JP2003116846A - X線装置のための反散乱グリッド - Google Patents

X線装置のための反散乱グリッド

Info

Publication number
JP2003116846A
JP2003116846A JP2002218131A JP2002218131A JP2003116846A JP 2003116846 A JP2003116846 A JP 2003116846A JP 2002218131 A JP2002218131 A JP 2002218131A JP 2002218131 A JP2002218131 A JP 2002218131A JP 2003116846 A JP2003116846 A JP 2003116846A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scatter grid
high resistance
ray
channel
absorber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002218131A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4643885B2 (ja
Inventor
Erhard Paul Artur Klotz
パオル アルトゥール クロッツ エアハルト
Reiner Koppe
コッペ ライナー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Publication of JP2003116846A publication Critical patent/JP2003116846A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4643885B2 publication Critical patent/JP4643885B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
    • G21K1/025Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03Computed tomography [CT]
    • A61B6/037Emission tomography
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4208Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
    • A61B6/4258Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector for detecting non x-ray radiation, e.g. gamma radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/32Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
    • H01S5/3201Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures incorporating bulkstrain effects, e.g. strain compensation, strain related to polarisation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Nuclear Medicine (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、散乱放射線が可能な限り抑制され
て、一方で主要な放射線が可能な限り伝達される、反散
乱グリッドを提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明は、散乱放射線を吸収するための
複数の吸収器層板構造及び、X線に対して透明で、吸収
器層板構造間に配置される、チャンネル媒体を含み、検
査される対象物で生成される散乱放射線を削減するため
に役立つ、X線装置における反散乱グリッドに関する。
かかる反散乱グリッドの特に簡素で精巧な製造のため
に、主要な放射線はほとんど減じない一方で、散乱放射
線は可能な限り減じられ、本発明と一致する非弾性な高
抵抗泡である、特にポリメタクリルイミドの高抵抗泡が
チャンネル媒体として使用される。本発明はまた、層板
構造間でチャンネル媒体として使用される非弾性高抵抗
泡である、例えば、単一の光子エミッター若しくはポジ
トロンエミッターである、コリメーターに関する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、散乱放射線を吸収
するための複数の吸収器層板構造(absorber
laminations)及び、X線に対して透明で、
吸収器層板構造間に配置されるチャンネル媒体を含み、
検査される対象物で生成される散乱放射線を削減するた
めに、X線装置の使用における反散乱グリッドに関す
る。本発明はまた、層板構造間に提供されるコリメータ
ーチャンネル及びチャンネル媒体を形成するために、複
数の層板構造を有する、単一の光子のコリメーターに関
する。
【0002】
【従来の技術】検査される対象物がX線の手段にて照射
される場合、例えば、患者である検査される対象で生成
される主要な放射線だけでなく、散乱放射線は、その結
果としての“散乱霧”はX線画像に現れる。この追加的
な露出のために、X線画像の対比は、散乱放射線濃度に
依存する内容に対して減少され、さらに、画像化された
詳細なSN比は劣化する。
【0003】したがって、散乱放射線を減少するため
に、X線装置は、検査される対象物とX線検出器との間
