JP2003129371A - 交絡度検査装置 - Google Patents

交絡度検査装置

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JP2003129371A JP2002213859A JP2002213859A JP2003129371A JP 2003129371 A JP2003129371 A JP 2003129371A JP 2002213859 A JP2002213859 A JP 2002213859A JP 2002213859 A JP2002213859 A JP 2002213859A JP 2003129371 A JP2003129371 A JP 2003129371A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】交絡糸の交絡度をより高精度に検査することが
できる交絡度検査装置を提供する。 【解決手段】交絡度検査装置は、ピン挿抜装置20と、
交絡糸Tに作用する張力を検出する張力検出手段と、張
力検出手段によって検出された信号を基準値と比較,処
理して、交絡度を算出する交絡度算出手段とを備える。
交絡糸Tは、ピン挿抜装置20に経由した際に、その案
内部材23の凸円弧状に形成された案内溝24に摺接
し、これに案内されて、貫通孔25上を走行し、ピン体
22が挿抜される。交絡糸Tに対して確実にピン体22
を挿入させることができ、且つ交絡糸Tが案内溝24部
を滑らかに走行するため、より信頼性の高い交絡度が得
られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マルチフィラメン
トからなる交絡糸の交絡度を検査する交絡度検査装置に
関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】一般
に、マルチフィラメントからなる交絡糸の交絡部は、加
工品の品質に影響を与える。これは、交絡部では各フィ
ラメントが密になってその糸幅(太さ)が細くなり、逆
に、交絡部以外では各フィラメント間に隙間を生じてそ
の糸幅が太くなることから、形成される交絡部の数,強
さなどによって加工品の色,風合いなどに変化が現れる
からである。
【0003】このように、交絡部は加工品の品質に与え
る影響が大きいため、交絡糸における極めて重要な物性
項目のひとつとなっており、従来からその物性検査が行
われている。そしてかかる検査法として、従来、ピンカ
ウント法,接圧法,光学法と呼ばれる検査法が採用され
ている。以下、かかるピンカウント法,接圧法,光学法
について、簡単に説明する。
【0004】まず、ピンカウント法について説明する。
これは、交絡糸に所定の張力を作用させた状態で、交絡
糸を所定の経路で走行させ、走行する交絡糸に対してピ
ンをソレノイドなどのアクチュエータにより駆動して挿
入し、交絡糸に作用する張力の変化を張力センサにより
検出するというものである。交絡糸にピンが挿入される
と、ピンが交絡部付近に近づくにつれて次第にピンに働
く抵抗が大きくなって、検出される張力値も大きくな
る。このピンカウント法では、検出される張力値を所定
の基準値と比較し、これが基準値を超えた場合に、同部
を交絡部として判定,検出し、検出した交絡部の数など
に基づいて交絡度を算出する。
【0005】一方、接圧法は、交絡糸に所定の張力を作
用させた状態で、これを所定の経路で走行させるととも
に、歪ゲージの固着された板ばねを片持ちに設置し、当
該板ばねの自由端に固着された押え部材と、これに対し
対向配置された円筒状の当接部材とで、走行交絡糸を所
定の荷重で挟みつけ、交絡糸の太さの変化に応じて生じ
る押え部材の変位を、歪ゲージによって検出するという
ものである。斯して、この接圧法では、歪ゲージから出
力される電圧信号を予め経験的に設定された基準値と比
較し、これが基準値を超えた場合に、同部を交絡部とし
て判定,検出し、検出した交絡部の数などに基づいて交
絡度を算出する。
【0006】また、光学法は、交絡糸を所定の経路で走
行させ、半導体レーザ素子などの発光素子からレーザ光
を走行交絡糸に対して照射し、これを発光素子と対向位
置に配置されたフォトトランジスタなどの受光素子によ
り受光し、受光量に応じて出力される電圧信号を基に交
絡度を算出するというものである。照射されたレーザ光
の一部は交絡糸によって遮られるため、交絡糸の糸幅の
大小に応じて受光素子の受光量が変化し、これに伴っ
て、出力される電圧信号も変化する。交絡部付近では他
の部分に比べて糸幅が狭く、従って交絡部がレーザ光を
