反応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガ
スをガス導入口よりウエハー表面と実質的に平行に導入
し、これを化学反応を生起するに十分な高温の前記サセ
プタ上に誘導し、前記サセプタ上の自転回転ステージに
設置したウエハー上において化学反応に由来する所望の
堆積膜を堆積させることを目的とした横型気相成長炉に
おいて、前記自転回転ステージあるいは公転可能な回転
ステージの毎分あたりの回転数を、100回転以上の高
速回転をさせる。
【0008】さらに、ウエハーの設置ができる単一ある
いは複数個の自転可能な回転ステージと、複数個の自転
回転ステージが存在する場合には、これら複数個の自転
回転ステージが設置できる公転可能な回転ステージとを
有し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエ
ハーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備され
ている構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、
気相に接している前記ウエハー表面、前記自転可能な回
転ステージ表面、前記公転可能な回転ステージ表面、及
びサセプタ表面が実質的に同一表面となる構成を有し、
反応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガスをガス
導入口より導入し、これを化学反応を生起するに十分な
高温の前記サセプタ上に誘導し、前記サセプタ上の自転
回転ステージに設置したウエハー上において化学反応に
由来する所望の堆積膜を堆積させることを目的とした気
相成長方法炉において、前記自転回転ステージあるいは
公転可能な回転ステージの単位時間あたりの回転数ある
いは回転方向を時間的に変化させながら気相成長をさせ
る。
いは複数個の自転可能な回転ステージと、複数個の自転
回転ステージが存在する場合には、これら複数個の自転
回転ステージが設置できる公転可能な回転ステージとを
有し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエ
ハーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備され
ている構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、
気相に接している前記ウエハー表面、前記自転可能な回
転ステージ表面、前記公転可能な回転ステージ表面、及
びサセプタ表面が実質的に同一表面となる構成を有し、
反応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガスをガス
導入口より導入し、これを化学反応を生起するに十分な
高温の前記サセプタ上に誘導し、前記サセプタ上の自転
回転ステージに設置したウエハー上において化学反応に
由来する所望の堆積膜を堆積させることを目的とした気
相成長方法炉において、前記自転回転ステージあるいは
公転可能な回転ステージの単位時間あたりの回転数ある
いは回転方向を時間的に変化させながら気相成長をさせ
る。
【0009】本発明は上述した構成によって、サセプタ
上に単一あるいは複数個設置されているウエハー上に堆
積する膜厚の空間分布の一様性を改善することが可能で
あると同時に、成長炉の上部壁及び側壁等への堆積膜の
堆積を抑えることが可能となり、成長膜の膜質も改善さ
れる。
上に単一あるいは複数個設置されているウエハー上に堆
積する膜厚の空間分布の一様性を改善することが可能で
あると同時に、成長炉の上部壁及び側壁等への堆積膜の
堆積を抑えることが可能となり、成長膜の膜質も改善さ
れる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下本発明の第一の実施例であ
る、気相成長方法について、図面を参照しながら説明す
る。
る、気相成長方法について、図面を参照しながら説明す
る。
【0011】図1は、本発明の第1の実施例における気
相成長方法を、GaN結晶成長を目的とした横形有機金
属気相成長結晶炉に適用した構成図(自転の毎分あたり
の回転数を時間的に一定で、かつその回転数を720回
転で行った例)である。上面図及び側面図が示されてい
る。結晶炉本体は、後述するサセプタやウエハー等を除
いて実質的に石英ガラスで作られ、この結晶炉本体は側
壁、上壁、下壁で構成され、反応させるべき原料ガス及
びこれを搬送するガスは、図の右側のガス導入口7から
供給され、高温のサセプタ5上を通り、図の左側のガス
流出口8から排気される。ガス導入口7から末広がりの
ガス導入路28までは、上層路16と下層路17に2分
され、上層ガス導入口からは水素とこの水素で希釈され
たトリメチルガリウムが、下層ガス導入口からはアンモ
ニアが、それぞれ流速6m/秒で供給され、ガス合流面
9において、両者は合流し、サセプタ上でガス平均流速
がほぼ0.6m/秒となるように調整されている。結晶
炉内圧力は0.5気圧になるように調整されている。本
体下流部に設置されている高温のカーボンサセプタ5
は、ウエハー6の設置ができる自転可能な回転ステージ
50を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の前記ウエ
ハー表面、前記自転可能な回転ステージ表面及びサセプ
タ表面が同一表面となる機構と構成を有している。ガス
導入口7から供給されるガスは、前記ウエハー表面及び
回転ステージ表面上を、これら表面に対して平行に流れ
る。自転の毎分あたりの回転数を時間的に一定で、かつ
その回転数を720回転で行った。
相成長方法を、GaN結晶成長を目的とした横形有機金
属気相成長結晶炉に適用した構成図(自転の毎分あたり
の回転数を時間的に一定で、かつその回転数を720回
転で行った例)である。上面図及び側面図が示されてい
る。結晶炉本体は、後述するサセプタやウエハー等を除
いて実質的に石英ガラスで作られ、この結晶炉本体は側
壁、上壁、下壁で構成され、反応させるべき原料ガス及
びこれを搬送するガスは、図の右側のガス導入口7から
供給され、高温のサセプタ5上を通り、図の左側のガス
流出口8から排気される。ガス導入口7から末広がりの
ガス導入路28までは、上層路16と下層路17に2分
され、上層ガス導入口からは水素とこの水素で希釈され
たトリメチルガリウムが、下層ガス導入口からはアンモ
ニアが、それぞれ流速6m/秒で供給され、ガス合流面
9において、両者は合流し、サセプタ上でガス平均流速
がほぼ0.6m/秒となるように調整されている。結晶
炉内圧力は0.5気圧になるように調整されている。本
体下流部に設置されている高温のカーボンサセプタ5
は、ウエハー6の設置ができる自転可能な回転ステージ
50を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の前記ウエ
ハー表面、前記自転可能な回転ステージ表面及びサセプ
タ表面が同一表面となる機構と構成を有している。ガス
導入口7から供給されるガスは、前記ウエハー表面及び
回転ステージ表面上を、これら表面に対して平行に流れ
る。自転の毎分あたりの回転数を時間的に一定で、かつ
その回転数を720回転で行った。