に配置された、反散乱グリッドを伴って提供され、X線
検出器はX線管の焦点スポットから出る主要な放射線を
伝えるが、様々な角度で吸収器層板構造上で入射される
検査される対象物からの散乱放射線を実質上吸収する。
【0004】この種類のX線装置は、米国特許出願番号
1164987により周知である。吸収器層板構造は、
高い吸収率との組み合わせで少量の鉛から通常は合成さ
れる。吸収器層板構造間の中間間隔のチャンネル媒体
は、紙、ファイバー若しくはアルミニウムである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、散乱
放射線が可能な限り抑制されて、一方で主要な放射線が
可能な限り伝達される、反散乱グリッドを提供すること
である。さらに、反散乱グリッドの製造は、可能な限り
簡素で、幾何学的に正確で経済的であるべきである。こ
の目的は、チャンネル媒体は非弾性の高い抵抗泡である
ことを特徴とする、この種の反散乱グリッドの手段によ
る本発明と一致して達成される。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、空気が理想的
なチャンネル媒体であるだけでなく、可能な限り高い均
質性を達成するように、吸収器層板構造が機械的にしっ
かりと、位置的に正確な手法で配置されるという事実の
認識に基づいている。非弾性の高い抵抗泡は、この点か
ら理想的であることが分かっている。このような泡は、
密度が紙よりも15乃至30倍ほど小さいために、主要
な放射線における高い透過率を有する。さらに、高い機
械的な精度は、物質の形状が安定して、物質が適切に作
用するために、吸収器層板構造の配置において達成され
る。さらに、好ましい多数のライン、すなわち、散乱グ
リッドの長さ単位(例えば、cm)における多くの吸収
器層板構造を達成することができる。さらに、吸収器層
板構造とチャンネル媒体は共に固着しないので、生産上
の欠陥は製造中に修理することができる。さらに、チャ
ンネル物質は非常に安価である。
【0007】好ましくは、ポリメタクリルイミド高抵抗
泡は、例えば、Rohacel(登録商標)で市販され
ている泡として、チャンネル媒体として使用される。こ
の物質は、例えば、分割、切断、粉砕若しくは製粉によ
って、速い材若しくはプラスチック処理機で簡単に作用
され得る。潤滑剤の使用は許容可能である。最終的な形
状と最終的な大きさは、例えば、冷却プレスによる作用
の後(チャンネル要素が平行の後)に、チャンネル要素
に与えることができる。最終的な形状を獲得するよう
に、熱変形及び結合形成か、若しくは樹脂化はさらに可
能である。このように、この物質は、チャンネル媒体と
同様に空気を活用する反散乱グリッドと同一の特質を実
質的に有する、反散乱グリッドの製造を可能にする。
【0008】さらに、好ましい実施態様のチャンネル媒
体は、二つの吸収器層板構造間の各時間で配置されたチ
ャンネル要素である、個々に実行されるチャンネル要素
を含んでいる。このようにチャンネル要素は、反散乱グ
リッドを形成するように吸収器層板構造と実質的に組み
合わせられて実行され、さらなる好ましい実施態様とし
て、このアセンブリは接着剤の手段か、若しくはフレー
ムの手段による共にアセンブリを保持することによる、
何れかで実現される。
【0009】代替として、例えば、切り出し、熱水ジェ
ット、レーザー若しくは熱いワイヤーの手段によって大
きな一片が高い抵抗泡の個々のスリットを成形すること
は原理において可能であり、及び前述のスリットにおい
て吸収器層板構造を結果的に整列することは可能であ
る。このスリットは、円錐形ではなく、平行に延在する
かもしれない。
【0010】反散乱グリッドは、吸収器層板構造が平行
に配置される、平らな反散乱グリッドとして構成される
かもしれない。しかしながら、反散乱グリッドは、好ま
しくは、吸収器層板構造がX線源の焦点により延在す
る、ラインに沿った各時間と提携する、集中された反散
乱グリッドとして構成される。適切な傾斜を伴う円錐に
なるように、事前に形成されたチャンネル要素は好まし
く形態化される。全体の反散乱グリッドが平らではな
く、曲って整列されるかもしれず、したがって球状のキ
ャップのように形態化され、このようにX線源の焦点に
関してより良い集中化を可能にし、したがってさらに高
い均一性を可能にする。
【0011】さらに好ましい実施態様の個々のチャンネ
ル要素は、グリッドの形状で形態化される。これは、個
々の比較的平らな延在しているチャンネル要素から、好
ましくは切り出す(平行若しくは円錐形に)ことによっ
て部分が除去され、結果として、側面(主要な放射線の
方向に垂直)から見た場合に、チャンネル要素はこの種
類のグリッド若しくはネットワークを形成する。散乱放
射線のより良い吸収はこのように達成できる。
【0012】本発明は、検査される対象物のX線画像を
形成するためのX線装置に関し、装置はX線源、X線検
出器、及び検査される対象物と前述に記載のX線検出器
との間に配置された反散乱グリッドを含んでいる。この
種類のX線装置は、例えば、突出画像化若しくはC−ア
ームX線システムだけでなく、コンピュータ連動断層撮
影システムである、従来のX線システムであるかもしれ
ない。
【0013】本発明はまた、特に、単一光子エミッター
(SPECT)のガンマカメラ若しくはポジトロンエミ
ッター(PET)におけるコリメーターに関する。非弾
性で高い抵抗泡は、コリメーターチャンネルを形成する
ための複数の層板構造及び層板構造間のチャンネル媒体
を含む、この種類のコリメーターのチャンネル媒体とし
て再度有用に使用(例えば、質量を削減するために)さ
れる。この種のコリメーターは、特に、コリメーターの
後ろに位置しているガンマカメラのさらなる要素に検査
される対象物から出るガンマ量の一部だけを伝達するよ
うに意図される。検査される対象物に直面するコリメー