遮った際に、出力される電圧信号は他の部分に比べて大
きくなる。光学法では、出力電圧信号を予め経験的に設
定された基準値と比較し、これが基準値を超えた場合
に、同部を交絡部として判定,検出し、検出した交絡部
の数などに基づいて交絡度を算出する。
【0007】ところが、上記各検査法にはそれぞれ以下
に説明するような問題点がある。
【0008】即ち、まず、ピンカウント法では、走行交
絡糸に対してピンの挿入,抜脱を繰り返して行うように
構成されており、交絡部が検出されるたびにピンの挿
入,抜脱が繰り返される。このため、交絡糸の走行速度
を低速に設定する必要があり、効率的な検査を行うこと
ができないという問題がある。
【0009】また、接圧法では、板ばねにより支持され
た押え部材を、走行交絡糸に押えつけるようにしている
ので、交絡糸の走行速度を速くすると、板ばねの応答性
が悪くなって、正確な変位量を検出できなくなる。即
ち、効率的な検査を行うことができないという問題があ
る。また、交絡部を検出する基準値は経験的に設定され
るものであり、交絡部の検出精度はこの基準値によって
大きく左右される。このように、接圧法では、検出精度
の信頼性が低いという問題もある。
【0010】また、光学法では、交絡糸に対して非接触
でその交絡部を検出するようにしているので、ピンカウ
ント法や接圧法に比べて効率的な検査を行うことができ
る。しかしながら、交絡部を検出するための基準値は経
験的に設定されるものであり、交絡部の検出精度はこの
基準値によって大きく左右される。また、糸の断面は円
形ではないため、同じ太さの糸でも、光が透過する方向
によって異なる太さとして検出するため、交絡部と他の
部分とを混同する場合がある。このように、光学法で
は、検出精度の信頼性が低いという問題がある。
【0011】本発明は、それぞれ得失を有する上記検査
法の中でもピンカウント法を採用した交絡度検査装置で
あって、交絡糸の交絡度を更に高精度に検査することが
できる交絡度検査装置の提供を目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段及びその効果】上記課題を
解決するための本発明は、マルチフィラメントからなる
交絡糸を所定の経路で走行させて、その交絡度を検査す
る装置であって、前記交絡糸の走行を案内する案内手段
と、前記交絡糸を牽引して走行せしめる送り手段と、前
記交絡糸の走行路終端部に配設され、前記交絡糸を回収
する回収手段と、前記交絡糸の走行経路近傍に配設さ
れ、走行する前記交絡糸に対してピン体を挿抜するピン
挿抜手段と、前記ピン挿抜手段と送り手段との間の前記
交絡糸に作用する張力を検出する張力検出手段と、前記
走行路の、前記ピン挿抜手段より上流側で、前記交絡糸
に張力を付与する張力付与手段と、前記張力検出手段に
よって検出された信号を基準値と比較,処理して、前記
交絡糸の交絡度を算出する交絡度算出手段とを備えて構
成されるとともに、前記ピン挿抜手段は、前記交絡糸の
走行路に沿って形成され、前記交絡糸に摺接する横断面
V字状の案内溝を備え、且つ該案内溝に開口する貫通孔
を備えた案内部材と、前記貫通孔に嵌挿されたピン体
と、前記ピン体をその軸方向に移動させて、その先端部
を前記案内溝に対して進退せしめる駆動機構とから構成
され、前記案内溝は、前記交絡糸の走行方向に沿って凸
円弧状に形成されてなることを特徴とする交絡度検査装
置に係る。
【0013】この発明によれば、前記マルチフィラメン
トからなる交絡糸は、交絡度検査装置内の適宜個所に配
置された前記案内手段に従って、前記送り手段により走
行せしめられ、走行路終端部に配設された前記回収手段
により前記交絡糸は回収される。
【0014】また、前記交絡糸は、走行中、前記張力付
与手段によって適宜張力が付与され、前記ピン挿抜手段
に経由した際には、その案内部材の案内溝に摺接し、当
該案内溝により案内されて、貫通孔上を走行し、このよ
うに走行する交絡糸に対してピン体が挿抜され、ピン体
挿入時に交絡糸に作用する張力が前記張力検出手段によ
って検出される。尚、前記張力検出手段には歪ゲージや
ロードセルなどを用いることができる。
【0015】前記張力検出手段において検出される張力
値は常に変化し、また、前記ピン体が交絡部付近に近づ
くにつれて次第にピン体に働く抵抗が大きくなって、前
記交絡糸に作用する張力も大きくなる。そして、前記交
絡度算出手段において、前記張力検出手段により検出さ
れた張力値と前記基準値とが比較されて、検出張力値が
基準値を超えた場合に、同部が交絡部として判定,検出
される。
【0016】斯くして、この発明によれば、前記案内部
材に形成された案内溝及び貫通孔により前記交絡糸及び