【0012】図2は、本発明の第1の実施例における気
相成長方法を、図1と組み合わせて説明するための図で
ある。自転の毎分あたりの回転数を0回転、60回転、
180回転、720回転、及び1440回転における、
気相結晶成長炉の対称面における温度分布の様子を示し
た側面図である。コンタープロットの1目盛りは100
K、また最高温度の領域は一番サセプタに近い側であ
り、この温度範囲は1200Kから1300Kである。
相成長方法を、図1と組み合わせて説明するための図で
ある。自転の毎分あたりの回転数を0回転、60回転、
180回転、720回転、及び1440回転における、
気相結晶成長炉の対称面における温度分布の様子を示し
た側面図である。コンタープロットの1目盛りは100
K、また最高温度の領域は一番サセプタに近い側であ
り、この温度範囲は1200Kから1300Kである。
【0013】図3は、本発明の第1の実施例における気
相成長方法を、図1と組み合わせて説明するための図で
ある。自転の毎分あたりの回転数を0回転、60回転、
180回転、720回転、及び1440回転における、
気相結晶成長炉のウエハーの中心をとおる流れ方向に垂
直な面における温度分布の様子を示した側面図である。
コンタープロットの1目盛りは100K、また最高温度
の領域は一番サセプタに近い側であり、この温度範囲は
1200Kから1300Kである。
相成長方法を、図1と組み合わせて説明するための図で
ある。自転の毎分あたりの回転数を0回転、60回転、
180回転、720回転、及び1440回転における、
気相結晶成長炉のウエハーの中心をとおる流れ方向に垂
直な面における温度分布の様子を示した側面図である。
コンタープロットの1目盛りは100K、また最高温度
の領域は一番サセプタに近い側であり、この温度範囲は
1200Kから1300Kである。
【0014】回転数の増加に従って、回転するウエハー
上部を流れるガスをウエハー表面近傍に引き込むポンプ
の役割が働くと同時に、ウエハー表面に形成される温度
境界層が薄くなり、ウエハー表面近傍で温度勾配が大き
くなることが読み取れる。これにより、ウエハーから離
れた上部において、温度が低く抑えられ、ガスのクラッ
キングや気相化学反応と、これに起因する堆積物の成長
が抑えられることが期待できる。このような検討に基づ
いて、回転数を720回転で気相成長を行った結果、図
4に示すように、比較的空間一様性の優れた良質のGa
N結晶膜が得られた。ここで、図4は、本発明の第1の
実施例における気相成長方法による、GaN結晶膜の膜
厚のウエハー上における空間変化を示した図である。
上部を流れるガスをウエハー表面近傍に引き込むポンプ
の役割が働くと同時に、ウエハー表面に形成される温度
境界層が薄くなり、ウエハー表面近傍で温度勾配が大き
くなることが読み取れる。これにより、ウエハーから離
れた上部において、温度が低く抑えられ、ガスのクラッ
キングや気相化学反応と、これに起因する堆積物の成長
が抑えられることが期待できる。このような検討に基づ
いて、回転数を720回転で気相成長を行った結果、図
4に示すように、比較的空間一様性の優れた良質のGa
N結晶膜が得られた。ここで、図4は、本発明の第1の
実施例における気相成長方法による、GaN結晶膜の膜
厚のウエハー上における空間変化を示した図である。
【0015】なお、ここでは毎分あたりの回転数を72
0回転にして行ったが、100回転以上の場合であって
も、十分な効果が得られた。
0回転にして行ったが、100回転以上の場合であって
も、十分な効果が得られた。
【0016】以下本発明の第二の実施例である、気相成
長方法について、図面を参照しながら説明する。
長方法について、図面を参照しながら説明する。
【0017】図5は、本発明の第2の実施例における気
相成長方法を、GaN結晶成長を目的とした横形有機金
属気相成長結晶炉に適用した構成図である。回転ステー
ジの毎分あたりの回転数は、0回転から1440回転の
間で変化させ、また回転方向も時計回り及び反時計回り
と交互に変化させ、これらの変化周期を3分にして時間
的に変化させながら気相成長を行った例である。上面図
及び側面図が示されている。結晶炉本体は、後述するサ
セプタやウエハー等を除いて実質的に石英ガラスで作ら
れ、この結晶炉本体は側壁、上壁、下壁で構成され、反
応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガスは、図の
右側のガス導入口7から供給され、高温のサセプタ5上
を通り、図の左側のガス流出口8から排気される。ガス
導入口7から末広がりのガス導入路28までは、上層路
16と下層路17に2分され、上層ガス導入口からは水
素とこの水素で希釈されたトリメチルガリウムが、下層
ガス導入口からはアンモニアが、それぞれ流速6m/秒
で供給され、ガス合流面9において、両者は合流し、サ
セプタ上でガス平均流速がほぼ0.6m/秒となるよう
に調整されている。結晶炉内圧力は0.5気圧になるよ
うに調整されている。本体下流部に設置されている高温
のカーボンサセプタ5は、ウエハー6の設置ができる自
転可能な回転ステージ50を有し、かつ前記ウエハーを
設置した際の前記ウエハー表面、及び前記自転可能な回
転ステージ表面が同一表面となる機構と構成を有してい
る。ガス導入口7から供給されるガスは、前記ウエハー
表面及び回転ステージ表面上を、これら表面に対して平
行に流れる。回転ステージの毎分あたりの回転数は、0
回転から1440回転の間で変化させ、また回転方向も
時計回り及び反時計回りと交互に変化させ、これらの変
化周期を3分にして時間的に変化させながら気相成長を
行った。
相成長方法を、GaN結晶成長を目的とした横形有機金
属気相成長結晶炉に適用した構成図である。回転ステー
ジの毎分あたりの回転数は、0回転から1440回転の
間で変化させ、また回転方向も時計回り及び反時計回り
と交互に変化させ、これらの変化周期を3分にして時間
的に変化させながら気相成長を行った例である。上面図
及び側面図が示されている。結晶炉本体は、後述するサ
セプタやウエハー等を除いて実質的に石英ガラスで作ら
れ、この結晶炉本体は側壁、上壁、下壁で構成され、反
応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガスは、図の
右側のガス導入口7から供給され、高温のサセプタ5上
を通り、図の左側のガス流出口8から排気される。ガス
導入口7から末広がりのガス導入路28までは、上層路
16と下層路17に2分され、上層ガス導入口からは水
素とこの水素で希釈されたトリメチルガリウムが、下層
ガス導入口からはアンモニアが、それぞれ流速6m/秒
で供給され、ガス合流面9において、両者は合流し、サ
セプタ上でガス平均流速がほぼ0.6m/秒となるよう
に調整されている。結晶炉内圧力は0.5気圧になるよ
うに調整されている。本体下流部に設置されている高温
のカーボンサセプタ5は、ウエハー6の設置ができる自
転可能な回転ステージ50を有し、かつ前記ウエハーを
設置した際の前記ウエハー表面、及び前記自転可能な回
転ステージ表面が同一表面となる機構と構成を有してい
る。ガス導入口7から供給されるガスは、前記ウエハー
表面及び回転ステージ表面上を、これら表面に対して平
行に流れる。回転ステージの毎分あたりの回転数は、0
回転から1440回転の間で変化させ、また回転方向も