ターの表面へ実際に垂直で入射する量だけが、コリメー
ターを通過することができるが、しかし、角度での入射
である量はコリメーター壁に吸収される。層板構造の配
置を可能な限り正確に、及び伝達される量における吸収
を最小化するために、記載された非弾性の高い抵抗泡、
特に、Rohacelとして市販されている、ポリメタ
クリルイミド高抵抗泡は、チャンネル媒体において使用
することができる。次いで、コリメーターは、平行若し
くは集中化された形体の線形若しくはグリッド状の形態
であるかもしれない。さらに、層板構造は交差して集中
しているかもしれない。
【0014】最後に、本発明は、ガンマカメラ、ガンマ
カメラの手段により放射する対象物の画像を形成するた
めの単一光子エミッターに関し、ガンマカメラは、ポジ
トロンエミッターと同様に画像の投影方向を確定するた
めに、記載の種類のコリメーターを伴って提供されてい
る。
【0015】本発明は、図を参照して下記において詳細
に記載されるであろう。
【0016】
【発明の実施の形態】図1は、反散乱グリッドを伴って
提供されるX線システムの簡素化された表現である。
【0017】X線ビーム3は、例えば、患者である、検
査される対象物4に、X線管1の焦点2から適用され
る。検査される対象物4を通過するX線は、反散乱グリ
ッド5に結果として入射し、放射線のままである構成要
素はX線検出器6に入射される。反散乱グリッド5は、
吸収器層板構造51及び吸収器層板構造51間に提供さ
れるチャンネル媒体52から本質的に構成される。吸収
器層板構造は、通常は、少量との組み合わせでX線の高
い吸収率を有する鉛から合成され、焦点2に向かって向
けられる。チャンネル媒体52は、紙若しくはアルミニ
ウムから構成され、X線を可能である最も高い度合いま
で伝達する。
【0018】反散乱グリッド5は、検査される対象物4
を通過する主要な放射線7を伝達することとして本質的
に役立ち、結果として、この放射線はさらなる吸収をせ
ずにX線検出器6に入射できる一方で、検査される対象
物4で生成される散乱放射線8は可能な限り完全に抑制
されて、X線検出器6に入射できない。図で示されてい
るように、散乱放射線8は検査される対象物4からの様
々な角度で発散し、散乱放射線8が高い度合いで吸収さ
れる、吸収器層板構造51に入射される。
【0019】図2は、本発明と一致して構成される、反
散乱グリッド5を示している。図は、吸収器層板構造5
1間に配置されたチャンネル媒体52を伴う吸収器層板
構造51を再度示している。さらに、反散乱グリッド
は、示されているような適切なフレーム53の手段によ
って曲った形状が与えられ、すべての吸収器層板構造5
1は、焦点に向かうか、若しくは焦点により延在する直
線、すなわち、図1の面に対して垂直に沿って導かれ
る。本発明と一致して、非弾性な高い抵抗泡、特にRo
hacelという銘柄で市販されているポリメタクリル
イミド(PMI)の高い抵抗泡は本発明と一致してチャ
ンネル媒体52として使用される。
【0020】本発明と一致する反散乱グリッドは、例え
ば、切り出し若しくは粉砕による平行なスリットを提供
することによって好ましく製造され、高抵抗泡の曲って
いないブロックにおいて、吸収器層板構造として作用す
るように意図された薄膜は、スリットへの挿入が可能で
あるのと同様に、X線を吸収する、例えば、鉛、タング
ステン、モリブデン、タンタル、銅若しくは別の物質で
製造される。
【0021】高抵抗泡が非弾性のため、スリットは正確
に特定の位置で非常に精巧に形成され、すなわち、非常
に小さい距離と大きさであるこの場合でさえも、一般的
にマイクロメートルの範囲である。結果として、図で示
されている曲った形状は、チャンネル媒体52に与えら
れて、フレーム53の手段によって吸収器層板構造51
が挿入され、その形状は安定したフレーム53の手段に
よって維持される。スリットは、円錐状に延在するよう
に切断若しくは粉砕されるかもしれない。
【0022】図2で示されるような反散乱グリッドはC
Tシステムで使用されることができ、この場合におい
て、フレーム53と検出器もまた曲っている。
【0023】図3に示されるような、本発明の代替とな
る実施態様において、個々の円錐状のチャンネル要素は
高抵抗泡で製造され、これは、そのような物質が使用さ
れる場合に、非常に正確になされる。吸収器層板構造は
チャンネル要素54間に配置されて、そのアセンブリは
共に圧縮されて、複数のチャンネル要素54及び吸収器
層板構造から構成される図2で示される種類の反散乱グ
リッドとなる。
【0024】チャンネル要素54及び中間の吸収器層板
構造51は、お互いに固着されるか、若しくはフレーム
53の手段による圧縮によって共に保持されるが、しか
しながら、後者の形態が好ましい。一つの実施態様のチ
ャンネル要素54は、例えば、薄い端で490μmの厚
さを有し、より厚い端で500μmの範囲の厚さを有す
る。
【0025】図4は、単一のチャンネル要素54の側面
図である。三角形の内部領域542は、チャンネル要素
54からパンチされ、その結果、高抵抗泡の全体の接続
部541のみが残る。このように、主要な放射線におけ
るチャンネル要素54の吸収はさらに縮小される一方
で、二次的放射線は同じ度合いに吸収されることで達成
される。示されるような三角形形状の切り出し542
は、上からチャンネル要素54に入射される主要なビー
ム、すなわち、図4で示される図において、図の平面で
下方への発散は、接続部541を構成する高抵抗泡物質
のほぼ同じ厚さを透過すべきである利点を有している。
ある実施態様のチャンネル要素は、ほぼ40mmの高さ
hを有している。この種類のチャンネル要素は、高さが
高い場合にのみ有効である。
【0026】図5は、ガンマカメラを伴う単一光子エミ
ッターの回路図を示している。マークされて同化作用の
調製が与えられた、この種の核医学画像化方法におい
て、不安定な核種が患者に注入され、その調製は臓器に