前記ピン体がそれぞれ案内されるので、交絡糸とピン体
相互間の位置ずれをなくすことができ、交絡糸に対して
確実にピン体を挿入させることができる。これにより、
より信頼性の高い交絡度を得ることができる。尚、前記
ピン体には、できる限りぶれを少なくするため、貫通孔
に対して僅かに小径のピンを用い、前記駆動機構には、
ソレノイドやシリンダーなどのアクチュエータを使用す
ると良い。また、前記案内部材には、セラミックや金属
製など、交絡糸の走行及びピン体の移動に支障をきたさ
ないものを用いると良い。
【0017】また、前記案内溝を凸円弧状に形成してい
るので、交絡糸は凸円弧状の案内溝に沿って抵抗を受け
ることなく滑らかに走行することができる。
【0018】尚、前記案内部材は、これを、前記案内溝
が前記貫通孔の開口部で分断され、且つ、該開口部の周
縁に平坦面が形成された構成とすることができる。この
ようにすれば、貫通孔周縁に形成された平坦面において
交絡糸が扁平化されて、拡幅されるので、交絡糸に対し
て確実にピン体を挿入させることができ、信頼性の高い
交絡度を得ることができる。
【0019】また、本発明は、マルチフィラメントから
なる交絡糸を所定の経路で走行させて、その交絡度を検
査する装置であって、前記交絡糸の走行を案内する案内
手段と、前記交絡糸を牽引して走行せしめる送り手段
と、前記交絡糸の走行路終端部に配設され、前記交絡糸
を回収する回収手段と、前記交絡糸の走行経路近傍に配
設され、走行する前記交絡糸に対してピン体を挿抜する
ピン挿抜手段と、前記ピン挿抜手段と送り手段との間の
前記交絡糸に作用する張力を検出する張力検出手段と、
前記走行路の、前記ピン挿抜手段より上流側で、前記交
絡糸に張力を付与する張力付与手段と、前記張力検出手
段によって検出された信号を基準値と比較,処理して、
前記交絡糸の交絡度を算出する交絡度算出手段とを備え
て構成され、前記ピン挿抜手段は、軸線が前記交絡糸の
走行方向に対して直交するように配設され、前記交絡糸
に当接してこれを扁平化し拡幅せしめる円筒状をした部
材であって、前記交絡糸との当接部に開口する貫通孔を
備えた当接部材と、前記貫通孔に嵌挿されたピン体と、
前記ピン体をその軸方向に移動させて、その先端部を前
記交絡糸との当接部に対して進退せしめる駆動機構とか
ら構成されるとともに、前記交絡糸の走行路に沿って形
成され、前記交絡糸に当接してその走行を案内する横断
面V字状の案内溝を有する一対の案内部材を、前記交絡
糸の走行方向における前記当接部材の前後にそれぞれ配
設したことを特徴とする交絡度検査装置に係る。
【0020】この発明によれば、前記当接部材の前後に
配設され、横断面V字状の案内溝を有する前記一対の案
内部材により、前記交絡糸を案内するようにしているの
で、これを確実、且つ安定して前記当接部材に設けられ
た前記貫通孔上に導くことができる。更に、当接部材に
形成された貫通孔によりピン体は案内されるため、交絡
糸とピン体相互間の位置ずれをなくすことができ、交絡
糸に対して確実にピン体を挿入させることができる。ま
た、交絡糸が当接部材に当接すると、交絡糸は扁平化さ
れ、拡幅されるので、このことによっても、交絡糸に対
して確実にピン体を挿入させることができ、信頼性の高
い交絡度を得ることができる。
【0021】尚、前記ピン体には、できる限りぶれを少
なくするため、貫通孔に対して僅かに小径のピンを用
い、前記駆動機構には、ソレノイドやシリンダーなどの
アクチュエータを使用すると良い。また、前記当接部材
や前記一対の案内部材には、ガラス,セラミック,金属
製など、交絡糸の走行及びピン体の移動に支障をきたさ
ないものを用いると良く、また、当接部材は楕円形でも
構わない。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施形態
について添付図面に基づき説明する。尚、図1は、本発
明の一実施形態に係る交絡度検査装置の概略構成を示し
た正面図であり、図2は、図1における交絡度検査装置
の概略構成を示したブロック図である。
【0023】図1に示すように、本例の交絡度検査装置
1は、マルチフィラメントからなる交絡糸Tの巻き取ら
れたボビン2から、当該交絡糸Tを引き出して所定経路
で走行させ、その交絡度を検査する装置であって、交絡
糸Tの走行を案内する案内手段8と、交絡糸Tを牽引し
て走行せしめる送り手段5と、走行交絡糸Tに対して張
力を付与する張力付与手段3と、走行交絡糸Tに作用す
る張力を検出する張力検出手段4と、走行交絡糸Tを回
収する回収手段6と、ピン挿抜装置20及び光学センサ
装置30とから構成されるデータ取得装置10、並びに