時計回り及び反時計回りと交互に変化させ、これらの変
化周期を3分にして時間的に変化させながら気相成長を
行った。
【0018】さて、自転の毎分あたりの回転数を時間的
に一定で、かつその回転数をいろいろ変えた場合におけ
る流線の振る舞いについて検討を事前に行った。ウエハ
ー表面上0.5mmにおける流線の動きは図6の一連の
図に示すようになる。ここで、図6は、自転の毎分あた
りの回転数を0回転、60回転、180回転、720回
転、及び1440回転と変えた場合におけるウエハー表
面上0.5mmにおける流線の動きを示した図である。
すなわち、ガス導入口が図の右側方向にあり、また出口
が左側方向にあり、バルクのガス流れが、平均として右
側から左側に流れる場合において、自転の回転方向が反
時計回りの場合を考えてみる。ウエハー表面上、図の上
部においては、バルクのガス流れ方向と自転の回転に伴
う方向が同一方向であるために、ガス流れは加速され
る。一方、ウエハー表面上、図の下部においては、バル
クのガス流れ方向と自転の回転に伴う方向が反対方向で
あるために、ガス流れは減速される。ウエハー表面上、
半径rの位置における回転速度vrは vr=r×ω で与えられる。ここでωはrad単位で測った回転周波
数である。一方、バルクのガス流れ速度をv0としたと
き、 R=vr/v0 で与えられる速度比が重要なパラメータになってくる。
すなわち、ウエハー表面上、図の下部において、Rの絶
対値が増加してくるとガス流れ速度は徐々に減速され、
1.0近傍において、流れの巻き戻しが生じる。回転速
度vrは、rが大きいほど、すなわちウエハー表面上、
外周に近い位置に存在するほど大きくなるため、流れの
巻き戻しは一般にウエハー表面上、図の下部の外周に近
い位置において開始され、流線は場合によってはウエハ
ー表面上中心近傍に誘導される。中心近傍では、rが小
さいために回転速度vrは小さくなり、バルクのガス流
れ速度v0の方が大きくなる。中心に比べてウエハー表
面上、図の上部まで誘導された流線は、そのままバルク
のガス流れ方向と同一方向の、自転の回転により加速さ
れてそのまま下流へ向かうか、あるいは数回転をウエハ
ー上で経験しながら下流へ向かう。中心に比べてウエハ
ー表面上、図の下部まで誘導された流線であっても、場
合によってはそのままバルクのガス流れ方向に引きずら
れて、下流へ向かう流れとなる場合もあり、または数回
転をウエハー上で経験しながら下流へ向かう場合もあ
る。
に一定で、かつその回転数をいろいろ変えた場合におけ
る流線の振る舞いについて検討を事前に行った。ウエハ
ー表面上0.5mmにおける流線の動きは図6の一連の
図に示すようになる。ここで、図6は、自転の毎分あた
りの回転数を0回転、60回転、180回転、720回
転、及び1440回転と変えた場合におけるウエハー表
面上0.5mmにおける流線の動きを示した図である。
すなわち、ガス導入口が図の右側方向にあり、また出口
が左側方向にあり、バルクのガス流れが、平均として右
側から左側に流れる場合において、自転の回転方向が反
時計回りの場合を考えてみる。ウエハー表面上、図の上
部においては、バルクのガス流れ方向と自転の回転に伴
う方向が同一方向であるために、ガス流れは加速され
る。一方、ウエハー表面上、図の下部においては、バル
クのガス流れ方向と自転の回転に伴う方向が反対方向で
あるために、ガス流れは減速される。ウエハー表面上、
半径rの位置における回転速度vrは vr=r×ω で与えられる。ここでωはrad単位で測った回転周波
数である。一方、バルクのガス流れ速度をv0としたと
き、 R=vr/v0 で与えられる速度比が重要なパラメータになってくる。
すなわち、ウエハー表面上、図の下部において、Rの絶
対値が増加してくるとガス流れ速度は徐々に減速され、
1.0近傍において、流れの巻き戻しが生じる。回転速
度vrは、rが大きいほど、すなわちウエハー表面上、
外周に近い位置に存在するほど大きくなるため、流れの
巻き戻しは一般にウエハー表面上、図の下部の外周に近
い位置において開始され、流線は場合によってはウエハ
ー表面上中心近傍に誘導される。中心近傍では、rが小
さいために回転速度vrは小さくなり、バルクのガス流
れ速度v0の方が大きくなる。中心に比べてウエハー表
面上、図の上部まで誘導された流線は、そのままバルク
のガス流れ方向と同一方向の、自転の回転により加速さ
れてそのまま下流へ向かうか、あるいは数回転をウエハ
ー上で経験しながら下流へ向かう。中心に比べてウエハ
ー表面上、図の下部まで誘導された流線であっても、場
合によってはそのままバルクのガス流れ方向に引きずら
れて、下流へ向かう流れとなる場合もあり、または数回
転をウエハー上で経験しながら下流へ向かう場合もあ
る。
【0019】このように、回転数の増加に従って、上流
からやってきた流線は、ウエハー上のある半径の位置近
傍において、ウエハー回転に従って、ウエハー上を半回
転程度からそれ以上の複数回転を経験し、この長い時間
にわたってウエハー上に巻きつくように振る舞いながら
滞在し、その後ウエハー上から離れ下流へ向かう。な
お、図7の毎分あたりの回転数が720回転の場合の例
に示されるように、ウエハー表面上から0.5mm、
1.5mm、さらに2.5mmと離れるに従い、流線の
ウエハー上における巻きつきは緩和され、徐々にバルク
のガス流れにちかづくことが理解できる。ここで、図7
は、自転の毎分あたりの回転数が720回転であるとき
の、ウエハー表面上から0.5mm、1.5mm、さら
に2.5mmにおける流線の動きを示した図である。
からやってきた流線は、ウエハー上のある半径の位置近
傍において、ウエハー回転に従って、ウエハー上を半回
転程度からそれ以上の複数回転を経験し、この長い時間
にわたってウエハー上に巻きつくように振る舞いながら
滞在し、その後ウエハー上から離れ下流へ向かう。な
お、図7の毎分あたりの回転数が720回転の場合の例
に示されるように、ウエハー表面上から0.5mm、
1.5mm、さらに2.5mmと離れるに従い、流線の
ウエハー上における巻きつきは緩和され、徐々にバルク
のガス流れにちかづくことが理解できる。ここで、図7
は、自転の毎分あたりの回転数が720回転であるとき
の、ウエハー表面上から0.5mm、1.5mm、さら
に2.5mmにおける流線の動きを示した図である。
【0020】ウエハーは高温サセプタ上に設置されてい
るため、長い時間にわたってウエハー上に巻きつくよう
に振る舞いながら滞在する流線ほど、この流線を構成し
ているガスは加熱され、この結果ウエハー上に巻きつい
た部分のガス温度が他の部分に比べ増加する。この様子
を図8に示す。図8は、自転の毎分あたりの回転数を0
回転、60回転、180回転、720回転、及び144
0回転と変えた場合におけるウエハー表面上0.5mm
における温度の空間分布を示した図である。コンタープ
ロットの1目盛りは25K、また最高温度の領域はハッ
チを入れて示してあり、この温度範囲は1175Kから
1200Kである。すなわち、回転数の増加に伴って、
以下本発明の第一の実施例の中で説明したように、ウエ
ハー表面に形成される温度境界層が薄くなるというメリ
ットはあるものの、ウエハー表面上における温度分布
は、中心部分の温度が外側に比べ低下し、その低温領域
の半径が広がって非一様性が大きくなる欠点が出てく
る。なお、流線がどの程度の長い時間にわたってウエハ