特異的な手法で続いて濃縮されている。身体から照射さ
れる対応する崩壊量の検出は臓器の画像となり、臓器の
活性の時間での変化は、情報をその機能から引き出すこ
とを可能にする。
【0027】SPECT(単一の光子放射コンピュータ
連動断層撮影)方法は、単一のガンマ量(γ量)が照射
する間に崩壊する放射性核種を活用する。検査される対
象物4において、注入された同化作用の調製は臓器41
で濃縮され、γ線10、11を照射し、このγ線は、主
要なγ量10及び散乱γ量11からなる。特に、主要な
γ量10は、ガンマカメラ19に入射する。そのカメラ
の入り口において、例えば、画像の投影方向を確定する
平行なコリメーターである、コリメーター12が提供さ
れる。コリメーターの表面に実際的に垂直で入射する唯
一の量は、中間の空間122によりコリメーター12を
透過でき、一方で、コリメーター壁121で吸収される
角度で入射される量は層板構造によって形成される。次
いで、転送される量は、対象物41によって照射される
γ量を吸収するNaI(Ti)のモノクリスタル13に
入射される。次いで、そのエネルギーは、光コンダクタ
15によって一連の光電子増倍管17に導かれる、複数
の可視光子14に変換される。光電子増倍管の電気出力
信号16が一方で限局化のために使用され、すなわち、
クリスタル13での吸収の位置を決定するために使用さ
れ、もう一方では、合計後のパルス振幅分析のために使
用される。さらに、図5は光電子増倍管17の対応する
出力信号18を示している。
【0028】本発明と一致する反散乱グリッドのチャン
ネル媒体として使用される非弾性な高い抵抗泡はまた、
コリメーターが層板構造121の距離と配列に関して高
い正確性を要求し、主要なγ量10がクリスタル13に
入射する以前に可能な限り再度吸収されないため、ガン
マカメラにおけるコリメーターの製造において使用でき
る。
【0029】既に記載の非弾性な高い抵抗泡は、層板構
造121間のチャンネル媒体122として使用され、そ
の製造はすでに記載の製造と同一であるか、若しくは同
様である。例えば、層板構造は鉛からなるかもしれな
い。
【0030】図6a、b、cはコリメーターの実施態様
の実施例を例示する。図6a、bは、一つの方向に配列
し、集中した層板構造を伴うファンビームコリメーター
に関する。図6cは二方向に曲っているコリメーターを
示している。
【0031】交差するグリッドの場合、高抵抗泡(例え
ば、切り出しによって)、層板構造121若しくはグリ
ッドに提供されている例えば鉛を伴う硬化する金属糊で
対応する交差するグリッドが形成される層板構造121
を構成する、グリッドを形成するだけのこの種の高抵抗
泡を使用することは実現可能である。硬化後、層板構造
121間に存在する高抵抗泡物質は再度除去され、結果
として、層板構造間に空気が存在する。次いで、交差す
るグリッドは、高抵抗泡の平らな部分に配列される。グ
リッドのスリットは平行若しくは円錐状で延在可能であ
る。例えば、高抵抗泡セクションは、低い表面に提供さ
れたファイバーマットを介して共に維持される。スリッ
トが提供された後、例えば、ドーム状の装置において、
グリッドは二方向に集中される。層板構造物質は、既に
記載のこの位置で提供される。
【0032】図7はポジトロンエミッター(PET)の
ための検出器を示している。検出器21はリングのよう
に形態化され、さらに、リングのように形態化されたコ
リメーター20を囲む。層板構造(セプタ)22は鉛箔
からなり、層板構造間の中間の空間23は、既に記載の
高抵抗泡で再度満たされる。γ量の望ましい集中及び望
ましくない量の吸収は、このようにして再び達成され
る。しかしながら、ポジトロンエミッタ−の既知の作用
は、ここでは解明されないだろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】反散乱グリッドを伴って提供される既知のX線
システムの概略を表している。
【図2】本発明と一致する反散乱グリッドを示す。
【図3】本発明と一致する反散乱グリッドにおける個々
のチャンネル要素を示す。
【図4】本発明と一致するチャンネル要素の側面図であ
る。
【図5】ガンマカメラを伴う単一光子エミッターの概略
を表している。
【図6a】単一光子エミッターなどの本発明と一致する
コリメーターの様々な実施態様を示している。
【図6b】単一光子エミッターなどの本発明と一致する
コリメーターの様々な実施態様を示している。
【図6c】単一光子エミッターなどの本発明と一致する
コリメーターの様々な実施態様を示している。
【図7】ポジトロンエミッターにおける検出器の概略を
表している。
【符号の説明】
1 X線管 2 焦点 3 X線ビーム 4 対象物 5 反散乱グリッド 6 X線検出器 7 主要な放射線 8 散乱放射線 51 吸収器層板構造 52 チャンネル媒体 53 フレーム 54 チャンネル要素 541 接続部 542 内部領域 h 高さ 10 γ線 11 γ線 12 コリメーター 13 モノクリスタル 14 可視光子 15 光コンダクタ 16 電気出力信号 17 光電子増倍管 18 出力信号 19 ガンマカメラ 41 対象物 121 コリメーター壁 122 中間の空間 20 コリメーター 21 検出器 22 層板構造 23 中間の空間
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G21K 1/02 G21K 1/02 G M (72)発明者 エアハルト パオル アルトゥール クロ ッツ ドイツ連邦共和国,24534 ノイミュンス ター,カルルシュトラーセ 56 (72)発明者 ライナー コッペ ドイツ連邦共和国,22457 ハンブルク, ルーゲンベルゲナー・ヴェーク 3 Fターム(参考) 2G088 EE01 EE02 FF02 FF04 FF07 JJ05 JJ06 JJ12 JJ18 JJ37 LL09 4C093 AA01 CA07 EB25