得られたデータを処理するデータ処理装置40などから
なる。尚、前記データ取得装置10は図2に示した制御
手段9によってその作動が制御される。
【0024】前記案内手段8は、回転自在に設けられた
ローラからなり、図示する如く、適宜間隔で配設され
て、前記交絡糸Tの走行を案内する。また、前記張力付
与手段3はマグネットテンサや制動モータなどからな
り、走行交絡糸Tに所定の張力(初期張力)を付与す
る。また、前記張力検出手段4は、歪ゲージやロードセ
ルなどを備えてなり、走行交絡糸Tに作用する張力を検
出する。前記ピン挿抜装置20,前記光学センサ装置3
0は、図示するように、交絡糸Tの走行路近傍に配設さ
れ、張力付与手段3は、同じく図示するように、交絡糸
Tの走行路において、ピン挿抜装置20,張力検出手段
4,光学センサ装置30より上流側に配設されている。
【0025】前記送り手段5は駆動ローラ、当該駆動ロ
ーラを回転せしめるモータ、及びロータリエンコーダな
どからなり、前記交絡糸Tの走行速度を制御可能である
とともに、交絡糸Tの走行距離を算出可能に構成され
る。また、前記回収手段6はリールなどを備えてなり、
送り手段5によって走行せしめられた交絡糸Tを当該リ
ールに巻き取って回収する。
【0026】図3は、本実施形態に係るピン挿抜装置の
概略構成を示した正面図であり、図4は、図3における
矢視A方向の平面図であるが、これら図3及び図4に示
すように、前記ピン挿抜装置20は、駆動機構部21,
ピン体22,案内部材23からなる。また、前記案内部
材23は、前記交絡糸Tの走行方向に沿って凸円弧状に
形成されるとともに、横断面V字状をした案内溝24、
及び当該案内溝24に開口した、ピン体22より僅かに
大きい径の貫通孔25を有している。
【0027】前記ピン体22は貫通孔25内に位置して
おり、ソレノイドやシリンダーなどのアクチュエータか
らなる前記駆動機構部21の作動に従って、その軸方向
(図3において矢示B方向)に移動可能となっている。
斯くして、走行交絡糸Tは前記案内溝24に摺接し、当
該案内溝24により案内されて、前記貫通孔25上を走
行し、このように走行する交絡糸Tに対してピン体22
が挿抜される。尚、前記案内部材23にはセラミック,
金属製など、交絡糸Tの走行及びピン体22の移動に支
障をきたさないものを用いる。
【0028】図5は、本実施形態に係る光学センサ装置
の概略構成を示した正面図であり、図6は、図5におけ
る矢視C方向の平面図であるが、これら図5及び図6に
示すように、前記光学センサ装置30は、受光素子3
1,発光素子32,当接部材33,一対の案内部材34
からなる。受光素子31は前記交絡糸Tの走行路に臨む
ように配置され、発光素子32は交絡糸Tを挟んで受光
素子31に対し対向する位置に配置される。尚、受光素
子31には、フォトトランジスタやフォトダイオード,
CCDカメラなどを使用し、発光素子32には、小型,
軽量である光源ランプや半導体レーザ素子などを使用す
る。
【0029】また、前記当接部材33は、前記受光素子
31と前記発光素子32との間に配設され、楕円状や円
筒状をした光透過性の硬質樹脂やガラスなどからなる。
前記一対の案内部材34は、交絡糸Tの走行路に沿って
形成されるとともに、横断面V字状の案内溝35を有
し、交絡糸Tの走行方向における当接部材33の前後に
それぞれ配設される。また、一対の案内部材34にはセ
ラミック,金属製など、交絡糸Tの走行に支障をきたさ
ないものを用いる。走行交絡糸Tは案内溝35に当接
し、当該案内溝35により案内されて走行するととも
に、当接部材33に当接して扁平化され、拡幅される。
【0030】図2に示すように、前記データ処理装置4
0は、第1のデータ記憶手段41,第1の基準値記憶手
段42,第2のデータ記憶手段50,第2の基準値記憶
手段47,交絡度算出処理手段49,基準値更新手段4
4,算出結果記憶手段46などを備えてなる。また、交
絡度算出処理手段49は、第1の交絡度算出手段43,
第2の交絡度算出手段48,校正処理手段45から構成
される。
【0031】尚、前記第1の交絡度算出手段43,前記
第2の交絡度算出手段48,前記校正処理手段45,前
記基準値更新手段44は、CPU,ROM,RAMや所
定の処理実行プログラムが格納された補助記憶装置など
を備えるコンピュータから構成され、前記第1のデータ
記憶手段41,前記第1の基準値記憶手段42,前記第
2のデータ記憶手段50,前記第2の基準値記憶手段4
7,前記算出結果記憶手段46は、補助記憶装置などか
ら構成される。
【0032】前記第1の交絡度算出手段43は、前記張
力検出手段4において検出され、前記第1のデータ記憶