ー上に巻きつくように振る舞うか、あるいはウエハー上
のどの半径位置近傍において巻きつくかは、上流からウ
エハー近傍にやってくるガス流速、ウエハーの毎分あた
りの回転数、ガス流体が感じる壁面応力、及びガス流体
の粘性率等に依存する。
るため、長い時間にわたってウエハー上に巻きつくよう
に振る舞いながら滞在する流線ほど、この流線を構成し
ているガスは加熱され、この結果ウエハー上に巻きつい
た部分のガス温度が他の部分に比べ増加する。この様子
を図8に示す。図8は、自転の毎分あたりの回転数を0
回転、60回転、180回転、720回転、及び144
0回転と変えた場合におけるウエハー表面上0.5mm
における温度の空間分布を示した図である。コンタープ
ロットの1目盛りは25K、また最高温度の領域はハッ
チを入れて示してあり、この温度範囲は1175Kから
1200Kである。すなわち、回転数の増加に伴って、
以下本発明の第一の実施例の中で説明したように、ウエ
ハー表面に形成される温度境界層が薄くなるというメリ
ットはあるものの、ウエハー表面上における温度分布
は、中心部分の温度が外側に比べ低下し、その低温領域
の半径が広がって非一様性が大きくなる欠点が出てく
る。なお、流線がどの程度の長い時間にわたってウエハ
ー上に巻きつくように振る舞うか、あるいはウエハー上
のどの半径位置近傍において巻きつくかは、上流からウ
エハー近傍にやってくるガス流速、ウエハーの毎分あた
りの回転数、ガス流体が感じる壁面応力、及びガス流体
の粘性率等に依存する。
【0021】このような問題点は、本実施例のように、
回転ステージの毎分あたりの回転数を、例えば0回転か
ら1440回転の間で変化させ、また回転方向も時計回
り及び反時計回りと交互に変化させ、これらの変化周期
を例えば3分にして時間的に変化させながら気相成長を
行うことにより解決された。すなわち、回転数や回転方
向を時間的に変化させることにより、温度の空間非一様
性がかなり改善され、かつ高速回転の持つメリットであ
る温度境界層を薄くできるという点を保持することがで
きた。このようにして、気相成長を行った結果、図9に
示すように、空間一様性の優れたGaN結晶膜が得られ
た。図9は、本発明の第2の実施例における気相成長方
法による、GaN結晶膜の膜厚のウエハー上における空
間変化を示した図である。
回転ステージの毎分あたりの回転数を、例えば0回転か
ら1440回転の間で変化させ、また回転方向も時計回
り及び反時計回りと交互に変化させ、これらの変化周期
を例えば3分にして時間的に変化させながら気相成長を
行うことにより解決された。すなわち、回転数や回転方
向を時間的に変化させることにより、温度の空間非一様
性がかなり改善され、かつ高速回転の持つメリットであ
る温度境界層を薄くできるという点を保持することがで
きた。このようにして、気相成長を行った結果、図9に
示すように、空間一様性の優れたGaN結晶膜が得られ
た。図9は、本発明の第2の実施例における気相成長方
法による、GaN結晶膜の膜厚のウエハー上における空
間変化を示した図である。
【0022】なお、ここでは回転数の変化を0回転から
1440回転の間で行ったが、最大回転数を3000回
転以内で行っても、十分な効果が得られた。
1440回転の間で行ったが、最大回転数を3000回
転以内で行っても、十分な効果が得られた。
【0023】さらに、回転ステージの毎分あたりの回転
数あるいは回転方向の時間的な変化の周期は、10秒か
ら10分の間の値にして気相成長をおこなっても有効な
結果が得られた。
数あるいは回転方向の時間的な変化の周期は、10秒か
ら10分の間の値にして気相成長をおこなっても有効な
結果が得られた。
【0024】また、回転ステージの毎分あたりの回転数
あるいは回転方向の時間的な変化の周期を、時間的に一
定にするのではなく、そのときの毎分あたりの回転数の
逆数に比例して変化させて気相成長をおこなうと、空間
一様性のより優れたGaN結晶膜が得られた。
あるいは回転方向の時間的な変化の周期を、時間的に一
定にするのではなく、そのときの毎分あたりの回転数の
逆数に比例して変化させて気相成長をおこなうと、空間
一様性のより優れたGaN結晶膜が得られた。
【0025】以下本発明の第三の実施例である、気相成
長方法について、図面を参照しながら説明する。
長方法について、図面を参照しながら説明する。
【0026】図10は、本発明の第3の実施例における
気相成長方法を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用し
た構成図である。自転回転数を60回転、公転回転数を
720回転で時間的に一定で気相成長を行った例であ
る。上面図及び側面図が示されている。結晶炉本体は、
後述するサセプタやウエハー等を除いて実質的に石英ガ
ラスで作られ、この結晶炉本体は側壁、上壁、下壁で構
成され、反応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガ
スは、図の右側のガス導入口7から供給され、高温のサ
セプタ5上を通り、図の左側のガス流出口8から排気さ
れる。ガス導入口7から末広がりのガス導入路28まで
は、上層路16と下層路17に2分され、上層ガス導入
口からは水素とこの水素で希釈されたトリメチルガリウ
ムが、下層ガス導入口からはアンモニアが、それぞれ流
速6m/秒で供給され、ガス合流面9において、両者は
合流し、サセプタ上でガス平均流速がほぼ0.6m/秒
となるように調整されている。結晶炉内圧力は0.5気
圧になるように調整されている。本体下流部に設置され
ている高温のカーボンサセプタ5は、ウエハー6の設置
ができる複数個の自転可能な回転ステージ50と、これ
ら複数個の自転回転ステージが設置できる公転可能な回
転ステージ51とを有し、かつ前記ウエハーを設置した
際の前記ウエハー表面、前記自転可能な回転ステージ表
面、前記公転可能な回転ステージ表面及び前記サセプタ
表面が同一表面となる機構と構成を有している。ガス導
入口7から供給されるガスは、前記ウエハー表面及び回
転ステージ表面上を、これら表面に対して平行に流れ
る。自転回転数を60回転、公転回転数を720回転で
時間的に一定で気相成長を行った結果、全ウエハーにわ
たった膜厚変化を5%以内に収まり、比較的空間一様性
の優れた良質のGaN結晶膜が得られた。
気相成長方法を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用し
た構成図である。自転回転数を60回転、公転回転数を
720回転で時間的に一定で気相成長を行った例であ
る。上面図及び側面図が示されている。結晶炉本体は、
後述するサセプタやウエハー等を除いて実質的に石英ガ
ラスで作られ、この結晶炉本体は側壁、上壁、下壁で構
成され、反応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガ
スは、図の右側のガス導入口7から供給され、高温のサ
セプタ5上を通り、図の左側のガス流出口8から排気さ
れる。ガス導入口7から末広がりのガス導入路28まで
は、上層路16と下層路17に2分され、上層ガス導入
口からは水素とこの水素で希釈されたトリメチルガリウ
ムが、下層ガス導入口からはアンモニアが、それぞれ流
速6m/秒で供給され、ガス合流面9において、両者は