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検査される対象物で生成される散乱放射
    線を減少するためのX線装置での使用における反散乱グ
    リッドであって、前記散乱放射線を吸収するための複数
    の吸収器層板構造及びX線に対して透過で、前記吸収器
    層板構造間に配置されたチャンネル媒体を含み、前記チ
    ャンネル媒体は非弾性な高抵抗泡であることを特徴とす
    る反散乱グリッド。
  2. 【請求項2】 前記高抵抗泡はポリメタクリルイミド高
    抵抗泡であることを特徴とする請求項1に記載の反散乱
    グリッド。
  3. 【請求項3】 前記チャンネル媒体は、個々の事前に形
    成された、二つの吸収器層板構造間の各時間で配置して
    いるチャンネル要素を伴って提供されることを特徴とす
    る請求項1に記載の反散乱グリッド。
  4. 【請求項4】 前記チャンネル要素は、円錐形状を有
    し、前記吸収器層板構造の延長部分が、X線源の焦点に
    よって延在するラインで互いに交差するような方法で整
    列されることを特徴とする請求項3に記載の反散乱グリ
    ッド。
  5. 【請求項5】 前記個々のチャンネル要素はグリッドと
    して形作られることを特徴とする請求項3に記載の反散
    乱グリッド。
  6. 【請求項6】 前記反散乱グリッドは、中間の接着剤な
    しで近隣して整列され、フレームによって共に維持され
    る、前記チャンネル要素及び層板構造の交替によって形
    成されることを特徴とする請求項3に記載の反散乱グリ
    ッド。
  7. 【請求項7】 X線源、X線検出器、及び検査される前
    記対象物とX線検出器との間に整列される、前述までの
    請求項1乃至6の一つに記載のような反散乱グリッドを
    含む、検査される対象物のX線画像を形成するためのX
    線装置。
  8. 【請求項8】 コリメーターチャンネルを形成するため
    の複数の層板構造及び前記層板構造間に提供されるチャ
    ンネル媒体を含み、前記チャンネル媒体は非弾性高抵抗
    泡であることを特徴とする、特に単一の光子エミッター
    若しくはポジトロンエミッターなどのコリメーター。
  9. 【請求項9】 放射する対象物の画像の投影方向を確定
    するために役立つ請求項8に記載のコリメーターを備え
    て提供されるガンマカメラ。
  10. 【請求項10】 請求項9に記載のガンマカメラの手段
    によって放射する対象物の画像を形成するための単一の
    光子エミッター。
  11. 【請求項11】 検出器及び請求項8に記載のコリメー
    ターを備えて提供されるポジトロンエミッター。
JP2002218131A 2001-07-28 2002-07-26 X線装置のための反散乱グリッド Expired - Fee Related JP4643885B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10136946.8 2001-07-28
DE10136946A DE10136946A1 (de) 2001-07-28 2001-07-28 Streustrahlenraster für eine Röntgeneinrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003116846A true JP2003116846A (ja) 2003-04-22
JP4643885B2 JP4643885B2 (ja) 2011-03-02