手段41に格納された張力データと前記第1の基準値記
憶手段42に格納された第1の基準値とを比較,処理し
て、前記交絡糸Tの交絡度を算出し、算出した交絡度を
前記算出結果記憶手段46に格納する処理を行う。尚、
交絡度とは、単位長さ当たりの交絡部の数である。
【0033】また、前記第2の交絡度算出手段48は、
前記受光素子31から出力され、前記第2のデータ記憶
手段50に格納された電圧データと前記第2の基準値記
憶手段47に格納された第2の基準値とを比較,処理し
て、前記交絡糸Tの交絡度を算出し、算出した交絡度を
前記算出結果記憶手段46に格納する処理を行う。
【0034】また、前記校正処理手段45は、前記第1
の交絡度算出手段43によって算出された交絡度、及び
前記第2のデータ記憶部50に格納された電圧データを
基に校正処理を行い、第2の交絡度算出手段48により
算出される交絡度が、第1の交絡度算出手段43により
算出された交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まるよ
うに、前記第2の交絡度算出手段48の交絡度算出処理
において用いられる前記第2の基準値を設定する。
【0035】また、前記基準値更新手段44は、前記第
2の基準値記憶手段47に格納された第2の基準値を、
前記校正処理手段45において設定された第2の基準値
に更新する。また、前記交絡度算出処理手段49からの
信号に基づいて、前記制御手段9は前記データ取得装置
10の動作状態を制御可能になっている。
【0036】以下、上述した本例の交絡度検査装置1に
おける具体的な一連の処理内容について図7に基づき説
明する。尚、図7は、本実施形態に係る交絡度検査装置
における処理手順を示したフローチャートである。
【0037】まず、第1の交絡度算出手段43により交
絡度の算出処理が行われる(ステップS1)。即ち、交
絡度算出処理手段49から前記制御手段9に実行信号が
送信され、この制御手段9によってデータ取得装置10
が駆動,制御されて、交絡糸Tが走行せしめられ、走行
交絡糸Tに対してピン体22が挿入される。そして、走
行交絡糸Tに対して作用する張力が前記張力検出手段4
によって検出され、検出された張力値が、図示しないA
/D変換器でデジタル信号に変換された後、前記第1の
データ記憶手段41に格納される。また、これと並行し
て、前記第1の交絡度算出手段43において、前記第1
のデータ記憶手段41に格納された張力データが順次読
み出され、これが前記第1の基準値記憶手段42に格納
された第1の基準値と比較され、前記第1の基準値を超
えた場合に、同部が交絡部として判定,検出される。
【0038】そして、前記第1の交絡度算出手段43に
おいて交絡部が検出されると、前記制御手段9は前記送
り手段5を一旦停止させ、前記交絡糸Tの走行を止めた
後、前記駆動機構部21を駆動して前記ピン体22を交
絡糸Tから抜脱する。ピン体22が交絡糸Tから抜脱さ
れると、制御手段9は送り手段5を再び駆動させて、交
絡糸Tを走行させる。そして、所定距離を進んだ交絡糸
Tに対し、制御手段9は駆動機構部21を駆動してピン
体22を挿入する。以後、かかる処理が所定長の交絡糸
Tに対して繰り返され、第1の交絡度算出手段43にお
いて検出された交絡部数及び交絡糸Tの走行距離に基づ
いて交絡度が算出され、算出された交絡度が前記算出結
果記憶手段46に格納される。
【0039】次に、前記光学センサ装置30による糸幅
計測処理が実行される(ステップS2)。即ち、上記と
同様に、交絡度算出処理手段49から前記制御手段9に
実行信号が送信され、この制御手段9によってデータ取
得装置10が駆動,制御されて、交絡糸Tが走行せしめ
られ、光学センサ装置30によって、走行交絡糸Tの糸
幅が計測される。
【0040】走行交絡糸Tは、前記当接部材33に当接
して扁平,拡幅され、拡幅された交絡糸Tに対して、前
記発光素子32から検出光が照射され、照射された検出
光が前記受光素子31によって受光され、受光量に応じ
た電圧信号が受光素子31から出力される。このとき、
発光素子32から照射された検出光の一部は交絡糸Tに
よって遮られるため、交絡糸Tの糸幅(太さ)の大小に
応じて受光素子31における受光量が変化し、これに伴
って、出力される電圧信号も変化する。交絡部付近では
他の部分に比べて糸幅が狭く、従って交絡部が光を遮っ
た際に、出力される電圧信号は他の部分に比べて大きく
なる。
【0041】そして、受光素子31から出力された電圧
信号は、図示しないA/D変換器でデジタル信号に変換
された後、前記第2のデータ記憶手段50に格納され
る。このようにして、所定長の前記交絡糸Tについてそ