合流し、サセプタ上でガス平均流速がほぼ0.6m/秒
となるように調整されている。結晶炉内圧力は0.5気
圧になるように調整されている。本体下流部に設置され
ている高温のカーボンサセプタ5は、ウエハー6の設置
ができる複数個の自転可能な回転ステージ50と、これ
ら複数個の自転回転ステージが設置できる公転可能な回
転ステージ51とを有し、かつ前記ウエハーを設置した
際の前記ウエハー表面、前記自転可能な回転ステージ表
面、前記公転可能な回転ステージ表面及び前記サセプタ
表面が同一表面となる機構と構成を有している。ガス導
入口7から供給されるガスは、前記ウエハー表面及び回
転ステージ表面上を、これら表面に対して平行に流れ
る。自転回転数を60回転、公転回転数を720回転で
時間的に一定で気相成長を行った結果、全ウエハーにわ
たった膜厚変化を5%以内に収まり、比較的空間一様性
の優れた良質のGaN結晶膜が得られた。
【0027】以下本発明の第四の実施例である、気相成
長方法について、図面を参照しながら説明する。
長方法について、図面を参照しながら説明する。
【0028】図11は、本発明の第4の実施例における
気相成長方法を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用し
た構成図である。前記公転可能な回転ステージの毎分あ
たりの回転数は、0回転から1800回転の間で、その
変化周期を6分にして時間的に変化させ、一方前記自転
回転ステージの毎分あたりの回転数は、0回転から60
回転の間で、その変化周期を1分にして時間的に変化さ
せながら気相成長を行った例である。上面図及び側面図
が示されている。結晶炉本体は、後述するサセプタやウ
エハー等を除いて実質的に石英ガラスで作られ、この結
晶炉本体は側壁、上壁、下壁で構成され、反応させるべ
き原料ガス及びこれを搬送するガスは、図の右側のガス
導入口7から供給され、高温のサセプタ5上を通り、図
の左側のガス流出口8から排気される。ガス導入口7か
ら末広がりのガス導入路28までは、上層路16と下層
路17に2分され、上層ガス導入口からは水素とこの水
素で希釈されたトリメチルガリウムが、下層ガス導入口
からはアンモニアが、それぞれ流速6m/秒で供給さ
れ、ガス合流面9において、両者は合流し、サセプタ上
でガス平均流速がほぼ0.6m/秒となるように調整さ
れている。結晶炉内圧力は0.5気圧になるように調整
されている。本体下流部に設置されている高温のカーボ
ンサセプタ5は、ウエハーの設置ができる複数個の自転
可能な回転ステージ50と、これら複数個の自転回転ス
テージが設置できる公転可能な回転ステージ51とを有
し、かつ前記ウエハーを設置した際のウエハー表面、前
記自転可能な回転ステージ表面、前記公転可能な回転ス
テージ表面及び前記サセプタ表面が同一表面となる機構
と構成を有している。ガス導入口7から供給されるガス
は、前記ウエハー表面及び回転ステージ表面上を、これ
ら表面に対して平行に流れる。前記公転可能な回転ステ
ージの毎分あたりの回転数は、0回転から1800回転
の間で、その変化周期を6分にして時間的に変化させ、
一方前記自転回転ステージの毎分あたりの回転数は、0
回転から60回転の間で、その変化周期を1分にして時
間的に変化させながら気相成長を行った。本発明の第一
の実施例の中で説明したと同様な物理機構により、全ウ
エハーにわたった膜厚変化を3%以内に収まり空間一様
性の優れたGaN結晶膜が得られた。
気相成長方法を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用し
た構成図である。前記公転可能な回転ステージの毎分あ
たりの回転数は、0回転から1800回転の間で、その
変化周期を6分にして時間的に変化させ、一方前記自転
回転ステージの毎分あたりの回転数は、0回転から60
回転の間で、その変化周期を1分にして時間的に変化さ
せながら気相成長を行った例である。上面図及び側面図
が示されている。結晶炉本体は、後述するサセプタやウ
エハー等を除いて実質的に石英ガラスで作られ、この結
晶炉本体は側壁、上壁、下壁で構成され、反応させるべ
き原料ガス及びこれを搬送するガスは、図の右側のガス
導入口7から供給され、高温のサセプタ5上を通り、図
の左側のガス流出口8から排気される。ガス導入口7か
ら末広がりのガス導入路28までは、上層路16と下層
路17に2分され、上層ガス導入口からは水素とこの水
素で希釈されたトリメチルガリウムが、下層ガス導入口
からはアンモニアが、それぞれ流速6m/秒で供給さ
れ、ガス合流面9において、両者は合流し、サセプタ上
でガス平均流速がほぼ0.6m/秒となるように調整さ
れている。結晶炉内圧力は0.5気圧になるように調整
されている。本体下流部に設置されている高温のカーボ
ンサセプタ5は、ウエハーの設置ができる複数個の自転
可能な回転ステージ50と、これら複数個の自転回転ス
テージが設置できる公転可能な回転ステージ51とを有
し、かつ前記ウエハーを設置した際のウエハー表面、前
記自転可能な回転ステージ表面、前記公転可能な回転ス
テージ表面及び前記サセプタ表面が同一表面となる機構
と構成を有している。ガス導入口7から供給されるガス
は、前記ウエハー表面及び回転ステージ表面上を、これ
ら表面に対して平行に流れる。前記公転可能な回転ステ
ージの毎分あたりの回転数は、0回転から1800回転
の間で、その変化周期を6分にして時間的に変化させ、
一方前記自転回転ステージの毎分あたりの回転数は、0
回転から60回転の間で、その変化周期を1分にして時
間的に変化させながら気相成長を行った。本発明の第一
の実施例の中で説明したと同様な物理機構により、全ウ
エハーにわたった膜厚変化を3%以内に収まり空間一様
性の優れたGaN結晶膜が得られた。
【0029】また、上下の非対称性を緩和するために、
公転可能な回転ステージの回転方向を、時計まわり及び
反時計まわりに時間的に変化させながら運転した。すな
わち、−1800回転から0回転、さらに0回転から1
800回転の間で、その変化周期を6分にして時間的に
変化させながら気相成長を行った。このようにして、気
相成長を行った結果、空間一様性の優れたGaN結晶膜
が得られた。
公転可能な回転ステージの回転方向を、時計まわり及び
反時計まわりに時間的に変化させながら運転した。すな
わち、−1800回転から0回転、さらに0回転から1
800回転の間で、その変化周期を6分にして時間的に
変化させながら気相成長を行った。このようにして、気
相成長を行った結果、空間一様性の優れたGaN結晶膜
が得られた。
【0030】なお、自転回転ステージあるいは公転可能
な回転ステージの毎分あたりの回転数あるいは回転方向
の時間的な変化の周期は、10秒から10分の間の値に
して気相成長をおこなっても有効な結果が得られた。
な回転ステージの毎分あたりの回転数あるいは回転方向
の時間的な変化の周期は、10秒から10分の間の値に
して気相成長をおこなっても有効な結果が得られた。
【0031】さらに、自転回転ステージあるいは公転可
能な回転ステージの毎分あたりの回転数あるいは回転方
向の時間的な変化の周期を、時間的に一定にするのでは
なく、そのときの毎分あたりの回転数の逆数に比例して
変化させて気相成長をおこなうと、空間一様性のより優
れたGaN結晶膜が得られた。
能な回転ステージの毎分あたりの回転数あるいは回転方