Family

ID=7693495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002218131A Expired - Fee Related JP4643885B2 (ja) 2001-07-28 2002-07-26 X線装置のための反散乱グリッド

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6744852B2 (ja)
EP (1) EP1280165B1 (ja)
JP (1) JP4643885B2 (ja)
CN (1) CN100523796C (ja)
DE (2) DE10136946A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009509133A (ja) * 2005-09-19 2009-03-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 電磁放射線の選択的吸収のための格子,及びその製造方法
JP2009525480A (ja) * 2006-02-02 2009-07-09 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 散乱防止装置、方法及びシステム
JP2012093429A (ja) * 2010-10-25 2012-05-17 Fujifilm Corp 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法、並びに、放射線画像撮影システム

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7638732B1 (en) * 2002-10-24 2009-12-29 Analogic Corporation Apparatus and method for making X-ray anti-scatter grid
FR2855276B1 (fr) * 2003-05-22 2005-07-15 Ge Med Sys Global Tech Co Llc Grille anti-diffusante presentant une tenue mecanique amelioree
AU2003228090A1 (en) * 2003-06-01 2005-01-21 Philips Medical Systems Technologies Ltd. Anti-scattering x-ray collimator for ct scanners
US7564940B2 (en) * 2003-07-22 2009-07-21 Koninklijke Philips Electronics N.V. Radiation mask for two dimensional CT detector
ATE534124T1 (de) * 2003-09-12 2011-12-15 Koninkl Philips Electronics Nv Kollimator-anordnung für elektromagnetische strahlung
JP3961468B2 (ja) 2003-09-19 2007-08-22 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 放射線計算断層画像装置およびそれに用いる放射線検出器
DE10354811B4 (de) * 2003-11-21 2012-09-27 Siemens Ag Streustrahlenraster, insbesondere für medizinische Röngteneinrichtungen, sowie Verfahren zu seiner Herstellung
DE102004014445B4 (de) * 2004-03-24 2006-05-18 Yxlon International Security Gmbh Sekundärkollimator für eine Röntgenstreuvorrichtung sowie Röntgenstreuvorrichtung
CN1973213B (zh) * 2004-06-25 2010-09-29 皇家飞利浦电子股份有限公司 具有散射辐射校正的x射线探测器
US7606347B2 (en) * 2004-09-13 2009-10-20 General Electric Company Photon counting x-ray detector with overrange logic control
US7312456B2 (en) * 2004-09-28 2007-12-25 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Stationary multi-pinhole cardio vascular SPECT system
US20060233666A1 (en) * 2005-04-15 2006-10-19 Agamatrix, Inc. Visual display for meter testing bodily fluids
US7999008B2 (en) 2005-07-13 2011-08-16 L'oreal Urea compounds that promote desquamation
US20070085011A1 (en) * 2005-09-09 2007-04-19 Dieter Ritter Method and imaging system for generation of a scintigraphic exposure of a patient
DE102005044650B4 (de) * 2005-09-19 2008-07-10 Siemens Ag Streustahlenraster mit einer zellenartigen Struktur von Strahlungskanälen und Verfahren zur Herstellung eines solchen Streustrahlenrasters
WO2007069115A2 (en) * 2005-12-13 2007-06-21 Koninklijke Philips Electronics N.V. Anti-scatter grid for an x-ray device with non-uniform distance and/or width of the lamellae
DE102006037256B4 (de) 2006-02-01 2017-03-30 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System
US7702073B2 (en) 2006-09-12 2010-04-20 Morpho Detection, Inc. Systems and methods for developing a secondary collimator
US7812314B1 (en) 2007-11-06 2010-10-12 The United Sttes of America as represented by the United States Department of Energy Flat panel X-ray detector with reduced internal scattering for improved attenuation accuracy and dynamic range