の糸幅が計測されると、前記制御手段9によって交絡糸
Tの走行が停止せしめられる。
【0042】次に、校正処理手段45によって校正処理
が実行される(ステップS3)。即ち、校正処理手段4
5において、前記第1の交絡度算出手段43によって算
出され、前記算出結果記憶手段46に格納された交絡
度、及び前記第2のデータ記憶部50に格納された電圧
データを基に校正処理が行われ、第2の交絡度算出手段
48により算出される交絡度が、第1の交絡度算出手段
43により算出された交絡度に対して一定の誤差範囲内
に収まるように、前記第2の交絡度算出手段48の交絡
度算出処理において用いられる前記第2の基準値を設定
する。
【0043】より具体的には、前記第2の基準値につい
て暫定的な値を仮設定し、かかる暫定基準値を基に、前
記第2のデータ記憶手段50に格納された電圧データ
と、かかる暫定基準値とを比較,処理して暫定交絡度を
算出し、更に、算出された暫定交絡度と、前記算出結果
記憶手段46に格納された前記第1の交絡度算出手段4
3算出の交絡度とを比較し、暫定交絡度が第1の交絡度
算出手段43算出の交絡度に対して一定の誤差範囲内に
収まるように、順次、暫定基準値を更新処理し、暫定交
絡度が第1の交絡度算出手段43算出の交絡度に対して
一定の誤差範囲内に収まった時点で、これを第2の基準
値に設定する。
【0044】例えば、第1のデータ記憶手段41に格納
された張力データが、図8に示すようなデータであり、
前記光学センサ装置30によって計測され、第2のデー
タ記憶手段50に格納された電圧データが、図9に示す
ようなデータである場合、第1の基準値を基準として前
記第1の交絡度算出手段43によって検出される交絡部
は3個所となる(仮に、この場合の交絡度を3とす
る)。
【0045】校正処理手段45は、まず、暫定基準値a
を設定して、かかる暫定基準値aを基に、前記第2のデ
ータ記憶手段50に格納された電圧データとかかる暫定
基準値aとを比較,処理して暫定交絡度を算出し(図9
の例では、暫定交絡度1)、これが第1の交絡度算出手
段43検出の交絡度に対して所定の誤差範囲内に在るか
否かを判定する。今、誤差範囲を仮に10%とすると、
暫定基準aとした場合には、前記誤差範囲に収まらない
ので、校正処理手段45は、暫定基準値をaから所定量
だけ差し引いたbに更新して、以下、同じ処理を繰り返
し、暫定交絡度が第1の交絡度算出手段43算出の交絡
度に対して前記誤差範囲内に収まった時点の暫定基準値
(図9に示した例では、暫定基準値c)を第2の基準値
に設定する。
【0046】そして、以上のようにして、前記校正処理
手段45によって前記第2の基準値が設定されると、次
に、前記基準値更新手段44により、設定された第2の
基準値で、前記第2の基準値記憶手段47に格納された
第2の基準値が更新される。(ステップS4)。
【0047】このようにして、前記第2の基準値の設定
処理を完了すると、以後、再び交絡度算出処理手段49
から前記制御手段9に実行信号が送信され、制御手段9
によってデータ取得装置10が駆動,制御されて、交絡
糸Tが走行せしめられ、光学センサ装置30によって、
走行交絡糸Tの糸幅が連続的に計測される(ステップS
5)。そして、前記交絡糸Tの所定長について、その糸
幅の計測を完了すると、交絡度算出処理手段49から制
御手段9に終了信号が送信され、データ取得装置10の
駆動が停止せしめられる(ステップS6)。
【0048】次に、前記第2の交絡度算出手段48にお
いて、前記第2のデータ記憶手段50に格納された電圧
データと、前記第2の基準値記憶手段47に格納された
第2の基準値とが比較され、前記電圧データが前記第2
の基準値を超えた場合に、同部が交絡部として判定,検
出され、検出された交絡部数及び前記交絡糸Tの走行距
離に基づいて交絡度が算出され、算出された交絡度が前
記算出結果記憶手段46に格納される(ステップS
7)。
【0049】尚、前記第1の交絡度算出手段43及び前
記第2の交絡度算出手段48によって算出され、前記算
出結果記憶手段46にそれぞれ格納された交絡度は、必
要に応じて、図示しない表示手段や出力手段により表
示、又は出力されるようになっている。また、前記第1
の交絡度算出手段43及び第2の交絡度算出手段48
は、それぞれ、これを、交絡度に加えて、交絡部間隔,
交絡部長さや非交絡部長さを算出可能に構成することが
できる。
【0050】以上、詳述したように、本例の交絡度検査
装置1によると、第1の交絡度算出手段43及び第2の
交絡度算出手段48によって交絡度が算出され、しか
も、第2の交絡度算出手段48で算出される交絡度が第