向の時間的な変化の周期を、時間的に一定にするのでは
なく、そのときの毎分あたりの回転数の逆数に比例して
変化させて気相成長をおこなうと、空間一様性のより優
れたGaN結晶膜が得られた。
【0032】なお、本実施例1から4においては、サセ
プタ上でガス平均流速がほぼ0.6m/秒、また結晶炉
内圧力は0.5気圧になるように調整して気相成長をお
こなったが、ガス平均流速は0.1m/秒から2m/秒
程度の範囲であっても十分本発明は有効であり、また結
晶炉内圧力は0.1気圧から2気圧程度の範囲であって
も十分本発明は有効である。
プタ上でガス平均流速がほぼ0.6m/秒、また結晶炉
内圧力は0.5気圧になるように調整して気相成長をお
こなったが、ガス平均流速は0.1m/秒から2m/秒
程度の範囲であっても十分本発明は有効であり、また結
晶炉内圧力は0.1気圧から2気圧程度の範囲であって
も十分本発明は有効である。
【0033】さらに、本実施例2及び4において、横型
気相成長炉において説明を行ったが、縦型気相成長炉で
あっても十分本発明は有効である。
気相成長炉において説明を行ったが、縦型気相成長炉で
あっても十分本発明は有効である。
【0034】
【発明の効果】以上のように、本発明の気相成長方法に
おいては、ウエハーの設置ができる単一あるいは複数個
の自転可能な回転ステージと、これら複数個の自転回転
ステージが設置できる公転可能な回転ステージとを有
し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエハ
ーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備されて
いる構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、気
相に接している前記ウエハー表面、前記自転可能な回転
ステージ表面、前記公転可能な回転ステージ表面、及び
サセプタ表面が実質的に同一表面となる構成を有し、反
応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガスをガス導
入口よりウエハー表面と実質的に平行に導入し、これを
化学反応を生起するに十分な高温の前記サセプタ上に誘
導し、前記サセプタ上の自転回転ステージに設置したウ
エハー上において化学反応に由来する所望の堆積膜を堆
積させることを目的とした横型気相成長炉において、前
記自転回転ステージあるいは公転可能な回転ステージの
毎分あたりの回転数を、100回転以上の高速回転にす
るか、前記自転回転ステージあるいは公転可能な回転ス
テージの単位時間あたりの回転数あるいは回転方向を時
間的に変化させながら気相成長をさせている。本発明は
上述した構成によって、サセプタ上に単一あるいは複数
個設置されているウエハー上に堆積する膜厚の空間分布
の一様性を改善することが可能であると同時に、成長炉
の上部壁及び側壁等への堆積膜の堆積を抑えることが可
能となり、成長膜の膜質も改善させることができる。
おいては、ウエハーの設置ができる単一あるいは複数個
の自転可能な回転ステージと、これら複数個の自転回転
ステージが設置できる公転可能な回転ステージとを有
し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエハ
ーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備されて
いる構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、気
相に接している前記ウエハー表面、前記自転可能な回転
ステージ表面、前記公転可能な回転ステージ表面、及び
サセプタ表面が実質的に同一表面となる構成を有し、反
応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガスをガス導
入口よりウエハー表面と実質的に平行に導入し、これを
化学反応を生起するに十分な高温の前記サセプタ上に誘
導し、前記サセプタ上の自転回転ステージに設置したウ
エハー上において化学反応に由来する所望の堆積膜を堆
積させることを目的とした横型気相成長炉において、前
記自転回転ステージあるいは公転可能な回転ステージの
毎分あたりの回転数を、100回転以上の高速回転にす
るか、前記自転回転ステージあるいは公転可能な回転ス
テージの単位時間あたりの回転数あるいは回転方向を時
間的に変化させながら気相成長をさせている。本発明は
上述した構成によって、サセプタ上に単一あるいは複数
個設置されているウエハー上に堆積する膜厚の空間分布
の一様性を改善することが可能であると同時に、成長炉
の上部壁及び側壁等への堆積膜の堆積を抑えることが可
能となり、成長膜の膜質も改善させることができる。
【図1】本発明の第1の実施例における気相成長方法を
横形有機金属気相成長結晶炉に適用した構成図
横形有機金属気相成長結晶炉に適用した構成図
【図2】本発明の第1の実施例における気相成長方法を
説明するための図
説明するための図
【図3】本発明の第1の実施例における気相成長方法を
説明するための図
説明するための図
【図4】本発明の第1の実施例における気相成長方法に
よる、GaN結晶膜の膜厚のウエハー上における空間変
化を示した図
よる、GaN結晶膜の膜厚のウエハー上における空間変
化を示した図
【図5】本発明の第2の実施例における気相成長方法
を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用した構成図
を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用した構成図
【図6】自転の毎分あたりの回転数を変えた場合におけ
るウエハー表面上0.5mmにおける流線の動きを示し
た図
るウエハー表面上0.5mmにおける流線の動きを示し
た図
【図7】自転の毎分あたりの回転数が720回転である
ときの、ウエハー表面上における流線の動きを示した図
ときの、ウエハー表面上における流線の動きを示した図
【図8】自転の毎分あたりの回転数を変えた場合におけ
るウエハー表面上0.5mmにおける温度の空間分布を
示した図
るウエハー表面上0.5mmにおける温度の空間分布を
示した図
【図9】本発明の第2の実施例における気相成長方法に
よる、GaN結晶膜の膜厚のウエハー上における空間変
化を示した図
よる、GaN結晶膜の膜厚のウエハー上における空間変
化を示した図
【図10】本発明の第3の実施例における気相成長方法
を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用した構成図
を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用した構成図
【図11】本発明の第4の実施例における気相成長方法
を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用した構成図
を、横形有機金属気相成長結晶炉に適用した構成図
【図12】本課題の解決策に対する従来の第一の解決例
を示す図
を示す図
【図13】本課題の解決策に対する従来の第二の解決例
を示す図
を示す図
5 サセプタ
6 ウエハー
7 ガス導入口
8 ガス流出口
9 ガス合流面
16 上層路
17 下層路
28 ガス導入路