WO2010010607A1 (ja) * 2008-07-22 2010-01-28 株式会社 島津製作所 散乱線除去グリッドの製造方法
US8884201B2 (en) * 2008-09-15 2014-11-11 The Boeing Company Systems and methods for fabrication of thermoplastic components
CN101762613B (zh) * 2008-12-24 2012-12-26 同方威视技术股份有限公司 用于x射线检查的探测器和准直器的组合装置及方法
US8708561B2 (en) 2009-03-20 2014-04-29 Orthoscan, Inc. Mobile imaging apparatus
US20100246753A1 (en) * 2009-03-25 2010-09-30 Varian Medical Systems, Inc. Fourth Generation Computed Tomography Scanner
US20110291016A1 (en) * 2009-12-15 2011-12-01 Scott Metzler Novel collimator and method for fabricating the same
US8223925B2 (en) 2010-04-15 2012-07-17 Bruker Axs Handheld, Inc. Compact collimating device
CN101885111B (zh) * 2010-06-03 2012-07-25 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 球形凹面上投影平行线图形的激光直写方法及其装置
US20120087462A1 (en) * 2010-10-12 2012-04-12 Abdelaziz Ikhlef Hybrid collimator for x-rays and method of making same
WO2012082799A1 (en) 2010-12-13 2012-06-21 Orthoscan, Inc. Mobile fluoroscopic imaging system
DE102011002504B3 (de) * 2011-01-11 2012-07-19 Siemens Aktiengesellschaft Kollimator und Strahlendetektor mit einem Kollimator
EP2601870B1 (en) * 2011-12-09 2014-02-19 John Bean Technologies AB Heating element for a cooking apparatus
DE102012206546B4 (de) 2012-04-20 2019-06-27 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Streustrahlungsgitters und Streustrahlungsgitter eines CT -Detektors
CN102779558B (zh) * 2012-08-14 2015-09-30 中国科学院高能物理研究所 软x射线遮光膜及其制备方法
AT14686U1 (de) 2015-01-27 2016-04-15 Plansee Se Streustrahlenraster
JP6856624B2 (ja) * 2016-03-29 2021-04-07 株式会社東芝 中性子グリッド、中性子グリッド積層体、中性子グリッド装置、および中性子グリッドの製造方法
WO2017207734A1 (en) 2016-06-02 2017-12-07 Koninklijke Philips N.V. X-ray imaging apparatus for compact (quasi-)isotropic multi source x-ray imaging
US11179133B2 (en) * 2018-02-27 2021-11-23 Anseen Inc. Collimater, radiation detection device, and radiation inspection device
US10799193B2 (en) 2019-02-12 2020-10-13 Malcova LLC Method and apparatus for anatomically-specified conformation computed tomography
US11139088B2 (en) 2019-06-12 2021-10-05 alephFS—Systems for Imaging Grid for X-ray imaging
US10531844B1 (en) 2019-08-09 2020-01-14 Malcova LLC Narrow beam CT using a 3D fluence modulation and scatter shield system
DE102020202855B4 (de) * 2020-03-05 2021-10-21 Siemens Healthcare Gmbh Streustrahlenkollimator und Verfahren zur Herstellung eines Streustrahlenkollimators
CN114801396B (zh) * 2022-05-19 2023-06-30 西北工业大学 一种电磁波透射增强泡沫填充格栅夹芯结构和应用
US11622735B1 (en) 2022-10-20 2023-04-11 MALCOVA, Inc. Plural-plane narrow-beam computed tomography
CN116039176B (zh) * 2022-12-28 2024-07-12 中国兵器科学研究院宁波分院 一种工业ct散射线校正板的制备方法
CN116725562A (zh) * 2023-08-14 2023-09-12 苏州益腾电子科技有限公司 无级调节过滤装置及x射线设备

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5760300A (en) * 1980-09-30 1982-04-12 Shimadzu Corp Collimator
JPS5821582A (ja) * 1981-07-31 1983-02-08 Toshiba Corp 放射線検出器
JPS6270785A (ja) * 1985-09-24 1987-04-01 Hitachi Medical Corp X線ct用x線検出器
JPH1178874A (ja) * 1997-09-05 1999-03-23 Kawasaki Heavy Ind Ltd 高速車両の外壁構造および高速車両の外壁の製造方法
WO2001073794A1 (en) * 2000-03-28 2001-10-04 General Electric Company Anti-scatter grid, method, and apparatus for forming same