1の交絡度算出手段43で算出される交絡度に対して一
定の誤差範囲内に収まるように、校正処理手段45にお
いて第2の基準値が設定され、第1の交絡度算出手段4
3で算出される交絡度と第2の交絡度算出手段48で算
出される交絡度との間の整合性が図られている。これに
より、第2の交絡度算出手段48における交絡部算出精
度の信頼性が高くなり、当該第2の交絡度算出手段48
において算出される交絡度が高精度となる。
【0051】従って、校正処理手段45において第2の
基準値が設定され、第2の基準値記憶手段47に格納さ
れた第2の基準値が基準値更新手段44によって更新さ
れた後は、非接触で交絡糸Tの糸幅を計測する光学セン
サ装置30、及び第2の交絡度算出手段48のみによっ
て迅速に交絡度を算出することができ、上述した従来の
ピンカウント法や光学法に比べて、高精度、且つ効率的
に交絡度を検査することが可能となる。
【0052】また、光学センサ装置30に配設された当
接部材33により交絡糸Tは扁平化され、拡幅されるの
で、交絡糸Tの糸幅の斑をなくすことができるととも
に、交絡部とそれ以外の部分の糸幅変化を際立たせるこ
とができる。更に、当接部材33の前後に配設され、横
断面V字状の案内溝35を有する一対の案内部材34に
より、交絡糸Tを案内するようにしているので、これを
確実、且つ安定して発光素子32と受光素子31との間
に導くことができる。これらのことから、信頼性の高い
交絡度を算出することが可能となる。
【0053】また、ピン挿抜装置20の案内部材23に
形成された案内溝24及び貫通孔25により交絡糸T及
びピン体22がそれぞれ案内されるので、交絡糸Tとピ
ン体22相互間の位置ずれをなくすことができ、交絡糸
Tに対して確実にピン体22を挿入させることができ
る。更に、案内溝24は交絡糸Tの走行方向に沿って凸
円弧状に形成されていることで、交絡糸Tは凸円弧状の
案内溝24に沿って抵抗を受けることなく滑らかに走行
することができる。これらのことによっても、信頼性の
高い交絡度を得ることができる。
【0054】以上、本発明の一実施形態について説明し
たが、本発明の採り得る具体的な態様は、何らこれに限
定されるものでない。
【0055】例えば、上例の案内部材23に代えて、図
10及び図11に示すような案内部材63を使用するこ
ともできる。この案内部材63は、交絡糸Tの走行方向
に沿って凸円弧状に形成されるとともに、横断面V字状
の案内溝64、当該案内溝64を分断する水平な平坦面
66、及び当該平坦面66から垂直に形成されて、ピン
体22より僅かに大径の貫通孔65を有している。尚、
図11は、図10における矢視D方向の平面図である。
【0056】更に、上例の案内部材23に代えて、図1
2及び図13に示すような当接部材73を設け、交絡糸
Tの走行方向におけるその前後に一対の案内部材75を
設けた構成としても良い。当接部材73は、その軸線が
交絡糸Tに対して直交するように配設され、交絡糸Tと
の当接部に開口する貫通孔74を備えた円筒状の部材か
らなり、一対の案内部材75は、当該当接部材73の前
後に配設され、横断面V字状の案内溝76を有してい
る。尚、図13は、図12における矢視E方向の平面図
である。
【0057】上記のような構成にすると、交絡糸Tは案
内溝64や一対の案内部材75によって案内されるだけ
でなく、平坦面66及び当接部材73において扁平化さ
れ、拡幅される。従って、このことによっても、交絡糸
Tに対して確実にピン体22を挿入させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る交絡度検査装置の概
略構成を示した正面図である。
【図2】本実施形態に係る交絡度検査装置の概略構成を
示したブロック図である。
【図3】本実施形態に係るピン挿抜装置の概略構成を示
した正面図である。
【図4】図3における矢視A方向の平面図である。
【図5】本実施形態に係る光学センサ装置の概略構成を
示した正面図である。
【図6】図5における矢視C方向の平面図である。
【図7】本実施形態の交絡度検査装置における処理手順
を示したフローチャートである。
【図8】張力データと第1の基準値との関係を示した説
明図であり、本実施形態に係る構成処理を説明するため
の説明図である。
【図9】電圧データと第2の基準値との関係を示した説
明図であり、本実施形態に係る構成処理を説明するため
の説明図である。
【図10】本発明の他の形態に係るピン挿抜装置の概略
構成を示した正面図である。
【図11】図10における矢視D方向の平面図である。
【図12】本発明の更に他の形態に係るピン挿抜装置の
概略構成を示した正面図である。
【図13】図12における矢視E方向の平面図である。
【符号の説明】
1 交絡度検査装置 4 張力検出手段 10 データ取得装置 20 ピン挿抜装置 21 駆動機構部 22 ピン体 23 案内部材 30 光学センサ装置 31 受光素子 32 発光素子 33 当接部材 40 データ処理装置 43 第1の交絡度算出手段 44 基準値更新手段 45 校正処理手段 48 第2の交絡度算出手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上田 高次 大阪府大阪市北区南森町1丁目4番19号 カネボウエンジニアリング株式会社内 Fターム(参考) 2F051 AA16 AB09 CA01 3B154 AA06 AB03 BA53 BB09 BB45 BB76 BB77 BC02 BC17 BC23 BC47 CA02 CA08 CA13 CA22 CA27 CA31 DA22

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マルチフィラメントからなる交絡糸を所
    定の経路で走行させて、その交絡度を検査する装置であ
    って、 前記交絡糸の走行を案内する案内手段と、 前記交絡糸を牽引して走行せしめる送り手段と、 前記交絡糸の走行路終端部に配設され、前記交絡糸を回
    収する回収手段と、 前記交絡糸の走行経路近傍に配設され、走行する前記交
    絡糸に対してピン体を挿抜するピン挿抜手段と、 前記ピン挿抜手段と送り手段との間の前記交絡糸に作用
    する張力を検出する張力検出手段と、 前記走行路の、前記ピン挿抜手段より上流側で、前記交
    絡糸に張力を付与する張力付与手段と、 前記張力検出手段によって検出された信号を基準値と比
    較,処理して、前記交絡糸の交絡度を算出する交絡度算
    出手段とを備えて構成されるとともに、 前記ピン挿抜手段は、前記交絡糸の走行路に沿って形成
    され、前記交絡糸に摺接する横断面V字状の案内溝を備
    え、且つ該案内溝に開口する貫通孔を備えた案内部材
    と、前記貫通孔に嵌挿されたピン体と、前記ピン体をそ
    の軸方向に移動させて、その先端部を前記案内溝に対し
    て進退せしめる駆動機構とから構成され、前記案内溝
    は、前記交絡糸の走行方向に沿って凸円弧状に形成され
    てなることを特徴とする交絡度検査装置。
  2. 【請求項2】 前記案内溝を前記貫通孔の開口部で分断
    し、且つ、該開口部の周縁に平坦面を形成したことを特
    徴とする請求項1記載の交絡度検査装置。
  3. 【請求項3】 マルチフィラメントからなる交絡糸を所
    定の経路で走行させて、その交絡度を検査する装置であ
    って、 前記交絡糸の走行を案内する案内手段と、 前記交絡糸を牽引して走行せしめる送り手段と、 前記交絡糸の走行路終端部に配設され、前記交絡糸を回
    収する回収手段と、 前記交絡糸の走行経路近傍に配設され、走行する前記交
    絡糸に対してピン体を挿抜するピン挿抜手段と、 前記ピン挿抜手段と送り手段との間の前記交絡糸に作用
    する張力を検出する張力検出手段と、 前記走行路の、前記ピン挿抜手段より上流側で、前記交
    絡糸に張力を付与する張力付与手段と、 前記張力検出手段によって検出された信号を基準値と比
    較,処理して、前記交絡糸の交絡度を算出する交絡度算
    出手段とを備えて構成され、 前記ピン挿抜手段は、 軸線が前記交絡糸の走行方向に対して直交するように配
    設され、前記交絡糸に当接してこれを扁平化し拡幅せし
    める円筒状をした部材であって、前記交絡糸との当接部
    に開口する貫通孔を備えた当接部材と、前記貫通孔に嵌
    挿されたピン体と、前記ピン体をその軸方向に移動させ
    て、その先端部を前記交絡糸との当接部に対して進退せ
    しめる駆動機構とから構成されるとともに、 前記交絡糸の走行路に沿って形成され、前記交絡糸に当
    接してその走行を案内する横断面V字状の案内溝を有す
    る一対の案内部材を、前記交絡糸の走行方向における前
    記当接部材の前後にそれぞれ配設したことを特徴とする
    交絡度検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR102358881B1 (ko) * 2021-08-25 2022-02-08 (주)케이알바트로스 탄소섬유 필라멘트 품질검사장치

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