50 自転ステージ
51 公転ステージ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Fターム(参考) 4K030 AA11 BA08 BA38 CA04 CA12
FA10 GA09 JA04 JA05 JA11
JA12 KA02
5F045 AA04 AB14 AC08 AC12 BB02
BB03 DQ06 EB02 EM02 EM10
Claims (16)
- 【請求項1】ウエハーの設置が可能な回転ステージを有
し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエハ
ーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備されて
いる構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、気
相に接している前記ウエハー表面、前記回転ステージ表
面及び前記サセプタ表面が実質的に同一表面となる構成
を有し、反応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガ
スをウエハー表面と実質的に平行になるようにガス導入
口より導入し、これを化学反応を生起するに十分な高温
の前記サセプタ上に誘導し、前記サセプタ上の回転ステ
ージに設置したウエハー上において化学反応に由来する
所望の堆積膜を堆積させることを目的とした横型気相成
長炉において、前記回転ステージの毎分あたりの回転数
を、100回転以上の高速回転をさせることを特徴とす
る気相成長方法。 - 【請求項2】ウエハーの設置が可能な回転ステージを有
し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエハ
ーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備されて
いる構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、気
相に接している前記ウエハー表面、前記回転ステージ表
面及び前記サセプタ表面が実質的に同一表面となる構成
を有し、反応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガ
スをガス導入口より導入し、これを化学反応を生起する
に十分な高温の前記サセプタ上に誘導し、前記サセプタ
上の回転ステージに設置したウエハー上において化学反
応に由来する所望の堆積膜を堆積させることを目的とし
た気相成長炉において、前記回転ステージの単位時間あ
たりの回転数あるいは回転方向を時間的に変化させるこ
とを特徴とする気相成長方法。 - 【請求項3】回転ステージの毎分あたりの回転数を、0
回転から3000回転の間で時間的に変化させながら運
転することを特徴とする、請求項2に記載の気相成長方
法。 - 【請求項4】回転ステージの毎分あたりの回転方向を、
時計まわり及び反時計まわりに交互に時間的に変化させ
ながら運転することを特徴とする、請求項2または3に
記載の気相成長方法。 - 【請求項5】回転ステージの毎分あたりの回転数あるい
は回転方向の時間的な変化の周期を、10秒から10分
の間の値にすることを特徴とする請求項2から4のいず
れかに記載の気相成長方法。 - 【請求項6】回転ステージの毎分あたりの回転数あるい
は回転方向の時間的な変化の周期を、毎分あたりの回転
数の逆数に比例して変化させることを特徴とする請求項
2から5のいずれかに記載の気相成長方法。 - 【請求項7】複数個のウエハーの設置が可能な複数個の
自転可能な回転ステージと、これら複数個の自転回転ス
テージが設置できる公転可能な回転ステージとを有し、
かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエハーに
直接あるいは近接して接するサセプタが具備されている
構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、気相に
接している前記ウエハー表面、前記自転可能な回転ステ
ージ表面、前記公転可能な回転ステージ表面、及びサセ
プタ表面が実質的に同一表面となる構成を有し、反応さ
せるべき原料ガス及びこれを搬送するガスをガス導入口
よりウエハー表面と実質的に平行に導入し、これを化学
反応を生起するに十分な高温の前記サセプタ上に誘導
し、前記サセプタ上の自転回転ステージに設置したウエ
ハー上において化学反応に由来する所望の堆積膜を堆積
させることを目的とした横型気相成長炉において、前記
自転回転ステージあるいは公転可能な回転ステージの毎
分あたりの回転数を、100回転以上の高速回転をさせ
ることを特徴とする気相成長方法。 - 【請求項8】複数個のウエハーの設置が可能な複数個の
自転可能な回転ステージと、これら複数個の自転回転ス
テージが設置できる公転可能な回転ステージとを有し、
かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエハーに
直接あるいは近接して接するサセプタが具備されている
構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、気相に
接している前記ウエハー表面、前記自転可能な回転ステ
ージ表面、前記公転可能な回転ステージ表面、及びサセ
プタ表面が実質的に同一表面となる構成を有し、反応さ
せるべき原料ガス及びこれを搬送するガスをガス導入口
より導入し、これを化学反応を生起するに十分な高温の
前記サセプタ上に誘導し、前記サセプタ上の自転回転ス
テージに設置したウエハー上において化学反応に由来す
る所望の堆積膜を堆積させることを目的とした気相成長
方法炉において、前記自転回転ステージあるいは公転可
能な回転ステージの単位時間あたりの回転数あるいは回
転方向を時間的に変化させることを特徴とする気相成長
方法。 - 【請求項9】前記自転回転ステージあるいは公転可能な
回転ステージの毎分あたりの回転数を、0回転から30
00回転の間で時間的に変化させながら運転することを
特徴とする、請求項8に記載の気相成長方法。 - 【請求項10】前記自転回転ステージあるいは公転可能
な回転ステージの毎分あたりの回転方向を、時計まわり
及び反時計まわりに時間的に交互に変化させながら運転
することを特徴とする、請求項8または9に記載の気相
成長方法。 - 【請求項11】前記自転回転ステージあるいは公転可能
な回転ステージの毎分あたりの回転数あるいは回転方向
の時間的な変化の周期を、10秒から10分の間の値に
することを特徴とする請求項8から10のいずれかに記
載の気相成長方法。 - 【請求項12】前記自転回転ステージあるいは公転可能
な回転ステージの毎分あたりの回転数あるいは回転方向
の時間的な変化の周期を、毎分あたりの回転数の逆数に
比例して変化させることを特徴とする請求項8から11
のいずれかに記載の気相成長方法。 - 【請求項13】ウエハーの設置が可能な回転ステージを
有し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエ
ハーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備され
ている構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の前
記ウエハー表面、前記回転ステージ表面及び前記サセプ
タ表面が実質的に同一表面となる構成を有し、反応させ
るべき原料ガス及びこれを搬送するガスをウエハー表面
と実質的に平行になるようにガス導入口より導入し、こ
れを化学反応を生起するに十分な高温の前記サセプタ上
に誘導し、前記サセプタ上の回転ステージに設置したウ
エハー上において化学反応に由来する所望の堆積膜を堆
積させることを目的とした横型気相成長法において、前
記回転ステージの毎分あたりの回転数を、100回転以
上の高速回転をさせることを特徴とする気相成長装置。 - 【請求項14】複数個のウエハーの設置が可能な複数個
の自転可能な回転ステージと、これら複数個の自転回転
ステージが設置できる公転可能な回転ステージとを有
し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエハ
ーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備されて
いる構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、気
相に接している前記ウエハー表面、前記自転可能な回転
ステージ表面、前記公転可能な回転ステージ表面、及び
サセプタ表面が実質的に同一表面となる構成を有し、反
応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガスをガス導
入口よりウエハー表面と実質的に平行に導入し、これを
化学反応を生起するに十分な高温の前記サセプタ上に誘
導し、前記サセプタ上の自転回転ステージに設置したウ
エハー上において化学反応に由来する所望の堆積膜を堆
積させることを目的とした横型気相成長法において、前
記自転回転ステージあるいは公転可能な回転ステージの
毎分あたりの回転数を、100回転以上の高速回転をさ
せることを特徴とする気相成長装置。 - 【請求項15】ウエハーの設置が可能な回転ステージを
有し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエ
ハーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備され
ている構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、
気相に接している前記ウエハー表面、前記回転ステージ
表面及び前記サセプタ表面が実質的に同一表面となる構
成を有し、反応させるべき原料ガス及びこれを搬送する
ガスをガス導入口より導入し、これを化学反応を生起す
るに十分な高温の前記サセプタ上に誘導し、前記サセプ
タ上の回転ステージに設置したウエハー上において化学
反応に由来する所望の堆積膜を堆積させることを目的と
した気相成長方法において、前記回転ステージの単位時
間あたりの回転数あるいは回転方向を時間的に変化させ
ることを特徴とする気相成長装置。 - 【請求項16】複数個のウエハーの設置が可能な複数個
の自転可能な回転ステージと、これら複数個の自転回転
ステージが設置できる公転可能な回転ステージとを有
し、かつウエハーを所望の温度に加熱するためのウエハ
ーに直接あるいは近接して接するサセプタが具備されて
いる構成を有し、かつ前記ウエハーを設置した際の、気
相に接している前記ウエハー表面、前記自転可能な回転
ステージ表面、前記公転可能な回転ステージ表面、及び
サセプタ表面が実質的に同一表面となる構成を有し、反
応させるべき原料ガス及びこれを搬送するガスをガス導
入口より導入し、これを化学反応を生起するに十分な高
温の前記サセプタ上に誘導し、前記サセプタ上の自転回
転ステージに設置したウエハー上において化学反応に由
来する所望の堆積膜を堆積させることを目的とした気相
成長方法において、前記自転回転ステージあるいは公転
可能な回転ステージの単位時間あたりの回転数あるいは
回転方向を時間的に変化させることを特徴とする気相成
長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001339105A JP2003142416A (ja) | 2001-11-05 | 2001-11-05 | 気相成長方法および気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001339105A JP2003142416A (ja) | 2001-11-05 | 2001-11-05 | 気相成長方法および気相成長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003142416A true JP2003142416A (ja) | 2003-05-16 |
Family
ID=19153504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001339105A Pending JP2003142416A (ja) | 2001-11-05 | 2001-11-05 | 気相成長方法および気相成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003142416A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005244187A (ja) * | 2004-01-30 | 2005-09-08 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 歪みシリコンウエハおよびその製造方法 |
JP2009199757A (ja) * | 2008-02-19 | 2009-09-03 | Konica Minolta Holdings Inc | 有機エレクトロルミネッセンスパネルの製造方法 |
JP2018037456A (ja) * | 2016-08-29 | 2018-03-08 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 気相成長方法 |
-
2001
- 2001-11-05 JP JP2001339105A patent/JP2003142416A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005244187A (ja) * | 2004-01-30 | 2005-09-08 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 歪みシリコンウエハおよびその製造方法 |
JP2009199757A (ja) * | 2008-02-19 | 2009-09-03 | Konica Minolta Holdings Inc | 有機エレクトロルミネッセンスパネルの製造方法 |
JP2018037456A (ja) * | 2016-08-29 | 2018-03-08 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 気相成長方法 |
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