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1493267A (en) * 1975-12-03 1977-11-30 Ferranti Ltd Apparatus for collimating a beam of penetrating ionizing radiation
JPS6242100A (ja) * 1985-08-19 1987-02-24 株式会社東芝 低振動コリメ−タの製造方法
JPH0634106B2 (ja) * 1990-01-31 1994-05-02 株式会社島津製作所 コリメータ
US5557650A (en) * 1995-03-10 1996-09-17 General Electric Company Method for fabricating an anti-scatter X-ray grid device for medical diagnostic radiography
IN187505B (ja) * 1995-03-10 2002-05-11 Gen Electric
US6472667B1 (en) * 2000-11-24 2002-10-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Data reduction architecture for nuclear medicine imagers

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5760300A (en) * 1980-09-30 1982-04-12 Shimadzu Corp Collimator
JPS5821582A (ja) * 1981-07-31 1983-02-08 Toshiba Corp 放射線検出器
JPS6270785A (ja) * 1985-09-24 1987-04-01 Hitachi Medical Corp X線ct用x線検出器
JPH1178874A (ja) * 1997-09-05 1999-03-23 Kawasaki Heavy Ind Ltd 高速車両の外壁構造および高速車両の外壁の製造方法
WO2001073794A1 (en) * 2000-03-28 2001-10-04 General Electric Company Anti-scatter grid, method, and apparatus for forming same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009509133A (ja) * 2005-09-19 2009-03-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 電磁放射線の選択的吸収のための格子,及びその製造方法
JP2009525480A (ja) * 2006-02-02 2009-07-09 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 散乱防止装置、方法及びシステム
JP2012093429A (ja) * 2010-10-25 2012-05-17 Fujifilm Corp 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法、並びに、放射線画像撮影システム

Also Published As

Publication number Publication date
EP1280165B1 (de) 2010-09-15
JP4643885B2 (ja) 2011-03-02
DE10136946A1 (de) 2003-02-06
DE50214655D1 (de) 2010-10-28
US20030021379A1 (en) 2003-01-30
EP1280165A2 (de) 2003-01-29
EP1280165A3 (de) 2008-02-13
CN1407333A (zh) 2003-04-02
CN100523796C (zh) 2009-08-05
US6744852B2 (en) 2004-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4643885B2 (ja) X線装置のための反散乱グリッド
US6271524B1 (en) Gamma ray collimator
Anger Scintillation camera with multichannel collimators
JP6310551B2 (ja) 放射線療法治療の案内および検証のための検出器
US7297914B2 (en) Cerenkov x-ray detector for portal imaging
KR100841123B1 (ko) 산란방지와 콜리메이팅을 수행하기 위한 장치를 제조하여 x-방사선 또는 감마 검출기에 제공하는 방법
US8520800B2 (en) Method and apparatus for radiation resistant imaging
US20070025518A1 (en) Anti-scattering x-ray collimator for ct scanners
US7253416B2 (en) Radiation detector and detection method, and medical diagnostic apparatus employing same
JP2009509133A (ja) 電磁放射線の選択的吸収のための格子,及びその製造方法
JPH1043172A (ja) 断層合成撮影画像作成方法及び装置
Star‐Lack et al. A piecewise‐focused high DQE detector for MV imaging
JP2007504473A (ja) 散乱放射線除去用グリッド又はコリメータ
US6778632B2 (en) X-ray detector/stray radiation grid and gamma detector/collimator arrangements
JP2008510131A (ja) シンチレータおよび抗散乱グリッドの配置
US7839981B2 (en) Anti-scatter grid
JPS6117970A (ja) 2つのx線エネルギーの検出システム
US6803580B2 (en) Pet and spect systems with attenuation correction
US7468516B2 (en) High resolution x-ray and gamma ray imaging using diffraction lenses with mechanically bent crystals
US20090225945A1 (en) High spatial resolution x-ray and gamma ray imaging system using diffraction crystals
US20150123003A1 (en) High resolution absorption imaging using annihilation radiation from an external positron source
US20070085011A1 (en) Method and imaging system for generation of a scintigraphic exposure of a patient
KR101937651B1 (ko) 인광판을 삽입한 팬텀을 이용한 토모테라피 장치
US9812281B2 (en) X-ray source and X-ray imaging method
JPH07148148A (ja) X線ct装置用の2次元アレイ型放射線検出器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050722

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080415

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080711

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080716

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081014

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090414

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090710

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100105

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100727

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101022

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101109

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131210

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees